JPS58201015A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
- Publication number
- JPS58201015A JPS58201015A JP57083971A JP8397182A JPS58201015A JP S58201015 A JPS58201015 A JP S58201015A JP 57083971 A JP57083971 A JP 57083971A JP 8397182 A JP8397182 A JP 8397182A JP S58201015 A JPS58201015 A JP S58201015A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- distance
- inputted
- reflected
- signals
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/10—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、距離を測定する装置、とくにカメラ用のアク
ティブな測距装置に関するものである。
ティブな測距装置に関するものである。
従来、この種の装置は、精度を保つために小さなスポッ
ト光を投光して、基線だけ離れた所の反射光角度の検知
によって測距を行益なって来た。
ト光を投光して、基線だけ離れた所の反射光角度の検知
によって測距を行益なって来た。
しかしこの様に小さなスポット光においては、被写体条
件により反射が得られない場合や、また測距視野が狭い
ために、例えば2人のポートレートで測距視野がユ人の
間に入ってしまい結果として測距不能や、誤測距になる
欠点が有った。
件により反射が得られない場合や、また測距視野が狭い
ために、例えば2人のポートレートで測距視野がユ人の
間に入ってしまい結果として測距不能や、誤測距になる
欠点が有った。
本案は、上述の従来例の欠点を除去するため、距を行こ
ない、誤測距の少ない装置を提供しようとするものであ
る。
ない、誤測距の少ない装置を提供しようとするものであ
る。
以下、本発明による一実施例を、添付図面にもとづいて
説明する。
説明する。
第1図は本発明による一実施例の光学的な説明図である
。図中の(a、 、a2.a3)はそれぞれ発光素子な
どの発光器で、直線上に並べられて、各発光器(a、〜
aS)はそれぞれパルス光(pl)を被写体(θ1.θ
2.θ3.θ■)に向けて発射する。(LA)は投光用
のレンズで、発光器(a、〜aS)群の前に配設される
。(LD)は受光用のレンズで、被写体(θ。
。図中の(a、 、a2.a3)はそれぞれ発光素子な
どの発光器で、直線上に並べられて、各発光器(a、〜
aS)はそれぞれパルス光(pl)を被写体(θ1.θ
2.θ3.θ■)に向けて発射する。(LA)は投光用
のレンズで、発光器(a、〜aS)群の前に配設される
。(LD)は受光用のレンズで、被写体(θ。
〜θ■)から反射されるパルス光(pl)の反射光(p
r)を受ける。(D+ −D2 、D3−D4 、Da
、Da 、D? )はそれぞれ、光センサなどの受光
器で、受光用レンズ(LD)の後方に直線上に並べられ
て、該レンズを介してパルスの反射光(pr)を受光す
る。
r)を受ける。(D+ −D2 、D3−D4 、Da
、Da 、D? )はそれぞれ、光センサなどの受光
器で、受光用レンズ(LD)の後方に直線上に並べられ
て、該レンズを介してパルスの反射光(pr)を受光す
る。
そして発光器(at 〜as )群、レンズ(LA、、
LD)ならびに受光器(Di〜D7 )群は、たとえば
次の如く配置される。
LD)ならびに受光器(Di〜D7 )群は、たとえば
次の如く配置される。
レンズ(LA、LD)に近い被写体(θ、)の場合、第
1の発光器(a、)のパルス光(pl)によるパルスの
反射光(pr/ ) が、第3の受光器(D、)にて
主として受光されるように配置され、同様に、第一の発
光器(A2)による反射光は、第6の受光器(D6)に
、第3の発光器(A3)による反射光は、第7の受光器
(D7)にそれぞれ主として受光されるように、配置さ
れる。
1の発光器(a、)のパルス光(pl)によるパルスの
反射光(pr/ ) が、第3の受光器(D、)にて
主として受光されるように配置され、同様に、第一の発
光器(A2)による反射光は、第6の受光器(D6)に
、第3の発光器(A3)による反射光は、第7の受光器
(D7)にそれぞれ主として受光されるように、配置さ
れる。
レンズ(LA、LD)からやや遠い被写体(θ2)の場
合は、第/の発光器(a、)による反射光(1)r、2
)が、第グの受光器(D4)に、主として受光され、同
様に、第一の発光器(A2)による反射光は、第3の受
光器(a、)に、第3の発光器(A3)による反射光は
、第6の受光器(D6)にそれぞれ主として受光される
ように配置される。
合は、第/の発光器(a、)による反射光(1)r、2
)が、第グの受光器(D4)に、主として受光され、同
様に、第一の発光器(A2)による反射光は、第3の受
光器(a、)に、第3の発光器(A3)による反射光は
、第6の受光器(D6)にそれぞれ主として受光される
ように配置される。
レンズ(LA、LD)から遠い被写体(θ、)の場合は
、第1の発光器(al)による反射光(pp3) が
、主として第3の受光器(D、)にて受光され、第一の
発光器(A2)による反射光は、第グの受光器(A4)
に、第3の発光器(A3)による反射光は、第Sの受光
器(a、)にそれぞれ主として受光されるように配置さ
れる。
、第1の発光器(al)による反射光(pp3) が
、主として第3の受光器(D、)にて受光され、第一の
発光器(A2)による反射光は、第グの受光器(A4)
に、第3の発光器(A3)による反射光は、第Sの受光
器(a、)にそれぞれ主として受光されるように配置さ
れる。
無限遠の被写体(θ■)の場合、第1の発光器(a、)
による反射光(1)r−) は、主として第1の受光
器(Dl)にて受光され、第一の発光器(A2)による
反射光は、第一の受光器(D2)に、第3の発光器(A
3)による反射光は、第3の受光器(D3)にそれぞれ
主として受光されるように配置される。
による反射光(1)r−) は、主として第1の受光
器(Dl)にて受光され、第一の発光器(A2)による
反射光は、第一の受光器(D2)に、第3の発光器(A
3)による反射光は、第3の受光器(D3)にそれぞれ
主として受光されるように配置される。
なお、図示しなかったが、無限遠の被写体(θ■)より
も近(、そして遠い被写体(θ、)よりもさらに遠い被
写体(θ4)の場合は、第/の発光器(al)による反
射光が、主として第一の発光器(D2)にて受光され、
第2の発光器(A2)による反射光は、第3の受光器(
D3)に、第3の発光器(A3)による反射光は、第グ
の受光器(D4)にそれぞれ主として受光されるように
配置される。
も近(、そして遠い被写体(θ、)よりもさらに遠い被
写体(θ4)の場合は、第/の発光器(al)による反
射光が、主として第一の発光器(D2)にて受光され、
第2の発光器(A2)による反射光は、第3の受光器(
D3)に、第3の発光器(A3)による反射光は、第グ
の受光器(D4)にそれぞれ主として受光されるように
配置される。
したがって、第1図の実施例では、被写体(θ1〜θ−
)の遠近ゾーンが、S段階に分けられて判別されること
になる。
)の遠近ゾーンが、S段階に分けられて判別されること
になる。
第Ω図は、本発明による一実施例のブロック回路図であ
る。図中の(Ml)は、発光器(a1〜a3)節用の駆
動回路で、たとえばパルス電力(pp)を供給する。(
DM/) はデマルチプレクサで、たとえば駆動回路
(Ml)からのパルス電力(pp)を、順次に、第1、
第一、第3の発光器(al * A2 + ”s )に
振り分けて出力する。(CS)はデマルチプレクサ(D
M/) から出力される同期用の制御信号である。な
お、各発光器(a、〜a3)は、パルス電力(pp)が
、デマルチプレクサ(DM/) から与えられると、
パルス光(pl)を発射する。
る。図中の(Ml)は、発光器(a1〜a3)節用の駆
動回路で、たとえばパルス電力(pp)を供給する。(
DM/) はデマルチプレクサで、たとえば駆動回路
(Ml)からのパルス電力(pp)を、順次に、第1、
第一、第3の発光器(al * A2 + ”s )に
振り分けて出力する。(CS)はデマルチプレクサ(D
M/) から出力される同期用の制御信号である。な
お、各発光器(a、〜a3)は、パルス電力(pp)が
、デマルチプレクサ(DM/) から与えられると、
パルス光(pl)を発射する。
(Al〜A? )は増巾蓋群で、各受光器(DI〜D’
r )の各後段に接続されて、それぞれの検出信号(a
S )を増巾して出力する。(MX、〜MX、 )はマ
ルチプレク、す群で、各マルチプレクサは3つの増巾器
(Al〜A7 )からの3つの検出信号(ds )をそ
れぞれ入力する。たとえば、第1のマルチプレクサ(M
X+ )は、第1、第一、第3の増巾器(A、、A2A
3 )からの各検出信号(ds )をそれぞれ入力し、
第一のマルチプレクサ(MX2 Xま、第一、第3、第
グの増巾器(A21A31A4 )からの各検出信号(
ds )をそれぞれ入力する。以下、第3、第グ、第5
のマルチプレクサ(MX3.MX、 、MX、)につい
ても同様に、3つの検出信号(aS )をそれぞれ入力
する。
r )の各後段に接続されて、それぞれの検出信号(a
S )を増巾して出力する。(MX、〜MX、 )はマ
ルチプレク、す群で、各マルチプレクサは3つの増巾器
(Al〜A7 )からの3つの検出信号(ds )をそ
れぞれ入力する。たとえば、第1のマルチプレクサ(M
X+ )は、第1、第一、第3の増巾器(A、、A2A
3 )からの各検出信号(ds )をそれぞれ入力し、
第一のマルチプレクサ(MX2 Xま、第一、第3、第
グの増巾器(A21A31A4 )からの各検出信号(
ds )をそれぞれ入力する。以下、第3、第グ、第5
のマルチプレクサ(MX3.MX、 、MX、)につい
ても同様に、3つの検出信号(aS )をそれぞれ入力
する。
そしてさらに各マルチプレクサ(MX、〜MX、)
は、デマルチプレクサ(DM/) からの制御信号(
CS)を入力して、同期される。言い換えると、デマル
チプレクサ(DM/) の出力端子■、■、■が、■
→■→■→■・・・・・・と切り換えられるのに対応し
て、各マルチプレクサ(MX、〜MX、)の入力端子■
、■。
は、デマルチプレクサ(DM/) からの制御信号(
CS)を入力して、同期される。言い換えると、デマル
チプレクサ(DM/) の出力端子■、■、■が、■
→■→■→■・・・・・・と切り換えられるのに対応し
て、各マルチプレクサ(MX、〜MX、)の入力端子■
、■。
■が、■→■→■→■・・・・・・と切り換えられる。
(DA、〜DA、)は夫々同期検波器及び所望のスレッ
ショルドが与えられたコンパレータから成る検出回路群
で、各マルチプレクサ(MX、〜MX、 )の後段にそ
れぞれ接続されて、該マルチプレクサ(MX、〜MX、
)からの検知信号(ds)を夫々その同期検波器で駆
動回路(Ml)からの出力により同期検波し、そして、
検波後の信号レベルをコンパレータでスレッショルドに
対して比較してスレッショルドを越えた場合のみ、ハイ
レベルの検出信号(atS) を出力する。
ショルドが与えられたコンパレータから成る検出回路群
で、各マルチプレクサ(MX、〜MX、 )の後段にそ
れぞれ接続されて、該マルチプレクサ(MX、〜MX、
)からの検知信号(ds)を夫々その同期検波器で駆
動回路(Ml)からの出力により同期検波し、そして、
検波後の信号レベルをコンパレータでスレッショルドに
対して比較してスレッショルドを越えた場合のみ、ハイ
レベルの検出信号(atS) を出力する。
(FF、〜FF、)は記憶用のフリップフロップ群で、
各コンパレータ(DA、〜DA、、)の後段に接続され
、ハイレベルの検出信号(dts) が入力されると
セットされて、ハイレベルの距離信号(a+〜dイ)を
出力する。なお、各フリップフロップ(FF、〜FF、
)は、図示省略の手段から出力されるリセット信号(p
uc) によりリセットされる。
各コンパレータ(DA、〜DA、、)の後段に接続され
、ハイレベルの検出信号(dts) が入力されると
セットされて、ハイレベルの距離信号(a+〜dイ)を
出力する。なお、各フリップフロップ(FF、〜FF、
)は、図示省略の手段から出力されるリセット信号(p
uc) によりリセットされる。
(PE/ ) はプライオリティ機能を有するエンコ
ーダで、フリップフロップ(FF、〜FF5)群の後段
に接続され、遠近s段階のゾーンに対応する距離信号(
d、 −d、 )のいずれかを入力して、該距離信号に
対応する距離データ(d(1)を出力する。この距離デ
ータは、ディジタルでもアナログでも良へたとえば、距
離信号(山)は、最遠ゾーンに対応する。言い換えると
、第1図の無限遠の被写体(θC−))の場合に、距離
信号(dl)がエンコーダ(PE/ ) に入力され
、該エンコーダから無限遠の距離データ(dd)が出力
される。そして距離信号(d、)は、最近ゾーンに対応
し、同様にこの場合、エンコーダ(PK/ ) から
最近距離を示す距離データ(d(1)が出力される。
ーダで、フリップフロップ(FF、〜FF5)群の後段
に接続され、遠近s段階のゾーンに対応する距離信号(
d、 −d、 )のいずれかを入力して、該距離信号に
対応する距離データ(d(1)を出力する。この距離デ
ータは、ディジタルでもアナログでも良へたとえば、距
離信号(山)は、最遠ゾーンに対応する。言い換えると
、第1図の無限遠の被写体(θC−))の場合に、距離
信号(dl)がエンコーダ(PE/ ) に入力され
、該エンコーダから無限遠の距離データ(dd)が出力
される。そして距離信号(d、)は、最近ゾーンに対応
し、同様にこの場合、エンコーダ(PK/ ) から
最近距離を示す距離データ(d(1)が出力される。
なお、距離信号(d、〜d、 )の複数が、エンコーダ
(PE/) に入力された場合は、該エンコーダの優
先機能が働いて、近距離を示す方の距離信号(dt〜a
S )が選択され、該距離信号に対応する距離データ(
d(1)が出力される。
(PE/) に入力された場合は、該エンコーダの優
先機能が働いて、近距離を示す方の距離信号(dt〜a
S )が選択され、該距離信号に対応する距離データ(
d(1)が出力される。
MO8形フォトセンサーの様に受光器(D、〜D7 )
自身に、蓄積効果が有って選択的に読み出しの出来るセ
ンサーを利用する場合、実施例中のマルチプレクサ−(
MX、〜MX、 )をセンサー内に構成して初段の増巾
器(Al〜AV )を省略する事も出来る。
自身に、蓄積効果が有って選択的に読み出しの出来るセ
ンサーを利用する場合、実施例中のマルチプレクサ−(
MX、〜MX、 )をセンサー内に構成して初段の増巾
器(Al〜AV )を省略する事も出来る。
以上、説明した様に、受光器(DI〜D7)〔含む初段
増巾器(Al〜A7)〕を共用して、複数の狭巾のパル
ス光(pl)による複数測定を行ない、その結果より、
測距表示や自動焦点を行なう事により、被写体(θ1〜
θ−)のパターンや条件に左右されにくい測距が可能に
なる。
増巾器(Al〜A7)〕を共用して、複数の狭巾のパル
ス光(pl)による複数測定を行ない、その結果より、
測距表示や自動焦点を行なう事により、被写体(θ1〜
θ−)のパターンや条件に左右されにくい測距が可能に
なる。
しかも受光回路側の受光器(at〜D7) 数は少しし
か増えないし、回路と(にマルチプレクサ(MX、〜M
X、 )以降の復調部が共用でき、回路は余り大きくな
らないメリットが有る。
か増えないし、回路と(にマルチプレクサ(MX、〜M
X、 )以降の復調部が共用でき、回路は余り大きくな
らないメリットが有る。
また複数の発光器(a、〜a3)の一体化や、受光器(
DI〜D? )の一体化により、調整も従来とほとんど
変わらないメリットが有る。
DI〜D? )の一体化により、調整も従来とほとんど
変わらないメリットが有る。
第7図は本発明の一実施例を示す光学的な説明図、第2
図は同上実施例のブロック回路図である。 01〜θへ :被写体、対象物。 a、−a、:発光器(投光器)。 pl:パルス光。 D、〜D7:受光器。 pr二二対射光
図は同上実施例のブロック回路図である。 01〜θへ :被写体、対象物。 a、−a、:発光器(投光器)。 pl:パルス光。 D、〜D7:受光器。 pr二二対射光
Claims (1)
- 距離測定されるべき対象物に、パルス光を発射する複数
の投光器と、該対象物から反射される上記パルス光の反
射光を検知する複数の受光器と、かもなることを特徴と
した測距装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57083971A JPS58201015A (ja) | 1982-05-20 | 1982-05-20 | 測距装置 |
US06/493,975 US4582424A (en) | 1982-05-20 | 1983-05-12 | Distance measuring apparatus |
DE3318331A DE3318331C2 (de) | 1982-05-20 | 1983-05-19 | Einrichtung zur Erzeugung einer Scharfeinstellungsinformation |
US08/441,955 US5550628A (en) | 1982-05-20 | 1995-05-16 | Distance measuring device |
US08/781,142 US6084658A (en) | 1982-05-20 | 1997-01-09 | Distance measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57083971A JPS58201015A (ja) | 1982-05-20 | 1982-05-20 | 測距装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11704890A Division JPH02290507A (ja) | 1990-05-07 | 1990-05-07 | 測距装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58201015A true JPS58201015A (ja) | 1983-11-22 |
JPH032245B2 JPH032245B2 (ja) | 1991-01-14 |
Family
ID=13817424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57083971A Granted JPS58201015A (ja) | 1982-05-20 | 1982-05-20 | 測距装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US4582424A (ja) |
JP (1) | JPS58201015A (ja) |
DE (1) | DE3318331C2 (ja) |
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---|---|---|---|---|
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US4834531A (en) * | 1985-10-31 | 1989-05-30 | Energy Optics, Incorporated | Dead reckoning optoelectronic intelligent docking system |
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