JPH08152663A - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
- Publication number
- JPH08152663A JPH08152663A JP6319384A JP31938494A JPH08152663A JP H08152663 A JPH08152663 A JP H08152663A JP 6319384 A JP6319384 A JP 6319384A JP 31938494 A JP31938494 A JP 31938494A JP H08152663 A JPH08152663 A JP H08152663A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photometric
- photometry
- sensor
- lens
- focus
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 小型化，低コスト化を達成しつつ、所定の大
きさの測光範囲（スポット測光領域や平均測光領域等）
に切換えることを可能にする。 【構成】 選択される測光範囲の大きさにおいて、単一
の測光センサ１と測光レンズ２との光軸方向の相対位置
を変化させてピント状態を変化させるピント可変手段を
設け、単一の測光センサと測光レンズとの光軸方向の相
対位置を変化させて測光センサ上のピント状態を変え、
選択される測光範囲の大きさに合致した像が測光センサ
上に投影されるようにしている。
きさの測光範囲（スポット測光領域や平均測光領域等）
に切換えることを可能にする。 【構成】 選択される測光範囲の大きさにおいて、単一
の測光センサ１と測光レンズ２との光軸方向の相対位置
を変化させてピント状態を変化させるピント可変手段を
設け、単一の測光センサと測光レンズとの光軸方向の相
対位置を変化させて測光センサ上のピント状態を変え、
選択される測光範囲の大きさに合致した像が測光センサ
上に投影されるようにしている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、カメラ等の電子機器に
搭載される測光装置の改良に関するものである。
搭載される測光装置の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のカメラにおいては、複数に分割さ
れたセンサやセンサを複数個用いることにより、スポッ
ト測光と平均測光を行っていた。また、特開昭５７−３
２４２６号にある様に、電気的に拡散性可変の焦点板を
用いて測光感度分布形態を可変する様に構成したものも
ある。
れたセンサやセンサを複数個用いることにより、スポッ
ト測光と平均測光を行っていた。また、特開昭５７−３
２４２６号にある様に、電気的に拡散性可変の焦点板を
用いて測光感度分布形態を可変する様に構成したものも
ある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例で
は、複数に分割されたセンサを用いるものにおいては、
該センサのチップ面積が大きくなり、又センサを複数個
用いるものにおいては、コストアップの要因となってい
た。
は、複数に分割されたセンサを用いるものにおいては、
該センサのチップ面積が大きくなり、又センサを複数個
用いるものにおいては、コストアップの要因となってい
た。
【０００４】また、特開昭５７−３２４２６号において
は、電気的に拡散性可変の焦点板が必要である為、コス
トアップとなると共に、より小型化が望まれるレンズシ
ャッタカメラなどには展開が困難であった。
は、電気的に拡散性可変の焦点板が必要である為、コス
トアップとなると共に、より小型化が望まれるレンズシ
ャッタカメラなどには展開が困難であった。
【０００５】（発明の目的）本発明の目的は、小型化，
低コスト化を達成しつつ、所定の大きさの測光範囲に切
換えることのできる測光装置を提供することである。
低コスト化を達成しつつ、所定の大きさの測光範囲に切
換えることのできる測光装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１〜５記載の本発明は、選択される測光範囲
の大きさにおいて、単一の測光センサと測光レンズとの
光軸方向の相対位置を変化させてピント状態を変化させ
るピント可変手段を設け、単一の測光センサと測光レン
ズとの光軸方向の相対位置を変化させて測光センサ上の
ピント状態を変え、選択される測光範囲の大きさに合致
した像が測光センサ上に投影されるようにしている。
に、請求項１〜５記載の本発明は、選択される測光範囲
の大きさにおいて、単一の測光センサと測光レンズとの
光軸方向の相対位置を変化させてピント状態を変化させ
るピント可変手段を設け、単一の測光センサと測光レン
ズとの光軸方向の相対位置を変化させて測光センサ上の
ピント状態を変え、選択される測光範囲の大きさに合致
した像が測光センサ上に投影されるようにしている。
【０００７】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
【０００８】図１は本発明の第１の実施例における測光
装置の測光光学系を示す図であり、１は被写体輝度の検
出を行う測光センサであるところのＳＰＤ（シリコンフ
ォトダイオード）である。２は前記ＳＰＤ１に集光する
為の測光レンズであり、該測光レンズ２はＳＰＤ１に対
しある有限距離に位置する被写体のピントが合う様に配
されており、２ａは前記測光レンズ２の位置より長さＬ
だけ移動した状態を示しており、この際ＳＰＤ１に対し
て被写体像がボケる様に構成されている。
装置の測光光学系を示す図であり、１は被写体輝度の検
出を行う測光センサであるところのＳＰＤ（シリコンフ
ォトダイオード）である。２は前記ＳＰＤ１に集光する
為の測光レンズであり、該測光レンズ２はＳＰＤ１に対
しある有限距離に位置する被写体のピントが合う様に配
されており、２ａは前記測光レンズ２の位置より長さＬ
だけ移動した状態を示しており、この際ＳＰＤ１に対し
て被写体像がボケる様に構成されている。
【０００９】図２は図１の測光光学系を有した測光装置
の電気的構成を示すブロック図であり、１は前述の測光
センサであるところのＳＰＤ、２は集光を行う測光レン
ズ、３はカメラの動作を制御するＣＰＵ、４は前記ＳＰ
Ｄ１より受けた信号を増幅処理する受光信号処理手段、
５は前記測光レンズをピント方向に移動させる駆動モー
タを含むレンズ駆動手段、６は前記レンズ駆動手段５内
のモータを駆動するモータドライバ、７は前記受光信号
処理手段４の増幅率を変えるゲイン抵抗、８はＣＰＵ３
を起動させる起動スイッチ、９はポートレートで写真を
撮影するか否かを選択するポートレートスイッチであ
る。
の電気的構成を示すブロック図であり、１は前述の測光
センサであるところのＳＰＤ、２は集光を行う測光レン
ズ、３はカメラの動作を制御するＣＰＵ、４は前記ＳＰ
Ｄ１より受けた信号を増幅処理する受光信号処理手段、
５は前記測光レンズをピント方向に移動させる駆動モー
タを含むレンズ駆動手段、６は前記レンズ駆動手段５内
のモータを駆動するモータドライバ、７は前記受光信号
処理手段４の増幅率を変えるゲイン抵抗、８はＣＰＵ３
を起動させる起動スイッチ、９はポートレートで写真を
撮影するか否かを選択するポートレートスイッチであ
る。
【００１０】以上の構成において、起動スイッチ８が投
入されると、ＣＰＵ３は起動し、図３のステップ１０１
からの動作を開始する。 ［ステップ１０１］ ポートレートスイッチ９がオンさ
れているか否かを調べ、オンしていればステップ１０２
へ進む。 ［ステップ１０２］ ＳＰＤ１にある指定された有限距
離でピントが合う様にする為に、モータドライバ６及び
レンズ駆動手段５を介して測光レンズ２を駆動する。こ
れにより、ＳＰＤ１上にはピントの合った被写体像が結
像される。
入されると、ＣＰＵ３は起動し、図３のステップ１０１
からの動作を開始する。 ［ステップ１０１］ ポートレートスイッチ９がオンさ
れているか否かを調べ、オンしていればステップ１０２
へ進む。 ［ステップ１０２］ ＳＰＤ１にある指定された有限距
離でピントが合う様にする為に、モータドライバ６及び
レンズ駆動手段５を介して測光レンズ２を駆動する。こ
れにより、ＳＰＤ１上にはピントの合った被写体像が結
像される。
【００１１】この時、受光する範囲はピントが合ってい
る状態にあるので、図４（ａ）の２１に示す様な狭い測
光領域となり、いわゆるスポット測光となる。 ［ステップ１０３］ ＳＰＤ１から出力された受光信号
は受光信号処理手段４に増幅されるが、この信号を取り
込み、ＣＰＵ３は測光データを算出する。
る状態にあるので、図４（ａ）の２１に示す様な狭い測
光領域となり、いわゆるスポット測光となる。 ［ステップ１０３］ ＳＰＤ１から出力された受光信号
は受光信号処理手段４に増幅されるが、この信号を取り
込み、ＣＰＵ３は測光データを算出する。
【００１２】また、上記ステップ１０１においてポート
レートスイッチ９がオフであった場合には、ステップ１
０４へ移行する。 ［ステップ１０４］ ＳＰＤ１上でピントがボケる様に
モータドライバ６及びレンズ駆動手段５を介して測光レ
ンズ２を駆動する。これにより、ＳＰＤ１上の被写体像
はボケた像となる。
レートスイッチ９がオフであった場合には、ステップ１
０４へ移行する。 ［ステップ１０４］ ＳＰＤ１上でピントがボケる様に
モータドライバ６及びレンズ駆動手段５を介して測光レ
ンズ２を駆動する。これにより、ＳＰＤ１上の被写体像
はボケた像となる。
【００１３】この時、受光する範囲はピントが合ってい
ない状態にあるので、図４（ａ）の２２に示す様な広い
測光領域となり、いわゆる平均測光となる。 ［ステップ１０５］ 前記スポット測光時よりセンサ面
の明るさが変化する為、ゲイン抵抗７の抵抗値を変化さ
せ、受光信号処理手段の増幅度を補正する。 ［ステップ１０６］ ＳＰＤ１から出力された受光信号
は増幅度の補正された受光信号処理手段４に増幅される
が、この信号を取り込み、ＣＰＵ３は測光データを算出
する。
ない状態にあるので、図４（ａ）の２２に示す様な広い
測光領域となり、いわゆる平均測光となる。 ［ステップ１０５］ 前記スポット測光時よりセンサ面
の明るさが変化する為、ゲイン抵抗７の抵抗値を変化さ
せ、受光信号処理手段の増幅度を補正する。 ［ステップ１０６］ ＳＰＤ１から出力された受光信号
は増幅度の補正された受光信号処理手段４に増幅される
が、この信号を取り込み、ＣＰＵ３は測光データを算出
する。
【００１４】以上により、一連の動作を終了する。
【００１５】（第２の実施例）図５は本発明の第２の実
施例における測光装置の電気的構成を示すブロック図で
あり、図２と同じ部分は同一符号を付してある。
施例における測光装置の電気的構成を示すブロック図で
あり、図２と同じ部分は同一符号を付してある。
【００１６】上記の第１の実施例と異なるのは、ポート
レートスイッチ９の状態に応じて測光レンズ２の位置を
変化させるのではなく、センサ駆動手段１０によりＳＰ
Ｄ１の位置（光軸方向の）を変化させる様にしている点
のみである。
レートスイッチ９の状態に応じて測光レンズ２の位置を
変化させるのではなく、センサ駆動手段１０によりＳＰ
Ｄ１の位置（光軸方向の）を変化させる様にしている点
のみである。
【００１７】この時の様子を示したのが、図６である。
【００１８】以上の構成において、起動スイッチ８が投
入されると、ＣＰＵ３は起動し、図７のステップ２０１
からの動作を開始する。 ［ステップ２０１］ ポートレートスイッチ９がオンさ
れているか否かを調べ、オンしていればステップ２０２
へ進む。 ［ステップ２０２］ ＳＰＤ１上で被写体像がピントが
合う所定の位置までモータドライバ６及びセンサ駆動手
段１０を介して該ＳＰＤ１を駆動する。
入されると、ＣＰＵ３は起動し、図７のステップ２０１
からの動作を開始する。 ［ステップ２０１］ ポートレートスイッチ９がオンさ
れているか否かを調べ、オンしていればステップ２０２
へ進む。 ［ステップ２０２］ ＳＰＤ１上で被写体像がピントが
合う所定の位置までモータドライバ６及びセンサ駆動手
段１０を介して該ＳＰＤ１を駆動する。
【００１９】この時、受光する範囲はピントが合ってい
る状態にあるので、第１の実施例と同様、図４（ａ）の
２１に示す様な狭い測光領域となり、いわゆるスポット
測光となる。 ［ステップ２０３］ ＳＰＤ１から出力された受光信号
は受光信号処理手段４に増幅されるが、この信号を取り
込み、ＣＰＵ３は測光データを算出する。
る状態にあるので、第１の実施例と同様、図４（ａ）の
２１に示す様な狭い測光領域となり、いわゆるスポット
測光となる。 ［ステップ２０３］ ＳＰＤ１から出力された受光信号
は受光信号処理手段４に増幅されるが、この信号を取り
込み、ＣＰＵ３は測光データを算出する。
【００２０】また、上記ステップ２０１においてポート
レートスイッチ９がオフであった場合には、ステップ２
０４へ移行する。 ［ステップ２０４］ ＳＰＤ１上でピントがボケる様に
モータドライバ６及びセンサ駆動手段１０を介して該Ｓ
ＰＤ１を駆動する（図７の１ａの位置）。
レートスイッチ９がオフであった場合には、ステップ２
０４へ移行する。 ［ステップ２０４］ ＳＰＤ１上でピントがボケる様に
モータドライバ６及びセンサ駆動手段１０を介して該Ｓ
ＰＤ１を駆動する（図７の１ａの位置）。
【００２１】この時、受光する範囲はピントが合ってい
ない状態にあるので、第１の実施例と同様、図４（ａ）
の２２に示す様な広い測光領域となり、いわゆる平均測
光となる。
ない状態にあるので、第１の実施例と同様、図４（ａ）
の２２に示す様な広い測光領域となり、いわゆる平均測
光となる。
【００２２】以後は先のステップ２０３へ進み、測光デ
ータを算出して一連の動作を終了する。
ータを算出して一連の動作を終了する。
【００２３】（第３の実施例）図８は本発明の第３の実
施例における測光装置の電気的構成を示すブロック図で
あり、図２及び図５と同じ部分は同一符号を付してあ
る。
施例における測光装置の電気的構成を示すブロック図で
あり、図２及び図５と同じ部分は同一符号を付してあ
る。
【００２４】この実施例においては、測光レンズ１２を
液体レンズなどの焦点距離を可変できるレンズにし、焦
点距離可変手段１１により上記測光レンズ１２の焦点距
離を変化させ、ポートレートスイッチ９の状態に応じて
スポット測光と平均測光（この際には、第１の実施例と
同様、ゲイン抵抗により増幅度を補正する）を実現しよ
うとするものである。
液体レンズなどの焦点距離を可変できるレンズにし、焦
点距離可変手段１１により上記測光レンズ１２の焦点距
離を変化させ、ポートレートスイッチ９の状態に応じて
スポット測光と平均測光（この際には、第１の実施例と
同様、ゲイン抵抗により増幅度を補正する）を実現しよ
うとするものである。
【００２５】図９は、ポートレートスイッチ９の状態に
応じて測光レンズ１２の焦点距離の切換えを行った際の
状態を示す図である。
応じて測光レンズ１２の焦点距離の切換えを行った際の
状態を示す図である。
【００２６】以上の各実施例によれば、ＳＰＤ１と該Ｓ
ＰＤ１へ集光する為の測光レンズ２（１２）との光学的
な相対的ピント関係を変化させる手段を備え、ポートレ
ートスイッチ９の状態に応じて該手段を駆動し、ピント
を合せてスポット測光状態にしたり、ピントをボケさせ
て平均測光にしたりすることが可能である為、従来の様
にセンサ面を多分割にしたり、センサを複数個を必要と
たりする必要がなくなり、センサ面が大きくなったり、
コストアップしたりすることが無くなる。
ＰＤ１へ集光する為の測光レンズ２（１２）との光学的
な相対的ピント関係を変化させる手段を備え、ポートレ
ートスイッチ９の状態に応じて該手段を駆動し、ピント
を合せてスポット測光状態にしたり、ピントをボケさせ
て平均測光にしたりすることが可能である為、従来の様
にセンサ面を多分割にしたり、センサを複数個を必要と
たりする必要がなくなり、センサ面が大きくなったり、
コストアップしたりすることが無くなる。
【００２７】（発明と実施例の対応）本実施例におい
て、ＳＰＤ１が本発明の測光センサに相当し、測光レン
ズ２や測光レンズ１２が本発明の測光レンズに相当し、
レンズ駆動手段５やセンサ駆動手段、更には焦点距離可
変手段１１が本発明のピント可変手段に相当する。
て、ＳＰＤ１が本発明の測光センサに相当し、測光レン
ズ２や測光レンズ１２が本発明の測光レンズに相当し、
レンズ駆動手段５やセンサ駆動手段、更には焦点距離可
変手段１１が本発明のピント可変手段に相当する。
【００２８】以上が実施例の各構成と本発明の各構成の
対応関係であるが、本発明は、これら実施例の構成に限
定されるものではなく、請求項で示した機能、又は実施
例がもつ機能が達成できる構成であればどのようなもの
であってもよいことは言うまでもない。
対応関係であるが、本発明は、これら実施例の構成に限
定されるものではなく、請求項で示した機能、又は実施
例がもつ機能が達成できる構成であればどのようなもの
であってもよいことは言うまでもない。
【００２９】（変形例）本実施例では、測光センサとし
て、ＳＰＤを用いた場合を述べているが、ＣＳＤ等であ
っても良い。
て、ＳＰＤを用いた場合を述べているが、ＣＳＤ等であ
っても良い。
【００３０】また、スポット測光と平均測光の切換え
を、ポートレートスイッチにより行う様にしているが、
これに限定されるものでは無く、撮影者が任意に選択で
きるもので合っても、他の撮影モードに応じて切換える
様にしてもよい。又、スポット測光や平均測光以外の領
域（例えば中間の部分測光領域）への切換えであっても
良い。
を、ポートレートスイッチにより行う様にしているが、
これに限定されるものでは無く、撮影者が任意に選択で
きるもので合っても、他の撮影モードに応じて切換える
様にしてもよい。又、スポット測光や平均測光以外の領
域（例えば中間の部分測光領域）への切換えであっても
良い。
【００３１】また、本発明は、一眼レフカメラ，レンズ
シャッタカメラ，ビデオカメラ等のカメラに適用した場
合を述べているが、その他の光学機器や他の装置、更に
は構成ユニットとしても適用することができるものであ
る。
シャッタカメラ，ビデオカメラ等のカメラに適用した場
合を述べているが、その他の光学機器や他の装置、更に
は構成ユニットとしても適用することができるものであ
る。
【００３２】更に、本発明は、以上の各実施例、又はそ
れらの技術を適当に組み合わせた構成にしてもよい。
れらの技術を適当に組み合わせた構成にしてもよい。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
選択される測光範囲の大きさにおいて、単一の測光セン
サと測光レンズとの光軸方向の相対位置を変化させてピ
ント状態を変化させるピント可変手段を設け、単一の測
光センサと測光レンズとの光軸方向の相対位置を変化さ
せて測光センサ上のピント状態を変え、選択される測光
範囲の大きさに合致した像が測光センサ上に投影される
ようにしている。
選択される測光範囲の大きさにおいて、単一の測光セン
サと測光レンズとの光軸方向の相対位置を変化させてピ
ント状態を変化させるピント可変手段を設け、単一の測
光センサと測光レンズとの光軸方向の相対位置を変化さ
せて測光センサ上のピント状態を変え、選択される測光
範囲の大きさに合致した像が測光センサ上に投影される
ようにしている。
【００３４】よって、小型化，低コスト化を達成しつ
つ、所定の大きさの測光範囲（スポット測光領域や平均
測光領域等）に切換えることが可能となる。
つ、所定の大きさの測光範囲（スポット測光領域や平均
測光領域等）に切換えることが可能となる。
【図１】本発明の第１の実施例において測光領域可変時
の測光レンズの位置を示す図である。
の測光レンズの位置を示す図である。
【図２】本発明の第１の実施例における測光装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図３】図２のＣＰＵの動作を示すフローチャートであ
る。
る。
【図４】本発明の各実施例におけるスポット測光時と平
均測光時の画面内での様子を示す図である。
均測光時の画面内での様子を示す図である。
【図５】本発明の第２の実施例における測光装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図６】本発明の第２の実施例において測光領域可変時
のＳＰＤの位置を示す図である。
のＳＰＤの位置を示す図である。
【図７】図５のＣＰＵの動作を示すフローチャートであ
る。
る。
【図８】本発明の第３の実施例における測光装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図９】本発明の第２の実施例において測光領域可変時
の測光レンズの様子を示す図である。
の測光レンズの様子を示す図である。
１ ＳＰＤ ２，１２ 測光レンズ ３ ＣＰＵ ４ 受光信号処理手段 ５ レンズ駆動手段 １０ センサ駆動手段 １１ 焦点距離可変手段
Claims (5)
- 【請求項１】 単一の測光センサと、該測光センサへ集
光する為の測光レンズとを備えた測光装置において、選
択される測光範囲の大きさにおいて、前記測光センサと
前記測光レンズとの光軸方向の相対位置を変化させてピ
ント状態を変化させるピント可変手段を設けたことを特
徴とする測光装置。 - 【請求項２】 前記ピント可変手段は、前記測光センサ
と前記測光レンズとの光軸方向の距離を変化させる手段
であることを特徴とする請求項１記載の測光装置。 - 【請求項３】 前記ピント可変手段は、前記測光センサ
の焦点距離を変化させる手段であることを特徴とする請
求項１記載の測光装置。 - 【請求項４】 前記測光センサは、光電センサであるこ
とを特徴とする請求項１，２又は３記載の測光装置。 - 【請求項５】 前記測光センサは、半導体位置検出器で
あることを特徴とする請求項１，２又は３記載の測光装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6319384A JPH08152663A (ja) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6319384A JPH08152663A (ja) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | 測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08152663A true JPH08152663A (ja) | 1996-06-11 |
Family
ID=18109564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6319384A Pending JPH08152663A (ja) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08152663A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010272966A (ja) * | 2009-05-19 | 2010-12-02 | Nikon Corp | 測光装置及び撮像装置 |
-
1994
- 1994-11-30 JP JP6319384A patent/JPH08152663A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010272966A (ja) * | 2009-05-19 | 2010-12-02 | Nikon Corp | 測光装置及び撮像装置 |
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