JPH01192166A - 受光素子 - Google Patents
受光素子Info
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- JPH01192166A JPH01192166A JP63016672A JP1667288A JPH01192166A JP H01192166 A JPH01192166 A JP H01192166A JP 63016672 A JP63016672 A JP 63016672A JP 1667288 A JP1667288 A JP 1667288A JP H01192166 A JPH01192166 A JP H01192166A
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- Japan
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- electrode
- photodiode
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- film transistor
- thin film
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/78642—Vertical transistors
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- Thin Film Transistor (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
“1〒!利用分野〉
本発明は、ファクシミリやOCRの光電変換部に組み込
まれる受光素子に関するものであり、とくに原稿に密着
した形で読み取る密着型イメージセンサに適用されるも
のである。
まれる受光素子に関するものであり、とくに原稿に密着
した形で読み取る密着型イメージセンサに適用されるも
のである。
〈従来技術およびその問題点〉
最近、ファクシミリ等の原稿読み取り装置を小型化する
ために密着型イメージセンサの開発が活発に進められて
いる。これは原稿の幅と同じ長さの長尺−次元イメージ
センサを内蔵する光電変換デバイスである。従来のCC
DやMOS型のICイメージセンサを有する光電変換系
では原稿をイメージセンサ上に投影する縮小レンズ系を
必要としにその光路長確保のために装置内に大きな空間
を有しており、装置の小型化が難しい欠点があった。と
ころが、上述の密着型イメージセンサでは、この縮小レ
ンズ系が不要でイメージセンサと原稿がほぼ密着し、そ
のため装置の大幅な小型化が達成される。
ために密着型イメージセンサの開発が活発に進められて
いる。これは原稿の幅と同じ長さの長尺−次元イメージ
センサを内蔵する光電変換デバイスである。従来のCC
DやMOS型のICイメージセンサを有する光電変換系
では原稿をイメージセンサ上に投影する縮小レンズ系を
必要としにその光路長確保のために装置内に大きな空間
を有しており、装置の小型化が難しい欠点があった。と
ころが、上述の密着型イメージセンサでは、この縮小レ
ンズ系が不要でイメージセンサと原稿がほぼ密着し、そ
のため装置の大幅な小型化が達成される。
従来の密着型イメージセンサの構成例を第2図に示す。
この方式は、絶縁性基板10上の光導電膜11に蓄積し
た電荷を、電界効果トランジスタなどのアナログスイッ
チ12を走査して順次読み出すものであり、走査回路1
3を構成するシフトレジスタと絶縁性基板10上のアナ
ログスイッチ12の間を画素ごとに接続している。
た電荷を、電界効果トランジスタなどのアナログスイッ
チ12を走査して順次読み出すものであり、走査回路1
3を構成するシフトレジスタと絶縁性基板10上のアナ
ログスイッチ12の間を画素ごとに接続している。
さらに、従来の受光素子の構造を詳細に説明するために
、受光素子の断面図を第3図に示す。
、受光素子の断面図を第3図に示す。
第3図において、受光部であるフォトダイオードは、絶
縁性基板20上に、下部電8i21、光導電膜22、上
部電極23を順次積層して構成されている。
縁性基板20上に、下部電8i21、光導電膜22、上
部電極23を順次積層して構成されている。
一方、アナログスイッチである薄膜トランジスタは逆ス
タガー構造をとっており、上記同一絶縁性基板20上に
、ゲート電極24、ゲート絶縁膜25、高抵抗半導体9
26を順次積層し、さらに上記高抵抗半導体膜26上に
、低抵抗半導体膜27及び第一、第二主電極28.29
をパターニング形成して構成しである。ここで、フォト
ダイオードの前記上部電極23と薄膜トランジスタの前
記第一主電極28は一体化され配線を兼ねている。
タガー構造をとっており、上記同一絶縁性基板20上に
、ゲート電極24、ゲート絶縁膜25、高抵抗半導体9
26を順次積層し、さらに上記高抵抗半導体膜26上に
、低抵抗半導体膜27及び第一、第二主電極28.29
をパターニング形成して構成しである。ここで、フォト
ダイオードの前記上部電極23と薄膜トランジスタの前
記第一主電極28は一体化され配線を兼ねている。
しかしながら、上記薄膜トランジスタはスイッチング速
度が極めて遅く密着型イメージセンサに応用した場合、
その読取速度は、上記薄膜トランジスタのスイッチング
速度に律速され、スイッチ素子としては特性が不十分で
あった。
度が極めて遅く密着型イメージセンサに応用した場合、
その読取速度は、上記薄膜トランジスタのスイッチング
速度に律速され、スイッチ素子としては特性が不十分で
あった。
このため、マトリクス配線としてスイッチング回数を低
減する等の対策が必要となっており、この方法も実用化
にはなお問題があった。
減する等の対策が必要となっており、この方法も実用化
にはなお問題があった。
一方、高速スイッチングが可能な薄膜トランジスタも考
案されている。
案されている。
上記薄膜トランジスタは縦型薄膜トランジスタと称され
、その基本的素子構造を第4図に示す。
、その基本的素子構造を第4図に示す。
上記薄膜トランジスタは、絶縁性基板30に対しほぼ垂
直方向に電流が流れる縦型構造を有し、ドレイン及びソ
ース等の主電極領域31.32の間に高抵抗半導体薄膜
33がはさまれた多層構造の側面にゲート絶縁膜34、
ゲート電極35が順次形成され、チャネル長しが前記高
抵抗薄膜の厚みでほぼ決められる構造を有している。
直方向に電流が流れる縦型構造を有し、ドレイン及びソ
ース等の主電極領域31.32の間に高抵抗半導体薄膜
33がはさまれた多層構造の側面にゲート絶縁膜34、
ゲート電極35が順次形成され、チャネル長しが前記高
抵抗薄膜の厚みでほぼ決められる構造を有している。
しかしながら、上記構造を有した縦型薄膜トランジスタ
は、ドレイン及びソース等の主電極領域31.32が絶
縁性基板30に対し三次元方向に積層されているため主
電極の取り出しが比較的困難で、多層配線をともなうた
め、配線間のショート等の欠陥が問題とされていた。
は、ドレイン及びソース等の主電極領域31.32が絶
縁性基板30に対し三次元方向に積層されているため主
電極の取り出しが比較的困難で、多層配線をともなうた
め、配線間のショート等の欠陥が問題とされていた。
〈発明の目的〉
本発明は、上述の従来の受光素子の問題点に鑑みてなさ
れたもので、高速スイッチングが可能で、しかも歩留り
の良い受光素子を提供することを目的とする。
れたもので、高速スイッチングが可能で、しかも歩留り
の良い受光素子を提供することを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
すなわち本発明は、絶縁性基板上に共通透明電極、光導
電膜、個別金属電極を順次積層して構成されたフォトダ
イオードと、前記フォトダイオードと基板を同一とし、
前記個別金属電極を第一主電極として共用し、高抵抗半
導体膜、第二主電極を順次積層した多層体の側面から基
板表面にかけてゲート絶縁膜及びゲート電極を設けてな
る縦型薄膜トランジスタの2つを一体的な構造をもたせ
て形成した事を特徴とする受光素子である。
電膜、個別金属電極を順次積層して構成されたフォトダ
イオードと、前記フォトダイオードと基板を同一とし、
前記個別金属電極を第一主電極として共用し、高抵抗半
導体膜、第二主電極を順次積層した多層体の側面から基
板表面にかけてゲート絶縁膜及びゲート電極を設けてな
る縦型薄膜トランジスタの2つを一体的な構造をもたせ
て形成した事を特徴とする受光素子である。
〈発明の構成〉
第1図には、本゛発明による受光素子の構造が示されて
いる。
いる。
絶縁性基板1上に、共通透明電極2、光導電膜3、個別
金属電極4を順次積層して構成されたフォトダイオード
と、前記同一絶縁性基板1上に形成された下層より前記
個別電極と共用する第一主電極4、高抵抗半導体膜5、
第二主電極6とからなる積層薄膜と、フォトダイオード
とは反対側の前記第−及び第二主電極4.6の間に露出
する前記高抵抗半導体膜5の表面上に設けられたゲート
絶縁膜7とゲート電極8とより成る縦型薄膜トランジス
タを一体的に構成した構造を有している。
金属電極4を順次積層して構成されたフォトダイオード
と、前記同一絶縁性基板1上に形成された下層より前記
個別電極と共用する第一主電極4、高抵抗半導体膜5、
第二主電極6とからなる積層薄膜と、フォトダイオード
とは反対側の前記第−及び第二主電極4.6の間に露出
する前記高抵抗半導体膜5の表面上に設けられたゲート
絶縁膜7とゲート電極8とより成る縦型薄膜トランジス
タを一体的に構成した構造を有している。
次に、上記受光素子の外部回路との接続について第Nり
第2図を用いて説明する。上記縦型薄膜トランジスタは
アナログスイッチ12に対応し、ゲート電極8は走査回
路13に接続する。この時上記ゲート電極8はフォトダ
イオードと反対方向に容易に取り出す事が可能である。
第2図を用いて説明する。上記縦型薄膜トランジスタは
アナログスイッチ12に対応し、ゲート電極8は走査回
路13に接続する。この時上記ゲート電極8はフォトダ
イオードと反対方向に容易に取り出す事が可能である。
一方、第二主電極6は読み出し回路14に接続する。こ
の時、第二主電極6は、フォトダイオードの上部を経由
し、上記ゲート電極8の引き出°し側とは反対側に位置
するフォトダイオード側に配線を引き出す、ここで上記
第二主電極6と第一主電極4との間のシ四−トの防止の
ために両電極間に絶縁膜9を設けている。さらに、フォ
トダイオードは通常バイアスを印加して使用するため、
共通透明電極2は電圧源15に接続する。この時、上記
共通透明電極2は各素子ごとに分離する必要はなく第1
図前方又は後方に引き出すことは容易である。
の時、第二主電極6は、フォトダイオードの上部を経由
し、上記ゲート電極8の引き出°し側とは反対側に位置
するフォトダイオード側に配線を引き出す、ここで上記
第二主電極6と第一主電極4との間のシ四−トの防止の
ために両電極間に絶縁膜9を設けている。さらに、フォ
トダイオードは通常バイアスを印加して使用するため、
共通透明電極2は電圧源15に接続する。この時、上記
共通透明電極2は各素子ごとに分離する必要はなく第1
図前方又は後方に引き出すことは容易である。
上述のごとく、本発明ではフォトダイオードと高速スイ
ッチング可能な縦型薄膜トランジスタを一体化構成する
事により上記目的を実現するものである。
ッチング可能な縦型薄膜トランジスタを一体化構成する
事により上記目的を実現するものである。
〈発明の実施例〉
本発明の実施例を第1図を参照して詳述する。
まず、ガラス、セラミック等絶縁性基板l上に共通透明
電極2としてDCスパッタリング法等により2000人
程度0厚みに酸化インジウムスズ(以下ITOと称する
)を被着後フォトリソグラフィー法により前記ITOを
共通電極形状、にパターニングする。
電極2としてDCスパッタリング法等により2000人
程度0厚みに酸化インジウムスズ(以下ITOと称する
)を被着後フォトリソグラフィー法により前記ITOを
共通電極形状、にパターニングする。
次に、前記共通透明電極IT02上に、100%SiH
4をグロー放電によって分解することにより光導電膜と
してインドリンシンク型水素化アモルファスシリコン(
以下1−a−5i:Hと称する)膜3を厚さ約1μmに
覆う、この時のパターン形成は、所定形状にエツチング
形成された金属性治具を絶縁性基板1表面の所定装置に
密着して配置して行なう。また、1−a−3i:H膜3
は高抵抗膜のため、成膜後のフォトリソグラフィー法に
よるパターニング工程は必要としない。
4をグロー放電によって分解することにより光導電膜と
してインドリンシンク型水素化アモルファスシリコン(
以下1−a−5i:Hと称する)膜3を厚さ約1μmに
覆う、この時のパターン形成は、所定形状にエツチング
形成された金属性治具を絶縁性基板1表面の所定装置に
密着して配置して行なう。また、1−a−3i:H膜3
は高抵抗膜のため、成膜後のフォトリソグラフィー法に
よるパターニング工程は必要としない。
次に、前記1−a−5t:H膜3上に個別金属電極4と
して1−a−3i:H膜とのオーミック特性に優れた金
属例えばC「、Tiを電子ビーム蒸着法により被着後フ
ォトリソグラフィー法により各素子ごとに分離された形
状にパターニングする。この時、前記個別金属電極4は
、並列に設置する縦型薄膜トランジスタの第一主電極4
と共用するためフォトダイオードの側面方向の絶縁性基
板1上まで引き出してお く 。
して1−a−3i:H膜とのオーミック特性に優れた金
属例えばC「、Tiを電子ビーム蒸着法により被着後フ
ォトリソグラフィー法により各素子ごとに分離された形
状にパターニングする。この時、前記個別金属電極4は
、並列に設置する縦型薄膜トランジスタの第一主電極4
と共用するためフォトダイオードの側面方向の絶縁性基
板1上まで引き出してお く 。
さらに、フォトダイオードの個別金属電極4と共用して
いる第一主電極4上に、前記i −a −S i :
II光導電膜3と同様の方法で作製する高抵抗半導体膜
である1−a−3i:H膜5を堆積する。その後、フォ
トリソグラフィー法によりパターニング形成する。
いる第一主電極4上に、前記i −a −S i :
II光導電膜3と同様の方法で作製する高抵抗半導体膜
である1−a−3i:H膜5を堆積する。その後、フォ
トリソグラフィー法によりパターニング形成する。
ここで、前記第一主電極を兼ねた個別金属電極4と後に
作製する第二主電極6の配線への引き出し部のショート
を回避するために、前記個別金属電極4上からフォトダ
イオード側面にか°けて、SiH4及びMHIの混合ガ
スをグロー放電分解し絶縁膜9であるSiN、膜9を堆
積し、その後、フォトリソグラフィー法によりパターニ
ングする。
作製する第二主電極6の配線への引き出し部のショート
を回避するために、前記個別金属電極4上からフォトダ
イオード側面にか°けて、SiH4及びMHIの混合ガ
スをグロー放電分解し絶縁膜9であるSiN、膜9を堆
積し、その後、フォトリソグラフィー法によりパターニ
ングする。
次に、前記1−a−3t:H膜5及び前記SiNx膜9
に、読み出し回路部への配線を兼ねた第二主電極6を、
AIを材料として電子ビーム蒸着法により堆積しさらに
フォトリソグラフィー法によりパターニングする。
に、読み出し回路部への配線を兼ねた第二主電極6を、
AIを材料として電子ビーム蒸着法により堆積しさらに
フォトリソグラフィー法によりパターニングする。
続いて、前記第二主電極6上に、ゲート絶縁膜7として
上記絶縁膜9と同様な方法によってSin。
上記絶縁膜9と同様な方法によってSin。
絶縁膜7を堆積及びパターニングする。
さらに、前記ゲート絶縁膜7上にゲート電極8としてA
Iを電子ビーム蒸着法にて被着後、パターニングして作
製する。この時、ゲート電極8作製と同時に走査回路へ
の配線部も作製する。
Iを電子ビーム蒸着法にて被着後、パターニングして作
製する。この時、ゲート電極8作製と同時に走査回路へ
の配線部も作製する。
実施例においては、フォトダイオード部及び縦型薄膜ト
ランジスタ部の各構造については、最も基本的構造で示
したが、各素子の特性向上のために半導体金属界面にブ
ロッキング層や低抵抗半導体層を挿入するなどの構造で
も本発明は有効である。
ランジスタ部の各構造については、最も基本的構造で示
したが、各素子の特性向上のために半導体金属界面にブ
ロッキング層や低抵抗半導体層を挿入するなどの構造で
も本発明は有効である。
〈発明の効果〉
以上、詳細に説明したように本発明の受光素子は、スイ
ッチング速度の速い縦型薄膜トランジスタをフォトダイ
オードの駆動に使用するため、高速読み取りが可能とな
る。
ッチング速度の速い縦型薄膜トランジスタをフォトダイ
オードの駆動に使用するため、高速読み取りが可能とな
る。
さらに、フォトダイオード素子毎に高速動作可能な縦型
薄膜トランジスタを一体化搭載する事により、従来のマ
トリクス配線、多層配線が不要な、第1図は、本発明の
受光素子の一実施例を示す断面説明図である。
薄膜トランジスタを一体化搭載する事により、従来のマ
トリクス配線、多層配線が不要な、第1図は、本発明の
受光素子の一実施例を示す断面説明図である。
第2図は、−船釣なイメージセンサの一例を示す構成図
である。
である。
第3図は、従来の受光素子の一例を示す断面説明図であ
る。
る。
第4図は、従来の縦型薄膜トランジスタの一例を示す断
面説明図である。
面説明図である。
1・・・絶縁性基板 2・・・共通透、明電極3・
・・光導電膜 4・・・第一主電極5・・・高抵
抗半導体膜 6・・・第二主電極 7・・・ゲート絶縁膜8・・
・ゲート電極 9・・・絶縁膜10・・・絶縁性基
板 11・・・フォトダイオード12・・・薄膜トラ
ンジスタ 13・・・走査回路 14・・・読み出し回路15
・・・電圧源 20・・・絶縁性基板21・・・
下部電極 22・・・光導電膜23・・・上部電極
24・・・ゲート電極25・・・ゲート絶縁m
26・・・高抵抗半導体膜27・・・低抵抗半導体膜 28・・・第一主電極 29・・・第二主電極30・
・・絶縁性基板 31・・・第一主電極32・・・第
二主電極 33・・・高抵抗半導体膜34ゲート絶縁
膜 35・・・ゲート電極時 許 出 願
人 凸版印刷株式会社 代表者 鈴木和夫 第1図 第2図 第3図 第4図
・・光導電膜 4・・・第一主電極5・・・高抵
抗半導体膜 6・・・第二主電極 7・・・ゲート絶縁膜8・・
・ゲート電極 9・・・絶縁膜10・・・絶縁性基
板 11・・・フォトダイオード12・・・薄膜トラ
ンジスタ 13・・・走査回路 14・・・読み出し回路15
・・・電圧源 20・・・絶縁性基板21・・・
下部電極 22・・・光導電膜23・・・上部電極
24・・・ゲート電極25・・・ゲート絶縁m
26・・・高抵抗半導体膜27・・・低抵抗半導体膜 28・・・第一主電極 29・・・第二主電極30・
・・絶縁性基板 31・・・第一主電極32・・・第
二主電極 33・・・高抵抗半導体膜34ゲート絶縁
膜 35・・・ゲート電極時 許 出 願
人 凸版印刷株式会社 代表者 鈴木和夫 第1図 第2図 第3図 第4図
Claims (1)
- 1)絶縁性基板上に共通透明電極、光導電膜、個別金属
電極を順次積層して構成されたフォトダイオードと、前
記フォトダイオードと基板を同一とし、前記個別金属電
極を第一主電極として共用し、高抵抗半導体膜、第二主
電極を順次積層した多層体の側面から基板表面にかけて
ゲート絶縁膜及びゲート電極を設けてなる縦型薄膜トラ
ンジスタの2つを一体的な構造をもたせて形成した事を
特徴とする受光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63016672A JPH01192166A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | 受光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63016672A JPH01192166A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | 受光素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01192166A true JPH01192166A (ja) | 1989-08-02 |
Family
ID=11922804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63016672A Pending JPH01192166A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | 受光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01192166A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6320221B1 (en) | 1998-12-30 | 2001-11-20 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | TFT-LCD having a vertical thin film transistor |
JP2020512678A (ja) * | 2017-03-13 | 2020-04-23 | 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司Boe Technology Group Co.,Ltd. | 半導体デバイス、アレイ基板及び半導体デバイスの製造方法 |
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1988
- 1988-01-27 JP JP63016672A patent/JPH01192166A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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