Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

KR100351422B1 - Device for testing transceiver unit using pll-jig in mobile communication base transceiver station system - Google Patents

Device for testing transceiver unit using pll-jig in mobile communication base transceiver station system Download PDF

Info

Publication number
KR100351422B1
KR100351422B1 KR1020000070016A KR20000070016A KR100351422B1 KR 100351422 B1 KR100351422 B1 KR 100351422B1 KR 1020000070016 A KR1020000070016 A KR 1020000070016A KR 20000070016 A KR20000070016 A KR 20000070016A KR 100351422 B1 KR100351422 B1 KR 100351422B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pll
test
unit
transceiver unit
transceiver
Prior art date
Application number
KR1020000070016A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20020040098A (en
Inventor
박양규
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020000070016A priority Critical patent/KR100351422B1/en
Publication of KR20020040098A publication Critical patent/KR20020040098A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100351422B1 publication Critical patent/KR100351422B1/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/40Monitoring; Testing of relay systems
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L41/00Arrangements for maintenance, administration or management of data switching networks, e.g. of packet switching networks
    • H04L41/24Arrangements for maintenance, administration or management of data switching networks, e.g. of packet switching networks using dedicated network management hardware
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L43/00Arrangements for monitoring or testing data switching networks
    • H04L43/50Testing arrangements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04WWIRELESS COMMUNICATION NETWORKS
    • H04W24/00Supervisory, monitoring or testing arrangements
    • H04W24/06Testing, supervising or monitoring using simulated traffic

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Transceivers (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)

Abstract

본 발명은 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치, 더욱 상세하게는 PLL-지그를 이용하여 트렌시버 유니트내 PLL을 직접 구동시켜 테스트하는 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치에 관한 것으로서, 본 발명에 의한 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치에 의하면, 트렌시버 유니트내 PLL 테스트시 장비의 휴대가 간편하고, 유지보수비를 절감시켜 준다는 뛰어난 효과가 있다.The present invention relates to a transceiver unit test apparatus using a PLL jig in a mobile communication base station system, and more particularly, a PLL jig in a mobile communication base station system in which a PLL in a transceiver unit is directly driven and tested using a PLL jig. The present invention relates to a transceiver unit test apparatus using a transceiver. According to the transceiver unit test apparatus using a PLL-jig in a mobile communication base station system according to the present invention, it is easy to carry equipment during the PLL test in the transceiver unit, and maintenance cost It is an excellent effect to reduce the cost.

Description

이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트 장치{DEVICE FOR TESTING TRANSCEIVER UNIT USING PLL-JIG IN MOBILE COMMUNICATION BASE TRANSCEIVER STATION SYSTEM}DEVICE FOR TESTING TRANSCEIVER UNIT USING PLL-JIG IN MOBILE COMMUNICATION BASE TRANSCEIVER STATION SYSTEM}

본 발명은 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL(Phase Lock Loop; 이하 "PLL"이라 칭함.)-지그(JIG)를 이용한 트렌시버 유니트 테스트(Transceiver Unit Test)장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 PLL-지그를 이용하여 트렌시버 유니트내 PLL을 직접 구동시켜 테스트하는 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transceiver unit test (PLL) apparatus using a JLL (Phase Lock Loop) in a mobile communication base station system. The present invention relates to a transceiver unit test apparatus using a PLL-jig in a mobile communication base station system in which a PLL in a transceiver unit is directly driven and tested using a jig.

참고로, 상기 트렌시버 유니트 장치는 기지국 시스템내에 장착되어 있어, 이동국 및 제어국에서 출력한 RF(Reference Frequency; 이하 "RF"라 칭함.)신호를 보상하여 입/출력하는 역할을 하는 장치이다.For reference, the transceiver unit device is installed in the base station system and compensates for the RF (Reference Frequency) signal output from the mobile station and the control station.

한편, 종래의 이동통신 기지국 시스템에서 트렌시버 유니트 테스트장치는 도 1에 도시한 바와 같이, 고가의 RF 컨트롤 유니트 또는 노트북(1)으로 구성되어 있었다. 종래의 고가의 RF 컨트롤 유니트 또는 노트북(1)은 PLL 제조업체에서 제공하는 테스트 프로그램(Test program)이 로딩(Loading)되어 있었다. 따라서, 운용자는 상기 RF 컨트롤 유니트 또는 노트북(1)을 이용하여 트렌시버 유니트내 PLL(10)을 테스트하였다.On the other hand, in the conventional mobile communication base station system, the transceiver unit test apparatus is composed of an expensive RF control unit or notebook (1), as shown in FIG. The conventional expensive RF control unit or notebook 1 has been loaded with a test program provided by a PLL manufacturer. Thus, the operator tested the PLL 10 in the transceiver unit using the RF control unit or notebook 1.

그러나, 상술한 종래 이동통신 기지국 시스템에서의 고가의 RF 컨트롤 유니트 또는 노트북을 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치는 운용자가 기지국의 트렌시버 유니트내 PLL을 테스트할 경우 일일이 고가의 RF 컨트롤 유니트 또는 노트북을 휴대하고 다녀야만 하는 번거러움이 따를 뿐만 아니라, 고가의 테스트 장비로 인한유지보수비가 많이 소요되는 문제점이 있었다.However, the above-mentioned transceiver unit test apparatus using an expensive RF control unit or a notebook in the conventional mobile communication base station system carries an expensive RF control unit or a notebook when the operator tests the PLL in the transceiver unit of the base station. In addition to the hassle of having to carry, there was a problem that a lot of maintenance costs due to expensive test equipment.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것으로서, 본 발명의 목적은 트렌시버 유니트내 PLL 테스트시 장비의 휴대가 간편하고, 유지보수비를 절감시켜 주는 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치를 제공하는 데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to carry a PLL in a transceiver unit in a PLL test, and to easily carry equipment and reduce maintenance costs. -To provide a transceiver unit test apparatus using a jig.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치는, 구동전원을 공급하는 전원부;In order to achieve the above object, a transceiver unit test apparatus using a PLL-jig in a mobile communication base station system includes: a power supply unit supplying driving power;

운용자가 구동모드를 선택함에 따라 구동 선택신호를 출력하는 키입력부;A key input unit for outputting a drive selection signal as the operator selects a drive mode;

상기 키입력부로부터 구동 선택신호를 입력받음과 동시에 구동클럭을 발생시키는 클럭 발생부;A clock generator for generating a driving clock at the same time as receiving a driving selection signal from the key input unit;

상기 트렌시버 유니트내 PLL 테스트용 구동 프로그램 및 테스트용 출력 주파수를 저장하는 메모리;A memory for storing a drive program for a PLL test and an output frequency for a test in said transceiver unit;

상기 키 입력부로부터 구동 선택신호를 입력받음과 동시에 상기 메모리에 저장된 테스트용 구동 프로그램 및 테스트용 출력 주파수를 리드하고, 상기 클럭 발생부에서 출력한 구동클럭을 인에이블 신호와 함께 출력포트를 통해 상기 트렌시버 유니트내 PLL에 병렬로 출력하는 한편, 상기 트렌시버 유니트내 PLL로부터 테스트 검증신호를 수신받은 후 그 결과값에 따라 테스트 디스플레이 제어신호를 출력하는 제어부; 및At the same time as receiving a drive selection signal from the key input unit, a test drive program and a test output frequency stored in the memory are read, and the drive clock output from the clock generator together with the enable signal is output through the output port. A control unit for outputting in parallel to a PLL in a transceiver unit and receiving a test verification signal from the PLL in the transceiver unit and outputting a test display control signal according to a result value; And

상기 제어부로부터 테스트 디스플레이 제어신호를 입력받은 후 그 트렌시버 PLL의 정상 및 비정상 상태를 운용자에게 디스플레이시키는 디스플레이부로 구성된 것을 특징으로 한다.And a display unit configured to display normal and abnormal states of the transceiver PLL to an operator after receiving a test display control signal from the controller.

도 1은 종래 이동통신 기지국 시스템에서의 고가의 RF 컨트롤 유니트 또는 노트북을 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치의 구성을 나타낸 기능블록도,1 is a functional block diagram showing the configuration of a transceiver unit test apparatus using an expensive RF control unit or a notebook in a conventional mobile communication base station system,

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치의 구성을 나타낸 기능블록도이다.2 is a functional block diagram showing the configuration of a transceiver unit test apparatus using a PLL-jig in a mobile communication base station system according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100 : 전원부 200 : 키입력부100: power supply unit 200: key input unit

300 : 클럭 발생부 400 : 메모리300: clock generator 400: memory

500 : 제어부 600 : 디스플레이부500 control unit 600 display unit

이하, 본 발명의 일 실시예에 의한 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a transceiver unit test apparatus using a PLL-jig in a mobile communication base station system according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치의 기능블록도로서, 본 발명의 일 실시예에 의한 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치는 전원부(100), 키입력부(200), 클럭 발생부(300), 메모리(400), 제어부(500), 및 디스플레이부(600)로 구성되어 있다.2 is a functional block diagram of a transceiver unit test apparatus using a PLL-jig in a mobile communication base station system according to an embodiment of the present invention, and the PLL-jig in a mobile communication base station system according to an embodiment of the present invention. Transceiver unit test apparatus using the power unit 100, the key input unit 200, the clock generator 300, the memory 400, the control unit 500, and the display unit 600 is composed of.

먼저, 상기 전원부(100)는 PLL-지그내 상기 클럭 발생부(300), 상기 메모리(400), 및 상기 제어부(500)로 전원을 공급하는 역할을 한다.First, the power supply unit 100 supplies power to the clock generator 300, the memory 400, and the control unit 500 in a PLL-jig.

또한, 상기 키입력부(200)는 운용자가 구동모드를 선택하면, 구동 선택신호를 상기 클럭 발생부(300), 및 상기 제어부(500)로 출력하는 역할을 한다.In addition, when the operator selects a driving mode, the key input unit 200 outputs a driving selection signal to the clock generator 300 and the controller 500.

한편, 상기 클럭 발생부(300)는 상기 키입력부(200)로부터 구동신호를 입력받은 후 구동클럭을 상기 제어부(500)로 출력하는 역할을 한다.The clock generator 300 outputs a driving clock to the controller 500 after receiving the driving signal from the key input unit 200.

또한, 상기 메모리(400)는 트렌시버 유니트내 PLL 테스트용 구동 프로그램및 테스트용 출력 주파수를 이진 코드로 저장하는 메모리이다. 이때, 상기 메모리(400)의 소자는 EEPROM (Electrically Erasable Programmable ROM; 이하 "EEPROM"이라 칭함.)이다. 즉, 전기적으로 지우고 프로그램 할 수 있는 읽기 전용 기억소자로 구동 프로그램과 출력 주파수값을 트렌시버 유니트내 PLL 제조 업체에 맞는 이진 코드로 변환한 뒤 롬 라이터를 이용해 저장한다.In addition, the memory 400 is a memory for storing a PLL test drive program and a test output frequency in a transceiver unit as binary codes. At this time, the device of the memory 400 is EEPROM (Electrically Erasable Programmable ROM; hereinafter referred to as "EEPROM"). In other words, it is an electrically erasable, programmable read-only memory device that converts the drive program and output frequency values into binary code suitable for the PLL manufacturer in the transceiver unit and stores them using a ROM writer.

그리고, 상기 제어부(500)는 상기 키입력부(200)로부터 구동 선택신호를 수신받은 후, 상기 메모리에 저장된 테스트용 구동 프로그램 및 테스트용 출력 주파수를 리드하여 테스트 구동모드로 전환되고, 이후 상기 클럭 발생부(300)로부터 구동 클럭을 데이터 동기에 맞게 출력 포드를 통해 상기 트렌시버 유니트내 PLL(10)로 전송함과 동시에 테스트용 출력 주파수를 인에이블 신호와 함께 병렬로 출력하는 한편, 상기 트렌시버 유니트내 PLL(10)로부터 테스트 검증신호를 수신받은 후 그 결과값에 따라 테스트 디스플레이 제어신호를 상기 디스플레이부(600)로 출력하는 역할을 한다.The controller 500 receives a drive selection signal from the key input unit 200, reads a test drive program and a test output frequency stored in the memory, and switches to a test drive mode, and then generates the clock. Transmitting the driving clock from the unit 300 to the PLL 10 in the transceiver unit through an output pod in accordance with data synchronization, and simultaneously outputting a test output frequency in parallel with the enable signal. After receiving the test verification signal from the PLL 10 serves to output a test display control signal to the display unit 600 according to the result value.

한편, 상기 디스플레이부(600)는 상기 제어부(500)로부터 테스트 디스플레이 제어신호를 입력받은 후, 상기 트렌시버 유니트내 PLL(10)의 정상 및 비정상 상태를 운용자에게 디스플레이시키는 역할을 한다.On the other hand, the display unit 600 receives a test display control signal from the control unit 500, and serves to display the normal and abnormal state of the PLL (10) in the transceiver unit to the operator.

그러면, 상기와 같은 구성을 가지는 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치의 동작과정에 대해 도 2를 참조하여 설명하기로 한다.Next, an operation process of the transceiver unit test apparatus using the PLL-jig in the mobile communication base station system having the above configuration will be described with reference to FIG. 2.

먼저, 상기 전원부(100)는 PLL-지그내 상기 클럭 발생부(300), 상기 메모리(400), 및 상기 제어부(500)로 전원을 공급한다.First, the power supply unit 100 supplies power to the clock generator 300, the memory 400, and the control unit 500 in a PLL-jig.

한편, 상기 키입력부(200)는 운용자가 구동모드를 선택하면, 구동 선택신호를 상기 클럭 발생부(300), 및 상기 제어부(500)로 출력한다.Meanwhile, when the operator selects a driving mode, the key input unit 200 outputs a driving selection signal to the clock generator 300 and the controller 500.

그러면, 상기 클럭 발생부(300)는 상기 키입력부(200)로부터 구동 선택신호를 입력받음과 동시에 구동클럭을 상기 제어부(500)로 출력한다.Then, the clock generator 300 receives a driving selection signal from the key input unit 200 and outputs a driving clock to the controller 500.

이어서, 상기 제어부(500)는 상기 키입력부(200)로부터 구동 선택신호를 수신받은 후, 상기 메모리에 저장된 테스트용 구동 프로그램 및 테스트 출력 주파수를 리드하여 테스트 구동모드로 전환된다.Subsequently, after receiving the driving selection signal from the key input unit 200, the controller 500 reads a test driving program and a test output frequency stored in the memory, and switches to the test driving mode.

그런후, 상기 제어부(500)는 상기 클럭 발생부(300)에서 출력한 구동 클럭을 데이터 동기에 맞춰 상기 트렌시버 유니트내 PLL(10)로 출력한다.Thereafter, the controller 500 outputs the driving clock output from the clock generator 300 to the PLL 10 in the transceiver unit in accordance with data synchronization.

이어서, 상기 제어부(500)는 메모리(400)에 저장된 트렌시버 유니트내 PLL 테스트용 구동 프로그램 및 테스트용 출력 주파수와 인에이블 신호를 함께 병렬로 트렌시버 유니트내 PLL(10)에 출력한다.Subsequently, the control unit 500 outputs the PLL test drive program in the transceiver unit and the test output frequency and the enable signal stored in the memory 400 in parallel to the PLL 10 in the transceiver unit.

그런후, 상기 제어부(500)는 상기 트렌시버 유니트내 PLL(10)로부터 테스트 상태 검증신호를 입력받은 후 테스트 디스플레이 제어신호로 변환하여 상기 디스플레이부(600)로 출력한다.Thereafter, the controller 500 receives a test state verification signal from the PLL 10 in the transceiver unit, converts it into a test display control signal, and outputs the test state control signal to the display unit 600.

그러면, 상기 디스플레이부(600)는 상기 제어부(500)로부터 상태 검증신호를 입력받은 후 그에 상응하도록 상기 트렌시버 유니트내 PLL(10)의 정상 및 비정상 상태를 운용자에게 디스플레이시킨다.Then, the display unit 600 receives the state verification signal from the control unit 500 and displays the normal and abnormal states of the PLL 10 in the transceiver unit to correspond to the state verification signal.

상술한 바와 같이 본 발명에 의한 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치에 의하면, 종래 이동통신 기지국 시스템에서의 고가의 RF 컨트롤 유니트 또는 노트북을 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치에 비해 장비의 휴대가 간편하고, RF 컨트롤 유니트 또는 노트북 없이 트렌시버 유니트를 테스트 할 수 있어, 유지보수비를 절감할 수 있는 뛰어난 효과가 있다.As described above, according to the transceiver unit test apparatus using the PLL-jig in the mobile communication base station system according to the present invention, compared to the transceiver unit test apparatus using the expensive RF control unit or notebook in the conventional mobile communication base station system The equipment is easy to carry and the transceiver unit can be tested without an RF control unit or notebook, resulting in outstanding maintenance costs.

Claims (1)

이동통신 기지국 시스템의 트렌시버 유니트내 PLL를 점검해 주는 트렌시버 유니트 테스트장치에 있어서,A transceiver unit test apparatus for inspecting a PLL in a transceiver unit of a mobile communication base station system, 구동전원을 공급하는 전원부;A power supply unit supplying driving power; 운용자가 구동모드를 선택함에 따라 구동 선택신호를 출력하는 키입력부;A key input unit for outputting a drive selection signal as the operator selects a drive mode; 상기 키입력부로부터 구동 선택신호를 입력받음과 동시에 구동클럭을 발생시키는 클럭 발생부;A clock generator for generating a driving clock at the same time as receiving a driving selection signal from the key input unit; 상기 트렌시버 유니트내 PLL 테스트용 구동 프로그램 및 테스트용 출력 주파수를 저장하는 메모리;A memory for storing a drive program for a PLL test and an output frequency for a test in said transceiver unit; 상기 키 입력부로부터 구동 선택신호를 입력받음과 동시에 상기 메모리에 저장된 테스트용 구동 프로그램 및 테스트용 출력 주파수를 리드하고, 상기 클럭 발생부에서 출력한 구동클럭을 인에이블 신호와 함께 출력포트를 통해 상기 트렌시버 유니트내 PLL에 병렬로 출력하는 한편, 상기 트렌시버 유니트내 PLL로부터 테스트 검증신호를 수신받은 후 그 결과값에 따라 테스트 디스플레이 제어신호를 출력하는 제어부; 및At the same time as receiving a drive selection signal from the key input unit, a test drive program and a test output frequency stored in the memory are read, and the drive clock output from the clock generator together with the enable signal is output through the output port. A control unit for outputting in parallel to a PLL in a transceiver unit and receiving a test verification signal from the PLL in the transceiver unit and outputting a test display control signal according to a result value; And 상기 제어부로부터 테스트 디스플레이 제어신호를 입력받은 후 그 상기 트렌시버 PLL의 정상 및 비정상 상태를 운용자에게 디스플레이시키는 디스플레이부로 구성된 것을 특징으로 하는 이동통신 기지국 시스템에서의 PLL-지그를 이용한 트렌시버 유니트 테스트장치.And a display unit configured to display a normal and abnormal state of the transceiver PLL to an operator after receiving a test display control signal from the control unit.
KR1020000070016A 2000-11-23 2000-11-23 Device for testing transceiver unit using pll-jig in mobile communication base transceiver station system KR100351422B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020000070016A KR100351422B1 (en) 2000-11-23 2000-11-23 Device for testing transceiver unit using pll-jig in mobile communication base transceiver station system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020000070016A KR100351422B1 (en) 2000-11-23 2000-11-23 Device for testing transceiver unit using pll-jig in mobile communication base transceiver station system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20020040098A KR20020040098A (en) 2002-05-30
KR100351422B1 true KR100351422B1 (en) 2002-09-05

Family

ID=19700927

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020000070016A KR100351422B1 (en) 2000-11-23 2000-11-23 Device for testing transceiver unit using pll-jig in mobile communication base transceiver station system

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100351422B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100687723B1 (en) * 2004-12-17 2007-02-27 한국전자통신연구원 Apparatus for testing the performance of optical transceiver

Also Published As

Publication number Publication date
KR20020040098A (en) 2002-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2005012274A (en) Testing device
KR20000011182A (en) Bist circuit for lsi memory
KR100351422B1 (en) Device for testing transceiver unit using pll-jig in mobile communication base transceiver station system
CN115469208A (en) Chip scanning test circuit and chip
US6182254B1 (en) Rambus ASIC having high speed testing function and testing method thereof
US5757277A (en) Wireless selective call receiver and method and system for writing desired data in the same
US20020161963A1 (en) Single-chip microcomputer with dynamic burn-in test function and dynamic burn-in testing method therefor
US7693223B2 (en) Testing methods of a semiconductor integrated incorporating a high-frequency receiving circuit and a demodulation circuit
CN112015119B (en) Debug control circuit and debug control method
JP2009236878A (en) Scan control method and device
KR20010070275A (en) Semiconductor integrated circuit having self-diagnosis test function and test method thereof
EP0467448B1 (en) Processing device and method of programming such a processing device
US11041904B2 (en) Zero-pin test solution for integrated circuits
WO1999066338A1 (en) Using power-on mode to control test mode
US6675332B1 (en) LSI communication device with automatic test capability
JP2005140770A (en) Semiconductor testing circuit
KR100713469B1 (en) Device and method for software inspecting of wireless terminal
KR100651869B1 (en) Apparatus for downloading data of video device
JP2002005998A (en) Testing method and testing circuit for integrated circuit
KR19990015230A (en) Reverse Path Test Method and Device in Digital Cellular System
KR20010066278A (en) apparatus for downloading program, which is used for handy set
KR100319480B1 (en) Radio communication method between meter and hand terminal in the hand terminal
KR101067640B1 (en) A performance test divice of display driving ystem
KR200153410Y1 (en) Test message output apparatus.
KR20000033309A (en) Microprocessor and method for setting stop mode thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20060817

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee