JPH1089403A - 防振装置 - Google Patents
防振装置Info
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- JPH1089403A JPH1089403A JP8239013A JP23901396A JPH1089403A JP H1089403 A JPH1089403 A JP H1089403A JP 8239013 A JP8239013 A JP 8239013A JP 23901396 A JP23901396 A JP 23901396A JP H1089403 A JPH1089403 A JP H1089403A
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- actuator
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
- G03F7/709—Vibration, e.g. vibration detection, compensation, suppression or isolation
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16F—SPRINGS; SHOCK-ABSORBERS; MEANS FOR DAMPING VIBRATION
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- Power Engineering (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Vibration Prevention Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高周波振動を高い応答速度で抑制し、オフセ
ット成分を含むような低周波振動を小さい発熱量で抑制
する。 【解決手段】 露光装置本体を支持する定盤18と、床
1との間に空圧式アクチュエータ10A,10Bを設
け、それに並列にボイス・コイル・モータ方式のVCM
アクチュエータ11A,11Dを設置する。加速度セン
サ17A,17Bの検出信号からフィルタを介して低周
波信号及び高周波信号を抽出し、低周波信号を相殺する
ように空圧式アクチュエータ10A,10Bを駆動し、
高周波信号を相殺するようにVCMアクチュエータ11
A,11Bを駆動する。
ット成分を含むような低周波振動を小さい発熱量で抑制
する。 【解決手段】 露光装置本体を支持する定盤18と、床
1との間に空圧式アクチュエータ10A,10Bを設
け、それに並列にボイス・コイル・モータ方式のVCM
アクチュエータ11A,11Dを設置する。加速度セン
サ17A,17Bの検出信号からフィルタを介して低周
波信号及び高周波信号を抽出し、低周波信号を相殺する
ように空圧式アクチュエータ10A,10Bを駆動し、
高周波信号を相殺するようにVCMアクチュエータ11
A,11Bを駆動する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばマスクパタ
ーンを感光基板上に露光するための露光装置の防振台に
適用して好適な防振装置に関する。
ーンを感光基板上に露光するための露光装置の防振台に
適用して好適な防振装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、例えば半導体素子、液晶表示
素子、撮像素子(CCD等)、又は薄膜磁気ヘッド等を
製造するためのフォトリソグラフィ工程では、マスクと
してのレチクル(又はフォトマスク等)上のパターンを
ウエハ(又はガラスプレート等)の各ショット領域に転
写露光する露光装置(ステッパー等)が使用されてい
る。例えばステッパーのような一括露光方式の露光装置
においては、レチクルのパターンをウエハ上に高い重ね
合わせ精度で転写するために極めて高度な防振特性が要
求される。そのため、これらの露光装置には、外部から
の振動、及び内部で発生する振動を減衰するための防振
装置が設置されている。
素子、撮像素子(CCD等)、又は薄膜磁気ヘッド等を
製造するためのフォトリソグラフィ工程では、マスクと
してのレチクル(又はフォトマスク等)上のパターンを
ウエハ(又はガラスプレート等)の各ショット領域に転
写露光する露光装置(ステッパー等)が使用されてい
る。例えばステッパーのような一括露光方式の露光装置
においては、レチクルのパターンをウエハ上に高い重ね
合わせ精度で転写するために極めて高度な防振特性が要
求される。そのため、これらの露光装置には、外部から
の振動、及び内部で発生する振動を減衰するための防振
装置が設置されている。
【0003】また、最近は、投影光学系を大型化するこ
となく、より広いレチクルのパターンをウエハ上に露光
するために、レチクルを投影光学系の光軸に垂直な方向
に走査するのと同期して、それに対応する方向にウエハ
を投影光学系の倍率と同じ速度比で走査することによ
り、レチクルのパターンをウエハ上に逐次露光するステ
ップ・アンド・スキャン方式等の走査露光型の投影露光
装置も注目されている。このような走査露光型の投影露
光装置では、露光中にレチクルとウエハとをそれぞれ一
定の速度で安定して走査する必要があるため、やはり防
振装置を介して外部及び内部の振動を排除する必要があ
る。
となく、より広いレチクルのパターンをウエハ上に露光
するために、レチクルを投影光学系の光軸に垂直な方向
に走査するのと同期して、それに対応する方向にウエハ
を投影光学系の倍率と同じ速度比で走査することによ
り、レチクルのパターンをウエハ上に逐次露光するステ
ップ・アンド・スキャン方式等の走査露光型の投影露光
装置も注目されている。このような走査露光型の投影露
光装置では、露光中にレチクルとウエハとをそれぞれ一
定の速度で安定して走査する必要があるため、やはり防
振装置を介して外部及び内部の振動を排除する必要があ
る。
【0004】この防振装置は通常ばね材と振動減衰材と
の組み合わせにより構成されており、従来は主に振動状
態によって、あるいは装置の状態(姿勢等)によって防
振性能を変えることのない、いわば受動的な防振システ
ムといえる防振装置が使用されてきた。これらの防振装
置は一般的に「パッシブ型防振装置」と呼ばれる。これ
に対して最近は、外部又は内部の振動状態をリアルタイ
ムに加速度計又は変位計等のセンサによって検出し、能
動的に防振装置の性能を変化させる「アクティブ型防振
装置」も使用されるようになっている。
の組み合わせにより構成されており、従来は主に振動状
態によって、あるいは装置の状態(姿勢等)によって防
振性能を変えることのない、いわば受動的な防振システ
ムといえる防振装置が使用されてきた。これらの防振装
置は一般的に「パッシブ型防振装置」と呼ばれる。これ
に対して最近は、外部又は内部の振動状態をリアルタイ
ムに加速度計又は変位計等のセンサによって検出し、能
動的に防振装置の性能を変化させる「アクティブ型防振
装置」も使用されるようになっている。
【0005】露光装置に使用される防振装置には主に2
つの機能が要求される。1つは露光装置が設置されてい
る床面からの振動を露光装置本体に伝えないという機能
であり、もう1つは露光装置内部のステージ等の駆動に
よって発生する露光装置本体内の振動を速やかに減衰さ
せるという機能である。この両者の機能は、これまで長
く使用されてきたパッシブ型防振装置の場合には元々相
反する機能であって、どちらかの機能を強化するともう
一方の機能が損なわれるという関係にある。これに対し
てアクティブ型防振装置であればそれら2つの機能を満
足できるため、最近は露光装置用の防振装置としてその
アクティブ型防振装置が注目されている。
つの機能が要求される。1つは露光装置が設置されてい
る床面からの振動を露光装置本体に伝えないという機能
であり、もう1つは露光装置内部のステージ等の駆動に
よって発生する露光装置本体内の振動を速やかに減衰さ
せるという機能である。この両者の機能は、これまで長
く使用されてきたパッシブ型防振装置の場合には元々相
反する機能であって、どちらかの機能を強化するともう
一方の機能が損なわれるという関係にある。これに対し
てアクティブ型防振装置であればそれら2つの機能を満
足できるため、最近は露光装置用の防振装置としてその
アクティブ型防振装置が注目されている。
【0006】アクティブ型防振装置は、一般的には防振
対象の装置全体の重量を支持する防振台として、床から
の振動が防振対象の装置に伝わらないように、剛性の小
さな柔らかいばねである空気ばね(エアーダンパ)から
なる防振パッドを使用し、床の振動成分の内の高周波数
領域の振動成分を遮断している。しかし、エアーダンパ
からなる防振パッドは低周波数領域では減衰力が小さい
ため、このような防振パッドだけでは、低周波数領域の
振動が速かに収束しない。そこで、通常のアクティブ型
防振装置では、この低周波数領域の振動を抑制するため
に、空圧式駆動機構からなるアクチュエータ(空圧式ア
クチュエータ)を防振パッドと併用していた。
対象の装置全体の重量を支持する防振台として、床から
の振動が防振対象の装置に伝わらないように、剛性の小
さな柔らかいばねである空気ばね(エアーダンパ)から
なる防振パッドを使用し、床の振動成分の内の高周波数
領域の振動成分を遮断している。しかし、エアーダンパ
からなる防振パッドは低周波数領域では減衰力が小さい
ため、このような防振パッドだけでは、低周波数領域の
振動が速かに収束しない。そこで、通常のアクティブ型
防振装置では、この低周波数領域の振動を抑制するため
に、空圧式駆動機構からなるアクチュエータ(空圧式ア
クチュエータ)を防振パッドと併用していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この空
圧式アクチュエータは応答周波数が10Hz程度と低
く、露光装置のようにステージ等の高い加速度で移動す
る物体を有する装置を搭載した防振装置では、十分な制
振効果が得られない。そこで、露光装置用の防振装置で
は、ステージ等の加減速による高周波数領域の振動を高
い追従速度で抑制するため、空圧式アクチュエータに代
えて高周波数領域の振動に対する応答速度に優れた電磁
式駆動機構のアクチュエータ(電磁式アクチュエータ)
を使用する例が多くなっている。
圧式アクチュエータは応答周波数が10Hz程度と低
く、露光装置のようにステージ等の高い加速度で移動す
る物体を有する装置を搭載した防振装置では、十分な制
振効果が得られない。そこで、露光装置用の防振装置で
は、ステージ等の加減速による高周波数領域の振動を高
い追従速度で抑制するため、空圧式アクチュエータに代
えて高周波数領域の振動に対する応答速度に優れた電磁
式駆動機構のアクチュエータ(電磁式アクチュエータ)
を使用する例が多くなっている。
【0008】ところが、この電磁式アクチュエータで低
周波数領域から高周波数領域までの振動を抑制しようと
すると、ステージ等の位置に対応する露光装置の傾き
や、設置面としての床の変位による露光装置の傾き、又
は露光装置の周辺に引き回された配線や配管等の移動に
伴う露光装置の回転のような、殆どオフセット成分(周
波数が0の変位や回転)と見なせるような極めて低い周
波数の振動(変位)を抑制しようとすると、その電磁式
アクチュエータに定常的に電流を流す必要が生ずるた
め、その電磁式アクチュエータのコイル部分等から多く
の熱が発生する。ステージの周辺にはそのステージの位
置を計測するためのレーザ干渉計等の計測装置が設置さ
れている。レーザ干渉計はステージ上に固定された移動
鏡にレーザビームを照射し、その移動鏡からの反射ビー
ムを受光することによりステージの位置を計測する装置
である。従って、電磁式アクチュエータから多くの熱が
発生すると、レーザビームの光路上の気体に揺らぎが生
じ、レーザ干渉計の計測精度が低下するという不都合が
ある。
周波数領域から高周波数領域までの振動を抑制しようと
すると、ステージ等の位置に対応する露光装置の傾き
や、設置面としての床の変位による露光装置の傾き、又
は露光装置の周辺に引き回された配線や配管等の移動に
伴う露光装置の回転のような、殆どオフセット成分(周
波数が0の変位や回転)と見なせるような極めて低い周
波数の振動(変位)を抑制しようとすると、その電磁式
アクチュエータに定常的に電流を流す必要が生ずるた
め、その電磁式アクチュエータのコイル部分等から多く
の熱が発生する。ステージの周辺にはそのステージの位
置を計測するためのレーザ干渉計等の計測装置が設置さ
れている。レーザ干渉計はステージ上に固定された移動
鏡にレーザビームを照射し、その移動鏡からの反射ビー
ムを受光することによりステージの位置を計測する装置
である。従って、電磁式アクチュエータから多くの熱が
発生すると、レーザビームの光路上の気体に揺らぎが生
じ、レーザ干渉計の計測精度が低下するという不都合が
ある。
【0009】また、近年超LSI等の高集積化に伴い、
露光装置では更に高い位置決め精度が要求されるように
なっており、それに対応して、露光装置本体の並進方向
のみならず回転方向の振動を抑制できるアクティブ型防
振装置が求められている。本発明は斯かる点に鑑み、処
理対象物の並進方向や回転方向でそれぞれ高い周波数の
振動を高い応答速度で抑制できると共に、殆どオフセッ
ト成分と見なせるような低い周波数の振動を少ない発熱
量で抑制できる防振装置を提供することを第1の目的と
する。また、本発明は少なくとも1軸で高い周波数の振
動を高い応答速度で抑制し、低い周波数の振動を少ない
発熱量で抑制できる防振装置を提供することを第2の目
的とする。
露光装置では更に高い位置決め精度が要求されるように
なっており、それに対応して、露光装置本体の並進方向
のみならず回転方向の振動を抑制できるアクティブ型防
振装置が求められている。本発明は斯かる点に鑑み、処
理対象物の並進方向や回転方向でそれぞれ高い周波数の
振動を高い応答速度で抑制できると共に、殆どオフセッ
ト成分と見なせるような低い周波数の振動を少ない発熱
量で抑制できる防振装置を提供することを第1の目的と
する。また、本発明は少なくとも1軸で高い周波数の振
動を高い応答速度で抑制し、低い周波数の振動を少ない
発熱量で抑制できる防振装置を提供することを第2の目
的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明による第1の防振
装置は、例えば図1及び図2に示すように、処理対象物
が載置されるベース部材(18)と、このベース部材の
所定の設置面(1)に対する6自由度の振動を抑制する
6軸の制振手段(10A〜10D,11A〜11D,1
2A,12B,13A,13B,14,15)と、を備
え、この6軸の制振手段はそれぞれ、オフセット成分
(周波数が0の変位や回転)を含む第1の周波数帯の振
動を抑制する第1のアクチュエータ(10A〜10D,
13A,13B,15)と、その第1の周波数帯より中
心周波数が高い第2の周波数帯の振動を抑制する第2の
アクチュエータ(11A〜11D,12A,12B,1
4)とを有するものである。
装置は、例えば図1及び図2に示すように、処理対象物
が載置されるベース部材(18)と、このベース部材の
所定の設置面(1)に対する6自由度の振動を抑制する
6軸の制振手段(10A〜10D,11A〜11D,1
2A,12B,13A,13B,14,15)と、を備
え、この6軸の制振手段はそれぞれ、オフセット成分
(周波数が0の変位や回転)を含む第1の周波数帯の振
動を抑制する第1のアクチュエータ(10A〜10D,
13A,13B,15)と、その第1の周波数帯より中
心周波数が高い第2の周波数帯の振動を抑制する第2の
アクチュエータ(11A〜11D,12A,12B,1
4)とを有するものである。
【0011】斯かる本発明の第1の防振装置によれば、
オフセット成分を含む第1の周波数帯用の第1のアクチ
ュエータとしては応答速度は低いが発熱量の少ないもの
を使用し、それより高い第2の周波数帯用の第2のアク
チュエータとしては発熱量は大きいが応答速度の高いも
のを使用できる。これによって高周波振動は高い応答速
度で抑制され、処理対象物の傾きのようなオフセット成
分と見なせる振動は低い発熱量で抑制される。また、第
1及び第2のアクチュエータはそれぞれ6軸の制振手段
であるため、処理対象物の並進方向及び回転方向の全部
で6自由度の振動を抑制できる。
オフセット成分を含む第1の周波数帯用の第1のアクチ
ュエータとしては応答速度は低いが発熱量の少ないもの
を使用し、それより高い第2の周波数帯用の第2のアク
チュエータとしては発熱量は大きいが応答速度の高いも
のを使用できる。これによって高周波振動は高い応答速
度で抑制され、処理対象物の傾きのようなオフセット成
分と見なせる振動は低い発熱量で抑制される。また、第
1及び第2のアクチュエータはそれぞれ6軸の制振手段
であるため、処理対象物の並進方向及び回転方向の全部
で6自由度の振動を抑制できる。
【0012】この場合、そのベース部材(18)の6自
由度の変位を検出するセンサ(17A〜17C)と、こ
のセンサの検出結果に基づいてその6軸の制振手段の動
作を制御する制御手段(25,26,28)と、を備え
ることが好ましい。センサ(17A〜17C)によりベ
ース部材(18)の6自由度の変位を検出し、この検出
された変位を相殺するように制御手段(25,26,2
8)はその6軸の制振手段の動作を制御する。これによ
って、処理対象物の6自由度の振動が高精度に抑制され
る。
由度の変位を検出するセンサ(17A〜17C)と、こ
のセンサの検出結果に基づいてその6軸の制振手段の動
作を制御する制御手段(25,26,28)と、を備え
ることが好ましい。センサ(17A〜17C)によりベ
ース部材(18)の6自由度の変位を検出し、この検出
された変位を相殺するように制御手段(25,26,2
8)はその6軸の制振手段の動作を制御する。これによ
って、処理対象物の6自由度の振動が高精度に抑制され
る。
【0013】また、その第1のアクチュエータ(10A
〜10D,13A,13B,15)の一例は、空圧式ア
クチュエータであり、その第2のアクチュエータ(11
A〜11D,12A,12B,14)の一例は電磁式ア
クチュエータであり、この場合その制御手段は、そのセ
ンサ(17A〜17C)の検出結果よりその第1の周波
数帯の振動成分、及びその第2の周波数帯の振動成分を
抽出するフィルタ手段(25a,25b)と、このフィ
ルタ手段から出力されるその第1の周波数帯の振動成分
に基づいてその第1のアクチュエータを駆動する第1の
駆動手段(26)と、そのフィルタ手段(25a,25
b)から出力されるその第2の周波数帯の振動成分に基
づいてその第2のアクチュエータを駆動する第2の駆動
手段(28)と、を有することが好ましい。
〜10D,13A,13B,15)の一例は、空圧式ア
クチュエータであり、その第2のアクチュエータ(11
A〜11D,12A,12B,14)の一例は電磁式ア
クチュエータであり、この場合その制御手段は、そのセ
ンサ(17A〜17C)の検出結果よりその第1の周波
数帯の振動成分、及びその第2の周波数帯の振動成分を
抽出するフィルタ手段(25a,25b)と、このフィ
ルタ手段から出力されるその第1の周波数帯の振動成分
に基づいてその第1のアクチュエータを駆動する第1の
駆動手段(26)と、そのフィルタ手段(25a,25
b)から出力されるその第2の周波数帯の振動成分に基
づいてその第2のアクチュエータを駆動する第2の駆動
手段(28)と、を有することが好ましい。
【0014】このとき、その第1のアクチュエータとし
ての空圧式アクチュエータは応答速度は低いが発熱量が
少なく、その第2のアクチュエータとしての電磁式アク
チュエータは応答速度は高いが発熱量が大きい。従っ
て、オフセット成分を含む第1の周波数帯の振動成分は
空圧式アクチュエータにより低い発熱量で抑制され、よ
り高い周波数成分を含む第2の周波数帯の振動成分は電
磁式アクチュエータで高い応答速度で抑制される。ま
た、高周波数の振動は通常は振幅が小さく、且つ断続的
に発生するため、電磁式アクチュエータの発熱量は少な
い。
ての空圧式アクチュエータは応答速度は低いが発熱量が
少なく、その第2のアクチュエータとしての電磁式アク
チュエータは応答速度は高いが発熱量が大きい。従っ
て、オフセット成分を含む第1の周波数帯の振動成分は
空圧式アクチュエータにより低い発熱量で抑制され、よ
り高い周波数成分を含む第2の周波数帯の振動成分は電
磁式アクチュエータで高い応答速度で抑制される。ま
た、高周波数の振動は通常は振幅が小さく、且つ断続的
に発生するため、電磁式アクチュエータの発熱量は少な
い。
【0015】また、本発明による第2の防振装置は、処
理対象物が載置されるベース部材(18)と、このベー
ス部材の所定の設置面(1)に対する所定方向(X方
向)への振動を抑制する制振手段と、を備えた防振装置
において、その制振手段は、オフセット成分を含む第1
の周波数帯の振動を抑制する第1のアクチュエータ(1
5)と、その第1の周波数帯より中心周波数が高い第2
の周波数帯の振動を抑制する第2のアクチュエータ(1
4)とを有し、そのベース部材(18)のその所定方向
への変位を検出するセンサ(17AX)と、このセンサ
の検出結果よりその第1の周波数帯の振動成分、及びそ
の第2の周波数帯の振動成分を抽出するフィルタ手段
(25a,25b)と、このフィルタ手段から出力され
るその第1の周波数帯の振動成分に基づいてその第1の
アクチュエータを駆動すると共に、そのフィルタ手段
(25a,25b)から出力されるその第2の周波数帯
の振動成分に基づいてその第2のアクチュエータを駆動
する制御手段(26,28)と、が設けられたものであ
る。
理対象物が載置されるベース部材(18)と、このベー
ス部材の所定の設置面(1)に対する所定方向(X方
向)への振動を抑制する制振手段と、を備えた防振装置
において、その制振手段は、オフセット成分を含む第1
の周波数帯の振動を抑制する第1のアクチュエータ(1
5)と、その第1の周波数帯より中心周波数が高い第2
の周波数帯の振動を抑制する第2のアクチュエータ(1
4)とを有し、そのベース部材(18)のその所定方向
への変位を検出するセンサ(17AX)と、このセンサ
の検出結果よりその第1の周波数帯の振動成分、及びそ
の第2の周波数帯の振動成分を抽出するフィルタ手段
(25a,25b)と、このフィルタ手段から出力され
るその第1の周波数帯の振動成分に基づいてその第1の
アクチュエータを駆動すると共に、そのフィルタ手段
(25a,25b)から出力されるその第2の周波数帯
の振動成分に基づいてその第2のアクチュエータを駆動
する制御手段(26,28)と、が設けられたものであ
る。
【0016】斯かる本発明の第2の防振装置によれば、
その第1のアクチュエータとして例えば空圧式アクチュ
エータのような応答速度は低いが発熱量の大きいものを
使用し、その第2のアクチュエータとして例えば電磁式
アクチュエータのような発熱量は大きいが応答速度の高
いものを使用する。これによって、少なくとも1軸で低
周波数の振動は少ない発熱量で抑制され、高周波数の振
動は高い応答速度で抑制される。
その第1のアクチュエータとして例えば空圧式アクチュ
エータのような応答速度は低いが発熱量の大きいものを
使用し、その第2のアクチュエータとして例えば電磁式
アクチュエータのような発熱量は大きいが応答速度の高
いものを使用する。これによって、少なくとも1軸で低
周波数の振動は少ない発熱量で抑制され、高周波数の振
動は高い応答速度で抑制される。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明による防振装置の実
施の形態の一例につき、図面を参照して説明する。本例
は、ステッパー型の投影露光装置の防振台に本発明を適
用したものである。図1は、本例の投影露光装置の正面
図を示し、この図1において、設置面としての床1の上
に4個の台座14A,14B,…(図1では14A,1
4Bのみが現れている、以下同様)が設置され、これら
4個の台座14A,14B,…上にそれぞれ空圧式駆動
機構からなるアクチュエータ(以下、「空圧式アクチュ
エータ」という)10A〜10D(図2参照)が設置さ
れ、これら空圧式アクチュエータ10A〜10D上に投
影露光装置の定盤18が設置されている。本例の空圧式
アクチュエータ10A〜10Dはそれぞれ空気ばね(エ
アーダンパ)を兼用しており、その空気ばね中の空気の
圧力を調整することによって、オフセット的な変位から
周波数が10Hz程度までの振動を抑制する機能を有す
る。ここで、後述のように本例では投影光学系5が使用
されているため、投影光学系5の光軸に平行にZ軸を取
り、Z軸に垂直な平面内で図1の紙面に平行にX軸を、
図1の紙面に垂直にY軸を取る。
施の形態の一例につき、図面を参照して説明する。本例
は、ステッパー型の投影露光装置の防振台に本発明を適
用したものである。図1は、本例の投影露光装置の正面
図を示し、この図1において、設置面としての床1の上
に4個の台座14A,14B,…(図1では14A,1
4Bのみが現れている、以下同様)が設置され、これら
4個の台座14A,14B,…上にそれぞれ空圧式駆動
機構からなるアクチュエータ(以下、「空圧式アクチュ
エータ」という)10A〜10D(図2参照)が設置さ
れ、これら空圧式アクチュエータ10A〜10D上に投
影露光装置の定盤18が設置されている。本例の空圧式
アクチュエータ10A〜10Dはそれぞれ空気ばね(エ
アーダンパ)を兼用しており、その空気ばね中の空気の
圧力を調整することによって、オフセット的な変位から
周波数が10Hz程度までの振動を抑制する機能を有す
る。ここで、後述のように本例では投影光学系5が使用
されているため、投影光学系5の光軸に平行にZ軸を取
り、Z軸に垂直な平面内で図1の紙面に平行にX軸を、
図1の紙面に垂直にY軸を取る。
【0018】図2は、図1のAA線に沿う断面図を示
し、この図2に示すように、空圧式アクチュエータ10
A〜10Dは、それぞれ定盤18の四角形の底面の4個
の頂点付近に配置されている。図4は、空圧式アクチュ
エータ10Aの拡大断面図を示し、この図4において、
円筒形のシリンダ61の底部は図1の台座14A上に固
定される。シリンダ61の上部に、ゴムダンパ62が固
定部材61Aによって固定され、ゴムダンパ62上に上
下方向に移動自在にピストン60が取り付けられてい
る。ゴムダンパ62とシリンダ61の内面との間に形成
される密閉空間63には、図1の空圧式アクチュエータ
駆動系26から加圧空気が供給されており、この加圧空
気の圧力を調整することによりピストン60が上下に駆
動される。ピストン60の上部は図1の定盤18の底面
に固定されており、ピストン60の上下によりその部分
での定盤18のZ方向の低い周波数の振動が抑制され
る。
し、この図2に示すように、空圧式アクチュエータ10
A〜10Dは、それぞれ定盤18の四角形の底面の4個
の頂点付近に配置されている。図4は、空圧式アクチュ
エータ10Aの拡大断面図を示し、この図4において、
円筒形のシリンダ61の底部は図1の台座14A上に固
定される。シリンダ61の上部に、ゴムダンパ62が固
定部材61Aによって固定され、ゴムダンパ62上に上
下方向に移動自在にピストン60が取り付けられてい
る。ゴムダンパ62とシリンダ61の内面との間に形成
される密閉空間63には、図1の空圧式アクチュエータ
駆動系26から加圧空気が供給されており、この加圧空
気の圧力を調整することによりピストン60が上下に駆
動される。ピストン60の上部は図1の定盤18の底面
に固定されており、ピストン60の上下によりその部分
での定盤18のZ方向の低い周波数の振動が抑制され
る。
【0019】図2に戻り、他の空圧式アクチュエータ1
0B〜10Dも空圧式アクチュエータ10Aと同様の構
成であり、空圧式アクチュエータ10A〜10Dには空
圧式アクチュエータ駆動系26から圧力調整された空気
が専用配管(図1ではその内、配管27A,27Bを示
す)を介してそれぞれ供給されている。また、図1にお
いて、台座14Aと定盤18との間に空圧式アクチュエ
ータ10Aと並列に電磁式アクチュエータとしてのボイ
スコイルモータ(VCM)方式のアクチュエータ(以
下、「VCMアクチュエータ」という)11Aが設置さ
れている。VCMアクチュエータ11Aは、台座14A
上に固定された固定子50Aと定盤18の底面に固定さ
れた可動子51Aとより構成され、制御装置11からの
指示に応じて、電磁式アクチュエータ駆動系28を介し
て台座14Aから定盤18の底面に対するZ方向への付
勢力、又は定盤18の底面から台座14Aに向かう吸引
力を発生する。他の空圧式アクチュエータ10B〜10
Dにおいても、空圧式アクチュエータ10Aと同様にそ
れぞれ並列にVCMアクチュエータ11B〜11Dが設
置され、これらVCMアクチュエータ11B〜11Dも
電磁式アクチュエータ駆動系28を介して制御装置25
により制御されている。本例のVCMアクチュエータ1
1A〜11Dは10Hz程度以上の周波数の振動を抑制
するために使用される。
0B〜10Dも空圧式アクチュエータ10Aと同様の構
成であり、空圧式アクチュエータ10A〜10Dには空
圧式アクチュエータ駆動系26から圧力調整された空気
が専用配管(図1ではその内、配管27A,27Bを示
す)を介してそれぞれ供給されている。また、図1にお
いて、台座14Aと定盤18との間に空圧式アクチュエ
ータ10Aと並列に電磁式アクチュエータとしてのボイ
スコイルモータ(VCM)方式のアクチュエータ(以
下、「VCMアクチュエータ」という)11Aが設置さ
れている。VCMアクチュエータ11Aは、台座14A
上に固定された固定子50Aと定盤18の底面に固定さ
れた可動子51Aとより構成され、制御装置11からの
指示に応じて、電磁式アクチュエータ駆動系28を介し
て台座14Aから定盤18の底面に対するZ方向への付
勢力、又は定盤18の底面から台座14Aに向かう吸引
力を発生する。他の空圧式アクチュエータ10B〜10
Dにおいても、空圧式アクチュエータ10Aと同様にそ
れぞれ並列にVCMアクチュエータ11B〜11Dが設
置され、これらVCMアクチュエータ11B〜11Dも
電磁式アクチュエータ駆動系28を介して制御装置25
により制御されている。本例のVCMアクチュエータ1
1A〜11Dは10Hz程度以上の周波数の振動を抑制
するために使用される。
【0020】VCMアクチュエータ11A〜11Dは同
一構成であるため、VCMアクチュエータ11Aの構成
につき説明する。図5は本例のVCMアクチュエータ1
1Aを示し、この図5において、固定子50Aは、N極
の軸50Aaの両側にS極の軸50Ab,50Acが形
成された発磁体よりなる。また、可動子51Aは、軸5
0Aaに遊嵌する内筒52、この内筒52の外側に巻回
されたコイル53、及びこのコイル53を覆う外筒54
より構成され、コイル53に流れる電流を調整すること
により、固定子50Aと可動子51Aとの間に軸50A
aに平行な方向(±Z方向)への力が発生する。
一構成であるため、VCMアクチュエータ11Aの構成
につき説明する。図5は本例のVCMアクチュエータ1
1Aを示し、この図5において、固定子50Aは、N極
の軸50Aaの両側にS極の軸50Ab,50Acが形
成された発磁体よりなる。また、可動子51Aは、軸5
0Aaに遊嵌する内筒52、この内筒52の外側に巻回
されたコイル53、及びこのコイル53を覆う外筒54
より構成され、コイル53に流れる電流を調整すること
により、固定子50Aと可動子51Aとの間に軸50A
aに平行な方向(±Z方向)への力が発生する。
【0021】図2において、本例では空圧式アクチュエ
ータ10A〜10D及びVCMアクチュエータ11A〜
11Dよりなる4組のアクチュエータで、定盤18のZ
方向への振動、X軸の周りの回転振動、及びY軸の周り
の回転振動よりなる3自由度の振動を抑制する。理論的
には、3組のアクチュエータで3自由度の振動を抑制で
きるが、定盤18をより安定に支持するため4組のアク
チュエータを用いている。また、空圧式アクチュエータ
10A〜10Dは低周波振動を抑制し、VCMアクチュ
エータ11A〜11Dは高周波振動を抑制するために使
用されている。
ータ10A〜10D及びVCMアクチュエータ11A〜
11Dよりなる4組のアクチュエータで、定盤18のZ
方向への振動、X軸の周りの回転振動、及びY軸の周り
の回転振動よりなる3自由度の振動を抑制する。理論的
には、3組のアクチュエータで3自由度の振動を抑制で
きるが、定盤18をより安定に支持するため4組のアク
チュエータを用いている。また、空圧式アクチュエータ
10A〜10Dは低周波振動を抑制し、VCMアクチュ
エータ11A〜11Dは高周波振動を抑制するために使
用されている。
【0022】図1に戻り、定盤18上にウエハステージ
8が固定され、ウエハステージ8上にウエハホルダ7を
介してウエハ6が吸着保持されている。定盤18上でそ
のウエハステージ8を囲むように第1コラム19が植設
され、第1コラム19の上板の中央部に投影光学系5が
固定され、第1コラム19の上板に投影光学系5を囲む
ように第2コラム20が植設され、第2コラム20の上
板の中央部にレチクルステージ4を介してレチクル3が
載置されている。ウエハステージ8は、3次元的にウエ
ハ6の位置決めを行うと共に、ウエハ6の回転、及びレ
ベリングを行う機能を有し、レチクルステージ4は、レ
チクル3の2次元的な位置の微調整、及び回転角の調整
を行う機能を有する。レチクル3の上方に照明光学系2
が配置され、照明光学系2からの露光用の照明光のもと
で、レチクル3のパターンの投影光学系5を介した像が
ウエハ6の各ショット領域に順次露光される。
8が固定され、ウエハステージ8上にウエハホルダ7を
介してウエハ6が吸着保持されている。定盤18上でそ
のウエハステージ8を囲むように第1コラム19が植設
され、第1コラム19の上板の中央部に投影光学系5が
固定され、第1コラム19の上板に投影光学系5を囲む
ように第2コラム20が植設され、第2コラム20の上
板の中央部にレチクルステージ4を介してレチクル3が
載置されている。ウエハステージ8は、3次元的にウエ
ハ6の位置決めを行うと共に、ウエハ6の回転、及びレ
ベリングを行う機能を有し、レチクルステージ4は、レ
チクル3の2次元的な位置の微調整、及び回転角の調整
を行う機能を有する。レチクル3の上方に照明光学系2
が配置され、照明光学系2からの露光用の照明光のもと
で、レチクル3のパターンの投影光学系5を介した像が
ウエハ6の各ショット領域に順次露光される。
【0023】また、ウエハステージ8上の−X方向の端
部には移動鏡9MXが固定されている。その移動鏡9M
Xに対向する位置には、移動鏡9MXにレーザビームを
照射するレーザ干渉計9Xが設置されており、レーザ干
渉計9Xによりウエハステージ8のX座標が計測され
る。また、図2に示すように、ウエハステージ8上の+
Y方向の端部には移動鏡9MYが固定されており、その
移動鏡9MYに対向する位置にレーザ干渉計9Yが配置
され、レーザ干渉計9Yによりウエハステージ8のY座
標が計測される。レーザ干渉計9X,9Yの計測値は制
御装置25に供給され、制御装置25はそれらの計測値
に基づいて不図示の駆動機構を介してウエハステージ8
の動作を制御する。
部には移動鏡9MXが固定されている。その移動鏡9M
Xに対向する位置には、移動鏡9MXにレーザビームを
照射するレーザ干渉計9Xが設置されており、レーザ干
渉計9Xによりウエハステージ8のX座標が計測され
る。また、図2に示すように、ウエハステージ8上の+
Y方向の端部には移動鏡9MYが固定されており、その
移動鏡9MYに対向する位置にレーザ干渉計9Yが配置
され、レーザ干渉計9Yによりウエハステージ8のY座
標が計測される。レーザ干渉計9X,9Yの計測値は制
御装置25に供給され、制御装置25はそれらの計測値
に基づいて不図示の駆動機構を介してウエハステージ8
の動作を制御する。
【0024】図2に示すように、第1コラム19は4本
の脚部19A〜19Dが定盤6上に植設されている。ま
た、定盤18上のウエハステージ8の周囲の3箇所に定
盤18の加速度を検出するための加速度センサ17A〜
17Cが設置されている。加速度センサ17A〜17C
からの各計測方向の加速度に対応した検出信号は、その
検出信号から高周波信号と低周波信号とを抽出するフィ
ルタ回路を含む制御装置25に供給されている。この場
合、加速度センサ17Aは、Z方向及びX方向の加速度
を検出し、加速度センサ17B及び17CはそれぞれZ
方向、及びY方向の加速度を検出する。制御装置25で
は、3つの加速度センサ17A〜17CのZ方向の加速
度より、定盤18のZ方向の加速度、X軸の周りの角加
速度、及びY軸の周りの角加速度を求め、2つの加速度
センサ17B,17CのY方向の加速度より定盤18の
Y方向の加速度、及びZ軸の周りの角加速度を求める。
即ち、加速度センサ17A〜17Cの検出信号より、定
盤18のX方向、Y方向、及びZ方向への加速度の他
に、ピッチング(XZ平面内の回転)、ヨーイング(Y
Z平面内の回転)、及びXY平面内での回転方向の加速
度(角加速度)が検出される。即ち、加速度センサ17
A〜17Cによって、並進方向に3個で回転方向に3個
の6自由度を有する加速度が検出される。
の脚部19A〜19Dが定盤6上に植設されている。ま
た、定盤18上のウエハステージ8の周囲の3箇所に定
盤18の加速度を検出するための加速度センサ17A〜
17Cが設置されている。加速度センサ17A〜17C
からの各計測方向の加速度に対応した検出信号は、その
検出信号から高周波信号と低周波信号とを抽出するフィ
ルタ回路を含む制御装置25に供給されている。この場
合、加速度センサ17Aは、Z方向及びX方向の加速度
を検出し、加速度センサ17B及び17CはそれぞれZ
方向、及びY方向の加速度を検出する。制御装置25で
は、3つの加速度センサ17A〜17CのZ方向の加速
度より、定盤18のZ方向の加速度、X軸の周りの角加
速度、及びY軸の周りの角加速度を求め、2つの加速度
センサ17B,17CのY方向の加速度より定盤18の
Y方向の加速度、及びZ軸の周りの角加速度を求める。
即ち、加速度センサ17A〜17Cの検出信号より、定
盤18のX方向、Y方向、及びZ方向への加速度の他
に、ピッチング(XZ平面内の回転)、ヨーイング(Y
Z平面内の回転)、及びXY平面内での回転方向の加速
度(角加速度)が検出される。即ち、加速度センサ17
A〜17Cによって、並進方向に3個で回転方向に3個
の6自由度を有する加速度が検出される。
【0025】更に、定盤18の−X方向の側面に可動軸
21Aが埋め込まれ、可動軸21Aと床1上に固定され
た支柱16Aとの間にVCMアクチュエータ12Aが取
り付けられている。VCMアクチュエータ12Aは、V
CMアクチュエータ11Aと同様に、支柱16Aに固定
された発磁体よりなる固定子55Aと、可動軸21Aに
取り付けられたコイルを含む可動子56Aとより構成さ
れ、制御装置25から可動子56A内のコイルに流れる
電流を調整することにより、可動軸21Aに対して+Y
方向又は−Y方向に力を与えることができる。また、可
動軸21Aと支柱16Aとの間にVCMアクチュエータ
12Aと並列に、図4の空圧式アクチュエータ10Aと
同様の構成を有する空圧式アクチュエータ13Aが設置
されている。この空圧式アクチュエータ13Aには、空
圧式アクチュエータ駆動系26から配管27Cを通じて
加圧空気が供給されており、制御装置25からの指令に
基づいて、空圧式アクチュエータ駆動系26からの気体
の圧力を調整することにより、VCMアクチュエータ1
2Aと同様に可動軸21Aに対して+Y方向又は−Y方
向の力を与えることができる。この際に、空圧式アクチ
ュエータ13Aに−Y方向への予圧を与えるために、可
動軸21Aと支柱16Dとの間に対向面が同じ極性とな
った発磁体31A及び31Bが取り付けられている。
21Aが埋め込まれ、可動軸21Aと床1上に固定され
た支柱16Aとの間にVCMアクチュエータ12Aが取
り付けられている。VCMアクチュエータ12Aは、V
CMアクチュエータ11Aと同様に、支柱16Aに固定
された発磁体よりなる固定子55Aと、可動軸21Aに
取り付けられたコイルを含む可動子56Aとより構成さ
れ、制御装置25から可動子56A内のコイルに流れる
電流を調整することにより、可動軸21Aに対して+Y
方向又は−Y方向に力を与えることができる。また、可
動軸21Aと支柱16Aとの間にVCMアクチュエータ
12Aと並列に、図4の空圧式アクチュエータ10Aと
同様の構成を有する空圧式アクチュエータ13Aが設置
されている。この空圧式アクチュエータ13Aには、空
圧式アクチュエータ駆動系26から配管27Cを通じて
加圧空気が供給されており、制御装置25からの指令に
基づいて、空圧式アクチュエータ駆動系26からの気体
の圧力を調整することにより、VCMアクチュエータ1
2Aと同様に可動軸21Aに対して+Y方向又は−Y方
向の力を与えることができる。この際に、空圧式アクチ
ュエータ13Aに−Y方向への予圧を与えるために、可
動軸21Aと支柱16Dとの間に対向面が同じ極性とな
った発磁体31A及び31Bが取り付けられている。
【0026】また、定盤18の+X方向の側面に埋め込
まれた可動軸21Bと床1上に固定された支柱16Bと
の間に、VCMアクチュエータ12Aと同一構成のVC
Mアクチュエータ12B、及び空圧式アクチュエータ1
3Aと同一構成の空圧式アクチュエータ13Bが並列に
取り付けられており、それぞれ制御装置25からの指示
により電磁式アクチュエータ駆動系28及び空圧式アク
チュエータ駆動系26を介して可動軸21Bに対して+
Y方向又は−Y方向に力を与えることができるようにな
っている。なお、空圧式アクチュエータ13Bには、空
圧式アクチュエータ駆動系26から配管27Dを通じて
加圧空気が供給されている。
まれた可動軸21Bと床1上に固定された支柱16Bと
の間に、VCMアクチュエータ12Aと同一構成のVC
Mアクチュエータ12B、及び空圧式アクチュエータ1
3Aと同一構成の空圧式アクチュエータ13Bが並列に
取り付けられており、それぞれ制御装置25からの指示
により電磁式アクチュエータ駆動系28及び空圧式アク
チュエータ駆動系26を介して可動軸21Bに対して+
Y方向又は−Y方向に力を与えることができるようにな
っている。なお、空圧式アクチュエータ13Bには、空
圧式アクチュエータ駆動系26から配管27Dを通じて
加圧空気が供給されている。
【0027】また、定盤18の+X方向の側面の中央部
と床1上に固定された支柱16Cとの間に、VCMアク
チュエータ12Aと同一構成のVCMアクチュエータ1
4、及び空圧式アクチュエータ13Aと同一構成の空圧
式アクチュエータ15が並列に取り付けられている。こ
れらの2つのアクチュエータ14,15は、制御装置2
5からの指示により定盤18に対して+X方向、又は−
X方向に力を与えることができる。なお、空圧式アクチ
ュエータ15には、空圧式アクチュエータ駆動系26か
ら配管27Eを通じて加圧空気が供給されている。ま
た、定盤18の−X方向の側面と床1上に固定された支
柱16Eとの間に、対向面が同じ極性の発磁体32A,
32Bが固定され、発磁体32A,32Bの反発力によ
って空圧式アクチュエータ15に+X方向への予圧がか
けられている。同様に、支柱16Cと可動軸21Bとの
間に固定された発磁体33A,33Bによって、アクチ
ュエータ13Bに−Y方向への予圧がかけられている。
と床1上に固定された支柱16Cとの間に、VCMアク
チュエータ12Aと同一構成のVCMアクチュエータ1
4、及び空圧式アクチュエータ13Aと同一構成の空圧
式アクチュエータ15が並列に取り付けられている。こ
れらの2つのアクチュエータ14,15は、制御装置2
5からの指示により定盤18に対して+X方向、又は−
X方向に力を与えることができる。なお、空圧式アクチ
ュエータ15には、空圧式アクチュエータ駆動系26か
ら配管27Eを通じて加圧空気が供給されている。ま
た、定盤18の−X方向の側面と床1上に固定された支
柱16Eとの間に、対向面が同じ極性の発磁体32A,
32Bが固定され、発磁体32A,32Bの反発力によ
って空圧式アクチュエータ15に+X方向への予圧がか
けられている。同様に、支柱16Cと可動軸21Bとの
間に固定された発磁体33A,33Bによって、アクチ
ュエータ13Bに−Y方向への予圧がかけられている。
【0028】この場合、本例では空圧式アクチュエータ
15及びVCMアクチュエータ14によって定盤18の
X方向の振動が抑制され、空圧式アクチュエータ13A
とVCMアクチュエータ12Aとからなる第1のY軸の
アクチュエータによって定盤18のY方向の振動が抑制
される。更に、空圧式アクチュエータ13BとVCMア
クチュエータ12Bとからなる第2のY軸のアクチュエ
ータによって定盤18のZ軸の周りの回転方向の振動が
抑制される。また、空圧式アクチュエータ13A,13
B,15はオフセット成分から10Hz程度までの低周
波振動を抑制し、VCMアクチュエータ12A,12
B,14は10Hz程度以上の高周波振動を抑制する機
能を有する。これら3組のアクチュエータと、定盤18
の底面の4組のアクチュエータによって、定盤18の3
自由度の並進方向の振動、及び3自由度の回転方向の振
動よりなる6自由度の振動が抑制される。
15及びVCMアクチュエータ14によって定盤18の
X方向の振動が抑制され、空圧式アクチュエータ13A
とVCMアクチュエータ12Aとからなる第1のY軸の
アクチュエータによって定盤18のY方向の振動が抑制
される。更に、空圧式アクチュエータ13BとVCMア
クチュエータ12Bとからなる第2のY軸のアクチュエ
ータによって定盤18のZ軸の周りの回転方向の振動が
抑制される。また、空圧式アクチュエータ13A,13
B,15はオフセット成分から10Hz程度までの低周
波振動を抑制し、VCMアクチュエータ12A,12
B,14は10Hz程度以上の高周波振動を抑制する機
能を有する。これら3組のアクチュエータと、定盤18
の底面の4組のアクチュエータによって、定盤18の3
自由度の並進方向の振動、及び3自由度の回転方向の振
動よりなる6自由度の振動が抑制される。
【0029】次に、それら6自由度の振動の内のX方向
の振動を抑制するための制御系の構成につき、図3を参
照して説明する。他の軸の振動も同様の制御系で制御さ
れる。図3は、定盤18のX軸の振動を抑制するための
制御系を示し、この図3において、加速度センサ17A
はストレインゲージ又は圧電素子等からなるX軸の加速
度センサ17AX、及びZ軸の加速度センサ17AZを
含み、X軸の加速度センサ17AXから定盤18のX方
向の加速度に対応する検出信号Iが出力される。検出信
号Iは、制御装置25中のハイパスフィルタ回路(以
下、「HPF」と略称する)25a及びローパスフィル
タ回路(以下、「LPF」と略称する)25bに供給さ
れる。HPF25aは周波数が10Hz程度より高い信
号を抽出し、LPF25bは周波数が10Hz程度より
低い信号を抽出する。HPF25aからの高周波信号I
Hには、電磁式アクチュエータ駆動系28中のフィード
バック回路28aで所定のゲインが与えられ、フィード
バック回路28aの出力信号がパワーアンプ28bを介
して図2のX軸のVCMアクチュエータ14のコイルに
供給される。それと並行して、LPF25bからの低周
波信号ILには、空圧式アクチュエータ駆動系26中の
フィードバック回路26aで所定のゲインが与えられ、
フィードバック回路26aの出力信号がパワーアンプ2
6bを介して圧力制御部26cを駆動する。この圧力制
御部26cによって配管27Eを介して図2のX軸の空
圧式アクチュエータ15が駆動される。
の振動を抑制するための制御系の構成につき、図3を参
照して説明する。他の軸の振動も同様の制御系で制御さ
れる。図3は、定盤18のX軸の振動を抑制するための
制御系を示し、この図3において、加速度センサ17A
はストレインゲージ又は圧電素子等からなるX軸の加速
度センサ17AX、及びZ軸の加速度センサ17AZを
含み、X軸の加速度センサ17AXから定盤18のX方
向の加速度に対応する検出信号Iが出力される。検出信
号Iは、制御装置25中のハイパスフィルタ回路(以
下、「HPF」と略称する)25a及びローパスフィル
タ回路(以下、「LPF」と略称する)25bに供給さ
れる。HPF25aは周波数が10Hz程度より高い信
号を抽出し、LPF25bは周波数が10Hz程度より
低い信号を抽出する。HPF25aからの高周波信号I
Hには、電磁式アクチュエータ駆動系28中のフィード
バック回路28aで所定のゲインが与えられ、フィード
バック回路28aの出力信号がパワーアンプ28bを介
して図2のX軸のVCMアクチュエータ14のコイルに
供給される。それと並行して、LPF25bからの低周
波信号ILには、空圧式アクチュエータ駆動系26中の
フィードバック回路26aで所定のゲインが与えられ、
フィードバック回路26aの出力信号がパワーアンプ2
6bを介して圧力制御部26cを駆動する。この圧力制
御部26cによって配管27Eを介して図2のX軸の空
圧式アクチュエータ15が駆動される。
【0030】次に本例の防振装置の動作につき説明す
る。露光装置においては、前述のように、床1及び定盤
18等の緩やかな傾斜、定盤18の緩やかな横ゆれ、及
び露光装置の周辺に引き回された配線及び配管等の移動
に伴う定盤18の回転等の低い周波数の振動成分と、ウ
エハステージ8等の高速な移動時に発生する高い周波数
の振動成分とがある。以下では、定盤18のX方向への
振動を抑制する動作について説明する。本例では、図3
に示すように高い周波数の振動成分と低い周波数の振動
成分とを別々に抽出し、高い周波数の振動成分に対して
は、高い周波数の振動を高い応答速度で抑制するVCM
アクチュエータ14を使用し、低い周波数の振動成分に
対しては、低い周波数の振動を低い発熱量で抑制できる
空圧式アクチュエータ15を使用している。即ち、加速
度センサ17A中のX軸の加速度センサ17AXからの
検出信号は図3に示すように、HPF25a及びLPF
25bに供給されている。
る。露光装置においては、前述のように、床1及び定盤
18等の緩やかな傾斜、定盤18の緩やかな横ゆれ、及
び露光装置の周辺に引き回された配線及び配管等の移動
に伴う定盤18の回転等の低い周波数の振動成分と、ウ
エハステージ8等の高速な移動時に発生する高い周波数
の振動成分とがある。以下では、定盤18のX方向への
振動を抑制する動作について説明する。本例では、図3
に示すように高い周波数の振動成分と低い周波数の振動
成分とを別々に抽出し、高い周波数の振動成分に対して
は、高い周波数の振動を高い応答速度で抑制するVCM
アクチュエータ14を使用し、低い周波数の振動成分に
対しては、低い周波数の振動を低い発熱量で抑制できる
空圧式アクチュエータ15を使用している。即ち、加速
度センサ17A中のX軸の加速度センサ17AXからの
検出信号は図3に示すように、HPF25a及びLPF
25bに供給されている。
【0031】図7(a)は、加速度センサ17AXの検
出信号Iを示し、横軸は時間t、縦軸は検出信号Iを表
す。この図7(a)に示すように、検出信号Iは低周波
数帯の信号と高い周波数帯の信号とが合成された信号で
ある。これに対応して、図3のHPF25aでは図7
(b)に示すように高周波信号IHを抽出し、LPF2
5bでは図7(c)に示すように低周波信号ILを抽出
する。
出信号Iを示し、横軸は時間t、縦軸は検出信号Iを表
す。この図7(a)に示すように、検出信号Iは低周波
数帯の信号と高い周波数帯の信号とが合成された信号で
ある。これに対応して、図3のHPF25aでは図7
(b)に示すように高周波信号IHを抽出し、LPF2
5bでは図7(c)に示すように低周波信号ILを抽出
する。
【0032】高周波信号IH及び低周波信号ILはそれ
ぞれ図3のフィードバック回路28a及び26aに供給
され、フィードバック回路26aは低周波信号ILが0
になるように空圧式アクチュエータ15を駆動する。並
行して、フィードバック回路28aは高周波信号IHが
0になるようにVCMアクチュエータ14を駆動する。
これによって、定盤18のX方向の高周波振動成分は高
い応答速度で抑制され、低周波振動成分はオフセット成
分も含めて低い発熱量で抑制される。また、高周波振動
成分は振幅が小さく、且つ断続的であるため、VCMア
クチュエータ14の発熱量は少ない。それ以外の5自由
度の振動も同様に抑制される。従って、定盤18(露光
装置)の6自由度の振動を止めることができる。
ぞれ図3のフィードバック回路28a及び26aに供給
され、フィードバック回路26aは低周波信号ILが0
になるように空圧式アクチュエータ15を駆動する。並
行して、フィードバック回路28aは高周波信号IHが
0になるようにVCMアクチュエータ14を駆動する。
これによって、定盤18のX方向の高周波振動成分は高
い応答速度で抑制され、低周波振動成分はオフセット成
分も含めて低い発熱量で抑制される。また、高周波振動
成分は振幅が小さく、且つ断続的であるため、VCMア
クチュエータ14の発熱量は少ない。それ以外の5自由
度の振動も同様に抑制される。従って、定盤18(露光
装置)の6自由度の振動を止めることができる。
【0033】なお、電磁式アクチュエータとしてVCM
アクチュエータの代わりに、リニアモータ方式のアクチ
ュエータを使用してもよい。また、空圧式アクチュエー
タの代わりに、図6に示すような磁石と機械的な駆動機
構とを組み合わせたアクチュエータを使用することもで
きる。この図6において、上下にそれぞれS極及びN極
を有する平板状の磁石70Aは、例えば空圧式アクチュ
エータ10Aの代わりに用いる場合には、定盤18側に
固定される。磁石70Aの下部には上部にN極、下部に
S極を有する平板状の磁石70Bが、磁石70Aに平行
な状態で配置されている。磁石70A,70Bは対向す
る面側が共にN極となっており、両磁石70A,70B
間には常に反発力が作用している。磁石70Bの底部に
は雌ねじ部71Aが固定されており、雌ねじ部71Aが
螺合する雄ねじ71Bは回転モータ72によって回転自
在に支持されている。回転モータ72の回転により、送
りねじ方式により磁石70Bが上下に移動し、それに伴
って磁石70A(図1の定盤18)が上下に駆動され
る。図6のアクチュエータは、低周波数の振動を低い発
熱量で抑制できるアクチュエータとして使用できる。こ
の場合、回転モータ72と定盤18とは直接繋がってい
ないため、床1からの振動や回転モータ72の振動が定
盤18に直接伝達されないという特徴がある。
アクチュエータの代わりに、リニアモータ方式のアクチ
ュエータを使用してもよい。また、空圧式アクチュエー
タの代わりに、図6に示すような磁石と機械的な駆動機
構とを組み合わせたアクチュエータを使用することもで
きる。この図6において、上下にそれぞれS極及びN極
を有する平板状の磁石70Aは、例えば空圧式アクチュ
エータ10Aの代わりに用いる場合には、定盤18側に
固定される。磁石70Aの下部には上部にN極、下部に
S極を有する平板状の磁石70Bが、磁石70Aに平行
な状態で配置されている。磁石70A,70Bは対向す
る面側が共にN極となっており、両磁石70A,70B
間には常に反発力が作用している。磁石70Bの底部に
は雌ねじ部71Aが固定されており、雌ねじ部71Aが
螺合する雄ねじ71Bは回転モータ72によって回転自
在に支持されている。回転モータ72の回転により、送
りねじ方式により磁石70Bが上下に移動し、それに伴
って磁石70A(図1の定盤18)が上下に駆動され
る。図6のアクチュエータは、低周波数の振動を低い発
熱量で抑制できるアクチュエータとして使用できる。こ
の場合、回転モータ72と定盤18とは直接繋がってい
ないため、床1からの振動や回転モータ72の振動が定
盤18に直接伝達されないという特徴がある。
【0034】また、VCMアクチュエータ12A等から
の発熱を更に低減させるために、VCMアクチュエータ
12A等の周囲を覆い、温調した空気等の流体により発
生熱を除去するような構成にしてもよい。また、上述の
実施の形態ではセンサとして加速度センサ17A〜17
Cが使用されているが、その代わりに変位センサや速度
センサ等を使用してもよい。
の発熱を更に低減させるために、VCMアクチュエータ
12A等の周囲を覆い、温調した空気等の流体により発
生熱を除去するような構成にしてもよい。また、上述の
実施の形態ではセンサとして加速度センサ17A〜17
Cが使用されているが、その代わりに変位センサや速度
センサ等を使用してもよい。
【0035】なお、上述の例はステッパー方式の投影露
光装置に本発明を適用したものであるが、本発明はステ
ップ・アンド・スキャン方式等の走査露光型の投影露光
装置にも適用できる。特に、走査露光型では走査露光の
開始時に大きな加速度が発生するため、本例のように空
圧式アクチュエータ及び電磁式アクチュエータが備えら
れている防振装置は有効である。
光装置に本発明を適用したものであるが、本発明はステ
ップ・アンド・スキャン方式等の走査露光型の投影露光
装置にも適用できる。特に、走査露光型では走査露光の
開始時に大きな加速度が発生するため、本例のように空
圧式アクチュエータ及び電磁式アクチュエータが備えら
れている防振装置は有効である。
【0036】このように、本発明は上述の実施の形態に
限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構
成を取り得る。
限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構
成を取り得る。
【0037】
【発明の効果】本発明の第1の防振装置によれば、オフ
セット成分を含む第1の周波数帯及びこれより高い第2
の周波数帯のそれぞれの振動を抑制する第1及び第2の
アクチュエータを備えている。従って、第1のアクチュ
エータとして応答周波数が低いが発熱量の小さいものを
使用し、第2のアクチュエータとして発熱量が多いが応
答速度の高いものを使用することで、高周波振動は高い
応答速度で抑制でき、オフセット成分と見なせるような
変位や傾きは少ない発熱量で抑制できる利点がある。ま
た、第1及び第2のアクチュエータはそれぞれ6軸の制
振手段であるため、処理対象物の並進方向に3自由度で
回転方向に3自由度の合計6自由度の振動を抑制でき
る。例えば露光装置においては、露光装置本体を搭載す
る定盤や設置面の傾斜の制御に伴う低周波数帯の振動や
ステージ装置の移動に伴う高周波数帯の振動が混在して
おり、このような装置が処理対象物となる場合に本発明
は有効である。
セット成分を含む第1の周波数帯及びこれより高い第2
の周波数帯のそれぞれの振動を抑制する第1及び第2の
アクチュエータを備えている。従って、第1のアクチュ
エータとして応答周波数が低いが発熱量の小さいものを
使用し、第2のアクチュエータとして発熱量が多いが応
答速度の高いものを使用することで、高周波振動は高い
応答速度で抑制でき、オフセット成分と見なせるような
変位や傾きは少ない発熱量で抑制できる利点がある。ま
た、第1及び第2のアクチュエータはそれぞれ6軸の制
振手段であるため、処理対象物の並進方向に3自由度で
回転方向に3自由度の合計6自由度の振動を抑制でき
る。例えば露光装置においては、露光装置本体を搭載す
る定盤や設置面の傾斜の制御に伴う低周波数帯の振動や
ステージ装置の移動に伴う高周波数帯の振動が混在して
おり、このような装置が処理対象物となる場合に本発明
は有効である。
【0038】また、ベース部材の6自由度の変位を検出
するセンサと、このセンサの検出結果に基づいて6軸の
制振手段の動作を制御する制御手段と、を備える場合に
は、そのセンサによりそのベース部材の6自由度の変位
を検出し、この検出結果をフィードバックしてその第1
及び第2のアクチュエータを制御することで、ベース部
材上の処理対象物の6自由度の振動をより高精度に抑制
できる。
するセンサと、このセンサの検出結果に基づいて6軸の
制振手段の動作を制御する制御手段と、を備える場合に
は、そのセンサによりそのベース部材の6自由度の変位
を検出し、この検出結果をフィードバックしてその第1
及び第2のアクチュエータを制御することで、ベース部
材上の処理対象物の6自由度の振動をより高精度に抑制
できる。
【0039】また、第1のアクチュエータが空圧式アク
チュエータであり、第2のアクチュエータが電磁式アク
チュエータであると共に、その制御手段は、そのセンサ
の検出結果より第1の周波数帯の振動成分、及び第2の
周波数帯の振動成分を抽出するフィルタ手段と、このフ
ィルタ手段から出力される第1の周波数帯の振動成分に
基づいてその第1のアクチュエータを駆動する第1の駆
動手段と、そのフィルタ手段から出力される第2の周波
数帯の振動成分に基づいてその第2のアクチュエータを
駆動する第2の駆動手段と、を有する場合には、空圧式
アクチュエータは応答周波数は低いが発熱量が小さく、
電磁式アクチュエータは発熱量が大きいが応答周波数は
高いため、高い周波数の振動は高い応答速度で抑制さ
れ、低い周波数の振動は小さい発熱量で抑制される。従
って、露光装置の防振台に適用した場合には、露光装置
のレーザ干渉計の光路の揺らぎに対する熱的影響が改善
される利点がある。
チュエータであり、第2のアクチュエータが電磁式アク
チュエータであると共に、その制御手段は、そのセンサ
の検出結果より第1の周波数帯の振動成分、及び第2の
周波数帯の振動成分を抽出するフィルタ手段と、このフ
ィルタ手段から出力される第1の周波数帯の振動成分に
基づいてその第1のアクチュエータを駆動する第1の駆
動手段と、そのフィルタ手段から出力される第2の周波
数帯の振動成分に基づいてその第2のアクチュエータを
駆動する第2の駆動手段と、を有する場合には、空圧式
アクチュエータは応答周波数は低いが発熱量が小さく、
電磁式アクチュエータは発熱量が大きいが応答周波数は
高いため、高い周波数の振動は高い応答速度で抑制さ
れ、低い周波数の振動は小さい発熱量で抑制される。従
って、露光装置の防振台に適用した場合には、露光装置
のレーザ干渉計の光路の揺らぎに対する熱的影響が改善
される利点がある。
【0040】また、本発明の第2の防振装置によれば、
少なくとも1軸の振動に対してセンサの検出結果に基づ
いてフィルタ手段により第1及び第2の周波数帯の振動
成分を抽出し、それぞれの振動成分を第1及び第2のア
クチュエータを駆動して個別に抑制している。従って、
例えば第1のアクチュエータとして応答周波数が低いが
発熱量が小さいものを使用し、第2のアクチュエータと
して発熱量が多いが応答周波数の高いものを使用するこ
とで、少なくとも1軸の振動に対して高周波振動は高い
応答速度で抑制でき、低周波振動が少ない発熱量で抑制
できる利点がある。
少なくとも1軸の振動に対してセンサの検出結果に基づ
いてフィルタ手段により第1及び第2の周波数帯の振動
成分を抽出し、それぞれの振動成分を第1及び第2のア
クチュエータを駆動して個別に抑制している。従って、
例えば第1のアクチュエータとして応答周波数が低いが
発熱量が小さいものを使用し、第2のアクチュエータと
して発熱量が多いが応答周波数の高いものを使用するこ
とで、少なくとも1軸の振動に対して高周波振動は高い
応答速度で抑制でき、低周波振動が少ない発熱量で抑制
できる利点がある。
【図1】本発明の防振装置の実施の形態の一例が適用さ
れた投影露光装置を示す概略構成図である。
れた投影露光装置を示す概略構成図である。
【図2】図1のAA線に沿う断面図である。
【図3】図2中のX軸の空圧式アクチュエータ15及び
VCMアクチュエータ14の駆動系を示す構成図であ
る。
VCMアクチュエータ14の駆動系を示す構成図であ
る。
【図4】図1の空圧式アクチュエータ10Aの概略構成
を示す拡大断面図である。
を示す拡大断面図である。
【図5】図1のVCMアクチュエータ11Aの概略構成
を示す拡大断面図である。
を示す拡大断面図である。
【図6】図4の空圧式アクチュエータの代わりに使用で
きるアクチュエータを示す断面図である。
きるアクチュエータを示す断面図である。
【図7】(a)は本発明の実施の形態の一例で加速度セ
ンサによって検出される検出信号Iを示す波形図、
(b)はその検出信号I中の高周波信号IHを示す波形
図、(c)はその検出信号I中の低周波信号ILを示す
波形図である。
ンサによって検出される検出信号Iを示す波形図、
(b)はその検出信号I中の高周波信号IHを示す波形
図、(c)はその検出信号I中の低周波信号ILを示す
波形図である。
1 床 2 照明光学系 3 レチクル 4 レチクルステージ 5 投影光学系 6 ウエハ 8 ウエハステージ 9X,9Y レーザ干渉計 10A〜10D 空圧式アクチュエータ(Z方向用) 11A〜11D VCMアクチュエータ(Z方向用) 12A,12B VCMアクチュエータ(Y方向用) 13A,13B 空圧式アクチュエータ(Y方向用) 14 VCMアクチュエータ(X方向用) 15 空圧式アクチュエータ(X方向用) 17A,17B,17C 加速度センサ 18 定盤 25 制御装置 26 空圧式アクチュエータ駆動系 28 電磁式アクチュエータ駆動系
Claims (4)
- 【請求項1】 処理対象物が載置されるベース部材と、 該ベース部材の所定の設置面に対する6自由度の振動を
抑制する6軸の制振手段と、を備え、 該6軸の制振手段はそれぞれ、オフセット成分を含む第
1の周波数帯の振動を抑制する第1のアクチュエータ
と、前記第1の周波数帯より中心周波数が高い第2の周
波数帯の振動を抑制する第2のアクチュエータとを有す
ることを特徴とする防振装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の防振装置であって、 前記ベース部材の6自由度の変位を検出するセンサと、 該センサの検出結果に基づいて前記6軸の制振手段の動
作を制御する制御手段と、を備えたことを特徴とする防
振装置。 - 【請求項3】 請求項2記載の防振装置であって、 前記第1のアクチュエータは、空圧式アクチュエータで
あり、前記第2のアクチュエータは電磁式アクチュエー
タであると共に、 前記制御手段は、前記センサの検出結果より前記第1の
周波数帯の振動成分、及び前記第2の周波数帯の振動成
分を抽出するフィルタ手段と、 該フィルタ手段から出力される前記第1の周波数帯の振
動成分に基づいて前記第1のアクチュエータを駆動する
第1の駆動手段と、 前記フィルタ手段から出力される前記第2の周波数帯の
振動成分に基づいて前記第2のアクチュエータを駆動す
る第2の駆動手段と、を有することを特徴とする防振装
置。 - 【請求項4】 処理対象物が載置されるベース部材と、
該ベース部材の所定の設置面に対する所定方向への振動
を抑制する制振手段と、を備えた防振装置において、 前記制振手段は、オフセット成分を含む第1の周波数帯
の振動を抑制する第1のアクチュエータと、前記第1の
周波数帯より中心周波数が高い第2の周波数帯の振動を
抑制する第2のアクチュエータとを有し、 前記ベース部材の前記所定方向への変位を検出するセン
サと、 該センサの検出結果より前記第1の周波数帯の振動成
分、及び前記第2の周波数帯の振動成分を抽出するフィ
ルタ手段と、 該フィルタ手段から出力される前記第1の周波数帯の振
動成分に基づいて前記第1のアクチュエータを駆動する
と共に、前記フィルタ手段から出力される前記第2の周
波数帯の振動成分に基づいて前記第2のアクチュエータ
を駆動する制御手段と、が設けられたことを特徴とする
防振装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8239013A JPH1089403A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 防振装置 |
KR1019970042081A KR19980024198A (ko) | 1996-09-10 | 1997-08-28 | 진동 절연 장치 |
US08/920,010 US6036162A (en) | 1996-09-10 | 1997-08-29 | Vibration isolator and method of isolating vibration |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8239013A JPH1089403A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 防振装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1089403A true JPH1089403A (ja) | 1998-04-07 |
Family
ID=17038604
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8239013A Withdrawn JPH1089403A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 防振装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6036162A (ja) |
JP (1) | JPH1089403A (ja) |
KR (1) | KR19980024198A (ja) |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US6518721B2 (en) * | 2000-03-24 | 2003-02-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Oscillation isolator |
US6862077B2 (en) | 1998-04-30 | 2005-03-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Anti-vibration system for exposure apparatus |
JP2007309521A (ja) * | 2006-05-20 | 2007-11-29 | Integrated Dynamics Engineering Gmbh | 組み合わされた位置アクチュエータをもつ能動振動絶縁システム |
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JP2011058629A (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-24 | Integrated Dynamics Engineering Gmbh | 改良型能動振動絶縁システム |
JP2011190840A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Mitsutoyo Corp | 位置決め装置及び振動除去装置 |
JP2012019213A (ja) * | 2010-07-09 | 2012-01-26 | Asml Netherlands Bv | 可変リラクタンスデバイス、ステージ装置、リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
CN102394548A (zh) * | 2011-09-22 | 2012-03-28 | 北京航空航天大学 | 一种音圈隔振/抑振结构及其控制方法 |
CN103925330A (zh) * | 2014-04-18 | 2014-07-16 | 清华大学 | 一种磁悬浮平面电机推力分配方法 |
WO2015018236A1 (zh) * | 2013-08-07 | 2015-02-12 | 华中科技大学 | 一种六自由度主动隔振装置 |
KR101707899B1 (ko) * | 2015-08-26 | 2017-02-28 | 한국생산기술연구원 | 할바흐 자석 배열을 이용한 잔류 진동 제어 시스템과 이를 이용한 광학 검사 장치 및 후가공 장치 |
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