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JPH0963111A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

光ピックアップ装置

Info

Publication number
JPH0963111A
JPH0963111A JP7237810A JP23781095A JPH0963111A JP H0963111 A JPH0963111 A JP H0963111A JP 7237810 A JP7237810 A JP 7237810A JP 23781095 A JP23781095 A JP 23781095A JP H0963111 A JPH0963111 A JP H0963111A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
hologram element
light source
pickup device
optical pickup
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7237810A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisahiro Ishihara
久寛 石原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Instruments Corp
Original Assignee
Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd filed Critical Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
Priority to JP7237810A priority Critical patent/JPH0963111A/ja
Publication of JPH0963111A publication Critical patent/JPH0963111A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 集光用のレンズ手段やミラーなどの反射手段
を用いなくても、半導体レーザの前方出射光パワーモニ
ターや、パッケージケースとホログラム素子との位置関
係を容易且つ微細に調整できる光ピックアップ装置を提
供する。 【解決手段】 光源から出射される光を透過型ホログラ
ム素子及び対物レンズを介して光記録媒体に集光させる
と共に、該光記録媒体からの戻り光を上記透過型ホログ
ラム素子により回折させ、該回折させた戻り光を受光素
子により検出するように構成してなる光ピックアップ装
置に於いて、上記ホログラム素子の一方側の面の一部領
域にモニター用反射部を形成し、上記光源から出射した
出射光の一部を上記モニター用反射部により反射させ、
上記受光素子に形成したモニター用受光部で受光するよ
うに構成したことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトディス
クや相変化書き換え型ディスクなどの光ディスクから情
報を読みとるための光ピックアップ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスクから情報を読みとるための光
ピックアップ装置としては、従来よりコンパクトディス
クからの情報を読みとる光ピックアップ装置が知られて
いる。コンパクトディスクの記録情報は、ディスク面に
設けられたトラックに沿って並んだピット列として蓄積
されている。半導体レーザ光源からの光が対物レンズに
よって集光され、この対物レンズにて集光されたコヒー
レント光が、ディスク面に設けられた情報トラック上の
ピット列に照射されると、集光されたコヒーレント光の
スポット位置がピットのエッジ部分にかかった場合は、
エッジ平坦面からの反射光と凹部からの照射光との干渉
効果によりピット外の平らな場所で反射した場合に比べ
て反射光の光量が減少する。光ピックアップ装置では、
このピット列に対応した反射光量の減少を受光素子によ
り検出し、この検出信号を電気パルス信号に変換して出
力し情報の読み取りを行うようになっている。
【0003】ところで、実際の光ディスクにおいては、
ディスク表面にそりや歪みがあり、また光ディスクの支
持・回転駆動を行う回転軸の傾きなども考慮すると、正
確な情報読みとりのためには光ピックアップ装置の対物
レンズとディスク表面との位置関係を常に適切に保つよ
うに制御しなければならない。即ち、照射光がトラック
上のピット列からそれないためのトラッキング方向の位
置制御と、上記照射光の焦点位置を常にディスクのピッ
トが形成された情報面に一致させるためのフォーカシン
グ制御である。このような制御を行なうためのトラッキ
ングずれ信号及びフォーカシングずれ信号を検出するた
めの光学系機能を1枚のホログラム素子に集積させ、部
品点数の削減及び装置の小型化を図る取り組みが盛んに
なされている。
【0004】このような従来技術の一例を図4に示す。
図4において、光源である半導体レーザ11を出射した
光束は、透過型ホログラム素子12の光源側の面12a
に形成された回折格子(図示せず)により0次光及び±
1次光の3つの光束に分波され、このうちの0次光がい
わゆるメインビームとして記録情報の読み取りに用いら
れ、±1次光の2光束は公知のいわゆる3ビ−ム法によ
るトラッキングエラー検出のためのサイドビームとして
用いられる。
【0005】対物レンズ14を経た3本の出射光束は光
デイスク15上に各々焦点を結び、その反射光が再び対
物レンズ14を経て透過型ホログラム素子12に戻るこ
とになる。ここでは対物レンズ側の面12bに形成され
たホログラムパターン(図示せず)が上記反射光の3光
束を回折させ、各々の光束の1次回折光が受光素子13
に形成した対応する受光領域に受光されるように偏向さ
れる。このうち上記2つのサイドビームの反射光に対応
する信号間の差分を取ることで公知のトラッキングエラ
ー検出を行ない、メインビーム反射光を多分割フォトダ
イオードを用いて受光することにより、公知のフーコー
法やスポットサイズ法などによってフォーカシングエラ
ー検出及びRF情報信号の検出を行なう。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、対物レ
ンズ側の面12bに形成されたホログラムパターンがデ
ィスクにより反射された3つの光束を回折させ、各々の
光束の回折光が受光素子13内の対応する受光領域に結
合するよう偏向される光ピックアップ装置においては、
反射光が正確に受光素子13内の対応する受光領域に結
合するよう、組立工程にてパッケージケース16に正確
に位置関係を微調整してホログラム素子12を固定をす
る必要がある。
【0007】しかしながら、上記のような微調整を行う
ためには、ホログラム素子12を経たレーザ光をレンズ
手段で集光し、その焦点位置に設置したミラーなどの反
射手段により折り返し、この反射光が、ホログラム素子
12に形成したホログラムパターンにより所定の受光位
置に結合されているかを検出しなければならず、組立調
整が非常に複雑なものとなっていた。
【0008】また、図4に示す光ピックアップ装置にお
いては、実際にディスクからの情報読み取りを行う実使
用動作時に、半導体レーザから出射されるレーザ光のパ
ワーをモニターすることができず、検出するためにはそ
の他の光学系を必要とするという問題もあった。
【0009】本発明は、上記実情に対し、ホログラム素
子にモニター用反射部を形成することにより、従来必要
としていた集光用のレンズ手段やミラーなどの反射手段
を用いなくても、半導体レーザの前方出射光パワーモニ
ターや、パッケージケースとホログラム素子との位置関
係を容易且つ微細に調整できる光ピックアップ装置を提
供することを目的とするものである。
【0010】
【問題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、請求項1記載の光ピックアップ装置では、透過型ホ
ログラム素子の一方側の面の一部領域にモニター用反射
部を形成し、光源から出射した出射光の一部を上記モニ
ター用反射部により反射させ、受光素子に形成したモニ
ター用受光部で受光するように構成している。また、請
求項2記載の発明では、上記モニター用反射部は、上記
透過型ホログラム素子の上記光源側の面に形成してあ
り、請求項3記載の発明では、前記モニター用反射部は
金属膜で構成した反射型ホログラムパターンとしてあ
る。
【0011】請求項4記載の発明では、光源及び受光素
子はパッケージ内に収められ、透過型ホログラム素子
は、上記パッケージに位置調整可能に取り付けられるも
のであり、また、請求項5記載の発明では、上記透過型
ホログラム素子の上記光源側の面には、上記光源からの
出射光束を3つの光束に分波する回折格子が形成されて
いると共に、上記透過型ホログラム素子の上記光源とは
逆側の面には、光記録媒体からの戻り光である上記3つ
の光束を上記受光素子のそれぞれ対応した受光面に入射
させるホログラムパターンを形成してある。
【0012】上記のように構成された光ピックアップ装
置では、光源から出射される光を透過させるホログラム
素子の一方側の面にモニター用反射部を形成し、上記光
源から出射したレーザ光の一部を上記モニター用反射部
により反射させ、受光素子に形成したモニター用受光部
で受光するように構成し、このモニター用受光部からの
出力を上記ホログラム素子の位置調整や実使用動作時の
半導体レーザのパワーモニターとして用いる。
【0013】上記モニター用反射部は、透過型ホログラ
ム素子の半導体レーザ光源側の面に形成することができ
る。また、上記モニター用反射部の他に、透過型ホログ
ラム素子の半導体レーザ光源側の面には半導体レーザ光
源からの出射光束を3つの光束に分波する回折格子を形
成すると共に、上記透過型ホログラム素子の上記半導体
レーザ光源とは逆側の面にはディスクにより反射された
上記3つの光束をそれぞれ対応した受光面に入射させる
ホログラムパターンを形成しておくことができる。
【0014】
【発明の実施の形態】次に、本発明の光ピックアップ装
置の実施の形態を図1から図3に基づいて説明する。
【0015】
【実施例】図1は、本発明の光ピックアップ装置の基本
構成を示す一部側断面図である。ここで説明する光ピッ
クアップ装置は、通常のように、ディスク半径方向に移
動する移動装置に取付けられ、また、ディスクと対向す
る対物レンズはフォーカシング方向及びトラッキング方
向の移動ができるように保持されているが、これらの機
構については公知の技術であり、本発明の要旨でもない
ので、その詳細な説明については省略する。
【0016】図1において、1は半導体レーザ光源、2
は半導体レーザ光源1からのレーザ光が照射される透過
型ホログラム素子、3は透過型ホログラム素子2の光源
側の面2aの中央一部領域に金属膜蒸着により形成した
モニター用反射部であり、反射型ホログラムパターンが
形成されている。4は半導体レーザ光源1を取り付ける
と共に後述する受光部が形成されたシリコン基板等から
なる受光基板、5は光ディスクの半径方向に移動可能に
設けられる図示しないフレームにフォーカシング方向及
びトラッキング方向に移動可能に配設された対物レン
ズ、6は対物レンズ5からの光が集光される光ディス
ク、7は内部に半導体レーザ光源1、受光基板4を収納
し上部にホログラム素子2が取り付けられるパッケージ
である。このパッケージ7は上記フレームに固定され、
このフレームが上記ディスク半径方向に移動する移動装
置に取付けられるものである。尚、8は半導体レーザ光
源1と一体のヒートシンクである。
【0017】透過型ホログラム素子2の光源側の面2a
には、公知の3ビーム法によるトラッキングエラー信号
検出のための回折格子パターン20が図2(a)に示す
ように形成されており、半導体レーザ光源1からのレー
ザ光は、回折格子パターン20により0次光及び±1次
光の3つの光束に分波される。更に、ホログラム素子2
の光源側の面2aの中央一部領域には、金属膜蒸着によ
り形成した反射型ホログラムパターン(回折格子パター
ン)が設けられ、この反射型ホログラムパターンがモニ
ター用反射部3を構成している。
【0018】また、透過型ホログラム素子2の対物レン
ズ側の面2bには、公知のフーコー法によるフォーカシ
ングエラー信号検出のために、図2(b)に示すように
各々ピッチの異なる回折格子パターン21、22を有す
る2分割領域からなるホログラムパターンが形成されて
いる。この回折格子パターン21、22は、ディスクに
より反射された上記3つの光束を回折させ、各々の光束
の回折光が受光基板4に形成した対応する受光領域に結
合するよう偏向させるものである。
【0019】半導体レーザ光源1を取り付けたシリコン
基板等からなる受光基板4には、図3(a)に示すよう
に、ホログラム素子2に形成したモニター用反射部3か
らの反射光を受光するモニター用受光部4aが設けら
れ、また、公知のフーコー法による検出のため、図3
(b)に示すように、2つの2分割受光部4c、4fが
設けられている。これら2つの受光部4c,4fは、メ
インビームである0次光が光ディスク6により反射され
た反射光を受光するものであり、透過型ホログラム素子
2の対物レンズ側の面2bに形成された回折格子パター
ン21、22によって分波・偏向された光を受光してそ
の検出結果を出力し、この検出出力から公知のフーコー
法検出手法によってエラー信号及びRF情報信号の検出
を行なう。更に、受光部4b,4d,4e,4gは、サ
ブビームである±1次光の光ディスク6からの反射光を
受光するものであり、透過型ホログラム素子2の対物レ
ンズ側の面2bに形成された回折格子パターン21、2
2によって分波・偏向された光を受光してその検出結果
を出力し、この検出結果から公知の3ビーム法トラッキ
ングエラー信号が得られる。
【0020】ところで透過型ホログラム素子2の光源側
の面2aにより形成したモニター用反射部3には、図2
(a)に示すように、集光作用を有するように格子レン
ズパターンが形成されており、従ってこのモニター用反
射部3は、図3(a)に示すように、半導体レーザ1の
出射光の一部を反射させ、この反射回折光が受光基板4
に形成したモニター用受光部4aに集光される。このた
め光ピックアップ装置の組立工程において、半導体レー
ザ1及び受光素子4が実装されたパッケージ7へのホロ
グラム素子2の固定時には、半導体レーザ1からの出射
光をモニター用反射部3により反射させ、その反射光を
受光基板4に形成したモニター用受光部4aで受光して
その光電流をモニターしつつホログラム素子2の取り付
け位置の微調整を行ない、光電流値が極大となる位置で
接着などによりパッケージ7へホログラム素子2を固定
する。
【0021】次に、通常の動作状態では、半導体レーザ
1を出射した光束は、透過型ホログラム素子2の光源側
の面2aに形成された回折格子20により、0次光及び
±1次光の3つの光束に分波され、このうちの0次光が
記録情報の読み取りに用いられ、±1次光の2光束は公
知のいわゆる3ビ−ム法によるトラッキングエラー検出
のためのサイドビームとして機能するが、本実施例にお
いては、透過型ホログラム素子2の光源側の面2aにモ
ニター用反射部3が形成されているから、このモニター
用反射部3からの反射光を、受光基板4に形成したモニ
ター用受光部4aによって受光し、その受光した結果生
ずる光電流を半導体レーザ1の出射光のパワーモニター
として利用することができる。
【0022】尚、対物レンズ5を経た0次光及び±1次
光の3本の出射光束は、通常のように光デイスク6上に
各々焦点を結び、その反射光が再び対物レンズ5を経て
透過型ホログラム素子2に戻ることになる。透過型ホロ
グラム素子2の対物レンズ側の面2bには、既に説明し
たように、回折格子パターン21、22が形成されてい
るから、この回折格子パターン21、22によってそれ
ぞれ上記3光束の反射光は回折させられ、各々の光束の
1次回折光が受光基板4に形成した6カ所の受光部4
b,4c、4d、4e,4f,4gにより受光される。
【0023】本発明は、上述の実施例で説明した3ビー
ム法トラッキングエラー検出及びフーコー法フォーカシ
ングエラー検出のためのホログラム素子に限定されるも
のではなく、例えば公知のプッシュプル法トラッキング
エラー検出、非点収差法やスポットサイズ法などのフォ
ーカシングエラー検出を実現するためのホログラム素子
であっても適用することができる。それらの際には、透
過型ホログラム素子2に形成するホログラムパターンと
それに応じた受光部のパターン形状をそれぞれの方式に
合わせ変更すればよい。
【0024】ちなみに、プッシュプル法トラッキングエ
ラー検出を採用した場合には3ビーム形成用の回折格子
2aが不要となるので、透過型ホログラム素子2に設け
る回折格子のパターンはホログラム素子2の一方の面に
のみ形成すればよい。この場合、受光部への集光用ホロ
グラムパターンとモニター用反射型ホログラムパターン
とは、ホログラム素子2の一方側の同一面に形成して
も、対向する面に各々形成しても良い。
【0025】また、前述の実施例では、ホログラム素子
2の光源側にモニター用反射型ホログラム素子部3を形
成したが、ホログラム素子2の対物レンズ側の面2bに
形成してもよい。また、上記のモニター用反射型ホログ
ラム素子部3は、金属膜蒸着により形成したが、誘電体
多層膜などで形成することもできる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光源から出射される光を透過させるホログラム素子の一
方側の面にモニター用反射部を形成し、上記光源から出
射したレーザ光の一部を上記モニター用反射部により反
射させ、この反射光を受光素子に形成したモニター用受
光部で受光するように構成したから、このモニター用受
光部からの出力を用いることにより、上記ホログラム素
子の位置を調整した後にそのホログラム素子をパッケー
ジケースに固定することができ、また、実使用動作時に
半導体レーザのパワーモニターとして用いることができ
る。
【0027】また、上記モニター用反射部は、透過型ホ
ログラム素子の半導体レーザ光源側の面に形成している
ので、半導体レーザ光源からの光をダイレクトにモニタ
ーすることができ、正確なモニターをすることができ
る。
【0028】更に、上記半導体レーザ光源及び受光素子
はパッケージ内に収められ、上記透過型ホログラム素子
は上記パッケージに位置調整可能に取り付けるように構
成してあるので、上記モニター用反射部からの反射光を
モニターし、適切な位置に透過型ホログラム素子を調整
して取り付けることが、パッケージ内に収められたレー
ザ光源及び受光素子等と透過型ホログラム素子のみの部
品状態で可能となる。
【0029】更に、透過型ホログラム素子の半導体レー
ザ光源側の面には上記半導体レーザ光源からの出射光束
を3つの光束に分波する回折格子が形成されていると共
に、上記透過型ホログラム素子の上記半導体レーザ光源
とは逆側の面には光ディスクからの反射光である上記3
つの光束を受光素子のそれぞれ対応した受光面に入射さ
せるホログラムパターンを形成してあるので、1枚のホ
ログラム素子でトラッキングずれ信号及びフォーカシン
グずれ信号も検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す光ピックアップ装置の
構成図である。
【図2】本発明のホログラム素子のホログラムパターン
を示す図である。
【図3】本発明の光ピックアップ装置における光の受光
状態を示す説明図である。
【図4】従来例の光ピックアップ装置を示す構成図であ
る。
【符号の説明】
1 半導体レーザ光源 2 透過型ホログラム素子 3 モニター用反射部 4 受光基板 4a モニター用受光部 4b,4d,4e,4g 受光部 4c,4f 2分割受光部 5 物レンズ 6 光ディスク 7 パッケージ 20,21,22 回折格子パターン

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源から出射される光を透過型ホログラ
    ム素子及び対物レンズを介して光記録媒体に集光させる
    と共に、該光記録媒体からの戻り光を上記透過型ホログ
    ラム素子により回折させ、該回折させた戻り光を受光素
    子により検出するように構成してなる光ピックアップ装
    置に於いて、上記ホログラム素子の一方側の面の一部領
    域にモニター用反射部を形成し、上記光源から出射した
    出射光の一部を上記モニター用反射部により反射させ、
    上記受光素子に形成したモニター用受光部で受光するよ
    うに構成したことを特徴とする光ピックアップ装置。
  2. 【請求項2】 前記モニター用反射部は、前記透過型ホ
    ログラム素子の前記光源側の面に形成したことを特徴と
    する請求項1記載の光ピックアップ装置。
  3. 【請求項3】 前記モニター用反射部は金属膜で構成し
    た反射型ホログラムパターンであることを特徴とする請
    求項2記載の光ピックアップ装置。
  4. 【請求項4】 前記光源及び前記受光素子はパッケージ
    内に収められ、前記透過型ホログラム素子は、上記パッ
    ケージに位置調整可能に取り付けられることを特徴とす
    る請求項2記載の光ピックアップ装置。
  5. 【請求項5】 前記透過型ホログラム素子の前記光源側
    の面には、前記光源からの出射光束を3つの光束に分波
    する回折格子が形成されていると共に、前記透過型ホロ
    グラム素子の前記光源とは逆側の面には、前記光記録媒
    体からの戻り光である前記3つの光束を前記受光素子の
    それぞれ対応した受光面に入射させるホログラムパター
    ンを形成したことを特徴とする請求項2記載の光ピック
    アップ装置。
JP7237810A 1995-08-23 1995-08-23 光ピックアップ装置 Pending JPH0963111A (ja)

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