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KR100659266B1 - 다양한 코드율을 지원하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한데이터 송수신 시스템, 장치 및 방법 - Google Patents

다양한 코드율을 지원하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한데이터 송수신 시스템, 장치 및 방법 Download PDF

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KR100659266B1
KR100659266B1 KR1020050011983A KR20050011983A KR100659266B1 KR 100659266 B1 KR100659266 B1 KR 100659266B1 KR 1020050011983 A KR1020050011983 A KR 1020050011983A KR 20050011983 A KR20050011983 A KR 20050011983A KR 100659266 B1 KR100659266 B1 KR 100659266B1
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KR
South Korea
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parity check
low density
density parity
puncturing
column
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KR1020050011983A
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김재홍
구재현
서승범
최의영
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삼성전자주식회사
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Abstract

본 발명은 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송수신 시스템, 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 데이터 전송 장치는 입력 데이터를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 부호화하는 저밀도 패러티 검사 부호화기; 및 출력 데이터의 코드율에 따라 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 천공을 수행하는 비트 천공기를 포함한다. 이에 따라, 다양한 코드율을 지원해야 하는 차세대 이동통신 시스템에서 성능이 우수한 저밀도 패러티 검사 부호를 용이하게 적용할 수 있게 된다.
저밀도 패러티 검사 코드, 부호화, 비트 천공기, 코드율

Description

다양한 코드율을 지원하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송수신 시스템, 장치 및 방법{System, apparatus and method for transmitting and receiving the data coded by the low density parity check code having a variable coding rate}
도 1은 종래의 컨벌루셔널 부호화기를 사용한 멀티 밴드 OFDM 시스템의 송수신 시스템의 블록도,
도 2는 일반적인 컨벌루셔널 부호와 LDPC 부호의 성능 차이를 나타낸 그래프,
도 3은 본 발명에 따른 다양한 코드율을 지원하는 LDPC 부호화기에 의한 데이터 전송 절차를 나타낸 흐름도,
도 4는 본 발명에 따른 다양한 코드율을 지원하는 LDPC 부호화기에 의해 전송된 데이터를 수신하는 절차를 나타낸 흐름도,
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 LDPC 부호화기를 사용한 멀티 밴드 OFDM 시스템의 송수신 시스템의 블록도,
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 LDPC 부호화기 및 복호화기의 세부 구성을 나타낸 블록도,
도 7은 본 발명에 적용되는 패러티 검사 행렬의 예를 나타낸 도면,
도 8은 본 발명의 일실시예에 따라 열 교환된 패러티 검사 행렬을 나타낸 도면,
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 열 교환 행렬 발생부를 나타낸 블록도,
도 10은 본 발명의 일실시예에 따라 천공 위치를 판단하기 위한 팩터 그래프, 그리고
도 11 내지 도 13은 본 발명에 따른 LDPC 부호와 종래 부호들의 성능을 비교한 그래프이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
110, 510 : 스크램블러 111 : 컨벌루셔널 부호화기
112, 512 : 비트 천공기 113 : 인터리버기
114, 513 : 신호사상기 115, 514 : IFFT기
116, 515 : D/A 변환기 117, 516 : 곱셈기
118, 128, 517, 527 : 안테나 120, 520 : 디스크램블러
121 : 복호화기 122, 522 : 비트 삽입기
123 : 디인터리버기 124, 523 : FFT기
125, 524 : A/D 변환기 126, 525 : 곱셈기
127, 526 : LNA 511 : LDPC 부호화기
521 : LDPC 복호화기 610 : 패러티 검사 행렬 발생부
620 : 열 교환 행렬 발생부 630 : 생성 행렬 발생부
640 : 부호화 연산부 650 : LLR 복호화부
660 : 연판정부 900 : 천공 비트 위치 판단부
910 : 천공 비트 산출부 920 : 열 교환부
본 발명은 저밀도 패러티 검사 행렬 코드에 의한 데이터 전송 시스템, 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 성능이 우수하며 다양한 코드율을 지원하는 저밀도 패러티 검사 행렬 코드에 의한 데이터 송수신 시스템, 장치 및 방법에 관한 것이다.
1970년대 말 미국에서 셀룰라(cellular) 방식의 무선 이동 통신 시스템(Mobile Telecommunication System)이 개발된 이래 국내에서는 아날로그 방식의 1세대(1G; 1st Generation) 이동 통신 시스템이라고 할 수 있는 AMPS(Advanced Mobile Phone Service) 방식으로 음성 통신 서비스를 제공하기 시작하였다. 이후, 1990년대 중반에 2세대(2G; 2nd Generation) 이동 통신 시스템이 시작되어 상용화 되었으며 1990년대 말에 향상된 무선 멀티미디어, 고속 데이터 서비스를 목표로 시작된 3세대(3G; 3rd Generation) 이동 통신 시스템인 IMT-2000(International Mobile Telecommunication-2000)이 일부 상용화되어 서비스 운영되고 있다.
현재는 3세대 이동 통신 시스템에서 4세대(4G; 4th Generation) 이동 통신 시스템으로 발전해나가고 있는 상태이다. 상기 4세대 이동 통신 시스템은 이전 세대의 이동 통신 시스템들과 같이 단순한 무선 통신 서비스에 그치지 않고 유선 통 신 네트워크와 무선 통신 네트워크와의 효율적 연동 및 통합 서비스를 목표로 하며 상기 3세대 이동 통신 시스템에서보다 고속의 데이터 전송 서비스를 제공하기 위한 기술들이 표준화되고 있다.
한편, 통신에서 가장 근본적인 문제는 채널(channel)을 통하여 얼마나 효율적이고 신뢰성 있게(reliably) 데이터(data)를 전송할 수 있느냐 하는 것이다. 최근에 활발하게 연구되고 있는 차세대 멀티미디어 이동 통신에서는 초기의 음성 위주의 서비스를 벗어나 영상, 무선 데이터 등의 다양한 정보를 처리하고 전송할 수 있는 고속 통신 시스템이 요구됨에 따라 시스템에 적절한 채널 부호화(channel coding) 기법을 사용하여 시스템의 효율을 높이는 것이 필수적이다.
또한, 이동 통신 시스템이 급속하게 발전해나감에 따라 무선 네트워크에서도 유선 네트워크의 용량(capacity)에 근접하는 대용량 데이터를 전송할 수 있는 기술 개발이 요구되고 있다. 이렇게, 음성 위주의 서비스를 벗어나 영상, 무선 데이터 등의 다양한 정보를 처리하고 전송할 수 있는 고속 대용량 통신 시스템이 요구됨에 따라 적정한 채널 부호화 방식을 사용하여 시스템 전송 효율을 높이는 것이 시스템 성능 향상에 필수적인 요소로 작용하게 된다. 그러나, 이동 통신 시스템은 이동 통신 시스템의 특성상 데이터를 전송할 때 채널의 상황에 따라 잡음(noise)과, 간섭(interference) 및 페이딩(fading) 등으로 인해 불가피하게 오류(error)가 발생하고, 따라서 상기 오류 발생으로 인한 정보 데이터의 손실이 발생한다.
이러한 오류 발생으로 인한 정보 데이터 손실을 감소시키기 위해서 채널의 성격에 따라 다양한 오류 제어 기술(error-control technique)들을 사용함으로써 상기 이동 통신 시스템의 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 상기 오류 제어 기술들 중에서 가장 보편적으로 사용되고 있는 오류 제어 기술은 오류 정정 부호(error-correcting code)를 사용하는 기술이다. 상기 오류 정정 부호의 대표적인 부호들로는 터보 부호(turbo code)와, 저밀도 패러티 검사(LDPC: Low Density Parity Check, 이하 'LDPC'라 칭하기로 한다) 부호 등이 있다.
한편, 고속 데이터 전송 WPAN(Wireless Personal Area Network) 시스템 등에 사용되는 멀티밴드(Multiband) 직교 주파수 분할 다중(Orthogonal Frequency Division Multiplexing; 이하, 'OFDM'이라 한다)에서도 상술한 채널 코딩(Channel Coding)은 필수적인 모뎀(Modem) 구성 요소이다.
도 1은 종래의 컨벌루셔널 부호화기를 사용한 멀티 밴드 OFDM 시스템의 송수신 시스템의 블록도이다.
상기 도 1을 참조하면, 송신 장치에서 입력 데이터는 스크램블러(Scrambler; 110)를 통해 스크램블링되고, 상술한 채널 코딩 과정으로 컨벌루셔널 부호화기(Convolutional Encoder; 111)에서 부호화된다. 그런다음, 천공기(Puncturer; 112)에서 전송하고자 하는 데이터의 코드 레이트(code rate)에 따라 천공(puncturing)을 하게 된다.
상기 천공된 데이터는 인터리버기(Bit Interleaver; 113)에서 인터리빙된 후, 신호 사상기(Constellation Mapper; 114)에서 해당 심볼로 변환된다. 그런다음, OFDM 처리를 위하여 IFFT(Inverse Fast Fourier Transform; 이하, 'IFFT'라 한다)기(115)에서 IFFT 변환을 수행한 후, D/A 변환기(Digital to Analog Converter; 116)에서 아날로그 신호로 변환된다. 마지막으로, 곱셈기(117)에서 exp(j2πfct)의 반송 주파수 신호와 곱하여져 안테나(118)를 통해 수신측으로 전송된다.
수신 장치에서는 상기 송신 장치에서의 처리와 역순으로 진행된다. 즉, 수신 안테나(128)를 통해 수신된 신호는 저잡음 증폭기(Low Noise Amplifier; 이하, 'LNA'라 한다)(127)에서 증폭된 후, 두 개의 곱셈기(126a, 126b)에서 I(In Phase) 채널 신호 및 Q(Quadrature) 채널 신호로 분리된 후, 상기 각 신호는 A/D 변환기(Analog to Digital Converter; 125a, 125b)에서 디지털 신호로 변환된다.
상기 변환된 신호는 FFT(Fast Fourier Transform; 이하, 'FFT'라 한다)기(124)에서 FFT 변환을 수행한 후, 디인터리버기(De-Interleaver; 123)에서 디인터리빙된다. 그런다음, 상기 디인터리빙된 데이터는 비트 삽입기(De-Puncturer; 122)에서 천공된 비트 수만큼 삽입된 후, 복호화기(Decoder; 121)(예컨대, 비터비 복호기)를 통해 복호화된다. 마지막으로 디스크램블러(De-Scrambler; 120)에서 디스크램블링되어 최종 출력 데이터가 생성된다.
상기 설명한 시스템에서와 같이 이동통신의 송신 장치에서는 부호화 과정이 필수적으로 요구되며, 특히 다양한 코드율(code rate)을 지원하기 위하여 각 코드율에 따른 해당 비트수에 맞게 천공(puncturing)하는 과정이 추가된다.
현재까지 상기와 같이 다양한 코드율을 지원할 수 있는 부호화 장치로서 컨벌루셔널 부호화기(Convolutional Encoder)를 천공하여 사용하였다. 그러나, 상기 컨벌루셔널 부호화기는 LDPC 부호화기 등에 비해 BER(Bit Error Rate) 성능 (Performance) 측면에서 현저히 떨어지는 단점을 가지게 된다.
도 2는 일반적인 컨벌루셔널 부호와 LDPC 부호의 성능 차이를 나타낸 그래프이다.
상기 도 2를 참조하면, 부호화 되지 않은 신호(201)와 1/2, 5/8 및 3/4의 코드율을 가지는 컨벌루셔널 코드로 부호화하여 인터리빙한 신호(202, 203, 204)와 1/2, 5/8 및 3/4의 코드율을 가지는 LDPC 코드로 부호화한 신호(205, 206, 207)의 PER(Packet Error Rate) 성능을 보여준다. 여기서, 상기 컨벌루셔널 코드로 부호화한 신호와 LDPC 코드로 부호화한 신호 간에는 6.8dB 정도의 현저한 성능 차이가 남을 알 수 있다.
따라서, 차세대 이동통신 시스템 등에는 상기 LDPC 부호와 같은 성능이 우수한 부호의 사용이 고려되고 있다. 그러나, 상기 LDPC 부호를 다양한 부호율을 지원하는 시스템에 적용할 경우 상기와 같이 부호율을 맞추기 위하여 천공하여야 하며, 이때 일반적인 랜덤 펑쳐링(random puncturing) 방법으로 상기 LDPC 부호를 천공할 경우 성능 저하의 문제가 발생하게 된다. 따라서, 상기 LDPC 부호의 성능이 우수함에도 불구하고 상기와 같이 다양한 부호율을 지원하는 시스템에는 적용하기가 어렵다는 단점이 있다.
한편, 상기와 같은 우수한 성능의 LDPC 부호를 사용하면서, 성능 저하 없이 다양한 부호율을 지원하기 위한 방법으로서 인피니온(Infineon) 등에서는 상기 LDPC 부호를 천공하지 않고, 각 코드율에 따라 복수의 마더 코드(Mother code)들을 사용하는 방법을 제안하였다. 그러나, 이러한 방법은 컨벌루셔널 코드에 비해 성능 의 개선을 가져왔으나 각 코드율에 대응하는 별도의 마더 코드들을 사용함에 따라 복잡도가 증가하게 되는 문제가 발생하였다.
이에 따라, 다양한 코드율을 지원하는 시스템에서 보다 낮은 복잡도와 우수한 성능을 가지는 부호화 방법의 개발이 요구되고 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 이동통신 시스템에서 저밀도 패러티 검사 코드에 의해 부호화된 데이터를 천공하여 전송함으로써, 다양한 코드율을 지원하는 데이터 송수신 시스템, 장치 및 방법을 제공하는 데 있다.
또한, 본 발명의 목적은 저밀도 패러티 검사 코드에 의해 부호화된 데이터를 천공함에 있어, 신호 복구가 용이한 위치의 비트를 천공하여 전송하는 다양한 코드율을 지원하는 데이터 송수신 시스템, 장치 및 방법을 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 데이터 송신 장치는; 전송하고자 하는 입력 데이터를 스크램블링하는 스크램블러, 상기 스크램블러로부터 스크램블링된 입력 데이터를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 부호화하는 저밀도 패러티 검사 부호화기; 출력 데이터의 코드율에 따라 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 천공을 수행하는 비트 천공기; 상기 천공된 데이터를 각 데이터에 매핑되는 심볼로 변환시키는 신호 사상 기; 상기 심볼로 변환된 데이터를 직교 주파수 분할 다중 처리하기 위하여 역고속푸리에 변환하여 수신측으로 전송시키는 역고속 푸리에 변환기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 송신 장치는 상기 역고속 푸리에 변환기에서 처리된 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환시키는 디지털 아날로그 변환기; 및 상기 아날로그 변환된 신호를 반송 주파수 신호와 곱한 후, 무선 환경으로 전송하는 송신 안테나;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 송신 장치는 초광대역 주파수를 사용하여 데이터를 전송하는 초광대역 시스템인 것을 특징으로 한다.
상기 저밀도 패러티 검사 부호화기는, 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열을 교환하는 열 교환부;를 포함하는 것을 특징으로 하며, 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 적게 나타나는 열을 상기 저밀도 패러티 검사 부호의 좌측열부터 순서대로 열을 교환하는 것을 특징으로 한다.
상기 비트 천공기에서는 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 좌측 열부터 순서대로 상기 출력 데이터의 코드율에 따른 비트를 천공하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 저밀도 패러티 검사 부호화기는, 각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생부; 상기 패러티 검사 행렬 발생부에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하 여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생부; 상기 열 교환된 패러티 검사 행렬로부터 생성 행렬을 발생시키는 생성 행렬 발생부; 및 입력되는 데이터를 상기 생성 행렬에 의해 부호화하는 부호화 연산부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 열 교환 행렬 발생부는, 요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출부; 상기 천공 비트 산출부에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단부; 및 상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환부;를 포함한다.
또한, 상기 천공 비트 위치 판단부는, 저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 데이터 송신 장치는; 입력 데이터를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 부호화하는 저밀도 패러티 검사 부호화기; 및 출력 데이터의 코드율에 따라 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 천공을 수행하는 비트 천공기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 저밀도 패러티 검사 부호화기는, 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열을 교환하는 열 교환 부;를 포함하는 것을 특징으로 하며, 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 적게 나타나는 열을 상기 저밀도 패러티 검사 부호의 좌측열부터 순서대로 열을 교환하는 것을 특징으로 한다.
상기 비트 천공기에서는 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 좌측 열부터 순서대로 상기 출력 데이터의 코드율에 따른 비트를 천공하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 저밀도 패러티 검사 부호화기는, 각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생부; 상기 패러티 검사 행렬 발생부에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생부; 상기 열 교환된 패러티 검사 행렬로부터 생성 행렬을 발생시키는 생성 행렬 발생부; 및 입력되는 데이터를 상기 생성 행렬에 의해 부호화하는 부호화 연산부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 열 교환 행렬 발생부는, 요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출부; 상기 천공 비트 산출부에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단부; 및 상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환부;를 포함한다.
또한, 상기 천공 비트 위치 판단부는, 저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나 의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 데이터 수신 장치는; 송신측에서 전송된 신호를 수신하고 고속 푸리에 변환시키는 고속 푸리에 변환기; 상기 고속 푸리에 변환된 신호에 상기 비트 삽입기에서 천공된 비트 수만큼 중간 값을 삽입하는 비트 삽입기; 상기 비트 삽입된 신호를 상기 저밀도 패러티 검사 부호화기의 부호화 방법에 따라 복호화하는 저밀도 패러티 검사 복호화기; 및 상기 복호화된 신호를 디스크램블링하여 최종 출력 데이터를 생성하는 디스크램블러;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 데이터 수신 장치는; 수신 데이터를 코드율에 따라 송신측에서 천공한 비트수만큼 해당 천공 위치에 삽입하는 비트 삽입기; 및 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환한 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 저밀도 패러티 검사 복호화를 수행하는 저밀도 패러티 검사 복호화기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 비트 삽입기는, 상기 저밀도 패러티 검사 복호화기로 입력되는 데이터 중 좌측 열부터 순서대로 해당 비트수만큼 비트를 삽입하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 저밀도 패러티 검사 복호화기는, 상기 비트 삽입기에 의해 비트 삽입된 수신 데이터의 신호에 대해 연판정하는 연판정부; 및 상기 연판정된 신호를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 복호화하는 LLR 복호화부;를 포함한다.
이때, 상기 저밀도 패러티 검사 복호화기는, 각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생부; 상기 패러티 검사 행렬 발생부에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생부;를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 열 교환 행렬 발생부는, 요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출부; 상기 천공 비트 산출부에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단부; 및 상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환부;를 포함하는 것이 바람직하다.
상기 천공 비트 위치 판단부는, 저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명에 따른 데이터 송신 방법은; 입력 데이터를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 부호화하는 저밀도 패러티 검사 부호화 단계; 및 출력 데이터의 코드율에 따라 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 천공을 수행하는 비트 천공 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 저밀도 패러티 검사 부호화 단계는, 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열을 교환하는 열 교환 단계;를 포함하는 것이 바람직하며, 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 적게 나타나는 열을 상기 저밀도 패러티 검사 부호의 좌측열부터 순서대로 열을 교환하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 비트 천공 단계에서는 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 좌측 열부터 순서대로 상기 출력 데이터의 코드율에 따른 비트를 천공하는 것이 바람직하다.
한편, 상기 저밀도 패러티 검사 부호화 단계는, 각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생 단계; 상기 단계에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생 단계; 상기 열 교환된 패러티 검사 행렬로부터 생성 행렬을 발생시키는 생성 행렬 발생 단계; 및 입력되는 데이터를 상기 생성 행렬에 의해 부호화하는 부호화 연산 단계;를 포함한다.
이때, 상기 열 교환 행렬 발생 단계는, 요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출 단계; 상기 단계에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단 단계; 및 상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환 단계;를 포함할 수 있다.
상기 천공 비트 위치 판단 단계는, 저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 하며, 상기 천공 비트 위치 판단 단계는, 저밀도 패러티 검사 행렬에서 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열을 선택하는 단계; 상기 선택된 열에서 1이 위치하는 행을 조사하는 단계; 및 상기 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열이 j열이라고 할 경우, 상기 해당 행들 중 j열을 제외한 0이 아닌 엘리먼트를 가진 열이 모두 천공되지 않은 행이 적어도 하나 존재할 경우, j번째 열을 천공 가능한 열로 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 j열의 천공에도 불구하고, 0 내지 j-1열에 대해서도 여전히 상기 조건들을 만족하게 될 때, 상기 j열을 천공할 열로 최종 결정하는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 데이터 수신 방법은; 수신 데이터를 코드율에 따라 송신측에서 천공한 비트수만큼 해당 천공 위치에 삽입하는 비트 삽입 단계; 및 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환한 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 저밀도 패러티 검사 복호화를 수행하는 저밀도 패러티 검사 복호화 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 비트 삽입 단계는, 상기 저밀도 패러티 검사 복호화기로 입력되는 데이터 중 좌측 열부터 순서대로 해당 비트수만큼 비트를 삽입하는 것이 바람직하다.
한편, 상기 저밀도 패러티 검사 복호화 단계는, 상기 비트 삽입기에 의해 비트 삽입된 수신 데이터의 신호에 대해 연판정하는 연판정 단계; 및 상기 연판정된 신호를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 복호화하는 LLR 복호화 단계;를 포함하는 것이 바람직하다.
이때, 상기 저밀도 패러티 검사 복호화 단계는, 각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생 단계; 상기 단계에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 열 교환 행렬 발생 단계는, 요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출 단계; 상기 단계에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단 단계; 및 상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 천공 비트 위치 판단 단계는, 저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 하며, 상기 천공 비트 위치 판단 단계는, 저밀도 패러티 검사 행렬에서 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열을 선택하는 단계; 상기 선택된 열에서 1이 위치하는 행을 조사하는 단계; 및 상기 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열이 j열이라고 할 경우, 상기 해당 행들 중 j열을 제외한 0이 아닌 엘리먼트를 가진 열이 모두 천공되지 않 은 행이 적어도 하나 존재할 경우, j번째 열을 천공 가능한 열로 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 j열의 천공에도 불구하고, 0 내지 j-1열에 대해서도 여전히 상기 조건들을 만족하게 될 때, 상기 j열을 천공할 열로 최종 결정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은 다양한 코드율을 지원하는 시스템에서 저밀도 패러티 검사(Low Density Parity Check; 이하, 'LDPC'라 한다.) 부호를 사용하여 부호화하는 방법 및 장치를 제안한다. 상술한 바와 같이 LDPC 부호를 사용하여 다양한 코드율을 지원하기 위해서는 각 코드율에 맞는 LDPC 부호를 각각 사용하는 방법이 고려될 수 있으나, 이는 심각한 복잡도 증가의 문제를 가져온다. 또한, LDPC 부호화된 데이터를 각 코드율에 맞게 천공하는 방법도 고려될 수 있으나 종래의 랜덤 펑쳐링 방법에 의해 천공할 경우 천공하기 전의 LDPC 부호 성능에 비해 성능 열화를 가져오게 된다.
따라서, 본 발명에서는 LDPC 부호화된 데이터를 천공함에 있어 성능 저하를 방지하기 위하여 수신측에서 신호 복구가 쉬운 비트를 우선적으로 천공함으로써, 복잡도를 증가시키지 않으면서 우수한 성능을 가져오는 데이터 송수신 방법 및 장치를 제안한다.
이때, 상기 LDPC 부호에서 복구가 쉬운 비트, 즉 천공할 비트의 위치를 결정하기 위해서는 LDPC 부호의 특성을 알아야 한다. 우선 본 발명의 이해를 돕기 위하여 상기 LDPC 부호에 대하여 간략하게 설명한다.
상기 LDPC 부호는 Gallager에 의해 제안된 부호이며, 대부분의 엘리먼트들이 0의 값을 가지며, 상기 0의 값을 가지는 엘리먼트들 이외의 극히 소수의 엘리먼트들이 1의 값을 가지는 패리티 검사 행렬에 의해 정의된다.
보다 구체적으로 설명하면 상기 LDPC 부호에 의한 부호화 방법은 블록 코드 부호화 방법으로서, 전송하고자 하는 데이터 I를 소정의 생성 행렬(Generative matrix) G와 연산하여 부호화한다. 여기서 상기 부호화된 데이터를 C라 할때, 상기 부호화된 데이터 C는 하기 <수학식 1>과 같이 표현된다.
Figure 112005007638205-pat00001
상기 부호화된 데이터 C를 복호화할 경우, 상기 부호화된 데이터 C는 상기 패리티 검사 행렬 H와 연산되며, 하기 <수학식 2>에 같이 모든 C에 대하여 상기 패리티 검사 행렬과 연산된 결과가 0이 될 경우 오류가 없는 것으로 판단하게 된다.
Figure 112005007638205-pat00002
따라서, 상기 LDPC 부호는 상기 패리티 검사 행렬 H로서 정의되며, 상기 LDPC 부호화를 위한 연산의 복잡도도 상기 패리티 검사 행렬 H에 의해 결정된다.
일 예로, (N, j, k) LDPC 부호는 블록(block) 길이가 N인 선형 블록 부호(linear block code)로, 각 열(column)마다 j개의 1의 값을 가지는 엘리먼트들과, 각 행(row)마다 k개의 1의 값을 가지는 엘리먼트들을 가지고, 상기 1의 값을 가지 는 엘리먼트들을 제외한 엘리먼트들은 모두 0의 값을 가지는 엘리먼트들로 구성된 성긴(sparse, 이하 'sparse'라 칭하기로 한다) 구조의 패리티 검사 행렬에 의해 정의된다.
또한, 상기 LDPC 부호는 팩터 그래프 상에서 합곱(sum-product) 알고리즘(algorithm)에 기반한 반복 복호(iterative decoding) 알고리즘을 사용하여 복호할 수 있다. 상기 합곱 알고리즘에 기반한 반복 복호 알고리즘을 사용하는 복호 방법을 사용함으로써 상기 LDPC 부호의 복호기(decoder)는 터보 부호의 복호기에 비해 낮은 복잡도를 가질 뿐만 아니라 병렬 처리 복호기를 구현함에 있어 용이하게 된다.
한편, 상기 LDPC 부호를 팩터 그래프로 표현하면 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프상에 사이클(cycle)이 존재하게 되는데, 사이클이 존재하는 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프 상에서의 반복 복호는 준최적(sub-optimal)이라는 것은 이미 잘 알려져 있는 사실이다. 또한, 상기 LDPC 부호는 반복 복호를 통해 우수한 성능을 가진다는 것 역시 실험적으로 입증된 바 있다. 그러나, 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프상에 짧은 길이의 사이클이 많이 존재할 경우에는 상기 LDPC 부호의 성능 열화가 발생되기 때문에, 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프상에 짧은 길이의 사이클이 존재하지 않도록 하는 LDPC 부호를 설계하기 위한 연구가 지속적으로 수행되고 있다.
상기 LDPC 부호의 설계는 기존의 부호화 행렬(generate matrix)을 설계하는 방법과 달리 낮은 웨이트 밀도를 가지는 패리티 검사 행렬(parity check matrix)을 설계하여 복호화 성능을 높일 수 있도록 하였다. 여기서, 상기 웨이트라함은 상기 생성 행렬 및 패리티 검사 행렬을 구성하는 엘리먼트(element)들중 0이 아닌 값을 가지는 엘리먼트의 개수를 나타낸다.
이때, 상기 패리티 검사 행렬내 각 열의 웨이트들의 개수가 j개로 일정하며, 상기 패리티 검사 행렬내 각 행의 웨이트들의 개수가 k개로 일정한 LDPC 부호를 균일(regular) LDPC 부호라고 칭한다. 이와는 달리, 상기 패리티 검사 행렬내 각 열의 웨이트들의 개수와 각 행의 웨이트들의 개수가 일정하지 않은 LDPC 부호를 불균일(irregular) LDPC 부호라고 칭한다. 일반적으로, 상기 균일 LDPC 부호의 성능에 비해서 상기 불균일 LDPC 부호의 성능이 더 우수하다고 알려져 있다. 그러나, 상기 불균일 LDPC 부호의 경우 패리티 검사 행렬내 각 열의 웨이트들의 개수와 각 행의 웨이트들의 개수가 일정하지 않기 때문에 패리티 검사 행렬내 각 열의 웨이트들의 개수와 각 행의 웨이트들의 개수를 적절하게 조절해야만 우수한 성능을 보장받을 수 있다.
일반적으로 상술한 LDPC 부호의 각 비트에 대하여 좋은 성능을 보장하는 조건들을 설명하면 다음과 같다.
(1) LDPC 부호의 팩터 그래프상의 사이클을 고려해야만 한다.
상기 사이클이란 LDPC 부호의 팩터 그래프에서 변수 노드와 검사 노드를 연결하는 에지(edge)가 구성하는 루프(loop)를 나타내는데, 상기 사이클의 길이는 상기 루프를 구성하는 에지들의 개수로 정의된다. 상기 사이클의 길이가 길다는 것은 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프에서 루프를 구성하는 변수 노드와 검사 노드를 연결하는 에지들의 개수가 많다는 것을 나타내며, 이와는 반대로 상기 사이클의 길이가 짧다는 것은 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프에서 루프를 구성하는 변수 노드와 검사 노드를 연결하는 에지들의 개수가 적다는 것을 나타낸다.
상기 LDPC 부호의 팩터 그래프상의 사이클을 길게 생성할수록 상기 LDPC 부호의 성능이 좋아지게 되는데 그 이유는 다음과 같다. 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프상의 사이클을 길게 생성할 경우, 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프상에 짧은 길이의 사이클이 많이 존재할 때 발생하는 오류 마루(floor)등의 성능 열화가 발생하지 않기 때문이다.
(2) LDPC 부호의 팩터 그래프상의 차수가 높은 비트가 좋은 성능을 갖는다.
일반적으로, 상기 팩터 그래프상에서 차수가 높은 비트가 차수가 낮은 비트에 비하여 성능이 우수한데 그 이유는 차수가 높은 비트는 반복 복호를 통하여 에지로 연결된 다른 비트들에 의하여 복원이 될 수 있기 때문이다. 여기서, 상기 차수란 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프상에서 각 노드들, 즉 변수 노드들과 검사 노드들에 연결되어 있는 에지의 개수를 나타낸다. 또한, 상기 LDPC 부호의 팩터 그래프상의 차수 분포란 특정 차수를 갖는 노드들이 전체 노드들 중 얼마만큼 존재하는지를 나타내는 것이다.
따라서, 본 발명은 LDPC 부호의 특성을 이용하여 수신측에서 신호 복구가 용이한 비트 위치를 우선적으로 천공할 수 있도록, LDPC 부호의 패러티 검사 행렬 상에서 천공하여도 성능 열화가 가장 적게 일어나는 열을 결정하여 열 치환하게 된다. 즉, 상기 천공하여도 성능 열화가 가장 적게 일어나는 열을 제1 열과 치환한 후 입력 데이터를 부호화하고, 해당 부호율에 맞게 상기 제 1열부터 천공함으로써 다양한 부호율을 얻음과 동시에 천공에 의한 성능 저하를 방지할 수 있다.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명에 따른 다양한 코드율을 지원하는 LDPC 부호화기에 의한 데이터 전송 절차를 나타낸 흐름도이다. 상기 도 3을 참조하면, 수신측으로 전송하기 위한 K 비트의 데이터가 입력(S301)되면, 상기 입력 데이터는 부호화율이 R이고 코드 길이가 N인 LDPC 코드로 부호화(S302)된다. 이때, 본 발명에 따라 상기 LDPC 코드는 천공했을 때의 성능 저하가 가장 적게 일어나는 열을 천공할 위치로 열 교환한 코드가 된다. 상기 열 교환의 구체적인 방법은 후술하기로 한다.
그런다음, LDPC 코드로 부호화된 입력 데이터는 요구되는 코드율(R')에 따라 정해진 비트(즉, K(1/R-1/R')비트)만큼 천공(S303)하여 전송(S304)하게 된다.
도 4는 본 발명에 따른 다양한 코드율을 지원하는 LDPC 부호화기에 의해 전송된 데이터를 수신하는 절차를 나타낸 흐름도이다. 상기 도 4를 참조하면, 수신측에서는 상기 도 3에서와 같이 송신측에서 부호화하여 전송된 데이터를 수신(S401)한 후, 천공된 위치에 중간값의 비트를 삽입(S402)하게 된다. 그런다음, LDPC 코드로 복호화(S403)함으로써 최종 K 비트의 데이터를 출력(S404)하게 된다.
한편, 상기에서 천공된 위치를 후술할 본 발명에 따라 성능 저하의 영향이 가장 적은 비트로 하여 천공하였으므로 수신측에서는 천공된 위치에 중간값의 비트를 삽입하여 복호화 하더라도 성능 저하가 문제가 발생하지 않는다.
이상으로 본 발명에 따른 데이터 송수신 절차를 설명하였다. 이하, 상기 본발명에 따른 LDPC 부호화를 멀티 밴드 OFDM 시스템에 적용한 예를 설명한다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 LDPC 부호화기를 사용한 멀티 밴드 OFDM 시스템의 송수신 시스템의 블록도이다. 상기 도 5를 참조하면, 송신 장치에서 입력 데이터는 스크램블러(Scrambler; 510)를 통해 스크램블링되고, 채널 코딩 과정으로서 본 발명에 따른 LDPC 부호화기(LDPC Encoder; 511)에서 부호화된다. 이때, 상기 LDPC 부호화기에서의 LDPC 코드는 본 발명에 따라 천공하여도 성능의 영향을 적게 받는 열을 천공할 위치의 열로 열 교환한 코드를 사용하게 된다. 그런다음, 천공기(Puncturer; 512)에서 전송하고자 하는 데이터의 코드 레이트(code rate)에 따라 천공(puncturing)을 하게 된다.
상기 천공된 데이터는 신호 사상기(Constellation Mapper; 513)에서 해당 심볼로 변환된 다음, OFDM 처리를 위하여 IFFT(Inverse Fast Fourier Transform)기(514)에서 IFFT 변환을 수행한다. 그런다음 D/A 변환기(Digital to Analog Converter; 515)에서 아날로그 신호로 변환되고, 마지막으로 곱셈기(516)에서 exp(j2πfct)의 반송 주파수 신호와 곱하여져 안테나(517)를 통해 수신측으로 전송된다.
수신 장치에서는 상기 송신 장치에서의 처리와 역순으로 진행된다. 즉, 수신 안테나(527)를 통해 수신된 신호는 LNA(Low Noise Amplifier; 526)에서 증폭된 후, 두 개의 곱셈기(525a, 525b)에서 I(In Phase) 채널 신호 및 Q(Quadrature) 채널 신호로 분리된 후, 상기 각 신호는 A/D 변환기(Analog to Digital Converter; 524a, 524b)에서 디지털 신호로 변환된다.
상기 변환된 신호는 FFT(Fast Fourier Transform)기(523)에서 FFT 변환을 수행한 후, 비트 삽입기(De-Puncturer; 522)에서 천공된 비트 수만큼 중간 값이 삽입된 후, 본 발명에 따른 LDPC 복호화기(LDPC Decoder; 521)를 통해 복호화된다. 마지막으로 디스크램블러(De-Scrambler; 520)에서 디스크램블링되어 최종 출력 데이터가 생성된다.
따라서, 다양한 코드율을 지원하여야 하는 상기와 같은 멀티 밴드 OFDM 시스템 등에서 본 발명에 따라 LDPC 부호화한 데이터를 천공하여 전송함으로써 복잡도가 낮은 시스템을 구현함과 동시에, 성능 열화가 적게 발생하는 위치의 비트를 천공함으로써 성능이 우수한 LDPC 부호화기를 다양한 코드율의 전송 장치에 활용할 수 있게 된다.
이하, 본 발명의 일실시예에 따른 상기 LDPC 부호화기(511) 및 LDPC 복호화기(521)의 세부 구조 및 천공 위치를 결정하는 방법을 도 6 내지 도 10을 참조하여 설명하기로 한다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 LDPC 부호화기 및 복호화기의 세부 구성을 나타낸 블록도이다. 상기 도 6을 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 LDPC 부호화기(511)는 패러티 검사 행렬 발생부(610), 열 교환 행렬 발생부(620), 생성 행렬 발생부(630) 및 부호화 연산부(640) 등으로 구성될 수 있다. 또한, 본 발명의 일실시예에 따른 LDPC 복호화기(521)는 LLR 복호화부(650), 연판정부(660) 등으로 구성될 수 있다.
먼저, 상기 패러티 검사 행렬 발생부(610)에서는 각 엘리먼트들의 구성 요소 가 0 또는 1이고, 1의 수가 매우 적은 M×N 행렬, 즉 패러티 검사 행렬(H)을 생성하게 된다. 상기 생성된 패러티 검사 행렬(H)은 일반적으로 도 7과 같다.
상기 도 7을 참조하면, 상기 패러티 검사 행렬의 각 엘리먼트 hi,j는 상술한 바와 같이 0 또는 1이 되며, M개의 행과 N개의 열로 구성된다. 이때, 상기 N의 크기는 부호화하고자 하는 코드워드(codeward)의 길이를 나타내며, 상기 M의 크기는 패러티 비트(parity bit)들의 수를 나타낸다.
상기 패러티 검사 행렬 발생부(610)에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬 H는 상기 열 교환 행렬 발생부(620)에서 천공할 열의 선택에 따라 열 교환(column permutation)되어 도 8과 같은 열 교환된 행렬 H'이 생성된다.
상기 도 8을 참조하면, 전송하고자 하는 코드율에 따라 천공할 열의 수 Np개를 결정하고, 상기 총 N개의 열들 중에서 천공하여도 성능에 가장 영향이 적은 Np개의 열을 결정한 후, 좌측에 있는 열들과 열 교환하게 된다.
이때, 상기 선택된 열에 대한 교환 방법은 천공 방법에 따라 변형될 수 있다. 즉, 교환하고자 선택된 열은 우선적으로 천공하기 위한 열들로서 어떠한 위치의 열들과 교환되던지 비트 천공기에서 가장 우선적으로 천공하게 되는 열이 된다.
바람직하게는 상기 도 8에서와 같이 천공하여도 가장 성능 저하가 적게 일어나는 열의 순서로 가장 좌측 열과 열교환 하게 된다. 따라서, 비트 천공기에서는 전송하고자 하는 코드율에 따라 가장 좌측 열부터 천공하게 되고, 수신측에서는 가장 좌측 열부터 비트 삽입하게 되므로, 별도의 천공 위치 정보를 저장 또는 전송할 필요가 없게 된다.
한편, 다른 구현 방법으로서, 상기 우선적으로 천공하기 위한 열들을 패러티 검사 행렬의 가장 우측의 열들과 열 교환 한 후, 가장 우측의 열로부터 천공하도록 할 수 있다. 또한, 상기와 같이 열 교환을 하지 않고, 천공하기 위한 열들의 위치 정보를 저장한 후, 비트 천공기에서 해당 열들을 천공하도록 할 수 있다. 그러나, 이때에는 수신측에서도 천공된 위치에 대한 정보를 알아야 한다는 단점이 있다.
상기 열 교환 행렬 발생부(620)에서 생성된 열 교환 행렬로부터 생성 행렬 발생부(630)에서는 생성 행렬을 발생시킨다. 즉, 상기 생성 행렬 발생부(630)에서는 하기 <수학식 3>를 만족하는 K×NG' 행렬을 결정하고, 이를 생성 행렬(Generator matrix) G'이라 한다.
Figure 112005007638205-pat00003
상기 부호화 연산부(640)에서는 입력되는 K 비트의 메시지 벡터(message vector) m을 상기 생성된 생성 행렬 G'에 의해 부호화 연산하게 된다.
만약, 입력된 메시지 벡터가 m=[m0, m1,... mK-1]이라 할 때, 상기 생성 행렬 G'과의 연산을 통해 생성된 코드 워드(codeword) c는 하기 <수학식 4>와 같이 나타낼 수 있다.
Figure 112005007638205-pat00004
상기 <수학식 4>에서 p는 패러티 파트(parity part)이며, m은 메시지 파트(message part)를 의미한다.
한편, 요구되는 코드율이 R'이라고 하고, 천공할 비트가 NP라고 할 경우, NP만큼 앞에서부터 천공하게 되며, 상기 천공된 결과는 하기 <수학식 5>와 같이 나타낼 수 있다.
Figure 112005007638205-pat00005
상기 도 6에 도시된 바와 같이 상기 천공된 데이터 c'이 전송 채널을 거치면 수신측에서는 r' 신호가 수신된다. 상기 수신 신호 r'은 하기 <수학식 6>과 같이 나타낼 수 있다.
Figure 112005007638205-pat00006
이때, 상기 비트 삽입기(522)에서 변조된 값의 중간 값 e를 천공된 위치에 삽입하게 되면, 하기 <수학식 7>과 같이 나타낼 수 있다.
Figure 112005007638205-pat00007
상술한 바와 같이 상기 비트 삽입된 수신 데이터 r은 연판정(soft decision)부(660)에서 연판정 한 후, LLR 복호화부(650)에서 H' 행렬을 기반으로 LLR- BP(Log-likelihood ratio belief-propagation) 알고리즘에 의해 복호화하게 된다.
이렇게 함으로써 최종적으로 복호화된 메시지 벡터
Figure 112005007638205-pat00008
이 하기 <수학식 8>과 같이 출력된다.
Figure 112005007638205-pat00009
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 열 교환 행렬 발생부를 나타낸 블록도이다. 상기 도 9를 참조하면, 상기 도 6에서의 열 교환 행렬 발생부(620)는 천공 비트 위치 판단부(900), 천공 비트 산출부(910) 및 열 교환부(920)로 구성될 수 있다.
즉, 상술한 바와 같이 최초 생성된 패러티 검사 행렬에서 천공할 위치의 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하기 위해서는 열 교환할 열들의 개수와 위치를 결정하여 열 교환을 수행하여야 한다.
따라서, 상기 천공 비트 산출부(910)에서는 먼저 요구되는 코드율 중 최대값의 코드율 RMAX에 따라 천공할 비트의 개수를 산출하게 된다. 즉, 코드율이 높을수록 천공할 비트수도 많아지게 된다.
한편, 상기 최대 코드율이 RMAX 라 할때, 천공할 총 비트수 NP,MAX는 하기 <수학식 9>과 같이 산출될 수 있다.
Figure 112005007638205-pat00010
상기 천공 비트 위치 판단부(900)에서는 상기 천공 비트 산출부(910)에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하게 된다. 상기 열교환부(920)에서는 상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 가장 좌측 또는 가장 우측열로부터 순차적으로 열 교환하게 된다. 이렇게 함으로써 최종적으로 열 교환 행렬 H'이 생성되게 된다.
이하, 상기 천공할 열의 위치를 결정하는 방법을 보다 구체적으로 설명하기로 한다. 상기 천공할 열의 위치는 상술한 바와 같이 천공하여 전송하여도 성능 저하가 가장 적게 일어나는 열이 되어야 한다. 따라서, 상술한 바와 같이 LDPC 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드(check node)에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드(variable node)만이 천공되는 열을 선택하게 된다.
상기 천공할 열의 위치를 결정 방법은 먼저 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열을 선택(제1 단계)하고, 상기 선택된 열에서 1이 위치하는 행을 조사(제2 단계)하게 된다.
그런다음, 상기 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열이 j열이라고 할 경우, 상기 해당 행들 중 j열을 제외한 0이 아닌 엘리먼트(non-zero element)를 가진 열이 모두 천공되지 않은 행이 적어도 하나 존재할 경우, j번째 열을 천공 가능한 열로 결정(제3 단계)하게 된다.
이때, 상기 j열의 천공에도 불구하고, 0 내지 j-1열에 대해서도 여전히 상기 제3 단계의 조건을 만족하게 되면, 상기 j열은 천공할 열로 최종 결정하게 된다.
이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 예를 들어 설명하기로 한다.
하기 <표 1>은 패러티 검사 행렬의 각 엘리먼트들을 표로 나타낸 것이다.
Figure 112005007638205-pat00011
상기 <표 1>에서 각 열의 1의 개수(즉, 웨이트)는 모두 2인 균일 LDPC 부호이므로, 먼저 0번 열부터 순차적으로 고려해 보기로 한다. 상술한 바와 같이 상기 0번 열에서 1이 위치하는 행은 제6행 및 제7행이 된다. 이때, 상술한 바와 같이 상기 두 행들 중에서 0번 열을 제외한 0이 아닌 엘리먼트를 가진 열이 모두 천공되지 않은 행이 적어도 하나 존재 하므로 0번 열을 천공 가능한 열로 결정하게 된다.
그런다음, 하기 <표 2>와 같이 1번 열에 대해서도 상기와 같은 판단을 수행하게 된다.
Figure 112005007638205-pat00012
즉, 상기 1번 열을 고려하면, 1이 위치하는 행은 제4행 및 제9행이 된다. 상술한 바와 같이 상기 제4행 및 제9행 모두 1번 열 외에 어느 열도 천공되지 않았으므로, 1번 열을 천공 가능한 열로 가정한다. 마지막으로, 상기 1번 열을 천공한다고 가정할 경우, 상기 0번 열에 대해서도 여전히 상기 제3단계의 동일한 조건을 만족하고 있으므로, 상기 1번 열을 최종적으로 천공할 열로 결정하게 된다.
다음으로 2번 열에 대해서도 상기와 동일하게 조사하면, 하기 <표 3>과 같다.
Figure 112005007638205-pat00013
즉, 상기 2번 열을 고려하면, 1이 위치하는 행은 제2행 및 제3행이 된다. 상술한 바와 같이 상기 제2행 및 제3행 모두 2번 열 외에 어느 열도 천공되지 않았으므로, 2번 열을 천공 가능한 열로 가정한다. 마지막으로, 상기 2번 열을 천공한다고 가정할 경우, 이미 천공하기로 결정한 상기 0번 및 1번 열에 대해서도 여전히 상기 제3단계의 동일한 조건을 만족하고 있으므로, 상기 2번 열을 최종적으로 천공할 열로 결정하게 된다.
동일한 방법으로 검사하면 3번 열 및 4번 열에 대해서도 천공 가능함을 알 수 있다. 그러나, 5번 열에서는 이미 천공하기로 결정한 열에 대해서 상기 제3단계의 조건을 만족하지 않으므로 천공할 수가 없게 된다. 하기 <표 4>는 5번 열에 대한 천공 가능 여부 검사를 나타낸 표이다.
상기 <표 4>를 참조하면, 5번 열 중에서 1이 위치하는 제1행 및 제2행을 살펴볼 때, 제1행에는 상기 5번 열 이외에 이미 3번 열에서 천공되었으며, 제2행에는 상기 5번 열 이외에 이미 2번 열에서 천공되었다. 따라서, 상기 5번 열은 천공하게 될 경우 성능 저하를 가져올 수 있기 때문에 천공하지 않는 것이 바람직하다.
나머지 6번 열 내지 19번 열에 대해서도 상기와 동일한 절차에 의해서 검사하면, 하기 <표 5>와 같이 천공할 열들이 결정될 수 있음을 알 수 있다.
Figure 112005007638205-pat00015
상기 <표 5>를 참조하면, 최종 천공 가능한 열로서 0, 1, 2, 3, 4, 7 및 18번 열이 선택될 수 있음을 알 수 있다.
상기 패러티 검사 행렬은 도 10과 같이 팩터 그래프 형태로 나타낼 수 있으며, 팩터 그래프 상에서도 상기 과정에 따라 결정된 열들이 천공되더라고 성능 저하에 가장 영향을 미치지 않는 열들임을 알 수 있다.
도 10은 본 발명의 일실시예에 따라 천공 위치를 판단하기 위한 팩터 그래프이다. 상기 도 10을 참조하면, 상기 패러티 검사 행렬은 10행×20열로 구성되어 있으므로, 20개의 변수 노드(variable node)들(1000)과 10개의 검사 노드(check node)들(1010)을 연결한 그래프로 나타낼 수 있다. 여기서, 상기 패러티 검사 행렬 상에서 각 행과 열이 만나는 지점에 '1'이 존재할 경우 상기 변수 노드와 검사 노드가 연결된다.
한편, 본 발명에 따라 0, 1, 2, 3, 4, 7 및 18번 열이 천공될 경우, 상기 0, 1, 2, 3, 4, 7 및 18번의 변수 노드와 연결된 선은 신뢰도가 떨어지게 된다. 그러나, 상기 천공된 열의 변수 노드와 연결된 다른 검사 노드에서는 천공되지 않은 열의 변수 노드와 하나 이상씩 연결되도록 천공하였으므로, 복호시 성능 저하를 방지할 수가 있게 된다.
도 11 내지 도 13은 본 발명에 따른 LDPC 부호와 종래 부호들의 성능을 비교한 그래프이다.
도 11은 코드율 1/2인 부호화기에서의 종래 부호들과 본 발명에 따른 LDPC 부호의 성능을 비교한 그래프이며, 도 12는 코드율 3/4인 부호화기에서의 종래 부호들과 본 발명에 따른 LDPC 부호의 성능을 비교한 그래프이며, 도 13은 코드율 5/8인 부호화기에서의 종래 부호들과 본 발명에 따른 LDPC 부호의 성능을 비교한 그래프이다.
상기 그래프에서의 시뮬레이션 조건은 다음과 같다.
- 측정 대상 코드 : 컨벌루셔널 코드(CC), 천공하지 않는 복수의 LDPC 코드(Infineon's LDPCC), 본 발명에서 제안하는 LDPC 코드(proposed LDPCC)
- 채널 모델 : UWB 채널(채널 1 내지 채널 3)
- 복호 알고리즘 : CC는 비터비 디코더(viterbi decoder) 사용, 나머지는 LLR-BP 알고리즘에서 최대 반복 회수(# of maximum iterations)를 12로 설정.
- 기타 조건 : 완전 케리어/시간 동기 및 완전 채널 추정. 비선형적 요소(예컨대, DAC, ADC, RF 등)는 고려되지 않음. 시클릭 프레픽스(cyclic-prefix) 사용. 1개 PER 포인트 당 1000 패킷 전송(8000 비트 ≤ 1 패킷 ≤ 8400 비트)
상기 도 11을 참조하면, 부호화하지 않은 신호의 PER 성능 그래프(1101), 컨벌루셔널 코드를 사용했을 경우의 PER 성능 그래프(1102), 천공하지 않는 복수의 LDPC 부호화기를 사용했을 경우의 PER 성능 그래프(1103) 및 본 발명에 따라 천공한 LDPC 부호화기를 사용했을 경우의 PER 성능 그래프(1104)가 도시되며, 본 발명에 따른 부호화 방법(1104)이 종래의 컨벌루셔널 코드에 의한 부호화 방법(1102)에 비해 성능이 우수함을 알 수 있다. 아울러, 천공하지 않고 각 코드율에 따라 별도의 마더 코드를 사용하는 종래의 LDPC 부호화 방법(1103)과 비교할 때, 복잡도가 훨씬 줄어들면서도 동일한 성능을 가져오게 됨을 알 수 있다.
상기 도 12 및 도 13의 코드율이 3/4 및 5/8일 경우에도 마찬가지로 종래 기술에 비해 성능이 우수할 뿐만아니라, 복잡도가 높은 천공하지 않는 LDPC 부호의 성능에도 가깝게 도달함을 알 수 있다.
한편, 본 발명은 최근 연구가 활발히 진행되고 있는 UWB(Ultra Wiedband) 시스템에도 효과적으로 적용될 수가 있으며, 저밀도 패러티 검사 부호를 사용할 수 있는 어떠한 시스템들에도 적용 가능함은 자명하다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 다양한 코드율을 지원해야 하는 차세대 이동통신 시스템에서 성능이 우수한 LDPC 부호를 용이하게 적용할 수 있게 되는 장점이 있다.
또한, 종래의 멀티밴드 OFDM 시스템에 사용되던 컨벌루셔널 코드에 비해 현저한 성능의 향상을 가져올 수가 있으며, 각 코드율마다 별도의 LDPC 부호를 사용함으로서 복잡도가 증가된 종래의 LDPC 부호 방법과 비교할 때도 성능의 열화 정도 가 떨어지지 않게 되는 장점이 있다.
아울러, 컨벌루셔널 코드를 사용할 경우 버스트 에러를 대비하여 비트 인터리버 사용이 필수이지만 LDPC 부호의 경우 부호 자체에 인터리빙 기능이 포함되어 있으므로 비트 인터리버의 사용이 필요 없다는 장점이 있다.

Claims (46)

  1. 전송하고자 하는 입력 데이터를 스크램블링하는 스크램블러;
    상기 스크램블러로부터 스크램블링된 입력 데이터를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 부호화하는 저밀도 패러티 검사 부호화기;
    출력 데이터의 코드율에 따라 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 천공을 수행하는 비트 천공기;
    상기 천공된 데이터를 각 데이터에 매핑되는 심볼로 변환시키는 신호 사상기;
    상기 심볼로 변환된 데이터를 직교 주파수 분할 다중 처리하기 위하여 역고속푸리에 변환하여 수신측으로 전송하는 역고속 푸리에 변환기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 역고속 푸리에 변환기에서 처리된 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환시키는 디지털 아날로그 변환기; 및
    상기 아날로그 변환된 신호를 반송 주파수 신호와 곱한 후, 무선 환경으로 전송하는 송신 안테나;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 송신 안테나는 초광대역 주파수를 사용하여 데이터를 전송하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호화기는,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열을 교환하는 열 교환부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 적게 나타나는 열을 상기 저밀도 패러티 검사 부호의 좌측열 및 우측열 중 어느 하나로부터 순서대로 열을 교환하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 비트 천공기에서는 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 좌측 열부터 순서대로 상기 출력 데이터의 코드율에 따른 비트를 천공하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호화기는,
    각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생부;
    상기 패러티 검사 행렬 발생부에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생부;
    상기 열 교환된 패러티 검사 행렬로부터 생성 행렬을 발생시키는 생성 행렬 발생부; 및
    입력되는 데이터를 상기 생성 행렬에 의해 부호화하는 부호화 연산부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 열 교환 행렬 발생부는,
    요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천 공 비트 산출부;
    상기 천공 비트 산출부에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단부; 및
    상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 천공 비트 위치 판단부는,
    저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  10. 입력 데이터를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 부호화하는 저밀도 패러티 검사 부호화기; 및
    출력 데이터의 코드율에 따라 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 천공을 수행하는 비트 천공기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호화기는,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열을 교환하는 열 교환부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 적게 나타나는 열을 상기 저밀도 패러티 검사 부호의 좌측열 및 우측열 중 어느 하나로부터 순서대로 열을 교환하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 비트 천공기에서는 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 좌측 열부터 순서대로 상기 출력 데이터의 코드율에 따른 비트를 천공하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  14. 제10항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호화기는,
    각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생부;
    상기 패러티 검사 행렬 발생부에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생부;
    상기 열 교환된 패러티 검사 행렬로부터 생성 행렬을 발생시키는 생성 행렬 발생부; 및
    입력되는 데이터를 상기 생성 행렬에 의해 부호화하는 부호화 연산부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 열 교환 행렬 발생부는,
    요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출부;
    상기 천공 비트 산출부에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단부; 및
    상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 천공 비트 위치 판단부는,
    저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 장치.
  17. 송신측에서 전송된 신호를 수신하고 고속 푸리에 변환시키는 고속 푸리에 변환기;
    상기 고속 푸리에 변환된 신호에 상기 비트 삽입기에서 천공된 비트 수만큼 중간 값을 삽입하는 비트 삽입기;
    상기 비트 삽입된 신호를 상기 저밀도 패러티 검사 부호화기의 부호화 방법에 따라 복호화하는 저밀도 패러티 검사 복호화기; 및
    상기 복호화된 신호를 디스크램블링하여 최종 출력 데이터를 생성하는 디스크램블러;를 포함하고,
    상기 비트 삽입기는,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화기로 입력되는 데이터 중 좌측 열부터 순서대로 해당 비트수만큼 비트를 삽입하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 전송된 신호를 수신하는 수신 안테나; 및
    상기 수신된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환시키는 아날로그 디지털 변환기;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  19. 삭제
  20. 제17항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화기는,
    상기 비트 삽입기에 의해 비트 삽입된 수신 데이터의 신호에 대해 연판정하는 연판정부; 및
    상기 연판정된 신호를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 복호화하는 LLR 복호화부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  21. 제17항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화기는,
    각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생부;
    상기 패러티 검사 행렬 발생부에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  22. 제21항에 있어서,
    상기 열 교환 행렬 발생부는,
    요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출부;
    상기 천공 비트 산출부에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단부; 및
    상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  23. 제22항에 있어서,
    상기 천공 비트 위치 판단부는,
    저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  24. 수신 데이터를 코드율에 따라 송신측에서 천공한 비트수만큼 해당 천공 위치에 삽입하는 비트 삽입기; 및
    천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환한 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 저밀도 패러티 검사 복호화를 수행하는 저밀도 패러티 검사 복호화기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  25. 제24항에 있어서,
    상기 비트 삽입기는,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화기로 입력되는 데이터 중 좌측 열부터 순서대로 해당 비트수만큼 비트를 삽입하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  26. 제24항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화기는,
    상기 비트 삽입기에 의해 비트 삽입된 수신 데이터의 신호에 대해 연판정하는 연판정부; 및
    상기 연판정된 신호를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 복호화하는 LLR 복호화부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  27. 제24항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화기는,
    각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생부;
    상기 패러티 검사 행렬 발생부에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  28. 제24항에 있어서,
    상기 열 교환 행렬 발생부는,
    요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출부;
    상기 천공 비트 산출부에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열 로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단부; 및
    상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  29. 제24항에 있어서,
    상기 천공 비트 위치 판단부는,
    저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 장치.
  30. 입력 데이터를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 부호화하는 저밀도 패러티 검사 부호화 단계; 및
    출력 데이터의 코드율에 따라 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 천공을 수행하는 비트 천공 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  31. 제30항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호화 단계는,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열을 교환하는 열 교환 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  32. 제31항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 천공에 따른 성능 열화가 적게 나타나는 열을 상기 저밀도 패러티 검사 부호의 좌측열 및 우측열 중 어느 하나로부터 순서대로 열을 교환하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  33. 제32항에 있어서,
    상기 비트 천공 단계에서는 상기 저밀도 패러티 검사 부호 중 좌측 열부터 순서대로 상기 출력 데이터의 코드율에 따른 비트를 천공하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  34. 제30항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 부호화 단계는,
    각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패 러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생 단계;
    상기 단계에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생 단계;
    상기 열 교환된 패러티 검사 행렬로부터 생성 행렬을 발생시키는 생성 행렬 발생 단계; 및
    입력되는 데이터를 상기 생성 행렬에 의해 부호화하는 부호화 연산 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  35. 제34항에 있어서,
    상기 열 교환 행렬 발생 단계는,
    요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출 단계;
    상기 단계에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단 단계; 및
    상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  36. 제35항에 있어서,
    상기 천공 비트 위치 판단 단계는,
    저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  37. 제35항에 있어서,
    상기 천공 비트 위치 판단 단계는,
    저밀도 패러티 검사 행렬에서 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열을 선택하는 단계;
    상기 선택된 열에서 1이 위치하는 행을 조사하는 단계; 및
    상기 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열이 j열이라고 할 경우, 상기 해당 행들 중 j열을 제외한 0이 아닌 엘리먼트를 가진 열이 모두 천공되지 않은 행이 적어도 하나 존재할 경우, j번째 열을 천공 가능한 열로 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  38. 제37항에 있어서,
    상기 j열의 천공에도 불구하고, 0 내지 j-1열에 대해서도 여전히 상기 조건들을 만족하게 될 때, 상기 j열을 천공할 열로 최종 결정하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 송신 방법.
  39. 수신 데이터를 코드율에 따라 송신측에서 천공한 비트수만큼 해당 천공 위치에 삽입하는 비트 삽입 단계; 및
    천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환한 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 저밀도 패러티 검사 복호화를 수행하는 저밀도 패러티 검사 복호화 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 방법.
  40. 제39항에 있어서,
    상기 비트 삽입 단계는,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화기로 입력되는 데이터 중 좌측 열부터 순서대로 해당 비트수만큼 비트를 삽입하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 방법.
  41. 제39항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화 단계는,
    상기 비트 삽입기에 의해 비트 삽입된 수신 데이터의 신호에 대해 연판정하는 연판정 단계; 및
    상기 연판정된 신호를 저밀도 패러티 검사 부호에 의해 복호화하는 LLR 복호 화 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 방법.
  42. 제41항에 있어서,
    상기 저밀도 패러티 검사 복호화 단계는,
    각 엘리먼트들의 구성 요소가 0 또는 1이고, 1의 수가 적은 M×N 크기의 패러티 검사 행렬을 생성하는 패러티 검사 행렬 발생 단계;
    상기 단계에서 생성된 상기 패러티 검사 행렬에서 천공에 따른 성능 열화가 가장 적게 나타나는 열의 순서대로 열 교환을 수행하여 열 교환된 행렬을 생성하는 열 교환 행렬 발생 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 방법.
  43. 제42항에 있어서,
    상기 열 교환 행렬 발생 단계는,
    요구되는 코드율 중 최대 코드율에 따라 천공해야할 비트 수를 산출하는 천공 비트 산출 단계;
    상기 단계에서 산출한 비트 수에 따라 몇 개의 열을 교환할 열로 선택할 지를 결정한 후, 천공하여도 성능 저하가 가장 적은 상기 해당 개수의 열들을 열 교환할 위치로 결정하는 천공 비트 위치 판단 단계; 및
    상기 열 교환하기로 결정한 열에 대하여 순차적으로 열 교환하는 열 교환 단 계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 방법.
  44. 제43항에 있어서,
    상기 천공 비트 위치 판단 단계는,
    저밀도 패러티 검사 코드의 특성에 따라 팩터 그래프 상에서 1개의 체크 노드에 연결된 복수의 변수 노드들 중에서 하나의 변수 노드만이 천공되는 열을 천공 가능한 열로서 결정하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 방법.
  45. 제44항에 있어서,
    상기 천공 비트 위치 판단 단계는,
    저밀도 패러티 검사 행렬에서 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열을 선택하는 단계;
    상기 선택된 열에서 1이 위치하는 행을 조사하는 단계; 및
    상기 1의 개수가 가장 적게 존재하는 열이 j열이라고 할 경우, 상기 해당 행들 중 j열을 제외한 0이 아닌 엘리먼트를 가진 열이 모두 천공되지 않은 행이 적어도 하나 존재할 경우, j번째 열을 천공 가능한 열로 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 방법.
  46. 제45항에 있어서,
    상기 j열의 천공에도 불구하고, 0 내지 j-1열에 대해서도 여전히 상기 조건들을 만족하게 될 때, 상기 j열을 천공할 열로 최종 결정하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한 데이터 수신 방법.
KR1020050011983A 2004-04-22 2005-02-14 다양한 코드율을 지원하는 저밀도 패러티 검사 코드에 의한데이터 송수신 시스템, 장치 및 방법 KR100659266B1 (ko)

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US11/111,914 US7653859B2 (en) 2004-04-22 2005-04-22 System, apparatus and method for transmitting and receiving data coded by low density parity check code having variable coding rate

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010082753A2 (en) * 2009-01-13 2010-07-22 Lg Electronics, Inc. Apparatus for transmitting and receiving a signal and method of transmitting and receiving a signal
WO2010082754A2 (en) * 2009-01-14 2010-07-22 Lg Electronics, Inc. Apparatus for transmitting and receiving a signal and method of transmitting and receiving a signal

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7395494B2 (en) * 2003-12-22 2008-07-01 Electronics And Telecommunications Research Institute Apparatus for encoding and decoding of low-density parity-check codes, and method thereof
US7165205B2 (en) * 2004-05-14 2007-01-16 Motorola, Inc. Method and apparatus for encoding and decoding data
WO2006016261A1 (en) * 2004-08-13 2006-02-16 Nokia Corporation Structured puncturing of irregular low-density parity-check (ldpc) codes
US7451361B2 (en) * 2005-01-27 2008-11-11 General Instrument Corporation Method and apparatus for forward error correction in a content distribution system
KR101351140B1 (ko) 2005-11-22 2014-01-15 조지아 테크 리서치 코오포레이션 통신 시스템에서 신호 송수신 장치 및 방법
EP1816817A1 (en) * 2006-02-06 2007-08-08 Siemens Aktiengesellschaft A method for reducing Peak-to-Average Power Ratio in an OFDM transmission system
CN101170532B (zh) * 2006-10-23 2010-09-29 华为技术有限公司 正交频分复用系统中反向信号收发方法及设备
KR101421413B1 (ko) * 2006-11-01 2014-08-13 코닌클리케 필립스 엔.브이. 트렐리스 코딩된 변조(ｔｃｍ), 다중 레벨 코딩된 변조(ｔｌｃｍ) 및 비트 인터리빙된 ｍｌｃｍ(ｂｉｍｌｃｍ)을 이용한 단일 캐리어 블록 전송
KR100981501B1 (ko) * 2006-11-06 2010-09-10 연세대학교 산학협력단 통신 시스템에서 신호 송신 장치 및 방법
US8271851B2 (en) * 2006-11-13 2012-09-18 France Telecom Encoding and decoding a data signal as a function of a correcting code
EP2096763A1 (en) * 2006-12-18 2009-09-02 Mitsubishi Electric Corporation Encoding device, encoding method, encoding/decoding device, and communication device
CN101005334B (zh) * 2007-01-12 2010-12-29 中兴通讯股份有限公司 一种低密度奇偶校验码的混合自动请求重传包生成方法
US20100107033A1 (en) * 2007-01-31 2010-04-29 Kenichi Kuri Radio communication device and puncturing method
KR101214509B1 (ko) * 2007-05-17 2012-12-24 삼성전자주식회사 연판정 값 생성 장치 및 그 방법
KR101405972B1 (ko) * 2007-07-02 2014-06-12 엘지전자 주식회사 방송 수신기 및 방송신호 처리방법
EP2239854B9 (en) 2007-12-06 2015-02-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Shortening and puncturing of low-density parity-check (LDPC) codes for channel decoding
KR101502624B1 (ko) * 2007-12-06 2015-03-17 삼성전자주식회사 저밀도 패리티 검사 부호를 사용하는 통신 시스템에서 채널 부호화/복호화 방법 및 장치
KR20090064709A (ko) * 2007-12-17 2009-06-22 한국전자통신연구원 Ｌｄｐｃ 부호의 패리티 검사 행렬 생성 장치 및 그방법과, 그를 이용한 ｌｄｐｃ 부/복호화 장치
KR101502677B1 (ko) * 2008-02-11 2015-03-16 삼성전자주식회사 저밀도 패리티 검사 부호를 사용하는 통신 시스템에서 채널 부호/복호 방법 및 장치
WO2009104931A2 (en) * 2008-02-21 2009-08-27 Lg Electronics Inc. Apparatus for transmitting and receiving a signal and method of transmitting and receiving a signal
KR101503058B1 (ko) * 2008-02-26 2015-03-18 삼성전자주식회사 저밀도 패리티 검사 부호를 사용하는 통신 시스템에서의 채널 부호화/복호화 방법 및 장치
EP2195990A4 (en) * 2008-02-28 2014-02-19 Lg Electronics Inc METHOD AND SYSTEM FOR SENDING AND RECEIVING SIGNALS
CN104135336B (zh) 2008-03-03 2018-02-13 Rai意大利无线电视股份有限公司 用于ldpc编码的调制和qam星座的位置换模式
JP5312484B2 (ja) 2008-12-26 2013-10-09 パナソニック株式会社 符号化方法、符号化器及び復号器
US8516351B2 (en) * 2009-07-21 2013-08-20 Ramot At Tel Aviv University Ltd. Compact decoding of punctured block codes
US9397699B2 (en) * 2009-07-21 2016-07-19 Ramot At Tel Aviv University Ltd. Compact decoding of punctured codes
US8375278B2 (en) * 2009-07-21 2013-02-12 Ramot At Tel Aviv University Ltd. Compact decoding of punctured block codes
US8516352B2 (en) * 2009-07-21 2013-08-20 Ramot At Tel Aviv University Ltd. Compact decoding of punctured block codes
US9749090B2 (en) 2010-09-16 2017-08-29 Qualcomm Incorporated System and method for transmitting a low density parity check signal
US8644282B2 (en) * 2010-09-16 2014-02-04 Qualcomm Incorporated System and method for transmitting a low density parity check signal
CN103209047A (zh) * 2012-01-13 2013-07-17 上海华虹集成电路有限责任公司 Cmmb比特解交织装置及方法
KR102015121B1 (ko) * 2012-10-17 2019-08-28 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 장치를 제어하도록 구성되는 컨트롤러 및 컨트롤러의 동작 방법
CN111177125B (zh) 2013-03-15 2023-10-31 美国结构数据有限公司 用于分析关注实体特性的设备、系统以及方法
CN104917536B (zh) * 2014-03-11 2019-11-12 中兴通讯股份有限公司 一种支持低码率编码的方法及装置
CN111669253B (zh) * 2015-02-13 2023-11-03 三星电子株式会社 发送器及其附加奇偶校验产生方法
KR102426771B1 (ko) * 2015-02-25 2022-07-29 삼성전자주식회사 송신 장치 및 그의 부가 패리티 생성 방법
US10326474B2 (en) 2015-03-02 2019-06-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Transmitter and parity permutation method thereof
CN111865499B (zh) * 2015-03-02 2023-07-21 三星电子株式会社 接收设备和接收方法
KR101800415B1 (ko) 2015-03-02 2017-11-23 삼성전자주식회사 송신 장치 및 그의 패리티 퍼뮤테이션 방법
KR102325951B1 (ko) * 2015-03-02 2021-11-12 삼성전자주식회사 송신 장치 및 그의 쇼트닝 방법
CN106452678B (zh) * 2016-10-21 2017-07-21 郑州大学西亚斯国际学院 一种基于误比特率分布的Turbo码删余方法
CN107302565A (zh) * 2017-05-26 2017-10-27 苏州思创源博电子科技有限公司 一种计算机数据智能无线传输方法
CN107453843A (zh) * 2017-08-19 2017-12-08 苏州思创源博电子科技有限公司 一种计算机数据传输系统
US12107604B2 (en) * 2020-06-23 2024-10-01 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Network node and method performed therein for handling received signal
CN114745107B (zh) * 2022-03-22 2024-06-14 西安电子科技大学 一种基于矩阵编码的编码层隐秘通信方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020150167A1 (en) 2001-02-17 2002-10-17 Victor Demjanenko Methods and apparatus for configurable or assymetric forward error correction
KR20030036227A (ko) * 2000-06-16 2003-05-09 어웨어, 인크. Ｌｄｐｃ 코드형 변조를 위한 시스템 및 방법
KR20050020526A (ko) * 2003-08-23 2005-03-04 삼성전자주식회사 이동통신시스템에서 비트 인터리빙장치 및 방법
KR20050046471A (ko) * 2003-11-14 2005-05-18 삼성전자주식회사 저밀도 패러티 검사 부호를 병렬 연접하는 채널부호화/복호화 장치 및 방법
KR20050063660A (ko) * 2003-12-22 2005-06-28 한국전자통신연구원 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화와 복호 장치 및 그방법

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7787514B2 (en) * 1998-02-12 2010-08-31 Lot 41 Acquisition Foundation, Llc Carrier interferometry coding with applications to cellular and local area networks
JP2002176364A (ja) 2000-12-07 2002-06-21 Hitachi Kokusai Electric Inc パンクチャド回路及びデパンクチャド回路、ディジタル通信装置
US6981202B2 (en) 2001-01-08 2005-12-27 Nokia Corporation Method and system for allocating convolutional encoded bits into symbols before modulation for wireless communication
US6938196B2 (en) 2001-06-15 2005-08-30 Flarion Technologies, Inc. Node processors for use in parity check decoders

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030036227A (ko) * 2000-06-16 2003-05-09 어웨어, 인크. Ｌｄｐｃ 코드형 변조를 위한 시스템 및 방법
US20020150167A1 (en) 2001-02-17 2002-10-17 Victor Demjanenko Methods and apparatus for configurable or assymetric forward error correction
KR20050020526A (ko) * 2003-08-23 2005-03-04 삼성전자주식회사 이동통신시스템에서 비트 인터리빙장치 및 방법
KR20050046471A (ko) * 2003-11-14 2005-05-18 삼성전자주식회사 저밀도 패러티 검사 부호를 병렬 연접하는 채널부호화/복호화 장치 및 방법
KR20050063660A (ko) * 2003-12-22 2005-06-28 한국전자통신연구원 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화와 복호 장치 및 그방법

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1020030036227

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010082753A2 (en) * 2009-01-13 2010-07-22 Lg Electronics, Inc. Apparatus for transmitting and receiving a signal and method of transmitting and receiving a signal
WO2010082753A3 (en) * 2009-01-13 2010-10-14 Lg Electronics, Inc. Apparatus for transmitting and receiving a signal and method of transmitting and receiving a signal
WO2010082754A2 (en) * 2009-01-14 2010-07-22 Lg Electronics, Inc. Apparatus for transmitting and receiving a signal and method of transmitting and receiving a signal
WO2010082754A3 (en) * 2009-01-14 2010-10-21 Lg Electronics, Inc. Apparatus for transmitting and receiving a signal and method of transmitting and receiving a signal

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Manzoor et al. BER Analysis of WiMAX using Diverse Channel Coding Schemes

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