KR100937822B1 - Ion beam irradiation device and the method thereof - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정 표시 장치의 배향막에 이온빔을 조사하여 액정 배향을 실시하는 공정에서 생산 효율을 높일 수 있는 이온 빔 조사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
본 발명은 이온 빔 조사 장치를 이용하여 다수의 기판을 동시에 이온 빔 조사하여 배향 처리하는 방법을 제시한 것으로, 이온 빔 조사 장치에서 배향막이 도포된 기판을 일정한 방향으로 기울여 이온 빔의 1회 조사에 의해 다수의 기판을 동시에 배향 처리할 수 있어 생산성을 높이는 효과가 있다.
배향막, 이온 건, 이온 빔, 기판
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ion beam irradiation apparatus and a method for improving production efficiency in a step of irradiating an ion beam to an alignment film of a liquid crystal display to perform liquid crystal alignment.
The present invention provides a method for performing an alignment treatment by irradiating a plurality of substrates at the same time using an ion beam irradiation apparatus. As a result, many substrates can be subjected to alignment treatment at the same time, thus increasing the productivity.
Alignment Film, Ion Gun, Ion Beam, Substrate
Description
도 1은 일반적인 액정 표시 장치에 대한 개략적인 단면도.1 is a schematic cross-sectional view of a general liquid crystal display device.
도 2는 종래 배향막을 형성하기 위한 이온 빔 조사 장치의 개략적인 구성을 보여주는 도면.2 shows a schematic configuration of an ion beam irradiation apparatus for forming a conventional alignment film.
도 3은 종래 이온 빔 조사 장치에서 이온 빔의 조사 각도(θ₂)에 따른 프리틸트각(pretilt angle)과의 관계를 보여주는 그래프.Figure 3 is a graph showing the relationship between the pretilt angle (pretilt angle) according to the irradiation angle (θ₂) of the ion beam in the conventional ion beam irradiation apparatus.
도 4는 본 발명에 따른 일 실시예로서, 이온 빔 조사 장치를 개략적으로 보여주는 도면.4 is a view schematically showing an ion beam irradiation apparatus as an embodiment according to the present invention.
도 5는 도 4의 이온 빔 조사 장치의 개념적인 부분 사시도.5 is a conceptual partial perspective view of the ion beam irradiation apparatus of FIG. 4.
도 6은 본 발명에 따른 다른 실시예로서, 이온 빔 조사 장치를 개략적으로 보여주는 도면.6 is a schematic view of an ion beam irradiation apparatus according to another embodiment of the present invention.
도 7은 도 6의 이온 빔 조사 장치의 개념적인 부분 사시도.7 is a conceptual partial perspective view of the ion beam irradiation apparatus of FIG. 6.
도 8은 본 발명에 따른 또 다른 실시예로서, 이온 빔 조사 장치에서 기판 배향 처리되는 공정을 보여주는 부분 사시도.8 is a partial perspective view showing a process of substrate alignment in an ion beam irradiation apparatus according to another embodiment of the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호 설명><Description of Signs of Major Parts of Drawings>
300, 400 : 이온 빔 소스 301, 401 : 플라즈마 형성부
300, 400:
302, 402, 502 : 이온 건(Ion gun) 310, 410 : 스테이지302, 402, 502:
320, 420, 520 : 기판 330, 430, 530 : 이온 빔320, 420, 520:
340, 440 : 진공 챔버 350, 450, 550 : 배향막340, 440:
360, 460 : 밸브 360, 460: Valve
본 발명은 액정 표시 장치의 배향막에 이온빔을 조사하여 액정 배향을 실시하는 공정에서 생산 효율을 높일 수 있는 이온 빔 조사 장치 및 그 방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE
일반적으로, 화상 정보를 화면에 나타내는 디스플레이 장치들 중에서 브라운관 표시 장치(혹은 CRT:Cathode Ray Tube)가 지금까지 가장 많이 사용되어 왔는데, 이것은 표시 면적에 비해 부피가 크고 무겁기 때문에 사용하는데 많은 불편함이 따랐다. In general, CRT (or CRT: Cathode Ray Tube) has been the most used display device for displaying image information on the screen, which is inconvenient to use because it is bulky and heavy compared to the display area. .
그리고, 오늘날에는 전자산업의 발달과 함께 TV 브라운관 등에 제한적으로 사용되었던 디스플레이 장치가 개인용 컴퓨터, 노트북, 무선 단말기, 자동차 계기판, 전광판 등에 확대 사용되고, 정보통신 기술의 발달과 함께 대용량의 화상정보를 전송할 수 있게 됨에 따라 이를 처리하여 구현할 수 있는 차세대 디스플레이 장치의 중요성이 커지고 있다.In addition, with the development of the electronics industry, display devices, which have been limitedly used in TV CRTs, have been widely used in personal computers, notebooks, wireless terminals, automobile dashboards, electronic displays, and can transmit large amounts of image information with the development of information and communication technology. As a result, the importance of the next generation display device that can process and implement this is increasing.
이와 같은 차세대 디스플레이 장치는 경박단소, 고휘도, 대화면, 저소비 전 력 및 저가격화를 실현할 수 있어야 하는데, 그 중 하나로 최근에 액정 표시 장치가 주목을 받고 있다.Such next-generation display devices should be able to realize light and small, high brightness, large screen, low power consumption, and low price, and one of them has recently attracted attention.
상기 액정 표시 장치(LCD:Liquid Crystal Display)는 표시 해상도가 다른 평판 표시 장치보다 뛰어나고, 동화상을 구현할 때 그 품질이 브라운관에 비할 만큼 응답 속도가 빠른 특성을 나타내고 있다.The liquid crystal display (LCD) has excellent display resolution than other flat panel display devices and exhibits a response speed that is higher than that of a CRT when implementing a moving image.
알려진 바와 같이, 액정 표시 장치의 구동 원리는 액정의 광학적 이방성과 분극 성질을 이용한 것이다. As is known, the driving principle of the liquid crystal display device utilizes the optical anisotropy and polarization properties of the liquid crystal.
액정 분자는 구조가 가늘고 길기 때문에 분자 배열에 방향성과 분극성을 가지고 있으며, 상기 액정 분자들에 인위적으로 전자기장을 인가하여 분자 배열 방향을 조절할 수 있다. Since the liquid crystal molecules are thin and long in structure, the liquid crystal molecules have directionality and polarization in the molecular arrangement, and the direction of the molecular arrangement can be controlled by artificially applying an electromagnetic field to the liquid crystal molecules.
따라서, 액정 분자의 배향 방향을 임의로 조절하면 액정의 광학적 이방성에 의하여 액정 분자의 배열 방향에 따라 빛을 투과 혹은 차단시킬 수 있게 되어, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 색상 및 영상을 표시할 수 있게 된다.Accordingly, if the alignment direction of the liquid crystal molecules is arbitrarily adjusted, light can be transmitted or blocked according to the alignment direction of the liquid crystal molecules by the optical anisotropy of the liquid crystal, so that the color and the image can be displayed by the light transmittance which is changed accordingly. do.
도 1은 일반적인 액정 표시 장치에 대한 개략적인 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view of a general liquid crystal display device.
도 1을 참조하면, 투명한 제 1 기판(111) 위에 금속과 같은 도전 물질로 이루어진 게이트 전극(121)이 형성되어 있고, 그 위에 실리콘 질화막(SiNx)이나 실리콘 산화막(SiOx)으로 이루어진 게이트 절연막(130)이 게이트 전극(121)을 덮고 있다.Referring to FIG. 1, a
상기 게이트 전극(121) 상부의 게이트 절연막(130) 위에는 비정질 실리콘으로 이루어진 액티브층(141)이 형성되어 있으며, 그 위에 불순물이 도핑된 비정질 실리콘으로 이루어진 오믹 콘택층(151, 152)이 형성되어 있다.An
또한, 상기 오믹 콘택층(151, 152) 상부에는 금속과 같은 도전 물질로 이루어진 소스 및 드레인 전극(161, 162)이 형성되어 있는데, 상기 소스 및 드레인 전극(161, 162)은 상기 게이트 전극(121)과 함께 박막 트랜지스터(TFT : T)를 이룬다.In addition, source and
상기 소스 및 드레인 전극(161, 162) 위에는 실리콘 질화막(SiNx)이나 실리콘 산화막(SiOx)으로 이루어진 보호층(170)이 형성되어 있으며, 상기 보호층(170)은 드레인 전극(162)을 드러내는 콘택홀(171)을 가진다.A
상기 보호층(170) 상부의 화소 영역에는 투명 도전 물질로 이루어진 화소 전극(181)이 형성되어 있고, 상기 화소 전극(181)은 콘택홀을 통해서 상기 드레인 전극(162)과 연결되어 있다.A
상기 화소 전극(181) 상부에는 폴리이미드(polyimide)와 같은 물질로 이루어지고 표면이 일정 방향을 가지도록 형성된 제 1 배향막(191)이 형성되어 있다.A
이 때, 상기 게이트 전극(121)은 게이트 배선과 연결되어 있고, 상기 소스 전극(161)은 데이터 배선과 연결되어 있으며, 상기 게이트 배선과 데이터 배선은 서로 직교하여 화소 영역을 정의한다.In this case, the
한편, 상기와 같이 구성되어 있는 제 1 기판(111)을 포함하는 하부 기판 상부에는 상기 제 1 기판(111)과 일정 간격을 가지며 투명한 제 2 기판(110)을 포함한다.The lower substrate including the
상기 제 2 기판(110) 하부의 박막 트랜지스터와 대응되는 부분에는 화소 영 역 이외의 부분에서 빛샘이 발생하는 것을 방지하기 위한 블랙 매트릭스(120)가 형성되어 있다.A
상기 블랙 매트릭스(120) 하부에는 컬러 필터(131)가 형성되어 있으며, 상기 컬러 필터(131)는 적(R), 녹(G), 청(B)의 세 가지 색이 순차적으로 반복되어 형성되어 있으며, 하나의 색이 하나의 화소 영역에 대응된다.A
이 때, 상기 컬러 필터(131)는 염색법, 인쇄법, 안료 분산법, 전착법 등에 의해 형성되어질 수 있다.In this case, the
이어서, 상기 컬러 필터(131)의 하부에는 투명한 도전 물질로 이루어진 공통 전극(140)이 형성되어 있으며, 상기 공통 전극(140) 하부에는 폴리이미드와 같은 물질로 이루어지고 표면이 일정 방향을 가지도록 형성된 제 2 배향막(150)이 형성되어 있다.Subsequently, a
여기서, 상기 제 1 배향막(191)과 제 2 배향막(150) 사이에는 액정층(190)이 주입되며, 상기 액정층(190)의 액정 분자는 상기 배향막(191, 150)의 배향 방향에 의해서 초기 배향 상태가 결정된다.Here, the
이하, 상기와 같은 구성을 가지는 액정 표시 장치에서 액정 분자의 초기 배열 방향을 결정하기 위한 배향막 형성 과정에 대해서 좀 더 상세히 설명한다.Hereinafter, a process of forming an alignment layer for determining an initial alignment direction of liquid crystal molecules in a liquid crystal display having the above configuration will be described in more detail.
먼저, 배향막의 형성은 고분자 박막을 도포하고 배향막을 일정한 방향으로 배열시키는 공정으로 이루어진다.First, the alignment film is formed by applying a polymer thin film and arranging the alignment film in a predetermined direction.
상기 배향막에는 일반적으로 폴리이미드(polyimide) 계열의 유기물질이 주로 사용되고, 상기 배향막을 배열시키는 방법으로는 주로 러빙(rubbing) 방법이 이용 되고 있다.In general, a polyimide-based organic material is mainly used for the alignment layer, and a rubbing method is mainly used to arrange the alignment layer.
상기 러빙 방법은 먼저 기판 위에 폴리이미드 계열의 유기물질을 도포하고, 60 ~ 80℃ 정도의 온도에서 용제를 날리고 정렬시킨 후, 80 ~ 200℃ 정도의 온도에서 경화시켜 폴리이미드 배향막을 형성한 후, 벨벳(velvet) 등을 감은 러빙포를 이용하여 상기 배향막을 일정한 방향으로 문질러 줌으로써 다양한 배향 방향을 형성시키는 방법이다.In the rubbing method, first, a polyimide-based organic material is coated on a substrate, the solvent is blown and aligned at a temperature of about 60 to 80 ° C., and then cured at a temperature of about 80 to 200 ° C. to form a polyimide alignment layer. It is a method of forming a variety of orientation directions by rubbing the alignment layer in a certain direction using a rubbing cloth wound with a velvet or the like.
이와 같은 러빙에 의한 방법은 배향 처리가 용이하여 대량 생산에 적합하고, 안정된 배향을 가지는 장점이 있다.Such a method by rubbing has an advantage that the alignment treatment is easy, suitable for mass production, and has a stable orientation.
그러나, 상기 러빙 방법은 배향막과 러빙포의 직접적인 접촉을 통해 이루어지므로 먼지(particle) 발생에 의한 셀(cell)의 오염, 정전기 발생에 의하여 기판에 설치된 TFT 소자의 파괴, 러빙 후의 추가적인 세정 공정의 필요, 대면적 적용시의 배향의 비균일성(non-uniformity) 등과 같은 여러 가지 문제점이 발생하게 되어 액정 표시 장치의 제조시의 수율을 떨어뜨리는 문제점이 있었다.However, since the rubbing method is performed through direct contact between the alignment film and the rubbing cloth, contamination of the cell by dust generation, destruction of the TFT element installed on the substrate due to static electricity generation, and the need for an additional cleaning process after rubbing. However, various problems such as non-uniformity of orientation in large-area applications occur, resulting in a drop in yield in manufacturing a liquid crystal display.
상기 러빙 방법의 문제점을 개선하기 위하여 기계적인 러빙 방법을 이용하지 않는 여러 가지 넌러빙(non-rubbing) 배향 기술이 제안되고 있다.In order to improve the problem of the rubbing method, various non-rubbing orientation techniques without using a mechanical rubbing method have been proposed.
이러한 배향 기술로는 랑그뮈어-블로젯 필름(Langmuir-Blodgett film ; LB film)을 이용하는 방법, UV 조사를 이용한 광 배향법, SiO2의 사방 증착을 이용한 방법, 포토리소그래피(photolithography)로 형성된 마이크로 그루브(micro-groove)를 이용하는 방법, 그리고 이온 빔(Ion beam) 조사를 이용하는 방법이 있 다.Such alignment techniques include a method using a Langmuir-Blodgett film (LB film), a photo alignment method using UV irradiation, a method using four-way deposition of SiO 2 , and microgrooves formed by photolithography. There is a method using micro-groove, and a method using ion beam irradiation.
이 중에서 이온 빔을 이용하여 배향하는 방법은 상기 기계적인 러빙 방법에 의한 문제점을 해결할 뿐 아니라, 종래의 배향 재료를 그대로 이용하는 것이 가능하며 대면적 대응이 가능하다.Among these, the method of aligning using an ion beam not only solves the problems caused by the mechanical rubbing method, but can also use a conventional alignment material as it is and can cope with a large area.
도 2는 종래 배향막을 형성하기 위한 이온 빔 조사 장치의 개략적인 구성을 보여주는 도면이다.2 is a view showing a schematic configuration of an ion beam irradiation apparatus for forming a conventional alignment film.
상기 이온 빔 조사 장치는 크게 세 영역으로 나누어지며, 주입된 가스(gas)가 이온과 전자로 전리되어 플라즈마를 형성하는 영역(203)과 상기 이온이 빔의 형태로 인출되어 가속화되어 통과하는 영역(206)과 상기 가속화된 이온 빔(210)이 방출되는 곳부터 기판에 이르기까지의 조사 영역(211)이 그것이다.The ion beam irradiation apparatus is largely divided into three regions, a
상기 플라즈마를 형성하는 영역(203)에서는 주입된 가스를 이온으로 전리하며, 상기 전리된 이온은 인출되어 가속화된 후 기판(220)으로 조사된다.In the
즉, 상기 이온 빔 조사 장치는 진공 용기(240) 내에 있어서 홀더(221)에 고정된 기판(220)에 이온 빔(210)을 조사하도록 구성된다. That is, the ion beam irradiation device is configured to irradiate the
이 때, 상기 이온 빔 조사 장치는 캐소드(cathode, 201)와 애노드(anode, 202)와 이온 빔 인출 매질(204)과 이온 빔 가속 매질(205)을 포함하는 이온 빔 소스(Ion beam source, 200)와, 상기 이온 빔 소스(200)로부터 발생되는 이온 빔(210)이 기판(220)까지 직진하여 조사될 수 있도록 하는 진공 용기(240)와, 상기 진공 용기(240) 내에서 기판(220)이 일정한 각도를 유지할 수 있도록 고정하는 홀더(221)를 포함하여 이루어진다.
In this case, the ion beam irradiation apparatus includes an
도시되지는 않았지만, 이온 빔(210)이 기판(220)에 조사되는 시간을 조절하기 위하여 이온 빔 소스(200)와 기판(220) 사이에 셔터(shutter)를 구비하기도 한다.Although not shown, a shutter may be provided between the
상기 이온 빔 소스(200)에서는 이온을 발생시키고 이온 빔(210)을 생성하는데, 캐소드(201)와 애노드(202)의 전압 차에 의해서 주입된 가스를 전리하여 전자와 이온을 포함하는 플라즈마를 생성하고, 생성된 플라즈마에서 이온은 인출 전극에 의해서 이온 빔 인출 매질(204)의 통과부를 통과하여 이온 빔(210)으로 인출된다.The
상기 방전된 플라즈마로부터 인출된 이온 빔(210)은 이온 빔 가속 매질(205)에 걸리는 전계의 작용으로 가속화되어 기판(220) 상에 일정 각도를 가지고 조사되게 된다.The
여기서, 상기 기판(220)은 조사되는 이온 빔(210)에 대해서 일정한 각도로 기울어지게 되는데, 이로써 상기 이온 빔(210)을 이용하여 기판(220) 상에 도포된 배향막에 원하는 배향 방향을 형성할 수 있으며 프리틸트 각(pretilt angle)을 형성할 수 있다.Here, the
이와 같이, 상기 이온 빔 소스(200)로부터 발생되는 이온 빔(210)은 상기 이온 빔 소스(200)의 법선 방향으로 인출되어 일정한 각도(θ₁)로 기울어진 기판(220) 상의 배향막으로의 조사 각도(θ₂)에 의해서 액정 분자의 프리틸트각(pretilt angle)을 결정하게 된다. 이 때 θ₁= θ₂이다.As such, the
이 때, 상기 조사 각도(θ₂)는 이온 빔(210)의 조사 방향과 기판(220)의 법선 방향이 이루는 각도를 말하며, 상기 이온 빔(210)의 조사 각도(θ₂)와 프리틸트 각 과의 관계는 도 3에 나타내었다.In this case, the irradiation angle θ₂ refers to the angle formed between the irradiation direction of the
도 3을 참조하면, 이온 빔의 조사 각도에 따라 프리틸트 각이 다른 특성을 보이는 것을 알 수 있는데, 상기 이온 빔의 조사 각도가 40 ~ 60도 사이일 경우에 최대의 프리틸트 각을 가지며 전후 조사 각도에 대해서는 5도 이하의 프리틸트 각을 가진다.Referring to FIG. 3, it can be seen that the pretilt angle has different characteristics according to the irradiation angle of the ion beam. When the irradiation angle of the ion beam is between 40 and 60 degrees, the pretilt angle has the maximum pretilt angle. The angle has a pretilt angle of 5 degrees or less.
따라서, 액정 표시 장치에서 원하는 프리틸트 각을 균일하게 얻기 위해서는 상기 기판 상의 배향막 전면에 적절한 조사 각도를 가지는 이온 빔을 동일한 에너지로 조사해야 한다. Therefore, in order to uniformly obtain a desired pretilt angle in the liquid crystal display, an ion beam having an appropriate irradiation angle on the entire surface of the alignment layer on the substrate must be irradiated with the same energy.
상기와 같은 구조를 가지는 이온 빔 조사 장치는 배향막에 이온 빔을 조사하여 프리틸트 각을 형성하기 위해서 이온 빔 1회 조사시마다 기판을 새로 세팅하여 고정시킨 후 실시하여야 하므로 매우 번거로운 문제점이 있다.The ion beam irradiation apparatus having the structure as described above has a very troublesome problem because the ion beam irradiation apparatus needs to be performed after newly setting the substrate every time the ion beam is irradiated to form the pretilt angle by irradiating the ion beam to the alignment layer.
즉, 상기 이온 빔 조사 장치의 진공 용기 안에서 상기 이온 빔 소스로부터 인출 매질과 가속 매질의 장축 방향에 대해 수직한 방향으로 인출된 이온 빔이 배향막에 조사되어 원하는 프리틸트 각을 얻기 위해서는 상기 이온 빔이 원하는 조사 각도로 기판에 도달할 수 있도록 상기 기판을 기울여 세팅하는 과정을 이온 빔 조사시마다 실시하여야 한다.In other words, in the vacuum vessel of the ion beam irradiation apparatus, the ion beam drawn from the ion beam source in a direction perpendicular to the direction of the major axis of the extraction medium and the acceleration medium is irradiated onto the alignment layer to obtain the desired pretilt angle. The process of tilting the substrate so as to reach the substrate at a desired irradiation angle should be performed every ion beam irradiation.
따라서, 종래 이온 빔 조사 장치는 배향막에 프리틸트 각을 형성하는 시간이 길어 제조 수율이 저하되는 문제점이 있다.Therefore, the conventional ion beam irradiation apparatus has a problem in that the production time decreases due to a long time for forming the pretilt angle on the alignment layer.
또한, 균일한 이온 빔의 에너지를 조사하기 위하여 이온 빔 소스로부터 기판 까지 충분히 긴 간격을 유지하여야 하며, 기판 크기가 커지면 그 간격은 더 길어져야 하는 문제점이 있다.In addition, in order to irradiate the energy of a uniform ion beam, a long enough distance must be maintained from the ion beam source to the substrate, and as the substrate size increases, the distance must be longer.
본 발명은 이온 빔 조사 장치에서 배향막이 도포된 기판을 일정한 방향으로 기울여 이온 빔의 1회 조사에 의해 다수의 기판을 동시에 배향 처리할 수 있는 이온 빔 조사 장치 및 그 방법을 제공하는 데 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an ion beam irradiation apparatus and a method thereof capable of simultaneously orientating a plurality of substrates by one irradiation of an ion beam by tilting a substrate coated with an alignment film in a predetermined direction in the ion beam irradiation apparatus. .
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치는, 진공 챔버 내에서 일정한 각도로 경사지게 배치되며 일 방향으로 이동하는 다수의 기판과;상기 기판에 일정 간격 이격하여 이온 빔을 조사하는 이온 건(Ion gun);을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the ion beam irradiation apparatus according to the present invention comprises: a plurality of substrates disposed inclined at a predetermined angle in a vacuum chamber and moving in one direction; ions irradiating an ion beam spaced at a predetermined interval to the substrate; Gun (Ion gun); characterized in that comprises a.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 이온 빔 조사 방법은, In addition, the ion beam irradiation method according to the present invention in order to achieve the above object,
다수의 기판이 진공 챔버 안으로 진입하여 배열되는 단계와; 상기 다수의 기판이 진공 챔버 내에서 일정한 각도로 경사지게 배치되는 단계와; 상기 기판이 일 방향으로 이동하면서 이온 빔이 조사되는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.Entering and arranging a plurality of substrates into the vacuum chamber; Placing the plurality of substrates inclined at a predetermined angle in a vacuum chamber; And irradiating an ion beam while the substrate moves in one direction.
이하, 첨부한 도면을 참조로 하여 본 발명의 구체적인 실시예에 대해서 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
(제 1 실시예)(First embodiment)
도 4는 본 발명에 따른 일 실시예로서, 이온 빔 조사 장치를 개략적으로 보 여주는 도면이다.4 is a view schematically showing an ion beam irradiation apparatus as an embodiment according to the present invention.
도 4에 나타낸 바와 같이, 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치에서 기판(320)이 일방향으로 이동함에 따라 이온 빔(330)이 기판(320) 전면에 조사된다.As shown in FIG. 4, in the ion beam irradiation apparatus according to the present invention, the
상기 이온 빔 조사 장치는 주입된 가스를 이온으로 전리하여 전리된 이온을 가속화하여 기판(320)으로 배출하는 이온 빔 소스(Ion beam source, 300)와, 상기 이온 빔 소스(300)로부터 발생되는 이온 빔(330)이 기판(320)까지 직진하여 조사될 수 있도록 하는 진공 챔버(340)와, 상기 진공 챔버(340) 내에서 기판(320)을 고정하여 일방향으로 이동할 수 있는 스테이지(310)와, 상기 이온 빔 조사가 매회 끝날때마다 가스를 배출하고 스테이지(310)를 외부에서 내부로 내부에서 외부로 이동시킬 수 있는 밸브(360)를 포함하여 이루어진다.The ion beam irradiation apparatus ionizes the injected gas into ions, accelerates the ionized ions, and discharges the ionized ions to the
상기 이온 빔 소스(300)는 주입된 가스가 이온과 전자로 분리되어 플라즈마를 형성하는 플라즈마 형성부(301)와, 상기 플라즈마 형성부(301)에서 형성된 이온 빔(330)이 가속화되어 기판(320)으로 인출되는 이온 건(Ion gun, 302)을 포함하여 이루어진다. The
도시되지는 않았지만, 이온 빔 조사 장치는 이온 빔(330)이 기판(320)에 조사되는 시간을 조절하기 위하여 이온 빔 소스(300)와 기판(320) 사이에 셔터(shutter) 또는 기판(320)에 조사되는 이온 빔(330)의 양을 조절하기 위하여 마스크(mask)를 별도로 구비하기도 한다.Although not shown, the ion beam irradiation apparatus may include a shutter or a
이때, 상기 스테이지(310)에는 배향막(350)이 도포되어 있는 기판(320)이 장 착되어 함께 이동하게 되며, 상기 배향막(350)으로는 폴리이미드(polyimide), SiO2, SiC, Si3N4, Al2O3, CeO2, SnO2, glass, ZnTiO2, DLC(Diamond-Like Carbon) 등을 사용할 수 있다. In this case, a
상기 이온 빔 소스(300)에서는 이온을 발생시키고 이온 빔(330)을 생성하는데, 캐소드(cathode)와 애노드(anode)의 전압 차에 의해서 주입된 가스를 전리하여 전자와 이온을 포함하는 플라즈마(plasma)를 생성하고, 생성된 플라즈마에서 이온은 인출 전극에 의해서 이온 건을 통과하여 이온 빔(330)으로 인출된다.The
상기 방전된 플라즈마로부터 인출된 이온 빔(330)은 전계의 작용으로 가속화되어 기판(320) 상에 조사된다.The
여기서, 상기 진공 챔버(340) 안에서 상기 기판(320)은 스테이지(310) 상에 고정되어 있으며 원하는 프리틸트 각을 얻기 위하여 일정한 각도로 기울어져서 고정되어 일 방향으로 이동할 수 있으며, 따라서 이온 건(302)을 통과하여 인출되는 이온 빔(330)은 기판(320)에 일정한 각도로 기울어져 조사된다.Here, in the
이때, 상기 이온 빔 조사 장치로 인입되기 전에 스테이지(310) 상에 고정되어 이송되는 기판(320)은 두 개의 기판(320)이 진공 챔버(340) 내로 이송되어 셋팅된다.In this case, two
상기 두 개의 기판(320)은 이동 방향에 대해서 수직 방향으로 배열(이동방향축에 대해 수직한 방향으로 배열)되어 있으며 상기 두 개의 기판(320)이 이동 방향을 축으로 대칭되게 일정한 각도(θ)로 기울여져 진공 챔버(340) 내에서 이동되면서 이온 빔이 조사되며, 상기 기판(320)으로 조사되는 이온 빔(330)에 의해서 기판(320) 상의 배향막(350) 전면이 배향 처리된다.The two
여기서, 상기 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버(340) 내에서 상기 기판(320)을 고정하고 있는 스테이지(310)가 일 방향으로 일정한 속도로 이동함으로써 상기 이온 건(302)에서 인출되는 이온 빔(330)에 의해서 일정한 각도(θ)로 기울어져 있는 기판(320) 상에 형성되어 있는 배향막(350)의 전면이 배향 처리되어 원하는 프리틸트 각을 형성할 수 있다.Here, the
본 발명에 따르면, 이온 빔 조사 장치에서 이온 건(302)의 크기는 두 개의 기판(320)을 처리하기 위하여 두 배로 커질 필요가 없다. 상기 두 개의 기판(320)은 배향 처리시에 일정한 각도로 기울어지게 되므로 이온 빔(330)이 조사되는 기판(320)의 유효 면적에 대해서 이온 건에서 이온 빔이 조사되는 영역의 면적이 작기 때문이다.According to the present invention, the size of the
따라서, 상기 이온 빔 조사 장치를 이용하면 배향막(350)의 균일성을 유지할 수 있을 뿐만 아니라, 이온 빔의 1회 조사로 2매의 기판(320)을 배향 처리할 수 있어 생산성이 두배로 늘어나는 장점이 있다.Therefore, using the ion beam irradiation device not only maintains the uniformity of the
이로써 상기 이온 빔(330)을 이용하여 기판(320) 상에 도포된 배향막(350)에 원하는 배향 방향을 형성할 수 있으며, 프리틸트 각(pretilt angle)을 형성할 수 있다.As a result, a desired alignment direction may be formed on the
이 때, 상기 기판(320) 상에는 폴리이미드와 같은 유기물질의 배향막(350)이 도포되어 있는데, 상기 폴리이미드와 같이 배향막(350)으로 사용되는 유기 물질은 화학적 구조로서 주쇄(main chain)와 측쇄(side chain)로 나뉘어진다.At this time, an
상기 주쇄는 액정 분자를 한 방향으로 배열시키는 역할을 하고, 상기 측쇄는 프리틸트 각을 형성하는 역할을 한다.The main chain serves to align the liquid crystal molecules in one direction, and the side chain serves to form a pretilt angle.
특히, 상기 측쇄는 이온 빔 조사시에 반응하여 일정 부위가 끊어지도록 함으로써 배향시에 액정 분자가 방향성을 가지고 배향되도록 한다.In particular, the side chain reacts upon irradiation with the ion beam so that a predetermined portion is broken so that the liquid crystal molecules are aligned with the orientation at the time of alignment.
이와 같이, 상기 이온 빔 소스(300)로부터 발생되는 이온 빔(330)은 상기 이온 건(302)이 기울어진 방향으로 인출되고 일정한 각도(θ)로 기판(320) 상의 배향막(350)으로 조사되어 액정 분자의 프리틸트 각(pretilt angle)을 결정하게 된다.As such, the
본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치를 이용하여 배향막(350)이 형성된 기판(320)을 배향 처리하는 공정을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a process of aligning the
먼저, 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치를 이용한 배향 처리 공정은 크게 세 단계로 나누어진다. 배향 처리 공정은 배향막(350)을 형성하고 있는 기판(320)을 고정하고 있는 스테이지(310)가 상기 이온 빔 조사 장치로 인입되기 전에 로딩(loading)되는 단계와, 상기 스테이지(310)가 이동하여 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버(340)로 인입되면 기판(320)에 이온 빔(330)을 조사하는 단계와, 상기 기판(320)의 전면에 이온 빔(330)이 조사되면 상기 이온 빔 조사 장치 외부로 배출되는 단계를 포함한다.First, the alignment treatment process using the ion beam irradiation apparatus according to the present invention is largely divided into three steps. In the alignment process, the
상기 기판(320)에는 배향막(350)이 형성되어 있으며 상기 기판(320)은 스테이지(310)에 고정되어 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버(340) 안에 인입되기 전에 로딩된다.
An
그리고, 상기 이온 빔 조사 장치의 밸브(360)가 열리면 상기 스테이지(310)는 진공 챔버(340) 안으로 이송되어 세팅된다.When the
이때, 상기 진공 챔버(340) 내로 두 개의 기판(320)이 이송되며, 상기 두 개의 기판(320)은 이동 방향에 대해서 수직하게 배열되어 있어 이동 방향과 평행하게 나란이 이동하고, 상기 두 개의 기판(320)이 이동 방향을 축으로 대칭되게 일정한 각도(θ)로 기울여져 진공 챔버(340) 내에서 이동되면서 이온 빔이 조사되며, 상기 기판(320)으로 조사되는 이온 빔(330)에 의해서 기판(320) 전면이 배향 처리된다.In this case, two
즉, 상기 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버(340) 내에서 상기 기판(320)을 고정하고 있는 스테이지(310)가 일 방향으로 일정한 속도로 이동함으로써 바 타입(bar-type)의 이온 건(302)에서 인출되는 이온 빔(330)에 의해서 일정한 각도(θ)로 기울어져 있는 기판(320) 상에 형성되어 있는 배향막(350)의 전면이 배향 처리되어 원하는 배향 방향과 프리틸트 각을 형성할 수 있다.That is, the
여기서, 상기 스테이지(310)가 일정한 속도로 이동하고 있으므로 상기 기판(320)에 형성되어 있는 배향막(350)은 기판(320)으로 기울어져 조사되는 이온 빔(330)에 의해서 전면이 배향 처리되어 원하는 프리틸트 각을 형성하게 된다.Here, since the
그리고, 상기 바(bar) 타입의 이온 건(302)에 의해서 1회의 이온 빔 조사로 두 개의 기판(320) 전면에 걸쳐 배향 처리가 끝나면 상기 이온 빔 조사 장치의 밸브(360)가 열리면서 상기 스테이지(310)는 진공 챔버(340) 외부로 배출된다.When the alignment process is completed over the entire surface of the two
도 5는 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치의 개념적인 부분 사시도로서, 이 온 빔에 의해서 기판이 배향 처리되는 공정을 보여주고 있다.5 is a conceptual partial perspective view of the ion beam irradiation apparatus according to the present invention, showing a process in which the substrate is oriented by the ion beam.
도 5를 참조하면, 바(bar) 타입의 이온 건(302)으로부터 인출되는 이온 빔(330)은 이동 방향에 대해서 수직한 방향으로 배열되고, 이동 방향으로 두개의 기판(320)이 나란히 이동하고, 이동 방향을 축으로 대칭되게 일정한 각도(θ)로 기울어진 두 개의 기판(320)으로 조사된다. 즉, 기판(320)의 이동 방향축에 수직한 축과 평행하게 두개의 기판(320)이 배열되고, 두 기판(320)은 이동 방향과 평행하게 나란히 이동한다.Referring to FIG. 5, the ion beams 330 drawn from the bar
이때, 상기 기판(320)은 일 방향으로 이동되며 이에 따라 상기 이온 건(302)에서 인출되는 이온 빔(330)에 의해 배향막(350) 전면이 배향 처리된다.In this case, the
여기서, 상기 배향의 균일성을 위하여 기판(320)은 등속도로 이동하는 것이 바람직하며, 상기 이온 건(302)은 단위 시간 및 단위 면적에 대해서 일정한 양의 이온 빔(330)을 인출한다. Here, the
상기 두 개의 기판(320)은 이동 방향에 대해서 수직한 방향으로 배열되어 있으며 상기 두 개의 기판(320)이 이동 방향을 축으로 대칭되게 일정한 각도(θ)로 기울어져 이동되면서 이온 빔이 조사되므로, 상기 기판(320)으로 조사되는 이온 빔(330)에 의해서 배향막(350) 전면이 배향 처리된다.Since the two
(제 2 실시예)(Second embodiment)
도 6은 본 발명에 따른 다른 실시예로서, 이온 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 보여주는 도면이다.6 is a view schematically showing the configuration of an ion beam irradiation apparatus as another embodiment according to the present invention.
도 6에 나타낸 바와 같이, 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치에서 기판(420)이 일방향으로 이동함에 따라 이온 빔(430)이 배향막(450) 전면에 조사된다.As shown in FIG. 6, in the ion beam irradiation apparatus according to the present invention, as the
상기 이온 빔 조사 장치에 대해서는 앞서 상세히 설명한 바와 동일하므로 이하 개략적으로 설명한다. The ion beam irradiation apparatus is the same as described in detail above, and will be described below.
여기서, 상기 이온 빔 조사 장치를 이용하여 기판에 이온 빔을 조사할때 이동하는 기판은 다른 배열을 가진다.Here, the substrate moving when irradiating the ion beam to the substrate using the ion beam irradiation apparatus has a different arrangement.
도 6을 참조하면, 이온 빔 조사 장치는 주입된 가스를 이온으로 전리하여 전리된 이온을 가속화하여 기판(420)으로 배출하는 이온 빔 소스(Ion beam source, 400)와, 상기 이온 빔 소스(400)로부터 발생되는 이온 빔(430)이 기판(420)까지 직진하여 조사될 수 있도록 하는 진공 챔버(440)와, 상기 진공 챔버(440) 내에서 기판(420)을 고정하여 일방향으로 이동할 수 있는 스테이지(410)와, 상기 이온 빔 조사가 매회 끝날때마다 가스를 배출하고 스테이지(410)를 외부에서 내부로, 내부에서 외부로 이동시킬 수 있는 밸브(460)를 포함하여 이루어진다.Referring to FIG. 6, the ion beam irradiation apparatus ionizes the injected gas into ions, accelerates the ionized ions, and discharges the ionized ions to the
상기 이온 빔 소스(400)는 주입된 가스가 이온과 전자로 분리되어 플라즈마를 형성하는 플라즈마 형성부(401)와, 상기 플라즈마 형성부(401)에서 형성된 이온 빔(430)이 가속화되어 기판(420)으로 인출되는 이온 건(Ion gun, 402)을 포함하여 이루어진다. The
이때, 상기 스테이지(410)에는 배향막(450)이 도포되어 있는 기판(420)이 장착되어 함께 이동하게 되며, 상기 배향막(450)으로는 폴리이미드(polyimide), SiO2, SiC, Si3N4, Al2O3, CeO2, SnO2, glass, ZnTiO2, DLC(Diamond-Like Carbon) 등을 사용할 수 있다. In this case, the
상기 진공 챔버(440) 안에서 상기 기판(420)은 스테이지(410) 상에 고정되어 있으며 원하는 프리틸트 각을 얻기 위하여 일정한 각도로 기울어져서 고정되어 일 방향으로 이동할 수 있다. 따라서 이온 건(402)을 통과하여 인출되는 이온 빔(430)은 기판(420)에 일정한 각도로 기울어져 조사된다.In the
이때, 상기 이온 빔 조사 장치로 인입되기 전에 스테이지(410) 상에 고정되어 이송되는 기판(420)은 두 개의 기판(420)이 진공 챔버(440) 내로 이송되어 셋팅된다.In this case, two
상기 두 개의 기판(420)은 이동 방향에 대해서 평행한 방향으로 배열되어 있고, 상기 두 개의 기판(420)이 이동 방향에 수직한 방향을 축으로 대칭되게 일정한 각도(θ) 기울여져 진공 챔버(440) 내에서 이동되면서 이온 빔(430)이 조사되며, 상기 기판(420)으로 조사되는 이온 빔(430)에 의해서 기판(420) 전면이 배향 처리된다.The two
여기서, 상기 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버(440) 내에서 상기 기판(420)을 고정하고 있는 스테이지(410)는 일 방향으로 일정한 속도로 이동함으로써 상기 이온 건(402)에서 인출되는 이온 빔(430)에 의해서 일정한 각도(θ)로 기울어져 있는 기판(420)의 전면이 배향 처리되어 상기 기판(420) 상에 형성되어 있는 배향막(450)에 원하는 프리틸트 각을 형성할 수 있다.Here, the
본 발명은 이온 빔의 1회 조사로 2매의 기판(420)을 배향 처리할 수 있어 생산성이 두배로 늘어나는 장점이 있다.According to the present invention, since two
이와 같이, 상기 이온 빔 소스(400)로부터 발생되는 이온 빔(430)은 상기 이온 건(402)으로부터 인출되고, 일정한 각도(θ)로 기울어진 기판(420) 상에 도포된 배향막(450)에 원하는 배향 방향이 형성될 수 있으며 액정 분자의 초기 배열 상태 즉, 액정 분자의 프리틸트 각(pretilt angle)이 결정된다.As such, the
본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치를 이용하여 배향막(450)이 형성된 기판(420)을 배향 처리하는 공정을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a process of aligning the
먼저, 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치를 이용한 배향 처리 공정은 크게 세 단계로 나누어진다. 배향 처리 공정은 배향막(450)이 형성된 기판(420)을 고정하고 있는 스테이지(410)가 상기 이온 빔 조사 장치로 인입되기 전에 로딩(loading)되는 단계와, 상기 스테이지(410)가 이동하여 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버(440)로 인입되면 기판(420)에 이온 빔(430)을 조사하는 단계와, 상기 기판(420)의 전면에 이온 빔(430)이 조사되면 상기 이온 빔 조사 장치 외부로 배출되는 단계를 포함한다.First, the alignment treatment process using the ion beam irradiation apparatus according to the present invention is largely divided into three steps. In the alignment process, the
상기 기판(420)에는 배향막(450)이 형성되어 있으며 상기 기판(420)은 스테이지(410)에 고정되어 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버(440) 안에 인입되기 전에 로딩된다.An
그리고, 상기 이온 빔 조사 장치의 밸브(460)가 열리면 상기 스테이지(410)는 진공 챔버(440) 안으로 이송되어 세팅된다.When the
이때, 상기 진공 챔버(440) 내로 두 개의 기판(420)이 차례로 이송되며, 상기 두 개의 기판(420)은 이동 방향에 대해서 평행하게 배열되어 있고, 상기 이동 방향을 따라 순차적으로 이동하며 상기 두 개의 기판(420)이 이동 방향에 대해 수직한 방향을 축으로 대칭되도록 일정한 각도(θ)로 기울여져 진공 챔버(440) 내에서 이동되면서 이온 빔이 조사되며 상기 기판(420) 전면이 배향 처리된다.In this case, two
즉, 상기 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버(440) 내에서 상기 기판(420)을 고정하고 있는 스테이지(410)가 일 방향으로 일정한 속도로 이동함으로써 바 타입(bar-type)의 이온 건(402)에서 인출되는 이온 빔(430)에 의해서 일정한 각도(θ)로 기울어져 있는 기판(420) 상에 형성되어 있는 배향막(450)의 전면이 배향 처리되어 원하는 프리틸트 각을 형성할 수 있다.That is, the
여기서, 상기 스테이지(410)가 일정한 속도로 이동하고 있으므로 상기 기판(420)에 형성되어 있는 배향막(450)은 기판(420)으로 기울어져 조사되는 이온 빔(430)에 의해서 전면이 배향 처리되어 원하는 프리틸트각을 형성하게 된다.Here, since the
그리고, 상기 바(bar) 타입의 이온 건(402)에 의해서 1회의 이온 빔 조사로 두 개의 기판(420) 전면에 걸쳐 배향 처리가 끝나면 상기 이온 빔 조사 장치의 밸브(460)가 열리면서 상기 스테이지(410)는 진공 챔버(440) 외부로 배출된다.When the alignment process is completed over the entire surface of the two
도 7은 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치의 개념적인 부분 사시도로서, 이온 빔에 의해서 기판이 배향 처리되는 공정을 보여주고 있다.7 is a conceptual partial perspective view of the ion beam irradiation apparatus according to the present invention, which shows a process in which the substrate is oriented by the ion beam.
도 7을 참조하면, 바(bar) 타입의 이온 건(402)으로부터 인출되는 이온 빔(430)은 이동 방향에 대해서 평행하게 배열되어 이동 방향에 대해 수직한 방향을 축으로 대칭되게 일정한 각도(θ)로 기울어진 두 개의 기판(420)으로 조사된다. 즉, 두개의 기판(420)은 이동 방향 축을 따라 평행하게 배열되어 있고, 이동 방향 축과 수직한 방향 축을 중심으로 일정한 각도로 서로 기울어져 있다.Referring to FIG. 7, the ion beams 430 drawn out from the bar
이때, 상기 기판(420)은 일 방향으로 순차적으로 챔버 내로 이동되며 이에 따라 상기 이온 건(402)에서 인출되는 이온 빔(430)에 의해 배향막(450) 전면이 배향 처리된다.In this case, the
여기서, 상기 배향의 균일성을 위하여 기판(420)은 등속도로 이동하는 것이 바람직하며, 상기 이온 건(402)은 단위 시간 및 단위 면적에 대해서 일정한 양의 이온 빔(430)을 인출한다. In this case, the
상기 두 개의 기판(420)은 이동 방향에 대해서 평행하게 배열되어 있으며 상기 두 개의 기판(420)이 이동 방향에 수직한 방향을 축에 대칭되게 일정한 각도(θ)로 기울어져 이동되면서 이온 건(402)으로부터 이온 빔(430)이 조사되므로, 상기 기판(420)으로 조사되는 이온 빔(430)에 의해서 배향막(450) 전면이 배향 처리된다.The two
(제 3 실시예)(Third embodiment)
도 8은 본 발명에 따른 또 다른 실시예로서, 이온 빔 조사 장치에서 기판이 배향 처리되는 공정을 개략적으로 보여주는 도면이다.FIG. 8 is a view schematically showing a process in which a substrate is oriented in an ion beam irradiation apparatus as another embodiment according to the present invention.
전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치는 설명한 바와 동일하며, 상기 이온 빔 조사 장치를 이용하여 기판에 이온 빔을 조사할때 이동하는 기판은 다른 배열을 가진다.As described above, the ion beam irradiation apparatus according to the present invention is the same as described above, and the substrate moving when irradiating the ion beam to the substrate using the ion beam irradiation apparatus has a different arrangement.
도 8을 참조하면, 이온 빔 조사 장치 내부로 4매의 기판(520)이 이송되며, 상기 기판(520)은 이동 방향에 대해서 수직하게 배열되는 한 쌍의 기판과, 이동 방향에 대해서 평행하게 배열되는 한쌍의 기판으로 이루어진다.Referring to FIG. 8, four
여기서, 상기 기판(520)은 이온 빔 조사 장치 내부에서 일정한 각도(θ)로 기울어져 원하는 배향 특성을 가질 수 있도록 하는데, 두 쌍의 기울어지는 축은 서로 수직이다.Here, the
상기 이동 방향에 대해서 수직하게 배열되는 한 쌍의 기판(520)은 이동 방향을 축에 대칭적으로 기울어지며, 이동 방향에 대해서 평행하게 배열되는 한 쌍의 기판(520)은 이동 방향에 수직한 방향을 축에 대칭적으로 기울어진다.The pair of
이때, 상기 두 쌍의 기판(520)은 이온 빔이 조사되는 영역 안에서 그 배열 방식이 여러 가지가 될 수 있다.In this case, the two pairs of
상기 4매의 기판(520)은 각각 스테이지에 고정되어 일 방향으로 함께 이동되며 이에 따라 상기 이온 건(502)에서 인출되는 이온 빔(530)에 의해 1회의 이온 빔 조사에 의해서 4매의 기판(520)의 배향막(550) 전면이 동시에 배향 처리된다.Each of the four
여기서, 상기 배향의 균일성을 위하여 기판(520)은 등속도로 이동하는 것이 바람직하며, 상기 이온 건(502)은 단위 시간 및 단위 면적에 대해서 일정한 양의 이온 빔(530)을 인출한다. Here, the
본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치를 이용하여 배향막(550)을 형성하고 있는 기판(520)을 배향 처리하는 공정을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a process of aligning the
먼저, 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치를 이용한 배향 처리 공정은 크게 세 단계로 나누어진다. 배향 처리 공정은 배향막(550)을 형성하고 있는 기판(520)을 고정하고 있는 스테이지가 상기 이온 빔 조사 장치로 인입되기 전에 로딩(loading)되는 단계와, 상기 스테이지가 이동하여 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버로 인입되면 기판(520)에 이온 빔(530)을 조사하는 단계와, 상기 기판(520)의 전면에 이온 빔(530)이 조사되면 상기 이온 빔 조사 장치 외부로 배출되는 단계를 포함하여 이루어진다.First, the alignment treatment process using the ion beam irradiation apparatus according to the present invention is largely divided into three steps. In the alignment treatment process, a stage holding the
상기 기판(520)에는 배향막(550)이 형성되어 있으며 상기 기판(520)은 스테이지에 고정되어 이온 빔 조사 장치의 진공 챔버 안에 인입되기 전에 로딩된다.An
그리고, 상기 이온 빔 조사 장치의 밸브가 열리면 상기 스테이지는 진공 챔버 안으로 이송되어 세팅된다.Then, when the valve of the ion beam irradiation device is opened, the stage is transferred into the vacuum chamber and set.
이때, 상기 진공 챔버 내부로 4매의 기판(520)이 이송되며, 상기 이동 방향에 대해서 수직하게 배열되는 한 쌍의 기판(520)은 이동 방향을 축에 대칭적으로 기울어지며, 이동 방향에 대해서 평행하게 배열되는 한 쌍의 기판(520)은 이동 방향에 수직한 방향을 축에 대칭적으로 기울어져 상기 4매의 기판(520)은 각각 스테이지에 고정되어 일 방향으로 함께 이동되며 이에 따라 상기 이온 건(502)에서 인출되는 이온 빔(530)에 의해 1회의 이온 빔 조사에 의해서 4매의 기판(520) 전면이 동시에 배향 처리된다.At this time, four
그리고, 상기 바(bar) 타입의 이온 건(502)에 의해서 1회의 이온 빔 조사로 4매의 기판(520) 전면에 걸쳐 배향 처리가 끝나면 상기 이온 빔 조사 장치의 밸브가 열리면서 상기 스테이지는 진공 챔버 외부로 배출된다.When the alignment process is completed over the entire surface of the four
이상 본 발명을 구체적인 실시예를 통하여 상세히 설명하였으나, 이는 본 발명을 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명에 따른 이온 빔 조사 장치 및 그 방법은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 그 변형이나 개량이 가능함이 명백하다.Although the present invention has been described in detail through specific embodiments, this is for explaining the present invention in detail, and the ion beam irradiation apparatus and method thereof according to the present invention are not limited thereto, and the technical field of the present invention is not limited thereto. It is apparent that modifications and improvements are possible by those skilled in the art.
본 발명은 이온 빔 조사 장치를 이용하여 다수의 기판을 동시에 이온 빔 조사하여 배향 처리하는 방법을 제시한 것으로, 기판을 일정한 각도로 기울여 배치함으로써 1회의 이온 빔 조사로 다수의 기판을 동시에 배향 처리할 수 있어 생산성을 높이는 효과가 있다.The present invention provides a method for aligning a plurality of substrates by ion beam irradiation at the same time using an ion beam irradiation apparatus, by placing the substrate at an angle at an angle to align the plurality of substrates at the same time by one ion beam irradiation. This can increase the productivity.
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