JPH11271278A - 鋼材の欠陥検出方法 - Google Patents
鋼材の欠陥検出方法Info
- Publication number
- JPH11271278A JPH11271278A JP7745798A JP7745798A JPH11271278A JP H11271278 A JPH11271278 A JP H11271278A JP 7745798 A JP7745798 A JP 7745798A JP 7745798 A JP7745798 A JP 7745798A JP H11271278 A JPH11271278 A JP H11271278A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- level
- magnetic flux
- steel material
- detecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】鋼材の欠陥を正確に検出する。
【解決手段】鋼材2を磁化し、この鋼材2近傍の磁束を
検出して欠陥8を検出する鋼材の欠陥検出方法におい
て、鋼材2と、磁束の水平方向成分のレベルを検出する
センサ11a及び磁束の垂直方向成分のレベルを検出す
るセンサ11bを相対的に移動させながら、磁束の水平
方向成分のレベルと垂直方向成分のレベルを検出し、検
出された磁束の水平方向成分のレベル及び垂直方向成分
のレベルによって定められる2次元ベクトルの時間変化
に基づいて特徴量を算出し、当該算出された特徴量に基
づいて欠陥判定を行う。
検出して欠陥8を検出する鋼材の欠陥検出方法におい
て、鋼材2と、磁束の水平方向成分のレベルを検出する
センサ11a及び磁束の垂直方向成分のレベルを検出す
るセンサ11bを相対的に移動させながら、磁束の水平
方向成分のレベルと垂直方向成分のレベルを検出し、検
出された磁束の水平方向成分のレベル及び垂直方向成分
のレベルによって定められる2次元ベクトルの時間変化
に基づいて特徴量を算出し、当該算出された特徴量に基
づいて欠陥判定を行う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、鋼材の表面又は内
部に存在する介在物などの異物を鋼材表面に対向して配
置された磁気センサによって検出することにより、鋼材
の欠陥を検出する方法に関する。
部に存在する介在物などの異物を鋼材表面に対向して配
置された磁気センサによって検出することにより、鋼材
の欠陥を検出する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】製鉄工場の製品検査ラインにおいては、
製造された鋼材の欠陥を検出するための一般的な手法と
して漏洩磁束探傷法がある。この漏洩磁束探傷法を適用
した製品検査ラインには、磁気センサを有する磁気探傷
装置が取付けられている。
製造された鋼材の欠陥を検出するための一般的な手法と
して漏洩磁束探傷法がある。この漏洩磁束探傷法を適用
した製品検査ラインには、磁気センサを有する磁気探傷
装置が取付けられている。
【0003】図11は、製品検査ラインにおける磁気探
傷装置の測定原理を示すブロック図であり、鋼材が板状
に成形された鋼板の欠陥を検出する場合を例として示し
ている。
傷装置の測定原理を示すブロック図であり、鋼材が板状
に成形された鋼板の欠陥を検出する場合を例として示し
ている。
【0004】製品検査ライン1においては、鋼板2が搬
送ローラ3a、3bの回転動作によってほぼ一定の速度
Vで搬送される。磁気探傷装置4は、製品検査ライン1
における鋼板2の搬送路に沿って配置される。
送ローラ3a、3bの回転動作によってほぼ一定の速度
Vで搬送される。磁気探傷装置4は、製品検査ライン1
における鋼板2の搬送路に沿って配置される。
【0005】この磁気探傷装置4は、走行状態の鋼板2
に磁界を印加する磁化器5と、この磁化器5に励磁電流
を供給する図示しない制御処理部と、鋼板2を挟んで磁
化器5の対向位置に配置された磁気センサ6と、この磁
気センサ6の検出信号に基づいて鋼板2の内部又は表面
の欠陥を検出する信号処理装置7とで構成される。
に磁界を印加する磁化器5と、この磁化器5に励磁電流
を供給する図示しない制御処理部と、鋼板2を挟んで磁
化器5の対向位置に配置された磁気センサ6と、この磁
気センサ6の検出信号に基づいて鋼板2の内部又は表面
の欠陥を検出する信号処理装置7とで構成される。
【0006】鋼板2に欠陥8が存在すると、この欠陥8
に起因して鋼板2内の磁力線が乱され、鋼板2の外部に
漏洩して漏洩磁束となる。磁気センサ6はこの漏洩磁束
を検出する。漏洩磁束の強度は欠陥の規模に対応するの
で、磁気センサ6の検出信号の信号レベルによって欠陥
8の規模を評価することが可能である。
に起因して鋼板2内の磁力線が乱され、鋼板2の外部に
漏洩して漏洩磁束となる。磁気センサ6はこの漏洩磁束
を検出する。漏洩磁束の強度は欠陥の規模に対応するの
で、磁気センサ6の検出信号の信号レベルによって欠陥
8の規模を評価することが可能である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
鋼材の欠陥検出方法においては、磁気センサの検出信号
の信号レベルによって欠陥を検出していた。しかしなが
ら、磁気センサによって検出される磁気的な信号には、
上記の欠陥に起因する漏洩磁束以外にも、鋼材における
局部的な磁気的特性変化、むらなどに起因する鋼材外部
の磁束分布の乱れが含まれる場合がある。この磁束分布
の乱れは、欠陥検出という観点からすれば不要な磁束
(雑音磁束)である。
鋼材の欠陥検出方法においては、磁気センサの検出信号
の信号レベルによって欠陥を検出していた。しかしなが
ら、磁気センサによって検出される磁気的な信号には、
上記の欠陥に起因する漏洩磁束以外にも、鋼材における
局部的な磁気的特性変化、むらなどに起因する鋼材外部
の磁束分布の乱れが含まれる場合がある。この磁束分布
の乱れは、欠陥検出という観点からすれば不要な磁束
(雑音磁束)である。
【0008】このような雑音磁束による影響を避けるた
め、欠陥漏洩磁束に起因する信号と雑音磁束に起因する
信号とで周波数が異なることを利用して、欠陥を判断す
る方法が用いられる場合がある。
め、欠陥漏洩磁束に起因する信号と雑音磁束に起因する
信号とで周波数が異なることを利用して、欠陥を判断す
る方法が用いられる場合がある。
【0009】図12は、欠陥信号と雑音磁束の周波数特
性の測定結果の一例を示す図である。すなわち、図12
は、薄鋼板を一定速度で走行させた状態において、欠陥
に起因する漏洩磁束を磁気センサで検出した場合の欠陥
信号の周波数特性と、雑音磁束を磁気センサにより検出
した場合の周波数特性とを例示している。
性の測定結果の一例を示す図である。すなわち、図12
は、薄鋼板を一定速度で走行させた状態において、欠陥
に起因する漏洩磁束を磁気センサで検出した場合の欠陥
信号の周波数特性と、雑音磁束を磁気センサにより検出
した場合の周波数特性とを例示している。
【0010】この図12において示すように、欠陥信号
の方が雑音磁束よりも高い周波数成分を持っている。そ
こで、信号処理装置に遮断周波数fを有するハイパスフ
ィルタを組み込み、磁気センサから当該信号処理装置に
出力された検出信号のうち、欠陥信号を雑音磁束に比べ
て相対的に強調して抽出することが可能である。
の方が雑音磁束よりも高い周波数成分を持っている。そ
こで、信号処理装置に遮断周波数fを有するハイパスフ
ィルタを組み込み、磁気センサから当該信号処理装置に
出力された検出信号のうち、欠陥信号を雑音磁束に比べ
て相対的に強調して抽出することが可能である。
【0011】しかし、欠陥信号の周波数特性と雑音磁束
の周波数特性は重なり合う部分もあるため、検出すべき
欠陥が小さいために欠陥信号のレベルが小さい場合や、
雑音磁束が大きい場合には、たとえ検出信号を周波数弁
別したとしても、欠陥を検出できるレベルまで雑音磁束
を除去することは困難である。
の周波数特性は重なり合う部分もあるため、検出すべき
欠陥が小さいために欠陥信号のレベルが小さい場合や、
雑音磁束が大きい場合には、たとえ検出信号を周波数弁
別したとしても、欠陥を検出できるレベルまで雑音磁束
を除去することは困難である。
【0012】また、特開平2−247556号公報にお
いては、脱炭部は健全部と比べ局所的に透磁率が高く、
逆に表面欠陥は健全部に比べ局所的に透磁率が低いとい
う物性値の差異を利用し、交流磁化時の水平方向検出用
磁気センサと垂直方向検出用磁気センサによる検出波形
を作業者が目視し、予め定められた基準波形と比較する
ことにより、脱炭部と表面欠陥を区別する脱炭層検出方
法及び装置が開示されている。
いては、脱炭部は健全部と比べ局所的に透磁率が高く、
逆に表面欠陥は健全部に比べ局所的に透磁率が低いとい
う物性値の差異を利用し、交流磁化時の水平方向検出用
磁気センサと垂直方向検出用磁気センサによる検出波形
を作業者が目視し、予め定められた基準波形と比較する
ことにより、脱炭部と表面欠陥を区別する脱炭層検出方
法及び装置が開示されている。
【0013】この脱炭層検出方法及び装置を用いて欠陥
に起因する漏洩磁束と雑音磁束を弁別する方法が考えら
れる。しかし、この脱炭層検出方法及び装置を用いた漏
洩磁束と雑音磁束の弁別方法においては、検出波形を作
業者が目視で判断するため、処理に時間がかかり、オン
ライン欠陥検査のように広い2次元領域を高速に探傷す
るのは、事実上不可能である。
に起因する漏洩磁束と雑音磁束を弁別する方法が考えら
れる。しかし、この脱炭層検出方法及び装置を用いた漏
洩磁束と雑音磁束の弁別方法においては、検出波形を作
業者が目視で判断するため、処理に時間がかかり、オン
ライン欠陥検査のように広い2次元領域を高速に探傷す
るのは、事実上不可能である。
【0014】また、検出波形を作業者が目視で判断する
ため、定量的な取り扱いが困難である。さらに、作業者
は、水平方向検出用磁気センサと垂直方向検出用磁気セ
ンサによって検出される2つの別々の検出波形によって
判断するため、水平成分と垂直成分との関係が付けづら
く磁束分布における物理的な特徴を抽出しにくいという
問題がある。
ため、定量的な取り扱いが困難である。さらに、作業者
は、水平方向検出用磁気センサと垂直方向検出用磁気セ
ンサによって検出される2つの別々の検出波形によって
判断するため、水平成分と垂直成分との関係が付けづら
く磁束分布における物理的な特徴を抽出しにくいという
問題がある。
【0015】本発明は、以上のような実情に鑑みてなさ
れたもので、磁束の水平方向成分のレベルと垂直方向成
分のレベルを検出して定められる磁場分布ベクトルの時
間変化に関する特徴量を算出し、この特徴量により欠陥
判定を行うことで、微小な欠陥であっても検出可能であ
り、検出精度の高い鋼材の欠陥検出方法を提供すること
を目的とする。
れたもので、磁束の水平方向成分のレベルと垂直方向成
分のレベルを検出して定められる磁場分布ベクトルの時
間変化に関する特徴量を算出し、この特徴量により欠陥
判定を行うことで、微小な欠陥であっても検出可能であ
り、検出精度の高い鋼材の欠陥検出方法を提供すること
を目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために以下のような手段を講じた。本発明は、鋼
材を磁化し、この鋼材近傍の磁束を検出して欠陥を検出
する鋼材の欠陥検出方法において、鋼材と、磁束の水平
方向成分のレベルを検出するセンサ及び磁束の垂直方向
成分のレベルを検出するセンサを相対的に移動させなが
ら、磁束の水平方向成分のレベルと垂直方向成分のレベ
ルを検出し、当該検出された磁束の水平方向成分のレベ
ル及び垂直方向成分のレベルによって定められる2次元
ベクトルの時間変化に基づいて特徴量を算出し、当該算
出された特徴量に基づいて欠陥判定を行う鋼材の欠陥検
出方法である。
成するために以下のような手段を講じた。本発明は、鋼
材を磁化し、この鋼材近傍の磁束を検出して欠陥を検出
する鋼材の欠陥検出方法において、鋼材と、磁束の水平
方向成分のレベルを検出するセンサ及び磁束の垂直方向
成分のレベルを検出するセンサを相対的に移動させなが
ら、磁束の水平方向成分のレベルと垂直方向成分のレベ
ルを検出し、当該検出された磁束の水平方向成分のレベ
ル及び垂直方向成分のレベルによって定められる2次元
ベクトルの時間変化に基づいて特徴量を算出し、当該算
出された特徴量に基づいて欠陥判定を行う鋼材の欠陥検
出方法である。
【0017】ここで、磁束の水平方向成分のレベル及び
垂直方向成分のレベルによって定められる2次元ベクト
ルの終点は、鋼材に欠陥がある場合には円状の軌跡を描
き、この円状の軌跡を描く時間は欠陥がない場合に比べ
て長くなる。すなわち、この2次元ベクトルの軌跡と軌
跡が描かれる時間は、鋼材に欠陥がある場合とない場合
とで大きく相違し、たとえ雑音磁束が含まれていても大
きく相違する。
垂直方向成分のレベルによって定められる2次元ベクト
ルの終点は、鋼材に欠陥がある場合には円状の軌跡を描
き、この円状の軌跡を描く時間は欠陥がない場合に比べ
て長くなる。すなわち、この2次元ベクトルの軌跡と軌
跡が描かれる時間は、鋼材に欠陥がある場合とない場合
とで大きく相違し、たとえ雑音磁束が含まれていても大
きく相違する。
【0018】したがって、本発明の鋼材の欠陥検出方法
においては、この軌跡に表れる特徴を特徴量として欠陥
検出を行うため、雑音磁束の影響を受けることなく、欠
陥の検出精度を向上させることができる。
においては、この軌跡に表れる特徴を特徴量として欠陥
検出を行うため、雑音磁束の影響を受けることなく、欠
陥の検出精度を向上させることができる。
【0019】本発明は、鋼材を磁化し、この鋼材近傍の
磁束を検出して欠陥を検出する鋼材の欠陥検出方法にお
いて、鋼材と、磁束の水平方向成分のレベルを検出する
センサ及び磁束の垂直方向成分のレベルを検出するセン
サを相対的に移動させながら、磁束の水平方向成分のレ
ベルと垂直方向成分のレベルを検出し、当該検出された
磁束の水平方向成分のレベル及び垂直方向成分のレベル
の直流分を除去して交流分のみとし、当該交流分のみの
磁束の水平方向成分のレベル及び垂直方向成分のレベル
を座標値とする2次元平面上の点が時間の経過に伴って
2次元平面を移動する場合に、2次元平面上の点と原点
を結ぶ線が所定時間内に通過する部分の面積を求め、当
該求められた面積に基づいて特徴量を算出し、 当該算
出された特徴量に基づいて欠陥判定を行う鋼材の欠陥検
出方法である。
磁束を検出して欠陥を検出する鋼材の欠陥検出方法にお
いて、鋼材と、磁束の水平方向成分のレベルを検出する
センサ及び磁束の垂直方向成分のレベルを検出するセン
サを相対的に移動させながら、磁束の水平方向成分のレ
ベルと垂直方向成分のレベルを検出し、当該検出された
磁束の水平方向成分のレベル及び垂直方向成分のレベル
の直流分を除去して交流分のみとし、当該交流分のみの
磁束の水平方向成分のレベル及び垂直方向成分のレベル
を座標値とする2次元平面上の点が時間の経過に伴って
2次元平面を移動する場合に、2次元平面上の点と原点
を結ぶ線が所定時間内に通過する部分の面積を求め、当
該求められた面積に基づいて特徴量を算出し、 当該算
出された特徴量に基づいて欠陥判定を行う鋼材の欠陥検
出方法である。
【0020】上記発明で求められる面積は、鋼材に欠陥
がある場合にのみ大きくなり、また鋼材に欠陥がある場
合にのみこの面積の大きい状態が維持される傾向があ
る。したがって、本発明の鋼材の欠陥検出方法において
は、この面積に基づいて特徴量を算出することにより、
雑音磁束が含まれていても正確に欠陥を検出することが
できる。
がある場合にのみ大きくなり、また鋼材に欠陥がある場
合にのみこの面積の大きい状態が維持される傾向があ
る。したがって、本発明の鋼材の欠陥検出方法において
は、この面積に基づいて特徴量を算出することにより、
雑音磁束が含まれていても正確に欠陥を検出することが
できる。
【0021】本発明は、上記各発明の鋼材の欠陥検出方
法において、鋼材と両センサの間の相対移動方向におけ
る両センサ間の位置ずれ量と、鋼材と両センサ間の相対
移動速度とに基づいて、一方のセンサで検出された鋼材
の位置が、他方のセンサで検出されるまでの時間差を求
め、両センサのいずれか一方の検出時間を時間差だけず
らして特徴量を算出する鋼材の欠陥検出方法である。
法において、鋼材と両センサの間の相対移動方向におけ
る両センサ間の位置ずれ量と、鋼材と両センサ間の相対
移動速度とに基づいて、一方のセンサで検出された鋼材
の位置が、他方のセンサで検出されるまでの時間差を求
め、両センサのいずれか一方の検出時間を時間差だけず
らして特徴量を算出する鋼材の欠陥検出方法である。
【0022】したがって、本発明の鋼材の欠陥検出方法
においては、センサの取付け位置の差によって生ずる検
出位置の誤差を補正し、鋼材の同一位置で検出されたレ
ベルどうしを対応付けるため、正確な磁場分布測定が可
能となる。そして、この正確な磁場分布に基づいて特徴
量を算出するため、鋼材の欠陥検出精度を一層向上させ
ることができる。
においては、センサの取付け位置の差によって生ずる検
出位置の誤差を補正し、鋼材の同一位置で検出されたレ
ベルどうしを対応付けるため、正確な磁場分布測定が可
能となる。そして、この正確な磁場分布に基づいて特徴
量を算出するため、鋼材の欠陥検出精度を一層向上させ
ることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態について説明する。 (第1の実施の形態)図1は、本実施の形態に係る鋼材
の欠陥検出方法を適用した製品検査ラインを示す側面図
である。なお、図1において、図11と同一の部分には
同一の符号を付してその説明を省略し、ここでは異なる
部分についてのみ詳しく説明する。
の実施の形態について説明する。 (第1の実施の形態)図1は、本実施の形態に係る鋼材
の欠陥検出方法を適用した製品検査ラインを示す側面図
である。なお、図1において、図11と同一の部分には
同一の符号を付してその説明を省略し、ここでは異なる
部分についてのみ詳しく説明する。
【0024】この製品検査ライン9では、漏洩磁束探傷
法により欠陥の検出が行なわれる。この製品検査ライン
9においては、鋼板2の搬送路に沿って磁気探傷装置1
0が設置されている。
法により欠陥の検出が行なわれる。この製品検査ライン
9においては、鋼板2の搬送路に沿って磁気探傷装置1
0が設置されている。
【0025】この磁気探傷装置10は、主に、磁化器
5、磁性センサ11a、11b、信号処理装置12によ
って構成されている。磁気センサ11a、11bは、鋼
板2を挟んで磁化器5の対向位置に配置されており、一
対となっている。この各磁気センサ11a、11bと鋼
板2の間の距離であるリフトオフの値は双方ともLであ
る。
5、磁性センサ11a、11b、信号処理装置12によ
って構成されている。磁気センサ11a、11bは、鋼
板2を挟んで磁化器5の対向位置に配置されており、一
対となっている。この各磁気センサ11a、11bと鋼
板2の間の距離であるリフトオフの値は双方ともLであ
る。
【0026】磁気センサ11aは、鋼材2近傍の磁束
(磁場)の水平方向成分のレベルVxを検出し、信号処
理装置12に出力する。一方、磁気センサ11bは、鋼
材2近傍の磁束(磁場)の垂直方向成分のレベルVy を
検出し、信号処理装置12に出力する。
(磁場)の水平方向成分のレベルVxを検出し、信号処
理装置12に出力する。一方、磁気センサ11bは、鋼
材2近傍の磁束(磁場)の垂直方向成分のレベルVy を
検出し、信号処理装置12に出力する。
【0027】信号処理装置12は、磁気センサ11a、
11bの検出信号のレベルVx 、Vy を入力し、この検
出信号のレベルVx 、Vy に基づいて特徴量を算出し、
この特徴量に基づいて欠陥の検出を行う。
11bの検出信号のレベルVx 、Vy を入力し、この検
出信号のレベルVx 、Vy に基づいて特徴量を算出し、
この特徴量に基づいて欠陥の検出を行う。
【0028】以下に、本実施の形態に係る鋼材の欠陥検
出方法の処理について説明する。磁気探傷装置10にお
いて、磁化器5によって鋼板2の表層部を磁化させた場
合に、磁化器5から供給される磁束の大半は鋼板2内の
みを通過するが、一部の磁束は鋼板2から漏れ出て直流
浮遊磁界を構成する。この直流浮遊磁界の影響は単純な
ハイパスフィルタ処理によって削除する。
出方法の処理について説明する。磁気探傷装置10にお
いて、磁化器5によって鋼板2の表層部を磁化させた場
合に、磁化器5から供給される磁束の大半は鋼板2内の
みを通過するが、一部の磁束は鋼板2から漏れ出て直流
浮遊磁界を構成する。この直流浮遊磁界の影響は単純な
ハイパスフィルタ処理によって削除する。
【0029】ここで、鋼板2の内部又は表面に介在物な
どの異物が存在し、欠陥8があると、さらに鋼板2から
磁束が漏れ出て、図2のような漏洩磁束分布が発生す
る。したがって、時間t毎の磁気センサ11a、11b
の検出信号Vx (t)、Vy (t)は図3(a)、図3
(b)に示すように、欠陥8の検出時間において大きく
変化する。
どの異物が存在し、欠陥8があると、さらに鋼板2から
磁束が漏れ出て、図2のような漏洩磁束分布が発生す
る。したがって、時間t毎の磁気センサ11a、11b
の検出信号Vx (t)、Vy (t)は図3(a)、図3
(b)に示すように、欠陥8の検出時間において大きく
変化する。
【0030】図4は、この磁気センサ11aによって検
出される磁束の水平方向成分(水平方向磁場成分)のレ
ベルVx (t)を横軸の値とし、磁気センサ11bによ
って検出される磁束の垂直方向成分(垂直方向磁場成
分)のレベルVy (t)を縦軸の値として2次元磁場平
面上の点で表し(以下、この点を「磁束点」という)、
時間tの経過にしたがってあらわれる磁束点の軌跡(リ
サージュ図形)を図示したものである。
出される磁束の水平方向成分(水平方向磁場成分)のレ
ベルVx (t)を横軸の値とし、磁気センサ11bによ
って検出される磁束の垂直方向成分(垂直方向磁場成
分)のレベルVy (t)を縦軸の値として2次元磁場平
面上の点で表し(以下、この点を「磁束点」という)、
時間tの経過にしたがってあらわれる磁束点の軌跡(リ
サージュ図形)を図示したものである。
【0031】このリサージュ図形では、磁気センサ11
a、11bが欠陥8による漏洩磁束を測定して欠陥信号
を出力した場合には、円に近い形状となる。加えて、欠
陥信号の場合には、上記のように軌跡が円状になるのみ
ではなく、この円状の軌跡を描く時間も他の場合よりも
長くなる。
a、11bが欠陥8による漏洩磁束を測定して欠陥信号
を出力した場合には、円に近い形状となる。加えて、欠
陥信号の場合には、上記のように軌跡が円状になるのみ
ではなく、この円状の軌跡を描く時間も他の場合よりも
長くなる。
【0032】これに対し、鋼板2の局部的な材質変化や
むらなどに起因して磁場分布を乱す雑音磁束が発生して
いる場合の磁束分布は、図5に示すようになる。なぜな
ら、磁場の乱れを生じさせる鋼板上の材質変化、むらが
空間的に広がってそれ自体が分布を持っており、形成さ
れる磁場自体が多くの部分からの寄与からなっているた
めである。
むらなどに起因して磁場分布を乱す雑音磁束が発生して
いる場合の磁束分布は、図5に示すようになる。なぜな
ら、磁場の乱れを生じさせる鋼板上の材質変化、むらが
空間的に広がってそれ自体が分布を持っており、形成さ
れる磁場自体が多くの部分からの寄与からなっているた
めである。
【0033】このような雑音磁束を磁気センサ11a、
11bにより検出すると、この雑音磁束の検出信号は、
図3及び図4で示す変化のうち、欠陥8による変化では
ない部分と同様の信号となる。
11bにより検出すると、この雑音磁束の検出信号は、
図3及び図4で示す変化のうち、欠陥8による変化では
ない部分と同様の信号となる。
【0034】すなわち、水平方向磁場成分のレベルVx
(t)を横軸の値とし、垂直方向磁場成分のレベルVy
(t)を縦軸の値として2次元磁場平面上に磁束点をあ
らわし、この磁束点の時間t毎の軌跡を描くと、欠陥8
によるリサージュ図形とは異なり、磁束点はランダムに
移動し様々な形を描くことになる。
(t)を横軸の値とし、垂直方向磁場成分のレベルVy
(t)を縦軸の値として2次元磁場平面上に磁束点をあ
らわし、この磁束点の時間t毎の軌跡を描くと、欠陥8
によるリサージュ図形とは異なり、磁束点はランダムに
移動し様々な形を描くことになる。
【0035】このような雑音磁束によるリサージュ図形
で、部分的には欠陥8のリサージュ図形と同様に円状と
なる場合もあるが、雑音磁束の場合には、円状の軌跡を
描くためにかかる時間が漏洩磁束の場合よりも短くな
る。
で、部分的には欠陥8のリサージュ図形と同様に円状と
なる場合もあるが、雑音磁束の場合には、円状の軌跡を
描くためにかかる時間が漏洩磁束の場合よりも短くな
る。
【0036】ゆえに、リサージュ図形の形状及びリサー
ジュ図形の描かれる時間に着目することで、欠陥漏洩磁
束と雑音磁束とを弁別し、欠陥検出の精度を上げること
が可能となる。
ジュ図形の描かれる時間に着目することで、欠陥漏洩磁
束と雑音磁束とを弁別し、欠陥検出の精度を上げること
が可能となる。
【0037】以下に、鋼板2の欠陥検出に使用する特徴
量の具体例を説明する。特徴量の算出及び算出された特
徴量に基づく欠陥の検出は、信号処理装置12において
実行される。信号処理装置12は、まず磁気センサ11
a、11bの検出信号Vx (t)、Vy (t)の直流分
を除去して交流分のみとし、交流分のみの検出信号Vx
(t)、Vy (t)の値を座標値として2次元磁束平面
上の磁束点をあらわす。
量の具体例を説明する。特徴量の算出及び算出された特
徴量に基づく欠陥の検出は、信号処理装置12において
実行される。信号処理装置12は、まず磁気センサ11
a、11bの検出信号Vx (t)、Vy (t)の直流分
を除去して交流分のみとし、交流分のみの検出信号Vx
(t)、Vy (t)の値を座標値として2次元磁束平面
上の磁束点をあらわす。
【0038】そして、この磁束点を、図6に示すよう
に、時間tの変化に伴って軌跡Aとして表現したとき
に、この磁束点の軌跡Aと、2次元磁場平面の原点Oを
結ぶ線Lが所定時間T0 内に通過する部分の面積Sを求
める。
に、時間tの変化に伴って軌跡Aとして表現したとき
に、この磁束点の軌跡Aと、2次元磁場平面の原点Oを
結ぶ線Lが所定時間T0 内に通過する部分の面積Sを求
める。
【0039】図7は、面積Sを求める際の概念図であ
る。任意の磁束点をP1 とし、所定時間T0 経過後に得
られる磁束点をP2 とする。原点Oを始点とし磁束点P
1 を終点とする2次元磁場ベクトルをB1 、原点Oを始
点とし磁束点P2 を終点とする2次元磁場ベクトルをB
2 とすると、面積Sは(1)式に示すように、2次元磁
場ベクトルB1 、B2 の外積を2で割って求めることが
できる。
る。任意の磁束点をP1 とし、所定時間T0 経過後に得
られる磁束点をP2 とする。原点Oを始点とし磁束点P
1 を終点とする2次元磁場ベクトルをB1 、原点Oを始
点とし磁束点P2 を終点とする2次元磁場ベクトルをB
2 とすると、面積Sは(1)式に示すように、2次元磁
場ベクトルB1 、B2 の外積を2で割って求めることが
できる。
【0040】S=(B1 ×B2 )/2 …(1) すなわち、面積Sは、検出信号Vx (t)、Vy (t)
によって定められる2次元磁場ベクトルB1 、B2 の時
間変化から算出される。
によって定められる2次元磁場ベクトルB1 、B2 の時
間変化から算出される。
【0041】この面積Sにより、欠陥漏洩磁束のリサー
ジュ図形が円に近いパターンになり、この変化が雑音磁
束の場合に比べてゆっくり起こることを数値化できる。
すなわち、面積Sの値が大きく、この面積Sの値の大き
い状態がある程度継続されることで、欠陥漏洩磁束の検
出を判定することができる。
ジュ図形が円に近いパターンになり、この変化が雑音磁
束の場合に比べてゆっくり起こることを数値化できる。
すなわち、面積Sの値が大きく、この面積Sの値の大き
い状態がある程度継続されることで、欠陥漏洩磁束の検
出を判定することができる。
【0042】最終的に、本実施の形態では、特徴量とし
て面積Sを複数個たして平方根をとった値を用いる。こ
こで、複数個の面積Sを加算する理由は、軌跡がゆっく
りと円状に変化することを面積Sを複数個たしてこの値
が大きくなることであらわすためである。
て面積Sを複数個たして平方根をとった値を用いる。こ
こで、複数個の面積Sを加算する理由は、軌跡がゆっく
りと円状に変化することを面積Sを複数個たしてこの値
が大きくなることであらわすためである。
【0043】また、平方根をとる理由は、求めた特徴量
と、一般の線形処理の結果の物理的次元とをあわせるた
めである。以上説明したように、リサージュ図形の変化
は、鋼材の欠陥による漏洩磁束による変化と雑音磁束に
よる変化とで大きく異なっている。本実施の形態に係る
鋼材の欠陥検出方法においては、このリサージュ図形の
変化に基づいて特徴量を算出し、当該特徴量を用いて欠
陥の検出を行っている。
と、一般の線形処理の結果の物理的次元とをあわせるた
めである。以上説明したように、リサージュ図形の変化
は、鋼材の欠陥による漏洩磁束による変化と雑音磁束に
よる変化とで大きく異なっている。本実施の形態に係る
鋼材の欠陥検出方法においては、このリサージュ図形の
変化に基づいて特徴量を算出し、当該特徴量を用いて欠
陥の検出を行っている。
【0044】したがって、雑音磁束に影響されることな
く、鋼材における欠陥を正確に検出することができる。
なお、本実施の形態においては、原点Oと軌跡Aとを結
ぶ線Lが所定時間内T0 内に通過する部分の面積Sに基
づいて特徴量を算出し、欠陥の判定を行っているが、特
徴量はこれに限定されるものではなく、様々なものを用
いることができる。
く、鋼材における欠陥を正確に検出することができる。
なお、本実施の形態においては、原点Oと軌跡Aとを結
ぶ線Lが所定時間内T0 内に通過する部分の面積Sに基
づいて特徴量を算出し、欠陥の判定を行っているが、特
徴量はこれに限定されるものではなく、様々なものを用
いることができる。
【0045】また、当該特徴量に従来のバンドパスフィ
ルタ処理波形による特徴量や、他の特徴量を組合わせて
用いてもよい。さらに、本実施の形態においては、面積
Sを複数個たして平方根をとった値を特徴量としている
が、面積Sにより特徴量を求める手法はこれに限定され
るものではない。例えば他の手法として、面積S、面積
Sを複数個たした値、面積Sの平方根を複数個たした値
等を特徴量としてもよい。
ルタ処理波形による特徴量や、他の特徴量を組合わせて
用いてもよい。さらに、本実施の形態においては、面積
Sを複数個たして平方根をとった値を特徴量としている
が、面積Sにより特徴量を求める手法はこれに限定され
るものではない。例えば他の手法として、面積S、面積
Sを複数個たした値、面積Sの平方根を複数個たした値
等を特徴量としてもよい。
【0046】(第2の実施の形態)本実施の形態におい
ては、検出された水平方向磁場成分のレベルVx (t)
と垂直方向磁場成分のレベルVy (t)とを対応付けて
磁束点の座標値とする際に、この対応付けられる座標値
どうしが鋼材の同一位置で検出されるように処理する。
ては、検出された水平方向磁場成分のレベルVx (t)
と垂直方向磁場成分のレベルVy (t)とを対応付けて
磁束点の座標値とする際に、この対応付けられる座標値
どうしが鋼材の同一位置で検出されるように処理する。
【0047】なお、本実施の形態において、第1の実施
の形態で説明したものと同一のものについては同一の符
号を付してその説明を省略する。図8は、本実施の形態
に係る鋼材の欠陥検出方法に用いられる遅延処理を示す
概念図である。
の形態で説明したものと同一のものについては同一の符
号を付してその説明を省略する。図8は、本実施の形態
に係る鋼材の欠陥検出方法に用いられる遅延処理を示す
概念図である。
【0048】ここで、図8(a)は遅延処理の実行しな
い場合を示しており、図8(b)は、遅延処理を実行し
た場合を示している。例えば、磁気センサ11a、11
bのサイズに比べ、欠陥8のサイズが大きく、欠陥8の
存在によって生じる漏洩磁束の空間的な変化のスケール
も磁気センサ11a、11bのサイズに比べて大きい場
合は、鋼板2の移動方向における磁気センサ11aと磁
気センサ11bの位置の差は無視することができる。
い場合を示しており、図8(b)は、遅延処理を実行し
た場合を示している。例えば、磁気センサ11a、11
bのサイズに比べ、欠陥8のサイズが大きく、欠陥8の
存在によって生じる漏洩磁束の空間的な変化のスケール
も磁気センサ11a、11bのサイズに比べて大きい場
合は、鋼板2の移動方向における磁気センサ11aと磁
気センサ11bの位置の差は無視することができる。
【0049】しかし、微小なサイズの欠陥8を検出の対
象とする場合には、磁気センサ11a、11b自体のサ
イズにより発生する鋼板2に対する位置的なずれが無視
できなくなる。すなわち、異なる磁気センサ11a、1
1bによって、鋼板8の同一の位置の漏洩磁束を同時に
検出することはできず、図8(a)のように欠陥8がず
れて検出される。
象とする場合には、磁気センサ11a、11b自体のサ
イズにより発生する鋼板2に対する位置的なずれが無視
できなくなる。すなわち、異なる磁気センサ11a、1
1bによって、鋼板8の同一の位置の漏洩磁束を同時に
検出することはできず、図8(a)のように欠陥8がず
れて検出される。
【0050】そこで、本実施の形態においては、磁気セ
ンサ11a、11b間の相対的な位置のずれ、及び磁気
センサ11a、11bと鋼板2の間の相対移動速度Vに
基づいて、磁気センサ11aで検出された鋼板2の位置
が、磁気センサ11bで検出されるまでの時間差Δtを
求める。
ンサ11a、11b間の相対的な位置のずれ、及び磁気
センサ11a、11bと鋼板2の間の相対移動速度Vに
基づいて、磁気センサ11aで検出された鋼板2の位置
が、磁気センサ11bで検出されるまでの時間差Δtを
求める。
【0051】そして、図8(b)に示すように、磁束点
の座標値を対応付けする際に、遅延させた磁気センサ1
1aの検出信号Vx (t+Δt)と磁気センサ11bの
検出信号Vy (t)とを対応付ける。
の座標値を対応付けする際に、遅延させた磁気センサ1
1aの検出信号Vx (t+Δt)と磁気センサ11bの
検出信号Vy (t)とを対応付ける。
【0052】図9は、本実施の形態に係る鋼材の欠陥検
出方法を適用した製品検査ラインを示す側面図である。
なお、図9において、図1と同一の部分には同一の符号
を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分につい
てのみ詳しく説明する。
出方法を適用した製品検査ラインを示す側面図である。
なお、図9において、図1と同一の部分には同一の符号
を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分につい
てのみ詳しく説明する。
【0053】磁気センサ11aは、磁気センサ11bよ
りも製品検査ラインの上流側に設置されている。また、
この磁気センサ11a、11bは、この両磁気センサ1
1a、11bを結ぶ線が鋼板2の移動方向と平行になる
ように設置されている。
りも製品検査ラインの上流側に設置されている。また、
この磁気センサ11a、11bは、この両磁気センサ1
1a、11bを結ぶ線が鋼板2の移動方向と平行になる
ように設置されている。
【0054】ここで、磁気センサ11aの中心と磁気セ
ンサ11bの中心とは鋼板2の移動方向に対してd[
m] ずれているとする。また、鋼板2と各磁気センサ1
1a、11b間の相対変位速度はV[ m/s]であると
する。
ンサ11bの中心とは鋼板2の移動方向に対してd[
m] ずれているとする。また、鋼板2と各磁気センサ1
1a、11b間の相対変位速度はV[ m/s]であると
する。
【0055】本実施の形態においては、磁束点の座標値
どうしが鋼板2の同一位置で検出されたものどうしとな
るようにするために、鋼板2の移動方向における磁気セ
ンサ11a、11bの位置ずれ量dと、鋼板2の移動速
度Vとに基づいて、磁気センサ11aで検出された鋼板
2の位置が、磁気センサ11bで検出されるまでの時間
差Δtを(2)式によって求める。
どうしが鋼板2の同一位置で検出されたものどうしとな
るようにするために、鋼板2の移動方向における磁気セ
ンサ11a、11bの位置ずれ量dと、鋼板2の移動速
度Vとに基づいて、磁気センサ11aで検出された鋼板
2の位置が、磁気センサ11bで検出されるまでの時間
差Δtを(2)式によって求める。
【0056】Δt=d/V[ s] …(2) この製品検査ライン13に設置されている磁気探傷装置
14の信号処理装置15には、遅延処理装置16及び信
号処理装置本体17が設けられている。この遅延処理装
置16は、磁気センサ11aの検出信号Vx (t)を入
力すると、この入力した検出信号Vx (t)をΔtだけ
遅延させ検出信号Vx (t+Δt)として信号処理装置
本体17に出力する。
14の信号処理装置15には、遅延処理装置16及び信
号処理装置本体17が設けられている。この遅延処理装
置16は、磁気センサ11aの検出信号Vx (t)を入
力すると、この入力した検出信号Vx (t)をΔtだけ
遅延させ検出信号Vx (t+Δt)として信号処理装置
本体17に出力する。
【0057】したがって、信号処理装置本体17は、磁
気センサ11aから遅延処理装置16を介して入力した
検出信号Vx (t+Δt)と磁気センサ11bから入力
したVy (t)とを対応付けて磁束点とし、特徴量を算
出する。
気センサ11aから遅延処理装置16を介して入力した
検出信号Vx (t+Δt)と磁気センサ11bから入力
したVy (t)とを対応付けて磁束点とし、特徴量を算
出する。
【0058】以上説明したように、本実施の形態に係る
鋼材の欠陥検出方法においては、磁気センサ11aの検
出信号Vx (t)を遅延処理装置16によって時間差Δ
t遅延させることにより、図8(a)に示すように信号
間にずれがある場合でも、図8(b)に示すように、ず
れをなくすことができる。
鋼材の欠陥検出方法においては、磁気センサ11aの検
出信号Vx (t)を遅延処理装置16によって時間差Δ
t遅延させることにより、図8(a)に示すように信号
間にずれがある場合でも、図8(b)に示すように、ず
れをなくすことができる。
【0059】したがって、一層正確に鋼材の欠陥を検出
することができる。なお、本実施の形態に係る鋼材の欠
陥検出方法において利用される遅延処理装置16には、
アナログ又はデジタルの遅延電子回路を適用することが
でき、さらにはソフトウェアによって実現してもよい。
することができる。なお、本実施の形態に係る鋼材の欠
陥検出方法において利用される遅延処理装置16には、
アナログ又はデジタルの遅延電子回路を適用することが
でき、さらにはソフトウェアによって実現してもよい。
【0060】また、遅延させる際には、相対的な遅延処
理が重要であるため、絶対的な遅延時間は問題とはなら
ない。したがって、磁気センサ11a、11bによる測
定信号の双方を遅延させ、相対的な遅延時間が適切にな
るように遅延処理を実行してもよい。
理が重要であるため、絶対的な遅延時間は問題とはなら
ない。したがって、磁気センサ11a、11bによる測
定信号の双方を遅延させ、相対的な遅延時間が適切にな
るように遅延処理を実行してもよい。
【0061】さらに、本実施の形態においては、水平方
向、垂直方向の磁気センサ11a、11bを一組だけ用
いているがこれに限定されるものではなく、鋼板2の移
動方向に垂直な範囲、すなわち板幅方向の欠陥を検出す
るために、複数の組の磁気センサ11a、11bをアレ
イ状に配置してもよい。
向、垂直方向の磁気センサ11a、11bを一組だけ用
いているがこれに限定されるものではなく、鋼板2の移
動方向に垂直な範囲、すなわち板幅方向の欠陥を検出す
るために、複数の組の磁気センサ11a、11bをアレ
イ状に配置してもよい。
【0062】
【実施例】以下、本発明の鋼材の欠陥検出方法による欠
陥の検出状態を調べるために行った実験の結果について
説明する。以下に述べる実験は、先に示した図9と同様
の製品検査ラインにおいて実施している。
陥の検出状態を調べるために行った実験の結果について
説明する。以下に述べる実験は、先に示した図9と同様
の製品検査ラインにおいて実施している。
【0063】なお、製品検査ラインを搬送される鋼板
(薄鋼帯)2の厚さは0.2[ mm]である。また、こ
の鋼板2は、搬送ローラ3a、3bによってほぼ一定速
度V=100[ m/min] で搬送される。
(薄鋼帯)2の厚さは0.2[ mm]である。また、こ
の鋼板2は、搬送ローラ3a、3bによってほぼ一定速
度V=100[ m/min] で搬送される。
【0064】各磁気センサ11a、11bと鋼板2まで
の距離であるリフトオフLは、0.7[ mm] に設定さ
れている。また、図示していないが、複数個の磁気セン
サ11a、11bが、板幅方向に直線的に5mmピッチ
で配列されており、200組の磁気センサ11a、11
bにて板幅方向1mをカバーする。
の距離であるリフトオフLは、0.7[ mm] に設定さ
れている。また、図示していないが、複数個の磁気セン
サ11a、11bが、板幅方向に直線的に5mmピッチ
で配列されており、200組の磁気センサ11a、11
bにて板幅方向1mをカバーする。
【0065】信号処理装置15は、各磁気センサ11
a、11bの検出信号Vx (t)、Vy (t)を10k
Hzのサンプリング周波数(サンプリング周期Cの逆数
=1/C)によりアナログ−ディジタル変換する。
a、11bの検出信号Vx (t)、Vy (t)を10k
Hzのサンプリング周波数(サンプリング周期Cの逆数
=1/C)によりアナログ−ディジタル変換する。
【0066】また、鋼板2の移動方向における磁気セン
サ11aと磁気センサ11bの位置ずれ量dを、逐次実
測した鋼板速度Vで除して時間差Δtを求め、磁気セン
サ11aの検出信号Vx (t)を相対的に磁気センサ1
1bの検出信号Vy (t)に対して遅らせて検出信号V
x (t+Δt)とする。
サ11aと磁気センサ11bの位置ずれ量dを、逐次実
測した鋼板速度Vで除して時間差Δtを求め、磁気セン
サ11aの検出信号Vx (t)を相対的に磁気センサ1
1bの検出信号Vy (t)に対して遅らせて検出信号V
x (t+Δt)とする。
【0067】また、検出信号Vx (t+Δt)、Vy
(t)は、直流分及び欠陥信号周波数より高い電気ノイ
ズなどの雑音をカットするするためにバンドパスフィル
タにかけられる。
(t)は、直流分及び欠陥信号周波数より高い電気ノイ
ズなどの雑音をカットするするためにバンドパスフィル
タにかけられる。
【0068】欠陥判定のために、このバンドパスフィル
タによるフィルタリング後の水平方向磁場成分のレベル
Vx (t+Δt)、垂直方向磁場成分のレベルVy
(t)から得られるリサージュ図形における原点と予め
定められた数の連続した磁束点とで囲まれた領域を特徴
量とする。
タによるフィルタリング後の水平方向磁場成分のレベル
Vx (t+Δt)、垂直方向磁場成分のレベルVy
(t)から得られるリサージュ図形における原点と予め
定められた数の連続した磁束点とで囲まれた領域を特徴
量とする。
【0069】すなわち、DSP等の演算装置によって、
隣り合う磁束点と原点で囲まれる三角形の面積S、すな
わち2つの2次元磁場信号ベクトルの外積を2で割って
面積Sを計算し、この面積Sを予め定められた数加算し
て特徴量を算出する。
隣り合う磁束点と原点で囲まれる三角形の面積S、すな
わち2つの2次元磁場信号ベクトルの外積を2で割って
面積Sを計算し、この面積Sを予め定められた数加算し
て特徴量を算出する。
【0070】ここでは、雑音磁束と欠陥漏洩磁束の軌跡
の時間的な変化の特徴を強調するために、求めた三角形
の面積Sを5つ分加えた値の平方根をとって特徴量とす
る。このように、5つ分加えることにより移動平均処理
がなされ、特徴量の値が欠陥部の場合は大きくなり、雑
音磁束の場合は小さくなる。
の時間的な変化の特徴を強調するために、求めた三角形
の面積Sを5つ分加えた値の平方根をとって特徴量とす
る。このように、5つ分加えることにより移動平均処理
がなされ、特徴量の値が欠陥部の場合は大きくなり、雑
音磁束の場合は小さくなる。
【0071】図10は、本実験によって算出された特徴
量の変化を示す状態図である。図10(a)のように、
水平方向磁場成分のレベルVx (t+Δt)の場合に
は、欠陥を有する場合のレベルRを雑音の場合のレベル
Nで割った値が1.2であり、あまり差があらわれな
い。
量の変化を示す状態図である。図10(a)のように、
水平方向磁場成分のレベルVx (t+Δt)の場合に
は、欠陥を有する場合のレベルRを雑音の場合のレベル
Nで割った値が1.2であり、あまり差があらわれな
い。
【0072】同様に、図10(b)のように、垂直方向
磁場成分のレベルVy (t)の場合であっても、R/N
は2以下であり、あまり差があらわれない。しかしなが
ら、図10(c)に示すように、本実験において算出さ
れた特徴量においては、R/Nは3以上となり、欠陥を
有する場合のレベルと雑音の場合のレベルとの間での特
徴量の差が大きくなる。ゆえに、正確に欠陥を検出する
ことができる。
磁場成分のレベルVy (t)の場合であっても、R/N
は2以下であり、あまり差があらわれない。しかしなが
ら、図10(c)に示すように、本実験において算出さ
れた特徴量においては、R/Nは3以上となり、欠陥を
有する場合のレベルと雑音の場合のレベルとの間での特
徴量の差が大きくなる。ゆえに、正確に欠陥を検出する
ことができる。
【0073】
【発明の効果】以上詳記したように本発明の鋼材の欠陥
検出方法においては、磁束の水平方向成分のレベル及び
垂直方向成分のレベルによって定められる2次元ベクト
ルの時間変化に基づいて特徴量を算出し、欠陥の検出を
行う。
検出方法においては、磁束の水平方向成分のレベル及び
垂直方向成分のレベルによって定められる2次元ベクト
ルの時間変化に基づいて特徴量を算出し、欠陥の検出を
行う。
【0074】この本発明において定められる2次元ベク
トルの時間変化は、欠陥による変化と雑音磁束による変
化とで、大きく異なる。したがって、この2次元ベクト
ルの時間変化に基づいて特徴量を算出することにより、
欠陥に起因する漏洩磁束と雑音磁束とを明確に区別する
ことができる。ゆえに、鋼材の欠陥が微小であっても確
実に検出でき、欠陥検出精度を大幅に向上させることが
できる。
トルの時間変化は、欠陥による変化と雑音磁束による変
化とで、大きく異なる。したがって、この2次元ベクト
ルの時間変化に基づいて特徴量を算出することにより、
欠陥に起因する漏洩磁束と雑音磁束とを明確に区別する
ことができる。ゆえに、鋼材の欠陥が微小であっても確
実に検出でき、欠陥検出精度を大幅に向上させることが
できる。
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る鋼材の欠陥検
出方法を適用した製品検査ラインを示す側面図。
出方法を適用した製品検査ラインを示す側面図。
【図2】鋼材に欠陥がある場合の漏洩磁束分布を示す状
態図。
態図。
【図3】水平方向磁場成分及び垂直方向磁場成分の変化
を示す状態図。
を示す状態図。
【図4】リサージュ図形の一例を示す図。
【図5】雑音磁束分布を示す状態図。
【図6】磁束点の軌跡を示す状態図。
【図7】面積を求める際の概念図。
【図8】本発明の第2の実施の形態に係る鋼材の欠陥検
出方法に用いられる遅延処理を示す概念図。
出方法に用いられる遅延処理を示す概念図。
【図9】同実施の形態に係る鋼材の欠陥検出方法を適用
した製品検査ラインを示す側面図。
した製品検査ラインを示す側面図。
【図10】実験において算出された特徴量の変化例を示
す状態図。
す状態図。
【図11】製品検査ラインにおける磁気探傷装置の測定
原理を示すブロック図。
原理を示すブロック図。
【図12】欠陥信号と雑音磁束の周波数特性の測定結果
の一例を示す図。
の一例を示す図。
1、9、13…製品検査ライン 2…鋼板 3a、3b…搬送ローラ 4、10、14…磁気探傷装置 5…磁化器 6…磁気センサ 7、12、15…信号処理装置 8…欠陥 11a…水平方向成分測定用磁気センサ 11b…垂直方向成分測定用磁気センサ 16…遅延処理装置 17…信号処理装置本体
Claims (3)
- 【請求項1】 鋼材を磁化し、この鋼材近傍の磁束を検
出して欠陥を検出する鋼材の欠陥検出方法において、 前記鋼材と、磁束の水平方向成分のレベルを検出するセ
ンサ及び前記磁束の垂直方向成分のレベルを検出するセ
ンサを相対的に移動させながら、前記磁束の水平方向成
分のレベルと垂直方向成分のレベルを検出し、 当該検出された磁束の水平方向成分のレベル及び垂直方
向成分のレベルによって定められる2次元ベクトルの時
間変化に基づいて特徴量を算出し、 当該算出された特徴量に基づいて欠陥判定を行うことを
特徴とする鋼材の欠陥検出方法。 - 【請求項2】 鋼材を磁化し、この鋼材近傍の磁束を検
出して欠陥を検出する鋼材の欠陥検出方法において、 前記鋼材と、磁束の水平方向成分のレベルを検出するセ
ンサ及び前記磁束の垂直方向成分のレベルを検出するセ
ンサを相対的に移動させながら、前記磁束の水平方向成
分のレベルと垂直方向成分のレベルを検出し、 当該検出された磁束の水平方向成分のレベル及び垂直方
向成分のレベルの直流分を除去して交流分のみとし、 当該交流分のみの磁束の水平方向成分のレベル及び垂直
方向成分のレベルを座標値とする2次元平面上の点が時
間の経過に伴って2次元平面を移動する場合に、前記2
次元平面上の点と原点を結ぶ線が所定時間内に通過する
部分の面積を求め、 当該求められた面積に基づいて特徴量を算出し、 当該算出された特徴量に基づいて欠陥判定を行うことを
特徴とする鋼材の欠陥検出方法。 - 【請求項3】 請求項1又は請求項2記載の鋼材の欠陥
検出方法において、 前記鋼材と前記両センサの間の相対移動方向における前
記両センサ間の位置ずれ量と、前記鋼材と前記両センサ
間の相対移動速度とに基づいて、一方のセンサで検出さ
れた前記鋼材の位置が、他方のセンサで検出されるまで
の時間差を求め、前記両センサのいずれか一方の検出時
間を前記時間差だけずらして前記特徴量を算出すること
を特徴とする鋼材の欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7745798A JPH11271278A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 鋼材の欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7745798A JPH11271278A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 鋼材の欠陥検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11271278A true JPH11271278A (ja) | 1999-10-05 |
Family
ID=13634550
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7745798A Pending JPH11271278A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 鋼材の欠陥検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11271278A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1847829A1 (de) | 2006-04-21 | 2007-10-24 | Prüftechnik Dieter Busch Ag | Vorrichtung zum Erkennen von Defekten an Metallteilen |
JP4829883B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2011-12-07 | ファウ・ウント・エム・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 管を非破壊検査するための方法及び装置 |
KR20210086383A (ko) * | 2019-12-31 | 2021-07-08 | 주식회사 포스코아이씨티 | 터널자기저항센서를 이용한 강판 결함 검사 시스템 |
-
1998
- 1998-03-25 JP JP7745798A patent/JPH11271278A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4829883B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2011-12-07 | ファウ・ウント・エム・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 管を非破壊検査するための方法及び装置 |
EP1847829A1 (de) | 2006-04-21 | 2007-10-24 | Prüftechnik Dieter Busch Ag | Vorrichtung zum Erkennen von Defekten an Metallteilen |
KR20210086383A (ko) * | 2019-12-31 | 2021-07-08 | 주식회사 포스코아이씨티 | 터널자기저항센서를 이용한 강판 결함 검사 시스템 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2342653C2 (ru) | Способ неразрушающего испытания труб и устройство для его осуществления | |
JPS62500683A (ja) | 渦電流により表面欠陥を検出する方法とその装置 | |
EP3344982B1 (en) | A method and system for detecting a material discontinuity in a magnetisable article | |
JP3266128B2 (ja) | 漏洩磁束探傷法及び漏洩磁束探傷装置 | |
CN113671018A (zh) | 一种用于抑制钢轨漏磁检测提离干扰的滤波方法 | |
JP5544962B2 (ja) | 漏洩磁束探傷方法及び漏洩磁束探傷装置 | |
JP2004037216A (ja) | 漏洩磁束探傷方法 | |
JPH1183808A (ja) | 漏洩磁束探傷方法 | |
JPH0711508B2 (ja) | 漏洩磁束探傷方法 | |
JP3266899B2 (ja) | 磁性金属体の探傷方法および装置 | |
JPH11271278A (ja) | 鋼材の欠陥検出方法 | |
JP3606439B2 (ja) | 漏洩磁束探傷方法 | |
JPH0989843A (ja) | 渦流探傷方法及び渦流探傷装置 | |
JP3743191B2 (ja) | 渦流探傷法 | |
JP2000227422A (ja) | 渦流探傷法 | |
JP3307220B2 (ja) | 磁性金属体の探傷方法および装置 | |
KR101116422B1 (ko) | 부분적으로 경화된 공작물의 연화 존 영역의 폭을정량적으로 결정하기 위한 방법 | |
JP3309702B2 (ja) | 金属体の探傷方法および装置 | |
JPH0628690Y2 (ja) | 金属板の欠陥検出装置 | |
JP3584462B2 (ja) | 漏洩磁束探傷方法 | |
JP3690580B2 (ja) | 磁気探傷方法 | |
JPS63311165A (ja) | 磁気探傷方法及び装置 | |
JP3606438B2 (ja) | 漏洩磁束探傷方法 | |
JP2005024295A (ja) | 漏洩磁束探傷法 | |
JP2005106602A (ja) | 磁気探傷用センサ |