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JPH10233578A - Method for forming insulating layer - Google Patents

Method for forming insulating layer

Info

Publication number
JPH10233578A
JPH10233578A JP3774597A JP3774597A JPH10233578A JP H10233578 A JPH10233578 A JP H10233578A JP 3774597 A JP3774597 A JP 3774597A JP 3774597 A JP3774597 A JP 3774597A JP H10233578 A JPH10233578 A JP H10233578A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating layer
conductor pattern
layer
pattern
base material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3774597A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoharu Higashimatsu
智春 東松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP3774597A priority Critical patent/JPH10233578A/en
Publication of JPH10233578A publication Critical patent/JPH10233578A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form an insulating layer of high flatness with good efficiency by a method wherein a dummy pattern is formed in the gap between conductor patterns and, in this state, both faces of a base material are coated simultaneously with a high-viscosity resin material. SOLUTION: Both faces of a core board 2 which constitutes a multilayr printed-wiring board are provided with inner-layer conductor patterns 3, and dummy patterns 5 are formed in parts in which the width of gaps 4 between the inner-layer conductor patterns 3 is large. Then, in this state, both faces of a base material 15 are coated simultaneously with resin varnishes V1, V2 as high-viscosity resin materials, so that an interlayer insulating layer 6 which comprises a first insulating layer 7 and a second insulating layer 8 is applied. Thereby, the interlayer insulating layer of high flatness can be formed, and an exposure fog can be prevented surely. As a result, the formation accuracy of an outer-layer conductor pattern or the like can be enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁層の形成方法
に関するものである。
[0001] The present invention relates to a method for forming an insulating layer.

【0002】[0002]

【従来の技術】プリント配線板の製造においては、導体
パターンを備える基材に樹脂材料を塗布することにより
絶縁層を形成する工程がある。その例としては、フルア
ディティブプロセスによる多層プリント配線板の製造に
おける層間絶縁層の形成が挙げられる。以下、その手順
を図8,図9に基づいて簡単に説明する。
2. Description of the Related Art In the manufacture of printed wiring boards, there is a step of forming an insulating layer by applying a resin material to a base material having a conductor pattern. As an example, formation of an interlayer insulating layer in the production of a multilayer printed wiring board by a full additive process can be cited. The procedure will be briefly described below with reference to FIGS.

【0003】まず、銅張積層板を出発材料として用い、
基材31の両面に内層導体パターン32を備えるコア基
板33を作製する。次に、このコア基板33に感光性を
有する樹脂のワニスを塗布した後、乾燥及び露光・現像
を行う。このようにして得られた層間絶縁層34にマス
ク35を密着させ(図8参照)、フォトリソグラフィに
よりバイアホール形成用穴36を形成する。この後、表
面粗化処理、触媒核付与、永久レジスト37の形成及び
無電解銅めっきを行い、外層導体パターン38及びバイ
アホール39を形成する(図9参照)。
[0003] First, a copper-clad laminate is used as a starting material,
A core substrate 33 having an inner conductor pattern 32 on both surfaces of a substrate 31 is manufactured. Next, after applying a varnish of a photosensitive resin to the core substrate 33, drying, exposure and development are performed. A mask 35 is brought into close contact with the interlayer insulating layer 34 thus obtained (see FIG. 8), and a via hole forming hole 36 is formed by photolithography. Thereafter, surface roughening treatment, application of catalyst nuclei, formation of a permanent resist 37, and electroless copper plating are performed to form an outer layer conductor pattern 38 and a via hole 39 (see FIG. 9).

【0004】ところで、塗布装置としてカーテンコータ
等を用いた場合、ワニスの塗布は、まず一方の面に対し
て行った後、裏返して残りの面に対して行う必要があ
る。即ち、このタイプの装置では、塗布を両面に対して
同時に行うことができない。そこで、コア基板33を立
てた状態で処理する縦型のロールコータを用いて両面同
時塗布を行うことにより、作業性の向上を図ることが近
年提案されている。なお、このタイプの装置を用いる際
には、ワニスのたれを未然に防止すべくその粘度を高め
に設定する等の工夫がなされている。
[0004] When a curtain coater or the like is used as a coating device, it is necessary to apply varnish to one surface first, and then turn over the remaining surface. That is, in this type of apparatus, coating cannot be performed simultaneously on both surfaces. Therefore, it has been proposed in recent years to improve workability by performing simultaneous double-sided coating using a vertical roll coater that processes the core substrate 33 in an upright state. When this type of apparatus is used, some measures have been taken, such as setting the viscosity of the varnish to be higher in order to prevent dripping of the varnish.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところが、縦型のロー
ルコータによる両面同時塗布という方法では、樹脂ワニ
スの粘度を高めに設定していることから、低粘度ワニス
を用いたときとは異なり、流動によるレベリング作用を
期待することができない。従って、内層導体パターン3
2間に大きなギャップ40があると、そこにワニスが落
ち込んでしまい、層間絶縁層34の表面全体にうねりが
できやすい。また、このようなうねりがあると、露光か
ぶりや実装不良等の原因となってしまう。
However, in the method of simultaneous double-sided coating using a vertical roll coater, since the viscosity of the resin varnish is set to be high, unlike the case where a low-viscosity varnish is used, the flow is different. Can not be expected to have a leveling effect. Therefore, the inner layer conductor pattern 3
If there is a large gap 40 between the two, the varnish falls there, and it is easy for the entire surface of the interlayer insulating layer 34 to undulate. In addition, such undulations cause exposure fogging and defective mounting.

【0006】本発明は上記の課題を解決するためなされ
たものであり、その目的は、平坦性の高い絶縁層を効率
よく形成することができる絶縁層の形成方法を提供する
ことにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and an object of the present invention is to provide a method for forming an insulating layer capable of efficiently forming an insulating layer having high flatness.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載の発明では、導体パターンを備え
る基材に高粘度樹脂材料を塗布することにより、前記導
体パターンを被覆する絶縁層を形成する方法において、
前記導体パターン間のギャップにダミーパターンを設け
ておき、その状態で前記高粘度樹脂材料を前記基材の両
面に同時に塗布することを特徴とした絶縁層の形成方法
をその要旨とする。
In order to solve the above-mentioned problems, according to the first aspect of the present invention, a high-viscosity resin material is applied to a base material having a conductor pattern to cover the conductor pattern. In the method for forming an insulating layer,
A gist of the present invention is a method for forming an insulating layer, characterized in that a dummy pattern is provided in a gap between the conductor patterns, and the high-viscosity resin material is simultaneously applied to both surfaces of the base material in that state.

【0008】請求項2に記載の発明は、請求項1におい
て、前記高粘度樹脂材料は縦型のロールコータによって
塗布されることとした。請求項3に記載の発明は、請求
項1または2において、前記導体パターンの厚さが20
μm〜40μmであるとき、前記ダミーパターンは、自
身と前記導体パターンとの間のクリアランスが0.5mm
未満となるように設けられるとした。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the high-viscosity resin material is applied by a vertical roll coater. According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect, the conductor pattern has a thickness of 20 mm.
μm ~ 40μm, the dummy pattern, the clearance between itself and the conductor pattern is 0.5mm
It is assumed that the distance is set to be less than.

【0009】以下、本発明の「作用」を説明する。請求
項1に記載の発明によると、導体パターン間のギャップ
がダミーパターンによって埋められるため、実質的にギ
ャップの幅が小さくなる。ゆえに、塗布時において樹脂
材料がギャップに落ち込みにくくなり、樹脂材料のうね
りが抑制される。その結果、形成される絶縁層の平坦性
が高くなる。また、前記樹脂材料を基材の両面に同時に
塗布することにより、絶縁層が効率よく形成される。さ
らに、ギャップ間に設けられるダミーパターンは、導体
パターンと同時に形成されることが可能である。ゆえ
に、ダミーパターン形成に特別な工程を要することもな
く、作業性が悪化する心配もない。
Hereinafter, the "action" of the present invention will be described. According to the first aspect of the present invention, since the gap between the conductor patterns is filled with the dummy pattern, the width of the gap is substantially reduced. Therefore, the resin material is less likely to fall into the gap during application, and undulation of the resin material is suppressed. As a result, the flatness of the formed insulating layer is improved. Further, by simultaneously applying the resin material to both surfaces of the base material, the insulating layer is efficiently formed. Further, the dummy pattern provided between the gaps can be formed simultaneously with the conductor pattern. Therefore, no special process is required for forming the dummy pattern, and there is no fear that the workability is deteriorated.

【0010】請求項2に記載の発明によると、縦型のロ
ールコータは両面同時塗布に適した塗布装置であるた
め、高粘度樹脂材料は基材の両面に確実にかつ迅速に塗
布される。従って、うねりがより確実に抑制されるとと
もに、絶縁層の形成効率もより高くなる。
According to the second aspect of the present invention, since the vertical roll coater is a coating apparatus suitable for simultaneous double-side coating, the high-viscosity resin material is surely and quickly coated on both sides of the base material. Therefore, waviness is more reliably suppressed, and the efficiency of forming the insulating layer is higher.

【0011】請求項3に記載の発明によると、クリアラ
ンスを0.5mm未満となるように設けることにより、う
ねり量が10μm内に抑制される。
According to the third aspect of the present invention, by providing the clearance to be less than 0.5 mm, the amount of undulation is suppressed to within 10 μm.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した一実施
形態の多層プリント配線板の製造方法を図1〜図4に基
づき詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to an embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to FIGS.

【0013】図1,図3(e)に示されるように、本実
施形態の多層プリント配線板1を構成するコア基板2
は、その両面に内層導体パターン3を備えている。内層
導体パターン3間のギャップ4の幅が大きい箇所には、
ダミーパターン5が設けられている。内層導体パターン
3及びダミーパターン5は、層間絶縁層6によって被覆
されている。ここでは層間絶縁層6は、第1絶縁層7と
第2絶縁層8とからなる。表層側に位置する第2絶縁層
8の表面は、多数の微少なアンカー用凹部を備える粗化
面8aとなっている。その粗化面8a上には永久レジス
ト9が形成され、永久レジスト9が形成されていない部
分には外層導体パターン10が形成されている。また、
前記内層導体パターン3と外層導体パターン10とは、
層間絶縁層6に設けられたバイアホール11によって電
気的に接続されている。即ち、内層導体パターン3と、
外層導体パターン10と、それらを絶縁する層間絶縁層
6とによって、ビルドアップ層が形成されている。
As shown in FIGS. 1 and 3 (e), a core substrate 2 constituting a multilayer printed wiring board 1 of the present embodiment
Has an inner conductor pattern 3 on both surfaces thereof. Where the width of the gap 4 between the inner conductor patterns 3 is large,
A dummy pattern 5 is provided. The inner conductor pattern 3 and the dummy pattern 5 are covered with an interlayer insulating layer 6. Here, the interlayer insulating layer 6 includes a first insulating layer 7 and a second insulating layer 8. The surface of the second insulating layer 8 located on the surface layer is a roughened surface 8a having a large number of minute anchor recesses. A permanent resist 9 is formed on the roughened surface 8a, and an outer conductor pattern 10 is formed in a portion where the permanent resist 9 is not formed. Also,
The inner conductor pattern 3 and the outer conductor pattern 10 are:
They are electrically connected by via holes 11 provided in the interlayer insulating layer 6. That is, the inner conductor pattern 3 and
A buildup layer is formed by the outer layer conductor patterns 10 and the interlayer insulating layer 6 that insulates them.

【0014】次に、上記の多層プリント配線板1を製造
する手順を説明する。まず、図3(a)に示されるよう
に、基材15の両面に銅箔16を貼着してなるFR−4
グレードの銅張積層板17を、コア基板2の作製用材料
として用意した。銅箔16の厚さは35μm とした。こ
の銅張積層板17を用いて、従来公知のサブトラクティ
ブ法によりエッチングを行い、表裏両面に内層導体パタ
ーン3を形成した。また、それと同時に、内層パターン
3間のギャップ4に前記ダミーパターン5も形成した
(図1,図3(b) 参照)。そして、この状態で高粘度樹
脂材料としての樹脂ワニスV1 ,V2 を基材15の両面
に同時に塗布することにより、層間絶縁層6の形成を行
った。
Next, a procedure for manufacturing the multilayer printed wiring board 1 will be described. First, as shown in FIG. 3A, FR-4 formed by bonding copper foil 16 on both surfaces of a base material 15
Grade copper-clad laminate 17 was prepared as a material for manufacturing core substrate 2. The thickness of the copper foil 16 was 35 μm. Using the copper-clad laminate 17, etching was performed by a conventionally known subtractive method to form inner layer conductor patterns 3 on both front and back surfaces. At the same time, the dummy pattern 5 was also formed in the gap 4 between the inner layer patterns 3 (see FIGS. 1 and 3 (b)). Then, in this state, the interlayer insulating layer 6 was formed by simultaneously applying resin varnishes V1 and V2 as a high-viscosity resin material to both surfaces of the base material 15.

【0015】図2(a),図2(b)には、本実施形態
において使用される塗布装置(縦型のロールコータ)の
要部が概略的に示されている。縦型のロールコータは、
傾斜した状態で起立している一対のロールR1 を備えて
いる。そして、これらのロールR1 間を被塗布物である
前記コア基板2が通過することにより、樹脂ワニスV1
,V2 が両面同時に塗布されるようになっている。な
お、ここでは感光性を有する樹脂ワニスV1 ,V2 が用
いられている。
FIGS. 2A and 2B schematically show the main part of a coating apparatus (vertical roll coater) used in the present embodiment. The vertical roll coater
It has a pair of rolls R1 standing upright. Then, the core substrate 2, which is the object to be coated, passes between these rolls R1 to form a resin varnish V1.
, V2 are applied simultaneously on both sides. Here, photosensitive resin varnishes V1 and V2 are used.

【0016】また、縦型のロールコータにより樹脂ワニ
スV1 ,V2 を塗布する際の基材進行方向は、内層導体
パターン3の延びている方向に直交する方向であること
が好ましい(図2(b) 参照)。これに関する試験結果に
ついては後述する。
Further, the direction of travel of the base material when the resin varnishes V1, V2 are applied by the vertical roll coater is preferably a direction perpendicular to the direction in which the inner conductor pattern 3 extends (FIG. 2 (b)). )). Test results relating to this will be described later.

【0017】ここで、第1絶縁層7の形成用の樹脂ワニ
スV1 は、以下のようにして調製される。まず、クレゾ
ールノボラック型エポキシ樹脂(共栄社製)60重量
部、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル製)
40重量部、イミダゾール型硬化剤(四国化成製)5重
量部、感光性モノマー(共栄社製)5重量部、光開始剤
(関東化学製)5重量部、及び光増感剤0.5重量部か
らなる原料を調製した。次いで、この原料70重量%
と、セラミック微粉末(龍森製、商品名;アドマファイ
ン、平均粒径約2μm)30重量%とからなる混合物を
調製した。さらに、この混合物にジエチレングリコール
ジエチルエーテルを添加しながら、同混合物の粘度をホ
モディスパーによって通常よりも高く、即ち3000cp
s 〜7000cps に調整した。そして、この混合物を3
本ロールを用いて混練することにより、所望の樹脂ワニ
スV1 を得た。
Here, the resin varnish V1 for forming the first insulating layer 7 is prepared as follows. First, 60 parts by weight of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Kyoeisha) and bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell)
40 parts by weight, 5 parts by weight of an imidazole-type curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals), 5 parts by weight of a photosensitive monomer (manufactured by Kyoeisha), 5 parts by weight of a photoinitiator (manufactured by Kanto Chemical), and 0.5 parts by weight of a photosensitizer Was prepared. Then, 70% by weight of this raw material
And 30% by weight of ceramic fine powder (trade name, manufactured by Tatsumori, trade name: Admafine, average particle size: about 2 μm). Further, while adding diethylene glycol diethyl ether to the mixture, the viscosity of the mixture was higher than usual by homodisper, that is, 3000 cp.
Adjusted to s ~ 7000 cps. And this mixture is 3
The desired resin varnish V1 was obtained by kneading using this roll.

【0018】また、第2絶縁層8の形成用の樹脂ワニス
V2 は、以下のようにして調製される。まず、上記樹脂
ワニスV1 中に分散されているセラミック微粉末をエポ
キシ微粉末(東レ製、商品名;トレパール、平均粒径約
3μm)に変更し、その他は上記樹脂ワニスV1 と同様
にして樹脂ワニスV2 を調整した。なお、この樹脂ワニ
スV2 の粘度を通常よりも高めに、即ち8000cps 〜
12000cps に調整した。
The resin varnish V2 for forming the second insulating layer 8 is prepared as follows. First, the ceramic fine powder dispersed in the resin varnish V1 was changed to an epoxy fine powder (trade name, manufactured by Toray Co., Ltd .; Trepearl, average particle size: about 3 μm), and the others were the same as the resin varnish V1. V2 was adjusted. The viscosity of the resin varnish V2 was made higher than usual, that is, 8,000 cps to
It was adjusted to 12000 cps.

【0019】ここで、塗布時における前記樹脂ワニスV
1 ,V2 の粘度は2000cps 〜100000cps 、好
ましくは5000cps 〜20000cps 、最も好ましく
は8000cps 〜15000cps であることがよい。
Here, the resin varnish V at the time of coating is used.
1, The viscosity of V2 is preferably from 2000 cps to 100,000 cps, preferably from 5000 cps to 20,000 cps, and most preferably from 8,000 cps to 15,000 cps.

【0020】粘度の値が小さすぎると、樹脂ワニスV1
,V2 が基材15の傾きによってたれてしまい、縦型
のロールコータによる両面塗付が不能となってしまう。
一方、粘度の値が大きすぎると、樹脂ワニスV1 ,V2
の流動性が小さくなるため、塗布作業が困難になる。
If the value of the viscosity is too small, the resin varnish V1
, V2 are sagged due to the inclination of the base material 15, and it is impossible to apply the double-sided coating by the vertical roll coater.
On the other hand, if the viscosity value is too large, the resin varnishes V1, V2
Owing to a low fluidity, the coating operation becomes difficult.

【0021】上記2種の樹脂ワニスV1 ,V2 の調製を
行った後、縦型のロールコータを用いてまず第1の樹脂
ワニスV1 をコア基板2に塗布した。さらに、塗布され
た樹脂ワニスV1 に対して80℃,15分間の乾燥を行
い、指で触れても付着しない程度の乾燥状態とした。こ
れにより、コア基板2の両面に第1絶縁層7を形成した
(図3(c) 参照)。
After the preparation of the two types of resin varnishes V 1 and V 2, the first resin varnish V 1 was first applied to the core substrate 2 using a vertical roll coater. Further, the applied resin varnish V1 was dried at 80 ° C. for 15 minutes so that the resin varnish V1 did not adhere even if touched with a finger. Thus, the first insulating layers 7 were formed on both surfaces of the core substrate 2 (see FIG. 3C).

【0022】続いて、第1絶縁層7の表面に同じく縦型
のロールコータを用いて樹脂ワニスV2 を塗布し、かつ
80℃,15分間の乾燥によりそれを指触乾燥状態とし
た。これにより、第1絶縁層7の表面に第2絶縁層8を
形成した。
Subsequently, a resin varnish V2 was applied to the surface of the first insulating layer 7 using the same vertical roll coater, and dried at 80 ° C. for 15 minutes to make it dry to the touch. Thereby, the second insulating layer 8 was formed on the surface of the first insulating layer 7.

【0023】このようにして、コア基板2の表面を、厚
さ40〜60μmの第1絶縁層7と、厚さ20〜40μ
mの第2絶縁層8とからなる層間絶縁層6を被覆した。
次いで、フォトリソグラフィによるバイアホール形成用
穴18の形成のために、所定のマスクをコア基板2の表
裏両面に密着させた。この状態で、平行露光機(オーク
製作所製、商品名;401B型)により層間絶縁層6を
露光した。露光量は400mJ/cm2 とした。次い
で、現像液(旭化成工業製、商品名;エターナIR)を
用いて現像を行った。これにより、層間絶縁層6の所定
部分にバイアホール形成用穴18を形成した。
In this manner, the surface of the core substrate 2 is provided with a first insulating layer 7 having a thickness of 40 to 60 μm and a thickness of 20 to 40 μm.
m of the second insulating layer 8 was covered.
Next, a predetermined mask was brought into close contact with the front and back surfaces of the core substrate 2 for forming the via hole forming holes 18 by photolithography. In this state, the interlayer insulating layer 6 was exposed by a parallel exposure machine (Oak Seisakusho, trade name; 401B type). The exposure amount was 400 mJ / cm 2 . Next, development was performed using a developer (trade name: Eterna IR, manufactured by Asahi Kasei Corporation). As a result, a via hole forming hole 18 was formed in a predetermined portion of the interlayer insulating layer 6.

【0024】次いで、紫外線照射装置を用いて3J/c
2 の紫外線を照射することにより、層間絶縁層6を仮
硬化させた。さらに、前記コア基板2に対する100
℃,1時間の加熱処理及び150℃,3時間の加熱処理
を順に行うことにより、層間絶縁層6を本硬化させた。
Next, 3 J / c using an ultraviolet irradiation device.
By irradiating m 2 ultraviolet rays, the interlayer insulating layer 6 was temporarily cured. Further, 100 with respect to the core substrate 2
The interlayer insulating layer 6 was fully cured by sequentially performing a heat treatment at 1 ° C. for 1 hour and a heat treatment at 150 ° C. for 3 hours.

【0025】次に、濃度800g/lのクロム酸(Cr
2 3 )の中にコア基板2を20分間浸漬することによ
り、第2絶縁層8のみに分散している樹脂フィラーを選
択的に溶解した。このような層間絶縁層6の表面粗化処
理により、層間絶縁層6の表面に多数のアンカー用凹部
を有する粗化面8aを形成した。アンカー用凹部の平均
の深さは15〜25μmとした。この後、コア基板2を
中和液に浸漬し、水洗した。
Next, a chromic acid (Cr) having a concentration of 800 g / l
By immersing the core substrate 2 in 2 O 3 ) for 20 minutes, the resin filler dispersed only in the second insulating layer 8 was selectively dissolved. By such a surface roughening treatment of the interlayer insulating layer 6, a roughened surface 8a having a large number of concave portions for anchors was formed on the surface of the interlayer insulating layer 6. The average depth of the anchor recess was 15 to 25 μm. Thereafter, the core substrate 2 was immersed in the neutralizing solution and washed with water.

【0026】次いで、市販の化学銅めっき触媒核付シス
テム(シプレイ製)を用いて、層間絶縁層6の粗化面8
a及びバイアホール形成用穴18の内壁面に、パラジウ
ム触媒核を付与した。そして、コア基板2に120℃で
40分間加熱処理を行うことにより、上記パラジウム触
媒核を上記粗化面8a及びバイアホール形成用穴18の
内壁面に固定した。
Next, using a commercially available chemical copper plating catalyst nucleation system (made by Shipley), the roughened surface 8
A palladium catalyst nucleus was applied to a and the inner wall surface of the via hole forming hole 18. Then, by heating the core substrate 2 at 120 ° C. for 40 minutes, the palladium catalyst nucleus was fixed to the roughened surface 8 a and the inner wall surface of the via hole forming hole 18.

【0027】続いて、コア基板2の表面に以下のように
して永久レジスト9を形成した。まず、感光製の液体レ
ジスト(サンノプコ製、商品名;ノプコキュアL)を、
ブチルセロソルブアセテートを用いて100cps 〜15
0cps の粘度に調製した。次いで、ロールコータ(サー
マトロニクス貿易製、商品名;MRC6510)を用
い、液状の液体レジストをコア基板2の表裏両面に均一
に塗布した。次いで、80℃,30分間の乾燥により前
記液体レジスト層を指触乾燥状態にした。厚さは3μm
〜7μm 程度となるようにした。
Subsequently, a permanent resist 9 was formed on the surface of the core substrate 2 as follows. First, a photosensitive liquid resist (manufactured by San Nopco, trade name: Nopco Cure L)
100 cps to 15 using butyl cellosolve acetate
The viscosity was adjusted to 0 cps. Next, a liquid liquid resist was uniformly applied to both front and back surfaces of the core substrate 2 using a roll coater (trade name: MRC6510, manufactured by Thermotronics Trading). Next, the liquid resist layer was brought into a touch-dry state by drying at 80 ° C. for 30 minutes. 3 μm thick
77 μm.

【0028】さらに、指触乾燥状態の液体レジスト層の
表面に、感光性のドライフィルム(商品名;ノプコキュ
アF、サンノプコ製)をラミネートした。ラミネート
は、ラミネータ(伯東製、商品名;MACH−500)
を用いて行った。その際、コンベア速度を1.0m/m
in、ロール圧力を2kg/cm2 、ロール温度を95
℃とした。
Further, a photosensitive dry film (trade name: Nopcocure F, manufactured by San Nopco) was laminated on the surface of the liquid resist layer in a dry state to the touch. Laminate is laminator (manufactured by Hakuto, trade name: MACH-500)
This was performed using At that time, the conveyor speed was 1.0m / m
in, roll pressure 2 kg / cm 2 , roll temperature 95
° C.

【0029】これにより、層間絶縁層6の粗化面8aの
全体に、液体レジスト層及びドライフィルムからなる永
久レジスト9を形成した。次いで、コア基板2の表面に
露光マスクを配置し、この状態で露光機(伯東製、HA
P24LRD)による露光を行った。露光量は350m
J/cm2 とした。この後、スプレー現像機を用いて現
像を行った。次いで、上述の紫外線照射装置を用いて3
J/cm2 の紫外線を照射することにより、永久レジス
ト9を仮硬化させた。次いで、コア基板2に対する15
0℃,30分間の加熱により、永久レジスト9を本硬化
させた。本硬化後の永久レジスト9の厚さは、40μm
〜60μm程度であった。
Thus, a permanent resist 9 composed of a liquid resist layer and a dry film was formed on the entire roughened surface 8a of the interlayer insulating layer 6. Next, an exposure mask is arranged on the surface of the core substrate 2, and in this state, an exposure machine (manufactured by Hakuto, HA
(P24LRD). Exposure amount is 350m
J / cm 2 . Thereafter, development was performed using a spray developing machine. Then, using the above-described ultraviolet irradiation device, 3
The permanent resist 9 was provisionally cured by irradiating ultraviolet rays of J / cm 2 . Next, 15 for the core substrate 2
The permanent resist 9 was fully cured by heating at 0 ° C. for 30 minutes. The thickness of the permanent resist 9 after the main curing is 40 μm
6060 μm.

【0030】次に、コア基板2をアディティブ用無電解
銅めっき浴に浸漬することによって、永久レジスト9の
非形成部分に厚さ28μmの銅めっきを析出させた。以
上の結果、図3(e)に示されるように、層間絶縁層6
の粗化面8aに外層導体パターン10を形成した。ま
た、同時にバイアホール形成用穴18の内壁面に銅めっ
きを析出させることにより、バイアホール11を形成し
た。
Next, by immersing the core substrate 2 in an electroless copper plating bath for additive, copper plating having a thickness of 28 μm was deposited on a portion where the permanent resist 9 was not formed. As a result, as shown in FIG.
The outer layer conductor pattern 10 was formed on the roughened surface 8a. At the same time, the via holes 11 were formed by depositing copper plating on the inner wall surfaces of the via hole forming holes 18.

【0031】次に、前記ダミーパターン5の形成につい
て、より詳細に説明する。図4のグラフにおいて、縦軸
は内層導体パターン3の厚さが35μm のときの層間絶
縁層6の表面のうねり量(μm )の大きさを示してい
る。また、横軸は内層導体パターン3のギャップ4の大
きさ(mm)をそれぞれ示している。同図のグラフにおい
て示される曲線C1 は従来例のデータを示している。即
ち、ギャップ4に何らダミーパターン5を設けない例で
ある。曲線C2 ,C3 は、ともに本実施形態のデータ、
つまりギャップ4にダミーパターン5を設けたときのデ
ータを示している。詳細にいうと、曲線C2 は基材進行
方向を図2(a)のように設定したときのデータ、曲線
C3 は基材進行方向を図2(b)のように設定したとき
のデータである。
Next, the formation of the dummy pattern 5 will be described in more detail. In the graph of FIG. 4, the vertical axis indicates the amount of undulation (μm) on the surface of the interlayer insulating layer 6 when the thickness of the inner conductor pattern 3 is 35 μm. The horizontal axis indicates the size (mm) of the gap 4 of the inner conductor pattern 3. A curve C1 shown in the graph of FIG. That is, this is an example in which no dummy pattern 5 is provided in the gap 4. The curves C2 and C3 are both data of the present embodiment,
That is, the data when the dummy pattern 5 is provided in the gap 4 is shown. More specifically, the curve C2 is data when the substrate traveling direction is set as shown in FIG. 2A, and the curve C3 is data when the substrate traveling direction is set as shown in FIG. 2B. .

【0032】前記グラフによると、いずれの場合もギャ
ップ4が2.5mm〜3.0mmのときにうねり量のピーク
となる点が共通している。また、ギャップ4の大きさが
前記ピークより小さくなるほどうねり量が減少する点も
共通している。
According to the above graphs, in all cases, the point where the peak of the swell amount is common when the gap 4 is 2.5 mm to 3.0 mm is common. It is also common that the swell amount decreases as the size of the gap 4 becomes smaller than the peak.

【0033】ただし、曲線C1 ,C2 ,C3 を比較した
場合、従来例の曲線C1 よりも本実施形態の曲線C2 ,
C3 のほうがうねり量が小さいことがわかる。また、基
材進行方向を内層導体パターン3の延びている方向に平
行な方向とすれば、うねり量がよりいっそう小さくなる
ことがわかる。さらに、曲線C2 ,C3 では、ギャップ
4が0.5mm未満になると、うねり量が確実に10μm
より低くなることがわかる。従って、うねり量を10μ
m 以下に抑えようとするならば、例えば下記のごとく条
件を設定すればよい。即ち、内層導体パターン3の厚さ
が20μm〜40μmであるとき、ダミーパターン5自
身と内層導体パターン3との間のクリアランス4aを
0.5mm未満とすることである。
However, when the curves C1, C2, C3 are compared, the curves C2, C2 of the present embodiment are more excellent than the curve C1 of the conventional example.
It can be seen that the amount of undulation is smaller in C3. In addition, it can be understood that the undulation amount is further reduced if the base material traveling direction is a direction parallel to the direction in which the inner conductor pattern 3 extends. Further, in the curves C2 and C3, when the gap 4 is less than 0.5 mm, the amount of undulation is surely 10 μm.
It turns out that it becomes lower. Therefore, the undulation amount is 10μ.
If it is desired to keep the value at m or less, for example, the conditions may be set as follows. That is, when the thickness of the inner conductor pattern 3 is 20 μm to 40 μm, the clearance 4 a between the dummy pattern 5 itself and the inner conductor pattern 3 is set to less than 0.5 mm.

【0034】これを図1を例として説明する。同図で
は、基材15上に4本の内層導体パターン3が存在して
いる。それらのうちの3本は直線的かつ平行関係にあ
り、互いのギャップ4も0.6mmよりかなり小さい。一
方、残りの1本は、他のものとは異なり1箇所で屈曲し
ている。従って、この内層導体パターン3とそれに隣接
する内層導体パターン3との間のギャップ4は、部分的
に大きくなっている。図1の第1の破線領域H1 では、
ギャップ4の大きさが0.5mm未満になっている。この
ため、当該部分にはとくにダミーパターン5を設ける必
要はない。一方、図1の第2の破線領域H2 では、ギャ
ップ4の大きさが0.5mm以上になっている。よって、
当該部分にはダミーパターン5が設けられている。この
場合、前記クリアランス4aの値は、上記のごとく0.
5mm未満に設定される。
This will be described with reference to FIG. In the figure, four inner layer conductor patterns 3 exist on a base material 15. Three of them are in a linear and parallel relationship, and the gap 4 between them is also much smaller than 0.6 mm. On the other hand, the other one is bent at one place unlike the others. Accordingly, the gap 4 between the inner conductor pattern 3 and the inner conductor pattern 3 adjacent thereto is partially large. In the first dashed area H1 of FIG.
The size of the gap 4 is less than 0.5 mm. For this reason, it is not necessary to provide the dummy pattern 5 in this portion. On the other hand, in the second broken line region H2 in FIG. 1, the size of the gap 4 is 0.5 mm or more. Therefore,
The dummy pattern 5 is provided in this portion. In this case, the value of the clearance 4a is set to 0.
Set to less than 5 mm.

【0035】ちなみに、内層導体パターン3の厚さが1
0μm〜20μmであるとき、ダミーパターン5は、前
記クリアランス4aが1.0mm未満となるように設けら
れることがよい。また、内層導体パターン3の厚さが4
0μm〜60μmであるとき、ダミーパターン5は、前
記クリアランス4aが0.3mm未満となるように設けら
れることがよい。
Incidentally, if the thickness of the inner conductor pattern 3 is 1
When the thickness is 0 μm to 20 μm, the dummy pattern 5 is preferably provided such that the clearance 4a is less than 1.0 mm. The thickness of the inner conductor pattern 3 is 4
When the thickness is 0 μm to 60 μm, the dummy pattern 5 is preferably provided such that the clearance 4a is less than 0.3 mm.

【0036】さて、次に本実施形態において特徴的な作
用効果を列挙する。 (イ)本実施形態では、内層導体パターン3間のギャッ
プ4にダミーパターン5を設けておき、その状態で高粘
度樹脂材料である樹脂ワニスV1 ,V2 の両面同時塗布
を行なっている。従って、前記ギャップ4のうち間隔の
大きな部分が、等しい高さのダミーパターン5によって
埋められる。ゆえに、実質的にギャップ4の幅が小さく
なる。よって、塗布時において樹脂ワニスV1 ,V2 が
ギャップ4に落ち込みにくくなる。その結果、形成され
る層間絶縁層6の表面のうねりが抑制され、層間絶縁層
6の平坦性が高くなる。それゆえ、従来問題とされてい
た露光かぶりも確実に防止される。つまり、層間絶縁層
6上にマスクを配置したときの密着性が改善される結
果、両者間に部分的に隙間ができることがないからであ
る。このことは、バイアホール形成用穴18の開口精度
の向上や、外層導体パターン10の形成精度の向上につ
ながる。
Next, the characteristic effects of this embodiment will be listed. (A) In the present embodiment, the dummy patterns 5 are provided in the gaps 4 between the inner conductor patterns 3, and in this state, resin varnishes V1 and V2, which are high-viscosity resin materials, are simultaneously applied to both surfaces. Therefore, a portion of the gap 4 having a large space is filled with the dummy pattern 5 having the same height. Therefore, the width of the gap 4 is substantially reduced. Therefore, the resin varnishes V1 and V2 hardly fall into the gap 4 during coating. As a result, the undulation of the surface of the formed interlayer insulating layer 6 is suppressed, and the flatness of the interlayer insulating layer 6 is improved. Therefore, the exposure fog, which has conventionally been regarded as a problem, is reliably prevented. That is, as a result of improving the adhesiveness when the mask is arranged on the interlayer insulating layer 6, there is no partial gap between the two. This leads to an improvement in the opening accuracy of the via hole forming hole 18 and an improvement in the formation accuracy of the outer layer conductor pattern 10.

【0037】(ロ)また、両面を同時に塗布する本実施
形態の方法によると、片面ずつ塗布する方法に比べて、
層間絶縁層6を効率よく形成することができる。特に、
ここでは両面同時塗布に適した塗布装置である縦型のロ
ールコータを使用しているため、高粘度の樹脂ワニスV
1 ,V2 を確実にかつ迅速に塗布することができる。従
って、この装置の使用は、層間絶縁層6の形成効率のよ
りいっそうの向上及びうねりのより確実な抑制に貢献す
る。
(B) Further, according to the method of this embodiment in which both surfaces are coated simultaneously, compared to the method of coating one surface at a time,
The interlayer insulating layer 6 can be efficiently formed. Especially,
Here, since a vertical roll coater, which is a coating apparatus suitable for simultaneous double-side coating, is used, a high-viscosity resin varnish V
1, V2 can be applied reliably and quickly. Therefore, use of this device contributes to further improvement in the efficiency of forming the interlayer insulating layer 6 and more reliable suppression of undulation.

【0038】(ハ)さらに、前記ダミーパターン5は内
層導体パターン3と同時に形成されることが可能である
ため、その形成に特別な工程を要することもなく、作業
性が悪化する心配もない。なお、両者3,5は同じ銅張
積層板17の銅箔16に由来するものであるため、互い
に等しい高さとなる。
(C) Further, since the dummy pattern 5 can be formed simultaneously with the inner conductor pattern 3, there is no need for a special process for forming the dummy pattern 5 and there is no fear that the workability is deteriorated. In addition, since both 3 and 5 are derived from the copper foil 16 of the same copper-clad laminate 17, they have the same height.

【0039】(ニ)上記の方法により層間絶縁層6が形
成されたコア基板2は、従来に比べて表面平坦性が高く
なることから、めっき後にノジュールが発生していても
ベルトサンダー等の研磨によりそれを均一にかつ容易に
除去することができる。
(D) Since the surface of the core substrate 2 on which the interlayer insulating layer 6 is formed by the above method is higher than that of the conventional one, polishing of a belt sander or the like is performed even if nodules are generated after plating. Can be uniformly and easily removed.

【0040】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ことはなく、例えば次のような形態に変更することが可
能である。 ◎ 層間絶縁層は必ずしも2層構造でなくてもよい。例
えば、図5に示される別例の多層プリント配線板21の
ように、1層からなる層間絶縁層6であってもよい。な
お、この層間絶縁層6は、実施形態の第2絶縁層8のみ
からなる。
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiment, but can be changed to, for example, the following forms. The interlayer insulating layer does not necessarily have to have a two-layer structure. For example, as in another example of a multilayer printed wiring board 21 shown in FIG. Note that the interlayer insulating layer 6 is composed of only the second insulating layer 8 of the embodiment.

【0041】◎ 図6,図7に示される別例のプリント
配線板26は、導体パターンとしてのパッド22を複数
個備えている。同図ではこれらのパッド22は円形状で
あって、ギャップ24を隔てて離間している。また、基
材15全体は絶縁層としてのソルダーレジスト25によ
り被覆され、パッド22はそのソルダーレジスト25の
開口部27から露出している。そして、前記パッド22
はダミーパターン23によって包囲されている。従っ
て、前記ダミーパターン23は、前記ギャップ24間に
も存在した状態となっている。なお、パッド22及びダ
ミーパターン23の厚さが20μm〜40μmであると
き、ダミーパターン23とパッド22との間のクリアラ
ンス24aは0.5mm未満であることがよい。その理由
は既に述べた通りである。以上のような構成のコア基板
2に両面同時塗布を行えば、平坦性の高いソルダーレジ
スト25を効率よく形成することができる。
The printed wiring board 26 of another example shown in FIGS. 6 and 7 has a plurality of pads 22 as conductor patterns. In the figure, these pads 22 have a circular shape and are separated by a gap 24. Further, the entire base material 15 is covered with a solder resist 25 as an insulating layer, and the pad 22 is exposed from an opening 27 of the solder resist 25. And the pad 22
Are surrounded by the dummy pattern 23. Therefore, the dummy pattern 23 is also present between the gaps 24. When the thickness of the pad 22 and the dummy pattern 23 is 20 μm to 40 μm, the clearance 24 a between the dummy pattern 23 and the pad 22 is preferably less than 0.5 mm. The reason is as described above. If the two-sided simultaneous coating is performed on the core substrate 2 configured as described above, the solder resist 25 having high flatness can be efficiently formed.

【0042】なお、前記パッド22は外層導体パターン
として形成されてもよい。この場合、プリント配線板2
6がCSP用であるとすると、バンプ形成面の高さがば
らつきにくくなる結果、実装不良が確実に防止されると
いう利点がある。
The pad 22 may be formed as an outer conductor pattern. In this case, the printed wiring board 2
If CSP 6 is used for CSP, the height of the bump formation surface is less likely to vary, resulting in an advantage that mounting defects are reliably prevented.

【0043】◎ 実施形態で用いた縦型のロールコータ
以外の塗布装置、例えばスクリーン印刷等によ高粘度の
樹脂ワニスV1 ,V2 の塗布を行うことも許容される。
ただし、両面同時塗布に適するという点において、縦型
のロールコータが他のものよりも優れている。
The application of high-viscosity resin varnishes V1 and V2 by a coating device other than the vertical roll coater used in the embodiment, for example, screen printing or the like, is also permitted.
However, a vertical roll coater is superior to the others in that it is suitable for simultaneous double-side coating.

【0044】ここで、特許請求の範囲に記載された技術
的思想のほかに、前述した実施形態によって把握される
技術的思想をその効果とともに以下に列挙する。 (1) 請求項1〜3において、前記ダミーパターンは
その周囲にある前記導体パターンと高さがほぼ同じであ
ることを特徴とした絶縁層の形成方法。
Here, in addition to the technical ideas described in the claims, the technical ideas grasped by the above-described embodiments are listed below together with their effects. (1) The method for forming an insulating layer according to claim 1, wherein the dummy pattern has substantially the same height as the conductor pattern around the dummy pattern.

【0045】(2) 請求項1〜3において、塗布時に
おける前記高粘度樹脂材料の粘度は2000cps 〜10
0000cps (好ましくは5000cps 〜20000cp
s 、最も好ましくは8000cps 〜15000cps )で
あることを特徴とした絶縁層の形成方法。この方法であ
ると、基材を立てた状態で塗布を行なってもたれが起こ
りにくくなるため、両面同時塗布を容易に実施すること
ができる。
(2) In Claims 1 to 3, the viscosity of the high-viscosity resin material at the time of coating is from 2000 cps to 10
0000cps (preferably 5000cps to 20000cp
s, most preferably 8,000 cps to 15,000 cps). According to this method, sagging hardly occurs even when the coating is performed in a state where the base material is set up, so that the simultaneous double-side coating can be easily performed.

【0046】(3) 請求項1〜3において、前記縦型
のロールコータにより高粘度樹脂材料を塗布する際の基
材進行方向は、その基材に形成されている前記導体パタ
ーンの延びている方向に平行な方向であることを特徴と
した絶縁層の形成方法。この方法であると、絶縁層表面
のうねりをより確実に抑制することができる。
(3) In the above (1) to (3), when the high-viscosity resin material is applied by the vertical roll coater, the direction of travel of the base material extends from the conductive pattern formed on the base material. A method for forming an insulating layer, wherein the direction is parallel to the direction. According to this method, undulation on the surface of the insulating layer can be suppressed more reliably.

【0047】(4) 請求項1〜3において、前記導体
パターンはビルドアップ層を構成する内層導体パターン
であり、前記絶縁層はその内層導体パターンと外層導体
パターンとの絶縁を図るための層間絶縁層であることを
特徴とした絶縁層の形成方法。この方法によると、平坦
性の高い層間絶縁層が形成され、露光かぶりが確実に防
止される結果、外層導体パターン等の形成精度を向上す
ることができる。
(4) In Claims 1-3, the conductor pattern is an inner layer conductor pattern constituting a build-up layer, and the insulating layer is an interlayer insulator for insulating the inner layer conductor pattern and the outer layer conductor pattern. A method for forming an insulating layer, which is a layer. According to this method, an interlayer insulating layer having high flatness is formed, and exposure fog is reliably prevented. As a result, it is possible to improve the formation accuracy of the outer layer conductor pattern and the like.

【0048】なお、本明細書中において使用した技術用
語を次のように定義する。「ビルドアップ層: 絶縁層
と導体層とを交互に積層してなる層をいう。」
The technical terms used in the present specification are defined as follows. "Build-up layer: A layer formed by alternately laminating insulating layers and conductor layers."

【0049】[0049]

【発明の効果】以上詳述したように、請求項1〜3に記
載の発明によれば、絶縁層表面のうねりを抑制すること
ができ、かつ作業性の向上を図ることができる絶縁層の
形成方法を提供することができる。
As described in detail above, according to the first to third aspects of the present invention, the swelling of the surface of the insulating layer can be suppressed and the workability of the insulating layer can be improved. A forming method can be provided.

【0050】請求項2に記載の発明によれば、絶縁層表
面のうねりをより確実に抑制することができるととも
に、絶縁層の形成効率をより高くすることができる。請
求項3に記載の発明によれば、絶縁層表面のうねり量を
10μm内に抑制することができる。
According to the second aspect of the present invention, undulation on the surface of the insulating layer can be suppressed more reliably, and the efficiency of forming the insulating layer can be further increased. According to the third aspect of the present invention, the amount of undulation on the surface of the insulating layer can be suppressed to within 10 μm.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明を具体化した実施形態において絶縁層形
成前の基材を示す部分平面図。
FIG. 1 is a partial plan view showing a base material before an insulating layer is formed in an embodiment embodying the present invention.

【図2】(a)は基材をギャップの延びる方向に沿って
進行させた場合の様子を示す概略斜視図、(b)はそれ
と垂直な方向に沿って進行させた場合の様子を示す概略
斜視図。
FIG. 2A is a schematic perspective view showing a state in which a base material is advanced along a direction in which a gap extends, and FIG. 2B is a schematic view showing a state in which the base material is advanced in a direction perpendicular thereto. Perspective view.

【図3】(a)〜(e)は多層プリント配線板の製造手
順を説明するための概略断面図。
FIGS. 3A to 3E are schematic cross-sectional views illustrating a procedure for manufacturing a multilayer printed wiring board.

【図4】ギャップとうねり量との関係を示すグラフ。FIG. 4 is a graph showing a relationship between a gap and an undulation amount.

【図5】別例の多層プリント配線板を示す概略断面図。FIG. 5 is a schematic sectional view showing another example of a multilayer printed wiring board.

【図6】別例において絶縁層形成前の基材を示す部分平
面図。
FIG. 6 is a partial plan view showing a base material before an insulating layer is formed in another example.

【図7】図6の基材の絶縁層形成後の様子を示す概略断
面図。
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a state after forming an insulating layer on the base material of FIG. 6;

【図8】従来技術において基材の絶縁層形成後の様子を
示す概略断面図。
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a state after formation of an insulating layer of a base material in a conventional technique.

【図9】従来の多層プリント配線板を示す概略断面図。FIG. 9 is a schematic sectional view showing a conventional multilayer printed wiring board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3…導体パターンとしての内層導体パターン、4,24
…ギャップ、5…ダミーパターン、8…絶縁層としての
層間絶縁層、10…導体パターンとしての外層導体パタ
ーン、15…基材、22…導体パターンとしてのパッ
ド、25…絶縁層としてのソルダーレジスト、V1 ,V
2 …高粘度樹脂材料としての樹脂ワニス。
3. Inner layer conductor pattern as conductor pattern, 4, 24
... gap, 5 ... dummy pattern, 8 ... interlayer insulating layer as insulating layer, 10 ... outer layer conductive pattern as conductor pattern, 15 ... substrate, 22 ... pad as conductive pattern, 25 ... solder resist as insulating layer, V1, V
2… Resin varnish as a high-viscosity resin material.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】導体パターンを備える基材に高粘度樹脂材
料を塗布することにより、前記導体パターンを被覆する
絶縁層を形成する方法において、 前記導体パターン間のギャップにダミーパターンを設け
ておき、その状態で前記高粘度樹脂材料を前記基材の両
面に同時に塗布することを特徴とした絶縁層の形成方
法。
1. A method for forming an insulating layer covering a conductor pattern by applying a high-viscosity resin material to a base material having the conductor pattern, wherein a dummy pattern is provided in a gap between the conductor patterns. The method for forming an insulating layer, wherein the high-viscosity resin material is simultaneously applied to both surfaces of the substrate in that state.
【請求項2】前記高粘度樹脂材料は縦型のロールコータ
によって塗布されることを特徴とした請求項1に記載の
絶縁層の形成方法。
2. The method according to claim 1, wherein the high-viscosity resin material is applied by a vertical roll coater.
【請求項3】前記導体パターンの厚さが20μm〜40
μmであるとき、前記ダミーパターンは、自身と前記導
体パターンとの間のクリアランスが0.5mm未満となる
ように設けられることを特徴とする請求項1または2に
記載の絶縁層の形成方法。
3. The conductor pattern has a thickness of 20 μm to 40 μm.
3. The method of claim 1, wherein when the thickness is μm, the dummy pattern is provided such that a clearance between the dummy pattern and the conductor pattern is less than 0.5 mm. 4.
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