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JPH083471B2 - Solder fillet inspection method - Google Patents

Solder fillet inspection method

Info

Publication number
JPH083471B2
JPH083471B2 JP63194058A JP19405888A JPH083471B2 JP H083471 B2 JPH083471 B2 JP H083471B2 JP 63194058 A JP63194058 A JP 63194058A JP 19405888 A JP19405888 A JP 19405888A JP H083471 B2 JPH083471 B2 JP H083471B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solder fillet
camera
lead
electronic component
fillet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63194058A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0242344A (en
Inventor
浩文 松崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP63194058A priority Critical patent/JPH083471B2/en
Publication of JPH0242344A publication Critical patent/JPH0242344A/en
Publication of JPH083471B2 publication Critical patent/JPH083471B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95684Patterns showing highly reflecting parts, e.g. metallic elements

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半田フィレットの検査方法に係り、リフロー
後において、半田フィレット形成位置にチェックエリア
を設定し、その光反射特性をカメラにより観察すること
により、半田フィレットの有無を判断するようにしたも
のである。
The present invention relates to a method for inspecting a solder fillet, in which after reflow, a check area is set at a solder fillet formation position and its light reflection characteristics are observed by a camera. The presence / absence of the solder fillet is determined by.

(従来の技術) 電子部品実装装置により電子部品が実装された基板
は、半田付装置に送られ、ここでリードの接地部分に塗
布されたクリーム半田の加熱処理が行われる。第4図
は、かかる加熱処理が施されたリフロー後のリードLの
先端部を示すものであって、リードLの先端部には半田
フィレット10が形成されている。かかるフィレット10の
合否判断基準は必ずしも一定ではないが、一般には、図
示するように基板2からリードLの先端部へ向って緩や
かな傾斜面10aで十分な盛り上がりを有するものが良と
されており、半田フィレット不良のものや半田フィレッ
トが無いものは、不良品として選別除去される。従来、
かかる半田フィレットの外観検査は、検査員が目視作業
により行われていた。
(Prior Art) A substrate on which an electronic component is mounted by an electronic component mounting device is sent to a soldering device, where the cream solder applied to the grounded portion of the lead is heated. FIG. 4 shows the tip of the lead L after the reflow that has been subjected to such heat treatment, and the solder fillet 10 is formed at the tip of the lead L. Although the acceptance criteria for the fillet 10 are not necessarily constant, it is generally considered that the slope 10a having a gentle slope from the substrate 2 to the tip of the lead L as shown in FIG. The defective solder fillet or the defective solder fillet is sorted and removed as a defective product. Conventionally,
The visual inspection of the solder fillet has been performed by an inspector by visual inspection.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、検査員の目視作業では検査能率があが
らず、また検査員の個人誤差により検査基準がばらつき
やすく、また錯誤により誤判断しやすい等の問題があっ
た。
(Problems to be Solved by the Invention) However, there are problems that the inspection efficiency is not improved by the visual inspection work of the inspector, the inspection standard is likely to vary due to the individual error of the inspector, and an erroneous judgment is easily caused due to an error.

ところで、リフロー後においては、フィレット10の傾
斜面10aは光沢のある鏡面となっており、上方から光を
照射すると、斜上方へ強く鏡面反射する特性を有してい
る。
By the way, after the reflow, the inclined surface 10a of the fillet 10 is a glossy mirror surface, and has a characteristic of being strongly mirror-reflected obliquely upward when irradiated with light from above.

したがってこのような半田フィレットの光反射特性を
利用して、カメラを用いて半田フィレットの有無の検査
を自動的に行うことが考えられる。カメラで半田フィレ
ットの検査を行うためには、半田フィレットにチェック
エリアを設定しなければならないが、この場合、設定し
たチュックエリアが検査対象の半田フィレットから位置
ずれしていると検査できないので、チェックエリアは半
田フィレットを正しく包含するように設定せねばならな
い。
Therefore, it is conceivable to automatically inspect the presence or absence of the solder fillet using a camera by utilizing the light reflection characteristics of the solder fillet. In order to inspect the solder fillet with the camera, it is necessary to set a check area in the solder fillet, but in this case, it cannot be inspected if the set chuck area is displaced from the solder fillet to be inspected, so check The area must be set to properly contain the solder fillet.

ところで近年、電子部品のリードは益々極細・狭ピッ
チ化する傾向にあり、リードの幅が1mm以下のものもあ
らわれている。このような狭ピッチ化したリードを有す
る電子部品においては、チェックエリアの位置がわずか
でも狂うと、半田フィレットの画像をカメラに首尾よく
入手することはできず、半田フィレットの検査はできな
いこととなる。
By the way, in recent years, the leads of electronic parts have tended to become finer and narrower, and some leads have a width of 1 mm or less. In an electronic component having such a lead with a narrow pitch, if the position of the check area is slightly misaligned, the image of the solder fillet cannot be successfully obtained by the camera, and the solder fillet cannot be inspected. .

そこで本発明は、極細・狭ピッチのリードであって
も、チェックエリアを半田フィレットを包含する位置に
確実に設定できる半田フィレットの検査方法を提供する
ことを目的とする。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a solder fillet inspection method capable of reliably setting a check area at a position including a solder fillet even with an extremely fine / narrow pitch lead.

課題を解決するための手段 このために本発明は、電子部品が実装された基板に加
熱処理を施したリフロー後において、電子部品をカメラ
により観察して電子部品から延出するリードの屈曲部の
位置を検出する工程と、検出された屈曲部の位置をスタ
ート位置としてこの屈曲部の位置から所定距離における
リード先方の半田フィレット予想形成位置にチェックエ
リアを設定する工程と、このチェックエリアに光を照射
してその光反射特性をカメラにより観察することによ
り、半田フィレットの有無を判断する工程とから半田フ
ィレットの検査方法を構成した。
Means for Solving the Problems For this reason, the present invention, after the reflow of the substrate on which the electronic component is mounted is subjected to heat treatment, observes the electronic component with a camera, and The step of detecting the position, the step of setting the check area at the solder fillet expected formation position of the lead tip at a predetermined distance from the position of the bent portion with the detected position of the bent portion as the start position, and the check area is illuminated with light. The method of inspecting the solder fillet is constituted by the step of irradiating and observing the light reflection characteristics with a camera to judge the presence or absence of the solder fillet.

作 用 上記構成によれば、リード先方の半田フィレットを包
含する位置に確実にチェックエリアを設定して、半田フ
ィレットの有無の検査を行うことができる。
Operation According to the above-mentioned configuration, it is possible to surely set the check area at the position including the solder fillet on the lead side and inspect the presence or absence of the solder fillet.

(実施例1) 次に、同図を参照しながら本発明の実施例を説明す
る。
(Example 1) Next, an example of the present invention will be described with reference to FIG.

第1図は半田フィレットの検査装置を示すものであっ
て、1は基板2に実装された電子部品であり、その斜上
方にカメラ3が、またその上方に光源4が配設されてい
る。5はカメラ3に接続されたコンピュータのような制
御装置である。この電子部品1は、リード付電子部品で
あって、モールド体6の両側方にリードLが延出してお
り、基板2のクリーム半田上に実装された後、半田付装
置へ送られ、ここでクリーム半田に加熱処理が施され
る。モールド体6は黒色合成樹脂などの輝度の低い素材
にて形成されているが、リードLは輝度の高い金属素材
にて形成されている。このリードLは、水平な基端部a
と、屈曲部bと、下り急勾配の傾斜部cと、基板2に接
地する水平な先端部dを有している。第2図はリード付
近の詳細を示すものであって、モールド体6の一側面か
ら4本のリードL1〜L4が延出しており、その先端部に半
田フィレット10が形成されている。第4図に示すよう
に、加熱処理されたリフロー後の正常なフィレット10
は、基板2からリードLの先端部へ向って緩やかに盛り
上る傾斜面10aを有している。したがって上方から光を
照射し、斜上方のカメラ3でリード付近を観察すると、
リードLの屈曲部bとフィレット10の上面に入射した光
はカメラ3へ向って強く反射され、カメラ3に明るく輝
く輝度の高い部分として観察されるが、リードの基端部
aや急傾斜部cの上面に入射した光は上方へ反射される
ためカメラ3には殆ど入射せず、カメラ2に輝度の低い
暗い部分として観察される。
FIG. 1 shows a solder fillet inspection apparatus, in which reference numeral 1 denotes an electronic component mounted on a substrate 2, a camera 3 is disposed obliquely above the electronic component, and a light source 4 is disposed above the electronic component. Reference numeral 5 denotes a control device such as a computer connected to the camera 3. This electronic component 1 is an electronic component with leads, in which leads L extend to both sides of the mold body 6, and after being mounted on the cream solder of the substrate 2, it is sent to the soldering device, where The heat treatment is applied to the cream solder. The molded body 6 is made of a material having a low brightness such as black synthetic resin, but the leads L are made of a metal material having a high brightness. This lead L has a horizontal base end a.
A bent portion b, a sloped portion c having a steep downward slope, and a horizontal tip portion d that contacts the substrate 2. FIG. 2 shows the details of the vicinity of the leads, in which four leads L1 to L4 extend from one side surface of the mold body 6, and a solder fillet 10 is formed at the tip end portion thereof. As shown in FIG. 4, the normal fillet 10 after the heat treatment and the reflow is performed.
Has an inclined surface 10a that gently rises from the substrate 2 toward the tip of the lead L. Therefore, when irradiating light from above and observing the vicinity of the lead with the camera 3 obliquely above,
The light incident on the bent portion b of the lead L and the upper surface of the fillet 10 is strongly reflected toward the camera 3 and is observed as a bright and bright portion of the camera 3, and the base end portion a of the lead and the steep slope portion are observed. Since the light incident on the upper surface of c is reflected upward, it hardly enters the camera 3 and is observed by the camera 2 as a dark portion with low brightness.

次に半田フィレット10の有無の検査方法を説明する。 Next, a method for inspecting the presence / absence of the solder fillet 10 will be described.

半田フィレットの有無を検査する前に、半田フィレッ
トのチェックエリアを設定するために、まず電子部品1
の位置ずれを検出する。電子部品1の位置ずれを検出す
るにあたっては、両端部のリードL1,L4の屈曲部bにチ
ェックエリアA1,A4を設定し(第2図,第3図参照)、
上方から光を照射してカメラ3により明るく輝く部分の
重心位置G1,G4を屈曲部bの位置として求める。この重
心検出は、明るく輝く部分をxy方向に2等分する線の交
点を求めることにより、簡単に求められる。このように
して重心G1,G4を求めたならば、これを予め設定された
検査基準となるマスターのリードL1′,L4′の重心G1′,
G4′と比較することにより、電子部品1の位置ずれを検
出する。ここで、電子部品1が許容値以上位置ずれして
いたならば、不良品としてラインが除去される。
Before inspecting the presence or absence of the solder fillet, in order to set the check area of the solder fillet, first, the electronic component 1
The positional deviation of is detected. To detect the displacement of the electronic component 1, check areas A1 and A4 are set on the bent portions b of the leads L1 and L4 at both ends (see FIGS. 2 and 3),
The barycentric positions G1 and G4 of the brightly shining portion of the camera 3 illuminated with light from above are determined as the positions of the bent portion b. This detection of the center of gravity can be easily obtained by obtaining the intersection point of the line that bisects the brightly shining portion in the xy direction. When the centers of gravity G1 and G4 are obtained in this way, the centers of gravity G1 'and L4' of the master leads L1 'and L4', which are preset inspection standards, are calculated.
The positional deviation of the electronic component 1 is detected by comparing with G4 '. Here, if the electronic component 1 is displaced by more than the allowable value, the line is removed as a defective product.

重心G1,G4の位置ずれが許容値以内であれば、続いて
半田フィレットの有無の検査を行う。この場合、上記の
ようにして検出された重心G1,G4をスタート位置とし
て、これから所定距離D先のフィレット予想形成位置に
チェックエリアC1,C4を設定し、このエリアC1,C4内の輝
度をカメラ3により観察する。ここで、第4図を参照し
ながら説明したように、フィレット10が存在するなら
ば、エリアC1,C4は、明るく輝く輝度の高い部分として
カメラ3に観察されるが、フィレット10が存在しないな
らば、カメラ3に反射光は殆ど入射せず、暗く観察され
る。かかる検査は、他のリードL2,L3についても、同様
にチェックエリアC2,C3を設定して行われる。このよう
にして、4つのチェックエリアC1〜C4において、すべて
明るい輝度が観察されたならば、すべてのリードL1〜L4
に正しく半田フィレット10が形成されているものと判断
されるが、何れか1つでも明るい輝度が観察されない
と、その部分にはフィレット10は存在しないものと判断
され、不良品としてラインから除外される。以上のよう
に本方法は、カメラにより電子部品を観察して、リード
の特徴部である屈曲部の位置を検出し、この位置を基に
してリードの先方にチェックエリアを設定するようにし
ているので、極細・狭ピッチのリードであっても、半田
フィレットを包含する位置に確実にチェックエリアを設
定することができる。
If the displacement of the center of gravity G1, G4 is within the allowable value, then the presence or absence of the solder fillet is inspected. In this case, the center of gravity G1, G4 detected as described above is set as the start position, and the check areas C1, C4 are set at the fillet predicted formation position a predetermined distance D from this point, and the brightness in the areas C1, C4 is set by the camera. Observe according to 3. Here, as described with reference to FIG. 4, if the fillet 10 is present, the areas C1 and C4 are observed by the camera 3 as bright and bright areas, but if the fillet 10 is not present. For example, almost no reflected light is incident on the camera 3, and it is observed dark. This inspection is also performed for the other leads L2 and L3 by similarly setting the check areas C2 and C3. In this way, if bright brightness is observed in all four check areas C1 to C4, all leads L1 to L4
It is judged that the solder fillet 10 is correctly formed on the surface, but if no bright brightness is observed in any one of them, it is judged that the fillet 10 does not exist in that part, and it is excluded from the line as a defective product. It As described above, according to the present method, the electronic parts are observed by the camera to detect the position of the bent portion which is the characteristic portion of the lead, and the check area is set at the tip of the lead based on this position. Therefore, even if the lead wire has an extremely fine and narrow pitch, the check area can be surely set at the position including the solder fillet.

(発明の効果) 本発明によれば、極細・狭ピッチのリードであって
も、リードの先方に存在する半田フィレットを包含する
位置に確実にチェックエリアを設定して半田フィレット
の有無の検査を行うことができる。
(Effect of the Invention) According to the present invention, even if the lead is an ultra-fine / narrow-pitch lead, the check area is surely set at a position including the solder fillet existing ahead of the lead to inspect the presence or absence of the solder fillet. It can be carried out.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は半田
フィレット検査装置の側面図、第2図は電子部品の斜視
図、第3図は観察中のリード付近の平面図、第4図は側
面図である。 1……電子部品 2……基板 3……カメラ 10……半田フィレット C1〜C4……チェックエリア L……リード
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a side view of a solder fillet inspection apparatus, FIG. 2 is a perspective view of an electronic component, and FIG. 3 is a plan view near a lead under observation. FIG. 4 is a side view. 1 ... Electronic parts 2 ... Substrate 3 ... Camera 10 ... Solder fillet C1 to C4 ... Check area L ... Lead

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電子部品が実装された基板に加熱処理を施
したリフロー後において、電子部品をカメラにより観察
して電子部品から延出するリードの屈曲部の位置を検出
する工程と、検出された屈曲部の位置をスタート位置と
してこの屈曲部の位置から所定距離におけるリード先方
の半田フィレット予想形成位置にチェックエリアを設定
する工程と、このチェックエリアに光を照射してその光
反射特性をカメラにより観察することにより、半田フィ
レットの有無を判断する工程と、を含むことを特徴とす
る半田フィレットの検査方法。
1. A step of detecting a position of a bent portion of a lead extending from an electronic component by observing the electronic component with a camera after a reflow process in which a substrate on which the electronic component is mounted is subjected to heat treatment, and detected. The step of setting the check area at the solder fillet expected formation position of the lead tip at a predetermined distance from the position of the bent portion and the position of the bent portion, and irradiating the check area with light to measure the light reflection characteristics of the camera. And a step of determining the presence or absence of a solder fillet by observing with a solder fillet.
JP63194058A 1988-08-03 1988-08-03 Solder fillet inspection method Expired - Lifetime JPH083471B2 (en)

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JPH0242344A JPH0242344A (en) 1990-02-13
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