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JPS5918739B2 - エラ−訂正処理装置 - Google Patents

エラ−訂正処理装置

Info

Publication number
JPS5918739B2
JPS5918739B2 JP51039904A JP3990476A JPS5918739B2 JP S5918739 B2 JPS5918739 B2 JP S5918739B2 JP 51039904 A JP51039904 A JP 51039904A JP 3990476 A JP3990476 A JP 3990476A JP S5918739 B2 JPS5918739 B2 JP S5918739B2
Authority
JP
Japan
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error
blocks
block
bits
matrix
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP51039904A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS52123147A (en
Inventor
晋 岡崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP51039904A priority Critical patent/JPS5918739B2/ja
Publication of JPS52123147A publication Critical patent/JPS52123147A/ja
Publication of JPS5918739B2 publication Critical patent/JPS5918739B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Error Detection And Correction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、エラー訂正処理装置、特にをビット・1バー
ストブロツクエラー訂正/2バーストブロツクエラー検
出コードを採用したエラー訂正処理装置において、単位
検査マトリクスを元にしてpブロック分のチェック・ビ
ットを附加してN・(p+1)ブロック分の検査マトリ
クスを使用するようにし、複数個のNブロック情報に対
してエラー・ブロック検出回路を共通化することによつ
て回路構成を簡単化したエラー訂正処理装置に関するも
のである。
例えば大容量の記憶装置においては、動作の信頼度を向
上するために、エラー訂正/検出コードが広く採用され
ている。
しかし一般には1ビット・エラー訂正/2ビット・エラ
ー検出を行なうコードが多く用いられているに過ぎない
。このため、複数ビット分を1個のメモリ素子上に格納
して1ブロック情報とし、これらブロック情報を複数個
分用いて1ワードを構成せしめる如き場合を考えると、
1つのメモリ素子に障害が発生すると1ブロック全体の
情報に障害を生じエラー訂正は不能となつてしまう。こ
のことを考慮して1プロツクbビツト内のどのようなエ
ラーでも訂正可能にするため、D.C.BOssenに
よる[b一隣接エラー訂正コード」が.BMJ.Res
.DevelOp.?VOl.l4?腐4ラPp4O2
−409,1970に示されている。
しかし、該コードの場合、情報ビツトを(2b−1)プ
ロツク即ち(2b−1)・bビツトまでしかとれないと
いう制限がある。例えばb=4とした場合情報ビツト数
mは60となりチエツク・ビツト数kは8となる。一方
記憶装置においてワード中の1プロツクはtビツトによ
つて構成することが適当であり、1プロツクを4ビツト
とし、8プロツクを1ワードとすると、1ワード64ビ
ツトとなる。即ち上記b=4としたコードでは必要な情
報ビツト数が不足する。このため、b=8とすればよい
が、b=8とすると、チエツク・ビツト数k−16とな
り、上記1ワード64ビツトに対して使用するコードと
しては効率が悪くかつ装置が複雑となる。
そこでb=4の場合において4次の既約多項式を用いる
代わりに、HOng&Patelによる「拡張されたb
隣接エラー訂正コード(IEEETrans.COmp
ut.,vOl.C−21,滝12,pp.1322−
1331.Dec.1972)」にもとずいて5次の多
項式を用いると、情報ビツトを31プロツク即ち124
ビツトまでとることができ、しかもチエツク・ビツト数
が9ビツトとなり効率が良い。即ち装置もb=8の場合
にくらべて簡単となる。しかし例えばb=4に対して9
個のチエツク・ビツトを附加するには3プロツク(1プ
ロツク・4ビツト)分を必要とし、チエツク・ビツト数
12ビツトの場合とプロツク数は同じとなつてしまう。
HOng&Patelによれば、b=4、チエツク.ビ
ツト数12ビツトの「拡張されたb一隣接コード」は情
報ビツトとして270プロツク即ち1080ビツトまで
とることができる。
第1図は該b=4、チエツク・ビツト数12ビツトの検
査マトリクスを表わし、情報ビツトに対する上半255
プロツクには8次の既約多項式を用い、下半15プロツ
クには4次の既約多項式を用いるようにしている。情報
ビツトとして例えば120ビツト分で足りるような場合
には、上記第1図に示す検査マトリクス(以下Hマトリ
クスという)を第2図図示の如くより簡単化することが
可能である。
第2図図示のHマトリクスは、第1図に示すHマトリク
スの上半255プロツク中から15プロツク分を抽出し
、下半15プロツクとチエツク・プロツクとをそのまま
採用したものと考えてよい。しかし、該第2図図示のH
マトリクスの場合、上半15プロツクに対して8次の既
約多項式が用いられ、下半15プロツクに対して4次の
既約多項式が用いられていることから、エラー訂正を行
なう回路構成が複雑となる。即ち第2図図示のビツトA
O(0)ないしBl4(3)に対して夫々異なつた回路
を用いる必要がある。このことから、例えばNプロツク
分の情報ビツト数に対応する単位検査マトリクスを基本
とし、これらを巡回させることによつて情報ビツト数を
拡張することが藤原英二氏によつて提案されている(藤
原:「高信頼度メイン・メモリの一構成失、電子通信学
会EC75−21)。
しかし、該方式を用いる場合も、復号化回路が必らずし
も簡単でない。本発明は、上記の点を考慮してNプロツ
ク分の情報ビツト数に対応する単位Hマトリクスをその
まま複数個使用する形のHマトリクスを用いると共に必
要とするチエツク・ビツト数を低減せしめて、エラー訂
正回路構成を簡単化したエラー訂正処理装置を提供する
ことを目的としている。
そしてそのため、本発明のエラー訂正処理装置はbビツ
ト・1バーストプロツクエラ一訂正/2バーストプロツ
クエラ一検出コードを採用した情報転送システムにおけ
るエラー訂正処理装置において、Nプロツク分の情報ビ
ツト数とmプロツク分のチエツク・ビツト数とに対応す
る単位検査マトリクスを元にしてM.pプロツク分のチ
エツク・ビツトを附加することなく単にpプロツク分の
チエツク・ビツトのみを附加し該単位検査マトリクスの
一部を同じ行にかつ一部を異なる行に繰返し配列した拡
大したN・(p+1)プロツク分の情報ビツト数に対応
する検査マトリクスを使用すると共に、該検査マトリク
スを使用して得られたシンドロームにもとずいて、上記
チエツク・ビツト部分または上記N・(p+1)プロツ
ク分の情報ビツトを(p+1)個に区分したいずれの区
分範囲内にエラー・プロツクが存在するかを検出するエ
ラ一範囲抽出回路、および上記区分範囲内のいずれのプ
ロツクにエラーが存在するかを検出するエラー・プロツ
ク検出回路をもうけ、上記エラー範囲抽出回路出力と上
記エラー・プロツク検出回路出力とによりエラー・プロ
ツクのバースト・エラーを訂正するようにしたことによ
り、より少ないチエツク・ビツトを附加した形で訂正可
能な情報ビツト数を拡大したことを特徴としている。以
下第3図以降を参照して説明する。第3図は8プロツク
の情報ビツトを単位とし16プロツク分に拡大した本発
明は用いる一実施例Hマトリクス、第4図は第3図図示
のHマトリクスを具体的に示したHマトリクス、第5図
は本発明による他の一実施例Hマトリクス、第6図は第
3図即ち第4図図示のHマトリクスを用いた場合におけ
るエラー発生態様にもとずくシンドロームの状態をまと
めた説明図、第7図AないしDは本発明のエラー訂正処
理装置の一実施例構成、第8図は第7図Aに示す一部回
路を具体的に表わした一実施例を示す。
本発明の場合、第3図図示の如く例えばb=4とし4次
の既約多項式を用いて構成した8プロツク分の情報ビツ
トに対する単位Hマトリクス1を元にしてチエツク・ビ
ツト2を1プロツク分だけ附加することによつて、全体
として8X2プロツク分の情報ビツトに対するHマトリ
クスを構成し、該Hマトリクスを用いるようにしている
即ち、マトリクスの上半と下半とは図示第1横行と第2
横行とを交換するだけで同じ構成をとり、エラー訂正回
路に必要な構成を簡単化せしめている。第3図に示すお
よびTは夫々4X4ビツトのマトリクスよりなり、これ
を具体化すると第4図図示の如くなるものである。なお
、本発明の場合、Hマトリクスの上半と下半との任意の
横行を交換して構成したものであればよく、第5図図示
の如きHマトリクスを用い得ることは言うまでもない。
以下第4図に示すHマトリクスを使用するものとして説
明をつづける。例えば記憶装置に格納された1ワードの
内容をCOツC1?C2?C3}とし)かつ1プロツク
の内容をa1{Ai(0),・・・・・・Ai(3)}
,Bi{Bi(0),・゜゜.・・Bi(3)},Ci
{Ci(0),・・・・・・Ci(3)}とするとき、
該1ワードの内容Wを読出した後第4図図示のHマトリ
クスを乗すると次のシンドロームSが得られる。
即ちここでシンドロームS{SO,Sl,S,,S3}
で表わされ、各要素SiはSi{Si(0),・・・・
・・Si(3)}である。
本発明の場合、上記16プロツク内のいずれにエラーが
存在するかによつて、上記シンドロームSO,Sl,S
2,S3は第6図図示の如きパターンをとる。
図中例えばエラー・プロツクAiとあるのは読出された
1ワード情報中のプロツクA。ないしA3のいずれか1
つにエラーが存在することを示し、COとあるのはプロ
ツクC。にエラーが存在することを示し、CO,Clと
あるのはプロツクC。とC,とに夫々エラーが存在する
ことを示し、Ai,cOとあるのはプロツクA。ないし
A3のいずれか1つとプロツクC。とに夫々エラーが存
在することを示し、AiajとあるのはプロツクA。な
いしA3内のいずれか2つにエラーが存在することを示
し、AibjとあるのはプロツクAOないしA3のいず
れか1つとプロツクB。ないしB3のいずれか1つとに
エラーが存在することを示している。またe1およびE
2は夫々エラーが存在するときにシンドロームSi(4
ビツト)に現われるパターンを表わしている。1プロツ
クにおけるバーストエラ一発生時には、Ai,bi,c
iの3群中のどのプロツクにエラーを含んでいるかによ
り第6図図示の如く各種のシンドロームのパターンが現
われる。
即ち、(1)プロツクCi中にエラーが生じているとき
には、シンドロームS。
ないしS3のうち、Siのみがオール零とならない。(
2)プロツクAi中にエラーが生じているときにはシン
ドロームS。
,S2,S3が夫々オール零でなく、シンドロームS1
はオール零となり、かつ次の式が成立する。ト そして、シンドロームS。
がプロツクA。ないしA7中の第1番目のプロツクにエ
ラーがあることを表わすパターンとなつている。(3)
プロツクBi中にエラーが生じているときには、シンド
ロームSl,S2,S3が夫々オール零でなく、シンド
ロームS。
はオール零となり、かつ次の式が成立する。Y8轟
可 yυ そして、シンドロームS1がプロツクB。
ないしB7中の第1番目のプロツクにエラーがあること
を表わすパターンとなつている。(4)シンドロームS
ないしS3がすべてオール零の場合には、エラーが存在
しないことを表わしている。(5)そして上記以外の場
合、訂正不能なエラーとして検出される。
第7図AないしDは上記(1)ないし(5)にもとずい
て、1プロツクーバーストエラ一を訂正する本発明の一
実施例構成を示している。
図中、10はシンドローム発生器、11はエラー範囲抽
出回路、12はエラー・プロツク検出回路、13は訂正
不能エラー検出回路、14はエラー・チエツクプロツク
訂正回路、14−0ないし14−3は夫々プロツクC。
ないしC3訂正回路、15はエラー情報プロツク訂正回
路、15a−0ないし15a−7は夫々プロツクA。な
いしA7訂正回路、15b−0ないし15b−7は夫々
プロツクB。ないしB7訂正回路、16ないし17は夫
々オア回路、18ないし27は夫々ノア回路、28ない
し31は夫々排他的オア回路網、32ないし44は夫々
アンド回路、45ないし47は夫夫排他的オア回路を表
わしている。1ワードを構成するビツトA。
(0)ないしC3(3)よりなる情報に対して、シンド
ローム発生器10において第4図図示のHマトリタスを
作用せしめると、該Hマトリクスの第1横行に対応して
ビツトS。(0)ないしS。(3)よりなるシンドロー
ムS。が発生され、Hマトリクスの第2横行に対応して
ビツトS1(0)ないしS1(3)よりなるシンドロー
ムS1が発生され、Hマトリクスの第3横行に対応して
ビツトS2(0)ないしS2(3)よりなるシンドロー
ムS2が発生され、Hマトリクスの第4横行に対応して
ビツトS3(0)ないしS3(3)よりなるシンドロー
ムS3が発生される。これら発生されたシンドロームS
ないしS3は夫々エラー範囲抽出回路11に供給される
。このときアンド回路32が論理「1」を発生するとき
、シンドロームS。ないしS3はすべてオール零であり
、エラーが存在しないことを表わす。またアンド回路3
8の出力11が論理「1」を発生するとき、プロツクA
i内にエラーが存在することを表わし、アンド回路37
の出力12が論理「1」を発生するとき、プロツクBi
内にエラーが存在することを表わす。更にアンド回路3
6の出力13−0が論理[1」を発生するときプロツク
C。に、アンド回路35の出力13−1が論理「1」を
発生するときプロツクC1に、アンド回路34の出力1
3−2が論理[1」を発生するときプロツクC,に、ア
ンド回路33の出力13−3が論理[1」を発生すると
きプロツクC3に夫夫エラーが存在することを表わす。
シンドロームS。
とS1とはオア回路16に供給されその出力S。esl
と、シンドロームS2とS3とが夫々エラー・プロツク
検出回路に供給される。そして出力15−0が論理「1
」を示すときプロツクA。かB。かにエラーがあること
を表わし、同様に出力15−7が論理[1」を示すとき
プロツクA7かB7かにエラーがあることを表わす。第
7図Cはエラー・チエツクプロツク訂正回路を表わし、
例えばプロツクC。
訂正回路14−0においては出力13−0が論理「1」
となる条件のもとにおいてシンドロームS。とプロツク
C。の内容とが比較され、エラー訂正された出力C。を
発生する。プロツクC1ないしC3についても同様にも
しもエラーが存在すれば夫々訂正された出力を得ること
ができる。第7図Dはエラー情報プロツク訂正回路を表
わし、例えばプロツクA。
訂正回路15a−0においては、出力11と15−0と
が共に論理[1]なる条件でシンドローム14即ちS〔
1S1とプロツクA。の内容とが比較され、エラー訂正
きれた出力A。を発生する。またプロツクB。訂正回路
15b−0においては、出力12と15−0とが共に論
理「1」なる条件でシンドローム14とプロツクB。の
内容とが比較され、エラー訂正された出力B。を発生す
る。プロツクa1ないしA7およびb1ないしB7につ
いても同様にもしもエラーが存在すれば夫々訂正された
出力を得ることができる。更に訂正不能エラー検出回路
13は、2プロツクにまたがるエラー発生状態を検出す
る。
第8図は、第1図に示すエラー範囲抽出回路12の詳細
を示している。
本発明の場合第4図に示す図示矢印1.151′,と「
、・・・・・・の第3横行と第4横行とは同じマトリク
スとなつていることから、共通の回路28,29,22
,23,39や30,31,24,25,40を用いる
ことが可能となる。以上説明した如く、本発明によれば
第4図図示の如きHマトリクスを用いることにより、第
7図に示す如くエラー範囲抽出回路とエラー・プロツク
検出回路とを用いることができ、回路構成が大幅に簡単
化される。
そしてまた2プロツクにまたがるバースト・エラーを検
出できる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は夫々本発明の前提として考慮され
たHマトリクス、第3図は8プロツクの情報ビツトを単
位とし16プロツク分に拡大した本発明に用いる一実施
例Hマトリクス、第4図は第3図図示のHマトリクスを
具体的に示したHマトリクス、第5図は本発明による他
の一実施例Hマトリクス、第6図は第3図即ち第4図図
示のHマトリクスを用いた場合におけるエラー発生態様
にもとずくシンドロームの状態をまとめた説明図、第7
図AないしDは本発明のエラー訂正処理装置の一実施例
構成、第8図は第7図Aに示す一部回路を具体的に表わ
した一実施例を示す。 図中、1は単位Hマトリクス、10はシンドローム発生
器、11はエラー範囲抽出回路、12は工ラ一・プロツ
ク検出回路、13は訂正不能エラー検出回路、14はエ
ラー・チエツクプロツク訂正回路、15はエラー情報プ
ロツク訂正回路を夫夫表わす。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 bビット・1バーストブロツクエラー訂正/2バー
    ストブロツクエラー検出コードを採用した情報転送シス
    テムにおけるエラー訂正処理装置において、Nブロック
    分の情報ビット数とmブロック分のチェック・ビット数
    とに対応する単位検査マトリクスを元にしてm・pブロ
    ック分のチェック・ビットを附加することなく単にpブ
    ロック分のチェック・ビットのみを附加し該単位検査マ
    トリクスの一部を同じ行にかつ一部を異なる行に繰返し
    配列した拡大したN・(p+1)ブロック分の情報ビッ
    ト数に対応する検査マトリクスを使用すると共に、該検
    査マトリクスを使用して得られたシンドロームにもとず
    いて、上記チェック・ビット部分または上記N・(p+
    1)ブロック分の情報ビットを(p+1)個に区分した
    いずれの区分範囲内にエラー・ブロックが存在するかを
    検出するエラー範囲抽出回路、および上記区分範囲内の
    いずれのブロックにエラーが存在するかを検出するエラ
    ー・ブロック検出回路をもうけ、上記エラー範囲抽出回
    路出力と上記エラー・ブロック検出回路出力とによりエ
    ラー・ブロックのバースト・エラーを訂正するようにし
    たことにより、より少ないチェック・ビットを附加した
    形で訂正可能な情報ビット数を拡大したことを特徴とす
    るエラー訂正処理装置。 2 上記エラー・ブロック検出回路は、情報ビットを(
    p+1)個に区分した複数個の区分範囲に対して共通に
    もうけられ、該区分範囲内のどのブロック位置にエラー
    が存在するかを検出するよう構成された特許請求の範囲
    第1項記載のエラー訂正処理装置。 3 2ブロックにまたがるバースト・エラーを訂正不能
    エラーとして検出する訂正不能エラー検出回路をもうけ
    たことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項
    記載のエラー訂正処理装置。
JP51039904A 1976-04-08 1976-04-08 エラ−訂正処理装置 Expired JPS5918739B2 (ja)

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JPS52123147A JPS52123147A (en) 1977-10-17
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JPS5848939B2 (ja) * 1977-12-23 1983-11-01 富士通株式会社 エラ−訂正処理装置
JPH0824652B2 (ja) * 1988-12-06 1996-03-13 松下電器産業株式会社 電気掃除機

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