JPH1049884A - Optical pickup device - Google Patents
Optical pickup deviceInfo
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- JPH1049884A JPH1049884A JP8202527A JP20252796A JPH1049884A JP H1049884 A JPH1049884 A JP H1049884A JP 8202527 A JP8202527 A JP 8202527A JP 20252796 A JP20252796 A JP 20252796A JP H1049884 A JPH1049884 A JP H1049884A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は光ピックアップ装置
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup device.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、分離手段としてホログラム素子
(回折素子)を用いた光ピックアップ装置が研究開発さ
れている。2. Description of the Related Art In recent years, an optical pickup device using a hologram element (diffraction element) as a separating means has been researched and developed.
【0003】図14は、特開平3−76035号(G1
1B 7/135)公報に記載された非点収差法による
フォーカスサーボ及び3ビーム法によるトラッキングサ
ーボを行う光ピックアップ装置の概略構成図である。FIG. 14 is a diagram of Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-76035 (G1).
FIG. 1B is a schematic configuration diagram of an optical pickup device that performs a focus servo by an astigmatism method and a tracking servo by a three-beam method described in Japanese Patent Laid-Open No. 1B 7/135).
【0004】図中、101は光ディスク、102はレー
ザ光(光束)を上方向に出力する半導体レーザ素子、1
03は前記光束を3本の光束に分割するための3分割用
回折格子、104は前記3本の光束を透過し且つディス
ク101からの帰還光束(反射光束)を回折し、該光束
にフォーカス状態に対応した非点収差を与えるためのホ
ログラム素子(回折素子)、105は前記ホログラム素
子104を透過した3本の光束をディスク101上に、
主スポットとその両側に位置する副スポットの3個のス
ポットとして集光するための集光レンズ(集光手段)、
106はホログラム素子104で回折された光ディスク
101からの帰還光束の回折光束を検出する光検出器で
ある。In FIG. 1, reference numeral 101 denotes an optical disk; 102, a semiconductor laser element for outputting a laser beam (light flux) upward;
Numeral 03 denotes a three-division grating for splitting the light beam into three light beams, and 104 a light beam which transmits the three light beams and diffracts a return light beam (reflected light beam) from the disk 101 and focuses on the light beam. A hologram element (diffraction element) 105 for giving astigmatism corresponding to the above, and the three luminous fluxes transmitted through the hologram element 104
A condensing lens (condensing means) for condensing as three spots of a main spot and sub spots located on both sides thereof;
Reference numeral 106 denotes a photodetector that detects a diffracted light beam of the return light beam from the optical disk 101 diffracted by the hologram element 104.
【0005】図15は、前記光検出器106の一例であ
る6分割光検出器の模式上面図である。FIG. 15 is a schematic top view of a six-segment photodetector, which is an example of the photodetector 106.
【0006】この光検出器106は、前記主スポットに
係る反射光束を検出して従来周知の非点収差法によるフ
ォーカスエラー信号FES及び再生信号を出力するため
の光検出部106a〜106dからなる4分割光検出部
と、前記副スポットに係る反射光束を用いて従来周知の
3ビームトラッキング法によるトラッキングエラー信号
TESを出力するための上記4分割光検出部の両側に位
置する光検出部106e、106fを有する。The photodetector 106 comprises photodetectors 106a to 106d for detecting a reflected light beam relating to the main spot and outputting a focus error signal FES and a reproduction signal by a conventionally known astigmatism method. Photodetectors 106e and 106f located on both sides of the above-mentioned four-divided light detector for outputting a tracking error signal TES by a conventionally known three-beam tracking method using the divided light detector and the reflected light beam relating to the sub spot. Having.
【0007】上記フォ−カスエラー信号FESは、上記
4分割光検出部の各光検出部106a〜106dの出力
信号Sa〜Sdを用いて、FES=(Sa+Sc)−(Sb
+Sd)の演算により求められる。[0007] The follower - Kasuera signal FES using the output signal S a to S d of each optical detector 106a~106d of the 4-division optical detector, FES = (S a + S c) - (S b
+ S d ).
【0008】また、上記トラッキングエラー信号TES
は、上記主スポットのトラックずれに応じて出力信号差
を生じる上記副スポットに係る反射光束をそれぞれ独立
に検出する光検出部106e、106fの出力信号
Se、Sfの差(Se−Sf)から求められる。In addition, the tracking error signal TES
Is the difference (S e −S) between the output signals S e and S f of the light detection units 106 e and 106 f that independently detect the reflected light fluxes related to the sub-spots that generate an output signal difference in accordance with the track shift of the main spot. f ).
【0009】ところで、上記半導体レーザ素子102
は、素子温度に依存して発振波長変動が生じ、この発振
波長変動によりホログラム素子104で帰還光束が回折
されて生じる回折光束の回折角度が異なることとなるの
で、発振波長変動に伴ってFES=(Sa+Sc)−(S
b+Sd)に変動が生じる恐れがある。By the way, the semiconductor laser device 102
Is caused by the oscillation wavelength fluctuation depending on the element temperature, and the diffraction angle of the diffracted light beam generated by diffracting the feedback light beam by the hologram element 104 due to the fluctuation of the oscillation wavelength. Therefore, the FES = (S a + S c ) − (S
b + Sd ) may fluctuate.
【0010】このため、発振波長変動に起因するFES
の変動を防止するように、光検出器106の4分割光検
出部は、発振波長変動によりホログラム素子104の回
折光束が移動する方向に略沿った分割線106gにより
分割される。For this reason, the FES caused by the oscillation wavelength fluctuation
Is divided by a dividing line 106g substantially along the direction in which the diffracted light beam of the hologram element 104 moves due to the oscillation wavelength fluctuation.
【0011】しかしながら、上述のように波長変動を考
慮して光検出器106を配置した場合においても、波長
変動が大きくなると、回折光束の集光スポットが分割線
106gと分割線106hとの交点を外れてしまうた
め、正確なFESが得られなくなるといった問題が生じ
る。However, even when the photodetector 106 is arranged in consideration of the wavelength variation as described above, when the wavelength variation becomes large, the condensed spot of the diffracted light beam becomes an intersection of the division line 106g and the division line 106h. As a result, there arises a problem that an accurate FES cannot be obtained.
【0012】この問題を解決するために、本願出願人
は、フォーカスサーボ用の光検出部として、上記互いに
直交する分割線106g、106hにより分割される4
分割光検出部に代え、図16に示すような互いに平行な
分割線により分割されるフォーカスサーボ用の3分割光
検出部206を採用した。この場合には、光検出部20
6a〜206cの出力信号Sa〜Scから、FES=(S
a+Sc)−Sbを演算してフォーカスエラー信号が得ら
れる。In order to solve this problem, the applicant of the present application has proposed, as a focus servo photodetector, a photodetector 4 which is divided by the above-mentioned mutually orthogonal dividing lines 106g and 106h.
Instead of the split light detecting section, a three-split light detecting section 206 for focus servo which is split by parallel split lines as shown in FIG. In this case, the light detection unit 20
From the output signal S a to S c of 6a~206c, FES = (S
focus error signal is obtained by calculating the a + S c) -S b.
【0013】しかしながら、上記光検出部206を用い
た場合、光軸方向の集光レンズ105の移動量とFES
強度の関係を示すSカーブ特性を良好にするために、回
折光束の集光スポットが光検出部206a、206cに
均等に跨るように設定する必要があるが、この調整が困
難であった。However, when the light detection unit 206 is used, the amount of movement of the condenser lens 105 in the optical axis direction and the FES
In order to improve the S-curve characteristic indicating the relationship between the intensities, it is necessary to set the condensed spot of the diffracted light beam so as to equally straddle the light detection units 206a and 206c, but this adjustment is difficult.
【0014】そこで、更に本願出願人は、図17に示す
ようなピックアップ装置を作製し、実験を行った。Then, the applicant further made a pickup device as shown in FIG. 17 and conducted an experiment.
【0015】図中、301は光ディスク、302はレー
ザ光(光束)を上方向に出力する半導体レーザ素子、3
03は前記光束を3本の光束(主光束とその両側に位置
する一対の副光束)に分割するための3分割用回折格
子、304は前記3本の光束を透過し且つディスク30
1からの3本の帰還光束(反射光束)を2分割すると共
に回折し、且つ該2分割された光束にフォーカス状態に
対応した非点収差を与えるためのホログラム素子(回折
素子)、305は前記ホログラム素子304を透過した
3本の光束をディスク301上に、主スポットとその両
側に位置する副スポットの3個のスポットとして集光す
るための集光レンズ、306はホログラム素子304で
回折されたディスク301からの帰還光束の回折光束を
検出する光検出器である。In FIG. 1, reference numeral 301 denotes an optical disk; 302, a semiconductor laser element for outputting a laser beam (light flux) in an upward direction;
Numeral 03 denotes a three-division diffraction grating for splitting the light beam into three light beams (a main light beam and a pair of sub-light beams located on both sides of the main light beam).
A hologram element (diffraction element) 305 for splitting and diffracting the three return light beams (reflected light beams) from 1 and giving astigmatism corresponding to the focus state to the two split light beams, and 305 A condensing lens for condensing the three light beams transmitted through the hologram element 304 on the disk 301 as three spots, a main spot and sub-spots located on both sides of the light spot, and 306 is diffracted by the hologram element 304 This is a photodetector that detects a diffracted light beam of the return light beam from the disk 301.
【0016】図18に示すように、ホログラム素子30
4はトラック方向に略沿って延びる分割線304lによ
って分割された領域304a、304bを有する。尚、
図中に上記3本の光束による光スポットを模式的に図示
する。As shown in FIG. 18, the hologram element 30
4 has regions 304a and 304b divided by a division line 304l extending substantially along the track direction. still,
In the drawing, light spots by the three light beams are schematically shown.
【0017】また、図19に示すように、光検出器30
6は、領域304aにて回折された前記主光束に係る帰
還束の回折光束を検出する光検出部316a〜316c
からなる光検出部306a、領域304bにて回折され
た前記主光束に係る帰還光束の回折光束を検出する光検
出部316d〜316fからなる光検出部306b、領
域304a、304bにて回折された前記一方の副光束
に係る帰還光束の回折光束を検出する光検出部306
c、及び同領域304a、304bにて回折された前記
他方の副光束に係る帰還光束の回折光束を検出する光検
出部306dを有する。Further, as shown in FIG.
Reference numeral 6 denotes light detectors 316a to 316c that detect a diffracted light flux of a return light flux related to the main light flux diffracted in the area 304a.
The light detecting unit 306a includes a light detecting unit 306b, and the light detecting unit 306b includes light detecting units 316d to 316f that detect a diffracted light beam of the return light beam related to the main light beam diffracted in the region 304b. A light detection unit 306 that detects a diffracted light beam of a return light beam related to one sub light beam
c, and a light detection unit 306d that detects a diffracted light beam of a return light beam related to the other sub light beam diffracted in the regions 304a and 304b.
【0018】そして各光検出部316a〜316fから
得られる出力信号Sa〜Sf、及び各光検出部306c、
306dの各出力信号SA、SBに基づいて、フォーカス
エラー信号FESはFES=(Sa+Sc+Se)−(Sb
+Sd+Sf)の演算で得られ、トラッキングエラー信号
TESはFES=(SA−SB)の演算で得られる。The output signals S a to S f obtained from the respective light detectors 316 a to 316 f and the respective light detectors 306 c ,
Based on each output signal S A and S B of 306d, the focus error signal FES is FES = (S a + S c + S e ) − (S b
+ S d + S f ), and the tracking error signal TES is obtained by the calculation of FES = (S A −S B ).
【0019】このようにフォーカスエラー信号FESは
上述のようにして求められるので、集光スポットが光検
出部306a、306bの中心からずれても、これを補
正するように演算され、正しくフォーカスエラー信号F
ESが得られる。As described above, since the focus error signal FES is obtained as described above, even if the condensed spot deviates from the center of the photodetectors 306a and 306b, it is calculated so as to correct this, and the focus error signal is correctly calculated. F
ES is obtained.
【0020】[0020]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ように2分割したホログラム素子304を用いる装置で
は、例えば所望のトラック位置に集光スポットを移動す
るために、図20に示すように集光レンズ305をトラ
ック方向に略垂直な方向(ディスクラジアル方向)に移
動させるが、この時、図21に示すようにホログラム素
子304の領域304aと領域304bでの反射光束の
通過領域の大きさが異なることとなる。However, in the apparatus using the hologram element 304 divided into two as described above, for example, in order to move the condensed spot to a desired track position, a condensing lens as shown in FIG. 305 is moved in a direction substantially perpendicular to the track direction (disc radial direction). At this time, as shown in FIG. 21, the size of the passing area of the reflected light flux in the area 304a and the area 304b of the hologram element 304 is different. Becomes
【0021】従って、集光レンズ305のラジアル方向
の移動に伴って、光検出部306aと光検出部306b
とで受ける主光束に係る帰還光束の回折光束の検出光量
が変動するので、集光レンズ305をラジアル方向に例
えば0μm、±400μm移動した時のSカーブ特性は
図22に示すようになり、正しくフォーカスエラー信号
FESが得られなくなる。Accordingly, as the condenser lens 305 moves in the radial direction, the light detecting unit 306a and the light detecting unit 306b
Since the detected light amount of the diffracted light beam of the return light beam related to the main light beam received at the time f changes, the S-curve characteristic when the condenser lens 305 is moved in the radial direction by, for example, 0 μm or ± 400 μm becomes as shown in FIG. The focus error signal FES cannot be obtained.
【0022】本発明は上述の問題点を鑑み成されたもの
であり、トラック位置移動や波長変動によらず好ましい
フォーカスサーボが行える光ピックアップ装置を提供す
ることが目的である。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide an optical pickup device capable of performing a preferred focus servo regardless of track position movement or wavelength fluctuation.
【0023】[0023]
【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
装置は、光源から出射された光束を集光手段を介して光
ディスクに照射し、該光ディスクからの反射光束を光検
出手段側へ透過型回折素子で回折し、該回折された反射
光束を前記光検出手段で検出する光ピックアップ装置に
おいて、前記回折素子は、前記光ディスクのトラック方
向に略沿って延びる分割線と該分割線と直交するように
前記光ディスクのラジアル方向に略沿って延びる分割線
によって分割された4つの領域を有し、該4つの領域の
うちの一方の対角線位置の2つの領域と他方の対角線位
置の2つの領域は、該一方の2つの領域で回折された反
射光束と該他方の2つの領域で回折された反射光束の比
較によりフォーカス状態が検出できるように該フォーカ
ス状態に対応した空間変動を該各反射光束にそれぞれ与
え、前記集光手段は、トラッキングのために前記光ディ
スクのラジアル方向に略沿って移動するように設定され
ており、前記光検出手段は、前記光源の波長変動により
ファーカス状態検出のための前記回折された反射光束の
集光スポットが移動する方向に略沿った分割線によって
分割されてなる少なくとも2つの受光面を備え、該各受
光面が前記移動距離より長い長さを有するフォーカス状
態検出のための光検出部を2組有し、前記一方の光検出
部が前記一方の対角線位置の2つの領域で回折された反
射光束を検出すると共に、前記他方の光検出部が前記他
方の対角線位置の2つの領域で回折された反射光束を検
出することを特徴とする。An optical pickup apparatus according to the present invention irradiates a light beam emitted from a light source onto an optical disk via a light condensing means, and transmits a reflected light beam from the optical disk to a light detecting means side. In an optical pickup device diffracted by an element and detecting the diffracted reflected light beam by the light detecting means, the diffractive element is arranged so as to be orthogonal to the dividing line extending substantially along the track direction of the optical disc and the dividing line. The optical disc has four areas divided by dividing lines extending substantially along the radial direction of the optical disc, and two areas at one diagonal position and two areas at the other diagonal position of the four areas are The focus state is supported so that the focus state can be detected by comparing the reflected light beam diffracted in one of the two regions and the reflected light beam diffracted in the other two regions. Between the reflected light fluxes, the condensing means is set so as to move substantially along the radial direction of the optical disc for tracking, and the light detecting means is configured to change the wavelength of the light source. And at least two light receiving surfaces divided by a dividing line substantially along the direction in which the condensed spot of the diffracted reflected light beam moves for detecting the state of the furcus, and each light receiving surface is longer than the moving distance. Two sets of photodetectors for detecting a focus state having a length are provided. The one photodetector detects reflected light beams diffracted in two areas at the one diagonal position, and the other light is detected. A detection unit detects reflected light beams diffracted in the two regions at the other diagonal position.
【0024】尚、上記光源としては、半導体レーザが好
ましい。The light source is preferably a semiconductor laser.
【0025】また、前記4つの領域のうちの一方の対角
線位置の2つの領域と他方の対角線位置の2つの領域
は、該一方の2つの領域で回折された反射光束と該他方
の2つの領域で回折された反射光束に、フォーカス状態
に対応して互いに相反関係の空間変動を付与するのがよ
い。The two regions at one diagonal position and the two regions at the other diagonal position of the four regions are a reflected light beam diffracted by the two regions and the other two regions. The reflected light beams diffracted by the above-mentioned method are preferably given reciprocal spatial variations corresponding to the focus state.
【0026】本発明の光ピックアップ装置では、透過型
回折素子が、光ディスクのトラック方向に略沿って延び
る分割線と該分割線と直交するように前記光ディスクの
ラジアル方向に略沿って延びる分割線によって分割され
た4つの領域を有し、しかも集光手段は、トラッキング
のために前記光ディスクのラジアル方向に略沿って移動
するように設定され、且つ前記一方の光検出部が検出す
る上記一方の対角線位置の2つの領域で回折された反射
光束の受光面積と前記他方の光検出部が検出する前記他
方の対角線位置の2つの領域で回折された反射光束の受
光面積の相違を比較することにより、フォーカスエラー
信号を検出する。この構成では、集光手段のトラッキン
グによる反射光束の透過回折素子での位置が変化して
も、上記一方の対角線位置の2つの領域の反射光束の入
射面積と、前記他方の対角線位置の2つの領域の反射光
束の入射面積が略変化しないので、集光手段のトラッキ
ングによる移動に伴うフォーカスエラー信号の劣化が抑
制される。In the optical pickup device of the present invention, the transmission type diffraction element is formed by a dividing line extending substantially along the track direction of the optical disk and a dividing line extending substantially along the radial direction of the optical disk so as to be orthogonal to the dividing line. It has four divided areas, and the condensing means is set to move substantially along the radial direction of the optical disc for tracking, and the one diagonal line detected by the one light detection unit By comparing the difference between the light receiving area of the reflected light beam diffracted in the two regions of the position and the light receiving area of the reflected light beam diffracted in the two regions of the other diagonal position detected by the other light detection unit, Detect a focus error signal. In this configuration, even if the position of the reflected light flux in the transmission diffraction element due to the tracking of the condensing means changes, the incident area of the reflected light flux in the two areas at the one diagonal position and the two areas at the other diagonal position Since the incident area of the reflected light flux in the region does not substantially change, the deterioration of the focus error signal due to the movement of the light collecting means due to tracking is suppressed.
【0027】しかも、本発明の光ピックアップ装置で
は、フォーカス状態を検出するための光検出部が、光源
の波長変動により透過型回折素子によって回折されたフ
ォーカス状態を検出するための反射光束の集光スポット
の移動方向に略沿った分割線によって分割されてなる受
光面を備え、各受光面が前記移動距離より長い長さ(即
ち集光スポットが移動しても受光面内に位置するような
長さ)を有するので、光源の波長変動によるフォーカス
エラー信号の劣化が抑制される。In addition, in the optical pickup device of the present invention, the light detecting section for detecting the focus state is configured to collect the reflected light beam for detecting the focus state diffracted by the transmission type diffraction element due to the wavelength fluctuation of the light source. A light receiving surface divided by a dividing line substantially along the moving direction of the spot, wherein each light receiving surface has a length longer than the moving distance (that is, a length such that the light receiving surface is located within the light receiving surface even if the converging spot moves); ), The deterioration of the focus error signal due to the wavelength fluctuation of the light source is suppressed.
【0028】この結果、光源の波長変動、集光手段の移
動、及びこれら両方に起因するフォーカスエラー信号の
劣化が抑制される。As a result, the deterioration of the focus error signal caused by the wavelength fluctuation of the light source, the movement of the light condensing means, and both of them are suppressed.
【0029】特に、前記透過型回折素子での前記フォー
カス状態検出のための反射光束の光スポットの形状が、
該透過型回折素子の前記光ディスクのラジアル方向に略
沿って延びる分割線に対して略対称であることを特徴と
する。In particular, the shape of the light spot of the reflected light beam for detecting the focus state in the transmission type diffraction element is as follows:
The transmission type diffraction element is substantially symmetrical with respect to a dividing line extending substantially along a radial direction of the optical disc.
【0030】この場合、集光手段のトラッキングによる
移動が行われても、上記一方の対角線位置の2つの領域
の反射光束の入射面積と、前記他方の対角線位置の2つ
の領域の反射光束の入射面積がより等しくなるので、集
光手段のトラッキングによる移動によるフォーカスエラ
ー信号の劣化がより抑制される。In this case, even if the focusing means is moved by tracking, the incident areas of the reflected light beams in the two areas at the one diagonal position and the incident areas of the reflected light beams in the two areas at the other diagonal position. Since the areas are more equal, the deterioration of the focus error signal due to the movement of the light collecting means due to tracking is further suppressed.
【0031】特に、前記光ディスクのラジアル方向と前
記光源の波長変動による前記集光スポットの移動する方
向が互いに略平行な関係にあることを特徴とする。In particular, a radial direction of the optical disk and a moving direction of the converging spot due to a wavelength change of the light source are substantially parallel to each other.
【0032】この場合も、前記一方の対角線位置の2つ
の領域の反射光束の入射面積と前記他方の対角線位置の
2つの領域の反射光束の入射面積の比率を略保持した状
態で、前記一方の対角線位置の2つの領域で回折された
反射光束を前記光検出手段の前記一方の光検出部で検出
すると共に、前記他方の対角線位置の2つの領域で回折
された反射光束を前記他方の光検出部で検出するので、
よりフォーカスエラー信号の劣化が抑制される。In this case as well, the ratio of the incident area of the reflected light beam in the two regions at the one diagonal position to the incident area of the reflected light beam in the two regions at the other diagonal position is substantially maintained, and the one of the two regions is maintained. The reflected light flux diffracted in the two areas at the diagonal positions is detected by the one light detection unit of the light detection means, and the reflected light flux diffracted in the two areas at the other diagonal position is detected by the other light detection means. Since it is detected by the part,
Deterioration of the focus error signal is further suppressed.
【0033】また、前記光ディスクのラジアル方向と前
記光源の波長変動による前記集光スポットの移動する方
向が略直交する関係にしてもよい。Further, the radial direction of the optical disk may be substantially orthogonal to the direction in which the converging spot moves due to a wavelength change of the light source.
【0034】この場合、前記一方の対角線位置の2つの
領域の反射光束の入射面積と前記他方の対角線位置の2
つの領域の反射光束の入射面積の比率を略保持した状態
で、前記一方の対角線位置の2つの領域で回折された反
射光束を前記光検出手段の前記一方の光検出部で検出す
ると共に、前記他方の対角線位置の2つの領域で回折さ
れた反射光束を前記他方の光検出部で検出するので、よ
りフォーカスエラー信号の劣化が抑制される。In this case, the incident area of the reflected light beam in the two areas at the one diagonal position and the area at the other diagonal position are two.
While substantially maintaining the ratio of the incident area of the reflected light flux in the two areas, the reflected light flux diffracted in the two areas at the one diagonal position is detected by the one light detection section of the light detection means, and Since the reflected light flux diffracted by the two regions at the other diagonal position is detected by the other light detection unit, the deterioration of the focus error signal is further suppressed.
【0035】特に、前記少なくとも2つの受光面は、幅
狭の受光面とこの両側にこれより幅広の受光面を備えた
構成であることを特徴とする。In particular, the at least two light receiving surfaces are characterized by having a narrow light receiving surface and wider light receiving surfaces on both sides thereof.
【0036】この場合、前記対角線位置の2つの領域で
回折された反射光束による対向してなる集光スポットの
対向点が幅狭の受光面内に位置するようにすればよいの
で、比較的容易に設定でき、そして、各光検出部の両側
の幅広の受光面からの検出信号を加算し、その差を比較
することにより、上記一方の対角線位置の2つの領域で
回折された反射光束の受光面積と前記他方の光検出部が
検出する前記他方の対角線位置の2つの領域で回折され
た反射光束の受光面積の相違を比較することができる。
しかも、この幅狭の受光面からの信号は再生信号を得る
際に利用することにより、即ち、2つの検出部の幅狭の
受光面とその両側の受光面の検出信号の和を利用するこ
とにより、再生信号の強度が大きくなり、よって良好な
再生信号が得られる。In this case, the opposite point of the condensed spot formed by the reflected light fluxes diffracted at the two diagonal positions may be located within a narrow light receiving surface, so that it is relatively easy. Then, by adding detection signals from the wide light receiving surfaces on both sides of each light detection unit and comparing the difference, the reception of the reflected light flux diffracted in the two regions at the one diagonal position is performed. The difference between the area and the light receiving area of the reflected light flux diffracted in the two regions at the other diagonal position detected by the other light detection unit can be compared.
In addition, the signal from the narrow light receiving surface is used to obtain a reproduced signal, that is, the sum of the detection signals of the narrow light receiving surface of the two detectors and the light receiving surfaces on both sides thereof is used. As a result, the intensity of the reproduced signal is increased, and a good reproduced signal is obtained.
【0037】なお、前記光検出手段の2組の光検出部
は、前記光源の波長変動による集光スポットの移動方向
に略沿って一直線上に配置されるよりも、該移動方向に
垂直方向に略沿って一直線上に配置される方が、光軸調
整を回折素子の回転により容易に行える。この場合、前
記光検出手段の2組の光検出部を構成する受光面の長手
方向が、トラック方向に略沿うようになるようにする方
が、光スポットの対称性から好ましい。It should be noted that the two sets of light detecting sections of the light detecting means are arranged in a direction perpendicular to the moving direction of the light source rather than being arranged in a straight line substantially along the moving direction of the condensed spot due to the wavelength variation of the light source. By arranging them substantially in a straight line, the optical axis can be easily adjusted by rotating the diffraction element. In this case, it is preferable that the longitudinal direction of the light receiving surfaces constituting the two sets of light detecting portions of the light detecting means is substantially along the track direction, from the viewpoint of the symmetry of the light spot.
【0038】更に、前記光源から出射される光束から主
光束とこの両側に位置するトラッキングサーボ用の副光
束を発生させる3分割回折格子を前記光源と前記透過型
回折素子の間の光路中に備え、且つ前記光検出手段は、
前記透過型回折素子によって回折された前記主光束に係
る光ディスクからの反射光束を前記2つの光検出部で検
出すると共に、前記透過型回折素子によって回折された
前記各副光束に係る光ディスクからの反射光束をそれぞ
れ検出するために、前記2つの光検出部を挟むように両
側に前記移動距離より長い長さの受光面を有するトラッ
キング状態検出のための1組の光検出部を備えることを
特徴とする。Further, a three-divided diffraction grating for generating a main light beam and sub-beams for tracking servo located on both sides of the light beam emitted from the light source is provided in an optical path between the light source and the transmission type diffraction element. And the light detection means,
The two light detectors detect reflected light fluxes from the optical disc relating to the main light flux diffracted by the transmission type diffraction element, and reflect the respective light beams reflected from the optical disc diffracted by the transmission type diffraction element. In order to detect the light beams, a pair of light detection units for tracking state detection having a light receiving surface longer than the moving distance on both sides to sandwich the two light detection units is provided. I do.
【0039】この場合、光源の波長変動や集光手段のト
ラッキングによる移動によるトラッキング信号の劣化を
防止しつつ3ビーム法によるトラッキングサーボが行え
る。In this case, the tracking servo by the three-beam method can be performed while preventing the deterioration of the tracking signal due to the fluctuation of the wavelength of the light source and the movement of the light collecting means due to the tracking.
【0040】特に、前記空間変動が非点収差であること
を特徴とする。In particular, the invention is characterized in that the spatial variation is astigmatism.
【0041】この場合、非点収差法によるフォーカスサ
ーボが行える。In this case, focus servo can be performed by the astigmatism method.
【0042】更に、前記回折素子の前記一方の2つの領
域と、前記回折素子の前記他方の2つの領域は、互いに
直交関係にある非点収差を付与することを特徴とする。
なお、この直交方向の一方は、光検出手段の2組の光検
出部の分割線に略平行であるのがよい。Further, the one two regions of the diffractive element and the other two regions of the diffractive element impart astigmatism which is orthogonal to each other.
It is preferable that one of the orthogonal directions is substantially parallel to the dividing line of the two sets of light detecting sections of the light detecting means.
【0043】この場合、上記受光面積の相違が大きくな
るので、良好なフォーカスエラー信号が得られる。In this case, since the difference in the light receiving area becomes large, a good focus error signal can be obtained.
【0044】また、前記回折素子の前記一方の2つの領
域で回折される反射光束の焦点位置と前記回折素子の前
記他方の2つの領域で回折される反射光束の焦点位置
が、フォーカス時において互いに異なる高さに位置する
ことを特徴とする。The focal position of the reflected light beam diffracted by the two regions of the diffractive element and the focal position of the reflected light beam diffracted by the other two regions of the diffractive element are different from each other during focusing. It is characterized by being located at different heights.
【0045】この場合、フォーカス状態に応じて光検出
手段のフォーカス状態検出用の2組の光検出部の一方と
他方での反射光束に係る集光スポットの大きさが異なる
ように変化するので、フォーカスサーボが行える。In this case, depending on the focus state, the size of the condensed spot related to the reflected light beam at one and the other of the two sets of light detection sections for detecting the focus state of the light detection means changes so as to differ. Focus servo can be performed.
【0046】特に、フォーカス時において、前記回折素
子の前記一方の2つの領域で回折される反射光束の焦点
位置は、前記光検出手段の受光面より手前側に位置し、
前記回折素子の前記他方の2つの領域で回折される反射
光束の焦点位置は、前記光検出手段の受光面より奥側に
位置することを特徴とする。In particular, at the time of focusing, the focal position of the reflected light beam diffracted by the one of the two regions of the diffraction element is located closer to the light receiving surface of the light detecting means,
The focal position of the reflected light beam diffracted by the other two regions of the diffraction element is located on the back side of the light receiving surface of the light detecting means.
【0047】この場合、フォーカス状態に応じて光検出
手段のフォーカス状態検出用の2組の光検出部の一方と
他方での反射光束に係る集光スポットの大きさが互いに
逆の関係になるように変化し、しかも光検出手段のフォ
ーカス状態検出用の2組の光検出部の一方と他方での反
射光束に係る集光スポットの大きさが略同じである場合
をフォーカス時とするように設定できるので、フォーカ
スサーボが容易に行える。In this case, according to the focus state, the sizes of the condensed spots related to the reflected light beams at one and the other of the two sets of light detection sections for detecting the focus state of the light detection means are in an opposite relationship to each other. The focus state is set when the size of the condensed spots related to the reflected light beam at one and the other of the two sets of light detection units for detecting the focus state of the light detection means is substantially the same. The focus servo can be easily performed.
【0048】[0048]
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施形態に係る非
点収差法によるフォーカスサーボと3ビーム法によるト
ラッキングサーボを行う光ピックアップ装置を図1の概
略構成図を用いて説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An optical pickup device for performing focus servo by an astigmatism method and tracking servo by a three-beam method according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the schematic configuration diagram of FIG.
【0049】図中、1は例えばCD(コンパクトディス
ク)などの反射型の光ディスク、2はレーザ光(光束)
を出力する半導体レーザ(光源)、3は前記レーザ光を
それぞれ少なくとも0次回折光(主光束)M、トラッキ
ングサーボ用の1次回折光(副光束)S1及び−1次回
折光(副光束)S2からなる3本の光束に分割する光学
ガラス又は光学樹脂等からなる所謂透過型の3分割用回
折格子である。なお、図中では上記3本の光束は1本の
光束で表す。In the figure, reference numeral 1 denotes a reflective optical disk such as a CD (compact disk), and 2 denotes a laser beam (light flux).
Outputting a semiconductor laser (light source), 3 at least 0-order diffracted light each said laser beam (main luminous flux) M, 1-order diffraction light for tracking servo (sub beam) S 1 and -1st-order diffracted light (sub beam) S 2 Is a so-called transmission-type three-division grating made of optical glass or optical resin that divides the light into three light beams. In the drawing, the three light beams are represented by one light beam.
【0050】4は3分割用回折格子3を出射した上記3
本の光束M、S1、S2を入射し、且つ該3本の光束に係
る光ディスク1からの各反射光束(帰還光束)M、
S1、S2を4分割すると共に、この各分割光束に光ディ
スク1でのフォーカス状態に対応した空間変動(本実施
形態では、非点収差)を与えるように1次で回折する分
離手段としての透過型ホログラム素子(透過型回折素
子)である。Reference numeral 4 denotes the above-mentioned 3 which is emitted from the three-division diffraction grating 3.
Light beams M, S 1 , and S 2 are incident thereon, and each reflected light beam (return light beam) M from the optical disc 1 related to the three light beams M,
S 1 and S 2 are divided into four parts, and each of the divided light beams is separated by a first order so as to give a spatial variation (astigmatism in the present embodiment) corresponding to the focus state on the optical disc 1. It is a transmission type hologram element (transmission type diffraction element).
【0051】図2に模式上面を示すように、前記透過型
ホログラム素子4は光ディスク1のトラック方向(トラ
ック延在方向)に略平行(Y方向)に沿って延びる仮想
の分割線4lとこの分割線4lと直交する、即ち光ディ
スク1のラジアル方向(X方向)に略沿って延びる仮想
の分割線4mにより等面積の4つの領域4a、4b、4
c、4dに分割されたホログラム面を有する。なお、図
中、3本の光束M、S 1、S2による光スポットM、
S1、S2を示す。As shown in the schematic top view of FIG.
The hologram element 4 is moved in the track direction (track direction) of the optical disc 1.
Virtual direction extending substantially parallel (Y direction)
Is orthogonal to the dividing line 41, that is, the optical
Virtual extending substantially along the radial direction (X direction) of the disc 1
Are divided into four regions 4a, 4b, 4
It has a hologram surface divided into c and 4d. The figure
Medium, three beams M, S 1, STwoLight spot M by
S1, STwoIs shown.
【0052】そして、上記分割線4lと上記分割線4m
の交点に対して対称(対角線位置)に位置する領域4a
及び領域4c(図中、網目ハッチング)、領域4b及び
領域4d(図中、斜線ハッチング)はそれぞれ同一のホ
ログラム面パターン(回折面パターン)を有し、領域4
a及び領域4cと、領域4b及び領域4dは互いに逆関
係の空間変動(本実施形態では互いに直交する関係の非
点収差)を回折光束に与える。Then, the dividing line 4l and the dividing line 4m
4a located symmetrically (diagonal position) with respect to the intersection of
And a region 4c (mesh hatching in the figure), a region 4b and a region 4d (hatched hatching in the diagram) have the same hologram surface pattern (diffraction surface pattern), respectively.
The area a and the area 4c and the area 4b and the area 4d give the diffracted luminous flux a spatial variation in an inverse relationship to each other (in the present embodiment, astigmatism in an orthogonal relationship to each other).
【0053】5はトラッキングサーボのために光ディス
ク1のラジアル方向(X方向)に略沿い、またフォーカ
スサーボのために上下方向(Z方向)に駆動可能に支持
され、透過型ホログラム素子4を0次で回折透過した上
記3本の光束M、S1、S2を光ディスク1に各集光スポ
ットM、S1、S2として集光するための集光レンズ(集
光手段)である。Numeral 5 is supported along the radial direction (X direction) of the optical disk 1 for tracking servo, and can be driven up and down (Z direction) for focus servo. A condensing lens (condensing means) for condensing the three light beams M, S 1 , and S 2 diffracted and transmitted on the optical disc 1 as condensed spots M, S 1 , and S 2 .
【0054】ここで、図3に示すように主光束Mに係る
集光スポット(主スポット)Mは情報が記録されたトラ
ックTRを走査すると共に、両副光束S1、S2に係る集
光スポット(副スポット)S1、S2は該トラックTRの
両側を僅かに跨ぐように走査する。このトラック外は該
トラックに比べて反射率が大きく設定されているので、
主スポットMがトラックずれを起こした場合、両副スポ
ットS1、S2からの反射光強度に差が生じることとな
る。なお、集光スポットM、S1、S2は、その長軸又は
短軸がトラックに対して略直交するように配置されてい
る。Here, as shown in FIG. 3, the condensed spot (main spot) M related to the main light beam M scans the track TR on which information is recorded, and collects the condensed light beams related to both the sub light beams S 1 and S 2. The spots (sub spots) S 1 and S 2 scan so as to slightly straddle both sides of the track TR. Since the reflectivity outside this track is set higher than that of the track,
When the main spot M is deviated from the track, a difference occurs between the reflected light intensities from the two sub spots S 1 and S 2 . The converging spots M, S 1 , and S 2 are arranged such that the major axis or the minor axis is substantially perpendicular to the track.
【0055】6は、集光レンズ5を通り、透過型ホログ
ラム素子4で1次で透過回折された上記3本の光束M、
S1、S2に対応する光ディスク1からの各反射光束を検
出するための光検出器(光検出手段)であり、図4に上
面模式概略図を示すように、ホログラム素子4の分割線
4m延在方向(ラジアル方向)に略沿って一直線上に並
んで配置されるフォーカスサーボ用の一対の光検出部6
a及び光検出部6bと、光検出部6a及び光検出部6b
とに対向するようにこれら両側に配置される上記分割線
4m延在方向に略平行に延在するトラッキングサーボ用
の一対の光検出部6c及び光検出部6dとからなる。Reference numeral 6 denotes the three light beams M, which have passed through the condenser lens 5 and have been transmitted and diffracted in the first order by the transmission hologram element 4,
This is a photodetector (light detection means) for detecting each reflected light beam from the optical disc 1 corresponding to S 1 and S 2. As shown in the schematic top view of FIG. A pair of focus servo photodetectors 6 arranged in a straight line substantially along the extension direction (radial direction)
a and the light detector 6b, and the light detector 6a and the light detector 6b
And a pair of tracking servo photodetectors 6c and 6d extending substantially parallel to the direction in which the dividing line 4m extends, which is disposed on both sides of the photodetectors 6c and 6d.
【0056】上記光検出部6aは、それぞれラジアル方
向に略平行に延存する長方形状の光検出部16a、16
b、16cからなり、同じ幅を有する光検出部16a、
16cの間に幅狭の光検出部16bが配置された構成で
ある。また、上記光検出部6bは、上記光検出部6aと
同じ構成であり、それぞれラジアル方向に略平行に延存
する長方形状の光検出部16d、16e、16fからな
り、同じ幅を有する光検出部16d、16fの間に幅狭
の光検出部16eが配置された構成である。The light detectors 6a are rectangular light detectors 16a, 16a extending substantially parallel to the radial direction.
b, 16c, having the same width.
This is a configuration in which a narrow light detection section 16b is arranged between the light detection sections 16c. The light detector 6b has the same configuration as the light detector 6a, and includes rectangular light detectors 16d, 16e, and 16f extending substantially parallel to the radial direction, and has the same width. This is a configuration in which a narrow light detection unit 16e is arranged between 16d and 16f.
【0057】尚、本実施形態では、光検出部6a、6b
それぞれが光源1の波長変動によってホログラム素子4
で回折された反射光束の光検出手段6での集光スポット
の移動する方向に沿った分割線(仮想分割線)によって
分割されてなる光検出部16a〜16c、光検出部16
d〜16fが構成されていると共に、各長方形状の光検
出部(受光面)6c、6d、16a〜16fの長手方向
の長さは、光源1の波長変動によってホログラム素子4
で回折された反射光束を受光する各光検出部での各集光
スポットが移動する長さよりも長く設定されている。In this embodiment, the photodetectors 6a and 6b
Each of the hologram elements 4 depends on the wavelength fluctuation of the light source 1.
The light detection units 16a to 16c and the light detection unit 16 are divided by a division line (virtual division line) along the direction in which the converging spot of the reflected light flux diffracted by the light detection unit 6 moves in the light detection unit 6.
d to 16f, and the length of each of the rectangular light detecting portions (light receiving surfaces) 6c, 6d, 16a to 16f in the longitudinal direction is changed by the wavelength variation of the light source 1.
The length is set to be longer than the moving distance of each converging spot in each light detecting unit that receives the reflected light flux diffracted by the above.
【0058】斯る光ピックアップ装置では、前記集光レ
ンズ5がトラッキングのために上記反射光束Mの中心が
分割線4m上に略位置して透過型ホログラム素子4へ入
射するように光学系が設定されており、領域4a、4c
に入射した反射光束Mは、光検出部6aで受光されるよ
うに領域4a、4cで1次で透過回折され、領域4b、
4dに入射した反射光束Mは、光検出部6bで受光され
るように領域4b、4dで1次で透過回折される。In such an optical pickup device, the optical system is set such that the condenser lens 5 enters the transmission hologram element 4 with the center of the reflected light flux M substantially positioned on the dividing line 4m for tracking. And the areas 4a, 4c
Is transmitted and diffracted at the first order in the regions 4a and 4c so as to be received by the light detection unit 6a, and is reflected by the regions 4b and 4c.
The reflected light flux M incident on 4d is transmitted and diffracted in the first order in the regions 4b and 4d so as to be received by the light detection unit 6b.
【0059】図5は、光ディスク1で主光束Mがフォー
カスした場合の光検出器6上での集光状態を表す模式上
面図を示す。FIG. 5 is a schematic top view showing a light condensing state on the photodetector 6 when the main light beam M is focused on the optical disk 1.
【0060】上記反射光束Mはホログラム素子4の領域
4a〜4dで分割回折される。そして、領域4aで1次
回折された反射光束M及び領域4cで1次回折された反
射光束Mは、それぞれ光検出部6a上に集光スポットP
a及び集光スポットPcとして集光されると共に、領域4
bで1次回折された反射光束M及び領域4dで1次回折
された反射光束Mは、それぞれ光検出部6b上に集光ス
ポットPb及び集光スポットPdとして集光される。The reflected light beam M is divided and diffracted in the areas 4a to 4d of the hologram element 4. Then, the reflected light beam M diffracted first-order in the region 4a and the reflected light beam M diffracted first-order in the region 4c are respectively condensed spots P on the light detection unit 6a.
a and a converging spot Pc ,
b In order diffraction reflected light beam M and region 4d in the primary diffracted reflected light beam M is focused as a focused spot P b and condensing spot P d on each light detecting unit 6b.
【0061】また、反射光束S1及び反射光束S2もホロ
グラム素子4の領域4a〜4dで分割回折される。そし
て、領域4aで1次回折された反射光束S1及び領域4
cで1次回折された反射光束S1は、それぞれ光検出部
6c上の光検出部6a側に集光スポットQa及び集光ス
ポットQcとして集光されると共に、領域4bで1次回
折された反射光束S1及び領域4dで1次回折された反
射光束S1は、それぞれ光検出部6c上の光検出部6b
側に集光スポットQb及び集光スポットQdとして集光さ
れる。同様に反射光束S2は、領域4a〜4dに対応し
て光検出部6d上に集光スポットRa〜Rdとして集光さ
れる。The reflected light flux S 1 and the reflected light flux S 2 are also split and diffracted in the areas 4 a to 4 d of the hologram element 4. Then, the reflected light flux S 1 diffracted first-order in the area 4a and the area 4
The reflected light flux S 1 that has been first-order diffracted by c is condensed as a converging spot Q a and a converging spot Q c on the light detecting section 6a side on the light detecting section 6c, respectively, and is also subjected to first-order diffraction in the region 4b. reflected light beams S 1 and the reflected light beam S 1 which is 1-order diffraction in the region 4d, the light detecting portion 6b on the respective optical detection unit 6c
It is condensed as the condensed spot Q b and condensing spot Q d in the side. Similarly reflected light beam S 2 is condensed as a condensed light spot R a to R d corresponds to a region 4a~4d on the optical detection unit 6d.
【0062】図6は、光ディスク1が集光レンズ5に接
近し、フォーカスエラー状態になった場合の光検出器6
上での集光状態を表す模式上面図を示す。FIG. 6 shows the optical detector 6 when the optical disk 1 approaches the condenser lens 5 and a focus error occurs.
The schematic top view showing the above-mentioned light-collecting state is shown.
【0063】この場合、光検出部6a上の集光スポット
Pa及び集光スポットPcは回折方向に直交する方向に延
びた形状となると共に、光検出部6b上の集光スポット
Pb及び集光スポットPdは回折方向に延びた形状とな
る。[0063] In this case, the light detection unit 6a focused spots P a and converged spot P c has a shape extending in a direction perpendicular to the direction of diffraction, the light detecting unit 6b focused spots P b and The focused spot Pd has a shape extending in the diffraction direction.
【0064】図7は、光ディスク1が集光レンズ5から
離れ、フォーカスエラー状態になった場合の光検出器6
上での集光スポットを表す模式上面図を示す。FIG. 7 shows a light detector 6 when the optical disk 1 is separated from the condenser lens 5 and a focus error occurs.
FIG. 4 shows a schematic top view showing the condensed spot above.
【0065】この場合、光検出部6a上の集光スポット
Pa及び集光スポットPcは回折方向に延びた形状となる
と共に、光検出部6b上の集光スポットPb及び集光ス
ポットPdは回折方向に直交する方向に延びた形状とな
る。[0065] In this case, the light detection unit 6a focused spots P a and converged spot P c has a shape extending in the direction of diffraction, the light detecting unit 6b focused spots P b and the focusing spot P d has a shape extending in a direction orthogonal to the diffraction direction.
【0066】従って、フォーカスエラー信号FESは、
ホログラム素子4の一方の対角線上に位置する領域4
a、4cからの反射光束Mを検出する光検出部6aと、
ホログラム素子4の一方の対角線上に位置する領域4
b、4dからの反射光束Mを検出する光検出部6bとを
用いて得られる。Therefore, the focus error signal FES is
Region 4 located on one diagonal line of hologram element 4
a light detection unit 6a for detecting the reflected light flux M from
Region 4 located on one diagonal line of hologram element 4
b and 4d, and the light detecting unit 6b for detecting the reflected light flux M from the light detecting unit 6b.
【0067】すなわち、光検出部16a〜16fの出力
信号Sa〜Sfを用いて、フォーカスエラー信号FES=
(Sa+Sc+Se)−(Sb+Sd+Sf)が演算処理され
る。That is, using the output signals S a to S f of the photodetectors 16a to 16f, the focus error signal FES =
(S a + S c + S e )-(S b + S d + S f ) is processed.
【0068】ここで、フォーカス状態の場合(図5)、
集光スポットPa、Pcに対して、集光スポットPb、Pd
はホログラム素子4から離れた位置となるので、回折方
向に延びた形状となるが、集光スポットPa〜Pdの各光
量は等しく、且つ回折方向に直交する方向は、同一スケ
ールで集光される。従って、FES=0となる。Here, in the case of the focus state (FIG. 5),
Converged spot P a, relative to P c, the focused spot P b, P d
Since the position away from the hologram element 4, becomes a shape extending in the direction of diffraction, the light amount is equal to the focused spot P a to P d, and the direction perpendicular to the direction of diffraction, condensing at the same scale Is done. Therefore, FES = 0.
【0069】また、光ディスク1が集光レンズ5に接近
し、フォーカスエラー状態になる場合、図6から判るよ
うに、FES>0となり、逆に、光ディスク1が集光レ
ンズ5から離れ、フォーカスエラー状態になる場合、図
7から判るように、FES<0となる。When the optical disk 1 approaches the condenser lens 5 and a focus error occurs, as shown in FIG. 6, FES> 0, and conversely, the optical disk 1 separates from the condenser lens 5 and the focus error occurs. In the state, as can be seen from FIG. 7, FES <0.
【0070】一方、再生信号RFは、RF=(Sa+Sb
+Sc+Sd+Se+Sf)の演算により求められる。On the other hand, the reproduction signal RF is RF = (S a + S b
+ Sc + Sd + Se + Sf ).
【0071】また、トラッキングエラー信号TESは、
光検出部6c、6dの出力信号SA、SBの差、TES=
(SA−SB)の演算により求められる。The tracking error signal TES is
Difference between output signals S A and S B of photodetectors 6c and 6d, TES =
It is obtained by the calculation of (S A -S B ).
【0072】この光ピックアップ装置では、ホログラム
素子4のホログラム面が、光ディスク1のトラック方向
に略沿った分割線4lと光ディスク1のラジアル方向
(トラック方向と直交方向)に沿った分割線4mによっ
て領域4a〜4dに4分割されている。集光レンズ5の
トラッキング動作は、ホログラム素子4で回折された反
射光束Mの光軸と主光束Mの光軸とを含む面に略含まれ
てなるラジアル方向に略沿って移動が行われる。In this optical pickup device, the hologram surface of the hologram element 4 is divided by a dividing line 4l substantially along the track direction of the optical disc 1 and a dividing line 4m along the radial direction of the optical disc 1 (perpendicular to the track direction). It is divided into four parts 4a to 4d. The tracking operation of the condenser lens 5 is performed substantially along a radial direction substantially included in a plane including the optical axis of the reflected light beam M diffracted by the hologram element 4 and the optical axis of the main light beam M.
【0073】そして、光検出器6の光検出部6a、及び
光検出部6bは、分割線4l及び分割線4mで分割され
た領域4a〜4dのうち、それぞれ互いに直交する対角
線位置関係にある領域4a、4c、及び領域4b、4d
からの反射光束Mをそれぞれ検出する。The light detecting section 6a and the light detecting section 6b of the photodetector 6 are divided into areas 4a to 4d divided by the dividing line 4l and the dividing line 4m, which are in a diagonal positional relationship orthogonal to each other. 4a, 4c and regions 4b, 4d
Are detected respectively.
【0074】しかも、光検出器6の光検出部6a、6b
は、それぞれラジアル方向に略沿って3分割された光検
出部(受光面)16a〜16c、16d〜16fから構
成され、各光検出部(受光面)16a〜16fがラジア
ル方向に略平行を長手方向とする上面長方形であると共
に、光検出部(受光面)6c、6dもラジアル方向を略
平行を長手方向とする上面長方形である。In addition, the light detectors 6a and 6b of the light detector 6
Is composed of three light detecting portions (light receiving surfaces) 16a to 16c and 16d to 16f substantially divided in the radial direction, and each of the light detecting portions (light receiving surfaces) 16a to 16f extends in a direction substantially parallel to the radial direction. The light detectors (light receiving surfaces) 6c and 6d are also upper surface rectangles whose longitudinal directions are substantially parallel to the radial direction.
【0075】従って、集光レンズ5がトラッキング動作
(ラジアル方向の移動)を行った場合、ホログラム素子
4において反射光束Mはその中心が分割線4mに沿って
移動するが、ホログラム素子4のホログラム面がラジア
ル方向に略沿った分割線4mとこれに直交する分割線4
lによって直交分割されているので、反射光束Mが領域
4aと領域4cに入射する合計面積と、領域4bと領域
4dに入射する合計面積は略等しくなる。Accordingly, when the focusing lens 5 performs a tracking operation (movement in the radial direction), the center of the reflected light flux M in the hologram element 4 moves along the dividing line 4m, but the hologram surface of the hologram element 4 Is a dividing line 4m substantially along the radial direction and a dividing line 4 orthogonal to the dividing line 4m.
Since the light beam M is orthogonally divided by 1, the total area of the reflected light flux M incident on the region 4a and the region 4c is substantially equal to the total area of the reflected light beam M incident on the region 4b and the region 4d.
【0076】この結果、集光レンズ5のトラッキング動
作によってFES信号が悪化するのを防止できる。この
結果、図8に示すように集光レンズ5がラジアル方向に
±400μm移動しても良好なSカーブ特性が得られ
る。As a result, it is possible to prevent the FES signal from being deteriorated by the tracking operation of the condenser lens 5. As a result, good S-curve characteristics can be obtained even if the condenser lens 5 moves ± 400 μm in the radial direction as shown in FIG.
【0077】しかも、光検出器6の光検出部6a、6b
は、半導体レーザ2の波長変動によりホログラム素子4
で回折された反射光束(回折光)が移動する方向に略沿
った分割線によって分割されると共に、この移動する方
向と略平行な方向を長手方向とする上面長方形であるの
で、上記波長変動によってFES信号が悪化するのを防
止できる。また、光検出部6c、6dも移動する方向と
略平行な方向を長手方向とする上面長方形であるので、
上記波長変動によってTES信号が悪化するのを防止で
きる。In addition, the light detectors 6a and 6b of the light detector 6
Means that the hologram element 4
Since the reflected light flux (diffracted light) diffracted by the above is divided by a dividing line substantially along the direction in which the light moves, and the longitudinal direction is substantially parallel to the direction in which the light moves, the upper surface is rectangular. The deterioration of the FES signal can be prevented. In addition, since the light detectors 6c and 6d also have a rectangular top surface whose longitudinal direction is substantially parallel to the moving direction,
It is possible to prevent the TES signal from deteriorating due to the wavelength fluctuation.
【0078】加えて、透過型回折素子4での反射光束M
の光スポットの形状が、透過型回折素子4の光ディスク
1のラジアル方向に略沿って延びる分割線4mに対して
略対称であるので、トラッキングによる集光レンズの移
動が行われても、上記一方の対角線位置の2つの領域4
a、4cの反射光束の入射面積と、他方の対角線位置の
2つの領域4b、4dの反射光束の入射面積がより等し
くなるので、フォーカスエラー信号の劣化がより抑制さ
れる。In addition, the light flux M reflected by the transmissive diffraction element 4
Is substantially symmetrical with respect to the dividing line 4m of the transmission type diffraction element 4 extending substantially along the radial direction of the optical disk 1, so that even if the focusing lens is moved by tracking, Two areas 4 at diagonal positions of
Since the incident areas of the reflected light beams a and 4c and the incident areas of the reflected light beams of the two regions 4b and 4d at the other diagonal positions become more equal, the deterioration of the focus error signal is further suppressed.
【0079】特に、光ディスク1のラジアル方向と光源
2の波長変動による前記集光スポットの移動する方向が
互いに略平行な関係にあるので、前記一方の対角線位置
の2つの領域4a、4cの反射光束の入射面積と前記他
方の対角線位置の2つの領域4b、4dの反射光束の入
射面積の比率を略保持した状態で、前記一方の対角線位
置の2つの領域4a、4cで回折された反射光束を光検
出部6aで検出すると共に、前記他方の対角線位置の2
つの領域4b、4dで回折された反射光束を光検出部6
bで検出できる。よって、フォーカスエラー信号の劣化
がより抑制される。In particular, since the radial direction of the optical disk 1 and the moving direction of the converging spot due to the wavelength fluctuation of the light source 2 are substantially parallel to each other, the reflected light fluxes of the two areas 4a and 4c at the one diagonal position are provided. The reflected light flux diffracted by the two areas 4a, 4c at the one diagonal position is kept in a state where the ratio of the incident area of the reflected light flux at the two areas 4b, 4d at the other diagonal position is substantially maintained. The light is detected by the light detecting unit 6a and the other diagonal position 2 is detected.
The reflected light flux diffracted by the two regions 4b and 4d is
b. Therefore, the deterioration of the focus error signal is further suppressed.
【0080】尚、上述では、ホログラム素子4が回折し
た反射光束にフォーカス状態に対応して非点収差を与え
る構成であったが、種々の方法に適宜変更できる。In the above description, the astigmatism is given to the reflected light beam diffracted by the hologram element 4 according to the focus state, but it can be changed to various methods as appropriate.
【0081】図9は、本発明の第2の実施形態に係る光
ピックアップ装置の概略構成図である。本実施形態は、
ホログラム素子(回折素子)14が回折した反射光束に
非点収差を付与しない構成以外は、第1の実施形態と同
様であるので、同一符号を付してその説明は割愛する。FIG. 9 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device according to the second embodiment of the present invention. In this embodiment,
The configuration is the same as that of the first embodiment except that the reflected light flux diffracted by the hologram element (diffraction element) 14 does not impart astigmatism.
【0082】図10に模式上面を示すように、透過型ホ
ログラム素子14は光ディスク1のトラック方向(トラ
ック延在方向)に略平行に沿って延びる仮想の分割線1
4lとこの分割線14lと直交する、即ち光ディスク1
のラジアル方向に略沿って延びる仮想の分割線14mに
より等面積の4つの領域14a、14b、14c、14
dに分割されている。なお、図中、3本の光束M、
S1、S2による光スポットM、S1、S2を示す。As shown in the schematic top view of FIG. 10, the transmission hologram element 14 is a virtual dividing line 1 extending substantially parallel to the track direction (track extending direction) of the optical disk 1.
4l and the division line 14l, that is, the optical disk 1
Are divided into four regions 14a, 14b, 14c, and 14 having the same area by virtual dividing lines 14m extending substantially in the radial direction.
d. In the figure, three luminous fluxes M,
Light spot M by S 1, S 2, showing the S 1, S 2.
【0083】そして、上記分割線14lと上記分割線1
4mの交点に対して対称に位置する領域14a及び領域
14c、領域14b及び領域14dはそれぞれ同一のホ
ログラム面パターン(回折面パターン)を有し、領域1
4a及び領域14cと、領域14b及び領域14dとは
非フォーカス時に互いに逆関係(相反関係)の空間変動
を回折光束に与える。Then, the dividing line 14l and the dividing line 1
Regions 14a and 14c and regions 14b and 14d symmetrically located with respect to the intersection of 4m have the same hologram surface pattern (diffraction surface pattern), respectively.
The areas 4a and 14c and the areas 14b and 14d give the diffracted light beams spatial fluctuations in an inverse relationship (reciprocal relationship) to each other when out of focus.
【0084】本実施形態では、ホログラム素子14の一
方の2つの領域14a、14cで回折される反射光束の
焦点位置とホログラム素子14の他方の2つの領域14
b、14dで回折される反射光束の焦点位置が、フォー
カス時において互いに異なる高さに位置する。In the present embodiment, the focal position of the reflected light flux diffracted by one of the two regions 14a and 14c of the hologram element 14 and the other two regions 14 of the hologram element 14
The focal positions of the reflected light beams diffracted by b and 14d are located at different heights during focusing.
【0085】すなわち、フォーカス状態では、図9に示
すように、領域14a及び領域14cで回折された各反
射光束は光検出手段6の各検出部6a、6c、6dの手
前側が焦点位置となると共に、14b及び領域14dで
回折された各反射光束は光検出手段6の各検出部6b、
6c、6dの奥側が焦点位置となり、上記図5と同様な
光検出器6上での集光スポットが得られる。That is, in the focus state, as shown in FIG. 9, each of the reflected light beams diffracted in the area 14a and the area 14c has a focal position on the near side of each of the detecting sections 6a, 6c, 6d of the light detecting means 6, and , 14b and the respective reflected light fluxes diffracted by the area 14d are detected by the respective detecting portions 6b of the light detecting means 6,
The far side of 6c and 6d is the focal position, and a condensed spot on the photodetector 6 similar to that of FIG. 5 is obtained.
【0086】ここで、領域14aで1次回折された反射
光束M及び領域14cで1次回折された反射光束Mは、
それぞれ光検出部6a上に集光スポットPa及び集光ス
ポットPcとして集光されると共に、領域14bで1次
回折された反射光束M及び領域14dで1次回折された
反射光束Mは、それぞれ光検出部6a上に集光スポット
Pb及び集光スポットPdとして集光される。Here, the reflected light beam M diffracted first-order in the region 14a and the reflected light beam M diffracted first-order in the region 14c are:
The reflected light flux M which is focused on the light detection unit 6a as the focused spot P a and the focused spot P c , and which is first-order diffracted in the area 14b and the reflected light flux M which is first-order diffracted in the area 14d, It is condensed as the condensed spot P b and condensing spot P d each photodetecting section on 6a.
【0087】そして、領域14aで1次回折された反射
光束S1及び領域14cで1次回折された反射光束S
1は、それぞれ光検出部6c上の光検出部6a側に集光
スポットQa及び集光スポットQcとして集光されると共
に、領域14bで1次回折された反射光束S1及び領域
14dで1次回折された反射光束S1は、それぞれ光検
出部6c上の光検出部6b側に集光スポットQb及び集
光スポットQdとして集光される。同様に反射光束S
2は、領域14a〜41dに対応して光検出部6d上に
集光スポットRa〜Rdとして集光される。The reflected light beam S 1 diffracted first-order in the region 14a and the reflected light beam S diffracted first-order in the region 14c
1, respectively while being focused on the light detecting portion 6a side of the photodetecting section 6c as focused spot Q a and focused spot Q c, in the region 14b in the first-order diffraction reflected light beam S 1 and region 14d 1 order diffracted reflected light beam S 1 is converged as a focused spot Q b and condensing spot Q d respectively to the light detecting unit 6b side on the optical detection unit 6c. Similarly, the reflected light flux S
2 is condensed as a condensed light spot R a to R d corresponds to a region 14a~41d on the optical detection unit 6d.
【0088】また、光ディスク1が集光レンズ5に接近
し、フォーカスエラー状態になる場合、図11に示すよ
うに、光検出部6a上の集光スポットPa及び集光スポ
ットPcは小さく、光検出部6b上の集光スポットPb及
び集光スポットPdは大きくなる。逆に、光ディスク1
が集光レンズ5から離れ、フォーカスエラー状態になる
場合、図12に示すように、光検出部6a上の集光スポ
ットPa及び集光スポットPcは大きく、光検出部6b上
の集光スポットPb及び集光スポットPdは小さくなる。[0088] The optical disk 1 is close to the condenser lens 5, may become the focus error state, as shown in FIG. 11, the light detecting unit 6a focused spots P a and converged spot P c is small, light detection unit 6b focused spots P b and the condensing spot P d increases. Conversely, optical disk 1
There away from the condenser lens 5, may become the focus error state, as shown in FIG. 12, the light detecting unit 6a focused spots P a and converged spot P c is large, the light detection unit 6b Ueno condensing spot P b and the condensing spot P d is reduced.
【0089】この実施形態も、第1の実施形態と同様
に、フォーカスエラー信号FESはFES=(Sa+Sc
+Se)−(Sb+Sd+Sf)の演算処理により得られ、
また、再生信号RF及びトラッキングエラー信号TES
は、それぞれRF=Sa+Sb+Sc+Sd+Se+Sf及び
TES=SA−SBの演算処理により求められる。Also in this embodiment, as in the first embodiment, the focus error signal FES is FES = (S a + S c).
+ S e )-(S b + S d + S f )
Also, the reproduction signal RF and the tracking error signal TES
Are respectively determined by the RF = S a + S b + S c + S d + S e + S arithmetic processing f and TES = S A -S B.
【0090】斯る光ピックアップ装置も第1の実施形態
と同様の効果が得られる。This optical pickup device can provide the same effects as the first embodiment.
【0091】また、上記各実施形態では、光検出手段6
の光検出部6a、6bが光ディスク1のラジアル方向に
略沿って直列配置されていたが、図13に示すように各
光検出部6a、6bがラジアル方向に略沿って配置され
ると共に、光検出部6a、6bが互いに並列配置される
ようにしてもよい。この場合、光検出部6a、6bは、
トラック方向に略沿った分割線によって受光面16a〜
16c、16d〜16fに分割されている。In each of the above embodiments, the light detecting means 6
Although the photodetectors 6a and 6b are arranged in series substantially along the radial direction of the optical disc 1, the photodetectors 6a and 6b are arranged substantially along the radial direction as shown in FIG. The detection units 6a and 6b may be arranged in parallel with each other. In this case, the light detection units 6a and 6b
The light receiving surfaces 16a to 16d are indicated by dividing lines substantially along the track direction.
16c, 16d to 16f.
【0092】このような光検出手段を用いた場合、第
1、第2の実施形態で用いた光ピックアップ装置に比べ
て、光検出部6a、6bへ反射光束の集光スポットが位
置するように光軸調整をする際に、ホログラム素子4、
14の回転により容易に行えるので、好ましい。In the case where such a light detecting means is used, as compared with the optical pickup device used in the first and second embodiments, the converging spot of the reflected light beam is located on the light detecting portions 6a and 6b. When adjusting the optical axis, the hologram element 4,
This is preferable because the rotation can be easily performed by rotation of 14.
【0093】斯る場合、ホログラム素子4の領域4a〜
4d、ホログラム素子14の領域14a〜14dの各ホ
ログラム面パータンは勿論上記実施形態とは異なって設
定されている。In such a case, the regions 4a to 4a of the hologram element 4
4d, the hologram surface patterns of the regions 14a to 14d of the hologram element 14 are of course set differently from the above embodiment.
【0094】尚、この場合、光ディスク1のラジアル方
向と光源2の波長変動による前記集光スポットの移動す
る方向が互いに略直交する関係にあるが、この場合も前
記上記一方の対角線位置の2つの領域4a、4c(14
a、14c)の反射光束の入射面積と前記他方の対角線
位置の2つの領域4b、4d(14b、14d)の反射
光束の入射面積の比率を略保持した状態で、前記一方の
対角線位置の2つの領域4a、4c(14a、14c)
で回折された反射光束を光検出部6aで検出すると共
に、前記他方の対角線位置の2つの領域4b、4d(1
4b、14d)で回折された反射光束を光検出部6bで
検出するので、よりフォーカスエラー信号の劣化が抑制
される。In this case, the radial direction of the optical disk 1 and the moving direction of the condensed spot due to the wavelength variation of the light source 2 are substantially orthogonal to each other. Regions 4a, 4c (14
a, 14c) and the ratio of the incident area of the reflected light beam of the two regions 4b, 4d (14b, 14d) at the other diagonal position is substantially maintained, while maintaining the ratio of the incident area of the reflected light beam at the other diagonal position to 2 in the one diagonal position. Area 4a, 4c (14a, 14c)
The reflected light flux diffracted by is detected by the light detection unit 6a, and the two areas 4b, 4d (1
Since the reflected light flux diffracted by 4b, 14d) is detected by the light detection unit 6b, deterioration of the focus error signal is further suppressed.
【0095】尚、上記各形態では、ホログラム素子4、
14の分割線4m、14m、又は4l、14lに沿って
光検出手段6を配置したが、これら分割線に角度を持っ
て配置しても効果が得られる。しかしながら、この場
合、上記形態に比べフォーカスエラー信号の劣化を生じ
る。In each of the above embodiments, the hologram element 4,
Although the photodetecting means 6 is arranged along the fourteen dividing lines 4m, 14m, or 41, 141, an effect can be obtained even if these dividing lines are arranged at an angle. However, in this case, the focus error signal is deteriorated as compared with the above embodiment.
【0096】尚、上述では、透過型の3分割用回折格子
を用いた光ピックアップ装置について述べたが、反射型
の3分割用回折格子を用いた光ピックアップ装置にも勿
論適用できる。勿論、光源と情報記録媒体の間にミラー
等の反射手段を介在させて、光路を屈折させることもで
きる。In the above description, the optical pickup device using the transmission type three-division grating is described. However, the present invention can be applied to the optical pickup device using the reflection type three-division grating. Of course, the optical path can be refracted by interposing a reflection means such as a mirror between the light source and the information recording medium.
【0097】更に、透過型3分割用回折格子3と透過型
ホログラム素子4を一体にした光学素子を用いてもよ
い。Further, an optical element in which the transmission type three-division diffraction grating 3 and the transmission type hologram element 4 are integrated may be used.
【0098】また、トラッキングサーボ方法として、上
記3ビーム法以外の方法も適宜利用できる。As a tracking servo method, a method other than the three-beam method can be appropriately used.
【0099】また、光検出部6a、6bは、それぞれ3
つの受光面に分割されているが、それぞれ2つの受光面
に分割された構成でも可能であるが、それぞれ3つの受
光面の方が感度がよい。The photodetectors 6a and 6b each have a 3
Although the light receiving surface is divided into two light receiving surfaces, a configuration in which each light receiving surface is divided into two light receiving surfaces is also possible, but three light receiving surfaces are more sensitive.
【0100】[0100]
【発明の効果】本発明によれば、光源の発振波長の変
動、トラッキング時の集光手段の移動、またこれら両方
によるフォーカスエラー信号の劣化を抑制できる。According to the present invention, the fluctuation of the oscillation wavelength of the light source, the movement of the focusing means during tracking, and the deterioration of the focus error signal due to both of them can be suppressed.
【図1】本発明の第1の実施形態に係る光ピックアップ
装置の概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】上記第1の実施形態で用いられるホログラム素
子の模式上面図である。FIG. 2 is a schematic top view of the hologram element used in the first embodiment.
【図3】光ディスクのトラックと集光スポットM、
S1、S2の関係を示す要部模式図である。FIG. 3 shows a track of an optical disc and a converging spot M,
Is a main part schematic diagram showing the relationship of S 1, S 2.
【図4】上記第1の実施形態で用いられる光検出手段の
概略模式上面図である。FIG. 4 is a schematic top view of a light detecting means used in the first embodiment.
【図5】上記第1の実施形態におけるフォーカス状態の
場合の光検出手段上の集光状態を示す概略上面図であ
る。FIG. 5 is a schematic top view showing a light condensing state on the light detecting means in a focus state in the first embodiment.
【図6】上記第1の実施形態における非フォーカス状態
の場合の光検出手段上の集光状態を示す概略上面図であ
る。FIG. 6 is a schematic top view showing a light condensing state on the light detecting means in the non-focus state in the first embodiment.
【図7】上記第1の実施形態における非フォーカス状態
の場合の光検出手段上の集光状態を示す概略上面図であ
る。FIG. 7 is a schematic top view showing a light condensing state on the light detecting means in the non-focus state in the first embodiment.
【図8】上記第1の実施形態において集光手段が移動し
た場合のSカーブ特性図である。FIG. 8 is an S-curve characteristic diagram when the light converging means moves in the first embodiment.
【図9】本発明の第2の実施形態に係る光ピックアップ
装置の概略構成図である。FIG. 9 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device according to a second embodiment of the present invention.
【図10】上記第2の実施形態で用いられるホログラム
素子の模式上面図である。FIG. 10 is a schematic top view of a hologram element used in the second embodiment.
【図11】上記第2の実施形態における非フォーカス状
態の場合の光検出手段上の集光状態を示す概略上面図で
ある。FIG. 11 is a schematic top view showing a light condensing state on a light detecting means in a non-focus state in the second embodiment.
【図12】上記第2の実施形態における非フォーカス状
態の場合の光検出手段上の集光状態を示す概略上面図で
ある。FIG. 12 is a schematic top view showing a light condensing state on a light detecting means in a non-focus state in the second embodiment.
【図13】他の光検出手段の概略模式上面図である。FIG. 13 is a schematic top view of another light detection unit.
【図14】従来例に係る光ピックアップ装置の概略構成
図である。FIG. 14 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device according to a conventional example.
【図15】上記従来例の光検出手段の概略模式上面図で
ある。FIG. 15 is a schematic schematic top view of the conventional light detecting means.
【図16】他の従来例の光検出手段の光検出部の概略模
式上面図である。FIG. 16 is a schematic schematic top view of a light detection section of another conventional light detection means.
【図17】他の従来例に係る光ピックアップ装置の概略
構成図である。FIG. 17 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device according to another conventional example.
【図18】上記他の従来例で用いられるホログラム素子
の模式上面図である。FIG. 18 is a schematic top view of a hologram element used in another conventional example.
【図19】他の従来例の光検出手段の光検出部の概略模
式上面図である。FIG. 19 is a schematic top view of a light detecting section of another conventional light detecting means.
【図20】他の従来例において集光手段が移動した場合
の光ピックアップ装置の概略構成図である。FIG. 20 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device when a light-collecting unit moves in another conventional example.
【図21】上記他の従来例で用いられるホログラム素子
での反射光束M、S1、S2の関係を示す模式上面図であ
る。FIG. 21 is a schematic top view showing the relationship among reflected light beams M, S 1 , and S 2 in a hologram element used in the above another conventional example.
【図22】上記他の従来例において集光手段が移動した
場合のSカーブ特性図である。FIG. 22 is an S-curve characteristic diagram when the light-collecting means moves in the another conventional example.
1 光ディスク(光記録媒体) 2 光源 3 3分割用回折格子 4 、14 透過型ホログラム素子(透過型回折素
子) 4a、14a 領域 4b、14b 領域 4c、14c 領域 4d、14d 領域 4l、14l 分割線 4m、14m 分割線 5 集光レンズ(集光手段) 6 光検出器(光検出手段) 6a 光検出部 6b 光検出部 6c 光検出部(受光面) 6d 光検出部(受光面) 16a 光検出部(受光面) 16b 光検出部(受光面) 16c 光検出部(受光面) 16d 光検出部(受光面) 16e 光検出部(受光面) 16f 光検出部(受光面)DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical disk (optical recording medium) 2 Light source 3 Diffraction grating for 3 divisions 4 and 14 Transmission hologram element (transmission type diffraction element) 4a, 14a area 4b, 14b area 4c, 14c area 4d, 14d area 41, 14l Division line 4m , 14m division line 5 condenser lens (condenser) 6 photodetector (photodetector) 6a photodetector 6b photodetector 6c photodetector (light-receiving surface) 6d photodetector (light-receiving surface) 16a photodetector (Light receiving surface) 16b Light detecting unit (light receiving surface) 16c Light detecting unit (light receiving surface) 16d Light detecting unit (light receiving surface) 16e Light detecting unit (light receiving surface) 16f Light detecting unit (light receiving surface)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 後藤 荘謙 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Shoken Goto 2-5-5 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka Sanyo Electric Co., Ltd.
Claims (10)
して光ディスクに照射し、該光ディスクからの反射光束
を光検出手段側へ透過型回折素子で回折し、該回折され
た反射光束を前記光検出手段で検出する光ピックアップ
装置において、 前記回折素子は、前記光ディスクのトラック方向に略沿
って延びる分割線と該分割線と直交するように前記光デ
ィスクのラジアル方向に略沿って延びる分割線によって
分割された4つの領域を有し、該4つの領域のうちの一
方の対角線位置の2つの領域と他方の対角線位置の2つ
の領域は、該一方の2つの領域で回折された反射光束と
該他方の2つの領域で回折された反射光束の比較により
フォーカス状態が検出できるように該フォーカス状態に
対応した空間変動を該各反射光束にそれぞれ与え、 前記集光手段は、トラッキングのために前記光ディスク
のラジアル方向に略沿って移動するように設定されてお
り、 前記光検出手段は、前記光源の波長変動によりフォーカ
ス状態検出のための前記回折された反射光束の集光スポ
ットが移動する方向に略沿った分割線によって分割され
てなる少なくとも2つの受光面を備え、該各受光面が前
記移動距離より長い長さを有するフォーカス状態検出の
ための光検出部を2組有し、前記一方の光検出部が前記
一方の対角線位置の2つの領域で回折された反射光束を
検出すると共に、前記他方の光検出部が前記他方の対角
線位置の2つの領域で回折された反射光束を検出するこ
とを特徴とする光ピックアップ装置。1. A light beam emitted from a light source is irradiated to an optical disk via a light condensing means, a light beam reflected from the optical disk is diffracted by a transmission type diffraction element toward a light detecting means, and the diffracted light beam is reflected. In the optical pickup device which is detected by the light detecting means, the diffraction element includes a dividing line extending substantially along a track direction of the optical disc and a dividing line extending substantially along a radial direction of the optical disc so as to be orthogonal to the dividing line. The two regions at one diagonal position and the two regions at the other diagonal position of the four regions are reflected light beams diffracted by the two regions. Providing a spatial variation corresponding to the focus state to each of the reflected light beams so that the focus state can be detected by comparing the reflected light beams diffracted by the other two areas; The means is set so as to move substantially along the radial direction of the optical disc for tracking, and the light detection means is configured to detect the focus state of the diffracted reflected light beam due to a wavelength change of the light source. A light detecting unit for detecting a focus state having at least two light receiving surfaces divided by a dividing line substantially along a direction in which the converging spot moves, wherein each light receiving surface has a length longer than the moving distance; Two sets are provided, wherein the one light detection unit detects reflected light fluxes diffracted in two regions at the one diagonal position, and the other light detection unit diffracts light at two regions at the other diagonal position. An optical pickup device for detecting a reflected light beam.
状態検出のための反射光束の光スポットの形状が、該透
過型回折素子の前記光ディスクのラジアル方向に略沿っ
て延びる分割線に対して略対称であることを特徴とする
請求項1記載の光ピックアップ装置。2. A shape of a light spot of a reflected light beam for detecting a focus state in the transmission type diffraction element is substantially equal to a division line of the transmission type diffraction element extending substantially in a radial direction of the optical disc. The optical pickup device according to claim 1, wherein the optical pickup device is symmetric.
源の波長変動による前記集光スポットの移動する方向が
互いに略平行な関係にあることを特徴とする請求項1又
は2記載の光ピックアップ装置。3. The optical pickup device according to claim 1, wherein a radial direction of the optical disk and a moving direction of the converging spot due to a wavelength change of the light source are substantially parallel to each other.
源の波長変動による前記集光スポットの移動する方向が
略直交する関係にあることを特徴とする請求項1又は2
記載の光ピックアップ装置。4. The optical disk according to claim 1, wherein a radial direction of the optical disk and a moving direction of the converging spot due to a wavelength change of the light source are substantially orthogonal to each other.
An optical pickup device as described in the above.
受光面とこの両側にこれより幅広の受光面を備えた構成
であることを特徴とする請求項1、2、3、又は4記載
の光ピックアップ装置。5. The light receiving surface according to claim 1, wherein the at least two light receiving surfaces have a narrow light receiving surface and wider light receiving surfaces on both sides thereof. Optical pickup device.
とこの両側に位置するトラッキングサーボ用の副光束を
発生させる3分割回折格子を前記光源と前記透過型回折
素子の間の光路中に備え、 且つ前記光検出手段は、前記透過型回折素子によって回
折された前記主光束に係る光ディスクからの反射光束を
前記2つの光検出部で検出すると共に、前記透過型回折
素子によって回折された前記各副光束に係る光ディスク
からの反射光束をそれぞれ検出するために、前記2つの
光検出部を挟むように両側に前記移動距離より長い長さ
の受光面を有するトラッキング状態検出のための1組の
光検出部を備えることを特徴とする請求項1、2、3、
4、又は5記載の光ピックアップ装置。6. A three-divided diffraction grating for generating a main light beam and sub-beams for tracking servo located on both sides of the light beam emitted from the light source in an optical path between the light source and the transmission type diffraction element. And the light detection means detects, with the two light detection units, a reflected light beam from the optical disk related to the main light beam diffracted by the transmission type diffraction element, and diffracts each of the light beams diffracted by the transmission type diffraction element. A set of light for tracking state detection having a light receiving surface longer than the moving distance on both sides so as to sandwich the two light detecting portions, for detecting reflected light beams from the optical disk related to the sub light beam, respectively. A detection unit is provided.
The optical pickup device according to 4 or 5.
徴とする請求項1、2、3、4、5、又は6記載の光ピ
ックアップ装置。7. The optical pickup device according to claim 1, wherein the spatial variation is astigmatism.
と、前記回折素子の前記他方の2つの領域は、互いに直
交関係にある非点収差を付与することを特徴とする請求
項7記載の光ピックアップ装置。8. The method according to claim 7, wherein the one two regions of the diffractive element and the other two regions of the diffractive element impart astigmatism in a mutually orthogonal relationship. Optical pickup device.
回折される反射光束の焦点位置と前記回折素子の前記他
方の2つの領域で回折される反射光束の焦点位置が、フ
ォーカス時において互いに異なる高さに位置することを
特徴とする請求項1、2、3、4、5、又は6記載の光
ピックアップ装置。9. A focus position of a reflected light beam diffracted by said one of the two regions of the diffraction element and a focal position of a reflected light beam diffracted by the other two regions of the diffractive element are different from each other during focusing. The optical pickup device according to claim 1, 2, 3, 4, 5, or 6, wherein the optical pickup device is located at different heights.
の前記一方の2つの領域で回折される反射光束の焦点位
置は、前記光検出手段の受光面より手前側に位置し、前
記回折素子の前記他方の2つの領域で回折される反射光
束の焦点位置は、前記光検出手段の受光面より奥側に位
置することを特徴とする請求項9記載の光ピックアップ
装置。10. A focus position of a reflected light beam diffracted by said one of said two regions of said diffraction element during focusing is located closer to a light-receiving surface of said light detection means, and said other of said diffraction elements. 10. The optical pickup device according to claim 9, wherein a focal position of the reflected light beam diffracted in the two regions is located on a deeper side than a light receiving surface of the light detecting means.
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Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
KR100343159B1 (en) * | 1998-07-10 | 2002-09-18 | 삼성전자 주식회사 | Apparatus for detecting error signal using hologram grating in optical pickup |
CN1326130C (en) * | 2004-06-22 | 2007-07-11 | 夏普株式会社 | Light receiving and emitting integrated device, optical pickup provided therewith, and optical disk apparatus |
KR100749001B1 (en) | 2005-11-16 | 2007-08-13 | 닛뽕빅터 가부시키가이샤 | Optical pickup apparatus |
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1996
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CN1326130C (en) * | 2004-06-22 | 2007-07-11 | 夏普株式会社 | Light receiving and emitting integrated device, optical pickup provided therewith, and optical disk apparatus |
US7606123B2 (en) | 2004-06-22 | 2009-10-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light receiving and emitting integrated device, optical pickup provided therewith, and optical disk apparatus |
KR100749001B1 (en) | 2005-11-16 | 2007-08-13 | 닛뽕빅터 가부시키가이샤 | Optical pickup apparatus |
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