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KR101077298B1 - Inspection apparatus for electrode resistance of touch screen and method thereof - Google Patents

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KR101077298B1
KR101077298B1 KR1020100059661A KR20100059661A KR101077298B1 KR 101077298 B1 KR101077298 B1 KR 101077298B1 KR 1020100059661 A KR1020100059661 A KR 1020100059661A KR 20100059661 A KR20100059661 A KR 20100059661A KR 101077298 B1 KR101077298 B1 KR 101077298B1
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KR
South Korea
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electrode
resistance
touch screen
switch
power supply
Prior art date
Application number
KR1020100059661A
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Inventor
이희범
채경수
홍윤기
오용수
이종영
유동식
Original Assignee
삼성전기주식회사
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    • GPHYSICS
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Abstract

본 발명은 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 터치스크린의 투명 기판의 전극에 순차적으로 접속하여 전원을 공급하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부에서 전극에 전원이 공급되면 상기 전극에 접속하여 저항을 측정하는 저항 측정부; 및 상기 저항 측정부에서 측정한 전극의 저항값을 저장하는 저항값 저장부를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치와 그 방법이 제공된다.
The present invention relates to an electrode resistance test apparatus for a touch screen and a method thereof.
According to the present invention as described above, the power supply for supplying power by sequentially connecting to the electrode of the transparent substrate of the touch screen; A resistance measuring unit measuring resistance by connecting to the electrode when power is supplied to the electrode from the power supply unit; And a resistance value storage unit for storing a resistance value of the electrode measured by the resistance measurement unit, and a method thereof.

Description

터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법{INSPECTION APPARATUS FOR ELECTRODE RESISTANCE OF TOUCH SCREEN AND METHOD THEREOF}Apparatus and method for inspecting electrode resistance of touch screens {INSPECTION APPARATUS FOR ELECTRODE RESISTANCE OF TOUCH SCREEN AND METHOD THEREOF}

본 발명은 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to an electrode resistance test apparatus for a touch screen and a method thereof.

현재의 휴대용 단말장치, 예컨대 PDA, PMP, MP3 플레이어, 휴대폰 등은 그 휴대 및 이동이 용이하도록 크기가 점점 소형화되고 있다. 상기 휴대용 단말장치의 소형화가 진행되면서 종래의 키 버튼 입력 방식을 대신하여 사용자가 보다 편리하게 정보 입력 또는 선택을 할 수 있도록 터치 스크린 방식이 채용되고 있다. Current portable terminal devices, such as PDAs, PMPs, MP3 players, mobile phones, etc., are becoming smaller in size to facilitate their portability and mobility. As miniaturization of the portable terminal device proceeds, a touch screen method is adopted to allow a user to input or select information more conveniently in place of the conventional key button input method.

상기 터치 스크린 방식은 스크린을 통해 컴퓨터와 인터페이스 하여 직접 정보를 입력 또는 선택할 수 있는 방식으로서, 상기 스크린의 특정 위치에 사람의 손 또는 물체의 접촉이 있으면 그 접촉된 위치의 좌표를 파악한다. The touch screen method is a method of directly inputting or selecting information by interfacing with a computer through a screen. When a touch of a human hand or an object is touched at a specific position of the screen, the touch screen detects coordinates of the touched position.

그리고 상기 좌표값을 통해 해당 좌표값에 대응하는 기능이 소프트웨어에 의해 실행된다. 따라서, 상기 터치 스크린은 정보 표시부로서의 기능과 입력부로서의 기능을 함께 제공한다.The function corresponding to the coordinate value is executed by the software through the coordinate value. Accordingly, the touch screen provides a function as an information display unit and a function as an input unit.

이와 같은 터치 스크린은 다양한 방식으로 분류할 수 있는데, 그 동작 원리에 따라 크게 정전 용량 방식, 저항막 방식, 표면 초음파 방식, 적외선 방식 등으로 나누어진다.Such touch screens can be classified in various ways, and are classified into a capacitive type, a resistive film type, a surface ultrasonic type, and an infrared type according to the operating principle thereof.

이러한 다양한 방식의 터치 스크린은 신호 증폭의 문제, 해상도의 차이, 설계 및 가공 기술의 난이도, 광학적 특성, 전기적 특성, 기계적 특성, 내 환경 특성, 입력 특성, 내구성 및 경제성을 고려하여 전자제품에 채용되는데, 현재 가장 광범위한 분야에서 사용하는 방식은 저항막 방식과 정전 용량 방식이다. These touch screens are adopted in electronic products in consideration of signal amplification problems, resolution differences, difficulty in design and processing technology, optical properties, electrical properties, mechanical properties, environmental properties, input properties, durability, and economics. Currently, the most widely used methods are the resistive film type and the capacitive type.

이중, 정전 용량 방식은 높은 투과율과 뛰어난 내구성을 갖추고 있어 최근 가장 각광받고 있는 방식이다.Among them, the capacitive type has high transmittance and excellent durability and is the most popular method recently.

이와 같은 종래 정전 용량 방식은 센서 전극과 손가락 사이에 발생되는 정전 용량 변화에 의해 흐르는 미세한 전류를 감지하여 위치를 판별하는 방식으로 크게 투명 전도층인 ITO 패널을 한 장 사용하는 싱글 레이어(single layer) 방식과 ITO 패널을 두 장 사용하는 듀얼 레이어(dual layer) 방식이 있다.The conventional capacitive type is a single layer that uses a single transparent conductive layer ITO panel by detecting a minute current flowing by a change in capacitance generated between a sensor electrode and a finger to determine a position. There is a dual layer method using two methods and an ITO panel.

한편, 상기 정전 용량 방식에서 있어서 정확한 손가락의 접촉 위치를 판별하기 위해서는 정확한 정전 용량의 측정이 요구된다. 그리고, 이를 위하여 각 구성 요소에 대한 정확한 특성 파악이 필요하다.On the other hand, in the capacitive method, accurate capacitance measurement is required to determine the correct contact position of the finger. And, for this purpose, it is necessary to grasp the exact characteristics of each component.

특히, 상부 기판 또는 하부 기판에 형성된 전극들은 패턴이 조밀하여 원하는 균일도의 저항 특성을 얻기가 어려우며 전극간에 저항 편차가 발생할 우려가 높다.In particular, the electrodes formed on the upper substrate or the lower substrate have a dense pattern, making it difficult to obtain resistance characteristics of desired uniformity, and there is a high possibility of resistance variation between the electrodes.

따라서, 제품의 제작 단계에서 전극간에 균일한 저항 특성을 얻기 위해 주의를 기울일 필요가 있을 뿐만 아니라 제품이 완성된 이후에도 전극에 대한 면 저항을 용이하게 측정하여 이후 단계에서 그에 따른 저항 보정을 수행할 수 있다면 정확한 정전용량 측정과 그에 따른 정확한 접촉 위치를 판별할 수 있을 것이다.
Therefore, not only care needs to be taken to obtain uniform resistance between the electrodes in the manufacturing stage of the product, but also the surface resistance of the electrode can be easily measured even after the product is completed, thereby performing the resistance compensation accordingly. If so, you will be able to determine the exact capacitance measurement and thus the exact contact location.

본 발명은 상기와 같은 필요에 따라 안출된 것으로, 터치 스크린의 전극의 저항을 용이하게 측정할 수 있도록 한 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 데 있다.
The present invention has been made in accordance with the necessity as described above, and to provide an electrode resistance test apparatus and method of the touch screen that can easily measure the resistance of the electrode of the touch screen.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 터치스크린의 투명 기판의 전극에 순차적으로 접속하여 전원을 공급하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부에서 전극에 전원이 공급되면 상기 전극에 접속하여 저항을 측정하는 저항 측정부; 및 상기 저항 측정부에서 측정한 전극의 저항값을 저장하는 저항값 저장부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object, the power supply for supplying power by sequentially connecting to the electrode of the transparent substrate of the touch screen; A resistance measuring unit measuring resistance by connecting to the electrode when power is supplied to the electrode from the power supply unit; And a resistance value storing unit storing the resistance value of the electrode measured by the resistance measuring unit.

또한, 본 발명은 터치 스크린의 전극과 전원 공급부의 사이에 위치하여 스위칭 동작에 의해 전극들과 전원 공급부의 전기적 접속을 제공하는 스위치; 및 상기 스위치를 제어하여 스위칭 동작에 의해 전원 공급부에서 공급되는 전원이 전극들에 순차적으로 인가되도록 하는 스위치 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention is located between the electrode and the power supply of the touch screen switch to provide an electrical connection of the electrode and the power supply by a switching operation; And a switch controller for controlling the switch to sequentially apply power supplied from the power supply unit to the electrodes by the switching operation.

또한, 본 발명의 상기 스위치는 CMOS 스위치, 진공 스위치, 무접점 스위치 및 수은 스위치 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.In addition, the switch of the present invention is characterized in that any one of a CMOS switch, a vacuum switch, a solid state switch and a mercury switch.

또한, 본 발명의 상기 터치 스크린은 상기 전극의 일측의 주변 영역에 형성된 더미 패드; 및 상기 전극과 상기 더미 패드를 연결하는 더미 배선을 더 구비하며, 상기 저항 측정부는 상기 더미 패드에 접속하여 상기 전극의 저항을 측정하는 것을 특징으로 한다.In addition, the touch screen of the present invention includes a dummy pad formed in a peripheral area of one side of the electrode; And a dummy wire connecting the electrode and the dummy pad, wherein the resistance measuring unit measures the resistance of the electrode by connecting to the dummy pad.

또한, 본 발명의 상기 더미 패드는 구리, 알루미늄, 은, 금, CNT 및 도전성 접착 테이프 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 한다.In addition, the dummy pad of the present invention is characterized in that it is formed of any one of copper, aluminum, silver, gold, CNT and conductive adhesive tape.

또한, 본 발명은 (A) 터치 스크린의 복수의 전극들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하는 단계; (B) 복수의 전극들중의 어느 하나가 전원 공급부에 연결되면 저항 측정부는 해당 전극에 대한 저항을 측정하는 단계; 및 (C) 저항값 저장부가 측정된 전극에 대한 저항값을 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention (A) connecting any one of the plurality of electrodes of the touch screen to the power supply; (B) when any one of the plurality of electrodes is connected to the power supply unit, the resistance measuring unit measures the resistance of the corresponding electrode; And (C) storing the resistance value of the electrode measured by the resistance value storage unit.

또한, 본 발명의 상기 (A) 단계는 스위치 제어부가 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 스위치를 제어하여 터치 스크린의 투명 기판의 일측에서부터 순차적으로 반대측으로 진행하면서 상기 복수의 전극들중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하는 것을 특징으로 한다.In addition, in the step (A) of the present invention, the switch controller controls the switch according to a switch control sequence to connect any one of the plurality of electrodes to the power supply while sequentially proceeding from one side of the transparent substrate of the touch screen to the opposite side. Characterized in that.

또한, 본 발명의 상기 (C) 단계 이후에, (D) 스위치 컨트롤 시퀀스에서 마지막 전극에 해당하는지를 판단하는 단계; 및 (E) 판단 결과, 마지막 전극에 해당하지 않으면 상기 (A) 단계부터 반복수행하고 마지막 전극에 해당하면 저항 측정을 종료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Further, after the step (C) of the present invention, (D) determining whether it corresponds to the last electrode in the switch control sequence; And (E) if the result of the determination is not the last electrode, repeating from the step (A), and if it corresponds to the last electrode, characterized in that it comprises the step of ending the resistance measurement.

이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이고 사전적인 의미로 해석되어서는 아니되며, 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
Prior to this, the terms or words used in this specification and claims are not to be interpreted in a conventional and dictionary sense, and the inventors may appropriately define the concept of terms in order to best describe their own invention. It should be interpreted as meaning and concept corresponding to the technical idea of the present invention based on the principle that the present invention.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 터치 스크린의 전극의 저항을 용이하게 측정할 수 있다.According to the present invention as described above, the resistance of the electrode of the touch screen can be easily measured.

또한, 본 발명에 따르면, 제작 공정에서 전극 패드와 동시에 저항 측정용 더미 패드를 형성하기 때문에 추가적인 공정 없이 용이하게 전극의 저항을 측정할 수 있다.In addition, according to the present invention, since the dummy pad for resistance measurement is formed at the same time as the electrode pad in the manufacturing process, the resistance of the electrode can be easily measured without an additional process.

또한, 본 발명에 따르면, 측정된 저항에 따라 후속 단계에서 저항 보정을 수행할 수 있어 균일한 전극 저항 특성을 얻을 수가 있다.
In addition, according to the present invention, it is possible to perform resistance correction in a subsequent step according to the measured resistance to obtain a uniform electrode resistance characteristics.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치의 구성도이다.
도 2 는 도 1을 구성하는 상부 기판의 평면도이다.
도 3은 도 1을 구성하는 하부 기판의 평면도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
1 is a configuration diagram of an electrode resistance test apparatus for a touch screen according to a first exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view of the upper substrate constituting FIG. 1. FIG.
3 is a plan view of a lower substrate constituting FIG. 1.
4 is a flowchart illustrating a method of inspecting electrode resistance of a touch screen according to a first embodiment of the present invention.

본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되어지는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다. 본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. The objects, specific advantages and novel features of the present invention will become more apparent from the following detailed description and the preferred embodiments associated with the accompanying drawings. In the present specification, in adding reference numerals to the components of each drawing, it should be noted that the same components as possible, even if displayed on different drawings have the same number as possible. In addition, in describing the present invention, if it is determined that the detailed description of the related known technology may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치의 구성도이고, 도 2 는 도 1을 구성하는 상부 기판의 평면도이고, 도 3은 도 1을 구성하는 하부 기판의 평면도이다.1 is a configuration diagram of an electrode resistance test apparatus for a touch screen according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of an upper substrate constituting FIG. 1, and FIG. 3 is a plan view of a lower substrate constituting FIG. 1. to be.

도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린(10)의 전극 저항 검사 장치는 전원 공급부(100), 스위치(200), 스위치 제어부(300), 저항 측정부(400), 저항값 저장부(500)를 포함하고 있다.Referring to FIG. 1, an electrode resistance test apparatus for a touch screen 10 according to a first exemplary embodiment of the present invention may include a power supply unit 100, a switch 200, a switch control unit 300, a resistance measurement unit 400, The resistance value storage unit 500 is included.

여기에서, 본 발명에 따른 전극 저항 검사 장치의 저항 검사 대상이 되는 터치 스크린(10)은 접착층(30)를 사이에 두고 상부 기판(20)과 하부 기판(40)이 마주보는 형태로 구성된다.Here, the touch screen 10 to be the resistance test target of the electrode resistance test apparatus according to the present invention is configured in a form in which the upper substrate 20 and the lower substrate 40 face each other with the adhesive layer 30 therebetween.

상기 상부 기판(20)은 센싱 영역(SR) 및 주변 영역(DR)로 구별된다. 상기 상부 기판(20)은 상부 투명 기판(21), 상부 전극(22), 상부 전극 배선(23), 상부 전극 패드(24), 상부 더미 배선(25), 상부 더미 패드(26)로 구성된다.The upper substrate 20 is divided into a sensing region SR and a peripheral region DR. The upper substrate 20 includes an upper transparent substrate 21, an upper electrode 22, an upper electrode wiring 23, an upper electrode pad 24, an upper dummy wiring 25, and an upper dummy pad 26. .

상기 상부 투명 기판(21)은 투명하며, 절연체로서, 필름기판 또는 유리기판이다. 상기 상부 전극(22)들은 상기 상부 투명 기판(21)에 배치된다. 상기 상부 전극들(22)은 다수 개가 서로 이격되며, Y방향으로 연장된다. 상기 상부 전극들(22)은 투명하며, 도전체이다. The upper transparent substrate 21 is transparent and is an insulator, which is a film substrate or a glass substrate. The upper electrodes 22 are disposed on the upper transparent substrate 21. A plurality of the upper electrodes 22 are spaced apart from each other, and extend in the Y direction. The upper electrodes 22 are transparent and are conductors.

상기 상부 전극들(22)로 사용되는 물질의 예로서는 인듐 틴 옥사이드(induim tinoxide;ITO) 또는 인듐 징크 옥사이드(induim zinc oxide;IZO) 등을 들 수 있다.Examples of the material used as the upper electrodes 22 include indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO).

상기 상부 전극(22)은 다수 개의 상부 센싱 전극들(22-1) 및 상부 연결부들(22-2)을 포함한다. 상기 상부 센싱 전극들(22-1)은 상기 Y방향으로 일렬로 배치된다. 상기 상부 센싱 전극들(22-1)은 마름모 형상의 평면 형상을 가진다.The upper electrode 22 includes a plurality of upper sensing electrodes 22-1 and upper connectors 22-2. The upper sensing electrodes 22-1 are arranged in a line in the Y direction. The upper sensing electrodes 22-1 have a planar shape of a rhombus shape.

여기에서, 상부 센싱 전극들(22-1)은 마름모 형상의 평면 형상을 가지고 있으나, 이에 한정되는 것이 아니며 삼각형, 사각형 등의 다각형 또는 원, 타원등의 다양한 형태로 구성될 수 있다.Here, the upper sensing electrodes 22-1 may have a flat shape having a rhombus shape, but are not limited thereto. The upper sensing electrodes 22-1 may be formed in various shapes such as polygons such as triangles and squares or circles or ellipses.

상기 상부 연결부들(22-2)은 상기 상부 센싱 전극들(22-1) 사이에 배치된다. 상기 상부 연결부들(22-2)은 상기 상부 센싱 전극들(22-1)을 연결한다. 상기 상부 연결부들(22-2) 및 상기 상부 센싱 전극들(22-1)은 일체로 형성된다.The upper connection parts 22-2 are disposed between the upper sensing electrodes 22-1. The upper connection parts 22-2 connect the upper sensing electrodes 22-1. The upper connection parts 22-2 and the upper sensing electrodes 22-1 are integrally formed.

상기 상부 투명 기판(21)에 투명 도전층이 증착되고, 상기 투명 도전층이 패터닝되어, 상기 상부 전극들(22)이 형성될 수 있다. 즉, 상기 상부 전극(22)들은 상기 상부 투명 기판(21)에 접촉한다.A transparent conductive layer may be deposited on the upper transparent substrate 21, and the transparent conductive layer may be patterned to form the upper electrodes 22. That is, the upper electrodes 22 contact the upper transparent substrate 21.

다음으로, 상기 상부 전극 배선들(23)은 상기 상부 전극들(22)의 일측에 각각 접속되어 있으며, 상기 주변영역에 형성된다. 상기 상부 전극 배선들(23)은 각각 상기 상부 전극들(22) 및 상기 상부 전극 패드들(24)을 연결한다.Next, the upper electrode wires 23 are connected to one side of the upper electrodes 22, respectively, and are formed in the peripheral area. The upper electrode wires 23 connect the upper electrodes 22 and the upper electrode pads 24, respectively.

상기 상부 전극 패드들(24)의 일측 단자는 상기 상부 전극 배선들(23)을 통하여, 각각 상기 상부 전극들(22)에 연결되어 있고, 다른측 단자는 상기 스위치(200)에 연결되어 있으며, 상기 주변 영역에 형성되어 있다.One terminal of the upper electrode pads 24 is connected to the upper electrodes 22 through the upper electrode wires 23, and the other terminal is connected to the switch 200. It is formed in the peripheral region.

상기 상부 전극 배선들(23) 및 상기 상부 전극 패드들(24)은 일체로 형성되며, 저항이 낮은 물질로 형성된다. 상기 상부 전극 배선들(23) 및 상기 상부 전극 패드들(24)은 상기 상부 전극들(22)에 비하여 매우 낮은 저항을 가진다.The upper electrode wires 23 and the upper electrode pads 24 are integrally formed and are formed of a material having low resistance. The upper electrode wires 23 and the upper electrode pads 24 have a much lower resistance than the upper electrodes 22.

상기 상부 전극 배선들(23) 및 상기 상부 전극 패드들(24)로 사용되는 물질의 예로서는 구리, 알루미늄, 은, 금, CNT 및 도전성 접착 테이프 등을 들 수 있다.Examples of the material used for the upper electrode wirings 23 and the upper electrode pads 24 include copper, aluminum, silver, gold, CNT, and a conductive adhesive tape.

그리고, 상기 상부 더미 배선들(25)은 상기 상부 전극들(22)의 상기 상부 전극 배선들(23)이 접속된 다른측에 각각 접속되어 있으며, 상기 주변영역에 형성된다. 상기 상부 더미 배선들(25)은 각각 상기 상부 전극들(22) 및 상기 상부 더미 패드들(26)을 연결한다.The upper dummy wires 25 are connected to the other side to which the upper electrode wires 23 of the upper electrodes 22 are connected, respectively, and are formed in the peripheral area. The upper dummy wires 25 connect the upper electrodes 22 and the upper dummy pads 26, respectively.

상기 상부 더미 패드들(26)의 일측 단자는 상기 상부 더미 배선들(25)을 통하여, 각각 상기 상부 전극들(22)에 연결되고, 다른측 단자는 저항 측정부(400)에 연결되어 있으며, 상기 주변 영역에 형성되어 있다.One terminal of the upper dummy pads 26 is connected to the upper electrodes 22 through the upper dummy wires 25, and the other terminal of the upper dummy pads 26 is connected to the resistance measuring unit 400. It is formed in the peripheral region.

상기 상부 더미 배선들(25) 및 상기 상부 더미 패드들(26)은 일체로 형성되며, 저항이 낮은 물질로 형성된다. 상기 상부 더미 배선들(25) 및 상기 상부 더미 패드들(26)은 상기 상부 전극들(22)에 비하여 매우 낮은 저항을 가진다.The upper dummy wires 25 and the upper dummy pads 26 are integrally formed and are formed of a material having low resistance. The upper dummy wires 25 and the upper dummy pads 26 have much lower resistances than the upper electrodes 22.

상기 상부 더미 배선들(25) 및 상기 상부 더미 패드들(26)로 사용되는 물질의 예로서는 구리, 알루미늄, 은, 금, CNT 및 도전성 접착 테이프 등을 들 수 있다.Examples of the material used for the upper dummy wirings 25 and the upper dummy pads 26 include copper, aluminum, silver, gold, CNT, and a conductive adhesive tape.

한편, 상기 하부 기판(40)은 상기 상부 기판(20)에 대향하여 배치되며, 상기 하부 기판(40)은 상기 상부 기판(20)과 이격된다. 마찬가지로, 상기 하부 기판(40)도 상기 센싱 영역(SR) 및 상기 주변 영역(DR)으로 구분된다.The lower substrate 40 is disposed to face the upper substrate 20, and the lower substrate 40 is spaced apart from the upper substrate 20. Similarly, the lower substrate 40 is also divided into the sensing region SR and the peripheral region DR.

상기 하부기판(40)은 하부 투명 기판(41), 다수 개의 하부 전극들(42), 하부 전극 배선들(43), 하부 전극 패드들(44), 하부 더미 배선들(45) 및 하부 더미 패드들(46)을 포함한다. 이러한 하부 기판의 구성요소의 재질과 형상 그리고 특성들은 대응되는 상기 상부 기판(20)의 구성요소와 유사하기 때문에 자세한 설명은 생략한다.The lower substrate 40 may include a lower transparent substrate 41, a plurality of lower electrodes 42, lower electrode wires 43, lower electrode pads 44, lower dummy wires 45, and a lower dummy pad. S 46. Since materials, shapes, and properties of the components of the lower substrate are similar to those of the corresponding upper substrate 20, detailed descriptions thereof will be omitted.

이와 같이 구성되는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치를 구성하는 전원 공급부(100)는 터치 스크린에 전극 저항 검사를 수행할 때 전원을 상부 전극 또는 하부 전극에 인가하기 위한 것으로 하나의 단자가 터치 스크린의 상부 기판 또는 하부 기판에 일정 간격으로 형성된 전극 패드들(24, 44)에 스위치(200)를 통하여 연결되어 있으며, 다른 단자는 저항 측정부(400)에 연결되어 있다.The power supply unit 100 constituting the electrode resistance test apparatus of the touch screen configured as described above is for applying power to the upper electrode or the lower electrode when performing the electrode resistance test on the touch screen. The electrode pads 24 and 44 formed at regular intervals on the substrate or the lower substrate are connected through the switch 200, and the other terminal is connected to the resistance measuring unit 400.

본 발명에 있어서 상기 전원 공급부(100)가 스위치(200)를 통하여 접속된 전극 패드들(24, 44)에 공급하는 전원은 직류 전원이 바람직하다.In the present invention, the power supplied by the power supply unit 100 to the electrode pads 24 and 44 connected through the switch 200 is preferably DC power.

다음으로, 스위치(200)는 터치 스크린의 상부 기판 또는 하부 기판에 일정 간격으로 형성된 전극 패드들(24, 44)과 전원 공급부(100)의 사이에 위치하여 스위칭 동작에 의해 전극 패드들(24, 44)과 전원 공급부(100)의 전기적 접속을 제공한다.Next, the switch 200 is positioned between the electrode pads 24 and 44 and the power supply unit 100 formed at regular intervals on the upper substrate or the lower substrate of the touch screen to switch the electrode pads 24, 44 and provide an electrical connection of the power supply 100.

상기 스위치(200)는 트랜지스터를 사용한 CMOS 스위치, 진공 스위치, 무접점 스위치, 수은 스위치 등 도선의 개폐가 가능하고 터치 스크린 장치에 도입할 수 있는 다양한 스위치를 포함한다.The switch 200 includes a variety of switches capable of opening and closing conducting wires such as a CMOS switch using a transistor, a vacuum switch, a solid state switch, a mercury switch, and introducing the same into a touch screen device.

그리고, 스위치 제어부(300)는 스위치(200)를 제어하여 스위칭 동작을 수행하도록 하여 전원 공급부(100)와 전극 패드들(24, 44)의 전기적인 접속을 제공하여 전원 공급부(100)에서 공급되는 전원이 전극 패드들(24,44)에 인가되도록 한다.In addition, the switch controller 300 controls the switch 200 to perform a switching operation to provide an electrical connection between the power supply unit 100 and the electrode pads 24 and 44 to be supplied from the power supply unit 100. Power is applied to the electrode pads 24, 44.

상기 스위치 제어부(300)는 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 상기 복수의 전극 패드들(24, 44)을 다양한 조합으로 상기 전원 공급부(100)에 연결되도록 상기 스위치(200)를 제어한다. The switch control unit 300 controls the switch 200 to connect the plurality of electrode pads 24 and 44 to the power supply unit 100 in various combinations according to a switch control sequence.

상기 스위치 컨트롤 시퀀스는 스위치 제어부(300) 내에 정해진 방식으로 설정될 수 있고, 검사 장치내에 설치된 소프트웨어에 의해 랜덤한 방식으로 설정되도록 할 수도 있다. 상기 스위치 컨트롤 시퀀스는 검사 장치의 사용자에 의해 변경될 수도 있다.The switch control sequence may be set in a predetermined manner in the switch control unit 300, or may be set in a random manner by software installed in the inspection apparatus. The switch control sequence may be changed by the user of the inspection apparatus.

다음으로, 저항 측정부(400)는 터치 스크린의 상부 기판 또는 하부 기판의 더미 패드(26, 46)에 하나의 단자가 연결되어 있고, 다른 단자는 전원 공급부(100)에 접속되어 있어 전원 공급부(100)에서 전압을 전극 패드들(24, 44)에 인가하는 경우에 형성된 전기 루프를 이용하여 상부 전극(22)과 하부 전극(42)의 저항을 측정한다.Next, the resistance measuring unit 400 has one terminal connected to the dummy pads 26 and 46 of the upper substrate or the lower substrate of the touch screen, and the other terminal is connected to the power supply 100 so that the power supply unit ( The resistance of the upper electrode 22 and the lower electrode 42 is measured using an electric loop formed when voltage is applied to the electrode pads 24 and 44 at 100.

그리고, 저항값 저장부(500)는 저항 측정부(400)에서 측정한 저항값을 각 전극별로 테이블로 하여 저장한다.The resistance value storage unit 500 stores the resistance value measured by the resistance measurement unit 400 as a table for each electrode.

한편, 이와 같이 구성된 터치 스크린 전극 저항 검사 장치는 상부 기판의 상부 전극과 하부 기판의 하부 전극들에 대하여 순차적으로 저항 검사를 수행할 수 있다. 이를 아래 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다.Meanwhile, the touch screen electrode resistance test apparatus configured as described above may sequentially perform resistance tests on the upper electrodes of the upper substrate and the lower electrodes of the lower substrate. This will be described below with reference to FIG. 4.

도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.4 is a flowchart illustrating a method of inspecting electrode resistance of a touch screen according to a first embodiment of the present invention.

도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법은, 먼저 스위치 제어부가 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 스위치를 제어하여(S100) 상기 복수의 전극(전극 패드)들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결한다(S110).As shown in FIG. 4, in the electrode resistance test method of the touch screen according to the first embodiment of the present invention, first, a switch controller controls a switch according to a switch control sequence (S100) and the plurality of electrodes (electrode pads). One of them is connected to the power supply (S110).

이때, 스위치 컨트롤 시퀀스는 상부 기판의 일측에서부터 순차적으로 X축 방향으로 진행하면서 복수의 전극(전극 패드)들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하도록 형성할 수 있다.In this case, the switch control sequence may be formed so as to connect any one of the plurality of electrodes (electrode pads) to the power supply while sequentially proceeding from one side of the upper substrate in the X-axis direction.

그리고, 이후에 스위치 컨트롤 시퀀스는 하부 기판의 일측에서부터 순차적으로 Y축 방향으로 진행하면서 복수의 전극(전극 패드)들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하도록 형성할 수 있다. Then, the switch control sequence may be formed so as to connect any one of the plurality of electrodes (electrode pads) to the power supply while sequentially proceeding in the Y-axis direction from one side of the lower substrate.

다음으로, 스위치 제어부의 스위치 제어에 의해 상부 기판 또는 하부 기판의 복수의 전극(전극 패드)들중의 어느 하나가 전원 공급부에 연결되면 저항 측정부는 해당 상부 전극 또는 하부 전극에 대한 저항을 측정한다(S120).Next, when any one of the plurality of electrodes (electrode pads) of the upper substrate or the lower substrate is connected to the power supply unit by the switch control of the switch controller, the resistance measuring unit measures the resistance of the upper electrode or the lower electrode ( S120).

그리고, 저항 측정부는 측정된 상부 전극 또는 하부 전극에 대한 저항값을 저항값 저장부에 저장한다(S130). 이때, 저항값 저장부는 이후에 사용자등이 저항값 참조를 용이하게 하도록 테이블 형태로 저장할 수 있다.Then, the resistance measuring unit stores the measured resistance value for the upper electrode or the lower electrode in the resistance value storage unit (S130). In this case, the resistance value storage unit may store the table in a table form so that a user or the like may easily refer to the resistance value.

이후에, 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 상부 기판 또는 하부 기판의 전극에 대한 저항 측정을 계속해서 수행하며 저항 측정을 종료하기 위하여 스위치 컨트롤 시퀀스의 마지막 전극 패드에 도달했는지를 판단한다(S140).Thereafter, the resistance measurement of the electrode of the upper substrate or the lower substrate is continuously performed according to the switch control sequence, and it is determined whether the last electrode pad of the switch control sequence has been reached in order to terminate the resistance measurement (S140).

판단 결과, 스위치 컨트롤 시퀀스의 마지막 전극 패드에 도달하지 않았으면 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 전극들 중 다음 전극을 전원 공급부에 연결하는 과정부터 반복하고, 마지막 전극 패드에 도달하였으면 저항 측정을 종료한다.If it is determined that the last electrode pad of the switch control sequence has not been reached, the process of connecting the next electrode of the electrodes to the power supply unit is repeated according to the switch control sequence, and when the last electrode pad is reached, the resistance measurement is terminated.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It will be understood that the invention may be varied and varied without departing from the scope of the invention.

10 : 터치 스크린 20 : 상부 기판
21 : 상부 투명 기판 22 : 상부 전극
23 : 상부 전극 배선 24 : 상부 전극 패드
25 : 상부 더미 배선 26 : 상부 더미 패드
30 : 접착층 40 : 하부 기판
41 : 하부 투명 기판 42 : 하부 전극
43 : 하부 전극 배선 44 : 하부 전극 패드
45 : 하부 더미 배선 46 : 하부 더미 패드
100 : 전원 공급부 200 : 스위치
300 : 스위치 제어부 400 : 저항 측정부
500 : 저항값 저장부
10: touch screen 20: upper substrate
21: upper transparent substrate 22: upper electrode
23: upper electrode wiring 24: upper electrode pad
25: upper dummy wiring 26: upper dummy pad
30: adhesive layer 40: lower substrate
41 lower transparent substrate 42 lower electrode
43: lower electrode wiring 44: lower electrode pad
45: lower dummy wiring 46: lower dummy pad
100: power supply 200: switch
300: switch control unit 400: resistance measurement unit
500: resistance value storage unit

Claims (8)

터치스크린의 투명 기판의 전극에 전원을 공급하는 전원공급부;
상기 전원 공급부에서 전극에 전원이 공급되면 상기 전극에 접속하여 저항을 측정하는 저항 측정부; 및
상기 저항 측정부에서 측정한 전극의 저항값을 저장하는 저항값 저장부를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
A power supply unit supplying power to the electrode of the transparent substrate of the touch screen;
A resistance measuring unit measuring resistance by connecting to the electrode when power is supplied to the electrode from the power supply unit; And
Electrode resistance test device of the touch screen including a resistance value storage for storing the resistance value of the electrode measured by the resistance measuring unit.
청구항 1에 있어서,
터치 스크린의 전극과 전원 공급부의 사이에 위치하여 스위칭 동작에 의해 전극들과 전원 공급부의 전기적 접속을 제공하는 스위치; 및
상기 스위치를 제어하여 스위칭 동작에 의해 전원 공급부에서 공급되는 전원이 전극들에 순차적으로 인가되도록 하는 스위치 제어부를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
The method according to claim 1,
A switch positioned between the electrode of the touch screen and the power supply to provide electrical connection between the electrodes and the power supply by a switching operation; And
And a switch controller to control the switch so that power supplied from a power supply unit is sequentially applied to the electrodes by a switching operation.
청구항 2에 있어서,
상기 스위치는 CMOS 스위치, 진공 스위치, 무접점 스위치 및 수은 스위치 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
The method according to claim 2,
The switch may be any one of a CMOS switch, a vacuum switch, a solid state switch and a mercury switch.
청구항 1에 있어서,
상기 터치 스크린은 상기 전극의 일측의 주변 영역에 형성된 더미 패드; 및
상기 전극과 상기 더미 패드를 연결하는 더미 배선을 더 구비하며,
상기 저항 측정부는 상기 더미 패드에 접속하여 상기 전극의 저항을 측정하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
The method according to claim 1,
The touch screen may include a dummy pad formed at a peripheral area of one side of the electrode; And
Further comprising a dummy wiring connecting the electrode and the dummy pad,
The resistance measuring unit is connected to the dummy pad to measure the resistance of the electrode of the touch screen, characterized in that the electrode.
청구항 4에 있어서,
상기 더미 패드는 구리, 알루미늄, 은, 금, CNT 및 도전성 접착 테이프 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
The method of claim 4,
The dummy pad may be formed of any one of copper, aluminum, silver, gold, CNT, and a conductive adhesive tape.
(A) 터치 스크린의 복수의 전극들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하는 단계;
(B) 복수의 전극들중의 어느 하나가 전원 공급부에 연결되면 저항 측정부는 해당 전극에 대한 저항을 측정하는 단계; 및
(C) 저항값 저장부가 측정된 전극에 대한 저항값을 저장하는 단계를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법.
(A) connecting any one of the plurality of electrodes of the touch screen to the power supply;
(B) when any one of the plurality of electrodes is connected to the power supply unit, the resistance measuring unit measures the resistance of the corresponding electrode; And
(C) the resistance value storage method of the electrode resistance test method of the touch screen comprising the step of storing the resistance value for the measured electrode.
청구항 6에 있어서,
상기 (A) 단계는
스위치 제어부가 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 스위치를 제어하여 터치 스크린의 투명 기판의 일측에서부터 순차적으로 반대측으로 진행하면서 상기 복수의 전극들중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법.
The method of claim 6,
Step (A) is
The switch controller controls the switch according to a switch control sequence to sequentially connect from one side of the transparent substrate of the touch screen to the opposite side and connect any one of the plurality of electrodes to the power supply unit. Way.
청구항 6에 있어서,
상기 (C) 단계 이후에,
(D) 스위치 컨트롤 시퀀스에서 마지막 전극에 해당하는지를 판단하는 단계; 및
(E) 판단 결과, 마지막 전극에 해당하지 않으면 상기 (A) 단계부터 반복수행하고 마지막 전극에 해당하면 저항 측정을 종료하는 단계를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법.
The method of claim 6,
After the step (C),
(D) determining whether it corresponds to the last electrode in the switch control sequence; And
(E) if the result of the determination, the electrode resistance test method of the touch screen comprising the step of performing repeatedly from the step (A) if it does not correspond to the end of the resistance measurement.
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