JPS6293834A - イオン源 - Google Patents
イオン源Info
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- JPS6293834A JPS6293834A JP60231202A JP23120285A JPS6293834A JP S6293834 A JPS6293834 A JP S6293834A JP 60231202 A JP60231202 A JP 60231202A JP 23120285 A JP23120285 A JP 23120285A JP S6293834 A JPS6293834 A JP S6293834A
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Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はイオン源、特に酸素やふつ素糸のガスのイオン
を発生する為のイオン源に関する。
を発生する為のイオン源に関する。
近年、半導体プロセスのドライ化に伴い、プラズマ、特
にイオンビームを応用したエツチング装置のニーズカ高
マっている。この為のイオン源としては、例えば、特開
昭57−40845号公報等に示されるように、電子発
生室とプラズマ発生室とを別個に設けたものが提案され
ている。すなわち、第5図に示すように、イオン源は、
フィラメント室101、プラズマ室102より構成され
ている。
にイオンビームを応用したエツチング装置のニーズカ高
マっている。この為のイオン源としては、例えば、特開
昭57−40845号公報等に示されるように、電子発
生室とプラズマ発生室とを別個に設けたものが提案され
ている。すなわち、第5図に示すように、イオン源は、
フィラメント室101、プラズマ室102より構成され
ている。
フィラメント室101にはフィラメント111を絶縁碍
子112ft介して取り付けてあり、フィラメント外周
へは熱電子放射口全開口したガラスあるいはセラミック
ス材によりなる絶縁円筒113を配しである。この熱電
子放射口の中心部へはフィラメント電位に対し相対的に
正の電位を有するリング状、メツシュ状、あるいは板状
の熱電子引出し電極114を配してあシ、更に不活性ガ
スの導入口により構成されている。プラズマ室102は
その外壁へ磁束コイル121を、内壁へ熱電子集束用ア
ノード電極122全配しこのアノード電極へは外部電源
126によりフィラメント電位に対し相対的に正の電位
を与える。プラズマ室102の中心部へはプラズマ室と
同心円となるようなフィラメント電位に等しいコイル状
、あるいはシリンダー状の電極123を配している。プ
ラズマ室102のイオン出口付近には接地電位であるイ
オン引出しメツシュ電極124を設は前記したフイラメ
ント室101のフィラメント111との間に負の高圧電
源127により電位を印加する構成となっている。プラ
ズマ室への活性ガスの導入はガス導入口125により行
なわれる。ここで、導入する活性ガスと不活性ガスとの
割合いは1:1程度になるように選ばれる。この方式で
は、フィラメント室101へは、不活性ガスが導入され
るため、ある程度フィラメントの寿命が長くなるが、そ
れでも不活性ガスと活性ガスが、拡散により混合するの
で、フィラメント案内へも不活性ガスが504程度入り
込むので、結局フィラメントの寿命が、そうは長くなら
ないという問題点があった。
子112ft介して取り付けてあり、フィラメント外周
へは熱電子放射口全開口したガラスあるいはセラミック
ス材によりなる絶縁円筒113を配しである。この熱電
子放射口の中心部へはフィラメント電位に対し相対的に
正の電位を有するリング状、メツシュ状、あるいは板状
の熱電子引出し電極114を配してあシ、更に不活性ガ
スの導入口により構成されている。プラズマ室102は
その外壁へ磁束コイル121を、内壁へ熱電子集束用ア
ノード電極122全配しこのアノード電極へは外部電源
126によりフィラメント電位に対し相対的に正の電位
を与える。プラズマ室102の中心部へはプラズマ室と
同心円となるようなフィラメント電位に等しいコイル状
、あるいはシリンダー状の電極123を配している。プ
ラズマ室102のイオン出口付近には接地電位であるイ
オン引出しメツシュ電極124を設は前記したフイラメ
ント室101のフィラメント111との間に負の高圧電
源127により電位を印加する構成となっている。プラ
ズマ室への活性ガスの導入はガス導入口125により行
なわれる。ここで、導入する活性ガスと不活性ガスとの
割合いは1:1程度になるように選ばれる。この方式で
は、フィラメント室101へは、不活性ガスが導入され
るため、ある程度フィラメントの寿命が長くなるが、そ
れでも不活性ガスと活性ガスが、拡散により混合するの
で、フィラメント案内へも不活性ガスが504程度入り
込むので、結局フィラメントの寿命が、そうは長くなら
ないという問題点があった。
本発明の目的は、活性ガスを使用してもフィラメントの
寿命の問題のないイオン源を提供するにある。
寿命の問題のないイオン源を提供するにある。
〔発明の概要〕
本発明では上記した目的を達成するために、フィラメン
トの代りに電子発生室に高周波電力供給部並びに電子軌
道を回転軌道とする磁界印加手段を設ける。
トの代りに電子発生室に高周波電力供給部並びに電子軌
道を回転軌道とする磁界印加手段を設ける。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図(A)はイオン源の縦断面図である。
図(A)はイオン源の縦断面図である。
電子発生室1ば、円筒状の電子発生室側壁15と上端全
村じているバックプレート21と、下端に絶縁物9全介
して取り付けられている電子引出し電極22に囲まれて
いる。プラズマ発生室2は、上端が絶縁物9を介してプ
ラズマ生成室1に連結され、円筒状のアーク放電室側壁
1Gとビーム引出し電極4で囲まれている。プラズマ発
生室の下方には、絶縁物9を介して真空容器17が連結
されており、容器全体が排気口18から排気されること
により真空となる。電子発生室1には、永久磁石10が
、同図(A)のX−I断面図k(B)に示すように、N
極、S極が交互に現われるカスプ磁界を形成するように
絶縁物9によって固定されている。それを囲むように3
ターンの高周波コイル11が、絶縁物9を介して固定さ
れ、これにバックプレート21を気密にかつ電気的に絶
縁した状態で導入された導入端子12全通して高周波電
力が与えられる。また、バックプレート21には、ガス
導入口8があり、そこからガスを導入できる。下端には
単孔の電子引出し電極22が取り付けられているが、こ
の電極には、電子発生室の側壁15の電位に対して正の
電位になるように直流電圧VIが印加される。プラズマ
発生室側壁16の周囲には、同図(A)中のm−m断面
図を(C)に示すように、カスプ磁界を生じるように永
久磁石10が取り付けられている。プラズマ発生室側壁
16が陽極電極に、電子引出し電極22が陰極電極にな
るよう直流電圧V、を印加する。
村じているバックプレート21と、下端に絶縁物9全介
して取り付けられている電子引出し電極22に囲まれて
いる。プラズマ発生室2は、上端が絶縁物9を介してプ
ラズマ生成室1に連結され、円筒状のアーク放電室側壁
1Gとビーム引出し電極4で囲まれている。プラズマ発
生室の下方には、絶縁物9を介して真空容器17が連結
されており、容器全体が排気口18から排気されること
により真空となる。電子発生室1には、永久磁石10が
、同図(A)のX−I断面図k(B)に示すように、N
極、S極が交互に現われるカスプ磁界を形成するように
絶縁物9によって固定されている。それを囲むように3
ターンの高周波コイル11が、絶縁物9を介して固定さ
れ、これにバックプレート21を気密にかつ電気的に絶
縁した状態で導入された導入端子12全通して高周波電
力が与えられる。また、バックプレート21には、ガス
導入口8があり、そこからガスを導入できる。下端には
単孔の電子引出し電極22が取り付けられているが、こ
の電極には、電子発生室の側壁15の電位に対して正の
電位になるように直流電圧VIが印加される。プラズマ
発生室側壁16の周囲には、同図(A)中のm−m断面
図を(C)に示すように、カスプ磁界を生じるように永
久磁石10が取り付けられている。プラズマ発生室側壁
16が陽極電極に、電子引出し電極22が陰極電極にな
るよう直流電圧V、を印加する。
ビーム引出し電極4のアーク室側の電極には引出される
イオンビームのエネルギに相当する直流電圧V、が印加
される。真空容器中に、被加工物5が水冷され自転して
いるホールダ6に取り付けられている。
イオンビームのエネルギに相当する直流電圧V、が印加
される。真空容器中に、被加工物5が水冷され自転して
いるホールダ6に取り付けられている。
電子発生室1を5 X 10”” Tore程度の真空
に排気した後、ガス導入口8から反応性ガス全供給し、
真空容器側でI X 10”〜5 X 10−’Tor
r 程度の真空にする。次いで、図では省略している
が電子発生室1にある放電ギャップで放電音させながら
、高周波コイル8に13.56MH2の高周波電力全印
加し、電子発生室1にプラズマ全生成させて電子をつく
る。プラズマが安定すれば、放電ギャップで放電させる
必要はない。生成された電子は、電子発生室側壁15に
向って拡散しようとするが永久磁石10によるカスプ磁
界により、電子発生室1の中央の永久磁石10で囲まれ
た領域に制限される。そのため、高周波コイル11で絶
縁破壊奮起こすこともなく、高密度の電子が得られる。
に排気した後、ガス導入口8から反応性ガス全供給し、
真空容器側でI X 10”〜5 X 10−’Tor
r 程度の真空にする。次いで、図では省略している
が電子発生室1にある放電ギャップで放電音させながら
、高周波コイル8に13.56MH2の高周波電力全印
加し、電子発生室1にプラズマ全生成させて電子をつく
る。プラズマが安定すれば、放電ギャップで放電させる
必要はない。生成された電子は、電子発生室側壁15に
向って拡散しようとするが永久磁石10によるカスプ磁
界により、電子発生室1の中央の永久磁石10で囲まれ
た領域に制限される。そのため、高周波コイル11で絶
縁破壊奮起こすこともなく、高密度の電子が得られる。
本実施例に示す装fIL全用いて、02 ガスのプラズ
マを生成したところ、プラズマ中のイオン密度は、約I
X 10” (cm′″3)となり、そこから直接多
孔ビーム引出し電極(図では記していない)を用いて、
500Ω■の02イオンビームを引出したところ、0.
65mA/cm2のイオンビーム電流密度が得られた。
マを生成したところ、プラズマ中のイオン密度は、約I
X 10” (cm′″3)となり、そこから直接多
孔ビーム引出し電極(図では記していない)を用いて、
500Ω■の02イオンビームを引出したところ、0.
65mA/cm2のイオンビーム電流密度が得られた。
この値は、フィラメントを用いた場合のイオンビーム電
流密度と同等であった。このように本発明では、フイラ
メンlt−使用せずに電子を発生させ、それ全プラズマ
発生室内に供給して有効なアーク放tを行なわせること
ができ、十分々イオンビームを引出すことができるから
、フィラメントの寿命の問題から全く解放されることが
できる。
流密度と同等であった。このように本発明では、フイラ
メンlt−使用せずに電子を発生させ、それ全プラズマ
発生室内に供給して有効なアーク放tを行なわせること
ができ、十分々イオンビームを引出すことができるから
、フィラメントの寿命の問題から全く解放されることが
できる。
第2図は本発明の別の実施例によるイオン源を示してい
る。
る。
この実施例では、電子発生室1での電子の生成方法が、
第1図の実施例と異なっているが、他は同じである。電
子発生室側壁15の周囲には円筒コイル14が巻かれて
おり、円筒の軸方向に直流の磁界全印加できる構造にな
っている7、第1図の実施例の場合と同様、真空にした
電子発生室1に、ガス導入口8から反応性ガスを導入す
るとともに、導波管13を通じて2.45GH2のマイ
クロ波を注入する。印加する磁界の強度は、発生するプ
ラズマの電子サイクロトロン共鳴(ECR)の周波数が
、注入するマイクロ波の周波数にほぼ等しくなるよう設
定するか、あるいは印加する磁界強度を高めに設定する
。本実施例は、上述したようにプラズマとマイクロ波の
共鳴現象全利用して、導入ガス全電離し、高密度の電子
全生成する方式である。
第1図の実施例と異なっているが、他は同じである。電
子発生室側壁15の周囲には円筒コイル14が巻かれて
おり、円筒の軸方向に直流の磁界全印加できる構造にな
っている7、第1図の実施例の場合と同様、真空にした
電子発生室1に、ガス導入口8から反応性ガスを導入す
るとともに、導波管13を通じて2.45GH2のマイ
クロ波を注入する。印加する磁界の強度は、発生するプ
ラズマの電子サイクロトロン共鳴(ECR)の周波数が
、注入するマイクロ波の周波数にほぼ等しくなるよう設
定するか、あるいは印加する磁界強度を高めに設定する
。本実施例は、上述したようにプラズマとマイクロ波の
共鳴現象全利用して、導入ガス全電離し、高密度の電子
全生成する方式である。
電子発生室1に生じたプラズマから、電子引出し電極2
2によって電子のみを引出し、プラズマ発生室2に供給
しながら、電子引出し電極22とアーク放電室22の間
でアーク放電を起こさせることによりプラズマを生成す
乙。
2によって電子のみを引出し、プラズマ発生室2に供給
しながら、電子引出し電極22とアーク放電室22の間
でアーク放電を起こさせることによりプラズマを生成す
乙。
第3図はプラズマ発生室2でのプラズマ密度の分布を示
すグラフである。内壁近傍全除いてほぼ均一な分布をし
ている。本実施例の場合にも第1図の実施例と全く同様
の効果を奏することができる。
すグラフである。内壁近傍全除いてほぼ均一な分布をし
ている。本実施例の場合にも第1図の実施例と全く同様
の効果を奏することができる。
第4図はその他の実施例によるイオン源を示していて、
(A)は縦断面図を、(B)、(C)はそれぞれI−I
、II−II断面図を表わす。この実施例は、アノード
電極23となる円筒状の導体が、プラズマ発生室2の側
に置かれ、12個の支持体でアーク放電室側壁と内置き
アノード電極23がほぼ同じ電位をもつように固定され
ていること以外は、第1図の実施例と同じである。この
ような構造を用いる利点を、次に述べる。我々の実験に
よれば、例えばCF4 ガスを導入ガスとして、イオン
ビームを引出した時、アーク放電室2でのガス分解生成
物の化学反応によってできた生成物がアーク放電室側壁
に付着し、アーク放電が不安定になることが判明した。
(A)は縦断面図を、(B)、(C)はそれぞれI−I
、II−II断面図を表わす。この実施例は、アノード
電極23となる円筒状の導体が、プラズマ発生室2の側
に置かれ、12個の支持体でアーク放電室側壁と内置き
アノード電極23がほぼ同じ電位をもつように固定され
ていること以外は、第1図の実施例と同じである。この
ような構造を用いる利点を、次に述べる。我々の実験に
よれば、例えばCF4 ガスを導入ガスとして、イオン
ビームを引出した時、アーク放電室2でのガス分解生成
物の化学反応によってできた生成物がアーク放電室側壁
に付着し、アーク放電が不安定になることが判明した。
これに対し、アーク放電室側壁を高温にすれば、付着物
の量を少なく抑えられ、安定な放電が維持できることが
わかった。
の量を少なく抑えられ、安定な放電が維持できることが
わかった。
第5図の実施例では、内置きアノード電極23が熱的に
は、通常は水冷され約150℃以下に保たれている側壁
16とは分離されているため、同アノード電極は200
〜400℃の高温になり、付着物が付きにくくなるので
、安定なアーク放電が維持できるという効果がある。本
実施例のその他の効果については、第1図の実施例で述
べたのと同じである。
は、通常は水冷され約150℃以下に保たれている側壁
16とは分離されているため、同アノード電極は200
〜400℃の高温になり、付着物が付きにくくなるので
、安定なアーク放電が維持できるという効果がある。本
実施例のその他の効果については、第1図の実施例で述
べたのと同じである。
以上説明したように要するに本発明は、電子発生室とプ
ラズマ発生室とを別個に設けてなるイオン源において、
該電子発生室は高周波電力供給部並びに電子軌道全回転
軌道とする磁界印加手段金言し、プラズマ発生室にはプ
ラズマ全閉じ込めるためのカスプ磁界発生用磁石を備え
たものであるから、02やCF4 などの活性ガスのイ
オンビーム発生に使用しても、フィラメントがないため
、フィラメントの寿命の問題から全く解放されることが
できる。
ラズマ発生室とを別個に設けてなるイオン源において、
該電子発生室は高周波電力供給部並びに電子軌道全回転
軌道とする磁界印加手段金言し、プラズマ発生室にはプ
ラズマ全閉じ込めるためのカスプ磁界発生用磁石を備え
たものであるから、02やCF4 などの活性ガスのイ
オンビーム発生に使用しても、フィラメントがないため
、フィラメントの寿命の問題から全く解放されることが
できる。
第1図(A)〜(C)はそれぞれ本発明の一実施例によ
るイオン源の縦断面図及びI−I線、■−X線断面図、
第2図(A)〜(C)は本発明の別の実施例によるイオ
ン源の縦断面図及びI−I線、m−X線断面図、第3図
は第2図の実施例でのプラズマ密度の分布図、第4図(
A)〜(C>は本発明のその他の実施例によるイオン源
の断面図及びI−I線、II−II線断面図、第5図は
本発明の異なる他の実施例の説明図でちる。 1・・・電子発生室、2・・・プラズマ発生室、4・・
・ビーム引出し電極、5・・・被加工物、7・・・イオ
ンビーム、8・・・ガス導入口、9・・・絶縁物、10
・・・永久磁石、11・・・高周波コイル、12・・・
導入端子、13・・・導波管、14・・・円筒コイル、
17・・・真空容器、1800.排気口、21・・・バ
ックプレート、22・・・電子引出し電極、23・・・
内置きアノード電極。
るイオン源の縦断面図及びI−I線、■−X線断面図、
第2図(A)〜(C)は本発明の別の実施例によるイオ
ン源の縦断面図及びI−I線、m−X線断面図、第3図
は第2図の実施例でのプラズマ密度の分布図、第4図(
A)〜(C>は本発明のその他の実施例によるイオン源
の断面図及びI−I線、II−II線断面図、第5図は
本発明の異なる他の実施例の説明図でちる。 1・・・電子発生室、2・・・プラズマ発生室、4・・
・ビーム引出し電極、5・・・被加工物、7・・・イオ
ンビーム、8・・・ガス導入口、9・・・絶縁物、10
・・・永久磁石、11・・・高周波コイル、12・・・
導入端子、13・・・導波管、14・・・円筒コイル、
17・・・真空容器、1800.排気口、21・・・バ
ックプレート、22・・・電子引出し電極、23・・・
内置きアノード電極。
Claims (1)
- 1、電子発生室とプラズマ発生室とを別個に設けてなる
イオン源において、該電子発生室は高周波電力供給部並
びに電子軌道を回転軌道とする磁界印加手段を有し、プ
ラズマ発生室にはプラズマを閉じ込める為のカスプ磁界
発生用磁石を備えてなることを特徴とするイオン源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60231202A JPH0746586B2 (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60231202A JPH0746586B2 (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | イオン源 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6293834A true JPS6293834A (ja) | 1987-04-30 |
JPH0746586B2 JPH0746586B2 (ja) | 1995-05-17 |
Family
ID=16919939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60231202A Expired - Lifetime JPH0746586B2 (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | イオン源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0746586B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63299338A (ja) * | 1987-05-29 | 1988-12-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマ処理装置 |
JPH01176634A (ja) * | 1987-12-30 | 1989-07-13 | Tokyo Electron Ltd | 電子ビーム励起イオン源 |
JPH02109236A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-20 | Nissin Electric Co Ltd | イオン源装置 |
JPH02241034A (ja) * | 1989-03-15 | 1990-09-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマ処理装置 |
JPH02308530A (ja) * | 1989-05-24 | 1990-12-21 | Hitachi Ltd | プラズマ処理方法およびその装置 |
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-
1985
- 1985-10-18 JP JP60231202A patent/JPH0746586B2/ja not_active Expired - Lifetime
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