JPH0353164A - サンプル供給装置及びこれを用いたサンプル測定装置 - Google Patents
サンプル供給装置及びこれを用いたサンプル測定装置Info
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- JPH0353164A JPH0353164A JP1189728A JP18972889A JPH0353164A JP H0353164 A JPH0353164 A JP H0353164A JP 1189728 A JP1189728 A JP 1189728A JP 18972889 A JP18972889 A JP 18972889A JP H0353164 A JPH0353164 A JP H0353164A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
- G01N35/1095—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices for supplying the samples to flow-through analysers
- G01N35/1097—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices for supplying the samples to flow-through analysers characterised by the valves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1404—Handling flow, e.g. hydrodynamic focusing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/11—Filling or emptying of cuvettes
-
- G—PHYSICS
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は例えばフローサイトメータ等に用いられ、サン
プルを被検部へ供給するサンプル供給装置及びこれを用
いたサンプル測定装置に関する。
プルを被検部へ供給するサンプル供給装置及びこれを用
いたサンプル測定装置に関する。
[従来の技術]
従来の検体測定装置、例えばフローサイトメータでは、
試験管等に用意される血液等のサンプルを、吸引によっ
て一旦フローサイトメータの装置内へ取込んで蓄積し、
該サンプル中の生体細胞等の微粒子をフローセルの中央
部の250μmX250μm程度の微小な矩形断面を有
する流通部内にシースフロ一方式によって1粒子ずつ分
離して流し、該流れる徴粒子にレーザ光を照射し、その
鮎果発生ずる散乱光や電光を各粒子毎に測光する。粒子
は1秒間に1 000〜2000個という高進で測定さ
れ、ラ数の粒子について得られる敗乱光や蛍光の制定デ
ータをコンピュータで統計的に処理することにより検体
の解析を行なう.1つのサンプル検体の測定が終わると
、装置の流通経路内に洗浄液を流して洗浄を行ない、洗
浄が終了して初期状態に戻った後に、別のサンプルを取
込んで検体の測定を同様に繰り返す。
試験管等に用意される血液等のサンプルを、吸引によっ
て一旦フローサイトメータの装置内へ取込んで蓄積し、
該サンプル中の生体細胞等の微粒子をフローセルの中央
部の250μmX250μm程度の微小な矩形断面を有
する流通部内にシースフロ一方式によって1粒子ずつ分
離して流し、該流れる徴粒子にレーザ光を照射し、その
鮎果発生ずる散乱光や電光を各粒子毎に測光する。粒子
は1秒間に1 000〜2000個という高進で測定さ
れ、ラ数の粒子について得られる敗乱光や蛍光の制定デ
ータをコンピュータで統計的に処理することにより検体
の解析を行なう.1つのサンプル検体の測定が終わると
、装置の流通経路内に洗浄液を流して洗浄を行ない、洗
浄が終了して初期状態に戻った後に、別のサンプルを取
込んで検体の測定を同様に繰り返す。
[発明が解決しようとする課題コ
しかしながら従来の検体測定装置においては、一度に測
定できるのは1つのサンプル検体だけであり、複数のサ
ンプル検体を連続して測定する場合には、第5図(A)
のように、一つのサンプルの測定が終了して、流通部内
の洗浄を終えた後でないと、次のサンプルの測定を開始
させることができなかった。これらの問題により、大量
のサンプル検体を連続的&:IA埋する場合に効率化の
妨げになっていた。
定できるのは1つのサンプル検体だけであり、複数のサ
ンプル検体を連続して測定する場合には、第5図(A)
のように、一つのサンプルの測定が終了して、流通部内
の洗浄を終えた後でないと、次のサンプルの測定を開始
させることができなかった。これらの問題により、大量
のサンプル検体を連続的&:IA埋する場合に効率化の
妨げになっていた。
[発明の目的]
本発明は各サンプルの測定サイクルを短縮し、複数サン
プルの辿続測定の際に処J!lj能力を向上させること
ができる装置の提供を目的とする。
プルの辿続測定の際に処J!lj能力を向上させること
ができる装置の提供を目的とする。
又、コス1−や省スペース性をInなわずに、処理能力
を向上させることを目的とする. [0!題を解決するための手段] 上述した課題を解決する本発明は、各々サンプルを取込
む動作及び取込んだサンプルを被検部へ供給する動作を
行なう第1のサンプル供給系と第2のサンプル供給系を
備え、前記第1のサンプル供給系が被検部へサンプル供
給中に、前記第2のサンプル供給系がサンプル取込み動
作及び/又はサンプル供給経路の洗浄動作を行なう制御
手段を有することを特徴とするサンプル供給装置である
. 更には、一旦装置内に取込んだサンプルを被検部に供給
し、被検部においてサンプルを光学的に測定する検体測
定装置において、第1のサンプル供給系と第2のサンプ
ル供給系を備え、前記第1のサンプル供給系が被検部へ
サンプル供給中に、前記第2のサンプル{jL給系がサ
ンプル取込み動作及び/又はサンプル{g給軒路の洗浄
動作を行なう制f311手段を有することを4,1t徴
とするサンプル測定装Mである. [実施例] 第1図は、本発明をフローサイトメータに通用した実施
例の流体系の構成図である.図中、1、2はそれぞれ独
立に制御されるシリンジで、シリンジ内はシース液で満
たされている。シリンジ1は流路切換バルブ7を介して
サンプル蓄積部3、及びシース液容器14に接続され、
切換バルプ7の制御によりシリンジ1はサンプル蓄積部
3、又はシース液容器14のどちらかに選択的に経路が
接続される。同様にシリンジ2は切換バルブ8を介して
サンプル蓄積部4、シース液容器14のどちらかに経路
が接続されてようになっている。サンプル蓄積部3、4
は流通部がカールして蓄積容積を稼ぎ、各々200μ℃
程度のサンプルを蓄積することができる。サンプル蓄積
部3、4の他端部はそれぞれ4方口切換バルブ6に接続
されている.4方口切換バルブ6の他の部分はサンプル
吸引チューブ5、及びフローセル1lに接続されている
. 又、12はシース液を供給するためのシリンジ、l3は
切換バルブで、該切換バルプl3によりシリンジ13は
フローセルI!又はシース液容?A14のどちらかに経
路が接続される。
を向上させることを目的とする. [0!題を解決するための手段] 上述した課題を解決する本発明は、各々サンプルを取込
む動作及び取込んだサンプルを被検部へ供給する動作を
行なう第1のサンプル供給系と第2のサンプル供給系を
備え、前記第1のサンプル供給系が被検部へサンプル供
給中に、前記第2のサンプル供給系がサンプル取込み動
作及び/又はサンプル供給経路の洗浄動作を行なう制御
手段を有することを特徴とするサンプル供給装置である
. 更には、一旦装置内に取込んだサンプルを被検部に供給
し、被検部においてサンプルを光学的に測定する検体測
定装置において、第1のサンプル供給系と第2のサンプ
ル供給系を備え、前記第1のサンプル供給系が被検部へ
サンプル供給中に、前記第2のサンプル{jL給系がサ
ンプル取込み動作及び/又はサンプル{g給軒路の洗浄
動作を行なう制f311手段を有することを4,1t徴
とするサンプル測定装Mである. [実施例] 第1図は、本発明をフローサイトメータに通用した実施
例の流体系の構成図である.図中、1、2はそれぞれ独
立に制御されるシリンジで、シリンジ内はシース液で満
たされている。シリンジ1は流路切換バルブ7を介して
サンプル蓄積部3、及びシース液容器14に接続され、
切換バルプ7の制御によりシリンジ1はサンプル蓄積部
3、又はシース液容器14のどちらかに選択的に経路が
接続される。同様にシリンジ2は切換バルブ8を介して
サンプル蓄積部4、シース液容器14のどちらかに経路
が接続されてようになっている。サンプル蓄積部3、4
は流通部がカールして蓄積容積を稼ぎ、各々200μ℃
程度のサンプルを蓄積することができる。サンプル蓄積
部3、4の他端部はそれぞれ4方口切換バルブ6に接続
されている.4方口切換バルブ6の他の部分はサンプル
吸引チューブ5、及びフローセル1lに接続されている
. 又、12はシース液を供給するためのシリンジ、l3は
切換バルブで、該切換バルプl3によりシリンジ13は
フローセルI!又はシース液容?A14のどちらかに経
路が接続される。
初期状態ではシース液容P314からシリンジ13内に
シース液が吸引され満たされている。
シース液が吸引され満たされている。
l5は廃液容器でフローセル11の出口及びサンプル吸
引チューブの受皿9に接続されており、不要な廃液が流
し込まれる. なお、不図示の制御回路により以上の全てのシリンジ及
びパルブの動作が制御ざれるようになっている. 又、検体にレーザ光を照射して光学測定を行なう光学系
として、16はフローセル1lを流れる検体に光照射す
るためのレーザ光源、17はレーザ光源16からの直接
レーザ光を遮断するビームストツバ、18は前方散乱光
を集光するレンズ、l9は集光レンズ18で集光された
前方敗乱光を測光ずる光検出器である。なお、図面には
現われ′(いないが、前方欣乱光と同時に検体から発生
ずる側方敗乱光及び宍光を測光するための光学系が図面
垂直方向に設けられており、各検体がレーザ照射位置を
通過する毎に、前方散乱光、側方敗乱光、蛍光の強度が
検出される。
引チューブの受皿9に接続されており、不要な廃液が流
し込まれる. なお、不図示の制御回路により以上の全てのシリンジ及
びパルブの動作が制御ざれるようになっている. 又、検体にレーザ光を照射して光学測定を行なう光学系
として、16はフローセル1lを流れる検体に光照射す
るためのレーザ光源、17はレーザ光源16からの直接
レーザ光を遮断するビームストツバ、18は前方散乱光
を集光するレンズ、l9は集光レンズ18で集光された
前方敗乱光を測光ずる光検出器である。なお、図面には
現われ′(いないが、前方欣乱光と同時に検体から発生
ずる側方敗乱光及び宍光を測光するための光学系が図面
垂直方向に設けられており、各検体がレーザ照射位置を
通過する毎に、前方散乱光、側方敗乱光、蛍光の強度が
検出される。
次に、以上の構成の本発明の実施例の作動手順を説明す
る。
る。
初期状態ではシリンジ1、2には所定量、シリンジ12
内には満量のシース液が蓄積される。これは切換バルブ
7、8、13をそれぞれシース液容器14側に切換えて
各シリンジにシース液を所定量吸引することにより行な
われる。シース液の吸引が終ったら切換バルブは基に戻
しておく.第1図はサンプル蓄積部3に蓄積された第1
のサンプルをシリンジ1が押圧してフローセル11の測
定部に供給している図である.この時シリンジ+2によ
りシース液もフローセル11に供給され、シースフロ一
方式によってサンプル中の個々の検体が分躍され一列に
なってフローセル内の/lt通部を通過する。測定部に
おいてレーザ光が照射ざれ、検体の光学測定が行なわれ
る。測定の済んだサンプルは廃c夜として廃液容器+5
に送られる。
内には満量のシース液が蓄積される。これは切換バルブ
7、8、13をそれぞれシース液容器14側に切換えて
各シリンジにシース液を所定量吸引することにより行な
われる。シース液の吸引が終ったら切換バルブは基に戻
しておく.第1図はサンプル蓄積部3に蓄積された第1
のサンプルをシリンジ1が押圧してフローセル11の測
定部に供給している図である.この時シリンジ+2によ
りシース液もフローセル11に供給され、シースフロ一
方式によってサンプル中の個々の検体が分躍され一列に
なってフローセル内の/lt通部を通過する。測定部に
おいてレーザ光が照射ざれ、検体の光学測定が行なわれ
る。測定の済んだサンプルは廃c夜として廃液容器+5
に送られる。
第2図はシリンジlが抑圧動作により第1のサンプルを
測定部に供給し、同時にシリンジ2が吸引動作により第
2のサンプルの吸引を行なっている図である.サンプル
吸引部にセットされたサンプル試験管10内には第2の
サンプルが蓄積され、そこに浸漬されるサンプルチュー
ブ5から第2のサンプルを吸引してサンプル蓄積部4に
蓄えられる.なおシース液とサンプルの境界には空気層
が介在して、シース液とサンプルが混じり合わないよう
になっている。これは第1図に示すようにサンプル試験
管をセットする前にシリンジ2が僅かに吸引を行なって
サンプル吸引チューブ5の先端部内に空気を吸引させて
おくことにより達成される。
測定部に供給し、同時にシリンジ2が吸引動作により第
2のサンプルの吸引を行なっている図である.サンプル
吸引部にセットされたサンプル試験管10内には第2の
サンプルが蓄積され、そこに浸漬されるサンプルチュー
ブ5から第2のサンプルを吸引してサンプル蓄積部4に
蓄えられる.なおシース液とサンプルの境界には空気層
が介在して、シース液とサンプルが混じり合わないよう
になっている。これは第1図に示すようにサンプル試験
管をセットする前にシリンジ2が僅かに吸引を行なって
サンプル吸引チューブ5の先端部内に空気を吸引させて
おくことにより達成される。
第1のサンプルの測定が終了すると、第1のサンプルに
続けて流されるシース液により流路内がt先t’pされ
る.これによりサンブノレ蕎!tl部3からフローセル
11の流通部内が全てシース液によりl先杵される. こうして洗浄が終了し、更に第2のサンプルの蓄積が完
了した後に、4方口切換バルブ6が反時計周りに90度
回転して流路が切り替えられる。
続けて流されるシース液により流路内がt先t’pされ
る.これによりサンブノレ蕎!tl部3からフローセル
11の流通部内が全てシース液によりl先杵される. こうして洗浄が終了し、更に第2のサンプルの蓄積が完
了した後に、4方口切換バルブ6が反時計周りに90度
回転して流路が切り替えられる。
第3図は4方口切換パルブ6により流路が切り替えられ
て,シリンジ2の押圧により第2のサンプルの供給を開
始した図である.フローセル11の測定部に送られる第
2のサンプルに含まれる個々の検体は光学測定されて、
測定終了後廃液容器15に送られる.同時にシリンジ1
が押圧勤作によりサンプル吸引チューブ5にシース液を
逆流させてチューブ内を洗浄する。サンプル吸引チュー
ブ5を逆流した洗浄廃液は受皿9で受けて廃液容器15
に送られる。
て,シリンジ2の押圧により第2のサンプルの供給を開
始した図である.フローセル11の測定部に送られる第
2のサンプルに含まれる個々の検体は光学測定されて、
測定終了後廃液容器15に送られる.同時にシリンジ1
が押圧勤作によりサンプル吸引チューブ5にシース液を
逆流させてチューブ内を洗浄する。サンプル吸引チュー
ブ5を逆流した洗浄廃液は受皿9で受けて廃液容器15
に送られる。
第4図は第2のサンプルの測定が進み、サンプル吸引チ
ューブ5の洗浄が終了した状態の図である。この後にサ
ンプル吸引部には第3のサンプルの入ったサンプル試験
f『{・がセットされ、シリンジ1の吸引によりサンプ
ル蓄{11部3に第3のサンプルが蓄積される。又、フ
ローセルl1に送られる第2のサンプルの後方から流れ
るシース液によりフローセル部の洗浄が行なわれる。
ューブ5の洗浄が終了した状態の図である。この後にサ
ンプル吸引部には第3のサンプルの入ったサンプル試験
f『{・がセットされ、シリンジ1の吸引によりサンプ
ル蓄{11部3に第3のサンプルが蓄積される。又、フ
ローセルl1に送られる第2のサンプルの後方から流れ
るシース液によりフローセル部の洗浄が行なわれる。
以上の動作を縁返すことにより、複数のサンプル液の測
定を次々と行なう。これらの一連の動作をタイムチャー
トに表わしたものが第5図(B)である.これによれば
本発明の装置は従来例に比べ約2倍の効率であることが
分かる。
定を次々と行なう。これらの一連の動作をタイムチャー
トに表わしたものが第5図(B)である.これによれば
本発明の装置は従来例に比べ約2倍の効率であることが
分かる。
なお、サンプル吸引チューブにサンプル試験管10をセ
ットする際には、操作者が手で行なっても良いが、オー
トサンブラ機構を設けて機械的に自動セットするように
すれば、更なる効率化が図られる. [発明の効果コ 本発明によれば、サンプル供給系を複数設け、一方がサ
ンプル供給中に、他方が吸引動作及び/又は洗浄動作を
行なうことによって、測定サイクルを短縮することがで
き、複数サンプルの連続測定の際にIA埋能力を向上さ
せることができる。
ットする際には、操作者が手で行なっても良いが、オー
トサンブラ機構を設けて機械的に自動セットするように
すれば、更なる効率化が図られる. [発明の効果コ 本発明によれば、サンプル供給系を複数設け、一方がサ
ンプル供給中に、他方が吸引動作及び/又は洗浄動作を
行なうことによって、測定サイクルを短縮することがで
き、複数サンプルの連続測定の際にIA埋能力を向上さ
せることができる。
その際、レーザ光γト;;やd111定光学系は従来通
り単一で済むため、コス1・ヤサイズ的には従j1コの
装1uとほぼ同様で済む。
り単一で済むため、コス1・ヤサイズ的には従j1コの
装1uとほぼ同様で済む。
第1図は本発明の実施例の構成図、
第2図乃至第4図は実施例の動作説明図、第5図(A)
は従来例の測定タイムチャート、第5図(B)は本発明
の測定タイムチャート、であり、図中の主な符号は、 】、2、12 ・・・・シリンジ、 3、4 ・・・・サンプル蓄積部、 5 ・・・・サンプノレ吸弓チューブ、6 ・・・・4
方口切換バルブ 7、8、13 ・・・・流路切換バルブ、9 ・・・・
受皿、 10 ・・・・サンプル試験管、 11 ・・・・フローセル、 14 ・・・・シース冫夜容器、 15 ・・・・廃液容落、 l6 ・・・・レーザ光源、
は従来例の測定タイムチャート、第5図(B)は本発明
の測定タイムチャート、であり、図中の主な符号は、 】、2、12 ・・・・シリンジ、 3、4 ・・・・サンプル蓄積部、 5 ・・・・サンプノレ吸弓チューブ、6 ・・・・4
方口切換バルブ 7、8、13 ・・・・流路切換バルブ、9 ・・・・
受皿、 10 ・・・・サンプル試験管、 11 ・・・・フローセル、 14 ・・・・シース冫夜容器、 15 ・・・・廃液容落、 l6 ・・・・レーザ光源、
Claims (1)
- (1)各々サンプルを取込む動作及び取込んだサンプル
を被検部へ供給する動作を行なう第1のサンプル供給系
と第2のサンプル供給系を備え、前記第1のサンプル供
給系が被検部へサンプル供給中に、前記第2のサンプル
供給系がサンプル取込み動作及び/又はサンプル供給経
路の洗浄動作を行なう制御手段を有することを特徴とす
るサンプル供給装置。(2)一旦装置内に取込んだサン
プルを被検部に供給し、被検部においてサンプルを光学
的に測定する検体測定装置において、第1のサンプル供
給系と第2のサンプル供給系を備え、前記第1のサンプ
ル供給系が被検部へサンプル供給中に、前記第2のサン
プル供給系がサンプル取込み動作及び/又はサンプル供
給経路の洗浄動作を行なう制御手段を有することを特徴
とするサンプル測定装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1189728A JPH0353164A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | サンプル供給装置及びこれを用いたサンプル測定装置 |
US07/545,589 US5182617A (en) | 1989-07-20 | 1990-06-29 | Sample supply device and sample inspection apparatus using the device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1189728A JPH0353164A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | サンプル供給装置及びこれを用いたサンプル測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0353164A true JPH0353164A (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=16246197
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1189728A Pending JPH0353164A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | サンプル供給装置及びこれを用いたサンプル測定装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
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