JPH11194515A - Manufacture of electrophotographic sensitive material - Google Patents
Manufacture of electrophotographic sensitive materialInfo
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- JPH11194515A JPH11194515A JP36104597A JP36104597A JPH11194515A JP H11194515 A JPH11194515 A JP H11194515A JP 36104597 A JP36104597 A JP 36104597A JP 36104597 A JP36104597 A JP 36104597A JP H11194515 A JPH11194515 A JP H11194515A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、機能性膜を形成し
た電子写真感光体の製造方法に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a method for manufacturing an electrophotographic photosensitive member having a functional film formed thereon.
【0002】[0002]
【従来の技術】電子写真感光体の堆積膜を形成するため
の基体としては、ガラス、耐熱性合成樹脂、ステンレ
ス、アルミニウム(Al)などが提案されている。しか
し、実用的には帯電、露光、現像、転写、クリーニング
といった電子写真プロセスに耐え、また画質を落とさな
いために常に位置精度を高く保つため、金属を使用する
場合が多い。中でもアルミニウムは加工性が良好で、コ
ストが低く、重量が軽い点から電子写真感光体の基体と
して最適な材料の1つである。2. Description of the Related Art As a substrate for forming a deposited film of an electrophotographic photosensitive member, glass, heat-resistant synthetic resin, stainless steel, aluminum (Al) and the like have been proposed. However, in practice, metal is often used to withstand electrophotographic processes such as charging, exposure, development, transfer, and cleaning, and to always maintain high positional accuracy so as not to deteriorate image quality. Among them, aluminum is one of the most suitable materials for the base of the electrophotographic photoreceptor because of its good workability, low cost and light weight.
【0003】電子写真感光体の基体の材質に関する技術
が、特開昭59−193463号公報、特開昭60−2
62936号公報に記載されている。特開昭59−19
3463号公報には、支持体の鉄(Fe)含有率が20
00ppm以下のアルミニウム合金にすることにより、
良好な画質のアモルファスシリコン電子写真感光体を得
る技術が開示されている。更に、該公報中では円筒状
(シリンダー状)基体を旋盤により切削を行い鏡面加工
した後、グロー放電によりアモルファスシリコンを形成
するまでの手順が開示されている。特開昭60−262
936号公報には、マグネシウム(Mg)を3.0〜
6.0wt%を含有し、不純物として、マンガン(M
n)を0.3wt%以下、クロム(Cr0)を0.01
wt%未満、Feを0.15wt%以下、シリコン(S
i)を0.12wt%以下に抑制し、残部Alからなる
アモルファスシリコンの蒸着性に優れた押し出しアルミ
ニウム合金が開示されている。Techniques relating to the material of a substrate of an electrophotographic photosensitive member are disclosed in JP-A-59-193463 and JP-A-60-2630.
No. 62936. JP-A-59-19
No. 3463 discloses that the iron (Fe) content of the support is 20%.
By making the aluminum alloy not more than 00 ppm,
A technique for obtaining an amorphous silicon electrophotographic photosensitive member having good image quality has been disclosed. Further, the publication discloses a procedure in which a cylindrical (cylindrical) substrate is cut by a lathe and mirror-finished, and then amorphous silicon is formed by glow discharge. JP-A-60-262
No. 936 discloses that magnesium (Mg) is 3.0 to 3.0.
Manganese (M) as an impurity.
n) is not more than 0.3 wt% and chromium (Cr0) is not more than 0.01%.
wt%, Fe is 0.15 wt% or less, silicon (S
An extruded aluminum alloy which suppresses i) to 0.12% by weight or less and has excellent vapor deposition properties of amorphous silicon composed of the remaining Al is disclosed.
【0004】これらの材料は電子写真感光体の用途に応
じ、基体の表面加工を施し、その表面に光受容部層が形
成される。その基体の表面加工に関する技術が特開昭6
1−231561号公報、特開昭62−95545号公
報に記載されている。アルミニウム合金を基体として用
いた場合の、水洗浄工程での腐食防止技術として、特開
平6−273955号公報には二酸化炭素を溶解した水
により基体を洗浄する技術についての提案がなされてい
るが、特定のインヒビターを含んだ水によりある範囲の
膜厚と組成比を規定することについては全く述べられて
いない。[0004] These materials are subjected to a surface treatment of a base according to the use of the electrophotographic photosensitive member, and a light receiving portion layer is formed on the surface. The technology relating to the surface processing of the substrate is disclosed in
These are described in JP-A-1-231561 and JP-A-62-95545. As a technique for preventing corrosion in a water washing step when an aluminum alloy is used as a base, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-273955 proposes a technique for cleaning a base with water in which carbon dioxide is dissolved. There is no mention of defining a range of film thickness and composition ratio with water containing a particular inhibitor.
【0005】また特開昭63−311261号報、特開
平1−156758号報、及び特公平7−341223
号報にはそれぞれAl基体上に酸化膜を形成する技術に
つい述べられているが特定の成分のインヒビターを含ん
だ水により洗浄することで皮膜を形成することについて
は述べられていない。Also, JP-A-63-31261, JP-A-1-156758, and JP-B-7-341223.
The publications each disclose a technique for forming an oxide film on an Al substrate, but do not describe forming a film by washing with water containing an inhibitor of a specific component.
【0006】電子写真感光体に用いる素子部材の技術と
しては、セレン、硫化カドミニウム、酸化亜鉛、アモル
ファスシリコン、フタロシアニン等の有機物など各種の
材料が提案されている。中でも、アモルファスシリコン
に代表される珪素原子を主成分として含む非単結晶堆積
膜、例えば水素及び(または)ハロゲン(例えば弗素、
塩素等)で補償さたアモルファスシリコン等のアモルフ
ァス堆積膜は高性能、高耐久性、無公害の感光体として
提案され、その幾つかは実用に付されている。特開昭5
4−86341号公報には、光導電層を主としてアモル
ファスシリコンで形成した電子写真感光体の技術が開示
されている。Various materials such as organic substances such as selenium, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, and phthalocyanine have been proposed as techniques for element members used in electrophotographic photosensitive members. Among them, non-single-crystal deposited films mainly containing silicon atoms typified by amorphous silicon, such as hydrogen and / or halogen (for example, fluorine,
Amorphous deposited films such as amorphous silicon compensated with chlorine or the like have been proposed as high-performance, high-durability, and non-polluting photosensitive members, some of which have been put to practical use. JP 5
Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-86341 discloses an electrophotographic photosensitive member technology in which a photoconductive layer is mainly formed of amorphous silicon.
【0007】また、こうした珪素原子を主成分として含
む非単結晶堆積膜の形成方法としてスパッタリング法、
熱により原料ガスを分解する方法(熱CVD法)、光に
より原料ガスを分解する方法(光CVD法)、プラズマ
により原料ガスを分解する方法(プラズマCVD法)
等、多数の方法が知られている。As a method for forming such a non-single crystal deposited film containing silicon atoms as a main component, a sputtering method,
A method of decomposing a source gas by heat (thermal CVD method), a method of decomposing a source gas by light (photo CVD method), and a method of decomposing a source gas by plasma (plasma CVD method)
And many other methods are known.
【0008】プラズマCVD法、すなわち、原料ガスを
直流、高周波またはマイクロ波グロー放電等によって分
解し、基体上に薄膜状の堆積膜を形成する方法は、電子
写真用アモルファスシリコン堆積膜の形成方法に最適で
あり、現在実用化が非常に進んでいる。中でも、近年堆
積膜形成方法としてマイクロ波グロー放電分解を用いた
プラズマCVD法すなわちマイクロ波プラズマCVD法
が工業的にも注目されている。The plasma CVD method, that is, a method in which a raw material gas is decomposed by direct current, high frequency or microwave glow discharge to form a thin deposited film on a substrate, is a method of forming an amorphous silicon deposited film for electrophotography. It is optimal and is currently in very practical use. Among them, in recent years, a plasma CVD method using microwave glow discharge decomposition, that is, a microwave plasma CVD method has been attracting industrial attention as a deposition film forming method.
【0009】マイクロ波プラズマCVD法は、他の方法
に比べ高いデポジション速度と高い原料ガス利用効率と
いう利点を有している。こうした利点を生かしたマイク
ロ波プラズマCVD技術の1つの例が、米国特許4,5
04,518号に記載されている。該特許に記載の技術
は、0.1Torr以下の低圧によりマイクロ波プラズ
マCVD法により高速の堆積速度で良質の堆積膜を得る
というものである。The microwave plasma CVD method has the advantages of a higher deposition rate and higher source gas utilization efficiency than other methods. One example of a microwave plasma CVD technique that takes advantage of these advantages is disclosed in US Pat.
No. 04,518. The technique described in this patent is to obtain a high-quality deposited film at a high deposition rate by a microwave plasma CVD method at a low pressure of 0.1 Torr or less.
【0010】更に、マイクロ波プラズマCVD法により
原料ガスの利用効率を改善するための技術が特開昭60
−186849号公報に記載されている。該公報に記載
の技術は、概要、マイクロ波エネルギーの導入手段を取
り囲むように基体を配置して内部チャンバー(すなわち
放電空間)を形成するようにして、原料ガス利用効率を
非常に高めるようにしたものである。Further, a technique for improving the utilization efficiency of a source gas by microwave plasma CVD is disclosed in
No. 186849. The technology described in the publication generally provides an internal chamber (ie, a discharge space) by arranging a substrate so as to surround a means for introducing microwave energy, thereby greatly improving the efficiency of using a source gas. Things.
【0011】また、特開昭61−283116号公報に
は、半導体部材製造用の改良形マイクロ波技術が開示さ
れている。すなわち、当該公報は、放電空間中にプラズ
マ電位制御として電極(バイアス電極)を設け、このバ
イアス電極に所望の電圧(バイアス電圧)を印加して堆
積膜へのイオン衝撃を制御しながら膜堆積を行なうよう
にして堆積膜の特性を向上させる技術を開示している。Japanese Patent Laid-Open Publication No. Sho 61-283116 discloses an improved microwave technology for manufacturing semiconductor members. That is, in this publication, an electrode (bias electrode) is provided as a plasma potential control in a discharge space, and a desired voltage (bias voltage) is applied to the bias electrode to control the ion bombardment of the deposited film to perform film deposition. A technique for improving the characteristics of a deposited film in such a manner is disclosed.
【0012】基体としてアルミニウム合金製シリンダー
を用いた場合、これらの従来の技術による電子写真感光
体製造方法は具体的には以下のように実施される。When a cylinder made of an aluminum alloy is used as a substrate, the method for producing an electrophotographic photosensitive member according to these conventional techniques is specifically carried out as follows.
【0013】必要に応じ旋盤、フライス盤等を用いたダ
イヤモンドバイト切削により所定範囲内の平面度に加工
され、その後トリエタン洗浄される。、次にこれらの表
面加工を施した基体をトリエタン洗浄し、基体上にグロ
ー放電分解法によって光導電部材の堆積膜であるアモル
ファスシリコンを主体とした堆積膜を形成する。そして
このようにして得られた堆積膜を用いて電子写真感光体
が製造される。If necessary, the workpiece is machined to a flatness within a predetermined range by diamond cutting using a lathe, a milling machine, or the like, and then washed with triethane. Next, the substrate subjected to the surface treatment is washed with triethane, and a deposited film mainly composed of amorphous silicon which is a deposited film of a photoconductive member is formed on the substrate by a glow discharge decomposition method. Then, an electrophotographic photoreceptor is manufactured using the thus obtained deposited film.
【0014】しかし、従来技術の電子写真感光体では、
堆積膜中に異常成長の部分があり、その部分は微小な面
積の表面電荷の乗らない部分となる。これらの現象は特
にアモルファスシリコンのようにプラズマCVD法に堆
積膜を形成した電子写真感光体の場合特に顕著である。
しかし、それらの表面電位の乗らない部分は基体の表面
加工条件、洗浄条件及び堆積条件の最適化を行えば最小
限にくい止めることができ、従来は現像の解像力または
それ以下の程度であった為、実用上問題は生じていなか
った。However, in the prior art electrophotographic photosensitive member,
There is a portion of the deposited film that is abnormally grown, and that portion is a portion where a surface charge of a small area is not applied. These phenomena are particularly remarkable in the case of an electrophotographic photosensitive member having a deposited film formed by a plasma CVD method such as amorphous silicon.
However, those portions where the surface potential does not multiply can be minimized by optimizing the surface processing conditions, cleaning conditions and deposition conditions of the substrate. Conventionally, the resolution was less than or equal to the resolution of development. However, there was no practical problem.
【0015】しかし、近年のように 1)電子写真装置の高画質化が要求されそれに伴い現像
の解像力が向上し、また、2)複写機の高速化が進み帯
電条件が過酷になるに従い、表面で電位の乗らない部分
が実質上周辺の電位に対して大きな影響を与えその結果
該部分による画像欠陥が指摘されるようになってきた。However, as in recent years, 1) higher image quality of the electrophotographic apparatus has been required and the resolution of development has been improved with it. 2) As the speed of the copying machine has increased and the charging conditions have become more severe, the surface In this case, a portion where no potential is applied substantially has a great influence on a peripheral potential, and as a result, image defects due to the portion have been pointed out.
【0016】さらに、従来の電子写真装置は、文字を複
写することを主たる用途としていたため活字だけの原稿
(いわゆるラインコピー)が中心であったので、画像欠
陥は実用上大きな問題とならなかった。しかし、近来複
写機の画質が上がるにつれて、写真などのハーフトーン
を含む原稿が多くコピーされるようになり(現在は異常
成長部分のより少ない電子感光体が必要とされてい
る。)特に、近来普及しているカラー複写機に於いて
は、現在は異常成長部分のより少ない電子感光体が必要
とされている。画像欠陥は、より視覚的に明らかなもの
となるため、異常成長部分のより少ない電子写真感光体
が必要となる。また、異常成長部分は微小なので、上部
に電極を付け導電率の測定を行なってもその存在を検知
することはむづかしい。しかし電子写真感光体として電
子写真プロセスにより帯電、露光、現像を行なったと
き、特にハーフトーンで均一の画像を形成した時、電子
写真感光体表面上の僅かな電位の差が画像欠陥となって
視覚的に顕著なものとして現れてくる。特に、マイクロ
波プラズマCVD法により作成した電子写真感光体に於
ては、前述の問題は更に顕著に現れてしまうのである。Further, the conventional electrophotographic apparatus is mainly used for copying characters, and therefore mainly used for originals of only printed characters (so-called line copy), so that image defects did not become a serious problem in practical use. . However, as the image quality of copying machines has recently increased, many originals including halftones such as photographs have been copied (at present, an electrophotoreceptor having a smaller abnormally growing portion is required). In a popular color copying machine, an electrophotoreceptor having less abnormally grown portions is required at present. Since image defects become more visually apparent, an electrophotographic photoreceptor having fewer abnormally grown portions is required. In addition, since the abnormally grown portion is very small, it is difficult to detect the presence even if an electrode is provided on the upper portion and the conductivity is measured. However, when an electrophotographic photosensitive member is charged, exposed, and developed by an electrophotographic process, particularly when a uniform image is formed by halftone, a slight potential difference on the surface of the electrophotographic photosensitive member causes an image defect. Appears as visually striking. In particular, in the case of an electrophotographic photosensitive member prepared by a microwave plasma CVD method, the above-mentioned problem appears more remarkably.
【0017】一方、この様な画像欠陥は、真空蒸着によ
り作成したSe電子写真感光体、ブレード塗布法または
ディッピング法等により作成したOPC電子写真感光体
に比べ、プラズマCVD法で作成した電子写真感光体で
は特に顕著に現れるのである。On the other hand, such an image defect is more likely to be caused by an electrophotographic photosensitive member formed by a plasma CVD method than a Se electrophotographic photosensitive member formed by vacuum evaporation or an OPC electrophotographic photosensitive member formed by a blade coating method or a dipping method. It is particularly noticeable in the body.
【0018】また、同じくプラズマCVD法で作成する
デバイスでも太陽電池のように基板上の位置による微妙
な特性の差がその性能に影響しない、または後処理で修
正が可能なデバイスでは、上述の問題は発生しないので
ある。Further, even in a device manufactured by the plasma CVD method, a device such as a solar cell in which a delicate difference in characteristics depending on a position on a substrate does not affect its performance, or a device which can be corrected by post-processing, has the above problem. Does not occur.
【0019】また、従来技術では、基体の洗浄工程は、
トリクロルエタンを使用していた為に、問題とはならな
かったが、近年の環境問題のために、これらの塩素系溶
剤を安易には使うことができないため水系洗浄に変わっ
てきている。しかし、アルミニウムを水で洗浄する際、
アルミニウム表面に部分的に露出した不純物(Si等)
が多い部分は周囲の通常のアルミニウムの部分と局部的
な電池を形成して、基体表面の腐食を促進するという問
題があった。In the prior art, the step of cleaning the substrate is
Although trichlorethane was used, it did not cause any problem. However, due to environmental problems in recent years, these chlorinated solvents cannot be easily used, and have been changed to aqueous cleaning. However, when cleaning aluminum with water,
Impurities partially exposed on the aluminum surface (Si, etc.)
However, there is a problem in that the high-concentration portion forms a local battery with the surrounding normal aluminum portion, and promotes corrosion of the substrate surface.
【0020】[0020]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、基体加工時
の腐食防止を図り、安価に安定して歩留良く高速形成し
得る、異常成長部分の少ない高性能の電子写真感光体を
高い歩留りで製造する製造方法を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a high-performance electrophotographic photoreceptor with a small number of abnormally grown portions, which can prevent corrosion during processing of a substrate, can be formed stably at low cost and with good yield, and has a high yield. It is to provide a manufacturing method for manufacturing with.
【0021】更に本発明は、プラズマCVD法で特に顕
著な画像欠陥の発生という問題を解決して、均一な高品
位の画像を得る事が出来る電子写真感光体の製造方法を
提供する事にある。Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electrophotographic photosensitive member capable of obtaining a uniform high-quality image by solving the problem of occurrence of a particularly remarkable image defect in the plasma CVD method. .
【0022】[0022]
【課題を解決するための手段】前記の目的は以下の手段
によって達成される。The above object is achieved by the following means.
【0023】すなわち、本発明は、減圧気相成長法によ
り、アルミニウム基体の表面にシリコン原子を母材とす
る非晶質材料からなる機能性膜を形成させる工程を有す
る電子写真感光体の製造方法において、電子写真感光体
を形成する工程の前に膜厚が5Å以上150Å以下の範
囲でかつ組成比が下記式で表されるアルミニウムとシリ
コンと酸素を主成分とした皮膜をインヒビターを含んだ
水を用いて形成する工程を有することを特徴とした電子
写真感光体の製造方法を提案するものであり、アルミニ
ウム:シリコン:酸素=a:b:cとし、a=1とした
時にb及びcの範囲が0.1≦b≦1.0 1≦c≦
5である。That is, the present invention provides a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor having a step of forming a functional film made of an amorphous material containing silicon atoms as a base material on the surface of an aluminum substrate by a low pressure vapor phase epitaxy method. Prior to the step of forming an electrophotographic photoreceptor, a film containing aluminum, silicon and oxygen as main components having a film thickness in the range of 5 ° to 150 ° and a composition ratio represented by the following formula: And a method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor characterized by having a step of forming aluminum: silicon: oxygen = a: b: c. The range is 0.1 ≦ b ≦ 1.0 1 ≦ c ≦
5
【0024】前記インヒビターは珪酸塩であること、前
記珪酸塩は珪酸カリウムであること、前記水に含まれる
インヒビターのモル濃度は100乃至10-6mol/l
の範囲であること、前記アルミニウム基体上に前記機能
性膜を形成させるする工程は、水素原子及びフッ素原子
の少なくともいずれか一方と珪素原子とからなる非晶質
堆積膜をプラズマCVD法により前記アルミニウム基体
上に形成する工程であること、前記水は界面活性剤、二
酸化炭素のいずれかを含むこと、前記水は、2kg・f
/cm2〜300kg・f/cm2の圧力にて、前記基体
を洗浄すること、前記基体を温水から引き上げて乾燥す
ること、前記温水は、温純水、あるいは二酸化炭素を溶
解した温水、前記インヒビターを含んだ温水の少なくと
もいずれかひとつであること、前記アルミニウム基体
が、鉄を10ppm以上、1wt%以下含有したアルミ
ニウム基体であること、前記アルミニウム基体が、シリ
コンを10ppm以上、1wt%以下含有したアルミニ
ウムを基体であること、前記アルミニウム基体が、銅を
10ppm以上、1wt%以下含有したアルミニウム基
体であること、前記アルミニウム基体中の、鉄とシリコ
ンと銅の総含有量は、0.01wt%を越え1wt%以
下であることを含む。The said inhibitor is silicate, said silicate is potassium silicate, the molar concentration of the inhibitor contained in the water is 10 0 to 10 -6 mol / l
Wherein the step of forming the functional film on the aluminum substrate includes forming an amorphous deposited film composed of silicon atoms and at least one of a hydrogen atom and a fluorine atom by the plasma CVD method. A step of forming on a substrate, the water contains one of a surfactant and carbon dioxide, and the water contains 2 kg · f
Cleaning the substrate at a pressure of / cm 2 to 300 kg · f / cm 2 , pulling up the substrate from hot water and drying, the hot water is hot pure water, hot water in which carbon dioxide is dissolved, and the inhibitor. The aluminum base is an aluminum base containing 10 ppm or more and 1 wt% or less of iron; and the aluminum base is an aluminum base containing 10 ppm or more and 1 wt% or less of silicon. The aluminum substrate contains 10 ppm or more and 1 wt% or less of copper; and the total content of iron, silicon and copper in the aluminum substrate exceeds 0.01 wt% and 1 wt%. % Or less.
【0025】[0025]
【発明の実施の形態】アルミニウム基体の異常成長部分
が発生する画像欠陥の原因を (A)基体上の粉塵、洗浄、乾燥工程の洗浄水の汚物等
が付着してそれが核となること。 (B)基体の表面欠陥が核となること。 に大別する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The causes of image defects that cause abnormal growth of an aluminum substrate are as follows: (A) Dust on the substrate, dirt of cleaning water in the cleaning and drying processes, and the like become the core. (B) A surface defect of the substrate becomes a nucleus. Roughly divided into
【0026】(A)の塵等の付着は切削、洗浄など基体
を取り扱う場所のクリーン化を図る及び成膜炉内の清掃
を厳密に行うことと共に堆積膜形成の直前に基体表面を
洗浄することによりある程度防止することが可能になっ
た。従来はトリクロルエタン等の塩素系溶剤で洗浄する
ことによりこの目的を達成していた。しかし、近年オゾ
ン層の破壊等の理由でこうした塩素系の溶剤の使用が制
限されるようになってきたため、水による洗浄方法を塩
素系溶剤を用いた洗浄方法の代替手段として検討をする
必要がある。(A) Adhering of dust and the like is to clean the place where the substrate is handled such as cutting and cleaning, and to strictly clean the inside of the film forming furnace and to clean the surface of the substrate immediately before forming the deposited film. Has made it possible to prevent it to some extent. Conventionally, this object has been achieved by washing with a chlorine-based solvent such as trichloroethane. However, in recent years, the use of such chlorine-based solvents has been restricted for reasons such as destruction of the ozone layer, and it is necessary to consider a washing method using water as an alternative to a washing method using a chlorine-based solvent. is there.
【0027】一方、(B)の欠陥を減少させる方法とし
て、特定の成分含有のアルミニウムの特定の洗浄方法を
検討する必要がある。On the other hand, as a method for reducing the defect (B), it is necessary to consider a specific cleaning method for aluminum containing a specific component.
【0028】また、アルミニウム中の局所的に高硬度の
部分があり、堆積膜形成に先立つ前加工として、切削等
の表面加工の際に加工機の刃にこれらの高硬度の部分が
えぐられアルミニウム基体上に表面欠陥できることが
(B)の原因であることが明かとなった。Further, there are locally high hardness portions in the aluminum, and as a pre-process prior to the formation of a deposited film, these high hardness portions are cut off by a blade of a processing machine during surface processing such as cutting. It became clear that surface defects on the substrate were the cause of (B).
【0029】これらの現象を防ぐため本発明ではシリコ
ンを含有するアルミニウムを用いる。その理由はアルミ
ニウムに含有される不純物は少ない方が好ましいが、し
かし非常に高純度のアルミニウムを基体の形状に溶融加
工すると酸化物が発生し易くなり異常成長部分が多く発
生する。これに対してSi原子をアルミニウムに含有さ
せることで酸化物の発生を抑制することができるからで
ある。In order to prevent these phenomena, the present invention uses aluminum containing silicon. The reason for this is that it is preferable that the amount of impurities contained in aluminum is small. However, when extremely high-purity aluminum is melt-processed into the shape of a base, an oxide is easily generated and many abnormally grown portions are generated. On the other hand, the inclusion of Si atoms in aluminum can suppress the generation of oxides.
【0030】また本発明は珪酸塩等を腐食防止剤(イン
ヒビター)として溶解させた水系洗浄剤を用いるが、そ
の理由は珪素(Si)原子を含むアルミニウムは、Si
原子が局所的に多い部分を中心に水によって腐食させる
ことがあるのでその腐食を防ぐ目的でインヒビターを用
いる。またSi原子だけでなく、その他Fe原子、Cu
原子が局所的に多い部分にも同様の腐食が発生すること
があるが、珪酸塩等によるインヒビターを用いることで
効果的に腐食を防ぐことができる。In the present invention, an aqueous detergent in which silicate or the like is dissolved as a corrosion inhibitor (inhibitor) is used because aluminum containing silicon (Si) atoms is
Inhibitors are used for the purpose of preventing the corrosion, which may be corroded by water, mainly in a portion where atoms are locally large. In addition to Si atoms, other Fe atoms, Cu
Although similar corrosion may occur in a portion where atoms are locally large, corrosion can be effectively prevented by using an inhibitor such as a silicate.
【0031】また腐食は洗浄水の温度が高い場合や、あ
るいはアルミニウム中にSi、Fe、Cu原子と共に切
削性を向上する目的でマグネシウムを含む場合顕著であ
り、Si、Fe、Cuを含んだ電子写真感光体の基体と
して用いるアルミニウム基体の腐食を防止するための腐
食防止剤を水系洗浄剤に加えることが好ましい。Corrosion is remarkable when the temperature of washing water is high, or when aluminum contains magnesium for the purpose of improving machinability together with Si, Fe and Cu atoms, and electrons containing Si, Fe and Cu are contained. It is preferable to add a corrosion inhibitor for preventing corrosion of the aluminum substrate used as the substrate of the photoreceptor to the aqueous detergent.
【0032】本発明者は、基体上に機能性膜を堆積する
前の基体加工工程において、洗浄の際用いる界面活性剤
に何らかの腐食防止剤の添加処理を行い、後の機能性膜
に影響を及さない皮膜を形成し、上記のような欠陥の発
生を抑えることができないかないかと言う点に着目して
鋭意研究した結果、本発明を完成させるに至った。The inventor of the present invention carried out a process of adding a certain corrosion inhibitor to a surfactant used for cleaning in a substrate processing step before depositing a functional film on the substrate, so that the subsequent functional film was not affected. As a result of intensive research focusing on the possibility of forming a coating that does not affect the above and suppressing the occurrence of the above-mentioned defects, the present invention has been completed.
【0033】アルミニウム表面に部分的に露出したS
i、Fe、Cu原子が多い部分は周囲の通常のアルミニ
ウムの部分と局部的な電池を形成して水中下では腐食が
促進されると考えられる。S partially exposed on the aluminum surface
It is considered that the portion containing many i, Fe, and Cu atoms forms a local battery with the surrounding normal aluminum portion, and the corrosion is promoted under water.
【0034】インヒビターを用いることで腐食を防ぎ基
体表面を保護することができる理由は、アルミニウム表
面にAl−Si−O皮膜を形成することができるためと
考える。尚、Al−Si−O皮膜が形成されると基体表
面には欠陥となるものがなくなり、その結果、機能性膜
形成時に異常成長の発生を防止することができる。The reason why the inhibitor can be used to prevent corrosion and protect the surface of the substrate is considered to be because an Al—Si—O film can be formed on the aluminum surface. When the Al—Si—O film is formed, there is no defect on the surface of the substrate, and as a result, it is possible to prevent abnormal growth during the formation of the functional film.
【0035】また、異常成長の発生が防止されるだけで
なく珪酸塩を含む水系洗浄剤を用いて洗浄することで、
電子写真特性の向上がみられる。In addition, not only the occurrence of abnormal growth is prevented, but also by washing with an aqueous detergent containing silicate,
The electrophotographic properties are improved.
【0036】また、本発明の実施の形態はプラズマCV
D法によりアモルファスシリコン堆積膜を基体上に形成
する。このときの反応は、気相に於ける原料ガスの分解
過程、放電空間から基体表面までの活性種の輸送過程、
基体表面での表面反応過程の3つに分けて考えることが
できる。中でも、表面反応過程は完成した堆積膜の構造
の決定に非常に大きな役割を果たしている。そして、こ
れらの表面反応は、基体表面の温度、材質、形状、吸着
物質などに大きな影響を受ける。In the embodiment of the present invention, the plasma CV
An amorphous silicon deposition film is formed on a substrate by the D method. The reaction at this time is the decomposition process of the source gas in the gas phase, the transport process of the active species from the discharge space to the substrate surface,
The surface reaction process on the substrate surface can be divided into three. In particular, the surface reaction process plays a very important role in determining the structure of the completed deposited film. These surface reactions are greatly affected by the temperature, material, shape, adsorbed substance, etc. of the surface of the substrate.
【0037】特に純度の高いアルミニウム基体は、基体
表面に水が不均一に吸着する。In particular, water is non-uniformly adsorbed on the surface of a high-purity aluminum substrate.
【0038】そのため基体上に例えばプラズマCVD法
によりアモルファスシリコン膜を形成する珪素を、ある
いは水素及び弗素を含んだ堆積膜を形成する場合、前記
表面の反応は、基体表面の水により生じる。そして、堆
積膜の基体ー堆積膜界面の組成及び構造が部分的に変化
する。その結果、電子写真プロセス中にその部分の電荷
の注入性が変化し、表面電位の差が現われるのである。Therefore, when silicon for forming an amorphous silicon film or a deposited film containing hydrogen and fluorine is formed on a substrate by, for example, a plasma CVD method, the reaction on the surface is caused by water on the surface of the substrate. Then, the composition and structure of the interface between the substrate and the deposited film of the deposited film partially changes. As a result, during the electrophotographic process, the charge injection property of that portion changes, and a difference in surface potential appears.
【0039】本発明では、プラズマCVD法によるアモ
ルファスシリコンからなる機能性膜の形成前にアルミニ
ウム基体表面にインヒビターである珪酸塩にてAl−S
i−O皮膜を形成することで、堆積膜を形成する際良好
な電荷のやりとりができる界面を形成することができ
る。このため、得られた基体は帯電性が向上し、光感度
等電子写真特性の向上を果たすことが可能となる。In the present invention, before the formation of the functional film made of amorphous silicon by the plasma CVD method, the surface of the aluminum substrate is Al-S-coated with a silicate as an inhibitor.
By forming the i-O film, it is possible to form an interface through which good charges can be exchanged when forming a deposited film. For this reason, the obtained substrate is improved in chargeability and can achieve improvement in electrophotographic characteristics such as photosensitivity.
【0040】本発明では切削さ基体に堆積膜を成膜する
成膜工程の前に基体を基体表面を脱脂洗浄する脱脂洗浄
工程,基板表面をリンスするリンス工程,そして基板表
面を乾燥する乾燥工程の順で処理する。脱脂洗浄工程で
は,界面活性剤を有する水系洗浄剤を取り入れることに
より基体上の油脂及びハロゲン化物等の残留物の除去を
行い、更に、珪酸塩を加えることでアルミニウム基体表
面に腐食防止効果の皮膜を付けるという方法により高品
質のアモルファス堆積膜を有したアルミニウム基体を得
る。In the present invention, before the film forming step of forming a deposited film on the cut substrate, a degreasing cleaning step of degreasing and cleaning the substrate surface of the substrate, a rinsing step of rinsing the substrate surface, and a drying step of drying the substrate surface Process in order. In the degreasing cleaning step, residues such as oils and fats and halides on the substrate are removed by incorporating a water-based detergent having a surfactant, and further, a silicate is added to the aluminum substrate surface to prevent corrosion. To obtain an aluminum substrate having a high quality amorphous deposited film.
【0041】アルミニウム合金製シリンダーを基体とし
て、本発明の電子写真感光体製造方法により電子写真感
光体(基体)を実際に形成する手順の一例を、図1で示
す本発明よる洗浄装置、及び、図3に示す堆積膜形成装
置を用いて以下に説明する。洗浄工程に搬送される基体
は鏡面切削された基体である。精密切削用のエアダンパ
ー付旋盤(PNEUMO PRECLSION IN
C.製)に、ダイヤモンドバイト(商品名:ミラクルバ
イト、東京ダイヤモンド製)を、シリンダー中心角に対
して5°の角のすくい角を得るようにセットする。次
に、この旋盤の回転フランジに、基体を真空チャック
し、付設したノズルから白燈油噴霧、同じく付設した真
空ノズルから切り粉の吸引を併用しつつ、周速1000
m/min、送り速度0.01mm/Rの条件で外形が
108mmとなるように鏡面切削を施す。An example of a procedure for actually forming an electrophotographic photosensitive member (substrate) by the method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member of the present invention using a cylinder made of an aluminum alloy as a substrate is shown in FIG. This will be described below using the deposited film forming apparatus shown in FIG. The substrate transported to the cleaning step is a mirror-cut substrate. Lathe with air damper for precision cutting (PNEUMO PRECLESION IN
C. ), A diamond bite (trade name: Miracle bite, manufactured by Tokyo Diamond) is set so as to obtain a rake angle of 5 ° with respect to the cylinder center angle. Next, the substrate was vacuum-chucked to the rotating flange of the lathe, and white kerosene was sprayed from the attached nozzle, and the chip was sucked from the attached vacuum nozzle.
Mirror cutting is performed so that the outer shape becomes 108 mm under the conditions of m / min and a feed rate of 0.01 mm / R.
【0042】切削が終了した基体は、洗浄装置に搬送さ
れる。図1は基体表面を洗浄する洗浄装置である。The substrate after the cutting is conveyed to the cleaning device. FIG. 1 shows a cleaning apparatus for cleaning a substrate surface.
【0043】洗浄装置は、処理部102と基体搬送機構
103よりなっている。処理部102は、基体投入台1
11、基体洗浄槽121、リンス槽131、乾燥槽14
1、基体搬出台151よりなっている。基体洗浄槽12
1、リンス槽131、乾燥層141とも液の温度を一定
に保っための温度調節装置(図示せず)が付いている。
搬送機構103は、搬送レール165と搬送アーム16
1よりなり、搬送アーム161は、レール165上を移
動する移動機構162、基体101を保持するチャッキ
ング機構163及びチャッキング機構163を上下させ
るためのエアーシリンダー164よりなっている。The cleaning apparatus comprises a processing section 102 and a substrate transport mechanism 103. The processing unit 102 includes the substrate loading table 1
11, substrate cleaning tank 121, rinsing tank 131, drying tank 14
1. It is composed of a substrate discharge table 151. Substrate cleaning tank 12
1. Both the rinsing tank 131 and the drying layer 141 have a temperature control device (not shown) for keeping the temperature of the liquid constant.
The transfer mechanism 103 includes a transfer rail 165 and a transfer arm 16.
The transport arm 161 includes a moving mechanism 162 that moves on the rail 165, a chucking mechanism 163 that holds the base 101, and an air cylinder 164 that moves the chucking mechanism 163 up and down.
【0044】投入台上111に置かれた基体101は、
搬送機構103により洗浄槽121に搬送される。洗浄
槽121中には界面活性剤を含む水系洗浄剤或は、珪酸
塩を添加した界面活性剤を含む水系洗浄剤122が入っ
ており中で基体101を超音波洗浄して表面に付着して
いる塵、油脂等を洗浄する。The substrate 101 placed on the loading table 111 is
The wafer is transported to the cleaning tank 121 by the transport mechanism 103. The cleaning tank 121 contains a water-based cleaning agent containing a surfactant or a water-based cleaning agent 122 containing a surfactant to which a silicate is added. Clean dust, grease, etc.
【0045】脱脂洗浄工程を終了した基体101は、次
にリンス工程に至る。搬送機構103によりリンス槽1
31へ運ばれ、25℃の温度に保たれた純水等により更
にすすぎ洗浄が行われる。純水等は工業用導電率計(商
品名:α900R/C、堀場製作所製)により一定にそ
の純度が制御されている。リンス工程を終了した基体1
01は、次に、乾燥工程に至る。基体101は搬送機構
103により温純水等による乾燥槽141へ移動され、
60℃の温度に保たれた温純水等にて昇降装置(図示せ
ず)により引き上げ乾燥が行われる。温純水等は工業用
導電率計(商品名:α900R/C、堀場製作所製)に
より一定にその精度が制御される。The substrate 101 that has been subjected to the degreasing and cleaning step is then subjected to a rinsing step. Rinse tank 1 by transport mechanism 103
It is transported to 31 and further rinsed with pure water or the like kept at a temperature of 25 ° C. The purity of pure water or the like is constantly controlled by an industrial conductivity meter (trade name: α900R / C, manufactured by HORIBA, Ltd.). Substrate 1 after rinsing step
01 then goes to the drying step. The substrate 101 is moved by a transport mechanism 103 to a drying tank 141 of hot pure water or the like,
Lifting and drying is performed by a lifting device (not shown) using hot pure water maintained at a temperature of 60 ° C. The precision of the hot pure water or the like is constantly controlled by an industrial conductivity meter (trade name: α900R / C, manufactured by HORIBA, Ltd.).
【0046】乾燥工程の終了した基体101は、搬送機
構103により搬出台151に運ばれ図1に示す洗浄装
置から搬出される。The substrate 101 after the drying step is carried to the carry-out table 151 by the carrying mechanism 103 and carried out of the cleaning device shown in FIG.
【0047】次に基体上に図3に示すプラズマCVD法
による光導電部材の堆積膜形成装置、を用いてアモルフ
ァスシリコンを主体とした堆積膜を形成する。Next, a deposited film mainly composed of amorphous silicon is formed on the substrate by using a photoconductive member deposited film forming apparatus by a plasma CVD method shown in FIG.
【0048】図3に於て反応容器301は、ベースプレ
ート304とカソード電極を兼ねる壁302とトッププ
レート303から構成され、この反応容器301内に
は、アモルファスシリコン堆積膜が形成される基体30
6はカソード電極302の中央部に設置され、アノード
電極も兼ねている。Referring to FIG. 3, a reaction vessel 301 comprises a base plate 304, a wall 302 also serving as a cathode electrode, and a top plate 303. Inside the reaction vessel 301, a substrate 30 on which an amorphous silicon deposition film is formed is formed.
Reference numeral 6 is provided at the center of the cathode electrode 302 and also serves as an anode electrode.
【0049】この堆積膜形成装置を使用してアモルファ
スシリコン堆積膜を基体306上に形成するには、ま
ず、原料ガス流入バルブ311を閉じ、排気バルブ31
4を開け、反応容器301を排気する。真空計(図示せ
ず)の読みが約5×10−6torrになった時点で原
料ガス流入バルブ311を開く。ガス流量は、マスフロ
ーコントローラ312内で所定の流量に調整される。例
えばSiH4ガス等の原料ガスを反応容器301内に流
入させる。そして基体306の表面温度が加熱ヒーター
308により所定の温度に設定されている事を確認した
後、高周波電源(周波数:13.56MHz)316を
所望の電力に設定して反応容器301内にグロー放電を
生起させる。In order to form an amorphous silicon deposited film on the substrate 306 by using this deposited film forming apparatus, first, the source gas inflow valve 311 is closed, and the exhaust valve 31 is closed.
4 is opened, and the reaction vessel 301 is evacuated. When the reading of the vacuum gauge (not shown) reaches about 5 × 10 −6 torr, the source gas inflow valve 311 is opened. The gas flow rate is adjusted to a predetermined flow rate in the mass flow controller 312. For example, a source gas such as a SiH 4 gas is caused to flow into the reaction vessel 301. After confirming that the surface temperature of the base 306 is set to a predetermined temperature by the heater 308, the high-frequency power supply (frequency: 13.56 MHz) 316 is set to a desired electric power, and the glow discharge is performed in the reaction vessel 301. Cause.
【0050】また、堆積膜形成を行っている間は、堆積
膜形成の均−化を図るために基体306をモーター(図
示せず)により一定速度で回転させる。この様にして基
体306上に、アモルファスシリコン堆積膜を形成す
る。During the formation of the deposited film, the substrate 306 is rotated at a constant speed by a motor (not shown) in order to equalize the formation of the deposited film. Thus, an amorphous silicon deposition film is formed on the base 306.
【0051】本発明において、基体は基体表面凸凹を平
坦に処理され、鏡面とされたもの及至は干渉縞防止等の
目的で非鏡面とされたもの、或は所望形状の凹凸が付与
されたものでも良い。In the present invention, the substrate is made by treating the surface irregularities of the substrate to be flat and making it a mirror surface, or a non-mirror surface for the purpose of preventing interference fringes, or a substrate provided with irregularities of a desired shape. But it is good.
【0052】またアルミニウム表面に部分的に露出した
Si,Fe,Cu原子が多い部分では腐食が促進される
事から、本発明は脱脂洗浄工程、リンス工程及び乾燥工
程の中で少なくとも一工程において使われる水に珪酸塩
を添加し皮膜形成を行う。また基体が純水等に接触する
前に皮膜が形成されていることがより好ましい。本発明
の皮膜は、比較的早い段階で形成される事から、一度皮
膜が基板上に形成された後ならばリンス工程及び乾燥工
程において純水を用いることができる。具体的に例を挙
げると、切削後の脱脂洗浄工程の為の基体洗浄槽の界面
活性剤を含む水系洗浄剤にのみ珪酸塩を含有させる方法
と、珪酸塩を脱脂洗浄工程にもちいずにリンス工程にお
いてのみ珪酸塩を用いる方法やあるいは珪酸塩を脱脂洗
浄工程を用いずにリンス工程及び乾燥工程に用いる方法
やあるいは全ての工程に珪酸塩を用いる方法があり何れ
も本発明には適している。Further, since corrosion is promoted in a portion where Si, Fe and Cu atoms are partially exposed on the aluminum surface, the present invention is used in at least one of the degreasing and washing steps, the rinsing step and the drying step. The silicate is added to the water to form a film. It is more preferable that the film is formed before the substrate comes into contact with pure water or the like. Since the film of the present invention is formed at a relatively early stage, pure water can be used in the rinsing step and the drying step once the film has been formed on the substrate. Specific examples include a method in which silicate is contained only in an aqueous cleaning agent containing a surfactant in a substrate cleaning tank for a degreasing cleaning step after cutting, and a method in which silicate is rinsed without using a degreasing cleaning step. There is a method using a silicate only in the process, a method using the silicate in the rinsing step and the drying step without using the degreasing and washing step, or a method using the silicate in all the steps, all of which are suitable for the present invention. .
【0053】また本発明のインヒビターとして燐酸塩、
珪酸塩、ほう酸塩等を挙げることができるが、珪酸塩が
本発明には特に好ましい。Phosphate as an inhibitor of the present invention,
Silicates, borates and the like can be mentioned, and silicates are particularly preferred in the present invention.
【0054】また、珪酸塩の中でも、珪酸カリウム、珪
酸ナトリウム等が挙げられいずれを使用してもよいが珪
酸カリウムが本発明には特に好ましい。Among the silicates, potassium silicate, sodium silicate and the like may be used, and any of them may be used, but potassium silicate is particularly preferred in the present invention.
【0055】また本発明において用いられる界面活性剤
は、陰イオン性界面活性剤、陽イオン性界面活性剤、非
イオン性界面活性剤、両性界面活性剤、またはそれらの
混合したもの等いずれのものでも可能である。中でも、
カルボン酸塩、スルホン酸塩、硫酸エステル塩、燐酸エ
ステル塩等の陰イオン性界面活性剤または、脂肪酸エス
テル等の非イオン性界面活性剤を使用することがは特に
本発明では好ましい。The surfactant used in the present invention may be an anionic surfactant, a cationic surfactant, a nonionic surfactant, an amphoteric surfactant, or a mixture thereof. But it is possible. Among them,
In the present invention, it is particularly preferable to use an anionic surfactant such as a carboxylate, a sulfonate, a sulfate ester salt or a phosphate ester salt, or a nonionic surfactant such as a fatty acid ester.
【0056】本発明の脱脂洗浄工程,リンス工程あるい
は乾燥工程において用いられる水は、半導体グレードの
純水、特に超LSIグレードの超純水が望ましい。具体
的には、水温25℃の時の抵抗率として、下限値は1M
Ω・cm以上、好ましくは3MΩ・cm以上、最適には
5MΩ・cm以上が本発明には適している。上限値は理
論抵抗値(18.25MΩ・cm)までの何れの値でも
可能であるが、コスト、生産性の面から17MΩ・cm
以下、好ましくは15MΩ・cm以下、最適には13M
Ω・cm以下が本発明には適している。微粒子量として
は、0.2μm以上が1ミリリットル中に10000個
以下、好ましくは1000個以下、最適には100個以
下が本発明には適している。微生物量としては、総生菌
数が1ミリリットル中に100個以下、好ましくは10
個以下、最適には1個以下が本発明には適している。有
機物量(TOC)は、1リットル中に10mg以下、好
ましくは1mg以下、最適には0.2mg以下が本発明
には適している。The water used in the degreasing and washing step, the rinsing step and the drying step of the present invention is preferably semiconductor grade pure water, especially ultra LSI grade ultra pure water. Specifically, the lower limit is 1M as the resistivity at a water temperature of 25 ° C.
Ω · cm or more, preferably 3 MΩ · cm or more, optimally 5 MΩ · cm or more is suitable for the present invention. The upper limit value can be any value up to the theoretical resistance value (18.25 MΩ · cm), but it is 17 MΩ · cm from the viewpoint of cost and productivity.
Or less, preferably 15 MΩ · cm or less, optimally 13 MΩ
Ω · cm or less is suitable for the present invention. Regarding the amount of fine particles, 0.2 μm or more is preferably 10,000 or less, preferably 1000 or less, and optimally 100 or less per milliliter in the present invention. As the amount of microorganisms, the total viable count is 100 or less per milliliter, preferably 10
No more than one, optimally no more than one is suitable for the present invention. An amount of organic matter (TOC) of 10 mg or less per liter, preferably 1 mg or less, optimally 0.2 mg or less is suitable for the present invention.
【0057】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルター濾過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、要求される水質まで高めることが望ま
しい。As a method for obtaining the water having the above-mentioned water quality, there are an activated carbon method, a distillation method, an ion exchange method, a filter filtration method, a reverse osmosis method, an ultraviolet sterilization method, and the like. It is desirable to increase the water quality to be used.
【0058】本発明において珪酸塩を含有した界面活性
剤を含む水系洗浄剤の温度は、高すぎると基体表面に液
跡によるシミが発生してしまい、堆積膜の剥れ等の原因
となる。また、低すぎると脱脂効果、皮膜効果が小さ
く、充分な皮膜が得られない結果良質の堆積膜を得るこ
とがむづかしい。この為、温度としては、10℃以上、
60℃以下、好ましくは15℃以上、50℃以下、最適
には20℃以上、40℃以下が本発明には適している。In the present invention, if the temperature of the aqueous detergent containing a surfactant containing a silicate is too high, stains due to liquid traces are generated on the surface of the substrate, which causes peeling of the deposited film. On the other hand, if it is too low, the degreasing effect and the film effect are small, and a sufficient film cannot be obtained. As a result, it is difficult to obtain a high-quality deposited film. For this reason, the temperature is 10 ° C. or more,
A temperature of 60 ° C or lower, preferably 15 ° C or higher and 50 ° C or lower, optimally 20 ° C or higher and 40 ° C or lower is suitable for the present invention.
【0059】本発明に於て、界面活性剤を含む水系洗浄
剤の濃度は、濃すぎると液跡によるシミが発生してしま
い、堆積膜の刷れ等の原因となる。また、薄すぎると脱
脂効果、皮膜効果が小さく、本発明の効果が充分得られ
ない。In the present invention, if the concentration of the aqueous cleaning agent containing a surfactant is too high, stains due to the traces of the liquid are generated, which causes printing of a deposited film. On the other hand, if it is too thin, the degreasing effect and the film effect are small, and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained.
【0060】この為、珪酸塩を含有した界面活性剤の水
系洗浄剤中における重量パーセント濃度は、0.1w
t.%以上、20%wt.以下、好ましくは1%wt.
以上、10wt.%以下、最適には2wt.%以上、8
wt.%以下が本発明には適している。Therefore, the weight percent concentration of the silicate-containing surfactant in the aqueous detergent is 0.1 w
t. % Or more, 20% wt. Or less, preferably 1% wt.
As described above, 10 wt. %, Optimally 2 wt. % Or more, 8
wt. % Or less is suitable for the present invention.
【0061】本発明に於て、洗浄で用いられる界面活性
剤を含む水系洗浄剤のpHは、高すぎると液跡によるシ
ミが発生してしまい、堆積膜の剥れ等の原因となる。ま
た、薄すぎると脱脂効果、皮膜効果が小さく、本発明の
効果が充分得られない。In the present invention, if the pH of the aqueous cleaning agent containing a surfactant used in the cleaning is too high, spots due to the traces of the liquid are generated, which causes peeling of the deposited film. On the other hand, if it is too thin, the degreasing effect and the film effect are small, and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained.
【0062】この為、界面活性剤を含む水系洗浄剤のp
Hは、8以上、12.5以下、好ましくは9以上、12
以下、最適には10以上、11.5以下が本発明には適
している。For this reason, p of aqueous detergent containing a surfactant
H is 8 or more and 12.5 or less, preferably 9 or more and 12
Below, optimally 10 or more and 11.5 or less are suitable for the present invention.
【0063】本発明において、洗浄を行なう場合の、水
に含まれる珪酸塩の濃度は、濃すぎると液跡によるシミ
が発生してしまい、堆積膜の剥れ等の原因となる。ま
た、薄すぎると脱脂効果、皮膜効果が小さく本発明の効
果が十分に得られない。この為、水に含まれる珪酸塩の
モル濃度の範囲は、10-6〜100内好ましくは10-5
〜10-1最適には10-2〜10-4が本発明には適してい
る。In the present invention, when the concentration of the silicate contained in the water during the cleaning is too high, spots due to the traces of the liquid are generated, which causes peeling of the deposited film. On the other hand, if it is too thin, the degreasing effect and the film effect are small, and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained. Therefore, the scope of the molar concentration of silicate in the water is 10 -6 to 10 0 within preferably 10 -5
〜1010 −1, optimally 10 −2 〜1010 -4 are suitable for the present invention.
【0064】本発明においてアルミニウム基体上に形成
される皮膜の膜厚は薄くては効果が現れず厚過ぎるとア
ルミニウム基体との導電性が下がって弊害が出てしま
う。この為、皮膜の膜厚としては5Å以上150Å以
下、好ましくは10Å以上130Å以下、最適には15
Å以上120Å以下が適している。In the present invention, if the thickness of the film formed on the aluminum substrate is too small, no effect is exhibited. If the thickness is too large, the conductivity with the aluminum substrate is lowered, causing a problem. Therefore, the thickness of the film is 5 ° to 150 °, preferably 10 ° to 130 °, and most preferably 15 ° to 130 °.
It is suitable that the angle is not less than {120}.
【0065】本発明においてアルミニウム基体上に形成
されるAl−Si−O膜の組成比としてはSiやOが少
なくてはAlの成分が多く皮膜として不十分であり、多
くても導電性が下がってしまう為適さない。Alを1と
した時にSiは0.1以上1.0以下、好ましくは0.
15以上0.8以下、最適には0.2以上0.6以下が
適している。またAlを1とした時にOは1以上5以
下、好ましくは1.5以上4以下、最適には2以上3.
5以下が適している。In the present invention, as the composition ratio of the Al—Si—O film formed on the aluminum substrate, if the content of Si or O is small, the content of Al is large and the film is insufficient. Not suitable for it. When Al is 1, Si is 0.1 or more and 1.0 or less, preferably 0.1 to 1.0.
15 or more and 0.8 or less, optimally 0.2 or more and 0.6 or less are suitable. When Al is 1, O is 1 or more and 5 or less, preferably 1.5 or more and 4 or less, and optimally 2 or more and 3 or less.
5 or less is suitable.
【0066】本発明の洗浄で、超音波を用いることは本
発明の効果を出す上で有効である。超音波の周波数は、
好ましくは100Hz以上、10MHz以下、更に好ま
しくは1kHz以上、5MHz以下、最適には10kH
z以上100kHz以下が効果的である。超音波の出カ
は、好ましくは0.1W/リットル以上、1kW/リッ
トル以下、更に好ましくは1W/リットル以上、100
W/リットル以下が効果的である。The use of ultrasonic waves in the cleaning of the present invention is effective in achieving the effects of the present invention. The ultrasonic frequency is
Preferably 100 Hz or more and 10 MHz or less, more preferably 1 kHz or more and 5 MHz or less, optimally 10 kHz
The frequency range from z to 100 kHz is effective. The output of the ultrasonic wave is preferably 0.1 W / L or more and 1 kW / L or less, more preferably 1 W / L or more and 100 W / L or more.
W / liter or less is effective.
【0067】本発明に於て洗浄工程終了後、シャワー洗
浄、温風乾燥を行う事は高性能のアルミニウム基体を作
成する上で有効であるが、特に洗浄装置を用い洗浄する
事は更に有効である。In the present invention, shower cleaning and warm air drying after the cleaning step is effective in producing a high-performance aluminum substrate, but cleaning using a cleaning apparatus is particularly effective. is there.
【0068】また上述したようにリンス工程あるいは乾
燥工程において用いられる水に珪酸塩を溶解させること
で基体に皮膜を形成させることも好ましい。また本発明
はリンス工程あるいは乾燥工程に於て、使用される水に
二酸化炭素を溶解させてリンス効果、あるいは乾燥効果
を向上させてもよい。このとき使用される水の水質は、
非常に重要であり二酸化炭素溶解前の状態では半導体グ
レードの純水、特に超LSIグレードの超純水が望まし
い。具体的には、水温25℃の時の抵抗率として、下限
値は1MΩ・cm以上、好ましくは3MΩ・cm以上、
最適には5MΩ・cm以上が本発明には適している。抵
抗値の上限は理論抵抗値(18.25MΩ・cm)まで
の何れの値でも可能であるが、コスト、生産性の面から
17MΩ・cm以下、好ましくは15MΩ・cm以下、
最適には13MΩ・cm以下が本発明には適している。
微粒子量としては、0.2μm以上が1ミリリットル中
に10000個以下、好ましくは1000個以下、最適
には100個以下が本発明には適している。微生物量と
しては、総生菌数が1ミリリットル中に100個以下、
好ましくは10個以下、最適には1個以下が本発明には
適している。有機物量(TOC)は、1リットル中に1
9mg以下、好ましくは1mg以下、最適には0.2m
g以下が本発明には適している。As described above, it is also preferable to form a film on the substrate by dissolving the silicate in water used in the rinsing step or the drying step. In the present invention, in the rinsing step or the drying step, carbon dioxide may be dissolved in water used to improve the rinsing effect or the drying effect. The quality of the water used at this time is
It is very important, and in a state before dissolving carbon dioxide, pure water of semiconductor grade, particularly ultra-pure water of ultra LSI grade is desirable. Specifically, as the resistivity at a water temperature of 25 ° C., the lower limit is 1 MΩ · cm or more, preferably 3 MΩ · cm or more,
Optimally, 5 MΩ · cm or more is suitable for the present invention. The upper limit of the resistance value can be any value up to the theoretical resistance value (18.25 MΩ · cm), but from the viewpoint of cost and productivity, 17 MΩ · cm or less, preferably 15 MΩ · cm or less.
Optimally, 13 MΩ · cm or less is suitable for the present invention.
Regarding the amount of fine particles, 0.2 μm or more is preferably 10,000 or less, preferably 1000 or less, and optimally 100 or less per milliliter in the present invention. As for the amount of microorganisms, the total viable count is 100 or less per milliliter,
Preferably 10 or less, optimally 1 or less are suitable for the present invention. The amount of organic matter (TOC) is 1 per liter
9 mg or less, preferably 1 mg or less, optimally 0.2 m
g or less is suitable for the present invention.
【0069】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルター濾過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、要求される水質まで高めることが望ま
しい。Examples of the method for obtaining the water having the above-mentioned water quality include an activated carbon method, a distillation method, an ion exchange method, a filter filtration method, a reverse osmosis method, an ultraviolet sterilization method, and the like. It is desirable to increase the water quality to be used.
【0070】これらの水に溶解する二酸化炭素の量は飽
和溶解度までのいずれの量でも本発明は可能だが、多す
ぎると水温が変動したときに泡が発生し基体表面に付着
することによりスポット上のシミが発生する場合があ
る。更に、溶解した二酸化炭素の量が多いとpHが小さ
くなるため基体にダメージを与える場合がある。一方、
溶解した二酸化炭素の量が少なすぎると本発明の効果を
得ることができない。The amount of carbon dioxide dissolved in water can be any amount up to the saturation solubility, but the present invention is possible. However, if the amount is too large, bubbles are generated when the water temperature fluctuates and adhere to the surface of the substrate, so that the amount of carbon dioxide on the substrate is reduced. Spots may occur. Furthermore, if the amount of dissolved carbon dioxide is large, the pH may be reduced, which may damage the substrate. on the other hand,
If the amount of dissolved carbon dioxide is too small, the effects of the present invention cannot be obtained.
【0071】基体に要求される品質等を考慮しながら、
状況に合わせて二酸化炭素の溶解量を最適化する必要が
ある。Considering the quality and the like required for the substrate,
It is necessary to optimize the amount of dissolved carbon dioxide according to the situation.
【0072】一般的に本発明による好ましい二酸化炭素
の溶解量は飽和溶解度の60%以下、更に好ましくは4
0%の条件である。In general, the preferred amount of carbon dioxide dissolved according to the present invention is 60% or less of the saturation solubility, more preferably 4%.
The condition is 0%.
【0073】本発明のリンス工程において二酸化炭素の
溶解量は水の導電率またはpHで管理することが実用的
であるが、導電率で管理した場合、好ましい範囲は2μ
S/cm以上、40μS/cm以下、更に好ましくは4
μS/cm以上、30μS/cm以下、6μS/cm以
上、25μS/cm以下、pHで管理した場合、好まし
い範囲は3.8以上、6.0以下、更に好ましくは4.
0以上、5.0以下で本発明は効果が顕著である。導電
率の測定は導電率計等により行い、値としては温度補正
により25℃に換算した値を用いる。In the rinsing step of the present invention, it is practical to control the dissolved amount of carbon dioxide by the conductivity or pH of water, but when controlled by the conductivity, the preferable range is 2 μm.
S / cm or more, 40 μS / cm or less, more preferably 4 μS / cm or less
The range is preferably 3.8 or more and 6.0 or less, and more preferably 4.mu.S / cm or more, 30 .mu.S / cm or less, 6 .mu.S / cm or more, 25 .mu.S / cm or less and pH.
When the value is 0 or more and 5.0 or less, the effect of the present invention is remarkable. The conductivity is measured by a conductivity meter or the like, and a value converted to 25 ° C. by temperature correction is used.
【0074】水の温度は、5℃以上、90℃以下、好ま
しくは10℃以上、55℃以下、最適には15℃以上、
40℃以下が本発明には適している。The temperature of water is 5 ° C. or more and 90 ° C. or less, preferably 10 ° C. or more and 55 ° C. or less, optimally 15 ° C. or more,
40 ° C. or lower is suitable for the present invention.
【0075】二酸化炭素を水に溶解する方法はバブリン
グによる方法、隔膜を用いる方法等いずれでも良い。ま
た本発明においては、二酸化炭素を溶解した水を用いる
ことで炭酸イオンを得るために炭酸ナトリウム等の炭酸
塩を用いた場合に起こり得る、ナトリウムイオン等の陽
イオンによる基板への影響を防ぐことができる。The method of dissolving carbon dioxide in water may be any of a method by bubbling, a method using a diaphragm, and the like. Further, in the present invention, the use of water in which carbon dioxide is dissolved to prevent the effect of cations such as sodium ions on the substrate, which may occur when a carbonate such as sodium carbonate is used to obtain carbonate ions. Can be.
【0076】このようにして得られた二酸化炭素を溶解
した水により基体表面を洗浄するときは、ディッピング
により洗浄する方法、水圧を掛けて吹き付ける方法等が
ある。When the substrate surface is washed with water obtained by dissolving carbon dioxide thus obtained, there are a method of washing by dipping and a method of spraying by applying water pressure.
【0077】ディッピングにより洗浄する場合、二酸化
炭素を溶解した水を導入した水槽に基体を浸積する事が
基本であるが、その際に超音波を印加する、水流を与え
る、空気等を導入することによりバブリングを行う等を
併用すると本発明は更に効果的なものとなる。In the case of washing by dipping, it is fundamental that the substrate is immersed in a water tank into which water in which carbon dioxide is dissolved is introduced. At this time, ultrasonic waves are applied, a water flow is given, and air is introduced. The present invention is more effective when bubbling is performed in combination.
【0078】吹き付ける場合、水の圧力は、弱すぎると
本発明の効果が小さいものとなり、強すぎると得られた
電子写真感光体の画像上、特にハーフトーンの画像上で
梨肌状の模様が発生してしまう。この為、水の圧力とし
ては、2kg・f/cm2以上、300kg・f/cm
2以下、好ましくは10kg・f/cm2以上、200
kg・f/cm2以下、最適には20kg・f/cm2
以上、150kg・f/cm2以下が本発明には適して
いる。但し、本発明に於ける圧力単位kg・f/cm2
は、重力キログラム毎平方センチメートルを意味し、1
kg・f/cm2は98066.5Paと等しい。In the case of spraying, if the water pressure is too weak, the effect of the present invention is small, and if it is too strong, a pear-skin pattern is formed on the obtained electrophotographic photoreceptor image, particularly on a halftone image. Will occur. For this reason, the pressure of water is 2 kg · f / cm 2 or more and 300 kg · f / cm
2 or less, preferably 10 kg · f / cm 2 or more, 200
kg · f / cm2 or less, optimally 20 kg · f / cm2
As described above, 150 kg · f / cm 2 or less is suitable for the present invention. However, the pressure unit in the present invention is kg · f / cm2.
Means gravity kilograms per square centimeter and 1
kg · f / cm 2 is equal to 98066.5 Pa.
【0079】水を吹き付ける方法には、ポンプにより高
圧化した水をノズルから吹き付ける方法、または、ポン
プで汲み上げた水を高圧空気とノズルの手前で混合し
て、空気の圧力により吹き付ける方法等がある。As a method of spraying water, there is a method of spraying water pressurized by a pump from a nozzle, a method of mixing water pumped by a pump with high-pressure air in front of a nozzle, and spraying the mixture by the pressure of air. .
【0080】水の流量としては、発明の効果と、経済性
から、基体1本当り1リットル/min以上、200リ
ットル/min以下、好ましくは2リットル/min以
上、100リットル/min以下、最適には5リットル
/min以上、50リットル/min以下が本発明には
適している。The flow rate of water is preferably 1 liter / min or more and 200 liter / min or less, preferably 2 liter / min or more and 100 liter / min or less per substrate from the viewpoint of the effect of the invention and economy. 5 liters / min or more and 50 liters / min or less are suitable for the present invention.
【0081】二酸化酸素を溶解した水による洗浄処理の
処理時間は、10秒以上、30分以下、好ましくは20
秒以上、20分以下、最適には30秒以上、10分以下
が本発明には適している。The processing time of the cleaning treatment with water in which oxygen dioxide is dissolved is 10 seconds or more and 30 minutes or less, preferably 20 seconds or less.
A time period of not less than seconds and not more than 20 minutes, optimally not less than 30 seconds and not more than 10 minutes is suitable for the present invention.
【0082】また、本発明の乾燥工程において二酸化炭
素の溶解量は水の導電率またはpHで管理することが実
用的であるが、導電率で管理した場合、好ましい範囲は
5μS/cm以上、40μS/cm以下、更に好ましく
は6μS/cm以上、35μS/cm以下、8μS/c
m以上、30μS/cm以下、pHで管理した場合、好
ましい範囲は3.8以上、6.0以下、更に好ましくは
4.0以上、5.0以下で本発明は効果が顕著である。
導電率の測定は導電率計等により行い、値としては温度
補正により25℃に換算した値を用いる。尚、二酸化炭
素を溶解させる水の純度、二酸化炭素を溶解させ溶解方
法はリンス工程における方法と同じである。In the drying step of the present invention, it is practical to control the dissolved amount of carbon dioxide by the conductivity or pH of water, but when controlled by the conductivity, the preferable range is 5 μS / cm or more and 40 μS or less. / Cm or less, more preferably 6 μS / cm or more, 35 μS / cm or less, 8 μS / c
When the pH is controlled at m or more and 30 μS / cm or less and the pH is controlled, the preferred range is 3.8 or more and 6.0 or less, more preferably 4.0 or more and 5.0 or less, and the effect of the present invention is remarkable.
The conductivity is measured by a conductivity meter or the like, and a value converted to 25 ° C. by temperature correction is used. The purity of water for dissolving carbon dioxide and the method for dissolving and dissolving carbon dioxide are the same as those in the rinsing step.
【0083】また温水の温度は、30℃以上、90℃以
下、好ましくは35℃以上、80℃以下、最適には40
℃以上、70℃以下が本発明には適している。The temperature of the hot water is 30 ° C. or more and 90 ° C. or less, preferably 35 ° C. or more and 80 ° C. or less, and most preferably 40 ° C. or less.
A temperature between 70 ° C. and 70 ° C. is suitable for the present invention.
【0084】引き上げ乾燥する際の引き上げ速度は非常
に重要であり、好ましい範囲は100mm/min以
上、2000mm/min、更に好ましくは200mm
/min、最適には300mm/min以上、1000
mm/minが本発明には適している。The pulling speed at the time of pulling and drying is very important, and the preferable range is 100 mm / min or more, 2000 mm / min, more preferably 200 mm / min.
/ Min, optimally 300 mm / min or more, 1000
mm / min is suitable for the present invention.
【0085】二酸化酸素を溶解した水による洗浄処理か
ら堆積膜形成装置へ投入までの時間は、長すぎると本発
明の効果が小さくなってしまい、短すぎるとが安定しな
いため、1分以上、8時間以下、好ましくは2分以上、
4時間以下、最適には3分以上、2時間以下が本発明に
は適している。If the time from the cleaning treatment with water in which oxygen dioxide is dissolved to the introduction into the deposited film forming apparatus is too long, the effect of the present invention is reduced, and if it is too short, it is not stable. Time or less, preferably 2 minutes or more,
4 hours or less, optimally 3 minutes or more and 2 hours or less are suitable for the present invention.
【0086】本発明はリンス工程、乾燥工程の少なくと
もいずれか一方に珪酸塩を添加させても良い。珪酸塩を
含有した水の濃度は、濃すぎると液跡によるシミが発生
してしまい、堆積膜の剥れ等の原因となる。また、薄す
ぎると脱脂効果、皮膜効果が小さく、本発明の効果が充
分得られない。この為、水に含まれる珪酸塩のモル濃度
の範囲は、100〜10-6内好ましくは10-1〜10-5
最適には10-2〜10- 4が本発明には適している。In the present invention, a silicate may be added to at least one of the rinsing step and the drying step. If the concentration of the silicate-containing water is too high, stains due to the traces of the liquid may occur, causing the deposited film to peel off. On the other hand, if it is too thin, the degreasing effect and the film effect are small, and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained. Therefore, the scope of the molar concentration of silicate in the water is 10 0 to 10 -6 within preferably 10 -1 to 10 -5
Optimally 10 -2 to 10 - 4 are suitable for the present invention.
【0087】本発明において表面加工後の洗浄を行う場
合の、珪酸塩を含有した水のpHは、高すぎると液跡に
よるシミが発生してしまい、堆積膜の剥れ等の原因とな
る。また、薄すぎると皮膜効果が小さく、本発明の効果
が充分得られない。In the present invention, when cleaning after surface processing is performed, if the pH of water containing silicate is too high, spots due to liquid traces are generated, which causes peeling of the deposited film. On the other hand, if it is too thin, the effect of the film is small and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained.
【0088】この為、水に含まれる珪酸塩モル濃度の範
囲はpHは、8以上、12.5以下、好ましくは9以
上、12以下、最適には10以上、11.5以下が本発
明には適している。For this reason, the pH range of the silicate molar concentration contained in water is from 8 to 12.5, preferably from 9 to 12, and most preferably from 10 to 11.5. Is suitable.
【0089】本発明において、基体の材質は、アルミニ
ウムを母体としたものであれば何れも可能であるが、 アルミニウム基体が、Feを10ppm以上含有 アルミニウム基体が、Siを10ppm以上含有 アルミニウム基体が、Cuを10ppm以上含有 でFe+Si+Cuの総含有量が、0.01wt%を越
え1wt%以下含有したものが本発明には適している。In the present invention, any material can be used as the material of the substrate as long as it is made of aluminum as a base material. The aluminum substrate contains 10 ppm or more of Fe, and the aluminum substrate contains 10 ppm or more of Si. Those containing 10 ppm or more of Cu and having a total content of Fe + Si + Cu exceeding 0.01 wt% and 1 wt% or less are suitable for the present invention.
【0090】本発明において基体の加工性を向上させる
ためにマグネシウムを含有させる事は有効である。好ま
しいマグネシウムの含有量としては、0.1wt%以
上、10wt%以下、更に好ましくは0.2wt%以
上、5wt%以下の範囲である。In the present invention, it is effective to include magnesium in order to improve the workability of the substrate. The preferable magnesium content is in the range of 0.1 wt% or more and 10 wt% or less, and more preferably in the range of 0.2 wt% or more and 5 wt% or less.
【0091】更に本発明では、H、Li、Na、K、B
e、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、C
u、Ag、Zn、Cd、Hg、B、Ca、In、C、S
i、Ge、Sn、N、P、As、O、S、Se、F、C
l、Br、I等如何なる物質をアルミニウム中に含有さ
せても有効である。Further, in the present invention, H, Li, Na, K, B
e, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, C
u, Ag, Zn, Cd, Hg, B, Ca, In, C, S
i, Ge, Sn, N, P, As, O, S, Se, F, C
It is effective to include any substance such as l, Br, I in aluminum.
【0092】本発明において基体の形状は、所望によっ
て決定されるが、例えば電子写真用として使用するので
あれば、連続高速複写機の場合には、無端べルト状又は
前述した様に円筒形のものが本発明に最適である。円筒
状の場合基体の大きさには特に制限はないが、実用的に
は直径20mm以上、500mm以下、長さ10mm以
上、1000mm以下が好ましい。支持体の厚みは、所
望通りの光導電部材が形成される様に適宜決定される
が、光導電部材として可能性が要求される場合には、支
持体としての機能が十分発揮される範囲内であれば可能
な限り薄くされる。しかしながら、この様な場合にも、
支持体の製造上及び取り扱い上、更には機械的強度等の
点から、通常は10μm以上とされる。In the present invention, the shape of the substrate is determined as desired. For example, when the substrate is used for electrophotography, in the case of a continuous high-speed copying machine, it is in the form of an endless belt or a cylindrical shape as described above. Those are best suited for the present invention. In the case of a cylindrical shape, the size of the substrate is not particularly limited, but is practically preferably 20 mm or more and 500 mm or less, 10 mm or more and 1000 mm or less in diameter. The thickness of the support is appropriately determined so that a desired photoconductive member is formed. However, when the possibility of the photoconductive member is required, the thickness is within a range where the function as the support is sufficiently exhibited. If possible, make it as thin as possible. However, in such a case,
The thickness is usually 10 μm or more from the viewpoints of the production and handling of the support and the mechanical strength.
【0093】本発明で用いられる感光体は、アモルファ
スシリコン感光体、セレン感光体、硫化カドミニウム感
光体、有機物感光体等何れでも可能であるが、特にアモ
ルファスシリコン感光体等の珪素含む非単結晶感光体の
場合その効果が顕著である。The photoreceptor used in the present invention may be any of an amorphous silicon photoreceptor, a selenium photoreceptor, a cadmium sulfide photoreceptor, and an organic photoreceptor. In the case of the body, the effect is remarkable.
【0094】珪素含む非単結晶感光体の場合、堆積膜形
成時に使用される原料ガスとしてはシリコン化合物ガ
ス、例えばシラン(SiH4)、ジシラン(Si
2H6)、四弗化珪素(SiF4)、六弗化二珪素(Si2
F6)等のアモルファスシリコン形成原料ガス又はそれ
らの混合ガスが挙げられる。In the case of a non-single-crystal photoconductor containing silicon, a silicon compound gas such as silane (SiH 4 ) or disilane (Si
2 H 6 ), silicon tetrafluoride (SiF 4 ), disilicon hexafluoride (Si 2
F 6) amorphous silicon forming raw material gas or their mixed gas, and the like.
【0095】希釈ガスとしては水素(H2)、アルゴン
(Ar)、ヘリウム(He)等が挙げられる。Examples of the diluting gas include hydrogen (H 2 ), argon (Ar), helium (He) and the like.
【0096】又、堆積膜のバンドギャップ幅を変化させ
る等の特性改善ガスとして、窒素(N2)、アンモニア
(NH3)等の窒素原子を含む元素、酸素(O2)、一酸
化窒素(NO)、二酸化窒素(NO2)、酸化二窒素
(N2O)、一酸化炭素(CO)、二酸化炭素(CO2)
等酸素原子を含む元素、メタン(CH4)、エタン(C2
H6)、エチレン(C2H4)、アセチレン(C2H2)、
プロパン(C3H8)等の炭化水素、四弗化ゲルマニウム
(GeF4)、弗化窒素(NF3)等の弗素化合物または
これらの混合ガスが挙げられる。Further, as a characteristic improving gas such as changing the band gap width of the deposited film, an element containing a nitrogen atom such as nitrogen (N 2 ) and ammonia (NH 3 ), oxygen (O 2 ), nitrogen monoxide ( NO), nitrogen dioxide (NO 2 ), nitrous oxide (N 2 O), carbon monoxide (CO), carbon dioxide (CO 2 )
Elements containing isooxygen, methane (CH 4 ), ethane (C 2
H 6 ), ethylene (C 2 H 4 ), acetylene (C 2 H 2 ),
Examples thereof include hydrocarbons such as propane (C 3 H 8 ), fluorine compounds such as germanium tetrafluoride (GeF 4 ) and nitrogen fluoride (NF 3 ), and a mixed gas thereof.
【0097】また、本発明に於ては、ドーピングを目的
としてジボラン(B2H6)、フッ化ほう素(BF3)、
ホスフィン(PH3)等のドーパントガスを同時に放電
空間に導入しても本発明は同様に有効である。In the present invention, diborane (B 2 H 6 ), boron fluoride (BF 3 ),
The present invention is similarly effective when a dopant gas such as phosphine (PH 3 ) is simultaneously introduced into the discharge space.
【0098】本発明の電子写真感光体では、基体上に堆
積した堆積膜の総膜厚はいずれでも良いが、5μm以
上、100μm以下、更に好ましくは10μm以上、7
0μm以下、最適には15μm以上、50μm以下に於
て、電子写真感光体として特に良好な画像を得る事がで
きた。In the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the total thickness of the deposited film deposited on the substrate may be any, but is preferably 5 μm to 100 μm, more preferably 10 μm to 7 μm.
When the thickness is 0 μm or less, optimally 15 μm or more and 50 μm or less, a particularly good image as an electrophotographic photosensitive member can be obtained.
【0099】本発明では、堆積膜の堆積中の放電空間の
圧力がいずれの領域でも効果が認められたが、特に0.
5mtorr以上、100mtorr以下、好ましくは
1mtorr以上、50mtorr以下に於いて、放電
の安定性及び堆積膜の均一性の面で特に良好な結果が再
現性良く得られた。In the present invention, the effect of the pressure in the discharge space during the deposition of the deposited film was observed in any region.
At a pressure of 5 mtorr or more and 100 mtorr or less, preferably 1 mtorr or more and 50 mtorr or less, particularly good results were obtained with good reproducibility in terms of discharge stability and uniformity of the deposited film.
【0100】本発明において、堆積膜の堆積時の基体温
度は、100℃以上、500℃以下の範囲で有効である
が、特に150℃以上、450℃以下、好ましくは20
0℃以上、400℃以下、最適には250℃以上、35
0℃以下に於で著しい効果が確認された。In the present invention, the substrate temperature at the time of depositing the deposited film is effective in the range of 100 ° C. or more and 500 ° C. or less, but is particularly 150 ° C. or more and 450 ° C. or less, preferably 20 ° C. or less.
0 ° C to 400 ° C, optimally 250 ° C to 35 ° C
A remarkable effect was confirmed below 0 ° C.
【0101】本発明において、基体の加熱手段として
は、真空仕様の発熱体であればよく、より具体的にはシ
ース状ヒーターの巻き付けヒーター、板状ヒーター、セ
ラミックスヒーター等の電気抵抗発熱体、ハロゲンラン
プ、赤外線ランプ等の熱放射ランプ発熱体、液体、気体
等を温媒とし熱交換手段による発熱体等が挙げられる。
加熱手段の表面材質は、ステンレス、二ッケル、アルミ
ニウム、銅等の金属類、セラミックス、耐熱性高分子樹
脂等を使用することができる。また、それ以外にも、反
応容器とは別に加熱専用の容器を設け、加熱した後、反
応容器内に真空中で基体を搬送する等の方法も使用する
ことができる。以上の手段を単独にまたは併用して用い
ることが本発明では可能である。In the present invention, the heating means for the substrate may be a heating element of a vacuum specification, and more specifically, an electric resistance heating element such as a winding heater of a sheath heater, a plate heater, a ceramic heater, or a halogen. Examples of the heating element include a heat radiation lamp heating element such as a lamp and an infrared lamp, and a heating element using a liquid or a gas as a heating medium and a heat exchange unit.
As the surface material of the heating means, metals such as stainless steel, nickel, aluminum, and copper, ceramics, heat-resistant polymer resins, and the like can be used. In addition, other methods such as providing a dedicated heating vessel separately from the reaction vessel, heating, and then transporting the substrate into the reaction vessel in a vacuum can be used. It is possible in the present invention to use the above means alone or in combination.
【0102】本発明において、プラズマを発生させるエ
ネルギーは、DC、RF、マイクロ波等いずれでも可能
であるが、特に、プラズマの発生のエネルギーにマイク
ロ波を用いた場合、基体の表面欠陥による異常成長が顕
著に現れ且つ、吸着した水分にマイクロ波が吸収され、
界面の変化がより顕著なものとなるため、本発明の効果
がより顕著なものとなる。またVHF帯を使用すること
も本発明では好ましぃ。In the present invention, the energy for generating plasma may be any of DC, RF, microwave, etc. In particular, when microwave is used as the energy for generating plasma, abnormal growth due to surface defects of the substrate Appears remarkably, and the absorbed moisture absorbs the microwave,
Since the change in the interface becomes more remarkable, the effect of the present invention becomes more remarkable. It is also preferred in the present invention to use the VHF band.
【0103】本発明において、プラズマ発生のためにマ
イクロ波を用いる場合、マイクロ波電力は、放電を発生
させることができればいずれでも良いが、100W以
上、10kW以下、好ましくは500W以上、4kW以
下が本発明を実施するに当たり適当である。In the present invention, when microwaves are used for plasma generation, any microwave power may be used as long as discharge can be generated, but the power is preferably 100 W or more and 10 kW or less, preferably 500 W or more and 4 kW or less. Appropriate for practicing the invention.
【0104】本発明において、堆積膜形成中に放電空間
に電圧(バイアス電圧)を印加することは有効であり、
少なくとも基体に陽イオンが衝突する方向に電界が掛か
ることが好ましい。なおDC成分の電圧が1V以上、5
00V以下、好ましくは5V以上、100V以下である
バイアス電圧を堆積膜形成中に印加することが望まし
い。In the present invention, it is effective to apply a voltage (bias voltage) to the discharge space during the formation of the deposited film.
It is preferable that an electric field is applied at least in a direction in which cations collide with the substrate. Note that the DC component voltage is 1 V or more and 5
It is desirable to apply a bias voltage of 00 V or less, preferably 5 V or more and 100 V or less during formation of the deposited film.
【0105】本発明において、反応容器内に誘電体窓を
用いてマイクロ波導入する場合、誘電体窓の材質として
はアルミナ(Al203)、窒化アルミニウム(Al
N)、窒化ボロン(BN)、窒化珪素(SiN)、炭化
珪素(SiC)、酸化珪素(SiO2)、酸化ベリリウ
ム(BeO)、テフロン、ポリスチレン等マイクロ波の
損失の少ない材料が通常使用される。In the present invention, when microwaves are introduced into the reaction vessel using a dielectric window, the dielectric window may be made of alumina (Al 2 O 3 ), aluminum nitride (Al 2 O 3 ).
N), boron nitride (BN), silicon nitride (SiN), silicon carbide (SiC), silicon oxide (SiO 2 ), beryllium oxide (BeO), Teflon, polystyrene, and other materials with low microwave loss are usually used. .
【0106】複数の基体で放電空間を取り囲む構成の堆
積膜形成方法に於いては基体の間隔は1mm以上、50
mm以下が好ましい。基体の数は放電空間を形成できる
ならばいずれでも良いが3本以上、より好ましくは4本
以上が適当である。In the method of forming a deposited film in which a discharge space is surrounded by a plurality of substrates, the distance between the substrates is 1 mm or more, and
mm or less is preferable. The number of substrates is not particularly limited as long as a discharge space can be formed, but is preferably 3 or more, more preferably 4 or more.
【0107】本発明は、いずれの電子写真感光体製造方
法にも適用が可能であるが、特に、放電空間を囲むよう
に基体を設け、少なくとも基体の一端側から導波管によ
りマイクロ波を導入する構成により堆積膜を形成する場
合大きな効果がある。The present invention can be applied to any electrophotographic photosensitive member manufacturing method. In particular, a base is provided so as to surround a discharge space, and a microwave is introduced from at least one end of the base by a waveguide. When a deposited film is formed by such a configuration, there is a great effect.
【0108】本発明の方法で製造された電子写真感光体
は、電子写真複写機に利用するのみならず、レーザービ
ームプリンター、CRTプリンター、LEDプリンタ
ー、液晶プリンター、レーザー製版機などの電子写真応
用分野にも広く用いることができる。The electrophotographic photosensitive member manufactured by the method of the present invention is used not only for electrophotographic copying machines but also for electrophotographic applications such as laser beam printers, CRT printers, LED printers, liquid crystal printers, and laser plate making machines. Can also be widely used.
【0109】以下、本発明の実験例を説明するが、本発
明はこれらにより何ら限定されるものではない。 〈実験例1〉Siが0.05wt%、Feが0.03w
t%,Cuが0.01wt%のアルミニウムよりなる直
径108mm、長さ358mm、肉厚5mmの円筒状基
体を、前述の本発明による電子写真感光体の製造方法の
手順の一例と同様の手順で表面の切削を行った。なお本
発明で示す基体上に存在する全ての原子の存在比はX線
光電子分光法(XPS)を用い、X線アノードをMg、
15KV、400Wでまたエネルギー分解能を0.98
eV(Ag3d5/2)で真空度を1×10-9Torr
以下の条件テで測定されたものである。Hereinafter, experimental examples of the present invention will be described, but the present invention is not limited thereto. <Experimental Example 1> 0.05 wt% of Si and 0.03 w of Fe
A cylindrical substrate having a diameter of 108 mm, a length of 358 mm, and a thickness of 5 mm made of aluminum having t% and Cu of 0.01 wt% is subjected to the same procedure as the above-described example of the procedure of the method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member according to the present invention. Surface cutting was performed. The abundance ratio of all atoms present on the substrate shown in the present invention was determined by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) using an X-ray anode of Mg,
Energy resolution of 0.98 at 15KV, 400W
eV (Ag3d5 / 2) to reduce the degree of vacuum to 1 × 10 −9 Torr
It was measured under the following conditions.
【0110】切削終了15分後に図1に示す本発明の表
面処理装置により、表1に示す条件にて洗剤(非イオン
性界面活性剤)により脱脂、リンス、乾燥を行なった。
その際、表3に示す様にインヒビターを入れる槽を変更
させた。(尚:インヒビターは日本化学工業(株)製A
珪酸カリウム(商品名)を用いた。A珪酸カリウムは1
Kg中に400gの珪酸カリウム(K2O・3SiO2)
が溶解した溶液である。)またA珪酸カリウムが溶解し
た水のpHの値は11.0であった。 その時、各表面
処理基体について、表面処理に生じている表面欠陥(ス
ジ状キズ等)を目視及び金属顕微鏡により検査した。結
果を同じく表3に示す。Fifteen minutes after the end of cutting, degreasing, rinsing, and drying were performed with a detergent (nonionic surfactant) under the conditions shown in Table 1 using the surface treatment apparatus of the present invention shown in FIG.
At that time, the tank in which the inhibitor was placed was changed as shown in Table 3. (Note: Inhibitor is A manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd.
Potassium silicate (trade name) was used. A potassium silicate is 1
400 g of potassium silicate (K 2 O.3SiO 2 ) in Kg
Is a dissolved solution. ) The pH value of the water in which potassium silicate A was dissolved was 11.0. At that time, for each surface-treated substrate, surface defects (streak-like flaws, etc.) occurring in the surface treatment were inspected visually and with a metallographic microscope. The results are also shown in Table 3.
【0111】次に、これらの表面処理を施した基体上に
図3に示す堆積膜形成装置を用い表2の条件で、基体上
に、アモルファスシリコン堆積膜の形成を行い、図6に
示す層構成の阻止型電子写真感光体を作製した。図6に
於て601、602、603及び604はそれぞれ、ア
ルミニウム基体、電荷注入阻止層、光導電層及び表面層
を示している。Next, an amorphous silicon deposited film was formed on the substrate subjected to the surface treatment under the conditions shown in Table 2 using the deposited film forming apparatus shown in FIG. A blocking type electrophotographic photosensitive member having the above configuration was produced. In FIG. 6, reference numerals 601, 602, 603 and 604 indicate an aluminum substrate, a charge injection blocking layer, a photoconductive layer and a surface layer, respectively.
【0112】この様にして作成した電子写真感光体の電
子写真的特性の評価を以下の様に行なった。The electrophotographic characteristics of the electrophotographic photosensitive member thus prepared were evaluated as follows.
【0113】作成した電子写真感光体を実験用に予めプ
ロセススピードを200〜800mmsecの範囲で任
意に変更し、帯電器に6〜7kVの電圧を印加してコロ
ナ帯電を行ない、788nmのレーザー像露光にて電子
写真感光体表面に潜像を形成した後通常の複写プロセス
により転写紙上に画像を作製できるように改造を行った
キヤノン社製複写機、NP6650にいれ、黒ポチ、画
像欠陥、電子写真特性(感度)の総合的な評価と環境性
の評価をおこなった。その結果を同じく表3に示す。 〈黒ポチ、画像欠陥の評価〉プロセススピードを変え全
面ハーフトーン原稿及び文字原稿を原稿台に置いてコピ
ーした時に得られた画像サンプル中で一番画像欠陥の多
く現れる画像サンプルを選び評価を行った。評価の方法
としては画像サンプル上を拡大鏡で観察し同―面積内に
ある自点の状態により評価を行った。The process speed of the electrophotographic photosensitive member thus prepared was arbitrarily changed in advance within the range of 200 to 800 mmsec for experiments, a voltage of 6 to 7 kV was applied to the charger, corona charging was performed, and laser image exposure at 788 nm was performed. After a latent image was formed on the surface of the electrophotographic photoreceptor, a copy machine manufactured by Canon Inc., which was modified so that an image could be formed on transfer paper by a normal copying process, was placed in NP6650, black spots, image defects, electrophotography Comprehensive evaluation of characteristics (sensitivity) and evaluation of environmental properties were performed. Table 3 also shows the results. <Evaluation of black spots and image defects> Select and evaluate the image sample with the most image defects among the image samples obtained when the process speed was changed and the full-halftone original and character original were copied on the platen. Was. As an evaluation method, the image sample was observed with a magnifying glass, and the evaluation was performed based on the state of the own point within the same area.
【0114】 ◎・・・良好。A: Good.
【0115】 ○・・・一部微少な欠陥あるが全く問題無し。・ ・ ・: Some minor defects but no problem.
【0116】 △・・・全面に微少な欠陥があるが実用上支障無し。Δ: There are slight defects on the entire surface, but there is no problem in practical use.
【0117】 ×・・・全面に大きな欠陥があり問題あり。 〈環境性の評価〉 ○・・・前処理工程にオゾン層の破壊に係わる物質を用
いない。×: There is a problem with a large defect on the entire surface. <Evaluation of environmental properties> ○ ・ ・ ・ Do not use substances related to ozone layer destruction in the pretreatment process.
【0118】 ×・・・前処理にオゾン層の破壊に係わる物質を用いて
いる。×: A substance relating to destruction of the ozone layer is used in the pretreatment.
【0119】[0119]
【表1】 [Table 1]
【0120】[0120]
【表2】 [Table 2]
【0121】[0121]
【表3】 表3より界面活性剤中、または界面活性剤直後にインヒ
ビターを入れる事により良好な結果が得られた。 〈比較実験例1〉洗浄工程にインヒビターを用いなかっ
た以外は実験例1と同様の方法にて洗浄を行ない、その
後同様の方法にて阻止型電子写真感光体を作成し同様の
評価を行なった。その結果を比較実験傾幅として同じく
表3に示す。 〈従来例1〉実験例1と同様のアルミニウムの円筒状基
体を使用し表面の切削を行なった後、図2に示す従来の
基体表面洗浄装置により表4の条件で脱脂及び洗浄の処
理を行った。図2に示す基体洗浄装置は、処理槽202
と基体搬送機構203よりなっている。処理槽202
は、基体投入台211、基体洗浄槽221、基体搬出台
251よりなっている。洗浄槽221は液の温度を一定
に保つための温度調節装置(図示せず)が付いている。
搬送機構203は、搬送レール265と搬送アーム26
1よりなり、搬送アーム261は、レール265上を移
動する移動機構262、基体201を保持するチャッキ
ング機構263、及びこのチャツキング機構263を上
下させるためのエアーシリンダー264よりなってい
る。[Table 3] From Table 3, good results were obtained by adding the inhibitor in the surfactant or immediately after the surfactant. <Comparative Experimental Example 1> Washing was carried out in the same manner as in Experimental Example 1 except that no inhibitor was used in the washing step. Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member was prepared and evaluated in the same manner. . The results are also shown in Table 3 as a comparative experiment gradient. <Conventional Example 1> After the surface was cut using the same aluminum cylindrical substrate as in Experimental Example 1, degreasing and cleaning were performed under the conditions shown in Table 4 using the conventional substrate surface cleaning apparatus shown in FIG. Was. The substrate cleaning apparatus shown in FIG.
And a substrate transport mechanism 203. Processing tank 202
Comprises a substrate loading table 211, a substrate cleaning tank 221, and a substrate discharging table 251. The cleaning tank 221 is provided with a temperature controller (not shown) for keeping the temperature of the liquid constant.
The transfer mechanism 203 includes a transfer rail 265 and a transfer arm 26.
The transfer arm 261 includes a moving mechanism 262 that moves on the rail 265, a chucking mechanism 263 that holds the base 201, and an air cylinder 264 that moves the chucking mechanism 263 up and down.
【0122】[0122]
【表4】 切削後、投入台上211に置かれた基体201は、搬送
機構203より洗浄槽221に搬送される。洗浄槽22
1中のトリクロルエタン(商品名:エターナVG 旭化
成エ業社製)221より表面に付着している切削油及び
切り粉を除去するための洗浄が行なわれる。[Table 4] After cutting, the substrate 201 placed on the loading table 211 is transported to the cleaning tank 221 by the transport mechanism 203. Cleaning tank 22
Washing is performed to remove cutting oil and chips adhering to the surface from trichloroethane (trade name: Eterna VG, manufactured by Asahi Kasei Corporation) 221 in 1.
【0123】洗浄後、基体201は、搬送機構203に
より搬出台251に運ばれる。After the cleaning, the substrate 201 is carried to the carry-out table 251 by the carrying mechanism 203.
【0124】更にその後、実験例1と同様の方法で電子
写真感光体を作製した。Thereafter, an electrophotographic photosensitive member was produced in the same manner as in Experimental Example 1.
【0125】この様にして作成した電子写真感光体を実
験例2と同様の方法で評価した結果を従来例1として同
じく表3に示す。このように脱脂洗浄工程とリンス工程
の少なくともいずれか一方にインヒビター(珪酸塩)が
含まれている場合、電子感光体の性能が良好であるいう
結果があらわれた。 〈実験例2〉実験例1の表1に示すリンス及び乾燥工程
に表5に示す水を用いた以外は実験例1と同様の方法に
て基体上に阻止型電子写真感光体を作成し、その後実験
例1と同様の方法にて評価を行なった。その結果を表6
に示す。このように脱脂洗浄工程とリンス工程の少なく
ともいずれか一方にインヒビター(珪酸塩)が含まれて
いる場合、電子感光体の性能が良好であるいう結果があ
らわれた。Table 3 shows the results of evaluation of the electrophotographic photosensitive member thus produced in the same manner as in Experimental Example 2 as Conventional Example 1. As described above, when the inhibitor (silicate) is contained in at least one of the degreasing and washing step and the rinsing step, the result that the performance of the electrophotographic photoreceptor is good has appeared. <Experimental Example 2> A blocking type electrophotographic photoreceptor was prepared on a substrate in the same manner as in Experimental Example 1 except that the rinsing and drying steps shown in Table 1 of Experimental Example 1 were used, and water was used. Thereafter, evaluation was performed in the same manner as in Experimental Example 1. Table 6 shows the results.
Shown in As described above, when the inhibitor (silicate) is contained in at least one of the degreasing and washing step and the rinsing step, the result that the performance of the electrophotographic photoreceptor is good has appeared.
【0126】[0126]
【表5】 [Table 5]
【0127】[0127]
【表6】 〈実験例3〉実験例1と同様の基体を用い、表7に示す
ように脱脂洗浄工程、リンス工程、乾燥工程の各工程に
おいて界面活性剤の使用、水温、処理時間、超音波処理
の有無、インヒビターである珪酸塩の添加をかえて処理
をを行なった時、表8に示す様に導入する珪酸塩の種類
を変更させた。その後実験例1と同様の方法にて基体上
に阻止型電子写真感光体を作成し同様の方法にて測定を
行なった。その結果を同じく表8に示す。[Table 6] <Experimental Example 3> Using the same substrate as in Experimental Example 1, as shown in Table 7, in each of the degreasing and washing steps, the rinsing step, and the drying step, use of a surfactant, water temperature, treatment time, and presence or absence of ultrasonic treatment When the treatment was carried out with the addition of the silicate as an inhibitor, the type of silicate to be introduced was changed as shown in Table 8. Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member was formed on the substrate in the same manner as in Experimental Example 1, and the measurement was performed in the same manner. Table 8 also shows the results.
【0128】[0128]
【表7】 [Table 7]
【0129】[0129]
【表8】 表8より明らかな様にいずれの珪酸塩を用いても良好な
結果が得られたが特に珪酸カリウムが一番良好な結果を
得る事が出来た。 〈実験例4〉実験例1と同様の基体を用い、実験例3と
同じく表7に示す条件にて処理を行なった。その時に導
入する珪酸カリウムのモル濃度を表9に示す様に変化さ
せ、洗浄後の基体表面を肉眼でシミの状態を観察した。
その後、実験例1と同様の方法にて阻止型電子写真感光
体を作製し実験例1と同様の方法にて評価を行なった。
その結果を同じく表9に示す。 〈外観(シミ)の確認〉洗浄後の基体表面に強露光の光
を反射させ肉眼で確認出来る基体上のシミを確認した。[Table 8] As is clear from Table 8, good results were obtained using any of the silicates, but the best results were obtained especially with potassium silicate. <Experimental Example 4> The same substrate as in Experimental Example 1 was used, and the treatment was performed under the conditions shown in Table 7 as in Experimental Example 3. The molar concentration of potassium silicate introduced at that time was changed as shown in Table 9, and the stained state was observed with the naked eye on the substrate surface after washing.
Thereafter, a blocking type electrophotographic photoreceptor was produced in the same manner as in Experimental Example 1 and evaluated in the same manner as in Experimental Example 1.
Table 9 also shows the results. <Confirmation of Appearance (Stain)> Light of strong exposure was reflected on the surface of the substrate after washing, and a stain on the substrate that could be visually confirmed was confirmed.
【0130】 ○・・・シミが全く無く良好 △・・・シミが大変薄く全く問題ない。・ ・ ・: Good without any stains Δ: very thin, no problem at all
【0131】 ×・・・シミがはっきりと認められる。×: Spots are clearly observed.
【0132】[0132]
【表9】 表9の結果より水に溶解する珪酸カリウムのモル濃度の
範囲が10-2〜10-4において良好な結果が得られた。 〈実験例5〉Al基体に含まれるSiの含有量を表10
に示す様に変化させたアルミニウムを用い、実験例1と
同様の方法にて脱脂及び洗浄を行なった。その後、実験
例1と同等の阻止型電子写真感光体を作製し、実験例1
と同様の評価を行なった。その結果を同様に表10に示
す。[Table 9] From the results in Table 9, good results were obtained when the molar concentration of potassium silicate dissolved in water was in the range of 10 @ -2 to 10 @ -4. <Experimental example 5> Table 10 shows the content of Si contained in the Al base.
The degreasing and washing were performed in the same manner as in Experimental Example 1 using aluminum changed as shown in FIG. Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member equivalent to that of Experimental Example 1 was manufactured.
The same evaluation was performed. Table 10 also shows the results.
【0133】[0133]
【表10】 表10より明らかな様にAl基体に含まれるSiの重量
パーセント濃度が0.001wt%≦Si≦1wt%に
て含有量が変化しても本発明は有効で有る。 〈実験例6〉Al基体に含まれるFeの含有量を変化さ
せた以外は、実験例5と同様の方法にて阻止型電子写真
感光体を作製し、同様の評価を行なった。その結果を同
様に表11に示す。[Table 10] As is evident from Table 10, the present invention is effective even when the content of Si in the Al substrate changes by 0.001 wt% ≦ Si ≦ 1 wt%. <Experimental Example 6> A blocking type electrophotographic photosensitive member was manufactured in the same manner as in Experimental Example 5 except that the content of Fe contained in the Al substrate was changed, and the same evaluation was performed. Table 11 also shows the results.
【0134】[0134]
【表11】 表11より明らかな様にAl基体に含まれるFeの重量
パーセント濃度が0.001wt%≦Fe≦1wt%の
範囲において良好な結果を示した。 〈実験例7〉Al基体に含まれるCuの含有量を変化さ
せた以外は実験例5と同様の方法にて阻止型電子写真感
光体を作製し、同様の評価を行なった。その結果を同様
に表12に示す。[Table 11] As is clear from Table 11, good results were shown when the weight percent concentration of Fe contained in the Al substrate was in the range of 0.001 wt% ≦ Fe ≦ 1 wt%. <Experimental Example 7> A blocking type electrophotographic photosensitive member was prepared in the same manner as in Experimental Example 5 except that the content of Cu contained in the Al substrate was changed, and the same evaluation was performed. Table 12 also shows the results.
【0135】[0135]
【表12】 表12より明らかな様にAl基体に含まれるCuの各重
量パーセント濃度が0.001wt%≦Cu≦1.0w
t%の範囲において良好な結果を示した。 〈実験例8〉Al基体に含まれるSi、Fe、Cuの各
含有量を表10に示す様に変化させたアルミニウムを用
い、実験例1と同様の方法にて脱脂及び洗浄を行なっ
た。その後、実験例1と同等の阻止型電子写真感光体を
作製し、実験例1と同様の評価を行なった。その結果を
同様に表13に示す。[Table 12] As is clear from Table 12, each weight percent concentration of Cu contained in the Al substrate is 0.001 wt% ≦ Cu ≦ 1.0 w
Good results were shown in the range of t%. <Experimental Example 8> Degreasing and washing were performed in the same manner as in Experimental Example 1 using aluminum in which the contents of Si, Fe, and Cu contained in the Al substrate were changed as shown in Table 10. Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member equivalent to that of Experimental Example 1 was manufactured, and the same evaluation as in Experimental Example 1 was performed. Table 13 also shows the results.
【0136】[0136]
【表13】 表13より明らかな様にAl基体に含まれるSi,F
e,Cuの総重量パーセント濃度が0.01wt%、<
Si+Fe+Cu≦1wt%の範囲で更に本発明は有効
で有る。 〈実験例9〉実験例1と同等の基体を用い、表14に示
す条件にて処理温度と時間を変化させ皮膜の膜厚を変化
させ、その後実験例1と同等の阻止型電子写真感光体を
作成し同様の評価を行なった。その結果を表15に示
す。[Table 13] As is clear from Table 13, Si, F contained in the Al substrate
e, the total weight percent concentration of Cu is 0.01 wt%, <
The present invention is more effective in the range of Si + Fe + Cu ≦ 1 wt%. <Experimental Example 9> Using the same substrate as in Experimental Example 1, changing the processing temperature and time under the conditions shown in Table 14 to change the film thickness of the film, and thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member equivalent to Experimental Example 1 And the same evaluation was performed. Table 15 shows the results.
【0137】[0137]
【表14】 [Table 14]
【0138】[0138]
【表15】 〈実験例10〉実験例1と同様の基体を用い、表16に
示す条件にて処理温度と時間を変化させ表16に示す条
件にて皮膜を形成し、その時のAlに対するSiとOの
それぞれの組成比率を変化させた。その後、実験例1と
同等の阻止型電子写真感光体を作成し評価を行なった。
その結果を表17に示す。その時の組成比率は実験例1
に示したXPS法によって測定された値である。[Table 15] <Experimental example 10> Using the same substrate as in Experimental example 1, the treatment temperature and time were changed under the conditions shown in Table 16, and a film was formed under the conditions shown in Table 16. Was changed. Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member equivalent to that of Experimental Example 1 was prepared and evaluated.
Table 17 shows the results. The composition ratio at that time is experimental example 1.
Is a value measured by the XPS method shown in FIG.
【0139】[0139]
【表16】 [Table 16]
【0140】[0140]
【表17】 Siが0.1以上、1.0以下、Oが1以上、5以下の
範囲に於て良好な結果を示した。 〈実験例11〉実験例1と同様の基体を用い、表18に
示す条件にて脱脂洗浄しその後の洗浄(リンス)にて吹
き付ける圧力を変化させた。その後、実験例1と同等の
阻止型電子写真感光体を作成し評価を行なった。その結
果を表19に示す。 〈外観観察評価〉洗浄後の基体表面に強露光の光を反射
させ肉眼で確認出来る基体上のシミ及び基体表面の面荒
れの状況を総合的に評価した。[Table 17] Good results were obtained when Si was 0.1 or more and 1.0 or less and O was 1 or more and 5 or less. <Experimental example 11> Using the same substrate as in Experimental example 1, degreased cleaning was performed under the conditions shown in Table 18, and the spraying pressure was changed in the subsequent cleaning (rinsing). Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member equivalent to that of Experimental Example 1 was prepared and evaluated. Table 19 shows the results. <Evaluation of Appearance Observation> Comprehensively evaluated the condition of spots on the substrate and surface roughness of the substrate which can be visually confirmed by reflecting light of strong exposure on the substrate surface after washing.
【0141】 ◎・・・非常に良好 ○・・・良好 △・・・実用上問題ない。A: Very good B: Good B: No problem in practical use.
【0142】[0142]
【表18】 [Table 18]
【0143】[0143]
【表19】 表19より明らかな様に2kg・f/cm2〜300k
g・f/cm2の範囲、特に20kg・f/cm2〜1
50kg・f/cm2の圧力の範囲が非常に良好な結果
となった。[Table 19] 2kg ・ f / cm2 ~ 300k
g · f / cm 2, especially 20 kg · f / cm 2 to 1
A pressure range of 50 kg · f / cm 2 gave very good results.
【0144】[0144]
【実施例】〈実施例1〉Siが0.03wt%、Feが
0.05wt%、Cuが0.02wt%含有したアルミ
ニウムよりなる直径108mm、長さ358mm、肉厚
5mmの円筒状基体を、前述の本発明による電子写真感
光体の製造方法の手順の―例と同様の手順で表面の切削
を行い、切削終了15分後に表20に示す条件により基
体表面の脱脂及びリンス及び乾燥をを行った。その後、
図3に示す堆積膜形成装置を用い、表21の条件で、基
体上に、図6−Aに示す層構成の阻止型電子写真感光体
を作製した。尚この時のAl−Si−O皮膜としては
1:0.25:3の組成で膜厚75Aとした。<Example 1> A cylindrical substrate made of aluminum containing 0.03 wt% of Si, 0.05 wt% of Fe, and 0.02 wt% of Cu, having a diameter of 108 mm, a length of 358 mm, and a wall thickness of 5 mm was used. The surface was cut in the same procedure as in the example of the above-described method of manufacturing the electrophotographic photoreceptor according to the present invention, and after 15 minutes from the end of cutting, the substrate surface was degreased, rinsed and dried under the conditions shown in Table 20. Was. afterwards,
Using a deposition film forming apparatus shown in FIG. 3, a blocking type electrophotographic photosensitive member having a layer constitution shown in FIG. In this case, the Al—Si—O film had a composition of 1: 0.25: 3 and a film thickness of 75A.
【0145】この様にして作成した電子写真感光体の電
子写真的特性の評価を以下のようにして行った。但し、
同―成膜条件で作製した感光体を各10本づつ評価を行
った。The electrophotographic characteristics of the electrophotographic photosensitive member thus prepared were evaluated as follows. However,
The same evaluation was performed for each of 10 photoconductors manufactured under the same film forming conditions.
【0146】作成した電子写真感光体の外観を目視によ
り膜はがれを観察し評価した後、実験用に予めプロセス
スピードを200〜800mm/secの範囲で任意に
変更し、帯電器に6〜7kvの電圧を印加してコロナ帯
電を行ない、788nmのレーザー像露光にて電子写真
感光体表面に潜像を形成した後通常の複写プロセスによ
り転写紙上に画像を作製できるように改造を行ったキヤ
ノン社製複写機、NP6650にいれ、画像性の評価を
行った。The appearance of the produced electrophotographic photosensitive member was visually observed and the film peeling was observed and evaluated. After that, the process speed was arbitrarily changed in the range of 200 to 800 mm / sec for experiments, and the charging device was charged with 6 to 7 kv. A voltage was applied to perform corona charging, a latent image was formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member by laser image exposure at 788 nm, and then modified so that an image could be formed on transfer paper by a normal copying process. It was placed in a copying machine, NP6650, and evaluated for image quality.
【0147】[0147]
【表20】 [Table 20]
【0148】[0148]
【表21】 [Table 21]
【0149】[0149]
【表22】 画像評価として以下の四つの方法を行った。その結果を
表22に示す。 〔画像欠陥の評価〕プロセススピードを変え全面ハーフ
トーン原稿及び文字原稿を原稿台に置いてコピーした時
に得られた画像サンプル中で一番画像欠陥の多く現れる
画像サンプルを選び評価を行った。評価の方法としては
画像サンプル上を拡大鏡で観察し同一面積内にある白点
の状態により評価を行った。[Table 22] The following four methods were used for image evaluation. Table 22 shows the results. [Evaluation of Image Defects] An image sample having the largest number of image defects among image samples obtained when the process speed was changed and the entire halftone original and the text original were placed on the original plate and copied was evaluated. As an evaluation method, the image sample was observed with a magnifying glass, and evaluation was performed based on the state of white spots within the same area.
【0150】 ◎・・・良好。A: Good.
【0151】 ○・・・一部微少な白点有り。・ ・ ・: There are some minute white spots.
【0152】 △・・・全面に微少な白点があるが文字の認識には支障
無し。Δ: There are minute white spots on the entire surface, but there is no problem in character recognition.
【0153】 ×・・・白点が多い為一部文字が読みにくい部分が有
る。 〔黒しみの評価〕プロセススピードを変え全面ハーフト
ーン原稿を原稿台に置いて得らた画像の平均濃度が0.
4±0.1になるように画像を出力した。このようにし
て得られた画像サンプル中で一番しみの目立つものを選
び評価を行った。評価の方法としてはこれらの画像を目
より40cm離れたところで観察して、黒しみが認めら
れるか調べ、以下の基準で評価を行った。C: Some characters are difficult to read due to many white spots. [Evaluation of black spots] The average density of an image obtained by changing the process speed and placing a halftone original on the entire surface on a platen is 0.
Images were output to be 4 ± 0.1. Among the image samples obtained in this way, the most noticeable one was selected and evaluated. As a method of evaluation, these images were observed at a distance of 40 cm from the eyes to check whether black spots were observed, and evaluated according to the following criteria.
【0154】 ◎・・・いずれのコピー上にも黒しみは認められない。A: No black spot is observed on any copy.
【0155】 ○・・・わずかに黒しみが認められるものがあった。・ ・ ・: Some black spots were observed.
【0156】しかし軽微であり全く問題無し。However, there was no problem at all.
【0157】 △・・・いずれのコピー上にも黒しみが認められる。Δ: Black spots are observed on all copies.
【0158】しかし軽微であり実用上支障ない。However, it is slight and does not hinder practical use.
【0159】 ×・・・全数のコピー上に大きな黒しみが認められる。 〔電子写真特性1の評価〕通常のプロセススピードで同
一の帯電電圧を与えたときに現像位置で得られる感光体
の表面電位を帯電能として相対値により評価する。但
し、従来例1で得られた電子写真感光体の帯電能を10
0%としている。 〔電子写真特性2の評価〕通常のプロセススピードで同
一の帯電電圧を与えた後、光を照射し一定の電位に下が
った時に得られる光量を感度として相対値により評価す
る。但し、従来例1で得られた電子写真感光体の帯電能
を100%としている。 〔コストの評価〕 ◎・・・安価に作製出来る ○・・・従来と同等 ×・・・コストアップになる 〈実施例2〉実施例1と同様の基体を用い、実施例1と
同様の方法にて作製された阻止型電子写真感光体を下記
に示す方法にて評価した結果を表23に示す。また比較
例2として従来例1で示した方法にて処理後、阻止型電
子写真感光体を作製した。画像評価には以下の三つの方
法を行った。その結果を表23に示す。C: Large black spots are observed on all copies. [Evaluation of Electrophotographic Characteristics 1] The surface potential of the photoconductor obtained at the developing position when the same charging voltage is applied at a normal process speed is evaluated as a relative value as a charging ability. However, the charging ability of the electrophotographic photosensitive member obtained in Conventional Example 1 was 10
0%. [Evaluation of Electrophotographic Characteristics 2] After applying the same charging voltage at a normal process speed, light is irradiated and the amount of light obtained when the potential drops to a certain potential is evaluated as a relative value as sensitivity. However, the charging ability of the electrophotographic photosensitive member obtained in Conventional Example 1 is set to 100%. [Evaluation of cost] ・ ・ ・: Can be manufactured inexpensively. 同等: Same as before. ・ ・ ・: Increase in cost. <Example 2> Using the same base as in Example 1, and using the same method as in Example 1. Table 23 shows the results of evaluating the inhibition type electrophotographic photosensitive member produced in the above method by the following method. Further, as a comparative example 2, after processing by the method shown in the conventional example 1, a blocking type electrophotographic photosensitive member was produced. The following three methods were used for image evaluation. Table 23 shows the results.
【0160】[0160]
【表23】 〔すべり性の評価〕ブレートに任意の荷重をかけてピエ
ゾ素子を用い、ドラムの回転開始前後でのブレードがド
ラムに引っ張られる力=摩擦力を検出する。荷重と回転
開始直前の“最大静止摩擦力”から「最大静止摩擦係
数」を、同様に定常回転中の“動摩擦力”から「動摩擦
係数」を算出した時に従来例1を100%とした時の相
対値で比較した(値が低いほどすべり性が良好で有る事
を示す) 〔画像むらの評価〕A3方眼紙(コクヨ社製)を複写機
の原稿台に置き、複写機の絞りを変える事により原稿の
露光量を、グラフの線が辛うじて認められる程度から白
地の部分がかぶり始める程度迄の範囲の画像が得られる
ように変え、濃度の異なる10枚のコピーを出力した。[Table 23] [Evaluation of slipperiness] An arbitrary load is applied to the blade, and a piezo element is used to detect the frictional force, ie, the force of the blade being pulled by the drum before and after the start of rotation of the drum. When the “maximum static friction coefficient” was calculated from the load and the “maximum static friction force” immediately before the start of rotation, and similarly, the “dynamic friction coefficient” was calculated from the “dynamic friction force” during steady rotation. Comparison with relative values (lower value indicates better slipperiness) [Evaluation of image unevenness] Place A3 grid paper (manufactured by KOKUYO Co., Ltd.) on the platen of the copier and change the aperture of the copier. Thus, the exposure amount of the original was changed so that an image was obtained in a range from barely recognizing the line of the graph to the level at which the white portion started to be fogged, and ten copies having different densities were output.
【0161】これらの画像を目より40cm離れたとこ
ろで観察して、濃度の違いが認められるか調べ、以下の
基準で評価を行った。[0161] These images were observed at a distance of 40 cm from the eyes to see if there was any difference in density, and evaluated according to the following criteria.
【0162】 ◎・・・いずれのコビー上にも画像のむらは認められな
い。A: No image unevenness was observed on any of the coby.
【0163】 ○・・・画像むらが認められるコピーと認められないコ
ピーがある。・ ・ ・: There is a copy in which image unevenness is recognized and a copy in which image unevenness is not recognized.
【0164】しかし、いずれも軽微でありまったく問題
無い。However, all of them are minor and have no problem at all.
【0165】 △・・・いずれのコピー上にも画像むらが認められる。Δ: Image unevenness is observed on any copy.
【0166】しかし少なくとも1枚のコピー上では画像
むらが軽微であり実用上支障ない。However, on at least one copy, the image unevenness is slight and does not hinder practical use.
【0167】 ×・・・全数のコピー上に大きな画像むらが認められ
る。 〔白地かぶりの評価〕白地に全面文字よりなる通常の原
稿を原稿台に置いてコピーした時に得られた画像サンプ
ルを観察し、白地の部分のかぶりを評価した。C: Large image unevenness is observed on all copies. [Evaluation of fogging on white background] An image sample obtained when a normal original composed of characters on a white background was copied on a platen was observed, and the fogging of the white background was evaluated.
【0168】 ◎・・・良好。A: Good.
【0169】 ○・・・一部僅かにかぶりあり。・ ・ ・: Some fog was found.
【0170】 △・・・全面に渡りかぶりあるが文字の認識には全く支
障無し。Δ: There is fog over the entire surface, but there is no problem in character recognition.
【0171】 ×・・・かぶりのため文字が読みにくい部分がある。 〈実施例3〉実施例1と同様の基体を用い、実施例1と
同様の方法にて表面処理を行なった後、図4−(A)、
図4−(B)に示すマイクロ波CVD装置(μwPCV
D装置)を用い表24に示す条件にて図6−Bに示す阻
止型電子写真感光体を作製した。画像評価には上述した
画像欠陥、黒シミ、画像写真特性1、画像写真特性2を
行って、その結果を表25に示す。また比較例3として
従来例1で示した方法にて処理後、同様の阻止型電子写
真感光体を作製し同様の方法にて評価した結果を同じく
表25に示す。尚:図6−Bに於て601、602、6
03ー2、603ー2及び604はそれぞれ、アルミニ
ウム基体、電荷注入阻止層、電荷輸送層、電荷発生層、
及び表面層を示している。×: There are portions where characters are difficult to read due to fog. <Example 3> Using the same substrate as in Example 1 and performing a surface treatment in the same manner as in Example 1, FIG.
The microwave CVD device (μwPCV) shown in FIG.
D) under the conditions shown in Table 24 to produce a blocking type electrophotographic photosensitive member shown in FIG. In the image evaluation, the above-described image defect, black spot, image photograph characteristic 1 and image photograph characteristic 2 were performed. The results are shown in Table 25. As Comparative Example 3, after processing by the method shown in Conventional Example 1, a similar blocking type electrophotographic photoreceptor was produced and evaluated by the same method. Note: 601, 602, 6 in FIG.
03-2, 603-2 and 604 represent an aluminum substrate, a charge injection blocking layer, a charge transport layer, a charge generation layer,
And a surface layer.
【0172】[0172]
【表24】 [Table 24]
【0173】[0173]
【表25】 表25より明らかな様に装置及び層構成が異なっても本
発明は有効で有る。 〈実施例4〉実施例1と同様の基体を用い、実施例1と
同等の表面処理を行なった後図5に示すVHF PCV
D装置を用い表26に示す条件にて図6−Bに示す層構
成の阻止型電子写真感光体を作製し同様の方法にて評価
した。その結果実施例1と同様の良好な結果が得られ
た。[Table 25] As is clear from Table 25, the present invention is effective even if the device and the layer configuration are different. <Embodiment 4> Using the same substrate as in Embodiment 1 and performing the same surface treatment as in Embodiment 1, VHF PCV shown in FIG.
A blocking type electrophotographic photoreceptor having the layer configuration shown in FIG. 6-B was prepared using the D apparatus under the conditions shown in Table 26, and evaluated by the same method. As a result, the same good results as in Example 1 were obtained.
【0174】[0174]
【表26】 [Table 26]
【0175】[0175]
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、アルミニウム基体上に機能性膜を形成する電子写真
感光体製造方法に於いて、前記機能性膜を形成する前に
基体の表面をインヒビターを含んだ水を用い、皮膜の膜
厚が5Å以上150Å以下の範囲で組成基体表面にA
l:Si:O=a:b:cとしa=1した時0.1≦b
≦0.5、1≦c≦5であり皮膜の膜厚が時Al−Si
−O皮膜を形成する様にした事により、均―な高品位の
画像を与える電子写真感光体を安価に高い歩留りで製造
することが可能である。As described above, according to the present invention, in a method for manufacturing a photoreceptor for forming a functional film on an aluminum substrate, the surface of the substrate is formed before the functional film is formed. Is applied to the surface of the composition substrate in the range of 5 to 150 ° in water containing an inhibitor.
l: Si: O = a: b: c, and when a = 1, 0.1 ≦ b
≦ 0.5, 1 ≦ c ≦ 5 and the film thickness is Al-Si
By forming the —O film, it is possible to manufacture an electrophotographic photoreceptor that gives uniform high-quality images at low cost and with high yield.
【図1】本発明の電子写真感光体を実施するために使用
される洗浄装置の―例を示す該略図である。FIG. 1 is a schematic view showing an example of a cleaning apparatus used to carry out the electrophotographic photosensitive member of the present invention.
【図2】従来方法にて基体の洗浄を行なう為の洗浄装置
の概略的断面図である。FIG. 2 is a schematic sectional view of a cleaning apparatus for cleaning a substrate by a conventional method.
【図3】RFプラズマCVD法により円筒状基体上に堆
積膜を形成するための堆積膜形成装置の概略縦断面図で
ある。FIG. 3 is a schematic longitudinal sectional view of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by an RF plasma CVD method.
【図4】図4(A)はマイクロ波プラズマCVD法によ
り円筒状基体上に堆積膜を形成するための堆積膜形成装
置の概略縦断面図であり、図4(B)は図(A)のX−
X横断面図である。FIG. 4A is a schematic longitudinal sectional view of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by a microwave plasma CVD method, and FIG. 4B is a view in FIG. X-
It is X cross section.
【図5】VHFプラズマCVD法により円筒状基体上に
堆積膜を形成するための堆積膜形成装置の概略縦断面図
である。FIG. 5 is a schematic vertical sectional view of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by a VHF plasma CVD method.
【図6】電子写真感光体の層構成を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a layer configuration of an electrophotographic photosensitive member.
101、201、306、406、526 基体 102、202 処理部 103、203 基体搬送機構 111、211 基体投入台 131 リンス槽 122、142 水系洗浄剤 141 乾燥槽 151、251 基体搬出台 161、261 搬送アーム 162、262 移動機構 163、263 チャッキング機構 164、264 エアーシリンダー 165、265 搬送レール 301 反応容器 302 カソード電極 303 トッププレート 304 ベースプレート 305 絶縁碍子 307 基体ホルダー 308、403、523 加熱ヒーター 309 原料ガス導入管 311 原料ガス流入バルブ 312、528 マイクローコントローラー 313、404、524 排気配管 314 排気バルブ 315 真空排気装置 316 高周波電源 402、522、529 回転用モーター 407 放電空間 408 原料ガス導入管及び直流印加電極 409 直流電源 410 マイクロ波導入窓 411 導波管 601 アルミニウム基体 602 電荷注入阻止層 603ー1電荷輸送層 603ー2電荷発生層 604 表面層 101, 201, 306, 406, 526 Substrate 102, 202 Processing unit 103, 203 Substrate transport mechanism 111, 211 Substrate loading table 131 Rinse tank 122, 142 Water-based cleaning agent 141 Drying tank 151, 251 Substrate discharge table 161, 261 Transport arm 162, 262 Moving mechanism 163, 263 Chucking mechanism 164, 264 Air cylinder 165, 265 Transfer rail 301 Reaction vessel 302 Cathode electrode 303 Top plate 304 Base plate 305 Insulator 307 Base holder 308, 403, 523 Heating heater 309 Source gas introduction pipe 311 Source gas inflow valve 312, 528 Micro controller 313, 404, 524 Exhaust pipe 314 Exhaust valve 315 Vacuum exhaust device 316 High frequency power supply 402, 522 529 Rotation motor 407 Discharge space 408 Source gas introduction tube and DC application electrode 409 DC power supply 410 Microwave introduction window 411 Waveguide 601 Aluminum substrate 602 Charge injection blocking layer 603-1 Charge transport layer 603-1 Charge generation layer 604 Surface layer
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松岡 秀彰 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Hideaki Matsuoka 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Inside Canon Inc.
Claims (13)
体の表面にシリコン原子を母材とする非晶質材料からな
る機能性膜を形成させる工程を有する電子写真感光体の
製造方法において、電子写真感光体を形成する工程の前
に膜厚が5Å以上150Å以下の範囲でかつ組成比が下
記式で表されるアルミニウムとシリコンと酸素を主成分
とした皮膜をインヒビターを含んだ水を用いて形成する
工程を有することを特徴とした電子写真感光体の製造方
法。 アルミニウム:シリコン:酸素=a:b:cとし、a=
1とした時にb及びcの範囲が0.1≦b≦1.0
1≦c≦5である。1. A method for producing an electrophotographic photoreceptor comprising a step of forming a functional film made of an amorphous material containing silicon atoms as a base material on a surface of an aluminum substrate by a low pressure vapor phase epitaxy method. Prior to the step of forming a photoreceptor, a film containing aluminum, silicon, and oxygen as main components and having a film thickness in the range of 5 ° to 150 ° and a composition ratio represented by the following formula is formed using water containing an inhibitor. A method for producing an electrophotographic photoreceptor, comprising the steps of: Aluminum: silicon: oxygen = a: b: c, a =
When it is set to 1, the range of b and c is 0.1 ≦ b ≦ 1.0
1 ≦ c ≦ 5.
1に記載の電子写真感光体の製造方法。2. The method according to claim 1, wherein the inhibitor is a silicate.
2に記載の電子写真感光体の製造方法。3. The method according to claim 2, wherein the silicate is potassium silicate.
度は100乃至10- 6mol/lの範囲である請求項1
に記載の電子写真感光体の製造方法。Claim 1 is in the range of 6 mol / l - wherein the molar concentration of the inhibitor contained in the water is 10 0 to 10
3. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to item 1.
を形成させるする工程は、水素原子及びフッ素原子の少
なくともいずれか一方と珪素原子とからなる非晶質堆積
膜をプラズマCVD法により前記アルミニウム基体上に
形成する工程である請求項1に記載の電子写真感光体の
製造方法。5. The step of forming the functional film on the aluminum substrate includes the step of forming an amorphous deposited film comprising at least one of hydrogen atoms and fluorine atoms and silicon atoms by plasma CVD on the aluminum substrate. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the method is a step of forming the photoreceptor thereon.
れかを含む請求項1に記載の電子写真感光体の製造方
法。6. The method according to claim 1, wherein the water contains one of a surfactant and carbon dioxide.
kg・f/cm2の圧力にて、前記基体を洗浄する請求
項1に記載の電子写真感光体の製造方法。7. The method according to claim 1, wherein the water is 2 kg · f / cm 2 to 300 kg / f 2.
The method according to claim 1, wherein the substrate is washed at a pressure of kg · f / cm 2 .
請求項1に記載の電子写真感光体の製造方法。8. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the substrate is taken out of hot water and dried.
素を溶解した温水、前記インヒビターを含んだ温水の少
なくともいずれかひとつである請求項1に記載の電子写
真感光体の製造方法。9. The method according to claim 1, wherein the hot water is at least one of hot pure water, hot water in which carbon dioxide is dissolved, and hot water containing the inhibitor.
pm以上、1wt%以下含有したアルミニウム基体であ
る請求項1に記載の電子写真感光体製造方法。10. The method according to claim 1, wherein the aluminum base is made of iron.
2. The method for producing an electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the substrate is an aluminum substrate containing not less than pm and not more than 1 wt%.
10ppm以上、1wt%以下含有したアルミニウムを
基体である請求項1に記載の電子写真感光体製造方法。11. The method according to claim 1, wherein the aluminum substrate is a substrate containing aluminum containing 10 ppm or more and 1 wt% or less of silicon.
pm以上、1wt%以下含有したアルミニウム基体であ
る請求項1に記載の電子写真感光体製造方法。12. The method according to claim 1, wherein the aluminum substrate is made of
2. The method for producing an electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the substrate is an aluminum substrate containing not less than pm and not more than 1 wt%.
コンと銅の総含有量は、0.01wt%を越え1wt%
以下である請求項1に記載の電子写真感光体製造方法。13. The total content of iron, silicon and copper in the aluminum base is more than 0.01 wt% and 1 wt%.
The method for producing an electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein:
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36104597A JPH11194515A (en) | 1997-12-26 | 1997-12-26 | Manufacture of electrophotographic sensitive material |
US09/186,421 US6156472A (en) | 1997-11-06 | 1998-11-05 | Method of manufacturing electrophotographic photosensitive member |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36104597A JPH11194515A (en) | 1997-12-26 | 1997-12-26 | Manufacture of electrophotographic sensitive material |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11194515A true JPH11194515A (en) | 1999-07-21 |
Family
ID=18471960
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36104597A Pending JPH11194515A (en) | 1997-11-06 | 1997-12-26 | Manufacture of electrophotographic sensitive material |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11194515A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6635397B2 (en) | 2001-04-24 | 2003-10-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Negative-charging electrophotographic photosensitive member |
-
1997
- 1997-12-26 JP JP36104597A patent/JPH11194515A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6635397B2 (en) | 2001-04-24 | 2003-10-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Negative-charging electrophotographic photosensitive member |
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