JPH03144323A - レーザ波長測定装置 - Google Patents
レーザ波長測定装置Info
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- JPH03144323A JPH03144323A JP1282726A JP28272689A JPH03144323A JP H03144323 A JPH03144323 A JP H03144323A JP 1282726 A JP1282726 A JP 1282726A JP 28272689 A JP28272689 A JP 28272689A JP H03144323 A JPH03144323 A JP H03144323A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 4
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- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 8
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1226—Interference filters
- G01J2003/1239—Interference filters and separate detectors
-
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- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
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- Lasers (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザ装置において、レーザ波長ずれの較正
用に用いられるレーザ波長測定装置に適用して有効な技
術に関する。
用に用いられるレーザ波長測定装置に適用して有効な技
術に関する。
レーザ光はそれ自体でコヒーレントな高い波長純度、高
出力などの特徴を持ち強い光照射の出来る光源として有
望とされてきた 最近このようなレーザ光を利用した光
源装置が開発されるようになってきへ その代表的なも
のに半導体装置製造工程における超縮小投影露光工程に
用いられるリングラフィ用光源として検討されている狭
帯域化エキシマレーザがある。
出力などの特徴を持ち強い光照射の出来る光源として有
望とされてきた 最近このようなレーザ光を利用した光
源装置が開発されるようになってきへ その代表的なも
のに半導体装置製造工程における超縮小投影露光工程に
用いられるリングラフィ用光源として検討されている狭
帯域化エキシマレーザがある。
この種の用途で用いられるレーザ装置において、レーザ
発振波長を安定させるためには、放射されるレーザ光の
波長ずれを常にモニタしてレーザ発振装置をフィードバ
ック制御してやる必要があった このようなモニタシステムにおける測定装置の構成とし
ては、放射されたレーザ光をエタロン等の分光器でスペ
クトル化した分散光とし、これをフォトディテクタアレ
イ等の受光素子を用いて受光するものが一般的であっμ
ここで、前記エタロンとは一対の反射膜間に起こる光
の多重反射と干渉現象を応用した波長選択素子であり、
入射光を干渉縞状に受光素子上に照射する機能を有して
いる。また前記フォトディテクタアレイとは、フォトダ
イオード等の受光素子を一次元方向に多数配列したもの
で、個々の受光素子における光励起状態によって生じる
電流をモニタすることによって光の強度分布を検出する
ものである。
発振波長を安定させるためには、放射されるレーザ光の
波長ずれを常にモニタしてレーザ発振装置をフィードバ
ック制御してやる必要があった このようなモニタシステムにおける測定装置の構成とし
ては、放射されたレーザ光をエタロン等の分光器でスペ
クトル化した分散光とし、これをフォトディテクタアレ
イ等の受光素子を用いて受光するものが一般的であっμ
ここで、前記エタロンとは一対の反射膜間に起こる光
の多重反射と干渉現象を応用した波長選択素子であり、
入射光を干渉縞状に受光素子上に照射する機能を有して
いる。また前記フォトディテクタアレイとは、フォトダ
イオード等の受光素子を一次元方向に多数配列したもの
で、個々の受光素子における光励起状態によって生じる
電流をモニタすることによって光の強度分布を検出する
ものである。
ところで、前記エタロンは使用環境の温度・気圧等の変
化によりその特性が大きく変化する。従来はこの様な用
途に用いられるエタロンを、温度・気圧を一定に保った
気密容器中に収納し使用することが一般的であり九 加
えて前記特性変化に備えて被測定光であるレーザ装置か
らのレーザ光とともに波長基準となる光(基準光)を同
時に受光して両者の波長を比較して波長のずれを検出し
、このデータを基にフィードバック制御を行ってい4 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし前記のように、被測定光と基準光とを同一の光路
より受光した場合、前記フォトディテクタアレイを用い
た測定では、最大強度の位置を検出することは比較的容
易であるものの、被測定光と基準光とを同時に測定する
には信号処理が非常に複雑になるばかりでなく処理速度
が低下し制御性が悪化する懸念があった すなわち、被
測定光と基準光とが同時に照射された場合、フォトディ
テクタアレイからの信号に基づいて被測定光と基準光と
を弁別しなくてはならず、両者の中心波長位置の差異を
比較するためには多くのステップの演算処理が必要とな
っていたのである。
化によりその特性が大きく変化する。従来はこの様な用
途に用いられるエタロンを、温度・気圧を一定に保った
気密容器中に収納し使用することが一般的であり九 加
えて前記特性変化に備えて被測定光であるレーザ装置か
らのレーザ光とともに波長基準となる光(基準光)を同
時に受光して両者の波長を比較して波長のずれを検出し
、このデータを基にフィードバック制御を行ってい4 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし前記のように、被測定光と基準光とを同一の光路
より受光した場合、前記フォトディテクタアレイを用い
た測定では、最大強度の位置を検出することは比較的容
易であるものの、被測定光と基準光とを同時に測定する
には信号処理が非常に複雑になるばかりでなく処理速度
が低下し制御性が悪化する懸念があった すなわち、被
測定光と基準光とが同時に照射された場合、フォトディ
テクタアレイからの信号に基づいて被測定光と基準光と
を弁別しなくてはならず、両者の中心波長位置の差異を
比較するためには多くのステップの演算処理が必要とな
っていたのである。
本発明は前記の点に鑑みてなされたもので、その目的は
レーザ装置における発振波長の較正を簡略化し信頼性の
向上、制御応答速度の向上を図ることのできる技術を提
供することにある。
レーザ装置における発振波長の較正を簡略化し信頼性の
向上、制御応答速度の向上を図ることのできる技術を提
供することにある。
本発明は前記の点に鑑みて、入射されたレーザ光を分光
器によってスペクトル化して測定素子に照光し波長を測
定するレーザ波長測定装置について、下記のような構成
としへ すなわち、基準光と被測定光との各々に対応していずれ
か一方のみを選択的に受光するための波長選択手段を備
えたものとした そして、前記波長選択手段について、例えば基準光のみ
を通過させるフィルタと被測定光のみを通過させるフィ
ルタとを用意し、これを光路上で選択的に切り換えられ
るようにした また、前記波長選択手段について、例えば測定素子とし
て基準光と被測定光との各々の波長帯域に感度を有する
ものを用意し、各党の波長測定を別個の測定素子で行う
こととした 〔作用〕 前記した手段によれば、 1単位あたりの測定に際して
フォトディテクタアレイ上の最大強度位置を一つ検出す
ればよいため、信号処理系も簡略化され即応性の高いフ
ィードバック制御が可能となる。
器によってスペクトル化して測定素子に照光し波長を測
定するレーザ波長測定装置について、下記のような構成
としへ すなわち、基準光と被測定光との各々に対応していずれ
か一方のみを選択的に受光するための波長選択手段を備
えたものとした そして、前記波長選択手段について、例えば基準光のみ
を通過させるフィルタと被測定光のみを通過させるフィ
ルタとを用意し、これを光路上で選択的に切り換えられ
るようにした また、前記波長選択手段について、例えば測定素子とし
て基準光と被測定光との各々の波長帯域に感度を有する
ものを用意し、各党の波長測定を別個の測定素子で行う
こととした 〔作用〕 前記した手段によれば、 1単位あたりの測定に際して
フォトディテクタアレイ上の最大強度位置を一つ検出す
ればよいため、信号処理系も簡略化され即応性の高いフ
ィードバック制御が可能となる。
また、波長選択手段として光路上に配置されたフィルタ
を切り換える構造とすることにより、基準光あるいは被
測定光のいずれかの波長検出を行う際には、他方の光は
フィルタにより遮断されているため、他の光の干渉を受
けることなく波長検出が可能となり、検出精度を高める
こともできる。
を切り換える構造とすることにより、基準光あるいは被
測定光のいずれかの波長検出を行う際には、他方の光は
フィルタにより遮断されているため、他の光の干渉を受
けることなく波長検出が可能となり、検出精度を高める
こともできる。
また、波長選択手段として、基準光および被測定光の各
々の波長帯域に感度を有する2つの測定素子をそれぞれ
用意することによって、各党について同時かつ簡易に波
長検出が可能となる。
々の波長帯域に感度を有する2つの測定素子をそれぞれ
用意することによって、各党について同時かつ簡易に波
長検出が可能となる。
〔実施例〕
以下図面を用いて本発明の実施例を示す。
〈実施例1〉
第1図(a)および(b)は本発明の実施例にかかるレ
ーザ波長測定装置の概略構成ならびに検出波長の特性を
示している。
ーザ波長測定装置の概略構成ならびに検出波長の特性を
示している。
すなわち、同図において被測定光と基準光とが同一の光
路で入射光11として入射されてくると、フィルタ12
または13を通過して光フアイバケーブル15を通じて
エタロン16に達し、ここで分光されてレンズ17を経
て測定素子であるフオトディテクタアレイ18上に照射
される。
路で入射光11として入射されてくると、フィルタ12
または13を通過して光フアイバケーブル15を通じて
エタロン16に達し、ここで分光されてレンズ17を経
て測定素子であるフオトディテクタアレイ18上に照射
される。
ここでフィルタ12は基準光の波長域に透過性をもち被
測定光の波長域には透過性を持たない光学特性を有して
おり、フィルタ13は被測定光の波長域に透過性をもち
基準光の波長域には透過性を持たない光学特性を有して
いる。両フィルタ12、13は一連に接続されており、
リニアアクチュエータ14によって光路を横切る方向に
直線移動可能とされており、光路上にはいずれか一方の
フィルタ12もしくは13のみが選択的に配置されるよ
うになっている。
測定光の波長域には透過性を持たない光学特性を有して
おり、フィルタ13は被測定光の波長域に透過性をもち
基準光の波長域には透過性を持たない光学特性を有して
いる。両フィルタ12、13は一連に接続されており、
リニアアクチュエータ14によって光路を横切る方向に
直線移動可能とされており、光路上にはいずれか一方の
フィルタ12もしくは13のみが選択的に配置されるよ
うになっている。
フォトデイタフタアレイ18は、駆動機構と信号入出力
部を兼ねた駆動制御部19に接続されており、この駆動
制御部19は、フォトディテクタアレイ18からの信号
処理を行い中心波長位置を検出する機能を有している。
部を兼ねた駆動制御部19に接続されており、この駆動
制御部19は、フォトディテクタアレイ18からの信号
処理を行い中心波長位置を検出する機能を有している。
かかる装置構成で、まず基準光の波長検出を行う場合、
アクチュエータ14を駆動し、フィルタ12が光路上に
配置されるようにする。このように光路上にフィルタ1
2を配置することによって、基準光のみがフォトディテ
クタアレイ18上に照射される。このときの最強の中心
波長位置を駆動制御部19内における図示しない記憶部
に記憶させておく。
アクチュエータ14を駆動し、フィルタ12が光路上に
配置されるようにする。このように光路上にフィルタ1
2を配置することによって、基準光のみがフォトディテ
クタアレイ18上に照射される。このときの最強の中心
波長位置を駆動制御部19内における図示しない記憶部
に記憶させておく。
次に、アクチュエータ14を駆動し、今度はフィルタ1
3が光路上に配置されるようにする。この状態では被測
定光のみがフィルタ13を経てフォトディテクタアレイ
18上に照射される。このようにして被測定光の照射か
ら得られた最強の中心波長位置を前記駆動制御部19内
に記憶し、引き続いて先の基準光による中心波長位置と
、今回得られた被測定光による中心波長位置とを比較す
る。
3が光路上に配置されるようにする。この状態では被測
定光のみがフィルタ13を経てフォトディテクタアレイ
18上に照射される。このようにして被測定光の照射か
ら得られた最強の中心波長位置を前記駆動制御部19内
に記憶し、引き続いて先の基準光による中心波長位置と
、今回得られた被測定光による中心波長位置とを比較す
る。
この結果、両光の最強となる中心波長位置にずれを生じ
ている場合は、その差分を算出して、この差分データに
基づいて図示しないレーザ発振部を制御する。このよう
なレーザ発振波長ずれの較正は具体的にはレーザ発振部
に内蔵された図示しないエタロンをレーザ光路上で傾角
変化させる等の手段により行う。
ている場合は、その差分を算出して、この差分データに
基づいて図示しないレーザ発振部を制御する。このよう
なレーザ発振波長ずれの較正は具体的にはレーザ発振部
に内蔵された図示しないエタロンをレーザ光路上で傾角
変化させる等の手段により行う。
このように、本実施例ではフォトディテクタアレイ18
による基準光の受光時には被測定光はフィルタ12によ
り遮断されているため、他の波長帯域の光の受光による
影響を受けることなく、すなわち波長信号の弁別を行う
ことなく基準光の最強中心波長のデータを容易に得るこ
とができる。
による基準光の受光時には被測定光はフィルタ12によ
り遮断されているため、他の波長帯域の光の受光による
影響を受けることなく、すなわち波長信号の弁別を行う
ことなく基準光の最強中心波長のデータを容易に得るこ
とができる。
また同様に、被測定光の受光時にはフィルタ13により
被測定光の最強中心波長のデータを高精度かつ容易に得
ることができる。
被測定光の最強中心波長のデータを高精度かつ容易に得
ることができる。
〈実施例2〉
次に、本発明の他の実施例を第2図に基づいて説明する
。
。
本実施例ではフィルタ12および13は、レンズ17と
フォトディテクタアレイ18a 18bの間に固定的
に配置されており、かつフィルタ12および13はそれ
ぞれレンズ17の垂直軸を基準として対称位置に配置さ
れている。
フォトディテクタアレイ18a 18bの間に固定的
に配置されており、かつフィルタ12および13はそれ
ぞれレンズ17の垂直軸を基準として対称位置に配置さ
れている。
ここで、フィルタ12および13は前記実施例1で説明
したように、基準光のみの透過性および被測定光のみの
透過性をそれぞれ有しているため、フィトディテクタア
レイ18aでは基準光の波長特性が、フォトディテクタ
アレイ18bでは被測定光の波長特性がそれぞれ検出さ
れる。これらをグラフ図にしたものが第2図(b)であ
り、両フォトディテクタアレイ18a、18bはそれぞ
れレンズ17の中心軸に対称位置に配置されているため
、その波長特性も略対称となっている。
したように、基準光のみの透過性および被測定光のみの
透過性をそれぞれ有しているため、フィトディテクタア
レイ18aでは基準光の波長特性が、フォトディテクタ
アレイ18bでは被測定光の波長特性がそれぞれ検出さ
れる。これらをグラフ図にしたものが第2図(b)であ
り、両フォトディテクタアレイ18a、18bはそれぞ
れレンズ17の中心軸に対称位置に配置されているため
、その波長特性も略対称となっている。
駆動制御部19では両フォトディテクタアレイ18a、
18bからの信号を基準クロックタイミングで同期させ
て同時に比較することにより、中心波長位置にずれを生
じている場合には、その差分を算出して、その差分デー
タに基づいて図示しないレーザ発振部を制御する。この
ようなレーザ発振波長ずれの較正は、具体的には実施例
1で説明したのと同様に、レーザ発振部に内蔵された図
示しないエタロンをレーザ光路上で傾角変化させる等の
手段により行う。
18bからの信号を基準クロックタイミングで同期させ
て同時に比較することにより、中心波長位置にずれを生
じている場合には、その差分を算出して、その差分デー
タに基づいて図示しないレーザ発振部を制御する。この
ようなレーザ発振波長ずれの較正は、具体的には実施例
1で説明したのと同様に、レーザ発振部に内蔵された図
示しないエタロンをレーザ光路上で傾角変化させる等の
手段により行う。
このように、本実施例2では基準光と被測定光とを同時
に受光してその比較を行うことができるため、さらに即
応性の高い波長ll1ll 御が可能となる。
に受光してその比較を行うことができるため、さらに即
応性の高い波長ll1ll 御が可能となる。
以上説明したように本発明によれば、レーザ装置より放
射されるレーザ光の波長ずれを迅速に検出して、制御応
答速度を高めることができる。
射されるレーザ光の波長ずれを迅速に検出して、制御応
答速度を高めることができる。
第1図および第2図は本発明の実施例であり、第1図(
a)は実施例1のレーザ波長測定装置の概略構成図、同
図(b)はその波長特性を示すグラフ図、第2図(a)
は実施例2のレーザ波長測定装置の概略椙成l 同図(
b)はその波長特性を示すグラフ図である。 11・・入射光(被測定光と基準光)、 12I3・・
・フィルタ、 14・・・リニアアクチュエータ、 1
5・・・光フアイバケーブル、 16・・・エタロン、
17・ ・・レンズ、18、18 a。 18b・・・フォトディテクタアレイ、19・・・駆動
制御戦 第1 涜長
a)は実施例1のレーザ波長測定装置の概略構成図、同
図(b)はその波長特性を示すグラフ図、第2図(a)
は実施例2のレーザ波長測定装置の概略椙成l 同図(
b)はその波長特性を示すグラフ図である。 11・・入射光(被測定光と基準光)、 12I3・・
・フィルタ、 14・・・リニアアクチュエータ、 1
5・・・光フアイバケーブル、 16・・・エタロン、
17・ ・・レンズ、18、18 a。 18b・・・フォトディテクタアレイ、19・・・駆動
制御戦 第1 涜長
Claims (3)
- (1)入射されたレーザ光を分光器によってスペクトル
化して測定素子に照光し波長を測定するレーザ波長測定
装置であって、基準光と被測定光とのいずれか一方のみ
を選択的に受光するための波長選択手段を備えたレーザ
波長測定装置。 - (2)前記波長選択手段は、光路上に配置され基準光ま
たは被測定光のみをそれぞれ通過させるフィルタであり
、このフィルタは光路上で選択的に配置される切換手段
を備えていることを特徴とする請求項1記載のレーザ波
長測定装置。 - (3)前記波長選択手段は、分光器を通過した基準光と
被測定光との各々の波長帯域にそれぞれ感度を有する2
つの測定素子からなることを特徴とする請求項1記載の
レーザ波長測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1282726A JPH03144323A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | レーザ波長測定装置 |
US07/604,635 US5170224A (en) | 1989-10-30 | 1990-10-29 | Laser wavelength measuring device |
CA002028706A CA2028706A1 (en) | 1989-10-30 | 1990-10-29 | Laser wavelength measuring device |
EP19900120786 EP0426104A3 (en) | 1989-10-30 | 1990-10-30 | Laser wavelength measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1282726A JPH03144323A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | レーザ波長測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03144323A true JPH03144323A (ja) | 1991-06-19 |
Family
ID=17656246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1282726A Pending JPH03144323A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | レーザ波長測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5170224A (ja) |
EP (1) | EP0426104A3 (ja) |
JP (1) | JPH03144323A (ja) |
CA (1) | CA2028706A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7310153B2 (en) * | 2004-08-23 | 2007-12-18 | Palo Alto Research Center, Incorporated | Using position-sensitive detectors for wavelength determination |
US8437582B2 (en) | 2005-12-22 | 2013-05-07 | Palo Alto Research Center Incorporated | Transmitting light with lateral variation |
US7718948B2 (en) * | 2006-12-04 | 2010-05-18 | Palo Alto Research Center Incorporated | Monitoring light pulses |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3929398A (en) * | 1971-08-18 | 1975-12-30 | Harry E Bates | High speed optical wavelength detection system |
DE2417411A1 (de) * | 1974-04-10 | 1975-10-30 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Messeinrichtung zur bestimmung der ausgangswellenlaenge von lasern |
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