JPH11283967A - プラズマエッチング装置 - Google Patents
プラズマエッチング装置Info
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- JPH11283967A JPH11283967A JP8207398A JP8207398A JPH11283967A JP H11283967 A JPH11283967 A JP H11283967A JP 8207398 A JP8207398 A JP 8207398A JP 8207398 A JP8207398 A JP 8207398A JP H11283967 A JPH11283967 A JP H11283967A
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- JP
- Japan
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- pin
- push
- wafer
- pins
- plasma etching
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 押上げ用ピンがピン支持部材から抜けにくく
して、エッチング異常、搬送時の載置位置のずれ、修理
工数や部品代の増加、エッチング作業能率の低下、ひい
てはウェハーを用いた完成品のコストアップを防止でき
る押上げ用ピン構造を有したプラズマエッチング装置を
提供する。 【解決手段】 複数の孔2aが形成され上面にウェハー
6が載置される下部電極2と、孔2aに挿通されウェハ
ー6の下面に当接して上下動可能な押上げ用ピン8と、
押上げ用ピン8の下端部を支持するピン支持部材15
と、ピン支持部材15を介して押上げ用ピン8の上下動
を駆動する駆動シリンダー16とを備えた押上げ用ピン
構造を有したプラズマエッチング装置において、押上げ
用ピン8の下端部がネジ結合13bを介してピン支持部
材15に係止されて支持されるようにした。
して、エッチング異常、搬送時の載置位置のずれ、修理
工数や部品代の増加、エッチング作業能率の低下、ひい
てはウェハーを用いた完成品のコストアップを防止でき
る押上げ用ピン構造を有したプラズマエッチング装置を
提供する。 【解決手段】 複数の孔2aが形成され上面にウェハー
6が載置される下部電極2と、孔2aに挿通されウェハ
ー6の下面に当接して上下動可能な押上げ用ピン8と、
押上げ用ピン8の下端部を支持するピン支持部材15
と、ピン支持部材15を介して押上げ用ピン8の上下動
を駆動する駆動シリンダー16とを備えた押上げ用ピン
構造を有したプラズマエッチング装置において、押上げ
用ピン8の下端部がネジ結合13bを介してピン支持部
材15に係止されて支持されるようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばプラズマエ
ッチング装置のウェハー押上げ用ピン構造等に用いられ
るような、押上げ用ピン構造を有するプラズマエッチン
グ装置に関するものである。
ッチング装置のウェハー押上げ用ピン構造等に用いられ
るような、押上げ用ピン構造を有するプラズマエッチン
グ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の押上げ用ピン構造を有するプラズ
マエッチング装置としては、例えば図10に示すような
ものがある。同図に示すようなプラズマエッチング装置
において、上部電極1と下部電極2は互いに上下方向に
接近・離隔可能に設けられている。下部電極2には、図
16に示すように、半径方向の所定の位置で、円周方向
に120°間隔の3ヵ所の位置に孔2aがあいており、
この3ヵ所の孔2aの各々には、図10に示すように、
押上げ用の石英ピン3が挿通されている。
マエッチング装置としては、例えば図10に示すような
ものがある。同図に示すようなプラズマエッチング装置
において、上部電極1と下部電極2は互いに上下方向に
接近・離隔可能に設けられている。下部電極2には、図
16に示すように、半径方向の所定の位置で、円周方向
に120°間隔の3ヵ所の位置に孔2aがあいており、
この3ヵ所の孔2aの各々には、図10に示すように、
押上げ用の石英ピン3が挿通されている。
【0003】石英ピン3の下端部はピン差込部品4に差
し込まれて支持されており、このピン差込部品4はピン
プレート5の肉厚内に支持されている。図11に示すよ
うに、石英ピン3の下端部はピン差込部品4の差込孔4
aに差し込まれて、その奥の部屋4b内の一番奥の突当
たり面4cに突き当たって停止する。ピン差込部品4の
部屋4b内には、図12に示すような、半径内側方向に
弾性締付力を発揮するような、異形筒状の板バネ10が
予め収納されている。
し込まれて支持されており、このピン差込部品4はピン
プレート5の肉厚内に支持されている。図11に示すよ
うに、石英ピン3の下端部はピン差込部品4の差込孔4
aに差し込まれて、その奥の部屋4b内の一番奥の突当
たり面4cに突き当たって停止する。ピン差込部品4の
部屋4b内には、図12に示すような、半径内側方向に
弾性締付力を発揮するような、異形筒状の板バネ10が
予め収納されている。
【0004】そして、石英ピン3をピン差込部品4の差
込孔4aから部屋4b内に差し込むことにより、板バネ
10の内側に石英ピン3が差し込まれると、板バネ10
はその径を押し拡げられるように弾性的に変形すること
により、その反力として半径内側方向に弾性締付力を発
揮して石英ピン3の周面に固定される。このため、石英
ピン3がピン差込部品4の部屋4bから抜け出ようとす
ると、板バネ10の端部がピン差込部品4の部屋4bの
内側に引係って、石英ピン3がピン差込部品4の部屋4
bから抜け出られないようにすることができる。
込孔4aから部屋4b内に差し込むことにより、板バネ
10の内側に石英ピン3が差し込まれると、板バネ10
はその径を押し拡げられるように弾性的に変形すること
により、その反力として半径内側方向に弾性締付力を発
揮して石英ピン3の周面に固定される。このため、石英
ピン3がピン差込部品4の部屋4bから抜け出ようとす
ると、板バネ10の端部がピン差込部品4の部屋4bの
内側に引係って、石英ピン3がピン差込部品4の部屋4
bから抜け出られないようにすることができる。
【0005】ピン差込部品4はピンプレート5の大径穴
5a内に嵌合すると共に、ピン差込部品4の下側突出部
4dはピンプレート5の小径穴5bを貫いて、図13に
示すようなEリング7により係止されている。このた
め、石英ピン3はピン差込部品4,板バネ10及びEリ
ング7を介して、ピンプレート5に対する上下動が制限
されており、石英ピン3はピンプレート5と一体的に上
下動するように構成されている。
5a内に嵌合すると共に、ピン差込部品4の下側突出部
4dはピンプレート5の小径穴5bを貫いて、図13に
示すようなEリング7により係止されている。このた
め、石英ピン3はピン差込部品4,板バネ10及びEリ
ング7を介して、ピンプレート5に対する上下動が制限
されており、石英ピン3はピンプレート5と一体的に上
下動するように構成されている。
【0006】下部電極2の図10中下側には底付円筒状
の第1ケーシング14が設けられており、この第1ケー
シング14の底部14aとピンプレート5との間には蛇
腹12が設けられている。また、第1ケーシング14の
底部14aの中央下部には駆動シリンダー16が設けら
れており、この駆動シリンダー16の伸縮自在なピスト
ンロッド16aの上端部は、ピンプレート5の中央下部
に固定して連結される構造になっている。
の第1ケーシング14が設けられており、この第1ケー
シング14の底部14aとピンプレート5との間には蛇
腹12が設けられている。また、第1ケーシング14の
底部14aの中央下部には駆動シリンダー16が設けら
れており、この駆動シリンダー16の伸縮自在なピスト
ンロッド16aの上端部は、ピンプレート5の中央下部
に固定して連結される構造になっている。
【0007】第1ケーシング14の底部14aの下側に
は、やはり底付円筒状の第2ケーシング20が設けられ
ており、この第2ケーシング20の底部の下側には、下
部電極2及び第1ケーシング14の一体的な上下動を駆
動する駆動シリンダーのピストンロッド22が固定して
連結される構造になっている。
は、やはり底付円筒状の第2ケーシング20が設けられ
ており、この第2ケーシング20の底部の下側には、下
部電極2及び第1ケーシング14の一体的な上下動を駆
動する駆動シリンダーのピストンロッド22が固定して
連結される構造になっている。
【0008】上部電極1の周縁部には円筒部材24が下
垂して設けられており、上部電極1の上側には、図示し
てないガス貯蔵部と連結されたガス導入管26と、図示
してない真空装置と連結されたガス排出管28が、中央
部のガス給排室30に合流するように連結されている。
垂して設けられており、上部電極1の上側には、図示し
てないガス貯蔵部と連結されたガス導入管26と、図示
してない真空装置と連結されたガス排出管28が、中央
部のガス給排室30に合流するように連結されている。
【0009】このようなプラズマエッチング装置は、図
10に示すように、下部電極2の上面から突出して上昇
する途中の石英ピン3の上端の上に、図示しない搬送ア
ームにより搬送されてきたウェハー6が、図示するよう
に載置される。上記搬送アームがウェハー6と下部電極
2の間から抜け出た後、駆動シリンダー16のピストン
ロッド16aが収縮して、図14に示すように、ピンプ
レート5及び石英ピン3が下降する。このため石英ピン
3の先端が下部電極2の上面より下降して、ウェハー6
が下部電極2の上面に載置される。
10に示すように、下部電極2の上面から突出して上昇
する途中の石英ピン3の上端の上に、図示しない搬送ア
ームにより搬送されてきたウェハー6が、図示するよう
に載置される。上記搬送アームがウェハー6と下部電極
2の間から抜け出た後、駆動シリンダー16のピストン
ロッド16aが収縮して、図14に示すように、ピンプ
レート5及び石英ピン3が下降する。このため石英ピン
3の先端が下部電極2の上面より下降して、ウェハー6
が下部電極2の上面に載置される。
【0010】それから駆動シリンダーのピストンロッド
22を長く伸ばすことにより、第1ケーシング14及び
第2ケーシング20と共に下部電極2は上昇していき、
図15に示すように、下部電極2の周縁部が円筒部材2
4の下端部に嵌合することにより、上部電極1と下部電
極2との間に、ガス給排室30と連通するエッチング処
理室32を形成する。
22を長く伸ばすことにより、第1ケーシング14及び
第2ケーシング20と共に下部電極2は上昇していき、
図15に示すように、下部電極2の周縁部が円筒部材2
4の下端部に嵌合することにより、上部電極1と下部電
極2との間に、ガス給排室30と連通するエッチング処
理室32を形成する。
【0011】そして、ガス排出管28から真空ポンプに
よりエッチング処理室32内の空気を吸引して、エッチ
ング処理室32内を10-1〜10Torr位の真空にす
る。それから、ガス導入管26からウェハー6の上面を
エッチング処理するためのガスが供給されると共に、下
部電極2に13.56MHz位の高周波電力を印加する
ことにより、ウェハー6のエッチング処理作業を行う。
よりエッチング処理室32内の空気を吸引して、エッチ
ング処理室32内を10-1〜10Torr位の真空にす
る。それから、ガス導入管26からウェハー6の上面を
エッチング処理するためのガスが供給されると共に、下
部電極2に13.56MHz位の高周波電力を印加する
ことにより、ウェハー6のエッチング処理作業を行う。
【0012】エッチング処理作業が終了したら、ガス導
入管26からのガスの供給を止めると共に、ガス排出管
28からの空気の吸引も止めて、ガス導入管26から今
度は窒素(N2)を供給する。そして、エッチング処理
室32内が大気圧になったらピストンロッド22が短く
収縮することにより、下部電極2は図14に示すように
下降して上部電極1から離隔する。
入管26からのガスの供給を止めると共に、ガス排出管
28からの空気の吸引も止めて、ガス導入管26から今
度は窒素(N2)を供給する。そして、エッチング処理
室32内が大気圧になったらピストンロッド22が短く
収縮することにより、下部電極2は図14に示すように
下降して上部電極1から離隔する。
【0013】次に駆動シリンダー16のピストンロッド
16aが長く伸びることにより、図10に示すように、
ピンプレート5が上昇して石英ピン3を押し上げ、ウェ
ハー6を下部電極2から離隔させる。そして、前記搬送
アームがウェハー6と下部電極2の間に挿し込まれた
後、石英ピン3を下降させることによりウェハー6を搬
送アームの上に乗せ、その搬送アームがウェハー6を他
の所定の場所へ搬送するようになっている。
16aが長く伸びることにより、図10に示すように、
ピンプレート5が上昇して石英ピン3を押し上げ、ウェ
ハー6を下部電極2から離隔させる。そして、前記搬送
アームがウェハー6と下部電極2の間に挿し込まれた
後、石英ピン3を下降させることによりウェハー6を搬
送アームの上に乗せ、その搬送アームがウェハー6を他
の所定の場所へ搬送するようになっている。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のプラズマエッチング装置に用いられた押上げ
用ピン構造にあっては、ピン差込部品4内に差し込まれ
た石英ピン3の下端部は、板バネ10の弾性締付力によ
りピン差込部品4から抜け出ないように構成されている
ため、板バネ10が劣化してその弾性締付力が弱くなる
と、石英ピン3が板バネ10の内側から抜け出るおそれ
がある。
うな従来のプラズマエッチング装置に用いられた押上げ
用ピン構造にあっては、ピン差込部品4内に差し込まれ
た石英ピン3の下端部は、板バネ10の弾性締付力によ
りピン差込部品4から抜け出ないように構成されている
ため、板バネ10が劣化してその弾性締付力が弱くなる
と、石英ピン3が板バネ10の内側から抜け出るおそれ
がある。
【0015】石英ピン3が板バネ10の内側から抜け出
ると、図17に示すように、ピンプレート5が下部電極
2から離隔するように下降しても石英ピン3は完全には
下降せず、ウェハー6は下部電極2に全面接触すること
ができずに傾いた状態となってしまう。このような状態
でエッチング処理作業をおこなうと、エッチング異常が
発生するという問題があった。
ると、図17に示すように、ピンプレート5が下部電極
2から離隔するように下降しても石英ピン3は完全には
下降せず、ウェハー6は下部電極2に全面接触すること
ができずに傾いた状態となってしまう。このような状態
でエッチング処理作業をおこなうと、エッチング異常が
発生するという問題があった。
【0016】また、そのような傾いた状態からピンプレ
ート5及び他の石英ピン3を上昇させてウェハー6全体
を浮き上がらせると、ウェハー6が本来の載置位置から
ずれてしまい、搬送アームによる搬送後に所定の位置に
置くことができなくなって、本来の載置される位置から
ずれてしまうという問題があった。
ート5及び他の石英ピン3を上昇させてウェハー6全体
を浮き上がらせると、ウェハー6が本来の載置位置から
ずれてしまい、搬送アームによる搬送後に所定の位置に
置くことができなくなって、本来の載置される位置から
ずれてしまうという問題があった。
【0017】そしてこのような異常を修正するために
は、装置の分解、板バネ10が入ったピン差込部品4の
交換をした後に、再び装置を組立てなければならず、そ
のための工数や部品代がかかると共にウェハー6のエッ
チング処理作業の能率が低下して、ウェハー6を用いた
完成品のコストアップを招くという問題があった。
は、装置の分解、板バネ10が入ったピン差込部品4の
交換をした後に、再び装置を組立てなければならず、そ
のための工数や部品代がかかると共にウェハー6のエッ
チング処理作業の能率が低下して、ウェハー6を用いた
完成品のコストアップを招くという問題があった。
【0018】そこで本発明は、上記問題点に鑑みて、押
上げ用ピンがピン支持部材から抜けにくくして、エッチ
ング異常、搬送時の載置位置のずれ、修理工数や部品代
の増加、エッチング作業能率の低下、ひいてはウェハー
を用いた完成品のコストアップを防止できる、押上げ用
ピン構造を有するプラズマエッチング装置を提供するこ
とを課題とするものである。
上げ用ピンがピン支持部材から抜けにくくして、エッチ
ング異常、搬送時の載置位置のずれ、修理工数や部品代
の増加、エッチング作業能率の低下、ひいてはウェハー
を用いた完成品のコストアップを防止できる、押上げ用
ピン構造を有するプラズマエッチング装置を提供するこ
とを課題とするものである。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明によるプラズマエッチング装置は、複数の孔
が形成され上面にワークが載置されるワーク支持プレー
トと、前記孔に挿通されワークの下面に当接して上下動
可能な押上げ用ピンと、この押上げ用ピンの下端部を支
持するピン支持部材と、このピン支持部材を介して前記
押上げ用ピンの上下動を駆動する駆動手段とを備えた押
上げ用ピン構造において、前記押上げ用ピンの下端部が
ネジ結合を介して前記ピン支持部材に支持されるように
した押上げ用ピン構造を有した構成としたものである。
に、本発明によるプラズマエッチング装置は、複数の孔
が形成され上面にワークが載置されるワーク支持プレー
トと、前記孔に挿通されワークの下面に当接して上下動
可能な押上げ用ピンと、この押上げ用ピンの下端部を支
持するピン支持部材と、このピン支持部材を介して前記
押上げ用ピンの上下動を駆動する駆動手段とを備えた押
上げ用ピン構造において、前記押上げ用ピンの下端部が
ネジ結合を介して前記ピン支持部材に支持されるように
した押上げ用ピン構造を有した構成としたものである。
【0020】このような構成の押上げ用ピン構造を有し
たプラズマエッチング装置によれば、押上げ用ピンがネ
ジ結合を介してピン支持部材に係止して支持されるよう
にしたため、ネジ結合は板バネのようにその劣化により
容易に係止力を失うことはないので、押上げ用ピンがピ
ン支持部材から抜ける可能性を従来の板バネの場合より
も低減させることができ、すなわち抜けにくくすること
ができる。
たプラズマエッチング装置によれば、押上げ用ピンがネ
ジ結合を介してピン支持部材に係止して支持されるよう
にしたため、ネジ結合は板バネのようにその劣化により
容易に係止力を失うことはないので、押上げ用ピンがピ
ン支持部材から抜ける可能性を従来の板バネの場合より
も低減させることができ、すなわち抜けにくくすること
ができる。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面に基づいて具体的に説明する。図1ないし図9
は、本発明によるプラズマエッチング装置の第1の実施
の形態を説明するために参照する図である。
て、図面に基づいて具体的に説明する。図1ないし図9
は、本発明によるプラズマエッチング装置の第1の実施
の形態を説明するために参照する図である。
【0022】図1は本実施の形態に係るプラズマエッチ
ング装置を示す図であり、同図において、円板状の上部
電極1と下部電極2は、互いに上下方向に接近・離隔可
能に設けられている。下部電極2には、従来と同様に図
16に示すように、半径方向の所定の位置で、円周方向
に120°間隔の3ヵ所の位置に孔2aがあいており、
この3ヵ所の孔2aの各々には、図1に示すように、押
上げ用ピン8が挿通されている。
ング装置を示す図であり、同図において、円板状の上部
電極1と下部電極2は、互いに上下方向に接近・離隔可
能に設けられている。下部電極2には、従来と同様に図
16に示すように、半径方向の所定の位置で、円周方向
に120°間隔の3ヵ所の位置に孔2aがあいており、
この3ヵ所の孔2aの各々には、図1に示すように、押
上げ用ピン8が挿通されている。
【0023】押上げ用ピン8はサファイア製のピンが用
いられており、図2に示すように、直方体に形成され、
ネジ部13bが一体的に形成されたアルミニウム製のピ
ン支持部13と一体的に構成されている。すなわち図3
に示すように、押上げ用ピン8の下端部はピン支持部1
3の穴13aに接着剤を塗布して嵌合し、抜けないよう
に固着されている。
いられており、図2に示すように、直方体に形成され、
ネジ部13bが一体的に形成されたアルミニウム製のピ
ン支持部13と一体的に構成されている。すなわち図3
に示すように、押上げ用ピン8の下端部はピン支持部1
3の穴13aに接着剤を塗布して嵌合し、抜けないよう
に固着されている。
【0024】このような構成の押上げ用ピン8は、その
ピン支持部13の下方のネジ部13bが、図5に示すよ
うに、ピンホルダー15(ピン支持部材)のネジ穴にネ
ジ結合して支持されている。そしてこのピンホルダー1
5は、ピンプレート5の大径穴5a内に嵌合すると共
に、ピンホルダー15の下側突出部15aはピンプレー
ト5の小径穴5bを貫いて、図13に示すようなEリン
グ7により係止されている。このため、押上げ用ピン8
はピンホルダー15及びEリング7を介してピンプレー
ト5に対する上下動が制限されており、押上げ用ピン8
はピンプレート5と一体的に上下動するように構成され
ている。
ピン支持部13の下方のネジ部13bが、図5に示すよ
うに、ピンホルダー15(ピン支持部材)のネジ穴にネ
ジ結合して支持されている。そしてこのピンホルダー1
5は、ピンプレート5の大径穴5a内に嵌合すると共
に、ピンホルダー15の下側突出部15aはピンプレー
ト5の小径穴5bを貫いて、図13に示すようなEリン
グ7により係止されている。このため、押上げ用ピン8
はピンホルダー15及びEリング7を介してピンプレー
ト5に対する上下動が制限されており、押上げ用ピン8
はピンプレート5と一体的に上下動するように構成され
ている。
【0025】下部電極2の図1中下側には底付円筒状の
第1ケーシング14が設けられており、この第1ケーシ
ング14の底部14aとピンプレート5との間には蛇腹
12が設けられている。また、第1ケーシング14の底
部14aの中央下部には駆動シリンダー16(駆動手
段)が設けられており、この駆動シリンダー16の伸縮
自在なピストンロッド16aの上端部は、ピンプレート
5の中央下部に固定して連結される構造になっている。
第1ケーシング14が設けられており、この第1ケーシ
ング14の底部14aとピンプレート5との間には蛇腹
12が設けられている。また、第1ケーシング14の底
部14aの中央下部には駆動シリンダー16(駆動手
段)が設けられており、この駆動シリンダー16の伸縮
自在なピストンロッド16aの上端部は、ピンプレート
5の中央下部に固定して連結される構造になっている。
【0026】第1ケーシング14の底部14aの下側に
は、やはり底付円筒状の第2ケーシング20が設けられ
ており、この第2ケーシング20の底部の下側には、下
部電極2及び第1ケーシング14の一体的な上下動を駆
動する駆動シリンダーのピストンロッド22が固定して
連結される構造になっている。
は、やはり底付円筒状の第2ケーシング20が設けられ
ており、この第2ケーシング20の底部の下側には、下
部電極2及び第1ケーシング14の一体的な上下動を駆
動する駆動シリンダーのピストンロッド22が固定して
連結される構造になっている。
【0027】上部電極1の周縁部には円筒部材24が下
垂して設けられており、上部電極1の上側には、図示し
てないガス貯蔵部と連結されたガス導入管26と、図示
してない真空装置と連結されたガス排出管28が、中央
部のガス給排室30に合流するように連結されている。
垂して設けられており、上部電極1の上側には、図示し
てないガス貯蔵部と連結されたガス導入管26と、図示
してない真空装置と連結されたガス排出管28が、中央
部のガス給排室30に合流するように連結されている。
【0028】このようなプラズマエッチング装置は、図
1に示すように、下部電極2の上面から突出して上昇す
る途中の押上げ用ピン8の上端の上に、図示しない搬送
アームにより搬送されてきたウェハー6(ワーク)が、
図示するように載置される。上記搬送アームがウェハー
6と下部電極2の間から抜け出た後、駆動シリンダー1
6のピストンロッド16aが収縮して、図6に示すよう
に、ピンプレート5及び押上げ用ピン8が下降する。こ
のため押上げ用ピン8の先端が下部電極2の上面より下
降して、ウェハー6が下部電極2(ワーク支持プレー
ト)の上面に載置される。
1に示すように、下部電極2の上面から突出して上昇す
る途中の押上げ用ピン8の上端の上に、図示しない搬送
アームにより搬送されてきたウェハー6(ワーク)が、
図示するように載置される。上記搬送アームがウェハー
6と下部電極2の間から抜け出た後、駆動シリンダー1
6のピストンロッド16aが収縮して、図6に示すよう
に、ピンプレート5及び押上げ用ピン8が下降する。こ
のため押上げ用ピン8の先端が下部電極2の上面より下
降して、ウェハー6が下部電極2(ワーク支持プレー
ト)の上面に載置される。
【0029】それから駆動シリンダーのピストンロッド
22を長く伸ばすことにより、第1ケーシング14及び
第2ケーシング20と共に下部電極2は上昇していき、
図7に示すように、下部電極2の周縁部が円筒部材24
の下端部に嵌合することにより、上部電極1と下部電極
2との間に、ガス給排室30と連通するエッチング処理
室32を形成する。
22を長く伸ばすことにより、第1ケーシング14及び
第2ケーシング20と共に下部電極2は上昇していき、
図7に示すように、下部電極2の周縁部が円筒部材24
の下端部に嵌合することにより、上部電極1と下部電極
2との間に、ガス給排室30と連通するエッチング処理
室32を形成する。
【0030】そして、ガス排出管28から真空ポンプに
よりエッチング処理室32内の空気を吸引して、エッチ
ング処理室32内を10-1〜10Torr位の真空にす
る。それから、ガス導入管26からウェハー6の上面を
エッチング処理するためのガスが供給されると共に、下
部電極2に13.56MHz位の高周波電力を印加する
ことにより、ウェハー6のエッチング処理作業を行う。
よりエッチング処理室32内の空気を吸引して、エッチ
ング処理室32内を10-1〜10Torr位の真空にす
る。それから、ガス導入管26からウェハー6の上面を
エッチング処理するためのガスが供給されると共に、下
部電極2に13.56MHz位の高周波電力を印加する
ことにより、ウェハー6のエッチング処理作業を行う。
【0031】エッチング処理作業が終了したら、ガス導
入管26からのガスの供給を止めると共に、ガス排出管
28からの空気の吸引も止めて、ガス導入管26から今
度は窒素(N2)を供給する。そして、エッチング処理
室32内が大気圧になったら駆動シリンダーのピストン
ロッド22が短く収縮することにより、下部電極2は図
6に示すように下降して上部電極1から離隔する。
入管26からのガスの供給を止めると共に、ガス排出管
28からの空気の吸引も止めて、ガス導入管26から今
度は窒素(N2)を供給する。そして、エッチング処理
室32内が大気圧になったら駆動シリンダーのピストン
ロッド22が短く収縮することにより、下部電極2は図
6に示すように下降して上部電極1から離隔する。
【0032】次に駆動シリンダー16のピストンロッド
16aが長く伸びることにより、図1に示すように、ピ
ンプレート5が上昇して押上げ用ピン8を押し上げ、ウ
ェハー6を下部電極2から離隔させる。そして、前記搬
送アームがウェハー6と下部電極2の間に挿し込まれた
後、押上げ用ピン8を下降させることによりウェハー6
を搬送アームの上に乗せ、その搬送アームがウェハー6
を他の所定の場所へ搬送するようになっている。
16aが長く伸びることにより、図1に示すように、ピ
ンプレート5が上昇して押上げ用ピン8を押し上げ、ウ
ェハー6を下部電極2から離隔させる。そして、前記搬
送アームがウェハー6と下部電極2の間に挿し込まれた
後、押上げ用ピン8を下降させることによりウェハー6
を搬送アームの上に乗せ、その搬送アームがウェハー6
を他の所定の場所へ搬送するようになっている。
【0033】このような押上げ用ピン構造を有するプラ
ズマエッチング装置によれば、押上げ用ピン8がネジ結
合を介してピンホルダー15に係止して支持されるよう
にしたため、ネジ結合は従来の板バネ10のようにその
劣化により容易に係止力を失うことはないので、押上げ
用ピン8がピンホルダー15から抜ける可能性を板バネ
10の場合よりも低減させることができる。このため、
押上げ用ピン8がピンホルダー15から抜けにくくし
て、エッチング異常、搬送時の載置位置のずれ、修理工
数や部品代の増加、エッチング処理作業の能率の低下、
ひいてはウェハーを用いた完成品のコストアップを防止
することができる。
ズマエッチング装置によれば、押上げ用ピン8がネジ結
合を介してピンホルダー15に係止して支持されるよう
にしたため、ネジ結合は従来の板バネ10のようにその
劣化により容易に係止力を失うことはないので、押上げ
用ピン8がピンホルダー15から抜ける可能性を板バネ
10の場合よりも低減させることができる。このため、
押上げ用ピン8がピンホルダー15から抜けにくくし
て、エッチング異常、搬送時の載置位置のずれ、修理工
数や部品代の増加、エッチング処理作業の能率の低下、
ひいてはウェハーを用いた完成品のコストアップを防止
することができる。
【0034】ところで、押上げ用ピン8を交換するとき
は、図8,図9に示すような専用工具17を、下部電極
2の孔2aの上方から差し込んで、専用工具17の先端
に形成された四角形の凹部17aを、押上げ用ピン8の
ピン支持部13の直方体の部分に嵌合させてから、専用
工具17のつまみ部17bを回転させて、ピン支持部1
3のネジ部13bとピンホルダー15のネジ穴とのネジ
結合を離脱させて押上げ用ピン8を取り出し、別の押上
げ用ピン8と交換して、専用工具17によりまたピンホ
ルダー15にネジ結合させることができる。
は、図8,図9に示すような専用工具17を、下部電極
2の孔2aの上方から差し込んで、専用工具17の先端
に形成された四角形の凹部17aを、押上げ用ピン8の
ピン支持部13の直方体の部分に嵌合させてから、専用
工具17のつまみ部17bを回転させて、ピン支持部1
3のネジ部13bとピンホルダー15のネジ穴とのネジ
結合を離脱させて押上げ用ピン8を取り出し、別の押上
げ用ピン8と交換して、専用工具17によりまたピンホ
ルダー15にネジ結合させることができる。
【0035】このため、従来のようにプラズマエッチン
グ装置を分解、組立てしなくて済むので、修理工数を低
減させてエッチング処理作業の能率を向上させることが
できる。また従来のように板バネ10をピン差込部品4
ごと交換しなくともよいので、ピンホルダー15はその
まま使うことができるので、交換する部品数を低減させ
ることができる。
グ装置を分解、組立てしなくて済むので、修理工数を低
減させてエッチング処理作業の能率を向上させることが
できる。また従来のように板バネ10をピン差込部品4
ごと交換しなくともよいので、ピンホルダー15はその
まま使うことができるので、交換する部品数を低減させ
ることができる。
【0036】またピンプレート5と第1ケーシング14
の底部14aとの間には蛇腹12が設けられているの
で、たとえ蛇腹12の外側の第1ケーシング14内が真
空になったとしても、そしてたとえ蛇腹12の内側が外
気と連通して大気圧になったとても、それらの真空部分
と大気圧部分の間を遮断することができる。
の底部14aとの間には蛇腹12が設けられているの
で、たとえ蛇腹12の外側の第1ケーシング14内が真
空になったとしても、そしてたとえ蛇腹12の内側が外
気と連通して大気圧になったとても、それらの真空部分
と大気圧部分の間を遮断することができる。
【0037】なお、上記実施の形態においては本発明を
プラズマエッチング装置に適用して、押上げ用ピン8が
ウェハー6を押し上げる場合について説明したが、本発
明はプラズマエッチング装置以外の他の装置にも適用す
ることができ、押上げ用ピン8がウェハー6以外のもの
を押し上げる場合にも適用することができる。
プラズマエッチング装置に適用して、押上げ用ピン8が
ウェハー6を押し上げる場合について説明したが、本発
明はプラズマエッチング装置以外の他の装置にも適用す
ることができ、押上げ用ピン8がウェハー6以外のもの
を押し上げる場合にも適用することができる。
【0038】また、前記実施の形態においては押上げ用
ピン8にサファイアを用いたものについて説明したが、
押上げ用ピン8は高い硬度を有するものであれば、サフ
ァイア以外の他の材料を用いたものであってもよい。
ピン8にサファイアを用いたものについて説明したが、
押上げ用ピン8は高い硬度を有するものであれば、サフ
ァイア以外の他の材料を用いたものであってもよい。
【0039】また、前記実施の形態においては押上げ用
ピン8のピン支持部13にアルミニウムを用いたものに
ついて説明したが、そのピン支持部13もアルミニウム
以外の他の材料を用いたものであってもよい。
ピン8のピン支持部13にアルミニウムを用いたものに
ついて説明したが、そのピン支持部13もアルミニウム
以外の他の材料を用いたものであってもよい。
【0040】また、前記実施の形態においては下部電極
2の3ヵ所に押上げ用ピン8が通る3つの孔2aをあけ
た場合について説明したが、下部電極2には孔2aを4
ヵ所以上にあけることもできる。
2の3ヵ所に押上げ用ピン8が通る3つの孔2aをあけ
た場合について説明したが、下部電極2には孔2aを4
ヵ所以上にあけることもできる。
【0041】以上、本発明の実施の形態について具体的
に述べてきたが、本発明は上記の実施の形態に限定され
るものではなく、本発明の技術的思想に基づいて、その
他にも各種の変更が可能なものである。
に述べてきたが、本発明は上記の実施の形態に限定され
るものではなく、本発明の技術的思想に基づいて、その
他にも各種の変更が可能なものである。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のプラズマ
エッチング装置によれば、押上げ用ピンがピン支持部材
から抜ける可能性を従来の板バネの場合よりも低減させ
ることができるため、押上げ用ピンがピン支持部材から
抜けにくくして、エッチング異常、搬送時の載置位置の
ずれ、修理工数や部品代の増加、エッチング処理作業の
能率の低下、ひいてはウェハーを用いた完成品のコスト
アップを防止することができる。
エッチング装置によれば、押上げ用ピンがピン支持部材
から抜ける可能性を従来の板バネの場合よりも低減させ
ることができるため、押上げ用ピンがピン支持部材から
抜けにくくして、エッチング異常、搬送時の載置位置の
ずれ、修理工数や部品代の増加、エッチング処理作業の
能率の低下、ひいてはウェハーを用いた完成品のコスト
アップを防止することができる。
【図1】本発明の第1の実施の形態に係るプラズマエッ
チング装置を示す側面断面図である。
チング装置を示す側面断面図である。
【図2】図1における押上げ用ピン8を示す拡大斜視図
である。
である。
【図3】図4における押上げ用ピン8のIII−III
線断面図である。
線断面図である。
【図4】図3における押上げ用ピン8のIV−IV線部
分断面図である。
分断面図である。
【図5】押上げ用ピン8のネジ部13bとピンホルダー
15とのネジ結合部を示す部分拡大断面図である。
15とのネジ結合部を示す部分拡大断面図である。
【図6】プラズマエッチング装置の動作を説明するため
の側面断面図である。
の側面断面図である。
【図7】プラズマエッチング装置の動作を説明するため
の側面断面図である。
の側面断面図である。
【図8】押上げ用ピン8を交換するときに使う専用工具
17を示す斜視図である。
17を示す斜視図である。
【図9】図8における専用工具17のIX矢視図であ
る。
る。
【図10】従来のプラズマエッチング装置を示す側面断
面図である。
面図である。
【図11】石英ピン3の下端部を板バネ10によりピン
差込部品4に係止した状態を示す部分拡大断面図であ
る。
差込部品4に係止した状態を示す部分拡大断面図であ
る。
【図12】板バネ10を示すその斜視図である。
【図13】Eリング7を示すその平面図である。
【図14】従来のプラズマエッチング装置の動作を説明
するための側面断面図である。
するための側面断面図である。
【図15】従来のプラズマエッチング装置の動作を説明
するための側面断面図である。
するための側面断面図である。
【図16】下部電極2の孔2aを示す下部電極2の平面
図である。
図である。
【図17】石英ピン3が下降せずウェハー6が傾いた状
態を示すプラズマエッチング装置の部分側面断面図であ
る。
態を示すプラズマエッチング装置の部分側面断面図であ
る。
1…上部電極、2…下部電極、2a…孔、3…石英ピ
ン、4…ピン差込部品、4a…差込孔、4b…部屋、4
c…突当たり面、4d…下側突出部、5…ピンプレー
ト、5a…大径穴、5b…小径穴、6…ウェハー、7…
Eリング、8…押上げ用ピン、10…板バネ、12…蛇
腹、13…ピン支持部、13a…穴、13b…ネジ部、
14…第1ケーシング、14a…底部、15…ピンホル
ダー、15a…下側突出部、16…駆動シリンダー、1
6a…ピストンロッド、17…専用工具、17a…凹
部、17b…つまみ部、20…第2ケーシング、22…
ピストンロッド、24…円筒部材、26…ガス導入管、
28…ガス排出管、30…ガス給排室、32…エッチン
グ処理室
ン、4…ピン差込部品、4a…差込孔、4b…部屋、4
c…突当たり面、4d…下側突出部、5…ピンプレー
ト、5a…大径穴、5b…小径穴、6…ウェハー、7…
Eリング、8…押上げ用ピン、10…板バネ、12…蛇
腹、13…ピン支持部、13a…穴、13b…ネジ部、
14…第1ケーシング、14a…底部、15…ピンホル
ダー、15a…下側突出部、16…駆動シリンダー、1
6a…ピストンロッド、17…専用工具、17a…凹
部、17b…つまみ部、20…第2ケーシング、22…
ピストンロッド、24…円筒部材、26…ガス導入管、
28…ガス排出管、30…ガス給排室、32…エッチン
グ処理室
Claims (2)
- 【請求項1】 複数の孔が形成され上面にワークが載置
されるワーク支持プレートと、 前記孔に挿通されワークの下面に当接して上下動可能な
押上げ用ピンと、 前記押上げ用ピンの下端部を支持するピン支持部材と、 前記ピン支持部材を介して前記押上げ用ピンの上下動を
駆動する駆動手段と、 を備えた押上げ用ピン構造において、 前記押上げ用ピンの下端部がネジ結合を介して前記ピン
支持部材に支持されるようにした押上げ用ピン構造を有
したことを特徴とするプラズマエッチング装置。 - 【請求項2】 前記押上げ用ピンの下端部がネジ結合を
介して前記ピン支持部材に支持されるようにした押上げ
用ピン構造を用いて、 ワークを他の場所に搬送したり、他の場所から搬送され
てきたワークを受け取るときは前記駆動手段により前記
押上げ用ピンを上昇させ、 前記受け取ったワークを前記ワーク支持プレート上に載
置するときは前記駆動手段により前記押上げ用ピンを下
降させるようにした押上げ用ピン構造を備えたことを特
徴とする請求項1に記載のプラズマエッチング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8207398A JPH11283967A (ja) | 1998-03-27 | 1998-03-27 | プラズマエッチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8207398A JPH11283967A (ja) | 1998-03-27 | 1998-03-27 | プラズマエッチング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11283967A true JPH11283967A (ja) | 1999-10-15 |
Family
ID=13764312
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8207398A Pending JPH11283967A (ja) | 1998-03-27 | 1998-03-27 | プラズマエッチング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11283967A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10052724B4 (de) * | 2000-10-24 | 2012-08-02 | Pac Tech-Packaging Technologies Gmbh | Behandlungseinrichtung für Wafer |
KR20180107743A (ko) * | 2017-03-22 | 2018-10-02 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 기판 처리 장치 |
US11404249B2 (en) | 2017-03-22 | 2022-08-02 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus |
-
1998
- 1998-03-27 JP JP8207398A patent/JPH11283967A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10052724B4 (de) * | 2000-10-24 | 2012-08-02 | Pac Tech-Packaging Technologies Gmbh | Behandlungseinrichtung für Wafer |
KR20180107743A (ko) * | 2017-03-22 | 2018-10-02 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 기판 처리 장치 |
JP2018160666A (ja) * | 2017-03-22 | 2018-10-11 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
US11404249B2 (en) | 2017-03-22 | 2022-08-02 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus |
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