JPH01305360A - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
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- JPH01305360A JPH01305360A JP13557588A JP13557588A JPH01305360A JP H01305360 A JPH01305360 A JP H01305360A JP 13557588 A JP13557588 A JP 13557588A JP 13557588 A JP13557588 A JP 13557588A JP H01305360 A JPH01305360 A JP H01305360A
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、サンプルに試薬を反応させこの反応液内の特
定成分の測定を行う自動化学分析装置に関する。
定成分の測定を行う自動化学分析装置に関する。
(従来の技術)
例えば人体から採取した血清等をサンプル(試料)とし
て用いこれに所望の試薬を反応させて、この反応液内の
特定成分の濃度又は電解質量を測定して所望項目の化学
分析を行うようにした自動化学分析装置が知られている
。第4図はこのような分析装置の構成の一例を示す概略
平面図で、分析装置は大別して分析すべきサンプルを保
持して後段に供給するサンプラ部7と、サンプラ部7か
ら供給されたサンプルを所望倍率に希釈する希釈ライン
部8と、希釈ライン部8から供給されたサンプルに所望
の試薬を反応させこの反応液内の特定成分のamを例え
ば比色法により測定する反応ライン部9とから構成され
ている。
て用いこれに所望の試薬を反応させて、この反応液内の
特定成分の濃度又は電解質量を測定して所望項目の化学
分析を行うようにした自動化学分析装置が知られている
。第4図はこのような分析装置の構成の一例を示す概略
平面図で、分析装置は大別して分析すべきサンプルを保
持して後段に供給するサンプラ部7と、サンプラ部7か
ら供給されたサンプルを所望倍率に希釈する希釈ライン
部8と、希釈ライン部8から供給されたサンプルに所望
の試薬を反応させこの反応液内の特定成分のamを例え
ば比色法により測定する反応ライン部9とから構成され
ている。
サンプラ部7には予め所望のサンプルが収納された複数
のサンプル容器10がセットされており、このサンプル
容器10は一定のサイクルで例えば矢印方向に間欠移動
される。サンプラ部7の周囲にはサンプリングアーム1
1が設けられておりこのアーム11によってサンプル容
器1Qから所望のサンプルのサンプリングが行われて、
希釈ライン部8の希釈容器12に分注される。希釈ライ
ン゛ 部8は希釈容器12のサンプルを測定項目に
応じた倍率に希釈しベルトコンベア等によって一定のサ
イクルで間欠移動させる。
のサンプル容器10がセットされており、このサンプル
容器10は一定のサイクルで例えば矢印方向に間欠移動
される。サンプラ部7の周囲にはサンプリングアーム1
1が設けられておりこのアーム11によってサンプル容
器1Qから所望のサンプルのサンプリングが行われて、
希釈ライン部8の希釈容器12に分注される。希釈ライ
ン゛ 部8は希釈容器12のサンプルを測定項目に
応じた倍率に希釈しベルトコンベア等によって一定のサ
イクルで間欠移動させる。
希釈ライン部8の周囲には反応ライン部9が設けられ、
必要に応じて複数個が配置される。−例として9a乃至
9dの4個が配置された例で示している。希釈ライン部
9の周囲にはサンプル分注アーム13 (13a、13
b)がδΩけらレテオリ、これら分注アーム13によっ
て希釈容器12から所望のサンプルが吸引されて所望の
反応ライン部9の反応容器14に分注される。
必要に応じて複数個が配置される。−例として9a乃至
9dの4個が配置された例で示している。希釈ライン部
9の周囲にはサンプル分注アーム13 (13a、13
b)がδΩけらレテオリ、これら分注アーム13によっ
て希釈容器12から所望のサンプルが吸引されて所望の
反応ライン部9の反応容器14に分注される。
第5図は一つの反応ライン部9aの構成を示すもので、
例えば円形の恒温槽15の恒温水16内には反応容器1
4が配置され、図示しない駆動源によって一定のサイク
ルで例えば矢印方向に間欠移動される。恒温槽15の周
囲のB位置には試薬分注アーム17が設けられ、C位置
には撹拌子18が設けられ、D位置には洗浄具22が設
けられている。また反応容器14の移動経路の途中位置
には各々反応容器14の両側に配置された光源19及び
光検出器20を含む測定系21が設けられている。各反
応容器14は移動停止状態でA位置において前記分注ア
ーム13aによってサンプルの分注が行われた後、B位
置に対向した反応容器14には試薬分注アーム17によ
って所望の試薬が分注され、C位置に対向した反応容器
14は撹拌子18によってサンプルと試薬とによって形
成され反応液の撹拌が行われる。また測定系21を移動
する反応容器14に対して光照射が行われ反応液内の特
定成分の6度が例えば比色法によって測定されることに
より所望項目の化学分析が行われる。又は希釈ライン部
8の上方位置には図示しない電解質測定電極(イオン選
択性電(※)が設けられ、この電極が下降して希釈容器
12のサンプルを吸引することにより反応液内の特定成
分の電解質母が測定可能に構成されている。測定が終了
した反応容器14はD位置において洗浄具22によって
洗浄、乾燥が行われた後、A位置に移動して再び分注ア
ーム13aによってサンプル分注が行われて以後同様な
動作が繰返される。
例えば円形の恒温槽15の恒温水16内には反応容器1
4が配置され、図示しない駆動源によって一定のサイク
ルで例えば矢印方向に間欠移動される。恒温槽15の周
囲のB位置には試薬分注アーム17が設けられ、C位置
には撹拌子18が設けられ、D位置には洗浄具22が設
けられている。また反応容器14の移動経路の途中位置
には各々反応容器14の両側に配置された光源19及び
光検出器20を含む測定系21が設けられている。各反
応容器14は移動停止状態でA位置において前記分注ア
ーム13aによってサンプルの分注が行われた後、B位
置に対向した反応容器14には試薬分注アーム17によ
って所望の試薬が分注され、C位置に対向した反応容器
14は撹拌子18によってサンプルと試薬とによって形
成され反応液の撹拌が行われる。また測定系21を移動
する反応容器14に対して光照射が行われ反応液内の特
定成分の6度が例えば比色法によって測定されることに
より所望項目の化学分析が行われる。又は希釈ライン部
8の上方位置には図示しない電解質測定電極(イオン選
択性電(※)が設けられ、この電極が下降して希釈容器
12のサンプルを吸引することにより反応液内の特定成
分の電解質母が測定可能に構成されている。測定が終了
した反応容器14はD位置において洗浄具22によって
洗浄、乾燥が行われた後、A位置に移動して再び分注ア
ーム13aによってサンプル分注が行われて以後同様な
動作が繰返される。
このような分析装置において正確な測定データを得るに
は反応容器14内の反応液の反応が安定に行われること
が重要な要件となり、このために反応容器14は第6図
に示すように恒温槽15の恒温水16内に浸漬されて一
定温度に例えば37°Cに恒温することが行われている
。恒温水16は電源1からヒータ24に通電されること
によって加熱されポンプ25により流路26を介して恒
温槽15内を循環されるようになっている。
は反応容器14内の反応液の反応が安定に行われること
が重要な要件となり、このために反応容器14は第6図
に示すように恒温槽15の恒温水16内に浸漬されて一
定温度に例えば37°Cに恒温することが行われている
。恒温水16は電源1からヒータ24に通電されること
によって加熱されポンプ25により流路26を介して恒
温槽15内を循環されるようになっている。
ここで各恒温槽9a乃至9dに対する通電は第7図に示
すように共通の電源1によって行われ、同一条件で各恒
温槽9a乃至9dの各ヒータに電流の供給が行われるよ
うに構成されている。第8図はこのような各恒温槽9a
7”l至9dに対して供給されるヒータ電流の変化を示
すもので、電源投入時(1=0)に最大電流(100%
)が供給されこれによって恒温水16の温度が上昇する
が、−度水温が上昇するとヒータ電流は徐々に減少し例
えば59程度で最大電流の50%に減少し、この後はざ
らに減少して20%程度で安定状態に維持される。この
安定状態では恒温水16は略所望値例えば前記したよう
な37°Cに保たれることになる。
すように共通の電源1によって行われ、同一条件で各恒
温槽9a乃至9dの各ヒータに電流の供給が行われるよ
うに構成されている。第8図はこのような各恒温槽9a
7”l至9dに対して供給されるヒータ電流の変化を示
すもので、電源投入時(1=0)に最大電流(100%
)が供給されこれによって恒温水16の温度が上昇する
が、−度水温が上昇するとヒータ電流は徐々に減少し例
えば59程度で最大電流の50%に減少し、この後はざ
らに減少して20%程度で安定状態に維持される。この
安定状態では恒温水16は略所望値例えば前記したよう
な37°Cに保たれることになる。
(発明が解決しようとする課題)
ところで従来の分析装置では、複数の恒温槽に対して同
時に電源投入を行うと瞬間的に大電流を供給しなければ
ならないので電源容量が大きくなるという問題がある。
時に電源投入を行うと瞬間的に大電流を供給しなければ
ならないので電源容量が大きくなるという問題がある。
例えば4個の恒温槽を設けた場合には電源投入時は瞬間
的に個々の最大電流の4倍の電流を供給しなければなら
なくなり、これに耐えるだけの定格の電源が必要となる
のでコストアップが避けられなくなる。
的に個々の最大電流の4倍の電流を供給しなければなら
なくなり、これに耐えるだけの定格の電源が必要となる
のでコストアップが避けられなくなる。
本発明は以上のような問題に対処してなされたもので、
全ての恒温槽に対して同時に電源投入を行うことなく必
要な動作が行われるようにした自動化学分析装置を提供
することを目的とするものである。
全ての恒温槽に対して同時に電源投入を行うことなく必
要な動作が行われるようにした自動化学分析装置を提供
することを目的とするものである。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明は、各々の単位モジュ
ールに供給される電流を検出する電流検出手段と、或る
単位モジュールに供給された電流が所定値以下になった
とぎ他の単位モジュールに対して電流供給を開始させる
電流供給手段とを備えるようにしたものである。
ールに供給される電流を検出する電流検出手段と、或る
単位モジュールに供給された電流が所定値以下になった
とぎ他の単位モジュールに対して電流供給を開始させる
電流供給手段とを備えるようにしたものである。
(作 用)
恒温槽のような単位モジュールが複数個設けられた場合
、先ず或る単位モジュールに対してのみ電流が供給され
この電流が所定値以下になったとき他の単位モジュール
に対して電流供給が開始され、以下その他の単位モジュ
ールに対しても同様な動作が繰返される。このような電
流供給方法によれば複数の単位モジュールに同時に電流
供給が行われるのでなく、各単位モジュールに時間差を
設けてシーケンス制御により順次電流が供給されるので
、必要とする電流容量は最大の場合でも各単位モジュー
ルの最大電流の和よりも小さくなる。従って電源容量の
定格を小さくすることができるのでコストアップを避け
ることができる。
、先ず或る単位モジュールに対してのみ電流が供給され
この電流が所定値以下になったとき他の単位モジュール
に対して電流供給が開始され、以下その他の単位モジュ
ールに対しても同様な動作が繰返される。このような電
流供給方法によれば複数の単位モジュールに同時に電流
供給が行われるのでなく、各単位モジュールに時間差を
設けてシーケンス制御により順次電流が供給されるので
、必要とする電流容量は最大の場合でも各単位モジュー
ルの最大電流の和よりも小さくなる。従って電源容量の
定格を小さくすることができるのでコストアップを避け
ることができる。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明実施例を説明する。
第1図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示すブロ
ック図で、電源1に対してこれから単位モジュールとし
て例えば4個の恒温槽5a乃至5dから或る恒温槽部5
に電流が供給可能に接続されている。各恒温槽5a乃至
5dに対してはまた電流検出部3a乃至3d及びスイツ
ヂ部4a乃至4dが直列に接続されると共に、電源1に
は主電流検出部2が接続されている。またマイクロプロ
セッサ等から或る制御部6に対して主電流検出部2、電
流検出部3(3a乃至3d)、スイッチ部4(4a乃至
4d)が接続され、制御部6はこれ等各部の制御動作を
行うように構成されている。
ック図で、電源1に対してこれから単位モジュールとし
て例えば4個の恒温槽5a乃至5dから或る恒温槽部5
に電流が供給可能に接続されている。各恒温槽5a乃至
5dに対してはまた電流検出部3a乃至3d及びスイツ
ヂ部4a乃至4dが直列に接続されると共に、電源1に
は主電流検出部2が接続されている。またマイクロプロ
セッサ等から或る制御部6に対して主電流検出部2、電
流検出部3(3a乃至3d)、スイッチ部4(4a乃至
4d)が接続され、制御部6はこれ等各部の制御動作を
行うように構成されている。
電源1からの電流は主電流検出部2.電流検出部3、ス
イッチ部4を介して各恒温槽5a乃至5dに供給可能に
構成され、主電流検出部2は回路の全電流を検出する。
イッチ部4を介して各恒温槽5a乃至5dに供給可能に
構成され、主電流検出部2は回路の全電流を検出する。
また各恒温槽5a乃至5dに接続された各電流検出部3
a乃至3dは個々の恒温槽に供給される電流を検出する
。電源1の投入開始前は各スイッチ部4a乃至4dがオ
フ状態に制御されている。各恒湿槽5a乃至5dは第8
図に示されるような特性を有している。各恒温槽5a乃
至5dに対する電源投入は同時ではなく、時間差をε2
けて順次電流が供給されるようなシーケンス制御が行わ
れる。全恒温槽5a乃至5dに電源投入が行われて一定
時間経過後、恒温槽部5の温度は安定な測定可能温度に
保たれるが、電源投入開始後安定状態に達する迄に必要
な時間は通常の装置のセットアツプ時間を利用すること
により、特別な時間を新たに設定することは不要となる
。
a乃至3dは個々の恒温槽に供給される電流を検出する
。電源1の投入開始前は各スイッチ部4a乃至4dがオ
フ状態に制御されている。各恒湿槽5a乃至5dは第8
図に示されるような特性を有している。各恒温槽5a乃
至5dに対する電源投入は同時ではなく、時間差をε2
けて順次電流が供給されるようなシーケンス制御が行わ
れる。全恒温槽5a乃至5dに電源投入が行われて一定
時間経過後、恒温槽部5の温度は安定な測定可能温度に
保たれるが、電源投入開始後安定状態に達する迄に必要
な時間は通常の装置のセットアツプ時間を利用すること
により、特別な時間を新たに設定することは不要となる
。
次に、本実施例の作用を説明する。
4個の恒温槽5a乃至5dのうち例えば先ず恒温槽5a
に対しスイッチ部4aをオンすることにより電源投入を
行う。この操作は制御部6によって行われる。恒温槽5
aに供給されたヒータ電流は電流検出部3aによって検
出され、この電流検出部3aは第8図の特性に示される
ような電流変化を検出する。第2図に示すように恒温槽
5aに対するヒータ電流Iaが予め設定された所定値以
下例えば最大電流INの20%(0,2I)i)に減少
すると、制御部6はこの値を検出してこの時点t1で次
の恒温槽5bに対しスイッチ部4bをオンするように制
御する。これによって恒温槽5bのヒータ電流【bが供
給され、この値は電流検出部3bによって検出される。
に対しスイッチ部4aをオンすることにより電源投入を
行う。この操作は制御部6によって行われる。恒温槽5
aに供給されたヒータ電流は電流検出部3aによって検
出され、この電流検出部3aは第8図の特性に示される
ような電流変化を検出する。第2図に示すように恒温槽
5aに対するヒータ電流Iaが予め設定された所定値以
下例えば最大電流INの20%(0,2I)i)に減少
すると、制御部6はこの値を検出してこの時点t1で次
の恒温槽5bに対しスイッチ部4bをオンするように制
御する。これによって恒温槽5bのヒータ電流【bが供
給され、この値は電流検出部3bによって検出される。
このヒータ電流が前記のように0.2INに減少すると
、制御部6はこの値を検出してこの時点t2で次の恒温
槽5Cに対しスイッチ部4Cをオンするように制御する
。これによって恒温槽5Cのヒータ電流Icが供給され
、この値は電流検出部3Cによって検出される。以下、
同様にしてヒータ電流ICが0.21Mに減少した時点
t3で次の恒温槽5dに対してヒータ電流Idが供給さ
れる。ヒータ電流1dが0.2I)fに減少した時点t
4で4個の恒温槽5乃至5dが全て安定な恒温状態に到
達したことになり、この時点で分析装置は測定可能状態
となる。
、制御部6はこの値を検出してこの時点t2で次の恒温
槽5Cに対しスイッチ部4Cをオンするように制御する
。これによって恒温槽5Cのヒータ電流Icが供給され
、この値は電流検出部3Cによって検出される。以下、
同様にしてヒータ電流ICが0.21Mに減少した時点
t3で次の恒温槽5dに対してヒータ電流Idが供給さ
れる。ヒータ電流1dが0.2I)fに減少した時点t
4で4個の恒温槽5乃至5dが全て安定な恒温状態に到
達したことになり、この時点で分析装置は測定可能状態
となる。
第3図は以上のような各恒温槽5a乃至5dに対するヒ
ータ電流Ia乃至Idの供給方法のシーケンス制御動作
を示すもので、4個の恒温槽5apJ至5dは前の恒温
槽のヒータ電流が安定に保たれた時点で順次次の恒温槽
のヒータ電流が供給されるようになる。4個の恒温槽5
a乃至5dが全て安定状態に保たれる迄の時間Tは、通
常の分析装置のセットアツプ時間を当てることができる
。すなわち、分析装置は通常電源投入開始後、測定開始
迄に、反応容器洗浄、オートプライム、反応容器ブラン
ク等の各種のセットアツプ時間が必要となるが、これら
のセットアツプ時間をそのまま利用することにより特別
な時間を設定することなくこれに前記時間Tを当てるこ
とができるので余分な時間は不要である。
ータ電流Ia乃至Idの供給方法のシーケンス制御動作
を示すもので、4個の恒温槽5apJ至5dは前の恒温
槽のヒータ電流が安定に保たれた時点で順次次の恒温槽
のヒータ電流が供給されるようになる。4個の恒温槽5
a乃至5dが全て安定状態に保たれる迄の時間Tは、通
常の分析装置のセットアツプ時間を当てることができる
。すなわち、分析装置は通常電源投入開始後、測定開始
迄に、反応容器洗浄、オートプライム、反応容器ブラン
ク等の各種のセットアツプ時間が必要となるが、これら
のセットアツプ時間をそのまま利用することにより特別
な時間を設定することなくこれに前記時間Tを当てるこ
とができるので余分な時間は不要である。
このように本実施例装置によれば、全ての恒温槽に対し
同時に電源投入を行うのではなく、時間差を与えてシー
ケンス制御により順次各恒温槽に電源投入を行うことに
より、電流容重を各層の最大電流の和よりも小さくする
ことができる。従って従来のように大電流容量の電源は
不要となすことができる。
同時に電源投入を行うのではなく、時間差を与えてシー
ケンス制御により順次各恒温槽に電源投入を行うことに
より、電流容重を各層の最大電流の和よりも小さくする
ことができる。従って従来のように大電流容量の電源は
不要となすことができる。
本実施例では4個の恒温槽を設けた例で説明したが、何
ら数はこれに限ることはなく、任意に設けることができ
る。また恒温槽に限ることなく電源投入を必要とするモ
ジュール全てに対して適用することができる。
ら数はこれに限ることはなく、任意に設けることができ
る。また恒温槽に限ることなく電源投入を必要とするモ
ジュール全てに対して適用することができる。
[発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、各単位モジュールに
対して時間差を設けて順次電源投入を行うようにしたの
で、電源容量の定格を小さくすることができコストダウ
ンを図ることができる。
対して時間差を設けて順次電源投入を行うようにしたの
で、電源容量の定格を小さくすることができコストダウ
ンを図ることができる。
第1図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示すブロ
ック図、第2図及び第3図は本実施例の作用を説明する
タイムチレート、第4図は自動化学分析装置の構成を示
す概略平面図、第5図は第4図の反応ライン部の構成を
示す概略平面図、第6図は第5図の恒温槽の概略を示す
構成図、第7図は従来例を示すブロック図、第8図は恒
温槽に供給される電流の特性図である。 1・・・電源、2・・・主電流検出手段、3(3a乃至
3d>・・・電流検出手段、4(4a乃至4d)・・・
スイッチ部、5・・・恒温槽部、5a乃至5d・・・恒
温槽、6・・・制御部。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑同 近
藤 猛−一〉憤怒
ック図、第2図及び第3図は本実施例の作用を説明する
タイムチレート、第4図は自動化学分析装置の構成を示
す概略平面図、第5図は第4図の反応ライン部の構成を
示す概略平面図、第6図は第5図の恒温槽の概略を示す
構成図、第7図は従来例を示すブロック図、第8図は恒
温槽に供給される電流の特性図である。 1・・・電源、2・・・主電流検出手段、3(3a乃至
3d>・・・電流検出手段、4(4a乃至4d)・・・
スイッチ部、5・・・恒温槽部、5a乃至5d・・・恒
温槽、6・・・制御部。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑同 近
藤 猛−一〉憤怒
Claims (1)
- 分析に必要な制御動作を行い各々は電源投入により一定
時間経過後に安定状態に維持される複数の単位モジュー
ルを備えた自動化学分析装置において、各々の単位モジ
ュールに供給される電流を検出する電流検出手段と、或
る単位モジュールに供給された電流が所定値以下になっ
たとき他の単位モジュールに対して電流供給を開始させ
る電流制御手段とを備えたことを特徴とする自動化学分
析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63135575A JP2744013B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63135575A JP2744013B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 自動化学分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01305360A true JPH01305360A (ja) | 1989-12-08 |
JP2744013B2 JP2744013B2 (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=15155023
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63135575A Expired - Lifetime JP2744013B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2744013B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011153943A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2016061656A (ja) * | 2014-09-17 | 2016-04-25 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
JP2016090345A (ja) * | 2014-10-31 | 2016-05-23 | 株式会社東芝 | 臨床検査装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5753264A (en) * | 1980-09-17 | 1982-03-30 | Hitachi Koki Co Ltd | Automatic centrifugal separator |
-
1988
- 1988-06-03 JP JP63135575A patent/JP2744013B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5753264A (en) * | 1980-09-17 | 1982-03-30 | Hitachi Koki Co Ltd | Automatic centrifugal separator |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011153943A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2016061656A (ja) * | 2014-09-17 | 2016-04-25 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
JP2016090345A (ja) * | 2014-10-31 | 2016-05-23 | 株式会社東芝 | 臨床検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2744013B2 (ja) | 1998-04-28 |
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