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KR100695894B1 - 광디스크 장치 및 광정보 기록방법 그리고 프로그램 기록매체 - Google Patents

광디스크 장치 및 광정보 기록방법 그리고 프로그램 기록매체 Download PDF

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KR100695894B1
KR100695894B1 KR1020050015587A KR20050015587A KR100695894B1 KR 100695894 B1 KR100695894 B1 KR 100695894B1 KR 1020050015587 A KR1020050015587 A KR 1020050015587A KR 20050015587 A KR20050015587 A KR 20050015587A KR 100695894 B1 KR100695894 B1 KR 100695894B1
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유끼히사 나카조
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삼성전자주식회사
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Abstract

본 발명은 특수한 기록패턴을 이용하는 일 없이, 사용하는 광디스크에 최적의 파라미터를 단시간에 설정할 수 있는 광디스크 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
광정보 기록매체에 기준 스트래터지 또는 기준 스트래터지에 대해서, 적어도 하나의 설정 파라미터를 복수 종류의 마크 및 스페이스의 조합에 있어서 변화시킨 라이트 스트래터지(write strategy)로 기록된 마크 길이 및 스페이스 길이을 계측하는 수단과, 계측된 마크 길이 및 스페이스 길이와 이론 길이에 기초하여, 라이트 스트래터지가 변화시킨 것에 의한 각 마크 및 스페이스의 편차(deviation)값을 산출하는 수단과, 산출된 편차값과 각 마크 및 스페이스의 존재확률로부터 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량을 산출하는 수단을 갖는 것에 의해, 사용하는 광디스크 고유의 신축량을 단시간에 산출할 수 있는 광디스크 장치를 제공한다.
광디스크 장치, 스트래터지, 존재확률, 신축량, 파라미터

Description

광디스크 장치 및 광정보 기록방법 그리고 프로그램 기록매체 {OPTICAL DISK DEVICE AND OPTICAL INFORMATION RECORDING METHOD AND PROGRAM RECORD MEDIUM}
도1은 광디스크 장치의 구성도이다.
도2는 본 실시형태의 개념을 나타내는 도이다.
도3은 본 실시형태의 개념을 나타내는 도이다.
도4는 마크 폭을 가변하여 적합한 라이트 스트래터지를 설정하는 처리 흐름도이다.
도5는 3T 마크 폭을 가변한 때에 다른 마크 폭에 미치는 영향을 나타내는 도이다.
도6은 4T마크 폭을 가변한 때에 다른 마크 폭에 미치는 영향을 나타내는 도이다.
도7은 각 마크의 편차를 최소로 하기 위한 처리 흐름을 나타내는 도이다.
도8은 각 마크의 편차를 예시하는 도이다.
도9는 3T 마크 폭을 변화시킨 경우의 3T 마크 전후의 스페이스에 미치는 영향을 나타내는 도이다.
도10은 4T 마크 폭을 변화시킨 경우의 4T 마크 전후의 스페이스에 미치는 영향을 나타내는 도이다.
도11은 3T 마크를 변화시킨 경우에 3T 마크의 전후의 스페이스에 미치는 영 향을 나타내는 도이다.
도12는 4T 마크를 변화시킨 경우에 4T 마크의 전후의 스페이스에 미치는 영향을 나타내는 도이다.
도13은 각 마크를 각각 변화시킨 경우에, 마크 뒤의 스페이스에 미치는 영향을 나타내는 도이다.
도14는 마크를 변화시킨 경우에 스페이스에 미치는 영향을 개념적으로 나타내는 도이다.
도15는 본 실시형태에 의한 계산값과 실측값을 나타내는 도이다.
도16은 본 발명의 효과를 나타내는 도이다.
도17은 고유의 신축량을 구하기 위한 처리 흐름도이다.
도18은 3T 마크 또는 6T 마크의 길이를 변화시킨 때의 다른 마크로의 영향도를 나타내는 도이다.
도19는 최적의 조정 파라미터를 선택하는 순서를 나타내는 도이다.
본 발명은, CD나 DVD 등의 광기록매체에 정보를 기록하여, 재생하는 광디스크 장치 및 광정보 기록방법 및 프로그램에 관한 것이다. 　　　
최근, 정보통신기술의 발달에 의해, 인터넷 등이 눈부실 정도의 기세로 보급된 것에 의해, 네트워크를 개입시켜 많은 정보가 활발하게 교환되고 있다. 이러한 상황에서, 최근, 정보기록장치의 분야에 있어서, CD－R 등의 추기형 광디스크(a write-once read-many optical disk)나 CD－RW 등의 개서형 광디스크(rewritable optical disc)가 기록매체로서 주목을 받고 있으며, 최근에는, 레이저 광원으로서의 반도체 레이저의 단파장화, 높은 개구수(Numerical Aperture)를 갖는 고NA 대물렌즈에 의한 스폿 지름의 소경화, 및 박형기판(薄型基板)의 채용 등에 의해, DVD－R, DVD－RW, DVD－RAM 등의 대용량 광디스크가 정보기록장치에 있어서 이용되고 있다.
CD－R 등으로의 정보의 기록은, PC(PC：Personal Computer) 등으로부터 주어진 기록정보를 EFM(EFM：Eight to Fourteen Modulation)신호로 변환하여 실행되는데, 사용하는 광디스크를 구성하는 색소기록층 등의 조성의 차이로부터, 기록매체의 축열이나 냉각속도의 부족으로 기인하는 마크의 형성 불량 등의 문제가 생기기 때문에, EFM신호를 그대로 기록하려고 하여도, 원하는 랜드나 스페이스를 형성할 수 없다.
이 때문에, 기준이 되는 기록파형에 대해서, 사용하는 각각의 광디스크 고유의 기록 파라미터(parameter)(이하, 이것을 라이트 스트래터지(write strategy)라 한다)를 정하여 양호한 기록품질을 유지하는 방식이 채용되고 있다.
이 라이트 스트래터지는, 상기와 같이, 광디스크의 색소, 상변화 재료, 색소의 막두께 또는 홈 형상 등 뿐만이 아니라, 기록속도와도 밀접한 관계가 있는 것으로 알려져 있다. 일반적으로, 대표적인 라이트 스트래터지는, 피트와 랜드의 비율을 가변하는 방법, 기록펄스의 선단부에 부가펄스를 더하는 방법, 피트와 랜드의 조합에 의해, 펄스의 상승 또는 하강 위치를 변경하는 방법, 기록펄스를 멀티펄스화하는 방법 등이 있다.
피트와 랜드의 비율을 가변하는 방법은, 저속기록시에 피트의 길이를 짧게 하는 것에 의해, 강한 기록파워로 짧은 펄스를 광디스크에 조사하는 것으로, 생성되는 피트의 선단 및 종단의 형상을 좋게 하는 작용이 있다.
기록펄스의 선단부에 부가펄스를 더하는 방법은, 레이저의 조사가 열에 변환되기 어려운 피트의 선단부에 대해서, 부가적으로 기록파워를 주는 것에 의해, 형성되는 피트 선단부의 형상을 좋게 하는 작용이 있다.
피트와 랜드의 조합에 의해, 펄스의 상승 또는 하강 위치를 변경하는 방법은, 예를 들면, 하나 앞의 피트의 열이 랜드에 전해져 다음의 피트에 영향을 주는 것으로부터, 앞의 랜드의 길이에 따라, 랜드의 종단위치를 변경하거나, 기록피트의 열이 전방에 전해지기 때문에, 그 기록피트의 길이에 따라, 피트의 선단위치를 변경하거나. 기록피트의 열이 후방에 전해지기 때문에, 그 기록피트의 길이에 따라, 피트의 종단위치를 변경하거나, 하나 뒤의 피트의 열이, 뒤의 랜드에 전해져 영향을 미치기 때문에, 뒤의 랜드의 길이에 따라서 랜드의 선단위치를 변경하는 것에 의해, 형성되는 피트 및 랜드의 길이의 격차를 균일화할 수 있는 작용이 있다.
기록펄스를 멀티펄스화하는 방법은, CD－RW 등의 상변화형 디스크 또는 DVD에 이용되는 방법이다. 상변화형 디스크에 연속한 펄스로 정보의 기록을 실시하면, 자체 열의 작용에 의해 기록한 피트의 선단 부분을 소거해 버리기 때문에, 피트 사이에 냉각기간을 둔 멀티펄스가 이용되는 것이다.
이러한 라이트 스트래터지는, 상술한 바와 같이, 사용하는 광디스크를 구성하는 색소기록층 등의 조성의 차이나 기록속도의 차이에 의해, 사용하는 광디스크 마다 최적화되어 이용되는데, 이 라이트 스트래터지의 최적화를 실시하는 드라이브 제조사는, 이 때문에 많은 작업시간과 공정수를 필요로 하는 것이 현상이다.
또한, 시장에는, 드라이브 제조사가 다 파악할 수 없을 정도로 많은 종류의 광디스크가 유통되고 있는 것으로부터, 시장에 유통되고 있는 모든 광디스크에 대해서 미리 적절한 라이트 스트래터지를 준비하는 것은 불가능하다.
이러한 문제에 대해서, 광디스크의 테스트 에어리어에 있어서, 복수의 트랙에 라이트 스트래터지를 변화시킨 복수의 정보를 기록하고, 재생 지터가 최소가 되는 스트래터지를 선택하는 방법(예를 들면, 일본특허공개 제2000-30254호)이나 특수한 기록패턴에 의해 정보를 기록한 후에, 마크와 스페이스의 조합에 의한 지터값 또는 편차값이 가장 작게 되는 조합을 구하는 방법(예를 들면, 일본특허공개 제2003-30837호)이 제안되고 있다.
그러나, 전자의 방법에서는, 최종적으로 선택되는 라이트 스트래터지가, 설정한 라이트 스트래터지 중에서 가장 양호한 라이트 스트래터지인 것에 지나지 않고, 반드시, 사용하는 광디스크에 가장 적합한 라이트 스트래터지라고는 할 수 없다. 또한, 테스트에 필요로 하는 기록 영역만을 사용해 버린다고 하는 문제가 있다.
또한, 후자의 방법에서는, 특수한 기록 패턴을 사용하는 관계상, 특정 마크 또는 스페이스를 변화시킨 때의 다른 마크 또는 스페이스로의 영향이 충분히 고려되지 않기 때문에, 한 번의 기록재생 테스트에 의해, 사용하는 광디스크에 가장 적합한 라이트 스트래터지를 설정하는 것은 매우 곤란하다는 문제가 있다.
더욱이, DVD－R의 규격에 따르면, 가변할 수 있는 마크 및 스페이스의 조합이 3T, 4T, 5－14T의 3방법 밖에 없고, 한편 각 파라미터의 가변 범위가 -0.1T∼＋0.05T의 좁은 범위로 제한되어 있기 때문에, 마크 및 스페이스를 비켜 놓으면서 편차를 0에 접근시켜 가는 방법만으로는 한계가 있다.
여기서, 본 발명은, 상기의 문제점에 비추어, 가변할 수 있는 마크 및 스페이스의 조합이 제한되고, 한편, 파라미터의 가변 범위가 좁은 경우에도, 사용하는 광디스크에 최적의 파라미터를 단시간에 설정할 수 있는 광디스크 장치, 광정보 기록 방법 및 프로그램을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기의 과제를 해결하기 위해서 , 본 발명은 이하의 사항을 제한한다.
청구항1에 따른 발명은, 광정보 기록매체에 마크 및 스페이스를 형성하여 정보의 기록 또는 재생을 실시하는 광디스크 장치로서, 이 광정보 기록매체에 기준 라이트 스트래터지 및 기준 라이트 스트래터지에 대해서, 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이를 계측하는 제1의 계측수단과, 이 제1의 계측수단의 계측결과를 기억하는 제1의 계측값 기억수단과, 각 마크 또는 스페이스의 이론 길이를 기억하는 이론 길이 기억수단과, 상기 계측값 기억수단에 기억된 마크 길이와 상기 이론 길이 기억 수단에 기억된 마크 길이에 기초하여 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크의 편차값을 산출하는 제1의 편차값 산출수단과, 이 산출된 편차값과 각 마크의 존재확률로부터 모든 마크 고유의 신축량을 산출하는 제1의 신축량 산출수단과, 이 산출된 모든 마크 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 기준 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 제1의 라이트 스트래터지 설정수단과, 특정의 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 때에, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량을 각 마크의 존재확률에 기초하여 산출하는 변화량 산출수단과, 상기 라이트 스트래터지 설정수단에 의해 설정된 라이트 스트래터지에 상기 변화량 산출수단에 있어서 산출된 변화량을 부가하여, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량이 같아지도록 각 마크를 변화시켜 라이트 스트래터지를 갱신하는 라이트 스트래터지 갱신수단을 갖는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치를 제안하고 있다.
청구항3에 따른 발명은, 광정보 기록매체에 기준 라이트 스트래터지 및 기준 라이트 스트래터지에 대해서, 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이를 계측하는 스텝과, 이 각 마크 길이의 계측결과를 기억하는 스텝과, 미리 기억된 마크 길이와 상기 기억된 마크 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크의 편차값을 산출하는 스텝과, 이 산출된 편차값과 각 마크의 존재확률로부터 모든 마크 고유의 신축량을 산출하는 스텝과, 이 산출된 모든 마크 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 기준 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 스텝과, 상기 라이트 스트래터지를 설정 스텝에 있어서 설정된 라이트 스트래터지에, 각 마크의 존재확률에 기초하여 산출되는 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 때의 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량을 부가함과 동시에, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량이 같아지도록 각 마크를 변화시켜 라이트 스트래터지를 갱신하는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 광정보 기록방법을 제안하고 있다.
청구항5에 따른 발명은, 광정보 기록매체에 기준 라이트 스트래터지 및 기준 라이트 스트래터지에 대해서, 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이를 계측하는 스텝과, 이 각 마크 길이의 계측결과를 기억하는 스텝과, 미리 기억된 마크 길이와 상기 기억된 마크 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크의 편차값을 산출하는 스텝과, 이 산출된 편차값과 각 마크의 존재확률로부터 모든 마크 고유의 신축량을 산출하는 스텝과, 이 산출된 모든 마크 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 기준 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 스텝과, 상기 라이트 스트래터지를 설정 스텝에 있어서 설정된 라이트 스트래터지에, 각 마크의 존재확률에 기초하여 산출되는 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 때의 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량을 부가함과 동시에, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량이 같아지도록, 각 마크를 변화시켜 라이트 스트 래터지를 갱신하는 스텝을 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램을 제안하고 있다.
이들 발명에 의하면, 제1의 계측수단의 작동에 의해, 광정보 기록매체에 기준 라이트 스트래터지 및 기준 라이트 스트래터지에 대해서, 특정 마크 및 파워드에 펄스를 변화시킨 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이가 계측된다. 측정된 각 마크 길이는, 제1의 편차값 산출수단의 작동에 의해, 미리 기억되어 있는 각 마크의 이론 길이에 기초하여, 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크의 편차값을 산출한다. 산출된 편차값은, 제1의 신축량 산출수단의 작동에 의해, 각 마크의 존재확률로부터 모든 마크 고유의 신축량이 산출된다. 그리고, 제1의 라이트 스트래터지 설정수단의 작동에 의해, 산출된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 기준 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지가 설정된다. 다음으로, 이 라이트 스트래터지에 각 마크의 존재확률에 기초하여 산출된 특정 마크 및 파워드에 펄스를 변화시킨 때의 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량이 부가되고, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량이 같아지도록 각 마크를 변경시켜 라이트 스트래터지가 갱신된다.
청구항2에 따른 발명은, 청구항1에 기재된 광디스크 장치에 대해서, 상기 갱신된 라이트 스트래터지 및 갱신된 라이트 스트래터지에 대해서, 소정 마크 또는 스페이스를 변화시킨 때의 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이 또는 스페이스 길이을 계측하는 제2의 계측수단과, 이 제2의 계측수단의 계측결과를 기억하는 제2의 계측값 기억수단과, 상기 제2의 계측값 기억수단에 기 억된 마크 길이 또는 스페이스 길이와 상기 이론 길이 기억수단에 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크 또는 스페이스 길이의 편차값을 산출하는 제2의 편차값 산출수단과, 이 산출된 편차값과 각 마크 또는 스페이스 길이의 존재확률로부터 모든 마크 또는 스페이스 길이 고유의 신축량을 산출하는 제2의 신축량 산출수단과, 이 산출된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록 상기 갱신한 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 제2의 라이트 스트래터지 설정수단을 갖는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치를 제안하고 있다.
청구항4에 따른 발명은, 청구항3에 기재된 광정보 기록방법에 대해서, 상기 갱신된 라이트 스트래터지 및 갱신된 라이트 스트래터지에 대해서, 소정 마크 또는 스페이스를 변화시킨 때의 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이 또는 스페이스 길이을 계측하는 스텝과, 이 계측결과를 기억하는 스텝과, 이 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이와 상기 이론 길이 기억수단에 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크 또는 스페이스 길이의 편차값을 산출하는 스텝과, 이 산출된 편차값과 각 마크 또는 스페이스 길이의 존재확률로부터 모든 마크 또는 스페이스 길이 고유의 신축량을 산출하는 스텝과, 이 산출된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 상기 갱신한 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 광정보 기록방법을 제안하고 있다.
청구항6에 따른 발명은, 청구항5에 기재된 프로그램에 대해서, 상기 갱신된 라이트 스트래터지 및 갱신된 라이트 스트래터지에 대해서, 소정 마크 또는 스페이스를 변화시킨 때의 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이 또는 스페이스 길이을 계측하는 스텝과, 이 계측결과를 기억하는 스텝과, 이 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이와 상기 이론 길이 기억수단에 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크 또는 스페이스 길이의 편차값을 산출하는 스텝과, 이 산출된 편차값과 각 마크 또는 스페이스 길이의 존재확률로부터 모든 마크 또는 스페이스 길이 고유의 신축량을 산출하는 스텝과, 이 산출된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 상기 갱신한 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 스텝을 컴퓨터에 실행시키기 위한 청구항5에 기재된 프로그램을 제안하고 있다.
이들의 발명에 의하면, 제2의 계측수단의 작동에 의해, 갱신된 라이트 스트래터지 및 갱신된 라이트 스트래터지에 대해서, 소정의 마크 또는 스페이스를 변화시킨 때의 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이 또는 스페이스 길이가 계측된다. 계측된 각 마크 길이 또는 스페이스 길이는, 제2의 편차값 산출수단의 작동에 의해, 미리 기억되어 있는 각 마크 또는 스페이스의 이론 길이에 기초하여, 라이트 스트래터지가 변화한 것에 의한 각 마크 또는 스페이스의 편차값이 산출된다. 산출된 편차값은, 제2의 신축량 산출수단의 작동에 의해, 각 마크 또는 스페이스의 존재확률로부터 모든 마크 또는 스페이스 고유의 신축량이 산출된다. 그리고, 제2의 라이트 스트래터지 설정수단의 작동에 의해, 산출된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크 또는 스페이스의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 갱신한 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지가 설정된다.
실시형태
본 발명의 실시형태에 따른 광디스크 장치 및 라이트 스트래터지의 설정방법에 대해서 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
본 발명의 실시형태에 따른 광디스크 장치는, 도1에 나타난 바와 같이, 광디스크(1)와, 광픽업(2)과, 헤드 앰프(3)와, 데이터 디코더(4)와, 기록 길이 검출부(5)와, ROM(6)과, RAM(7)과, 편차 산출부(8)와, 파라미터 조정부(9)와, 기록펄스열 보정부(10)와. 제어부(11)와, 보정값 산출순서 결정부(12)와, 콘트롤러(13)와, 데이터 엔코더(14)와, 레이저 구동부(15)로 구성된다.
광디스크(1)는, 반도체 레이저에 의해 정보의 기록, 재생, 소거를 실시할 수 있는 광정보 기록매체로서, 예를 들면, CD－R, CD－RW, DVD R, DVD RW, DVD－RAM 등이 있다.
광픽업(2)은, 미도시의 레이저 다이오드 등의 레이저 광원이나, 콜리메이터 렌즈, 포커스 액츄에이터 또는 트랙킹 액츄에이터에 의해 구동되는 대물렌즈, 편광 빔 분할기, 원통 렌즈등의 광학 부품, 및 A, B, C, D의 4개의 영역에 분할되어 빛을 전기신호로 변환하는 4분할 또는 2분할의 포토디텍터(PD) 또는 기록재생시의 레 이저 출력을 모니터하는 프런트 모니터 다이오드 등을 구비하고 있다.
헤드 앰프(3)는, 광디스크(1)로부터의 반사광을 검출하고, 검출한 반사광에서 반사광량을 연산하여, 4분할 PD의 각 영역으로의 반사광량의 총합을 나타내는 RF신호를 생성함과 동시에, 광픽업(2)의 조사 레이저의 초점의 어긋남을 검출한 신호인 포커스 에러신호(FE)를 비점수차법에 의해 생성하고, 한편, 광픽업(2)의 조사 레이저의 트랙의 어긋남을 검출한 신호인 트랙킹 에러신호(TE)를 푸시풀법에 의해 생성한다. 또한, 본 실시형태에 있어서는, 생성한 RF신호의 지터값을 측정하는 기능 및 RF신호로부터 불균형(asymmetry)을 검출하는 기능도 있다.
데이터 디코더(4)는, 헤드 앰프(3)에 있어서 생성된 RF신호로부터 EFM신호를 생성하고, 한편, 이것을 원하는 형식의 신호로 변환하여 콘트롤러(13)에 출력한다.
기록 길이 검출부(5)는, 데이터 디코더(4)로부터 EFM신호를 입력하고, 미도시의 시간계측 회로에 의해, 입력한 EFM신호의 펄스 폭을 측정한다. ROM(6)은, 개서 불능의 기억장치로서, 광디스크 장치 전체를 제어하기 위한 제어 프로그램이나 기준 라이트 스트래터지, 각 마크 및 스페이스의 이론 길이 또는 각 마크 및 스페이스의 조합에 있어서의 존재확률 또는 마크 폭에 의한 마크 전후의 스페이스의 영향을 나타내는 값 등이 기억된다.
RAM(7)은 개서 가능의 기억장치로, 광디스크 마다의 보정량, 기록 길이 검출부(5)로부터 입력한 기록 길이의 측정결과, 기록 길이의 측정값과 각 마크 및 스페이스의 이론 길이와의 편차값, 각 마크 및 스페이스 고유의 신축량 또는 측정한 지터값 등이 일시적으로 기억된다.
편차 산출부(8)는, RAM(7) 내에 기억된 기록 길이의 측정값과 각 마크 및 스페이스의 이론 길이와의 편차값, 이미 편차값을 산출한 결과들을 서로 대비하여 편차값을 산출한다.
파라미터 조정부(9)는, RAM(7)에 기억된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 ROM(6)에 기억된 존재확률에 기초하여, 모든 마크 및 스페이스의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 기준 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출한다.
기록펄스열 보정부(10)는, 파라미터 조정부(9)로부터 보정값을 입력하고, 이것에 기초하여 기록펄스열을 사용하는 광디스크에 최적의 기록펄스열로 보정한다.
제어부(11)는, 광디스크 장치 전체를 제어 프로그램에 따라 광디스크에 대한 정보의 기록 및 재생 동작에 관한 제어를 실시한다.
보정값 산출순서 결정부(12)는, 기준 라이트 스트래터지로 정보를 기록한 때의 각 엣지 전후의 편차값과, 각 설정 파라미터를 변화시켜 기록한 신호의 지터값에 기초하여, 각 설정 파라미터에 대응한 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량을 산출하는 순서를 결정한다.
콘트롤러(13)는, 기록신호를 데이터 엔코더(14)에 공급하고, 또한, 데이터 디코더(4)로부터 기록신호을 읽어내는 장치이고, 데이터 엔코더(14)는 콘트롤러(13)으로부터의 기록신호를 EFM신호 등으로 변환하여 기록펄스열 보정부(10)에 출력한다. 레이저 구동부(15)는, 입력한 기록펄스에 따른 레이저 다이오드 구동용의 펄스신호를 생성하여, 이것을 광픽업(2) 내의 미도시의 반도체 레이저에 공급한다.
다음으로, 도2에서 도21을 이용하여, 본 실시형태의 처리 순서에 대해서 설 명한다.
본 실시형태에 있어서는, 예를 들면, DVD－R과 같이, 파라미터를 가변할 수 있는 마크 및 스페이스의 조합이 적지 않고, 게다가, 파라미터의 가변량이 적은 광디스크에 대해서, 최적의 라이트 스트래터지를 설정할 수 있는 방법을 제공하는 것이다. 그 구체적인 수법에 대해서, 하기에 설명한다.
도2 및 도3은, 본 실시형태의 개념을 나타내는 도이다. 본 실시형태에서는, 기준 라이트 스트래터지 및 기준 라이트 스트래터지에 대해서 3T, 4T, 5T－14T의 마크 및 파워드 펄스의 펄스 폭을 가변한 라이트 스트래터지(도2를 참조)로 기록한 마크 길이와 각 마크의 이론 길이로부터 구해진 편차 및 각 마크의 존재확률에 기초하여 각 마크 폭을 조정한다. 한편, 마크 폭을 조정하는 것에 의해 영향을 받는 각 마크 전후에 있는 스페이스 길이를 보정하고, 이 전후의 스페이스 길이의 변화량이 같아지도록, 마크를 변화시키는 조작을 실시한다(도3을 참조).
이러한 처리 흐름에 대해서, 도4를 이용하여 상세하게 설명한다.
우선, 콘트롤러(13)로부터 기준 라이트 스트래터지를 레이저 구동부(15)에 출력하고, 기준 라이트 스트래터지로 정보를 광디스크의 소정 에어리어에 기록한다(스텝101). 다음으로, 기준 라이트 스트래터지에 대해서 각 마크(도2의 예에서는, 3T, 4T, 5T－14T의 마크) 및 파워드 펄스(도2의 예에서는, 5T의 파워드 펄스)에 소정 폭의 펄스를 부가한 라이트 스트래터지로 정보를 기록한다(스텝102). 정보의 기록이 종료되면, 각각의 기록정보를 재생하고, 기록 길이 검출부(5)가 데이터 디코더(4)로부터의 신호에 기초하여 각 마크의 마크 길이를 측정하고, 그 측정 결과를 RAM(7)에 격납한다(스텝103).
마크 길이의 측정이 종료되면, 편차 산출부(8)가 ROM(6)에 격납한 각 마크의 이론 길이와 RAM(7)에 격납한 측정값에 기초하여, 편차를 산출한다(스텝104). 산출된 편차는, 파라미터 조정부(9)에 출력된다. 파라미터 조정부(9)에서는, 입력한 각 마크의 2개 편차에 대한 차분값을 산출함과 동시에(스텝 105), 산출한 차분의 평균값과 각 마크의 존재확률로부터 각 마크의 고유 신축량을 산출한다(스텝106).
여기서, 각 마크의 고유 신축량의 산출방법을 도8을 이용하여 설명한다.
　도8(a)의 「Ref(1)」는, 기준 라이트 스트래터지로 정보를 기록한 경우의 3T에서 11T 및 14T 마크와의 이론 길이와의 편차를, 「＋3, 4, 5T(2)」는, 기준 라이트 스트래터지에 대해서 3T, 4T의 마크 폭과 5T의 파워드 펄스 폭에 최소분해능을 2배 부가한 라이트 스트래터지로 정보를 기록한 경우의 3T에서 11T 및 14T 마크의 이론 길이와의 편차를 나타낸다. 또한, 도8(b)는, 각 마크의 도8(a)에 있어서의 편차의Δ 차분값의 평균을 나타낸다. 또한, 도8의 예에서는, 6T에서 14T까지의 편차의 차분값의 평균(AVE(6T∼14T))은 -3.04가 된다.
여기서, 3T, 4T의 마크 폭과 5T의 파워드 펄스 폭의 고유 신축량을 각각, ΔT, ΔT, ΔT로 하고, 각각의 존재확률을 R(3), R(4), R(5)로 하고, 한편, 각 마크의 편차의 평균치를 d3T, d4T, d5T로 하면, 3T에서 5T 마크에 대해서, 이하의 수학식1이 성립된다.
Figure 112005009975997-pat00001
수학식1은, 각 마크의 편차의 평균값 d3T, d4T, d5T가, 각 마크의 고유 신축량에 다른 마크로부터의 영향을 가미한 것이 된다는 것을 나타낸다. 수학식1에 있어서, R(3), R(4), R(5)는, 기존의 값이고, d3T, d4T, d5T는 측정이 완료된 것으로부터 3원 연립방정식인 것을 생각하면, 이들을 풀어, ΔT, ΔT, ΔT를 구할 수 있다.
그런데, 도8의 예에서는, 마크 폭을 변화시킨 것은, 3T에서 5T 마크뿐이고, 6T에서 14T까지에 대해서는, 이러한 조작을 실시하지 않은 것이기 때문에, 바꿔 말하면, 6T에서 14T까지의 편차의 차분값의 평균(AVE(6T∼14T))은, 3T에서 5T 마크를 변화시킨 것으로부터 발생한 편차라고 할 수 있다. 즉, AVE(6 T∼14 T)는, ΔT, ΔT, ΔT 및 R(3), R(4), R(5)를 이용하여, 수학식2와 같이 나타낼 수 있다.
Figure 112005009975997-pat00002
이 수학식2를 수학식1에 대입하여 정리하면, 수학식3과 같이 되며, 수학식3 으로부터, 3T, 4T의 마크 폭과 5T의 파워드 펄스 폭의 고유 신축량 ΔT, ΔT, ΔT를 구하면, 수학식4와 같이 된다. 따라서, R(3), R(4), R(5)는, 기존의 값인 것으로부터, d3T, d4T, d5T를 측정하면, 3T, 4T의 마크 폭과 5T의 파워드 펄스 폭의 고유 신축량 ΔT, ΔT, ΔT를 구할 수 있다.
Figure 112005009975997-pat00003
Figure 112005009975997-pat00004
각 마크의 고유 신축량의 산출이 종료되면, 다음으로, 각 마크의 고유 신축량 등에 기초하여, 편차가 0에 가까워지도록, 부가펄스 폭을 조정한다(스텝107). 구체적인 처리에 관해서, 도5에서 도7을 이용하여 설명한다.
도5는, 3T 마크 폭을 변화시킨 때의 다른 마크의 편차와 지터의 변화를 나타내며, 도6도 동일하게, 4T 마크 폭을 변화시킨 때의 영향을 나타내고 있다. 도5로부터, 3T 마크의 폭을 일정량씩 변화시켜 가면, 마크 폭이 증가하는 것에 따라, 다 른 마크의 편차가 플러스의 편차로부터 마이너스의 편차로 직선모양으로 변화하는 것을 알 수 있다.
또한, 각 마크의 편차의 절대값이 최소일 때에, 지터값이 가장 좋은 것을 알게 된다. 이러한 경향은, 도6에 나타난 바와 같이, 4T 마크를 변화시킨 때에도 동일하다. 즉, 본 발명은, 상기의 사실에 기초하여, 각 마크의 편차의 절대값이 최소가 되도록 처리를 실시하는 것에 의해, 적합한 라이트 스트래터지를 설정하는 것이다.
구체적인 처리로서는, 도7에 나타난 바와 같이, 파라미터 조정부(9)가 RAM(7)에 격납된 3T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값과 3T 마크의 고유 신축량을 읽어내어, 3T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 3T 마크의 고유 신축량보다 큰지의 여부가 판단된다(스텝201). 여기서, 3T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 3T 마크의 고유 신축량보다 크다고 판단되는 경우에는, 3T 마크의 편차를 보정하고, 그외에 다른 마크의 편차도 각 마크의 존재확률에 기초하여 보정한다(스텝202). 그리고, 스텝201로 돌아가, 다시, 3T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 3T 마크의 고유 신축량보다 큰지의 여부가 판단된다.
한편, 3T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 3T 마크의 고유 신축량보다 작다고 판단되는 경우에는, 다음으로, 파라미터 조정부(9)가 RAM(7)에 격납된 4T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값과 4T 마크의 고유 신축량을 읽어내고, 4T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 4T 마크의 고유 신축량보다 큰지의 여부가 판단된다(스텝203). 여기에서도, 3T 마크의 경우와 같은 판단 처리가 실시되고, 4T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 4T 마크의 고유 신축량보다 크다고 판단되는 경우에는, 4T 마크의 편차를 보정하고, 그외에 다른 마크의 편차도 각 마크의 존재확률에 기초하여 보정한다(스텝204). 그리고, 스텝201으로 돌아가, 다시, 3T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 3T 마크의 고유 신축량보다 큰지의 여부가 판단된다. 이러한 처리가 5T－14T 마크 및 5T 마크에 대해서도 실시되고, 5T 마크의 기준 라이트 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 5T 마크의 고유 신축량보다 작다고 판단되는 경우에, 처리가 종료되고, 일련의 처리 동작에 의해 보정된 펄스 폭이 RAM(7)에 격납된다.
그런데, 스텝107까지의 처리로, 마크에 관해서는 편차를 최소로 할 수 있지만, 마크 폭을 조작하는 것에 의해, 마크 전후의 스페이스에 미치는 영향은 남게 된다. 여기서, 특정 마크 폭을 변화시킨 때의 그 마크 전후에 있는 스페이스에 대한 영향에 대해서 도9 및 도10을 이용하여 설명한다.
도9는, 3T 마크 폭을 변화시킨 때의 그 전후에 있는 스페이스 편차의 변화를 나타내며, 도10은, 동일하게, 4T 마크 폭을 변화시킨 때의 영향을 나타낸다. 도9로부터, 3T 마크의 폭을 일정량씩 변화시켜 가면, 변화율은 상이하지만 3T 마크의 전후에 있는 스페이스의 폭이 동일하게 직선상으로 변화한다(도9에서는, 스페이스의 편차를 Y축, 3T 마크 폭을 X축으로 하면, 3T 마크의 앞에 있는 스페이스 폭은, y=－23.643x＋49.879의 직선 상에서 변화하고, 3T 마크의 뒤에 있는 스페이스 폭은, y=－42.571x＋88.614의 직선 상에서 변화한다). 이러한 경향은, 도10에 나타난 바와 같이, 4T 마크를 변화시킨 때도 동일하게 나타난다(도10에서는, 스페이스의 편차를 Y축, 4T 마크 폭을 X축으로 하면, 4T 마크의 앞에 있는 스페이스 폭은, y=－32.786x＋84.182의 직선 상에서 변화하고, 4T 마크의 앞에 있는 스페이스 폭은, y=－9.7143x＋25.286의 직선 상에서 변화한다).
또한, 도9 및 도10에 나타난 바와 같이, 3T 마크 폭을 변화시킨 때와, 4T 마크 폭을 변화시킨 때의 그 전후의 스페이스에 미치는 영향은 상이하다. 또한, 상술한 바와 같이, 특정 마크 폭을 변화시킨 때의 마크 전후의 스페이스에 미치는 영향도도 다르다. 더욱이, 특정 마크 폭을 변화시킨 때의 마크 전후의 스페이스에 미치는 영향도의 경향은 광기록 장치의 분해능(resolving power)에 의존한다.
따라서, 바꿔 말하면, 광기록 장치 마다, 특정 마크 폭을 변화시킨 때의 그 마크 전후 스페이스에 대한 영향의 정도를 도9 및 도10에 나타난 바와 같이 조사하여 두고, 이것을 기억하고 있으면, 특정 마크 폭을 변화한 경우에, 그 마크 전후의 스페이스에 미치는 영향을 계산에 의해 구할 수 있다.
본 발명에 있어서는, 이에 주목하여, 상기의 관계를 미리 기억하여, 스텝107에 있어서 편차가 0에 가까워지는 것과 같은 부가펄스 폭을 결정한 후에, 이 부가펄스를 더한 것에 의해, 그 마크 전후의 스페이스에 미치는 영향을 계산에 의해 구하고, 이것을 스페이스에 부가한다(스텝108).
다음으로, 각 마크의 전후의 스페이스의 편차가 같아지도록, 각 마크를 변화시킨다(스텝109). 이것은, 도11 및 도12에서 분명하게 나타나는 바와 같이, 각 마 크 전후의 스페이스의 편차가 같게 되는 때가, 지터값이 가장 좋게 되기 때문이다.
다만, 실제로는, 변화시킨 특정 마크에 따라, 다른 마크의 전후에 존재하는 스페이스로의 영향도는 상이하다. 도13은, 3T 마크, 4T 마크, 5T 마크, 5－14T 마크를 변경시킨 경우에, 이들 마크의 뒤에 있는 스페이스의 영향도를 편차의 평균값으로 나타낸 것이다. 도13에 의하면, 모든 경우에서 직선상의 변화가 나타나지만, 어느 마크를 변경시키는 가에 의해, 그 변화의 기울기에 차이가 발생한다.
이것은, 각 마크 전후에 존재하는 스페이스로의 영향 계수 K(n)가 수학식5에 나타난 바와 같이, 광기록 장치에 있어서의 1T의 폭 D와 각 마크의 존재확률 R(n)에 의존하기 때문이다. 즉, 도12에 나타난 바와 같이, 3T 마크를 후방으로 변화시키는 경우, 3T 마크에 끼워진 스페이스에 대해서는 어떠한 변화도 없지만, 3T 마크와 다른 nT 마크에 끼워진 스페이스에 대해서는, 이 nT 마크의 존재확률에 따라, 끼워진 스페이스의 길이가 짧게 된다. 따라서, 수학식5에 나타난 관계에 기초하여, 각 마크 전후에 존재하는 스페이스로의 영향 계수 K(n)를 산출하고, 이 영향도를 가미한 다음, 마크 전후의 스페이스 길이에 대한 변화량(편차)이 같아지도록, 각 마크의 변화량을 산출하고(스텝109), 이것에 기초하여 적합한 라이트 스트래터지를 설정한다(스텝110).
Figure 112005009975997-pat00005
또한, 도15는, 3T, 4T, 5T, 5T∼14T의 존재확률을 각각 31.5%, 23.8%, 17.1%, 44.7%로 하고, 1T의 폭을 37ns로하여 수5에 의해 구해진 각 마크 전후의 스페이스에 대한 영향 계수와 실측값과의 관계를 나타낸다. 이 도에 의하면, 계산값과 실측값이 매우 근접하는 것을 알 수 있다. 또한, 도16은, 도4의 처리 흐름에 기초하여 설정한 라이트 스트래터지(도 중, Auto　WS에 상당한다)를 이용하여 정보를 기록한 경우와, 시판 제품에 의해 정보를 기록한 경우의 지터값을 미디어 별로 나타낸 것이다. 이 도에 의하면, 본 실시형태에 있어서의 라이트 스트래터지로 기록된 정보의 기록품질은, 어느 미디어에 있어서도 매우 양호한 결과를 나타내는 것을 알 수 있다.
도16 등에 나타난 바와 같이, 지금까지 설명한 방법에 의해, 종래보다 적합한 라이트 스트래터지를 설정할 수 있는데, 이하의 처리를 이어서 실행하는 것에 의해, 더욱 적합한 라이트 스트래터지를 설정할 수 있다.
이하에서는, 도17에서 도21을 이용하여, 이 처리에 대해서 설명한다.
도17에서 도21에 나타난 처리에 있어서는, 각 마크 및 스페이스의 조합에 의한 존재확률을 이용하여, 다른 스페이스 또는 마크의 길이가 변화한 때의 영향도를 구하고, 이것을 이용하여 각 마크 및 스페이스 고유의 신축량을 산정한다.
본래, EFM신호의 마크와 스페이스는, 마크 길이의 총합과 스페이스 길이의 총합이 같아지도록 구성된다. 따라서, 예를 들면, 한 스페이스의 길이가 길어지면, 마크와 스페이스의 분포 밸런스가 무너져 버리고, 이것을 보정하기 위해서, 변화한 특정 스페이스를 포함하여 전체적으로 스페이스의 길이가 길어진다. 이 현상은, 실제의 재생 파형(RF신호)에 있어서는, 슬라이스 레벨이 변화한 상태로 나타나게 된 다.
예를 들면, CD의 경우를 예로 들어 구체적으로 설명하면, EFM신호 중, 3T 마크를 ΔT(3T)만큼 연장한 경우를 제외한 스페이스, 즉, 4T에서 11T의 마크 길이의 변화를 보면, 도18(a)와 같이 된다. 또한, 도18(a)는, 세로축에 이론 길이에 대한 편차를, 가로축에 3T에서 11T를 할당한 것으로, 각 선은, 3T 마크의 펄스 부가가 0의 경우, 14.4ns, 28.8ns, 43.2ns의 펄스 부가를 각각 더한 경우에 있어서의 각각의 편차의 변화를 나타낸다.
여기서, EFM신호에 있어서의 3T 마크의 존재확률을 33%로 하면, 4T에서 11T 마크의 변화량과의 사이에는, 수학식6의 관계가 성립된다.
Figure 112005009975997-pat00006
여기서, 4T에서 11T 마크의 변화량은, 3T 마크의 변화량의 약 반이 되는 것을 알 수 있다. 이것은, 도18(a)에 나타나는 실측결과에 의해서도 뒷받침되며, 도18(b)에 나타난 바와 같이, 존재확률이 낮은 6T 마크를 동일하게 변화시킨 경우에는, 다른 마크 또는 스페이스의 길이에 미치는 영향도가 매우 작은 것을 알 수 있다.
따라서, 각 마크 및 스페이스의 조합에 의한 존재확률을 이용하면, 특정 마크 또는 스페이스의 길이가 변화한 경우의 다른 마크 또는 스페이스의 길이에 관한 영향도를 파악하는 것이 가능하게 된다.
이러한 관점을 기초로, 본 실시형태에 있어서의 각 마크 및 스페이스 고유의 신축량을 산정하는 방법을 도17 및 도18을 이용하여 설명하면, 제어부(11)는, RAM(7)에 격납되어 있는 전단계에서 설정한 라이트 스트래터지를 기록펄스열 보정부에 세팅하여, 기록 동작을 실행한다(스텝301). 이어서, 이 라이트 스트래터지에 대해서, 다른 마크 및 스페이스에 대해서 영향도가 높고, 존재확률이 높은 3T 스페이스에서 5T 스페이스 앞의 3T 마크에서 5T 마크를 라이트 스트래터지를 설정할 수 있는 최소분해능의 정수배 만큼 연장한 라이트 스트래터지로 기록 동작을 실행한다(스텝 302). 또한, 후의 처리를 고려하면, 신장량은, 최소분해능인 편이 좋은데, 최소분해능이 극히 작은 값인 것을 생각하면, 오차의 영향을 작게 하는 의미에서도 최소분해능의 정수배로 하는 것이 바람직하다.
각각의 기록 동작이 완료되면, 각각의 기록신호를 재생하고, 기록 길이 검출부(5)에 있어서, 모든 마크 및 스페이스의 조합에 있어서의 기록 길이를 측정하고, 측정 결과를 라이트 스트래터지 마다, RAM(7)에 격납한다(스텝303).
편차 산출부(8)는, RAM(7)에 격납된 전단계에서 설정된 스트래터지로 기록한 때의 기록 길이와 ROM(6)에 격납된 모든 마크 및 스페이스의 조합에 있어서의 이론 길이와의 편차 및 상기 소정 마크 및 스페이스를 최소분해능의 정수배 만큼 연장한 라이트 스트래터지로 기록한 경우의 기록 길이와 ROM(6)에 격납된 모든 마크 및 스페이스의 조합에 있어서의 이론 길이와의 편차를 산출하고(스텝304), 그리고, 양자의 편차값을 산출한다(스텝305).
여기서, 산출한 편차값으로부터 각 마크 및 스페이스 고유의 신축량을 산출하기 위해서는, 상기에서 설명한 각 마크 및 스페이스의 조합에 의한 존재확률을 이용하여 실시한다(스텝306).
스텝306에 있어서, 각 마크 및 스페이스의 조합에 있어서의 고유의 신축량이 구해지면, 도19에 나타난 바와 같이, 편차를 제로에 접근시키는 보정값의 산출을 실시한다.
본 실시형태의 보정값 산출방법은, 상기에서 설명한 최소분해능에 상당하는 신축에 대응하는 고유의 신축량을 이용하여, 전단계에서 설정한 라이트 스트래터지로 정보를 기록한 경우의 스트래터지를 최소분해능 이하로 억제하는 것에 의해, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 것이다.
또한, 각 마크 및 스페이스의 보정값의 입력은, 존재확률이 높은 차례로 처리하는 것을 특징으로 한다. 즉, 존재확률이 높은 마크 및 스페이스의 조합을 보정하면, 그 영향이 다른 마크 및 스페이스의 조합에 크게 작용하는 것으로부터, 이렇게 처리를 실시하는 것에 의해, 단시간에, 각 보정값을 수습할 수 있다.
구체적으로는, 도19에 나타난 바와 같이, 존재확률이 가장 높은 3T 마크와 3T 스페이스의 조합에 대해서, 전단계에서 설정한 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 고유의 신축량보다 큰지의 여부를 판단한다(스텝401). 판단의 결과, 기준 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 고유의 신축량보다 클 때에는, 편차를 보정함과 동시에, 다른 마크 및 스페이스의 조합에 대해서도 존재확률에 기초하여 편차값을 보정한다(스텝402).
한편, 기준 스트래터지에 대한 편차의 절대값이 고유의 신축량보다 작은 때는, 다음으로 존재확률이 높은 3T 마크와 3T 스페이스의 조합에 대해서 보정을 실시한다(스텝403). 또한, 3T 마크와 3T 스페이스의 조합에 대한 보정에 대해서도, 3T 마크와 3T 스페이스의 조합과 동일한 처리가 실시되고(스텝403, 404), 이러한 처리가 14T 마크와 14T 스페이스의 조합에 대해서도 실행된다.
따라서, 본 실시형태에 의하면, 상기의 처리에 의해, 가변할 수 있는 마크 및 스페이스의 조합이 제한되고, 한편, 파라미터의 가변 범위가 좁은 경우에도, 사용하는 광디스크에 최적의 파라미터를 단시간에 설정할 수 있다.
이상, 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태에 대해서 상술했는데, 구체적인 구성은 이들 실시형태에 한정되는 것은 아니고, 이 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위의 설계 변경 등도 포함된다.
본 발명에 의하면, 예를 들면, DVD－R의 규격서에 써 있는 것 같은 조정이 가능한 마크 및 스페이스의 조합이 적고, 동시에, 각 파라미터의 가변 범위가 좁은 경우에 있어서도, 최적의 라이트 스트래터지를 설정할 수 있는 효과가 있다.
또한, 구한 마크 폭에, 광기록 장치 고유의 소정 마크 전후의 스페이스에 미치는 영향을 부가하여, 소정 마크 전후의 스페이스 길이가 같아지도록, 마크의 변화량을 구하기 때문에, 광기록 장치의 계산 부하나 메모리에 대한 부하를 경감할 수 있는 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 광정보 기록매체에 마크 및 스페이스를 형성하여 정보의 기록 또는 재생을 실시하는 광디스크 장치로서,
    이 광정보 기록매체에 기준 라이트 스트래터지 및 기준 라이트 스트래터지에 대해서, 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이을 계측하는 제1의 계측수단과,
    이 제1의 계측수단의 계측결과를 기억하는 제1의 계측값 기억수단과,
    각 마크 또는 스페이스의 이론 길이를 기억하는 이론 길이 기억수단과,
    상기 계측값 기억수단에 기억된 마크 길이와 상기 이론 길이 기억수단에 기억된 마크 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크의 편차값을 산출하는 제1의 편차값 산출수단과,
    이 산출된 편차값과 각 마크의 존재확률로부터 모든 마크 고유의 신축량을 산출하는 제1의 신축량 산출수단과,
    이 산출된 모든 마크 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 기준 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 제1의 라이트 스트래터지 설정수단과,
    특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 때에, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량을 각 마크의 존재확률에 기초하여 산출하는 변화량 산출수단과,
    상기 라이트 스트래터지 설정수단에 의해 설정된 라이트 스트래터지에 상기 변화량 산출수단에 있어서 산출된 변화량을 부가하여, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량이 같아지도록 각 마크를 변화시켜 라이트 스트래터지를 갱신하는 라이트 스트래터지 갱신수단을 갖는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 갱신된 라이트 스트래터지 및 갱신된 라이트 스트래터지에 대해서, 소정 마크 또는 스페이스를 변화시킨 때의 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이 또는 스페이스길이를 계측하는 제2의 계측수단과,
    이 제2의 계측수단의 계측결과를 기억하는 제2의 계측값 기억수단과,
    상기 제2의 계측값 기억수단에 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이와 상기 이론 길이 기억수단에 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크 또는 스페이스 길이의 편차값을 산출하는 제2의 편차값 산출수단과,
    이 산출된 편차값과 각 마크 또는 스페이스 길이의 존재확률로부터 모든 마크 또는 스페이스 길이 고유의 신축량을 산출하는 제2의 신축량 산출수단과,
    이 산출된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 상기 갱신한 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 제2의 라이트 스트래터지 설정수단을 갖는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치.
  3. 광정보 기록매체에 기준 라이트 스트래터지 및 기준 라이트 스트래터지에 대해서, 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이를 계측 하는 스텝과,
    이 각 마크 길이의 계측결과를 기억하는 스텝과,
    미리 기억된 마크 길이와 상기 기억된 마크 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크의 편차값을 산출하는 스텝과,
    이 산출된 편차값과 각 마크의 존재확률로부터 모든 마크 고유의 신축량을 산출하는 스텝과,
    이 산출된 모든 마크 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 기준 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 스텝과,
    상기 라이트 스트래터지를 설정 스텝에 있어서 설정된 라이트 스트래터지에, 각 마크의 존재확률에 기초하여 산출되는 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 때의 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량을 부가함과 동시에, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량이 같아지도록 각 마크를 변화시켜 라이트 스트래터지를 갱신하는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 광정보 기록방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 갱신된 라이트 스트래터지 및 갱신된 라이트 스트래터지에 대해서, 소정 마크 또는 스페이스를 변화시킨 때의 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이 또는 스페이스 길이을 계측하는 스텝과,
    이 계측결과를 기억하는 스텝과,
    이 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이와 이론 길이 기억수단에 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크 또는 스페이스 길이의 편차값을 산출하는 스텝과,
    이 산출된 편차값과 각 마크 또는 스페이스 길이의 존재확률로부터 모든 마크 또는 스페이스 길이 고유의 신축량을 산출하는 스텝과,
    이 산출된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 상기 갱신한 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 광정보 기록방법.
  5. 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램을 기록하는 기록매체에 있어서,
    상기 프로그램은
    광정보 기록매체에 기준 라이트 스트래터지 및 기준 라이트 스트래터지에 대해서, 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이를 계측하는 스텝과,
    이 각 마크 길이의 계측 결과를 기억하는 스텝과,
    미리 기억된 마크 길이와 상기 기억된 마크 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크의 편차값을 산출하는 스텝과,
    이 산출된 편차값과 각 마크의 존재확률로부터 모든 마크 고유의 신축량을 산출하는 스텝과,
    이 산출된 모든 마크 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 기준 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 스텝과,
    상기 라이트 스트래터지를 설정 스텝에 있어서 설정된 라이트 스트래터지에, 각 마크의 존재확률에 기초하여 산출되는 특정 마크 및 파워드 펄스에 펄스 폭을 변화시킨 때의 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량을 부가함과 동시에, 각 마크 전후의 스페이스 길이의 변화량이 같아지도록, 각 마크를 변화시켜 라이트 스트래터지를 갱신하는 스텝을 갖는 기록매체.
  6. 제5항에 있어서, 상기 갱신된 라이트 스트래터지 및 갱신된 라이트 스트래터지에 대해서, 소정 마크 또는 스페이스를 변화시킨 때의 라이트 스트래터지를 이용하여 정보를 기록한 때의 각 마크 길이 또는 스페이스 길이을 계측하는 스텝과,
    이 계측 결과를 기억하는 스텝과,
    이 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이와 이론 길이 기억수단에 기억된 마크 길이 또는 스페이스 길이에 기초하여, 상기 라이트 스트래터지를 변화시킨 것에 의한 각 마크 또는 스페이스 길이의 편차값을 산출하는 스텝과,
    이 산출된 편차값과 각 마크 또는 스페이스 길이의 존재확률로부터 모든 마크 또는 스페이스 길이 고유의 신축량을 산출하는 스텝과,
    이 산출된 모든 마크 및 스페이스 고유의 신축량과 존재확률에 기초하여, 모든 마크의 편차값이 소정의 범위가 되도록, 상기 갱신한 라이트 스트래터지에 대한 보정값을 산출하여, 최적의 라이트 스트래터지를 설정하는 스텝을 갖는 기록매체.
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