JPS63244318A - 光デイスク再生装置 - Google Patents
光デイスク再生装置Info
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- JPS63244318A JPS63244318A JP7770487A JP7770487A JPS63244318A JP S63244318 A JPS63244318 A JP S63244318A JP 7770487 A JP7770487 A JP 7770487A JP 7770487 A JP7770487 A JP 7770487A JP S63244318 A JPS63244318 A JP S63244318A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 23
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半導体レーザなどの光ビームを用いて信号を再
生する光ディスク再生装置に関するものである。
生する光ディスク再生装置に関するものである。
従来の技術
近年レーザ光を1μm程度に絞って光ディスクから信号
を再生することが行なわれている。
を再生することが行なわれている。
このような装置では光ディスクにレーザ光ビームを照射
し、光ディスク上の再構成によりプリフォーマットされ
たビットと反射率の差による濃淡のビットを読み取って
いる。
し、光ディスク上の再構成によりプリフォーマットされ
たビットと反射率の差による濃淡のビットを読み取って
いる。
第2図に従来の光ディスク再生装置の一例を示す。
半導体レーザ1のレーザビームは集光レンズ2で平行ビ
ームに変換され、全反射ミラー4によシ絞シレンズ5に
入射される。絞シレンズ6はこの入射光を光ディスク8
上にφ1μm1μm程小スポットに絞り込む。光ディス
ク8からの反射光は再びレンズ6、全反射ミラー4を経
てビームスプリッタ3に導かれ、光検出器6によシ受光
され電気信号に変換される。7はディスクモータでディ
スク8を回転させている。10はプリアンプで光検出器
信号を増幅している。プリアンプ出力の再生信号はアド
レス信号処理回路11とデータ信号処理回路12へ送ら
れる。アドレス信号が光ディスク上に凹凸の溝構造でプ
リフォーマットされたビットの再生信号であるのに対し
て、データ信号は反射率の差による濃淡のピットの再生
信号であるために、両者は信号振幅、周波数帯域、周波
数特性が異なる。そこでそれぞれ別の回路を設けて処理
している。画処理回路の出力は2値化信号となる。−刃
高域フィルタ13によシ直流成分を除去された再生信号
は低域通過フィルタ14によシエンベロープ成分が抽出
される。このエンベロープ電圧は比較器15で一定の直
流電圧である検出レベルと比較されて値化信号となる。
ームに変換され、全反射ミラー4によシ絞シレンズ5に
入射される。絞シレンズ6はこの入射光を光ディスク8
上にφ1μm1μm程小スポットに絞り込む。光ディス
ク8からの反射光は再びレンズ6、全反射ミラー4を経
てビームスプリッタ3に導かれ、光検出器6によシ受光
され電気信号に変換される。7はディスクモータでディ
スク8を回転させている。10はプリアンプで光検出器
信号を増幅している。プリアンプ出力の再生信号はアド
レス信号処理回路11とデータ信号処理回路12へ送ら
れる。アドレス信号が光ディスク上に凹凸の溝構造でプ
リフォーマットされたビットの再生信号であるのに対し
て、データ信号は反射率の差による濃淡のピットの再生
信号であるために、両者は信号振幅、周波数帯域、周波
数特性が異なる。そこでそれぞれ別の回路を設けて処理
している。画処理回路の出力は2値化信号となる。−刃
高域フィルタ13によシ直流成分を除去された再生信号
は低域通過フィルタ14によシエンベロープ成分が抽出
される。このエンベロープ電圧は比較器15で一定の直
流電圧である検出レベルと比較されて値化信号となる。
例えばエンベロープ電圧が検出レベルよ勺大きければ”
1#。
1#。
小さければ”o”とする。第3図に再生信号とエンベロ
ープ2値化信号の関係を示す。Aはプリアンプ出力の再
生信号である。Bは比較器の出力のエンベロープ2値化
信号で、アドレスとデータ記録区間では“1”、データ
未記録区間では0”となっている。
ープ2値化信号の関係を示す。Aはプリアンプ出力の再
生信号である。Bは比較器の出力のエンベロープ2値化
信号で、アドレスとデータ記録区間では“1”、データ
未記録区間では0”となっている。
エンベロープ2値化信号は記録/未記録判別器18とア
ドレス/データ切換器19に導かれる。
ドレス/データ切換器19に導かれる。
まず記録/未記録判別器18ではデータ信号が存在する
場合、すなわちデータ記録区間のみ信号を出力し、デー
タ信号が存在しない場合、すなわちデータ未記録区間で
はなにも出力しないようにしている。これはデータ信号
処理回路12がノイズのような微弱な信号でも2値化し
て出力してしまうため、復調器20に無意味な2値化信
号を送るのを防ぐためである。
場合、すなわちデータ記録区間のみ信号を出力し、デー
タ信号が存在しない場合、すなわちデータ未記録区間で
はなにも出力しないようにしている。これはデータ信号
処理回路12がノイズのような微弱な信号でも2値化し
て出力してしまうため、復調器20に無意味な2値化信
号を送るのを防ぐためである。
記録/未記録判別器18とアドレス信号処理回路11の
出力はアドレス/データ切換器19に入力され再び1本
の信号線となる。アドレス/データ切換器19はエンベ
ロープ2値化信号のうちアドレス信fのエンベロープと
、アドレスの終わシを示すエッヂ(第3図ではb 、
b’ の立ち下がシエッヂ)を利用してアドレス信号
区間とデータ信号区間を区別して切シ換え復調器2oに
送っている。
出力はアドレス/データ切換器19に入力され再び1本
の信号線となる。アドレス/データ切換器19はエンベ
ロープ2値化信号のうちアドレス信fのエンベロープと
、アドレスの終わシを示すエッヂ(第3図ではb 、
b’ の立ち下がシエッヂ)を利用してアドレス信号
区間とデータ信号区間を区別して切シ換え復調器2oに
送っている。
発明が解決しようとする問題点。
このような装置ではデータ未記録区間であるのにノイズ
や隣接トラックからの信号の漏れ込み(クロストーク)
により、あたかもデータが記録されているかのようなエ
ンベロープ2値化信号が検出されてしまう可能性がある
凹凸の溝構造のビットによるアドレス信号の振幅は、濃
淡のピットによるデータ信号の振幅よシ小さい。データ
未記録区間に着目してエンベロープ2値化信号がノイズ
やクロストークを検出しないように検出レベルを高めに
設定するとアドレス信号区間のエンベロープの2値化が
不安定になシ、アドレスの終わシを示すエッヂを正確に
検出することが困難になる。
や隣接トラックからの信号の漏れ込み(クロストーク)
により、あたかもデータが記録されているかのようなエ
ンベロープ2値化信号が検出されてしまう可能性がある
凹凸の溝構造のビットによるアドレス信号の振幅は、濃
淡のピットによるデータ信号の振幅よシ小さい。データ
未記録区間に着目してエンベロープ2値化信号がノイズ
やクロストークを検出しないように検出レベルを高めに
設定するとアドレス信号区間のエンベロープの2値化が
不安定になシ、アドレスの終わシを示すエッヂを正確に
検出することが困難になる。
つまシ検出レベルに対してアドレス信号区間のエンベロ
ープの振幅余裕が小さくなり、ディスク間でのアドレス
信号振幅のばらつき、ディスクの経年ffi化、ディス
クやレンズの汚れ、半導体レーザーのパワー変動による
振幅の変動があると正確な検出が困難になってしまう。
ープの振幅余裕が小さくなり、ディスク間でのアドレス
信号振幅のばらつき、ディスクの経年ffi化、ディス
クやレンズの汚れ、半導体レーザーのパワー変動による
振幅の変動があると正確な検出が困難になってしまう。
逆にアドレス振幅に着目して検出レベルを低めに設定す
るとノイズやクロストークを検出してしまい、データ未
記録区間にもかかわらず、記録済と判定してしまう可能
性がある。
るとノイズやクロストークを検出してしまい、データ未
記録区間にもかかわらず、記録済と判定してしまう可能
性がある。
また、データ信号区間に含まれる周波数成分とアドレス
信号区間に含まれる周波数成分は一致しないのが普通で
ある。通常はデータ信号区間の方が周波数帯域が広くよ
シ低い周波数成分を有している。
信号区間に含まれる周波数成分は一致しないのが普通で
ある。通常はデータ信号区間の方が周波数帯域が広くよ
シ低い周波数成分を有している。
アドレス信号の終わシを示すエッチを検出するためには
アドレス信号区間とデータ信号区間のギャップで、エン
ベロープ電圧が十分小さくなる必要がある。従って低域
通過フィルタの遮断周波数を高くしてギャップの間で信
号が平滑化されるのを防ぐ。ところがデータ信号区間で
は低い周波数成分を含むため低域通過フィルタの遮断周
波数が高いと低い周波数成分がエンベロープ電圧の変動
となって現われてしまう。この結果、前述のようにデー
タ未記録区間でのノイズやクロストークによる誤検出を
避けるため検出レベルを高く設定すると低周波数成分に
よるエンベロープ変動と検出レヘルが交差し、データ記
録区間内でエンベローブの2値化を誤ってしまう。
アドレス信号区間とデータ信号区間のギャップで、エン
ベロープ電圧が十分小さくなる必要がある。従って低域
通過フィルタの遮断周波数を高くしてギャップの間で信
号が平滑化されるのを防ぐ。ところがデータ信号区間で
は低い周波数成分を含むため低域通過フィルタの遮断周
波数が高いと低い周波数成分がエンベロープ電圧の変動
となって現われてしまう。この結果、前述のようにデー
タ未記録区間でのノイズやクロストークによる誤検出を
避けるため検出レベルを高く設定すると低周波数成分に
よるエンベロープ変動と検出レヘルが交差し、データ記
録区間内でエンベローブの2値化を誤ってしまう。
第4図にエンベロープ電圧と検出レベルの関係を示す。
Aは再生信号でbはデータ未記録区間にもかかわらず、
ノイズやクロストークによ勺信号が再生されている。A
のエンベロープ電圧がBである。Cはエンベロープの基
準電圧でfはaのノイズやクロストークで発生したエン
ベロープ電圧であシ、Cは振幅変動とデータ信号の低周
波成分により、エンベロープ電圧が低下している。dは
検出レベルで1のエンベロープ電圧は検出せず、Cのエ
ンベロープ電圧は検出できるように設定する必要がある
。
ノイズやクロストークによ勺信号が再生されている。A
のエンベロープ電圧がBである。Cはエンベロープの基
準電圧でfはaのノイズやクロストークで発生したエン
ベロープ電圧であシ、Cは振幅変動とデータ信号の低周
波成分により、エンベロープ電圧が低下している。dは
検出レベルで1のエンベロープ電圧は検出せず、Cのエ
ンベロープ電圧は検出できるように設定する必要がある
。
このように従来の1つの低域通過フィルタ、1つの比較
器による構成では、検出レベルの設定が非常に微妙であ
シ、ディスクによる再生信号振幅のばらつき、経年変化
、ディスクやレンズの汚れ、半導体レーザのパワー変動
などを考慮すると、長期に渡って安定にエンベロープ2
値化信号を得ることが困難であシ、アドレス信号とデー
タ信号の切り換えを誤った)、データ未記録区間ででた
らめな信号を復調器へ送ったシ、データ記録区間でデー
タ信号を復調器へ信号を送らなかったシする問題点があ
った。
器による構成では、検出レベルの設定が非常に微妙であ
シ、ディスクによる再生信号振幅のばらつき、経年変化
、ディスクやレンズの汚れ、半導体レーザのパワー変動
などを考慮すると、長期に渡って安定にエンベロープ2
値化信号を得ることが困難であシ、アドレス信号とデー
タ信号の切り換えを誤った)、データ未記録区間ででた
らめな信号を復調器へ送ったシ、データ記録区間でデー
タ信号を復調器へ信号を送らなかったシする問題点があ
った。
本発明は上記問題点に鑑み、長期に渡って安定にエンベ
ロープ2値化信号を得て、アドレス信号とデータ信号を
区別したり、データ記録区間とデータ未記録区間を区別
できる光ディスク再生装置を提供する事を目的としてい
る。
ロープ2値化信号を得て、アドレス信号とデータ信号を
区別したり、データ記録区間とデータ未記録区間を区別
できる光ディスク再生装置を提供する事を目的としてい
る。
問題点を解決するだめの手段
上記問題点を解決するために本発明は、2組の低域通過
フィルタと比較器を備え、各々別の検出レベルで低域通
過フィルタによるエンベロープ電圧を比較し、一方を用
いてアドレス信号とデータ信号を区別し、他方を用いて
データ記録区間とデータ未記録区間を区別するように構
成する。
フィルタと比較器を備え、各々別の検出レベルで低域通
過フィルタによるエンベロープ電圧を比較し、一方を用
いてアドレス信号とデータ信号を区別し、他方を用いて
データ記録区間とデータ未記録区間を区別するように構
成する。
作 用
上記手段によれば、ディスク間の再生信号振幅のばらつ
きや、経年変化、ディスクやレンズの汚れ、半導体レー
ザのパワー変動などによる再生信号振幅の変動があった
9、ノイズやクロストークの影響があったシしても、2
組の低域通過フィルタと比較器を備えて、それぞれ別の
検出レベルでエンベロープ電圧を比較する事にょシ、検
出余裕が大きくとれるので、アドレス信号とデータ信号
の区別とデータ記録区間と未記録区間の区別を判定に行
うことができる。
きや、経年変化、ディスクやレンズの汚れ、半導体レー
ザのパワー変動などによる再生信号振幅の変動があった
9、ノイズやクロストークの影響があったシしても、2
組の低域通過フィルタと比較器を備えて、それぞれ別の
検出レベルでエンベロープ電圧を比較する事にょシ、検
出余裕が大きくとれるので、アドレス信号とデータ信号
の区別とデータ記録区間と未記録区間の区別を判定に行
うことができる。
実施例
第1図に本発明の光ディスク再生装置の一実施例を示す
。第1図において第2図と同一番号を付したものは同じ
ものを示す。
。第1図において第2図と同一番号を付したものは同じ
ものを示す。
高域フィルタ13で直流成分を除去された再生信号は低
域通過フィルタ(1)14と低域通過フィルタ(2)1
6でエンベロープ成分が抽出され、それぞれ比較器(1
)15と比較器?)17に送られる。低域通過フィルタ
14と比較器(1)15の組合せはアドレス/データ切
換用であゃ、アドレス信号区間とデータ信号区間のギャ
ップでエンベロープ電圧が十分小さくなるように遮断周
波数を高く設定し、アドレス信号振幅変動の影響を受け
ないように検出レベルは低い電圧に設定する。これに対
して低域通過フィルタ16と比較器?)17の組合せは
データ記録/未記録判別用であり、データ信号の低周波
成分によるエンベロープ電圧の変動が起きないように遮
断周波数は低く設定し、ノイズやクロストークの影響を
受けないように検出レベルは高い周波数に設定する。
域通過フィルタ(1)14と低域通過フィルタ(2)1
6でエンベロープ成分が抽出され、それぞれ比較器(1
)15と比較器?)17に送られる。低域通過フィルタ
14と比較器(1)15の組合せはアドレス/データ切
換用であゃ、アドレス信号区間とデータ信号区間のギャ
ップでエンベロープ電圧が十分小さくなるように遮断周
波数を高く設定し、アドレス信号振幅変動の影響を受け
ないように検出レベルは低い電圧に設定する。これに対
して低域通過フィルタ16と比較器?)17の組合せは
データ記録/未記録判別用であり、データ信号の低周波
成分によるエンベロープ電圧の変動が起きないように遮
断周波数は低く設定し、ノイズやクロストークの影響を
受けないように検出レベルは高い周波数に設定する。
第6図に本発明の一実施例におけるエンベロープ電圧と
検出レベルの関係を示す。Aは比較器20入力で、低域
通過フィルタ2の遮断周波数が低いためエンベロープ電
圧は十分平滑化されている。
検出レベルの関係を示す。Aは比較器20入力で、低域
通過フィルタ2の遮断周波数が低いためエンベロープ電
圧は十分平滑化されている。
aは検出レベルでノイズやクロストークを検出しないよ
うに高いレベルに設定している。Bは比較器2の出力の
エンベロープ2値化信号である。Cは比較器1の入力で
、低域通過フィルタの遮断周波数が高いためアドレス信
号とデータ信号のギャップの部分dは十分低い電圧にな
っている。Cは検出レベルでアドレス信号のエンベロー
プ電圧に対して余裕がとれるように低く設定している。
うに高いレベルに設定している。Bは比較器2の出力の
エンベロープ2値化信号である。Cは比較器1の入力で
、低域通過フィルタの遮断周波数が高いためアドレス信
号とデータ信号のギャップの部分dは十分低い電圧にな
っている。Cは検出レベルでアドレス信号のエンベロー
プ電圧に対して余裕がとれるように低く設定している。
第1図で比較器(2)17の出力のエンベロープ2値化
信号により、記録/未記録判別器18はデー夕記録区間
のみデータ信号処理回路12からの信号を出力する。こ
の信号とアドレス信号処理回路11からの信号は比較器
(1)15の出力によって、アドレス/データ切換器1
9で区別して切シ換えられ、アドレス信号区間はアドレ
ス信号処理回路11からの信号が、データ信号区間はデ
ータ信号処理回路12からの信号が復調器20へ送られ
る。
信号により、記録/未記録判別器18はデー夕記録区間
のみデータ信号処理回路12からの信号を出力する。こ
の信号とアドレス信号処理回路11からの信号は比較器
(1)15の出力によって、アドレス/データ切換器1
9で区別して切シ換えられ、アドレス信号区間はアドレ
ス信号処理回路11からの信号が、データ信号区間はデ
ータ信号処理回路12からの信号が復調器20へ送られ
る。
発明の効果
以上のように本発明によれば、半導体レーザなどの光源
を用いた光ディスク再生装置の、アドレス信号とデータ
信号のエンベロープの検出による、アドレス信号区間と
データ信号区間の区別とデータの記録と未記録の区別が
、ディスク間の再生信号振幅のばらつきや、経年変化、
ディスクやレンズの汚れ、半導体レーザのパワー変動な
どによる再生信号振幅の変動があったシ、ノイズやクロ
ストークがあったりしても、長期に渡って安定に行なう
ことができ、実用的に極めて有用である。
を用いた光ディスク再生装置の、アドレス信号とデータ
信号のエンベロープの検出による、アドレス信号区間と
データ信号区間の区別とデータの記録と未記録の区別が
、ディスク間の再生信号振幅のばらつきや、経年変化、
ディスクやレンズの汚れ、半導体レーザのパワー変動な
どによる再生信号振幅の変動があったシ、ノイズやクロ
ストークがあったりしても、長期に渡って安定に行なう
ことができ、実用的に極めて有用である。
第1図は本発明における一実施例の光ディスク再生装置
のブロック図、第2図は従来の光ディスク再生装置のブ
ロック図、第3図は再生信号とエンベロープ2値化信号
の関係を示す波形図、第4図は従来の元ディスク再生装
置の再生信号とエンベロープ2値化信号の関係を示す波
形図、第6図は本発明の一実施例におけるエンベロープ
2値化信号を示す波形図である。 1・・・・・・半導体レーザ、8・・・・・・光ディス
ク、14・16・・・・・・低域通過フィルタ、15・
17・・・・・・比較器、18・・・・・・記録/未記
録判別器、19・・・・・・アドレス/データ切換器。
のブロック図、第2図は従来の光ディスク再生装置のブ
ロック図、第3図は再生信号とエンベロープ2値化信号
の関係を示す波形図、第4図は従来の元ディスク再生装
置の再生信号とエンベロープ2値化信号の関係を示す波
形図、第6図は本発明の一実施例におけるエンベロープ
2値化信号を示す波形図である。 1・・・・・・半導体レーザ、8・・・・・・光ディス
ク、14・16・・・・・・低域通過フィルタ、15・
17・・・・・・比較器、18・・・・・・記録/未記
録判別器、19・・・・・・アドレス/データ切換器。
Claims (1)
- アドレス信号とデータ信号を異なる領域に設けた光ディ
スクから信号を再生する装置であって、再生信号の直流
成分を除去し交流信号を得る手段と、第1の低域通過フ
ィルタで前記交流信号の第1のエンベロープ信号を得る
手段と、第1のエンベロープ信号を第1の検出レベルで
比較してアドレス信号とデータ信号を区別する手段と、
第2の低域通過フィルタで前記交流信号の第2のエンベ
ロープ信号を得る手段と、第2のエンベロープ信号を第
2の検出レベルで比較してデータ記録区間とデータ未記
録区間を区別する手段とを有する光ディスク再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7770487A JPS63244318A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 光デイスク再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7770487A JPS63244318A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 光デイスク再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63244318A true JPS63244318A (ja) | 1988-10-11 |
Family
ID=13641286
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7770487A Pending JPS63244318A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 光デイスク再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63244318A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04232617A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-08-20 | Samsung Electron Co Ltd | 光検出信号の雑音除去装置 |
US5710750A (en) * | 1995-09-22 | 1998-01-20 | Sony Corporation | Optical disc device |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP7770487A patent/JPS63244318A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04232617A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-08-20 | Samsung Electron Co Ltd | 光検出信号の雑音除去装置 |
US5710750A (en) * | 1995-09-22 | 1998-01-20 | Sony Corporation | Optical disc device |
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