JPH02206227A - 2進データの判定回路 - Google Patents
2進データの判定回路Info
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- JPH02206227A JPH02206227A JP2615889A JP2615889A JPH02206227A JP H02206227 A JPH02206227 A JP H02206227A JP 2615889 A JP2615889 A JP 2615889A JP 2615889 A JP2615889 A JP 2615889A JP H02206227 A JPH02206227 A JP H02206227A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は光磁気ディスクの再生信号処理等に使用される
2進データの判定回路に関する。
2進データの判定回路に関する。
光磁気データの記録媒体には2進データが記録されるが
、その符号化方式には記録密度が高くとれ、またエラー
訂正能力が高いものが望まれ、その要求を満たすものの
1つとして4/11符号が知られている。これは11ビ
ツトの内4ビットが1°。
、その符号化方式には記録密度が高くとれ、またエラー
訂正能力が高いものが望まれ、その要求を満たすものの
1つとして4/11符号が知られている。これは11ビ
ツトの内4ビットが1°。
(有意)他が“’O”(無意)である符号であり、2進
データ列を8ビツト毎に分離し、この8ビツトのビット
列に一意対応する符号が定められている。第7図(a)
〜(ロ)はこの符号の例を示している。
データ列を8ビツト毎に分離し、この8ビツトのビット
列に一意対応する符号が定められている。第7図(a)
〜(ロ)はこの符号の例を示している。
光磁気ディスクに記録された4/11符号のデータは再
生されるが、再生データは復号する必要がある。
生されるが、再生データは復号する必要がある。
即ち光磁気デイ・スフから光学的に得た信号を電気信号
に変換して得られたアナログ信号から2進データ列を得
、これから4/11符号を判定し、更には8ビツトデー
タに変換する。
に変換して得られたアナログ信号から2進データ列を得
、これから4/11符号を判定し、更には8ビツトデー
タに変換する。
而してディスク表面の汚れ、再生系の光学部、電気部の
動作により再生信号のレベルは変動する可能性がある。
動作により再生信号のレベルは変動する可能性がある。
また第2図(a)に示すように” 1 ”のデイジン、
トが離散している場合は問題が少ないが、同(b) (
C)に示すように1”のディジット間にある“0′°の
ディジットは隣接ディジットの影響で高レベルとなりが
ちであり、他の“1°”のディジットに低レベルの“′
1′°があるとこの場合では10100001010が
11100001000と誤判定されることがある。
トが離散している場合は問題が少ないが、同(b) (
C)に示すように1”のディジット間にある“0′°の
ディジットは隣接ディジットの影響で高レベルとなりが
ちであり、他の“1°”のディジットに低レベルの“′
1′°があるとこの場合では10100001010が
11100001000と誤判定されることがある。
本発明はこのような復号の過程における4/11符号又
はに/n符号の判定回路を確立することを目的としてい
る。
はに/n符号の判定回路を確立することを目的としてい
る。
本発明の判定回路は、アナログ信号を所定周期でサンプ
リングしてアナログ/ディジタル変換し、まず上位に個
のサンプル値のディジットを有意としてnビット符号を
判定し、これを予め定めてあるイレージヤ符号と比較し
、これに該当しない場合はnビット符号を確立し、該当
する場合は第に位のサンプル値のディジットを無意とし
、これに替えて第(k+1)位のサンプル値のディジッ
トを有意とするものである。
リングしてアナログ/ディジタル変換し、まず上位に個
のサンプル値のディジットを有意としてnビット符号を
判定し、これを予め定めてあるイレージヤ符号と比較し
、これに該当しない場合はnビット符号を確立し、該当
する場合は第に位のサンプル値のディジットを無意とし
、これに替えて第(k+1)位のサンプル値のディジッ
トを有意とするものである。
このようにして得たnビット符号がイレージヤ符号であ
った場合は第に一1値のサンプル値のディジットを無意
とし、第1.2・・・、に−2、k、k+1位のサンプ
ル値のディジットを有意とする。
った場合は第に一1値のサンプル値のディジットを無意
とし、第1.2・・・、に−2、k、k+1位のサンプ
ル値のディジットを有意とする。
アナログ信号のレベルの高いものが有意ビットでない場
合にこれが検出され、正しいビットを有意とすることが
できる。
合にこれが検出され、正しいビットを有意とすることが
できる。
以下本発明をその実施例を示す図面に基づき説明する。
まずコード体系について説明する。
原2進データは011000111001101011
10−(7)ようなものであるが、8ビツトを単位とし
て01100011/10011010/1110・・
・のように分離され各8ビツトのデータを第7図のコー
ド表に従い4/11符号に変換され、これが光磁気ディ
スクに記録される。
10−(7)ようなものであるが、8ビツトを単位とし
て01100011/10011010/1110・・
・のように分離され各8ビツトのデータを第7図のコー
ド表に従い4/11符号に変換され、これが光磁気ディ
スクに記録される。
4/11符号は理論上 個存在し得るが、8ビツトのデ
ータの符号化に際しては256個で足りる。そこで、こ
の実施例では次の規則に従いイレージヤ符号を規定して
いる。
ータの符号化に際しては256個で足りる。そこで、こ
の実施例では次の規則に従いイレージヤ符号を規定して
いる。
(1) “1°′が4デイジツト連続するパターン(
2)最初の3デイジツトがl°゛であるパターン(3)
最後の2デイジツトが”1′′であるパターン第1図は
本発明回路のブロック図であり、光磁気ディスク(図示
せず)から再生されたアナログ信号ASはアナログ/デ
ィジタル(A/D)変換器4でディジタル信号に変換さ
れる。光磁気ディスクのサーボバイトエリアに記録され
ているクロックピットにより、作成されたクロック信号
CLKは前記アナログ信号に同期しており、A/D変換
器4に与えられ、ここで4711符号のディジットの周
期でサンプリング、変換が行われる。またクロック信号
CLKは°″1′ディジット判定回路5,6゜7.8.
9のクロック端子へ与えられている。光磁気ディスクに
は4/11符号単位(サブコード)のサブ同期信号SS
Sが記録されており、これが“1 ”ディジット判定回
路5,6,7,8.9及びイレージヤ符号判定回路12
ヘリセツト信号として与えられている。
2)最初の3デイジツトがl°゛であるパターン(3)
最後の2デイジツトが”1′′であるパターン第1図は
本発明回路のブロック図であり、光磁気ディスク(図示
せず)から再生されたアナログ信号ASはアナログ/デ
ィジタル(A/D)変換器4でディジタル信号に変換さ
れる。光磁気ディスクのサーボバイトエリアに記録され
ているクロックピットにより、作成されたクロック信号
CLKは前記アナログ信号に同期しており、A/D変換
器4に与えられ、ここで4711符号のディジットの周
期でサンプリング、変換が行われる。またクロック信号
CLKは°″1′ディジット判定回路5,6゜7.8.
9のクロック端子へ与えられている。光磁気ディスクに
は4/11符号単位(サブコード)のサブ同期信号SS
Sが記録されており、これが“1 ”ディジット判定回
路5,6,7,8.9及びイレージヤ符号判定回路12
ヘリセツト信号として与えられている。
“1“ディジット判定回路5.6・・・は入力されたデ
ィジタル信号を、先に入力されてラッチしている値と比
較し、新たに入力された信号の値が大である場合はこれ
をラッチして先のラッチ信号を出力し、小である場合は
その入力信号をラッチすることなく出力するものであり
、A/D変換器4出力は゛1″″ディジット判定回路5
へ入力され、■ディジット判定回路5(又は6,7.8
)の出力は1デイジツト判定回路6(又は7,8.9)
の入力としている。つまり判定回路5.6・・・9は縦
続接続されている。判定回路5,6・・・9の縦続回路
はこのようにしてラッチされた信号、後に説明するよう
に、入力された信号中の最大値、に対応するディジット
を記憶し、これを該当ディジットのみを″l”とする1
1ビツトの2進コードにデコードして判定回路5,6.
7についてはOR回路11へ、また判定回路8,9につ
いてはセレクタlOへ入力する。セレクタ10はイレー
ジヤ符号判定回路12が判定内容が正常であることを示
す出力である場合に判定回路8からの出力を、また異常
であることを示す出力である場合に判定回路9からの出
力を選択してOR回路11へ出力する。OR回路出力は
4/11符号となるが、イレージヤ符号判定回路12へ
入力され、これに予め記憶されているイレージヤ符号と
比較され、又は所定の論理演算によりイレージヤ符号で
あるか否かが判定され、入力符号がイレージヤ符号であ
る場合は前述のようにセレクタ10を判定回路9側へ切
換える。
ィジタル信号を、先に入力されてラッチしている値と比
較し、新たに入力された信号の値が大である場合はこれ
をラッチして先のラッチ信号を出力し、小である場合は
その入力信号をラッチすることなく出力するものであり
、A/D変換器4出力は゛1″″ディジット判定回路5
へ入力され、■ディジット判定回路5(又は6,7.8
)の出力は1デイジツト判定回路6(又は7,8.9)
の入力としている。つまり判定回路5.6・・・9は縦
続接続されている。判定回路5,6・・・9の縦続回路
はこのようにしてラッチされた信号、後に説明するよう
に、入力された信号中の最大値、に対応するディジット
を記憶し、これを該当ディジットのみを″l”とする1
1ビツトの2進コードにデコードして判定回路5,6.
7についてはOR回路11へ、また判定回路8,9につ
いてはセレクタlOへ入力する。セレクタ10はイレー
ジヤ符号判定回路12が判定内容が正常であることを示
す出力である場合に判定回路8からの出力を、また異常
であることを示す出力である場合に判定回路9からの出
力を選択してOR回路11へ出力する。OR回路出力は
4/11符号となるが、イレージヤ符号判定回路12へ
入力され、これに予め記憶されているイレージヤ符号と
比較され、又は所定の論理演算によりイレージヤ符号で
あるか否かが判定され、入力符号がイレージヤ符号であ
る場合は前述のようにセレクタ10を判定回路9側へ切
換える。
以上の回路の動作を説明する。
第2図(a)に示す如きアナログ信号ASが入力される
と、その横軸の目盛で示す周期のクロック信号CLKに
従いアナログ信号ASはA/D変換器4でアナログ/デ
ィジタル(A/D)変化され、変換されたディジタル信
号は判定回路5へ入力される。
と、その横軸の目盛で示す周期のクロック信号CLKに
従いアナログ信号ASはA/D変換器4でアナログ/デ
ィジタル(A/D)変化され、変換されたディジタル信
号は判定回路5へ入力される。
第2図(a)の例では第2デイジツトが大きく、第1゜
第3.4デイジツトが小さいから、また第5デイジツト
が最大であるから、判定回路5がクロック信号CLにの
各周期でラッチし、またはラッチを縦続するディジット
の値は 周M 1,2,3,4.s、6,7.a、9,1
0.11デイジツト ■ ■ ■ ■ ■ ■ ■ ■
■ ■ ■となる。つまり最大値のディジットを記憶
することになる0次段の判定回路6は第5デイジツトの
信号が入力されないから第2位の第2デイジツトを記憶
することになる。従って 周期 1,2,3,4,5,6,7,8,9,1
0.11デイジツト ■ ■ ・・・・・・・旧・・・
・・・・・・旧旧旧旧・・・・・・旧・曲・ ■以下同
様に判定回路7,8及び9には夫々第3゜4.5位のデ
ィジット[相]■■が記憶される。従うて判定回路5,
6,7.8はOR回路11へ夫々以下の11ビット符号
を出力する。
第3.4デイジツトが小さいから、また第5デイジツト
が最大であるから、判定回路5がクロック信号CLにの
各周期でラッチし、またはラッチを縦続するディジット
の値は 周M 1,2,3,4.s、6,7.a、9,1
0.11デイジツト ■ ■ ■ ■ ■ ■ ■ ■
■ ■ ■となる。つまり最大値のディジットを記憶
することになる0次段の判定回路6は第5デイジツトの
信号が入力されないから第2位の第2デイジツトを記憶
することになる。従って 周期 1,2,3,4,5,6,7,8,9,1
0.11デイジツト ■ ■ ・・・・・・・旧・・・
・・・・・・旧旧旧旧・・・・・・旧・曲・ ■以下同
様に判定回路7,8及び9には夫々第3゜4.5位のデ
ィジット[相]■■が記憶される。従うて判定回路5,
6,7.8はOR回路11へ夫々以下の11ビット符号
を出力する。
判定回路5 00001000000
判定回路6 01000000000
判定回路7 00000000010
判定回路8 00000001000
従ってOR回路11出力は01001001010とな
る。これはイレージヤ符号ではないからイレージヤ符号
判定回路12出力は正常を示し、セレクタ10は判定回
路8を選択したままである。従ってOR回路11出力を
適宜タイミングで取り込めば正しい4/11符号が得ら
れることになる。サブ同期信号SSSが入力されるとち
判定回路5,6・・・9及び12はリセットされ、次の
11デイジツトに対応するアナログ信号祁を入力させ得
る状態となる。
る。これはイレージヤ符号ではないからイレージヤ符号
判定回路12出力は正常を示し、セレクタ10は判定回
路8を選択したままである。従ってOR回路11出力を
適宜タイミングで取り込めば正しい4/11符号が得ら
れることになる。サブ同期信号SSSが入力されるとち
判定回路5,6・・・9及び12はリセットされ、次の
11デイジツトに対応するアナログ信号祁を入力させ得
る状態となる。
第3図は“l”ディジット判定回路6・・・9の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
入力データINはセレクタ22及びコンパレータ23に
入力される。またラッチ回路24のラッチ内容もそのQ
端子からセレクタ22及びコンパレータ23に入力され
る。コンパレータ23は2つの入力を比較し、入力デー
タIN>Qである場合には入力信号INをラッチ回路2
4の入力端子りへ、またラッチ回路24の出力Qを出力
データOUTとして出力させ、逆にIN≦Qである場合
は入力信号INを出力データ0LITとして出力させ、
またラッチ回路24の出力Qをラッチ回路24の入力端
子りへ与えるようにセレクタ22を切り換えるべく、前
者の場合はハイレベル、後者の場合はローレベルの信号
をセレクタ22へ与える。
入力される。またラッチ回路24のラッチ内容もそのQ
端子からセレクタ22及びコンパレータ23に入力され
る。コンパレータ23は2つの入力を比較し、入力デー
タIN>Qである場合には入力信号INをラッチ回路2
4の入力端子りへ、またラッチ回路24の出力Qを出力
データOUTとして出力させ、逆にIN≦Qである場合
は入力信号INを出力データ0LITとして出力させ、
またラッチ回路24の出力Qをラッチ回路24の入力端
子りへ与えるようにセレクタ22を切り換えるべく、前
者の場合はハイレベル、後者の場合はローレベルの信号
をセレクタ22へ与える。
このハイ、ローの信号はAND回路251の一入力とな
っており、またAND回路252のローアクティブの入
力となってい、両AND回路251.252の抽入力は
クロック信号CLKである。AND回路251の出力は
ラッチ回路24ヘラツチ用のクロックとして与えられ、
またインバータを介してカウンタ26のローアクティブ
のリセット端子Rに与えられる。−方AND回路252
の出力はカウンタ26へ計数対象として与えられる。カ
ウンタ26の内容はサブ同期信号SSSによってラッチ
回路27にラッチされる。このラッチ回路27の内容は
データ28によって前述した如き11ビット信号に変換
されてOR回路11へ出力される。その他サブ同期信号
SSSはラッチ回路24にリセット信号としてその端子
Rに与えられる。
っており、またAND回路252のローアクティブの入
力となってい、両AND回路251.252の抽入力は
クロック信号CLKである。AND回路251の出力は
ラッチ回路24ヘラツチ用のクロックとして与えられ、
またインバータを介してカウンタ26のローアクティブ
のリセット端子Rに与えられる。−方AND回路252
の出力はカウンタ26へ計数対象として与えられる。カ
ウンタ26の内容はサブ同期信号SSSによってラッチ
回路27にラッチされる。このラッチ回路27の内容は
データ28によって前述した如き11ビット信号に変換
されてOR回路11へ出力される。その他サブ同期信号
SSSはラッチ回路24にリセット信号としてその端子
Rに与えられる。
次にこの回路の動作をまず判定回路5につき第2図(a
)の信号ASを例にとって説明する。
)の信号ASを例にとって説明する。
第1デイジツトの入力信号が入った場合、ラッチ回路2
4の内容はリセットされていてOであるので、コンパレ
ータ23ではIN>Qとなりコンパレータ23はハイレ
ベル信号を出力し、セレクタ22経由でラッチ回路24
に入力された第1ディジットの信号をラッチする。また
このANDゲー1−251出力によってカウンタ26は
リセットされる。
4の内容はリセットされていてOであるので、コンパレ
ータ23ではIN>Qとなりコンパレータ23はハイレ
ベル信号を出力し、セレクタ22経由でラッチ回路24
に入力された第1ディジットの信号をラッチする。また
このANDゲー1−251出力によってカウンタ26は
リセットされる。
次に第2デイジツトの信号が入力されるとIN>Qであ
るので上記同様にしてこれがラッチ回路24にラッチさ
れる。同様にカウンタ26は再びリセットされる。一方
、先にラッチされていた第1デイジツトの信号は出力O
UTとなる。
るので上記同様にしてこれがラッチ回路24にラッチさ
れる。同様にカウンタ26は再びリセットされる。一方
、先にラッチされていた第1デイジツトの信号は出力O
UTとなる。
次に第3デイジツトの入力信号ではIN≦Qであるから
コンパレータ出力はローレベルとなり第3デイジツトの
信号はそのまま出力01lTとなる。
コンパレータ出力はローレベルとなり第3デイジツトの
信号はそのまま出力01lTとなる。
一方、ラッチ回路24にはANDゲート251からのク
ロック信号CLK出力がないのでラッチ回路24はその
まま第2デイジツトの内容となっている。−方、へNO
ゲート252はクロック信号CLKを出力するのでカウ
ンタ26は+1される。
ロック信号CLK出力がないのでラッチ回路24はその
まま第2デイジツトの内容となっている。−方、へNO
ゲート252はクロック信号CLKを出力するのでカウ
ンタ26は+1される。
第4デイジツトの入力では同様にしてカウンタ26は2
となる。第5デイジツトの信号が入力されるとIN>Q
(−第2デイジツト)となるからこの入力信号がラッチ
されると共に、カウンタ26がリセットされる。第5デ
イジツトが最大であるので以後ラッチ回路24の内容は
変わらず、一方、カウンタ26は第6〜第11デイジツ
トの入力により6までカウントアツプする。
となる。第5デイジツトの信号が入力されるとIN>Q
(−第2デイジツト)となるからこの入力信号がラッチ
されると共に、カウンタ26がリセットされる。第5デ
イジツトが最大であるので以後ラッチ回路24の内容は
変わらず、一方、カウンタ26は第6〜第11デイジツ
トの入力により6までカウントアツプする。
デコーダ28はカウンタ26の内容をmとすると第(1
1−m)ディジットを1とする11ビツトの符号、この
場合は00001000000を出力する。
1−m)ディジットを1とする11ビツトの符号、この
場合は00001000000を出力する。
次に判定回路6への入力は、0■■■■■■■・・・の
ように第5デイジツトが入力されないから、ラッチ回路
24の内容は2番目に大きい第2デイジツトの信号とな
り、カウンタ26は9までカウントアツプされる。した
がってデコーダ28からは01oooooooooとな
る。このようにデコーダ27がラッチ回路24に記憶し
たディジットが1.他が0の11ビット符号となる。判
定回路7,8.及び9のラッチ回路24は第10.8及
び9デイジツトの信号を記憶し、カウンタ26の内容1
0夫々1,3゜2となる。従ってOR回路11からは判
定回路5,6゜7.8のデコーダ28出力の 0100
1001010が出力される。
ように第5デイジツトが入力されないから、ラッチ回路
24の内容は2番目に大きい第2デイジツトの信号とな
り、カウンタ26は9までカウントアツプされる。した
がってデコーダ28からは01oooooooooとな
る。このようにデコーダ27がラッチ回路24に記憶し
たディジットが1.他が0の11ビット符号となる。判
定回路7,8.及び9のラッチ回路24は第10.8及
び9デイジツトの信号を記憶し、カウンタ26の内容1
0夫々1,3゜2となる。従ってOR回路11からは判
定回路5,6゜7.8のデコーダ28出力の 0100
1001010が出力される。
第4図はイレージヤ符号判定回路の構成を示す。
図において30はプログラム・ロジック・アレイイ(P
LA)でありOR回路11出力 (Ml+ =(M(1,Ml 、Mz+ M39M4.
Ms。
LA)でありOR回路11出力 (Ml+ =(M(1,Ml 、Mz+ M39M4.
Ms。
M、・ Mり・Ms・ M9・ M Io )五が入力
され以下の論理演算をし、その結果ハイレベル信号Yを
出力する。
され以下の論理演算をし、その結果ハイレベル信号Yを
出力する。
Y=MG xMI xMz XM3
+Mt XM、xMI XM4
+Mt xM、xM4XM%
+Ma XMA XMS XMI。
+Ma XMs XM6 XM?
+ Ms X Mh X Mt X Ma+Mi、XM
? XMI XM9 +M、xM、xM、xM、。
? XMI XM9 +M、xM、xM、xM、。
+M6 XMI XMz
+M* XM I。
右辺第1〜8項はイレージヤ符号の規定の(1)に第9
項は同(2)、第10項は同(3)に相当する。
項は同(2)、第10項は同(3)に相当する。
この信号Y及びサブ同期信号SSSがNAN口回路32
に入力される。従ってNAND回路32出力はOR回路
11出力がイレージヤ符号である場合にはサブ同期信号
SSSに同期してローレベルとなリフリップフロップ3
1がリセットされる。フリップフロップ31のセット出
力Qはこのリセット時にのみローとなりセレクタ10を
判定回路9側に切り換える。
に入力される。従ってNAND回路32出力はOR回路
11出力がイレージヤ符号である場合にはサブ同期信号
SSSに同期してローレベルとなリフリップフロップ3
1がリセットされる。フリップフロップ31のセット出
力Qはこのリセット時にのみローとなりセレクタ10を
判定回路9側に切り換える。
本発明回路によれば第2図ら)に記す如く第2デイジツ
トが0であるにも拘らず第1,3デイジツトの1に移動
されて高いレベルとなり、第1Oデイジツトより大とな
っている場合はOR回路11出力は111000010
00となる。ところが、この4/11符号はイレージヤ
符号であるからセレクタIOは判定回路9側に切り換わ
り結局出力は10100001010と正しくなる。
トが0であるにも拘らず第1,3デイジツトの1に移動
されて高いレベルとなり、第1Oデイジツトより大とな
っている場合はOR回路11出力は111000010
00となる。ところが、この4/11符号はイレージヤ
符号であるからセレクタIOは判定回路9側に切り換わ
り結局出力は10100001010と正しくなる。
第5図は本発明の第2の回路のブロック図であり、この
回路は第1の回路の様に第4位と第5位を入れ替えても
なおイレージヤ符号であった場合に第3位と第5位とを
入れ替える様にしたものである。従ってこの例では第3
,4゜ 5位のディジットの信号をラッチする判定回路7゜8.
9のデコーダ28出力がセレクタ10を介してOR回路
11にあたえられる構成となっている。イレージヤ符号
判定回路12は正常時は判定回路7,8出力を選択し、
1回イレージヤを判定すると判定回路7,9出力を選択
し、OR回路11出力によって、2回目のイレージヤ判
定をすると判定回路8.9出力を選択する。
回路は第1の回路の様に第4位と第5位を入れ替えても
なおイレージヤ符号であった場合に第3位と第5位とを
入れ替える様にしたものである。従ってこの例では第3
,4゜ 5位のディジットの信号をラッチする判定回路7゜8.
9のデコーダ28出力がセレクタ10を介してOR回路
11にあたえられる構成となっている。イレージヤ符号
判定回路12は正常時は判定回路7,8出力を選択し、
1回イレージヤを判定すると判定回路7,9出力を選択
し、OR回路11出力によって、2回目のイレージヤ判
定をすると判定回路8.9出力を選択する。
第2図(C)に示すアナログ信号は第2図(b)のもの
と第2デイジツト第8デイジツトの大小が逆転している
例であり、1回目では第1.2.3のディジットがOR
回路11から出力されイレージヤと判定される。次に第
4,5位が入れ替えられて第1゜2.3.10デイジツ
トが出力されるがこれもイレージヤと判定される。次に
は第3,5位が入れ替えられ第1.3,8.10デイジ
ツトの10100001010が出力されて正しく判定
されることになる。
と第2デイジツト第8デイジツトの大小が逆転している
例であり、1回目では第1.2.3のディジットがOR
回路11から出力されイレージヤと判定される。次に第
4,5位が入れ替えられて第1゜2.3.10デイジツ
トが出力されるがこれもイレージヤと判定される。次に
は第3,5位が入れ替えられ第1.3,8.10デイジ
ツトの10100001010が出力されて正しく判定
されることになる。
第6図にこの場合のイレージヤ符号判定回路12の例を
示し、第4図同様のPLA30出力Yとクロック信号C
LKとを2入力とするANDゲート34の出力を計数す
るカウンタ33を設ける。このカウンタはサブ同期信号
SSSでリセットするものとし、その出力QがOの場合
にセレクタ10が判定回路7,8を、1の場合に判定回
路7,9を、2の場合に8゜9を選択するようにセレク
タ10を構成しておく。
示し、第4図同様のPLA30出力Yとクロック信号C
LKとを2入力とするANDゲート34の出力を計数す
るカウンタ33を設ける。このカウンタはサブ同期信号
SSSでリセットするものとし、その出力QがOの場合
にセレクタ10が判定回路7,8を、1の場合に判定回
路7,9を、2の場合に8゜9を選択するようにセレク
タ10を構成しておく。
なお、本発明は4/11符号に限らず一般にに/n符号
に適用できることは言うまでもない。
に適用できることは言うまでもない。
以上の如き本発明による場合はアナログ信号のレベル変
動に依らず正確に2進データ判定、更には復号が可能と
なり、これを光磁気ディスクの再生等に用いる場合は高
信頬性のディスクドライブを提供しているのである。
動に依らず正確に2進データ判定、更には復号が可能と
なり、これを光磁気ディスクの再生等に用いる場合は高
信頬性のディスクドライブを提供しているのである。
第1図は本発明の第1の回路のブロック図、第2図は動
作説明のための波形図、第3図はディジット判定回路の
ブロック図、第4図はイレージヤ符号判定回路のブロッ
ク図−第5図は本発明の第2の回路のブロック図、第6
図はそのイレージヤ符号判定回路のブロック図、第7図
は4/11符号を示す図面である。 4・・・A/D変県器 5,6・・・9・・・“I I
Iディジット判定回路 1,2・・・イレージヤ符号判
定回路 10・・・セレクタ 11・・・OR回路なお
、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
作説明のための波形図、第3図はディジット判定回路の
ブロック図、第4図はイレージヤ符号判定回路のブロッ
ク図−第5図は本発明の第2の回路のブロック図、第6
図はそのイレージヤ符号判定回路のブロック図、第7図
は4/11符号を示す図面である。 4・・・A/D変県器 5,6・・・9・・・“I I
Iディジット判定回路 1,2・・・イレージヤ符号判
定回路 10・・・セレクタ 11・・・OR回路なお
、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (2)
- (1)nビット中のkビットが有意、(n−k)ビット
が無意であるnビット符号の列の情報を有するアナログ
信号から元のnビット符号を判定する回路であって、 前記アナログ信号を所定周期でサンプリン グしてアナログ/ディジタル変換するアナログ/ディジ
タル変換器と、順次入力される値のうちの最大値をラッ
チし、該最大値以外の値を出力し、一連の入力値のうち
の最大値の入力順序を特定する有意ディジット判定回路
(k+1)個とを備え、 該(k+1)個の有意ディジット判定回路 は縦続接続されており、前記アナログ/ディジタル変換
器のサンプル値出力はこの継続回路の初段に入力されて
おり、 更にn個の連続するサンプル値につき該縦 続回路の初段〜k段の有意ディジット判定回路が特定し
ている入力順序に関連してnビット符号を生成する手段
と、 該nビット符号が予め定めてあるイレージ ャ符号であるか否かを判定する手段と、イレージャ符号
であると判定された場合に前記縦続回路の初段〜(k−
1)段及び第(k+1)段の有意ディジット判定回路が
特定している入力順序に関連してnビット符号を生成す
る手段とを具備することを特徴とする2進データの判定
回路。 - (2)nビット中のkビットが有意、(n−k)ビット
が無意であるnビット符号の列の情報を有するアナログ
信号から元のnビット符号を判定する回路であって、 前記アナログ信号を所定周期でサンプリン グしてアナログ/ディジタル変換するアナログ/ディジ
タル変換器と、順次入力される値のうちの最大値をラッ
チし、該最大値以外の値を出力し、一連の入力値のうち
の最大値の入力順序を特定する有意ディジット判定回路
(k+1)個とを備え、 該(k+1)個の有意ディジット判定回路 は縦続接続されており、前記アナログ/ディジタル変換
器のサンプル値出力はこの継続回路の初段に入力されて
おり、 更にn個の連続するサンプル値につき該継 続回路の初段〜k段の有意ディジット判定回路が特定し
ている入力順序に関連してnビット符号を生成する手段
と、 該nビット符号が予め定めてあるイレージ ャ符号であるか否かを判定する手段と、イレージャ符号
であると判定された場合に前記縦続回路の初段〜(k−
1)段及び第(k+1)段の有意ディジット判定回路が
特定している入力順序に関連してnビット符号を生成す
る手段と、 該nビット符号が予め定めてあるイレージ ャ符号であるか否かを判定する手段と、イレージャ符号
であると判定された場合に前記縦続回路の初段〜(k−
2)段並びに第k段及び第(k+1)段の有意ディジッ
ト判定回路が特定している入力順序に関連してnビット
符号を生成する手段とを具備することを特徴とする2進
データの判定回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2615889A JPH0734544B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 2進データの判定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2615889A JPH0734544B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 2進データの判定回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02206227A true JPH02206227A (ja) | 1990-08-16 |
JPH0734544B2 JPH0734544B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=12185741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2615889A Expired - Fee Related JPH0734544B2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 2進データの判定回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0734544B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2684255A1 (fr) * | 1991-11-27 | 1993-05-28 | Sagem | Terminal telematique a debit utile d'informations plein ou reduit. |
-
1989
- 1989-02-03 JP JP2615889A patent/JPH0734544B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2684255A1 (fr) * | 1991-11-27 | 1993-05-28 | Sagem | Terminal telematique a debit utile d'informations plein ou reduit. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0734544B2 (ja) | 1995-04-12 |
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