JPS59128444A - Electromagnetic flaw detector - Google Patents
Electromagnetic flaw detectorInfo
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- JPS59128444A JPS59128444A JP236483A JP236483A JPS59128444A JP S59128444 A JPS59128444 A JP S59128444A JP 236483 A JP236483 A JP 236483A JP 236483 A JP236483 A JP 236483A JP S59128444 A JPS59128444 A JP S59128444A
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- flaw detector
- electromagnetic
- detector
- tuned amplifier
- oscillator
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は材料及び製品の非破壊検査装置、より特定的に
は電磁的きず検出器に係る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to non-destructive testing equipment for materials and products, and more particularly to electromagnetic flaw detectors.
本発明は、種々の部品、例えば航空機のエンジンタービ
ンに取り付けられるシャフト、ディスク1ブレードの検
査、すなわち、大、中、小のきすのような表面欠陥の検
出に最も有用に用いられる。The present invention is most usefully used for inspecting various parts, such as shafts and disk 1 blades attached to aircraft engine turbines, ie, detecting surface defects such as large, medium, and small scratches.
公知のものとして、自励式の発振器を含んでおり、その
うちの1つのインダクタンスコイルは電磁トランスジュ
ーサとして作動し、さらに上記のものと電気的に接続さ
れている構成要素を含んでおり、この中に検出要素、信
号リミタ及びインジケータが含まれる電磁的きず検出器
がある(ソ連発明者証第657,328号、CL、 G
Ol N 27/86 。As is known, it includes a self-excited oscillator, one of which inductance coils acts as an electromagnetic transducer, and further includes components electrically connected to the above, in which a detection There are electromagnetic flaw detectors including elements, signal limiters and indicators (USSR Inventor's Certificate No. 657,328, CL, G
Ol N 27/86.
1979年4月15日発行参照)。(Refer to publication April 15, 1979).
圧延した材料の検査のために設計した公知の検出器は感
度が低く、大きなきずのような欠陥しか検出しない。Known detectors designed for inspection of rolled materials have low sensitivity and only detect defects such as large scratches.
また、自励式の発振器を含んでおり、そのうちの1つの
インダクタンスコイルは電磁トランスジューサとして作
動し、さらに上記のものに直列に接続されていて検査部
品の欠陥を検出するのに役立つ手段を含んでいる電磁的
きず検出器が知られている(ドロフエイエフ拳エイ・エ
ル、カザマノフ・ニー・ジー「電磁的検査」モスクワ、
マシンストロイニイエ出版社1980年98〜103頁
参照)。It also includes a self-excited oscillator, one of which has an inductance coil that acts as an electromagnetic transducer, and further includes means connected in series with the above to serve to detect defects in the inspected part. Electromagnetic flaw detectors are known (Dorofeyev Ken A.L., Kazamanov N.G. "Electromagnetic Inspection" Moscow,
(see Masinstronie-Verlag, 1980, pp. 98-103).
先に述べたきず検出器の検査信頼性は、検査部品の表面
に対する電磁トランスジューサの有り得る傾斜、外れ、
及び物品の端部に対する動きによって影響される。The inspection reliability of the flaw detector mentioned above is determined by the possible tilting, dislocation, and
and movement relative to the edges of the article.
上に述べた目的で設計した上記の検出器の感度は低く(
検出可能な表面欠陥の深さ及び長さはそれぞれ0.3〜
0.5211’及び1.5 tmである)、その検査信
頼性は、航空機エンジンタービン・ブレードのような部
品の検査においては高くない。The sensitivity of the above detector designed for the purpose mentioned above is low (
The depth and length of detectable surface defects are each 0.3~
0.5211' and 1.5 tm), its inspection reliability is not high for inspection of components such as aircraft engine turbine blades.
異なった金属で作られた部品の検査を可能にするために
、一般には1組の異なった電磁トランスジューサが必要
である。To be able to inspect parts made of different metals, a set of different electromagnetic transducers is generally required.
本発明の1つの目的は、感度が実質的に増大したきず検
出器を提供することである。One object of the present invention is to provide a flaw detector with substantially increased sensitivity.
本発明の別の目的は、1個の電磁トランスジューサで、
異なった金属で作られた部品の検査を可能にすることで
ある0
これらの目的及び他の目的で、電磁的きず検出器であっ
て、自励式の発振器を含んでおり、そのうちの1つのイ
ンダクタンスコイルは電磁トランスジューサとして作動
し、さらにそれに対して直列に接続され検査部品の欠陥
を検出するのに役立つ手段を含んでおり、本発明によっ
てこのきず検出器には、自励式発振器の出力へ電気的に
接続されかつ検査部品の欠陥を検出するための手段の入
力へ接続された同調増幅器が設けられており、同調増幅
器中の発振回路の1つの要素がきず検出器の感度調節制
御器として作動する電磁的きず検出器をここに提案する
。Another object of the invention is that in one electromagnetic transducer,
For these and other purposes, an electromagnetic flaw detector comprising a self-excited oscillator, one of which has an inductance The coil operates as an electromagnetic transducer and further includes means connected in series thereto to serve for detecting defects in the component under test; and a tuned amplifier connected to the input of the means for detecting defects in the test component, wherein one element of the oscillator circuit in the tuned amplifier operates as a sensitivity adjustment controller for the flaw detector. An electromagnetic flaw detector is proposed here.
上記のように設計した電磁的きず検出器の感度は、検査
部品の表面の小さいきすを検出するのに必要なレベルま
で向上し、鍾々の金属から作られた検査部品に対して1
つの電磁トランスジューサの使用で良くなる。The sensitivity of the electromagnetic flaw detector designed as described above has been improved to the level necessary to detect small scratches on the surface of the inspected parts, and it is
This can be improved by using two electromagnetic transducers.
本発明のこれらの目的、それ以外の目的及び利点は、以
下の望ましい実施例の説明及び添付の図面から十分に明
らかになろう。These and other objects and advantages of the present invention will become more fully apparent from the following description of the preferred embodiments and the accompanying drawings.
本発明による電磁的きず検出器は直列接続された要素を
含み、その中には自励式発振器1(第1図)が含まれ、
その中の1つのインダクタンスコイルは検査部品(図示
なし)の上に位置する電磁トランスジューサ2として作
動し、またフォロア3が含まれ、さらに検査部品の欠陥
を検出するための手段5の入力に接続されている同調増
幅器4が含まれる。The electromagnetic flaw detector according to the invention comprises series connected elements, among which a self-excited oscillator 1 (FIG. 1);
One inductance coil therein acts as an electromagnetic transducer 2 located above the test part (not shown) and also includes a follower 3, further connected to the input of means 5 for detecting defects in the test part. A tuned amplifier 4 is included.
第2図を参照すると、同調増幅器4には、適当な増幅器
として作動し発振回路7を通して電源(図面では簡単の
ためターミナルの形で示した)に接続されている要素6
が含まれており、発振回路7はインダクタンスコイル8
と、きず検出器の感度制御器として働く可変キャパシタ
9(以下感度制御器9と言う)とを有している。Referring to FIG. 2, the tuned amplifier 4 includes an element 6 which acts as a suitable amplifier and is connected through an oscillator circuit 7 to a power supply (shown in the figure in the form of a terminal for simplicity).
The oscillation circuit 7 includes an inductance coil 8
and a variable capacitor 9 (hereinafter referred to as sensitivity controller 9) which functions as a sensitivity controller of the flaw detector.
感度制御器の作用は発振回路の他の要素によって同じ様
に行うことができる。The action of the sensitivity controller can be performed in the same way by other elements of the oscillator circuit.
欠陥検出手段5(第1図)には青表示検出器要素10と
光表示検出器要素11とが含まれ、いずれも同調増幅器
4へ接続されている。青表示検出器要素10へ接続され
ているマルチバイブレータ12の1つの出力は音指示器
13へ接続されている。マルチバイブレータ12の他の
出力は直流増幅器14へ接続されており、その出力は針
指示器15へ接続されている。光表示検出器要素11に
は光指示器16が接続されている0
本発明の電磁的きず検出器は以下のように作動する。The defect detection means 5 (FIG. 1) includes a blue display detector element 10 and a light display detector element 11, both connected to the tuned amplifier 4. One output of the multivibrator 12 connected to the blue display detector element 10 is connected to a sound indicator 13. The other output of the multivibrator 12 is connected to a DC amplifier 14, the output of which is connected to a needle indicator 15. A light indicator 16 is connected to the light indicator detector element 11. The electromagnetic flaw detector of the present invention operates as follows.
自励式発振器1の電磁トランスジューサ2を、人工のき
す型の欠陥を有する標準サンプルの上に置き、自励式発
振器1の周波数を検査部品の材料に応じて調節する。同
調増幅器4の発振回路7の中に含まれている感度制御器
9(第2図)のノブを回して、本発明によるきず検出器
を最大感度に調節する。The electromagnetic transducer 2 of the self-excited oscillator 1 is placed on a standard sample with an artificial cut-shaped defect, and the frequency of the self-excited oscillator 1 is adjusted according to the material of the test part. The flaw detector according to the invention is adjusted to maximum sensitivity by turning the knob of the sensitivity controller 9 (FIG. 2) contained in the oscillator circuit 7 of the tuned amplifier 4.
電磁トランスジューサ2(第1図)で検査部品を走査す
る時、自励式発振器1の発振回路7のQ係数は低下し、
その自然周波数は増加する。そうして変化信号はフォロ
ア3を通して同調増幅器4へ送られ、同調増幅器4の出
力信号強度は突然増加する。検出器要素10によって検
出される信号はマルチバイブレータ12の周波数を変化
させる。When scanning the inspection part with the electromagnetic transducer 2 (FIG. 1), the Q factor of the oscillation circuit 7 of the self-excited oscillator 1 decreases,
Its natural frequency increases. The changing signal is then sent through the follower 3 to the tuned amplifier 4, and the output signal strength of the tuned amplifier 4 suddenly increases. The signal detected by detector element 10 causes the frequency of multivibrator 12 to change.
音指示器13の調子が鋭く増加する。直流増幅器14の
入力に加わる信号の強度が高まる。指示器15の針が突
然ふれる。音信号の調子の増加と指示器15の針のふれ
とは検査部品に欠陥が有することを示している。The tone of the sound indicator 13 increases sharply. The strength of the signal applied to the input of DC amplifier 14 increases. The needle of indicator 15 suddenly moves. An increase in the tone of the sound signal and a deflection of the indicator 15 indicate a defect in the inspected part.
検出器要素11によって検出される信号は光指示器16
へ送られる。光指示器16のスクリーンのシャドーセク
タの角度は最初の角度に対して突然床がり、同様に検査
部品の欠陥を指示する。The signal detected by the detector element 11 is detected by the optical indicator 16
sent to. The angle of the shadow sector of the screen of the light indicator 16 drops abruptly with respect to the initial angle, likewise indicating a defect in the inspected part.
このように、増幅器4の共振周波数は、検査部品の材料
に従って、感度制御器9により調節される。同調増幅器
4の利得は大きく増加し、その結果きず検出器の感度も
増加する(少なくとも0.2鱈の表面欠陥の深さで、少
な(とも0.6111mの長さのものについて)。本発
明のきず検出器の与えられた感度について、部品検査信
頼性は高く、この特徴は、シャフト、ディスク、ブレー
ドを含む航空機エンジンタービンの構成要素のような製
品の検査について、極めて必須のことである。The resonant frequency of the amplifier 4 is thus adjusted by the sensitivity controller 9 according to the material of the test part. The gain of the tuned amplifier 4 is greatly increased and, as a result, the sensitivity of the flaw detector is also increased (at least for a surface defect depth of 0.2 cod, and for a small (both for a length of 0.6111 m)). For a given sensitivity of a flaw detector, component inspection reliability is high, and this feature is extremely essential for inspection of products such as aircraft engine turbine components, including shafts, disks, and blades.
異なった金属から作られている部品を検査するために単
一の電磁トランスジューサしか使用しないので、本発明
によるきず検出器の操作と維持は極めて単純になる。Since only a single electromagnetic transducer is used to inspect parts made of different metals, the operation and maintenance of the flaw detector according to the invention is extremely simple.
第1図は本発明による電磁的きず検出器のブロック図を
示し、
第2図は第1図に示した電磁的きず検出器に組み込まれ
ている同調増幅器の概略図である。
1・・・自励式発振器、 2・・・電磁トランスジュー
サ、 3・・・フォロア、 4・・・同調増幅器、
5・・・検査部品の欠陥検出のための手段、 6・・・
増幅器要素、 7・パ発振回路、 8・・・インダク
タンスコイル、 9・・・きず検出器感度制御器、 1
o・・・検出器要素、 11・・・検出器要素、 12
・・・マルチバイブレータ、 13・・・音指示器、
14・・・増幅器、 15・・・針指示器、 16・・
・光指示器。
特許出願人代理人 弁理士 佐 藤 文 男(ほか1名
)
・シャガベエフ
ソビエト連蔀)ザン・ウーリツ
ツア・デカブリストフ184エイ
・クワルチーラ73
0発 明 者 ヴイクトル・アレクセエヴイツチ・ニコ
ラエフ
ソビエト連邦カザン・チストポ
ルスカヤ・ウーμぴノツア3クワ
ルチーラ16
0発 明 者 ミハイル・レオニドヴイツチ・ヤクシエ
フ
ソビエト連邦カザン・ウーリツ
ツア・フルンゼ1クワルチーラ
7
0発 明 者 ゲオルギイ・アレクセエヴイツチ・アレ
クセエフ
ソビエト連邦カザン・ウーリツ
ツア・ソルダツカヤ3クワルチ
ーラ27
0発 明 者 アナトリイ・ウラディミロヴイツチ・レ
ツノフ
ソビエト連邦モスクワ・ウーμ
ツツア3プリアデイルナヤ5ク
ワルチーラ8
■出 願 人 パヴエル・アレクサンドロヴイッチ・ノ
ヴオビトフ′
ソビエト連邦モスクワ・チェル
ニツインスキイ・プロエズド4
クワルチーラ23
■出 願 人 工フゲニイ・アレクセエヴイッチ・クニ
アゼフ
ソビエト連邦モスクワ・ベロゼ
ルスカヤ・ウーリツツア17ビー
・クワルチーラ105
■出 願 人 リナト・シャガヮレエヴイッチ・シャガ
ベエフ
ソビエト連邦カザン・ウーリッ
ツア・デカブリストフ184エイ
・クワルチーラ73
■出 願 人 ヴイクトル・アレクセエヴイツチ・ニコ
ラエフ
ソビエト連邦カザン・チストポ
ルスカヤ・ウーリツツア3クワ
ルチーラ16
0出 願 人 ミハイル・レオニドヴイッチ・ヤクシエ
フ
ソビエト連邦カザン・ウーリッ
ツア・フルンゼ1クワルチーラ
7
0出 願 人 ゲオルギイ・アレクセエヴイッチ・アレ
クセエフ
ソビエト連邦カザン・ウーリッ
ツア・ソルダツカヤ3クワルチ
ーラ27
0出 願 人 アナトリイ・ウラデイミロヴイツチ・レ
ツノフ
ソビエト連邦モスクワ・ウーμ
ツツア3プリアデイルナヤ5ク
ワルチーラ8FIG. 1 shows a block diagram of an electromagnetic flaw detector according to the invention, and FIG. 2 is a schematic diagram of a tuned amplifier incorporated in the electromagnetic flaw detector shown in FIG. 1... Self-excited oscillator, 2... Electromagnetic transducer, 3... Follower, 4... Tuned amplifier,
5... Means for detecting defects in inspected parts, 6...
Amplifier element, 7. Para oscillation circuit, 8. Inductance coil, 9. Flaw detector sensitivity controller, 1
o...Detector element, 11...Detector element, 12
...Multi-vibrator, 13...Sound indicator,
14...Amplifier, 15...Needle indicator, 16...
・Light indicator. Patent applicant representative Patent attorney Fumi Sato (and 1 other person) Zan Uritsutsa Dekabristov 184 Ei Kwarchila 73 0 Inventor Viktor Alekseevitch Nikolaev Soviet Union Kazan・Chistopolskaya UμPinotsa 3 Kwarchila 16 0 Inventor Mikhail Leonidovich Yakusiyev Soviet Union Kazan Ulitsya Frunze 1 Kwarchila 7 0 Inventor Georgy Alekseevytsy Alekseev Soviet Union Kazan Ulitsya Soldatskaya 3 Kwarchila 27 0 Inventor Anatoliy Vladimirovitch Retunov Soviet Union Moscow Uμ Tutua 3 Priadeylnaya 5 Kwarchia 8 ■Applicant Pavel Aleksandrovich Novovitov' Soviet Union Moscow Chernitsynskii・Proezd 4 Kwarchila 23 ■Applicant: Kvgeny Alekseyevich Kniazev, Soviet Union, Moscow Belozerskaya Ulitssa 17 B. Kwarchila 105 ■Applicant: Rinat Shagavalevich Shagabeyev, Soviet Union, Kazan Ulitsa Dekabristov 184 Ei Kwarchila 73 ■Applicant Viktor Alekseevitzy Nikolaev Soviet Union Kazan Chistopolskaya Ulitza 3 Kwarchila 16 0 Applicant Mikhail Leonidovich Yakusiev Soviet Union Kazan Ulitza Frunze 1 Kwarchila 7 0 Applicants Georgiy Alekseevich Alekseev Soviet Union Kazan Uritsa Soldatskaya 3 Kwarchila 27 0 Applicants Anatoly Vladimilovitch Retunov Soviet Union Moscow Uμ Tutua 3 Priadelnaya 5 Kwarchila 8
Claims (1)
んでおり、そのうちの1つのインダクタンスコイルは電
磁トランスジューサ(2)として作動し、さらに検査部
品の欠陥を検出するのに役立つ手段(5)であって前記
発振器に直列に接続されているものを含んでおり、該検
出器は、自励式発振器(1)の出力へ電気的に接続され
かつ検査部品の欠陥を検出するための手段(5)の入力
へ接続された同調増幅器(4)を有しており、同調増幅
器(4)中の発振回路(7)の1つの要素がきず検出器
の感度制御器(9)として作動することを特徴とする電
磁的きず検出器。An electromagnetic flaw detector comprising a self-excited oscillator (1), one inductance coil of which acts as an electromagnetic transducer (2), and further means ( 5) connected in series with said oscillator, said detector being electrically connected to the output of the self-excited oscillator (1) and means for detecting defects in the test component. (5) has a tuned amplifier (4) connected to the input of the tuned amplifier (4), one element of the oscillator circuit (7) in the tuned amplifier (4) acting as a sensitivity controller (9) of the flaw detector. An electromagnetic flaw detector characterized by:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP236483A JPS59128444A (en) | 1983-01-12 | 1983-01-12 | Electromagnetic flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP236483A JPS59128444A (en) | 1983-01-12 | 1983-01-12 | Electromagnetic flaw detector |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59128444A true JPS59128444A (en) | 1984-07-24 |
Family
ID=11527199
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP236483A Pending JPS59128444A (en) | 1983-01-12 | 1983-01-12 | Electromagnetic flaw detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59128444A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6329757U (en) * | 1986-08-12 | 1988-02-26 | ||
JPS6375859U (en) * | 1986-11-06 | 1988-05-20 |
-
1983
- 1983-01-12 JP JP236483A patent/JPS59128444A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6329757U (en) * | 1986-08-12 | 1988-02-26 | ||
JPS6375859U (en) * | 1986-11-06 | 1988-05-20 |
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