Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JPH08248303A - 焦点検出装置 - Google Patents

焦点検出装置

Info

Publication number
JPH08248303A
JPH08248303A JP7047299A JP4729995A JPH08248303A JP H08248303 A JPH08248303 A JP H08248303A JP 7047299 A JP7047299 A JP 7047299A JP 4729995 A JP4729995 A JP 4729995A JP H08248303 A JPH08248303 A JP H08248303A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
focus
focus detection
shift amount
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7047299A
Other languages
English (en)
Inventor
Junko Nagahata
純子 長畑
Hiroshi Ueda
浩 上田
Akio Kaneuma
章夫 金馬
Goji Kishimoto
剛司 岸本
Tatsuo Nakajima
達男 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Minolta Co Ltd filed Critical Minolta Co Ltd
Priority to JP7047299A priority Critical patent/JPH08248303A/ja
Priority to US08/611,697 priority patent/US5825016A/en
Publication of JPH08248303A publication Critical patent/JPH08248303A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
    • G02B7/346—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane using horizontal and vertical areas in the pupil plane, i.e. wide area autofocusing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 左右１対の受光素子によって、遠近競合時に
も撮影対象のピントのずれ量を正しく検出する焦点調節
装置を提供する。 【構成】 コンデンサレンズ１２、左右１対の結像レン
ズ１４および左右１対のＣＣＤからなるラインセンサ１
０を有する受光部６と、ラインセンサ１０の出力信号を
処理する信号処理部７をカメラに備える。撮影レンズ１
を透過した光を受光部６に導き、結像レンズ１４によっ
てラインセンサ１０上に左右像を結像させる。信号処理
回路７は、ラインセンサ１０の左像の映像信号を複数の
画素ブロックに分割し、各画素ブロックと右像の映像信
号との相関演算を行なって、ピントのずれ量を検出す
る。そのピントのずれ量検出において遠近競合発生の有
無を調べ、遠近競合時には画素ブロックをより少ない画
素数のブロックにさらに分割して、各分割ブロックにつ
いて相関演算を行なって、ピントのずれ量を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、撮影対象に対する撮影
レンズの焦点位置のずれを検出する焦点検出装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】撮影レンズを透過して入射する撮影対象
からの光を受光してピントのずれ量を検出し、カメラか
ら撮影対象までの距離に応じて撮影レンズの焦点位置を
自動調節する焦点調節装置を備えたカメラが普及してい
る。このようなカメラでは、左右１対の受光素子をカメ
ラボディーに配設し、撮影レンズを透過した光の一部を
左右の受光素子で検出して、受光素子上の左右像の位置
のずれに基づいてピントのずれ量を検出する。また、撮
影レンズ駆動用のモータをカメラボディー内または撮影
レンズ鏡筒内に配設し、検出したピントのずれ量に応じ
て撮影レンズを前または後に移動させて撮影レンズの焦
点位置を変え、ピント調節を行なう。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、受光素子に
は主たる撮影対象からの光のみならずその背景からの光
も入射するため、検出されるピントのずれ量は背景の影
響を受けることになる。撮影対象に比べ背景のコントラ
ストが低いときには、ピントのずれ量検出に寄与する背
景の影響は小さく、撮影対象のピントのずれを正しく検
出することができるが、コントラストの高い背景がある
ときにはときにはピントのずれ量検出へのその背景の寄
与が大きくなって、撮影対象のピントのずれ量を正しく
検出することができなくなる。この現象を遠近競合と呼
ぶ。遠近競合が生じた場合、検出したピントのずれ量に
基づいて撮影レンズ位置を設定すると、撮影対象とコン
トラストの高い背景との中間にピントが合う状態となっ
て、撮影対象に対してピントが合わなくなる。
【０００４】ピント検出への背景の影響は、受光素子が
検出する撮影対象と背景の大きさの割合にも依存する。
すなわち、受光素子に撮影対象が大きく結像するときに
は背景の影響は小さく、逆に撮影対象の像が小さいとき
には背景の影響が大きくなる。この対策として、撮影領
域の狭い範囲を受光する素子と広い範囲を受光する素子
とを備えて、撮影対象の大きさに応じて受光素子を切り
替えることにより、撮影対象に対して正しくピント調節
できるようにする方法がある。また、遠近競合時には、
狭い範囲の検出結果によるピントのずれ量と広い範囲の
検出結果によるピントのずれ量とを比較して、撮影対象
のピントのずれ量を検出する技術も知られている。しか
しながら、この方法では、それぞれ狭い範囲と広い範囲
を受光する２種類の受光素子を備える必要があり、カメ
ラの光学系が複雑になるとともに、カメラの小型化が難
しくなる。
【０００５】本発明は、左右１対の受光素子によって、
遠近競合時にも撮影対象のピントのずれ量を正しく検出
する焦点検出装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、撮影レンズの焦点状態に応じて相対的
な位置関係が変化する第１の像と第２の像をそれぞれ形
成する光学系と、前記第１の像と第２の像をそれぞれ複
数の光電変換素子で検出するセンサと、前記センサの出
力に基づいて、前記第１の像と第２の像の相対的な位置
関係を像のずれ量として求め、撮影レンズの焦点状態を
検出する焦点検出装置において、センサ上の像を複数の
領域に分割し、分割した領域ごとに第１の像と第２の像
のずれ量を検出する第１の焦点検出手段と、第１の焦点
検出手段によって得られた結果に基づいて、分割した複
数の領域の中から１つの領域を選択する領域選択手段
と、領域選択手段により選択された領域をさらに小さな
領域に分割して、第１の焦点検出手段で得られた第１の
像と第２の像のずれ量が検出された位置を中心として、
ずれ量の範囲よりも狭い範囲で、分割した小さな領域ご
とに第１の像と第２の像のずれ量を検出する第２の焦点
検出手段と、領域選択手段によって選択された領域の像
から得られる情報に基づいて、第２の焦点検出手段の動
作を行なうことを選択する焦点検出選択手段と、第１の
焦点検出手段または第２の焦点検出手段の少なくとも一
方によって得られた結果から、第１の像と第２の像のず
れ量を算出するずれ量算出手段とを有する構成とする。
【０００７】また、撮影レンズを透過した光の異なる部
位の光束をそれぞれ結像させて、これらの像の相対位置
から撮影対象に対する撮影レンズのピントのずれ量を検
出する焦点検出装置において、アレイ状に配列された画
素からなる第１および第２の受光センサと、撮影レンズ
透過光のうち異なる部位の光束をそれぞれ第１の受光セ
ンサと第２の受光センサに結像させる光学系と、第１の
受光センサの像を連続した複数の画素からなる複数の領
域に分割し、各領域のコントラストを算出して高いコン
トラストの領域を所定数選出する高コントラスト領域選
出手段と、高コントラスト領域選出手段によって選出さ
れた領域それぞれについて、第２の受光素子の像との相
関演算を行なって、高コントラスト領域と第２の受光素
子の像のずれ量と不一致度を検出する第１の焦点検出手
段と、第１の焦点検出手段によって検出したずれ量に基
づいて、前記所定数の高コントラスト領域の中から１つ
の領域を選択する領域選択手段と、領域選択手段によっ
て選択された領域をより小さな領域に分割し、各分割領
域について、第２の受光素子の像との相関演算を行なっ
て、分割領域と第２の受光素子の像のずれ量を検出する
第２の焦点検出手段と、領域選択手段によって選択され
た領域のコントラストと像の不一致度に基づいて、第１
の焦点検出手段または第２の焦点検出手段の少なくとも
一方によって検出したずれ量から第１の受光センサの像
と第２の受光センサの像の相対位置を算出する相対位置
算出手段とを備える構成とする。
【０００８】
【作用】撮影レンズの焦点状態に応じて相対的な位置関
係が変化する第１の像と第２の像をそれぞれ形成する光
学系と、前記第１の像と第２の像をそれぞれ複数の光電
変換素子で検出するセンサと、前記センサの出力に基づ
いて、前記第１の像と第２の像の相対的な位置関係を像
のずれ量として求め、撮影レンズの焦点状態を検出する
焦点検出装置において、センサ上の像を複数の領域に分
割し、分割した領域ごとに第１の像と第２の像のずれ量
を検出する第１の焦点検出手段と、第１の焦点検出手段
によって得られた結果に基づいて、分割した複数の領域
の中から１つの領域を選択する領域選択手段と、領域選
択手段により選択された領域をさらに小さな領域に分割
して、第１の焦点検出手段で得られた第１の像と第２の
像のずれ量が検出された位置を中心として、ずれ量の範
囲よりも狭い範囲で、分割した小さな領域ごとに第１の
像と第２の像のずれ量を検出する第２の焦点検出手段
と、領域選択手段によって選択された領域の像から得ら
れる情報に基づいて、第２の焦点検出手段の動作を行な
うことを選択する焦点検出選択手段と、第１の焦点検出
手段または第２の焦点検出手段の少なくとも一方によっ
て得られた結果から、第１の像と第２の像のずれ量を算
出するずれ量算出手段とを有する構成では、第１の焦点
検出手段によって、センサ上の像が分割されて分割され
た領域ごとに第１の像と第２の像のずれ量が検出され
る。その検出されたずれ量に基づいて領域選択手段が１
つの領域を選択する。選択された領域は第２の焦点検出
手段によってさらに小さな領域に分割されて、各分割領
域ごとに第１の像と第２の像のずれ量が検出される。第
２の焦点検出手段でずれ量を検出する像の範囲は、第１
の焦点検出手段で検出したずれ位置を中心とする検出し
たずれ量よりも狭い範囲である。第２の焦点検出手段に
よるずれ量の検出を行なうか否かは、領域選択手段によ
って選択された領域の像から得られる情報、例えばコン
トラストや像の不一致度に基づいて、焦点検出選択手段
により判断される。第１の像と第２の像のずれ量は、第
１の焦点検出手段または第２の焦点検出手段のいずれか
一方または両方によって検出されたずれ量から算出され
る。
【０００９】また、撮影レンズを透過した光の異なる部
位の光束をそれぞれ結像させて、これらの像の相対位置
から撮影対象に対する撮影レンズのピントのずれ量を検
出する焦点検出装置において、アレイ状に配列された画
素からなる第１および第２の受光センサと、撮影レンズ
透過光のうち異なる部位の光束をそれぞれ第１の受光セ
ンサと第２の受光センサに結像させる光学系と、第１の
受光センサの像を連続した複数の画素からなる複数の領
域に分割し、各領域のコントラストを算出して高いコン
トラストの領域を所定数選出する高コントラスト領域選
出手段と、高コントラスト領域選出手段によって選出さ
れた領域それぞれについて、第２の受光素子の像との相
関演算を行なって、高コントラスト領域と第２の受光素
子の像のずれ量と不一致度を検出する第１の焦点検出手
段と、第１の焦点検出手段によって検出したずれ量に基
づいて、前記所定数の高コントラスト領域の中から１つ
の領域を選択する領域選択手段と、領域選択手段によっ
て選択された領域をより小さな領域に分割し、各分割領
域について、第２の受光素子の像との相関演算を行なっ
て、分割領域と第２の受光素子の像のずれ量を検出する
第２の焦点検出手段と、領域選択手段によって選択され
た領域のコントラストと像の不一致度に基づいて、第１
の焦点検出手段または第２の焦点検出手段の少なくとも
一方によって検出したずれ量から第１の受光センサの像
と第２の受光センサの像の相対位置を算出する相対位置
算出手段とを備える構成では、撮影レンズ透過光の異な
る部位の光束がそれぞれ第１、第２の受光センサに結像
するため、これらの像は撮影レンズの焦点位置によって
相対位置が変化することになる。高コントラスト選出手
段によって第１の受光センサの像のコントラストの高い
領域が所定数選出され、第１の焦点検出手段によってこ
れらの領域と第２の受光センサの像とずれ量が検出され
る。検出したずれ量に基づいて高コントラスト領域の中
から１つの領域が選択され、第２の焦点検出手段によっ
てより小さな領域に分割されて、各分割領域と第２の受
光センサの像とのずれ量が検出される。選択された高コ
ントラスト領域のコントラストと像の不一致度に基づい
て、大きい領域で検出したずれ量と小さい領域で検出し
たずれ量の一方または両方から第１および第２の受光セ
ンサの像の相対位置が算出される。
【００１０】
【実施例】本発明の焦点調節装置を一眼レフカメラに適
用した第１の実施例の概略構成を図１に示す。カメラボ
ディー（不図示）の前面に撮影レンズ１が装着されてい
る。撮影レンズ１はカメラボディーに対して着脱可能に
構成されており、焦点距離、開放絞り値等の異なる種々
の撮影レンズが用意され、交換してカメラボディーに装
着できるようになっている。撮影レンズ１は単体レンズ
を組み合わせてなる複数の群から構成されており、一部
の群（焦点位置調節群）が光軸に沿って移動することに
より焦点位置が調節される。
【００１１】カメラボディー内後部には撮影フィルム２
が供給されており、撮影レンズ１透過光によって撮影フ
ィルム２が感光して撮影が行なわれる。カメラから撮影
対象までの距離に応じて撮影レンズ１の焦点位置を設定
することで、撮影フィルム２上にピントの合った像が形
成され、鮮鋭な像が撮影される。
【００１２】撮影フィルム２の前方には反射鏡３が配設
され、反射鏡３の上方には焦点板４およびペンタプリズ
ム５が設けられている。反射鏡３は、撮影レンズ１から
撮影フィルム２に至る光路上に退避可能に設けられてお
り、通常は光路上にあって撮影レンズ１透過光を上方に
反射する。不図示のシャッターレリーズ操作時には、撮
影フィルム２に光が到達するのを妨げないように、反射
鏡３は光路から退避する。
【００１３】反射鏡３によって上方に反射された光は焦
点板４に結像し、カメラ使用者はペンタプリズム５を介
して焦点板４上の像を観察することができる。撮影レン
ズ１の光軸が反射鏡３と交わる点から撮影フィルム２ま
での距離と焦点板４までの距離とは等しく設定されてお
り、撮影フィルム２にピントが合っているときには焦点
板４にもピントが合って、使用者は鮮鋭な像を観察する
ことができる。
【００１４】上記の反射鏡３、焦点板４およびペンタプ
リズム５は一眼レフカメラの周知の構成要素であるが、
本実施例のカメラは自動焦点調節カメラであり、このた
めに、受光部６および信号処理回路７からなる焦点検出
装置ならびにモータからなる撮影レンズ駆動装置８を備
えている。また、反射鏡３の中央部分は半透過性に形成
され、反射鏡３の中央部後面には小さな副反射鏡９が固
定設置されている。焦点検出装置の受光部６は副反射鏡
９の下方に配置されており、撮影レンズ１透過光の一部
は反射鏡３の中央部を透過した後、副反射鏡９によって
下方に反射されて受光部６に導かれる。
【００１５】受光部６はラインセンサ１０を備えてお
り、ラインセンサ１０は副反射鏡９からの光を検出して
電気信号を出力する。この出力は信号処理回路７によっ
て後に詳述するように処理されて、合焦位置からのピン
トのずれ量およびずれの方向が検出される。信号処理回
路７はマイクロコンピュータからなり、ピントのずれ量
およびその方向を含むデフォーカス信号を出力し、撮影
レンズ駆動装置８に与える。
【００１６】撮影レンズ駆動装置８は、デフォーカス信
号に基づいて、モータによって撮影レンズ１の焦点位置
調節群を駆動して、撮影レンズ１の焦点位置を設定す
る。また、本実施例のカメラには表示装置１１が設けら
れており、信号処理回路７からのデフォーカス信号を受
けて、合焦のときには合焦であることを表示して、使用
者にピント状態を知らせる。
【００１７】受光部６は、図１に示したように、副反射
鏡９からの光をラインセンサ１０に導くために、コンデ
ンサレンズ１２、反射鏡１３、結像レンズ群１４を有し
ている。反射鏡１３は、光路を曲げることにより受光部
６の大きさを小さくするために設けられたものであり、
ラインセンサ１０による光検出に必ずしも必要なもので
はない。反射鏡１３を除いた受光部６の光学系を図２に
示す。
【００１８】図２において、直線２１は撮影レンズ１の
光軸に対応する。点線２２は撮影フィルム２の露光面と
等価な面であり、撮影レンズ１の光軸と副反射鏡９の交
点から露光等価面２２までの距離は、撮影レンズ１の光
軸と副反射鏡９の交点から撮影フィルム２の露光面まで
の距離に等しい。すなわち、撮影レンズ１から露光等価
面２２までの光路長と撮影レンズ１から撮影フィルム２
までの光路長とは等しくなっている。
【００１９】コンデンサレンズ１２は、露光等価面２２
からコンデンサレンズ１２の焦点距離ｆ1だけ離れた位
置に配置されている。コンデンサレンズ１２の後方に
は、左右１対の結像レンズ１４Ｌ、１４Ｒが光軸２１に
関して対称に配置されており、これらの結像レンズ１４
Ｌ、１４Ｒの前面には、所定の大きさの開口を有する視
野制限マスク２３Ｌ、２３Ｒが設けられている。視野制
限マスク２３Ｌ、２３Ｒは、結像レンズ１４Ｌ、１４Ｒ
に入射する光束の径を制限し、一定径の光束のみをライ
ンセンサ１０に到達させる。
【００２０】本実施例では受光用のラインセンサ１０と
して左右１対のＣＣＤ（電荷結合素子）１５Ｌ、１５Ｒ
を用いる。これらのＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒは、結像レン
ズ１４Ｌ、１４Ｒの結像面上に、結像レンズ１４Ｌ、１
４Ｒの光軸に対して垂直に配設されている。左右１対の
ＣＣＤに代えて単一の長いＣＣＤを用い、その異なる受
光領域で結像レンズ１４Ｌ、１４Ｒによる左右像を受光
するようにしてもよい。
【００２１】上記構成の受光部６では、副反射鏡９から
の光は露光等価面２２を通過後コンデンサレンズ１２に
よって集光し、視野制限マスク２３Ｌ、２３Ｒの開口を
通過して結像レンズ１４Ｌ、１４Ｒに到達する。左右結
像レンズ１４Ｌ、１４Ｒを透過した光はそれぞれ左右の
ＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒの受光面上に結像する。コンデン
サレンズ１２および結像レンズ１４Ｌ、１４Ｒの焦点距
離、ならびに露光等価面２２からコンデンサレンズ１
２、結像レンズ１４Ｌ、１４ＲおよびＣＣＤ１５Ｌ、１
５Ｒの受光面までの距離は、露光等価面２２の像が左右
ＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒに再結像するように設定されてい
る。
【００２２】ここで、コンデンサレンズ１２を露光等価
面２２から離して配置してあることにより、たとえコン
デンサレンズ１２に疵や埃がついた場合でも、それがＣ
ＣＤ１５Ｌ、１５Ｒ受光面上で鮮鋭な像を形成すること
が防止される。コンデンサレンズ１２の疵や埃の像はノ
イズとなって撮影対象のピント検出に悪影響を及ぼす
が、ぼけた像はピント検出への寄与が小さく、上記配置
のコンデンサレンズ１２では疵や埃による悪影響を低減
することができる。
【００２３】また、視野制限マスク２３Ｌ、２３Ｒは、
撮影レンズ１を透過する光のうち特定の絞り値、たとえ
ばＦ５．６相当の開口領域を通過する光のみを通過させ
るように、コンデンサレンズ１２およびＣＣＤ１５Ｌ、
１５Ｒの受光領域幅との関連において開口が設定されて
いる。周辺部がけられた光束をＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒで
受光した場合は、ＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒの端部に光が到
達せず測光範囲が縮小し、ピントのずれ量を検出し得る
範囲が狭くなる。視野制限マスク２３Ｌ、２３Ｒの開口
を上記のように設定することにより、撮影レンズ１とし
て種々の交換レンズが用いられる場合、その開放絞り値
がＦ５．６より小さいレンズであれば、撮影レンズ自身
の瞳マスク部で一部がけられた光をＣＣＤ１５Ｌ、１５
Ｒで受光するという不都合が避けられて、常用される大
多数の交換レンズを適用することができる。
【００２４】図２において、光軸２１上の点Ｐ0、Ｐ1、
Ｐ2は、撮影レンズ１の前方の１点に対する合焦、前ピ
ン、後ピンの状態にある像の位置を示す。各像位置
Ｐ0、Ｐ1、Ｐ2からの左ＣＣＤ１５Ｌへの入射位置はそ
れぞれＰＬ0、ＰＬ1、ＰＬ2となり、右ＣＣＤ１５Ｒへ
の入射位置はそれぞれＰＲ0、ＰＲ1、ＰＲ2となる。
【００２５】合焦、前ピン、後ピンの像の再結像の位置
関係を図３に示す。合焦像Ｚ0はＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒ
の受光面２４上で再結像してＺＬ0、ＺＲ0となる。前ピ
ンの像Ｚ1の再結像はＺＬ1およびＺＲ1となって、ＣＣ
Ｄ１５Ｌ、１５Ｒの受光面の前方に位置し、かつ合焦の
再結像ＺＬ0およびＺＲ0よりも光軸２１に近くなる。一
方、後ピンの像Ｚ2の再結像はＺＬ2、ＺＲ2となって、
ＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒの受光面の後方に位置し、かつ、
合焦の再結像ＺＬ0およびＺＲ0よりも光軸２１から離れ
る。したがって、前ピンの像Ｚ1はＣＣＤ１５Ｌ、１５
Ｒの受光面上では若干ぼけて伸長した像となり、後ピン
の像Ｚ2はＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒの受光面上では若干ぼ
けて収縮した像となる。
【００２６】図３から明らかなように、左右ＣＣＤ１５
Ｌ、１５Ｒで検出される像位置は、合焦、前ピン、後ピ
ン等のピント状態を反映するものであり、左右ＣＣＤ１
５Ｌ、１５Ｒ上の左右の像位置を比較することによっ
て、ピント状態が検出される。左右のＣＣＤ１５Ｌ、１
５Ｒはカメラに固定されており互いの位置関係は一定で
あるから、撮影対象の左右像間の距離から、ピントのず
れ量およびずれの方向を知ることができる。以下、本発
明の焦点検出装置によるピントの検出方法について詳し
く説明する。
【００２７】図４に、ＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒの画素の配
列と、これらの画素にフィルタ処理を施した後の画素の
配列を模式的に示す。左ＣＣＤ１５ＬはＢ1〜Ｂ44の４
４個の画素を有し、右ＣＣＤ１５ＲはＲ1〜Ｒ52の５２
個の画素を有している。左右ＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒの出
力、すなわち画素Ｂ1〜Ｂ44およびＲ1〜Ｒ52の画素値
は、受光量を表すものであるが、左右ＣＣＤ１５Ｌ、１
５Ｒの感度差を補正して左右の出力レベルを合わせるた
めに、画素Ｂ1〜Ｂ44およびＲ1〜Ｒ52に対してフィルタ
処理を行なう。
【００２８】具体的には、４画素離れた画素の値の差を
とり、左ＣＣＤ１５Ｌについて、Ｂ1とＢ4の差ｂ1、Ｂ2
とＢ5の差ｂ2、以下同様にＢ41とＢ44の差ｂ40までを求
める。右ＣＣＤ１５Ｒについても同様にして、ｒ1〜ｒ
48を求める。このフィルタ処理により左右の画素ｂ1〜
ｂ40およびｒ1〜ｒ48が平均して同一レベルとなり、左
右像の比較が容易になる。
【００２９】画素ｂ1〜ｂ40を基準部、画素ｒ1〜ｒ48を
参照部と呼び、基準部の画素を参照部の画素と比較し
て、左右像の合焦位置からのずれを求めていく。なお、
ここでは左ＣＣＤ１５Ｌの画素を基準部、右ＣＣＤ１５
Ｒの画素を参照部としたが、左右ＣＣＤの画素数を逆に
設定して、右ＣＣＤの画素を基準部、左ＣＣＤの画素を
参照部としてもよい。
【００３０】ピント検出においては、左ＣＣＤ１５Ｌの
像のどの部位が右ＣＣＤ１５Ｒ上の像のどの部位に一致
するのかを知る必要がある。このために、図４に示した
ように、基準部を分割して連続した画素からなる画素ブ
ロックを複数設定し、各画素ブロックを参照部の同数の
画素と比較する。第１、第２および第３の画素ブロック
は、それぞれ２０個の画素ｂ1〜ｂ20、ｂ11〜ｂ30およ
びｂ21〜ｂ40からなり、通常のピント検出に用いる。こ
れらの画素ブロックは半数の画素を隣接する画素ブロッ
クと共有している。
【００３１】通常のピント検出において遠近競合が発生
したときには、第１〜第３画素ブロックの画素数の半数
の１０画素からなる第４〜第１０の画素ブロックを用い
る。これら第４〜第１０の画素ブロックは半数の画素を
隣接する画素ブロックと共有しており、第１画素ブロッ
クを第４〜第６画素ブロックに、第２画素ブロックを第
６〜第８画素ブロックに、第３画素ブロックを第８〜第
１０画素ブロックに分割した関係に設定されている。第
４〜第１０の画素ブロックを分割ブロックと呼ぶ。
【００３２】基準部と参照部の比較は式（１）または式
（２）の相関演算によって行なう。第１〜第３画素ブロ
ックについては式（１）を用い、第４〜第１０の分割ブ
ロックについては式（２）を用いる。
【００３３】
【数１】
【００３４】
【数２】
【００３５】ここで、ｎは画素ブロックの番号（１〜１
０）を表す。第１画素ブロックの画素ｂ1〜ｂ20は、式
（１）により、参照部の画素ｒ1〜ｒ20からｒ29〜ｒ48
までと順次比較され、画素値の差の絶対値の総和である
不一致量Ｈ1(1)〜Ｈ1(29)が算出される。第２ブロック
の画素ｂ11〜ｂ30および第３ブロックの画素ｂ21〜ｂ40
についても、式（１）により同様に、参照部の画素ｒ1
〜ｒ20からｒ29〜ｒ48までと比較され、それぞれ２９の
不一致量Ｈ2(1)〜Ｈ2(29)、Ｈ3(1)〜Ｈ3(29)が算出され
る。このように、第１〜第３画素ブロックは参照部の全
領域との相関演算を行なう。
【００３６】第４〜第１０の分割ブロックについては、
参照部の全領域ではなくより狭い範囲で相関演算を行な
う。すなわち、式（２）により、分割ブロックの１０画
素を参照部の画素ｒks〜ｒks+9からｒke〜ｒke+9までと
比較し、（ke−ks＋１）個の不一致量Ｈn(ks)〜Ｈn(ke)
を算出する。相関演算の開始位置ksおよび終了位置ｋｅ
は、第１〜第３画素ブロックで検出したピントのずれ量
に基づいて設定する。
【００３７】受光部６の光学系は、合焦状態にあるとき
に、基準部の第１画素ブロックｂ１〜ｂ20が参照部の画
素ｒ4〜ｒ23に、第２画素ブロックｂ11〜ｂ30が画素ｒ
14〜ｒ33に、第３画素ブロックｂ21〜ｂ40が画素ｒ24〜
43に一致するように設定されている。すなわち、図４の
参照部に示した第１〜第３ブロック合焦位置は、合焦状
態にあるときに、基準部の第１〜第３画素ブロックの像
にそれぞれ一致する領域である。したがって、撮影対象
が基準部の第１画素ブロックに結像しているときは、第
１画素ブロックの不一致量Ｈ1(1)〜Ｈ1(29)のうち、Ｈ1
(4)が最小であれば合焦であり、Ｈ1(1)〜Ｈ1(3)のいず
れかが最小であれば前ピン、Ｈ1(5)〜Ｈ1(29)のいずれ
かが最小であれば後ピンである。
【００３８】同様に、撮影対象が第２画素ブロックに結
像しているときは、Ｈ2(14)が最小であれば合焦、Ｈ
2(1)〜Ｈ2(13)のいずれかが最小であれば前ピン、Ｈ2(1
5)〜Ｈ2(29)のいずれかが最小であれば後ピンである。
また、撮影対象が第３画素ブロックに結像しているとき
は、Ｈ3(24)が最小であれば合焦、Ｈ3(1)〜Ｈ3(23)のい
ずれかが最小であれば前ピン、Ｈ3(25)〜Ｈ3(29)のいず
れかが最小であれば後ピンである。
【００３９】遠近競合が発生する撮影対象の例を図５に
示し、その点線で示したピント検出範囲からの光を受光
した左右ＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒの出力を図６に示す。図
５においては主撮影対象である人物の背後に樹木が存在
し、これらはいずれもコントラストが大きいため、図６
に示したように基準部と参照部に大きな出力ピークを生
じている。背景の樹木は主撮影対象である人物よりもカ
メラから遠方に位置するため、図６において、背景の左
右像の間隔ｄ2は主撮影対象の左右像の間隔ｄ1よりも小
さくなっている。
【００４０】また、図６において、ａ1〜ａ10は図４に
示した第１〜第１０の画素ブロックに対応するピント検
出領域であり、ｂ1〜ｂ3はそれぞれ基準部のａ1〜ａ3に
対応する合焦領域である。図５、６においては主撮影対
象が第２画素ブロックに結像しており、通常のピント検
出では第２画素ブロックによってピントのずれ量が求め
られることになる。
【００４１】ピントのずれ量は参照部の像の合焦位置か
らのシフト量として検出する。たとえば、第１画素ブロ
ックの不一致量のうち、Ｈ1(km)が最小値を示したとす
ると、第１ブロックのシフト量ｘｍ1は（km−4）で求め
られる。同様にして、第２および第３ブロックのシフト
量ｘｍ2、ｘｍ3も求められる。ただし、こうして得られ
るシフト量ｘｍ1、ｘｍ2、ｘｍ3は画素単位の値であ
り、精度は画素の配列ピッチによって上限が規定される
ため、ピントのずれ量を高精度で表すことはできない。
【００４２】そこで、シフト量の精度向上を図るため
に、最小の不一致量Ｈ(km)を示した参照部位置kmおよび
その両側の位置(km-1)、(km+1)に対応する３点Ａ-（km-
1,Ｈ(km-1)）、Ａ0（km,Ｈ(km)）、Ａ+（km+1,Ｈ(km+
1)）を用いて補間処理を行なう。補間処理には図７
（ａ）、（ｂ）に示した直線近似を採用する。Ｈ(km-1)
がＨ(km+1)よりも大きいか等しい場合には、図７（ａ）
のように、Ａ-、Ａ0の２点を通る直線と、この直線の傾
きと絶対値が等しく符号が反対の傾きをもちＡ+を通る
直線を考え、両者の交点のｘ座標をkm0とする。逆に、
Ｈ(km+1)がＨ(km-1)よりも大きい場合には、図７（ｂ）
のように、Ａ0、Ａ+の２点を通る直線と、この直線の傾
きと絶対値が等しく符号が反対の傾きをもちＡ-を通る
直線を考え、両者の交点のｘ座標をkm0とする。Ｈ(km-
1)とＨ(km+1)のうち大きいほうをｈで表すと、図７
（ａ）、（ｂ）のいずれの場合も、km0は式（３）で与
えられる。
【００４３】
【数３】
【００４４】直線近似に代えて、図７（ｃ）のように３
点Ａ-、Ａ0、Ａ+を通る放物線で近似して、放物線の頂
点のｘ座標をkm0として補間するようにしてもよい。こ
のとき、km0は式（４）によって与えられる。
【００４５】
【数４】
【００４６】このようにして算出した参照部の位置km0
から、第１〜第３画素ブロックの補間後のシフト量ＸＭ
1、ＸＭ2、ＸＭ3が求められる。また、第１〜第３画素
ブロックの補間後の不一致量ＹＭ1、ＹＭ2、ＹＭ3は、k
m0に対応するｙ座標で与えられる。
【００４７】ところで、基準部と参照部の像の一致の度
合いを表す不一致量は、像のコントラストに影響され
る。コントラストが低いと不一致量は低下し、合焦でな
いときにも小さい不一致量となって、あたかも合焦ある
いはそれに近い状態であるかのような、誤ったピント検
出結果を招くことになる。したがって、左右像の一致の
度合いを正しく知るためには、コントラストを考慮し、
コントラストの低い画素ブロックはピント検出から除外
する必要がある。
【００４８】画素ブロックのコントラストを式（５）、
（６）で定義する。第１〜第３画素ブロックには式
（５）、第４〜第１０の分割ブロックには式（６）を用
い、隣接する画素の値の差の絶対値の総和をコントラス
ト値Ｃnとする。
【００４９】
【数５】
【００５０】
【数６】
【００５１】式（５）または（６）により求めた、第ｎ
画素ブロックのコントラスト値Ｃnが所定の小さな値Ｃ0
未満であるときには、その画素ブロックはコントラスト
が低過ぎると判断し、ピント検出不能であるとする。
【００５２】また、コントラストが所定値Ｃ0以上であ
っても、参照部との不一致が過大なブロックについて
は、主撮影対象を捉えていないと判断して、ピント検出
から除外する。すなわち、第ｎブロックの補間後の不一
致量ＹＭnをコントラスト値Ｃnで割った値ＹＭn／Ｃnを
その画素ブロックの像の不一致度とし、像の不一致度Ｙ
Ｍn／Ｃnが所定の大きな値(ＹＭ／Ｃ)0よりも大きいと
きには、その画素ブロックはピント検出不能であるとす
る。
【００５３】複数の画素ブロックによってピント検出が
可能なときには、補間後のシフト量ＸＭnに基づいて、
ピント検出を行なうための画素ブロックを選択する。こ
の場合、補間後のシフト量ＸＭnが最大の画素ブロック
を選択する。シフト量が大きいということは、後ピンの
程度が大きいということであり、背景よりも手前に位置
する主撮影対象がその画素ブロックに結像していること
を意味する。したがって、最大のシフト量を示す画素ブ
ロックを選択することにより、主撮影対象に対するピン
ト検出が可能となる。
【００５４】２以上の画素ブロックが最大の補間後シフ
ト量を示したときには、それらの中で像の不一致度ＹＭ
n／Ｃnが最小の画素ブロックを選択する。これにより、
不一致量ＹＭnが小さくコントラスト値Ｃnの大きい画素
ブロックが選ばれる。
【００５５】通常のピント検出においては、第１、第２
および第３画素ブロックについて、上記のように、相関
演算を行いピント検出ブロックを選択する。選択した画
素ブロックに遠近競合が発生していないときには、その
画素ブロックの補間後のシフト量ＸＭからピントのずれ
量を算出する。
【００５６】遠近競合の発生の有無は、被写体倍率β
（撮影レンズの焦点距離をカメラから撮影対象までの距
離で割った値）、選択された画素ブロックのコントラス
ト値Ｃおよび像の不一致度ＹＭ／Ｃに基づいて判別す
る。被写体倍率βが大きいほど遠近競合が発生する可能
性は低くなる。このため、前回のピント検出で算出した
被写体倍率βが所定値βaよりも大きいときには、遠近
競合は発生しないと判断する。
【００５７】遠近競合は、コントラストが高くカメラか
ら異なる距離にある撮影対象からの光を受光したときに
発生する。このとき、近距離からの光による像と遠距離
からの光による像の間隔には、基準部と参照部とで違い
が生じ、不一致量は大きくなる。このため、遠近競合発
生時には、選択された画素ブロックはある程度以上のコ
ントラストをもち、しかも、像の不一致度は大きな値と
なる。したがって、選択された画素ブロックのコントラ
スト値Ｃと像の不一致度ＹＭ／Ｃにより、遠近競合発生
の有無を判別することができる。
【００５８】図１４に多数の平面撮影対象について実測
したコントラスト値Ｃと像の不一致度ＹＭ／Ｃの分布と
ともに、本実施例で遠近競合の判別基準に用いるコント
ラストと像の不一致度の関係を示す。ここでは、コント
ラストＣと像の不一致度ＹＭ／Ｃを２段階に設定して遠
近競合の判別を行なう。すなわち、コントラストに第１
の所定値Ｃaとそれよりも小さい第２の所定値Ｃbを設定
し、像の不一致度に第１の所定値(ＹＭ／Ｃ)aとそれよ
りも大きい第２の所定値(ＹＭ／Ｃ)bを設定する。コン
トラスト値Ｃが第１の所定値Ｃa以上で、かつ、像の不
一致度ＹＭ／Ｃが第１の所定値(ＹＭ／Ｃ)a以上である
ときには遠近競合が発生したと判断する。また、コント
ラスト値Ｃが第２の所定値Ｃb以上で、かつ、像の不一
致度ＹＭ／Ｃが第２の所定値(ＹＭ／Ｃ)b以上であると
きも遠近競合が発生したと判断する。他の場合は、遠近
競合が発生していないと判断する。
【００５９】図１４では、遠近競合が発生したと判定さ
れる場合はあまり多くないが、立体の撮影対象が様々な
距離に位置する実際の撮影においては、遠近競合対策を
要する場合が増加する。
【００６０】遠近競合発生時の、ピント検出処理につい
て説明する。遠近競合が発生した場合、通常のピント検
出で第１〜第３画素ブロックの中から選択されたブロッ
クをさらに分割してピント検出を行なう。図４に示した
ように、第１ブロックが選択されていたときは第４〜第
６の３ブロック、第２ブロックが選択されていたときは
第６〜第８の３ブロック、第３ブロックが選択されてい
たときは第８〜第１０の３ブロックに分割する。
【００６１】３つの分割ブロックそれぞれについて、式
（２）により参照部との相関演算を行なう。この相関演
算は参照部の全領域ではなく、一部領域のみを参照して
行なう。選択された分割前の画素ブロックと一致する参
照部の領域は、図４の合焦位置から画素単位のシフト量
ｘｍだけずれている。したがって、第ｎ分割ブロック
は、参照部の（５・（ｎ−４）＋４＋ｘｍ）番目の画素
から（５・（ｎ−４）＋１３＋ｘｍ）番目の画素までを
含む領域ｒ5・(n-4)+4+xm〜ｒ5・(n-4)+13+xmまたはその
近傍領域と最もよく一致するはずである。そこで、画素
単位のシフト量ｘｍを考慮して、式（２）の相関演算の
開始位置ksを（５・（ｎ−４）＋４＋ｘｍ−ｓ1）に、
終了位置keを（５・（ｎ−４）＋４＋ｘｍ＋ｓ2）に設
定する。ここで、ｓ1およびｓ2は数画素以内の値、好ま
しくは１〜２とする。このような参照領域の設定によ
り、一致する可能性の低い領域との無駄な相関演算を避
けることができる。
【００６２】式（２）による相関演算で３つの分割ブロ
ックそれぞれについて、最小の不一致量を与える参照部
位置を見い出し、各分割ブロックの画素単位のシフト量
を算出する。次いで、補間処理を行なって、補間後のシ
フト量および不一致量を算出する。また、分割ブロック
のコントラスト値を算出し、補間後の不一致量をコント
ラスト値で割って、各分割ブロックの像の不一致度を求
める。さらに、コントラスト値および像の不一致度に基
づいて各分割ブロックのピント検出の可否を判別する。
これらの処理は、分割前の第１〜第３画素ブロックにつ
いての処理と同様に行なう。
【００６３】ピント検出可能な分割ブロックの中から、
最大の補間後シフト量を示すもの、複数の分割ブロック
が最大の補間後シフト量を示したときには最小の不一致
度を示すものを、ピント検出のための分割ブロックとし
て選択する。選択した分割ブロックの補間後のシフト量
をＸＭ'とし、これを、分割前の選択画素ブロックの補
間後のシフト量ＸＭと比較して、遠近競合の影響を除去
した左右像の相対シフト量を算出する。
【００６４】分割前のシフト量ＸＭが分割後の相関シフ
ト量ＸＭ'以下であるとき、すなわち、分割ブロックで
検出した撮影対象までの距離が分割前のブロックで検出
した撮影対象までの距離以下であるときには、分割ブロ
ックで検出されたシフト量ＸＭ'が主撮影対象の位置を
正しく表しているものとみなすことができる。この場
合、相対シフト量をＸＭ'と設定する。
【００６５】一方、分割ブロックのシフト量ＸＭ'より
も分割前のシフト量ＸＭの方が大きくなるのは、分割ブ
ロックで検出した撮影対象までの距離が分割前のブロッ
クで検出した撮影対象までの距離よりも大きい場合であ
る。この場合、分割前のブロックのシフト量ＸＭは、分
割ブロックで検出された撮影対象の影響を受けているの
で、主撮影対象はＸＭで表される位置よりも（ＸＭ−Ｘ
Ｍ'）だけ近距離に存在するものとみなす。そこで、相
対シフト量をＸＭ＋（ＸＭ−ＸＭ'）と設定する。
【００６６】また、３つの分割ブロック全てがピント検
出不能であるときには、分割前のシフト量ＸＭを相対シ
フト量とする。このように、遠近競合発生時には、分割
前と分割後のブロックでの検出結果に基づいて、基準部
と参照部の像の相対シフト量をＸＭ'、ＸＭ＋（ＸＭ−
ＸＭ'）またはＸＭの３通りに設定し、この相対シフト
量からピントのずれ量を算出する。
【００６７】上記の方法でピント検出を行なう本実施例
の信号処理回路７の処理を図８〜１３を参照して説明す
る。図８に処理の基本的な流れを示す。ステップ＃５で
電源がＯＮされると、＃１０でＣＣＤ１５Ｌ、１５Ｒの
初期化を行い、＃１５でオートフォーカススイッチ（Ａ
Ｆスイッチ）の設定状態を判定する。ＡＦスイッチがＯ
ＦＦのときには、ＯＮになるまで＃１５の判定を繰り返
す。ＡＦスイッチがＯＮのときには＃２０に進み、撮影
レンズ１透過光をＣＣＤで受光して電荷に変換して蓄積
する。＃２５でＣＣＤの積分データを取出し、＃３０で
デジタル信号への変換を行なう。
【００６８】＃３５でＡＦアルゴリズム（図９に後述）
により、デジタル化された積分データを用いて、撮影レ
ンズのピント状態を表す基礎となる相対シフト量を算出
する。＃４０で、相対シフト量に基づいて撮影レンズの
合焦位置からのずれ量を算出し、撮影レンズを駆動して
ピント合わせを行なう。その後＃１５に戻り、ＡＦスイ
ッチがＯＮであれば上記動作を反復してピント調節を継
続する。
【００６９】ＡＦアルゴリズムの流れを図９に示す。＃
１０５で、ＣＣＤから出力されデジタル化された画素デ
ータ（Ｂ1〜Ｂ44、Ｒ1〜Ｒ52）に対し４画素ごとに差を
とるフィルタ処理を行ない、相関演算用画素データ（ｂ
1〜ｂ40、ｒ1〜ｒ48）に変換する。次いで＃１１０で、
図４に示した第１、第２および第３の画素ブロックにつ
いて相関演算を行うとともに、各ブロックのピント検出
可能判別を行なう（図１０に後述）。ブロック相関演算
により、基準部と参照部の像位置のずれを表すシフト
量、基準部のコントラスト、基準部と参照部の像の不一
致度を算出し、これらに基づいて＃１１５で、ピント検
出に用いるブロックを選択する（図１１に後述）。
【００７０】＃１１０での各ブロックのピント検出可能
の判別結果に基づき、＃１２０で全ブロックがピント検
出不能と判定されると、＃１２５に進んで低コントラス
ト処理を行なう。具体的には、ピント検出不能フラグを
１にセットし、表示装置１１にピント検出不能の表示を
行う。ピント検出不能フラグが１のときには、前述の図
８、ステップ＃４０で撮影レンズの駆動は行なわない。
１つ以上の画素ブロックでピント検出が可能なときに
は、＃１３０で遠近競合が発生しているか否かを判別す
る（図１２に後述）。＃１３５で遠近競合が発生してい
ると判別されると、＃１４０で遠近競合対策処理（図１
３に後述）を行なう。
【００７１】ブロック相関演算の処理の流れを図１０に
示す。まず＃２０５で、基準部の第１のブロックｂ1〜
ｂ20について、式（１）により不一致量Ｈ1(1)〜Ｈ1(2
9)を算出し、最小値Ｈ1(km)を見い出す。この最小値を
与えるkmから画素単位のシフト量ｘｍ1を算出し、さら
に補間処理を行なってkm0を求めて、補間後のシフト量
ＸＭ1を算出する。また、補間後シフト量での不一致量
ＹＭ1および式（５）によるコントラスト値Ｃ1を算出
し、さらに、不一致量ＹＭ1とコントラスト値Ｃ1から像
の不一致度ＹＭ1／Ｃ1を求めて、これらすべてを記憶す
る。＃２１０で、コントラスト値Ｃ1が所定値Ｃ0以上で
あり、かつ、像の不一致度ＹＭ1／Ｃ1が所定値(ＹＭ／
Ｃ)0以下であるときに、第１のブロックによるピント検
出が可能であると判断し、その他のときには第１ブロッ
クでのピント検出は不能と判断する。
【００７２】次に、＃２１５で、第２の画素ブロックに
ついて同様に相関演算を行なって、画素単位のシフト量
ｘｍ2、補間後のシフト量ＸＭ2、不一致量ＹＭ2、コン
トラスト値Ｃ2および像の不一致度ＹＭ2／Ｃ2を算出す
る。また、＃２２０で、ピント検出可能の判別を行な
う。第３の画素ブロックについても同様に、＃２２５と
＃２３０で、相関演算およびピント検出可能の判別を行
なう。
【００７３】図１１にブロック選択処理の流れを示す。
これは第１〜第３画素ブロックのうち、補間後のシフト
量が最大のものを選択し、補間後のシフト量が等しいと
きには、像の不一致度が小さいものを選択するものであ
る。
【００７４】まず、ステップ＃３０５でピント検出不能
フラグをクリアする。次いで＃３１０で、ブロック相関
演算（図１０、ステップ＃２１０）において行なった判
断結果を調べ、第１ブロックがピント検出可能のときに
は＃３３０に、ピント検出不能のときには＃３１５に進
む。＃３１５では第２ブロックについての判断結果（図
１０、＃２２０）を調べ、第２ブロックがピント検出可
能のときには＃３７５に、不能のときには＃３２０に進
む。＃３２０では、第３ブロックの判断結果（図１０、
＃２３０）を調べる。第３ブロックがピント検出可能の
ときには＃４００に進む。ここで第３ブロックがピント
検出不能であるときには、第１〜第３の全画素ブロック
でピント検出が不能であり、＃３２５においてピント検
出不能フラグを１にセットする。
【００７５】第１ブロックがピント検出可能のとき、＃
３３０で第２ブロックの判断結果を調べる。第２ブロッ
クがピント検出可能のときには、＃３３５で第１、第２
ブロックの補間後のシフト量ＸＭ1、ＸＭ2を比較して、
第１ブロックのシフト量ＸＭ1の方が小さいときには＃
３７５に進み、それ以外のときには＃３４０に進む。＃
３４０では、第１、第２ブロックのシフト量ＸＭ1、Ｘ
Ｍ2を比較し、両者が等しいときには＃３４５に、等し
くないときには＃３５０に進む。＃３４５では、第１、
第２ブロックの像の不一致度ＹＭ1／Ｃ1とＹＭ2／Ｃ2を
比較し、第１ブロックの不一致度ＹＭ1／Ｃ1の方が小さ
いときには＃３５０に、それ以外のときには＃３７５に
進む。
【００７６】＃３３５、＃３４０および＃３４５の判定
により、第１および第２の画素ブロックのうち、補間後
のシフト量の大きい方、シフト量が等しいときには不一
致度の小さい方が選択されて、第１ブロックが選択され
たときには＃３５０に、第２ブロックが選択されたとき
には＃３７５に処理が移行することになる。
【００７７】＃３５０において第３ブロックの判定結果
を調べ、第３ブロックがピント検出可能であるときには
＃３５５に、ピント検出不能であるときには＃３７０に
進む。＃３５５、＃３６０および＃３６５では、＃３３
５、＃３４０および＃３４５と同様にして、第１ブロッ
クと第３ブロックの補間後のシフト量ＸＭ1、ＸＭ3およ
び像の不一致度ＹＭ1／Ｃ1、ＹＭ3／Ｃ3をそれぞれ比較
して、補間後のシフト量の大きい方、シフト量が等しい
ときには不一致度の小さい方を選択する。＃３５５また
は＃３６５で第１ブロックが選択されたとき、および＃
３５０の判定で第３ブロックがピント検出不能であった
ときには、＃３７０で、選択された値として第１画素ブ
ロックの補間後のシフト量ＸＭ1、画素単位のシフト量
ｘｍ1、コントラストＣ1および像の不一致度ＸＭ1／Ｃ1
を記憶する。
【００７８】＃３１０および＃３１５の判定により第１
ブロックがピント検出不能で第２ブロックがピント検出
可能のとき、または、＃３３５、＃３４５で第２ブロッ
クが選択されたときには、＃３７５で第３ブロックのピ
ント検出の判断結果を調べる。第３ブロックがピント検
出可能なときには＃３８０に進み、ピント検出不能なと
きには＃３９５に進む。＃３８０、＃３８５および＃３
９０では、前述の方法と同様にして、第２ブロックと第
３ブロックのうち、補間後のシフト量の大きい方、シフ
ト量が等しいときには像の不一致度の小さい方を選択す
る。第２ブロックが選択されたときには、＃３９５で第
２画素ブロックの補間後のシフト量ＸＭ2、画素単位の
シフト量ｘｍ2、コントラストＣ2および像の不一致度Ｘ
Ｍ2／Ｃ2を記憶する。
【００７９】＃３６０および＃３６５の判定により第３
ブロックが選択されたとき、＃３８５および＃３９０の
判定により第３ブロックが選択されたとき、または、＃
３１０、＃３１５および＃３２０の判定により第３ブロ
ックのみがピント検出可能であったときには、＃４００
において、第３画素ブロックの補間後のシフト量Ｘ
Ｍ3、画素単位のシフト量ｘｍ3、コントラストＣ3およ
び像の不一致度ＸＭ3／Ｃ3を記憶する。
【００８０】以上の処理により、第１〜第３ブロックの
うち１つ以上の画素ブロックがピント検出可能のときに
は、補間後のシフト量が最大のもの、最大の補間後シフ
ト量が等しいときには像の不一致度が最小のものが選択
されることになる。
【００８１】図１２に遠近競合判別処理の流れを示す。
まず、ステップ＃５０５で遠近競合フラグをクリアす
る。この遠近競合判別ルーチンはＡＦアルゴリズムによ
って呼び出されるが、ＡＦアルゴリズムは、図８に示し
たように、ＡＦスイッチがＯＮのとき反復して起動さ
れ、測距が繰り返される。＃５１０において、ＡＦアル
ゴリズムの処理がＡＦスイッチがＯＮに設定されてから
初めて行なわれているか否かを判定する。すなわち、最
初の測距であるか否かを判定する。最初の測距のときに
は遠近競合判別を行なわず、処理を終了する。２回目以
降の測距のときには＃５１５に進む。
【００８２】＃５１５では、前回のピント検出処理時に
算出した被写体倍率βを所定値βaと比較する。前回の
被写体倍率βが所定値βa以下のときには＃５２０に進
む。被写体倍率が大きいときには遠近競合が発生する可
能性は極めて低いため、前回の被写体倍率βが所定値β
aよりも大きいときには遠近競合判別を行なわない。
【００８３】次いで、図１１に示したブロック選択処理
において選択された画素ブロックのコントラスト値Ｃお
よび像の不一致度ＹＭ／Ｃに基づいて遠近競合発生の有
無を判別する。＃５２０でコントラスト値Ｃを第１の所
定値Ｃaと比較し、コントラスト値Ｃが所定値Ｃa以上の
ときには＃５２５に進み、像の不一致度ＹＭ／Ｃを第１
の所定値(ＹＭ／Ｃ)aと比較する。ここで不一致度ＹＭ
／Ｃが所定値(ＹＭ／Ｃ)a以上であれば遠近競合が発生
したと判断して＃５４０に進み、所定値(ＹＭ／Ｃ)a未
満であれば遠近競合は発生していないと判断して処理を
終了する。
【００８４】＃５２０においてコントラスト値Ｃが第１
の所定値Ｃaよりも小さいときには、＃５３０で、コン
トラスト値Ｃを第１の所定値Ｃaよりも小さい第２の所
定値Ｃbと比較する。コントラスト値Ｃが所定値Ｃb未満
のときには、遠近競合は発生しないと判断し、処理を終
了する。コントラスト値Ｃが第２の所定値Ｃb以上のと
きには、＃５３５に進み、像の不一致度ＹＭ／Ｃを第１
の所定値(ＹＭ／Ｃ)aよりも小さい第２の所定値(ＹＭ／
Ｃ)bと比較する。像の不一致度ＹＭ／Ｃが所定値(ＹＭ
／Ｃ)b以上であれば遠近競合が発生したと判断して＃５
４０に進み、所定値(ＹＭ／Ｃ)b未満であれば遠近競合
は発生していないと判断して処理を終了する。
【００８５】＃５２５または＃５３５で遠近競合が発生
していると判断されたときには、＃５４０で遠近競合フ
ラグを１にセットし、遠近競合判別処理を終了する。
【００８６】図１３に遠近競合対策の処理の流れを示
す。まず、ステップ＃６０５でブロック分割を行なう。
次いで、＃６１０と＃６１５で、基準部の分割ブロック
と相関演算を行なう参照部の範囲を、分割前の選択ブロ
ックの画素単位のシフト量ｘｍに基づいて設定する。＃
６２０で、３つの分割ブロックについて、基準部と参照
部のブロック相関演算を行なう。この処理は図１０に示
した処理と同様であり、各分割ブロックの画素単位のシ
フト量、補間後のシフト量、コントラスト、像の不一致
度が算出される。また、コントラストおよび像の不一致
度に基づいて、ピント検出可能判別を行なう。
【００８７】次いで＃６２５で、ピント検出に用いる分
割ブロックの選択を行なう。この選択は図１１に示した
選択処理に準じてなされる。すなわち、３つの分割ブロ
ックがピント検出可能であるか否かを判定し、１つ以上
の分割ブロックでピント検出が可能なときには、補間後
のシフト量が最大の分割ブロックを選択する。複数の分
割ブロックが最大の補間後シフト量を与えたときには、
像の不一致度が最小のものを選択する。こうして選択し
た分割ブロックの補間後のシフト量を相関シフト量Ｘ
Ｍ'として記憶する。
【００８８】＃６３０で３つの分割ブロックのピント検
出可能判別の結果を調べ、すべての分割ブロックがピン
ト検出不能であるときには、＃６３５に進み、すでに算
出済みの分割前の画素ブロックについての補間後シフト
量ＸＭを相対シフト量として設定する。１つ以上の分割
ブロックでピント検出が可能なときは＃６４０に進ん
で、分割前の画素ブロックの補間後シフト量ＸＭと＃６
２５で記憶した分割後の相関シフト量ＸＭ'とを比較す
る。
【００８９】分割前のシフト量ＸＭの方が分割後のシフ
ト量ＸＭ'よりも大きいときには、撮影対象はＸＭで表
される位置よりも（ＸＭ−ＸＭ'）だけ近距離に存在す
るものとみなし、＃６４５で、相対シフト量をＸＭ＋
（ＸＭ−ＸＭ'）と設定する。一方、分割前のシフト量
ＸＭが分割後の相関シフト量ＸＭ'以下であるときに
は、分割ブロックで検出されたシフト量ＸＭ'が撮影対
象の位置を正しく表しているものとみなし、＃６５０
で、相対シフト量をＸＭ'と設定する。
【００９０】このように、本実施例の一眼レフカメラで
は、まず、第１〜第３画素ブロックを用いてピント検出
を行い、遠近競合が発生していないときには、検出した
左右像のシフト量に基づいて撮影レンズを駆動して主撮
影対象へのピント合わせを行なう。遠近競合が発生した
ときには、ピント検出を行なった画素ブロックをより小
さな画素ブロックに分割して分割ブロックによってピン
ト検出を行い、分割ブロックで検出される左右像のシフ
ト量と分割前の画素ブロックのシフト量に基づいて撮影
レンズを駆動して、主撮影対象へのピント合わせを行な
う。
【００９１】左右ＣＣＤの画素数は前述した値に限られ
るものではなく、ピント検出を行なう撮影領域の幅や画
素の配列ピッチに応じて、任意に設定してよいものであ
る。本実施例においては、通常のピント検出を行なうた
めの画素ブロックの数を３に設定し、各画素ブロックを
２０画素からなる構成としたが、画素ブロックの数や画
素ブロックを構成する画素数も他の値に設定してもよ
い。さらに、各画素ブロックの画素数を必ずしも同一に
設定する必要はない。また、遠近競合発生時の画素ブロ
ックの分割も３つの画素ブロックに限られるものではな
く、より多くの画素ブロックに分割することも、各画素
ブロックの構成画素数をそれぞれ異なる値に設定するこ
とも可能である。
【００９２】本発明の第２の実施例について説明する。
本実施例のハードウェア構成は上記の第１の実施例と同
じであり、重複する説明は省略する。第１の実施例にお
いては、通常のピント検出を行なう第１〜第３の画素ブ
ロックの位置をあらかじめ定めた位置に設定してピント
検出を行なったが、本実施例では、第１〜第３の画素ブ
ロックの位置をコントラスト値に基づいて定める。
【００９３】基準部の画素ｂ1〜ｂ40のうち、画素ｂ1〜
ｂ26を第１画素ブロックの候補領域、画素ｂ8〜ｂ33を
第２画素ブロックの候補領域、画素ｂ15〜ｂ40を第３画
素ブロックの候補領域とする。第１の候補領域におい
て、連続した２０画素からなる７つの候補ブロックＢ１
−１〜Ｂ１−７を設定し、同様に、第２、第３の候補領
域においても、７つの候補ブロックＢ２−１〜Ｂ２−７
およびＢ３−１〜Ｂ３−７をそれぞれ設定する。これら
の候補ブロックを図１５に示す。
【００９４】第ｎ候補領域の第ｋ番目の候補ブロックＢ
ｎ−ｋについて、式（７）によりコントラスト値Ｃn-k
を算出する。
【００９５】
【数７】
【００９６】各候補領域に属する７つの候補ブロックの
うち算出したコントラスト値Ｃn-kが最大のブロック
を、その候補領域の画素ブロックとして選出する。たと
えば、Ｃ1-1〜Ｃ1-7のうちＣ1-3が最大であればＢ１−
３を第１の画素ブロックと定める。このとき、第１画素
のコントラスト値Ｃ1はＣ1-3である。
【００９７】このようにして選出する第１〜第３画素ブ
ロックそれぞれについて、参照部全域にわたって相関演
算を行い、不一致量を算出する。各画素ブロックに対応
する参照部の合焦位置は図４に示した位置とは異なる
が、最小の不一致量を示す参照部位置の合焦位置からの
ずれ量に基づいて、左右像の画素単位のシフト量ｘｍn
を求める。また、補間処理を行なって補間後のシフト量
ＸＭnと補間後の不一致量ＹＭnを算出し、補間後の不一
致量ＹＭnをコントラスト値Ｃnで割って像の不一致度Ｙ
Ｍn／Ｃnを求める。
【００９８】次いで、第１の実施例と同様にして第１〜
第３画素ブロックの中からピント検出を行なうための画
素を選択し、遠近競合発生の有無を調べる。遠近競合が
発生していないときには選択した画素ブロックの補間後
のシフト量ＸＭに基づいて撮影レンズの焦点位置調節を
行なう。
【００９９】遠近競合が発生したときには、選択した画
素ブロックを１０画素ずつの３つの画素ブロックに分割
する遠近競合対策処理を行う。図１６に、画素ブロック
の分割例を示す。ここでは、画素ブロックＢ１−４が選
択されており、Ｂ１−４（１）〜Ｂ１−４（３）の分割
ブロックが設定される。以下、第１の実施例と同様にし
て、分割ブロックそれぞれについて相関演算を行い、１
つの分割ブロックを選択する。選択したブロックの補間
後のシフト量ＸＭ’と分割前の選択画素ブロックの補間
後シフト量ＸＭに基づいて相対シフト量を求め、撮影レ
ンズの焦点位置を調節する。
【０１００】本実施例の方法では、第１〜第３画素ブロ
ックとしてコントラストの高い画素ブロックが用いられ
るため、ピントのずれ量検出において誤差が少なくな
り、撮影レンズの焦点位置設定の精度が向上する。
【０１０１】なお、本発明の請求の範囲でいう第１、第
２の焦点検出手段、領域選択手段、焦点検出選択手段、
ずれ量算出手段、高コントラスト領域選出手段および相
対位置算出手段には、上記第１、第２の実施例では信号
処理回路７が相当している。
【０１０２】
【発明の効果】本発明の焦点検出装置によるときは、第
１の像と第２の像のずれ量が、第１の焦点検出手段によ
って広い領域について検出され、第２の焦点検出手段に
よって狭い領域について検出される。狭い領域でのずれ
量検出には背景の影響が小さくなるため、広い領域での
ずれ量検出において遠近競合が発生したときには、狭い
領域で検出したずれ量から第１の像と第２の像のずれ量
を算出することで、主撮影対象に対するピントのずれ量
を正しく検出することができる。
【０１０３】また、第２の焦点検出手段によるずれ量検
出の範囲は、広い領域で検出されたずれ量に基づいて狭
く設定されているため、無駄な演算が回避されて、効率
よくずれ量検出を行なうことができる。さらに、広い範
囲でのずれ量検出において遠近競合が発生しなかったと
きには第２の焦点検出手段を動作させないため、通常の
ピント検出に要する時間が長くなるという不都合が避け
られる。
【０１０４】請求項２の焦点検出装置によるときは、第
１の受光センサの像と第２の受光センサの像のずれ量
が、第１の焦点検出手段によって広くかつコントラスト
の高い領域について検出され、第２の焦点検出手段によ
って狭くかつコントラストの高い領域について検出され
る。コントラストが高いほど像位置は精度よく検出され
るため、第１、第２の受光センサの像の相対位置も精度
よく検出されて、撮影対象に対するピントのずれ量を高
精度で検出することができる。また、遠近競合はコント
ラストの高い背景が存在するときに発生するものである
から、遠近競合発生の有無を判別することが容易にな
る。
【０１０５】また、広い領域でのずれ量検出において遠
近競合が発生したときには、狭い領域で検出したずれ量
から第１、第２の受光センサの像の相対位置を算出する
ことで背景の影響が低減されて、主撮影対象に対するピ
ントのずれ量を正しく検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 第１の実施例の一眼レフカメラの概略構成
図。
【図２】 第１の実施例の受光部の光学系を示す図。
【図３】 第１の実施例の合焦像、前ピン像および後ピ
ン像の再結像の位置関係を示す図。
【図４】 第１の実施例の基準部と参照部の画素の配列
を示す図。
【図５】 遠近競合が発生する撮影対象の例を示す図。
【図６】 図５の撮影対象を受光した基準部と参照部の
画素出力を示す図。
【図７】 第１の実施例の左右像のシフト量の補間処理
を示す図。
【図８】 第１の実施例の信号処理回路の処理の全体の
流れを示すフローチャート。
【図９】 信号処理回路のＡＦアルゴリズムを示すフロ
ーチャート。
【図１０】 信号処理回路のブロック相関演算の処理の
流れを示すフローチャート。
【図１１】 信号処理回路のブロック選択の処理の流れ
を示すフローチャート。
【図１２】 信号処理回路の遠近競合判別の処理の流れ
を示すフローチャート。
【図１３】 信号処理回路の遠近競合対策の処理の流れ
を示すフローチャート。
【図１４】 遠近競合判別に用いるコントラストと像の
不一致度の基準値の関係と、平面撮影対象のコントラス
トと像の不一致度の分布を示す図。
【図１５】 第２の実施例の基準部の画素ブロックの候
補位置の関係を示す図。
【図１６】 第２の実施例の基準部の画素ブロックの分
割例を示す図。
【符号の説明】
１ 撮影レンズ ２ 撮影フィルム ３ 反射鏡 ４ 焦点板 ５ ペンタプリズム ６ 受光部 ７ 信号処理回路 ８ 撮影レンズ駆動装置 ９ 副反射鏡 １０ ラインセンサ １１ 表示装置 １２ コンデンサレンズ １３ 反射鏡 １４ 結像レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 金馬 章夫 大阪市中央区安土町二丁目３番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 岸本 剛司 大阪市中央区安土町二丁目３番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 中島 達男 大阪市中央区安土町二丁目３番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 撮影レンズの焦点状態に応じて相対的な
    位置関係が変化する第１の像と第２の像をそれぞれ形成
    する光学系と、前記第１の像と第２の像をそれぞれ複数
    の光電変換素子で検出するセンサと、前記センサの出力
    に基づいて、前記第１の像と第２の像の相対的な位置関
    係を像のずれ量として求め、撮影レンズの焦点状態を検
    出する焦点検出装置において、 前記センサ上の像を複数の領域に分割し、分割した領域
    ごとに第１の像と第２の像のずれ量を検出する第１の焦
    点検出手段と、 前記第１の焦点検出手段によって得られた結果に基づい
    て、分割した複数の領域の中から１つの領域を選択する
    領域選択手段と、 前記領域選択手段により選択された領域をさらに小さな
    領域に分割して、前記第１の焦点検出手段で得られた第
    １の像と第２の像のずれ量が検出された位置を中心とし
    て、ずれ量の範囲よりも狭い範囲で、分割した小さな領
    域ごとに第１の像と第２の像のずれ量を検出する第２の
    焦点検出手段と、 前記領域選択手段によって選択された領域の像から得ら
    れる情報に基づいて、前記第２の焦点検出手段の動作を
    行なうことを選択する焦点検出選択手段と、 第１の焦点検出手段または第２の焦点検出手段の少なく
    とも一方によって得られた結果から、第１の像と第２の
    像のずれ量を算出するずれ量算出手段と、を有すること
    を特徴とする焦点検出装置。
  2. 【請求項２】 撮影レンズを透過した光の異なる部位の
    光束をそれぞれ結像させて、これらの像の相対位置から
    撮影対象に対する撮影レンズのピントのずれ量を検出す
    る焦点検出装置において、 アレイ状に配列された画素からなる第１および第２の受
    光センサと、 撮影レンズ透過光のうち異なる部位の光束をそれぞれ前
    記第１の受光センサと第２の受光センサに結像させる光
    学系と、 前記第１の受光センサの像を連続した複数の画素からな
    る複数の領域に分割し、各領域のコントラストを算出し
    て高いコントラストの領域を所定数選出する高コントラ
    スト領域選出手段と、 前記高コントラスト領域選出手段によって選出された領
    域それぞれについて、前記第２の受光素子の像との相関
    演算を行なって、高コントラスト領域と第２の受光素子
    の像のずれ量と不一致度を検出する第１の焦点検出手段
    と、 前記第１の焦点検出手段によって検出したずれ量に基づ
    いて、前記所定数の高コントラスト領域の中から１つの
    領域を選択する領域選択手段と、 前記領域選択手段によって選択された領域をより小さな
    領域に分割し、各分割領域について、前記第２の受光素
    子の像との相関演算を行なって、分割領域と第２の受光
    素子の像のずれ量を検出する第２の焦点検出手段と、 前記領域選択手段によって選択された領域のコントラス
    トと像の不一致度に基づいて、前記第１の焦点検出手段
    または第２の焦点検出手段の少なくとも一方によって検
    出したずれ量から第１の受光センサの像と第２の受光セ
    ンサの像の相対位置を算出する相対位置算出手段と、を
    備えることを特徴とする焦点検出装置。
JP7047299A 1995-03-07 1995-03-07 焦点検出装置 Pending JPH08248303A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7047299A JPH08248303A (ja) 1995-03-07 1995-03-07 焦点検出装置
US08/611,697 US5825016A (en) 1995-03-07 1996-03-06 Focus detection device and accompanying optical equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7047299A JPH08248303A (ja) 1995-03-07 1995-03-07 焦点検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08248303A true JPH08248303A (ja) 1996-09-27

Family

ID=12771415

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7047299A Pending JPH08248303A (ja) 1995-03-07 1995-03-07 焦点検出装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5825016A (ja)
JP (1) JPH08248303A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007178480A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Samsung Techwin Co Ltd デジタルカメラ、自動焦点調節方法、および自動焦点調節プログラム
JP2009092824A (ja) * 2007-10-05 2009-04-30 Sony Corp 撮像装置
WO2010001641A1 (ja) * 2008-06-30 2010-01-07 株式会社ニコン 焦点検出装置
JP2011242677A (ja) * 2010-05-20 2011-12-01 Hoya Corp 自動焦点調節装置及び同装置を備えたカメラ
JP2013037166A (ja) * 2011-08-08 2013-02-21 Canon Inc 焦点検出装置及びそれを有するレンズ装置及び撮像装置
JP2013218082A (ja) * 2012-04-06 2013-10-24 Canon Inc 撮像装置及びその制御方法

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2298331B (en) * 1995-02-22 2000-02-16 Asahi Optical Co Ltd Distance measuring apparatus
JPH10332365A (ja) * 1997-05-27 1998-12-18 Minolta Co Ltd 測距装置
JP3963568B2 (ja) * 1997-05-28 2007-08-22 オリンパス株式会社 カメラの自動焦点調節装置
US7106376B1 (en) * 1998-10-22 2006-09-12 Flashpoint Technology, Inc. Method and system for improving image quality of portrait images using a focus zone shift
JP2001227914A (ja) * 2000-02-15 2001-08-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 物体監視装置
WO2001061648A2 (en) * 2000-02-17 2001-08-23 British Telecommunications Public Limited Company Visual attention location system
DE60303138T2 (de) * 2002-03-22 2006-08-31 British Telecommunications P.L.C. Vergleichen von mustern
CA2478243C (en) * 2002-03-22 2012-07-24 British Telecommunications Public Limited Company Anomaly recognition
JP2004191629A (ja) * 2002-12-11 2004-07-08 Canon Inc 焦点検出装置
GB0229625D0 (en) * 2002-12-19 2003-01-22 British Telecomm Searching images
GB0328326D0 (en) 2003-12-05 2004-01-07 British Telecomm Image processing
CN100447656C (zh) * 2004-01-15 2008-12-31 株式会社理光 摄像装置及摄像方法
EP1789910B1 (en) 2004-09-17 2008-08-13 British Telecommunications Public Limited Company Analysis of patterns
EP1732030A1 (en) * 2005-06-10 2006-12-13 BRITISH TELECOMMUNICATIONS public limited company Comparison of patterns
CN101248457B (zh) * 2005-07-28 2011-07-27 英国电讯有限公司 图像分析方法
EP1798961A1 (en) * 2005-12-19 2007-06-20 BRITISH TELECOMMUNICATIONS public limited company Method for focus control
JP5387949B2 (ja) * 2009-03-03 2014-01-15 株式会社リコー 撮像装置、再生表示装置、撮像記録方法および再生表示方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57161708A (en) * 1981-03-28 1982-10-05 Olympus Optical Co Ltd Focusing detector having variable visual field of detection
US5202555A (en) * 1983-01-10 1993-04-13 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Focus detecting device for use with cameras with correlation and contrast detecting means
US4766302A (en) * 1984-05-17 1988-08-23 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Focus detecting device including means for determining a priority of correlation calculations
US4851657A (en) * 1985-12-23 1989-07-25 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Focus condition detecting device using weighted center or contrast evaluation
US4862204A (en) * 1985-12-25 1989-08-29 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Focus detection device and method
US4812912A (en) * 1986-05-26 1989-03-14 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Focus detection condition display device for camera
JPS6317417A (ja) * 1986-06-09 1988-01-25 Minolta Camera Co Ltd 焦点検出装置
JPH02251924A (ja) * 1989-03-27 1990-10-09 Nikon Corp 自動焦点調節装置
JP2676985B2 (ja) * 1990-06-26 1997-11-17 富士電機株式会社 光学器械の対象検出方式

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007178480A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Samsung Techwin Co Ltd デジタルカメラ、自動焦点調節方法、および自動焦点調節プログラム
JP2009092824A (ja) * 2007-10-05 2009-04-30 Sony Corp 撮像装置
WO2010001641A1 (ja) * 2008-06-30 2010-01-07 株式会社ニコン 焦点検出装置
US8237097B2 (en) 2008-06-30 2012-08-07 Nikon Corporation Focus detecting apparatus and imaging apparatus having center position detection of micro lenses in micro lens array
JP2011242677A (ja) * 2010-05-20 2011-12-01 Hoya Corp 自動焦点調節装置及び同装置を備えたカメラ
JP2013037166A (ja) * 2011-08-08 2013-02-21 Canon Inc 焦点検出装置及びそれを有するレンズ装置及び撮像装置
US9154689B2 (en) 2011-08-08 2015-10-06 Canon Kabushiki Kaisha Focus detector, and lens apparatus and image pickup apparatus including the same
JP2013218082A (ja) * 2012-04-06 2013-10-24 Canon Inc 撮像装置及びその制御方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5825016A (en) 1998-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08248303A (ja) 焦点検出装置
KR101395015B1 (ko) 카메라, 초점 검출방법, 및 제어방법
JP4972960B2 (ja) 焦点調節装置および撮像装置
US20040183939A1 (en) Camera having AF function
JP2015194706A5 (ja)
JPH07199052A (ja) 焦点検出方法および距離測定方法
JPH05127074A (ja) 焦点検出装置
JP4054422B2 (ja) カメラ及び交換レンズ装置
JPH06130283A (ja) カメラの焦点検出装置及び交換レンズ
JPH10186460A (ja) カメラの測距装置
US6636699B2 (en) Focus detection device and distance measurement device
JP2009042370A (ja) 焦点検出装置、およびその制御方法
JP5157073B2 (ja) 焦点調節装置および撮像装置
US7582854B2 (en) Focus detection apparatus for detecting a relative positional relationship between a pair of object images
US4572476A (en) Method for detecting a focus condition of an imaging optical system employing interpolated signal values
JP3230759B2 (ja) 測距装置
JP2768459B2 (ja) 焦点検出装置
JPH05127073A (ja) 焦点検出装置
JP5043402B2 (ja) 測光装置およびカメラ
JPH11337813A (ja) オートフォーカスカメラ
JP3038863B2 (ja) 焦点検出手段と視線検出手段とを有したカメラ
JP2007240566A (ja) 焦点検出装置、光学装置、カメラ。
JPH06138377A (ja) 焦点検出手段と視線検出手段とを有したカメラ
JP3437242B2 (ja) カメラの測距装置
JPH0769513B2 (ja) 焦点調節信号形成装置