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KR100477143B1 - 액정표시장치의화소수리방법 - Google Patents

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KR100477143B1
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Abstract

본 발명은 액정 표시 장치의 수리 방법에 관한 것으로서, 이물질로 인하여 서로 이웃하는 게이트선이 쇼트되면 상기 게이트선과 연결되어 있는 분지 및 유지 용량용 전극을 오픈시켜 이물질로부터 게이트선을 분리하여 쇼트된 게이트선들을 분리한다.

Description

액정 표시 장치의 화소 수리 방법
본 발명은 액정 표시 장치의 화소 수리 방법에 관한 것이다.
현대사회가 정보화되어감에 따라 정보 표시 장치로서 경박단소, 저소비전력의 장점을 갖춘 박막 트랜지스터 액정 표시 장치가 부각되고 있다.
일반적으로 박막 트랜지스터 액정 표시 장치를 제조하는 공정에서 공정 수율을 감소시키는 불량의 원인으로 여러 가지를 들 수 있겠지만 데이터 구동 집적회로의 출력 단자로부터 각각의 박막 트랜지스터의 소스 단자로 연결되는 데이터 배선의 단선 결함(open defect)은 수율을 감소시키는 원인이 될 뿐아니라 리페어를 하기 위해서는 많은 비용이 투입된다.
구체적으로 리페어를 하기 위해서는 여러 가지 방법이 있지만, 기판에서 표시 영역이 되는 활성 영역의 바깥쪽에 각각의 데이터 및 게이트 배선과 교차하는 리던던시(redundancy) 배선을 형성하여 각각의 데이터 및 게이트 배선에서 오픈이 발생할 경우에 리던던시 배선을 이용하여 활성 영역의 바깥쪽으로 우회하여 신호를 전달하는 방법이 있다.
일반적으로 앞에서 설명한 리던던시 배선을 리페어링이라고 한다.
그리고 다른 방법으로는 각각의 화소 영역에 데이터선의 이웃하는 부분에 형성된 리페어바를 이용하여 화소 영역의 내부에서 단선 결함이 발생한 부분만을 우회하여 신호를 전달하는 방법이 있다.
또한, 서로 인접한 게이트선이 잔류하는 이물질에 의해 쇼트(short)되는 경우에 레이저를 이용하여 이들을 분리하는 방법도 있다.
그러면, 첨부한 도면을 참고로 하여 종래의 기술에 따른 액정 표시 장치를 수리하는 방법에 대하여 더욱 자세하게 알아보면 다음과 같다.
도 1은 종래의 기술에 따른 액정 표시 장치의 수리 방법을 도시한 평면도이다.
도 1에서 보는 바와 같이, 가로 방향으로 게이트선(3)이 형성되어 있으며, 세로 방향으로 데이터선(5)이 형성되어 있다. 데이터선(5)과 평행하게 형성된 게이트선(3)의 분지(31)를 통하여 게이트선(3)과 연결되어 있는 유지 용량용 전극(32)이 게이트선(3)과 평행하게 형성되어 있다. 그리고 일단은 유지 용량용 전극(32)과 연결되어 있고 타측은 데이터선(5)과 중첩되어 있으며, 데이터선(5)에 인접한 부분에 데이터선(5)과 평행하게 리페어바(34)가 형성되어 있다. 게이트선(3)과 데이터선(5)이 교차하는 부분에는 게이트선(3)의 일부인 게이트 전극(33), 데이터선(5)의 일부인 드레인 전극(51) 및 소스 전극(52)으로 이루어진 박막 트랜지스터(TFT)가 형성되어 있다. 여기서 박막 트랜지스터(TFT)의 소스 전극(52)은 이웃하는 화소 영역(P)에 형성되어 있는 화소 전극(17)과 연결되어 있다. 또한, 박막 트랜지스터(TFT)의 반도체층(130)은 상부로는 데이터선(5)과 유지 용량용 전극(32)이 교차하는 부분에서 하부로는 데이터선(5)과 리페어바(34)가 중첩되는 부분까지, 그리고 소스 전극(52)에 대응하는 부분에 형성되어 있다.
이러한 종래의 액정 표시 장치에서 잔류하는 이물질(A)에 의해 두 게이트선(3)이 쇼트되는 경우에는 서로 인접한 게이트선(3)을 사이를 레이저(laser)를 이용하여 오픈(open)부(a)를 형성하여 두 개의 게이트선(3)을 분리한다.
그러나 이러한 종래의 액정 표시 장치의 수리 방법에서는 작은 모양으로 이물질이 형성되어 수리하는 것은 가능하지만 잔류하는 이물질이 크게 형성되는 경우에는 레이저에 의한 손상이 심하게 발생하여 기생 불량이 유발되어 제품이 거절되는 가능성이 있으며, 이로 인하여 공정 수율이 떨어지게 된다.
본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 잔류하는 이물질에 의한 게이트선의 쇼트를 안전하게 분리하는 수리 방법을 제공하는 데 있다.
이러한 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 수리 방법에서는 이물질이 증착되어 서로 쇼트되어 있는 게이트선들 중에 택일적으로 게이트선을 이물질로 인한 쇼트로부터 레이저를 이용하여 분리한다.
이러한 본 발명에 따른 액정 표시 장치에서 서로 인접한 게이트선들이 이물질로 인하여 쇼트되면, 게이트선, 게이트선의 분지 또는 유지 용량용 전극을 오픈시켜 택일적으로 하나의 게이트선을 분리시킨다.
그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 수리 방법의 실시예를 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 기술을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 수리 방법을 도시한 평면도이다.
도 2는 보는 바와 같이, 도 1의 구조와 동일하게 가로 방향으로 게이트선(3)이 형성되어 있으며, 세로 방향으로 데이터선(5)이 형성되어 있다. 데이터선(5)과 평행하게 형성된 게이트선(3)의 분지(31)를 통하여 게이트선(3)과 연결되어 있는 유지 용량용 전극(32)이 게이트선(3)과 평행하게 형성되어 있다. 그리고 일단은 유지 용량용 전극(32)과 연결되어 있고 타측은 데이터선(5)과 중첩되어 있으며, 데이터선(5)에 인접한 부분에 데이터선(5)과 평행하게 리페어바(34)가 형성되어 있다. 게이트선(3)과 데이터선(5)이 교차하는 부분에는 게이트선(33)의 일부인 게이트 전극(33), 데이터선(5)의 일부인 드레인 전극(51) 및 소스 전극(52)으로 이루어진 박막 트랜지스터(TFT)가 형성되어 있다. 여기서 박막 트랜지스터(TFT)의 소스 전극(52)은 이웃하는 화소 영역(P)에 형성되어 있는 화소 전극(17)과 연결되어 있다. 또한, 박막 트랜지스터(TFT)의 반도체층(130)은 상부로는 데이터선(5)과 유지 용량용 전극(32)이 교차하는 부분에서 하부로는 데이터선(5)과 리페어바(34)가 중첩되는 부부까지, 그리고 소스 전극(52)에 대응하는 부분에 형성되어 있다.
본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 화소를 수리하는 방법을 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 2에서와 같이 종래와 동일하게 이물질(A)로 인하여 서로 인접한 게이트선(3)들이 쇼트되면, 레이저를 이용하여 데이터선(5)과 평행하게 형성되어 있는 게이트선(3)의 분지(31)와 게이트선(3)과 평행하게 형성되어 있으며 유지 용량용 전극(32)을 세 부분의 오픈부(a, b, c)를 형성하여 하나의 게이트선(3)을 이물질(A)로부터 오픈시킨다.
택일적으로 하나의 게이트선(3)을 이물질(A)로 인한 쇼트로부터 분리하면, 두 개의 게이트선(3)은 오픈된 상태가 된다.
따라서 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 수리 방법에서는 레이저로 인한 손상을 최소화하여 기생적으로 발생하는 불량을 제거할 수 있다.
도 1은 종래의 기술에 따른 액정 표시 장치의 수리 방법을 도시한 평면도이고,
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 수리 방법을 도시한 평면도이고,

Claims (1)

  1. 다수의 게이트선과 데이터선이 교차하면서 정의되는 다수의 화소 영역에 상기 게이트선과 데이터선이 교차하는 부분에 상기 게이트선의 일부인 게이트 전극과 상기 데이터선의 일부인 드레인 전극 및 소스 전극으로 이루어진 박막 트랜지스터와 분지를 통하여 상기 게이트선과 연결되어 있으며 상기 화소 영역에 둘레에 형성되어 있는 유지 용량용 전극과 중첩되어 있는 화소 전극을 포함하는 액정 표시 장치에서 이물질로 인하여 서로 인접한 상기 게이트선들이 쇼트되는 불량을 수리하는 방법에 있어서,
    상기 이물질과 쇼트되어 있는 상기 분지와 상기 유지 용량용 전극을 상기 게이트선으로부터 오픈시켜 택일적으로 상기 이물질로부터 상기 게이트선들을 분리하는 서로 인접한 상기 게이트선을 분리하는 단계를 포함하며,
    상기 분지는 한군데를 상기 유기 용량용 전극은 두군데를 오픈시키는 액정 표시 장치의 수리 방법.
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