JPH02103479A - 静電気放電耐圧の試験方法 - Google Patents
静電気放電耐圧の試験方法Info
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- JPH02103479A JPH02103479A JP25774488A JP25774488A JPH02103479A JP H02103479 A JPH02103479 A JP H02103479A JP 25774488 A JP25774488 A JP 25774488A JP 25774488 A JP25774488 A JP 25774488A JP H02103479 A JPH02103479 A JP H02103479A
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
電子部品の静電気放電時における耐圧試験方法に関し、
電圧印加毎にパルス波形により自動的にサンプルの破壊
の有無を判定することを目的とし、静電気放電耐圧測定
器に接続されるサンプルの両端に電圧／時間波形検出器
を接続し、印加パルスの時間波形と基準波形を波形上の
複数点において比較するマイクロコンピュータと、電圧
印加毎の初期測定値を記憶する入出力装置と、サンプル
の破壊を検出した時に上記静電気放電耐圧測定器の動作
を停止する機能と、電源電圧を段階的に制御する機能と
を備え、 該マイクロコンピュータの制御により、電圧印加毎にパ
ルスの時間波形を毎回モニタし、初期値に対する波形の
変化を検出して上記サンプルの破壊の有無を判定するよ
う構成する。
の有無を判定することを目的とし、静電気放電耐圧測定
器に接続されるサンプルの両端に電圧／時間波形検出器
を接続し、印加パルスの時間波形と基準波形を波形上の
複数点において比較するマイクロコンピュータと、電圧
印加毎の初期測定値を記憶する入出力装置と、サンプル
の破壊を検出した時に上記静電気放電耐圧測定器の動作
を停止する機能と、電源電圧を段階的に制御する機能と
を備え、 該マイクロコンピュータの制御により、電圧印加毎にパ
ルスの時間波形を毎回モニタし、初期値に対する波形の
変化を検出して上記サンプルの破壊の有無を判定するよ
う構成する。
本発明は、電子部品の静電気放電時における耐圧試験方
法に関する。
法に関する。
電子部品のサンプルを抜き取って耐圧破壊試験するため
、従来から静電気放電耐圧測定器が使用されている。静
電気放電耐圧測定器はＭＩＬ規格に合わせて規定された
測定器で、高圧の電源電圧を電解コンデンサに充電し、
水根リレーのスイッチ動作によりコンデンサの充電電圧
をサンプルに放電して、サンプルの耐圧試験を行ってサ
ンプルの最高非破壊電圧即ち耐圧を算出する。
、従来から静電気放電耐圧測定器が使用されている。静
電気放電耐圧測定器はＭＩＬ規格に合わせて規定された
測定器で、高圧の電源電圧を電解コンデンサに充電し、
水根リレーのスイッチ動作によりコンデンサの充電電圧
をサンプルに放電して、サンプルの耐圧試験を行ってサ
ンプルの最高非破壊電圧即ち耐圧を算出する。
静電気放電耐圧はＥＳＤ耐圧（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｓｔａ
ｔｉｃＤｉｓｃｈａｒｇｅ ５ｅｎｓｉｔｉｖｉｔｙ）
と呼ばれ、電子部品の特性を規定するために随時測定す
る必要がある。このため電子部品のサンプルを抜き出し
て操り返し高圧パルスを印加してＥＳＤ耐圧試験を行っ
ている。本発明は上記ＥＳＤ耐圧試験を簡単に行う方法
を提供するものである。
ｔｉｃＤｉｓｃｈａｒｇｅ ５ｅｎｓｉｔｉｖｉｔｙ）
と呼ばれ、電子部品の特性を規定するために随時測定す
る必要がある。このため電子部品のサンプルを抜き出し
て操り返し高圧パルスを印加してＥＳＤ耐圧試験を行っ
ている。本発明は上記ＥＳＤ耐圧試験を簡単に行う方法
を提供するものである。
従来のＥＳＤ耐圧試験方法を第５図に示す。図において
、ｌはＥＳＤ耐圧測定器、２は試験用のサンプル、８は
電圧／電流特性測定器（ブラウン管）、９は切換スイッ
チを示す。
、ｌはＥＳＤ耐圧測定器、２は試験用のサンプル、８は
電圧／電流特性測定器（ブラウン管）、９は切換スイッ
チを示す。
ＥＳＤ耐圧耐圧測定器布販のＭＩＬ規格により規定され
た測定器で、可変高圧電源Ｅと電解コンデンサＣと水根
リレースイッチＳと負荷回路用抵抗Ｒとから構成され、
連続的に変えられる高圧電源ＩＥで電解コンデンサＣを
充電し、水銀リレースイッチＳを瞬間的に測定回数オン
オフすることにより、電解コンデンサＣに充電された高
電圧を試験用の負荷サンプル２に印加する。
た測定器で、可変高圧電源Ｅと電解コンデンサＣと水根
リレースイッチＳと負荷回路用抵抗Ｒとから構成され、
連続的に変えられる高圧電源ＩＥで電解コンデンサＣを
充電し、水銀リレースイッチＳを瞬間的に測定回数オン
オフすることにより、電解コンデンサＣに充電された高
電圧を試験用の負荷サンプル２に印加する。
負荷回路には抵抗Ｒと直列に切換スイッチ９を設け、５
回印加終了後に手動切換によりサンプル２を電圧／電流
特性測定器８に接続換えする。電圧／電流特性測定器８
は（ブラウン管等の）カーブトレーサで、入力電圧に対
する出力電流の特性を表示する。第６図に電圧／電流検
出特性の一例を示す。図はサンプルとしてトランジスタ
或いはダイオード、ＩＣ等を使用した場合の一例でカー
ブ特性を表す。このカーブはサンプル２が非破壊ならば
、印加前の実線と同じ軌跡をたどる。段階的に電源電圧
Ｅを変えてゆきテストを繰り返し、このカーブが点線の
ように電圧印加前と変った時このサンプル２は破壊した
と判定する。例えば、点線■はショート破壊、点線■は
劣化破壊、点線■はオープン破壊した時の状態を示す。
回印加終了後に手動切換によりサンプル２を電圧／電流
特性測定器８に接続換えする。電圧／電流特性測定器８
は（ブラウン管等の）カーブトレーサで、入力電圧に対
する出力電流の特性を表示する。第６図に電圧／電流検
出特性の一例を示す。図はサンプルとしてトランジスタ
或いはダイオード、ＩＣ等を使用した場合の一例でカー
ブ特性を表す。このカーブはサンプル２が非破壊ならば
、印加前の実線と同じ軌跡をたどる。段階的に電源電圧
Ｅを変えてゆきテストを繰り返し、このカーブが点線の
ように電圧印加前と変った時このサンプル２は破壊した
と判定する。例えば、点線■はショート破壊、点線■は
劣化破壊、点線■はオープン破壊した時の状態を示す。
したがって従来のＥＳＤ耐圧測定方法では、電′ａ電圧
Ｅの切換えも、切換スイッチ９の切換えも手動で行い、
電圧／電流特性測定器８による判定も手動で行うため、
作業工数と時間がかかっていた。
Ｅの切換えも、切換スイッチ９の切換えも手動で行い、
電圧／電流特性測定器８による判定も手動で行うため、
作業工数と時間がかかっていた。
本発明はマイクロコンピュータの使用により、スイッチ
切換え及び測定方法を自動化して試験時間の短縮、作業
工数の削減等を図ることを目的とする。
切換え及び測定方法を自動化して試験時間の短縮、作業
工数の削減等を図ることを目的とする。
本発明の静電気放電耐圧の試験方法を第１図に示す。図
において、１は静電気放電耐圧（Ｅ Ｓ Ｄ）測定器、
２は該静電気放電耐圧測定器の測定端子に接続される試
験用サンプル、３は該試験用サンプルの両端に接続され
る電圧／時間波形検出器、４は印加パルスの時間波形と
基準波形を波形上の複数点において比較するマイクロコ
ンピュータ、５は電圧印加毎の初期測定値を記憶する入
出力装置、６はサンプルの破壊を検出した時に上記静電
気放電耐圧測定器ｌの水銀リレースイッチＳを制御する
機能、７は上記静電気放電耐圧測定器１の電源電圧Ｅを
段階的に制御する機能を示す。
において、１は静電気放電耐圧（Ｅ Ｓ Ｄ）測定器、
２は該静電気放電耐圧測定器の測定端子に接続される試
験用サンプル、３は該試験用サンプルの両端に接続され
る電圧／時間波形検出器、４は印加パルスの時間波形と
基準波形を波形上の複数点において比較するマイクロコ
ンピュータ、５は電圧印加毎の初期測定値を記憶する入
出力装置、６はサンプルの破壊を検出した時に上記静電
気放電耐圧測定器ｌの水銀リレースイッチＳを制御する
機能、７は上記静電気放電耐圧測定器１の電源電圧Ｅを
段階的に制御する機能を示す。
上記静電気放電耐圧測定器１の水銀リレースイッチＳを
制御する機能６及び電源電圧Ｅを段階的に制御する機能
７は、マイクロコンピュータ４の制御により自動的に行
われる。また電圧／時間波形検出器３はオッシロスコー
プやブラウン管でＥＳＤ破壊を検出する装置である。な
お入出力装置５は波形を入れて置くためのデータベース
で、ＲＯＭ、ＩＣ又は磁気ディスク等よりなる。
制御する機能６及び電源電圧Ｅを段階的に制御する機能
７は、マイクロコンピュータ４の制御により自動的に行
われる。また電圧／時間波形検出器３はオッシロスコー
プやブラウン管でＥＳＤ破壊を検出する装置である。な
お入出力装置５は波形を入れて置くためのデータベース
で、ＲＯＭ、ＩＣ又は磁気ディスク等よりなる。
試験用サンプル２を静電気放電耐圧測定器１の測定端子
に接続し、電圧／時間波形検出器３で波形を検出する。
に接続し、電圧／時間波形検出器３で波形を検出する。
第２図に電圧／時間波形検出器３の波形のモニタの一例
を示す。図において、■は正常な波形、■はＥＳＤ破壊
によりインピーダンスが変化した波形とすると、■の正
常時の波形と■の異常時の波形とを比較した時、同一電
圧に対する時間が異なってくる。したがって初期値にお
ける電圧／時間特性と測定時における電圧／時間特性が
異なれば、サンプル２はその電源電圧に対して破壊され
たと判定される。この時間差をマイクロコンピュータ４
で検出してＥＳＤ耐圧を判定し、静電気放電耐圧測定器
１の水銀リレースイッチ６を制御して測定を停止する。
を示す。図において、■は正常な波形、■はＥＳＤ破壊
によりインピーダンスが変化した波形とすると、■の正
常時の波形と■の異常時の波形とを比較した時、同一電
圧に対する時間が異なってくる。したがって初期値にお
ける電圧／時間特性と測定時における電圧／時間特性が
異なれば、サンプル２はその電源電圧に対して破壊され
たと判定される。この時間差をマイクロコンピュータ４
で検出してＥＳＤ耐圧を判定し、静電気放電耐圧測定器
１の水銀リレースイッチ６を制御して測定を停止する。
なお各段階毎の電源電圧已に対する初期値の電圧／時間
特性は入出力装置５に記憶しておき、測定段階における
電圧／時間特性と比較する。
特性は入出力装置５に記憶しておき、測定段階における
電圧／時間特性と比較する。
本発明の実施例を第１図の原理構成図により説明する。
図において、電？Ｒ電圧Ｅはマイクロコンピュータ４か
らの制御機能７により段階的に制御される。電源電圧は
トランスにより１００Ｖの電源電圧を昇圧し変圧して送
出する。水銀リレースイッチＳはマイクロコンピュータ
４からの制御機能６により、自動的に電解コンデンサＣ
の充電及び放電を順次行う。
らの制御機能７により段階的に制御される。電源電圧は
トランスにより１００Ｖの電源電圧を昇圧し変圧して送
出する。水銀リレースイッチＳはマイクロコンピュータ
４からの制御機能６により、自動的に電解コンデンサＣ
の充電及び放電を順次行う。
次に電圧／時間波形検出器３における電圧と時間の測定
は、電圧に４段階の判定基準を設けて時間測定を行う。
は、電圧に４段階の判定基準を設けて時間測定を行う。
第３図に印加電圧の判定基準点の実施例を示す。図にお
いて、電源電圧Ｖｐを１００ＯＶとし、判定基準点を１
００χ及び立上がりと立下がりの各々の９０χ、５（１
％、１０χの合計７点として基準電圧νｐに対する時間
Ｔｐを求めると、電圧ν、。、 ｖｓｏ、 ｖ、。
いて、電源電圧Ｖｐを１００ＯＶとし、判定基準点を１
００χ及び立上がりと立下がりの各々の９０χ、５（１
％、１０χの合計７点として基準電圧νｐに対する時間
Ｔｐを求めると、電圧ν、。、 ｖｓｏ、 ｖ、。
に対する時間と初期値における電圧／時間特性と上記７
点で比較して、電圧／時間特性の変化を検出する。
点で比較して、電圧／時間特性の変化を検出する。
次に実施例におけるマイクロコンピュータの制御フロー
チャートを第４図に示す。図において、（１１電源電圧
Ｅを段階的制御機能７により電圧Ｖｐを設定する。
チャートを第４図に示す。図において、（１１電源電圧
Ｅを段階的制御機能７により電圧Ｖｐを設定する。
（２）水銀スイッチ制御機能６により静電気放電耐圧試
験のテストをスタートする。
験のテストをスタートする。
（３） テスト電圧Ｖｐに対する測定値Ｔｐ’ （
７点）を検出し、予め入出力装置６に格納された初期値
’ｒｐ（７点）と比較する。
７点）を検出し、予め入出力装置６に格納された初期値
’ｒｐ（７点）と比較する。
（４）測定結果が誤差内または同一であればテストを続
行する。（上記テストを５回繰り返す）（５）テスト０
にであれば、次の電圧ｖｐ１を設定してスタートする。
行する。（上記テストを５回繰り返す）（５）テスト０
にであれば、次の電圧ｖｐ１を設定してスタートする。
（６）前記動作を繰り返すこ、とにより、順次高い電源
電圧を設定してテストを行う。
電圧を設定してテストを行う。
（７）設定された初期値７ｐ１ と測定時の測定結果７
ｐ１″が異なる、或いはその他の判定基準点において比
較して規定範囲外であると判定すれば一つ前の設定値ν
ｐを静電気放電耐圧と判定する。
ｐ１″が異なる、或いはその他の判定基準点において比
較して規定範囲外であると判定すれば一つ前の設定値ν
ｐを静電気放電耐圧と判定する。
（８）水銀スイ・ソチ制御機能６により静電気放電耐圧
試験のテストをストップする。
試験のテストをストップする。
本発明によれば、電子部品のＥＳＤ耐圧試験の際、従来
のようにスイッチを切換えたり、測定装置により部品の
特性を直接測定する必要がなく、作業工数の削減及び時
間短縮を図れる。また、電流に敏感な種類のサンプルの
場合でも、特性確認のためにサンプルに電流を通す必要
がな（、サンプルを誤って劣化させる危険性がなく、正
確な耐圧値を測定できる。
のようにスイッチを切換えたり、測定装置により部品の
特性を直接測定する必要がなく、作業工数の削減及び時
間短縮を図れる。また、電流に敏感な種類のサンプルの
場合でも、特性確認のためにサンプルに電流を通す必要
がな（、サンプルを誤って劣化させる危険性がなく、正
確な耐圧値を測定できる。
第１図は本発明の原理構成図、第２図は電圧／時間波形
検出特性図、第３図は実施例の印加電圧判定基準点、第
４図は実施例の制御フローチャート、第５図は従来例の
測定構成図、第６図は電圧／電流特性検出測定図を示す
。 図において、１は静電気放電耐圧測定器、２は試験用サ
ンプル、３は電圧／時間波形検出器、４はマイクロコン
ピュータ、５は入出力装置、６は水銀リレースイッチ制
御機能、７は電源電圧制御機能、８は電圧／電流特性測
定器、９は切換スイッチを示す。なお（１）〜（８）は
制御フローチャートのステップ番号を示す。 実施例の制御フローチャート 第 図
検出特性図、第３図は実施例の印加電圧判定基準点、第
４図は実施例の制御フローチャート、第５図は従来例の
測定構成図、第６図は電圧／電流特性検出測定図を示す
。 図において、１は静電気放電耐圧測定器、２は試験用サ
ンプル、３は電圧／時間波形検出器、４はマイクロコン
ピュータ、５は入出力装置、６は水銀リレースイッチ制
御機能、７は電源電圧制御機能、８は電圧／電流特性測
定器、９は切換スイッチを示す。なお（１）〜（８）は
制御フローチャートのステップ番号を示す。 実施例の制御フローチャート 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電子部品の静電気放電時における耐圧試験方法において
、 静電気放電耐圧測定器（１）に接続される試験用サンプ
ル（２）の両端に電圧／時間波形検出器（３）を接続し
、印加パルスの時間波形と基準波形を波形上の複数点に
おいて比較するマイクロコンピュータ（４）と、電圧印
加毎の初期測定値を記憶する入出力装置（５）と、サン
プルの破壊を検出した時に上記静電気放電耐圧測定器（
１）の動作を停止する機能（６）と、、電源電圧を段階
的に制御する機能（７）とを備え、 該マイクロコンピュータ（４）の制御により、電圧印加
毎にパルスの時間波形を毎回モニタし、初期値に対する
波形の変化を検出して上記サンプルの破壊の有無を判定
することを特徴とする静電気放電耐圧の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25774488A JPH02103479A (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 静電気放電耐圧の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25774488A JPH02103479A (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 静電気放電耐圧の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02103479A true JPH02103479A (ja) | 1990-04-16 |
Family
ID=17310499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25774488A Pending JPH02103479A (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 静電気放電耐圧の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02103479A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030042920A (ko) * | 2001-11-26 | 2003-06-02 | 현대자동차주식회사 | 자동차용 도어의 힌지핀 |
| JP2007239838A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Oiles Ind Co Ltd | 鍔付円筒軸受ブッシュ及びその製造方法並びに該鍔付円筒軸受ブッシュを用いたヒンジ構造 |
| JP2008007984A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Sando Kogyosho:Kk | 汎用ヒンジ |
| JP2008014058A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Sando Kogyosho:Kk | トルク調節可能なヒンジ |
| JP2009171293A (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-30 | Nuflare Technology Inc | 標準パルス発生器および標準パルス発生方法 |
| JP2016138820A (ja) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 三菱電機株式会社 | 静電気耐圧試験方法および静電気耐圧試験装置 |
-
1988
- 1988-10-13 JP JP25774488A patent/JPH02103479A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030042920A (ko) * | 2001-11-26 | 2003-06-02 | 현대자동차주식회사 | 자동차용 도어의 힌지핀 |
| JP2007239838A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Oiles Ind Co Ltd | 鍔付円筒軸受ブッシュ及びその製造方法並びに該鍔付円筒軸受ブッシュを用いたヒンジ構造 |
| JP2008007984A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Sando Kogyosho:Kk | 汎用ヒンジ |
| JP2008014058A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Sando Kogyosho:Kk | トルク調節可能なヒンジ |
| JP2009171293A (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-30 | Nuflare Technology Inc | 標準パルス発生器および標準パルス発生方法 |
| JP2016138820A (ja) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 三菱電機株式会社 | 静電気耐圧試験方法および静電気耐圧試験装置 |
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