JPH0773529A - 光磁気記録方式および光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録方式および光磁気記録媒体Info
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- JPH0773529A JPH0773529A JP21573893A JP21573893A JPH0773529A JP H0773529 A JPH0773529 A JP H0773529A JP 21573893 A JP21573893 A JP 21573893A JP 21573893 A JP21573893 A JP 21573893A JP H0773529 A JPH0773529 A JP H0773529A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 周囲温度や移動速度などの変動に対する記録
・再生特性の変動を小さくする。 【構成】 記録時または再生時に、温度検出器42によ
り光磁気ディスク10の温度を検出し、その検出結果か
らレーザ光照射の際に生じるディスク10の磁性層の温
度分布の変動を検知する。その結果に応じて、電磁石4
1により光磁気ディスク10に磁界を印加し、光磁気デ
ィスク10の記録特性または再生特性の変動を補償す
る。 【効果】 周囲温度、光磁気ディスクの移動速度や熱感
度などにより温度分布が変動しても、安定した磁区が形
成される。信頼性を高めることができる。
・再生特性の変動を小さくする。 【構成】 記録時または再生時に、温度検出器42によ
り光磁気ディスク10の温度を検出し、その検出結果か
らレーザ光照射の際に生じるディスク10の磁性層の温
度分布の変動を検知する。その結果に応じて、電磁石4
1により光磁気ディスク10に磁界を印加し、光磁気デ
ィスク10の記録特性または再生特性の変動を補償す
る。 【効果】 周囲温度、光磁気ディスクの移動速度や熱感
度などにより温度分布が変動しても、安定した磁区が形
成される。信頼性を高めることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光磁気記録方式およ
び光磁気記録媒体に関し、さらに詳しくいえば、光磁気
記録媒体の周囲温度や移動速度などの変化に起因する、
レーザ光照射時の光磁気記録媒体の温度分布の変動を補
償するようにした光磁気記録方式および光磁気記録媒体
に関する。
び光磁気記録媒体に関し、さらに詳しくいえば、光磁気
記録媒体の周囲温度や移動速度などの変化に起因する、
レーザ光照射時の光磁気記録媒体の温度分布の変動を補
償するようにした光磁気記録方式および光磁気記録媒体
に関する。
【0002】
【従来の技術】光磁気記録方式では、情報記録用の磁性
層を持つ光磁気記録媒体に高パワーのレーザ光を照射
し、それによって生じる前記磁性層の局所的温度上昇に
よりその磁性層に磁区を形成して情報を記録する。ま
た、前記光磁気記録媒体に低パワーのレーザ光を照射し
て前記磁区から記録された前記情報を光学的に再生す
る。前記光磁気記録媒体は、記録・再生時に高速で移動
し、しかも他の光磁気記録媒体と交換されることがあ
る。
層を持つ光磁気記録媒体に高パワーのレーザ光を照射
し、それによって生じる前記磁性層の局所的温度上昇に
よりその磁性層に磁区を形成して情報を記録する。ま
た、前記光磁気記録媒体に低パワーのレーザ光を照射し
て前記磁区から記録された前記情報を光学的に再生す
る。前記光磁気記録媒体は、記録・再生時に高速で移動
し、しかも他の光磁気記録媒体と交換されることがあ
る。
【0003】前記光磁気記録媒体は通常、基板上に直接
または下地層を介して形成された情報記録用の磁性層を
有しており、その磁性層は、希土類−遷移金属合金、貴
金属−遷移金属合金などの単層膜や多層膜の単体、もし
くはそれらの膜の組成・膜厚を変えたものの積層膜から
構成される。
または下地層を介して形成された情報記録用の磁性層を
有しており、その磁性層は、希土類−遷移金属合金、貴
金属−遷移金属合金などの単層膜や多層膜の単体、もし
くはそれらの膜の組成・膜厚を変えたものの積層膜から
構成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】光磁気記録方式では前
記のようにして情報の記録・再生を行なうため、記録・
再生時に温度上昇により光磁気記録媒体の磁区の不安定
性が増加するという特性を持つ。このため、周囲(環
境)温度、光磁気記録媒体の移動速度や熱感度などの使
用環境が変化した場合、記録・再生時に光磁気記録媒体
の温度分布が変化し、それによって正常な磁区の形成や
磁区の安定的な保持など、光磁気記録媒体の特性が影響
を受けやすいという問題がある。
記のようにして情報の記録・再生を行なうため、記録・
再生時に温度上昇により光磁気記録媒体の磁区の不安定
性が増加するという特性を持つ。このため、周囲(環
境)温度、光磁気記録媒体の移動速度や熱感度などの使
用環境が変化した場合、記録・再生時に光磁気記録媒体
の温度分布が変化し、それによって正常な磁区の形成や
磁区の安定的な保持など、光磁気記録媒体の特性が影響
を受けやすいという問題がある。
【0005】また、前記のような特性の不安定性によ
り、光磁気記録媒体に使用される磁性材料は、温度分布
の変動に対する特性の安定性が高いものに限定されると
いう問題がある。
り、光磁気記録媒体に使用される磁性材料は、温度分布
の変動に対する特性の安定性が高いものに限定されると
いう問題がある。
【0006】そこで、この発明の目的は、光磁気記録媒
体の周囲(環境)温度や移動速度などの変動に対する記
録・再生特性の変動が小さい光磁気記録方式および光磁
気記録媒体を提供することにある。
体の周囲(環境)温度や移動速度などの変動に対する記
録・再生特性の変動が小さい光磁気記録方式および光磁
気記録媒体を提供することにある。
【0007】この発明の他の目的は、光磁気記録媒体の
磁性層として使用する磁性材料の選択の幅が広い光磁気
記録方式および光磁気記録媒体を提供することにある。
磁性層として使用する磁性材料の選択の幅が広い光磁気
記録方式および光磁気記録媒体を提供することにある。
【0008】
(1) この発明の第1の光磁気記録方式は、記録用の
磁性層を持つ光磁気記録媒体にレーザ光を照射し、それ
によって生じる前記磁性層の局所的温度上昇によりその
磁性層に磁区を形成して情報を記録し、前記光磁気記録
媒体にレーザ光を照射して前記磁区から前記情報を再生
する光磁気記録方式において、レーザ光照射の際に生じ
る前記磁性層の温度分布の変動を検知し、その検知結果
に応じて前記光磁気記録媒体の記録特性および再生特性
の少なくとも一方の変動を補償することを特徴とする。
磁性層を持つ光磁気記録媒体にレーザ光を照射し、それ
によって生じる前記磁性層の局所的温度上昇によりその
磁性層に磁区を形成して情報を記録し、前記光磁気記録
媒体にレーザ光を照射して前記磁区から前記情報を再生
する光磁気記録方式において、レーザ光照射の際に生じ
る前記磁性層の温度分布の変動を検知し、その検知結果
に応じて前記光磁気記録媒体の記録特性および再生特性
の少なくとも一方の変動を補償することを特徴とする。
【0009】好ましくは、前記光磁気記録媒体の記録特
性および再生特性の少なくとも一方の変動は、前記光磁
気記録媒体に印加する磁界の強度を変えることにより補
償される。
性および再生特性の少なくとも一方の変動は、前記光磁
気記録媒体に印加する磁界の強度を変えることにより補
償される。
【0010】好ましくは、前記磁性層の温度分布の変動
は、前記光磁気記録媒体の全体温度を介して検知する。
この場合、前記光磁気記録媒体の全体温度を、前記光磁
気記録媒体の外部に設けた温度検出手段により検知して
もよいし、前記光磁気記録媒体の内部に設けた温度検出
手段により検知してもよい。
は、前記光磁気記録媒体の全体温度を介して検知する。
この場合、前記光磁気記録媒体の全体温度を、前記光磁
気記録媒体の外部に設けた温度検出手段により検知して
もよいし、前記光磁気記録媒体の内部に設けた温度検出
手段により検知してもよい。
【0011】温度検出手段としては、例えば、前記光磁
気記録媒体の保持部にその光磁気記録媒体に接するよう
に取り付けた温度センサがある。また、前記光磁気記録
媒体に近接して設けられた放射型温度計などでもよい。
放射型温度計は、無接触で温度計測が可能であるので、
前記光磁気記録媒体への接触が不要であるという利点が
ある。
気記録媒体の保持部にその光磁気記録媒体に接するよう
に取り付けた温度センサがある。また、前記光磁気記録
媒体に近接して設けられた放射型温度計などでもよい。
放射型温度計は、無接触で温度計測が可能であるので、
前記光磁気記録媒体への接触が不要であるという利点が
ある。
【0012】前記磁性層の温度分布の変動は、前記光磁
気記録媒体の移動速度を介して検知してもよい。この移
動速度は、例えば、前記光磁気記録媒体の駆動手段から
の信号により検知することができる。
気記録媒体の移動速度を介して検知してもよい。この移
動速度は、例えば、前記光磁気記録媒体の駆動手段から
の信号により検知することができる。
【0013】前記磁性層の温度分布の変動はまた、前記
光磁気記録媒体の持つ熱感度を介して検知してもよい。
この場合、前記光磁気記録媒体にその媒体の熱感度を示
す熱感度情報を付し、その熱感度情報によりその光磁気
記録媒体の熱感度を検知するのが好ましい。
光磁気記録媒体の持つ熱感度を介して検知してもよい。
この場合、前記光磁気記録媒体にその媒体の熱感度を示
す熱感度情報を付し、その熱感度情報によりその光磁気
記録媒体の熱感度を検知するのが好ましい。
【0014】ここで「熱感度」とは、前記光磁気記録媒
体の磁性層の持つ磁気特性を意味し、具体的には、例え
ば磁性層の保磁力、磁化などの温度特性を意味する。
体の磁性層の持つ磁気特性を意味し、具体的には、例え
ば磁性層の保磁力、磁化などの温度特性を意味する。
【0015】前記熱感度情報は、前記光磁気記録媒体が
収容されるカートリッジに付してもよいし、前記光磁気
記録媒体自体に付してもよい。前者の場合、例えば、前
記熱感度情報をバーコード、突起列などに変換して前記
カートリッジの表面に付着し、それを記録/再生手段が
読み取るようにすることができる。
収容されるカートリッジに付してもよいし、前記光磁気
記録媒体自体に付してもよい。前者の場合、例えば、前
記熱感度情報をバーコード、突起列などに変換して前記
カートリッジの表面に付着し、それを記録/再生手段が
読み取るようにすることができる。
【0016】後者の場合、例えば、前記光磁気記録媒体
の内部に設けられた専用領域に前記熱感度情報を磁気的
に記録することができる。こうすれば、前記光磁気記録
媒体に記録された磁気情報(磁区)を読み出して得られ
る信号強度が規定量かどうかを判断することにより、前
記光磁気記録媒体の熱感度を容易に認識することができ
る。
の内部に設けられた専用領域に前記熱感度情報を磁気的
に記録することができる。こうすれば、前記光磁気記録
媒体に記録された磁気情報(磁区)を読み出して得られ
る信号強度が規定量かどうかを判断することにより、前
記光磁気記録媒体の熱感度を容易に認識することができ
る。
【0017】前記光磁気記録媒体の持つ熱感度は、磁性
体の組成、膜厚、膜数、基板の種類などによって異なる
ので、これらを総合したものをその光磁気記録媒体の熱
感度とし、その情報を何らかの方法でその媒体に記録す
ればよい。
体の組成、膜厚、膜数、基板の種類などによって異なる
ので、これらを総合したものをその光磁気記録媒体の熱
感度とし、その情報を何らかの方法でその媒体に記録す
ればよい。
【0018】前記光磁気記録媒体の温度分布の変動は、
前記光磁気記録媒体から得られる再生信号の強度により
検知してもよい。
前記光磁気記録媒体から得られる再生信号の強度により
検知してもよい。
【0019】好ましくは、前記光磁気記録媒体の記録特
性の変動が、情報を記録する際に前記磁性層に形成され
る磁区の大きさを一定に保つように補償される。また、
前記光磁気記録媒体の再生特性の変動が、情報を再生す
る際に前記磁性層に形成された磁区の大きさを一定に保
つように補償される。
性の変動が、情報を記録する際に前記磁性層に形成され
る磁区の大きさを一定に保つように補償される。また、
前記光磁気記録媒体の再生特性の変動が、情報を再生す
る際に前記磁性層に形成された磁区の大きさを一定に保
つように補償される。
【0020】好ましくは、情報を再生する際に前記磁性
層に形成された磁区の転写または変形が行なわれ、その
転写または変形が一定となるように前記光磁気記録媒体
の再生特性の変動が補償される。
層に形成された磁区の転写または変形が行なわれ、その
転写または変形が一定となるように前記光磁気記録媒体
の再生特性の変動が補償される。
【0021】前記光磁気記録媒体が、切断層を介して前
記記録用磁性層に隣接する再生層を有していると共に、
前記記録用磁性層の磁区が前記切断層を介して前記再生
層に転写されるようになっている場合、前記切断層の持
つ磁気的結合力の変動を補償するように磁界が印加され
るのが好ましい。
記記録用磁性層に隣接する再生層を有していると共に、
前記記録用磁性層の磁区が前記切断層を介して前記再生
層に転写されるようになっている場合、前記切断層の持
つ磁気的結合力の変動を補償するように磁界が印加され
るのが好ましい。
【0022】(2) この発明の第2の光磁気記録方式
は、記録用の磁性層を持つ光磁気記録媒体にレーザ光を
照射し、それによって生じる前記磁性層の局所的温度上
昇によりその磁性層に磁区を形成して情報を記録し、前
記光磁気記録媒体にレーザ光を照射して前記磁区から前
記情報を再生する光磁気記録方式において、前記光磁気
記録媒体に補償用の磁性層を設け、その補償用磁性層が
発生する磁界によって、レーザ光照射の際に生じる前記
記録用磁性層の温度分布の変動を補償することを特徴と
する。
は、記録用の磁性層を持つ光磁気記録媒体にレーザ光を
照射し、それによって生じる前記磁性層の局所的温度上
昇によりその磁性層に磁区を形成して情報を記録し、前
記光磁気記録媒体にレーザ光を照射して前記磁区から前
記情報を再生する光磁気記録方式において、前記光磁気
記録媒体に補償用の磁性層を設け、その補償用磁性層が
発生する磁界によって、レーザ光照射の際に生じる前記
記録用磁性層の温度分布の変動を補償することを特徴と
する。
【0023】好ましくは、前記補償用の磁性層が発生す
る漏洩磁界および交換磁界の少なくとも一方が、前記情
報記録用の磁性層の温度分布の変動を補償するように温
度によって変動するようにする。
る漏洩磁界および交換磁界の少なくとも一方が、前記情
報記録用の磁性層の温度分布の変動を補償するように温
度によって変動するようにする。
【0024】前記光磁気記録媒体の温度分布の変動は、
前記光磁気記録媒体から得られる再生信号の強度により
検知してもよい。
前記光磁気記録媒体から得られる再生信号の強度により
検知してもよい。
【0025】好ましくは、前記光磁気記録媒体の記録特
性の変動が、情報を記録する際に前記磁性層に形成され
る磁区の大きさを一定に保つように補償される。また、
前記光磁気記録媒体の再生特性の変動が、情報を再生す
る際に前記磁性層に形成された磁区の大きさを一定に保
つように補償される。
性の変動が、情報を記録する際に前記磁性層に形成され
る磁区の大きさを一定に保つように補償される。また、
前記光磁気記録媒体の再生特性の変動が、情報を再生す
る際に前記磁性層に形成された磁区の大きさを一定に保
つように補償される。
【0026】好ましくは、情報を再生する際に前記磁性
層に形成された磁区の転写または変形が行なわれ、その
転写または変形が一定となるように前記光磁気記録媒体
の再生特性の変動が補償される。
層に形成された磁区の転写または変形が行なわれ、その
転写または変形が一定となるように前記光磁気記録媒体
の再生特性の変動が補償される。
【0027】前記光磁気記録媒体が、切断層を介して前
記記録用磁性層に隣接する再生層を有していると共に、
前記記録用磁性層の磁区が前記切断層を介して前記再生
層に転写されるようになっている場合、前記切断層の持
つ磁気的結合力の変動を補償するように磁界が印加され
るのが好ましい。
記記録用磁性層に隣接する再生層を有していると共に、
前記記録用磁性層の磁区が前記切断層を介して前記再生
層に転写されるようになっている場合、前記切断層の持
つ磁気的結合力の変動を補償するように磁界が印加され
るのが好ましい。
【0028】(3) この発明の光磁気記録媒体は、基
板上に直接または下地層を介して形成された記録用の磁
性層を備えた光磁気記録媒体において、レーザ光照射の
際に生じる前記記録用磁性層の温度分布の変動を補償す
る補償用の磁性層を備えていることを特徴とする。
板上に直接または下地層を介して形成された記録用の磁
性層を備えた光磁気記録媒体において、レーザ光照射の
際に生じる前記記録用磁性層の温度分布の変動を補償す
る補償用の磁性層を備えていることを特徴とする。
【0029】好ましくは、前記補償用磁性層が発生する
漏洩磁界および交換磁界の少なくとも一方が、前記記録
用磁性層の温度分布の変動を補償するように温度によっ
て変動する。
漏洩磁界および交換磁界の少なくとも一方が、前記記録
用磁性層の温度分布の変動を補償するように温度によっ
て変動する。
【0030】また、好ましくは、切断層を介して前記記
録用磁性層に隣接する再生層を有していると共に、前記
記録用磁性層の磁区が前記切断層を介して前記再生層に
転写されるように構成され、前記切断層の膜厚が20n
m以下とされる。
録用磁性層に隣接する再生層を有していると共に、前記
記録用磁性層の磁区が前記切断層を介して前記再生層に
転写されるように構成され、前記切断層の膜厚が20n
m以下とされる。
【0031】
【作用】この発明の第1の光磁気記録方式では、レーザ
光照射の際に生じる磁性層の温度分布の変動を検知し、
その検知結果に応じて光磁気記録媒体の記録特性および
再生特性の少なくとも一方の変動を補償するので、光磁
気記録媒体の周囲(環境)温度や移動速度などの変動に
対する記録・再生特性の変動を小さくし、あるいはなく
すことができる。
光照射の際に生じる磁性層の温度分布の変動を検知し、
その検知結果に応じて光磁気記録媒体の記録特性および
再生特性の少なくとも一方の変動を補償するので、光磁
気記録媒体の周囲(環境)温度や移動速度などの変動に
対する記録・再生特性の変動を小さくし、あるいはなく
すことができる。
【0032】この発明の第2の光磁気記録方式では、光
磁気記録媒体に補償用の磁性層を設け、その補償用磁性
層によって、レーザ光照射の際に生じる記録用磁性層の
温度分布の変動を補償するので、第1の光磁気記録方式
の場合と同様に、光磁気記録媒体の周囲(環境)温度や
移動速度などの変動に対する記録・再生特性の変動を小
さくし、あるいはなくすことができる。
磁気記録媒体に補償用の磁性層を設け、その補償用磁性
層によって、レーザ光照射の際に生じる記録用磁性層の
温度分布の変動を補償するので、第1の光磁気記録方式
の場合と同様に、光磁気記録媒体の周囲(環境)温度や
移動速度などの変動に対する記録・再生特性の変動を小
さくし、あるいはなくすことができる。
【0033】この発明の光磁気記録媒体は、レーザ光照
射の際に生じる記録用の磁性層の温度分布の変動を補償
する補償用の磁性層を備えているので、第1および第2
の光磁気記録方式の場合と同様に、光磁気記録媒体の周
囲(環境)温度や移動速度などの変動に対する記録・再
生特性の変動を小さくし、あるいはなくすことができ
る。
射の際に生じる記録用の磁性層の温度分布の変動を補償
する補償用の磁性層を備えているので、第1および第2
の光磁気記録方式の場合と同様に、光磁気記録媒体の周
囲(環境)温度や移動速度などの変動に対する記録・再
生特性の変動を小さくし、あるいはなくすことができ
る。
【0034】この発明の第1および第2の光磁気記録方
式および光磁気記録媒体では、光磁気記録媒体の周囲
(環境)温度や移動速度などの変動に対する記録・再生
特性の変動が小さくなり、あるいはなくなるので、光磁
気記録媒体の磁性層として使用する磁性材料の選択の幅
が広くなる。
式および光磁気記録媒体では、光磁気記録媒体の周囲
(環境)温度や移動速度などの変動に対する記録・再生
特性の変動が小さくなり、あるいはなくなるので、光磁
気記録媒体の磁性層として使用する磁性材料の選択の幅
が広くなる。
【0035】
【実施例】以下、この発明の実施例について詳細に説明
する。
する。
【0036】[第1実施例]図1はこの発明の光磁気記
録方式の第1実施例を示す。◆光磁気ディスク10はス
ピンドル39に係止されており、所定速度で回転する。
光磁気ディスク10はカートリッジ20の内部に収容さ
れている。回転数検出器40は、スピンドル32の回転
数を検出し、その結果を電磁石駆動系37に送る。
録方式の第1実施例を示す。◆光磁気ディスク10はス
ピンドル39に係止されており、所定速度で回転する。
光磁気ディスク10はカートリッジ20の内部に収容さ
れている。回転数検出器40は、スピンドル32の回転
数を検出し、その結果を電磁石駆動系37に送る。
【0037】電磁石41は、光磁気ディスク10の近傍
に設けられており、電磁石駆動系37によって駆動され
る。電磁石41は、記録時あるいは消去時には、光磁気
ディスク10に記録用磁界あるいは消去用磁界を印加す
る。また、再生時には後述の補償用磁界を印加する。
に設けられており、電磁石駆動系37によって駆動され
る。電磁石41は、記録時あるいは消去時には、光磁気
ディスク10に記録用磁界あるいは消去用磁界を印加す
る。また、再生時には後述の補償用磁界を印加する。
【0038】光ヘッド30は、光源としてのレーザ31
と、レーザ光を分割するビームスプリッタ32と、レー
ザ光を集束して光磁気ディスク10の表面に照射する集
束用レンズ33と光検出器34とを有している。
と、レーザ光を分割するビームスプリッタ32と、レー
ザ光を集束して光磁気ディスク10の表面に照射する集
束用レンズ33と光検出器34とを有している。
【0039】レーザ31は、レーザ駆動系36により駆
動され、記録および消去時には、高パワーのレーザ光を
光磁気ディスク10の表面に照射する。再生時には、低
パワーのレーザ光を光磁気ディスク10の表面に照射す
る。
動され、記録および消去時には、高パワーのレーザ光を
光磁気ディスク10の表面に照射する。再生時には、低
パワーのレーザ光を光磁気ディスク10の表面に照射す
る。
【0040】光検出器34は、再生時に、光磁気ディス
ク10の表面から反射されるレーザ光の強度を検出し、
その結果を信号制御系35および電磁石駆動系37にそ
れぞれ送る。
ク10の表面から反射されるレーザ光の強度を検出し、
その結果を信号制御系35および電磁石駆動系37にそ
れぞれ送る。
【0041】ヘッド位置検出器38は、光ヘッド30の
位置を検出し、その結果を電磁石駆動系37に送る。そ
れに応じて、電磁石駆動系37は電磁石41の位置を変
更する。
位置を検出し、その結果を電磁石駆動系37に送る。そ
れに応じて、電磁石駆動系37は電磁石41の位置を変
更する。
【0042】入力信号および出力信号を制御する信号制
御系35は、レーザ駆動系36を制御し、レーザ31に
所定パワーでレーザ光を発生させる。また、光検出器3
4からの出力を受け、その結果をレーザ駆動系36に送
る。
御系35は、レーザ駆動系36を制御し、レーザ31に
所定パワーでレーザ光を発生させる。また、光検出器3
4からの出力を受け、その結果をレーザ駆動系36に送
る。
【0043】温度検出器42は、非接触で測定対象の温
度を測定できる放射型温度計からなり、光磁気ディスク
10の温度を検出してその結果を電磁石駆動系37に送
る。電磁石駆動系37は、送られた検知結果に応じて電
磁石41の発生する磁界の強度を制御する。
度を測定できる放射型温度計からなり、光磁気ディスク
10の温度を検出してその結果を電磁石駆動系37に送
る。電磁石駆動系37は、送られた検知結果に応じて電
磁石41の発生する磁界の強度を制御する。
【0044】この実施例で用いる光磁気ディスクの構成
を図5に示す。この光磁気ディスク10は、表面にグル
ーブを形成したガラス基板11上に、厚さ80nmのS
iN膜よりなる保護層12と、厚さ60nmのTb27F
e63Co10膜よりなる記録層13と、厚さ80nmのS
iN膜よりなる保護層14とを、スパッタ法により順に
積層したものである。
を図5に示す。この光磁気ディスク10は、表面にグル
ーブを形成したガラス基板11上に、厚さ80nmのS
iN膜よりなる保護層12と、厚さ60nmのTb27F
e63Co10膜よりなる記録層13と、厚さ80nmのS
iN膜よりなる保護層14とを、スパッタ法により順に
積層したものである。
【0045】この光磁気記録方式では、光磁気ディスク
10の温度が温度検出器42によって常に検出され、そ
の検出結果に応じて、電磁石41の発生する磁界すなわ
ち光磁気ディスク10に印加される磁界の強度が変化す
る。この磁界強度の変化は、記録時に、光磁気ディスク
10の記録層13に形成される磁区の径が一定に保たれ
るように設定されている。
10の温度が温度検出器42によって常に検出され、そ
の検出結果に応じて、電磁石41の発生する磁界すなわ
ち光磁気ディスク10に印加される磁界の強度が変化す
る。この磁界強度の変化は、記録時に、光磁気ディスク
10の記録層13に形成される磁区の径が一定に保たれ
るように設定されている。
【0046】すなわち、光磁気ディスク10にレーザ光
が照射される時、それによって磁性層13に形成される
磁区の大きさは、照射されるレーザ光のパワーと印加さ
れる磁界の強度により規定される。磁界強度が一定の場
合、周囲温度の上昇などによって、レーザ光照射時の光
磁気ディスク10の温度分布が高温側に移動すると、図
14に示すように、「昇温部」すなわち磁性層13の温
度が磁区形成温度よりも高い部分の面積が大きくなるの
で、磁区径は増大する。逆に、レーザ光照射時の光磁気
ディスク10の温度分布が低温側に移動すると、「昇温
部」の面積が小さくなるので、磁区径は減少する。
が照射される時、それによって磁性層13に形成される
磁区の大きさは、照射されるレーザ光のパワーと印加さ
れる磁界の強度により規定される。磁界強度が一定の場
合、周囲温度の上昇などによって、レーザ光照射時の光
磁気ディスク10の温度分布が高温側に移動すると、図
14に示すように、「昇温部」すなわち磁性層13の温
度が磁区形成温度よりも高い部分の面積が大きくなるの
で、磁区径は増大する。逆に、レーザ光照射時の光磁気
ディスク10の温度分布が低温側に移動すると、「昇温
部」の面積が小さくなるので、磁区径は減少する。
【0047】また、磁区径を一定にするのに要する磁界
強度と温度とは、一般的に図15のような関係を持つ。
図15から分かるように、周囲温度がTaからTbへ上
昇した場合、同じ磁区径を保つには、磁区の形成を助け
る向きの磁界の強度をHaからHbへ下げればよい。
強度と温度とは、一般的に図15のような関係を持つ。
図15から分かるように、周囲温度がTaからTbへ上
昇した場合、同じ磁区径を保つには、磁区の形成を助け
る向きの磁界の強度をHaからHbへ下げればよい。
【0048】そこで、光磁気ディスク10の温度変動に
より生じる磁区径の変化を補償するように、換言すれ
ば、光磁気ディスク10の温度変動があっても磁区径が
常に一定に保たれるように、電磁石駆動系37における
磁界強度制御系が設定されている。
より生じる磁区径の変化を補償するように、換言すれ
ば、光磁気ディスク10の温度変動があっても磁区径が
常に一定に保たれるように、電磁石駆動系37における
磁界強度制御系が設定されている。
【0049】この実施例では、回転数検出器40によ
り、光磁気ディスク10の回転数も常に検出され、その
結果が電磁石駆動系37に送られる。そして、その回転
数が所定の値になっているか否かを判定し、その判定結
果によっても電磁石41の発生する磁界の強度が調整さ
れる。これは、記録時に、光磁気ディスク10の記録層
13に形成される磁区の径は、光磁気ディスク10の回
転数の変動によっても変化するため、それに起因する磁
区径の変化を補償するためである。
り、光磁気ディスク10の回転数も常に検出され、その
結果が電磁石駆動系37に送られる。そして、その回転
数が所定の値になっているか否かを判定し、その判定結
果によっても電磁石41の発生する磁界の強度が調整さ
れる。これは、記録時に、光磁気ディスク10の記録層
13に形成される磁区の径は、光磁気ディスク10の回
転数の変動によっても変化するため、それに起因する磁
区径の変化を補償するためである。
【0050】この実施例ではさらに、光検出器34によ
り再生信号が検出され、その結果が電磁石駆動系37に
送られるようになっている。このため、その再生信号の
強度が所定の値になっているか否かを判定して、電磁石
41の発生する磁界の強度が調整される。これは、光磁
気ディスク10の温度や回転数によって再生時に磁区の
形状が変化すると、それに応じて再生信号の強度が変化
しノイズが発生する。このため、磁区の形状が常に一定
に保たれるように、再生時にも光磁気ディスク10に磁
界を印加するのである。
り再生信号が検出され、その結果が電磁石駆動系37に
送られるようになっている。このため、その再生信号の
強度が所定の値になっているか否かを判定して、電磁石
41の発生する磁界の強度が調整される。これは、光磁
気ディスク10の温度や回転数によって再生時に磁区の
形状が変化すると、それに応じて再生信号の強度が変化
しノイズが発生する。このため、磁区の形状が常に一定
に保たれるように、再生時にも光磁気ディスク10に磁
界を印加するのである。
【0051】この実施例では、光磁気ディスク10の温
度およびその回転数、並びに再生信号の強度を検出する
ようにしているが、再生信号の強度の検出は必ずしも必
要ではなく、また、光磁気ディスク10の温度およびそ
の回転数のうちのいずれかを設ければ足りる。
度およびその回転数、並びに再生信号の強度を検出する
ようにしているが、再生信号の強度の検出は必ずしも必
要ではなく、また、光磁気ディスク10の温度およびそ
の回転数のうちのいずれかを設ければ足りる。
【0052】以上の構成を持つ光磁気記録方式で実際に
情報の記録および再生を行なったところ、次のような結
果が得られた。
情報の記録および再生を行なったところ、次のような結
果が得られた。
【0053】まず、光磁気ディスク10を線速度8m/
secで回転させ、温度検出器42によって光磁気ディ
スク10の温度を検出したところ、15゜Cであった。
電磁石41により印加される磁界を32kA/m、レー
ザ光パワーを7mwとして、4MHzの信号を光変調方
式で光磁気ディスク10に記録した。その後、記録した
信号をパワー2mwのレーザ光で再生したところ、その
信号対ノイズ比(S/N)は54dBであった。
secで回転させ、温度検出器42によって光磁気ディ
スク10の温度を検出したところ、15゜Cであった。
電磁石41により印加される磁界を32kA/m、レー
ザ光パワーを7mwとして、4MHzの信号を光変調方
式で光磁気ディスク10に記録した。その後、記録した
信号をパワー2mwのレーザ光で再生したところ、その
信号対ノイズ比(S/N)は54dBであった。
【0054】次に、光磁気ディスク10の温度を55゜
Cとした以外は、同じ条件で前記と同じ信号を記録し
た。記録した信号を前記と同じ条件で再生したところ、
S/Nは52dBに低下した。
Cとした以外は、同じ条件で前記と同じ信号を記録し
た。記録した信号を前記と同じ条件で再生したところ、
S/Nは52dBに低下した。
【0055】そこで、光磁気ディスク10の温度を55
゜Cの時に印加磁界が24kA/mとなるように調整し
たところ、再生時のS/Nは54dBとなり、温度が1
5゜Cの時の値に回復した。これは、光磁気ディスク1
0の温度の変動により、最適な記録条件(記録される磁
区径)が変化したが、磁界強度の変化によりこの記録条
件の変化が補償されたことを示している。
゜Cの時に印加磁界が24kA/mとなるように調整し
たところ、再生時のS/Nは54dBとなり、温度が1
5゜Cの時の値に回復した。これは、光磁気ディスク1
0の温度の変動により、最適な記録条件(記録される磁
区径)が変化したが、磁界強度の変化によりこの記録条
件の変化が補償されたことを示している。
【0056】次に、同じ光磁気ディスク10を用い、記
録時の光磁気ディスク10の線速度を8m/secから
6m/secに変化させた。線速度以外の記録条件は上
記と同様にした。この信号を同じ条件で再生したとこ
ろ、S/Nは2dB低下した。そこで、記録時の印加磁
界を32kA/mから23kA/mに下げたところ、こ
の低下分は回復した。これは、光磁気ディスク10の線
速度すなわち回転数の変動により、最適な記録条件(記
録される磁区径)が変化したが、磁界強度の変化により
この記録条件の変化が補償されたことを示している。
録時の光磁気ディスク10の線速度を8m/secから
6m/secに変化させた。線速度以外の記録条件は上
記と同様にした。この信号を同じ条件で再生したとこ
ろ、S/Nは2dB低下した。そこで、記録時の印加磁
界を32kA/mから23kA/mに下げたところ、こ
の低下分は回復した。これは、光磁気ディスク10の線
速度すなわち回転数の変動により、最適な記録条件(記
録される磁区径)が変化したが、磁界強度の変化により
この記録条件の変化が補償されたことを示している。
【0057】図1では、放射型の温度検出器42を光磁
気ディスク10から離して設けているが、図2に示すよ
うに、光磁気ディスク10を固定したスピンドル39の
適当な箇所に熱電対44を取り付けてもよい。
気ディスク10から離して設けているが、図2に示すよ
うに、光磁気ディスク10を固定したスピンドル39の
適当な箇所に熱電対44を取り付けてもよい。
【0058】[第2実施例]図3はこの発明の光磁気記
録方式の第2実施例を示す。図3の各構成要素は、光磁
気ディスク10aと熱感度情報読み取り部43とが異な
っている以外は、図2のそれと同じである。
録方式の第2実施例を示す。図3の各構成要素は、光磁
気ディスク10aと熱感度情報読み取り部43とが異な
っている以外は、図2のそれと同じである。
【0059】光磁気ディスク10aは、第1実施例の光
磁気ディスク10と同じ層構成を有しているが、磁性層
13に熱感度を示す情報Aが記録されている点が異な
る。熱感度情報Aは、磁性層13の内部に設けられた専
用領域に磁気的に記録されている。熱感度情報Aは、光
磁気ディスク10aの作製時(出荷時)に個別に検査す
ることにより、容易に得ることができる。
磁気ディスク10と同じ層構成を有しているが、磁性層
13に熱感度を示す情報Aが記録されている点が異な
る。熱感度情報Aは、磁性層13の内部に設けられた専
用領域に磁気的に記録されている。熱感度情報Aは、光
磁気ディスク10aの作製時(出荷時)に個別に検査す
ることにより、容易に得ることができる。
【0060】熱感度情報読み取り部43は磁気ヘッドを
備えており、光磁気ディスク10aがスピンドル39に
セットされた時に、その磁気ヘッドにより光磁気ディス
ク10aに記録されている熱感度情報Aを読み取って電
磁石駆動系37に送る。こうして電磁石駆動系37は、
使用する光磁気ディスク10aの持つ熱感度を容易に認
識することができる。電磁石駆動系37は、認識した熱
感度に応じて、予め設定されている熱感度に対応した磁
界強度を定めたデータに基づいて電磁石41が発生する
磁界の強度を制御し、光磁気ディスク10aの記録層1
3の磁区径が一定に保たれるようにする。
備えており、光磁気ディスク10aがスピンドル39に
セットされた時に、その磁気ヘッドにより光磁気ディス
ク10aに記録されている熱感度情報Aを読み取って電
磁石駆動系37に送る。こうして電磁石駆動系37は、
使用する光磁気ディスク10aの持つ熱感度を容易に認
識することができる。電磁石駆動系37は、認識した熱
感度に応じて、予め設定されている熱感度に対応した磁
界強度を定めたデータに基づいて電磁石41が発生する
磁界の強度を制御し、光磁気ディスク10aの記録層1
3の磁区径が一定に保たれるようにする。
【0061】この実施例の光磁気記録方式では、使用す
る光磁気ディスク10aの持つ熱感度が熱感度情報読み
取り部43によって検出され、その検出結果に応じて、
電磁石41の発生する磁界すなわち光磁気ディスク10
aに印加される磁界の強度が変化する。この磁界強度の
変化は、記録時に、光磁気ディスク10aの記録層13
に形成される磁区の径が一定に保たれるように設定され
ている。このため、前回使用した光磁気ディスク10a
と今回使用する光磁気ディスク10aとが持つ熱感度が
異なっていても、磁区径は常に一定になる。
る光磁気ディスク10aの持つ熱感度が熱感度情報読み
取り部43によって検出され、その検出結果に応じて、
電磁石41の発生する磁界すなわち光磁気ディスク10
aに印加される磁界の強度が変化する。この磁界強度の
変化は、記録時に、光磁気ディスク10aの記録層13
に形成される磁区の径が一定に保たれるように設定され
ている。このため、前回使用した光磁気ディスク10a
と今回使用する光磁気ディスク10aとが持つ熱感度が
異なっていても、磁区径は常に一定になる。
【0062】以上の構成を持つ光磁気記録方式で実際に
情報の記録および再生を行なったところ、次のような結
果が得られた。◆光磁気ディスク10aとして、第1実
施例の光磁気ディスク10において記録層13の厚さの
みを60nmから80nmに変えたものを作製し、第1
実施例と同様の条件で信号の記録・再生を行なった。こ
の光磁気ディスク10aでは、記録層13の厚さが大き
くなって第1実施例の光磁気ディスク10に比べて熱感
度が低下したため、再生時のS/Nが1.5dB低下し
た。
情報の記録および再生を行なったところ、次のような結
果が得られた。◆光磁気ディスク10aとして、第1実
施例の光磁気ディスク10において記録層13の厚さの
みを60nmから80nmに変えたものを作製し、第1
実施例と同様の条件で信号の記録・再生を行なった。こ
の光磁気ディスク10aでは、記録層13の厚さが大き
くなって第1実施例の光磁気ディスク10に比べて熱感
度が低下したため、再生時のS/Nが1.5dB低下し
た。
【0063】そこで、記録時に印加する磁界の強度を3
2kA/mから40kA/mに変更したところ、この低
下分は回復した。これは、光磁気ディスク10および1
0a間での熱感度の変動により、最適な記録条件(記録
される磁区径)が変化したが、磁界強度の変化によりこ
の記録条件の変化が補償されたことを示している。
2kA/mから40kA/mに変更したところ、この低
下分は回復した。これは、光磁気ディスク10および1
0a間での熱感度の変動により、最適な記録条件(記録
される磁区径)が変化したが、磁界強度の変化によりこ
の記録条件の変化が補償されたことを示している。
【0064】図3では、熱感度情報Aは、磁性層13の
内部に設けられた専用領域に磁気的に記録されている
が、図4に示すように、カートリッジ20の表面に熱感
度情報Bを例えばバーコードにより記録し、そのバーコ
ードをバーコード・リーダーを持つ熱感度情報読み取り
部43によって読み取るようにしてもよい。
内部に設けられた専用領域に磁気的に記録されている
が、図4に示すように、カートリッジ20の表面に熱感
度情報Bを例えばバーコードにより記録し、そのバーコ
ードをバーコード・リーダーを持つ熱感度情報読み取り
部43によって読み取るようにしてもよい。
【0065】[第3実施例]図6はこの発明の光磁気記
録方式の第3実施例に使用する光磁気ディスクを示す。
この光磁気ディスク50は、表面にグルーブを形成した
ガラス基板51上に、厚さ80nmのSiN膜よりなる
保護層52と、厚さ60nmのTb27Fe63Co10膜よ
りなる記録層53と、厚さ30nmのDy25Fe68Co
7膜よりなる磁界発生層54と、厚さ80nmのSiN
膜よりなる保護層55とを、スパッタ法により順に積層
したものである。磁界発生層54は、記録層53に対し
て交換磁界を及ぼしている。
録方式の第3実施例に使用する光磁気ディスクを示す。
この光磁気ディスク50は、表面にグルーブを形成した
ガラス基板51上に、厚さ80nmのSiN膜よりなる
保護層52と、厚さ60nmのTb27Fe63Co10膜よ
りなる記録層53と、厚さ30nmのDy25Fe68Co
7膜よりなる磁界発生層54と、厚さ80nmのSiN
膜よりなる保護層55とを、スパッタ法により順に積層
したものである。磁界発生層54は、記録層53に対し
て交換磁界を及ぼしている。
【0066】この実施例の光磁気記録方式の光磁気ディ
スク50以外の構成は、図1のそれと同じである。ただ
し、後述のように、周囲温度の変動に起因する光磁気デ
ィスク50の温度分布の変動は、磁界発生層54によっ
て補償されるので、温度検出器42は設けなくてもよ
い。
スク50以外の構成は、図1のそれと同じである。ただ
し、後述のように、周囲温度の変動に起因する光磁気デ
ィスク50の温度分布の変動は、磁界発生層54によっ
て補償されるので、温度検出器42は設けなくてもよ
い。
【0067】一般的に、ある磁性層からの漏洩磁界ある
いはその磁性層と隣接する他の磁性層との間に作用する
交換磁界の強度は、その磁性層の磁化の大きさに依存す
る。このため、周囲温度の上昇によりその磁性層の磁化
が減少すると、それに伴って前記漏洩磁界あるいは交換
磁界の強度も低下する。そこで、前記漏洩磁界あるいは
交換磁界を発生する磁性層の磁界の向きを、記録用の磁
性層の磁区の形成を助ける向きに設定しておくと、その
記録用の磁区の径の変動を抑制あるいは防止することが
可能である。
いはその磁性層と隣接する他の磁性層との間に作用する
交換磁界の強度は、その磁性層の磁化の大きさに依存す
る。このため、周囲温度の上昇によりその磁性層の磁化
が減少すると、それに伴って前記漏洩磁界あるいは交換
磁界の強度も低下する。そこで、前記漏洩磁界あるいは
交換磁界を発生する磁性層の磁界の向きを、記録用の磁
性層の磁区の形成を助ける向きに設定しておくと、その
記録用の磁区の径の変動を抑制あるいは防止することが
可能である。
【0068】前記磁界発生層54が記録層53に及ぼす
交換磁界の温度依存性は、記録温度すなわち磁区形成温
度付近において、記録層53の保磁力の温度依存性と等
しくなるように設定してある。このため、記録温度付近
で光磁気ディスク50の周囲温度が変動しても、磁界発
生層54がその変動を補償するため、記録層53での磁
区の形成に必要な磁界の強度は一定に保たれる。
交換磁界の温度依存性は、記録温度すなわち磁区形成温
度付近において、記録層53の保磁力の温度依存性と等
しくなるように設定してある。このため、記録温度付近
で光磁気ディスク50の周囲温度が変動しても、磁界発
生層54がその変動を補償するため、記録層53での磁
区の形成に必要な磁界の強度は一定に保たれる。
【0069】例えば、周囲温度が高温側へシフトした場
合、磁界発生層54がなければ、記録用磁界により形成
される磁区径は大きくなる(図14参照)。しかし、こ
の実施例では、周囲温度のシフトに伴なって、そのシフ
ト状況に応じて磁界発生層54から記録層53へ与えら
れる交換磁界が弱くなるため、形成される磁区径の拡大
が防止される。
合、磁界発生層54がなければ、記録用磁界により形成
される磁区径は大きくなる(図14参照)。しかし、こ
の実施例では、周囲温度のシフトに伴なって、そのシフ
ト状況に応じて磁界発生層54から記録層53へ与えら
れる交換磁界が弱くなるため、形成される磁区径の拡大
が防止される。
【0070】この光磁気ディスク50を用いて、第1実
施例に示したのと同じ条件で信号の記録および再生を行
なったところ、記録時の周囲温度を15゜Cから55゜
Cに上昇させても、第1実施例のようなS/Nの変化は
見られなかった。これは、光磁気ディスク50の温度の
変動により、磁界発生層54がなければ最適な記録条件
(記録される磁区径)は変化するはずであるが、温度変
動に応じて磁界発生層54の交換磁界の強度が変化した
ため、前記記録条件の変化が補償されたことを示してい
る。
施例に示したのと同じ条件で信号の記録および再生を行
なったところ、記録時の周囲温度を15゜Cから55゜
Cに上昇させても、第1実施例のようなS/Nの変化は
見られなかった。これは、光磁気ディスク50の温度の
変動により、磁界発生層54がなければ最適な記録条件
(記録される磁区径)は変化するはずであるが、温度変
動に応じて磁界発生層54の交換磁界の強度が変化した
ため、前記記録条件の変化が補償されたことを示してい
る。
【0071】[第4実施例]図7〜図10はこの発明の
光磁気記録方式の第4実施例を示す。この実施例は「磁
気超解像再生方式」により信号を再生するものである。
この実施例の光磁気記録方式の光磁気ディスク60以外
の構成は、図1の第1実施例のそれと同じである。
光磁気記録方式の第4実施例を示す。この実施例は「磁
気超解像再生方式」により信号を再生するものである。
この実施例の光磁気記録方式の光磁気ディスク60以外
の構成は、図1の第1実施例のそれと同じである。
【0072】光磁気ディスク60の温度の変動により、
再生時にレーザ光照射により記録磁区が変形する可能性
がある。この記録磁区の形状の不安定性はノイズの発生
に繋がる。そこで、この実施例では、磁区を常に一定の
形として読みだすために、再生時に外部より光磁気ディ
スク60に磁界を印加し、その磁界の強度を光磁気ディ
スク60の温度分布の変動に応じて制御する。
再生時にレーザ光照射により記録磁区が変形する可能性
がある。この記録磁区の形状の不安定性はノイズの発生
に繋がる。そこで、この実施例では、磁区を常に一定の
形として読みだすために、再生時に外部より光磁気ディ
スク60に磁界を印加し、その磁界の強度を光磁気ディ
スク60の温度分布の変動に応じて制御する。
【0073】この実施例に使用する光磁気ディスクの構
成を図7に示す。この光磁気ディスク60は、表面にグ
ルーブを形成したガラス基板61上に、厚さ80nmの
SiN膜よりなる保護層62と、厚さ50nmのGd
25Fe50Co25膜よりなる再生層63と、厚さ20n
mのTb25Dy10Fe65膜よりなる切断層64と、厚さ
20nmのTb27Fe63Co10膜よりなる記録層65
と、厚さ80nmのSiN膜よりなる保護層66とを、
スパッタ法により順に積層したものである。
成を図7に示す。この光磁気ディスク60は、表面にグ
ルーブを形成したガラス基板61上に、厚さ80nmの
SiN膜よりなる保護層62と、厚さ50nmのGd
25Fe50Co25膜よりなる再生層63と、厚さ20n
mのTb25Dy10Fe65膜よりなる切断層64と、厚さ
20nmのTb27Fe63Co10膜よりなる記録層65
と、厚さ80nmのSiN膜よりなる保護層66とを、
スパッタ法により順に積層したものである。
【0074】記録層65には、情報を記録するための磁
区が保持される。記録層65に記録された磁区は、切断
層64の磁気的な結合力を介して再生層63に転写さ
れ、その再生層63に転写された磁区から情報が再生さ
れる。切断層64は、その磁気的な結合力により記録層
65の記録磁区を再生層63に転写し、その磁気的な結
合力の消滅により記録層65と再生層63とを切断す
る。
区が保持される。記録層65に記録された磁区は、切断
層64の磁気的な結合力を介して再生層63に転写さ
れ、その再生層63に転写された磁区から情報が再生さ
れる。切断層64は、その磁気的な結合力により記録層
65の記録磁区を再生層63に転写し、その磁気的な結
合力の消滅により記録層65と再生層63とを切断す
る。
【0075】磁気超解像再生方式の原理を図10を用い
て詳細に説明すると、次の通りである。光磁気ディスク
60に再生用のレーザ光を照射した場合、光磁気ディス
ク60は回転移動しているので、照射されたレーザ光に
より加熱昇温される部分はレーザ光スポットの後部(光
磁気ディスク60のトラック方向の後部)に生成され
る。
て詳細に説明すると、次の通りである。光磁気ディスク
60に再生用のレーザ光を照射した場合、光磁気ディス
ク60は回転移動しているので、照射されたレーザ光に
より加熱昇温される部分はレーザ光スポットの後部(光
磁気ディスク60のトラック方向の後部)に生成され
る。
【0076】切断層64が与える磁気的結合力は温度に
敏感なため、図10の低温部では結合力が強く、高温部
では結合力が弱くなる。このため、高温部では、再生層
63の記録磁区が外部から印加される磁界によって容易
に反転し、記録層65の記録磁区が現われない。低温部
では、再生層63に記録層65の記録磁区がそのまま現
われるため、再生されるのは低温部にある記録磁区のみ
となる。こうして、レーザ光スポットよりも小さな磁区
を確実に再生することが可能となる。
敏感なため、図10の低温部では結合力が強く、高温部
では結合力が弱くなる。このため、高温部では、再生層
63の記録磁区が外部から印加される磁界によって容易
に反転し、記録層65の記録磁区が現われない。低温部
では、再生層63に記録層65の記録磁区がそのまま現
われるため、再生されるのは低温部にある記録磁区のみ
となる。こうして、レーザ光スポットよりも小さな磁区
を確実に再生することが可能となる。
【0077】磁気超解像再生方式では、以上のようにし
て、再生層63によりレーザ光スポット内に視野を制限
するマスクとなる磁区が形成され、それによって再生信
号の得られる領域が縮小する結果、高分解能が確保され
るものである。しかし、再生層63のマスクとなる磁区
は、レーザ光照射による昇温により形成されるので、周
囲温度の変動などによりその磁区の大きさが変化して超
解像再生特性が変動する恐れがある。
て、再生層63によりレーザ光スポット内に視野を制限
するマスクとなる磁区が形成され、それによって再生信
号の得られる領域が縮小する結果、高分解能が確保され
るものである。しかし、再生層63のマスクとなる磁区
は、レーザ光照射による昇温により形成されるので、周
囲温度の変動などによりその磁区の大きさが変化して超
解像再生特性が変動する恐れがある。
【0078】この第4実施例では、第1〜第3の実施例
と同様に、図1に示す構成において、記録時に、温度検
出器42により光磁気ディスク60の温度を検出し、そ
の温度に応じて最適な強度の磁界を電磁石41により印
加するようにしているが、さらに再生時においても、温
度検出器42により光磁気ディスク60の温度を検出
し、その温度に応じて最適な強度の磁界を電磁石41に
より印加するようにしている。再生時に印加される磁界
の強度は、光磁気ディスク60の温度変動により生じる
切断層64の磁気的結合力の変化を補償するように、換
言すれば、光磁気ディスク60の温度変動があっても磁
気的結合力が常に一定に保たれるように設定されてい
る。このため、周囲温度の変動により超解像再生特性が
変動する恐れがない。
と同様に、図1に示す構成において、記録時に、温度検
出器42により光磁気ディスク60の温度を検出し、そ
の温度に応じて最適な強度の磁界を電磁石41により印
加するようにしているが、さらに再生時においても、温
度検出器42により光磁気ディスク60の温度を検出
し、その温度に応じて最適な強度の磁界を電磁石41に
より印加するようにしている。再生時に印加される磁界
の強度は、光磁気ディスク60の温度変動により生じる
切断層64の磁気的結合力の変化を補償するように、換
言すれば、光磁気ディスク60の温度変動があっても磁
気的結合力が常に一定に保たれるように設定されてい
る。このため、周囲温度の変動により超解像再生特性が
変動する恐れがない。
【0079】以上の構成を持つ光磁気記録方式で実際に
情報の記録および再生を行なった。光磁気ディスク60
を線速度10m/secで回転させ、レーザ光パワーを
変えて再生信号強度を測定した。再生層63に転写され
る磁区の径は0.4μmとした。得られた再生信号の強
度を図8に示す。超解像による再生信号の増強が得られ
ている。
情報の記録および再生を行なった。光磁気ディスク60
を線速度10m/secで回転させ、レーザ光パワーを
変えて再生信号強度を測定した。再生層63に転写され
る磁区の径は0.4μmとした。得られた再生信号の強
度を図8に示す。超解像による再生信号の増強が得られ
ている。
【0080】印加磁界の強度が48kA/m、レーザ光
パワーが1.5mWの時に、光磁気ディスク60の温度
を35゜Cから55゜Cに上げたところ、図8に示すよ
うに、再生信号強度が4dB減少した。この減少は、高
温部の面積の増大により再生層63のマスク磁区の面積
が拡大した結果(図14参照)、反射光量が減少したた
めである。
パワーが1.5mWの時に、光磁気ディスク60の温度
を35゜Cから55゜Cに上げたところ、図8に示すよ
うに、再生信号強度が4dB減少した。この減少は、高
温部の面積の増大により再生層63のマスク磁区の面積
が拡大した結果(図14参照)、反射光量が減少したた
めである。
【0081】次に、磁界強度を48kA/mから16k
A/mに減少したところ、再生信号強度は温度が上がる
以前のレベルに回復した。これは、磁界強度の減少によ
り、マスク磁区の面積が元に戻ったことを示している。
A/mに減少したところ、再生信号強度は温度が上がる
以前のレベルに回復した。これは、磁界強度の減少によ
り、マスク磁区の面積が元に戻ったことを示している。
【0082】このように、この実施例では、再生時に印
加する磁界の強度を切断層64の磁気的結合力の変化を
補償するように設定しているため、周囲温度が変動して
も超解像再生特性が一定に保たれる。
加する磁界の強度を切断層64の磁気的結合力の変化を
補償するように設定しているため、周囲温度が変動して
も超解像再生特性が一定に保たれる。
【0083】切断層64の磁気的結合力の変化を補償す
るための磁界の強度は、その変化の温度依存性に関係す
る。磁気的結合力の変化の温度依存性を小さくすると、
印加する磁界の強度が低減され、その結果、使用する電
磁石41が小さくて済むようになる。よって、磁気的結
合力の変化の温度依存性はできるだけ小さくすることが
望まれる。
るための磁界の強度は、その変化の温度依存性に関係す
る。磁気的結合力の変化の温度依存性を小さくすると、
印加する磁界の強度が低減され、その結果、使用する電
磁石41が小さくて済むようになる。よって、磁気的結
合力の変化の温度依存性はできるだけ小さくすることが
望まれる。
【0084】そのためには、切断層64の膜厚を20n
m以下とし、さらに、切断層64を磁気異方性や交換結
合力の小さな材料により形成するのが好ましい。◆例え
ば、図9に示すように、磁気的結合力を50゜Cの温度
差に対して32kA/m(400エルステッド)の変化
に抑えたい場合、切断層64の膜厚を20nm以下にす
ることによりそれを実現できる。切断層64の膜厚が2
0nm以下になると、隣接する記録層65と再生層63
の影響を受けて、切断層64の磁化が温度上昇により消
失する温度が不明瞭となる。その結果、切断層64の磁
化すなわち磁気的結合力の温度依存性が小さくなるから
である。
m以下とし、さらに、切断層64を磁気異方性や交換結
合力の小さな材料により形成するのが好ましい。◆例え
ば、図9に示すように、磁気的結合力を50゜Cの温度
差に対して32kA/m(400エルステッド)の変化
に抑えたい場合、切断層64の膜厚を20nm以下にす
ることによりそれを実現できる。切断層64の膜厚が2
0nm以下になると、隣接する記録層65と再生層63
の影響を受けて、切断層64の磁化が温度上昇により消
失する温度が不明瞭となる。その結果、切断層64の磁
化すなわち磁気的結合力の温度依存性が小さくなるから
である。
【0085】磁気異方性や交換結合力の小さな材料を選
択するのは、磁気的結合力の大きさは磁気異方性および
交換結合力に依存するので、それらの小さい材料を選択
することにより磁気的結合力を小さくすることができる
からである。例えば、ここで用いているTb25Dy10F
e65膜に代えて、TbまたはDyをGdに代えた材料を
用いると、磁気的結合力がいっそう小さくなる。非磁性
物質(例えば、Ti、V、Zr、Nb、Cr、Mn、N
i、Cu、Zn、B、C、Al、Si、Ge、Mo、R
h、Pd、Cu、Ag、Au、Ta、W、Ir、Pe等
の遷移金属)を添加してもよい。
択するのは、磁気的結合力の大きさは磁気異方性および
交換結合力に依存するので、それらの小さい材料を選択
することにより磁気的結合力を小さくすることができる
からである。例えば、ここで用いているTb25Dy10F
e65膜に代えて、TbまたはDyをGdに代えた材料を
用いると、磁気的結合力がいっそう小さくなる。非磁性
物質(例えば、Ti、V、Zr、Nb、Cr、Mn、N
i、Cu、Zn、B、C、Al、Si、Ge、Mo、R
h、Pd、Cu、Ag、Au、Ta、W、Ir、Pe等
の遷移金属)を添加してもよい。
【0086】切断層64のキュリー点は、それに隣接す
る記録層65および再生層63のキュリー点よりも低く
なる(切断層64のキュリー点が最低となる)ように選
ばれる。これは超解像再生方式の原理に基づく。つま
り、レーザ光の照射時に、所定温度で磁気的結合力を失
って記録層65と再生層63とを磁気的に遮断でき、且
つ、その際に記録層65および再生層63が磁化を失わ
ないようにするためである。
る記録層65および再生層63のキュリー点よりも低く
なる(切断層64のキュリー点が最低となる)ように選
ばれる。これは超解像再生方式の原理に基づく。つま
り、レーザ光の照射時に、所定温度で磁気的結合力を失
って記録層65と再生層63とを磁気的に遮断でき、且
つ、その際に記録層65および再生層63が磁化を失わ
ないようにするためである。
【0087】これらの点を考慮し、切断層64の厚さを
10nmにした以外は光磁気ディスク60と同じ構成の
光磁気ディスクを作製して、上記と同様にして再生信号
強度を測定した。その結果、補償に必要な磁界の強度を
約20%減少することができた。
10nmにした以外は光磁気ディスク60と同じ構成の
光磁気ディスクを作製して、上記と同様にして再生信号
強度を測定した。その結果、補償に必要な磁界の強度を
約20%減少することができた。
【0088】さらに、切断層64としてDy30Fe70膜
を用いた以外は光磁気ディスク60と同じ構成の光磁気
ディスクを作製し、上記と同様にして再生信号強度を測
定した。その結果、補償に必要な磁界の強度を約50%
に削減することができた。
を用いた以外は光磁気ディスク60と同じ構成の光磁気
ディスクを作製し、上記と同様にして再生信号強度を測
定した。その結果、補償に必要な磁界の強度を約50%
に削減することができた。
【0089】[第5実施例]図11はこの発明の光磁気
記録方式の第5実施例に使用する光磁気ディスクを示
す。この光磁気ディスク70は、表面にグルーブを形成
したガラス基板71上に、厚さ80nmのSiN膜より
なる保護層72と、厚さ20nmのTb27Fe63Co10
膜よりなる記録層73と、厚さ5nmのSiN膜よりな
る絶縁層74と、厚さ40nmのTb25Fe53Co22膜
よりなる磁界発生層75と、厚さ80nmのSiN膜よ
りなる保護層76とを、スパッタ法により順に積層した
ものである。
記録方式の第5実施例に使用する光磁気ディスクを示
す。この光磁気ディスク70は、表面にグルーブを形成
したガラス基板71上に、厚さ80nmのSiN膜より
なる保護層72と、厚さ20nmのTb27Fe63Co10
膜よりなる記録層73と、厚さ5nmのSiN膜よりな
る絶縁層74と、厚さ40nmのTb25Fe53Co22膜
よりなる磁界発生層75と、厚さ80nmのSiN膜よ
りなる保護層76とを、スパッタ法により順に積層した
ものである。
【0090】この磁界発生層75が発生する漏洩磁界
は、絶縁層74を介して記録層73に及んでいるが、こ
の漏洩磁界の温度依存性は、記録温度付近で記録層73
の保磁力の温度依存性と等しくなるように設定してある
ので、この記録温度付近で光磁気ディスク50の温度が
変動しても、磁区形成に必要な磁界は変動しない。
は、絶縁層74を介して記録層73に及んでいるが、こ
の漏洩磁界の温度依存性は、記録温度付近で記録層73
の保磁力の温度依存性と等しくなるように設定してある
ので、この記録温度付近で光磁気ディスク50の温度が
変動しても、磁区形成に必要な磁界は変動しない。
【0091】この光磁気ディスク70は、第3実施例の
光磁気ディスク50と同様に磁界発生層を有している。
しかし、光磁気ディスク50では、磁界発生層54が記
録層53に直接接しており、それら両層53および54
の間に作用する交換磁界を利用しているのに対し、この
第5実施例の光磁気ディスク70では、磁界発生層75
が絶縁層74を介して記録層73に接しており、それら
両層73および75の間に作用する漏洩磁界を利用して
いる点で、両者は異なる。
光磁気ディスク50と同様に磁界発生層を有している。
しかし、光磁気ディスク50では、磁界発生層54が記
録層53に直接接しており、それら両層53および54
の間に作用する交換磁界を利用しているのに対し、この
第5実施例の光磁気ディスク70では、磁界発生層75
が絶縁層74を介して記録層73に接しており、それら
両層73および75の間に作用する漏洩磁界を利用して
いる点で、両者は異なる。
【0092】上記構成を持つ光磁気ディスク70と共
に、比較用として、光磁気ディスク70において絶縁層
74と磁界発生層75とを除いたものを作製し、両ディ
スクについて、35゜Cおよび55゜Cにおいて次のよ
うにして信号の記録を行ない、記録特性の変動を調べ
た。その際の光磁気ディスク70の線速度は4m/se
cとした。
に、比較用として、光磁気ディスク70において絶縁層
74と磁界発生層75とを除いたものを作製し、両ディ
スクについて、35゜Cおよび55゜Cにおいて次のよ
うにして信号の記録を行ない、記録特性の変動を調べ
た。その際の光磁気ディスク70の線速度は4m/se
cとした。
【0093】まず、両ディスクに、48kA/m(60
0エルステッド)の下向き磁界を印加しながら、パワー
10mWのレーザ光(連続光)を照射し、磁界発生層7
5の磁化の向きを下向きに揃えた。次に、32kA/m
(400エルステッド)の上向き磁界を印加しながら、
パワー4mWのレーザ光(連続光)を照射し、記録層7
3の磁化の向きのみを上向きにした。この状態で、32
kA/m(400エルステッド)の下向きの磁界を印加
しながら、2MHzで変調されたレーザ光を両ディスク
に照射し、信号を記録した。
0エルステッド)の下向き磁界を印加しながら、パワー
10mWのレーザ光(連続光)を照射し、磁界発生層7
5の磁化の向きを下向きに揃えた。次に、32kA/m
(400エルステッド)の上向き磁界を印加しながら、
パワー4mWのレーザ光(連続光)を照射し、記録層7
3の磁化の向きのみを上向きにした。この状態で、32
kA/m(400エルステッド)の下向きの磁界を印加
しながら、2MHzで変調されたレーザ光を両ディスク
に照射し、信号を記録した。
【0094】比較用のディスクでは、この記録条件でデ
ィスクの温度を35゜Cから55゜Cに上げると、記録
可能となるレーザ光パワーが3.5mWから3.3mW
に減少したが、図11の光磁気ディスク70では、記録
可能となるレーザ光パワーが3.7mWで一定であっ
た。
ィスクの温度を35゜Cから55゜Cに上げると、記録
可能となるレーザ光パワーが3.5mWから3.3mW
に減少したが、図11の光磁気ディスク70では、記録
可能となるレーザ光パワーが3.7mWで一定であっ
た。
【0095】これは次のような理由による。比較用の光
磁気ディスクでは、温度が上昇すると、記録層に磁区が
形成されやすくなるため、記録可能となるレーザ光パワ
ーが減少した。これに対し、この実施例の光磁気ディス
ク70では、外部から印加される補償用の磁界と磁界発
生層75からの漏洩磁界との和が、記録する際の磁界と
なる。温度が上昇すると、記録層73に磁区が形成され
やすくなるが、それを補償するように磁界発生層75か
らの漏洩磁界が減少するため、記録可能となるレーザ光
パワーを一定にすることができたものである。
磁気ディスクでは、温度が上昇すると、記録層に磁区が
形成されやすくなるため、記録可能となるレーザ光パワ
ーが減少した。これに対し、この実施例の光磁気ディス
ク70では、外部から印加される補償用の磁界と磁界発
生層75からの漏洩磁界との和が、記録する際の磁界と
なる。温度が上昇すると、記録層73に磁区が形成され
やすくなるが、それを補償するように磁界発生層75か
らの漏洩磁界が減少するため、記録可能となるレーザ光
パワーを一定にすることができたものである。
【0096】この発明の光磁気記録方式および光磁気記
録媒体は、以上述べた実施例に限定されず、磁区の形
成、転写または変形のいずれについても適用可能であ
る。ここで、磁区の「転写」とは、図12のように、レ
ーザ光の照射により第2磁性層82の磁区を第1磁性層
81に転写することを言う。磁区の「変形」とは、図1
3のように、レーザ光の照射または磁界の印加により磁
性層83の磁区の大きさを変えること、および、レーザ
光の照射または磁界の印加によりある磁性層の磁区の大
きさを変えて他の磁性層に転写することを言う。
録媒体は、以上述べた実施例に限定されず、磁区の形
成、転写または変形のいずれについても適用可能であ
る。ここで、磁区の「転写」とは、図12のように、レ
ーザ光の照射により第2磁性層82の磁区を第1磁性層
81に転写することを言う。磁区の「変形」とは、図1
3のように、レーザ光の照射または磁界の印加により磁
性層83の磁区の大きさを変えること、および、レーザ
光の照射または磁界の印加によりある磁性層の磁区の大
きさを変えて他の磁性層に転写することを言う。
【0097】また、レーザ光照射の際に生じる磁性層の
温度分布の変動を検知する方法は、任意であり、以上述
べた実施例に限定されるものではない。
温度分布の変動を検知する方法は、任意であり、以上述
べた実施例に限定されるものではない。
【0098】
【発明の効果】この発明の光磁気記録方式および磁気記
録媒体では、光磁気記録媒体の周囲(環境)温度や移動
速度などの変動に対する記録・再生特性の変動が小さい
光磁気記録方式および光磁気記録媒体が得られる。
録媒体では、光磁気記録媒体の周囲(環境)温度や移動
速度などの変動に対する記録・再生特性の変動が小さい
光磁気記録方式および光磁気記録媒体が得られる。
【0099】また、光磁気記録媒体の磁性層として使用
する磁性材料の選択の幅を広げることができる。
する磁性材料の選択の幅を広げることができる。
【図1】この発明の光磁気記録方式の第1実施例を示す
全体構成図である。
全体構成図である。
【図2】この発明の光磁気記録方式の第1実施例の変形
例を示す部分図である。
例を示す部分図である。
【図3】この発明の光磁気記録方式の第2実施例を示す
全体構成図である。
全体構成図である。
【図4】この発明の光磁気記録方式の第2実施例の変形
例を示す部分図である。
例を示す部分図である。
【図5】この発明の光磁気記録方式の第1実施例に使用
する光磁気ディスクの要部断面図である。
する光磁気ディスクの要部断面図である。
【図6】この発明の光磁気記録方式の第3実施例に使用
する光磁気ディスクの要部断面図である。
する光磁気ディスクの要部断面図である。
【図7】この発明の光磁気記録方式の第4実施例に使用
する光磁気ディスクの要部断面図である。
する光磁気ディスクの要部断面図である。
【図8】この発明の光磁気記録方式の第4実施例により
得られたグラフである。
得られたグラフである。
【図9】この発明の光磁気記録方式の第4実施例におい
て、磁気的結合力の変化の温度依存性を説明するための
図である。
て、磁気的結合力の変化の温度依存性を説明するための
図である。
【図10】この発明の光磁気記録方式の第4実施例の動
作原理を説明するための図である。
作原理を説明するための図である。
【図11】この発明の光磁気記録方式の第5実施例に使
用する光磁気ディスクの要部断面図である。
用する光磁気ディスクの要部断面図である。
【図12】磁区の転写を説明するための図である。
【図13】磁区の変形を説明するための図である。
【図14】レーザ光照射時の磁性層内での位置と温度と
の関係を示すグラフである。
の関係を示すグラフである。
【図15】レーザ光照射時の磁性層の温度と印加磁界と
の関係を示すグラフである。
の関係を示すグラフである。
10 光磁気ディスク 11 ガラス基板 12 保護層 13 記録層 14 保護層 20 カートリッジ 30 光ヘッド 31 レーザ 32 ビームスプリッタ 33 集束用レンズ 34 光検出器 35 信号制御系 36 レーザ駆動系 37 電磁石駆動系 38 光ヘッド位置検出器 39 スピンドル 40 回転数検出器 41 電磁石 42 温度検出器 43 熱感度読み取り部 44 熱電対 A,B 熱感度を示す情報 50 光磁気ディスク 51 ガラス基板 52 保護層 53 記録層 54 磁界発生層 55 保護層 60 光磁気ディスク 61 ガラス基板 62 保護層 63 再生層 64 切断層 65 記録層 66 保護層 70 光磁気ディスク 71 ガラス基板 72 保護層 73 記録層 74 絶縁層 75 磁界発生層 76 保護層 81 第1磁性層 82 第2磁性層 83 磁性層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 新原 敏夫 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内
Claims (21)
- 【請求項1】 記録用の磁性層を持つ光磁気記録媒体に
レーザ光を照射し、それによって生じる前記磁性層の局
所的温度上昇によりその磁性層に磁区を形成して情報を
記録し、前記光磁気記録媒体にレーザ光を照射して前記
磁区から前記情報を再生する光磁気記録方式において、 レーザ光照射の際に生じる前記磁性層の温度分布の変動
を検知し、その検知結果に応じて前記光磁気記録媒体の
記録特性および再生特性の少なくとも一方の変動を補償
することを特徴とする光磁気記録方式。 - 【請求項2】 前記光磁気記録媒体の記録特性および再
生特性の少なくとも一方の変動を、前記光磁気記録媒体
に印加する磁界の強度を変えることにより補償する請求
項1に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項3】 前記磁性層の温度分布の変動を、前記光
磁気記録媒体の全体温度を介して検知する請求項1また
は2に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項4】 前記光磁気記録媒体の全体温度を、前記
光磁気記録媒体の外部に設けた温度検出手段により検知
する請求項3に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項5】 前記光磁気記録媒体の全体温度を、前記
光磁気記録媒体の内部に設けた温度検出手段により検知
する請求項3に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項6】 前記磁性層の温度分布の変動を、前記光
磁気記録媒体の移動速度を介して検知する請求項1また
は2に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項7】 前記光磁気記録媒体の駆動手段からの信
号により、前記光磁気記録媒体の移動速度の変化を検知
する請求項6に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項8】 前記磁性層の温度分布の変動を、前記光
磁気記録媒体の持つ熱感度を介して検知する請求項1ま
たは2に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項9】 前記光磁気記録媒体にその媒体の熱感度
を示す熱感度情報を付し、その熱感度情報によりその光
磁気記録媒体の熱感度を検知する請求項8に記載の光磁
気記録方式。 - 【請求項10】 前記光磁気記録媒体がカートリッジに
収容されており、前記熱感度情報がそのカートリッジに
付されている請求項9に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項11】 前記熱感度情報が、前記光磁気記録媒
体自体に付されている請求項9に記載の光磁気記録方
式。 - 【請求項12】 記録用の磁性層を持つ光磁気記録媒体
にレーザ光を照射し、それによって生じる前記磁性層の
局所的温度上昇によりその磁性層に磁区を形成して情報
を記録し、前記光磁気記録媒体にレーザ光を照射して前
記磁区から前記情報を再生する光磁気記録方式におい
て、 前記光磁気記録媒体に補償用の磁性層を設け、その補償
用磁性層が発生する磁界によって、レーザ光照射の際に
生じる前記記録用磁性層の温度分布の変動を補償するこ
とを特徴とする光磁気記録方式。 - 【請求項13】 前記補償用磁性層が発生する漏洩磁界
および交換磁界の少なくとも一方が、前記記録用磁性層
の温度分布の変動を補償するように温度によって変動す
る請求項12に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項14】 前記光磁気記録媒体の温度分布の変動
を、前記光磁気記録媒体から得られる再生信号の強度を
介して検知する請求項1〜13のいずれかに記載の光磁
気記録方式。 - 【請求項15】 前記光磁気記録媒体の記録特性の変動
が、情報を記録する際に前記磁性層に形成される磁区の
大きさを一定に保つように補償される請求項1〜14の
いずれかに記載の光磁気記録方式。 - 【請求項16】 前記光磁気記録媒体の再生特性の変動
が、情報を再生する際に前記磁性層に形成された磁区の
大きさを一定に保つように補償される請求項1〜14の
いずれかに記載の光磁気記録方式。 - 【請求項17】 情報を再生する際に前記磁性層に形成
された磁区の転写または変形が行なわれ、その転写また
は変形が一定となるように前記光磁気記録媒体の再生特
性の変動が補償される請求項1〜14のいずれかに記載
の光磁気記録方式。 - 【請求項18】 前記光磁気記録媒体が、切断層を介し
て前記記録用磁性層に隣接する再生層を有していると共
に、前記記録用磁性層の磁区が前記切断層を介して前記
再生層に転写されるようになっており、前記切断層の持
つ磁気的結合力の変動を補償するように磁界が印加され
る請求項17に記載の光磁気記録方式。 - 【請求項19】 基板上に直接または下地層を介して形
成された記録用の磁性層を備えた光磁気記録媒体におい
て、 レーザ光照射の際に生じる前記記録用磁性層の温度分布
の変動を補償する補償用の磁性層を備えていることを特
徴とする光磁気記録媒体。 - 【請求項20】 前記補償用磁性層が発生する漏洩磁界
および交換磁界の少なくとも一方が、前記記録用磁性層
の温度分布の変動を補償するように温度によって変動す
る請求項19に記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項21】 切断層を介して前記記録用磁性層に隣
接する再生層を有していると共に、前記記録用磁性層の
磁区が前記切断層を介して前記再生層に転写されるよう
になっており、前記切断層の膜厚が20nm以下である
請求項19に記載の光磁気記録方式。
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