JPH10320839A - 光ディスク記録層間測定装置 - Google Patents
光ディスク記録層間測定装置Info
- Publication number
- JPH10320839A JPH10320839A JP13927197A JP13927197A JPH10320839A JP H10320839 A JPH10320839 A JP H10320839A JP 13927197 A JP13927197 A JP 13927197A JP 13927197 A JP13927197 A JP 13927197A JP H10320839 A JPH10320839 A JP H10320839A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- distance
- recording layers
- layer
- optical disk
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】１枚のディスク基板に複数の記録層を備えた光
ディスクの記録層間の距離を測定することが困難であ
り、また、安定した層間ジャンプができなかった。 【解決手段】ディスク基板に複数の記録面及び複数の記
録面を覆う複数の反射膜とからなる記録層を備えた光デ
ィスクの記録層間の距離を測定する光ディスク記録層間
測定装置において、光ディスクに対して所定の入射角度
でレーザ光を照射するレーザ光照射手段と、照射された
レーザ光が複数の反射膜で反射した反射光を受光して受
光量に対応した信号を出力する反射光受光手段と、レー
ザ光の所定の入射角度を中心としてレーザ光の入射角度
を変化させる傾斜手段と、反射光受光手段から出力され
た信号レベルのピークの間隔から光ディスクの記録層間
の距離を算出する記録層間算出手段とを備える。
ディスクの記録層間の距離を測定することが困難であ
り、また、安定した層間ジャンプができなかった。 【解決手段】ディスク基板に複数の記録面及び複数の記
録面を覆う複数の反射膜とからなる記録層を備えた光デ
ィスクの記録層間の距離を測定する光ディスク記録層間
測定装置において、光ディスクに対して所定の入射角度
でレーザ光を照射するレーザ光照射手段と、照射された
レーザ光が複数の反射膜で反射した反射光を受光して受
光量に対応した信号を出力する反射光受光手段と、レー
ザ光の所定の入射角度を中心としてレーザ光の入射角度
を変化させる傾斜手段と、反射光受光手段から出力され
た信号レベルのピークの間隔から光ディスクの記録層間
の距離を算出する記録層間算出手段とを備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の記録層を備
えた光ディスクの記録層間の距離を測定する光ディスク
記録層間測定装置に関する。
えた光ディスクの記録層間の距離を測定する光ディスク
記録層間測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ディスクは、トラックピッチ及
び最短ピット長の縮小化、また、半導体レーザの短波長
化等により、大容量化、高密度化が研究検討されてい
る。そのなかで、デジタル圧縮符号化処理を施した情報
を複数の記録層に記録したデジタル・バーサタイル・デ
ィスク（ＤＶＤ：Digital Versatile Disk）が開発さ
れ、ＤＶＤを記録再生するシステムも開発されている。
び最短ピット長の縮小化、また、半導体レーザの短波長
化等により、大容量化、高密度化が研究検討されてい
る。そのなかで、デジタル圧縮符号化処理を施した情報
を複数の記録層に記録したデジタル・バーサタイル・デ
ィスク（ＤＶＤ：Digital Versatile Disk）が開発さ
れ、ＤＶＤを記録再生するシステムも開発されている。
【０００３】ＤＶＤは、０．６ｍｍのディスク基板を２
枚貼り合わせて１．２ｍｍの光ディスクとしたものであ
り、１枚のディスク基板に１つの記録層を有するＤＶＤ
−５、１枚のディスク基板に２つの記録層を有するＤＶ
Ｄ−９、２枚のディスク基板にそれぞれ１つの記録層を
有するＤＶＤ−１０、２枚のディスク基板にそれぞれ２
つの記録層を有するＤＶＤ−１８などがある。
枚貼り合わせて１．２ｍｍの光ディスクとしたものであ
り、１枚のディスク基板に１つの記録層を有するＤＶＤ
−５、１枚のディスク基板に２つの記録層を有するＤＶ
Ｄ−９、２枚のディスク基板にそれぞれ１つの記録層を
有するＤＶＤ−１０、２枚のディスク基板にそれぞれ２
つの記録層を有するＤＶＤ−１８などがある。
【０００４】このＤＶＤのなかで、１枚のディスク基板
に２つの記録層を有するＤＶＤ−９、または、ＤＶＤ−
１８は、第１記録層は記録ピットが形成された記録面と
再生レーザ波長に対して半透明な反射膜とを備え、第２
記録層は記録ピットが形成された記録面と再生レーザ波
長に対して高い反射率を有する高反射膜とを備えてい
る。そして、第１記録層と第２記録層は、数十μｍの中
間層を介して接着されている。再生時には、一方のディ
スク基板側から、どちらかの記録層の記録面にフォーカ
ス制御を行い、２つの記録面の情報の読み出しを行う。
ここで、以上のＤＶＤ−９及びＤＶＤ−１８等の１つの
ディスク基板側から２つの記録層の情報を読み取ること
ができる光ディスクを２層記録光ディスクとする。
に２つの記録層を有するＤＶＤ−９、または、ＤＶＤ−
１８は、第１記録層は記録ピットが形成された記録面と
再生レーザ波長に対して半透明な反射膜とを備え、第２
記録層は記録ピットが形成された記録面と再生レーザ波
長に対して高い反射率を有する高反射膜とを備えてい
る。そして、第１記録層と第２記録層は、数十μｍの中
間層を介して接着されている。再生時には、一方のディ
スク基板側から、どちらかの記録層の記録面にフォーカ
ス制御を行い、２つの記録面の情報の読み出しを行う。
ここで、以上のＤＶＤ−９及びＤＶＤ−１８等の１つの
ディスク基板側から２つの記録層の情報を読み取ること
ができる光ディスクを２層記録光ディスクとする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たＤＶＤ−９、ＤＶＤ−１８等の２層記録光ディスクを
製造する場合、第１記録層と第２記録層との間に形成す
る中間層の厚さを、光ディスク全面にわたり均一に制御
することが困難であり、このばらつきが、再生時におけ
る層間ジャンプを行う際に問題となる。
たＤＶＤ−９、ＤＶＤ−１８等の２層記録光ディスクを
製造する場合、第１記録層と第２記録層との間に形成す
る中間層の厚さを、光ディスク全面にわたり均一に制御
することが困難であり、このばらつきが、再生時におけ
る層間ジャンプを行う際に問題となる。
【０００６】つまり、片面再生２層記録光ディスクにお
いては、例えば、１層目の記録層を再生中、２層目の記
録層を再生するためにフォーカス位置を層間ジャンプさ
せる場合、光ピックアップの対物レンズを駆動している
アクチュエータにバイアス電圧を加え、電気的にフォー
カス位置をずらして記録層の層間ジャンプを行ってい
る。そのバイアス電圧が層間の距離に対してずれが生じ
た場合、層間ジャンプ先の記録層にフォーカス点が合う
までの時間がかかる。また、層間ジャンプを繰り返し行
う場合、安定した層間ジャンプができないという問題が
ある。
いては、例えば、１層目の記録層を再生中、２層目の記
録層を再生するためにフォーカス位置を層間ジャンプさ
せる場合、光ピックアップの対物レンズを駆動している
アクチュエータにバイアス電圧を加え、電気的にフォー
カス位置をずらして記録層の層間ジャンプを行ってい
る。そのバイアス電圧が層間の距離に対してずれが生じ
た場合、層間ジャンプ先の記録層にフォーカス点が合う
までの時間がかかる。また、層間ジャンプを繰り返し行
う場合、安定した層間ジャンプができないという問題が
ある。
【０００７】また、前述した２層記録光ディスクの記録
層間の距離を容易に高精度に測定することが困難である
という問題がある。すなわち、光ディスク等における薄
膜の厚さを測定する方法として、光の偏光現象を利用し
た偏光解析による測定方法がある。これは、例えば、半
透明膜にレーザ光を照射した時に、半透明膜の表面で反
射した反射光と、半透明膜を通過し入射面と反対の面で
反射した反射光との偏光方向の違いにより、半透明膜の
厚さを算出するものである。
層間の距離を容易に高精度に測定することが困難である
という問題がある。すなわち、光ディスク等における薄
膜の厚さを測定する方法として、光の偏光現象を利用し
た偏光解析による測定方法がある。これは、例えば、半
透明膜にレーザ光を照射した時に、半透明膜の表面で反
射した反射光と、半透明膜を通過し入射面と反対の面で
反射した反射光との偏光方向の違いにより、半透明膜の
厚さを算出するものである。
【０００８】しかし、前述した偏光解析による測定方法
では、偏光方向が３６０度以上回転した場合に距離を正
確に測定することが困難となり、偏光方向が１回転（３
６０度）の状態では、薄膜程度の厚さ（数ミクロン）の
測定しかできず、前述した数十ミクロンの記録層間の距
離を測定することが困難であるという問題がある。
では、偏光方向が３６０度以上回転した場合に距離を正
確に測定することが困難となり、偏光方向が１回転（３
６０度）の状態では、薄膜程度の厚さ（数ミクロン）の
測定しかできず、前述した数十ミクロンの記録層間の距
離を測定することが困難であるという問題がある。
【０００９】したがって本発明は、１枚のディスク基板
に複数の記録層を備えた光ディスクの記録層間の距離を
容易に測定することができる光ディスク記録層間測定装
置を提供することを目的としている。また、光ディスク
記録再生装置において、異なる記録層間を備えた複数の
光ディスクを再生する場合、それぞれの層間ジャンプを
安定して行うことができる光ディスク記録層間測定装置
を提供することを目的としている。
に複数の記録層を備えた光ディスクの記録層間の距離を
容易に測定することができる光ディスク記録層間測定装
置を提供することを目的としている。また、光ディスク
記録再生装置において、異なる記録層間を備えた複数の
光ディスクを再生する場合、それぞれの層間ジャンプを
安定して行うことができる光ディスク記録層間測定装置
を提供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】そのため請求項１記載の
本発明は、ディスク基板に複数の記録面及び複数の記録
面を覆う複数の反射膜とからなる複数の記録層を備えた
光ディスクの記録層間の距離を測定する光ディスク記録
層間測定装置において、光ディスクに対して所定の入射
角度でレーザ光を照射するレーザ光照射手段と、照射さ
れたレーザ光が複数の反射膜により反射された反射光を
受光して受光量に対応した信号を出力する反射光受光手
段と、レーザ光の所定の入射角度を中心としてレーザ光
の入射角度を変化させる傾斜手段と、傾斜手段によりレ
ーザ光の入射角度を変化させたとき、反射光受光手段か
ら出力された信号レベルのピークの間隔から光ディスク
の記録層間の距離を算出する記録層間算出手段とを備え
たことを特徴としている。
本発明は、ディスク基板に複数の記録面及び複数の記録
面を覆う複数の反射膜とからなる複数の記録層を備えた
光ディスクの記録層間の距離を測定する光ディスク記録
層間測定装置において、光ディスクに対して所定の入射
角度でレーザ光を照射するレーザ光照射手段と、照射さ
れたレーザ光が複数の反射膜により反射された反射光を
受光して受光量に対応した信号を出力する反射光受光手
段と、レーザ光の所定の入射角度を中心としてレーザ光
の入射角度を変化させる傾斜手段と、傾斜手段によりレ
ーザ光の入射角度を変化させたとき、反射光受光手段か
ら出力された信号レベルのピークの間隔から光ディスク
の記録層間の距離を算出する記録層間算出手段とを備え
たことを特徴としている。
【００１１】本発明によれば、ディスク基板に複数の記
録面及び該複数の記録面を覆う複数の反射膜とからなる
複数の記録層を備えた光ディスクに対して、所定の入射
角度でレーザ光を照射し、レーザ光の所定の入射角度を
中心としてレーザ光の入射角度を変化させ、照射された
レーザ光が複数の反射膜で反射した反射光を受光し、そ
の受光量に対応した信号の信号レベルのピークの間隔か
ら光ディスクの記録層間の距離を算出することができる
ため、光ディスクを破壊することなく容易に記録層間の
距離を測定することができる。
録面及び該複数の記録面を覆う複数の反射膜とからなる
複数の記録層を備えた光ディスクに対して、所定の入射
角度でレーザ光を照射し、レーザ光の所定の入射角度を
中心としてレーザ光の入射角度を変化させ、照射された
レーザ光が複数の反射膜で反射した反射光を受光し、そ
の受光量に対応した信号の信号レベルのピークの間隔か
ら光ディスクの記録層間の距離を算出することができる
ため、光ディスクを破壊することなく容易に記録層間の
距離を測定することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の光ディスク記録
層間測定装置における一実施例の概略構成を示す模式図
である。図１において、光ディスク記録層間測定装置
は、レーザ光照射手段（半導体レーザ１０１、コリメー
トレンズ１０２）、反射光受光手段（フォトディテクタ
１０３）、傾斜手段（傾斜機構１０４）、記録層間算出
手段（記録層間算出部１０５）とを備えている。また、
２層記録光ディスク１０６は、ディスク基板１０７、第
１記録層１０８、第１反射膜１０９、中間層１１０、第
２記録層１１１、第２反射膜１１２を備えている。
層間測定装置における一実施例の概略構成を示す模式図
である。図１において、光ディスク記録層間測定装置
は、レーザ光照射手段（半導体レーザ１０１、コリメー
トレンズ１０２）、反射光受光手段（フォトディテクタ
１０３）、傾斜手段（傾斜機構１０４）、記録層間算出
手段（記録層間算出部１０５）とを備えている。また、
２層記録光ディスク１０６は、ディスク基板１０７、第
１記録層１０８、第１反射膜１０９、中間層１１０、第
２記録層１１１、第２反射膜１１２を備えている。
【００１３】図１において、半導体レーザ１０１から出
射したレーザ光１１３は、コリメートレンズ１０２によ
り平行光に変換され、２層記録光ディスク１０６に入射
する。レーザ光１１３は、２層記録光ディスク１０６の
第１記録層１０８及び第２記録層１１１に対して約４５
度の入射角度θをもって入射する。
射したレーザ光１１３は、コリメートレンズ１０２によ
り平行光に変換され、２層記録光ディスク１０６に入射
する。レーザ光１１３は、２層記録光ディスク１０６の
第１記録層１０８及び第２記録層１１１に対して約４５
度の入射角度θをもって入射する。
【００１４】２層記録光ディスク１０６は、透明なディ
スク基板１０７上に第１記録層１０８と、中間層１１０
を介して第２記録層１１１とが形成されている。第１記
録層１０８上には、レーザ光１１３の一部を反射し、一
部を透過する半透明な第１反射膜１０９が形成され、ま
た、第２記録層１１１上には、レーザ光１１３の大部分
を反射する第２反射膜１１２が形成されている。
スク基板１０７上に第１記録層１０８と、中間層１１０
を介して第２記録層１１１とが形成されている。第１記
録層１０８上には、レーザ光１１３の一部を反射し、一
部を透過する半透明な第１反射膜１０９が形成され、ま
た、第２記録層１１１上には、レーザ光１１３の大部分
を反射する第２反射膜１１２が形成されている。
【００１５】２層記録光ディスク１０６に入射したレー
ザ光１１３は、第１反射膜１０９と第２反射膜１１２で
それぞれ反射し、反射光１１４としてフォトディテクタ
１０３に入射する。フォトディテクタ１０３は、反射光
１１４を受光して、その光量に対応する信号を出力する
ものである。ここで、半導体レーザ１０１及びフォトデ
ィテクタ１０３は、２層記録光ディスクの記録層間の距
離に対して無限遠の位置に配置することが望ましい。
ザ光１１３は、第１反射膜１０９と第２反射膜１１２で
それぞれ反射し、反射光１１４としてフォトディテクタ
１０３に入射する。フォトディテクタ１０３は、反射光
１１４を受光して、その光量に対応する信号を出力する
ものである。ここで、半導体レーザ１０１及びフォトデ
ィテクタ１０３は、２層記録光ディスクの記録層間の距
離に対して無限遠の位置に配置することが望ましい。
【００１６】２層記録光ディスク１０６は傾斜機構１０
４に配置され、傾斜機構１０４は、２層記録光ディスク
１０６のレーザ光１１３の入射角度を中心として、±５
度の範囲で２層記録光ディスク１０６を傾斜させるもの
である。２層記録光ディスク１０６を±５度の範囲の範
囲で傾斜させた場合、フォトディテクタ１０３からの反
射光量に対応する信号は、一定の周期でレベルの増減を
繰り返す。
４に配置され、傾斜機構１０４は、２層記録光ディスク
１０６のレーザ光１１３の入射角度を中心として、±５
度の範囲で２層記録光ディスク１０６を傾斜させるもの
である。２層記録光ディスク１０６を±５度の範囲の範
囲で傾斜させた場合、フォトディテクタ１０３からの反
射光量に対応する信号は、一定の周期でレベルの増減を
繰り返す。
【００１７】図２は、本発明の光ディスク記録層間測定
装置において記録層間の距離を測定した場合のレーザ光
の入射角度と受光量との関係を示す模式図である。２層
記録光ディスク１０６を２つの平行平面鏡としたとき、
平行平面鏡にコリメートされたレーザ光１１３を照射す
ると、第１記録層１０８を覆う第１反射膜１０９と第２
記録層１１１を覆う第２反射膜１１２により反射された
反射光１１４は干渉を起こし、図２に示すように、入射
角度θによって反射光１１４の強度が周期的に変化す
る。この周期は、記録層間の距離と反比例の関係にある
ので、光の強度変化の角度周期を測定することにより、
２層の記録層間の距離を算出することができる。
装置において記録層間の距離を測定した場合のレーザ光
の入射角度と受光量との関係を示す模式図である。２層
記録光ディスク１０６を２つの平行平面鏡としたとき、
平行平面鏡にコリメートされたレーザ光１１３を照射す
ると、第１記録層１０８を覆う第１反射膜１０９と第２
記録層１１１を覆う第２反射膜１１２により反射された
反射光１１４は干渉を起こし、図２に示すように、入射
角度θによって反射光１１４の強度が周期的に変化す
る。この周期は、記録層間の距離と反比例の関係にある
ので、光の強度変化の角度周期を測定することにより、
２層の記録層間の距離を算出することができる。
【００１８】記録層間算出部１０５は、フォトディテク
タ１０３から出力された信号から、信号レベルの増減の
ピークの周期を検出し、その周期から２層記録光ディス
ク１０６の記録層間の距離を算出するものである。
タ１０３から出力された信号から、信号レベルの増減の
ピークの周期を検出し、その周期から２層記録光ディス
ク１０６の記録層間の距離を算出するものである。
【００１９】２層記録光ディスク１０６の記録層間の距
離をＨ、半導体レーザ１０１の波長をλ、ディスク基板
１０７の屈折率をｎ、レーザ光１１３の入射角をθとし
た場合、反射光１１４の角度の周期δθは、 δθ＝λ・｛（ｎ２−ｓｉｎ２θ）１／２｝／Ｈ・ｓｉｎ２θ （１ ） となる。
離をＨ、半導体レーザ１０１の波長をλ、ディスク基板
１０７の屈折率をｎ、レーザ光１１３の入射角をθとし
た場合、反射光１１４の角度の周期δθは、 δθ＝λ・｛（ｎ２−ｓｉｎ２θ）１／２｝／Ｈ・ｓｉｎ２θ （１ ） となる。
【００２０】例えば、λ＝６３３μｍ、ｎ＝１．５２、
θ＝４５°とした場合、 Ｈ＝０．８５１４／δθ［μｍ］ （２） となる。
θ＝４５°とした場合、 Ｈ＝０．８５１４／δθ［μｍ］ （２） となる。
【００２１】そして、前述した方法で２層記録光ディス
ク１０６を傾斜機構１０４を用いて、θ＝４０°〜５０
°の範囲で変化させたとき、信号レベルのピークが８回
現れた場合、 Ｈ＝０．８５１４／（１０・π／１８０／８） ＝３９［μｍ］ （３） となる。すなわち、２層記録光ディスク１０６の記録層
間の距離が３９μｍと算出できる。
ク１０６を傾斜機構１０４を用いて、θ＝４０°〜５０
°の範囲で変化させたとき、信号レベルのピークが８回
現れた場合、 Ｈ＝０．８５１４／（１０・π／１８０／８） ＝３９［μｍ］ （３） となる。すなわち、２層記録光ディスク１０６の記録層
間の距離が３９μｍと算出できる。
【００２２】以上のように、２層記録光ディスクに対し
て所定の角度でレーザ光を入射させ、それぞれの反射層
から反射した反射光を受光するようにフォトディテクタ
を配置し、２層記録光ディスクを前記レーザ光の入射角
度を中心として所定の範囲で傾斜させる。そして、反射
光を受光しているフォトディテクタの信号レベルの増減
のピーク数から、２層記録光ディスクの記録層間の距離
を容易に算出することができる。
て所定の角度でレーザ光を入射させ、それぞれの反射層
から反射した反射光を受光するようにフォトディテクタ
を配置し、２層記録光ディスクを前記レーザ光の入射角
度を中心として所定の範囲で傾斜させる。そして、反射
光を受光しているフォトディテクタの信号レベルの増減
のピーク数から、２層記録光ディスクの記録層間の距離
を容易に算出することができる。
【００２３】また、本発明の光ディスク記録層間測定装
置は、測定装置だけに限定されるものではない。すなわ
ち、光ディスク再生装置内に前述したレーザ光照射手
段、反射光受光手段、傾斜手段、記録層間算出手段を備
え、反射光受光手段からの信号に基づいて、片面再生２
層記録光ディスクのＤＶＤにおける層間ジャンプのフォ
ーカス制御を行うようにしても良い。
置は、測定装置だけに限定されるものではない。すなわ
ち、光ディスク再生装置内に前述したレーザ光照射手
段、反射光受光手段、傾斜手段、記録層間算出手段を備
え、反射光受光手段からの信号に基づいて、片面再生２
層記録光ディスクのＤＶＤにおける層間ジャンプのフォ
ーカス制御を行うようにしても良い。
【００２４】すなわち、再生装置に本発明の光ディスク
記録層間測定装置を備えた場合、２層記録光ディスクの
層間の距離を予め測定することができ、記録層間の距離
に対応したバイアス電圧をアクチュエータに加え、正確
に且つ早く層間ジャンプ先の記録層にフォーカス点を移
動することができるため、光ディスク再生時のアクセス
を速くすることができる。
記録層間測定装置を備えた場合、２層記録光ディスクの
層間の距離を予め測定することができ、記録層間の距離
に対応したバイアス電圧をアクチュエータに加え、正確
に且つ早く層間ジャンプ先の記録層にフォーカス点を移
動することができるため、光ディスク再生時のアクセス
を速くすることができる。
【００２５】したがって、異なる記録層間の光ディスク
であっても、安定した層間ジャンプを行うことができ、
再生装置の信号処理系の負担を軽減することができる。
であっても、安定した層間ジャンプを行うことができ、
再生装置の信号処理系の負担を軽減することができる。
【００２６】
【発明の効果】本発明によれば、光ディスク記録層間測
定装置において、１枚のディスク基板に複数の記録層を
備えた光ディスクの記録層間の距離を容易に測定するこ
とができる。また、異なる記録層間の距離を有する光デ
ィスクであっても、それぞれ安定した層間ジャンプを行
うことができる。
定装置において、１枚のディスク基板に複数の記録層を
備えた光ディスクの記録層間の距離を容易に測定するこ
とができる。また、異なる記録層間の距離を有する光デ
ィスクであっても、それぞれ安定した層間ジャンプを行
うことができる。
【図１】本発明の光ディスク記録層間測定装置における
一実施例の概略構成を示す模式図である。
一実施例の概略構成を示す模式図である。
【図２】本発明の光ディスク記録層間測定装置において
記録層間の距離を測定した場合のレーザ光の入射角度と
受光量との関係を示す模式図である。
記録層間の距離を測定した場合のレーザ光の入射角度と
受光量との関係を示す模式図である。
１０１・・半導体レーザ、１０２・・コリメートレン
ズ、１０３・・フォトディテクタ、１０４・・傾斜機
構、１０５・・記録層間算出部、１０６・・２層記録光
ディスク、１０７・・ディスク基板、１０８・・第１記
録層、１０９・・第１反射膜、１１０・・中間層、１１
１・・第２記録層、１１２・・第２反射膜、１１３・・
レーザ光、１１４・・反射光
ズ、１０３・・フォトディテクタ、１０４・・傾斜機
構、１０５・・記録層間算出部、１０６・・２層記録光
ディスク、１０７・・ディスク基板、１０８・・第１記
録層、１０９・・第１反射膜、１１０・・中間層、１１
１・・第２記録層、１１２・・第２反射膜、１１３・・
レーザ光、１１４・・反射光
Claims (1)
- 【請求項１】ディスク基板に複数の記録面及び該複数の
記録面を覆う複数の反射膜からなる複数の記録層を備え
た光ディスクの前記記録層間の距離を測定する光ディス
ク記録層間測定装置において、前記光ディスクに対して
所定の入射角度でレーザ光を照射するレーザ光照射手段
と、照射された前記レーザ光が前記複数の反射膜で反射
した反射光を受光して受光量に対応した信号を出力する
反射光受光手段と、前記レーザ光の前記所定の入射角度
を中心として前記レーザ光の入射角度を変化させる傾斜
手段と、該傾斜手段により前記レーザ光の入射角度を変
化させたとき前記反射光受光手段から出力される信号レ
ベルのピークの間隔から前記光ディスクの記録層間の距
離を算出する記録層間算出手段とを備えたことを特徴と
する光ディスク記録層間測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13927197A JPH10320839A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 光ディスク記録層間測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13927197A JPH10320839A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 光ディスク記録層間測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10320839A true JPH10320839A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=15241405
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13927197A Pending JPH10320839A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 光ディスク記録層間測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10320839A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1489609A1 (en) * | 2002-03-27 | 2004-12-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Multi-layered optical information recording medium manufacturing method |
-
1997
- 1997-05-14 JP JP13927197A patent/JPH10320839A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1489609A1 (en) * | 2002-03-27 | 2004-12-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Multi-layered optical information recording medium manufacturing method |
| EP1489609A4 (en) * | 2002-03-27 | 2009-12-23 | Panasonic Corp | METHOD FOR MANUFACTURING A MULTI-LAYER OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM |
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