JPWO2005008645A1 - 光学的情報記録再生装置および記録光強度学習方法 - Google Patents

Abstract

記録パワーが過大にならず波形歪みを低減した最適記録条件を決定できる記録パワー学習を行う光学的情報記録再生装置を提供する。記録パワー可変回路（１２）が、記録パターン発生回路（５）から出力されるパワー学習用記録パターンの前端部および後端部での記録パワーＰｏと中間部での記録パワーＰｍとの比を一定にし、記録パワーＰｏ、Ｐｍを可変設定して、記録パワー学習用データが記録される。記録パワー学習用データの再生時に、許容パワー範囲決定回路（１１）が、再生信号から検出された変調度と許容上限変調度からパワー算出回路（８）により算出された記録パワーを上限値、再生信号から検出された波形歪み量と許容波形歪み量から許容波形歪みパワー算出回路（１０）により算出された記録パワーを下限値として、記録パワーの許容範囲を決定する。

Description

本発明は、光学的記録媒体に対して情報を記録／再生する光学的情報記録再生装置および情報を記録する際の記録光強度を学習する方法に関する。

以下、従来の光学的情報記録再生装置および記録光強度学習方法について、図１５から図２１を参照して説明する。
図１５は、従来の光学的情報記録再生装置の構成例を示すブロック図である（例えば、特表平７−８３３２６１号公報参照）。図１５において、光学的情報記録再生装置は、光学的記録媒体である光ディスク１と、光ディスク１に光ビームを照射するレーザダイオードを搭載しているピックアップ２と、ピックアップ２内のレーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路３と、レーザ駆動回路３に対し所望のレーザ出力を指令するレーザ出力制御回路４と、光ディスク１上に記録されている初期記録パワーを読み出す初期パワー読み込み回路６と、読み出された初期記録パワーをもとに記録パワーを可変する記録パワー可変回路２０と、光ディスク１上に記録された記録パターンから再生信号の対称性を示すアシンメトリ値を検出するアシンメトリ検出回路１８と、検出されたアシンメトリ値から所望のアシンメトリ値を実現する記録パワーを決定する目標アシンメトリ記録パワー決定回路１９と、光ディスク１に記録する記録パターンを発生する記録パターン発生回路５とから構成されている。
光ディスク１上には、図１６に示すように、情報を記録するデータ領域２１以外に、光ディスク１の内周部に、情報の記録に先立って必要に応じて記録パワーを学習する記録パワー学習領域（ＰＣＡ：Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ）２２が設けられている。
光学的情報記録再生装置が記録パワー学習を行う場合、まず光ディスク１上に記録されている推奨記録パワーおよび目標アシンメトリ値を初期パワー読み込み回路６により読み込む。この推奨記録パワーは一定条件のもとで記録する場合には最適な記録状態が実現できる記録パワーである。目標アシンメトリ値は、最適記録状態時のアシンメトリ値であり、アシンメトリ値と記録状態に一定の相関があることから、記録パワー学習時の指標として用いられる。
実際に情報を記録する場合には、記録時の温度状態による記録媒体の光感度変化や、ピックアップ２の埃等によるレーザ伝送効率の低下、焦点位置ずれ等の位置決め誤差、チルトずれなどの機械的誤差等により、最適記録パワーがずれるため、記録パワー学習領域２２で記録時の状態に応じた最適記録パワーを学習する必要がある。
次に、ピックアップ２を光ディスク１の内周部に設けられた記録パワー学習領域２２に移動させ、記録パターン発生回路５から記録パワー学習用パターンを発生させるとともに、初期パワー読み込み回路６により読み込まれた推奨記録パワーを基に、図１７に示すように、記録パワー可変回路２０により初期記録パワーＰｗ１から記録パワー増分ΔＰｗで５段階に記録パワーを可変させ、記録パワー学習領域２２内の一部の範囲である記録パワー学習セクターを用いて記録パワー学習用パターンを記録する。
アシンメトリ検出時には、ピックアップ２からは各記録パワーに応じた再生波形が再生され、アシンメトリ検出回路１８により各記録パワーでのアシンメトリ値が検出される。
図１８に、適正な記録パワーで情報が記録された場合の再生波形を示す。記録パワー学習用パターンは、情報を記録する場合と同じ記録パターンで記録されているため、記録単位時間Ｔ基準で３Ｔ〜１１Ｔまでの記録マーク（以後、単にマークと略称する）と未記録スペース（以後、単にスペースと略称する）からなる。
アシンメトリ検出回路１８は、再生信号の振幅値Ａのうち、最長スペース、最短スペース、最長マーク、最短マークに対するそれぞれの再生信号の振幅値ＡＨ１、ＡＨ２、ＡＬ１、ＡＬ２から、以下の式（１）を用いてアシンメトリ値Ａｓを算出する。
Ａｓ＝（（（ＡＨ２＋ＡＬ２）／２）−（（ＡＨ１＋ＡＬ１）／２））
／（ＡＨ１−ＡＬ１） …（１）
アシンメトリ検出回路１８は、記録パワーと検出したアシンメトリ値とに基づいて、図１９に示す各記録パワーとアシンメトリ値との関係を求める。
目標アシンメトリ記録パワー決定回路１９は、記録パワーとアシンメトリ値の関係から、目標アシンメトリ値Ａｓ＿ｔを実現する記録パワーＰｗ＿ｔを決定する。
情報をデータ領域２１に記録する場合は、記録パワー学習を行って決定された記録パワーになるようレーザ出力制御回路４が動作し、情報記録時の状態での最適記録パワーで情報が記録される。
また、近年、高記録密度で高速記録に対応した記録型ＤＶＤ媒体も普及し、図２０に示すような記録パターン波形が複数のパルスで構成されたマルチパルス方式から、図２１に示すような記録パターン波形が１つのパルスで構成される非マルチパルス方式へと移行してきている。
たとえば、記録型ＤＶＤメディアの高速記録の規格書である「ＤＶＤ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ Ｄｉｓｃ ｆｏｒ Ｇｅｎｅｒａｌ Ｐａｒｔ１ Ｏｐｔｉｏｎａｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ４ｘ−ＳＰＥＥＤ ＤＶＤ−Ｒ」に記録パターン波形が記載されている。
図２０は、記録速度の低い場合に使用されるマルチパルス方式で高速記録を行った場合における、記録データ波形、記録パターン波形（以下、記録波形と略称する）、その時のレーザ発光波形、記録されたマーク形状、および再生波形を示す図である。図２０から分かるように、レーザ発光に十分な周波数帯域がなくてレーザ光が鈍り、十分な記録発光レベルに達していないため、記録しようとするマークが十分に記録できず、その再生波形も鈍っている。
図２１は、非マルチパルスを用いて高速記録を行った場合における、記録データ波形、記録波形、その時のレーザ発光波形、記録されたマーク形状、および再生波形を示す図である。図２１から分かるように、レーザ発光に十分な周波数帯域がなくとも記録波形の前端部のパルスを充分長くとることができるため、レーザ発光波形も所定の発光値まで達することができ、また記録波形の後端部に対応するレーザ発光波形も、記録波形の中間部に対応する発光レベルからの立ち上がりでよいため、所定の発光値まで達し、記録されるマークもほぼ所定のマーク形状が形成できる。
このときの記録波形の前端部および後端部に対応する記録パワー発光値Ｐｏと中間部に対応する記録パワー発光値Ｐｍの比率は、ディスク製造メーカの推奨値としてディスク上に記録されているため、記録装置は、初期パワー読み込み回路６によりその推奨値を取り込み、記録パワー比率ε（ε＝Ｐｏ／Ｐｍ）で記録波形を形成することができる。
かかる光学的情報記録再生装置においては、ディスク製造メーカの評価装置で使用されている基準装置と実際の記録装置では、ビームスポットの形状やレーザ発光波形の周波数特性などピックアップの特性や、チルト等の機械的なずれや、デフォーカス等の制御ずれなどに起因して、実際の記録波形がずれたり、記録パワーが減少するなどの理由から、ディスク製造メーカの推奨値がそのまま最適記録条件にはならず、各記録装置ごとに最適条件を求める必要がある。
特に、非マルチパルス方式による記録では、記録波形の前端部および後端部に対応する記録パワー発光値Ｐｏと中間部に対応する記録パワー発光値Ｐｍの比率が適切な比率でないと、長マークの中間部が正常に記録できず、再生波形の中間部が歪み、最悪の場合、マーク長の誤検出が発生して、その結果再生データにエラーが生じる、という問題がある。
また、光学的記録媒体は一般的に、最適記録パワーよりも高い記録パワーで記録を行った場合、記録トラック溝を劣化させ、記録トラックと光ビームとの相対位置情報であるトラッキング誤差信号の振幅が減少し、最悪の場合、トラッキング制御が不能になるという場合も発生する。また、トラック溝を劣化させると、たとえばトラック溝に形成された位置情報であるウォブル信号やアドレス情報であるランドプリピットが正常に再生できなくなるため、記録パワーの上限を検出し、その上限記録パワーで記録しないようにする必要がある。

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、トラッキング制御やトラック溝による情報検出が悪化するような高い記録パワーにすることなく、また波形歪みを低減した最適記録条件を決定することができる記録パワー学習を行う光学的情報記録再生装置および記録光強度学習方法を提供することにある。
前記の目的を達成するため、本発明に係る光学的情報記録再生装置の第１の態様は、情報を複数の長さのマークにより記憶する光学的記録媒体（光ディスク）と、光学的記録媒体に光ビームを照射することによりマークを形成する光照射手段（ピックアップ）と、光照射手段に対し所望の光強度で発光させる光駆動手段（レーザ駆動回路、レーザ出力制御回路）と、記録するマーク長に応じて記録波形を制御する記録波形制御手段（記録パターン発生回路）と、光学的記録媒体内の光強度学習領域に所望の光強度でテスト記録を行うよう光駆動手段に指令を出す記録出力可変手段（記録パワー可変回路）と、テスト記録されたマークに対する再生信号の振幅から変調度を検出する変調度検出手段（変調度検出回路）と、テスト記録されたマークに対する再生信号の波形歪みを検出する波形歪み検出手段（波形歪み検出回路）と、光強度学習領域（記録パワー学習領域：ＰＣＡ）に複数の光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各変調度（ｍ）と許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、光学的記録媒体への許容上限変調度に対応した記録光強度（Ｐｏ＿ｍｓ）を算出する第１の光強度算出手段（許容変調度パワー算出回路）と、光強度学習領域に複数の光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各波形歪み量（ζ）と許容波形歪み量（ζｓ）とに基づいて、光学的記録媒体への許容波形歪み量に対応した記録光強度（Ｐｏ＿ζｓ）を算出する第２の光強度算出手段（許容波形歪みパワー算出回路）と、許容上限変調度に対応した記録光強度と許容波形歪み量に対応した記録光強度とに基づいて、光学的記録媒体に情報を記録する際の光強度範囲（Ｐｏ＿ζｓ〜Ｐｏ＿ｍｓ）を決定する許容光強度範囲決定手段（許容パワー範囲決定回路）と、光強度範囲決定手段により決定された光強度範囲内で最適な記録光強度を決定する最適光強度決定手段（最適記録パワー決定回路）とを含む。
前記の目的を達成するため、本発明に係る光学的情報記録再生装置の第２の態様は、情報を複数の長さのマークにより記憶する光学的記録媒体（光ディスク）と、光学的記録媒体に光ビームを照射することによりマークを形成する光照射手段（ピックアップ）と、光照射手段に対し所望の光強度で発光させる光駆動手段（レーザ駆動回路、レーザ出力制御回路）と、記録するマーク長が第１のマーク長（例えば、５Ｔ）より短いマークの場合は光強度の強い第１の記録光強度（Ｐｏ）を有する記録波形を出力し、記録するマーク長が第１のマーク長以上のマークの場合は、記録波形の前端部および後端部については第１の記録光強度を有し、記録波形の中間部については第１の記録光強度以下の第２の記録光強度（Ｐｍ）を有する記録波形を出力する記録波形制御手段（記録パターン発生回路）と、第１の記録光強度を一定に維持し第２の記録光強度を可変設定して、光学的記録媒体内の光強度学習領域（記録パワー学習領域：ＰＣＡ）においてテスト記録を行うよう光駆動手段に指令を出す記録出力可変手段（中間部記録パワー可変回路）と、テスト記録されたマークに対する再生信号の振幅から変調度を検出する変調度検出手段（変調度検出回路）と、テスト記録されたマークに対する再生信号の波形歪みを検出する波形歪み検出手段（波形歪み検出回路）と、光強度学習領域に複数の第２の記録光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各変調度（ｍ）と許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、光学的記録媒体への許容上限変調度に対応した記録光強度（Ｐｍ＿ｍｓ）を算出する第１の光強度算出手段（許容変調度パワー算出回路）と、光強度学習領域に複数の第２の記録光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各波形歪み量（ζ）と目標波形歪み量（ζｔ）とに基づいて、光学的記録媒体に対する目標波形歪み量に対応した記録光強度（Ｐｍ＿ζｔ）を算出する第２の光強度算出手段と、許容上限変調度に対応した記録光強度と目標波形歪み量に対応した記録光強度とに基づいて、光学的記録媒体に情報を記録する際の記録波形の各部における記録光強度の比率（Ｐｏ／Ｐｍ＿ζｔ）を決定する光強度比率決定手段（記録パワー比決定回路）と、光強度比率決定手段により決定された記録光強度比率で最適な記録光強度を決定する最適光強度決定手段（最適記録パワー決定回路）とを含む。
前記の目的を達成するため、本発明に係る記録光強度学習方法の第１の態様は、光強度学習領域（記録パワー学習領域：ＰＣＡ）を有する光学的記録媒体（光ディスク）に光ビームを照射し複数の長さのマークを形成することにより情報を記録し、所定のマーク長（例えば、５Ｔ）以上のマーク形成においては、記録波形の前端部および後端部については光強度の強い第１の記録光強度（Ｐｏ）に設定し、記録波形の中間部については第１の記録光強度以下の第２の記録光強度（Ｐｍ）に設定した記録波形で光ビームを照射することによりマークを形成する光学的情報記録再生装置の記録光強度を学習する方法であって、（ａ）第１の記録光強度と第２の記録光強度の比率（Ｐｏ／Ｐｍ）を一定に保ちつつ、第１の記録光強度および第２の記録光強度をそれぞれ所定の変化量（ΔＰｏ、ΔＰｍ）で段階的に変化させ、略最長マーク（例えば、１１Ｔマーク）を含む複数のマーク（３Ｔ〜１１Ｔ）からなる光強度学習パターンを光強度学習領域に記録するステップと、（ｂ）記録した光強度学習パターンにおける複数のマークに対する再生信号の変調度を検出するステップと、（ｃ）記録した光強度学習パターンにおける最長マークに対する再生信号の波形歪み量を検出するステップと、（ｄ）検出した変調度（ｍ）と許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、許容上限変調度に対応した記録光強度（Ｐｏ＿ｍｓ）を求めるステップと、（ｅ）検出した波形歪み量（ζ）と許容波形歪み量（ζｓ）とに基づいて、許容波形歪み量に対応した記録光強度（Ｐｏ＿ζｓ）を求めるステップと、（ｆ）許容上限変調度に対応した記録光強度と許容波形歪み量に対応した記録光強度を比較するステップと、（ｇ）許容上限変調度に対応した記録光強度が許容波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、許容上限変調度に対応した記録光強度を上限値とし、許容波形歪み量に対応した記録光強度を下限値として、情報を記録する際の記録光強度を上限値と下限値の間に設定するステップとを含む。
前記の目的を達成するため、本発明に係る記録光強度学習方法の第２の態様は、光強度学習領域（記録パワー学習領域：ＰＣＡ）を有する光学的記録媒体（光ディスク）に光ビームを照射し複数の長さのマークを形成することにより情報を記録し、所定のマーク長（例えば、５Ｔ）以上のマーク形成においては、記録波形の前端部および後端部については光強度の強い第１の記録光強度（Ｐｏ）に設定し、記録波形の中間部については第１の記録光強度以下の第２の記録光強度（Ｐｍ）に設定した記録波形で光ビームを照射することによりマークを形成する光学的情報記録再生装置の記録光強度を学習する方法であって、（ａ）第１の記録光強度を一定として第２の記録光強度を所定の変化量（ΔＰｍ）で段階的に変化させ、略最長マーク（例えば、１１Ｔマーク）を含む複数のマーク（３Ｔ〜１１Ｔ）からなる光強度学習パターンを光強度学習領域に記録するステップと、（ｂ）記録した光強度学習パターンにおける複数のマークに対する再生信号の変調度を検出するステップと、（ｃ）記録した光強度学習パターンにおける略最長マークに対する再生信号の波形歪み量を検出するステップと、（ｄ）検出した変調度（ｍ）と許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、許容上限変調度に対応した記録光強度（Ｐｍ＿ｍｓ）を求めるステップと、（ｅ）検出した波形歪み量（ζ）と目標波形歪み量（ζｔ）とに基づいて、目標波形歪み量に対応した記録光強度（Ｐｍ＿ζｔ）を求めるステップと、（ｆ）許容上限変調度に対応した記録光強度と目標波形歪み量に対応した記録光強度を比較するステップと、（ｇ）許容上限変調度に対応した記録光強度が目標波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、目標波形歪み量に対応した記録光強度を第２の記録光強度として設定し、第１の記録光強度と設定した第２の記録光強度の比率（Ｐｏ／Ｐｍ＿ζｔ）を最適な光強度比率として決定するステップとを含む。

図１は、本発明の実施の形態１に係る光学的情報記録再生装置の一構成例を示すブロック図である。
図２は、本発明の実施の形態１に係る記録光強度学習方法における手順を示すフローチャートである。
図３は、正常な記録の場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。
図４は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍがともに大きな場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。
図５は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍがともに小さい場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。
図６は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζおよび許容上限変調度ｍｓ、許容波形歪み量ζｓの関係を示すグラフである。
図７は、図６に対して、記録パターンの中間部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成した場合における、記録パワーＰｏと波形歪み量ζの関係の変化を示すグラフである。
図８は、記録パターンの中間部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成した場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。
図９は、本発明の実施の形態２に係る光学的情報記録再生装置の一構成例を示すブロック図である。
図１０は、本発明の実施の形態２に係る記録光強度学習方法における手順を示すフローチャートである。
図１１は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが大きくて、第２の記録パワーＰｍが小さい場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。
図１２は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが小さくて、第２の記録パワーＰｍが大きい場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。
図１３は、第１の記録パワーＰｏを一定に維持して第２の記録パワーＰｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζおよび許容上限変調度ｍｓ、目標波形歪み量ζｔの関係を示すグラフである。
図１４は、図１３に対して、記録パターンの中間部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成した場合における、記録パワーＰｏと波形歪み量ζの関係の変化を示すグラフである。
図１５は、従来の光学的情報記録再生装置の構成例を示すブロック図である。
図１６は、記録パワー学習領域を有する光ディスクの構造を模式的に示す平面図である。
図１７は、従来の記録パワー学習時における記録パワーの段階的な変化を示す図である。
図１８は、アシンメトリ値を説明するための、適正な記録パワーで情報が記録された場合の再生波形を示す図である。
図１９は、記録パワーＰｗと再生信号のアシンメトリ値Ａｓとの関係を示すグラフである。
図２０は、マルチパルス方式で高速記録を行った場合における、記録データ波形、記録パターン波形、レーザ発光波形、記録されたマーク形状、および再生波形を示す図である。
図２１は、非マルチパルス方式で高速記録を行った場合における、記録データ波形、記録波形、その時のレーザ発光波形、記録されたマーク形状、および再生波形を示す図である。

以下、本発明の好適な実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る光学的情報記録再生装置の一構成例を示すブロック図である。図１において、１は光学的記録媒体としての光ディスクで、情報を記録する記録トラック溝が形成されており、また光ディスク１の内周部には、図１６に示すように、光強度学習領域としての記録パワー学習領域（ＰＣＡ）２２が設けられている。２は光照射手段としてのピックアップであり、光ディスク１に光ビームを照射するレーザダイオードを搭載している。３はレーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路、４はレーザ駆動回路３を用いてレーザダイオードの出力を制御するレーザ出力制御回路であり、レーザ駆動回路３およびレーザ出力制御回路４は光駆動手段を構成する。
５は記録波形制御手段としての記録パターン発生回路であり、レーザダイオードの発光波形を制御する。６は光ディスク１上に記録されている初期記録情報を読み出す初期記録情報読み込み回路である。
７は変調度検出手段としての変調度検出回路であり、再生信号の振幅から変調度（ｍ）を検出する。８は第１の光強度算出手段としての許容変調度パワー算出回路であり、変調度検出回路７により検出された変調度ｍと許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワー（Ｐｏ＿ｍｓ）を算出する。
９は波形歪み検出手段としての波形歪み検出回路であり、略最長マーク（例えば、１１Ｔマーク）に対する再生信号の波形歪み量（ζ）を検出する。１０は第２の光強度算出手段としての許容波形歪みパワー算出回路であり、波形歪み検出回路９により検出された波形歪み量ζと許容波形歪み量（ζｓ）とに基づいて、許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワー（Ｐｏ＿ζｓ）を算出する。
１１は許容光強度範囲決定手段としての許容パワー範囲決定回路であり、許容変調度パワー算出回路８により算出された記録パワーＰｏ＿ｍｓと、許容波形歪みパワー算出回路１０により算出された記録パワーＰｏ＿ζｓとに基づいて、光ディスク１に情報を記録する最の記録パワーの範囲を決定する。
１２は記録出力可変手段としての記録パワー可変回路であり、記録パワー学習領域で記録パワー学習を行う際に、レーザ出力制御回路４に対し記録パワーを可変設定するよう指令する。
１３は最適記録光強度決定手段としての最適記録パワー決定回路であり、許容パワー範囲決定回路１２により決定された記録パワー範囲や他の情報をもとに、最終的に情報を記録するための最適記録パワーを決定する。
１４は切換スイッチであり、記録パワー学習を行う場合は、記録パワー可変回路１２からの指令がレーザ出力制御回路４に供給されるように接点をＡ側に切り換え、通常の情報記録時には、最適記録パワー決定回路１３からの指令がレーザ出力制御回路４に供給されるように接点をＢ側に切り換える。
次に、以上のように構成された光学的情報記録再生装置における記録パワー学習方法について、図１に加えて、図２を参照して説明する。図２は、本実施の形態よる記録光強度学習方法における手順を示すフローチャートである。
光学的情報記録再生装置が記録パワー学習を行う場合、まず光ディスク１上に記録されている初期記録情報である推奨記録パワーＰｏｉ、推奨記録パワー比εｉ、推奨記録発光波形等を初期記録情報読み込み回路６により読み込む（Ｓ２０１）。
また、初期記録情報読み込み回路６は、読み込んだ推奨値に基づいて、最適な記録パワーを求めるための記録開始パワーＰｏ、記録パワー比ε、記録パワー増分ΔＰｏ、記録パワー学習用記録パターン波形を、記録パターン発生回路５および記録パワー可変回路１２に送り設定する（Ｓ２０２）。
次に、ピックアップ２を光ディスク１の内周部に設けられた記録パワー学習領域２２（図１６）に移動させる（Ｓ２０３）。
次に、ステップＳ２０４の処理を以下のように行う。まず、記録パターン発生回路５は、記録パワー学習用記録データとして、たとえばランダムな８−１６エンコードデータを受け、３Ｔ〜１１Ｔ（Ｔはクロック周期を表す）および１４Ｔ長マークを記録するため、３Ｔおよび４Ｔマークについては記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏで、５Ｔマーク長以上のマークについては前端部および後端部は記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏで、中間部は第１の記録パワーＰｏ以下の第２の記録パワーＰｍでレーザーダイオードを発光させるための記録パターン（光強度学習パターン）を出力する。
記録パワー可変回路１２は、初期記録情報読み込み回路６からのパワー学習用設定値に基づき、第１の記録パワーＰｏと第２の記録パワーＰｍとの比である記録パワー比εを一定に維持しながら、第１の記録パワーＰｏおよび第２の記録パワーＰｍのそれぞれの初期記録パワーＰｏ１、Ｐｍ１をレーザ出力制御回路４に送る。また、記録パワー可変回路１２は、記録パワーを可変して記録するための記録パワー増分量ΔＰｏ、ΔＰｍをもとに、以降の記録パワー（Ｐｏ２，Ｐｍ２）、（Ｐｏ３，Ｐｍ３）、…（Ｐｏ（ｉ），Ｐｍ（ｉ）（ｉ＝１、２、３、…））を求め、切換スイッチ１４を介してレーザ出力制御回路４に送る。
レーザ出力制御回路４は、記録パワー可変回路１２からの指令に基づいて、レーザ駆動回路３にレーザダイオードを発光するよう指令する。そして記録パワー学習領域内の所定の領域で記録パワーＰｏ１、Ｐｍ１でパワー学習用記録データ記録する。その次に、記録パワーをΔＰｏ、ΔＰｍ増分させたＰｏ２、Ｐｍ２で別の記録パワー学習領域にパワー学習用記録データを記録する。この操作を所定の回数、例えば６回繰り返し、記録パワー学習用記録データを記録する。以上がステップＳ２０４での処理である。
記録パワー学習用記録データの再生時（Ｓ２０５）には、変調度検出回路７がそれぞれの記録パワーで記録したマークに対する再生信号の変調度ｍを検出する（Ｓ２０６）。ここで、図３および図４を参照して、記録パワーと変調度との関係を説明する。
図３は、正常に記録された場合における、記録パターン発生回路５に入力される記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、記録パターン発生回路５およびレーザ出力制御回路４からの指令を受けてレーザ駆動回路３が出力するレーザ駆動信号波形（ｂ）、光ディスク１に記録された１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。図３から分かるように、適正な記録パワーおよび記録パワー比で記録された記録マークの変調度は正常で、記録マークによるトラック溝の劣化を起こしていない。
図４は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍがともに大きな場合について、各波形および記録マークを示している。この場合、記録された１１Ｔ記録マークの幅が太くなるため、変調度が大きくなるとともに、記録マークがトラック溝を覆いトラック溝形状を壊すようになる。
そこで、許容変調度パワー算出回路８は、記録パワーＰｏ１からＰｏ６で記録された記録マークに対する再生信号の変調度と許容上限変調度ｍｓとに基づいて、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｏ＿ｍｓを算出する（Ｓ２０７）。
ここで、許容上限変調度ｍｓとは、光学的情報記録再生装置において、記録された記録マークが記録過剰状態になると、図４に示すようにトラック溝形状を劣化させて、例えばトラッキングエラー信号が正常に検出できなくなることなどが発生することを防ぐため、再生時の変調度で判定する変調度の基準値である。
また、パワー学習用記録データの再生時（Ｓ２０５）には、波形歪み検出回路９が、たとえば１１Ｔ長マークに対する再生信号の波形歪み量ζを検出する（Ｓ２０８）。ここで、図３および図５を参照して、記録パワーと波形歪み量ζとの関係を説明する。
図３は、前述したように正常に記録された場合で、適正な記録パワーおよび記録パワー比で記録された記録マークの記録幅は一定であり、再生波形の中間部も平らで波形歪みを起こしていない。
図５は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍがともに小さい場合を示している。この場合、記録された１１Ｔ記録マークの前端部および後端部に比べ中間部の記録幅が細くなり、再生波形の中間部が明側に歪んだ波形となる。
波形歪み検出回路９は、たとえば１１Ｔ記録マークの再生波形の場合、基準再生クロックでサンプルされた１２個の検出値（図５のＳ０〜Ｓ１１）の最小値（Ｓ１０）と中間部の極大値（Ｓ６）、および非マーク部の検出値（Ｓ１４）に基づいて波形歪み量ζを算出する。図５においては、１１Ｔ記録マークに対する再生波形の最小値はＳ１０であり、中間部の極大値はＳ６、非マーク部の検出値はＳ１４であるので、波形歪み量ζは、ζ＝（Ｓ６−Ｓ１０）／（Ｓ１４−Ｓ１０）として求められる。
許容波形歪みパワー算出回路１０は、記録パワーＰｏ１からＰｏ６での波形歪み量と許容波形歪み量ζｓとに基づいて、許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓを算出する（Ｓ２０９）。
ここで、許容波形歪み量ζｓとは、光学的情報記録再生装置において、記録された記録マークが記録不足状態になると、図５に示すように再生波形の中間部の振幅が減少し、最悪の場合、非マークとして検出する可能性があり、これを防ぐため、再生時の波形歪み量で判定する波形歪み量の基準値である。
図６は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζおよび許容上限変調度ｍｓ、許容波形歪み量ζｓの関係を示すグラフである。図６において、記録パワーＰｏをＰｏ１からＰｏ６と変化させて記録した記録パワー学習用記録データの再生信号の各記録パワーでの変調度と許容上限変調度ｍｓとに基づいて、許容変調度パワー算出回路８は、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｏ＿ｍｓを求め、各記録パワーでの波形歪み量と許容波形歪み量ζｓとに基づいて、許容波形歪みパワー算出回路１０は、許容波形歪み記録パワーＰｏ＿ζｓを求める。
許容パワー範囲決定回路１１は、許容される変調度範囲としては許容上限変調度ｍｓ以下の範囲で、許容される波形歪み範囲としては許容波形歪み量ζｓ以下の範囲であるため（図２のＳ２１０における判断でＹｅｓ）、許容記録パワー範囲を許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓ以上でかつ許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｏ＿ｍｓ以下の範囲に決定する（Ｓ２１１）。なお、本明細書での説明では省略しているが、変調度の下限値は規格書等に規定されており、もし許容下限変調度に対応した記録パワーが許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓよりも大きな場合は、許容記録パワー範囲の下限値は、許容下限変調度に対応した記録パワーに決定される。
許容パワー範囲決定回路１１で決定された許容記録パワー範囲に基づいて、最適記録パワー決定回路１３は情報を記録する最適記録パワーＰｗを決定する（Ｓ２１２）。最適記録パワーＰｗは、許容記録パワー範囲の内、例えばジッタ値がもっとも低い記録パワーを選択することにより決定される。
最適記録パワー決定回路１３で決められた最適記録パワーＰｗが、データ領域２１（図１６）に情報を記録する記録パワーとしてレーザ出力制御回路４に送られ情報が記録される。
ここで、光学的情報記録再生装置によっては、光ディスク１とピックアップ２の特性差に起因して、許容記録パワー範囲が求められない場合が発生する。
図７は、図６と同様、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζ（点線）および許容上限変調度ｍｓ、許容波形歪み量ζｓの関係を示したグラフである。図７から分かるように、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｏ＿ｍｓが許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓ０よりも小さくなり（図２のＳ２１０における判断でＮｏ）、許容記録パワー範囲が決定できない。
このような場合、許容パワー範囲決定回路１１は、記録パターン発生回路５に対し、例えば９Ｔマーク長以上のマークに対しては中間部の一部に第１の記録パワーの波形（中間パルス）を出力するように指令する（Ｓ２１３の判断でＮｏにより分岐したＳ２１４）。
図８は、１１Ｔ記録パターンの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを出した場合における、記録データ波形（ａ）、レーザ駆動信号（ｂ）、記録された１１Ｔ記録マークの形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークに対する再生波形（ｄ）を示す概略図である。図８において、記録パターンの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成したことにより、記録マークの中間部の幅が太くなり、図５と比較して再生信号の波形歪みが改善されることが分かる。
図７において、記録マークの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成したことにより、同一のＰｏ、Ｐｍの値で波形歪み量が少なくなる（実線）ため、許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓ１が小さくなり、許容記録パワー範囲を決定することができる。
また、この記録マークの中間部の一部に生成する第１の記録パワーを有する中間パルスの幅を徐々に大きくする（図２のＳ２１３の判断でＹｅｓにより分岐したＳ２１５）ことにより、波形歪みを徐々に改善できる。従って、一度この中間パルスを生成しても、まだ許容記録パワー範囲が決定できない場合には、この中間パルスの幅を大きくして、再度記録パワー学習をする（Ｓ２０４に戻る）ことにより、許容記録パワー範囲を求めることができる。
なお、図７に点線で示したような事態が発生する可能性が極めて低い場合もある。その場合は、中間パルスを挿入するための構成（ステップＳ２１３〜ステップＳ２１５）は、必須ではない。中間パルスを挿入可能でなくとも、実用上の支障はないからである。また、中間パルスを挿入する構成を設ける場合であっても、パルス幅を可変とする（ステップＳ２１５）構成は、実用的には省略可能な場合もある。
また、以上のように、記録マークの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを出力することに代えて、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍを変更して第２の記録パワーＰｍを高めることによっても、図７に点線で示した、許容記録パワー範囲が決定できない問題を解消することが可能である。他の条件との兼ね合いを考慮して、そのような方法を採用すればよい。
また、以上の説明では、許容変調度パワー算出回路、波形歪みパワー算出回路、許容パワー範囲決定回路、最適記録パワー決定回路等といった回路構成として説明したが、これらと同等のことを例えばマイクロコンピュータ等の演算で行わせても同様な結果になることは言うまでもない。
（実施の形態２）
図９は、本発明の実施の形態２に係る光学的情報記録再生装置の一構成例を示すブロック図である。なお、図９において、実施の形態１で参照した図１と同じ部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。以下では主に、実施形態１との相違点について説明する。
図９において、１１０は第２の光強度算出手段としての目標波形歪みパワー比算出回路であり、波形歪み検出回路９により検出された再生信号の波形歪みζと目標波形歪み量ζｔとに基づいて、目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔを算出する。
１１１は光強度比決定手段としての記録パワー比決定回路であり、許容変調度パワー算出回路８により算出された許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓと目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔとに基づいて、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍζを決定する。
１１２は記録出力可変手段としての中間部記録パワー可変回路であり、記録パワー学習領域で記録パワー学習を行う際に、レーザ出力制御回路４に対し、所定のマーク長以上のマーク形成においては、記録波形の前端部および後端部については記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏでレーザビームを照射し、中間部については第１の記録パワー以下の第２の記録パワーＰｍでレーザビームを照射するとともに、中間部の記録パワーＰｍを段階的に可変設定するようレーザ出力制御回路４に指令する。
次に、以上のように構成された光学的情報記録再生装置における記録パワー学習方法について、図９に加えて、図１０を参照して説明する。図１０は、本実施の形態よる記録光強度学習方法における手順を示すフローチャートである。
光学的情報記録再生装置が記録パワー学習を行う場合、実施の形態１と同様に、まず光ディスク１上に記録されている初期記録情報である推奨記録パワーＰｏｉ、推奨記録パワー比εｉ、推奨記録発光波形等を初期記録情報読み込み回路６により読み込む（Ｓ２０１）。
また、初期記録情報読み込み回路６は、読み込んだ推奨値に基づいて、最適な記録パワーを求めるための第１の記録パワーＰｏ、第２の記録パワーＰｍ、第２の記録パワー増分ΔＰｍ、記録パワー学習用記録パターン波形を、記録パターン発生回路５および中間部記録パワー可変回路１１２に送り設定する（Ｓ３０２）。
次に、ピックアップ２を光ディスク１の内周部に設けられた記録パワー学習領域２２（図１６）に移動させる（Ｓ２０３）。
次に、ステップＳ３０４の処理を以下のように行う。まず、記録パターン発生回路５は、記録パワー学習用記録データとしてたとえばランダムな８−１６エンコードデータを受けて、３Ｔ〜１１Ｔおよび１４Ｔ長マークを記録するため、３Ｔおよび４Ｔマークについては記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏで、５Ｔマーク長以上のマークについては前端部および後端部は記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏで、中間部は第１の記録パワーＰｏ以下の第２の記録パワーＰｍでレーザダイオードを発光させるための記録パワー学習用記録パターンを出力する。
中間部記録パワー可変回路１１２は、初期記録情報読み込み回路６からの指令により、第１の記録パワーＰｏを一定に維持し、第２の記録パワーＰｍの初期記録パワーＰｍ１や、記録パワー比（Ｐｏ／Ｐｍ）を可変して記録するための第２の記録パワーＰｍ２、Ｐｍ３、…（Ｐｍ（ｉ）（ｉ＝１、２、３、…）を求め、レーザ出力制御回路４に送り設定する。
レーザ出力制御回路４は、中間部記録パワー可変回路１１２からの指令に基づいて、記録パターンの前端部および後端部においては光強度の強い第１の記録パワーＰｏを、中間部では第２の記録パワーＰｍとなるようレーザ駆動回路３に指令を送る。そして記録パワー学習領域内の所定の領域に、第１の記録パワーＰｏ、第２の記録パワーＰｍ１でパワー学習用記録データを記録する。その次に、第１の記録パワーＰｏ、第２の記録パワーＰｍ１をΔＰｍ増分させたＰｍ２で、記録パワー学習領域内の別の箇所にパワー学習用記録データを記録する。この操作を所定の回数、例えば６回繰り返し、パワー学習用記録データを記録する。以上がステップＳ３０４での処理である。
パワー学習用記録データの再生時（Ｓ２０５）には、実施の形態１と同様に、変調度検出回路７が、第１の記録パワーＰｏ、複数の第２の記録パワーＰｍ１〜Ｐｍ６で記録されたマークに対する再生信号の変調度ｍを検出する（Ｓ３０６）。許容変調度パワー算出回路８は、複数の第２の記録パワーＰｍ１〜Ｐｍ６で記録された記録マークに対する再生信号の変調度と許容上限変調度ｍｓとに基づいて、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓを算出する（Ｓ３０７）。
また、パワー学習用記録データの再生時（Ｓ２０５）には、波形歪み検出回路９が、たとえば１１Ｔ長マークに対する再生信号の波形歪み量ζを検出する（Ｓ３０８）。ここで、図１１および図１２を参照して、記録パワー比と波形歪みとの関係を説明する。
図１１は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが大きくて、第２の記録パワーＰｍが小さい場合における各波形および記録マークを示している。この場合、記録された１１Ｔ記録マークの前端部および後端部に比べて中間部の記録幅が細くなり、再生波形の中間部が明側に歪んだ波形となる。
図１２は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが小さくて、第２の記録パワーＰｍが大きい場合における各波形および記録マークを示している。この場合、記録された１１Ｔ記録マークの前端部および後端部に比べて中間部の記録幅が太くなり、再生波形の中間部が暗側に歪んだ波形となる。
そこで、目標波形歪みパワー比算出回路１１０は、第２記録パワーＰｍ１からＰｍ６で記録された１１Ｔマークに対する再生信号の波形歪み量と目標波形歪み量ζｔとに基づいて、目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔを算出する（図１０のＳ３０９）。
ここで、目標波形歪み量ζｔとは、光学的情報記録再生装置において、記録された記録マークが記録過不足状態になると、図１１および図１２に示すように、再生波形の中間部の振幅が減少した場合は、非マークとして検出する可能性が発生し、再生波形の中間部の振幅が増加しすぎると、記録マークがトラック溝を覆いトラック溝形状を壊すようになることを防ぐため、再生時の適正な波形歪み量で判定する波形歪み量の基準値である。
図１３は、第１の記録パワーＰｏを一定に維持して第２の記録パワーＰｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζおよび許容上限変調度ｍｓ、目標波形歪み量ζｔの関係を示すグラフである。記録パワーＰｍをＰｍ１からＰｍ６と変化させて記録した記録パワー学習用記録データに対する再生信号に対して、各記録パワーでの変調度と許容上限変調度ｍｓとに基づいて、許容変調度パワー算出回路８は、許容上限変調度に対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓを求め、各記録パワーでの波形歪み量と目標波形歪み量ζｔとに基づいて、目標波形歪みパワー算出回路１１０は、目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔを求める。
記録パワー比決定回路１１１は、目標の波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔが、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓ以下の領域にある場合（図１０のＳ３１０の判断でＹｅｓ）、第１の記録パワーＰｏと、目標波形歪みζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔとの比ε＿ζｔ（＝Ｐｏ／Ｐｍ＿ζｔ）を最適記録パワー比に決定する（Ｓ３１１）。
記録パワー比決定回路１１１で決定された最適記録パワー比に基づいて、最適記録パワー決定回路１３は、情報を記録する際の最適記録パワーＰｗを決定する。最適記録パワーＰｗは、最適記録パワー比ε＿ζｔを用いて、例えばアシンメトリが所望の値となる記録パワーを選択することにより決定される。
最適記録パワー決定回路１３で決められた最適記録パワーＰｗが、データ領域に情報を記録する記録パワーとしてレーザ出力制御回路４に送られ、情報が記録される。
また、光学的情報記録再生装置によっては、光ディスク１とピックアップ２の特性差に起因して最適記録パワー比が求められない場合が発生する。
図１４は、図１３と同様に、第１の記録パワーＰｏを一定に維持して第２の記録パワーＰｍを変化させた場合における変調度ｍ、波形歪み量ζ（点線）および許容上限変調度ｍｓ、目標波形歪み量ζｔの関係を示すグラフである。図１４から分かるように、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓが目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔ０よりも小さくなり（図１０のＳ３１０の判断でＮｏ）、最適記録パワー比ε＿ζｔが決定できない。
このような場合、記録パワー比決定回路１６は、記録パターン発生回路５に対し、例えば９Ｔマーク長以上のマークに対して、中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する波形（中間パルス）を出力するように指令する（図１０のＳ２１３の判断でＮｏにより分岐したＳ２１４）。
図１４において、記録マークの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成したことにより、同一のＰｍの値で波形歪み量が少なくなる（実線）ため、目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔが小さくなり、このため最適記録パワー比ε＿ζｔを決定することができる。
また、この記録マークの中間部の一部に生成する第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスの幅を徐々に大きくする（図１０のＳ２１３の判断でＹｅｓにより分岐したＳ２１５）ことにより、波形歪みを徐々に改善できる。したがって、一度この中間パルスを生成しても、まだ最適記録パワー比ε＿ζｔが決定できない場合には、中間パルスの幅を大きくして、再度記録パワー学習をする（図１０のＳ３０４に戻る）ことで、最適記録パワー比ε＿ζｔを求めることができる。
なお、図１４に点線で示したような事態が発生する可能性が極めて低い場合もある。その場合は、中間パルスを挿入するための構成（ステップＳ２１３〜ステップＳ２１５）は、必須ではない。中間パルスを挿入可能でなくとも、実用上の支障はないからである。また、中間パルスを挿入する構成を設ける場合であっても、パルス幅を可変とする（ステップＳ２１５）構成は、実用的には省略可能な場合もある。
なお、以上の説明では、許容変調度パワー算出回路、目標波形歪みパワー算出回路、最適パワー比決定回路、最適記録パワー決定回路等といった回路構成として説明したが、これらと同等のことを例えばマイクロコンピュータ等の演算で行わせても同様な結果になることは言うまでもない。
産業上の利用の可能性
本発明によれば、記録パワーが大き過ぎることによるトラック溝の劣化を防ぐとともに波形歪みが発生することがなく、情報記録時の記録パワーを最適化できるという効果が得られる。
また、目標波形歪み量に対応した記録パワー比を、記録パワーが大き過ぎることによるトラック溝の劣化が発生しない範囲で決められることにより、情報記録時の記録パワーを最適化できるという効果が得られる。

本発明は、光学的記録媒体に対して情報を記録／再生する光学的情報記録再生装置および情報を記録する際の記録光強度を学習する方法に関する。

以下、従来の光学的情報記録再生装置および記録光強度学習方法について、図１５から図２１を参照して説明する。

図１５は、従来の光学的情報記録再生装置の構成例を示すブロック図である（例えば、特許文献１参照）。図１５において、光学的情報記録再生装置は、光学的記録媒体である光ディスク１と、光ディスク１に光ビームを照射するレーザダイオードを搭載しているピックアップ２と、ピックアップ２内のレーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路３と、レーザ駆動回路３に対し所望のレーザ出力を指令するレーザ出力制御回路４と、光ディスク１上に記録されている初期記録パワーを読み出す初期パワー読み込み回路６と、読み出された初期記録パワーをもとに記録パワーを可変する記録パワー可変回路２０と、光ディスク１上に記録された記録パターンから再生信号の対称性を示すアシンメトリ値を検出するアシンメトリ検出回路１８と、検出されたアシンメトリ値から所望のアシンメトリ値を実現する記録パワーを決定する目標アシンメトリ記録パワー決定回路１９と、光ディスク１に記録する記録パターンを発生する記録パターン発生回路５とから構成されている。

光ディスク１上には、図１６に示すように、情報を記録するデータ領域２１以外に、光ディスク１の内周部に、情報の記録に先立って必要に応じて記録パワーを学習する記録パワー学習領域（ＰＣＡ：Power Calibration Area）２２が設けられている。

光学的情報記録再生装置が記録パワー学習を行う場合、まず光ディスク１上に記録されている推奨記録パワーおよび目標アシンメトリ値を初期パワー読み込み回路６により読み込む。この推奨記録パワーは一定条件のもとで記録する場合には最適な記録状態が実現できる記録パワーである。目標アシンメトリ値は、最適記録状態時のアシンメトリ値であり、アシンメトリ値と記録状態に一定の相関があることから、記録パワー学習時の指標として用いられる。

実際に情報を記録する場合には、記録時の温度状態による記録媒体の光感度変化や、ピックアップ２の埃等によるレーザ伝送効率の低下、焦点位置ずれ等の位置決め誤差、チルトずれなどの機械的誤差等により、最適記録パワーがずれるため、記録パワー学習領域２２で記録時の状態に応じた最適記録パワーを学習する必要がある。

次に、ピックアップ２を光ディスク１の内周部に設けられた記録パワー学習領域２２に移動させ、記録パターン発生回路５から記録パワー学習用パターンを発生させるとともに、初期パワー読み込み回路６により読み込まれた推奨記録パワーを基に、図１７に示すように、記録パワー可変回路２０により初期記録パワーＰｗ１から記録パワー増分ΔＰｗで５段階に記録パワーを可変させ、記録パワー学習領域２２内の一部の範囲である記録パワー学習セクターを用いて記録パワー学習用パターンを記録する。

アシンメトリ検出時には、ピックアップ２からは各記録パワーに応じた再生波形が再生され、アシンメトリ検出回路１８により各記録パワーでのアシンメトリ値が検出される。

図１８に、適正な記録パワーで情報が記録された場合の再生波形を示す。記録パワー学習用パターンは、情報を記録する場合と同じ記録パターンで記録されているため、記録単位時間Ｔ基準で３Ｔ〜１１Ｔまでの記録マーク（以後、単にマークと略称する）と未記録スペース（以後、単にスペースと略称する）からなる。

アシンメトリ検出回路１８は、再生信号の振幅値Ａのうち、最長スペース、最短スペース、最長マーク、最短マークに対するそれぞれの再生信号の振幅値ＡＨ１、ＡＨ２、ＡＬ１、ＡＬ２から、以下の式（１）を用いてアシンメトリ値Ａｓを算出する。

Ａｓ＝（（（ＡＨ２＋ＡＬ２）／２）−（（ＡＨ１＋ＡＬ１）／２））
／（ＡＨ１−ＡＬ１） …（１）
アシンメトリ検出回路１８は、記録パワーと検出したアシンメトリ値とに基づいて、図１９に示す各記録パワーとアシンメトリ値との関係を求める。

目標アシンメトリ記録パワー決定回路１９は、記録パワーとアシンメトリ値の関係から、目標アシンメトリ値Ａｓ＿ｔを実現する記録パワーＰｗ＿ｔを決定する。

情報をデータ領域２１に記録する場合は、記録パワー学習を行って決定された記録パワーになるようレーザ出力制御回路４が動作し、情報記録時の状態での最適記録パワーで情報が記録される。

また、近年、高記録密度で高速記録に対応した記録型ＤＶＤ媒体も普及し、図２０に示すような記録パターン波形が複数のパルスで構成されたマルチパルス方式から、図２１に示すような記録パターン波形が１つのパルスで構成される非マルチパルス方式へと移行してきている。

たとえば、記録型ＤＶＤメディアの高速記録の規格書である「DVD Specifications for Recordable Disc for General Part1 Optional Specifications 4x-SPEED DVD-R」に記録パターン波形が記載されている。

図２０は、記録速度の低い場合に使用されるマルチパルス方式で高速記録を行った場合における、記録データ波形、記録パターン波形（以下、記録波形と略称する）、その時のレーザ発光波形、記録されたマーク形状、および再生波形を示す図である。図２０から分かるように、レーザ発光に十分な周波数帯域がなくてレーザ光が鈍り、十分な記録発光レベルに達していないため、記録しようとするマークが十分に記録できず、その再生波形も鈍っている。

図２１は、非マルチパルスを用いて高速記録を行った場合における、記録データ波形、記録波形、その時のレーザ発光波形、記録されたマーク形状、および再生波形を示す図である。図２１から分かるように、レーザ発光に十分な周波数帯域がなくとも記録波形の前端部のパルスを充分長くとることができるため、レーザ発光波形も所定の発光値まで達することができ、また記録波形の後端部に対応するレーザ発光波形も、記録波形の中間部に対応する発光レベルからの立ち上がりでよいため、所定の発光値まで達し、記録されるマークもほぼ所定のマーク形状が形成できる。

このときの記録波形の前端部および後端部に対応する記録パワー発光値Ｐｏと中間部に対応する記録パワー発光値Ｐｍの比率は、ディスク製造メーカの推奨値としてディスク上に記録されているため、記録装置は、初期パワー読み込み回路６によりその推奨値を取り込み、記録パワー比率ε（ε＝Ｐｏ／Ｐｍ）で記録波形を形成することができる。
特表平７−８３３２６１号公報

かかる光学的情報記録再生装置においては、ディスク製造メーカの評価装置で使用されている基準装置と実際の記録装置では、ビームスポットの形状やレーザ発光波形の周波数特性などピックアップの特性や、チルト等の機械的なずれや、デフォーカス等の制御ずれなどに起因して、実際の記録波形がずれたり、記録パワーが減少するなどの理由から、ディスク製造メーカの推奨値がそのまま最適記録条件にはならず、各記録装置ごとに最適条件を求める必要がある。

特に、非マルチパルス方式による記録では、記録波形の前端部および後端部に対応する記録パワー発光値Ｐｏと中間部に対応する記録パワー発光値Ｐｍの比率が適切な比率でないと、長マークの中間部が正常に記録できず、再生波形の中間部が歪み、最悪の場合、マーク長の誤検出が発生して、その結果再生データにエラーが生じる、という問題がある。

また、光学的記録媒体は一般的に、最適記録パワーよりも高い記録パワーで記録を行った場合、記録トラック溝を劣化させ、記録トラックと光ビームとの相対位置情報であるトラッキング誤差信号の振幅が減少し、最悪の場合、トラッキング制御が不能になるという場合も発生する。また、トラック溝を劣化させると、たとえばトラック溝に形成された位置情報であるウォブル信号やアドレス情報であるランドプリピットが正常に再生できなくなるため、記録パワーの上限を検出し、その上限記録パワーで記録しないようにする必要がある。

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、トラッキング制御やトラック溝による情報検出が悪化するような高い記録パワーにすることなく、また波形歪みを低減した最適記録条件を決定することができる記録パワー学習を行う光学的情報記録再生装置および記録光強度学習方法を提供することにある。

前記の目的を達成するため、本発明に係る光学的情報記録再生装置の第１の態様は、情報を複数の長さのマークにより記憶する光学的記録媒体（光ディスク）と、光学的記録媒体に光ビームを照射することによりマークを形成する光照射手段（ピックアップ）と、光照射手段に対し所望の光強度で発光させる光駆動手段（レーザ駆動回路、レーザ出力制御回路）と、記録するマーク長に応じて記録波形を制御する記録波形制御手段（記録パターン発生回路）と、光学的記録媒体内の光強度学習領域に所望の光強度でテスト記録を行うよう光駆動手段に指令を出す記録出力可変手段（記録パワー可変回路）と、テスト記録されたマークに対する再生信号の振幅から変調度を検出する変調度検出手段（変調度検出回路）と、テスト記録されたマークに対する再生信号の波形歪みを検出する波形歪み検出手段（波形歪み検出回路）と、光強度学習領域（記録パワー学習領域：ＰＣＡ）に複数の光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各変調度（ｍ）と許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、光学的記録媒体への許容上限変調度に対応した記録光強度（Ｐｏ＿ｍｓ）を算出する第１の光強度算出手段（許容変調度パワー算出回路）と、光強度学習領域に複数の光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各波形歪み量（ζ）と許容波形歪み量（ζｓ）とに基づいて、光学的記録媒体への許容波形歪み量に対応した記録光強度（Ｐｏ＿ζｓ）を算出する第２の光強度算出手段（許容波形歪みパワー算出回路）と、許容上限変調度に対応した記録光強度と許容波形歪み量に対応した記録光強度とに基づいて、光学的記録媒体に情報を記録する際の光強度範囲（Ｐｏ＿ζｓ〜Ｐｏ＿ｍｓ）を決定する許容光強度範囲決定手段（許容パワー範囲決定回路）と、光強度範囲決定手段により決定された光強度範囲内で最適な記録光強度を決定する最適光強度決定手段（最適記録パワー決定回路）とを含む。

前記の目的を達成するため、本発明に係る光学的情報記録再生装置の第２の態様は、情報を複数の長さのマークにより記憶する光学的記録媒体（光ディスク）と、光学的記録媒体に光ビームを照射することによりマークを形成する光照射手段（ピックアップ）と、光照射手段に対し所望の光強度で発光させる光駆動手段（レーザ駆動回路、レーザ出力制御回路）と、記録するマーク長が第１のマーク長（例えば、５Ｔ）より短いマークの場合は光強度の強い第１の記録光強度（Ｐｏ）を有する記録波形を出力し、記録するマーク長が第１のマーク長以上のマークの場合は、記録波形の前端部および後端部については第１の記録光強度を有し、記録波形の中間部については第１の記録光強度以下の第２の記録光強度（Ｐｍ）を有する記録波形を出力する記録波形制御手段（記録パターン発生回路）と、第１の記録光強度を一定に維持し第２の記録光強度を可変設定して、光学的記録媒体内の光強度学習領域（記録パワー学習領域：ＰＣＡ）においてテスト記録を行うよう光駆動手段に指令を出す記録出力可変手段（中間部記録パワー可変回路）と、テスト記録されたマークに対する再生信号の振幅から変調度を検出する変調度検出手段（変調度検出回路）と、テスト記録されたマークに対する再生信号の波形歪みを検出する波形歪み検出手段（波形歪み検出回路）と、光強度学習領域に複数の第２の記録光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各変調度（ｍ）と許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、光学的記録媒体への許容上限変調度に対応した記録光強度（Ｐｍ＿ｍｓ）を算出する第１の光強度算出手段（許容変調度パワー算出回路）と、光強度学習領域に複数の第２の記録光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各波形歪み量（ζ）と目標波形歪み量（ζｔ）とに基づいて、光学的記録媒体に対する目標波形歪み量に対応した記録光強度（Ｐｍ＿ζｔ）を算出する第２の光強度算出手段と、許容上限変調度に対応した記録光強度と目標波形歪み量に対応した記録光強度とに基づいて、光学的記録媒体に情報を記録する際の記録波形の各部における記録光強度の比率（Ｐｏ／Ｐｍ＿ζｔ）を決定する光強度比率決定手段（記録パワー比決定回路）と、光強度比率決定手段により決定された記録光強度比率で最適な記録光強度を決定する最適光強度決定手段（最適記録パワー決定回路）とを含む。

前記の目的を達成するため、本発明に係る記録光強度学習方法の第１の態様は、光強度学習領域（記録パワー学習領域：ＰＣＡ）を有する光学的記録媒体（光ディスク）に光ビームを照射し複数の長さのマークを形成することにより情報を記録し、所定のマーク長（例えば、５Ｔ）以上のマーク形成においては、記録波形の前端部および後端部については光強度の強い第１の記録光強度（Ｐｏ）に設定し、記録波形の中間部については第１の記録光強度以下の第２の記録光強度（Ｐｍ）に設定した記録波形で光ビームを照射することによりマークを形成する光学的情報記録再生装置の記録光強度を学習する方法であって、（ａ）第１の記録光強度と第２の記録光強度の比率（Ｐｏ／Ｐｍ）を一定に保ちつつ、第１の記録光強度および第２の記録光強度をそれぞれ所定の変化量（ΔＰｏ、ΔＰｍ）で段階的に変化させ、略最長マーク（例えば、１１Ｔマーク）を含む複数のマーク（３Ｔ〜１１Ｔ）からなる光強度学習パターンを光強度学習領域に記録するステップと、（ｂ）記録した光強度学習パターンにおける複数のマークに対する再生信号の変調度を検出するステップと、（ｃ）記録した光強度学習パターンにおける最長マークに対する再生信号の波形歪み量を検出するステップと、（ｄ）検出した変調度（ｍ）と許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、許容上限変調度に対応した記録光強度（Ｐｏ＿ｍｓ）を求めるステップと、（ｅ）検出した波形歪み量（ζ）と許容波形歪み量（ζｓ）とに基づいて、許容波形歪み量に対応した記録光強度（Ｐｏ＿ζｓ）を求めるステップと、（ｆ）許容上限変調度に対応した記録光強度と許容波形歪み量に対応した記録光強度を比較するステップと、（ｇ）許容上限変調度に対応した記録光強度が許容波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、許容上限変調度に対応した記録光強度を上限値とし、許容波形歪み量に対応した記録光強度を下限値として、情報を記録する際の記録光強度を上限値と下限値の間に設定するステップとを含む。

前記の目的を達成するため、本発明に係る記録光強度学習方法の第２の態様は、光強度学習領域（記録パワー学習領域：ＰＣＡ）を有する光学的記録媒体（光ディスク）に光ビームを照射し複数の長さのマークを形成することにより情報を記録し、所定のマーク長（例えば、５Ｔ）以上のマーク形成においては、記録波形の前端部および後端部については光強度の強い第１の記録光強度（Ｐｏ）に設定し、記録波形の中間部については第１の記録光強度以下の第２の記録光強度（Ｐｍ）に設定した記録波形で光ビームを照射することによりマークを形成する光学的情報記録再生装置の記録光強度を学習する方法であって、（ａ）第１の記録光強度を一定として第２の記録光強度を所定の変化量（ΔＰｍ）で段階的に変化させ、略最長マーク（例えば、１１Ｔマーク）を含む複数のマーク（３Ｔ〜１１Ｔ）からなる光強度学習パターンを光強度学習領域に記録するステップと、（ｂ）記録した光強度学習パターンにおける複数のマークに対する再生信号の変調度を検出するステップと、（ｃ）記録した光強度学習パターンにおける略最長マークに対する再生信号の波形歪み量を検出するステップと、（ｄ）検出した変調度（ｍ）と許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、許容上限変調度に対応した記録光強度（Ｐｍ＿ｍｓ）を求めるステップと、（ｅ）検出した波形歪み量（ζ）と目標波形歪み量（ζｔ）とに基づいて、目標波形歪み量に対応した記録光強度（Ｐｍ＿ζｔ）を求めるステップと、（ｆ）許容上限変調度に対応した記録光強度と目標波形歪み量に対応した記録光強度を比較するステップと、（ｇ）許容上限変調度に対応した記録光強度が目標波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、目標波形歪み量に対応した記録光強度を第２の記録光強度として設定し、第１の記録光強度と設定した第２の記録光強度の比率（Ｐｏ／Ｐｍ＿ζｔ）を最適な光強度比率として決定するステップとを含む。

本発明によれば、記録パワーが大き過ぎることによるトラック溝の劣化を防ぐとともに波形歪みが発生することがなく、情報記録時の記録パワーを最適化できるという効果が得られる。

また、目標波形歪み量に対応した記録パワー比を、記録パワーが大き過ぎることによるトラック溝の劣化が発生しない範囲で決められることにより、情報記録時の記録パワーを最適化できるという効果が得られる。

以下、本発明の好適な実施の形態について、図面を参照しながら説明する。

（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る光学的情報記録再生装置の一構成例を示すブロック図である。図１において、１は光学的記録媒体としての光ディスクで、情報を記録する記録トラック溝が形成されており、また光ディスク１の内周部には、図１６に示すように、光強度学習領域としての記録パワー学習領域（ＰＣＡ）２２が設けられている。２は光照射手段としてのピックアップであり、光ディスク１に光ビームを照射するレーザダイオードを搭載している。３はレーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路、４はレーザ駆動回路３を用いてレーザダイオードの出力を制御するレーザ出力制御回路であり、レーザ駆動回路３およびレーザ出力制御回路４は光駆動手段を構成する。

５は記録波形制御手段としての記録パターン発生回路であり、レーザダイオードの発光波形を制御する。６は光ディスク１上に記録されている初期記録情報を読み出す初期記録情報読み込み回路である。

７は変調度検出手段としての変調度検出回路であり、再生信号の振幅から変調度（ｍ）を検出する。８は第１の光強度算出手段としての許容変調度パワー算出回路であり、変調度検出回路７により検出された変調度ｍと許容上限変調度（ｍｓ）とに基づいて、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワー（Ｐｏ＿ｍｓ）を算出する。

９は波形歪み検出手段としての波形歪み検出回路であり、略最長マーク（例えば、１１Ｔマーク）に対する再生信号の波形歪み量（ζ）を検出する。１０は第２の光強度算出手段としての許容波形歪みパワー算出回路であり、波形歪み検出回路９により検出された波形歪み量ζと許容波形歪み量（ζｓ）とに基づいて、許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワー（Ｐｏ＿ζｓ）を算出する。

１１は許容光強度範囲決定手段としての許容パワー範囲決定回路であり、許容変調度パワー算出回路８により算出された記録パワーＰｏ＿ｍｓと、許容波形歪みパワー算出回路１０により算出された記録パワーＰｏ＿ζｓとに基づいて、光ディスク１に情報を記録する最の記録パワーの範囲を決定する。

１２は記録出力可変手段としての記録パワー可変回路であり、記録パワー学習領域で記録パワー学習を行う際に、レーザ出力制御回路４に対し記録パワーを可変設定するよう指令する。

１３は最適記録光強度決定手段としての最適記録パワー決定回路であり、許容パワー範囲決定回路１２により決定された記録パワー範囲や他の情報をもとに、最終的に情報を記録するための最適記録パワーを決定する。

１４は切換スイッチであり、記録パワー学習を行う場合は、記録パワー可変回路１２からの指令がレーザ出力制御回路４に供給されるように接点をＡ側に切り換え、通常の情報記録時には、最適記録パワー決定回路１３からの指令がレーザ出力制御回路４に供給されるように接点をＢ側に切り換える。

次に、以上のように構成された光学的情報記録再生装置における記録パワー学習方法について、図１に加えて、図２を参照して説明する。図２は、本実施の形態よる記録光強度学習方法における手順を示すフローチャートである。

光学的情報記録再生装置が記録パワー学習を行う場合、まず光ディスク１上に記録されている初期記録情報である推奨記録パワーＰoｉ、推奨記録パワー比εｉ、推奨記録発光波形等を初期記録情報読み込み回路６により読み込む（Ｓ２０１）。

また、初期記録情報読み込み回路６は、読み込んだ推奨値に基づいて、最適な記録パワーを求めるための記録開始パワーＰｏ、記録パワー比ε、記録パワー増分ΔＰｏ、記録パワー学習用記録パターン波形を、記録パターン発生回路５および記録パワー可変回路１２に送り設定する（Ｓ２０２）。

次に、ピックアップ２を光ディスク１の内周部に設けられた記録パワー学習領域２２（図１６）に移動させる（Ｓ２０３）。

次に、ステップＳ２０４の処理を以下のように行う。まず、記録パターン発生回路５は、記録パワー学習用記録データとして、たとえばランダムな８−１６エンコードデータを受け、３Ｔ〜１１Ｔ（Ｔはクロック周期を表す）および１４Ｔ長マークを記録するため、３Ｔおよび４Ｔマークについては記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏで、５Ｔマーク長以上のマークについては前端部および後端部は記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏで、中間部は第１の記録パワーＰｏ以下の第２の記録パワーＰｍでレーザーダイオードを発光させるための記録パターン（光強度学習パターン）を出力する。

記録パワー可変回路１２は、初期記録情報読み込み回路６からのパワー学習用設定値に基づき、第１の記録パワーＰｏと第２の記録パワーＰｍとの比である記録パワー比εを一定に維持しながら、第１の記録パワーＰｏおよび第２の記録パワーＰｍのそれぞれの初期記録パワーＰｏ１、Ｐｍ１をレーザ出力制御回路４に送る。また、記録パワー可変回路１２は、記録パワーを可変して記録するための記録パワー増分量ΔＰｏ、ΔＰｍをもとに、以降の記録パワー（Ｐｏ２，Ｐｍ２）、（Ｐｏ３，Ｐｍ３）、…（Ｐｏ（ｉ），Ｐｍ（ｉ）（ｉ＝１、２、３、…））を求め、切換スイッチ１４を介してレーザ出力制御回路４に送る。

レーザ出力制御回路４は、記録パワー可変回路１２からの指令に基づいて、レーザ駆動回路３にレーザダイオードを発光するよう指令する。そして記録パワー学習領域内の所定の領域で記録パワーＰｏ１、Ｐｍ１でパワー学習用記録データ記録する。その次に、記録パワーをΔＰｏ、ΔＰｍ増分させたＰｏ２、Ｐｍ２で別の記録パワー学習領域にパワー学習用記録データを記録する。この操作を所定の回数、例えば６回繰り返し、記録パワー学習用記録データを記録する。以上がステップＳ２０４での処理である。

記録パワー学習用記録データの再生時（Ｓ２０５）には、変調度検出回路７がそれぞれの記録パワーで記録したマークに対する再生信号の変調度ｍを検出する（Ｓ２０６）。ここで、図３および図４を参照して、記録パワーと変調度との関係を説明する。

図３は、正常に記録された場合における、記録パターン発生回路５に入力される記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、記録パターン発生回路５およびレーザ出力制御回路４からの指令を受けてレーザ駆動回路３が出力するレーザ駆動信号波形（ｂ）、光ディスク１に記録された１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。図３から分かるように、適正な記録パワーおよび記録パワー比で記録された記録マークの変調度は正常で、記録マークによるトラック溝の劣化を起こしていない。

図４は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍがともに大きな場合について、各波形および記録マークを示している。この場合、記録された１１Ｔ記録マークの幅が太くなるため、変調度が大きくなるとともに、記録マークがトラック溝を覆いトラック溝形状を壊すようになる。

そこで、許容変調度パワー算出回路８は、記録パワーＰｏ１からＰｏ６で記録された記録マークに対する再生信号の変調度と許容上限変調度ｍｓとに基づいて、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｏ＿ｍｓを算出する（Ｓ２０７）。

ここで、許容上限変調度ｍｓとは、光学的情報記録再生装置において、記録された記録マークが記録過剰状態になると、図４に示すようにトラック溝形状を劣化させて、例えばトラッキングエラー信号が正常に検出できなくなることなどが発生することを防ぐため、再生時の変調度で判定する変調度の基準値である。

また、パワー学習用記録データの再生時（Ｓ２０５）には、波形歪み検出回路９が、たとえば１１Ｔ長マークに対する再生信号の波形歪み量ζを検出する（Ｓ２０８）。ここで、図３および図５を参照して、記録パワーと波形歪み量ζとの関係を説明する。

図３は、前述したように正常に記録された場合で、適正な記録パワーおよび記録パワー比で記録された記録マークの記録幅は一定であり、再生波形の中間部も平らで波形歪みを起こしていない。

図５は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍがともに小さい場合を示している。この場合、記録された１１Ｔ記録マークの前端部および後端部に比べ中間部の記録幅が細くなり、再生波形の中間部が明側に歪んだ波形となる。

波形歪み検出回路９は、たとえば１１Ｔ記録マークの再生波形の場合、基準再生クロックでサンプルされた１２個の検出値（図５のＳ０〜Ｓ１１）の最小値（Ｓ１０）と中間部の極大値（Ｓ６）、および非マーク部の検出値（Ｓ１４）に基づいて波形歪み量ζを算出する。図５においては、１１Ｔ記録マークに対する再生波形の最小値はＳ１０であり、中間部の極大値はＳ６、非マーク部の検出値はＳ１４であるので、波形歪み量ζは、ζ＝（Ｓ６−Ｓ１０）／（Ｓ１４−Ｓ１０）として求められる。

許容波形歪みパワー算出回路１０は、記録パワーＰｏ１からＰｏ６での波形歪み量と許容波形歪み量ζｓとに基づいて、許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓを算出する（Ｓ２０９）。

ここで、許容波形歪み量ζｓとは、光学的情報記録再生装置において、記録された記録マークが記録不足状態になると、図５に示すように再生波形の中間部の振幅が減少し、最悪の場合、非マークとして検出する可能性があり、これを防ぐため、再生時の波形歪み量で判定する波形歪み量の基準値である。

図６は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζおよび許容上限変調度ｍｓ、許容波形歪み量ζｓの関係を示すグラフである。図６において、記録パワーＰｏをＰｏ１からＰｏ６と変化させて記録した記録パワー学習用記録データの再生信号の各記録パワーでの変調度と許容上限変調度ｍｓとに基づいて、許容変調度パワー算出回路８は、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｏ＿ｍｓを求め、各記録パワーでの波形歪み量と許容波形歪み量ζｓとに基づいて、許容波形歪みパワー算出回路１０は、許容波形歪み記録パワーＰｏ＿ζｓを求める。

許容パワー範囲決定回路１１は、許容される変調度範囲としては許容上限変調度ｍｓ以下の範囲で、許容される波形歪み範囲としては許容波形歪み量ζｓ以下の範囲であるため（図２のＳ２１０における判断でＹｅｓ）、許容記録パワー範囲を許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓ以上でかつ許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｏ＿ｍｓ以下の範囲に決定する（Ｓ２１１）。なお、本明細書での説明では省略しているが、変調度の下限値は規格書等に規定されており、もし許容下限変調度に対応した記録パワーが許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓよりも大きな場合は、許容記録パワー範囲の下限値は、許容下限変調度に対応した記録パワーに決定される。

許容パワー範囲決定回路１１で決定された許容記録パワー範囲に基づいて、最適記録パワー決定回路１３は情報を記録する最適記録パワーＰｗを決定する（Ｓ２１２）。最適記録パワーＰｗは、許容記録パワー範囲の内、例えばジッタ値がもっとも低い記録パワーを選択することにより決定される。

最適記録パワー決定回路１３で決められた最適記録パワーＰｗが、データ領域２１（図１６）に情報を記録する記録パワーとしてレーザ出力制御回路４に送られ情報が記録される。

ここで、光学的情報記録再生装置によっては、光ディスク１とピックアップ２の特性差に起因して、許容記録パワー範囲が求められない場合が発生する。

図７は、図６と同様、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζ（点線）および許容上限変調度ｍｓ、許容波形歪み量ζｓの関係を示したグラフである。図７から分かるように、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｏ＿ｍｓが許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓ０よりも小さくなり（図２のＳ２１０における判断でＮｏ）、許容記録パワー範囲が決定できない。

このような場合、許容パワー範囲決定回路１１は、記録パターン発生回路５に対し、例えば９Ｔマーク長以上のマークに対しては中間部の一部に第１の記録パワーの波形（中間パルス）を出力するように指令する（Ｓ２１３の判断でＮｏにより分岐したＳ２１４）。

図８は、１１Ｔ記録パターンの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを出した場合における、記録データ波形（ａ）、レーザ駆動信号（ｂ）、記録された１１Ｔ記録マークの形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークに対する再生波形（ｄ）を示す概略図である。図８において、記録パターンの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成したことにより、記録マークの中間部の幅が太くなり、図５と比較して再生信号の波形歪みが改善されることが分かる。

図７において、記録マークの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成したことにより、同一のＰｏ、Ｐｍの値で波形歪み量が少なくなる（実線）ため、許容波形歪み量ζｓに対応した記録パワーＰｏ＿ζｓ１が小さくなり、許容記録パワー範囲を決定することができる。

また、この記録マークの中間部の一部に生成する第１の記録パワーを有する中間パルスの幅を徐々に大きくする（図２のＳ２１３の判断でＹｅｓにより分岐したＳ２１５）ことにより、波形歪みを徐々に改善できる。従って、一度この中間パルスを生成しても、まだ許容記録パワー範囲が決定できない場合には、この中間パルスの幅を大きくして、再度記録パワー学習をする（Ｓ２０４に戻る）ことにより、許容記録パワー範囲を求めることができる。

なお、図７に点線で示したような事態が発生する可能性が極めて低い場合もある。その場合は、中間パルスを挿入するための構成（ステップＳ２１３〜ステップＳ２１５）は、必須ではない。中間パルスを挿入可能でなくとも、実用上の支障はないからである。また、中間パルスを挿入する構成を設ける場合であっても、パルス幅を可変とする（ステップＳ２１５）構成は、実用的には省略可能な場合もある。

また、以上のように、記録マークの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを出力することに代えて、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍを変更して第２の記録パワーＰｍを高めることによっても、図７に点線で示した、許容記録パワー範囲が決定できない問題を解消することが可能である。他の条件との兼ね合いを考慮して、そのような方法を採用すればよい。

また、以上の説明では、許容変調度パワー算出回路、波形歪みパワー算出回路、許容パワー範囲決定回路、最適記録パワー決定回路等といった回路構成として説明したが、これらと同等のことを例えばマイクロコンピュータ等の演算で行わせても同様な結果になることは言うまでもない。

（実施の形態２）
図９は、本発明の実施の形態２に係る光学的情報記録再生装置の一構成例を示すブロック図である。なお、図９において、実施の形態１で参照した図１と同じ部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。以下では主に、実施形態１との相違点について説明する。

図９において、１１０は第２の光強度算出手段としての目標波形歪みパワー比算出回路であり、波形歪み検出回路９により検出された再生信号の波形歪みζと目標波形歪み量ζｔとに基づいて、目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔを算出する。

１１１は光強度比決定手段としての記録パワー比決定回路であり、許容変調度パワー算出回路８により算出された許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓと目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔとに基づいて、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍζを決定する。

１１２は記録出力可変手段としての中間部記録パワー可変回路であり、記録パワー学習領域で記録パワー学習を行う際に、レーザ出力制御回路４に対し、所定のマーク長以上のマーク形成においては、記録波形の前端部および後端部については記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏでレーザビームを照射し、中間部については第１の記録パワー以下の第２の記録パワーＰｍでレーザビームを照射するとともに、中間部の記録パワーＰｍを段階的に可変設定するようレーザ出力制御回路４に指令する。

次に、以上のように構成された光学的情報記録再生装置における記録パワー学習方法について、図９に加えて、図１０を参照して説明する。図１０は、本実施の形態よる記録光強度学習方法における手順を示すフローチャートである。

光学的情報記録再生装置が記録パワー学習を行う場合、実施の形態１と同様に、まず光ディスク１上に記録されている初期記録情報である推奨記録パワーＰoｉ、推奨記録パワー比εｉ、推奨記録発光波形等を初期記録情報読み込み回路６により読み込む（Ｓ２０１）。

また、初期記録情報読み込み回路６は、読み込んだ推奨値に基づいて、最適な記録パワーを求めるための第１の記録パワーＰｏ、第２の記録パワーＰｍ、第２の記録パワー増分ΔＰｍ、記録パワー学習用記録パターン波形を、記録パターン発生回路５および中間部記録パワー可変回路１１２に送り設定する（Ｓ３０２）。

次に、ピックアップ２を光ディスク１の内周部に設けられた記録パワー学習領域２２（図１６）に移動させる（Ｓ２０３）。

次に、ステップＳ３０４の処理を以下のように行う。まず、記録パターン発生回路５は、記録パワー学習用記録データとしてたとえばランダムな８−１６エンコードデータを受けて、３Ｔ〜１１Ｔおよび１４Ｔ長マークを記録するため、３Ｔおよび４Ｔマークについては記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏで、５Ｔマーク長以上のマークについては前端部および後端部は記録パワーの強い第１の記録パワーＰｏで、中間部は第１の記録パワーＰｏ以下の第２の記録パワーＰｍでレーザダイオードを発光させるための記録パワー学習用記録パターンを出力する。

中間部記録パワー可変回路１１２は、初期記録情報読み込み回路６からの指令により、第１の記録パワーＰｏを一定に維持し、第２の記録パワーＰｍの初期記録パワーＰｍ１や、記録パワー比（Ｐｏ／Ｐｍ）を可変して記録するための第２の記録パワーＰｍ２、Ｐｍ３、…（Ｐｍ（ｉ）（ｉ＝１、２、３、…）を求め、レーザ出力制御回路４に送り設定する。

レーザ出力制御回路４は、中間部記録パワー可変回路１１２からの指令に基づいて、記録パターンの前端部および後端部においては光強度の強い第１の記録パワーＰｏを、中間部では第２の記録パワーＰｍとなるようレーザ駆動回路３に指令を送る。そして記録パワー学習領域内の所定の領域に、第１の記録パワーＰｏ、第２の記録パワーＰｍ１でパワー学習用記録データを記録する。その次に、第１の記録パワーＰｏ、第２の記録パワーＰｍ１をΔＰｍ増分させたＰｍ２で、記録パワー学習領域内の別の箇所にパワー学習用記録データを記録する。この操作を所定の回数、例えば６回繰り返し、パワー学習用記録データを記録する。以上がステップＳ３０４での処理である。

パワー学習用記録データの再生時（Ｓ２０５）には、実施の形態１と同様に、変調度検出回路７が、第１の記録パワーＰｏ、複数の第２の記録パワーＰｍ１〜Ｐｍ６で記録されたマークに対する再生信号の変調度ｍを検出する（Ｓ３０６）。許容変調度パワー算出回路８は、複数の第２の記録パワーＰｍ１〜Ｐｍ６で記録された記録マークに対する再生信号の変調度と許容上限変調度ｍｓとに基づいて、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓを算出する（Ｓ３０７）。

また、パワー学習用記録データの再生時（Ｓ２０５）には、波形歪み検出回路９が、たとえば１１Ｔ長マークに対する再生信号の波形歪み量ζを検出する（Ｓ３０８）。ここで、図１１および図１２を参照して、記録パワー比と波形歪みとの関係を説明する。

図１１は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが大きくて、第２の記録パワーＰｍが小さい場合における各波形および記録マークを示している。この場合、記録された１１Ｔ記録マークの前端部および後端部に比べて中間部の記録幅が細くなり、再生波形の中間部が明側に歪んだ波形となる。

図１２は、記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが小さくて、第２の記録パワーＰｍが大きい場合における各波形および記録マークを示している。この場合、記録された１１Ｔ記録マークの前端部および後端部に比べて中間部の記録幅が太くなり、再生波形の中間部が暗側に歪んだ波形となる。

そこで、目標波形歪みパワー比算出回路１１０は、第２記録パワーＰｍ１からＰｍ６で記録された１１Ｔマークに対する再生信号の波形歪み量と目標波形歪み量ζtとに基づいて、目標波形歪み量ζtに対応した記録パワーＰｍ＿ζtを算出する（図１０のＳ３０９）。

ここで、目標波形歪み量ζｔとは、光学的情報記録再生装置において、記録された記録マークが記録過不足状態になると、図１１および図１２に示すように、再生波形の中間部の振幅が減少した場合は、非マークとして検出する可能性が発生し、再生波形の中間部の振幅が増加しすぎると、記録マークがトラック溝を覆いトラック溝形状を壊すようになることを防ぐため、再生時の適正な波形歪み量で判定する波形歪み量の基準値である。

図１３は、第１の記録パワーＰｏを一定に維持して第２の記録パワーＰｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζおよび許容上限変調度ｍｓ、目標波形歪み量ζｔの関係を示すグラフである。記録パワーＰｍをＰｍ１からＰｍ６と変化させて記録した記録パワー学習用記録データに対する再生信号に対して、各記録パワーでの変調度と許容上限変調度ｍｓとに基づいて、許容変調度パワー算出回路８は、許容上限変調度に対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓを求め、各記録パワーでの波形歪み量と目標波形歪み量ζｔとに基づいて、目標波形歪みパワー算出回路１１０は、目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔを求める。

記録パワー比決定回路１１１は、目標の波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔが、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓ以下の領域にある場合（図１０のＳ３１０の判断でＹｅｓ）、第１の記録パワーＰｏと、目標波形歪みζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔとの比ε＿ζｔ（＝Ｐｏ／Ｐｍ＿ζｔ）を最適記録パワー比に決定する（Ｓ３１１）。

記録パワー比決定回路１１１で決定された最適記録パワー比に基づいて、最適記録パワー決定回路１３は、情報を記録する際の最適記録パワーＰｗを決定する。最適記録パワーＰｗは、最適記録パワー比ε＿ζｔを用いて、例えばアシンメトリが所望の値となる記録パワーを選択することにより決定される。

最適記録パワー決定回路１３で決められた最適記録パワーＰｗが、データ領域に情報を記録する記録パワーとしてレーザ出力制御回路４に送られ、情報が記録される。

また、光学的情報記録再生装置によっては、光ディスク１とピックアップ２の特性差に起因して最適記録パワー比が求められない場合が発生する。

図１４は、図１３と同様に、第１の記録パワーＰｏを一定に維持して第２の記録パワーＰｍを変化させた場合における変調度ｍ、波形歪み量ζ（点線）および許容上限変調度ｍｓ、目標波形歪み量ζｔの関係を示すグラフである。図１４から分かるように、許容上限変調度ｍｓに対応した記録パワーＰｍ＿ｍｓが目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔ０よりも小さくなり（図１０のＳ３１０の判断でＮｏ）、最適記録パワー比ε＿ζｔが決定できない。

このような場合、記録パワー比決定回路１６は、記録パターン発生回路５に対し、例えば９Ｔマーク長以上のマークに対して、中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する波形（中間パルス）を出力するように指令する（図１０のＳ２１３の判断でＮｏにより分岐したＳ２１４）。

図１４において、記録マークの中間部の一部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成したことにより、同一のＰｍの値で波形歪み量が少なくなる（実線）ため、目標波形歪み量ζｔに対応した記録パワーＰｍ＿ζｔが小さくなり、このため最適記録パワー比ε＿ζｔを決定することができる。

また、この記録マークの中間部の一部に生成する第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスの幅を徐々に大きくする（図１０のＳ２１３の判断でＹｅｓにより分岐したＳ２１５）ことにより、波形歪みを徐々に改善できる。したがって、一度この中間パルスを生成しても、まだ最適記録パワー比ε＿ζｔが決定できない場合には、中間パルスの幅を大きくして、再度記録パワー学習をする（図１０のＳ３０４に戻る）ことで、最適記録パワー比ε＿ζｔを求めることができる。

なお、図１４に点線で示したような事態が発生する可能性が極めて低い場合もある。その場合は、中間パルスを挿入するための構成（ステップＳ２１３〜ステップＳ２１５）は、必須ではない。中間パルスを挿入可能でなくとも、実用上の支障はないからである。また、中間パルスを挿入する構成を設ける場合であっても、パルス幅を可変とする（ステップＳ２１５）構成は、実用的には省略可能な場合もある。

なお、以上の説明では、許容変調度パワー算出回路、目標波形歪みパワー算出回路、最適パワー比決定回路、最適記録パワー決定回路等といった回路構成として説明したが、これらと同等のことを例えばマイクロコンピュータ等の演算で行わせても同様な結果になることは言うまでもない。

本発明によれば、記録パワーが大き過ぎることによるトラック溝の劣化を防ぐとともに波形歪みが発生することがなく、情報記録時の記録パワーを最適化できるという効果が得られる。

また、目標波形歪み量に対応した記録パワー比を、記録パワーが大き過ぎることによるトラック溝の劣化が発生しない範囲で決められることにより、情報記録時の記録パワーを最適化できるという効果が得られる。

本発明の実施の形態１に係る光学的情報記録再生装置の一構成例を示すブロック図である。 本発明の実施の形態１に係る記録光強度学習方法における手順を示すフローチャートである。 正常な記録の場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。 記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍがともに大きな場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。 記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍがともに小さい場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。 記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが一定で、記録パワーＰｏ、Ｐｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζおよび許容上限変調度ｍｓ、許容波形歪み量ζｓの関係を示すグラフである。 図６に対して、記録パターンの中間部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成した場合における、記録パワーＰｏと波形歪み量ζの関係の変化を示すグラフである。 記録パターンの中間部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成した場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。 本発明の実施の形態２に係る光学的情報記録再生装置の一構成例を示すブロック図である。 本発明の実施の形態２に係る記録光強度学習方法における手順を示すフローチャートである。 記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが大きくて、第２の記録パワーＰｍが小さい場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。 記録パワー比Ｐｏ／Ｐｍが小さくて、第２の記録パワーＰｍが大きい場合における、記録パワー学習用記録データの１１Ｔ波形（ａ）、レーザ駆動信号波形（ｂ）、１１Ｔ記録マークの概略形状（ｃ）、１１Ｔ記録マークの再生波形（ｄ）を示す図である。 第１の記録パワーＰｏを一定に維持して第２の記録パワーＰｍを変化させた場合における、変調度ｍ、波形歪み量ζおよび許容上限変調度ｍｓ、目標波形歪み量ζｔの関係を示すグラフである。 図１３に対して、記録パターンの中間部に第１の記録パワーＰｏを有する中間パルスを生成した場合における、記録パワーＰｏと波形歪み量ζの関係の変化を示すグラフである。 従来の光学的情報記録再生装置の構成例を示すブロック図である。 記録パワー学習領域を有する光ディスクの構造を模式的に示す平面図である。 従来の記録パワー学習時における記録パワーの段階的な変化を示す図である。 アシンメトリ値を説明するための、適正な記録パワーで情報が記録された場合の再生波形を示す図である。 記録パワーＰｗと再生信号のアシンメトリ値Ａｓとの関係を示すグラフである。 マルチパルス方式で高速記録を行った場合における、記録データ波形、記録パターン波形、レーザ発光波形、記録されたマーク形状、および再生波形を示す図である。 非マルチパルス方式で高速記録を行った場合における、記録データ波形、記録波形、その時のレーザ発光波形、記録されたマーク形状、および再生波形を示す図である。

符号の説明

１ 光ディスク
２ ピックアップ
３ レーザ駆動回路
４ レーザ出力制御回路
５ 記録パターン発生回路
６ 初期記録情報読み込み回路
７ 変調度検出回路
８ 許容変調度パワー算出回路
９ 波形歪み検出回路
１０ 許容波形歪み算出回路
１１ 許容パワー範囲決定回路
１２ 記録パワー可変回路
１３ 最適記録パワー決定回路
１４ 切換スイッチ
１８ アシンメトリ検出回路
１９ 目標アシンメトリ記録パワー決定回路
２０ 記録パワー可変回路
２１ データ領域
２２ 記録パワー学習領域
１１０ 目標波形歪みパワー算出回路
１１１ 記録パワー比決定回路
１１２ 中間部記録パワー可変回路

Claims (13)

1. 情報を複数の長さのマークにより記憶する光学的記録媒体と、
   前記光学的記録媒体に光ビームを照射することによりマークを形成する光照射手段と、
   前記光照射手段に対し所望の光強度で発光させる光駆動手段と、
   記録するマーク長に応じて記録波形を制御する記録波形制御手段と、
   前記光学的記録媒体内の光強度学習領域に所望の光強度でテスト記録を行うよう前記光駆動手段に指令を出す記録出力可変手段と、
   テスト記録されたマークに対する再生信号の振幅から変調度を検出する変調度検出手段と、
   テスト記録されたマークに対する再生信号の波形歪みを検出する波形歪み検出手段と、
   前記光強度学習領域に複数の光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各変調度と許容上限変調度とに基づいて、前記光学的記録媒体への許容上限変調度に対応した記録光強度を算出する第１の光強度算出手段と、
   前記光強度学習領域に複数の光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各波形歪み量と許容波形歪み量とに基づいて、前記光学的記録媒体への許容波形歪み量に対応した記録光強度を算出する第２の光強度算出手段と、
   前記許容上限変調度に対応した記録光強度と前記許容波形歪み量に対応した記録光強度とに基づいて、前記光学的記録媒体に情報を記録する際の光強度範囲を決定する許容光強度範囲決定手段と、
   前記光強度範囲決定手段により決定された光強度範囲内で最適な記録光強度を決定する最適光強度決定手段とを備えた光学的情報記録再生装置。
2. 前記記録波形制御手段は、第１のマーク長より短いマークの記録に際しては光強度の強い第１の記録光強度を有する記録波形を出力し、前記第１のマーク長以上のマークの記録に際しては記録波形の前端部および後端部については前記第１の記録光強度を有し、記録波形の中間部については前記第１の記録光強度以下の第２の記録光強度を有する記録波形を出力する請求項１記載の光学的情報記録再生装置。
3. 前記記録出力可変手段は、前記第１の記録光強度と前記第２の記録光強度の比率を一定に維持しつつ、前記第１および第２の記録光強度を可変設定する請求項２記載の光学的情報記録再生装置。
4. 前記許容光強度範囲決定手段は、前記許容上限変調度に対応した記録光強度と前記許容波形歪み量に対応した記録光強度を比較し、
   前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記許容波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、前記許容上限変調度に対応した記録光強度を上限値とし、前記許容波形歪み量に対応した記録光強度を下限値として記録光強度範囲を決定し、
   前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記許容波形歪み量に対応した記録光強度よりも小さい場合は、前記第１のマーク長よりも長い第２のマーク長以上の記録波形の中間部の一部に前記第１の光強度を有する記録波形を出力するよう前記記録波形制御手段に指令を出す請求項３記載の光学的情報記録再生装置。
5. 前記許容光強度範囲決定手段は、前記許容上限変調度に対応した光記録強度と前記許容波形歪み量に対応した記録光強度を比較し、
   前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記許容波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、前記許容上限変調度に対応した記録光強度を上限値とし、前記許容波形歪み量に対応した記録光強度を下限値として記録光強度範囲を決定し、
   前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記許容波形歪み量に対応した記録光強度よりも小さい場合は、前記第１の記録光強度と前記第２の記録光強度の比率を前記第２の記録光強度を高めるよう変更した比率に変えるよう前記記録出力可変手段に指令を出す請求項３記載の光学的情報記録再生装置。
6. 情報を複数の長さのマークにより記憶する光学的記録媒体と、前記光学的記録媒体に光ビームを照射することによりマークを形成する光照射手段と、
   前記光照射手段に対し所望の光強度で発光させる光駆動手段と、
   記録するマーク長が第１のマーク長より短いマークの場合は光強度の強い第１の記録光強度を有する記録波形を出力し、記録するマーク長が前記第１のマーク長以上のマークの場合は、記録波形の前端部および後端部については前記第１の記録光強度を有し、記録波形の中間部については前記第１の記録光強度以下の第２の記録光強度を有する記録波形を出力する記録波形制御手段と、
   前記第１の記録光強度を一定に維持し前記第２の記録光強度を可変設定して、前記光学的記録媒体内の光強度学習領域においてテスト記録を行うよう前記光駆動手段に指令を出す記録出力可変手段と、
   テスト記録されたマークに対する再生信号の振幅から変調度を検出する変調度検出手段と、
   テスト記録されたマークに対する再生信号の波形歪みを検出する波形歪み検出手段と、
   前記光強度学習領域に複数の前記第２の記録光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各変調度と許容上限変調度とに基づいて、前記光学的記録媒体への許容上限変調度に対応した記録光強度を算出する第１の光強度算出手段と、
   前記光強度学習領域に複数の前記第２の記録光強度でテスト記録された複数のマークに対する再生信号の各波形歪み量と目標波形歪み量とに基づいて、前記光学的記録媒体への目標波形歪み量に対応した記録光強度を算出する第２の光強度算出手段と、
   許容上限変調度に対応した記録光強度と前記目標波形歪み量に対応した記録光強度とに基づいて、前記光学的記録媒体に情報を記録する際の記録波形の各部における記録光強度の比率を決定する光強度比率決定手段と、
   前記光強度比率決定手段により決定された記録光強度比率で最適な記録光強度を決定する最適光強度決定手段とを備えた光学的情報記録再生装置。
7. 前記光強度比率決定手段は、前記許容上限変調度に対応した記録光強度と前記目標波形歪み量に対応した記録光強度を比較し、
   前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記目標波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、前記目標波形歪み量に対応した記録光強度を用いて前記記録光強度の比率を決定し、
   前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記目標波形歪み量に対応した記録光強度よりも小さい場合は、前記第１のマーク長よりも長い第２のマーク長以上の記録波形の中間部の一部に前記第１の記録光強度を有する記録波形を出力するよう前記記録波形制御手段に指令を出す請求項６記載の光学的情報記録再生装置。
8. 光強度学習領域を有する光学的記録媒体に光ビームを照射し複数の長さのマークを形成することにより情報を記録し、所定のマーク長以上のマーク形成においては、記録波形の前端部および後端部については光強度の強い第１の記録光強度に設定し、記録波形の中間部については前記第１の記録光強度以下の第２の記録光強度に設定した記録波形で光ビームを照射することによりマークを形成する光学的情報記録再生装置の記録光強度を学習する方法であって、
   （ａ）前記第１の記録光強度と前記第２の記録光強度の比率を一定に保ちつつ、前記第１の記録光強度および前記第２の記録光強度をそれぞれ所定の変化量で段階的に変化させ、略最長マークを含む複数のマークからなる光強度学習パターンを前記光強度学習領域に記録するステップと、
   （ｂ）記録した前記光強度学習パターンにおける複数のマークに対する再生信号の変調度を検出するステップと、
   （ｃ）記録した前記光強度学習パターンにおける前記略最長マークに対する再生信号の波形歪み量を検出するステップと、
   （ｄ）検出した前記変調度と許容上限変調度とに基づいて、許容上限変調度に対応した記録光強度を求めるステップと、
   （ｅ）検出した前記波形歪み量と許容波形歪み量とに基づいて、許容歪み量に対応した記録光強度を求めるステップと、
   （ｆ）前記許容上限変調度に対応した記録光強度と前記許容波形歪み量に対応した記録光強度を比較するステップと、
   （ｇ）前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記許容波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、前記許容上限変調度に対応した記録光強度を上限値とし、前記許容波形歪み量に対応した記録光強度を下限値として、情報を記録する際の記録光強度を前記上限値と前記下限値の間に設定するステップとを備えた記録光強度学習方法。
9. （ｈ）前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記許容波形歪み量に対応した記録光強度よりも小さい場合でかつ前記記録波形の中間部が前記第２の記録光強度に設定されている場合は、前記中間部の一部を前記第１の記録光強度に設定するステップを更に備えた請求項８記載の記録光強度学習方法。
10. （ｉ）前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記許容波形歪み量に対応した記録光強度よりも小さい場合でかつ前記記録波形の中間部の一部が前記第１の記録光強度に設定されている場合は、前記中間部の一部を時間的に長くするステップを更に備えた請求項９記載の記録光強度学習方法。
11. 光強度学習領域を有する光学的記録媒体に光ビームを照射し複数の長さのマークを形成することにより情報を記録し、所定のマーク長以上のマーク形成においては、記録波形の前端部および後端部については光強度の強い第１の記録光強度に設定し、記録波形の中間部については前記第１の記録光強度以下の第２の記録光強度に設定した記録波形で光ビームを照射することによりマークを形成する光学的情報記録再生装置の記録光強度を学習する方法であって、
    （ａ）前記第１の記録光強度を一定として前記第２の記録光強度を所定の変化量で段階的に変化させ、略最長マークを含む複数のマークからなる光強度学習パターンを前記光強度学習領域に記録するステップと、
    （ｂ）記録した前記光強度学習パターンにおける複数のマークに対する再生信号の変調度を検出するステップと、
    （ｃ）記録した前記光強度学習パターンにおける前記略最長マークに対する再生信号の波形歪み量を検出するステップと、
    （ｄ）検出した前記変調度と許容上限変調度とに基づいて、許容上限変調度に対応した記録光強度を求めるステップと、
    （ｅ）検出した前記波形歪み量と目標波形歪み量とに基づいて、目標波形歪み量に対応した記録光強度を求めるステップと、
    （ｆ）前記許容上限変調度に対応した記録光強度と前記目標波形歪み量に対応した記録光強度を比較するステップと、
    （ｇ）前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記目標波形歪み量に対応した記録光強度以上である場合は、前記目標波形歪み量に対応した記録光強度を第２の記録光強度として設定し、前記第１の記録光強度と設定した前記第２の記録光強度の比率を最適な光強度比率として決定するステップとを備えた記録光強度学習方法。
12. （ｈ）前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記目標波形歪み量に対応した記録光強度よりも小さい場合でかつ前記記録波形の中間部が前記第２の記録光強度に設定されている場合は、前記中間部の一部を前記第１の記録光強度に設定するステップを更に備えた請求項１０記載の記録光強度学習方法。
13. （ｉ）前記許容上限変調度に対応した記録光強度が前記目標波形歪み量に対応した記録光強度よりも小さい場合でかつ前記記録波形の中間部の一部が前記第１の記録光強度に設定されている場合は、前記中間部の一部を時間的に長くするステップを更に備えた請求項１２記載の記録光強度学習方法。

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