JPH10104134A - 内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置 - Google Patents
内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置Info
- Publication number
- JPH10104134A JPH10104134A JP26084496A JP26084496A JPH10104134A JP H10104134 A JPH10104134 A JP H10104134A JP 26084496 A JP26084496 A JP 26084496A JP 26084496 A JP26084496 A JP 26084496A JP H10104134 A JPH10104134 A JP H10104134A
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- JP
- Japan
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- exhaust gas
- flow rate
- main
- venturi
- combustion engine
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Abstract
(57)【要約】
【課題】内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置
において、メイン臨界流量ベンチュリの交換作業を不要
として迅速に希釈排ガス流量を変化させ得るようにす
る。 【解決手段】相互に並列である複数のメイン臨界流量ベ
ンチュリ91 〜94 と、それらのメイン臨界流量ベンチ
ュリ91 〜94 の下流側にそれぞれ直列に接続される開
閉弁101 〜104 とが、メイン通路1に設けられる。
において、メイン臨界流量ベンチュリの交換作業を不要
として迅速に希釈排ガス流量を変化させ得るようにす
る。 【解決手段】相互に並列である複数のメイン臨界流量ベ
ンチュリ91 〜94 と、それらのメイン臨界流量ベンチ
ュリ91 〜94 の下流側にそれぞれ直列に接続される開
閉弁101 〜104 とが、メイン通路1に設けられる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、内燃機関排ガスの
定流量希釈サンプリング装置(略称CVS装置)に関す
る。
定流量希釈サンプリング装置(略称CVS装置)に関す
る。
【0002】
【従来の技術】このような定流量希釈サンプリング装置
では、メイン臨界流量ベンチュリによりメイン通路を流
通する希釈排ガスの流量が定まるものであり、従来で
は、複数種類のメイン臨界流量ベンチュリを準備してお
き、測定対象たる内燃機関に応じてメイン臨界流量ベン
チュリを交換するようにしている。
では、メイン臨界流量ベンチュリによりメイン通路を流
通する希釈排ガスの流量が定まるものであり、従来で
は、複数種類のメイン臨界流量ベンチュリを準備してお
き、測定対象たる内燃機関に応じてメイン臨界流量ベン
チュリを交換するようにしている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
ようにメイン臨界流量ベンチュリを交換するものでは、
交換作業が面倒であり、希釈排ガスの流量を変化させる
のに時間がかかる。
ようにメイン臨界流量ベンチュリを交換するものでは、
交換作業が面倒であり、希釈排ガスの流量を変化させる
のに時間がかかる。
【0004】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、メイン臨界流量ベンチュリの交換作業を不要
として迅速に希釈排ガス流量を変化させ得るようにした
内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置を提供す
ることを目的とする。
のであり、メイン臨界流量ベンチュリの交換作業を不要
として迅速に希釈排ガス流量を変化させ得るようにした
内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置を提供す
ることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によれば、内燃機関の排ガスおよび希釈空気
を混合して希釈排ガスを得る混合部とガス吸引手段とを
結ぶメイン通路に、メイン臨界流量ベンチュリが設けら
れ、メイン臨界流量ベンチュリの上流側でメイン通路か
ら連続ガス分析用およびバッグサンプリング用の希釈排
ガスを抽出可能な内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリ
ング装置において、相互に並列である複数のメイン臨界
流量ベンチュリと、それらのメイン臨界流量ベンチュリ
の下流側にそれぞれ直列に接続される開閉弁とが、メイ
ン通路に設けられる。
に、本発明によれば、内燃機関の排ガスおよび希釈空気
を混合して希釈排ガスを得る混合部とガス吸引手段とを
結ぶメイン通路に、メイン臨界流量ベンチュリが設けら
れ、メイン臨界流量ベンチュリの上流側でメイン通路か
ら連続ガス分析用およびバッグサンプリング用の希釈排
ガスを抽出可能な内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリ
ング装置において、相互に並列である複数のメイン臨界
流量ベンチュリと、それらのメイン臨界流量ベンチュリ
の下流側にそれぞれ直列に接続される開閉弁とが、メイ
ン通路に設けられる。
【0006】かかる構成によれば、各開閉弁を選択的に
開閉することにより、希釈排ガスを流通させるメイン臨
界流量ベンチュリを選択することができ、メイン臨界流
量ベンチュリの交換作業が不要となる。
開閉することにより、希釈排ガスを流通させるメイン臨
界流量ベンチュリを選択することができ、メイン臨界流
量ベンチュリの交換作業が不要となる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、添
付図面に示した本発明の一実施例に基づいて説明する。
付図面に示した本発明の一実施例に基づいて説明する。
【0008】定流量希釈サンプリング装置の全体構成を
示す系統図である図1を参照して、メイン通路1は、混
合部2とガス吸引手段としてのブロワー3とを結ぶもの
であり、混合部2には、エアフィルタ4を介して外部か
ら希釈空気が導入されるとともに、測定すべき内燃機関
からの排ガスがその内燃機関直後または内燃機関の排気
管直後からプローブ5およびフレキシブルホース6を介
して導入され、該混合部2において、排ガスおよび希釈
空気が混合されて希釈排ガスが得られることになる。
示す系統図である図1を参照して、メイン通路1は、混
合部2とガス吸引手段としてのブロワー3とを結ぶもの
であり、混合部2には、エアフィルタ4を介して外部か
ら希釈空気が導入されるとともに、測定すべき内燃機関
からの排ガスがその内燃機関直後または内燃機関の排気
管直後からプローブ5およびフレキシブルホース6を介
して導入され、該混合部2において、排ガスおよび希釈
空気が混合されて希釈排ガスが得られることになる。
【0009】混合部2およびブロワー3間のメイン通路
1には、その上流側から順に、サイクロン7、熱交換器
8が設けられる。熱交換器8には、たとえば冷却水等の
冷却媒体の熱交換器8への供給量を調整する流量調整手
段11が接続されており、この流量調整手段11の作動
は温度検出器12の検出値により制御され、それにより
熱交換器8よりも下流側の希釈排ガスの温度が一定に調
整される。
1には、その上流側から順に、サイクロン7、熱交換器
8が設けられる。熱交換器8には、たとえば冷却水等の
冷却媒体の熱交換器8への供給量を調整する流量調整手
段11が接続されており、この流量調整手段11の作動
は温度検出器12の検出値により制御され、それにより
熱交換器8よりも下流側の希釈排ガスの温度が一定に調
整される。
【0010】メイン通路1において、熱交換器8の下流
側には、流量係数を異ならせた複数たとえば4つのメイ
ン臨界流量ベンチュリ91 ,92 ,93 ,94 が並列に
接続され、各メイン臨界流量ベンチュリ91 〜94 に個
別に接続される開閉弁としての電磁弁101 ,102 ,
103 ,104 がブロワー3に共通に接続される。
側には、流量係数を異ならせた複数たとえば4つのメイ
ン臨界流量ベンチュリ91 ,92 ,93 ,94 が並列に
接続され、各メイン臨界流量ベンチュリ91 〜94 に個
別に接続される開閉弁としての電磁弁101 ,102 ,
103 ,104 がブロワー3に共通に接続される。
【0011】メイン臨界流量ベンチュリ91 〜94 の上
流側であって熱交換器8よりも下流側のメイン通路1に
は、該メイン通路1内の絶対圧力Pを検出する圧力検出
器13と、メイン通路1内の温度Tを検出する温度検出
器14とが付設される。
流側であって熱交換器8よりも下流側のメイン通路1に
は、該メイン通路1内の絶対圧力Pを検出する圧力検出
器13と、メイン通路1内の温度Tを検出する温度検出
器14とが付設される。
【0012】ブロワー3の吐出口には排出通路15が接
続されており、この排出通路15にはサイレンサー16
が設けられる。
続されており、この排出通路15にはサイレンサー16
が設けられる。
【0013】熱交換器8およびメイン臨界流量ベンチュ
リ91 〜94 間でメイン通路1には、連続ガス分析用臨
界ベンチュリ17が接続されており、この連続ガス分析
用臨界ベンチュリ17には、連続ガス分析用電磁弁19
を有する連続ガス分析用通路18の一端が接続される。
また連続ガス分析用通路18の他端は、ガス分析装置2
0に接続されており、このガス分析装置20には、メイ
ン通路1から連続ガス分析用の希釈排ガスを連続ガス分
析用通路18に吸引するためのポンプ等の吸引手段(図
示せず)が付設されている。
リ91 〜94 間でメイン通路1には、連続ガス分析用臨
界ベンチュリ17が接続されており、この連続ガス分析
用臨界ベンチュリ17には、連続ガス分析用電磁弁19
を有する連続ガス分析用通路18の一端が接続される。
また連続ガス分析用通路18の他端は、ガス分析装置2
0に接続されており、このガス分析装置20には、メイ
ン通路1から連続ガス分析用の希釈排ガスを連続ガス分
析用通路18に吸引するためのポンプ等の吸引手段(図
示せず)が付設されている。
【0014】また熱交換器8およびメイン臨界流量ベン
チュリ91 〜94 間でメイン通路1には、バッグサンプ
リング用臨界流量ベンチュリ21が接続されており、こ
のバッグサンプリング用臨界流量ベンチュリ21には、
バッグサンプリング用通路22の一端が接続される。バ
ッグサンプリング用通路22には、その一端側から順
に、バッグサンプリング用電磁弁23、フィルタ24、
ポンプ25およびバッファタンク26が設けられてお
り、バッグサンプリング用通路22の他端は、複数たと
えば3つの電磁弁27…に並列に接続され、それらの電
磁弁27…にはサンプルバッグ28…がそれぞれ接続さ
れる。したがって、ポンプ25を作動せしめた状態でバ
ッグサンプリング用電磁弁23を開弁作動せしめたとき
には、電磁弁27…の選択作動によってサンプルバッグ
28…に希釈排ガスが選択的に捕集されることになる。
チュリ91 〜94 間でメイン通路1には、バッグサンプ
リング用臨界流量ベンチュリ21が接続されており、こ
のバッグサンプリング用臨界流量ベンチュリ21には、
バッグサンプリング用通路22の一端が接続される。バ
ッグサンプリング用通路22には、その一端側から順
に、バッグサンプリング用電磁弁23、フィルタ24、
ポンプ25およびバッファタンク26が設けられてお
り、バッグサンプリング用通路22の他端は、複数たと
えば3つの電磁弁27…に並列に接続され、それらの電
磁弁27…にはサンプルバッグ28…がそれぞれ接続さ
れる。したがって、ポンプ25を作動せしめた状態でバ
ッグサンプリング用電磁弁23を開弁作動せしめたとき
には、電磁弁27…の選択作動によってサンプルバッグ
28…に希釈排ガスが選択的に捕集されることになる。
【0015】また各電磁弁27…およびサンプルバッグ
28…間は、それぞれ電磁弁29…を介してガス分析装
置20に接続されており、サンプルバッグ28…への希
釈排ガスの捕集後に、電磁弁27…を閉弁した状態で電
磁弁29…を選択的に開弁作動せしめることにより、サ
ンプルバッグ28…の希釈排ガスを選択的にガス分析装
置20に導いて分析することが可能である。さらに、バ
ッファタンク26と各電磁弁27…との間は、電磁弁1
01 〜104 よりも下流側のメイン通路1に電磁弁30
を介して接続されており、バッファタンク26と各電磁
弁27…との間には、電磁弁27…,30の作動制御を
行なうための圧力スイッチ31が付設される。
28…間は、それぞれ電磁弁29…を介してガス分析装
置20に接続されており、サンプルバッグ28…への希
釈排ガスの捕集後に、電磁弁27…を閉弁した状態で電
磁弁29…を選択的に開弁作動せしめることにより、サ
ンプルバッグ28…の希釈排ガスを選択的にガス分析装
置20に導いて分析することが可能である。さらに、バ
ッファタンク26と各電磁弁27…との間は、電磁弁1
01 〜104 よりも下流側のメイン通路1に電磁弁30
を介して接続されており、バッファタンク26と各電磁
弁27…との間には、電磁弁27…,30の作動制御を
行なうための圧力スイッチ31が付設される。
【0016】排ガスを希釈する空気の濃度を測定するた
めに、エアフィルタ4および混合部2間に空気サンプリ
ング用通路34の一端が接続されており、この空気サン
プリング用通路34には、その一端側から順に、フィル
タ35、ポンプ36、調節弁37および流量計38が設
けられており、空気サンプリング用通路34の他端は、
複数たとえば3つの電磁弁39…に並列に接続され、そ
れらの電磁弁39…には空気サンプルバッグ40…がそ
れぞれ接続される。したがって、ポンプ36を作動せし
めるとともに調節弁37および流量計38で流量調節を
行なうようにして、電磁弁39…を選択作動せしめるこ
とにより、空気サンプルバッグ40…に希釈空気が選択
的に捕集されることになる。
めに、エアフィルタ4および混合部2間に空気サンプリ
ング用通路34の一端が接続されており、この空気サン
プリング用通路34には、その一端側から順に、フィル
タ35、ポンプ36、調節弁37および流量計38が設
けられており、空気サンプリング用通路34の他端は、
複数たとえば3つの電磁弁39…に並列に接続され、そ
れらの電磁弁39…には空気サンプルバッグ40…がそ
れぞれ接続される。したがって、ポンプ36を作動せし
めるとともに調節弁37および流量計38で流量調節を
行なうようにして、電磁弁39…を選択作動せしめるこ
とにより、空気サンプルバッグ40…に希釈空気が選択
的に捕集されることになる。
【0017】各電磁弁39…および空気サンプルバッグ
40…間は、それぞれ電磁弁41…を介してガス分析装
置20に接続されており、空気サンプルバッグ40…へ
の希釈空気の捕集後に、電磁弁39…を閉弁した状態で
電磁弁41…を選択的に開弁作動せしめることにより、
空気サンプルバッグ40…の希釈空気を選択的にガス分
析装置20に導いて分析することが可能である。
40…間は、それぞれ電磁弁41…を介してガス分析装
置20に接続されており、空気サンプルバッグ40…へ
の希釈空気の捕集後に、電磁弁39…を閉弁した状態で
電磁弁41…を選択的に開弁作動せしめることにより、
空気サンプルバッグ40…の希釈空気を選択的にガス分
析装置20に導いて分析することが可能である。
【0018】バッグサンプリング用通路22側におい
て、各電磁弁27…およびサンプルバッグ28…間には
それぞれ電磁弁42…が接続され、また空気サンプリン
グ用通路34側において、各電磁弁39…および空気サ
ンプルバッグ40…間にはそれぞれ電磁弁43…が接続
される。而して電磁弁42…,43…は、切換制御弁回
路45を介してポンプ44に接続されており、切換制御
弁回路45の切換作動により、サンプルバッグ28…の
捕集希釈ガスおよび空気サンプルバッグ40…の捕集希
釈空気を電磁弁101 〜104 よりも下流側のメイン通
路1に排出したり、エアフィルタ46を介して吸引した
空気をサンプルバッグ28…に導入したりすることがで
きる。
て、各電磁弁27…およびサンプルバッグ28…間には
それぞれ電磁弁42…が接続され、また空気サンプリン
グ用通路34側において、各電磁弁39…および空気サ
ンプルバッグ40…間にはそれぞれ電磁弁43…が接続
される。而して電磁弁42…,43…は、切換制御弁回
路45を介してポンプ44に接続されており、切換制御
弁回路45の切換作動により、サンプルバッグ28…の
捕集希釈ガスおよび空気サンプルバッグ40…の捕集希
釈空気を電磁弁101 〜104 よりも下流側のメイン通
路1に排出したり、エアフィルタ46を介して吸引した
空気をサンプルバッグ28…に導入したりすることがで
きる。
【0019】ところで、臨界流量ベンチュリを流通する
流量Qは、絶対圧力P、温度Tおよび流量係数Kに基づ
いて、次式 Q=K・P/T1/2 により演算されるものであり、メイン臨界流量ベンチュ
リ91 〜94 の流量係数をK1 〜K4 としたときに、各
メイン臨界流量ベンチュリ91 〜94 の希釈排ガス流量
Q1 〜Q4 は、それぞれ次のようになる。
流量Qは、絶対圧力P、温度Tおよび流量係数Kに基づ
いて、次式 Q=K・P/T1/2 により演算されるものであり、メイン臨界流量ベンチュ
リ91 〜94 の流量係数をK1 〜K4 としたときに、各
メイン臨界流量ベンチュリ91 〜94 の希釈排ガス流量
Q1 〜Q4 は、それぞれ次のようになる。
【0020】Q1 =K1 ・P/T1/2 Q2 =K2 ・P/T1/2 Q3 =K3 ・P/T1/2 Q4 =K4 ・P/T1/2 次にこの実施例の作用について説明すると、メイン通路
1には、相互に並列である複数たとえば4つのメイン臨
界流量ベンチュリ91 〜94 と、それらのメイン臨界流
量ベンチュリ91 〜94 の下流側にそれぞれ直列に接続
される電磁弁101 〜104 とが設けられており、電磁
弁101 〜104 の開閉を選択することにより、各メイ
ン臨界流量ベンチュリ91 〜94 のうち希釈排ガスを流
通させるものを自由に選択することができる。したがっ
て、各メイン臨界流量ベンチュリ91 〜94 単独のとき
の希釈排ガス流量Q1 〜Q4 を選択可能であるととも
に、希釈排ガスを流通させるべきメイン臨界流量ベンチ
ュリ91 〜94 の組み合わせを選択して、(Q1 +
Q2 )、(Q1 +Q3 )、(Q1 +Q4 )、(Q1 +Q
2+Q3 )、(Q1 +Q2 +Q4 )、(Q1 +Q2 +Q
3 +Q4 )…等の複数の流量を自由に得ることができ
る。
1には、相互に並列である複数たとえば4つのメイン臨
界流量ベンチュリ91 〜94 と、それらのメイン臨界流
量ベンチュリ91 〜94 の下流側にそれぞれ直列に接続
される電磁弁101 〜104 とが設けられており、電磁
弁101 〜104 の開閉を選択することにより、各メイ
ン臨界流量ベンチュリ91 〜94 のうち希釈排ガスを流
通させるものを自由に選択することができる。したがっ
て、各メイン臨界流量ベンチュリ91 〜94 単独のとき
の希釈排ガス流量Q1 〜Q4 を選択可能であるととも
に、希釈排ガスを流通させるべきメイン臨界流量ベンチ
ュリ91 〜94 の組み合わせを選択して、(Q1 +
Q2 )、(Q1 +Q3 )、(Q1 +Q4 )、(Q1 +Q
2+Q3 )、(Q1 +Q2 +Q4 )、(Q1 +Q2 +Q
3 +Q4 )…等の複数の流量を自由に得ることができ
る。
【0021】この結果、希釈排ガスの流量を変化させる
にあたって、メイン臨界流量ベンチュリの交換作業が不
要となり、希釈排ガスの流量を迅速に変化させることが
できる。
にあたって、メイン臨界流量ベンチュリの交換作業が不
要となり、希釈排ガスの流量を迅速に変化させることが
できる。
【0022】以上、本発明の実施例を詳述したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明を逸脱することなく種々の設計
変更を行なうことが可能である。
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明を逸脱することなく種々の設計
変更を行なうことが可能である。
【0023】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、各開閉弁
を選択的に開閉することにより、希釈排ガスを流通させ
るメイン臨界流量ベンチュリを選択することができ、メ
イン臨界流量ベンチュリの交換作業が不要として希釈排
ガスの流量を迅速に変化させることができる。
を選択的に開閉することにより、希釈排ガスを流通させ
るメイン臨界流量ベンチュリを選択することができ、メ
イン臨界流量ベンチュリの交換作業が不要として希釈排
ガスの流量を迅速に変化させることができる。
【図1】定流量希釈サンプリング装置の全体構成を示す
系統図である。
系統図である。
1・・・メイン通路 2・・・混合部 3・・・ガス吸引手段としてのブロワー 91 〜94 ・・・メイン臨界流量ベンチュリ 101 〜104 ・・・開閉弁としての電磁弁
Claims (1)
- 【請求項1】 内燃機関の排ガスおよび希釈空気を混合
して希釈排ガスを得る混合部(2)とガス吸引手段
(3)とを結ぶメイン通路(1)に、メイン臨界流量ベ
ンチュリ(91 〜94 )が設けられ、メイン臨界流量ベ
ンチュリ(9)の上流側でメイン通路(1)から連続ガ
ス分析用およびバッグサンプリング用の希釈排ガスを抽
出可能な内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置
において、相互に並列である複数のメイン臨界流量ベン
チュリ(91 〜94 )と、それらのメイン臨界流量ベン
チュリ(91 〜94 )の下流側にそれぞれ直列に接続さ
れる開閉弁(101 〜104 )とが、メイン通路(1)
に設けられることを特徴とする内燃機関排ガスの定流量
希釈サンプリング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26084496A JPH10104134A (ja) | 1996-10-01 | 1996-10-01 | 内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26084496A JPH10104134A (ja) | 1996-10-01 | 1996-10-01 | 内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10104134A true JPH10104134A (ja) | 1998-04-24 |
Family
ID=17353549
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26084496A Pending JPH10104134A (ja) | 1996-10-01 | 1996-10-01 | 内燃機関排ガスの定流量希釈サンプリング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10104134A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006012433A3 (en) * | 2004-07-21 | 2006-11-09 | Sensors Inc | Fast operating dilution flow control system and method for sampling exhaust analysis |
JP2010139340A (ja) * | 2008-12-10 | 2010-06-24 | Toyota Motor Corp | 排気ガス測定装置 |
WO2011028338A3 (en) * | 2009-08-25 | 2011-06-23 | Caterpillar Inc. | Dilution system test apparatus with added capability and method of operating same |
EP2784470A1 (en) * | 2013-03-29 | 2014-10-01 | Horiba, Ltd. | Exhaust gas sampling apparatus and exhaust gas sampling method |
EP2811280A1 (en) | 2013-06-03 | 2014-12-10 | Horiba, Ltd. | Exhaust gas sampling apparatus |
KR20170088929A (ko) * | 2015-01-15 | 2017-08-02 | 에이브이엘 에미션 테스트 시스템즈 게엠베하 | 배기 가스 샘플링 시스템 및 상기 유형의 배기 가스 샘플링 시스템의 작동 방법 |
KR20190038942A (ko) * | 2016-10-17 | 2019-04-09 | 에이브이엘 에미션 테스트 시스템즈 게엠베하 | 내연기관의 배기 가스의 측정을 위한 배기 가스 분석 유닛을 위한 가스 공급 유닛 |
JP2019117169A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | 株式会社堀場製作所 | 排ガスサンプリング装置、排ガス分析システム、排ガスサンプリング方法、及び排ガスサンプリング用プログラム |
JP2021500557A (ja) * | 2017-10-23 | 2021-01-07 | エイヴィエル エミッション テスト システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAVL Emission Test Systems GmbH | 排ガスサンプリングシステム |
KR102371647B1 (ko) * | 2021-04-30 | 2022-03-07 | 주식회사 케이씨 | 가스 공급 장치 및 가스 공급 방법 |
-
1996
- 1996-10-01 JP JP26084496A patent/JPH10104134A/ja active Pending
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7798020B2 (en) * | 2004-07-21 | 2010-09-21 | Sensors, Inc. | Fast response proportional sampling system and method for exhaust gas analysis |
JP4815438B2 (ja) * | 2004-07-21 | 2011-11-16 | センサーズ インコーポレイテッド | 収集排気ガス分析のための希釈流量制御システムとその方法 |
EP1779084A4 (en) * | 2004-07-21 | 2012-03-28 | Sensors Inc | DILUTION FLOW CONTROL SYSTEM WITH FAST OPERATION AND METHOD FOR SAMPLING AN EXHAUST GAS ANALYSIS |
WO2006012433A3 (en) * | 2004-07-21 | 2006-11-09 | Sensors Inc | Fast operating dilution flow control system and method for sampling exhaust analysis |
JP2010139340A (ja) * | 2008-12-10 | 2010-06-24 | Toyota Motor Corp | 排気ガス測定装置 |
WO2011028338A3 (en) * | 2009-08-25 | 2011-06-23 | Caterpillar Inc. | Dilution system test apparatus with added capability and method of operating same |
JP2013503340A (ja) * | 2009-08-25 | 2013-01-31 | キャタピラー インコーポレイテッド | 付加機能のある希釈システム試験装置およびその運転方法 |
US8505395B2 (en) | 2009-08-25 | 2013-08-13 | Caterpillar Inc. | Dilution system test apparatus with added capability and method of operating same |
US9683926B2 (en) | 2013-03-29 | 2017-06-20 | Horiba, Ltd. | Exhaust gas sampling apparatus and exhaust gas sampling method |
EP2784470A1 (en) * | 2013-03-29 | 2014-10-01 | Horiba, Ltd. | Exhaust gas sampling apparatus and exhaust gas sampling method |
CN104075911A (zh) * | 2013-03-29 | 2014-10-01 | 株式会社堀场制作所 | 排气取样装置和排气取样方法 |
EP2811280A1 (en) | 2013-06-03 | 2014-12-10 | Horiba, Ltd. | Exhaust gas sampling apparatus |
KR20170088929A (ko) * | 2015-01-15 | 2017-08-02 | 에이브이엘 에미션 테스트 시스템즈 게엠베하 | 배기 가스 샘플링 시스템 및 상기 유형의 배기 가스 샘플링 시스템의 작동 방법 |
CN107209090A (zh) * | 2015-01-15 | 2017-09-26 | Avl排放测试系统有限责任公司 | 废气取样系统和用于运行这种废气取样系统的方法 |
JP2018502306A (ja) * | 2015-01-15 | 2018-01-25 | エイヴィエル エミッション テスト システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAVL Emission Test Systems GmbH | 排ガス試料採取システムおよびこのような排ガス試料採取システムの運転方法 |
US10317318B2 (en) | 2015-01-15 | 2019-06-11 | Avl Emission Test Systems Gmbh | Exhaust-gas sampling system, and method for operating an exhaust-gas sampling system of said type |
KR20190038942A (ko) * | 2016-10-17 | 2019-04-09 | 에이브이엘 에미션 테스트 시스템즈 게엠베하 | 내연기관의 배기 가스의 측정을 위한 배기 가스 분석 유닛을 위한 가스 공급 유닛 |
JP2021500557A (ja) * | 2017-10-23 | 2021-01-07 | エイヴィエル エミッション テスト システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAVL Emission Test Systems GmbH | 排ガスサンプリングシステム |
US11402302B2 (en) | 2017-10-23 | 2022-08-02 | Avl Emission Test Systems Gmbh | Exhaust gas sample taking system |
JP2019117169A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | 株式会社堀場製作所 | 排ガスサンプリング装置、排ガス分析システム、排ガスサンプリング方法、及び排ガスサンプリング用プログラム |
KR102371647B1 (ko) * | 2021-04-30 | 2022-03-07 | 주식회사 케이씨 | 가스 공급 장치 및 가스 공급 방법 |
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