JPH01286373A - ジョセフソン素子およびその製造方法 - Google Patents
ジョセフソン素子およびその製造方法Info
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- JPH01286373A JPH01286373A JP63115799A JP11579988A JPH01286373A JP H01286373 A JPH01286373 A JP H01286373A JP 63115799 A JP63115799 A JP 63115799A JP 11579988 A JP11579988 A JP 11579988A JP H01286373 A JPH01286373 A JP H01286373A
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 31
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 31
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims abstract description 29
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 26
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 26
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims abstract description 26
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims abstract description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 11
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 claims description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N Trioxochromium Chemical compound O=[Cr](=O)=O WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 2
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 2
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910000423 chromium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 claims description 2
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000002603 lanthanum Chemical class 0.000 claims 1
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 44
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 10
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 10
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- -1 oxygen ions Chemical class 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002585 base Substances 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 241000238366 Cephalopoda Species 0.000 description 1
- 230000005668 Josephson effect Effects 0.000 description 1
- 229910000750 Niobium-germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003808 Sr-Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- CFJRGWXELQQLSA-UHFFFAOYSA-N azanylidyneniobium Chemical compound [Nb]#N CFJRGWXELQQLSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- RTRWPDUMRZBWHZ-UHFFFAOYSA-N germanium niobium Chemical compound [Ge].[Nb] RTRWPDUMRZBWHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は超電導体を用いたジョセフソン素子とその製造
方法に関するものである。とくに金属酸化物超電導体薄
膜を用いたジョセフソン素子およびその製造方法に関す
るものである。
方法に関するものである。とくに金属酸化物超電導体薄
膜を用いたジョセフソン素子およびその製造方法に関す
るものである。
従来の技術
高温超電導体として、A15型2元系化合物として窒化
ニオブ(NbN’)やゲルマニウムニオブ(NbGθ)
などが知られていた。またこれらの材料を用いたジョセ
フソン素子も数多く研究されてきた。これらの材料の超
電導転移温度はたかだか24にであった。一方、ペロブ
スカイト系3元化合物は、さらに高い転移温度が期待さ
れ、Ba−La−Cu−0系の高温超電導体が提案され
たl−J、G。
ニオブ(NbN’)やゲルマニウムニオブ(NbGθ)
などが知られていた。またこれらの材料を用いたジョセ
フソン素子も数多く研究されてきた。これらの材料の超
電導転移温度はたかだか24にであった。一方、ペロブ
スカイト系3元化合物は、さらに高い転移温度が期待さ
れ、Ba−La−Cu−0系の高温超電導体が提案され
たl−J、G。
Bendorz and K、A、Muller、 ラ
フイト シュリフトフェアフィンーク(Zeitshr
ift fur physikB ) −Conde
nsed Matter 64 、 j 89−193
(1986)J。
フイト シュリフトフェアフィンーク(Zeitshr
ift fur physikB ) −Conde
nsed Matter 64 、 j 89−193
(1986)J。
さらに、Y−Ba−Cu−0系が90に以上で、B1−
3r−Ca−Cu−0系が100に以上で、Td−Ba
−Ca −Cu−0系が110に以上で超電導転移を示
すことが明らかになった。
3r−Ca−Cu−0系が100に以上で、Td−Ba
−Ca −Cu−0系が110に以上で超電導転移を示
すことが明らかになった。
この種の材料の超電導機購の詳細は明らかではないが、
転移温度が液体窒素温度以上に高くなる可能性があシ、
高温超電導体として従来の2元系化合物より、よシ有望
な特性が期待される。
転移温度が液体窒素温度以上に高くなる可能性があシ、
高温超電導体として従来の2元系化合物より、よシ有望
な特性が期待される。
これらの材料を用いたジョセフソン素子の作製等の実用
化も試みられているが、現在の技術では、焼結という過
程でしか形成出来ないため、セラミックの粉末あるいは
、ブロックの形でしか得られておらず、実用化について
は薄膜化が先決であシ、まして、これらの材料を用いた
ジョセフソン素子の実現は非常に困難とされている。
化も試みられているが、現在の技術では、焼結という過
程でしか形成出来ないため、セラミックの粉末あるいは
、ブロックの形でしか得られておらず、実用化について
は薄膜化が先決であシ、まして、これらの材料を用いた
ジョセフソン素子の実現は非常に困難とされている。
発明が解決しようとする課題
本発明者らは、これらの材料を例えばスパッタリング等
の薄膜化手法を用いると、薄膜状の高温超電導体が形成
されることを発見した。しかし、得られた薄膜超電導体
は、大気中で非常に不安定であること、かつジョセフソ
ン素子等に加工する場合、加工過程での超電導特性の劣
化が著しいことなどの問題点があり、これらに対しては
、加工途中での高温熱処理を行って特性を回復させてき
たが、その条件の設定が難しいこと、処理するのに長い
時間がかかることと、更には800℃以上での高温プロ
セスのため、素子の表面の平坦度の悪化がみられ、ジョ
セフソン素子そのものの機能が損われてしまうという問
題があった。
の薄膜化手法を用いると、薄膜状の高温超電導体が形成
されることを発見した。しかし、得られた薄膜超電導体
は、大気中で非常に不安定であること、かつジョセフソ
ン素子等に加工する場合、加工過程での超電導特性の劣
化が著しいことなどの問題点があり、これらに対しては
、加工途中での高温熱処理を行って特性を回復させてき
たが、その条件の設定が難しいこと、処理するのに長い
時間がかかることと、更には800℃以上での高温プロ
セスのため、素子の表面の平坦度の悪化がみられ、ジョ
セフソン素子そのものの機能が損われてしまうという問
題があった。
課題を解決するだめの手段
本発明者らは、上記問題点で解決するため、基体上に形
成された少なくとも一部の膜厚を薄くし、かつ酸素濃度
を変えて接合部とした金属酸化物超電導体被膜と、上記
金属酸化物超電導体被膜上に被覆した保護膜とで構成さ
れる新規なジョセフソン素子の構成を発明し、さらにそ
の製造方法として、酸素プラズマ照射により、金属酸化
物超電導被膜の少なくとも一部の保護膜で被覆されない
部分を薄くし、かつ酸素濃度を変えて接合部を形成する
方法を見い出した。
成された少なくとも一部の膜厚を薄くし、かつ酸素濃度
を変えて接合部とした金属酸化物超電導体被膜と、上記
金属酸化物超電導体被膜上に被覆した保護膜とで構成さ
れる新規なジョセフソン素子の構成を発明し、さらにそ
の製造方法として、酸素プラズマ照射により、金属酸化
物超電導被膜の少なくとも一部の保護膜で被覆されない
部分を薄くし、かつ酸素濃度を変えて接合部を形成する
方法を見い出した。
作 用
本発明にかかるジョセフソン素子は、金属酸化物超電導
体を薄膜化しているため、従来の焼結体に比べて本質的
に均質な超電導体を用いており、少なくともその金属酸
化物超電導体の一部の膜厚を薄くし、かつ酸素濃度を変
えることにより、その部分のみ臨界電流の小さな超電導
体部分とすることが出来るため、ジョセフソン接合部の
寸法がトンネル型等に比較して大きくて良く、かつ非常
に高精度なジョセフソン素子が実現されると共に、保護
膜で被覆してさらに長期安定化が可能となる。
体を薄膜化しているため、従来の焼結体に比べて本質的
に均質な超電導体を用いており、少なくともその金属酸
化物超電導体の一部の膜厚を薄くし、かつ酸素濃度を変
えることにより、その部分のみ臨界電流の小さな超電導
体部分とすることが出来るため、ジョセフソン接合部の
寸法がトンネル型等に比較して大きくて良く、かつ非常
に高精度なジョセフソン素子が実現されると共に、保護
膜で被覆してさらに長期安定化が可能となる。
さらに本発明にかかるジョセフソン素子の製造方法につ
いては保護膜をマスクとして、酸素プラズマによシ加工
している所に大きな特色がある。
いては保護膜をマスクとして、酸素プラズマによシ加工
している所に大きな特色がある。
すなわち、酸素を用いているために金属酸化物超電導体
からの酸素の離脱がなく、不純物の混入による影響もな
く、超電導特性の劣化がみられない。
からの酸素の離脱がなく、不純物の混入による影響もな
く、超電導特性の劣化がみられない。
従って、膜厚を薄くしても超電導電流が流れ、臨界電流
の小さな接合部分を形成することが出来る。
の小さな接合部分を形成することが出来る。
さらに酸素イオンによる加工後の素子の表面も非常に平
坦であり、敞細で均質な接合が可能となることを発明者
等は見い出した。
坦であり、敞細で均質な接合が可能となることを発明者
等は見い出した。
実施例
本発明の実施例を図面とともに説明する。
第1図において、基体11の表面12上に、金属酸化物
超電導被膜13が形成されておシ、被膜13はその一部
のl膜厚が薄く、かつ酸素濃度が異なっており、この部
分が臨界電流密度の低い超電導体となっている。従って
この構成の素子は弱結合型のジョセフソン素子であるこ
とを確認した。さらに被膜13は保護膜14で被覆され
ておシ、長期にわたって素子の機能が安定であることも
確認した。保護膜14としては、酸素プラズマ照射時の
マスクとなるため、エツチング速度の低い材料が良く、
被膜13上に形成の容易な白金、金、ロジウム、フッ化
カルシウム、酸化ジルコニウム、酸化アIレミニウム、
酸化シリコン、酸化クロム、窒化シリコン等が有効であ
ることを見い出した。第3図は、膜厚0.5pmのYE
a2Cu30x薄膜を用いて、薄い部分の膜厚0.1μ
mの素子において、長さ方向を0.2〜0.5μm9幅
を10μmにした時の単一ジョセフソン素子の電流・電
圧特性を示す。
超電導被膜13が形成されておシ、被膜13はその一部
のl膜厚が薄く、かつ酸素濃度が異なっており、この部
分が臨界電流密度の低い超電導体となっている。従って
この構成の素子は弱結合型のジョセフソン素子であるこ
とを確認した。さらに被膜13は保護膜14で被覆され
ておシ、長期にわたって素子の機能が安定であることも
確認した。保護膜14としては、酸素プラズマ照射時の
マスクとなるため、エツチング速度の低い材料が良く、
被膜13上に形成の容易な白金、金、ロジウム、フッ化
カルシウム、酸化ジルコニウム、酸化アIレミニウム、
酸化シリコン、酸化クロム、窒化シリコン等が有効であ
ることを見い出した。第3図は、膜厚0.5pmのYE
a2Cu30x薄膜を用いて、薄い部分の膜厚0.1μ
mの素子において、長さ方向を0.2〜0.5μm9幅
を10μmにした時の単一ジョセフソン素子の電流・電
圧特性を示す。
同図に見られるような弱結合型の特性を示した。
これは膜厚を薄くした部分に直流ジョセフソン効果が残
っておシ、弱結合型となっていると思われる。
っておシ、弱結合型となっていると思われる。
上述のようなジョセフソン素子を製造する場合に用いる
装置図の一実施例を示した。
装置図の一実施例を示した。
第4図は真空槽21内に酸素ガスを導入し、このガスに
マイクロ波を照射して放電プラズマを発生させ、プラズ
マに磁場22を印加して、酸素イオンのイオン化効率を
上げ第1図の薄膜超電導体基体20をエツチングするも
のである。この場合通常マイクロ波源23には2.45
GHzのマイクロ波を使用し磁場強度を876ガウス程
度にすると電子のサイクロトロン共鳴が生じるので酸素
イオン化の効率が上がるため、これ以上の磁場強度が望
ましい。この酸素イオンを真空槽21と試料台24との
間に電圧を印加することによって、試料台24上に配置
された薄膜超電導体2oに照射する構造となっている。
マイクロ波を照射して放電プラズマを発生させ、プラズ
マに磁場22を印加して、酸素イオンのイオン化効率を
上げ第1図の薄膜超電導体基体20をエツチングするも
のである。この場合通常マイクロ波源23には2.45
GHzのマイクロ波を使用し磁場強度を876ガウス程
度にすると電子のサイクロトロン共鳴が生じるので酸素
イオン化の効率が上がるため、これ以上の磁場強度が望
ましい。この酸素イオンを真空槽21と試料台24との
間に電圧を印加することによって、試料台24上に配置
された薄膜超電導体2oに照射する構造となっている。
この場合マイクロ波により効率よくイオン化された高エ
ネルギーの酸素イオンが、金属酸化物超電導被膜13の
保護膜14で被覆されていない部分13aを効率的にエ
ツチングするとともに、超電導特性を劣化させることな
く金属酸化物超電導被膜13の一部の膜厚を薄く、しか
もその酸素濃度を変えることができることを見い出した
。
ネルギーの酸素イオンが、金属酸化物超電導被膜13の
保護膜14で被覆されていない部分13aを効率的にエ
ツチングするとともに、超電導特性を劣化させることな
く金属酸化物超電導被膜13の一部の膜厚を薄く、しか
もその酸素濃度を変えることができることを見い出した
。
第5図は、本発明の一実施例の基本工程図である。先ず
基体11上に金属酸化物超電導被膜13を形成する。金
属酸化物超電導被膜13の形成には、まずA−B−Cu
−0の複合化合物被膜をスパッタリング蒸着あるいは熱
蒸着例えば電子ビーム蒸着、レーザビーム蒸着等の物理
的気相成長法で基体上に付着させる。この場合、超電導
体A−B−Cu−0は結晶構造や組成式がまだ明確には
決定されていないが、酸素欠損ベロプスカイ)(A。
基体11上に金属酸化物超電導被膜13を形成する。金
属酸化物超電導被膜13の形成には、まずA−B−Cu
−0の複合化合物被膜をスパッタリング蒸着あるいは熱
蒸着例えば電子ビーム蒸着、レーザビーム蒸着等の物理
的気相成長法で基体上に付着させる。この場合、超電導
体A−B−Cu−0は結晶構造や組成式がまだ明確には
決定されていないが、酸素欠損ベロプスカイ)(A。
B)CuOともいわれている。本発明者等は、望けしく
は作製された被膜において元素比率が0.6≦(A+B
)/Cu≦2.5 の範囲にあれば、へ元素又はB元素の選択により臨界温
度に多少の差があっても超電導現象が見出されることを
確認した。この複合化合物被膜の形成法は物理的気相成
長法に限定されたものではなく、化学的気相成長法例え
ば常碇あるいは減圧化学的気相成長法、プラズマ化学的
気相成長法、光化学的気相成長法も、成分A、B、Cu
O比を合致させれば、有効であることを本発明者らは確
認した。
は作製された被膜において元素比率が0.6≦(A+B
)/Cu≦2.5 の範囲にあれば、へ元素又はB元素の選択により臨界温
度に多少の差があっても超電導現象が見出されることを
確認した。この複合化合物被膜の形成法は物理的気相成
長法に限定されたものではなく、化学的気相成長法例え
ば常碇あるいは減圧化学的気相成長法、プラズマ化学的
気相成長法、光化学的気相成長法も、成分A、B、Cu
O比を合致させれば、有効であることを本発明者らは確
認した。
又、ビスマス(Bi )、アルカリ土類属、銅、酸素か
らなる金属酸化物超電導被膜13も同様な手段によシ得
られることが確認された。この場合、転移温度は100
に以上であり、さらに高精度のジョセフソン素子を得る
ことが可能となる。
らなる金属酸化物超電導被膜13も同様な手段によシ得
られることが確認された。この場合、転移温度は100
に以上であり、さらに高精度のジョセフソン素子を得る
ことが可能となる。
また、タリウム(Te)、アルカリ士金属、銅、酸素か
らなる金属酸化物超電導被膜13も同様な手段により得
られることが確認された。この場合、転移温度は110
に以上であり、しかも非常に安定なため、さらに高品質
のジョセフソン素子を得ることが可能となる。
らなる金属酸化物超電導被膜13も同様な手段により得
られることが確認された。この場合、転移温度は110
に以上であり、しかも非常に安定なため、さらに高品質
のジョセフソン素子を得ることが可能となる。
具体的には、酸化マグネシウム而(10o)を基体11
として用い高周波プレナーマグネトロンスパノタにより
、焼結したY −Ba −Cu =Oターゲ7)、B1
−Ca −5r−Cu−0,’r6−Ba−Sr−Cu
−0をArとo2の混合ガス雰囲気でスパッタリング
蒸着し、上記基体11上にそれぞれ結晶性のY −B
a −Cu−0被膜、B i −Ca −Sr −Cu
−O被膜、Tl−Ba−3r−Cu−〇波膜13として
付着させた。
として用い高周波プレナーマグネトロンスパノタにより
、焼結したY −Ba −Cu =Oターゲ7)、B1
−Ca −5r−Cu−0,’r6−Ba−Sr−Cu
−0をArとo2の混合ガス雰囲気でスパッタリング
蒸着し、上記基体11上にそれぞれ結晶性のY −B
a −Cu−0被膜、B i −Ca −Sr −Cu
−O被膜、Tl−Ba−3r−Cu−〇波膜13として
付着させた。
この場合、ともにガス圧力は0,5Pa、スパッタリン
グ電力1soW、スパッタリング時間1時間、被膜の膜
厚0,5μm、基体温度7o○℃であった。
グ電力1soW、スパッタリング時間1時間、被膜の膜
厚0,5μm、基体温度7o○℃であった。
試料の超電導転移温度は、Y−Ba−Cu−〇被膜が9
0 K、 Bi −Ca −5r−Cu−0被膜が10
0KSTe−Ba−3r−Cu−〇が110にであった
。
0 K、 Bi −Ca −5r−Cu−0被膜が10
0KSTe−Ba−3r−Cu−〇が110にであった
。
次に、金属酸化物超電導被膜13上に保護膜14を形成
した。実際には、膜14として高周波マグネトロンスパ
ッタ法により酸化アルミニウム膜を0.1μm堆積した
。これを、フォトリングラフィによりパターン形成を行
い第5図aのFf’61mにした。
した。実際には、膜14として高周波マグネトロンスパ
ッタ法により酸化アルミニウム膜を0.1μm堆積した
。これを、フォトリングラフィによりパターン形成を行
い第5図aのFf’61mにした。
さらに、第4図の装置を用いて、第5図すに示すように
、酸素イオン100により、保護膜14で被覆されない
部分13aをエツチングしてこの部分の被膜13の膜厚
を薄くするとともに、その部分の超電導薄膜の酸素濃度
を変え、第5図Cの構造VCし、ジョセフソン素子を作
製した。
、酸素イオン100により、保護膜14で被覆されない
部分13aをエツチングしてこの部分の被膜13の膜厚
を薄くするとともに、その部分の超電導薄膜の酸素濃度
を変え、第5図Cの構造VCし、ジョセフソン素子を作
製した。
具体的には、マイクロ波200W、試料台24と真空槽
21との間に一300Vの電圧を印加し、ガス圧2×1
σ3Torr 、加工時間30分の条件で行なった。試
料の加熱は特に行なわなかったが、加工時の温度は35
011:であった。残された被膜13の膜厚の薄い部分
13aは0.1μmであった。
21との間に一300Vの電圧を印加し、ガス圧2×1
σ3Torr 、加工時間30分の条件で行なった。試
料の加熱は特に行なわなかったが、加工時の温度は35
011:であった。残された被膜13の膜厚の薄い部分
13aは0.1μmであった。
被膜13のエツチング速度は1μm / h r以上で
あった。なお、このエツチング速度は、ガス圧、印加電
圧、処理時間を調整することによりM密に制御できるこ
とも判った。加工後の試料の超電導薄膜転移温度はとも
に加工前と同じであったが、膜厚の薄い部分の臨界電流
密度は、他の部分にくらべ、2〜3桁小さな値が得られ
た。作製したジョセフソン素子の電流・電圧特性はfF
T述の第3図のようなものが得られた。さらに、SEM
(走査電子顕微鏡)観察の結果、ジョセフソン素子表面
は平坦であることがわかった。
あった。なお、このエツチング速度は、ガス圧、印加電
圧、処理時間を調整することによりM密に制御できるこ
とも判った。加工後の試料の超電導薄膜転移温度はとも
に加工前と同じであったが、膜厚の薄い部分の臨界電流
密度は、他の部分にくらべ、2〜3桁小さな値が得られ
た。作製したジョセフソン素子の電流・電圧特性はfF
T述の第3図のようなものが得られた。さらに、SEM
(走査電子顕微鏡)観察の結果、ジョセフソン素子表面
は平坦であることがわかった。
ここで、マイクロ波の出力は、20oWとしだが、60
〜1KWの間であればよい。2.46GHzの周波数を
用いた場合、50W以下では、プラズマが安定せず、1
KW以上では薄膜のマイクロ波による損傷が大きい。
〜1KWの間であればよい。2.46GHzの周波数を
用いた場合、50W以下では、プラズマが安定せず、1
KW以上では薄膜のマイクロ波による損傷が大きい。
ガス圧は、1Cf5〜10TOτrの範囲で磁場による
効果が顕著にあられれた。
効果が顕著にあられれた。
試料台と真空槽との間には、−300Vの電圧を印加し
たが、−1oKV以下の範囲で同様の効果がみられた。
たが、−1oKV以下の範囲で同様の効果がみられた。
正の電圧を印加しても、エツチングは可能だが、負の電
圧を印加するとエツチング速度は大きくなる。
圧を印加するとエツチング速度は大きくなる。
加工時の試料温度は、特に加熱しなかったが、800℃
以下の範囲であれば超電導特性を安定に保って加工する
ことが可能であるとともに望ましくは400℃以下が良
い。
以下の範囲であれば超電導特性を安定に保って加工する
ことが可能であるとともに望ましくは400℃以下が良
い。
発明の効果
本発明にかかるジョセフソン素子は、基体上に形成した
金属酸化物超電導被膜において、少なくともその一部の
膜厚を薄くし、かつ酸素濃度を変えている所に大きな特
色がある。さらに保護膜で被覆するだめに、均質で高精
度で安定なジョセフソン接合を容易に形成し得る構造で
あり、再現性の良い生産性の優れた高温超電導転移温度
のジョセフソン素子が実現される。またその製造方法に
おいては、酸素プラズマにより加工しているため、加工
中に酸素の補給が可能であり、これにより酸素濃度を変
えることが出来、さらに不純物の混入も見られず、超電
導特性の劣化がみられない。従って膜厚を薄くするとい
う加工を行なった後も臨界電流密度が零とならず、臨界
電流の小さな部分を形成することが可能である。つまり
弱結合型のジョセフソン素子の製造には優れた方法であ
る。
金属酸化物超電導被膜において、少なくともその一部の
膜厚を薄くし、かつ酸素濃度を変えている所に大きな特
色がある。さらに保護膜で被覆するだめに、均質で高精
度で安定なジョセフソン接合を容易に形成し得る構造で
あり、再現性の良い生産性の優れた高温超電導転移温度
のジョセフソン素子が実現される。またその製造方法に
おいては、酸素プラズマにより加工しているため、加工
中に酸素の補給が可能であり、これにより酸素濃度を変
えることが出来、さらに不純物の混入も見られず、超電
導特性の劣化がみられない。従って膜厚を薄くするとい
う加工を行なった後も臨界電流密度が零とならず、臨界
電流の小さな部分を形成することが可能である。つまり
弱結合型のジョセフソン素子の製造には優れた方法であ
る。
木発明を用いてStあるいはG a A sなどのデバ
イスとの集積化が可能であるとともに、スクイド(Su
perconducting Quantum Int
erferenceDevice: 超電導量子干渉
計)等やジョセフソン論理回路等の素子、あるいは非線
形素子等として実用される。特にこの種の化合物超電導
体の転移温度が室温になる可能性もあり、従来の実用の
範囲は広く、本発明の工業的価値は高い。
イスとの集積化が可能であるとともに、スクイド(Su
perconducting Quantum Int
erferenceDevice: 超電導量子干渉
計)等やジョセフソン論理回路等の素子、あるいは非線
形素子等として実用される。特にこの種の化合物超電導
体の転移温度が室温になる可能性もあり、従来の実用の
範囲は広く、本発明の工業的価値は高い。
第1図および第2図は本発明の一実施例のジョセフソン
素子一実施例を示す斜視図および要部側面図、第3図は
木発明のジョセフソン素子の基本特性図、第4図は本発
明のジョセフソン素子の製造方法で形成する場合に用い
る装置の概略図、第6図は本発明のジョセフソン素子の
製造方法の一実施例の基本工程断面図である。 11・・・・・・基体、12・・・・・・表面、13・
・・・・・金属酸化物超電導被膜、14・・・・・保護
膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第3図
素子一実施例を示す斜視図および要部側面図、第3図は
木発明のジョセフソン素子の基本特性図、第4図は本発
明のジョセフソン素子の製造方法で形成する場合に用い
る装置の概略図、第6図は本発明のジョセフソン素子の
製造方法の一実施例の基本工程断面図である。 11・・・・・・基体、12・・・・・・表面、13・
・・・・・金属酸化物超電導被膜、14・・・・・保護
膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第3図
Claims (9)
- (1)基体上に形成された少なくとも一部の膜厚を薄く
し、かつ酸素濃度を変えて接合部とした金属酸化物超電
導体被膜と、上記金属酸化物超電導体被膜上に被覆した
保護膜とで構成されたことを特徴とするジョセフソン素
子。 - (2)保護膜として金、白金、ロジウム、フッ化カルシ
ウム、酸化ジルコニウム、酸化アルミニウム、酸化シリ
コン、酸化クロム、窒化シリコンを用いたことを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載のジョセフソン素子。 - (3)金属酸化物超電導体被膜が、A元素、B元素及び
Cuを含む酸化物で、元素のモル比率が0.5≦(A+
B)/Cu≦2.5 で構成されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のジョセフソン素子。 ここに、AはSc、Y及びランタン系列元素(原子番号
57、60、62〜71)のうち少なくとも一種、Bは
少なくともIIa族元素のうちの少なくとも一種あるいは
二種以上の元素を示す。 - (4)金属酸化物超電導体被膜が、少なくともビスマス
(Bi)、アルカリ土類、Cuを含む酸化物で構成され
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のジョセ
フソン素子。 ここに、アルカリ土類はIIa族元素のうちの少なくとも
一種あるいは二種以上の元素を示す。 - (5)金属酸化物超電導体被膜が、少なくともタリウム
(Tl)、アルカリ土類、Cuを含む酸化物で構成され
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のジョセ
フソン素子。 - (6)金属酸化物超電導体被膜上に、前記金属酸化物超
電導体被膜の接合部の上部に窓の開いた保護膜を被覆し
た後、酸素プラズマ照射により、前記被膜の加工を行う
ことを特徴とするジョセフソン素子の製造方法。 - (7)真空槽内に、酸素ガスを導入し、磁界とマイクロ
波を印加して発生させた酸素プラズマを照射することを
特徴とする特許請求の範囲第6項記載のジョセフソン素
子の製造方法。 - (8)磁界の強度が電子サイクロトロン共鳴条件以上で
あることを特徴とする特許請求の範囲第7項記載のジョ
セフソン素子の製造方法。 - (9)真空槽内の酸素プラズマと金属酸化物超電導体被
膜を被覆した基体を保持した試料台との間に電圧を印加
することを特徴とする特許請求の範囲第7項記載のジョ
セフソン素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63115799A JPH01286373A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | ジョセフソン素子およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63115799A JPH01286373A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | ジョセフソン素子およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01286373A true JPH01286373A (ja) | 1989-11-17 |
Family
ID=14671366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63115799A Pending JPH01286373A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | ジョセフソン素子およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01286373A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03234071A (ja) * | 1990-02-09 | 1991-10-18 | Sharp Corp | ジョセフソン素子 |
-
1988
- 1988-05-12 JP JP63115799A patent/JPH01286373A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03234071A (ja) * | 1990-02-09 | 1991-10-18 | Sharp Corp | ジョセフソン素子 |
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