JPH09171768A - フィールドエミッションディスプレイを排気、封止する方法及びその方法により形成されるパッケージ - Google Patents
フィールドエミッションディスプレイを排気、封止する方法及びその方法により形成されるパッケージInfo
- Publication number
- JPH09171768A JPH09171768A JP25942596A JP25942596A JPH09171768A JP H09171768 A JPH09171768 A JP H09171768A JP 25942596 A JP25942596 A JP 25942596A JP 25942596 A JP25942596 A JP 25942596A JP H09171768 A JPH09171768 A JP H09171768A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- sealing ring
- package
- compressible
- reaction chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/38—Exhausting, degassing, filling, or cleaning vessels
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/24—Manufacture or joining of vessels, leading-in conductors or bases
- H01J9/26—Sealing together parts of vessels
- H01J9/261—Sealing together parts of vessels the vessel being for a flat panel display
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/02—Main electrodes
- H01J1/30—Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/38—Exhausting, degassing, filling, or cleaning vessels
- H01J9/385—Exhausting vessels
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2329/00—Electron emission display panels, e.g. field emission display panels
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Abstract
止を与え、なおかつ商業的に行われている製造プロセス
上の操作にも適合したフィールドエミッションディスプ
レイ(FED)パッケージを排気し封止する改良法及び
改良されたFEDパッケージの提供。 【解決手段】 FEDの第一プレートと第二プレート
とを分離し、その間の空間を排気するための流路が得ら
れように第一プレートと第二プレートとの間に複数の圧
縮可能な突起を形成し、減圧した反応室内に第一及び第
二のプレートを置き、前記空間を排気し、封止リング及
び圧縮可能な突起を圧縮して該突起を変形させ、排気さ
れた空間の回りに連続封止を形成する。
Description
ィールドエミッションディスプレイ (field emission d
isplay; 電界放出ディスプレイ) に関し、詳細に言え
ば、フィールドエミッションディスプレイパッケージを
排気し封止するための改良法及びその方法により形成さ
れるパッケージに関する。
子機器により生成された情報を視覚的に表示するため
に、近年、フラットパネルディスプレイ (flat panel d
isplay) が開発されている。この種のディスプレイは、
従来の陰極線管ディスプレイよりも軽くすることが可能
で、しかも必要とする電力が少ない。フラットパネルデ
ィスプレイの一つのタイプとして、冷陰極フィールドエ
ミッションディスプレイ(FED)が知られている。
電子放出を用いて陰極蛍光ディスプレイスクリーン(本
明細書において「フェイスプレート」という。)を輝か
せ視覚的イメージを作り出すものである。通常、個々の
フィールドエミッションピクセルはベースプレート上に
形成されたエミッタサイトを含んでいる。ベースプレー
トはエミッタサイトからの電子放出を制御する回路と素
子を含んでいる。ゲート電極構造、すなわちグリッドが
エミッタサイトに応じて備えられており、エミッタサイ
トとグリッドは電圧源に電気的に接続している。電圧源
はエミッタサイトとグリッドとの間の電位差を定め、エ
ミッタサイトからの電子放出を制御する。放出された電
子は真空空間を通りディスプレイスクリーンに含まれて
いる蛍光体を叩く。蛍光体はより高いエネルギーレベル
に励起され、光子を放出して画像を形成する。このシス
テムでは、ディスプレイスクリーンが陽極であり、エミ
ッタサイトが陰極である。
わずかな間隔を隔てて配設されている。この間隔は、両
者の間の電位差を維持するとともに、ガス流のためのギ
ャップとなっている。フェイスプレート上で均一な解像
度、フォーカス及び輝度を得るためには、この間隔がフ
ェイスプレートの全面にわたって均一であることが重要
である。さらに、エミッタサイトから電子が放出されて
いるときに信頼性のあるディスプレイ動作を実現するた
めには、真空度が10-6Torr以下である必要がある。この
真空はフィールドエミッションディスプレイ内の封止さ
れた空間に形成されるものである。
イは、ベースプレートとフェイスプレートとの間の空間
を封止するための封止を有するユニットとして製造され
ており、通常は、フィールドエミッションディスプレイ
パッケージの製造中に当該空間を排気するために、ある
種の管をさらに用意する必要があった。この管は封止さ
れた空間から気体を吸い出して真空を形成する導管とし
て用いられる。真空を形成した後は、ピンチングによ
り、または栓などの封止部材を用いることにより、この
管を封止する必要がある。
ける一つの問題点は、管が組立体の恒久的部分となって
しまうことである。また、この管についての封止操作が
別に必要となるし、封止も別に用意する必要がある。し
かも、この管は、フィールドエミッションディスプレイ
パッケージの寿命が尽きる前に壊れる可能性のある代表
的な付加的部品である。さらに、管がディスプレイから
突出しているのは不都合であり、ラップトップコンピュ
ータのようなシステムに組み込む際にはいろいろと工夫
をして調整を行なう必要がある。
イが、排気管なしに形成されるのであれば有利であろ
う。これにより、パッケージを簡略化することができる
し、故障の潜在的要因を解消することができる。また、
真空形成と同時に、フィールドエミッションディスプレ
イパッケージを封止し、ゲッタを活性化することができ
れば有利であろう。これにより製造工程を簡略化するこ
とができる。
は、フィールドエミッションディスプレイパッケージを
排気し封止するための改良法の提供を目的とする。ま
た、本発明は、排気管を含まない、改良されたフィール
ドエミッションディスプレイパッケージを提供すること
を目的とする。さらに本発明は、低コストで、かつ信頼
性の高い真空封止を与え、なおかつ商業的に行われてい
る製造プロセス上の操作にも適合したフィールドエミッ
ションディスプレイパッケージを排気し封止する改良法
及び改良されたフィールドエミッションディスプレイパ
ッケージを提供することを目的とする。さらに本発明
は、加熱処理(ベイクアウト)、排気及びゲッタの活性
化を一つの操作で行なうことが可能な、フィールドエミ
ッションディスプレイパッケージを封止する改良法を提
供することを目的とする。
ションディスプレイその他の電子部品のための、金属−
金属封止によらない改良された封止技術を提供すること
を目的とする。また、本発明は、封止に先立ち、バック
プレートとフェイスプレートの位置合わせを大気圧下で
行なうことを可能とする、フィールドエミッションディ
スプレイについての改良された封止技術を提供すること
を目的とする。また、本発明は、従来の熱−真空プロセ
ス容器を用いて遂行し得る改良された封止技術を提供す
ることを目的とする。本発明のその他の目的、利点及び
特長は、以下の説明によってより明らかになるであろ
う。
は特にフィールドエミッションディスプレイパッケージ
を排気し封止する改良法、及び改良されたパッケージあ
るいは特に改良されたフィールドエミッションディスプ
レイパッケージを提供する。
一プレートと対になりこれに係合する第二プレートを形
成する工程;第一プレートと第二プレートとの間に流動
性材料からなる封止リングを形成する工程;第一プレー
トと第二プレートとを分離し、その間の空間を排気する
ための流路が得られように第一プレートと第二プレート
との間に複数の圧縮可能な突起を形成する工程;減圧し
た反応室内に第一及び第二のプレートを置き、前記空間
を排気する工程;及び封止リング及び圧縮可能な突起を
圧縮して突起を変形させ、排気された空間の回りに連続
封止を形成する工程を含む、パッケージを排気、封止す
るための方法。
ガラスフリット材料で形成されており、圧縮工程におい
て、さらに封止リング及び圧縮可能な突起を加熱する前
記1に記載の方法。 (3) 圧縮工程に先立ち、さらに封止リング及び圧縮
可能な突起を予備焼成する前記2に記載の方法。 (4) 前記空間内にゲッタ材料が含まれており、加熱
工程でこのゲッタ材料を活性化する前記3に記載の方
法。 (5) 反応室を、突起の流動点より低い第一温度に加
熱し、第一の期間そのまま保持し、次いで、突起の流動
点以上の第二温度に加熱し、第二の期間そのまま保持す
る前記4に記載の方法。
上に粘稠なペーストとして堆積され、しかる後予備焼成
されるガラスフリット材料により封止リングを形成する
前記1に記載の方法。 (7) 第一プレートまたは第二プレート上に粘稠なペ
ーストとして堆積され、しかる後予備焼成されるガラス
フリット材料により圧縮可能な突起を形成する前記1に
記載の方法。 (8) 封止リングをインジウムにより形成する前記1
に記載の方法。 (9) 圧縮可能な突起をインジウムにより形成する前
記1に記載の方法。 (10) 封止リング及び圧縮可能な突起をインジウム
により形成する前記1に記載の方法。
に形成する前記1に記載の方法。 (12) 第一または第二のプレート上にフィールドエ
ミッションディスプレイのコンポーネントを取り付ける
前記1に記載の方法。 (13) 第一及び第二のプレートをセラミック及びガ
ラスからなる群から選択される材料により形成する前記
1に記載の方法。 (14) さらに、圧縮可能な突起により得られる流路
を用いて前記空間内のガス組成を操作する工程を含む前
記1に記載の方法。 (15) 第一及び第二のプレートを反応室内に配置す
るのに先立ち大気圧下で位置合わせする前記1に記載の
方法。 (16) 前記1に記載の方法により製造されるパッケ
ージ。
第一プレートと対になりこれと係合する第二プレートを
形成する工程;第一または第二のプレート上にフィール
ドエミッションディスプレイコンポーネントを取り付け
る工程;第一プレートと第二プレートとの間に封止リン
グを形成する工程;第一プレートと第二プレートとを分
離し、その間の空間を排気するための流路が得られるよ
うに第一プレートと第二プレートとの間に複数の圧縮可
能な突起を形成する工程;反応室内に第一及び第二のプ
レートを置く工程;反応室内を減圧し前記空間を排気す
る工程;及び圧縮可能な突起を変形させ、周縁封止を形
成する工程を含む、フィールドエミッションディスプレ
イパッケージを排気・封止するための方法。
前記17に記載の方法。 (19) 加熱により前記突起を変形する前記17に記
載の方法。 (20) 圧縮及び加熱により前記突起を変形する前記
17に記載の方法。 (21) はじめに粘稠なペーストとしていずれかのプ
レート上に堆積され、次いで予備焼成されるガラスフリ
ットにより封止リングを形成する前記17に記載の方
法。 (22) 封止リング及び突起をインジウムにより形成
する前記17に記載の方法。 (23) さらに、いずれかのプレートにゲッタ材料を
配設し、反応室を加熱することによりゲッタ材料を活性
化する工程を含む前記17に記載の方法。 (24) 反応室を排気して低圧として段階的に反応室
の温度を高める前記17に記載の方法。
10-7 Torr とする前記17に記載の方法。 (26) フィールドエミッションコンポーネントが、
その上にエミッタサイトの形成されたベースプレートを
含むものである前記17に記載の方法。 (27) 前記26に記載の方法により製造されるパッ
ケージ。 (28) 封止リング及び圧縮可能な突起をガラスフリ
ットで形成し、反応室を封止リングの流動点よりも低い
第一温度に加熱して第一の期間そのまま保持され、次い
で、封止リングの流動点以上の第二の温度に加熱して第
二の期間そのまま保持する前記17に記載の方法。 (29) 第一及び第二のプレートを反応室内に配置す
るのに先立ち大気圧下で位置合わせする前記17に記載
の方法。
プレイコンポーネントが、対として組み立てられ、第一
または第二のプレートに取り付けられるベースプレート
及びフェイスプレートを含む前記17に記載の方法。 (31) 第一プレートが、フィールドエミッションデ
ィスプレイのベースプレートであり、第二プレートがフ
ィールドエミッションディスプレイのフェイスプレート
である前記17に記載の方法。 (32) 第一プレートが、パッケージのバックプレー
トであり、第二プレートがフィールドエミッションディ
スプレイのフェイスプレートである前記17に記載の方
法。 (33) さらに、圧縮可能な突起により得られる流路
を用いて前記空間内のガス組成を操作する工程を含む前
記17に記載の方法。
る第一プレートを形成する工程;フィールドエミッショ
ンディスプレイのフェイスプレート−ベースプレート対
を第一プレートに前記コネクタと電気的に接続するよう
に取り付ける工程;第一プレートと対になりこれと係合
する透明な第二プレートを形成する工程;第一プレート
または第二プレートにゲッタ材料を配設する工程;第一
プレートと第二プレートとの間に封止リングを形成する
工程;第一プレートと第二プレートとを分離する複数の
圧縮可能な突起を形成する工程;反応室内に第一及び第
二のプレートを置く工程;前記突起が流路を形成してい
る間に反応室内を減圧し第一プレートと第二プレートの
間の空間を排気する工程;及び圧縮可能な突起を変形さ
せ、周縁封止を形成する工程を含む、フィールドエミッ
ションディスプレイパッケージを排気、封止するための
方法。
し、さらに、突起を変形しゲッタを活性化するために反
応室を加熱する工程を含む前記34に記載の方法。 (36) 空洞を有する第一プレートを形成し、この空
洞内にフェイスプレート−ベースプレート対を取り付け
る前記34に記載の方法。 (37) 前記コネクタと電気的に接続するように第一
プレート上のボンドパッドにベースプレートをワイヤボ
ンドする前記34に記載の方法。 (38) 前記コネクタがピングリッドアレイとして形
成される前記34に記載の方法。 (39) 第一プレートがセラミックにより形成される
前記34に記載の方法。
成される前記34に記載の方法。 (41) ゲッタ材料が金属箔上に形成される前記34
に記載の方法。 (42) 封止リングをガラスフリットにより形成し、
反応室をパッケージ内の気体を除く第一温度に、次い
で、含有物を除去する第二温度に、次いで、突起を変形
する第三温度に加熱する前記34に記載の方法。 (43) 前記34に記載の方法により製造されるフィ
ールドエミッションディスプレイパッケージ。 (44) 封止リング及び圧縮可能な突起を、ガラスフ
リット及びインジウムからなる群より選択される材料に
より形成する前記34に記載の方法。
フェイスプレート−ベースプレート対を第一プレートに
取り付ける工程;第一プレートと対になりこれと係合す
る透明な第二プレートを形成する工程;第一プレートと
第二プレートとの間に封止リングを形成する工程;当初
は第一プレートと第二プレートとを分離する、複数の圧
縮可能な突起を形成する工程;反応室内に第一及び第二
のプレートを置く工程;前記突起がガス流路を形成して
いる間に反応室内を減圧し第一プレートと第二プレート
の間の空間を排気する工程;及び圧縮可能な突起を変形
させる工程;を含む方法により形成されるフィールドエ
ミッションディスプレイパッケージ。
室を加熱する前記45に記載のパッケージ。 (47) ゲッタ材料を第一または第二プレートに配設
し、加熱工程においてゲッタ材料を活性化する前記46
に記載のパッケージ。 (48) 封止リング及び圧縮可能な突起が、ガラスフ
リット及びインジウムからなる群より選択される材料に
より形成される前記45に記載のパッケージ。 (49) ゲッタ材料が、フェイスプレート−ベースプ
レート対を保持するバネ部材のかたちを有する金属箔上
に含有される前記45に記載のパッケージ。 (50) 反応室を封止リングの流動点より低い第一温
度に加熱し、第一の期間そのまま保持し、次いで、流動
点以上の第二温度に加熱し第二の期間そのまま保持する
前記45に記載のパッケージ。
対になりこれと係合するように構成された第二プレー
ト;第一または第二プレート上に取り付けられたフェイ
スプレート−ベースプレート対;第一プレートと第二プ
レートとの間に形成された封止リング;第一プレートと
第二プレートとの間に形成され、当初はパッケージを排
気するための流路を形成する複数の圧縮可能な突起;第
一または第二プレートに配設されるゲッタ材料;を含む
フィールドエミッションディスプレイパッケージ。
ト−ベースプレート対を保持するバネ部材のかたちを有
する金属箔上に含有される前記51に記載のパッケー
ジ。 (53) 封止リング及び圧縮可能な突起が、ガラスフ
リット及びインジウムからなる群より選択される材料に
より形成される前記51に記載のパッケージ。 (54) 第一プレートが外部コネクタを有するセラミ
ックで形成されている前記51に記載のパッケージ。 (55) 第一プレート上に形成され外部コネクタと電
気的に接続したボンディングパッドにベースプレートを
ワイヤボンディングすることにより、前記外部コネクタ
とベースプレート間に電気パスを形成した前記51に記
載のパッケージ。 (56) 外部コネクタがピングリッドアレイとして形
成されている前記51に記載のパッケージ。
言えば、フィールドエミッションディスプレイパッケー
ジは、バックプレート(第一プレート)、カバープレー
ト(第二プレート)及びゲッタ材料からなるが、本発明
の方法を用いた場合、バックプレートとカバープレート
は、周縁封止によって結合され、パッケージの内部に脱
気された真空空間を形成することになる。この封止され
た空間内にフィールドエミッションディスプレイの各コ
ンポーネントが実装される。
成は、真空の反応室内で実行される。周縁封止を形成す
るためには、まず、ガラスフリットやインジウムのよう
な、流動状態にし得る(flowable)材料を含む封止リング
をバックプレート(またはカバープレート)上に周縁部
に沿ったパターンで塗布する。ガラスフリットからなる
封止リングについては、予備焼成して半結晶状態にする
必要もある。
先立ち、圧縮可能な突起をバックプレートとカバープレ
ートの間に形成する。圧縮可能な突起は封止リングの一
部として形成してもよいし、別のコンポーネントとして
形成してもよい。排気・封止過程では、封止リングと圧
縮可能な突起を圧縮して周縁封止を形成し、この間にパ
ッケージ内部を排気する。
トをバックプレートから隔てて、排気孔、すなわちパッ
ケージ内部を排気するための流路を形成する機能を有す
る。同様にして、圧縮可能な突起は、パッケージ内のガ
ス雰囲気組成を調整するための逆方向の流路ともなる。
例えば、水素等をバックグラウンドガスとして封止空間
内に装入する場合があるが、ガスの再充填またはガスを
細流としてパージする手法(ガストリックルパージ (ga
s trickle purge))を用いて行なうことができる。
周縁封止を形成するのと同時に、高温によりパッケージ
内のゲッタを活性化することもできる。このように、パ
ッケージの排気、ゲッタの活性化、封止の形成を同一過
程で、単一の熱源により、さらに排気管を使用すること
なく実行できる。パッケージが封止された後は、ゲッタ
の機能により、封止されたパッケージ内をさらに減圧で
きる。
ッケージのバックプレート及びカバープレートをフィー
ルドエミッションディスプレイ用のフェイスプレート−
ベースプレートペアと予備組立する。さらに、封止リン
グ及び圧縮可能な突起をバックプレートとカバープレー
トの間に形成する。次いで、この組立体を排気・加熱さ
れた反応室内に装入し、ディスプレイパッケージを排気
してガスを除き、ゲッタを活性化し、ディスプレイパッ
ケージを封止する。
ス鋼の容器が利用できる。排気・封止過程の間、重みを
付けた位置合わせジグにより各プレートを位置合わせ
し、カバープレートを封止リングに押し当てる。あるい
は、封止すべき2面を位置合わせして互いにくっつけた
後、封止リングを実質的に圧縮するのに必要な荷重や締
付力を加えてもよい。また、この工程は、光学的または
機械的な位置合わせ技術を用いて室温大気圧下で行なう
バックプレートとカバープレートの位置合わせ操作を含
むものでも良い。
るためには、排気・封止過程を数時間掛けて段階的に行
なうことが好ましい。はじめにパッケージを反応室に装
入し、真空ポンプを用いて反応室内に高真空状態(例え
ば、4.7 ×10-7Torr)を作り出す。と同時に、反応室内
は、はじめは比較的低い温度、具体的には、ガラスフリ
ットの流動点(例えば、100〜150℃)よりも十分
に低い温度に保たれる。平衡に達し、圧縮可能な突起に
よってもたらされる流路を通してガスその他の含有物が
石英管及びパッケージから追い出されるのに十分な時間
(例えば1〜2時間)、パッケージはこの温度及び圧力
条件の下に置かれる。次いで、温度を(例えば、210
〜310℃に)上げ、温度を均一化し含有物の揮発除去
し、さらにパッケージの内部空間及び炉が真空を回復す
るまでの比較的長い時間保持する。この段階でもまだ、
温度はガラスフリットの流動点(フリット封止リングの
形成のため)よりも十分に低いが、ゲッタは活性化され
始める。
するために添加した混合剤がフリットから揮発除去され
る温度(例えば、325〜400℃)まで昇度する。こ
の温度でパッケージを数時間維持すると、ゲッタの活性
化はさらに進む。次いで温度をフリット材料の流動点以
上(例えば、400℃以上)に高める。この温度では、
圧縮可能な突起及びフリット封止リングは位置合わせジ
グの重みによって流れ、連続的な周縁封止を形成する。
さらにこの時点では、ゲッタはより一層活性化され、既
に封止されたパッケージ内部の領域を排気する。次い
で、数時間かけて温度を下げる。この間、封止されたパ
ッケージ内の圧力はさらに減少する。パッケージ内の最
終圧力は4.0 ×10-7Torr程度とすることができる。
ングと同じ材料でつくり封止リングの上に直に置く。こ
のような構成を採ることにより製造プロセスを簡略化す
ることができる。しかし、圧縮可能な突起を、封止リン
グの脇に向け、あるいはこれに隣り合うように形成して
もよい。さらに、熱化学的に圧縮可能である限り、圧縮
可能な突起を封止リングとは異なる組成としてもよい。
可能な突起は、フィールドエミッションディスプレイの
フェイスプレートとパッケージのバックプレートの間の
直接封止を形成するために用いられる。さらにまた別の
態様では、フィールドエミッションディスプレイのフェ
イスプレートとベースプレートによってパッケージが形
成される。この場合、圧縮可能な突起と封止リングは、
フェイスプレートからベースプレートへの直接封止を形
成するために用いられ、カバープレートやバックプレー
トは使用しない。
いて具体的に説明する。図1に、フィールドエミッショ
ンディスプレイパッケージ10の製造における本発明の
方法を図解して示す。図1は製造過程におけるフィール
ドエミッションディスプレイパッケージ10を示したも
のである。フィールドエミッションディスプレイパッケ
ージ10は、透明なカバープレート12、バックプレー
ト14,バックプレート上に装着されたフェイスプレー
ト−ベースプレート対16を含む。フェイスプレート−
ベースプレート対16は、パッケージ10の内部に形成
された、排気された封止空間18内に装着されている。
このフィールドエミッションディスプレイ用のフェイス
プレート−ベースプレート対16にはベースプレート2
2とディスプレイスクリーン26が含まれる。
ト対16のディスプレイセグメント20の拡大図を示
す。各ディスプレイセグメント20は、画像1ピクセル
(またはピクセルの一部)を表示する能力を有してい
る。ベースプレート22は基板32を含んでおり、これ
は、例えば単結晶シリコンのような材料で形成される
か、あるいは、ガラス基板上にアモルファスシリコンを
堆積させることにより形成される。基板32の上には複
数のフィールドエミッタサイトが形成されている。グリ
ッド24がエミッタサイト28を取り囲んでいるが、こ
のグリッドは、絶縁層30によって基板32から絶縁・
分離されている。
24及びディスプレイスクリーン26に接続されてい
る。ディスプレイスクリーン26はスペーサ40により
ベースプレート22から分離されている(図1)。電源
34により電位差が加えられると、電子流36がエミッ
タサイト28からディスプレイスクリーン26に向けて
放出される。このシステムでは、ディスプレイスクリー
ン26が陽極であり、エミッタサイト28が陰極であ
る。エミッタサイト28から放出された電子36はディ
スプレイスクリーン26の蛍光体38を叩く。これによ
り蛍光体38がより高いエネルギー準位に励起される。
蛍光体38がその本来のエネルギー準位に戻る際に光子
が放出される。
2,238 号、キャスパー(Casper)らに付与された米国特許
第5,210,472 号、キャセイ(Cathey)らに付与された米国
特許第5,232,549 号、ローリー(Lowrey)らに付与された
米国特許第5,205,770 号、ドーン(Doan)らに付与された
米国特許第5,186,670 号、ドーン(Doan)らに付与された
米国特許第5,229,331 号にはフィールドエミッションデ
ィスプレイを製造する方法が開示されている。
42を含んでいる。ここには、フェイスプレート−ベー
スプレート対16のベースプレート22が装着される。
ベースプレート22は、フェイスプレート−ベースプレ
ート対16の動作を制御するための種々の電子素子及び
回路を含んでいる。ベースプレート22は空洞42内に
おいて、セラミックまたは石英材料で形成されたスペー
サロッド54上に装着される。スペーサロッド54は、
最終的にはベースプレート22の両面に真空が形成され
るように、ベースプレート22をバックプレート14か
ら隔てている。ベースプレート22をカバープレート1
2とバックプレート14の間に装着することにより、シ
リコン製のベースプレートを用いた場合にシリコンをガ
ラスに封止する必要がなくなる。さらに、このような構
成を採ることにより、ベースプレート22は気圧差にさ
らされることがない。また、大気圧による負荷に起因す
るたわみに抗し得る堅固な構造が得られる。また、バッ
クプレート14はボンド棚44を含んでおり、この上に
はボンディングパッド46が配設される。ボンド棚44
はバックプレート14内に形成された溝52内に形成さ
れており、ボンディングパッド46は、バックプレート
14の外側に形成された外部コネクタ50に電気的に結
合される。外部コネクタ50はピングリッドアレイ(P
GA)として形成され、パッケージ10が最終的に装着
される専用のソケット組立体(図示していない。)に電
気的に接続するように設計されている。
るベースプレート22上の接続点(図示していない。)
には導線48がワイヤボンドされる。これによって、外
界から外部コネクタ50、ボンディングパッド46、導
線48を通りベースプレート22上に形成された電子回
路に至る回路パスが確立されることになる。また、ディ
スプレイスクリーン26と導電パッド(これは封止され
た空間18の外側に位置するバックプレート14の側壁
を通じて供電する。)との間に高電圧接続(図示してい
ない。)がつくられる。
外部の電気的接続は、すべて、バックプレート14中に
形成される外部コネクタ50を介したものとする。図示
した態様では、バックプレート14は、ムライトのよう
なセラミック材料を積層し焼成して形成される多層ブロ
ックである。図1のバックプレート14のような形状の
シート状ムライトは、京セラから市販されている。
既知である高温セラミック積層プロセスにより形成する
ことができる。このようなプロセスでは、まず、未焼成
で屈曲自在の状態にある生のセラミックからなるグリー
ンシートを所望のサイズに裁断する。次いで、ビアホー
ルその他の細部を必要に応じてグリーンシート上にパン
チ開けし、ビアホールを導電性材料(例えば、タングス
テンペースト)で充填あるいは被覆する。これにより、
積層体であるバックプレート14の異なる層の間のレベ
ル間接続 (interlevel connection)が得られる。次に、
選択したグリーンシート面上にスクリーン印刷プロセス
を用いて導電線(または導電面)のメタライズドパター
ンを印刷する。この場合、導電線により、外部コネクタ
50とボンディングパッド46との間の導電パスが得ら
れる。
成し、所定の順に重ね互いに結合する。これらのグリー
ンシートは、次いで、減圧下、高温(1500〜1600℃)で
焼成される。この後、メッキにより適当な金属からボン
ディングパッド46その他の導電トレースを形成する。
メッキプロセスでは、電解または無電解の堆積の後に、
レジストコーティング、露光、現像、及び選択的な湿式
のケミカルエッチングを行なってもよい。次いで、切断
またはパンチング処理を行ない、バックプレート14の
周縁寸法 (peripheral dimensions)を確定する。
上から見れば、その外周が概ね矩形の形状をしている。
カバープレート12はこれに見合う形状で、Corning 70
59のような透明ガラス材料で形成される。
ート14とフェイスプレート−ベースプレート対16を
組み立て部分組立体 (subassembly)としてワイヤボンド
する。さらにカバープレート12とバックプレート14
との間の空間18内にゲッタ材料56を配設する。ゲッ
タ材料56はアルミニウムや鉄のような金属箔のストリ
ップ(小板)にゲッタ化合物をコートして形成すること
ができる。ゲッタ化合物の例としてはチタンベースの合
金が挙げられる。これはガス分子をトラップして反応す
る。金属箔上に堆積して、加熱時に活性化することので
きる金属粒子は市販されている。適当な製品の一例とし
ては、サエス(SAES)社からST-707として販売されてい
るゲッタストリップがある。ゲッタ材料56は、封止・
排気プロセスにおいて、また、ディスプレイパッケージ
10の寿命が続く間、封止された空間18内の圧力を減
じるように機能する。
成形されており、フェイスプレート−ベースプレート対
16をバックプレート14の空洞42内に保持するとい
う第二の機能も有している。このため、ゲッタ材料56
は、バックプレート14中に形成されたリップ(図示し
ていない。)に対して取り付けられ、フィールドエミッ
ションディスプレイのディスプレイスクリーン26に圧
力を加えるように設計される。ゲッタ材料56は当該材
料からなる2枚の比較的薄い(例えば、1/8 インチ(
0.32cm ))ストリップとして形成し、ディスプレイス
クリーン26の外端部に沿って取り付けてもよい。図示
した態様では、ディスプレイスクリーン26への高圧接
続をゲッタ材料56と同様の形状のバネ部材により形成
することもできる。
58(図3(C))がカバープレート12の内表面とバ
ックプレート14の内表面上に形成される。封止された
空間18が形成され排気されるのと同時にゲッタ材料5
6が活性化される。カバープレート12、バックプレー
ト14及び周縁封止58により封止空間18が形成され
る。周縁封止58は上から見れば概ね矩形の周縁形状を
有している。
トペーストをバックプレート14の内表面に塗布し、次
いでペーストを予備焼成してフリット封止リング60を
形成することにより形成される。例えば、粘稠なフリッ
トペーストを塗布して200℃〜400℃の温度まで予
備焼成する。予備焼成工程の目的は、フリット封止リン
グ60をフリット材料が半結晶状態すなわち部分的に固
い状態になる温度まで加熱することにある。一般的に
は、この温度は、フリットの前核化(prenucleation) が
起こり始めるよりも十分に低い温度である。
社(Nippon Electric Glass America, Inc.) からLS-010
4 として市販されているガラスフリット材料で形成する
ことができる。ガラスフリット材料はガラス質フリット
でも失透性(devitrifying)フリットのいずれでもよい。
なお、ここでいう、ガラス化する(vitrify) 、ガラス化
(vitrification) 及び焼成(firing)という用語は、ケイ
酸質材料を溶融し次いで冷却することによりアモルファ
スなガラス状態にすることを意味している。フリット封
止リング60用のガラスフリット材料は、カバープレー
ト12及びバックプレート14の熱膨張係数と近い値を
有することが好ましい。フリット封止リング60は、適
当なステンシル(図示していない。)を用いて粘稠ペー
ストして塗布するか、分散ノズルからビーズとして塗布
される。ペーストはガラスフリット材料を松油(pine oi
l)のような溶剤と組み合わせることにより形成できる。
で圧縮可能な突起62と呼んでいる突起を含む。圧縮可
能な突起62は概ね矩形状のフリット封止リング60の
周縁の角に形成される。圧縮可能な突起62部分では高
さが、つまり厚みが大きくなっており、好ましくは、ほ
かのフリット封止リング60部分と同じ材質で形成す
る。圧縮可能な突起62ははじめはカバープレート12
をフリット封止リング60から分離し、排気・封止プロ
セスにおいて流路を作り出すものである。
封止プロセスは、加熱した反応室64内において真空雰
囲気で行なわれる。例えば、反応室64として、半導体
製造に用いられる拡散炉のように石英内張りした管を用
いることができる。一般的に、拡散炉は、ドーパントを
高温減圧下、半導体基板中に拡散させるのに用いる。低
圧CVD(LPCVD)炉も用いることができる。LPCVD 炉もまた
半導体製造において、様々な材料を高温減圧下に堆積さ
せるのに用いられる。これらのタイプの炉は、ガラスフ
リット材料を流動化するのに必要な温度(例えば100
℃〜600℃)以上の温度に加熱することができる。さ
らにこれらのタイプの炉は、適当なポンプを用いれば10
-7Torr未満まで排気することが可能である。反応炉64
はまたステンレス鋼容器で形成してもよい。
有する導管74及び真空ポンプ72と流体が導通可能な
ように接続されている。バルブを有するパージライン7
6により様々なガスを反応室64からパージすることが
できる。圧力計78は反応室64内の圧力を計測する。
さらに熱源80が操作可能に反応室64に結合されてお
り、これにより反応室内を高温に加熱する。石英製の作
業ホルダー70を用いてパッケージ10を反応室64内
に支持する。さらに、重みを有する位置合わせジグ66
をカバープレート12上に載置して周縁封止58を形成
するのに必要な機械的力(F)を作用させるようにして
もよい。位置合わせジグ66はさらに、カバープレート
12をバックプレート14に対して合わせた位置を維持
できるように構成する。あるいは、フリット封止リング
60と圧縮可能な突起62を圧縮するのに必要な力を加
える前に、カバープレート12とバックプレート14を
互いに位置合わせしてもよい。
式的に図解されている。図3(A)に示すように、はじ
めに、フリット封止リング60と圧縮可能な突起62を
半結晶状態、あるいは部分的に固くした状態とする。プ
ロセスのこの段階では、圧縮可能な突起62はカバープ
レート12を、その間に排気開口部68が形成されるよ
うに支持している。排気開口部68は矩形状フリット封
止リング60の長さ及び幅にわたって延びている。さら
に、排気開口部68は、圧縮可能な突起62の高さによ
って決まる高さHを有している。例えば、圧縮可能な突
起62は約0.01インチ(0.0025cm)のオーダーの高さ
である。もっとも、この値に限定されるものではない。
圧縮可能な突起62間の隔たりはフィールドエミッショ
ンディスプレイ10全体の大きさによる。例えば、およ
そ1インチ(2.54cm)のオーダーであるが、この値に
限定されるものではない。
(A)の位置に設けて排気開口部68と排気用流路を形
成した状態で、排気開口部68カバープレート12とバ
ックプレート14を炉の反応室64内に置く。次いで、
排気・封止プロセスを開始し、パッケージ10を排気
し、フリット封止リング60及び圧縮可能な突起62を
加熱して周縁封止58を形成する。
を反応室64内に置いたら、反応室64を排気して大気
圧から負圧、具体的には10-7のオーダー以下まで減じ
る。一方、反応室64内の温度は、室温から、フリット
封止リング60と圧縮可能な突起62が流動化して周縁
封止58を形成するに十分な温度まで高める。
に、具体的には、はじめに反応室64をポンプで引いて
負圧とし、次いで次第に温度を上げて所定値に至るよう
に行なう。炉の制御は、反応室64内で所定の温度及び
圧力を実現できるように設定する。
気開口部68を形成し、フィールドエミッションディス
プレイパッケージ10の内部を排気するための流路を確
保する。図3(B)に示すように、排気・封止プロセス
が進行するにつれ、フリット封止リング60と圧縮可能
な突起62が軟化して互いに接近してくるため、排気開
口部68は閉じ始める。
セスの完了時には、フリット封止リング60と圧縮可能
な突起62は溶融して互いに混ざり合い周縁封止58を
形成している。この時点では排気開口部68は完全に封
止されている。また、高温によりゲッタ材料56は活性
化され、封止空間18からガス及び蒸気を引き抜き続け
ていく。
成する代わりに、これと実質的に同等な封止リングをイ
ンジウムで形成してもよい。この態様では、インジウム
は、インジウム線を閉じたループのような所定のかたち
として用いればよい。あるいは、はんだ付けにより、ま
たは、スパチュラその他の道具を用いた手法によりイン
ジウムの封止リングを形成してもよい。なお、インジウ
ムで形成された封止リングは、形成後の加熱を必要とせ
ず、圧縮のみで封止を形成することができる。もっと
も、この態様でも、ゲッタを活性化するために、形成後
の加熱工程は必要であろう。
能な突起をフリット材料で形成する場合に関するもので
ある。排気・封止プロセスは、好ましくは、温度を上げ
て数時間保持する複数の段階を経て行なう。図4にこの
ような温度制御プロセスを示す。また、表1には、図示
したプロセスについて、処理開始からの時間(プロセス
タイム)、各工程に要する時間、工程のタイプ、温度及
び圧力といったパラメータをまとめて示した。
りである。はじめに反応室64を125℃の温度に放置
する。反応室64は真空状態から通気して大気雰囲気下
に開放する。パッケージ10を反応室64内に置き、反
応室を4.7 ×10-7Torr程度に排気する。パッケージ1
0は125℃の温度で2時間保つ。この間にパッケージ
10と反応室64からはガスが除かれ平衡に達する。こ
の段階でガスとして除かれる主要成分は水である。
3時間保つ。これにより、フリット封止リング60や圧
縮可能な突起62を粘稠ペーストとするために添加され
た松油のような混合剤が完全に揮発除去される。さら
に、パッケージ10と反応室64をこの温度と平衡にし
てパッケージ内部領域及び反応室が真空を回復するよう
にする。この時点で、ゲッタの活性化も始まっている。
次いで温度を425℃まで上昇させ、1時間保つ。これ
は、圧縮可能な突起62とフリット封止リング60が軟
化し流動する温度である。さらに、重みを付けた位置合
わせジグ66により力(F)が加えられているため、圧
縮可能な突起62とフリット封止リング60は、押し出
される、つまり流動する。この高温でゲッタ56はさら
に完全に活性化され封止空間18が形成されるにつれパ
ッケージ内の脱気を続ける。
2時間保つ。これによりゲッタ材料が封止空間18から
効率的にガス及び蒸気を除去する。次いで温度を125
℃に下げ約2時間保つ。反応室64に通気して大気圧と
しパッケージ10を反応室64から除く。図5と図6
に、本発明の別の態様を示す。図5では、フィールドエ
ミッションディスプレイパッケージ10Aは、上に述べ
た各コンポーネントと同様なベースプレート22Aとデ
ィスプレイスクリーン26Aを含んでいる。しかし、こ
の態様では、カバープレート12とバックプレート14
がなく、フリット封止リング60Aと圧縮可能な突起6
2Aを用いることにより、ベースプレート22Aとディ
スプレイスクリーン26Aとの間に、実質的に上記と同
様な直接封止が形成される。
ージ10Bには、前述のバックプレートと同等なバック
プレート14Bは含まれているが、カバープレートがな
く、フリット封止リング60Bと圧縮可能な突起62B
を用いることにより、バックプレート14Bとディスプ
レイスクリーン26Bとの間に、実質的に上記と同様な
直接封止が形成される。以上、ある種の好適態様につい
て本発明を説明したが、当業者には明らかなように、特
許請求の範囲により規定される本発明の範囲内におい
て、このほかの変化や修正を施すことも可能である。
が実質的に同時に進行するため、排気管を用いることな
くフィールドエミッションディスプレイを形成すること
ができる。
エミッションディスプレイパッケージの模式的断面図。
パッケージのフィールドエミッションディスプレイセグ
メントを拡大して示す模式的断面図。
成過程を一部の部品を除いた状態で示す模式的側面図。
を行なう際の反応室内の圧力(Torr)と温度(℃)の時間
変化を示すグラフ。
とバックプレートとの間に直接封止を形成する、本発明
の別な態様によるフィールドエミッションディスプレイ
パッケージの模式的断面図。
ず、フェイスプレートとベースプレートとの間に直接封
止を形成する、本発明の別な態様によるフィールドエミ
ッションディスプレイパッケージの模式的断面図。
ジ 10B フィ−ルドエミッションディスプレイパッケ−
ジ 12 カバープレート 14 バックプレート 14B バックプレート 16 フェイスプレート−ベースプレート対 18 封止空間 20 ディスプレイセグメント 22 ベースプレート 22A ベースプレート 24 グリッド 26 ディスプレイスクリーン 26A ディスプレイスクリーン 26B ディスプレイスクリーン 28 エミッタサイト 32 基板 36 電子 38 蛍光体 40 スペーサ 42 空洞 44 ボンド棚 46 ボンディングパッド 48 導線 50 外部コネクタ 56 ゲッタ材料 58 周縁封止 60 フリット封止リング 60A フリット封止リング 60B フリット封止リング 62 圧縮可能な突起 62A 圧縮可能な突起 62B 圧縮可能な突起 64 反応室 66 位置合わせジグ 68 排気開口部
Claims (56)
- 【請求項1】 第一プレートを形成する工程;第一プレ
ートと対になりこれに係合する第二プレートを形成する
工程;第一プレートと第二プレートとの間に流動性材料
からなる封止リングを形成する工程;第一プレートと第
二プレートとを分離し、その間の空間を排気するための
流路が得られように第一プレートと第二プレートとの間
に複数の圧縮可能な突起を形成する工程;減圧した反応
室内に第一及び第二のプレートを置き、前記空間を排気
する工程;及び封止リング及び圧縮可能な突起を圧縮し
て該突起を変形させ、排気された空間の回りに連続封止
を形成する工程を含む、パッケージを排気、封止するた
めの方法。 - 【請求項2】 封止リング及び圧縮可能な突起がガラス
フリット材料で形成されており、圧縮工程において、さ
らに封止リング及び圧縮可能な突起を加熱する請求項1
に記載の方法。 - 【請求項3】 圧縮工程に先立ち、さらに封止リング及
び圧縮可能な突起を予備焼成する請求項2に記載の方
法。 - 【請求項4】 前記空間内にゲッタ材料が含まれてお
り、加熱工程でこのゲッタ材料を活性化する請求項3に
記載の方法。 - 【請求項5】 反応室を、突起の流動点より低い第一温
度に加熱し、第一の期間そのまま保持し、次いで、突起
の流動点以上の第二温度に加熱し、第二の期間そのまま
保持する請求項4に記載の方法。 - 【請求項6】 第一プレートまたは第二プレート上に粘
稠なペーストとして堆積され、しかる後予備焼成される
ガラスフリット材料により封止リングを形成する請求項
1に記載の方法。 - 【請求項7】 第一プレートまたは第二プレート上に粘
稠なペーストとして堆積され、しかる後予備焼成される
ガラスフリット材料により圧縮可能な突起を形成する請
求項1に記載の方法。 - 【請求項8】 封止リングをインジウムにより形成する
請求項1に記載の方法。 - 【請求項9】 圧縮可能な突起をインジウムにより形成
する請求項1に記載の方法。 - 【請求項10】 封止リング及び圧縮可能な突起をイン
ジウムにより形成する請求項1に記載の方法。 - 【請求項11】 圧縮可能な突起を封止リング上に形成
する請求項1に記載の方法。 - 【請求項12】 第一または第二のプレート上にフィー
ルドエミッションディスプレイのコンポーネントを取り
付ける請求項1に記載の方法。 - 【請求項13】 第一及び第二のプレートをセラミック
及びガラスからなる群から選択される材料により形成す
る請求項1に記載の方法。 - 【請求項14】 さらに、圧縮可能な突起により得られ
る流路を用いて前記空間内のガス組成を操作する工程を
含む請求項1に記載の方法。 - 【請求項15】 第一及び第二のプレートを反応室内に
配置するのに先立ち大気圧下で位置合わせする請求項1
に記載の方法。 - 【請求項16】 請求項1に記載の方法により製造され
るパッケージ。 - 【請求項17】 第一プレートを形成する工程;第一プ
レートと対になりこれと係合する第二プレートを形成す
る工程;第一または第二のプレート上にフィールドエミ
ッションディスプレイコンポーネントを取り付ける工
程;第一プレートと第二プレートとの間に封止リングを
形成する工程;第一プレートと第二プレートとを分離
し、その間の空間を排気するための流路が得られるよう
に第一プレートと第二プレートとの間に複数の圧縮可能
な突起を形成する工程;反応室内に第一及び第二のプレ
ートを置く工程;反応室内を減圧し前記空間を排気する
工程;及び圧縮可能な突起を変形させ、周縁封止を形成
する工程を含む、フィールドエミッションディスプレイ
パッケージを排気・封止するための方法。 - 【請求項18】 圧縮により前記突起を変形する請求項
17に記載の方法。 - 【請求項19】 加熱により前記突起を変形する請求項
17に記載の方法。 - 【請求項20】 圧縮及び加熱により前記突起を変形す
る請求項17に記載の方法。 - 【請求項21】 はじめに粘稠なペーストとしていずれ
かのプレート上に堆積され、次いで予備焼成されるガラ
スフリットにより封止リングを形成する請求項17に記
載の方法。 - 【請求項22】 封止リング及び突起をインジウムによ
り形成する請求項17に記載の方法。 - 【請求項23】 さらに、いずれかのプレートにゲッタ
材料を配設し、反応室を加熱することによりゲッタ材料
を活性化する工程を含む請求項17に記載の方法。 - 【請求項24】 反応室を排気して低圧として段階的に
反応室の温度を高める請求項17に記載の方法。 - 【請求項25】 圧力を約1.0 ×10-5〜4.0 ×10-7
Torr とする請求項17に記載の方法。 - 【請求項26】 フィールドエミッションコンポーネン
トが、その上にエミッタサイトの形成されたベースプレ
ートを含むものである請求項17に記載の方法。 - 【請求項27】 請求項26に記載の方法により製造さ
れるパッケージ。 - 【請求項28】 封止リング及び圧縮可能な突起をガラ
スフリットで形成し、反応室を封止リングの流動点より
も低い第一温度に加熱して第一の期間そのまま保持さ
れ、次いで、封止リングの流動点以上の第二の温度に加
熱して第二の期間そのまま保持する請求項17に記載の
方法。 - 【請求項29】 第一及び第二のプレートを反応室内に
配置するのに先立ち大気圧下で位置合わせする請求項1
7に記載の方法。 - 【請求項30】 フィールドエミッションディスプレイ
コンポーネントが、対として組み立てられ、第一または
第二のプレートに取り付けられるベースプレート及びフ
ェイスプレートを含む請求項17に記載の方法。 - 【請求項31】 第一プレートが、フィールドエミッシ
ョンディスプレイのベースプレートであり、第二プレー
トがフィールドエミッションディスプレイのフェイスプ
レートである請求項17に記載の方法。 - 【請求項32】 第一プレートが、パッケージのバック
プレートであり、第二プレートがフィールドエミッショ
ンディスプレイのフェイスプレートである請求項17に
記載の方法。 - 【請求項33】 さらに、圧縮可能な突起により得られ
る流路を用いて前記空間内のガス組成を操作する工程を
含む請求項17に記載の方法。 - 【請求項34】複数の外部電気コネクタを有する第一プ
レートを形成する工程;フィールドエミッションディス
プレイのフェイスプレート−ベースプレート対を第一プ
レートに前記コネクタと電気的に接続するように取り付
ける工程;第一プレートと対になりこれと係合する透明
な第二プレートを形成する工程;第一プレートまたは第
二プレートにゲッタ材料を配設する工程;第一プレート
と第二プレートとの間に封止リングを形成する工程;第
一プレートと第二プレートとを分離する複数の圧縮可能
な突起を形成する工程;反応室内に第一及び第二のプレ
ートを置く工程;前記突起が流路を形成している間に反
応室内を減圧し第一プレートと第二プレートの間の空間
を排気する工程;及び圧縮可能な突起を変形させ、周縁
封止を形成する工程を含む、フィールドエミッションデ
ィスプレイパッケージを排気、封止するための方法。 - 【請求項35】 突起をガラスフリットで形成し、さら
に、突起を変形しゲッタを活性化するために反応室を加
熱する工程を含む請求項34に記載の方法。 - 【請求項36】 空洞を有する第一プレートを形成し、
この空洞内にフェイスプレート−ベースプレート対を取
り付ける請求項34に記載の方法。 - 【請求項37】 前記コネクタと電気的に接続するよう
に第一プレート上のボンドパッドにベースプレートをワ
イヤボンドする請求項34に記載の方法。 - 【請求項38】 前記コネクタがピングリッドアレイと
して形成される請求項34に記載の方法。 - 【請求項39】 第一プレートがセラミックにより形成
される請求項34に記載の方法。 - 【請求項40】 第二プレートがガラスにより形成され
る請求項34に記載の方法。 - 【請求項41】 ゲッタ材料が金属箔上に形成される請
求項34に記載の方法。 - 【請求項42】 封止リングをガラスフリットにより形
成し、反応室をパッケージ内の気体を除く第一温度に、
次いで、含有物を除去する第二温度に、次いで、突起を
変形する第三温度に加熱する請求項34に記載の方法。 - 【請求項43】 請求項34に記載の方法により製造さ
れるフィールドエミッションディスプレイパッケージ。 - 【請求項44】 封止リング及び圧縮可能な突起を、ガ
ラスフリット及びインジウムからなる群より選択される
材料により形成する請求項34に記載の方法。 - 【請求項45】 第一プレートを形成する工程;フェイ
スプレート−ベースプレート対を第一プレートに取り付
ける工程;第一プレートと対になりこれと係合する透明
な第二プレートを形成する工程;第一プレートと第二プ
レートとの間に封止リングを形成する工程;当初は第一
プレートと第二プレートとを分離する、複数の圧縮可能
な突起を形成する工程;反応室内に第一及び第二のプレ
ートを置く工程;前記突起がガス流路を形成している間
に反応室内を減圧し第一プレートと第二プレートの間の
空間を排気する工程;及び圧縮可能な突起を変形させる
工程;を含む方法により形成されるフィールドエミッシ
ョンディスプレイパッケージ。 - 【請求項46】 前記突起を変形するために反応室を加
熱する請求項45に記載のパッケージ。 - 【請求項47】 ゲッタ材料を第一または第二プレート
に配設し、加熱工程においてゲッタ材料を活性化する請
求項46に記載のパッケージ。 - 【請求項48】 封止リング及び圧縮可能な突起が、ガ
ラスフリット及びインジウムからなる群より選択される
材料により形成される請求項45に記載のパッケージ。 - 【請求項49】 ゲッタ材料が、フェイスプレート−ベ
ースプレート対を保持するバネ部材のかたちを有する金
属箔上に含有される請求項45に記載のパッケージ。 - 【請求項50】 反応室を封止リングの流動点より低い
第一温度に加熱し、第一の期間そのまま保持し、次い
で、流動点以上の第二温度に加熱し第二の期間そのまま
保持する請求項45に記載のパッケージ。 - 【請求項51】 第一プレート;第一プレートと対にな
りこれと係合するように構成された第二プレート;第一
または第二プレート上に取り付けられたフェイスプレー
ト−ベースプレート対;第一プレートと第二プレートと
の間に形成された封止リング;第一プレートと第二プレ
ートとの間に形成され、当初はパッケージを排気するた
めの流路を形成する複数の圧縮可能な突起;第一または
第二プレートに配設されるゲッタ材料;を含むフィール
ドエミッションディスプレイパッケージ。 - 【請求項52】 ゲッタ材料が、フェイスプレート−ベ
ースプレート対を保持するバネ部材のかたちを有する金
属箔上に含有される請求項51に記載のパッケージ。 - 【請求項53】 封止リング及び圧縮可能な突起が、ガ
ラスフリット及びインジウムからなる群より選択される
材料により形成される請求項51に記載のパッケージ。 - 【請求項54】 第一プレートが外部コネクタを有する
セラミックで形成されている請求項51に記載のパッケ
ージ。 - 【請求項55】 第一プレート上に形成され外部コネク
タと電気的に接続したボンディングパッドにベースプレ
ートをワイヤボンディングすることにより、前記外部コ
ネクタとベースプレート間に電気パスを形成した請求項
51に記載のパッケージ。 - 【請求項56】 外部コネクタがピングリッドアレイと
して形成されている請求項51に記載のパッケージ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/538,498 US5697825A (en) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Method for evacuating and sealing field emission displays |
US08/538,498 | 1995-09-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09171768A true JPH09171768A (ja) | 1997-06-30 |
JP3128564B2 JP3128564B2 (ja) | 2001-01-29 |
Family
ID=24147165
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25942596A Expired - Fee Related JP3128564B2 (ja) | 1995-09-29 | 1996-09-30 | フィールドエミッションディスプレイを排気、封止する方法及びその方法により形成されるパッケージ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US5697825A (ja) |
JP (1) | JP3128564B2 (ja) |
KR (1) | KR100229586B1 (ja) |
FR (1) | FR2739490B1 (ja) |
TW (1) | TW367523B (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000045411A1 (fr) * | 1999-01-29 | 2000-08-03 | Hitachi, Ltd. | Ecran de type a decharge gazeuse et procede de production de ce dernier |
US6254449B1 (en) | 1997-08-29 | 2001-07-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Manufacturing method of image forming apparatus, manufacturing apparatus of image forming apparatus, image forming apparatus, manufacturing method of panel apparatus, and manufacturing apparatus of panel apparatus |
KR100491913B1 (ko) * | 1999-03-31 | 2005-05-27 | 가부시끼가이샤 도시바 | 평판형 화상 표시 장치의 제조 방법 및 평판형 화상 표시장치 |
WO2005100236A1 (en) * | 2004-04-13 | 2005-10-27 | Seoul National University Industry Foundation | Method of packaging mems device in vacuum state and mems device vacuum-packaged using the same |
US7625260B2 (en) | 2004-02-20 | 2009-12-01 | Chugai Ro Co., Ltd. | Method of sealing glass panel assembly and sealing process furnace |
Families Citing this family (75)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5697825A (en) * | 1995-09-29 | 1997-12-16 | Micron Display Technology, Inc. | Method for evacuating and sealing field emission displays |
US5807154A (en) * | 1995-12-21 | 1998-09-15 | Micron Display Technology, Inc. | Process for aligning and sealing field emission displays |
US5827102A (en) * | 1996-05-13 | 1998-10-27 | Micron Technology, Inc. | Low temperature method for evacuating and sealing field emission displays |
FR2755294A1 (fr) * | 1996-10-25 | 1998-05-01 | Pixtech Sa | Procede et dispositif d'assemblage d'un ecran plat de visualisation |
FR2755295B1 (fr) * | 1996-10-28 | 1998-11-27 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication d'un dispositif a emission de champ sous vide et appareils pour la mise en oeuvre de ce procede |
US6109994A (en) * | 1996-12-12 | 2000-08-29 | Candescent Technologies Corporation | Gap jumping to seal structure, typically using combination of vacuum and non-vacuum environments |
US5820435A (en) * | 1996-12-12 | 1998-10-13 | Candescent Technologies Corporation | Gap jumping to seal structure including tacking of structure |
US5977706A (en) | 1996-12-12 | 1999-11-02 | Candescent Technologies Corporation | Multi-compartment getter-containing flat-panel device |
WO1998026440A1 (en) * | 1996-12-12 | 1998-06-18 | Candescent Technologies Corporation | Gap jumping to seal structure |
US6129603A (en) * | 1997-06-24 | 2000-10-10 | Candescent Technologies Corporation | Low temperature glass frit sealing for thin computer displays |
JP4293727B2 (ja) * | 1997-10-01 | 2009-07-08 | コンプリート ディスプレー ソリューションズ リミテッド | ディスプレー装置のシール方法及びシール装置 |
US6319436B1 (en) * | 1997-10-27 | 2001-11-20 | Trw Inc. | Method for making floor fan seal plug with thermoexpanding seal ring and axial guide members |
KR100273139B1 (ko) | 1997-11-25 | 2000-12-01 | 정선종 | 전계방출디스플레이의패키징방법 |
US6897855B1 (en) | 1998-02-17 | 2005-05-24 | Sarnoff Corporation | Tiled electronic display structure |
US6370019B1 (en) | 1998-02-17 | 2002-04-09 | Sarnoff Corporation | Sealing of large area display structures |
JP3896686B2 (ja) * | 1998-03-27 | 2007-03-22 | 双葉電子工業株式会社 | 真空外周器の真空方法 |
KR100270888B1 (ko) * | 1998-04-08 | 2000-12-01 | 윤종용 | 노운 굿 다이 제조장치 |
DE19817478B4 (de) * | 1998-04-20 | 2004-03-18 | Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH | Flache Entladungslampe und Verfahren zu ihrer Herstellung |
JP3057081B2 (ja) * | 1998-05-18 | 2000-06-26 | キヤノン株式会社 | 気密容器の製造方法および該気密容器を用いる画像形成装置の製造方法 |
JP3465634B2 (ja) * | 1998-06-29 | 2003-11-10 | 富士通株式会社 | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
FR2781308A1 (fr) * | 1998-07-15 | 2000-01-21 | Thomson Plasma | Procede de realisation de moyens d'entretoisement pour panneaux de visualisation |
JP3428931B2 (ja) * | 1998-09-09 | 2003-07-22 | キヤノン株式会社 | フラットパネルディスプレイの解体処理方法 |
DE19845075A1 (de) * | 1998-09-30 | 2000-04-13 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen eines Bauelementes und Bauelement |
US6396207B1 (en) * | 1998-10-20 | 2002-05-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Image display apparatus and method for producing the same |
US6533632B1 (en) | 1999-02-18 | 2003-03-18 | Micron Technology, Inc. | Method of evacuating and sealing flat panel displays and flat panel displays using same |
US6030267A (en) * | 1999-02-19 | 2000-02-29 | Micron Technology, Inc. | Alignment method for field emission and plasma displays |
US6908354B1 (en) * | 1999-03-10 | 2005-06-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of producing flat panel displays |
US6354899B1 (en) | 1999-04-26 | 2002-03-12 | Chad Byron Moore | Frit-sealing process used in making displays |
FR2793068B1 (fr) * | 1999-04-28 | 2001-05-25 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif a emission de champ utilisant un gaz reducteur et fabrication d'un tel dispositif |
US6930446B1 (en) | 1999-08-31 | 2005-08-16 | Micron Technology, Inc. | Method for improving current stability of field emission displays |
AT408157B (de) | 1999-10-15 | 2001-09-25 | Electrovac | Verfahren zur herstellung eines feldemissions-displays |
KR100352160B1 (ko) * | 1999-11-16 | 2002-09-12 | 권상직 | 진공 인라인 방식의 평판 표시소자 제작을 위한 실링용페이스트의 제조 방법 및 상기 실링용 페이스트를 이용한실링 방법 |
KR100527081B1 (ko) * | 1999-12-21 | 2005-11-09 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 전계 방출 표시 패널의 제조 방법 |
JP2001210258A (ja) * | 2000-01-24 | 2001-08-03 | Toshiba Corp | 画像表示装置およびその製造方法 |
DE60133331T3 (de) | 2000-02-15 | 2012-12-06 | Nsk Ltd. | Lenkung für ein Automobil |
JP3754859B2 (ja) * | 2000-02-16 | 2006-03-15 | キヤノン株式会社 | 画像表示装置の製造法 |
JP3754883B2 (ja) * | 2000-03-23 | 2006-03-15 | キヤノン株式会社 | 画像表示装置の製造法 |
FR2809864A1 (fr) * | 2000-05-30 | 2001-12-07 | Pixtech Sa | Outillage de pose d'espaceurs dans un ecran plat de visualisation |
WO2001093301A1 (en) * | 2000-06-01 | 2001-12-06 | Complete Substrate Solutions Limited | Visual display |
US6722937B1 (en) | 2000-07-31 | 2004-04-20 | Candescent Technologies Corporation | Sealing of flat-panel device |
US6507147B1 (en) * | 2000-08-31 | 2003-01-14 | Intevac, Inc. | Unitary vacuum tube incorporating high voltage isolation |
JP3754882B2 (ja) * | 2000-09-29 | 2006-03-15 | キヤノン株式会社 | 画像表示装置の製造法 |
US6383924B1 (en) | 2000-12-13 | 2002-05-07 | Micron Technology, Inc. | Method of forming buried conductor patterns by surface transformation of empty spaces in solid state materials |
WO2002054436A1 (en) * | 2000-12-28 | 2002-07-11 | Jae-Hong Park | A method for sealing a flat panel display in a vacuum |
JP2002245941A (ja) * | 2001-02-13 | 2002-08-30 | Nec Corp | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
WO2002089169A1 (fr) * | 2001-04-23 | 2002-11-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Afficheur d'images, procede et dispositif de production de l'afficheur d'images |
CN1193330C (zh) * | 2001-05-08 | 2005-03-16 | 松下电器产业株式会社 | 等离子体显示装置的制造方法 |
US7142577B2 (en) | 2001-05-16 | 2006-11-28 | Micron Technology, Inc. | Method of forming mirrors by surface transformation of empty spaces in solid state materials and structures thereon |
US6898362B2 (en) * | 2002-01-17 | 2005-05-24 | Micron Technology Inc. | Three-dimensional photonic crystal waveguide structure and method |
JP2003017259A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-17 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示パネルの製造方法 |
JP2003015552A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-17 | Sanyo Electric Co Ltd | 表示用パネルの製造方法 |
JP4614588B2 (ja) | 2001-06-29 | 2011-01-19 | 三洋電機株式会社 | エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 |
JP4894987B2 (ja) * | 2001-06-29 | 2012-03-14 | 三洋電機株式会社 | 表示用パネルの製造方法 |
CN1213389C (zh) * | 2001-08-31 | 2005-08-03 | 佳能株式会社 | 图像显示装置及其制造方法 |
US7288171B2 (en) * | 2002-01-18 | 2007-10-30 | University Of North Texas | Method for using field emitter arrays in chemical and biological hazard mitigation and remediation |
US6919678B2 (en) * | 2002-09-03 | 2005-07-19 | Bloomberg Lp | Bezel-less electric display |
CA2497536C (en) | 2002-09-03 | 2011-05-10 | Bloomberg Lp | Bezel-less electronic display |
US7008854B2 (en) | 2003-05-21 | 2006-03-07 | Micron Technology, Inc. | Silicon oxycarbide substrates for bonded silicon on insulator |
US7501329B2 (en) | 2003-05-21 | 2009-03-10 | Micron Technology, Inc. | Wafer gettering using relaxed silicon germanium epitaxial proximity layers |
US7273788B2 (en) | 2003-05-21 | 2007-09-25 | Micron Technology, Inc. | Ultra-thin semiconductors bonded on glass substrates |
US7662701B2 (en) | 2003-05-21 | 2010-02-16 | Micron Technology, Inc. | Gettering of silicon on insulator using relaxed silicon germanium epitaxial proximity layers |
US6929984B2 (en) | 2003-07-21 | 2005-08-16 | Micron Technology Inc. | Gettering using voids formed by surface transformation |
US6903860B2 (en) * | 2003-11-01 | 2005-06-07 | Fusao Ishii | Vacuum packaged micromirror arrays and methods of manufacturing the same |
US7153753B2 (en) | 2003-08-05 | 2006-12-26 | Micron Technology, Inc. | Strained Si/SiGe/SOI islands and processes of making same |
US20060283546A1 (en) * | 2003-11-12 | 2006-12-21 | Tremel James D | Method for encapsulating electronic devices and a sealing assembly for the electronic devices |
US20060284556A1 (en) * | 2003-11-12 | 2006-12-21 | Tremel James D | Electronic devices and a method for encapsulating electronic devices |
US20050238803A1 (en) * | 2003-11-12 | 2005-10-27 | Tremel James D | Method for adhering getter material to a surface for use in electronic devices |
JP2005251474A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Toshiba Corp | 画像表示装置の製造方法、および封着材充填装置 |
US20050253283A1 (en) * | 2004-05-13 | 2005-11-17 | Dcamp Jon B | Getter deposition for vacuum packaging |
US20070001579A1 (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-04 | Eun-Suk Jeon | Glass-to-glass joining method using laser, vacuum envelope manufactured by the method, electron emission display having the vacuum envelope |
US8173995B2 (en) | 2005-12-23 | 2012-05-08 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Electronic device including an organic active layer and process for forming the electronic device |
US7993977B2 (en) * | 2007-07-02 | 2011-08-09 | Micron Technology, Inc. | Method of forming molded standoff structures on integrated circuit devices |
JP4492758B2 (ja) * | 2007-08-17 | 2010-06-30 | 凸版印刷株式会社 | 反応場独立冶具及びそれを用いた反応チップ処理装置 |
CN101470040B (zh) * | 2007-12-28 | 2011-05-25 | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 | 一种用于危险气体安全测量的低压力规 |
US20090214726A1 (en) * | 2008-02-26 | 2009-08-27 | Ballman Darryl J | Sugar free and sugar reduced aerated confections and methods of preparation |
Family Cites Families (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2882116A (en) * | 1956-09-20 | 1959-04-14 | Eitel Mccullough Inc | Method of making electron tubes |
US3330982A (en) * | 1964-08-14 | 1967-07-11 | Sylvania Electric Prod | Hermetically encased electroluminescent display device |
NL6909119A (ja) * | 1969-06-13 | 1970-12-15 | ||
US4005920A (en) * | 1975-07-09 | 1977-02-01 | International Telephone And Telegraph Corporation | Vacuum-tight metal-to-metal seal |
JPS52130274A (en) * | 1976-04-24 | 1977-11-01 | Ise Electronics Corp | Vacuum part and device for sealing same |
US4018374A (en) * | 1976-06-01 | 1977-04-19 | Ford Aerospace & Communications Corporation | Method for forming a bond between sapphire and glass |
IT1160700B (it) * | 1977-10-25 | 1987-03-11 | Bfg Glassgroup | Pannelli |
US4259613A (en) * | 1978-01-11 | 1981-03-31 | Wagner Electric Corporation | Fluorescent indicator and method of making same |
JPS55151742A (en) * | 1979-05-16 | 1980-11-26 | Futaba Corp | Manufacture of front part of plane type fluorescent display tube case |
US4245273A (en) * | 1979-06-29 | 1981-01-13 | International Business Machines Corporation | Package for mounting and interconnecting a plurality of large scale integrated semiconductor devices |
US4417296A (en) * | 1979-07-23 | 1983-11-22 | Rca Corp | Method of connecting surface mounted packages to a circuit board and the resulting connector |
US4407658A (en) * | 1981-03-02 | 1983-10-04 | Beckman Instruments, Inc. | Gas discharge display device sealing method for reducing gas contamination |
FR2567684B1 (fr) * | 1984-07-10 | 1988-11-04 | Nec Corp | Module ayant un substrat ceramique multicouche et un circuit multicouche sur ce substrat et procede pour sa fabrication |
JPS6142837A (ja) * | 1984-08-02 | 1986-03-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像表示装置の製造方法 |
JPS61118948A (ja) * | 1984-11-14 | 1986-06-06 | Matsushita Electronics Corp | 撮像管 |
JPH063714B2 (ja) * | 1985-03-25 | 1994-01-12 | 松下電器産業株式会社 | 画像表示装置 |
JPS62265796A (ja) * | 1986-05-14 | 1987-11-18 | 株式会社住友金属セラミックス | セラミツク多層配線基板およびその製造法 |
JPH02216732A (ja) * | 1989-02-17 | 1990-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | 発光素子の製造方法 |
JPH0311524A (ja) * | 1989-06-08 | 1991-01-18 | Nec Kagoshima Ltd | 蛍光表示管の真空気密封止方法 |
JP2734760B2 (ja) * | 1990-08-10 | 1998-04-02 | 松下電器産業株式会社 | 画像表示装置の製造方法 |
EP0494425B1 (en) * | 1990-12-28 | 1999-02-24 | Sony Corporation | A flat panel display apparatus |
US5519332A (en) * | 1991-06-04 | 1996-05-21 | Micron Technology, Inc. | Carrier for testing an unpackaged semiconductor die |
JPH05121013A (ja) * | 1991-10-28 | 1993-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | 平板型陰極線管 |
WO1993016484A1 (en) * | 1992-02-10 | 1993-08-19 | Seiko Epson Corporation | Fluorescent display and method of forming fluorescent layer therein, and vacuum sealing method and vacuum level accelerating method for space in the display |
US5229331A (en) * | 1992-02-14 | 1993-07-20 | Micron Technology, Inc. | Method to form self-aligned gate structures around cold cathode emitter tips using chemical mechanical polishing technology |
US5205770A (en) * | 1992-03-12 | 1993-04-27 | Micron Technology, Inc. | Method to form high aspect ratio supports (spacers) for field emission display using micro-saw technology |
US5210472A (en) * | 1992-04-07 | 1993-05-11 | Micron Technology, Inc. | Flat panel display in which low-voltage row and column address signals control a much pixel activation voltage |
US5424605A (en) * | 1992-04-10 | 1995-06-13 | Silicon Video Corporation | Self supporting flat video display |
US5302238A (en) * | 1992-05-15 | 1994-04-12 | Micron Technology, Inc. | Plasma dry etch to produce atomically sharp asperities useful as cold cathodes |
JPH06111735A (ja) * | 1992-09-25 | 1994-04-22 | Futaba Corp | 電界放出形陰極を実装した表示装置及び電界放出形陰極の実装方法 |
JP2722979B2 (ja) * | 1993-01-18 | 1998-03-09 | 双葉電子工業株式会社 | 蛍光表示装置及び蛍光表示装置の製造方法 |
JP2832510B2 (ja) * | 1994-05-10 | 1998-12-09 | 双葉電子工業株式会社 | 表示装置の製造方法 |
US5587622A (en) * | 1994-07-12 | 1996-12-24 | Fallon Luminous Products | Low pressure gas discharge lamps with low profile sealing cover plate |
US5541466A (en) * | 1994-11-18 | 1996-07-30 | Texas Instruments Incorporated | Cluster arrangement of field emission microtips on ballast layer |
US5766053A (en) * | 1995-02-10 | 1998-06-16 | Micron Technology, Inc. | Internal plate flat-panel field emission display |
US5697825A (en) * | 1995-09-29 | 1997-12-16 | Micron Display Technology, Inc. | Method for evacuating and sealing field emission displays |
US5827102A (en) * | 1996-05-13 | 1998-10-27 | Micron Technology, Inc. | Low temperature method for evacuating and sealing field emission displays |
-
1995
- 1995-09-29 US US08/538,498 patent/US5697825A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-07-08 US US08/677,725 patent/US5788551A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-09-25 KR KR1019960042423A patent/KR100229586B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-09-30 JP JP25942596A patent/JP3128564B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-09-30 FR FR9611880A patent/FR2739490B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1996-11-07 TW TW085113617A patent/TW367523B/zh active
-
1998
- 1998-07-29 US US09/124,492 patent/US5997378A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6254449B1 (en) | 1997-08-29 | 2001-07-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Manufacturing method of image forming apparatus, manufacturing apparatus of image forming apparatus, image forming apparatus, manufacturing method of panel apparatus, and manufacturing apparatus of panel apparatus |
US6506089B2 (en) | 1997-08-29 | 2003-01-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Manufacturing method of image forming apparatus, manufacturing apparatus of image forming apparatus, and manufacturing method of panel apparatus |
WO2000045411A1 (fr) * | 1999-01-29 | 2000-08-03 | Hitachi, Ltd. | Ecran de type a decharge gazeuse et procede de production de ce dernier |
KR100491913B1 (ko) * | 1999-03-31 | 2005-05-27 | 가부시끼가이샤 도시바 | 평판형 화상 표시 장치의 제조 방법 및 평판형 화상 표시장치 |
US6926575B1 (en) | 1999-03-31 | 2005-08-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing flat image display and flat image display |
US7625260B2 (en) | 2004-02-20 | 2009-12-01 | Chugai Ro Co., Ltd. | Method of sealing glass panel assembly and sealing process furnace |
WO2005100236A1 (en) * | 2004-04-13 | 2005-10-27 | Seoul National University Industry Foundation | Method of packaging mems device in vacuum state and mems device vacuum-packaged using the same |
KR100575363B1 (ko) * | 2004-04-13 | 2006-05-03 | 재단법인서울대학교산학협력재단 | 미소기계소자의 진공 실장방법 및 이 방법에 의해 진공실장된 미소기계소자 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR970017805A (ko) | 1997-04-30 |
KR100229586B1 (ko) | 1999-11-15 |
US5997378A (en) | 1999-12-07 |
FR2739490A1 (fr) | 1997-04-04 |
US5788551A (en) | 1998-08-04 |
JP3128564B2 (ja) | 2001-01-29 |
US5697825A (en) | 1997-12-16 |
TW367523B (en) | 1999-08-21 |
FR2739490B1 (fr) | 2006-06-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3128564B2 (ja) | フィールドエミッションディスプレイを排気、封止する方法及びその方法により形成されるパッケージ | |
US5827102A (en) | Low temperature method for evacuating and sealing field emission displays | |
US8257541B2 (en) | Manufacturing method and manufacturing apparatus of envelope | |
US6140762A (en) | Wall assembly and method for attaching walls for flat panel displays | |
US5492234A (en) | Method for fabricating spacer support structures useful in flat panel displays | |
WO2000060634A1 (fr) | Procédé de fabrication d'afficheur plat et afficheur plat | |
JP2002083536A (ja) | 電子源の製造装置 | |
US6051923A (en) | Miniature electron emitter and related vacuum electronic devices | |
US20060043870A1 (en) | Image display apparatus | |
JP2001338528A (ja) | 封着用導電性フリットおよびそれを用いた封着部材、並びに画像形成装置 | |
EP0895269B1 (en) | Method of manufacturing image display | |
JP3999922B2 (ja) | 突起付基板および平面型ディスプレイ | |
JP2006508889A (ja) | スペーサをガラス基材に接合するための接合材料 | |
TW564452B (en) | Image display device | |
JP4039981B2 (ja) | 電子放出型表示装置の製造方法 | |
JP4518661B2 (ja) | 画像表示装置の製造方法 | |
JP2000215791A (ja) | 封止パネル装置及びその製造方法 | |
TWI291590B (en) | Image display device | |
JP2001076648A (ja) | 画像表示器およびその製造方法 | |
JP5032722B2 (ja) | 蛍光表示管 | |
JP4203186B2 (ja) | 電界放出型ディスプレイ用パネル | |
JP2000251713A (ja) | フラットパネルディスプレイの製造方法 | |
JP2001135263A (ja) | 画像形成装置およびその製造方法 | |
TW484167B (en) | Image display device and its manufacturing method | |
JP2004327346A (ja) | フラットパネルディスプレイ装置の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071117 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081117 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091117 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091117 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101117 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111117 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |