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JPH09181156A - Vacuum chuck - Google Patents

Vacuum chuck

Info

Publication number
JPH09181156A
JPH09181156A JP33655595A JP33655595A JPH09181156A JP H09181156 A JPH09181156 A JP H09181156A JP 33655595 A JP33655595 A JP 33655595A JP 33655595 A JP33655595 A JP 33655595A JP H09181156 A JPH09181156 A JP H09181156A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum chuck
diaphragm
opening
volume
cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33655595A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Ishiyama
弘 石山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP33655595A priority Critical patent/JPH09181156A/en
Publication of JPH09181156A publication Critical patent/JPH09181156A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Jigs For Machine Tools (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chuck which can be used in liquid and air without a vacuum energy source. SOLUTION: A bank-shaped part 13 is made to abut against the surface of an object 103 to be held (the back of a wafer) and surrounds an area of the surface. A diaphragm 14 is spread on an aperture part of the bank-shaped part 13. The diaphragm 14 is energized to the direction isolating from the surface of the object 103 to be held, by a diaphragm energizing means 15 (by reduced pressure of a cavity). Then negative pressure is generated in a space between the diaphragm 14 and the surface of the object 103 to be held, and the object 103 to be held is sucked and held.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は真空チャックに関
し、特に液中で対象物を吸着保持するのに適した真空チ
ャック、例えば薬液中で半導体ウェーハを吸着保持する
のに適した真空チャックに関する(「半導体ウェーハ」
は以下「ウェーハ」という)。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum chuck, and more particularly to a vacuum chuck suitable for adsorbing and holding an object in a liquid, for example, a vacuum chuck suitable for adsorbing and holding a semiconductor wafer in a chemical solution. Semiconductor wafer "
Hereinafter referred to as "wafer").

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体製造工程に於けるウェーハの保持
は、通常、キャリヤー、機械的チャック、或いは真空チ
ャックによって行なわれる。ロボットで行なうにしろ、
人の手で行なうにしろ、この中でウェーハを保持するの
に最も適するのは真空チャックである。
2. Description of the Related Art A wafer is usually held in a semiconductor manufacturing process by a carrier, a mechanical chuck, or a vacuum chuck. Whether done by a robot,
Of these, the vacuum chuck is the most suitable for holding the wafer, even if it is done manually.

【0003】何故なら、キャリヤーや機械的チャックで
は、枠の中に立て掛けたり周縁を掴んだりしてウェーハ
を保持する。このため、これらの一部がウェーハの表面
(回路形成面)に接触する危険があり、そうならないよ
うに所定の対策をとっておかなければならないからであ
る。
Because the carrier and the mechanical chuck hold the wafer by leaning against the frame or grasping the peripheral edge. For this reason, there is a risk that a part of them will come into contact with the surface of the wafer (circuit forming surface), and certain measures must be taken to prevent this.

【0004】真空チャックでは、ウェーハの裏面にこれ
を吸着させる。この為、そのような可能性は全く無く、
安心してウェーハを取り扱うことが出来る。
In the vacuum chuck, this is adsorbed on the back surface of the wafer. Therefore, there is no such possibility,
Wafers can be handled with confidence.

【0005】従来の真空チャックの例101を図7に示
す。図の(A)はこの真空チャック101を開口面(正
面)から見たもの、(B)はこれを背面から見たもの、
(C)は(A)の7C−7C矢視線で切断した断面を示
すものである。
FIG. 7 shows an example 101 of a conventional vacuum chuck. (A) of the figure shows the vacuum chuck 101 viewed from the opening surface (front side), and (B) shows the vacuum chuck 101 viewed from the back side.
(C) shows a cross section taken along line 7C-7C of (A).

【0006】全体の形状は少し厚みのある円盤状で、内
部に空洞部102を有する。ウェーハ103を吸着保持
する開口側には、環状溝104,105及び中央凹部1
06が設けられており、これらの底部には、この環状溝
と前記空洞部102とを連通する複数の通気孔107が
穿設されている。
The overall shape is a disk with a little thickness and has a cavity 102 inside. The annular grooves 104 and 105 and the central concave portion 1 are provided on the opening side for holding the wafer 103 by suction.
06 are provided, and a plurality of vent holes 107 that communicate the annular groove and the cavity 102 are bored in the bottom of these.

【0007】環状溝104及び105を形作っている環
状堤部108,109,110の部材はテフロン、セラ
ミックス等の材料もしくはSUS・アルミニウムの母材
にテフロン、セラミックスがコーティングしてある。
The members of the annular bank portions 108, 109 and 110 forming the annular grooves 104 and 105 are made of a material such as Teflon or ceramics, or a SUS / aluminum base material coated with Teflon or ceramics.

【0008】使用に当たっては、この開口面をウェーハ
103に押し当てる。そのあと空洞部102の空気を排
気口111から不図示真空ポンプで吸引する。空洞部1
02及び環状溝104,105の中が負圧になり、ウェ
ーハ103が真空チャック101に保持される。
In use, this opening surface is pressed against the wafer 103. After that, the air in the cavity 102 is sucked from the exhaust port 111 by a vacuum pump (not shown). Cavity 1
02 and the inside of the annular grooves 104 and 105 become negative pressure, and the wafer 103 is held by the vacuum chuck 101.

【0009】なお蛇足ながら、本明細書でいうところの
「真空」、例えば発明の名称にいう「真空」とは、「回
りに対して負圧」ということを意味し、「高度の真空」
を意味しない。
It is to be noted that the term "vacuum" as used in the present specification, for example, "vacuum" in the title of the invention means "a negative pressure with respect to the surroundings" and means "high vacuum".
Does not mean

【0010】こうしたのは、この種工具が一般に「真空
チャック」と呼称されており、これに従った方が判りや
すいからである。本明細書でも、このような一般の定義
に倣い「真空」の語を使用する。
This is because this kind of tool is generally called a "vacuum chuck", and it is easier to understand if it is followed. In this specification, the term "vacuum" is used in accordance with this general definition.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の真
空チャック101は、まだ改善すべき点があった。第一
に、この従来のものは、保持対象物に密着させてから吸
引を始めるなど、慎重に取扱いをしても、回りの液体や
気体を吸引してしまうものであった。
However, the conventional vacuum chuck 101 described above still has some points to be improved. First, this conventional device sucks the surrounding liquid or gas even if it is carefully handled, for example, by starting suction after it is brought into close contact with the object to be held.

【0012】このため薬液の吸出し、吸気系統の腐食、
損傷などが生じ、特に液中、例えばウェーハ103のエ
ッチング液の中などでは使用することは出来なかった。
また当該ガスの吸出しなどがあるため、不活性ガスなど
が充填された密閉空間などでも使用することが出来なか
った。
Therefore, the sucking of the chemical solution, the corrosion of the intake system,
Damage and the like occur, and it cannot be used especially in a liquid, for example, in an etching liquid for the wafer 103.
In addition, since the gas is sucked out, it cannot be used even in a closed space filled with an inert gas or the like.

【0013】第二に、従来のものは、真空エネルギー源
(真空ポンプなど)を必ず必要とした。この為設備コス
トが掛かり、設置場所、メンテナンスも必要としてい
た。
Secondly, the conventional one always requires a vacuum energy source (vacuum pump or the like). For this reason, the equipment cost was high, and the installation location and maintenance were required.

【0014】本発明の目的は、これら従来の真空チャッ
クの欠点を解消し、液中でも気中でも使用可能であり、
しかも真空エネルギー源が無くても使用が可能である真
空チャックを提供することにある。
The object of the present invention is to eliminate the drawbacks of these conventional vacuum chucks and to be usable in liquid or air.
Moreover, it is to provide a vacuum chuck that can be used without a vacuum energy source.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上記目的達成のため請求
項1及びこれを引用する発明では、保持対象物に当接さ
れ該保持対象物表面の或る範囲を包囲する堤状部と、前
記堤状部の開口部に展張されたダイアフラムと、前記保
持対象物表面から離間する方向へ前記ダイアフラムを付
勢し前記堤状部と前記ダイアフラムと前記保持対象物の
表面とで包囲された空間に負圧を発生させるダイアフラ
ム付勢手段とを備える。
In order to achieve the above object, in Claim 1 and the invention cited therein, a bank-shaped portion which is in contact with an object to be held and surrounds a certain area of the surface of the object to be held, In the space surrounded by the diaphragm extended in the opening of the bank-shaped portion and the diaphragm and biasing the diaphragm in the direction away from the surface of the holding object, the bank-shaped portion, the diaphragm and the surface of the holding object. And a diaphragm urging means for generating a negative pressure.

【0016】また請求項13及びこれを引用する発明で
は、開口部が保持対象物に当接され該開口部が前記保持
対象物表面の或る範囲を包囲するキャビティと、伸縮可
能であり前記キャビティ内の或る容積を占有する容積占
有手段と、前記容積占有手段の前記占有する容積を減少
させる容積減少手段とを備え、該容積減少手段により前
記容積占有手段の前記キャビティ内に占める容積が減少
させ前記キャビティと前記保持対象物表面とで形成され
る空間を負圧にさせる。
In the thirteenth aspect of the invention and the invention cited therein, a cavity having an opening abutting the object to be held so that the opening encloses a certain area on the surface of the object to be held, and the cavity is expandable and contractable. A volume occupying means for occupying a certain volume therein, and a volume reducing means for reducing the volume occupied by the volume occupying means, the volume reducing means reducing the volume occupied by the volume occupying means in the cavity. Then, the space formed by the cavity and the surface of the object to be held is made to have a negative pressure.

【0017】請求項1及びこれを引用する発明では、堤
状部は保持対象物表面に当接され、その表面の或る範囲
を包囲する。堤状部の開口部にはダイアフラムが展張さ
れており、このダイアフラムはダイアフラム付勢手段、
例えば挺子式のレバーで、前記保持対象物表面から離間
する方向へ付勢される。
In the first aspect and the inventions cited therein, the bank portion is brought into contact with the surface of the object to be held and surrounds a certain range of the surface. A diaphragm is extended in the opening of the bank, and this diaphragm is a diaphragm urging means,
For example, the lever is urged in a direction away from the surface of the object to be held.

【0018】これにより前記堤状部と前記ダイアフラム
と前記保持対象物の表面とで包囲された空間に負圧が生
ずる。これにより保持対象物はこの真空チャックに吸着
保持される。
As a result, a negative pressure is generated in the space surrounded by the bank portion, the diaphragm and the surface of the object to be held. As a result, the object to be held is sucked and held by this vacuum chuck.

【0019】ダイアフラムでブロックされるため、液中
や気中で使用したとしても、当該液体や気体が吸気系等
に吸い込まれることは無い。
Since it is blocked by the diaphragm, even if it is used in liquid or air, the liquid or gas is not sucked into the intake system or the like.

【0020】請求項13及びこれを引用する発明では、
キャビティの開口部が保持対象物に当接される。この開
口部が前記保持対象物表面の或る範囲を包囲する。キャ
ビティには、伸縮可能で、キャビティの容積の或る部分
を占有する容積占有手段、例えばベローズが配置されて
いる。
According to the thirteenth aspect and the inventions cited therein,
The opening of the cavity is brought into contact with the object to be held. This opening surrounds a certain area of the surface of the object to be held. A volume occupying means, for example, a bellows, which is expandable and contractible and occupies a part of the volume of the cavity, is arranged in the cavity.

【0021】容積減少手段、例えば真空ポンプは、この
容積占有手段の内部の例えば空気を吸引し、その容積を
減少させる。これによりキャビティと保持対象物の表面
とで形成される密閉空間は、容積が拡大し、その分負圧
になる。これによってキャビティが表面に吸着し、対象
物が保持される。
The volume reducing means, for example a vacuum pump, sucks, for example, air inside the volume occupying means and reduces its volume. As a result, the closed space formed by the cavity and the surface of the object to be held expands in volume and becomes a negative pressure accordingly. As a result, the cavity is attracted to the surface and the object is held.

【0022】これら発明でも周囲のものは例えばベロー
ズでブロックされる。従って液中や気中で使用しても当
該液体や気体が吸気系等に吸い込まれるようなことは無
い。
Also in these inventions, the surroundings are blocked with, for example, bellows. Therefore, even when used in liquid or air, the liquid or gas will not be sucked into the intake system or the like.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下発明の詳細を図示実施の形態
例に基いて説明する。図1に第1の実施の形態例11を
示す。この実施の形態例は請求項1の発明、具体的には
これを引用した請求項2の発明の実施の形態の一つであ
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The details of the present invention will be described below with reference to illustrated embodiments. FIG. 1 shows a first embodiment example 11. This embodiment is one of the embodiments of the invention of claim 1, specifically, the invention of claim 2 which cites the invention.

【0024】同図(A)は真空チャック11の正面を示
す。同図(B)は断面を示し、これは同図(A)の1B
−1B線に沿って切断したものである(保持対象物たる
ウェーハ103を吸着した状態)。同図(C)は吸着保
持する前の状態を示す。
FIG. 1A shows the front surface of the vacuum chuck 11. The same figure (B) shows a cross section, and this is 1B of the same figure (A).
It is cut along the line -1B (in a state where the wafer 103, which is an object to be held, is sucked). FIG. 6C shows a state before the suction holding.

【0025】なお見にくくなるので、各図の断面のハッ
チングは適宜略す(例えば図1では取手18、ウェーハ
103など)。
Since it is difficult to see, the hatching of the cross section in each drawing is omitted as appropriate (for example, the handle 18 and the wafer 103 in FIG. 1).

【0026】12はバキュームハウスであり、浅い有底
筒体形をなす。開口部にはシリコンゴム等の弾性材から
なる開口部シール13が取着されている。これが請求項
1等にいう堤状部に当たる。
Reference numeral 12 denotes a vacuum house, which has a shallow bottomed cylindrical shape. An opening seal 13 made of an elastic material such as silicon rubber is attached to the opening. This corresponds to the bank portion as claimed in claim 1 and the like.

【0027】開口部シール13にはダイアフラム14が
張られている。これも同じような弾性部材で形成されて
おり、これと開口部シール13と、バキュームハウス1
2とでキャビティ15が形成される。
A diaphragm 14 is stretched over the opening seal 13. This is also formed of the same elastic member, and the opening seal 13 and the vacuum house 1
The cavity 15 is formed by 2 and.

【0028】キャビティ15と外部とは排気管16で連
通されている。排気管16にはチューブ17が接続され
ており、その他端は不図示真空ポンプに連結されてい
る。
An exhaust pipe 16 connects the cavity 15 and the outside. A tube 17 is connected to the exhaust pipe 16, and the other end is connected to a vacuum pump (not shown).

【0029】なお取手18はバキュームハウス12に延
設されており、その不図示他端は生産用ロボットに保持
されている。19は薬液槽、20はその中に貯留されて
いる薬液である。
The handle 18 is extended to the vacuum house 12, and its other end (not shown) is held by the production robot. Reference numeral 19 is a chemical liquid tank, and 20 is a chemical liquid stored therein.

【0030】例えば薬液20にウェーハ103を浸積す
るときこの真空チャック11を使用するとする。この場
合、次のようにシーケンスを組む。まず真空ポンプ等に
設置されている不図示バルブを開放し、キャビティ15
の内圧を大気圧に戻す。これでダイアフラム14が平ら
になる(図1(C))。
For example, when the wafer 103 is immersed in the chemical solution 20, the vacuum chuck 11 is used. In this case, the sequence is constructed as follows. First, open a valve (not shown) installed in a vacuum pump or the like to open the cavity 15
Return the internal pressure of to atmospheric pressure. This flattens the diaphragm 14 (FIG. 1 (C)).

【0031】次いで真空ポンプのバルブを閉じ吸引を行
なう。チューブ17、排気管16を介してキャビティ1
5内の空気が吸い出され、ここが所定の負圧になる。こ
の負圧は、従来同様、ウェーハ103を保持し得るに必
要な値で良い。
Then, the valve of the vacuum pump is closed and suction is performed. Cavity 1 through tube 17 and exhaust pipe 16
The air in 5 is sucked out, and this becomes a predetermined negative pressure. This negative pressure may be a value necessary to hold the wafer 103 as in the conventional case.

【0032】キャビティ15内が負圧になり、ダイアフ
ラム14はキャビティ15側に吸引される。この結果、
ウェーハ103の裏面(保持対象物の表面)と、これに
対向するダイアフラム14の表面と、外部シール13と
で形成される空間も負圧になる。ウェーハ103がこの
真空チャック11に吸着され保持される。
The inside of the cavity 15 has a negative pressure and the diaphragm 14 is sucked toward the cavity 15. As a result,
A negative pressure is also applied to the space formed by the back surface of the wafer 103 (front surface of the object to be held), the surface of the diaphragm 14 facing the wafer 103, and the external seal 13. The wafer 103 is adsorbed and held by the vacuum chuck 11.

【0033】次いでロボットの不図示アームを駆動さ
せ、ウェーハ103を吸着保持した真空チャック11を
薬液20に浸積する。設定された時間が経過したらロボ
ットのアームを駆動し、ウェーハ103を吸着した真空
チャック11を薬液から取り出す。所定位置でこのウェ
ーハ103を開放する。
Next, the arm (not shown) of the robot is driven to immerse the vacuum chuck 11 holding the wafer 103 by suction into the chemical solution 20. When the set time has elapsed, the arm of the robot is driven to take out the vacuum chuck 11 that has adsorbed the wafer 103 from the chemical solution. The wafer 103 is released at a predetermined position.

【0034】図2に第2の実施の形態例31を示す。こ
の実施の形態例も請求項1の発明、具体的には、これを
引用した請求項3の発明の実施の形態の一つである。
FIG. 2 shows an example 31 of the second embodiment. This embodiment is also one of the embodiments of the invention of claim 1, and more specifically, the invention of claim 3 cited therein.

【0035】同図(A)は真空チャック31の平面を示
す。同図(B)は断面を示し、同図(A)の2B−2B
線に沿って切断したものである。同図(C)はレバーク
ランプ32のみを取り出してその背面を示すものであ
る。
FIG. 3A shows the plane of the vacuum chuck 31. The same figure (B) shows a cross section, 2B-2B of the same figure (A)
It is cut along a line. FIG. 3C shows the back surface of the lever clamp 32 with only the lever clamp 32 taken out.

【0036】33はボデー部で板状をなす。先端には透
孔34が穿設されており、後端側は取手部35とされて
いる。36は開口部シールで、シリコンゴム等の弾性材
からなる。これが請求項1等にいう堤状部に当たる。
A body portion 33 has a plate shape. A through hole 34 is formed in the front end, and a handle portion 35 is formed on the rear end side. 36 is an opening seal, which is made of an elastic material such as silicon rubber. This corresponds to the bank portion as claimed in claim 1 and the like.

【0037】開口部シール36にもダイアフラム37が
張られている。これも同じような弾性部材で形成されて
いる。38はレバーであり、曲げに対する適度の反発力
(弾力)を有し、前記ボデー部33の先端に近い部分に
設置されている支持軸39に回動自在に支承されてい
る。レバー38の先端40は前記ダイアフラム37の中
央に固定されている。
A diaphragm 37 is also stretched on the opening seal 36. This is also formed of a similar elastic member. Reference numeral 38 denotes a lever, which has an appropriate repulsive force (elasticity) against bending, and is rotatably supported by a support shaft 39 installed at a portion near the tip of the body portion 33. The tip 40 of the lever 38 is fixed to the center of the diaphragm 37.

【0038】41は圧縮スプリングで、レバー38とボ
デー部33との間に介挿されており、両者を離間する方
向に付勢する。
Reference numeral 41 is a compression spring, which is inserted between the lever 38 and the body portion 33 and urges them in the direction of separating them.

【0039】ウェーハ103を吸着保持したいときは、
図2(B)の状態、即ちダイアフラム37が平坦な状態
にしておいて、開口部シール36をウェーハ103の裏
面に密着させる。
To hold the wafer 103 by suction,
With the state shown in FIG. 2B, that is, the diaphragm 37 being flat, the opening seal 36 is brought into close contact with the back surface of the wafer 103.

【0040】この状態で圧縮スプリング41の反発力に
抗してレバー38と取手部35とを握る。レバー38の
後端側42が、レバークランプ32両側の舌片による挟
み付けに抗し、その間に填まり込む。これでレバー38
の後端側42がレバークランプ32に保持される(図
3)。
In this state, the lever 38 and the handle portion 35 are gripped against the repulsive force of the compression spring 41. The rear end side 42 of the lever 38 resists the pinching by the tongues on both sides of the lever clamp 32 and fits in between them. This is the lever 38
The rear end side 42 is held by the lever clamp 32 (FIG. 3).

【0041】この状態で、レバー38が適宜撓む。ダイ
アフラム37の中心部はウェーハ103から離間する方
向に付勢される(撓みは必須ではない)。開口部シール
36と、ダイアフラム37の下面と、ウェーハ103の
裏面とで形成される空間が負圧になる。ウェーハ103
がこの真空チャック31に吸着保持される。
In this state, the lever 38 flexes appropriately. The central portion of the diaphragm 37 is biased in a direction away from the wafer 103 (bending is not essential). A negative pressure is applied to the space formed by the opening seal 36, the lower surface of the diaphragm 37, and the back surface of the wafer 103. Wafer 103
Are sucked and held by the vacuum chuck 31.

【0042】ウェーハ103を外したい場合は、レバー
38の後端側42をレバークランプ32から離脱させ
る。
When it is desired to remove the wafer 103, the rear end side 42 of the lever 38 is detached from the lever clamp 32.

【0043】図4に第3の実施の形態例51を示す。こ
の実施の形態例は請求項13の発明、具体的には、これ
を引用した請求項14の発明の実施の形態の一つであ
る。第1或いは第2の実施の形態例と同様の部分は図示
を略す。
FIG. 4 shows a third embodiment 51. This embodiment is one of the embodiments of the invention of claim 13, specifically, the invention of claim 14 which is cited therein. Illustration of parts similar to those of the first or second embodiment is omitted.

【0044】同図(A)は開口面(正面)を示す。同図
(B)、(C)は断面を示し、同図(A)の4B−4B
線に沿って切断したもので、(B)はウェーハ103の
吸着前の状態、(C)は吸着保持している状態を示す。
(D)は、(C)の4D−4D線で切断した断面の要部
を示す。
FIG. 6A shows an opening surface (front surface). (B) and (C) of the figure show cross sections, and 4B-4B of the same figure (A).
It is cut along a line, (B) shows a state before the wafer 103 is adsorbed, and (C) shows a state in which the wafer 103 is adsorbed and held.
(D) shows the principal part of the cross section cut along the 4D-4D line of (C).

【0045】図に於て、52はバキュームハウスで、浅
い有底筒体状をなす。開口部にはシリコンゴム等の弾性
材からなる開口部シール53が取着されており、これが
請求項13等にいう堤状部に当たる。またこの有底筒体
の内側の容積の全部68が請求項13等にいうキャビテ
ィに当たる。
In the figure, reference numeral 52 denotes a vacuum house, which has a shallow bottomed cylindrical shape. An opening seal 53 made of an elastic material such as silicone rubber is attached to the opening, and this corresponds to the bank portion as claimed in claim 13. Further, the entire inner volume 68 of the bottomed cylindrical body corresponds to the cavity as claimed in claim 13.

【0046】バキュームハウス52の中心には透孔54
が設けられていて、そこにスライド軸55が挿通されて
いる。スライド軸55の外周には環状溝が形成されてお
り、そこにOリング56が嵌め込まれている。
A through hole 54 is formed at the center of the vacuum house 52.
Is provided, and the slide shaft 55 is inserted there. An annular groove is formed on the outer periphery of the slide shaft 55, and an O-ring 56 is fitted therein.

【0047】スライド軸55の先端側には回転自在のジ
ョイント57が設けられており、その先に円盤58が取
着されている。
A rotatable joint 57 is provided on the tip end side of the slide shaft 55, and a disc 58 is attached to the tip thereof.

【0048】円盤58とバキュームハウスの底部59と
の間には、ベローズ60が配置されている。このベロー
ズ60もシリコンゴム等の弾性材で形成されており、一
方の開口は全周が円盤58の背面に、他方の開口も全周
がバキュームハウスの底部59に接着されている。
A bellows 60 is arranged between the disk 58 and the bottom 59 of the vacuum house. The bellows 60 is also made of an elastic material such as silicon rubber, and one opening is adhered to the back surface of the disk 58 over the entire circumference and the other opening is adhered to the bottom portion 59 of the vacuum house over the entire circumference.

【0049】円盤58と、バキュームハウスの底部59
と、ベローズ60とで、伸縮部61が形成される。これ
が請求項13等にいう容積占有手段に当たる。スライド
軸55にOリング56が嵌め込まれているので、内部は
密閉された空間62となる。スライド軸55が請求項1
3等にいう容積減少手段に当たる。
Disk 58 and bottom 59 of the vacuum house
And the bellows 60 form a stretchable portion 61. This corresponds to the volume occupying means described in claim 13 and the like. Since the O-ring 56 is fitted into the slide shaft 55, the space 62 is hermetically sealed. The slide shaft 55 is claim 1.
This corresponds to the volume reduction means referred to in 3 and the like.

【0050】このスライド軸55には係止ピン63が貫
通固定されている。バキュームハウスのハブ66には、
これに対応した擦り割り溝64が形成されており、保持
対象物を吸着する前は、この係止ピン63を擦り割り溝
64内に進入させておく(図4(B))。65は摘みで
ある。
A locking pin 63 is fixed through the slide shaft 55. At the vacuum house hub 66,
A slit groove 64 corresponding to this is formed, and the engaging pin 63 is made to enter the slit groove 64 before adsorbing the object to be held (FIG. 4 (B)). 65 is a pick.

【0051】例えばウェーハ103を吸着保持したい場
合、前述の図4(B)の状態にする。このとき円盤58
は開口部シール53とほぼ同じ位置にある。
For example, when it is desired to suck and hold the wafer 103, the state shown in FIG. Disk 58 at this time
Is almost at the same position as the opening seal 53.

【0052】この状態で開口部シール53をウェーハ1
03の背面に当接する。摘み65を持ち、伸縮部61の
収縮による反発力に抗してスライド軸55を引き出す。
係止ピン63を擦り割り溝64から脱出させておいてス
ライド軸55を90度ほど回転させる。
In this state, the opening seal 53 is attached to the wafer 1.
Abut on the back of 03. Holding the knob 65, the slide shaft 55 is pulled out against the repulsive force due to the contraction of the expandable portion 61.
The locking pin 63 is made to escape from the slit groove 64, and the slide shaft 55 is rotated about 90 degrees.

【0053】これで係止ピン63がハブ66のへり67
に乗る。スライド軸55は元の図4(B)の位置へ戻る
のが阻止され、図4(C)の状態になる。
The locking pin 63 is now engaged by the lip 67 of the hub 66.
get on. The slide shaft 55 is prevented from returning to the original position shown in FIG. 4B, and the state shown in FIG. 4C is obtained.

【0054】スライド軸55が引き出され、伸縮部61
の容積が減ることで、キャビティ68の残りの空間69
の容積が相対的に拡大し、負圧になる(残りの空間69
=開口部シール53と、バキュームハウス52の内壁及
び底と、伸縮部61の外壁と、ウェーハ103の裏面と
で包囲される空間)。
The slide shaft 55 is pulled out, and the expandable portion 61
The remaining volume 69 of the cavity 68
The volume of the water expands relatively and becomes negative pressure (the remaining space 69
= A space surrounded by the opening seal 53, the inner wall and the bottom of the vacuum house 52, the outer wall of the expandable portion 61, and the back surface of the wafer 103).

【0055】これでウェーハ103がこの真空チャック
51に吸着保持される。保持の解除には逆の操作をす
る。
Thus, the wafer 103 is suction-held on the vacuum chuck 51. Reverse the procedure to release the hold.

【0056】なおスライド軸55で引張らず、伸縮部の
密閉空間62の空気を真空ポンプで吸引するなどしても
良い。
Instead of pulling by the slide shaft 55, the air in the closed space 62 of the expandable portion may be sucked by a vacuum pump.

【0057】図5に第4の実施の形態例71を示す。こ
の実施の形態例71は請求項4〜請求項6に記載の発明
の実施の形態例の一つである。先に説明した各実施の形
態例と同様の部分は図示を略す。
FIG. 5 shows a fourth embodiment 71. This embodiment 71 is one of the embodiments of the invention described in claims 4 to 6. Illustrations of parts similar to those of the above-described embodiments are omitted.

【0058】同図(A)は正面を示す。同図(B)は断
面を示し、同図(A)の5B−5B線に沿って切断した
ものである。この真空チャック71は、ベース72の上
に、複数のバキュームハウス73、開口部シール74、
及びダイアフラム75を配置したものである。
FIG. 7A shows the front. The figure (B) shows a cross section, which is taken along the line 5B-5B in the figure (A). The vacuum chuck 71 includes a base 72, a plurality of vacuum houses 73, an opening seal 74,
And the diaphragm 75 are arranged.

【0059】これらバキュームハウス73、開口部シー
ル74、及びダイアフラム75は、第1の実施の形態例
11のバキュームハウス12、開口部シール13、及び
ダイアフラム14と同様の構造である。
The vacuum house 73, the opening seal 74, and the diaphragm 75 have the same structures as the vacuum house 12, the opening seal 13, and the diaphragm 14 of the eleventh embodiment.

【0060】各バキュームハウス73、開口部シール7
4及びダイアフラム75の作用も第1の実施の形態例1
1のものと同じである。ベース72には、各バキューム
ハウス73の底部に連通する通気孔76が穿設されてお
り、ここから、各バキュームハウス73内の空気が吸引
される。
Each vacuum house 73, opening seal 7
4 and the function of the diaphragm 75 are also the first embodiment 1
It is the same as that of 1. The base 72 is provided with a vent hole 76 communicating with the bottom of each vacuum house 73, from which air in each vacuum house 73 is sucked.

【0061】これで各開口部シール74がウェーハ10
3の各部を吸着する。吸着部分が分散し、ウェーハ10
3等を一層平坦に保持できる。
Now, each opening seal 74 is attached to the wafer 10
Adsorb each part of 3. Adsorption part is dispersed and wafer 10
3 etc. can be held flatter.

【0062】図6に第5の実施の形態例81を示す。こ
の実施の形態例は、請求項7〜請求項12、或いは請求
項19〜請求項24の発明の実施の形態例の一つであ
る。先に説明した各実施の形態例と同様の部分は図示を
略す。
FIG. 6 shows a fifth embodiment 81. This embodiment is one of the embodiments of the invention of claims 7 to 12 or claims 19 to 24. Illustrations of parts similar to those of the above-described embodiments are omitted.

【0063】同図(A)は正面を示す。(B)、(C)
は、(A)の6B−6B線に沿って切断した断面を示
し、(B)は吸着前、(C)は吸着した状態を示す。
FIG. 7A shows the front. (B), (C)
Shows a cross section taken along line 6B-6B in (A), (B) shows a state before adsorption, and (C) shows a state in which adsorption is performed.

【0064】この真空チャック81は、バキュームハウ
ス82の中央部を凹部83にし、その周りとバキューム
ハウス82の周縁とに、円筒状の壁84、85を突設し
たものである。そしてこれら壁84、85の上端に、リ
ング状の開口シール86、87を取着し、これらの間に
ダイアフラム88を張ったものである。
In this vacuum chuck 81, a central portion of a vacuum house 82 is made into a concave portion 83, and cylindrical walls 84 and 85 are provided around the concave portion 83 and at the periphery of the vacuum house 82. Then, ring-shaped opening seals 86 and 87 are attached to the upper ends of the walls 84 and 85, and a diaphragm 88 is stretched between them.

【0065】こうすると、キャビティ89がドーナツ状
になる。このキャビティ89と外部とを連通する通気孔
90から空気を吸引し、ダイアフラム88をキャビティ
89に向かってへこませる。
In this way, the cavity 89 has a donut shape. Air is sucked from the vent hole 90 that communicates the cavity 89 with the outside, and the diaphragm 88 is dented toward the cavity 89.

【0066】これで第1の実施の形態例と同様、ウェー
ハ103を吸着保持出来る。吸着面積が広くなるので、
ウェーハ103を一層平坦に保持できる。
With this, the wafer 103 can be sucked and held as in the first embodiment. Since the adsorption area becomes wider,
The wafer 103 can be held flatter.

【0067】なお上記説明では、半導体ウェーハの保持
を例にした。本発明の保持対象物はこれに限られない。
他のあらゆる物品の吸着保持に使用出来る。
In the above description, holding of the semiconductor wafer is taken as an example. The holding object of the present invention is not limited to this.
It can be used for adsorption holding of any other articles.

【0068】また明記はしなかったが、上記実施の形態
ではキャビティ内には空気が満たされていて、これを真
空ポンプで吸引し負圧を生成した。空気に代え、他の気
体を用いても良い。気体に限らず、水、オイルその他の
液体を例えば図1のキャビティ15内に封入し、これを
吸引して負圧を生成するようにしても良い。
Although not specified, the cavity was filled with air in the above-mentioned embodiment, and this was sucked by a vacuum pump to generate a negative pressure. Instead of air, other gas may be used. Not only gas but also water, oil or other liquid may be enclosed in the cavity 15 of FIG. 1, for example, and suctioned to generate a negative pressure.

【0069】ダイアフラム、ベローズ等の素材は任意で
ある。浸積する薬液、気体等への耐性さえ考慮すれば何
でも良い。
Materials such as diaphragm and bellows are optional. Anything is acceptable as long as it is resistant to the chemical liquid, gas, etc. to be immersed.

【0070】[0070]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1及びこれ
を引用する発明では、堤状部の開口部にダイアフラムを
展張し、この堤状部を保持対象物表面に当接して、その
表面の或る範囲を包囲し、このダイアフラムをダイアフ
ラム付勢手段で前記保持対象物表面から離間する方向へ
付勢することで対象物を吸着保持するようにした。
As described above, according to claim 1 and the invention cited therein, the diaphragm is extended in the opening of the bank, and the bank is brought into contact with the surface of the object to be held, and the surface thereof is held. The target object is sucked and held by urging the diaphragm in a direction away from the surface of the object to be held by the diaphragm urging means.

【0071】ダイアフラムで周囲のものの吸入が阻止さ
れるから、液中や気中でも問題無く使用出来る。従って
有害な液体、気体を吸引することも無い。ダイアフラム
やベローズに直接力を印加するようにすれば真空ポンプ
などのエネルギー源も不要になる。
Since the diaphragm prevents the inhalation of surrounding substances, it can be used without problems even in liquid or air. Therefore, no harmful liquid or gas is sucked. If the force is applied directly to the diaphragm or bellows, an energy source such as a vacuum pump is unnecessary.

【0072】請求項13及びこれを引用した発明では、
伸縮可能で、その容積の或る部分を占有する容積占有手
段をキャビティ内に配置し、その開口部を保持対象物に
当接したところで、容積占有手段の容積を減少させ対象
物を吸着保持するようにした。この発明でも上記と同様
の効果が期待できる。
According to the thirteenth aspect and the invention cited therein,
A volume occupying means, which is expandable and contractible and occupies a part of its volume, is arranged in the cavity, and when its opening is brought into contact with a holding object, the volume of the volume occupying means is reduced to adsorb and hold the object. I did it. In this invention, the same effect as above can be expected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の実施の形態例11を示し、(A)は正面
図、(B)、(C)は(A)の1B−1B線に沿う切断
面を示し、(B)はウェーハ103を吸着した状態、
(C)は吸着保持前の状態を示す断面図。
1 shows a first embodiment example 11, (A) is a front view, (B) and (C) show cut surfaces along line 1B-1B in (A), and (B) is a wafer. The state where 103 is absorbed,
FIG. 6C is a sectional view showing a state before adsorption and holding.

【図2】第2の実施の形態例31を示し、(A)は平面
図、(B)は(A)の2B−2B線に沿う切断面を示す
断面図、(C)はレバークランプ32のみを取り出して
示す背面図。
FIG. 2 shows a second embodiment example 31, (A) is a plan view, (B) is a cross-sectional view showing a cross section taken along line 2B-2B of (A), and (C) is a lever clamp 32. The rear view which shows and takes out only.

【図3】第2の実施の形態例31のウェーハ103を吸
着保持した状態を示す右側面図。
FIG. 3 is a right side view showing a state in which a wafer 103 of a second embodiment example 31 is suction-held.

【図4】第3の実施の形態例51を示し、(A)は開口
面を示す正面図、(B)及び(C)は同図(A)の4B
−4B線に沿う切断面を示し、(B)は吸着前、(C)
は吸着保持した状態を示す断面図。(D)は(C)の4
D−4D線に沿う切断面のうちの要部を示す断面図。
FIG. 4 shows a third embodiment example 51, (A) is a front view showing an opening surface, (B) and (C) are 4B of the same figure (A).
-4B shows a cross section along line B, (B) is before adsorption, (C)
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state in which it is adsorbed and held. (D) is 4 of (C)
Sectional drawing which shows the principal part of the cut surface which follows the D-4D line.

【図5】第4の実施の形態例71を示し、(A)は正
面、(B)は(A)の5B−5B線に沿う切断面を示す
断面図。
FIG. 5 shows a fourth embodiment example 71, (A) is a front view, and (B) is a sectional view showing a cross section taken along line 5B-5B of (A).

【図6】第5の実施の形態例81を示し、(A)は正
面、(B)、(C)は(A)の6B−6B線に沿う切断
面を示し、(B)は吸着前、(C)は吸着した状態を示
す断面図。
FIG. 6 shows a fifth embodiment example 81, (A) shows the front surface, (B) and (C) show cut surfaces taken along line 6B-6B of (A), and (B) shows before adsorption. , (C) are cross-sectional views showing a state of adsorption.

【図7】従来の真空チャックの例101を示し、(A)
は正面図、(B)は背面図、(C)は(A)の7C−7
C線に沿う切断面を示す断面図。
FIG. 7 shows an example 101 of a conventional vacuum chuck, (A)
Is a front view, (B) is a rear view, (C) is (A) 7C-7.
Sectional drawing which shows the cut surface which follows the C line.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 真空チャック 31 真空チャック 51 真空チャック 71 真空チャック 81 真空チャック 13 堤状部 36 堤状部 53 堤状部 74 堤状部 86 堤状部 87 堤状部 14 ダイアフラム 37 ダイアフラム 75 ダイアフラム 88 ダイアフラム 15 キャビティ(ダイアフラム付勢手段) 68 キャビティ 69 キャビティ 38,39 機械力印加手段 55 容積減少手段、機械力印加手段 61 容積占有手段 103 保持対象物 11 Vacuum Chuck 31 Vacuum Chuck 51 Vacuum Chuck 71 Vacuum Chuck 81 Vacuum Chuck 13 Levee 36 36 Levee 53 53 Levee 74 Levee 86 Levee 87 Levee 14 Diaphragm 37 Diaphragm 75 Diaphragm 88 Diaphragm 15 Cavity ( Diaphragm energizing means) 68 cavity 69 cavity 38, 39 mechanical force applying means 55 volume reducing means, mechanical force applying means 61 volume occupying means 103 holding object

Claims (24)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 保持対象物に当接され、該保持対象物表
面の或る範囲を包囲する堤状部と、前記堤状部の開口部
に展張されたダイアフラムと、前記保持対象物表面から
離間する方向へ前記ダイアフラムを付勢し、前記堤状部
と前記ダイアフラムと前記保持対象物の表面とで包囲さ
れた空間に負圧を発生させるダイアフラム付勢手段とを
備えたことを特徴とする真空チャック。
1. A ridge-shaped portion that abuts an object to be held and surrounds a certain area on the surface of the object to be held, a diaphragm extended in an opening of the ridge-shaped portion, and a surface of the object to be held. A diaphragm urging means for urging the diaphragm in a direction in which the diaphragm is separated, and generating a negative pressure in a space surrounded by the bank-shaped portion, the diaphragm and the surface of the object to be held. Vacuum chuck.
【請求項2】 前記ダイアフラム付勢手段が、前記ダイ
アフラムに直接力を印加する機械力印加手段であり、該
機械力印加手段で前記ダイアフラムが前記保持対象物表
面から離間する方向へ付勢されることを特徴とする請求
項1記載の真空チャック。
2. The diaphragm urging means is a mechanical force applying means for directly applying a force to the diaphragm, and the mechanical force applying means urges the diaphragm in a direction away from the surface of the holding object. The vacuum chuck according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記ダイアフラム付勢手段がキャビティ
であり、該キャビティは前記ダイアフラムの前記保持対
象物の側とは反対の側に配置されており、該キャビティ
内の気体または液体の排出により発生する負圧で前記ダ
イアフラムが前記保持対象物表面から離間する方向へ付
勢されることを特徴とする請求項1記載の真空チャッ
ク。
3. The diaphragm urging means is a cavity, and the cavity is disposed on the side of the diaphragm opposite to the side of the object to be held, and is generated by discharging gas or liquid in the cavity. The vacuum chuck according to claim 1, wherein the diaphragm is biased by a negative pressure in a direction of separating from the surface of the object to be held.
【請求項4】 前記堤状部とそれに展張されたダイアフ
ラムとが複数配置されていることを特徴とする請求項1
記載の真空チャック。
4. A plurality of the bank-shaped portions and diaphragms stretched thereon are arranged.
Vacuum chuck as described.
【請求項5】 前記堤状部とそれに展張されたダイアフ
ラムとが複数配置されていることを特徴とする請求項2
記載の真空チャック。
5. The plurality of the bank-shaped portions and the diaphragms stretched on the bank-shaped portions are arranged.
Vacuum chuck as described.
【請求項6】 前記堤状部とそれに展張されたダイアフ
ラムとが複数配置されていることを特徴とする請求項3
記載の真空チャック。
6. The ridge-shaped portion and a plurality of diaphragms extended therefrom are arranged in a plurality.
Vacuum chuck as described.
【請求項7】 前記堤状部によって形成される開口部が
ドーナツ状であり、該開口部に前記ダイアフラムが展張
されていることを特徴とする請求項1記載の真空チャッ
ク。
7. The vacuum chuck according to claim 1, wherein the opening formed by the bank portion is doughnut-shaped, and the diaphragm is extended in the opening.
【請求項8】 前記堤状部によって形成される開口部が
ドーナツ状であり、該開口部に前記ダイアフラムが展張
されていることを特徴とする請求項2記載の真空チャッ
ク。
8. The vacuum chuck according to claim 2, wherein the opening formed by the bank-shaped portion is doughnut-shaped, and the diaphragm is extended in the opening.
【請求項9】 前記堤状部によって形成される開口部が
ドーナツ状であり、該開口部に前記ダイアフラムが展張
されていることを特徴とする請求項3記載の真空チャッ
ク。
9. The vacuum chuck according to claim 3, wherein the opening formed by the bank-shaped portion is doughnut-shaped, and the diaphragm is stretched in the opening.
【請求項10】 前記堤状部によって形成される開口部
がドーナツ状であり、該開口部に前記ダイアフラムが展
張されていることを特徴とする請求項4記載の真空チャ
ック。
10. The vacuum chuck according to claim 4, wherein the opening formed by the bank-shaped portion has a donut shape, and the diaphragm is extended in the opening.
【請求項11】 前記堤状部によって形成される開口部
がドーナツ状であり、該開口部に前記ダイアフラムが展
張されていることを特徴とする請求項5記載の真空チャ
ック。
11. The vacuum chuck according to claim 5, wherein the opening formed by the bank-shaped portion is doughnut-shaped, and the diaphragm is extended in the opening.
【請求項12】 前記堤状部によって形成される開口部
がドーナツ状であり、該開口部に前記ダイアフラムが展
張されていることを特徴とする請求項6記載の真空チャ
ック。
12. The vacuum chuck according to claim 6, wherein the opening formed by the bank portion is doughnut-shaped, and the diaphragm is extended in the opening.
【請求項13】 開口部が保持対象物に当接され、該開
口部が前記保持対象物表面の或る範囲を包囲するキャビ
ティと、伸縮可能であり、前記キャビティ内の或る容積
を占有する容積占有手段と、前記容積占有手段の前記占
有する容積を減少させる容積減少手段とを備え、該容積
減少手段により前記容積占有手段の前記キャビティ内に
占める容積が減少させられ、前記キャビティと前記保持
対象物表面とで形成される空間が負圧にされることを特
徴とする真空チャック。
13. An opening is in contact with an object to be held, and the opening is expandable and contractible with a cavity surrounding a certain area of the surface of the object to be held, and occupies a certain volume in the cavity. A volume occupying means and a volume reducing means for reducing the volume occupied by the volume occupying means are provided, and the volume occupying the cavity of the volume occupying means is reduced by the volume reducing means, and the cavity and the holding A vacuum chuck characterized in that the space formed with the surface of the object is negatively pressured.
【請求項14】 前記容積減少手段が、前記容積占有手
段に直接力を印加する機械力印加手段であり、該機械力
印加手段により印加された力で前記容積占有手段の容積
が減少させられることを特徴とする請求項13記載の真
空チャック。
14. The volume reducing means is a mechanical force applying means for directly applying a force to the volume occupying means, and the volume of the volume occupying means is reduced by the force applied by the mechanical force applying means. 14. The vacuum chuck according to claim 13, wherein:
【請求項15】 前記容積減少手段が、気体又は液体の
吸引手段であり、該気体吸引手段により前記容積占有手
段内部の気体又は液体が吸引され前記容積占有手段の容
積が減少させられることを特徴とする請求項13記載の
真空チャック。
15. The volume reducing means is a gas or liquid suction means, and the gas or liquid inside the volume occupying means is sucked by the gas suction means to reduce the volume of the volume occupying means. 14. The vacuum chuck according to claim 13.
【請求項16】 前記キャビティとその内容積を占有す
る前記容積占有手段とが複数配置されていることを特徴
とする請求項13記載の真空チャック。
16. The vacuum chuck according to claim 13, wherein a plurality of the cavities and the volume occupying means occupying the inner volume thereof are arranged.
【請求項17】 前記キャビティとその内容積を占有す
る前記容積占有手段とが複数配置されていることを特徴
とする請求項14記載の真空チャック。
17. The vacuum chuck according to claim 14, wherein a plurality of the cavities and the volume occupying means occupying the inner volume thereof are arranged.
【請求項18】 前記キャビティとその内容積を占有す
る前記容積占有手段とが複数配置されていることを特徴
とする請求項15記載の真空チャック。
18. The vacuum chuck according to claim 15, wherein a plurality of the cavities and the volume occupying means occupying the inner volume thereof are arranged.
【請求項19】 前記キャビティの前記開口部がドーナ
ツ状であることを特徴とする請求項13記載の真空チャ
ック。
19. The vacuum chuck according to claim 13, wherein the opening of the cavity has a donut shape.
【請求項20】 前記キャビティの前記開口部がドーナ
ツ状であることを特徴とする請求項14記載の真空チャ
ック。
20. The vacuum chuck according to claim 14, wherein the opening of the cavity has a donut shape.
【請求項21】 前記キャビティの前記開口部がドーナ
ツ状であることを特徴とする請求項15記載の真空チャ
ック。
21. The vacuum chuck according to claim 15, wherein the opening of the cavity has a donut shape.
【請求項22】 前記キャビティの前記開口部がドーナ
ツ状であることを特徴とする請求項16記載の真空チャ
ック。
22. The vacuum chuck according to claim 16, wherein the opening of the cavity has a donut shape.
【請求項23】 前記キャビティの前記開口部がドーナ
ツ状であることを特徴とする請求項17記載の真空チャ
ック。
23. The vacuum chuck according to claim 17, wherein the opening of the cavity has a donut shape.
【請求項24】 前記キャビティの前記開口部がドーナ
ツ状であることを特徴とする請求項18記載の真空チャ
ック。
24. The vacuum chuck according to claim 18, wherein the opening of the cavity has a donut shape.
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002524281A (en) * 1998-09-08 2002-08-06 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Carrier head for chemical mechanical polishing of substrates
KR100460338B1 (en) * 1998-02-04 2005-01-17 삼성전자주식회사 Susceptor for fabricating semiconductor device to prevent wafer from being dropped during fabricating process and avoid generation of particles
WO2006046379A1 (en) * 2004-10-28 2006-05-04 Shin-Etsu Engineering Co., Ltd. Adhesive chuck device
WO2007036996A1 (en) * 2005-09-28 2007-04-05 Shin-Etsu Engineering Co., Ltd. Substrate holding structure
JP2007525595A (en) * 2004-02-04 2007-09-06 サーフェクト テクノロジーズ インク. Plating apparatus and method
US7757363B2 (en) 2003-12-31 2010-07-20 Intel Corporation Support system for semiconductor wafers
CN103707039A (en) * 2013-12-12 2014-04-09 京东方科技集团股份有限公司 Membrane material inserting device
CN104867846A (en) * 2014-02-26 2015-08-26 盛美半导体设备(上海)有限公司 Wafer processing device

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100460338B1 (en) * 1998-02-04 2005-01-17 삼성전자주식회사 Susceptor for fabricating semiconductor device to prevent wafer from being dropped during fabricating process and avoid generation of particles
JP2002524281A (en) * 1998-09-08 2002-08-06 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Carrier head for chemical mechanical polishing of substrates
US7757363B2 (en) 2003-12-31 2010-07-20 Intel Corporation Support system for semiconductor wafers
JP2007525595A (en) * 2004-02-04 2007-09-06 サーフェクト テクノロジーズ インク. Plating apparatus and method
WO2006046379A1 (en) * 2004-10-28 2006-05-04 Shin-Etsu Engineering Co., Ltd. Adhesive chuck device
CN100447622C (en) * 2004-10-28 2008-12-31 信越工程株式会社 Adhesive chuck device
WO2007036996A1 (en) * 2005-09-28 2007-04-05 Shin-Etsu Engineering Co., Ltd. Substrate holding structure
KR101038026B1 (en) * 2005-09-28 2011-05-31 신에츠 엔지니어링 가부시키가이샤 Substrate supporting structure
CN103707039A (en) * 2013-12-12 2014-04-09 京东方科技集团股份有限公司 Membrane material inserting device
CN104867846A (en) * 2014-02-26 2015-08-26 盛美半导体设备(上海)有限公司 Wafer processing device

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