JPS5835452A - 熱拡散率測定法 - Google Patents
熱拡散率測定法Info
- Publication number
- JPS5835452A JPS5835452A JP13332681A JP13332681A JPS5835452A JP S5835452 A JPS5835452 A JP S5835452A JP 13332681 A JP13332681 A JP 13332681A JP 13332681 A JP13332681 A JP 13332681A JP S5835452 A JPS5835452 A JP S5835452A
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- JP
- Japan
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/18—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal conductivity
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
板状試料の一方のＩＩを例えばレーザ光のような輻射線
で瞬間的に照射して他方の面の温度１郷を観測し、その
温度が最大値の例えげ８分の１に達するまての時間と上
記試料の厚みと良よって、熱拡散率を１１企することが
できる。このようなフラッシュ法熱拡散率測定において
、試料表面の温度が異状に上昇することなく、シかも裏
面に適当な温度上昇を生ずるようにするために醪、輻射
線の照射時間を大きくしなければならな−が、この場合
はその波形並びに試料裏面の温度が最大値の２分のＩＫ
達するまでの時間に応じて測定値に補正を加える必要が
あ島４＃Ｍｈ、従って仁の捕正量が装置毎に相違するだ
けでなく、更に測定毎に相違するから、補正の操作が極
めて煩雑であった。本発明はこのような欠点を除失して
、測定毎に補正を行う必要のなφ方法を提供するもので
、以下これにつ−て評絖する。
で瞬間的に照射して他方の面の温度１郷を観測し、その
温度が最大値の例えげ８分の１に達するまての時間と上
記試料の厚みと良よって、熱拡散率を１１企することが
できる。このようなフラッシュ法熱拡散率測定において
、試料表面の温度が異状に上昇することなく、シかも裏
面に適当な温度上昇を生ずるようにするために醪、輻射
線の照射時間を大きくしなければならな−が、この場合
はその波形並びに試料裏面の温度が最大値の２分のＩＫ
達するまでの時間に応じて測定値に補正を加える必要が
あ島４＃Ｍｈ、従って仁の捕正量が装置毎に相違するだ
けでなく、更に測定毎に相違するから、補正の操作が極
めて煩雑であった。本発明はこのような欠点を除失して
、測定毎に補正を行う必要のなφ方法を提供するもので
、以下これにつ−て評絖する。
第１図のように例え社円板状をなした試料１の一方のｗ
ｉに矢印怠で示したようにレーザ光を均一な強度をもっ
て瞬間的に照射し、他方のＩＩＫ添着した熱電対接点Ｓ
によってその温度上昇を測定する。１１！怠図は時間−
と上記レーず光の強度り並びに試料１の下面の温度Ｔの
関係を示した曲線−および−を示したもので、第１図に
曲Ｓ−を拡大して示しである。第を図における曲Ｈｅの
極大値を戸とすると１ｗ１曲線がり、に達する時刻をＩ
宇また試料１の厚さをＩ、定数をに・とすると、上記試
料の熱拡散率１１１は 五〇を示し丸亀のて、試料を照射する輻射線の時間幅を
τとＬｌまたｔＹを−とすると自横軸にＦｌ、にをとっ
である。水平線ムは第２図における曲線ａの時間幅ｔが
極めて小さ一場合で、上記１．に関係なく Ｋ、はＯ，
１３ａａの一定値を有する。また曲線Ｂ、０゜Ｄ、Ｈは
何れも時間幅てが比較的大暑−場合で、輻射Ｓ−の波形
をそれぞれ第Ｓ図の三角波ｈ ｌ’ｌ矩形波ｄおよび三
角波−と仮定Ｌｌものである。このように定数１．瞠輻
射ＩＩＡの波形に関係なく、はぼ直線的に変化し、かつ
力、が０のとｆｌは０・１３８８の値を有する０従って
上記直線の傾きをりとするとか成立し、ｑτを９とする
と（１）式からま光試料を照射する輻射線の波ｇ−をＩ
σ）とすると、第２図に示した試料裏面の温度上昇曲線
−はおける時間−の原点は輻射線の波形−の立上り点で
あるが、その原点を前記時間りだけ遅らせ九とすると、
（番）式は と表わされる。この（・８）式をテーラ−展開してとな
るようにすると、１次の項が消えることがわかる。すな
わち上記（６）式て与えられるりは波形ａの重心の位置
に相当するものである。このような位置管時間軸の原点
として曲線−の値がその極大値ｐの６となる時間を観測
すると、前記第（３）式から明らかなように、波形ａｓ
Ｏ形に関係なく定数に、を常ｒ： ｏ、ｚｓａａと置（
ことがで愈る−１にお（６）式ｔ）２次以降の項のため
に多少の誤差を生ずるが一惇が％の怠倍以狐の範囲にお
いてその鏡差は１〜２４以下であることが計算によって
判明している・以上説明したように本発明は、試料裏面
の温度上昇曲Ｓを観測する時間軸の原点をへ験試料の表
面に照射する輻射線の立上り時点から第（６）式で与え
られる時間りだけ遅らせるものて、これによって測定＠
に補正を加える必要がなく、前記１’！（１）式の定数
！・を常に一定の値とすることができるから、測定が極
めて容易である。かつ試料管照射する輻射線の時間幅を
着しく小さくする必要も除かれるから、試料を厚（して
その表１１に充分大きなエネルギを与えることにより裏
面の温度上昇を大龜くして、精密な測定を行うことがｃ
ｌする。を先試料裏面の温度層Ｗ！曲線を利用して試料
よりの輻射等による熱損失あるーは入射エネにギの分布
に対する補正を行うこともあるが、このような場合にも
時間軸の原点を上述のよらに設定することによって、厳
密な補正管行うことがで自る０
ｉに矢印怠で示したようにレーザ光を均一な強度をもっ
て瞬間的に照射し、他方のＩＩＫ添着した熱電対接点Ｓ
によってその温度上昇を測定する。１１！怠図は時間−
と上記レーず光の強度り並びに試料１の下面の温度Ｔの
関係を示した曲線−および−を示したもので、第１図に
曲Ｓ−を拡大して示しである。第を図における曲Ｈｅの
極大値を戸とすると１ｗ１曲線がり、に達する時刻をＩ
宇また試料１の厚さをＩ、定数をに・とすると、上記試
料の熱拡散率１１１は 五〇を示し丸亀のて、試料を照射する輻射線の時間幅を
τとＬｌまたｔＹを−とすると自横軸にＦｌ、にをとっ
である。水平線ムは第２図における曲線ａの時間幅ｔが
極めて小さ一場合で、上記１．に関係なく Ｋ、はＯ，
１３ａａの一定値を有する。また曲線Ｂ、０゜Ｄ、Ｈは
何れも時間幅てが比較的大暑−場合で、輻射Ｓ−の波形
をそれぞれ第Ｓ図の三角波ｈ ｌ’ｌ矩形波ｄおよび三
角波−と仮定Ｌｌものである。このように定数１．瞠輻
射ＩＩＡの波形に関係なく、はぼ直線的に変化し、かつ
力、が０のとｆｌは０・１３８８の値を有する０従って
上記直線の傾きをりとするとか成立し、ｑτを９とする
と（１）式からま光試料を照射する輻射線の波ｇ−をＩ
σ）とすると、第２図に示した試料裏面の温度上昇曲線
−はおける時間−の原点は輻射線の波形−の立上り点で
あるが、その原点を前記時間りだけ遅らせ九とすると、
（番）式は と表わされる。この（・８）式をテーラ−展開してとな
るようにすると、１次の項が消えることがわかる。すな
わち上記（６）式て与えられるりは波形ａの重心の位置
に相当するものである。このような位置管時間軸の原点
として曲線−の値がその極大値ｐの６となる時間を観測
すると、前記第（３）式から明らかなように、波形ａｓ
Ｏ形に関係なく定数に、を常ｒ： ｏ、ｚｓａａと置（
ことがで愈る−１にお（６）式ｔ）２次以降の項のため
に多少の誤差を生ずるが一惇が％の怠倍以狐の範囲にお
いてその鏡差は１〜２４以下であることが計算によって
判明している・以上説明したように本発明は、試料裏面
の温度上昇曲Ｓを観測する時間軸の原点をへ験試料の表
面に照射する輻射線の立上り時点から第（６）式で与え
られる時間りだけ遅らせるものて、これによって測定＠
に補正を加える必要がなく、前記１’！（１）式の定数
！・を常に一定の値とすることができるから、測定が極
めて容易である。かつ試料管照射する輻射線の時間幅を
着しく小さくする必要も除かれるから、試料を厚（して
その表１１に充分大きなエネルギを与えることにより裏
面の温度上昇を大龜くして、精密な測定を行うことがｃ
ｌする。を先試料裏面の温度層Ｗ！曲線を利用して試料
よりの輻射等による熱損失あるーは入射エネにギの分布
に対する補正を行うこともあるが、このような場合にも
時間軸の原点を上述のよらに設定することによって、厳
密な補正管行うことがで自る０
第１図は本発明の方法を実施する装置の構成を示した図
、第Ｒ図は試料を照射する輻射線の強度曲線並びに試料
裏面の温度曲線の一例、第３図は試料を照射する輻射線
の強度曲線、第４図は定数ｗｅを示した線図である。な
お図にむ−て、ＩＦｉ試料、ｊ！け試料の表面を照射す
るレーず光を示した矢印、Ｓは熱気対接点である。 特許出願人 理学電機株式金社
、第Ｒ図は試料を照射する輻射線の強度曲線並びに試料
裏面の温度曲線の一例、第３図は試料を照射する輻射線
の強度曲線、第４図は定数ｗｅを示した線図である。な
お図にむ−て、ＩＦｉ試料、ｊ！け試料の表面を照射す
るレーず光を示した矢印、Ｓは熱気対接点である。 特許出願人 理学電機株式金社
Claims (1)
- 強度が時間ｃ′の関数／（１）で与叉られて時間幅が時
間だけ経過した時点を基準時点として上記試料の他方の
園の温度がその最大値に対して一定の割合となるまでの
時間と該試料の厚みと良よってその熱拡散率を求めるこ
とを特徴とす為熱拡散率測定法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13332681A JPS5835452A (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 熱拡散率測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13332681A JPS5835452A (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 熱拡散率測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5835452A true JPS5835452A (ja) | 1983-03-02 |
| JPS6351500B2 JPS6351500B2 (ja) | 1988-10-14 |
Family
ID=15102087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13332681A Granted JPS5835452A (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 熱拡散率測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5835452A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104950009A (zh) * | 2014-03-28 | 2015-09-30 | 杭州远方光电信息股份有限公司 | 一种热阻分析方法 |
-
1981
- 1981-08-27 JP JP13332681A patent/JPS5835452A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104950009A (zh) * | 2014-03-28 | 2015-09-30 | 杭州远方光电信息股份有限公司 | 一种热阻分析方法 |
| CN104950009B (zh) * | 2014-03-28 | 2018-11-20 | 杭州远方光电信息股份有限公司 | 一种热阻分析方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6351500B2 (ja) | 1988-10-14 |
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