JPH0740336A - Diamond machining method - Google Patents
Diamond machining methodInfo
- Publication number
- JPH0740336A JPH0740336A JP5208711A JP20871193A JPH0740336A JP H0740336 A JPH0740336 A JP H0740336A JP 5208711 A JP5208711 A JP 5208711A JP 20871193 A JP20871193 A JP 20871193A JP H0740336 A JPH0740336 A JP H0740336A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diamond
- light
- processing
- plasma
- laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ダイヤモンドに光を照
射することにより切断あるいは表面の研削等を行う、ダ
イヤモンドの加工方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a diamond processing method in which diamond is irradiated with light to perform cutting or surface grinding.
【0002】[0002]
【従来の技術】ダイヤモンドは全ての物質中で最も高い
硬度と熱伝導率を有する等、優れた特性を数多く有して
おり、これらの特性を利用して半導体装置のヒートシン
クや切削工具等の各種の工具類として広く使用されてい
る。ダイヤモンドをこれらの用途に使用する場合には、
所定の形状や表面状態に加工する必要があるが、ダイヤ
モンドは全ての物質中で硬度が最も高いので加工が非常
に困難である。2. Description of the Related Art Diamond has many excellent characteristics such as the highest hardness and the highest thermal conductivity among all materials. Utilizing these characteristics, various kinds of heat sinks and cutting tools for semiconductor devices can be utilized. Widely used as tools. When using diamond for these purposes,
Although it is necessary to process into a predetermined shape and surface condition, diamond is the most hard of all substances, so processing is extremely difficult.
【0003】従来、単結晶のダイヤモンドの加工に関し
ては、比較的加工し易い面方位及び方向がある程度把握
されており、その制限された範囲ではスカイフ研磨によ
り研削加工が行われている。しかし、多結晶ダイヤモン
ドの場合にはダイヤモンド粒子の面方位はあらゆる方向
を向いているため、スカイフ研磨によっても表面の平滑
化は難しかった。又、気相合成ダイヤモンドでは反りが
発生し易く、大面積のものでは反りが数十μmにも及ぶ
場合があるため、スカイフ研磨等の機械研磨では研磨時
の機械的圧力により割れが発生して研磨不可能なことが
あった。Conventionally, with respect to the processing of single crystal diamond, it has been known to some extent the direction and direction of the surface that are relatively easy to process, and within the limited range, grinding is performed by skiff polishing. However, in the case of polycrystalline diamond, the surface orientation of diamond particles is in all directions, so it was difficult to smooth the surface even by skiving. In addition, since vapor-phase synthetic diamond is apt to warp, and large-area ones may have warpage of several tens of μm, cracks may occur due to mechanical pressure during polishing in mechanical polishing such as Skaif polishing. Sometimes it was impossible to polish.
【0004】しかも、スカイフ研磨は加工速度が1μm
/h程度と非常に遅く、加工効率が極めて悪いという欠
点があった。又、スカイフ研磨においては試料の固定方
法に難しさがあるため、形状が小さすぎたり不定形の場
合には作業性が悪く、時として加工が不可能な場合もあ
った。In addition, the processing speed of skiff polishing is 1 μm.
There was a drawback that the processing efficiency was extremely low and the processing efficiency was extremely poor. Further, in the skiff polishing, there is a difficulty in the method of fixing the sample. Therefore, when the shape is too small or the shape is irregular, the workability is poor and sometimes the processing is impossible.
【0005】一方、ダイヤモンドの切断加工に関して
は、導電性の焼結助剤を用いて焼結したダイヤモンド焼
結体の場合は、放電加工により切断が可能であった。し
かし、非導電性の焼結助剤を用いたダイヤモンド焼結体
や、単結晶ダイヤモンド及び気相合成ダイヤモンド等の
電気伝導性のないダイヤモンドには放電加工が使用でき
ない。そこでレーザーによる切断が考えられ、CO2レ
ーザー、COレーザー、YAGレーザーを用いた切断加
工が従来から実施されている。On the other hand, with respect to the cutting process of diamond, in the case of a diamond sintered body sintered by using a conductive sintering aid, it was possible to cut by electric discharge machining. However, electric discharge machining cannot be used for a diamond sintered body using a non-conductive sintering aid, and diamond having no electric conductivity such as single crystal diamond and vapor phase synthetic diamond. Therefore, cutting with a laser is considered, and cutting with a CO 2 laser, a CO laser, or a YAG laser has been conventionally performed.
【0006】しかし、これらのレーザーは波長が1μm
以上の赤外線を使用し、ダイヤモンドを加熱溶融させて
加工するため、熱により加工部周辺のダイヤモンドに劣
化が生じる欠点があった。又、ダイヤモンドの加熱溶融
により除去された炭素が加工面近くにグラファイトや無
定形炭素として堆積したり、レーザー光の照射により大
気中のCO2が分解して生成したすすの様な無定形炭素
がダイヤモンド表面に付着する欠点があった。However, these lasers have a wavelength of 1 μm.
Since the above infrared rays are used to heat and melt the diamond for processing, there is a drawback that the diamond around the processed portion is deteriorated by heat. In addition, carbon removed by heating and melting of diamond is deposited as graphite or amorphous carbon near the processed surface, or amorphous carbon such as soot generated by decomposition of CO 2 in the atmosphere by irradiation of laser light is generated. There was a defect that it adhered to the diamond surface.
【0007】ダイヤモンドの加工面付近に付着堆積した
グラファイトや無定形炭素は、照射されるレーザー光を
吸収するので、エネルギー効率が低下して加工速度が非
常に遅くなり、更には加工面の形状に影響を与えて加工
精度を悪化させ、加工面の平滑度を低下させる。又、付
着したグラファイトや無定形炭素を除去するため、加工
後に機械的研削やレーザーによる蒸散あるいは酸による
エッチング処理等が必要であったり、低下した精度や平
滑度を向上させる目的で機械研磨による仕上げ加工が必
要であった。[0007] Graphite and amorphous carbon adhered and deposited near the processed surface of diamond absorb the irradiated laser light, so that the energy efficiency is lowered and the processing speed becomes very slow, and further the shape of the processed surface is changed. Affects the deterioration of processing accuracy and reduces the smoothness of the processed surface. Also, in order to remove the attached graphite and amorphous carbon, mechanical grinding, evaporation by laser or etching treatment with acid etc. is required after processing, or finish by mechanical polishing for the purpose of improving the lowered accuracy and smoothness. Processing was required.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、かかる従来
の事情に鑑み、光を照射してダイヤモンドを加工する方
法において、ダイヤモンド本体になんら影響を与えるこ
となく、加工により除去されたダイヤモンドの炭素等に
由来するグラファイトや無定形炭素の付着を無くして、
ダイヤモンドを高速で高精度に加工でき、平滑な加工面
を得ることのできるダイヤモンドの加工方法を提供する
ことを目的とする。In view of the above conventional circumstances, the present invention is a method of processing a diamond by irradiating light with the carbon of diamond removed by the processing without any influence on the diamond body. Eliminates the adhesion of graphite and amorphous carbon derived from
An object of the present invention is to provide a diamond processing method capable of processing diamond at high speed with high accuracy and obtaining a smooth processed surface.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明が提供するダイヤモンドの加工方法は、ダイ
ヤモンドに光を照射して加工する方法において、雰囲気
ガスのプラズマ中でダイヤモンドに波長が190〜36
0nmの光を照射することを特徴とする。In order to achieve the above object, the method for processing diamond provided by the present invention is a method for processing diamond by irradiating it with light, wherein the diamond has a wavelength of 190 in plasma of atmospheric gas. ~ 36
It is characterized in that light of 0 nm is irradiated.
【0010】[0010]
【作用】本発明者らは、波長が190〜360nmの光
(紫外光)を照射することにより、ダイヤモンドを構成
している炭素−炭素結合が影響を受け、ダイヤモンドが
分解されることを見いだし、この知見に基づいてダイヤ
モンドを加工する新しい方法を提案するものである。即
ち、上記波長の光を集光して高いエネルギー密度の光を
照射することにより、多光子吸収が起こり入射光の大部
分がダイヤモンド表面で吸収され、ダイヤモンドにダメ
ージを全く与えることなく、効率の良い加工を行うこと
ができる。The present inventors have found that by irradiating light (ultraviolet light) having a wavelength of 190 to 360 nm, the carbon-carbon bond constituting diamond is affected and the diamond is decomposed. Based on this knowledge, we propose a new method for processing diamond. That is, by collecting light of the above wavelength and irradiating it with light of high energy density, multiphoton absorption occurs and most of the incident light is absorbed by the diamond surface, which does not damage the diamond at all, Good processing can be done.
【0011】上記波長の光によりダイヤモンドを加工し
得るのは、下記の理由によるものと考えられる。即ち、
ダイヤモンドによる光の吸収は、高純度のIIa型単結晶
ダイヤモンドの場合で図1に示す吸収曲線となる。図1
から解るように、ダイヤモンドによる光の吸収は、波長
が400nmから240nmの領域で短波長になるほど
徐々に増加し、220nm付近で急激に増加して完全に
吸収される。The reason why diamond can be processed with light of the above wavelength is considered to be as follows. That is,
The absorption of light by diamond has the absorption curve shown in FIG. 1 in the case of high-purity type IIa single crystal diamond. Figure 1
As can be seen from the above, the absorption of light by diamond gradually increases as the wavelength becomes shorter in the wavelength range of 400 nm to 240 nm, and sharply increases near 220 nm to be completely absorbed.
【0012】この領域の光は紫外光であり、物質に吸収
されると主として化学結合の電子を励起させることが知
られている。特にダイヤモンドにおいては、波長が19
0〜360nmの範囲の光が炭素−炭素結合に大きな影
響を与え、しかも内部まで浸透せずに表面層でほぼ10
0%吸収されるため、光の照射された表面部分でのみダ
イヤモンドの分解が進み、高速で効率の良い加工が可能
になる。Light in this region is ultraviolet light, and it is known that when it is absorbed by a substance, it mainly excites electrons of a chemical bond. Especially for diamond, the wavelength is 19
The light in the range of 0 to 360 nm has a great influence on the carbon-carbon bond, and it does not penetrate to the inside and is almost 10 in the surface layer.
Since it is absorbed by 0%, the diamond is decomposed only in the surface portion irradiated with light, which enables high-speed and efficient processing.
【0013】しかしながら、上記の波長範囲の光を照射
してダイヤモンドの加工を行うと、従来の赤外線レーザ
ーによる加工の場合と同様に、ダイヤモンドから除去さ
れた炭素が加工面近くにグラファイトや無定形炭素とし
て堆積したり、光の照射により大気中のCO2が分解し
て生成したすすの様な無定形炭素がダイヤモンド表面に
付着することが避けられない。その結果、光のエネルギ
ー効率が低下して加工速度が遅くなったり、加工精度の
悪化や加工面の平滑度を低下させる等の不都合が認めら
れた。However, when the diamond is processed by irradiating it with light in the above wavelength range, carbon removed from the diamond is near graphite or amorphous carbon near the processed surface, as in the case of the conventional infrared laser processing. It is unavoidable that amorphous carbon such as soot, which is formed as a soot or is generated by the decomposition of CO 2 in the atmosphere by irradiation of light, is attached to the diamond surface. As a result, inconveniences such as a decrease in light energy efficiency and a decrease in processing speed, deterioration of processing accuracy, and a decrease in smoothness of a processed surface were recognized.
【0014】このグラファイトや無定形炭素の付着堆積
による不都合を解消するため、鋭意研究の結果、雰囲気
ガスのプラズマ中で波長190〜360nmの光を照射
して加工することにより、ダイヤモンドから除去された
物質の飛行行程を延ばし、加工面の周辺に付着すること
を防止できることが判った。しかも、反応性の高いプラ
ズマを使用すれば、ダイヤモンドの表面でプラズマによ
るエッチング現象が起こるため、より高速の加工が可能
になることも確認された。In order to eliminate the inconvenience caused by the deposition and deposition of graphite and amorphous carbon, as a result of intensive research, it was removed from diamond by irradiating and processing light having a wavelength of 190 to 360 nm in plasma of atmospheric gas. It has been found that it is possible to extend the flight path of the material and prevent it from adhering to the periphery of the machined surface. Moreover, it was also confirmed that if a highly reactive plasma is used, an etching phenomenon occurs due to the plasma on the surface of the diamond, so that higher speed processing becomes possible.
【0015】具体的には、水素又は不活性ガスのプラズ
マを使用すれば、これらのプラズマによってグラファイ
トや無定形炭素は速やかにエッチングされ、ダイヤモン
ド表面に付着することなく除去される。これに対して上
記プラズマによるダイヤモンドのエッチング速度は極め
て遅いので、ダイヤモンドの加工は主に照射された光と
の反応によって進行する結果、非常に平滑な加工面が得
られる。尚、不活性ガスとしては、波長190〜360
nmの紫外域に吸収端を持たないHe、Ne、Ar、K
r、Xe等の不活性ガス、中でもAr又はHeが好まし
い。Specifically, when plasma of hydrogen or an inert gas is used, graphite and amorphous carbon are rapidly etched by these plasmas and removed without adhering to the diamond surface. On the other hand, since the etching rate of diamond by the plasma is extremely low, the processing of diamond proceeds mainly by the reaction with the irradiated light, resulting in a very smooth processed surface. The inert gas has a wavelength of 190 to 360.
He, Ne, Ar, K which has no absorption edge in the ultraviolet region of nm
Inert gases such as r and Xe, among which Ar or He is preferable.
【0016】一方、酸素のプラズマを使用した場合に
は、このプラズマによってグラファイトや無定形炭素の
みならずダイヤモンドも高速でエッチングされる。従っ
て、酸素プラズマ中で上記光の照射によりダイヤモンド
を加工すると、グラファイトや無定形炭素の付着を防ぐ
と同時に、ダイヤモンドは照射された光との反応による
加工に加えて酸素プラズマによりエッチングされるの
で、他の雰囲気中での加工よりも非常に高速な加工が可
能となる。On the other hand, when oxygen plasma is used, this plasma etches not only graphite and amorphous carbon but also diamond at a high speed. Therefore, when the diamond is processed by the irradiation of light in oxygen plasma, the adhesion of graphite and amorphous carbon is prevented, and at the same time, the diamond is etched by the oxygen plasma in addition to the processing by the reaction with the irradiated light. It enables machining at a much higher speed than machining in other atmospheres.
【0017】しかしながら、酸素プラズマによるダイヤ
モンドのエッチング速度は酸素プラズマの濃度分布に鋭
敏に左右されるため、エッチング速度のばらつきで加工
面が粗れ易く、得られる加工面は水素又は不活性ガスの
プラズマの場合よりも平滑度において劣る。However, since the etching rate of diamond by oxygen plasma sensitively depends on the concentration distribution of oxygen plasma, the processed surface is likely to be rough due to variations in the etching rate, and the obtained processed surface is a plasma of hydrogen or an inert gas. Inferior in smoothness to the case of.
【0018】酸素プラズマによる加工面の粗れを防ぐた
めには、酸素に不活性ガスを混合してプラズマ化させ、
この混合ガスのプラズマ中で加工することが有効であ
り、高い加工速度で平滑度の高い加工面を得ることがで
きる。この場合、加工速度及び加工面の平滑度は混合ガ
ス中の酸素濃度に依存し、酸素濃度が高くなるほど加工
速度も速くなるが加工面の平滑度は低下する。望ましい
加工面の平滑度を得るためには、酸素濃度を20体積%
以下とすることが好ましい。In order to prevent roughening of the machined surface due to oxygen plasma, oxygen is mixed with an inert gas to generate plasma,
It is effective to perform processing in the plasma of this mixed gas, and a processed surface having high smoothness can be obtained at a high processing speed. In this case, the processing speed and the smoothness of the processed surface depend on the oxygen concentration in the mixed gas. The higher the oxygen concentration, the faster the processing speed, but the smoothness of the processed surface decreases. To obtain the desired surface smoothness, the oxygen concentration should be 20% by volume.
The following is preferable.
【0019】光源は波長190〜360nmの紫外域の
光を照射できるものであれば良く、例えばArF、Kr
Cl、KrF、XeCl、N2、XeF等の固有の発振
波長を持つエキシマレーザーのようなレーザー、あるい
は上記紫外域を含む連続した波長帯を持つ水銀灯等を使
用することができる。水銀灯のような連続した波長帯を
持つ光源の場合は、そのまま連続波長帯の光を使用して
も良いが、光学フィルター等により波長帯域を狭帯域化
することが好ましい。尚、ArFエキシマレーザーは酸
素の吸収によるエネルギーの減衰が考えられるので、酸
素を含むプラズマ中での使用は避けることが望ましい。Any light source may be used as long as it can emit light in the ultraviolet region having a wavelength of 190 to 360 nm. For example, ArF and Kr.
A laser such as an excimer laser having a specific oscillation wavelength such as Cl, KrF, XeCl, N 2 or XeF, or a mercury lamp having a continuous wavelength band including the above-mentioned ultraviolet region can be used. In the case of a light source having a continuous wavelength band such as a mercury lamp, light in the continuous wavelength band may be used as it is, but it is preferable to narrow the wavelength band with an optical filter or the like. Since the ArF excimer laser may be attenuated in energy by absorbing oxygen, it is desirable to avoid using it in a plasma containing oxygen.
【0020】照射する光のエネルギー密度は、小さ過ぎ
るとダイヤモンドが分解されず、逆に大きすぎると加工
面以外を劣化させるので、10〜1011W/cm2の範
囲が好ましい。パルスレーザー光を用いる場合には、1
パルス当たりのエネルギーの密度が10-1〜106J/
cm2の範囲が好ましい。上記の範囲内では、エネルギ
ー密度が高いほど加工速度が高くなる傾向があるので、
高エネルギーを発生できる装置を用いることが好まし
い。又、パルスレーザー光を用いる場合には、加工速度
はパルスの繰り返し周波数に比例して増加するので、装
置としては高繰り返しのレーザー発振器を使用すること
が好ましい。The energy density of the irradiation light is preferably in the range of 10 to 10 11 W / cm 2 because if the energy density is too low, the diamond will not be decomposed, and if it is too high , the areas other than the processed surface will be deteriorated. 1 when using pulsed laser light
Energy density per pulse is 10 -1 to 10 6 J /
A range of cm 2 is preferred. Within the above range, the higher the energy density, the higher the processing speed, so
It is preferable to use a device capable of generating high energy. Further, when using pulsed laser light, the processing speed increases in proportion to the pulse repetition frequency, so it is preferable to use a highly repetitive laser oscillator as the device.
【0021】レーザー光はビーム内のエネルギー分布が
不均一であり、一般的にはこれが加工面の平滑さや精度
を低下させる原因となり得る。エネルギー分布を均質に
補正するビームホモジナイザー等も市販されているが、
これらの装置はビームのエネルギーを6割程度に減衰さ
せるためエネルギー効率が低下する欠点がある。しか
し、本発明のダイヤモンドの加工方法においては、レー
ザー光を円筒型レンズ又は円筒型ミラーにより線状に集
光して照射すれば、特にエネルギーの均質化を行わなく
ても、ビーム内のエネルギー分布と無関係に平滑な加工
面を得ることができる。The laser beam has a non-uniform energy distribution in the beam, and this can generally cause the smoothness and accuracy of the machined surface to deteriorate. There are also commercially available beam homogenizers that evenly correct the energy distribution,
These devices have a drawback that the energy efficiency is lowered because the beam energy is attenuated by about 60%. However, in the diamond processing method of the present invention, if the laser light is linearly focused and irradiated by the cylindrical lens or the cylindrical mirror, the energy distribution in the beam can be obtained without particularly homogenizing the energy. A smooth machined surface can be obtained regardless of.
【0022】円筒型レンズ又は円筒型ミラーでレーザー
光を集光する場合、レーザー発振器から発振されるレー
ザー光の広がり角度を5×10-1mrad以下と小さく
することで、レンズによる集光性を高めることが可能と
なるので、加工面のシャープさ及び平滑さの点で有利で
ある。更に精密な加工を要する場合には波長の狭帯域化
が有効であり、その場合には波長のバンド幅の半価幅を
10-4〜10-1nmの範囲とすることが好ましい。狭帯
域化の方法としては、エタロンを使用する方法とインジ
ェクションロック方式とがある。When the laser light is condensed by the cylindrical lens or the cylindrical mirror, the converging property of the lens can be improved by reducing the spread angle of the laser light oscillated from the laser oscillator to 5 × 10 -1 mrad or less. Since it can be increased, it is advantageous in terms of sharpness and smoothness of the processed surface. When more precise processing is required, it is effective to narrow the wavelength band. In that case, it is preferable to set the half bandwidth of the wavelength band within the range of 10 -4 to 10 -1 nm. As a method for narrowing the band, there are a method using an etalon and an injection lock method.
【0023】[0023]
【実施例】実施例1 気相合成法により基板上に形成したダイヤモンド膜を、
図2及び図3に示す装置により水素プラズマ中にてエキ
シマレーザーを照射することにより加工した。即ち、表
面粗さRaが3μmであり、大きさが10mm角で厚さ
が350μmの板状のダイヤモンド1を支持台2に保持
し、反応室となる石英管3内に支持した後、石英管3内
に水素ガスを供給した。 Example 1 A diamond film formed on a substrate by a vapor phase synthesis method
It processed by irradiating an excimer laser in hydrogen plasma by the apparatus shown in FIG. 2 and FIG. That is, a plate-shaped diamond 1 having a surface roughness Ra of 3 μm, a size of 10 mm square and a thickness of 350 μm is held on a support 2 and supported in a quartz tube 3 serving as a reaction chamber. Hydrogen gas was supplied into the chamber 3.
【0024】次に、図2のプラズマ発生装置により、マ
グネトロン4から2450MHzのマイクロ波を発振さ
せ、導波管5を通して石英管3を挟んで設けた共振器6
に導き、プランジャー7で定在波の発生を制御しながら
石英管3内のダイヤモンド1の表面に水素のプラズマ8
を発生させた。この時、石英管3内の圧力は50Tor
r、及びマイクロ波の出力は500Wとした。Next, the plasma generator shown in FIG. 2 oscillates a microwave of 2450 MHz from the magnetron 4, and a resonator 6 provided with the quartz tube 3 sandwiched through the waveguide 5.
The plasma of hydrogen 8 on the surface of the diamond 1 in the quartz tube 3 while controlling the generation of the standing wave by the plunger 7.
Was generated. At this time, the pressure in the quartz tube 3 is 50 Tor.
The output of r and the microwave was set to 500W.
【0025】この状態で、図3のレーザー光照射装置を
用いて、レーザー発振器9から248nmの発振波長を
有するKrFエキシマレーザーのレーザー光10を発振
させ、このレーザー光10をマスク11で絞った後、誘
電体多層ミラーからなる反射ミラー12及び合成石英の
凸型レンズからなる円筒型レンズ13を通して長さ10
mm幅100μmの線状に集光し、石英管3の石英窓1
4を通して水素のプラズマ8中でダイヤモンド1の表面
に照射した。照射したレーザー光10のエネルギー密度
は7J/cm2、及びパルスの繰り返しは100Hzと
した。In this state, the laser light irradiation device of FIG. 3 is used to oscillate the laser light 10 of the KrF excimer laser having the oscillation wavelength of 248 nm from the laser oscillator 9, and the laser light 10 is focused by the mask 11. A reflection mirror 12 made of a dielectric multi-layer mirror and a cylindrical lens 13 made of a synthetic quartz convex lens for a length of 10
The quartz window 1 of the quartz tube 3 collects light in a linear shape with a width of 100 μm.
The surface of the diamond 1 was irradiated in a plasma 8 of hydrogen through the sample 4. The energy density of the irradiated laser beam 10 was 7 J / cm 2 , and the repetition of pulses was 100 Hz.
【0026】レーザー光10は、反射ミラー12の角度
及び円筒型レンズ13の位置をそれぞれ図3の矢印方向
に連動して移動させることにより、ダイヤモンド1の表
面に1mm/分の速度で4回走査させた。即ち、長さ1
0mm幅100μmの線状に集光したレーザー光10で
ダイヤモンド1の10mmの左右長さ方向を加工しなが
ら、1mm/分の速度でその直角方向に4回走査させる
ことにより、ダイヤモンド1の表面を除去した。The laser beam 10 scans the surface of the diamond 1 four times at a speed of 1 mm / min by moving the angle of the reflection mirror 12 and the position of the cylindrical lens 13 in association with each other in the direction of the arrow in FIG. Let That is, length 1
The surface of the diamond 1 is scanned by scanning 4 times in the right-angle direction at a speed of 1 mm / min while processing the 10 mm left-right length direction of the diamond 1 with the laser beam 10 focused in a linear shape of 0 mm width 100 μm. Removed.
【0027】加工後、ダイヤモンド1の厚さを測定した
ところ200μmになっており、その表面粗さRaは
0.1μmに平滑化されていた。又、得られたダイヤモ
ンド1の加工面は、仕上げ研磨や表面処理を行わなくて
もラマン分光分析に供することができ、ラマン散乱によ
るスペクトルの観察により1333cm-1にダイヤモン
ド特有のシャープなピークが認められた。After processing, the thickness of the diamond 1 was measured and found to be 200 μm, and its surface roughness Ra was smoothed to 0.1 μm. Further, the processed surface of the obtained diamond 1 can be subjected to Raman spectroscopic analysis without finishing polishing or surface treatment, and a sharp peak peculiar to diamond is observed at 1333 cm -1 by observation of the spectrum by Raman scattering. Was given.
【0028】実施例2 気相合成法により基板上に形成したダイヤモンド膜を、
実施例1と同様の装置を用いて、酸素プラズマ中でエキ
シマレーザーを照射することにより加工した。即ち、表
面粗さRaが5μmであり、大きさが25mm角で厚さ
が500μmの板状のダイヤモンドを石英管内に支持
し、石英管内に供給した酸素ガスにマイクロ波を導入し
て酸素のプラズマを発生させた。この時、石英管内の圧
力は50Torr、及びマイクロ波の出力は500Wと
した。 Example 2 A diamond film formed on a substrate by a vapor phase synthesis method
Using the same apparatus as in Example 1, processing was performed by irradiating an excimer laser in oxygen plasma. That is, a plate-like diamond having a surface roughness Ra of 5 μm, a size of 25 mm square and a thickness of 500 μm is supported in a quartz tube, and a microwave is introduced into oxygen gas supplied into the quartz tube to generate oxygen plasma. Was generated. At this time, the pressure in the quartz tube was 50 Torr, and the microwave output was 500 W.
【0029】エキシマレーザーには308nmの発振波
長を有するXeClエキシマレーザーを使用し、このレ
ーザー光を実施例1と同様にして長さ25mm幅100
μmの線状に集光して石英管内に導き、酸素のプラズマ
中でダイヤモンドの表面に照射した。照射したレーザー
光のエネルギー密度は7J/cm2、及びパルスの繰り
返しは100Hzとした。レーザー光は、反射ミラーの
角度及び円筒型レンズの位置を連動して移動させること
により、実施例1と同様にダイヤモンドの表面に2mm
/分の速度で4回走査させた。As the excimer laser, a XeCl excimer laser having an oscillation wavelength of 308 nm was used, and the laser light was 25 mm in length and 100 in width as in Example 1.
It was condensed in a linear shape of μm, guided into a quartz tube, and irradiated on the surface of diamond in oxygen plasma. The energy density of the irradiated laser light was 7 J / cm 2 , and the pulse repetition was 100 Hz. The laser light is moved by moving the angle of the reflection mirror and the position of the cylindrical lens in conjunction with each other, so that the surface of the diamond is 2 mm.
It was scanned 4 times at a speed of / min.
【0030】加工後、ダイヤモンドの厚さを測定したと
ころ280μmになっており、その表面粗さRaは0.
3μmまで平滑化されていた。又、得られたダイヤモン
ドの加工面は、仕上げ研磨や表面処理を行わなくてもラ
マン分光分析に供することができ、ラマン散乱によるス
ペクトルの観察により1333cm-1にダイヤモンド特
有のシャープなピークが認められた。After processing, the thickness of the diamond was measured and found to be 280 μm, and its surface roughness Ra was 0.1.
It was smoothed to 3 μm. The processed surface of the obtained diamond can be subjected to Raman spectroscopic analysis without finishing polishing or surface treatment, and a sharp peak peculiar to diamond is observed at 1333 cm -1 by observation of the spectrum by Raman scattering. It was
【0031】比較のため、表面粗さRaが4μmであ
り、大きさが25mm角で厚さが350μmの板状のダ
イヤモンドを、酸素ガスを吹き付けながらXeClエキ
シマレーザーを照射して加工した。レーザー光は図3の
装置と同じマスク、反射ミラー及び円筒型レンズを用い
て集光し、実施例1と同様に2mm/分の速度で4回走
査させた。レーザー光のエネルギー密度は10J/cm
2、及びパルスの繰り返しは100Hzとした。加工後
のダイヤモンドの厚さは200μm、その表面粗さRa
は0.5μmであった。For comparison, a plate-shaped diamond having a surface roughness Ra of 4 μm, a size of 25 mm square and a thickness of 350 μm was processed by irradiating XeCl excimer laser while blowing oxygen gas. The laser light was focused using the same mask, reflecting mirror, and cylindrical lens as in the apparatus of FIG. 3, and was scanned four times at a speed of 2 mm / min as in Example 1. Energy density of laser light is 10 J / cm
2 and repetition of pulse were 100 Hz. The processed diamond has a thickness of 200 μm and its surface roughness Ra.
Was 0.5 μm.
【0032】実施例3 気相合成法により基板上に形成したダイヤモンド膜を、
実施例1と同様の装置を用いて、Arプラズマ中でエキ
シマレーザーを照射することにより加工した。即ち、表
面粗さRaが2.7μmであり、大きさが25mm角で
厚さが350μmの板状のダイヤモンドを石英管内に支
持し、石英管内に供給したArガスにマイクロ波を導入
してArのプラズマを発生させた。この時、石英管内の
圧力は50Torr、及びマイクロ波の出力は500W
とした。 Example 3 A diamond film formed on a substrate by a vapor phase synthesis method
Processing was performed by irradiating an excimer laser in Ar plasma using the same apparatus as in Example 1. That is, a plate-like diamond having a surface roughness Ra of 2.7 μm, a size of 25 mm square and a thickness of 350 μm is supported in a quartz tube, and microwaves are introduced into Ar gas supplied into the quartz tube to introduce Ar gas. Generated plasma. At this time, the pressure in the quartz tube is 50 Torr, and the microwave output is 500 W.
And
【0033】エキシマレーザーには193nmの発振波
長を有するArFエキシマレーザーを使用し、このレー
ザー光を実施例1と同様にして長さ25mm幅100μ
mの線状に集光して石英管内に導き、Arのプラズマ中
でダイヤモンドの表面に照射した。照射したレーザー光
のエネルギー密度は10J/cm2、及びパルスの繰り
返しは100Hzとした。レーザー光は、反射ミラーの
角度及び円筒型レンズの位置を連動して移動させること
により、実施例1と同様にダイヤモンドの表面に2mm
/分の速度で4回走査させた。An ArF excimer laser having an oscillation wavelength of 193 nm is used as the excimer laser, and this laser light is 25 mm long and 100 μm wide in the same manner as in Example 1.
The light was condensed in a linear shape of m, led into a quartz tube, and irradiated on the surface of the diamond in Ar plasma. The energy density of the irradiated laser light was 10 J / cm 2 , and the repetition of pulses was 100 Hz. The laser light is moved by moving the angle of the reflection mirror and the position of the cylindrical lens in conjunction with each other, so that the surface of the diamond is 2 mm.
It was scanned 4 times at a speed of / min.
【0034】加工後、ダイヤモンドの厚さを測定したと
ころ200μmになっており、その表面粗さRaは0.
1μmまで平滑化されていた。又、得られたダイヤモン
ドの加工面は、仕上げ研磨や表面処理を行わなくてもラ
マン分光分析に供することができ、ラマン散乱によるス
ペクトルの観察により1333cm-1にダイヤモンド特
有のシャープなピークが認められた。After processing, the thickness of the diamond was measured and found to be 200 μm, and the surface roughness Ra was 0.1.
It was smoothed to 1 μm. The processed surface of the obtained diamond can be subjected to Raman spectroscopic analysis without finishing polishing or surface treatment, and a sharp peak peculiar to diamond is observed at 1333 cm -1 by observation of the spectrum by Raman scattering. It was
【0035】実施例4 気相合成法により基板上に形成したダイヤモンド膜を、
実施例1と同様の装置を用いて、Arと5体積%の酸素
の混合ガスのプラズマ中でエキシマレーザーを照射する
ことにより加工した。即ち、表面粗さRaが3μmであ
り、大きさが10mm角で厚さが400μmの板状のダ
イヤモンドを石英管内に支持し、石英管内に供給した混
合ガスにマイクロ波を導入してArと酸素の混合ガスプ
ラズマを発生させた。この時、石英管内の圧力は50T
orr、及びマイクロ波の出力は500Wとした。 Example 4 A diamond film formed on a substrate by a vapor phase synthesis method
Using the same apparatus as in Example 1, processing was performed by irradiating an excimer laser in plasma of a mixed gas of Ar and 5% by volume of oxygen. That is, a plate-like diamond having a surface roughness Ra of 3 μm, a size of 10 mm square and a thickness of 400 μm is supported in a quartz tube, and microwaves are introduced into a mixed gas supplied into the quartz tube to introduce Ar and oxygen. Mixed gas plasma was generated. At this time, the pressure in the quartz tube is 50T
The output of orr and microwave was set to 500W.
【0036】エキシマレーザーには308nmの発振波
長を有するXeClエキシマレーザーを使用した。この
レーザー光を実施例1と同様にして長さ10mm幅10
0μmの線状に集光して石英管内に導き、Arと酸素の
混合ガスプラズマ中でダイヤモンドの表面に照射した。
照射したレーザー光のエネルギー密度は20J/c
m2、及びパルスの繰り返しは100Hzとした。レー
ザー光は、反射ミラーの角度及び円筒型レンズの位置を
連動して移動させることにより、実施例1と同様にダイ
ヤモンドの表面に2mm/分の速度で4回走査させた。As the excimer laser, a XeCl excimer laser having an oscillation wavelength of 308 nm was used. This laser light was used in the same manner as in Example 1 to have a length of 10 mm and a width of 10
The light was focused into a 0 μm linear shape, guided into a quartz tube, and irradiated on the surface of the diamond in a mixed gas plasma of Ar and oxygen.
The energy density of the irradiated laser light is 20 J / c
The repetition rate of m 2 and the pulse was 100 Hz. By moving the angle of the reflection mirror and the position of the cylindrical lens in conjunction with the laser light, the surface of the diamond was scanned four times at a speed of 2 mm / minute as in Example 1.
【0037】加工後、ダイヤモンドの厚さを測定したと
ころ200μmになっており、その表面粗さRaは0.
2μmまで平滑化されていた。又、得られたダイヤモン
ドの加工面は、仕上げ研磨や表面処理を行わなくてもラ
マン分光分析に供することができ、ラマン散乱によるス
ペクトルの観察により1333cm-1にダイヤモンド特
有のシャープなピークが認められた。After processing, the thickness of the diamond was measured and found to be 200 μm, and the surface roughness Ra was 0.1.
It was smoothed to 2 μm. The processed surface of the obtained diamond can be subjected to Raman spectroscopic analysis without finishing polishing or surface treatment, and a sharp peak peculiar to diamond is observed at 1333 cm -1 by observation of the spectrum by Raman scattering. It was
【0038】実施例5 単結晶Ib型ダイヤモンドを、実施例1と同様の装置を
用いて、Arと酸素の混合ガスプラズマ中でエキシマレ
ーザーを照射することにより切断した。即ち、大きさが
5mm角で厚さが1mmの単結晶Ib型ダイヤモンドを
石英管内に支持し、石英管内にArと酸素の混合ガスを
圧力50Torrにて供給し、出力500Wのマイクロ
波を導入してプラズマを発生させた。 Example 5 Single crystal Ib type diamond was cut by irradiating an excimer laser in a mixed gas plasma of Ar and oxygen using the same apparatus as in Example 1. That is, a single crystal Ib type diamond having a size of 5 mm square and a thickness of 1 mm is supported in a quartz tube, a mixed gas of Ar and oxygen is supplied into the quartz tube at a pressure of 50 Torr, and a microwave having an output of 500 W is introduced. To generate plasma.
【0039】エキシマレーザーには193nmの発振波
長を有するArFエキシマレーザーを使用し、不安定共
振器とインジェクションロック機構を備えることにより
レーザー光の平行性を高め且つ発振波長を狭帯域化させ
た。このレーザー光を実施例1と同様にして長さ5mm
で幅10μmの線状に集光して石英管内に導き、Arと
酸素の混合ガスプラズマ中でダイヤモンドの表面に照射
した。照射したレーザー光のエネルギー密度は100J
/cm2、及びパルスの繰り返しは100Hzとした。An ArF excimer laser having an oscillation wavelength of 193 nm was used as the excimer laser, and an unstable resonator and an injection lock mechanism were provided to enhance the parallelism of the laser light and narrow the oscillation wavelength band. This laser beam was used in the same manner as in Example 1 to have a length of 5 mm.
Then, the light was condensed into a linear shape having a width of 10 μm, guided into a quartz tube, and irradiated on the surface of the diamond in a mixed gas plasma of Ar and oxygen. The energy density of the irradiated laser light is 100J
/ Cm 2 , and repetition of pulse was 100 Hz.
【0040】この様にして、ダイヤモンド表面の法線方
向に平行にレーザー光を約150秒間照射することによ
り、上記の単結晶Ib型ダイヤモンドを切断することが
できた。得られた切断面は非常に平滑であり、表面粗さ
Raは0.2μmであった。In this way, the above single crystal Ib type diamond could be cut by irradiating the laser beam in parallel with the normal line direction of the diamond surface for about 150 seconds. The obtained cut surface was very smooth, and the surface roughness Ra was 0.2 μm.
【0041】[0041]
【発明の効果】本発明によれば、光を照射してダイヤモ
ンドを加工する方法において、ダイヤモンド本体になん
ら影響を与えることなく、しかもグラファイトや無定形
炭素のダイヤモンドへの付着を防止しながら、ダイヤモ
ンドの切断や表面の研削を高速で実施することができ、
高精度で平滑化された加工面を得ることができる。According to the present invention, in the method of processing a diamond by irradiating with light, the diamond is not affected at all and the adhesion of graphite or amorphous carbon to the diamond is prevented, The cutting and grinding of the surface can be performed at high speed,
It is possible to obtain a processed surface that is smoothed with high accuracy.
【0042】従って、本発明のダイヤモンドの加工方法
は、ダイヤモンドの高硬度及び比較的弱い耐酸化性のた
め、従来は加工が困難であったり又は加工コストが非常
に高くなっていた分野に極めて有用である。Therefore, the diamond processing method of the present invention is extremely useful in fields where the processing was conventionally difficult or the processing cost was very high because of the high hardness and relatively weak oxidation resistance of diamond. Is.
【図1】IIa型単結晶ダイヤモンドの吸収曲線である。FIG. 1 is an absorption curve of type IIa single crystal diamond.
【図2】本発明方法を実施するための装置の一具体例
で、プラズマ発生装置を含む部分を示す概略の側面図で
ある。FIG. 2 is a schematic side view showing a part including a plasma generator, which is a specific example of the apparatus for carrying out the method of the present invention.
【図3】本発明方法を実施するための装置の一具体例
で、レーザー光照射装置を含む部分を示す概略の側面図
である。FIG. 3 is a schematic side view showing a part including a laser light irradiation device, which is a specific example of the device for carrying out the method of the present invention.
1 ダイヤモンド 2 支持台 3 石英管 4 マグネトロン 5 導波管 6 共振器 7 プランジャー 8 プラズマ 9 レーザー発振器 10 レーザー光 11 マスク 12 反射ミラー 13 円筒型レンズ 14 石英窓 1 Diamond 2 Support 3 Quartz Tube 4 Magnetron 5 Waveguide 6 Resonator 7 Plunger 8 Plasma 9 Laser Oscillator 10 Laser Light 11 Mask 12 Reflection Mirror 13 Cylindrical Lens 14 Quartz Window
Claims (4)
法において、雰囲気ガスのプラズマ中でダイヤモンドに
波長が190〜360nmの光を照射することを特徴と
するダイヤモンドの加工方法。1. A method of processing a diamond by irradiating light with light, wherein the diamond is irradiated with light having a wavelength of 190 to 360 nm in plasma of an atmospheric gas.
照射し、平滑な加工面を得ることを特徴とする、請求項
1に記載のダイヤモンドの加工方法。2. The diamond processing method according to claim 1, wherein light is irradiated in a plasma of hydrogen or an inert gas to obtain a smooth processed surface.
ダイヤモンドを加工することを特徴とする、請求項1に
記載のダイヤモンドの加工方法。3. The diamond processing method according to claim 1, wherein the diamond is processed at a high speed by irradiating light in oxygen plasma.
との混合ガスのプラズマ中で光を照射することを特徴と
する、請求項1に記載のダイヤモンドの加工方法。4. The diamond processing method according to claim 1, wherein light is irradiated in the plasma of a mixed gas of an inert gas and 20% by volume or less of oxygen gas.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5208711A JPH0740336A (en) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | Diamond machining method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5208711A JPH0740336A (en) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | Diamond machining method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0740336A true JPH0740336A (en) | 1995-02-10 |
Family
ID=16560821
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5208711A Pending JPH0740336A (en) | 1993-07-30 | 1993-07-30 | Diamond machining method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0740336A (en) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0859409A2 (en) * | 1997-02-14 | 1998-08-19 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of manufacturing diamond heat sink |
US6992026B2 (en) | 2000-09-13 | 2006-01-31 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and laser processing apparatus |
JP2009500667A (en) * | 2005-07-08 | 2009-01-08 | エレメント シックス リミテッド | Single crystal diamond element having a convex surface and processing method thereof |
US7605344B2 (en) | 2003-07-18 | 2009-10-20 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser beam machining method, laser beam machining apparatus, and laser beam machining product |
US8058103B2 (en) | 2003-09-10 | 2011-11-15 | Hamamatsu Photonics K.K. | Semiconductor substrate cutting method |
US8865566B2 (en) | 2002-12-03 | 2014-10-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Method of cutting semiconductor substrate |
US8889525B2 (en) | 2002-03-12 | 2014-11-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US9511449B2 (en) | 2004-01-09 | 2016-12-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and device |
JP2020531407A (en) * | 2017-08-22 | 2020-11-05 | ダイアムテック リミテッド | Systems and methods for producing a given structure from diamond bulk |
KR20210027441A (en) | 2018-08-01 | 2021-03-10 | 고쿠리쓰다이가쿠호진 규슈다이가쿠 | Diamond smoothing method |
CN113215554A (en) * | 2021-03-31 | 2021-08-06 | 天津职业技术师范大学(中国职业培训指导教师进修中心) | Diamond micromachining method based on hydrogen ion etching reaction assisted laser etching |
-
1993
- 1993-07-30 JP JP5208711A patent/JPH0740336A/en active Pending
Cited By (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0859409A3 (en) * | 1997-02-14 | 1999-01-20 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of manufacturing diamond heat sink |
US6007730A (en) * | 1997-02-14 | 1999-12-28 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of manufacturing diamond heat sink |
EP0859409A2 (en) * | 1997-02-14 | 1998-08-19 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of manufacturing diamond heat sink |
US8937264B2 (en) | 2000-09-13 | 2015-01-20 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and laser processing apparatus |
US6992026B2 (en) | 2000-09-13 | 2006-01-31 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and laser processing apparatus |
US7396742B2 (en) | 2000-09-13 | 2008-07-08 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method for cutting a wafer-like object by using a laser to form modified regions within the object |
US10796959B2 (en) | 2000-09-13 | 2020-10-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and laser processing apparatus |
US9837315B2 (en) | 2000-09-13 | 2017-12-05 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and laser processing apparatus |
US8946592B2 (en) | 2000-09-13 | 2015-02-03 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and laser processing apparatus |
US8946591B2 (en) | 2000-09-13 | 2015-02-03 | Hamamatsu Photonics K.K. | Method of manufacturing a semiconductor device formed using a substrate cutting method |
US9543256B2 (en) | 2002-03-12 | 2017-01-10 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US8889525B2 (en) | 2002-03-12 | 2014-11-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US10068801B2 (en) | 2002-03-12 | 2018-09-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US9711405B2 (en) | 2002-03-12 | 2017-07-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US11424162B2 (en) | 2002-03-12 | 2022-08-23 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US9142458B2 (en) | 2002-03-12 | 2015-09-22 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US9287177B2 (en) | 2002-03-12 | 2016-03-15 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US10622255B2 (en) | 2002-03-12 | 2020-04-14 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US9553023B2 (en) | 2002-03-12 | 2017-01-24 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US9543207B2 (en) | 2002-03-12 | 2017-01-10 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US9548246B2 (en) | 2002-03-12 | 2017-01-17 | Hamamatsu Photonics K.K. | Substrate dividing method |
US8865566B2 (en) | 2002-12-03 | 2014-10-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Method of cutting semiconductor substrate |
US8852698B2 (en) | 2003-07-18 | 2014-10-07 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser beam machining method, laser beam machining apparatus, and laser beam machining product |
US7605344B2 (en) | 2003-07-18 | 2009-10-20 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser beam machining method, laser beam machining apparatus, and laser beam machining product |
US8058103B2 (en) | 2003-09-10 | 2011-11-15 | Hamamatsu Photonics K.K. | Semiconductor substrate cutting method |
US9511449B2 (en) | 2004-01-09 | 2016-12-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and device |
US10293433B2 (en) | 2004-01-09 | 2019-05-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and device |
US11241757B2 (en) | 2004-01-09 | 2022-02-08 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser processing method and device |
JP2009500667A (en) * | 2005-07-08 | 2009-01-08 | エレメント シックス リミテッド | Single crystal diamond element having a convex surface and processing method thereof |
US8309205B2 (en) | 2005-07-08 | 2012-11-13 | Element Six Limited | Single crystal diamond elements having convex surfaces and methods of its fabrication |
JP2020531407A (en) * | 2017-08-22 | 2020-11-05 | ダイアムテック リミテッド | Systems and methods for producing a given structure from diamond bulk |
US11559858B2 (en) | 2017-08-22 | 2023-01-24 | Diamtech Ltd. | System and method for creation of a predetermined structure from a diamond bulk |
KR20210027441A (en) | 2018-08-01 | 2021-03-10 | 고쿠리쓰다이가쿠호진 규슈다이가쿠 | Diamond smoothing method |
CN112513345A (en) * | 2018-08-01 | 2021-03-16 | 国立大学法人九州大学 | Diamond smoothing method |
US11986905B2 (en) | 2018-08-01 | 2024-05-21 | Kyushu University, National University Corporation | Diamond smoothing method |
CN113215554A (en) * | 2021-03-31 | 2021-08-06 | 天津职业技术师范大学(中国职业培训指导教师进修中心) | Diamond micromachining method based on hydrogen ion etching reaction assisted laser etching |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5483038A (en) | Method of working diamond with ultraviolet light | |
US4624736A (en) | Laser/plasma chemical processing of substrates | |
US5669979A (en) | Photoreactive surface processing | |
JP3530114B2 (en) | Single crystal cutting method | |
JPS6175529A (en) | Dry etching method and apparatus therefor | |
KR20030045082A (en) | Deposition of thin films by laser ablation | |
JPH0740336A (en) | Diamond machining method | |
EP0578232B1 (en) | Diamond synthetic method | |
EP3291279B1 (en) | Diamond manufacturing system and method via chemical vapor deposition assisted with laser initiated plasma fed with microwave energy | |
EP0571914B1 (en) | Method to work cubic boron nitride article | |
US20020145235A1 (en) | Process and apparatus for sequential multi-beam laser processing of materials | |
Gorbunov et al. | Carbon films deposited from UV laser plasma | |
JPH0741387A (en) | Method for processing diamond | |
JPH06316406A (en) | Method for processing diamond | |
JP2000103607A (en) | Apparatus and method for generating excited nitrogen | |
Konov et al. | Laser microprocessing of diamond and diamond-like films | |
EP0669298A1 (en) | Method of working silicon nitride ceramics | |
Ralchenko et al. | Processing of CVD diamond with UV and green lasers | |
JP2002373878A (en) | Apparatus and method of cleaning substrate surface | |
Toenshoff et al. | Speed-rate improvement for microcutting of thin silicon with femtosecond laser pulses | |
JP2009141825A (en) | Method of adjusting frequency of crystal vibrator using atmospheric pressure plasma and apparatus used therefor | |
JPH10102251A (en) | Film forming and etching method with carbon atom and device therefor | |
JP2005053720A (en) | Method for producing carbon nanotube | |
JPH1160376A (en) | Processing of diamond and device | |
KR100359136B1 (en) | Diamond thin film and bulk formation method by laser ablation combined with high voltage discharge plasma CVD |