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JPS58128762A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS58128762A
JPS58128762A JP57011958A JP1195882A JPS58128762A JP S58128762 A JPS58128762 A JP S58128762A JP 57011958 A JP57011958 A JP 57011958A JP 1195882 A JP1195882 A JP 1195882A JP S58128762 A JPS58128762 A JP S58128762A
Authority
JP
Japan
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light
receiving element
chip
semiconductor
light receiving
Prior art date
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Granted
Application number
JP57011958A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0365666B2 (ja
Inventor
Kunihiro Tanigawa
谷川 邦広
Hideo Sei
清 英夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57011958A priority Critical patent/JPS58128762A/ja
Publication of JPS58128762A publication Critical patent/JPS58128762A/ja
Publication of JPH0365666B2 publication Critical patent/JPH0365666B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a)  発明の技術分野 本発明は半導体装置に係り、さらに具体的には入射光に
感応する受光素子を配設した半導体チップと該受光素子
を駆動するための回路素子、あるいは受光素子からの光
電変換されtコ信号を処理するための回路素子をそなえ
た半導体集積回路チップとをフェイスダウンボンディン
グして一体化した半導体装置の構造に関するものである
申)従来技術と問題点 例えばIn8bやl”b8nTe等の化合物半導体チッ
プにダイオードアレイを形成して受光素子群を構成し、
それら各受光素子への入射光磁に応じて光電変換された
出力信号の処理は、通常、例えば8血からなる半導体集
積回路チップに構成した信号処理回路によってなされる
。またこのような受光素子と信号処理回路との接続は、
従来、ワイヤボンディングもしくはフェイスダウンボン
ディング尋の技術を用いてなされていた。すなわちワイ
ヤボンディング法では受光素子を配設した半導体装ツブ
と該受光素子からの信号を処理するための(g1wlI
素子をそなえた半導体業槓回路千ツブとを並置し。
それらをムUあるいはAI 細線等のボンディングワイ
ヤでボンディングするものであるが、ボンディング作業
が煩雑であり、信頼性にも劣り、占有空間も太き(なる
という欠点があった。−万フエイスダウンボンデイング
法では前記受光素子を配設した半導体チップと信号処理
回路を構成した半導体績横回路手ツブとを対向配置し、
これらをフェイスダウンボンディング用のIn 等の金
属バンブを用いてボンディングするようにしたものであ
るが、この方法では受光素子を配設した半導体チップの
裏面側から光を入射する必要があるので、その半導体チ
ップを薄く研磨して入射光が受光素子の感光部まで到達
するように加工する必要があった。また受光素子を電荷
注入素子で構成し、例えば8量  からなる半導体集積
回路チップに構成した駆動回路で駆動するような場合に
は、その受光素子を構成した半導体千ツブ裏1fiII
lからの光の入射が不可能となり、ワイヤボンディング
法で行わざるを得ないような場合も生じ、前述のような
ボンディング作業の煩雑化や信頼性の低下等を招く結果
となっていた。
((+)  発明の目的 本発明は前述の点に鑑みなされたもので、受光素子を配
設した半導体チップと該受光素子を駆動するための回路
素子あるいは受光素子からの信号を処理するための回路
素子をそなえた半導体集積回路チップとをボンディング
ワイヤを用いることなく容易に一体構成し、もって信頼
性の高い、占有空間も小さい、安価な半導体装置の提供
を目的とするものである。
(d)  発明の#4或 本発明は受光素子を配設した半導体チップと該受光素子
を駆動するための回路素子あるいは受光素子からの信号
を処理するための回路素子をそなえた半導体集積回路千
ツブとをフェイスダウンボンディングしてなる構成にお
いて、前記半纏体渠横回路チップにおける受光素子対応
領域を避けた領域に前記回路素子を形成するとともに当
該半導体集積回路チップの少なくとも受光素子対応領域
に光入射用透光孔を設けたことを特徴とするものである
<6)  発明の実施例 以下本発明の実地例につき図面を参魚して説明する。
第1図は本発明による半導体装置の1例構造を説明する
ための概念的に示した要部断面図であり、82図は11
1図で示した半導体装置における半導体集積回路チップ
の構造を説明するための要部平面図であって、第1図と
同等部分には同一符号を付した。181図においてlは
化合物半導体からなる半導体装ツブであって、その半導
体チップ1の表面には図示を省略した受光素子群が構成
しである。そして半導体チップlは、その裏面を例えば
セラミック基板2表面の凹部に接着してあり、セラミッ
ク基板2は実装用基台8上に1肴しである。
また士ラミック基板2表面には金属配縁4が配設されて
いる。なお半導体チップlは、その表面がセラミック基
板2表面とほぼ同一平面となるようにセラ【ツク基板1
の凹部に接着しである。そして受光素子を配設した半導
体チップ1の表面に例えばIn からなるフェイスダウ
ンボンディング用の金属バンブ6を配設し、また各金属
配liI!4上にもボンディング用の金属バンブ6が形
成しである。
そしてこれら金属バンブ5および6を用いて半導体集横
回路千ツブ7が半導体チップ1および金属配線4の各々
とボンディングされている。その半導体集積回路チップ
7は例えば81  がらなり、その表面つまり半導体チ
ップlと対向する側には第2図に示すごとく、受光素子
対応領域を避けた領域8(斜線で示した領域)に受光素
子を駆動するための回路素子や受光素子からの信号を処
理するための回路素子が形成しである。さらにその半導
体集積回路チップ7の受光素子対応領域には光入射用透
光孔9が設けである。そして領域8に形成した集積回路
と受光素子との闇の信号は金属バンブ6によってボンデ
ィングされた各ポンディングパッド5aを通して入出力
される。またその集積回路へのllIn信号および電力
供給や*積回路で処理された信号の取出し等は金属バン
ブ6でボンディングされた各ポンディングパッド6&を
通してなされる。そして第1図に示すような構成におい
て、光学レンズ10を通した入射光11を半導体集積回
路チップ7に設けた透光孔9を通して半導体チップ1の
表面に配設した受光素子へ入射するようになっている。
次に1に8図は本発明による半導体装置のその他の実施
例を説明するための概念的に示した要部断面図であって
、fM1図と同等部分には同一符号を付した0図におい
て12は冷却基台であり、受光素子を配設した半導体チ
ップlはセラミック基板2の凹部に接着されて、冷却基
台12によって所定温度醤こ冷却されるようになってい
る。また冷却基台12に連結されたコールドシールド1
8が設けられ、そのコールドシールド18は半導体集積
回路チップ7の1Itlii側と密着した形で配設され
る。
そしてコールドシールド18に設けた視野決定用孔14
を通して入射光が半導体装ツブ1表面の受光素子に入射
されるようになっている。このようf(構成II: オ
いては、半導体集横回路千ツブ7がコールドシールド1
8によって冷却されるので、半導体集積回路子ツブ7の
発熱にもとづく不要な背景信号を減少できる効果もある
なお前述の実施例では半導体jI横回路チップ7の形状
が8角形のような多角形の場合について説明したが、実
装用基台や冷却基台の形状に応じて4角形あるいは円形
にすることもできる。また半導体集積回路チップには受
光素子を駆動するための駆動回路素子と受光素子からの
信号を処理するための信号処理回路素子とを構成するに
限らず、駆動回路素子または側号処理回路素子のいずれ
かのみを構成することも可能である。
(f)  発明の効果 以上の説明から明らかなように本発明によれば受光素子
を配設した半導体チップと駆動回路あるいは信号処理回
路を構成した半導体集積回路チップとをボンディングワ
イヤを用いることなく容易に一体構成することができ、
信頼性の高い、占有空間の小さいコンパクトな半導体装
置を安価に実現できる利点を有する。
【図面の簡単な説明】
41図は本発明による半導体装置の1例構造を説明する
ための概念的に示したm部断面図、第2は@i図で示し
た半導体装置における半導4集横回路チップの構造を説
明するための要部半面図、wi8図は本発明による半導
体装置のその他の実施例を説明するための概念的に示し
た要部断面図である。 図において、1は受光素子を配設した半導体装ツブ、2
はセラミック基板、8は実装用基台、4は金属配線、6
および6は金属バンブ、6aおよび6aはポンディング
パッド、7は半導体集積回路チップ、8は囲路素子を形
成した領域、9は光入射用透光孔、lOは光学レンズ、
11は入射光12は冷却4台、18はコールドシールド
、14は視野決定用孔をそれぞれ示す。 第1囚 ■ 第2閃 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 受光素子を配設した半導体チップと該受光素子を駆動す
    るための回路素子あるいは受光亀子からの信号を処理す
    るための回路素子をそなえた半導体集積回路チップとを
    フェイスダウンボンディングしてなる構成において、前
    記半導体集積回路チップにおける受光素子対応領域を避
    けた領域に前記回路素子を形成するとともに当該半導体
    集積回路チップの少なくとも受光素子対応領域に光入射
    用透光孔を設けたことを特徴とする半導体装置。
JP57011958A 1982-01-27 1982-01-27 半導体装置 Granted JPS58128762A (ja)

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JPH0365666B2 JPH0365666B2 (ja) 1991-10-14

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