JPH08233517A - 三次元形状測定装置 - Google Patents
三次元形状測定装置Info
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- JPH08233517A JPH08233517A JP7061744A JP6174495A JPH08233517A JP H08233517 A JPH08233517 A JP H08233517A JP 7061744 A JP7061744 A JP 7061744A JP 6174495 A JP6174495 A JP 6174495A JP H08233517 A JPH08233517 A JP H08233517A
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- Japan
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- irradiation
- optical distance
- measured
- light
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定の信頼性を低下させることなく、複数の
光距離センサを用いて各光距離センサによる同時計測を
行い、測定時間を短縮させる。 【構成】 レーザー変位計21,22の照射部21A,
22Aからのレーザー光の照射及び照射停止が繰り返さ
れる。レーザー変位計21の照射部21Aからのレーザ
ー光の照射中における当該光距離センサ21の受光部2
1Bの出力の三次元形状データ作製部33による取り込
み時には、レーザー変位計22の照射部22Aからのレ
ーザー光の照射が停止される。レーザー変位計22の照
射部22Aからのレーザー光の照射中における当該光距
離センサ22の受光部22Bの出力の三次元形状データ
作製部33による取り込み時には、レーザー変位計21
の照射部21Aからのレーザー光の照射が停止される。
これにより、レーザー変位計21,22間の相互干渉が
防止される。
光距離センサを用いて各光距離センサによる同時計測を
行い、測定時間を短縮させる。 【構成】 レーザー変位計21,22の照射部21A,
22Aからのレーザー光の照射及び照射停止が繰り返さ
れる。レーザー変位計21の照射部21Aからのレーザ
ー光の照射中における当該光距離センサ21の受光部2
1Bの出力の三次元形状データ作製部33による取り込
み時には、レーザー変位計22の照射部22Aからのレ
ーザー光の照射が停止される。レーザー変位計22の照
射部22Aからのレーザー光の照射中における当該光距
離センサ22の受光部22Bの出力の三次元形状データ
作製部33による取り込み時には、レーザー変位計21
の照射部21Aからのレーザー光の照射が停止される。
これにより、レーザー変位計21,22間の相互干渉が
防止される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザー変位計等の光
距離センサを用いて、被測定物の三次元形状を測定する
三次元形状測定装置に関するものである。
距離センサを用いて、被測定物の三次元形状を測定する
三次元形状測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】被測定物に対して照射光を照射する照射
部と被測定物からの反射光を受光する受光部とを備えた
光距離センサを用いて、非接触で被測定物の三次元形状
を測定することが、従来から広く行われている。
部と被測定物からの反射光を受光する受光部とを備えた
光距離センサを用いて、非接触で被測定物の三次元形状
を測定することが、従来から広く行われている。
【0003】このような光距離センサの一つとして、三
角測量の原理を利用するとともにレーザー光を用いた三
角測距式レーザー変位計がある。
角測量の原理を利用するとともにレーザー光を用いた三
角測距式レーザー変位計がある。
【0004】図8は、一般的な三角測距式レーザー変位
計1の測定原理を示す説明図である。
計1の測定原理を示す説明図である。
【0005】図8に示すように、このレーザー変位計1
は、被測定物6に対してスポット状のレーザー光(拡が
りのないレーザービーム)を照射する照射部2と、被測
定物6からの反射光を受光する受光部3とを備えてい
る。受光部3は、受光位置に応じた信号を出力するPS
D(position sensitive device、半導体位置検出器)
やCCDなどの1次元受光センサ4と、前記反射光(被
測定物6上の照射光による像)を前記1次元受光センサ
4の受光面上に投影させる受光レンズ5とから構成され
ている。
は、被測定物6に対してスポット状のレーザー光(拡が
りのないレーザービーム)を照射する照射部2と、被測
定物6からの反射光を受光する受光部3とを備えてい
る。受光部3は、受光位置に応じた信号を出力するPS
D(position sensitive device、半導体位置検出器)
やCCDなどの1次元受光センサ4と、前記反射光(被
測定物6上の照射光による像)を前記1次元受光センサ
4の受光面上に投影させる受光レンズ5とから構成され
ている。
【0006】このレーザー変位計1によれば、照射部2
から発したレーザー光は、被測定物6に照射され、その
反射光が受光レンズ5を介し受光センサ4により受光さ
れる。このとき、図8に示すように、被測定物6の面の
位置に応じて、受光センサ4に入る反射光の位置が変化
する。したがって、受光センサ4から、被測定物6上の
レーザー光照射位置までの距離を示す出力が得られる。
から発したレーザー光は、被測定物6に照射され、その
反射光が受光レンズ5を介し受光センサ4により受光さ
れる。このとき、図8に示すように、被測定物6の面の
位置に応じて、受光センサ4に入る反射光の位置が変化
する。したがって、受光センサ4から、被測定物6上の
レーザー光照射位置までの距離を示す出力が得られる。
【0007】なお、前記レーザー変位計1において、前
記照射部2としてスリット状のレーザー光を照射するも
のを用いるとともに、前記受光センサとして2次元受光
センサを用いたレーザー変位計も、知られている。この
レーザー変位計は、前記レーザー変位計1と同一の原理
に基づくものであるが、スリット状のレーザー光により
照射された被測定物6上の線状の照射位置(光切断線の
位置)の距離が、一括して前記2次元受光センサの出力
として得られるものである。
記照射部2としてスリット状のレーザー光を照射するも
のを用いるとともに、前記受光センサとして2次元受光
センサを用いたレーザー変位計も、知られている。この
レーザー変位計は、前記レーザー変位計1と同一の原理
に基づくものであるが、スリット状のレーザー光により
照射された被測定物6上の線状の照射位置(光切断線の
位置)の距離が、一括して前記2次元受光センサの出力
として得られるものである。
【0008】そして、従来から、前述したようなレーザ
ー変位計を複数用いた三次元形状測定装置が提供されて
いる。図6は、このような従来の三次元形状測定装置の
一例の概略の構成を示す側面図である。
ー変位計を複数用いた三次元形状測定装置が提供されて
いる。図6は、このような従来の三次元形状測定装置の
一例の概略の構成を示す側面図である。
【0009】この従来の三次元形状測定装置は、図6に
示すように、被測定物10の側面方向の距離を測定する
側面測定用のレーザー変位計11と、被測定物10の上
面方向の距離を測定する上面測定用のレーザー変位計1
2と、レーザー変位計11を図6中の上下方向(鉛直方
向、Z方向)に移動させるZステージ13と、レーザー
変位計12を図6中の左右方向に移動させるRステージ
14と、被測定物10を鉛直方向に延びる回転軸Oを中
心として回転させるθステージ15と、θステージ15
上に搭載され水平面内において被測定物10を格子状に
移動させるX−Yステージ16と、各ステージ13,1
4,15を支持する基盤17と、を備えている。
示すように、被測定物10の側面方向の距離を測定する
側面測定用のレーザー変位計11と、被測定物10の上
面方向の距離を測定する上面測定用のレーザー変位計1
2と、レーザー変位計11を図6中の上下方向(鉛直方
向、Z方向)に移動させるZステージ13と、レーザー
変位計12を図6中の左右方向に移動させるRステージ
14と、被測定物10を鉛直方向に延びる回転軸Oを中
心として回転させるθステージ15と、θステージ15
上に搭載され水平面内において被測定物10を格子状に
移動させるX−Yステージ16と、各ステージ13,1
4,15を支持する基盤17と、を備えている。
【0010】前記レーザー変位計11,12は、図8に
示した変位計1と同一の構成を有しており、それぞれ照
射部11A,12Aと受光部11B,12Bとを有して
いる。そして、レーザー変位計11,12として全く同
一のレーザー変位計が用いられており、照射部11A,
12Aは同一波長のレーザー光を照射し、受光部11
B,12Bはその波長の光を受光する。
示した変位計1と同一の構成を有しており、それぞれ照
射部11A,12Aと受光部11B,12Bとを有して
いる。そして、レーザー変位計11,12として全く同
一のレーザー変位計が用いられており、照射部11A,
12Aは同一波長のレーザー光を照射し、受光部11
B,12Bはその波長の光を受光する。
【0011】図6に示す従来の装置では、次のようにし
て被測定物10の三次元形状が測定される。
て被測定物10の三次元形状が測定される。
【0012】まず、Rステージ14を駆動してレーザー
変位計12の照射光軸をθステージ15の回転軸Oと一
致させるとともに、X−Yステージ16を駆動して被測
定物10の中心をθステージ15の回転軸Oとほぼ一致
させる。また、Zステージ13を駆動してレーザー変位
計11の照射光軸を被測定物10の最下位置に当てる。
これらの位置が初期位置である。
変位計12の照射光軸をθステージ15の回転軸Oと一
致させるとともに、X−Yステージ16を駆動して被測
定物10の中心をθステージ15の回転軸Oとほぼ一致
させる。また、Zステージ13を駆動してレーザー変位
計11の照射光軸を被測定物10の最下位置に当てる。
これらの位置が初期位置である。
【0013】次に、レーザー変位計12の照射部12A
からのレーザー光の照射を継続しつつ、レーザー変位計
12による被測定物10の上面の測定を行う。すなわ
ち、まず、被測定物10の上面における回転軸O上の点
までの距離をレーザー変位計12で測定する。その後、
Rステージ14を駆動してレーザー変位計12を所定量
動かした後、θステージ15により被測定物10を回転
させながら一定角度ごとの被測定物10の上面までの距
離をレーザー変位計12で測定する。被測定物10が1
回転すると、レーザー変位計12をRステージ14によ
り同じ向きに更に所定量移動させて、同様に、被測定物
10を回転させながら被測定物10の上面までの距離を
レーザー変位計12で測定する。これを繰り返し、レー
ザー変位計12からのレーザー光が被測定物10に当た
らなくなれば、レーザー変位計12による被測定物10
の上面の三次元形状の測定が終了する。なお、レーザー
変位計12による測定中には、レーザー変位計11の照
射部11Aからのレーザー光の照射は、停止されてい
る。
からのレーザー光の照射を継続しつつ、レーザー変位計
12による被測定物10の上面の測定を行う。すなわ
ち、まず、被測定物10の上面における回転軸O上の点
までの距離をレーザー変位計12で測定する。その後、
Rステージ14を駆動してレーザー変位計12を所定量
動かした後、θステージ15により被測定物10を回転
させながら一定角度ごとの被測定物10の上面までの距
離をレーザー変位計12で測定する。被測定物10が1
回転すると、レーザー変位計12をRステージ14によ
り同じ向きに更に所定量移動させて、同様に、被測定物
10を回転させながら被測定物10の上面までの距離を
レーザー変位計12で測定する。これを繰り返し、レー
ザー変位計12からのレーザー光が被測定物10に当た
らなくなれば、レーザー変位計12による被測定物10
の上面の三次元形状の測定が終了する。なお、レーザー
変位計12による測定中には、レーザー変位計11の照
射部11Aからのレーザー光の照射は、停止されてい
る。
【0014】次に、レーザー変位計12の照射部12A
からのレーザー光の照射を停止し、レーザー変位計11
の照射部11Aからのレーザー光の照射を継続しつつ、
レーザー変位計11による被測定物10の側面の測定を
行う。すなわち、θステージ15により被測定物10を
回転させながら、被測定物10の最下位置における一定
角度ごとの被測定物10の側面までの距離をレーザー変
位計11で測定する。被測定物10が1回転すると、レ
ーザー変位計11をZステージ13により上方に所定量
移動させて、同様に、被測定物10を回転させながら被
測定物10の側面までの距離をレーザー変位計11で測
定する。これを繰り返し、レーザー変位計11からのレ
ーザー光が被測定物10に当たらなくなれば、レーザー
変位計11による被測定物10の側面の三次元形状の測
定が終了する。
からのレーザー光の照射を停止し、レーザー変位計11
の照射部11Aからのレーザー光の照射を継続しつつ、
レーザー変位計11による被測定物10の側面の測定を
行う。すなわち、θステージ15により被測定物10を
回転させながら、被測定物10の最下位置における一定
角度ごとの被測定物10の側面までの距離をレーザー変
位計11で測定する。被測定物10が1回転すると、レ
ーザー変位計11をZステージ13により上方に所定量
移動させて、同様に、被測定物10を回転させながら被
測定物10の側面までの距離をレーザー変位計11で測
定する。これを繰り返し、レーザー変位計11からのレ
ーザー光が被測定物10に当たらなくなれば、レーザー
変位計11による被測定物10の側面の三次元形状の測
定が終了する。
【0015】その後、レーザー変位計12により得た被
測定物10の上面の三次元形状データとレーザー変位計
11により得た被測定物10の側面の三次元形状データ
とを合成することにより、被測定物10の全体の三次元
形状データが得られる。
測定物10の上面の三次元形状データとレーザー変位計
11により得た被測定物10の側面の三次元形状データ
とを合成することにより、被測定物10の全体の三次元
形状データが得られる。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図6に
示す従来の三次元形状測定装置では、前述したように、
レーザー変位計12による被測定物10の上面の測定と
レーザー変位計11による被測定物10の側面の測定
を、同時ではなく、順次に行っていたので、測定時間が
長いという欠点がある。
示す従来の三次元形状測定装置では、前述したように、
レーザー変位計12による被測定物10の上面の測定と
レーザー変位計11による被測定物10の側面の測定
を、同時ではなく、順次に行っていたので、測定時間が
長いという欠点がある。
【0017】そこで、本件発明者は、測定時間を短縮す
るべく、図6に示す三次元形状測定装置において、レー
ザー変位計12による被測定物10の上面の測定とレー
ザー変位計11による被測定物10の側面の測定を、同
時に行うようにしてみた。
るべく、図6に示す三次元形状測定装置において、レー
ザー変位計12による被測定物10の上面の測定とレー
ザー変位計11による被測定物10の側面の測定を、同
時に行うようにしてみた。
【0018】すなわち、測定中は、前記初期位置レーザ
ー変位計11,12の照射部11A,12Aから同時に
レーザー光を照射させる。そして、まず、被測定物10
の上面における回転軸O上の点までの距離をレーザー変
位計12で測定する。その後、Rステージ14を駆動し
てレーザー変位計12を所定量動かした後、θステージ
15により被測定物10を回転させながら、一定角度ご
との被測定物10の上面までの距離をレーザー変位計1
2で測定すると同時に、被測定物10の最下位置におけ
る一定角度ごとの被測定物10の側面までの距離をレー
ザー変位計11で測定する。被測定物10が1回転する
と、レーザー変位計12をRステージ14により更に所
定量移動させるとともに、レーザー変位計11をZステ
ージ13により上方に所定量移動させた後、同様に、θ
ステージ15により被測定物10を回転させながら、一
定角度ごとの被測定物10の上面までの距離をレーザー
変位計12で測定すると同時に、一定角度ごとの被測定
物10の側面までの距離をレーザー変位計11で測定す
る。そして、これを繰り返し、レーザー変位計12から
のレーザー光が被測定物10に当たらなくなれば、レー
ザー変位計12による被測定物10の上面の三次元形状
の測定が終了し、レーザー変位計11からのレーザー光
が被測定物10に当たらなくなれば、レーザー変位計1
1による被測定物10の側面の三次元形状の測定が終了
する。
ー変位計11,12の照射部11A,12Aから同時に
レーザー光を照射させる。そして、まず、被測定物10
の上面における回転軸O上の点までの距離をレーザー変
位計12で測定する。その後、Rステージ14を駆動し
てレーザー変位計12を所定量動かした後、θステージ
15により被測定物10を回転させながら、一定角度ご
との被測定物10の上面までの距離をレーザー変位計1
2で測定すると同時に、被測定物10の最下位置におけ
る一定角度ごとの被測定物10の側面までの距離をレー
ザー変位計11で測定する。被測定物10が1回転する
と、レーザー変位計12をRステージ14により更に所
定量移動させるとともに、レーザー変位計11をZステ
ージ13により上方に所定量移動させた後、同様に、θ
ステージ15により被測定物10を回転させながら、一
定角度ごとの被測定物10の上面までの距離をレーザー
変位計12で測定すると同時に、一定角度ごとの被測定
物10の側面までの距離をレーザー変位計11で測定す
る。そして、これを繰り返し、レーザー変位計12から
のレーザー光が被測定物10に当たらなくなれば、レー
ザー変位計12による被測定物10の上面の三次元形状
の測定が終了し、レーザー変位計11からのレーザー光
が被測定物10に当たらなくなれば、レーザー変位計1
1による被測定物10の側面の三次元形状の測定が終了
する。
【0019】その後、レーザー変位計12により得た被
測定物10の上面の三次元形状データとレーザー変位計
11により得た被測定物10の側面の三次元形状データ
とを合成することにより、被測定物10の全体の三次元
形状データが得られる。
測定物10の上面の三次元形状データとレーザー変位計
11により得た被測定物10の側面の三次元形状データ
とを合成することにより、被測定物10の全体の三次元
形状データが得られる。
【0020】しかし、このようにしてレーザー変位計1
1,12による同時測定を行った場合には、測定時間は
大幅に短縮するものの、三次元形状データ中に誤ったデ
ータが含まれ、測定の信頼性が低下してしまうことが判
明した。
1,12による同時測定を行った場合には、測定時間は
大幅に短縮するものの、三次元形状データ中に誤ったデ
ータが含まれ、測定の信頼性が低下してしまうことが判
明した。
【0021】以上説明した事情は、三角測距式レーザー
変位計のみならず、合焦方式の光距離センサなど他の種
々の光距離センサについても同様である。
変位計のみならず、合焦方式の光距離センサなど他の種
々の光距離センサについても同様である。
【0022】本発明は、前記事情に鑑みてなされたもの
で、測定の信頼性を低下させることなく、複数の光距離
センサを用いて各光距離センサによる同時計測を行うこ
とができ、測定時間を短縮させることができる三次元形
状測定装置を提供することを目的とする。
で、測定の信頼性を低下させることなく、複数の光距離
センサを用いて各光距離センサによる同時計測を行うこ
とができ、測定時間を短縮させることができる三次元形
状測定装置を提供することを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の第1の態様による三次元形状測定装置は、
各々が、被測定物に対して照射光を照射する照射部と、
前記被測定物からの反射光を受光する受光部とを備えた
複数の光距離センサと、前記光距離センサと前記被測定
物との間の相対位置を変更させる位置変更手段と、前記
複数の光距離センサの各々と前記被測定物との間の各相
対位置に応じた前記複数の光距離センサの受光部の出力
に基づいて、前記被測定物の三次元形状データを作製す
る三次元形状データ作製手段と、を備えた三次元形状測
定装置において、前記複数の光距離センサの各々の照射
部からの照射光の照射及び照射停止が繰り返されるとと
もに、前記複数の光距離センサのうちの1つの光距離セ
ンサの照射部からの照射光の照射中における当該光距離
センサの受光部の出力の前記三次元形状データ作製手段
による取り込み時には、前記複数の光距離センサの残り
の光距離センサの照射部からの照射光の照射が停止され
るように、前記複数の光距離センサの照射部を駆動す
る、駆動手段を更に備えたものである。
め、本発明の第1の態様による三次元形状測定装置は、
各々が、被測定物に対して照射光を照射する照射部と、
前記被測定物からの反射光を受光する受光部とを備えた
複数の光距離センサと、前記光距離センサと前記被測定
物との間の相対位置を変更させる位置変更手段と、前記
複数の光距離センサの各々と前記被測定物との間の各相
対位置に応じた前記複数の光距離センサの受光部の出力
に基づいて、前記被測定物の三次元形状データを作製す
る三次元形状データ作製手段と、を備えた三次元形状測
定装置において、前記複数の光距離センサの各々の照射
部からの照射光の照射及び照射停止が繰り返されるとと
もに、前記複数の光距離センサのうちの1つの光距離セ
ンサの照射部からの照射光の照射中における当該光距離
センサの受光部の出力の前記三次元形状データ作製手段
による取り込み時には、前記複数の光距離センサの残り
の光距離センサの照射部からの照射光の照射が停止され
るように、前記複数の光距離センサの照射部を駆動す
る、駆動手段を更に備えたものである。
【0024】本発明の第2の態様による三次元形状測定
装置は、各々が、被測定物に対して照射光を照射する照
射部と、前記被測定物からの反射光を受光し、該反射光
の受光位置に応じたレベルを示す信号を出力する受光部
とを備えた複数の光距離センサと、前記光距離センサと
前記被測定物との間の相対位置を変更させる位置変更手
段と、前記複数の光距離センサの各々と前記被測定物と
の間の各相対位置に応じた前記複数の光距離センサの受
光部の出力に基づいて、前記被測定物の三次元形状デー
タを作製する三次元形状データ作製手段と、を備えた三
次元形状測定装置において、前記複数の光距離センサの
各々の照射部からの照射光の照射及び照射停止が互いに
異なる周波数で繰り返されるように、前記複数の光距離
センサを駆動する駆動手段と、前記複数の光距離センサ
の各々の受光部の出力に対して、当該光距離センサの照
射部からの照射光の照射周波数に応じた周波数検波を行
う周波数検波手段と、を更に備え、前記三次元形状デー
タ作製手段は、周波数検波が行われた前記複数の光距離
センサの受光部の出力に基づいて、前記被測定物の三次
元形状データを作製するものである。
装置は、各々が、被測定物に対して照射光を照射する照
射部と、前記被測定物からの反射光を受光し、該反射光
の受光位置に応じたレベルを示す信号を出力する受光部
とを備えた複数の光距離センサと、前記光距離センサと
前記被測定物との間の相対位置を変更させる位置変更手
段と、前記複数の光距離センサの各々と前記被測定物と
の間の各相対位置に応じた前記複数の光距離センサの受
光部の出力に基づいて、前記被測定物の三次元形状デー
タを作製する三次元形状データ作製手段と、を備えた三
次元形状測定装置において、前記複数の光距離センサの
各々の照射部からの照射光の照射及び照射停止が互いに
異なる周波数で繰り返されるように、前記複数の光距離
センサを駆動する駆動手段と、前記複数の光距離センサ
の各々の受光部の出力に対して、当該光距離センサの照
射部からの照射光の照射周波数に応じた周波数検波を行
う周波数検波手段と、を更に備え、前記三次元形状デー
タ作製手段は、周波数検波が行われた前記複数の光距離
センサの受光部の出力に基づいて、前記被測定物の三次
元形状データを作製するものである。
【0025】本発明の第3の態様による三次元形状測定
装置は、各々が、被測定物に対して照射光を照射する照
射部と、前記被測定物からの反射光を受光し、該反射光
の受光位置に応じたレベルを示す信号を出力する受光部
とを備えた複数の光距離センサと、前記光距離センサと
前記被測定物との間の相対位置を変更させる位置変更手
段と、前記複数の光距離センサの各々と前記被測定物と
の間の各相対位置に応じた前記複数の光距離センサの受
光部の出力に基づいて、前記被測定物の三次元形状デー
タを作製する三次元形状データ作製手段と、を備えた三
次元形状測定装置において、前記複数の光距離センサの
各々の照射部からの照射光を互いに異なる周波数でチョ
ッピングする光学チョッパと、前記複数の光距離センサ
の各々の受光部の出力に対して、当該光距離センサの照
射部からの照射光のチョッピング周波数に応じた周波数
検波を行う周波数検波手段と、を更に備え、前記三次元
形状データ作製手段は、周波数検波が行われた前記複数
の光距離センサの受光部の出力に基づいて、前記被測定
物の三次元形状データを作製するものである。
装置は、各々が、被測定物に対して照射光を照射する照
射部と、前記被測定物からの反射光を受光し、該反射光
の受光位置に応じたレベルを示す信号を出力する受光部
とを備えた複数の光距離センサと、前記光距離センサと
前記被測定物との間の相対位置を変更させる位置変更手
段と、前記複数の光距離センサの各々と前記被測定物と
の間の各相対位置に応じた前記複数の光距離センサの受
光部の出力に基づいて、前記被測定物の三次元形状デー
タを作製する三次元形状データ作製手段と、を備えた三
次元形状測定装置において、前記複数の光距離センサの
各々の照射部からの照射光を互いに異なる周波数でチョ
ッピングする光学チョッパと、前記複数の光距離センサ
の各々の受光部の出力に対して、当該光距離センサの照
射部からの照射光のチョッピング周波数に応じた周波数
検波を行う周波数検波手段と、を更に備え、前記三次元
形状データ作製手段は、周波数検波が行われた前記複数
の光距離センサの受光部の出力に基づいて、前記被測定
物の三次元形状データを作製するものである。
【0026】
【作用】前述したようにして、図6に示す三次元形状測
定装置において、レーザー変位計12による被測定物1
0の上面の測定とレーザー変位計11による被測定物1
0の側面の測定を同時に行う場合に、三次元形状データ
中に誤ったデータが含まれ、測定の信頼性が低下してし
まう原因は、本件発明者の研究により、レーザー変位計
11,12間の相互干渉であることが判明した。
定装置において、レーザー変位計12による被測定物1
0の上面の測定とレーザー変位計11による被測定物1
0の側面の測定を同時に行う場合に、三次元形状データ
中に誤ったデータが含まれ、測定の信頼性が低下してし
まう原因は、本件発明者の研究により、レーザー変位計
11,12間の相互干渉であることが判明した。
【0027】すなわち、前述したようにしてレーザー変
位計11,12による同時測定を行うと、例えば、図7
に示すような、レーザー変位計11,12の位置関係及
び被測定物10の形状の場合には、レーザー変位計11
の受光部11Bは、自分の照射部11Aから照射された
レーザー光18aによる反射光18bを受光するのみな
らず、レーザー変位計12の照射部12Aから照射され
たレーザー光19aによる反射光19cをも受光してし
まう。なお、レーザー光19aによる反射光19bがレ
ーザー変位計12による測定に用いられるものである
が、反射光19cも、被測定物10の形状による乱反射
により生ずるのである。したがって、レーザー変位計1
1の出力が異常となり、その場合に得られたデータが誤
ったものとなる。
位計11,12による同時測定を行うと、例えば、図7
に示すような、レーザー変位計11,12の位置関係及
び被測定物10の形状の場合には、レーザー変位計11
の受光部11Bは、自分の照射部11Aから照射された
レーザー光18aによる反射光18bを受光するのみな
らず、レーザー変位計12の照射部12Aから照射され
たレーザー光19aによる反射光19cをも受光してし
まう。なお、レーザー光19aによる反射光19bがレ
ーザー変位計12による測定に用いられるものである
が、反射光19cも、被測定物10の形状による乱反射
により生ずるのである。したがって、レーザー変位計1
1の出力が異常となり、その場合に得られたデータが誤
ったものとなる。
【0028】本発明は、このような知見に基づいてなさ
れたもので、複数の光距離センサによる同時測定時にお
ける光距離センサ間の相互干渉を防ぎ、測定の信頼性を
低下させることなく、測定時間の短縮を図ることができ
るものである。
れたもので、複数の光距離センサによる同時測定時にお
ける光距離センサ間の相互干渉を防ぎ、測定の信頼性を
低下させることなく、測定時間の短縮を図ることができ
るものである。
【0029】すなわち、前記第1の態様によれば、複数
の光距離センサの各々の照射部からの照射光の照射及び
照射停止が繰り返されるとともに、前記複数の光距離セ
ンサのうちの1つの光距離センサの照射部からの照射光
の照射中における当該光距離センサの受光部の出力の前
記三次元形状データ作製手段による取り込み時には、前
記複数の光距離センサの残りの光距離センサの照射部か
らの照射光の照射が停止されるように、前記複数の光距
離センサの照射部が駆動手段により駆動される。したが
って、瞬時的に見ると、ある光距離センサによる測定時
には他の光距離センサから照射光が発せられないので、
複数の光距離センサ間の相互干渉が防止され、測定の信
頼性が低下することがない。そして、複数の光距離セン
サの各々の照射部からの照射光の照射及び照射停止が繰
り返されるので、全体的に見ると、各光距離センサによ
る測定が実質的に同時に行われることになる。
の光距離センサの各々の照射部からの照射光の照射及び
照射停止が繰り返されるとともに、前記複数の光距離セ
ンサのうちの1つの光距離センサの照射部からの照射光
の照射中における当該光距離センサの受光部の出力の前
記三次元形状データ作製手段による取り込み時には、前
記複数の光距離センサの残りの光距離センサの照射部か
らの照射光の照射が停止されるように、前記複数の光距
離センサの照射部が駆動手段により駆動される。したが
って、瞬時的に見ると、ある光距離センサによる測定時
には他の光距離センサから照射光が発せられないので、
複数の光距離センサ間の相互干渉が防止され、測定の信
頼性が低下することがない。そして、複数の光距離セン
サの各々の照射部からの照射光の照射及び照射停止が繰
り返されるので、全体的に見ると、各光距離センサによ
る測定が実質的に同時に行われることになる。
【0030】また、前記第2の態様によれば、複数の光
距離センサの各々の照射部からの照射光の照射及び照射
停止が互いに異なる周波数で繰り返されるように、前記
複数の光距離センサが駆動手段により駆動される。した
がって、ある光距離センサの受光部に他の光距離センサ
からの照射光による反射光も入射すると、当該光距離セ
ンサの受光部の出力には、当該光距離センサからの照射
光による反射光に対応する所定の周波数成分と他の光距
離センサからの照射光による反射光に対応する他の周波
数成分とが含まれることになる。しかし、当該光距離セ
ンサの受光部の出力に対して、周波数検波手段によっ
て、当該光距離センサの照射部からの照射光の照射周波
数に応じた周波数検波が行われ、この周波数検波が行わ
れた出力がデータとして採用される。その結果、周波数
検波手段によって、当該光距離センサの受光部の出力か
ら、当該光距離センサからの照射光による反射光に対応
する所定の周波数成分のみが抽出され、当該光距離セン
サからの照射光による反射光に対応する信号のみがデー
タとして採用されることになる。したがって、複数の光
距離センサによる同時測定時における光距離センサ間の
相互干渉が防止され、測定の信頼性が低下することな
く、測定時間が短縮する。
距離センサの各々の照射部からの照射光の照射及び照射
停止が互いに異なる周波数で繰り返されるように、前記
複数の光距離センサが駆動手段により駆動される。した
がって、ある光距離センサの受光部に他の光距離センサ
からの照射光による反射光も入射すると、当該光距離セ
ンサの受光部の出力には、当該光距離センサからの照射
光による反射光に対応する所定の周波数成分と他の光距
離センサからの照射光による反射光に対応する他の周波
数成分とが含まれることになる。しかし、当該光距離セ
ンサの受光部の出力に対して、周波数検波手段によっ
て、当該光距離センサの照射部からの照射光の照射周波
数に応じた周波数検波が行われ、この周波数検波が行わ
れた出力がデータとして採用される。その結果、周波数
検波手段によって、当該光距離センサの受光部の出力か
ら、当該光距離センサからの照射光による反射光に対応
する所定の周波数成分のみが抽出され、当該光距離セン
サからの照射光による反射光に対応する信号のみがデー
タとして採用されることになる。したがって、複数の光
距離センサによる同時測定時における光距離センサ間の
相互干渉が防止され、測定の信頼性が低下することな
く、測定時間が短縮する。
【0031】前記第2の態様では、光距離センサの照射
部を駆動する駆動手段を用いて照射光の被測定物への照
射と照射停止の繰り返しが行われているのに対し、前記
第3の態様では、光学チョッパを用いて照射光の被測定
物への照射と照射停止の繰り返しが行われている点で、
両者は異なるが、原理的には両者は全く同一である。し
たがって、前記第3の態様の場合にも、複数の光距離セ
ンサによる同時測定時における光距離センサ間の相互干
渉が防止され、測定の信頼性が低下することなく、測定
時間が短縮する。
部を駆動する駆動手段を用いて照射光の被測定物への照
射と照射停止の繰り返しが行われているのに対し、前記
第3の態様では、光学チョッパを用いて照射光の被測定
物への照射と照射停止の繰り返しが行われている点で、
両者は異なるが、原理的には両者は全く同一である。し
たがって、前記第3の態様の場合にも、複数の光距離セ
ンサによる同時測定時における光距離センサ間の相互干
渉が防止され、測定の信頼性が低下することなく、測定
時間が短縮する。
【0032】
【実施例】以下、本発明の種々の実施例による三次元形
状測定装置について、図面を参照して説明する。なお、
以下の本実施例では、被測定物は、歯科用作業模型とす
る。もっとも、被測定物はこれに限定されるものではな
く、本発明による三次元形状測定装置は他の任意のもの
も測定することができる。
状測定装置について、図面を参照して説明する。なお、
以下の本実施例では、被測定物は、歯科用作業模型とす
る。もっとも、被測定物はこれに限定されるものではな
く、本発明による三次元形状測定装置は他の任意のもの
も測定することができる。
【0033】まず、本発明の第1の実施例による三次元
形状測定装置について、図1及び図2を参照して説明す
る。
形状測定装置について、図1及び図2を参照して説明す
る。
【0034】図1は、本発明の第1の実施例による三次
元形状測定装置の全体構成を示す図である。
元形状測定装置の全体構成を示す図である。
【0035】本実施例による三次元形状測定装置は、図
1に示すように、被測定物20の側面方向の距離を測定
する側面測定用の光距離センサとしてのレーザー変位計
21と、被測定物20の上面方向の距離を測定する上面
測定用の光距離センサとしてのレーザー変位計22と、
レーザー変位計21を図1中の上下方向(鉛直方向、Z
方向)に移動させるZステージ23と、レーザー変位計
22を図1中の左右方向に移動させるRステージ24
と、被測定物20を鉛直方向に延びる回転軸Oを中心と
して回転させるθステージ25と、θステージ25上に
搭載され水平面内において被測定物20を格子状に移動
させるX−Yステージ26、各ステージ23,24,2
5を支持する基盤27と、を備えている。
1に示すように、被測定物20の側面方向の距離を測定
する側面測定用の光距離センサとしてのレーザー変位計
21と、被測定物20の上面方向の距離を測定する上面
測定用の光距離センサとしてのレーザー変位計22と、
レーザー変位計21を図1中の上下方向(鉛直方向、Z
方向)に移動させるZステージ23と、レーザー変位計
22を図1中の左右方向に移動させるRステージ24
と、被測定物20を鉛直方向に延びる回転軸Oを中心と
して回転させるθステージ25と、θステージ25上に
搭載され水平面内において被測定物20を格子状に移動
させるX−Yステージ26、各ステージ23,24,2
5を支持する基盤27と、を備えている。
【0036】前記レーザー変位計21,22は、図8に
示した変位計1と基本的には同様の構成を有している。
すなわち、レーザー変位計21は、被測定物20に対し
てスポット状のレーザ光を照射する照射部21Aと、被
測定物20からの反射光を受光する受光部21Bとを有
している。受光部21Bは、受光位置に応じた信号を出
力するPSDやCCDなどの1次元受光センサ(図示せ
ず)と、前記反射光(被測定物20上の照射光による
像)を前記1次元受光センサの受光面上に投影させる受
光レンズ(図示せず)とを有している。同様に、レーザ
ー変位計22は、被測定物20に対してスポット状のレ
ーザ光を照射する照射部22Aと、被測定物20からの
反射光を受光する受光部22Bとを有している。受光部
22Bは、受光位置に応じた信号を出力する1次元受光
センサ(図示せず)と、前記反射光(被測定物20上の
照射光による像)を前記1次元受光センサの受光面上に
投影させる受光レンズ(図示せず)とを有している。な
お、照射部21A,22Aは同一波長(例えば、670
nm)のレーザー光を照射し、受光部21B,22Bは
その波長の光を受光する。もっとも、照射部21A,2
2Aは互いに異なる波長のレーザー光を照射してもよ
い。
示した変位計1と基本的には同様の構成を有している。
すなわち、レーザー変位計21は、被測定物20に対し
てスポット状のレーザ光を照射する照射部21Aと、被
測定物20からの反射光を受光する受光部21Bとを有
している。受光部21Bは、受光位置に応じた信号を出
力するPSDやCCDなどの1次元受光センサ(図示せ
ず)と、前記反射光(被測定物20上の照射光による
像)を前記1次元受光センサの受光面上に投影させる受
光レンズ(図示せず)とを有している。同様に、レーザ
ー変位計22は、被測定物20に対してスポット状のレ
ーザ光を照射する照射部22Aと、被測定物20からの
反射光を受光する受光部22Bとを有している。受光部
22Bは、受光位置に応じた信号を出力する1次元受光
センサ(図示せず)と、前記反射光(被測定物20上の
照射光による像)を前記1次元受光センサの受光面上に
投影させる受光レンズ(図示せず)とを有している。な
お、照射部21A,22Aは同一波長(例えば、670
nm)のレーザー光を照射し、受光部21B,22Bは
その波長の光を受光する。もっとも、照射部21A,2
2Aは互いに異なる波長のレーザー光を照射してもよ
い。
【0037】なお、被測定物20が、材質が超硬石膏で
ある直径10mm、高さ10mm程度の歯科用作業模型
である場合には、例えば、Zステージ21は図1中の上
下方向に±10mmの可動範囲を持ち、Rステージ24
は図1中の左右方向に±10mmの可動範囲を持ち、X
−Yステージ26は±25mmの可動範囲を持つ。θス
テージ25は、X−Yステージ26及び被測定物20を
360°往復回転させる。
ある直径10mm、高さ10mm程度の歯科用作業模型
である場合には、例えば、Zステージ21は図1中の上
下方向に±10mmの可動範囲を持ち、Rステージ24
は図1中の左右方向に±10mmの可動範囲を持ち、X
−Yステージ26は±25mmの可動範囲を持つ。θス
テージ25は、X−Yステージ26及び被測定物20を
360°往復回転させる。
【0038】また、本実施例による三次元形状測定装置
は、図1に示すように、各ステージ23,24,25,
26の駆動モータ(図示せず)を駆動するモータ駆動回
路28と、各レーザー変位計21,22を駆動するセン
サ駆動回路29と、各種の演算及び制御を行う演算・制
御部30と、測定者が演算・制御部30に各種の指令を
与えるためのキーボード等の入力装置31と、各ステー
ジ23〜26の位置(又は駆動量)を検出するエンコー
ダ等の位置検出器(図示せず)と、レーザー変位計2
1,22の受光部21B,22Bの出力をA/D変換等
の信号処理を行う信号処理回路35,36と、を備えて
いる。
は、図1に示すように、各ステージ23,24,25,
26の駆動モータ(図示せず)を駆動するモータ駆動回
路28と、各レーザー変位計21,22を駆動するセン
サ駆動回路29と、各種の演算及び制御を行う演算・制
御部30と、測定者が演算・制御部30に各種の指令を
与えるためのキーボード等の入力装置31と、各ステー
ジ23〜26の位置(又は駆動量)を検出するエンコー
ダ等の位置検出器(図示せず)と、レーザー変位計2
1,22の受光部21B,22Bの出力をA/D変換等
の信号処理を行う信号処理回路35,36と、を備えて
いる。
【0039】演算・制御部30は、マイクロコンピュー
タ等から構成され、主として、モータ駆動回路28及び
センサ駆動回路29の動作を制御する駆動制御部32と
しての機能と、レーザー変位計21,22からの出力及
び前記位置検出器からの出力(各ステージの位置検出信
号)に基づいて三次元形状データを作製する三次元形状
データ作製部33としての機能を担う。
タ等から構成され、主として、モータ駆動回路28及び
センサ駆動回路29の動作を制御する駆動制御部32と
しての機能と、レーザー変位計21,22からの出力及
び前記位置検出器からの出力(各ステージの位置検出信
号)に基づいて三次元形状データを作製する三次元形状
データ作製部33としての機能を担う。
【0040】なお、本実施例では、三次元形状データ作
製部33で作製された三次元形状データは、これを利用
するCAD装置34に供給されるようになっている。
製部33で作製された三次元形状データは、これを利用
するCAD装置34に供給されるようになっている。
【0041】そして、本実施例では、駆動制御部32の
制御を受けたセンサ駆動回路29は、レーザー変位計2
1,22の照射部21A,22Aからのレーザー光の照
射及び照射停止が繰り返され、レーザー変位計21の照
射部21Aからのレーザー光の照射中における当該レー
ザー変位計21の受光部21Bの出力の三次元形状デー
タ作製部33による取り込み時には、レーザー変位計2
2の照射部22Aからのレーザー光の照射が停止され、
レーザー変位計22の照射部22Aからのレーザー光の
照射中における当該レーザー変位計22の受光部22B
の出力の三次元形状データ作製部33による取り込み時
には、レーザー変位計21の照射部21Aからのレーザ
ー光の照射が停止されるように、レーザー変位計21,
22の照射部21A,22Aを駆動する。
制御を受けたセンサ駆動回路29は、レーザー変位計2
1,22の照射部21A,22Aからのレーザー光の照
射及び照射停止が繰り返され、レーザー変位計21の照
射部21Aからのレーザー光の照射中における当該レー
ザー変位計21の受光部21Bの出力の三次元形状デー
タ作製部33による取り込み時には、レーザー変位計2
2の照射部22Aからのレーザー光の照射が停止され、
レーザー変位計22の照射部22Aからのレーザー光の
照射中における当該レーザー変位計22の受光部22B
の出力の三次元形状データ作製部33による取り込み時
には、レーザー変位計21の照射部21Aからのレーザ
ー光の照射が停止されるように、レーザー変位計21,
22の照射部21A,22Aを駆動する。
【0042】具体的には、例えば、駆動制御部32の制
御を受けたセンサ駆動回路29は、図2に示すように、
レーザー変位計21,22の照射部21A,22Aを駆
動する。
御を受けたセンサ駆動回路29は、図2に示すように、
レーザー変位計21,22の照射部21A,22Aを駆
動する。
【0043】図2は、照射部21A,22Aのレーザー
光照射タイミングと、受光部21B,22Bの出力(本
例では、各受光部が受光センサとしてPSDを有し、P
SDの出力がそのまま又は増幅されたものが各受光部の
出力となるものとしている。)と、三次元形状データ作
製部33による各受光部21B,22Bの出力の取り込
みタイミングとの間の関係を示す図である。
光照射タイミングと、受光部21B,22Bの出力(本
例では、各受光部が受光センサとしてPSDを有し、P
SDの出力がそのまま又は増幅されたものが各受光部の
出力となるものとしている。)と、三次元形状データ作
製部33による各受光部21B,22Bの出力の取り込
みタイミングとの間の関係を示す図である。
【0044】図2(a)は、レーザー変位計21の照射
部21Aのレーザー光照射タイミングを示す。照射部2
1Aは、周期T(例えば、6msec)でレーザー光の
照射(ON)と照射停止(OFF)とを繰り返し、その
照射時間はΔt(例えば、2msec)である。
部21Aのレーザー光照射タイミングを示す。照射部2
1Aは、周期T(例えば、6msec)でレーザー光の
照射(ON)と照射停止(OFF)とを繰り返し、その
照射時間はΔt(例えば、2msec)である。
【0045】図2(b)は、レーザー変位計22の照射
部22Aのレーザー光照射タイミングを示す。照射部2
2Aは、レーザー変位計21と同一の周期Tでレーザー
光の照射(ON)と照射停止(OFF)とを繰り返し、
その照射時間Δtもレーザー変位計21と同一である。
そして、照射部22Aのレーザー光照射タイミングは、
照射部21Aのレーザー光照射タイミングとΔT(例え
ば、3msec)ずれている。
部22Aのレーザー光照射タイミングを示す。照射部2
2Aは、レーザー変位計21と同一の周期Tでレーザー
光の照射(ON)と照射停止(OFF)とを繰り返し、
その照射時間Δtもレーザー変位計21と同一である。
そして、照射部22Aのレーザー光照射タイミングは、
照射部21Aのレーザー光照射タイミングとΔT(例え
ば、3msec)ずれている。
【0046】図2(c)はレーザー変位計21の受光部
21Bの出力を示し、図2(d)はレーザー変位計22
の受光部21Bの出力を示す。
21Bの出力を示し、図2(d)はレーザー変位計22
の受光部21Bの出力を示す。
【0047】また、図2(e)はレーザー変位計21の
受光部21Bの出力の三次元形状データ作製部33によ
る取り込みタイミングを示し、図2(f)はレーザー変
位計22の受光部22Bの出力の三次元形状データ作製
部33による取り込みタイミングを示す。なお、図2
(e)及び(f)において、立ち上がり期間がデータ取
り込み期間を示している。
受光部21Bの出力の三次元形状データ作製部33によ
る取り込みタイミングを示し、図2(f)はレーザー変
位計22の受光部22Bの出力の三次元形状データ作製
部33による取り込みタイミングを示す。なお、図2
(e)及び(f)において、立ち上がり期間がデータ取
り込み期間を示している。
【0048】次に、本実施例による三次元形状測定装置
の動作の一例について、説明する。
の動作の一例について、説明する。
【0049】まず、Rステージ24を駆動してレーザー
変位計22の照射光軸をθステージ25の回転軸Oと一
致させるとともに、X−Yステージ26を駆動して被測
定物20の中心をθステージ25の回転軸Oとほぼ一致
させる。また、Zステージ23を駆動してレーザー変位
計21の照射光軸を被測定物20の最下位置に当てる。
これらの位置が初期位置である。なお、レーザー変位計
21の照射光軸とレーザー変位計22の照射光軸とは、
直交している。
変位計22の照射光軸をθステージ25の回転軸Oと一
致させるとともに、X−Yステージ26を駆動して被測
定物20の中心をθステージ25の回転軸Oとほぼ一致
させる。また、Zステージ23を駆動してレーザー変位
計21の照射光軸を被測定物20の最下位置に当てる。
これらの位置が初期位置である。なお、レーザー変位計
21の照射光軸とレーザー変位計22の照射光軸とは、
直交している。
【0050】この初期状態において、駆動制御部32に
よる制御を受けたセンサ駆動回路29が、図2(a),
(b)に示すような照射パターンとなるように、レーザ
ー変位計21,22の照射部21A,22Aを駆動す
る。
よる制御を受けたセンサ駆動回路29が、図2(a),
(b)に示すような照射パターンとなるように、レーザ
ー変位計21,22の照射部21A,22Aを駆動す
る。
【0051】そして、まず、被測定物20の上面におけ
る回転軸O上の点までの距離をレーザー変位計22で測
定する。その後、Rステージ24を駆動してレーザー変
位計22を所定量動かした後、θステージ25により被
測定物20を回転させながら、一定角度ごとの被測定物
20の上面までの距離をレーザー変位計22で測定する
と同時に、被測定物20の最下位置における一定角度ご
との被測定物20の側面までの距離をレーザー変位計2
1で測定する。被測定物20が1回転すると、レーザー
変位計22をRステージ24により更に所定量移動させ
るとともに、レーザー変位計21をZステージ23によ
り上方に所定量移動させた後、同様に、θステージ25
により被測定物20を回転させながら、一定角度ごとの
被測定物20の上面までの距離をレーザー変位計22で
測定すると同時に、一定角度ごとの被測定物20の側面
までの距離をレーザー変位計21で測定する。そして、
これを繰り返し、レーザー変位計22からのレーザー光
が被測定物20に当たらなくなれば、レーザー変位計2
2による被測定物20の上面の三次元形状の測定が終了
し、レーザー変位計21からのレーザー光が被測定物2
0に当たらなくなれば、レーザー変位計21による被測
定物20の側面の三次元形状の測定が終了する。
る回転軸O上の点までの距離をレーザー変位計22で測
定する。その後、Rステージ24を駆動してレーザー変
位計22を所定量動かした後、θステージ25により被
測定物20を回転させながら、一定角度ごとの被測定物
20の上面までの距離をレーザー変位計22で測定する
と同時に、被測定物20の最下位置における一定角度ご
との被測定物20の側面までの距離をレーザー変位計2
1で測定する。被測定物20が1回転すると、レーザー
変位計22をRステージ24により更に所定量移動させ
るとともに、レーザー変位計21をZステージ23によ
り上方に所定量移動させた後、同様に、θステージ25
により被測定物20を回転させながら、一定角度ごとの
被測定物20の上面までの距離をレーザー変位計22で
測定すると同時に、一定角度ごとの被測定物20の側面
までの距離をレーザー変位計21で測定する。そして、
これを繰り返し、レーザー変位計22からのレーザー光
が被測定物20に当たらなくなれば、レーザー変位計2
2による被測定物20の上面の三次元形状の測定が終了
し、レーザー変位計21からのレーザー光が被測定物2
0に当たらなくなれば、レーザー変位計21による被測
定物20の側面の三次元形状の測定が終了する。
【0052】なお、以上の説明において、レーザー変位
計21,22による距離の測定は、三次元形状データ作
製部33が各ステージの位置検出信号に応じて、かつ、
図2(e),(f)に示すような関係を満たすように、
レーザー変位計21,22の出力を取り込むことにより
行われる。
計21,22による距離の測定は、三次元形状データ作
製部33が各ステージの位置検出信号に応じて、かつ、
図2(e),(f)に示すような関係を満たすように、
レーザー変位計21,22の出力を取り込むことにより
行われる。
【0053】その後、三次元形状データ作製部33が、
レーザー変位計22により得た被測定物20の上面の三
次元形状データとレーザー変位計21により得た被測定
物20の側面の三次元形状データとを合成することによ
り、被測定物20の全体の三次元形状データが得られ
る。
レーザー変位計22により得た被測定物20の上面の三
次元形状データとレーザー変位計21により得た被測定
物20の側面の三次元形状データとを合成することによ
り、被測定物20の全体の三次元形状データが得られ
る。
【0054】このようにして、レーザー変位計21,2
2による同時測定が行われるので、従来に比べて測定時
間が大幅に短縮する。
2による同時測定が行われるので、従来に比べて測定時
間が大幅に短縮する。
【0055】そして、本実施例では、前述したように、
レーザー変位計21,22の照射部21A,22Aから
のレーザー光の照射及び照射停止が繰り返され、レーザ
ー変位計21の照射部21Aからのレーザー光の照射中
における当該レーザー変位計21の受光部21Bの出力
の三次元形状データ作製部33による取り込み時には、
レーザー変位計22の照射部22Aからのレーザー光の
照射が停止され、レーザー変位計22の照射部22Aか
らのレーザー光の照射中における当該レーザー変位計2
2の受光部22Bの出力の三次元形状データ作製部33
による取り込み時には、レーザー変位計21の照射部2
1Aからのレーザー光の照射が停止される。
レーザー変位計21,22の照射部21A,22Aから
のレーザー光の照射及び照射停止が繰り返され、レーザ
ー変位計21の照射部21Aからのレーザー光の照射中
における当該レーザー変位計21の受光部21Bの出力
の三次元形状データ作製部33による取り込み時には、
レーザー変位計22の照射部22Aからのレーザー光の
照射が停止され、レーザー変位計22の照射部22Aか
らのレーザー光の照射中における当該レーザー変位計2
2の受光部22Bの出力の三次元形状データ作製部33
による取り込み時には、レーザー変位計21の照射部2
1Aからのレーザー光の照射が停止される。
【0056】したがって、瞬時的に見ると、レーザー変
位計21,22の一方による測定時には他方のレーザー
変位計からレーザー光が発せられないので、レーザー変
位計21,22間の相互干渉が防止され、測定の信頼性
が低下することがない。
位計21,22の一方による測定時には他方のレーザー
変位計からレーザー光が発せられないので、レーザー変
位計21,22間の相互干渉が防止され、測定の信頼性
が低下することがない。
【0057】次に、本発明の第2の実施例による三次元
形状測定装置について、図3を参照して説明する。
形状測定装置について、図3を参照して説明する。
【0058】図3は、本発明の第2の実施例による三次
元形状測定装置の全体構成を示す図である。図3におい
て、図1中の構成要素と同一又は対応する構成要素には
同一符号を付し、重複した説明は省略する。
元形状測定装置の全体構成を示す図である。図3におい
て、図1中の構成要素と同一又は対応する構成要素には
同一符号を付し、重複した説明は省略する。
【0059】本実施例が前述した第1の実施例と異なる
所は、以下の点である。
所は、以下の点である。
【0060】前記第1の実施例では、レーザー変位計2
1,22として、それらの受光部21B,22Bが被測
定物20からの反射光の受光位置に応じたレベルを示す
信号を出力するレーザー変位計以外にも、例えば、受光
センサとしてCCD等を有するレーザー変位計を用いる
ことができるが、本実施例では、レーザー変位計21,
22として、それらの受光部21B,22Bが被測定物
20からの反射光の受光位置に応じたレベルを示す信号
を出力するものが用いられる。例えば、レーザー変位計
21,22として、受光部21B,22Bが受光センサ
としてPSDを有するレーザー変位計が用いられる。な
お、受光部21B,22Bは、被測定物20からの反射
光の受光位置に応じたレベルのアナログ信号を出力して
もよいし、そのアナログ信号をA/D変換したデジタル
信号を出力してもよい。
1,22として、それらの受光部21B,22Bが被測
定物20からの反射光の受光位置に応じたレベルを示す
信号を出力するレーザー変位計以外にも、例えば、受光
センサとしてCCD等を有するレーザー変位計を用いる
ことができるが、本実施例では、レーザー変位計21,
22として、それらの受光部21B,22Bが被測定物
20からの反射光の受光位置に応じたレベルを示す信号
を出力するものが用いられる。例えば、レーザー変位計
21,22として、受光部21B,22Bが受光センサ
としてPSDを有するレーザー変位計が用いられる。な
お、受光部21B,22Bは、被測定物20からの反射
光の受光位置に応じたレベルのアナログ信号を出力して
もよいし、そのアナログ信号をA/D変換したデジタル
信号を出力してもよい。
【0061】また、本実施例では、駆動制御部32の制
御を受けたセンサ駆動回路29は、レーザー変位計2
1,22の各々の照射部21A,22Aからのレーザー
光の照射及び照射停止が互いに異なる周波数f1,f2で
繰り返されるように、レーザー変位計21,22の照射
部21A,22Aを駆動する。例えば、センサ駆動回路
29は、照射部21Aからのレーザー光の照射及び照射
停止がf1=6kHzの周波数で繰り返され、照射部2
2Aからのレーザー光の照射及び照射停止がf2=4k
Hzの周波数で繰り返されるように、照射部21A,2
2Aを駆動する。
御を受けたセンサ駆動回路29は、レーザー変位計2
1,22の各々の照射部21A,22Aからのレーザー
光の照射及び照射停止が互いに異なる周波数f1,f2で
繰り返されるように、レーザー変位計21,22の照射
部21A,22Aを駆動する。例えば、センサ駆動回路
29は、照射部21Aからのレーザー光の照射及び照射
停止がf1=6kHzの周波数で繰り返され、照射部2
2Aからのレーザー光の照射及び照射停止がf2=4k
Hzの周波数で繰り返されるように、照射部21A,2
2Aを駆動する。
【0062】また、本実施例では、レーザー変位計21
の受光部21Bの出力に対して、当該レーザー変位計2
1の照射部21Aからのレーザー光の照射周波数f1に
応じた周波数検波を行う周波数検波手段としてのフィル
タ37と、レーザー変位計22の受光部22Bの出力に
対して、当該レーザー変位計22の照射部22Aからの
レーザー光の照射周波数f2に応じた周波数検波を行う
周波数検波手段としてのフィルタ38と、を更に備えて
いる。フィルタ37,38としては、受光部21B,2
2Bの出力がアナログ信号である場合にはアナログフィ
ルタが用いられ、受光部21B,22Bの出力がディジ
タル信号である場合にはディジタルフィルタが用いられ
る。
の受光部21Bの出力に対して、当該レーザー変位計2
1の照射部21Aからのレーザー光の照射周波数f1に
応じた周波数検波を行う周波数検波手段としてのフィル
タ37と、レーザー変位計22の受光部22Bの出力に
対して、当該レーザー変位計22の照射部22Aからの
レーザー光の照射周波数f2に応じた周波数検波を行う
周波数検波手段としてのフィルタ38と、を更に備えて
いる。フィルタ37,38としては、受光部21B,2
2Bの出力がアナログ信号である場合にはアナログフィ
ルタが用いられ、受光部21B,22Bの出力がディジ
タル信号である場合にはディジタルフィルタが用いられ
る。
【0063】そして、三次元形状データ作製部33は、
周波数検波が行われた受光部21B,22Bの出力、す
なわち、フィルタ37,38の出力に基づいて、被測定
物の三次元形状データを作製する。
周波数検波が行われた受光部21B,22Bの出力、す
なわち、フィルタ37,38の出力に基づいて、被測定
物の三次元形状データを作製する。
【0064】以上説明したように、本実施例による三次
元形状測定装置は、レーザー変位計21,22の照射部
21A,22Aのレーザー光の照射パターンとフィルタ
37,38の追加の点で前記第1の実施例と異なるが、
前記第1の実施例と同様に動作する。ただし、本実施例
では、レーザー変位計21,22による距離の測定は、
三次元形状データ作製部33が各ステージの位置検出信
号に応じて、フィルタ37,38の出力を取り込むこと
により行われる。
元形状測定装置は、レーザー変位計21,22の照射部
21A,22Aのレーザー光の照射パターンとフィルタ
37,38の追加の点で前記第1の実施例と異なるが、
前記第1の実施例と同様に動作する。ただし、本実施例
では、レーザー変位計21,22による距離の測定は、
三次元形状データ作製部33が各ステージの位置検出信
号に応じて、フィルタ37,38の出力を取り込むこと
により行われる。
【0065】そして、本実施例によれば、前述したよう
に、レーザー変位計21,22の各々の照射部21A,
22Aからのレーザー光の照射及び照射停止が互いに異
なる周波数f1,f2で繰り返される。したがって、レー
ザー変位計21の受光部21Bにレーザー変位計22か
らのレーザー光による反射光も入射すると、当該レーザ
ー変位計21の受光部21Bの出力には、当該レーザー
変位計21からのレーザー光による反射光に対応する所
定の周波数成分と他のレーザー変位計22からのレーザ
ー光による反射光に対応する他の周波数成分とが含まれ
ることになる。同様に、レーザー変位計22の受光部2
2Bにレーザー変位計22からのレーザー光による反射
光も入射すると、当該レーザー変位計22の受光部22
Bの出力には、当該レーザー変位計22からのレーザー
光による反射光に対応する所定の周波数成分と他のレー
ザー変位計21からのレーザー光による反射光に対応す
る他の周波数成分とが含まれることになる。
に、レーザー変位計21,22の各々の照射部21A,
22Aからのレーザー光の照射及び照射停止が互いに異
なる周波数f1,f2で繰り返される。したがって、レー
ザー変位計21の受光部21Bにレーザー変位計22か
らのレーザー光による反射光も入射すると、当該レーザ
ー変位計21の受光部21Bの出力には、当該レーザー
変位計21からのレーザー光による反射光に対応する所
定の周波数成分と他のレーザー変位計22からのレーザ
ー光による反射光に対応する他の周波数成分とが含まれ
ることになる。同様に、レーザー変位計22の受光部2
2Bにレーザー変位計22からのレーザー光による反射
光も入射すると、当該レーザー変位計22の受光部22
Bの出力には、当該レーザー変位計22からのレーザー
光による反射光に対応する所定の周波数成分と他のレー
ザー変位計21からのレーザー光による反射光に対応す
る他の周波数成分とが含まれることになる。
【0066】しかし、レーザー変位計21の受光部21
Bの出力に対して、フィルタ37によって、当該レーザ
ー変位計21の照射部21Aからのレーザー光の照射周
波数に応じた周波数検波が行われ、この周波数検波が行
われた出力が三次元形状データ作製部33によりデータ
として採用される。また、レーザー変位計22の受光部
22Bの出力に対して、フィルタ38によって、当該レ
ーザー変位計22の照射部22Aからのレーザー光の照
射周波数に応じた周波数検波が行われ、この周波数検波
が行われた出力が三次元形状データ作製部33によりデ
ータとして採用される。
Bの出力に対して、フィルタ37によって、当該レーザ
ー変位計21の照射部21Aからのレーザー光の照射周
波数に応じた周波数検波が行われ、この周波数検波が行
われた出力が三次元形状データ作製部33によりデータ
として採用される。また、レーザー変位計22の受光部
22Bの出力に対して、フィルタ38によって、当該レ
ーザー変位計22の照射部22Aからのレーザー光の照
射周波数に応じた周波数検波が行われ、この周波数検波
が行われた出力が三次元形状データ作製部33によりデ
ータとして採用される。
【0067】その結果、フィルタ37によって、レーザ
ー変位計21の受光部21Bの出力から、当該レーザー
変位計21からのレーザー光による反射光に対応する所
定の周波数成分のみが抽出され、当該レーザー変位計2
1からのレーザー光による反射光に対応する信号のみが
三次元形状データ作製部33によりデータとして採用さ
れることになる。また、フィルタ38によって、レーザ
ー変位計22の受光部22Bの出力から、当該レーザー
変位計22からのレーザー光による反射光に対応する所
定の周波数成分のみが抽出され、当該レーザー変位計2
2からのレーザー光による反射光に対応する信号のみが
三次元形状データ作製部33によりデータとして採用さ
れることになる。
ー変位計21の受光部21Bの出力から、当該レーザー
変位計21からのレーザー光による反射光に対応する所
定の周波数成分のみが抽出され、当該レーザー変位計2
1からのレーザー光による反射光に対応する信号のみが
三次元形状データ作製部33によりデータとして採用さ
れることになる。また、フィルタ38によって、レーザ
ー変位計22の受光部22Bの出力から、当該レーザー
変位計22からのレーザー光による反射光に対応する所
定の周波数成分のみが抽出され、当該レーザー変位計2
2からのレーザー光による反射光に対応する信号のみが
三次元形状データ作製部33によりデータとして採用さ
れることになる。
【0068】したがって、本実施例によっても、複数の
レーザー変位計21,22による同時測定時におけるレ
ーザー変位計21,22間の相互干渉が防止され、測定
の信頼性が低下することなく、測定時間が短縮する。
レーザー変位計21,22による同時測定時におけるレ
ーザー変位計21,22間の相互干渉が防止され、測定
の信頼性が低下することなく、測定時間が短縮する。
【0069】次に、本発明の第3の実施例による三次元
形状測定装置について、図4を参照して説明する。
形状測定装置について、図4を参照して説明する。
【0070】図4は、本発明の第3の実施例による三次
元形状測定装置の全体構成を示す図である。図4におい
て、図3中の構成要素と同一又は対応する構成要素には
同一符号を付し、重複した説明は省略する。
元形状測定装置の全体構成を示す図である。図4におい
て、図3中の構成要素と同一又は対応する構成要素には
同一符号を付し、重複した説明は省略する。
【0071】本実施例が前述した第2の実施例と異なる
所は、以下の点である。
所は、以下の点である。
【0072】本実施例では、駆動制御部32の制御を受
けたセンサ駆動回路29は、レーザー変位計21,22
の各々の照射部21A,22Aからレーザー光が同時に
継続して照射されるように、レーザー変位計21,22
の照射部21A,22Aを駆動する。
けたセンサ駆動回路29は、レーザー変位計21,22
の各々の照射部21A,22Aからレーザー光が同時に
継続して照射されるように、レーザー変位計21,22
の照射部21A,22Aを駆動する。
【0073】また、本実施例では、レーザー変位計21
の照射部21Aからのレーザー光をチョッピングする光
学チョッパ39と、レーザー変位計22の照射部22A
からのレーザー光をチョッピングする光学チョッパ41
とが、付加されている。また、光学チョッパ39,41
を回転させるモータ40,42及びこれらを駆動するモ
ータ駆動回路43も、付加されている。
の照射部21Aからのレーザー光をチョッピングする光
学チョッパ39と、レーザー変位計22の照射部22A
からのレーザー光をチョッピングする光学チョッパ41
とが、付加されている。また、光学チョッパ39,41
を回転させるモータ40,42及びこれらを駆動するモ
ータ駆動回路43も、付加されている。
【0074】光学チョッパ39,41は、図5に示すよ
うに、遮光部50と透光部51とが所定の空間周波数で
配置された円板から構成されており、具体的には、例え
ば、ガラス製の円板上における遮光部50に相当する箇
所に遮光膜を形成することによって得ることができる。
なお、図5は、光学チョッパ39,41の平面図であ
る。
うに、遮光部50と透光部51とが所定の空間周波数で
配置された円板から構成されており、具体的には、例え
ば、ガラス製の円板上における遮光部50に相当する箇
所に遮光膜を形成することによって得ることができる。
なお、図5は、光学チョッパ39,41の平面図であ
る。
【0075】そして、光学チョッパ39によるチョッピ
ング周波数f3及び光学チョッパ41によるチョッピン
グ周波数f4を互いに異なるように設定する。例えば、
光学チョッパ39によるチョッピング周波数f3を60
0Hzとし、光学チョッパ40によるチョッピング周波
数f4を400Hzとする。なお、光学チョッパ39,
41によるチョッピング周波数は、それぞれモータ4
0,42の回転速度と、光学チョッパ39,41上の遮
光部50及び透光部51の空間周波数とにより定まるの
で、これらを適宜設定することによって、両者のチョッ
ピング周波数を設定することができる。
ング周波数f3及び光学チョッパ41によるチョッピン
グ周波数f4を互いに異なるように設定する。例えば、
光学チョッパ39によるチョッピング周波数f3を60
0Hzとし、光学チョッパ40によるチョッピング周波
数f4を400Hzとする。なお、光学チョッパ39,
41によるチョッピング周波数は、それぞれモータ4
0,42の回転速度と、光学チョッパ39,41上の遮
光部50及び透光部51の空間周波数とにより定まるの
で、これらを適宜設定することによって、両者のチョッ
ピング周波数を設定することができる。
【0076】また、本実施例では、フィルタ37は、レ
ーザー変位計21の受光部21Bの出力に対して、光学
チョッパ39によるチョッピング周波数f3に応じた周
波数検波を行う。フィルタ38は、レーザー変位計22
の受光部22Bの出力に対して、光学チョッパ40によ
るチョッピング周波数f4に応じた周波数検波を行う。
ーザー変位計21の受光部21Bの出力に対して、光学
チョッパ39によるチョッピング周波数f3に応じた周
波数検波を行う。フィルタ38は、レーザー変位計22
の受光部22Bの出力に対して、光学チョッパ40によ
るチョッピング周波数f4に応じた周波数検波を行う。
【0077】以上の説明からわかるように、レーザー変
位計21及び22の照射部21A,22Aからのレーザ
ー光の被測定物20への照射と照射停止の繰り返しが、
前記第2の実施例では照射部21A,22Aの駆動によ
り行われるのに対し、本実施例では光学チョッパを用い
て行われる点で、両者異なるが、原理的には両者は全く
同一である。
位計21及び22の照射部21A,22Aからのレーザ
ー光の被測定物20への照射と照射停止の繰り返しが、
前記第2の実施例では照射部21A,22Aの駆動によ
り行われるのに対し、本実施例では光学チョッパを用い
て行われる点で、両者異なるが、原理的には両者は全く
同一である。
【0078】したがって、本実施例によっても、複数の
光距離センサによる同時測定時における光距離センサ間
の相互干渉が防止され、測定の信頼性が低下することな
く、測定時間が短縮する。
光距離センサによる同時測定時における光距離センサ間
の相互干渉が防止され、測定の信頼性が低下することな
く、測定時間が短縮する。
【0079】以上、本発明の各実施例について説明した
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
い。
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
い。
【0080】例えば、前記第1の実施例において、光距
離センサとしてスポット状のレーザ光を利用する三角測
距式レーザー変位計に代えて、スリット状のレーザー光
を利用する三角測距式レーザー変位計等の他の光距離セ
ンサを用いてもよい。
離センサとしてスポット状のレーザ光を利用する三角測
距式レーザー変位計に代えて、スリット状のレーザー光
を利用する三角測距式レーザー変位計等の他の光距離セ
ンサを用いてもよい。
【0081】また、本発明では、光距離センサの数も、
3つ以上にすることができる。
3つ以上にすることができる。
【0082】さらに、前記各実施例では、レーザー変位
計21,22と被測定物20との間の相対位置を変更さ
せる位置変更手段としてステージ23〜26が採用さ
れ、移動ステージ5軸の構成が採用されていたが、その
相対位置を所望の三次元形状を得るのに必要な位置にす
ることができれば、位置変更手段として任意の構成を採
用することができる。
計21,22と被測定物20との間の相対位置を変更さ
せる位置変更手段としてステージ23〜26が採用さ
れ、移動ステージ5軸の構成が採用されていたが、その
相対位置を所望の三次元形状を得るのに必要な位置にす
ることができれば、位置変更手段として任意の構成を採
用することができる。
【0083】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定の信頼性を低下させることなく、複数の光距離セン
サを用いて各光距離センサによる同時計測を行うことが
でき、測定時間を短縮させることができる。
測定の信頼性を低下させることなく、複数の光距離セン
サを用いて各光距離センサによる同時計測を行うことが
でき、測定時間を短縮させることができる。
【図1】本発明の第1の実施例による三次元形状測定装
置の全体構成図である。
置の全体構成図である。
【図2】本発明の第1の実施例による三次元形状測定装
置における、レーザー光照射タイミングとデータ取り込
みタイミング等との関係を示す図である。
置における、レーザー光照射タイミングとデータ取り込
みタイミング等との関係を示す図である。
【図3】本発明の第2の実施例による三次元形状測定装
置の全体構成図である。
置の全体構成図である。
【図4】本発明の第3の実施例による三次元形状測定装
置の全体構成図である。
置の全体構成図である。
【図5】光学チョッパの平面図である。
【図6】従来の三次元形状測定装置の概略構成を示す側
面図である。
面図である。
【図7】従来の三次元形状測定装置におけるエラー発生
の原理を示す説明図である。
の原理を示す説明図である。
【図8】一般的な三角測距式レーザー変位計の測定原理
を示す説明図である。
を示す説明図である。
20 被測定物 21,22 レーザー変位計(光距離センサ) 21A,22A 照射部 21B,22B 受光部 23 Zステージ 24 Rステージ 25 θステージ 26 X−Yステージ 28,43 モータ駆動回路 29 センサ駆動回路 30 演算制御部 32 駆動制御部 33 三次元形状データ作製部 35,36 信号処理回路 37,38 フィルタ 39,41 光学チョッパ 40,42 モータ
Claims (3)
- 【請求項1】 各々が、被測定物に対して照射光を照射
する照射部と、前記被測定物からの反射光を受光する受
光部とを備えた複数の光距離センサと、 前記光距離センサと前記被測定物との間の相対位置を変
更させる位置変更手段と、 前記複数の光距離センサの各々と前記被測定物との間の
各相対位置に応じた前記複数の光距離センサの受光部の
出力に基づいて、前記被測定物の三次元形状データを作
製する三次元形状データ作製手段と、 を備えた三次元形状測定装置において、 前記複数の光距離センサの各々の照射部からの照射光の
照射及び照射停止が繰り返されるとともに、前記複数の
光距離センサのうちの1つの光距離センサの照射部から
の照射光の照射中における当該光距離センサの受光部の
出力の前記三次元形状データ作製手段による取り込み時
には、前記複数の光距離センサの残りの光距離センサの
照射部からの照射光の照射が停止されるように、前記複
数の光距離センサの照射部を駆動する、駆動手段を更に
備えた、 ことを特徴とする三次元形状測定装置。 - 【請求項2】 各々が、被測定物に対して照射光を照射
する照射部と、前記被測定物からの反射光を受光し、該
反射光の受光位置に応じたレベルを示す信号を出力する
受光部とを備えた複数の光距離センサと、 前記光距離センサと前記被測定物との間の相対位置を変
更させる位置変更手段と、 前記複数の光距離センサの各々と前記被測定物との間の
各相対位置に応じた前記複数の光距離センサの受光部の
出力に基づいて、前記被測定物の三次元形状データを作
製する三次元形状データ作製手段と、 を備えた三次元形状測定装置において、 前記複数の光距離センサの各々の照射部からの照射光の
照射及び照射停止が互いに異なる周波数で繰り返される
ように、前記複数の光距離センサを駆動する駆動手段
と、 前記複数の光距離センサの各々の受光部の出力に対し
て、当該光距離センサの照射部からの照射光の照射周波
数に応じた周波数検波を行う周波数検波手段と、 を更に備え、 前記三次元形状データ作製手段は、周波数検波が行われ
た前記複数の光距離センサの受光部の出力に基づいて、
前記被測定物の三次元形状データを作製する、 ことを特徴とする三次元形状測定装置。 - 【請求項3】 各々が、被測定物に対して照射光を照射
する照射部と、前記被測定物からの反射光を受光し、該
反射光の受光位置に応じたレベルを示す信号を出力する
受光部とを備えた複数の光距離センサと、 前記光距離センサと前記被測定物との間の相対位置を変
更させる位置変更手段と、 前記複数の光距離センサの各々と前記被測定物との間の
各相対位置に応じた前記複数の光距離センサの受光部の
出力に基づいて、前記被測定物の三次元形状データを作
製する三次元形状データ作製手段と、 を備えた三次元形状測定装置において、 前記複数の光距離センサの各々の照射部からの照射光を
互いに異なる周波数でチョッピングする光学チョッパ
と、 前記複数の光距離センサの各々の受光部の出力に対し
て、当該光距離センサの照射部からの照射光のチョッピ
ング周波数に応じた周波数検波を行う周波数検波手段
と、 を更に備え、 前記三次元形状データ作製手段は、周波数検波が行われ
た前記複数の光距離センサの受光部の出力に基づいて、
前記被測定物の三次元形状データを作製する、ことを特
徴とする三次元形状測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7061744A JPH08233517A (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 三次元形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7061744A JPH08233517A (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 三次元形状測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08233517A true JPH08233517A (ja) | 1996-09-13 |
Family
ID=13179998
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7061744A Pending JPH08233517A (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 三次元形状測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08233517A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003075121A (ja) * | 2001-09-07 | 2003-03-12 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 方形ガラス板の形状測定装置 |
WO2004114681A1 (en) * | 2003-05-07 | 2004-12-29 | Canon Europa, Nv | Photographing apparatus, device and method for obtaining images to be used for creating a three-dimensional model |
JP2013521524A (ja) * | 2010-03-04 | 2013-06-10 | シュナイダー、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツング、ウント、コンパニー、コマンディト、ゲゼルシャフト | 眼鏡フレームを測定するための測定装置 |
JP2016118551A (ja) * | 2014-12-19 | 2016-06-30 | 中央発條株式会社 | コイルばねの形状測定方法と形状測定装置 |
-
1995
- 1995-02-24 JP JP7061744A patent/JPH08233517A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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GB2417154B (en) * | 2003-05-07 | 2008-04-02 | Canon Europa Nv | Photographing apparatus,device and method for obtaining images to be used for creating a three-dimensional model |
US7616886B2 (en) | 2003-05-07 | 2009-11-10 | Canon Europa, Nv | Photographing apparatus, device and method for obtaining images to be used for creating a three-dimensional model |
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