JPS58211636A - 検査装置における判定方法およびその装置 - Google Patents
検査装置における判定方法およびその装置Info
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- JPS58211636A JPS58211636A JP57094012A JP9401282A JPS58211636A JP S58211636 A JPS58211636 A JP S58211636A JP 57094012 A JP57094012 A JP 57094012A JP 9401282 A JP9401282 A JP 9401282A JP S58211636 A JPS58211636 A JP S58211636A
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- Japan
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- circuit
- judgment
- memory circuit
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
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- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、容器中の内容物検査２例えば内容液中に混入
した異物の検出や２色素を用いた容器の液もれ、ピンホ
ール検査等の検査測定装置において、検出精度をより高
くした検査方法および装置に関する。
した異物の検出や２色素を用いた容器の液もれ、ピンホ
ール検査等の検査測定装置において、検出精度をより高
くした検査方法および装置に関する。
容器中に充填された内容液検査を行う場合、容器に光束
を照射し、該光束が容器中を透過するその光の量から得
られる出力を信号とし、該信号を一定値と比較して検査
する方法があるが、これらの方法では光源である投光ラ
ンプの投光波長が経時変化する影響を受けて、新しい投
光ランプの取リ（＝Ｊけ時と、一定時間を経過して放射
エネルギー酸の減少した時とでは、出力の度合に差が生
じいずれも同じ一定基準値で行うと良品も不良品と誤判
定することがある。又、化学薬品や食品等を収納するア
ンプルやバイアル等のピンポール、液もれ検査をする場
合、特にアンプル等を濃い青色色素溶液（例えばメチレ
ンブルーや食用青色色素等）中に浸けて真空圧を与える
と、濃い色素はガラスの中の小さな穴やひび割れ２間隙
を通してアンプル中に導入され、これを目視あるいは分
光光度測定法などにより測定する方法があるが、これら
の分光光度測定方法では測定回路系の構成素子の温度特
性の影響をうけて良品アンプルでも出力にばらつきが生
じたり、又、特に着色された内容液の場合は、内容液自
身の吸光度が温度の変化によって変化しやすいので、測
定時の温度によって測定結果が違ってきてしまうことが
あり、良品を不良品と誤判定する現象が生じていた。
を照射し、該光束が容器中を透過するその光の量から得
られる出力を信号とし、該信号を一定値と比較して検査
する方法があるが、これらの方法では光源である投光ラ
ンプの投光波長が経時変化する影響を受けて、新しい投
光ランプの取リ（＝Ｊけ時と、一定時間を経過して放射
エネルギー酸の減少した時とでは、出力の度合に差が生
じいずれも同じ一定基準値で行うと良品も不良品と誤判
定することがある。又、化学薬品や食品等を収納するア
ンプルやバイアル等のピンポール、液もれ検査をする場
合、特にアンプル等を濃い青色色素溶液（例えばメチレ
ンブルーや食用青色色素等）中に浸けて真空圧を与える
と、濃い色素はガラスの中の小さな穴やひび割れ２間隙
を通してアンプル中に導入され、これを目視あるいは分
光光度測定法などにより測定する方法があるが、これら
の分光光度測定方法では測定回路系の構成素子の温度特
性の影響をうけて良品アンプルでも出力にばらつきが生
じたり、又、特に着色された内容液の場合は、内容液自
身の吸光度が温度の変化によって変化しやすいので、測
定時の温度によって測定結果が違ってきてしまうことが
あり、良品を不良品と誤判定する現象が生じていた。
本発明の方法および装置は、これら投光ランプの経時変
化や、測定回路系の構成素子および被検査体である内容
液等の温度変化の影響を受けずに検査をすることができ
る為に、検出精度の極めて高い優れた効果を有するもの
である。
化や、測定回路系の構成素子および被検査体である内容
液等の温度変化の影響を受けずに検査をすることができ
る為に、検出精度の極めて高い優れた効果を有するもの
である。
又２本発明の他の特徴は、三波長分光光度測定法はもち
ろんのこと、アンプル容器の着色度のばらつきによる波
長特性の変化および着色されたアンプル内容液の温度の
違いによる吸光度の変化の影響を減少させた三波長分光
光度測定方法を用いた装置に９本発明方法を組み加えれ
ば、より精度特性の優れた不良品検査装置を構成するこ
とができる。
ろんのこと、アンプル容器の着色度のばらつきによる波
長特性の変化および着色されたアンプル内容液の温度の
違いによる吸光度の変化の影響を減少させた三波長分光
光度測定方法を用いた装置に９本発明方法を組み加えれ
ば、より精度特性の優れた不良品検査装置を構成するこ
とができる。
投光ランプは２点灯時間を経るに従っ°て、徐々に投光
量も減少し、順次波長が経時変化してくる。
量も減少し、順次波長が経時変化してくる。
又、フォトダイオード、光電管素子などの測定回路系の
構成素子も季節の温度変化の影響を受けて出力に変化が
生じてくる。更に、アンプルやバイヤル液自体も季節の
温度変化や滅菌処理等の温度の影響をうけて、これによ
っても波長特性に変化が生じて来るのである。
構成素子も季節の温度変化の影響を受けて出力に変化が
生じてくる。更に、アンプルやバイヤル液自体も季節の
温度変化や滅菌処理等の温度の影響をうけて、これによ
っても波長特性に変化が生じて来るのである。
しかしながら、これらは全て経時的に徐々に変化を生じ
るものであることから２本発明は、常に順次測定する被
検査体の前後の複数の被検査体をそれぞれ測定し、これ
らの平均値を算出し、該平均値から判定基準値を導き出
し、比較測定する被検査体が変わるごとに判定基準値も
新たに算出しながら比較判定することによって、常に測
定する条件での平均された判定基準値で判定できるよう
にしたものである。
るものであることから２本発明は、常に順次測定する被
検査体の前後の複数の被検査体をそれぞれ測定し、これ
らの平均値を算出し、該平均値から判定基準値を導き出
し、比較測定する被検査体が変わるごとに判定基準値も
新たに算出しながら比較判定することによって、常に測
定する条件での平均された判定基準値で判定できるよう
にしたものである。
すなわち本発明は、複数の被検査体を連続して測定し、
該測定値と判定基準値とを比較して検査判定を行う方法
において、測定値を順次任意数記憶蓄積してその平均値
を算出し、該平均値から判定基準値を決定し１次いで該
判定基準値と前記測定値とを比較して判定を行い、前記
判定基準値は測定値の変動にともなって変動することを
特徴とした検査装置における判定方法および装置に関す
る。
該測定値と判定基準値とを比較して検査判定を行う方法
において、測定値を順次任意数記憶蓄積してその平均値
を算出し、該平均値から判定基準値を決定し１次いで該
判定基準値と前記測定値とを比較して判定を行い、前記
判定基準値は測定値の変動にともなって変動することを
特徴とした検査装置における判定方法および装置に関す
る。
本発明を図面に示す実施例に基づいて詳述すると、第１
図は電気回路の一実施例を示すブロック図であるが、容
器中を透過した光束から得られた出力信号は、緩衝回路
（１）を経て、任意の数を設置した記憶回路（２）・・
・・・・具体的にはメモ！Ｊ −（２−１）。
図は電気回路の一実施例を示すブロック図であるが、容
器中を透過した光束から得られた出力信号は、緩衝回路
（１）を経て、任意の数を設置した記憶回路（２）・・
・・・・具体的にはメモ！Ｊ −（２−１）。
（２７−２）、 （２−３）、 （２−４）、 （２−
５）・・・のそれぞれに入り記憶される。
５）・・・のそれぞれに入り記憶される。
出力信号の入力が記憶回路を全部満たすと次に入るべき
出力信号は、最初に入った信号２例えばメモ！Ｊ−（２
＝１）に入った信号を送り出し新たな信号を送りこむと
いうように、順次記憶回路に新しい出力信号を入れなが
ら満たしてコントロールするサイクルカウンター（３）
が、記憶回路（２）に接続される。
出力信号は、最初に入った信号２例えばメモ！Ｊ−（２
＝１）に入った信号を送り出し新たな信号を送りこむと
いうように、順次記憶回路に新しい出力信号を入れなが
ら満たしてコントロールするサイクルカウンター（３）
が、記憶回路（２）に接続される。
記憶回路（２）に入力された信号は、それぞれ該記憶回
路に接続された演算回路（４）で加算された上に入力数
で除算されて平均値が算出される。次いでこの平均値の
出力信号は、一定の感度域の幅が加えられて良品あるい
は不良品と判定する判定基準レベル幅を有する判定基準
値に算出されて、比較器（５１，（６１にて緩衝回路か
らの測定出力信号と比較される。具体的には、平均値の
出力信号は、比較器（５）および（６）にそれぞれ入力
され邊とともに、緩衝回路（１）からの測定出方信号も
比較器（５１，（６１に入力され、かつ平均値の出方信
号と測定出力信号のそれぞれ一方の入力は、任意に設定
された感度が加変されて入力されるように接続されるこ
とにより。
路に接続された演算回路（４）で加算された上に入力数
で除算されて平均値が算出される。次いでこの平均値の
出力信号は、一定の感度域の幅が加えられて良品あるい
は不良品と判定する判定基準レベル幅を有する判定基準
値に算出されて、比較器（５１，（６１にて緩衝回路か
らの測定出力信号と比較される。具体的には、平均値の
出力信号は、比較器（５）および（６）にそれぞれ入力
され邊とともに、緩衝回路（１）からの測定出方信号も
比較器（５１，（６１に入力され、かつ平均値の出方信
号と測定出力信号のそれぞれ一方の入力は、任意に設定
された感度が加変されて入力されるように接続されるこ
とにより。
実質的に平均値から、一定の感度幅の判定域をもった判
定基準値と個々の測定出方信号とが比較判定されるので
ある。
定基準値と個々の測定出方信号とが比較判定されるので
ある。
比較回路（５）、 ＋６１からのそれぞれの出方は、Ｏ
Ｒ回路（力で判定出力信号となり、不良品を選別するソ
レノイド（８）に入力される。同時にＯＲ回路（刀から
の出力は、サイクルカウンター（３）にフィードバック
され、この判定出方信号によってサイクルカウンター（
３）における記憶回路（２）への測定出方信号の。
Ｒ回路（力で判定出力信号となり、不良品を選別するソ
レノイド（８）に入力される。同時にＯＲ回路（刀から
の出力は、サイクルカウンター（３）にフィードバック
され、この判定出方信号によってサイクルカウンター（
３）における記憶回路（２）への測定出方信号の。
人力ヲコントロールするよう接続される。スナわち、Ｏ
Ｒ回路（７）より不良品と判定した信号が出されると、
記憶回路（２）に該不良品を測定した測定出力信号を入
力させないようサイクルカウンター（３）が制御するの
である。
Ｒ回路（７）より不良品と判定した信号が出されると、
記憶回路（２）に該不良品を測定した測定出力信号を入
力させないようサイクルカウンター（３）が制御するの
である。
これは、不良品の測定出方信号は、一定基準をはるかＩ
ど越えるか、下回るがであり、これらは平均値を極端に
上げたり、下げたりして判定精度を低める為、平均値の
算出からこれらを除外するようにした回路を加えたので
ある。
ど越えるか、下回るがであり、これらは平均値を極端に
上げたり、下げたりして判定精度を低める為、平均値の
算出からこれらを除外するようにした回路を加えたので
ある。
尚２判定基準値のレベルと、記憶回路へ入力させるか否
かを決定するレベル幅とが一致しない場合は、ＯＲ回路
（７）からの判定出力信号を入力させずに、別１こ設け
たレベル幅と平均値とを比較して。
かを決定するレベル幅とが一致しない場合は、ＯＲ回路
（７）からの判定出力信号を入力させずに、別１こ設け
たレベル幅と平均値とを比較して。
その結果得た出力信号を入力させる様に回路を組むこと
は自在である。
は自在である。
又、サイクルカウンター（３）には、アンプル等の容器
の有無をチェックした信号（９）を入力させてもよい。
の有無をチェックした信号（９）を入力させてもよい。
このようにサイクルカウンター（３）では１判定出力信
号が入力されて、？間室が済むと９次の測定出方信号が
記憶回路に入力され、また新た１こ平均値の算出がなさ
れるのである。
号が入力されて、？間室が済むと９次の測定出方信号が
記憶回路に入力され、また新た１こ平均値の算出がなさ
れるのである。
記憶回路（２）、サイクルカウンター（３）、演算回路
（４）等の記憶回路群の構成は、アナログメモリーのま
までも良いが多数の信号を処理する場合、アナログ値か
らデジタル値に変換し、マイコンで処理すれば、処理も
構成も容易になる。
（４）等の記憶回路群の構成は、アナログメモリーのま
までも良いが多数の信号を処理する場合、アナログ値か
らデジタル値に変換し、マイコンで処理すれば、処理も
構成も容易になる。
記憶回路（２）は、記憶するメモリー数（２−１，２−
２゜２−３．２−４．２−５．・・・・・・）を増すこ
とにより、平均値の変動を少な（することができるが、
前記したごと（記憶回路に不良信号を入れない回路を組
みいれることでも平均値の精度を高めることができる。
２゜２−３．２−４．２−５．・・・・・・）を増すこ
とにより、平均値の変動を少な（することができるが、
前記したごと（記憶回路に不良信号を入れない回路を組
みいれることでも平均値の精度を高めることができる。
以上のように本発明は、受光光束から得られる測定出力
を順次任意の数の記憶回路に蓄積し、その平均値を基準
にした判定基準値と、測定出力とを比較する方法によっ
て、徐々に刻々変動する測定出力に応じて２判定基準値
も徐々に刻々変動するようにし、各種の条件の変化に対
応して一定の感度で判定検査できるために、投光ランプ
の経時変化や、構成素子や内容液の温度変化による影響
をなくすることができる。
を順次任意の数の記憶回路に蓄積し、その平均値を基準
にした判定基準値と、測定出力とを比較する方法によっ
て、徐々に刻々変動する測定出力に応じて２判定基準値
も徐々に刻々変動するようにし、各種の条件の変化に対
応して一定の感度で判定検査できるために、投光ランプ
の経時変化や、構成素子や内容液の温度変化による影響
をなくすることができる。
本発明は、特にブルーパス法と呼ばれているアンプルの
ピンホール検査装置の精度を高めるのに効果を発揮する
方法にして２例えば第２図に、容器中の内容液に混入す
る異物の検査装置に組みいれた。三波長分光光度測定方
法による本装置の略図を示すと、アンプル（１０）に投
光ランプ（１１）より光束を対物レンズ（１２）を通し
て照射し、その透過光を結像レンズ（１３）で受光部（
１４）に受光させる。
ピンホール検査装置の精度を高めるのに効果を発揮する
方法にして２例えば第２図に、容器中の内容液に混入す
る異物の検査装置に組みいれた。三波長分光光度測定方
法による本装置の略図を示すと、アンプル（１０）に投
光ランプ（１１）より光束を対物レンズ（１２）を通し
て照射し、その透過光を結像レンズ（１３）で受光部（
１４）に受光させる。
受光部（１４）は図面に示すごとく、異物の検出限界に
応じた複数の小分画に分画された微小受光器の集合体と
したものを用いれば、異物の検出精度を高めるとともに
、該受光部の一分画から１ビット分のライトガイド（１
５）を導き出してピンホール検査にも同時に利用できる
。
応じた複数の小分画に分画された微小受光器の集合体と
したものを用いれば、異物の検出精度を高めるとともに
、該受光部の一分画から１ビット分のライトガイド（１
５）を導き出してピンホール検査にも同時に利用できる
。
ライトガイド（１５）からの光束を、光を平行光にする
コンデンサレンズ（１６）を通してプリズムフィルター
（１７） （１７’）にかけ、透過光を三波長域に分割
する。分割された光の一つはブルーバス液の特性波長を
選択する波長フィルター（１８）を通し、光電変換素子
（２２）を経て増幅器（２４’）に送られ、他の分割さ
れた二つの光は、それぞれ比較するための基準波長フィ
ルター（１８２０）を通して同じく光電変換素子（２１
） （２２）を経て、増幅器（２４） （２４”）より
、比較器（２５）に入力され、該比較器（２５）では、
三つの波長の吸光度値、あるいは透過率が相互に比較さ
れ、その結果算出された比較値を示すアナログ信号の出
力が、前述した第１図における緩衝回路に入力される測
定出力信号となる。
コンデンサレンズ（１６）を通してプリズムフィルター
（１７） （１７’）にかけ、透過光を三波長域に分割
する。分割された光の一つはブルーバス液の特性波長を
選択する波長フィルター（１８）を通し、光電変換素子
（２２）を経て増幅器（２４’）に送られ、他の分割さ
れた二つの光は、それぞれ比較するための基準波長フィ
ルター（１８２０）を通して同じく光電変換素子（２１
） （２２）を経て、増幅器（２４） （２４”）より
、比較器（２５）に入力され、該比較器（２５）では、
三つの波長の吸光度値、あるいは透過率が相互に比較さ
れ、その結果算出された比較値を示すアナログ信号の出
力が、前述した第１図における緩衝回路に入力される測
定出力信号となる。
本発明は、このように三波長分光光度測定方法に使用さ
れることにより、より検出精度を高めることができるが
、他に異物の検出装置や測定した値が絶対値で比較され
るような測定機器にも、経時補償や温度補償の目的で応
用でき、測定精度のより一層の向上が期待できる。
れることにより、より検出精度を高めることができるが
、他に異物の検出装置や測定した値が絶対値で比較され
るような測定機器にも、経時補償や温度補償の目的で応
用でき、測定精度のより一層の向上が期待できる。
第１図は２本発明方法の一実施例を示す電気的回路のブ
ロック図で、第２図はアンプル中の異物検査装置に組入
れたピンホール検査装置番こおける実施を示す略図であ
る。 １ 緩衝回路 ２ 記憶回路 ３ サイクルカウンター ４ 演算回路 ５．６ 比較器 ７ ０Ｒ回路 ８ ソ、レノイド ９ アンプルの有無を示す信号１０
アンプル １１ 投光ランプ １２ 対物レンズ １３ 結像レンズ １４ 受光部 １５ １ビット分のライトガイド１６
コンデンサレンズ １７．１７’ プリズムフィルター１へ１９．
２０ 波長フィルター ２１、２２．２３ 光電変換素子 ２４、２４’、 ２４”増幅器 ２５ 比較器 特許出願人 工−ザイ株式会社、 手続補正書（自発） 昭和５７年２月１０日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第９４０１２号 ２、発明の名称 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都文京区小石川４丁目６番ｌＯ号名、称
（０２１）エーザイ株式会社 ４、補正命令の日（＝Ｉ （自発） ５、補正の対象 願書及び明細書 ６、補正の内容
ロック図で、第２図はアンプル中の異物検査装置に組入
れたピンホール検査装置番こおける実施を示す略図であ
る。 １ 緩衝回路 ２ 記憶回路 ３ サイクルカウンター ４ 演算回路 ５．６ 比較器 ７ ０Ｒ回路 ８ ソ、レノイド ９ アンプルの有無を示す信号１０
アンプル １１ 投光ランプ １２ 対物レンズ １３ 結像レンズ １４ 受光部 １５ １ビット分のライトガイド１６
コンデンサレンズ １７．１７’ プリズムフィルター１へ１９．
２０ 波長フィルター ２１、２２．２３ 光電変換素子 ２４、２４’、 ２４”増幅器 ２５ 比較器 特許出願人 工−ザイ株式会社、 手続補正書（自発） 昭和５７年２月１０日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第９４０１２号 ２、発明の名称 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都文京区小石川４丁目６番ｌＯ号名、称
（０２１）エーザイ株式会社 ４、補正命令の日（＝Ｉ （自発） ５、補正の対象 願書及び明細書 ６、補正の内容
Claims (2)
- （１）複数の被検査体を連続して測定し、該測定値と判
定基準値とを比較して検査判定を行う方法において、測
定値を順次任意数記憶蓄積してその平均値を算出し、該
平均値から判定基準値を決定し２次いで該判定基準値と
前記測定値とを比較して２判定を行い、前記判定基準値
は測定値の変動にともなって変動することを特徴とした
検査装置における判定方法。 - （２）容器中を透過した光束を光検知器の受光部に受光
させて、その受光量により容器中の内容液を検査する装
置１こおいて、前記受光部から得られる測定出力信号を
順次任意数記憶蓄積してその平均値を出す記憶回路群に
接続し、該記憶回路群を前記平均値に一定の感度幅を与
えて判定基準値とし、前記受光部から得られた個々の測
定出力（ｉｔ号と比較する比較回路に接続して比較判定
し、その判定出力信号によって検査判定を行うとともに
。 該判定出力信号を更に前記記憶回路群に接続し。 記憶回路群には不良を判定した測定出力信号の人力を制
御するようにしたことを特徴とする判定装置。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57094012A JPS58211636A (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | 検査装置における判定方法およびその装置 |
| CA000420480A CA1201531A (en) | 1982-06-03 | 1983-01-28 | Testing method for subjects to be tested and a device for said method |
| US06/463,107 US4577969A (en) | 1982-06-03 | 1983-02-02 | Testing method for subjects to be tested and a device for said method |
| ES519493A ES519493A0 (es) | 1982-06-03 | 1983-02-03 | Un metodo para ensayar o probar un objeto, particularmente para detectar sustancias extranas en una solucion dentro de un recipiente y la fuga o perforacion de este. |
| MX196311A MX152212A (es) | 1982-06-03 | 1983-02-17 | Aparato de prueba que realiza la deteccion de substancias extranas en una solucion contenida en un recipiente |
| EP83102155A EP0096161B1 (en) | 1982-06-03 | 1983-03-04 | A testing method and a device for testing subjects to be tested |
| DE8383102155T DE3372016D1 (en) | 1982-06-03 | 1983-03-04 | A testing method and a device for testing subjects to be tested |
| ES526518A ES526518A0 (es) | 1982-06-03 | 1983-10-17 | Un dispositivo para ensayar o probar un objeto particularmente para detectar sustancias extranas en una solucion dentro de un recipiente y la fuga y perforacion de este(como divisional de la patente numero 519.493) |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57094012A JPS58211636A (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | 検査装置における判定方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58211636A true JPS58211636A (ja) | 1983-12-09 |
Family
ID=14098557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57094012A Pending JPS58211636A (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | 検査装置における判定方法およびその装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4577969A (ja) |
| EP (1) | EP0096161B1 (ja) |
| JP (1) | JPS58211636A (ja) |
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