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JPS5835452A - 熱拡散率測定法 - Google Patents

熱拡散率測定法

Info

Publication number
JPS5835452A
JPS5835452A JP13332681A JP13332681A JPS5835452A JP S5835452 A JPS5835452 A JP S5835452A JP 13332681 A JP13332681 A JP 13332681A JP 13332681 A JP13332681 A JP 13332681A JP S5835452 A JPS5835452 A JP S5835452A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time
specimen
temperature
sample
elapsed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP13332681A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6351500B2 (ja
Inventor
Tadahiko Azumi
安積 忠彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RIGAKU DENKI KK
Rigaku Denki Co Ltd
Original Assignee
RIGAKU DENKI KK
Rigaku Denki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RIGAKU DENKI KK, Rigaku Denki Co Ltd filed Critical RIGAKU DENKI KK
Priority to JP13332681A priority Critical patent/JPS5835452A/ja
Publication of JPS5835452A publication Critical patent/JPS5835452A/ja
Publication of JPS6351500B2 publication Critical patent/JPS6351500B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/18Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal conductivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 板状試料の一方のIIを例えばレーザ光のような輻射線
で瞬間的に照射して他方の面の温度1郷を観測し、その
温度が最大値の例えげ8分の1に達するまての時間と上
記試料の厚みと良よって、熱拡散率を11企することが
できる。このようなフラッシュ法熱拡散率測定において
、試料表面の温度が異状に上昇することなく、シかも裏
面に適当な温度上昇を生ずるようにするために醪、輻射
線の照射時間を大きくしなければならな−が、この場合
はその波形並びに試料裏面の温度が最大値の2分のIK
達するまでの時間に応じて測定値に補正を加える必要が
あ島4#Mh、従って仁の捕正量が装置毎に相違するだ
けでなく、更に測定毎に相違するから、補正の操作が極
めて煩雑であった。本発明はこのような欠点を除失して
、測定毎に補正を行う必要のなφ方法を提供するもので
、以下これにつ−て評絖する。
第1図のように例え社円板状をなした試料1の一方のw
iに矢印怠で示したようにレーザ光を均一な強度をもっ
て瞬間的に照射し、他方のIIK添着した熱電対接点S
によってその温度上昇を測定する。11!怠図は時間−
と上記レーず光の強度り並びに試料1の下面の温度Tの
関係を示した曲線−および−を示したもので、第1図に
曲S−を拡大して示しである。第を図における曲Heの
極大値を戸とすると1w1曲線がり、に達する時刻をI
宇また試料1の厚さをI、定数をに・とすると、上記試
料の熱拡散率111は 五〇を示し丸亀のて、試料を照射する輻射線の時間幅を
τとLlまたtYを−とすると自横軸にFl、にをとっ
である。水平線ムは第2図における曲線aの時間幅tが
極めて小さ一場合で、上記1.に関係なく K、はO,
13aaの一定値を有する。また曲線B、0゜D、Hは
何れも時間幅てが比較的大暑−場合で、輻射S−の波形
をそれぞれ第S図の三角波h l’l矩形波dおよび三
角波−と仮定Llものである。このように定数1.瞠輻
射IIAの波形に関係なく、はぼ直線的に変化し、かつ
力、が0のとflは0・1388の値を有する0従って
上記直線の傾きをりとするとか成立し、qτを9とする
と(1)式からま光試料を照射する輻射線の波g−をI
σ)とすると、第2図に示した試料裏面の温度上昇曲線
−はおける時間−の原点は輻射線の波形−の立上り点で
あるが、その原点を前記時間りだけ遅らせ九とすると、
(番)式は と表わされる。この(・8)式をテーラ−展開してとな
るようにすると、1次の項が消えることがわかる。すな
わち上記(6)式て与えられるりは波形aの重心の位置
に相当するものである。このような位置管時間軸の原点
として曲線−の値がその極大値pの6となる時間を観測
すると、前記第(3)式から明らかなように、波形as
O形に関係なく定数に、を常r: o、zsaaと置(
ことがで愈る−1にお(6)式t)2次以降の項のため
に多少の誤差を生ずるが一惇が%の怠倍以狐の範囲にお
いてその鏡差は1〜24以下であることが計算によって
判明している・以上説明したように本発明は、試料裏面
の温度上昇曲Sを観測する時間軸の原点をへ験試料の表
面に照射する輻射線の立上り時点から第(6)式で与え
られる時間りだけ遅らせるものて、これによって測定@
に補正を加える必要がなく、前記1’!(1)式の定数
!・を常に一定の値とすることができるから、測定が極
めて容易である。かつ試料管照射する輻射線の時間幅を
着しく小さくする必要も除かれるから、試料を厚(して
その表11に充分大きなエネルギを与えることにより裏
面の温度上昇を大龜くして、精密な測定を行うことがc
lする。を先試料裏面の温度層W!曲線を利用して試料
よりの輻射等による熱損失あるーは入射エネにギの分布
に対する補正を行うこともあるが、このような場合にも
時間軸の原点を上述のよらに設定することによって、厳
密な補正管行うことがで自る0
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法を実施する装置の構成を示した図
、第R図は試料を照射する輻射線の強度曲線並びに試料
裏面の温度曲線の一例、第3図は試料を照射する輻射線
の強度曲線、第4図は定数weを示した線図である。な
お図にむ−て、IFi試料、j!け試料の表面を照射す
るレーず光を示した矢印、Sは熱気対接点である。 特許出願人 理学電機株式金社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 強度が時間c′の関数/(1)で与叉られて時間幅が時
    間だけ経過した時点を基準時点として上記試料の他方の
    園の温度がその最大値に対して一定の割合となるまでの
    時間と該試料の厚みと良よってその熱拡散率を求めるこ
    とを特徴とす為熱拡散率測定法
JP13332681A 1981-08-27 1981-08-27 熱拡散率測定法 Granted JPS5835452A (ja)

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Publication Number Publication Date
JPS5835452A true JPS5835452A (ja) 1983-03-02
JPS6351500B2 JPS6351500B2 (ja) 1988-10-14

Family

ID=15102087

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104950009A (zh) * 2014-03-28 2015-09-30 杭州远方光电信息股份有限公司 一种热阻分析方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104950009A (zh) * 2014-03-28 2015-09-30 杭州远方光电信息股份有限公司 一种热阻分析方法
CN104950009B (zh) * 2014-03-28 2018-11-20 杭州远方光电信息股份有限公司 一种热阻分析方法

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