JPS61131854A - 旋盤加工物測定装置 - Google Patents
旋盤加工物測定装置Info
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- JPS61131854A JPS61131854A JP25122984A JP25122984A JPS61131854A JP S61131854 A JPS61131854 A JP S61131854A JP 25122984 A JP25122984 A JP 25122984A JP 25122984 A JP25122984 A JP 25122984A JP S61131854 A JPS61131854 A JP S61131854A
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- machine
- lathe
- measuring
- measurement
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q17/00—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools
- B23Q17/24—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools using optics or electromagnetic waves
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q17/00—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools
- B23Q17/20—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools for indicating or measuring workpiece characteristics, e.g. contour, dimension, hardness
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- Optics & Photonics (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は旋盤加工物測定装置に係り、特に大型旋盤の積
載加工物の段取誤差および機械精度誤差等を′補正し、
加工物の真の寸法測定を可能とするのに好適な旋盤加工
物測定装置に関するものである。。
載加工物の段取誤差および機械精度誤差等を′補正し、
加工物の真の寸法測定を可能とするのに好適な旋盤加工
物測定装置に関するものである。。
従来、大型工作機械における加工物の仕上精度測定は、
マイクロメータあるいは弓ゲージ等を用いて直接測定す
る場合と、機械の各軸に取り付けた専用の高分解能を有
するスケールを用いて、現在位置表示を行い、これを基
準として測定する場合とがある。前者の場合は、その都
度、大型のマイクロメータや弓ゲージを準備しなければ
ならず。
マイクロメータあるいは弓ゲージ等を用いて直接測定す
る場合と、機械の各軸に取り付けた専用の高分解能を有
するスケールを用いて、現在位置表示を行い、これを基
準として測定する場合とがある。前者の場合は、その都
度、大型のマイクロメータや弓ゲージを準備しなければ
ならず。
多大の時間、労力および測定ノウハウを必要とする。一
方、後者の場合は、機械送り軸の動きにより測定可能で
あるため、単純でしかも短時間で測定することができる
という利点がある。第1表は従来の現在位置表示機能を
応用した計測の文献例である。
方、後者の場合は、機械送り軸の動きにより測定可能で
あるため、単純でしかも短時間で測定することができる
という利点がある。第1表は従来の現在位置表示機能を
応用した計測の文献例である。
第 1 表
ところが、大型工作機械になるほど加工物の段取誤差あ
るいは機械精度の影響を受けやすく、現在位置表示と、
真の寸法との間の誤差が拡大し、高精度を要求される部
位については、結局、大型マイクロメータあるいは弓ゲ
ージ等を使わざるを得ない状況にある。
るいは機械精度の影響を受けやすく、現在位置表示と、
真の寸法との間の誤差が拡大し、高精度を要求される部
位については、結局、大型マイクロメータあるいは弓ゲ
ージ等を使わざるを得ない状況にある。
以下、従来の大型工作機械、特に大型旋盤における現在
位置表示機能の使用上の問題点について説明する。
位置表示機能の使用上の問題点について説明する。
(1)第1に加工物の段取誤差による影響があげられる
。
。
第9図は大型旋盤における加工物の段取誤差を示す説明
図で1機械本体と加工物との関係が示しである。1は主
軸ヘッドストック、2は主軸面板、3は加工物用ヘッド
、4は加工物、5は振れ止め、6はキャリジ、7はキャ
リジベッド、20はバイトである。
図で1機械本体と加工物との関係が示しである。1は主
軸ヘッドストック、2は主軸面板、3は加工物用ヘッド
、4は加工物、5は振れ止め、6はキャリジ、7はキャ
リジベッド、20はバイトである。
一般に旋盤にロータシャフト等の大型かつ長尺の軸物加
工物を積載する場合は、一端を主軸面板2でチャックし
、他端を振れ止め5で支持する。加工物重量が大きい場
合、心軸合わせによる他端支持に対して振れ止め支持の
方が積載能力が高く、かつ、加工物自身の変形防止効果
があり、さらに、段取剛性向上により重切削が可能であ
る等の理由により振れ止め支持することが多い。
工物を積載する場合は、一端を主軸面板2でチャックし
、他端を振れ止め5で支持する。加工物重量が大きい場
合、心軸合わせによる他端支持に対して振れ止め支持の
方が積載能力が高く、かつ、加工物自身の変形防止効果
があり、さらに、段取剛性向上により重切削が可能であ
る等の理由により振れ止め支持することが多い。
振れ止め5は、任意の外径を支持できるように上下、左
右方向の調整機能を有するが、これが逆に問題となり、
機械軸CMと加工物軸CWとの間に芯ずれが発生しやす
い。また、この芯ずれ量は測定が困難であり、加えて加
工物重量が大きい場合、微妙な修正がさらに困難である
。
右方向の調整機能を有するが、これが逆に問題となり、
機械軸CMと加工物軸CWとの間に芯ずれが発生しやす
い。また、この芯ずれ量は測定が困難であり、加えて加
工物重量が大きい場合、微妙な修正がさらに困難である
。
通常は主軸面板2と振れ止め5間の概略芯出し後、加工
物4を回転し、回転振れまわりを修正した後、アイドル
回転を続け、加工物4が主軸面板2から抜は出さないこ
とを確認し1段取り終了として加工工程に入っている。
物4を回転し、回転振れまわりを修正した後、アイドル
回転を続け、加工物4が主軸面板2から抜は出さないこ
とを確認し1段取り終了として加工工程に入っている。
したがって、加工物4は、CMとCWとがαなる角度で
ずれているため、バイト20により加工物外径を直線切
削、あるいは、′64A定を行うと、主軸而板2側直径
DAと振れ止め5側直径り、どの間に誤差を生ずること
になる。
ずれているため、バイト20により加工物外径を直線切
削、あるいは、′64A定を行うと、主軸而板2側直径
DAと振れ止め5側直径り、どの間に誤差を生ずること
になる。
(2)第2に機械の真直度による影響があげられる。
第10図は大型旋盤における真直度誤差を示す説明図で
、キャリジベッド7と加工物4との関係を示しである。
、キャリジベッド7と加工物4との関係を示しである。
一般に大型工作機であるほど長尺ストロークの軸の真直
度調整は困難であり、かつ、−担修正すればよいという
わけではなく、機械の摩耗ゆるみなどの経年変化、地盤
沈下(または隆起)による基礎の変形および重量物積載
等による機械のたわみ変形などの理由により時々刻々変
化している。したがって、大型機械に対しては。
度調整は困難であり、かつ、−担修正すればよいという
わけではなく、機械の摩耗ゆるみなどの経年変化、地盤
沈下(または隆起)による基礎の変形および重量物積載
等による機械のたわみ変形などの理由により時々刻々変
化している。したがって、大型機械に対しては。
定期的な精度修正が必要不可欠となっているが、特に旋
盤の場合は、キャリジベッド7が図に示すように真直度
が低下して変形していると、キャリジ6とその上にある
バイト2oも直線運動をせず、蛇行するため、加工物外
径切削の場合。
盤の場合は、キャリジベッド7が図に示すように真直度
が低下して変形していると、キャリジ6とその上にある
バイト2oも直線運動をせず、蛇行するため、加工物外
径切削の場合。
誤差を生じる。さらに、蛇行量は直径に対して2倍に拡
大されるため、加工および測定における大きな誤差要因
となる。
大されるため、加工および測定における大きな誤差要因
となる。
(3)第3に機械の走行がたによる影響があげられる。
第11図は大型旋盤における走行かたを示す説明図で、
キャリジ6の走行と加工物4との関係を示しである。2
1はZ軸方向に取り付けたスケール、22−A、22−
Bはそれぞれスケールの読み取りヘッドを示す、キャリ
ジベッド7とキャリジ6との間にがたが発生すると1図
に示すように、走行方向および位置に応じてΔθなる傾
きを生じる。Δ0を拡大する要因としては、キャリジベ
ッド7の真直度低下が上げられる。
キャリジ6の走行と加工物4との関係を示しである。2
1はZ軸方向に取り付けたスケール、22−A、22−
Bはそれぞれスケールの読み取りヘッドを示す、キャリ
ジベッド7とキャリジ6との間にがたが発生すると1図
に示すように、走行方向および位置に応じてΔθなる傾
きを生じる。Δ0を拡大する要因としては、キャリジベ
ッド7の真直度低下が上げられる。
このとき、キャリジ6が傾くと、Z軸に取り付けられた
スケール21によるキャリジ移動量H6と実際にバイト
20の刃先が移動した移動量Hとの間には軸方向に誤差
が生じることになる。
スケール21によるキャリジ移動量H6と実際にバイト
20の刃先が移動した移動量Hとの間には軸方向に誤差
が生じることになる。
軸方向誤差はバイト20とスケール21との距離Kに比
例して拡大するが1機械のレイアウト上距離Kを小さく
することは困難であり、微少な傾きΔθが発生しても、
軸方向誤差は大きく現われてくる。したがって、いかに
スケール単体の精度がよくても、現在位置表示による加
工あるいは測定には誤差を生じてしまうことになる。
例して拡大するが1機械のレイアウト上距離Kを小さく
することは困難であり、微少な傾きΔθが発生しても、
軸方向誤差は大きく現われてくる。したがって、いかに
スケール単体の精度がよくても、現在位置表示による加
工あるいは測定には誤差を生じてしまうことになる。
(4)第4にスケール21と加工物4との温度変化の影
響があげられる。
響があげられる。
一般に現在位置表示に用いられるスケール21は精度部
品で構成されるため、ベッドカバー内等の外部から隔離
された空間に取り付けられる。したがって、加工物4と
スケール21とは同一空間上になっていないため、昼夜
あるいは夏冬等による気温の変化に応じて加工物4の熱
変形量のスケール21の熱変形量とが異なる。
品で構成されるため、ベッドカバー内等の外部から隔離
された空間に取り付けられる。したがって、加工物4と
スケール21とは同一空間上になっていないため、昼夜
あるいは夏冬等による気温の変化に応じて加工物4の熱
変形量のスケール21の熱変形量とが異なる。
しかも、その相対関係が時々刻々変化するため、同一の
加工物4を同一の機械で、同一の寸法(スケール21に
よる現在位置表示を用いる)で加工あるいは測定しても
同じ結果にならず。
加工物4を同一の機械で、同一の寸法(スケール21に
よる現在位置表示を用いる)で加工あるいは測定しても
同じ結果にならず。
誤差を生ずることになる。さらに、加工物4が長尺であ
れば、誤差がさらに拡大されることになる。
れば、誤差がさらに拡大されることになる。
以上述べたように、大型旋盤においては、加工物の段取
りの影響1機械端度の影響、気温変化による熱変形の影
響等により、従来方法によれば、如何に高精度、高分解
能を有するスケールを取り付けた現在位置表示を用いて
も加工あるいは測定には必らず誤差が生ずることになる
。
りの影響1機械端度の影響、気温変化による熱変形の影
響等により、従来方法によれば、如何に高精度、高分解
能を有するスケールを取り付けた現在位置表示を用いて
も加工あるいは測定には必らず誤差が生ずることになる
。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目的とする
ところは、大型旋盤における現在位置表示を用いて加工
、測定を行うときに、加工物の段取誤差2機械の精度誤
差、熱変形誤差をすべて補正して高精度かつ高能率の加
工物測定を行うことができる旋盤加工物測定装置を提供
することにある。
ところは、大型旋盤における現在位置表示を用いて加工
、測定を行うときに、加工物の段取誤差2機械の精度誤
差、熱変形誤差をすべて補正して高精度かつ高能率の加
工物測定を行うことができる旋盤加工物測定装置を提供
することにある。
本発明の特徴は1機械のX軸移動距離測定用セ℃
ンち、2軸移動距離測定用センサと、Z軸真直度測定用
センサと、機械傾き測定用センサと、上記各センサの加
工物の熱変形による測定誤差を補正するための物体温度
センサと、上記各センサpらのデータを記憶するともに
必要な演算を行う演算装置と、この演算装置による演算
結果を表示する表示装置と、上記演算装置へのデータ入
力信号を発生する上記機械に取り付けた上記加工物の必
要部分にタッチさせるタッチセンサとを備え、上記加工
物の段取誤差、上記機械の精度誤差および上記加工物の
熱変形誤差を自動補正して上記加工物り の軸径、軸長を測定する構成としそ点にある。
センサと、機械傾き測定用センサと、上記各センサの加
工物の熱変形による測定誤差を補正するための物体温度
センサと、上記各センサpらのデータを記憶するともに
必要な演算を行う演算装置と、この演算装置による演算
結果を表示する表示装置と、上記演算装置へのデータ入
力信号を発生する上記機械に取り付けた上記加工物の必
要部分にタッチさせるタッチセンサとを備え、上記加工
物の段取誤差、上記機械の精度誤差および上記加工物の
熱変形誤差を自動補正して上記加工物り の軸径、軸長を測定する構成としそ点にある。
以下本発明を第1図〜第7図に示した実施例および第8
図を用いて詳細に説明する。
図を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の旋盤加工物測定装置の一実施例を示す
全体構成図である。第1図において、1は主軸ヘットス
トック、2は主軸面板、3は加工物用ベッド、4は加工
物、5は振れ止め、6はキャリジ、7はキャリジベッド
、8は真直度用レーザ測長器、9はZ軸周レーザ測長器
、10は傾き用レーザ測長器、11はX軸用レーザ測長
器、12はバイト刃先にかわるタッチセンサ、13は各
測長器用インターフェース、14はレーザ測長器の補正
用インターフェース、15は気圧、温度をフィードバッ
クするエアセンサ、16−A。
全体構成図である。第1図において、1は主軸ヘットス
トック、2は主軸面板、3は加工物用ベッド、4は加工
物、5は振れ止め、6はキャリジ、7はキャリジベッド
、8は真直度用レーザ測長器、9はZ軸周レーザ測長器
、10は傾き用レーザ測長器、11はX軸用レーザ測長
器、12はバイト刃先にかわるタッチセンサ、13は各
測長器用インターフェース、14はレーザ測長器の補正
用インターフェース、15は気圧、温度をフィードバッ
クするエアセンサ、16−A。
16−Bは被測定物の熱変形に応じて測定補正するため
の物体温度センサ、17は測長器用インターフェース1
3からのデータを記憶、演算を行うマイクロコンピュー
タ、18はコンピュータ補正演算結果を表示する表示用
インターフェース、19は現在位置表示装置である。
の物体温度センサ、17は測長器用インターフェース1
3からのデータを記憶、演算を行うマイクロコンピュー
タ、18はコンピュータ補正演算結果を表示する表示用
インターフェース、19は現在位置表示装置である。
第2図は第1図の鳥味図である。第2図において、10
0−A、100−B、100−C:はそれぞれレーザ測
長器用架台で、101はレーザ発振器用カバーである。
0−A、100−B、100−C:はそれぞれレーザ測
長器用架台で、101はレーザ発振器用カバーである。
加工物4の段取誤差および機械精度誤差は、Y軸の縦方
向にも発生するが、各種レーザ、センサ類を加工物軸と
ほぼ同一高さに合わせることによりY軸方向誤差の測定
精度への影響を最少に抑えて測定システムの簡素化を図
っである。
向にも発生するが、各種レーザ、センサ類を加工物軸と
ほぼ同一高さに合わせることによりY軸方向誤差の測定
精度への影響を最少に抑えて測定システムの簡素化を図
っである。
次に、第1図の加工物(被測定物)4の軸径および軸長
の測定原理について説明する。
の測定原理について説明する。
第3図は加工物4の軸径測定原理図である。軸径測定に
最も大きく影響を与えるものは、加工物4の段取誤差に
よる芯すれと、機械のZ軸方向左右真直度である。そこ
で、図に示す加工物4がαなる角度で機械軸に対して芯
ずれを生じ、かつ、キャリジベッド7が真直度低下して
蛇行しているとする。軸径測定に使用するレーザ測長器
は、真直度用レーザ測長器8とZ軸周レーザ測長器9お
よびX軸周レーザ測長器11である。機械を基準位置(
機械原点)に移動し、レーザ測長器8,9゜11をリセ
ットした後、機械をZ軸方向に移動して、全ストローク
にわたりZ軸真直度をあらかじめ測定しておく、このと
きのデータにより、任意のZ軸移動距離に応じた真直度
ΔXがわかる。次に、あらかじめ定めた加工物4の基準
点P工、P2の外径寸法D1. D、をマイクロメータ
あるいは弓ゲージ等で直接精密alff定する。次に、
タッチセンサ12を機械基準位置から移動し、基準点P
1゜P2 にタッチさせ、このときの移動量X、、、Z
工およびX、、 Z、を求める。この際、2.、22に
対応した機械真直度AXよ、4x、が求まり、以上のデ
ータにより、真直度用レーザ測長器8のレーザビームB
e1Iと加工物4の軸心との相対関係が明確化される。
最も大きく影響を与えるものは、加工物4の段取誤差に
よる芯すれと、機械のZ軸方向左右真直度である。そこ
で、図に示す加工物4がαなる角度で機械軸に対して芯
ずれを生じ、かつ、キャリジベッド7が真直度低下して
蛇行しているとする。軸径測定に使用するレーザ測長器
は、真直度用レーザ測長器8とZ軸周レーザ測長器9お
よびX軸周レーザ測長器11である。機械を基準位置(
機械原点)に移動し、レーザ測長器8,9゜11をリセ
ットした後、機械をZ軸方向に移動して、全ストローク
にわたりZ軸真直度をあらかじめ測定しておく、このと
きのデータにより、任意のZ軸移動距離に応じた真直度
ΔXがわかる。次に、あらかじめ定めた加工物4の基準
点P工、P2の外径寸法D1. D、をマイクロメータ
あるいは弓ゲージ等で直接精密alff定する。次に、
タッチセンサ12を機械基準位置から移動し、基準点P
1゜P2 にタッチさせ、このときの移動量X、、、Z
工およびX、、 Z、を求める。この際、2.、22に
対応した機械真直度AXよ、4x、が求まり、以上のデ
ータにより、真直度用レーザ測長器8のレーザビームB
e1Iと加工物4の軸心との相対関係が明確化される。
したがって、加工物4の任意の点P0 における外径D
I、は、機械移動点タッチセンサ12をタッチさせ、こ
のときの移動tXo、Z0およびΔXO(機械真直度)
により求めることができる。
I、は、機械移動点タッチセンサ12をタッチさせ、こ
のときの移動tXo、Z0およびΔXO(機械真直度)
により求めることができる。
第4図は軸径測定模式図である。次に第4図を用いてさ
らに詳細な説明を行う。第4図において。
らに詳細な説明を行う。第4図において。
真直度用レーザビームBew+と加工物軸心との相対関
係は、Q□、R□g R4p Qzの四角形によって決
定される。このとき、QoとR工との間の距@L工は、
Dll Xl、Δx1の既知の測定データを用いて表
わすことができ、Q2とR2との間の距ML2について
も同様で+ D21 X21 ΔX2 のデータを用
いて表わすことができる。また、R1とR7との間の距
離もレーザ測長データz2とZlとの差(Z、−Z、)
として表わすことができる。したがって、加工物4の任
意の点P、における外径り。
係は、Q□、R□g R4p Qzの四角形によって決
定される。このとき、QoとR工との間の距@L工は、
Dll Xl、Δx1の既知の測定データを用いて表
わすことができ、Q2とR2との間の距ML2について
も同様で+ D21 X21 ΔX2 のデータを用
いて表わすことができる。また、R1とR7との間の距
離もレーザ測長データz2とZlとの差(Z、−Z、)
として表わすことができる。したがって、加工物4の任
意の点P、における外径り。
1’;II:、LlとL2より比例計算によってり。を
求め、タッチセンサ12によって得られる点pHまでの
移動距IIII!XI、と真直度Δx0とを差し引き演
算することによって求めることができる。すなわち、D
、は、 D、=2 (Lo−X。−ΔX、) −−−−−−
(1)で表わされる。
求め、タッチセンサ12によって得られる点pHまでの
移動距IIII!XI、と真直度Δx0とを差し引き演
算することによって求めることができる。すなわち、D
、は、 D、=2 (Lo−X。−ΔX、) −−−−−−
(1)で表わされる。
以上のように、あらかじめZ*III全ストロークの真
直度と、基準点の外径り、、D2を測定しておけば、以
後は任意の位置での加工物4の外径測定が可能となる6 第5図は加工物4の軸長測定原理図である。加工物4の
軸長測定対象点A、Btjll’l定する場合、タッチ
センサ12を用いてA、8点にタッチさせ、その間の移
動距離2A、 2.の差(Z、−ZA)をとれば、求め
る軸長H= (Z、−ZA)として表わすことができる
はずであるが1図に示すように、キャリジ6が機械的が
たにより角QA、Q、なる傾きを生じたとすると、単な
る(Z、−Z、)では誤差を発生する。そこで、傾き用
レーザ測長器loとX軸用レーザ測長器11とを用いて
、A、B両点テノデータXAlznt θ1およびX、
、Z、、θ3を求めることにより、演算補正して真の軸
長Hを求めるようにする。
直度と、基準点の外径り、、D2を測定しておけば、以
後は任意の位置での加工物4の外径測定が可能となる6 第5図は加工物4の軸長測定原理図である。加工物4の
軸長測定対象点A、Btjll’l定する場合、タッチ
センサ12を用いてA、8点にタッチさせ、その間の移
動距離2A、 2.の差(Z、−ZA)をとれば、求め
る軸長H= (Z、−ZA)として表わすことができる
はずであるが1図に示すように、キャリジ6が機械的が
たにより角QA、Q、なる傾きを生じたとすると、単な
る(Z、−Z、)では誤差を発生する。そこで、傾き用
レーザ測長器loとX軸用レーザ測長器11とを用いて
、A、B両点テノデータXAlznt θ1およびX、
、Z、、θ3を求めることにより、演算補正して真の軸
長Hを求めるようにする。
第6図は軸長測定模式図であり、以下、第6図を用いて
さらに詳細な説明を行う。第6図において、求める軸長
寸法Hを一辺とする四角形AA’ B’ Bにおいて、
AA’はXA、BB’はX。
さらに詳細な説明を行う。第6図において、求める軸長
寸法Hを一辺とする四角形AA’ B’ Bにおいて、
AA’はXA、BB’はX。
A’ B’ はCZm−Z、)により求まり、かつ、角
AA’ BとBB’A’ とはそれぞれOA、θ、によ
り求めることができ、四角形AA’ B’ B形状が決
定される。したがって寸法Hは、この四角形^A’ B
’ Bの幾何学的計算によって算出することができる。
AA’ BとBB’A’ とはそれぞれOA、θ、によ
り求めることができ、四角形AA’ B’ B形状が決
定される。したがって寸法Hは、この四角形^A’ B
’ Bの幾何学的計算によって算出することができる。
この際、XA、X、を求める場合に、前述の軸径測定原
理を用いることはいうまでもない。
理を用いることはいうまでもない。
なお、加工物4の熱変形による測定精度への影響を最少
とするため、第1図に示す補正用インターフェース14
とエアセンサ15および加工物近傍に取り付けた物体温
度センサ16−A、16−Bによりレーザ測定データは
常に自動補正し、加工物4が熱変形を生じても、各種レ
ーザ測長寸法が変化しないような構成としてある。
とするため、第1図に示す補正用インターフェース14
とエアセンサ15および加工物近傍に取り付けた物体温
度センサ16−A、16−Bによりレーザ測定データは
常に自動補正し、加工物4が熱変形を生じても、各種レ
ーザ測長寸法が変化しないような構成としてある。
次に、第1図のマイクロコンピュータ17における各種
演算を含めた各種処理の一実施例を第7図に示したフロ
ー、チャートを用いて説明する。
演算を含めた各種処理の一実施例を第7図に示したフロ
ー、チャートを用いて説明する。
まず、■で機械を基準点に移動する0次に、■で各レー
ザ測長器をゼロリセットする。そして、CのでZ軸全ス
トロークの真直度測定を行う。なお。
ザ測長器をゼロリセットする。そして、CのでZ軸全ス
トロークの真直度測定を行う。なお。
このときの真直度測定データの一洲を第8図に示しであ
るが、全ストロークの連続したデータは得られないので
、定められたピッチにより測定を行い、各ピッチ間の任
意の位置の真直度は比例計算によって求める。次に、■
では真直度データをマイクロコンピュータ17に記憶す
る。■では真直度データを噴独でプリントアウトする。
るが、全ストロークの連続したデータは得られないので
、定められたピッチにより測定を行い、各ピッチ間の任
意の位置の真直度は比例計算によって求める。次に、■
では真直度データをマイクロコンピュータ17に記憶す
る。■では真直度データを噴独でプリントアウトする。
また、■ではマイクロメータ、弓ゲージ等で基準径D工
。
。
D2を測定し、■でその測定データをマイクロコンピュ
ータ17にキー人力する。一方、 tag)ではタッチ
センサ12によりDl をタッチし、■でタッチ信号に
よりX□、Z□のデータをマイクロコンピュータ17に
入力する。また、[相]でタッチセンサ12によりD8
にタッチし、0でタッチ信号によりX、、 Z、のデー
タをマイクロコンピュータ17に入力する6 0では、
■、■、■、0のデータにより基準光軸ビームに対する
加工物相対位置をマイクロコンピュータ17で演算する
60では物体温度による加工物熱変形に対応して各レー
ザ測長器のデータを自動補正する。以上が初期データ入
力である。
ータ17にキー人力する。一方、 tag)ではタッチ
センサ12によりDl をタッチし、■でタッチ信号に
よりX□、Z□のデータをマイクロコンピュータ17に
入力する。また、[相]でタッチセンサ12によりD8
にタッチし、0でタッチ信号によりX、、 Z、のデー
タをマイクロコンピュータ17に入力する6 0では、
■、■、■、0のデータにより基準光軸ビームに対する
加工物相対位置をマイクロコンピュータ17で演算する
60では物体温度による加工物熱変形に対応して各レー
ザ測長器のデータを自動補正する。以上が初期データ入
力である。
次に、0では軸径測定か軸長測定かを選択する。これに
より、マイクロコンピュータ17内の演算ソフトを変え
る。軸径測定の場合は、まず、Oで測定点まで機械移動
を行い、Oでタッチセンサ12により測定点タッチを行
う、そして。
より、マイクロコンピュータ17内の演算ソフトを変え
る。軸径測定の場合は、まず、Oで測定点まで機械移動
を行い、Oでタッチセンサ12により測定点タッチを行
う、そして。
Oでタッチ信号によりXo、 Zoを入力し、測定点の
真直度Δx0 を演算し、さらに、基準光軸から加工物
軸心までの距INI Lo をマイクロコンピュータ1
7で演算する。oでは測定点の直径D0をマイクロコン
ピュータ17で演算する。なお。
真直度Δx0 を演算し、さらに、基準光軸から加工物
軸心までの距INI Lo をマイクロコンピュータ1
7で演算する。oでは測定点の直径D0をマイクロコン
ピュータ17で演算する。なお。
Oはレーザ測長器によるデータに自動補正を加えるため
のものである。0では加工物軸径り。
のものである。0では加工物軸径り。
を表示し、OでDo をプリントする。以下、軸径測定
を繰り返す場合は、Oに戻る。
を繰り返す場合は、Oに戻る。
軸長測定の場合は、◎で測定点の一端Aまで機械移動す
る。0でタッチセンサ12によりA点をタッチし、0で
タッチ信号によりZ&lxA。
る。0でタッチセンサ12によりA点をタッチし、0で
タッチ信号によりZ&lxA。
θえをマイクロコンピュータ17へ入力する。
Oで測定点の他端Bまで機械移動する。Oでタッチセン
サ12でB点をタッチし、0でタッチ信号によりZ、、
X、、 θ、をマイクロコンピュータ17に入力する。
サ12でB点をタッチし、0でタッチ信号によりZ、、
X、、 θ、をマイクロコンピュータ17に入力する。
そして、0でマイクロコンピュータ17により軸長Hを
演算する。なお、0は各測定時にデータに自動補正を加
えるためのものである。次に、oで加工物軸長Hを表示
し、ので軸長Hをプリントする。以下、軸長測定を繰り
返す場合はOに戻る。
演算する。なお、0は各測定時にデータに自動補正を加
えるためのものである。次に、oで加工物軸長Hを表示
し、ので軸長Hをプリントする。以下、軸長測定を繰り
返す場合はOに戻る。
以上述べたように、本発明の実施例によれば、大型旋盤
における現在位置表示を利用して加工あるいは測定にお
いて、データに補正を加えるようにしであるので、加工
物4の軸径および軸長の測定を高精度、かつ、高能率で
行うことができる。
における現在位置表示を利用して加工あるいは測定にお
いて、データに補正を加えるようにしであるので、加工
物4の軸径および軸長の測定を高精度、かつ、高能率で
行うことができる。
また、機械補正データと、各軸移動データとを比較する
ことにより、機械自身の精度診断が可能となり、適確な
機械精度修正をすることができる。
ことにより、機械自身の精度診断が可能となり、適確な
機械精度修正をすることができる。
さらに、機械が数値制御されている場合は、補正データ
を制御装置に入力することにより、より高精度なNG制
御が可能である。
を制御装置に入力することにより、より高精度なNG制
御が可能である。
以上説明したように1本発明によれば、大型旋盤におけ
る現在位置表示を用いて加工、測定を行うときに、加工
物の段取誤差1機械の精度誤差。
る現在位置表示を用いて加工、測定を行うときに、加工
物の段取誤差1機械の精度誤差。
熱変形誤差をすべて補正して高精度かつ高能率の加工物
測定を行うことができ、さらに、機械補正度修正をする
ことができ、なお、機械が数値制御されている場合は、
補正データを制御装置に入力して高精度なNG制御が可
能になるという効果がある。
測定を行うことができ、さらに、機械補正度修正をする
ことができ、なお、機械が数値制御されている場合は、
補正データを制御装置に入力して高精度なNG制御が可
能になるという効果がある。
第1図は本発明の旋盤加工物測定装置の一実施例を示す
全体構成図、第2図は第1図の、@睡図、第3図は加工
物の軸径測定原理図、第4図は軸長測定模式図、第5図
は加工物の軸長測定原理図。 第6図は軸長測定模式図、第7図は第1図のマイクロコ
ンピュータにおける各種演算を含めた各種処理の一実施
例を示すフローチャート、第8図は久直度?ll’!定
データの一例を示す線図、第9図は大型旋盤における加
工物の段取誤差を示す説明図。 第10図は大型旋盤における真直度誤差を示す説明図、
第11図は大型旋盤における走行かたを示す説明図であ
る。 4・・加工物、8・・・真直度用レーザj(1長器、9
・・Z軸用レーザ測長器、10山傾き用レーザ711’
!長な、11・・X軸出レーザ測長器、[2・・・タッ
チセンサ、13・・・インターフェース、14・・・補
正用インダーフェース、15・・・エアセンサ、、L6
−A、16−13・・・物体温度センサ、12・・・マ
イクロコンピユー(ほか1名)゛−
全体構成図、第2図は第1図の、@睡図、第3図は加工
物の軸径測定原理図、第4図は軸長測定模式図、第5図
は加工物の軸長測定原理図。 第6図は軸長測定模式図、第7図は第1図のマイクロコ
ンピュータにおける各種演算を含めた各種処理の一実施
例を示すフローチャート、第8図は久直度?ll’!定
データの一例を示す線図、第9図は大型旋盤における加
工物の段取誤差を示す説明図。 第10図は大型旋盤における真直度誤差を示す説明図、
第11図は大型旋盤における走行かたを示す説明図であ
る。 4・・加工物、8・・・真直度用レーザj(1長器、9
・・Z軸用レーザ測長器、10山傾き用レーザ711’
!長な、11・・X軸出レーザ測長器、[2・・・タッ
チセンサ、13・・・インターフェース、14・・・補
正用インダーフェース、15・・・エアセンサ、、L6
−A、16−13・・・物体温度センサ、12・・・マ
イクロコンピユー(ほか1名)゛−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、旋盤加工物測定装置において、機械のX軸移動距離
測定用センサと、Z軸移動距離測定用センサと、Z軸真
直度測定用センサと、機械傾き測定用センサと、前記各
センサの加工物の熱変形による測定誤差を補正するため
の物体温度センサと、前記各センサからのデータを記憶
するとともに必要な演算を行う演算装置と、該演算装置
による演算結果を表示する表示装置と、前記演算装置へ
のデータ入力信号を発生する前記機械に取り付けた前記
加工物の必要部分にタッチさせるタッチセンサとを備え
、前記加工物の段取誤差、前記機械の精度誤差および前
記加工物の熱変形誤差を自動補正して前記加工物の軸径
、軸長を測定する構成としてあることを特徴とする旋盤
加工物測定装置。 2、前記機械とは、旋盤のキャリジベッド上を摺動する
キャリジである特許請求の範囲第1項記載の旋盤加工物
測定装置。 3、前記各測定用センサはレーザを用いた構成としてあ
る特許請求の範囲第1項または第2項記載の旋盤加工物
測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25122984A JPS61131854A (ja) | 1984-11-28 | 1984-11-28 | 旋盤加工物測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25122984A JPS61131854A (ja) | 1984-11-28 | 1984-11-28 | 旋盤加工物測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61131854A true JPS61131854A (ja) | 1986-06-19 |
Family
ID=17219627
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25122984A Pending JPS61131854A (ja) | 1984-11-28 | 1984-11-28 | 旋盤加工物測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61131854A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01240259A (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 数値制御加工機 |
JPH02106255A (ja) * | 1988-10-11 | 1990-04-18 | Matsuura Tekkosho:Kk | 工作機械のエアーブロー兼用ワーク検出装置 |
EP0641624A1 (en) * | 1993-09-07 | 1995-03-08 | Sodick Co., Ltd. | Machine tool |
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EP0985493A3 (de) * | 1998-09-08 | 2002-05-08 | Walter AG | Werkzeugmaschine mit automatischer Prozesssteuerung/Überwachung |
GB2402638A (en) * | 2003-06-10 | 2004-12-15 | Hsien Lu Peng | Lens apparatus and method for detecting inaccuracy of machining of finished workpiece |
CN100437601C (zh) * | 2006-07-24 | 2008-11-26 | 西安飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种用于自动钻铆托架变形的修补数据处理方法 |
US20100288089A1 (en) * | 2009-05-15 | 2010-11-18 | Mori Seiki Co., Ltd. | Machining method and machining system |
US20110283847A1 (en) * | 2008-12-10 | 2011-11-24 | Leo Schreiber | Diameter Measurement in Turning Machines |
US8423171B2 (en) | 2007-11-05 | 2013-04-16 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Method for processing workpiece in tool machine and behavior measurement device |
CN103769949A (zh) * | 2012-10-18 | 2014-05-07 | 上海京美电脑机械有限公司 | 加工机的工件检测装置及其方法 |
RU2677443C2 (ru) * | 2017-06-15 | 2019-01-16 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северный (Арктический) федеральный университет имени М.В. Ломоносова" | Устройство высокоточной обработки деталей на токарных станках с числовым программным управлением |
CN111432966A (zh) * | 2018-01-25 | 2020-07-17 | 星精密株式会社 | 机床及工件测量方法 |
-
1984
- 1984-11-28 JP JP25122984A patent/JPS61131854A/ja active Pending
Cited By (18)
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---|---|---|---|---|
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CN1051265C (zh) * | 1993-09-07 | 2000-04-12 | 索迪克株式会社 | 机床的控制系统 |
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US11376667B2 (en) * | 2018-01-25 | 2022-07-05 | Star Micronics Co., Ltd. | Machining tool and workpiece measurement method |
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