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JPH07104381B2 - EMI measuring device - Google Patents

EMI measuring device

Info

Publication number
JPH07104381B2
JPH07104381B2 JP33351488A JP33351488A JPH07104381B2 JP H07104381 B2 JPH07104381 B2 JP H07104381B2 JP 33351488 A JP33351488 A JP 33351488A JP 33351488 A JP33351488 A JP 33351488A JP H07104381 B2 JPH07104381 B2 JP H07104381B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
evaluation
memory
measurement
noise spectrum
target point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP33351488A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH02176572A (en
Inventor
毅彦 河内
愛一 片山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP33351488A priority Critical patent/JPH07104381B2/en
Publication of JPH02176572A publication Critical patent/JPH02176572A/en
Publication of JPH07104381B2 publication Critical patent/JPH07104381B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、種々の電子機器等に影響を与える妨害雑音を
測定するスペクトラムアナライザその他これに類する装
置等に利用されるEMI(electoromagnetic interferenc
e:電波雑音干渉)測定装置に係わり、特に所望とする測
定結果のデータを適宜に表示して評価可能であり、また
測定結果のデータの編集機能を持ったEMI測定装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to an EMI (electoromagnetic interferenc) used in a spectrum analyzer for measuring interference noise affecting various electronic devices and the like and other similar devices.
e: Radio noise interference) measuring apparatus, and in particular, relates to an EMI measuring apparatus capable of appropriately displaying and measuring desired measurement result data and having a function of editing the measurement result data.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種のEMI測定は、スペクトラムアナライザ等
を用いて如何なる周波数の雑音が分布するかを調査する
ために、第7図に示す如く測定開始に基づいて広い周波
数範囲にわたって第8図(a)に示す雑音スペクトラム
分布を測定した後、各雑音スペクトラムと所望とする信
号成分,妨害雑音レベル等から決定される規格レベル
(イ)とを比較し、この規格レベル(イ)を越えている
雑音スペクトラムの極大点(ピーク点),,の周
波数fa,fb,fcを順次メモリに登録する,いわゆる予備測
定を実施する(ステップA1)。
In the conventional EMI measurement of this type, in order to investigate what frequency of noise is distributed by using a spectrum analyzer or the like, as shown in FIG. After measuring the noise spectrum distribution shown in, the noise spectrum is compared with the standard level (b) determined from the desired signal component, interference noise level, etc., and the noise spectrum exceeding this standard level (b) The so-called preliminary measurement is performed by sequentially registering the local maximum points (peak points) of ,, and frequencies fa, fb, and fc in the memory (step A1).

しかる後、メモリに登録された評価対象点となる周波数
fa,fb,fcのうち任意の1ポイントを選択し(ステップA
2)、その選択された周波数近傍の雑音スペクトラム分
布を測定して拡大し繰り返し表示し、必要があれば被測
定物の環境状態を変えるなどして雑音レベルが最大とな
るように設定する(ステップA3)。さらに、前記選択さ
れた周波数の雑音レベルについてCISPR(国際無線障害
特別委員会)で規定されたQP検波方式に基づいて種々の
時定数を変えながら再び検波測定し、第8図(b)に示
す検波出力′,′,′が規格レベル(イ)を越え
ているか否かの最終的な評価測定を行う(ステップA
4)。
After that, the frequency that becomes the evaluation target point registered in the memory
Select any one point from fa, fb, fc (Step A
2) Measure the noise spectrum distribution near the selected frequency, magnify and repeatedly display it, and if necessary, change the environmental condition of the DUT to set the noise level to the maximum (step A3). Further, the noise level of the selected frequency is detected again while changing various time constants based on the QP detection method defined by CISPR (Special Committee on International Radio Interference), and is shown in FIG. 8 (b). A final evaluation measurement is performed to determine whether the detected outputs', ',' exceed the standard level (a) (step A
Four).

以上のようにして1つの周波数の雑音レベルについて最
終評価を終えたならば、引き続き,ステップS2に戻って
再び前記メモリに登録された他の周波数を選択し、その
周波数の雑音レベルについて評価測定を行う(ステップ
A2〜A4)。なお、従来ではステップS3に示す拡大表示の
操作を省略することがある。
When the final evaluation of the noise level of one frequency is completed as described above, the process returns to step S2 to select another frequency registered in the memory again, and evaluate and measure the noise level of that frequency. Do (step
A2-A4). Note that conventionally, the operation of enlarged display shown in step S3 may be omitted.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

しかし、以上のようなEMI測定は、登録された周波数の
みの雑音レベルの評価測定を行うので、登録されない周
波数の雑音レベルの評価測定が行えず、その結果適切な
評価が期待できないばかりか、予め測定したい周波数が
既知であっても時間的にその雑音レベルが変動するよう
な場合には予備測定段階で前記所望とする周波数を登録
することができない。また、予備測定によって得られた
雑音スペクトラム分布のうち規格レベル(イ)を越えた
雑音スペクトラムの全部について評価測定の対象とする
ので、例えば外来波,放送波などの如き,本来評価測定
の対象外とされる周波数についても評価測定を行うの
で、最終評価を終えるまでに多くの時間を要する問題が
あった。
However, in the above EMI measurement, since the noise level of only the registered frequency is evaluated and measured, the noise level of the frequency that is not registered cannot be evaluated and the appropriate evaluation cannot be expected. Even if the frequency to be measured is known, if the noise level fluctuates with time, the desired frequency cannot be registered in the preliminary measurement stage. Further, since all the noise spectrums exceeding the standard level (a) among the noise spectrum distributions obtained by the preliminary measurement are subject to the evaluation measurement, they are not originally subject to the evaluation measurement such as external waves and broadcast waves. Since the evaluation and measurement are also performed for the frequencies considered to be, there is a problem that it takes a lot of time to complete the final evaluation.

本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、所望とする
測定結果のデータを適宜に選択して迅速に評価でき、最
終的な評価の時間を大幅に短縮しうるEMI測定装置を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an EMI measuring device that can appropriately select data of a desired measurement result and quickly evaluate the data, and can significantly reduce the time of final evaluation. With the goal.

また、本発明の他の目的は、外来波の如き不必要な雑音
スペクトラムを容易に評価測定対象外とすることがで
き、また不要な周波数を簡単に評価対象点として評価し
うるEMI測定装置を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide an EMI measuring device that can easily exclude unnecessary noise spectrum such as external waves from the evaluation measurement target, and can easily evaluate unnecessary frequencies as evaluation target points. To provide.

さらに、本発明の他の目的は、既に得られた評価対象点
を有効に利用して評価の時間の短縮化を図るEMI測定装
置を提供することにある。
Further, another object of the present invention is to provide an EMI measuring device that effectively utilizes the already obtained evaluation target points to shorten the evaluation time.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

本発明によるEMI測定装置は上記課題を解決するため
に、広い周波数範囲の雑音スペクトラム分布を測定し、
その雑音スペクトラムの評価を行うEMI測定装置におい
て、前記測定された雑音スペクトラムと所定の規格レベ
ルとを比較し、雑音スペクトラムが規格レベル以上のと
きにその雑音スペクトラムの周波数を順次第1のメモリ
に登録し、また前記広い周波数範囲の雑音スペクトラム
分布を対数変換して得られる雑音スペクトラム分布波形
データを第2のメモリに記憶すると共に表示装置に表示
する予備測定制御手段と、この予備測定制御手段によっ
て前記第1のメモリに登録された各周波数を順次評価対
象点として評価測定を行い、得られた評価測定波形デー
タを第3のメモリに記憶すると共に前記表示装置に表示
する評価測定制御手段と、表示内容選択キーに応じて前
記第2のメモリに記憶された予備測定波形データ、前記
第3のメモリに記憶された評価測定波形データおよび前
記第1のメモリに登録された評価対象点となる周波数近
傍の雑音スペクトラムを測定して得られる拡大波形デー
タの何れかを選択表示する表示内容選択制御手段と、前
記予備測定制御手段によって表示された予備測定波形,
前記評価測定制御手段によって表示された評価測定波形
および前記表示内容選択制御手段によって選択表示され
た予備測定波形,評価測定波形の何れかの表示時に所望
とする評価対象点にマーカを付すと共にそのマーカを移
動させるマーカ移動制御手段とを備えた構成である。
In order to solve the above problems, the EMI measuring device according to the present invention measures a noise spectrum distribution in a wide frequency range,
In the EMI measuring device for evaluating the noise spectrum, the measured noise spectrum is compared with a predetermined standard level, and when the noise spectrum is equal to or higher than the standard level, the frequencies of the noise spectrum are sequentially registered in the first memory. In addition, the noise spectrum distribution waveform data obtained by logarithmically converting the noise spectrum distribution in the wide frequency range is stored in the second memory and is displayed on the display device, and the preliminary measurement control means is used to store the noise measurement data. Evaluation measurement control means for performing evaluation measurement by sequentially setting each frequency registered in the first memory as an evaluation target point, storing the obtained evaluation measurement waveform data in the third memory and displaying the same on the display device, Preliminary measurement waveform data stored in the second memory according to the content selection key, stored in the third memory Display content selection control means for selectively displaying any of the evaluated measurement waveform data and the expanded waveform data obtained by measuring the noise spectrum in the vicinity of the frequency to be evaluated registered in the first memory. Preliminary measurement waveform displayed by the preliminary measurement control means,
When the evaluation measurement waveform displayed by the evaluation measurement control unit, the preliminary measurement waveform selected and displayed by the display content selection control unit, or the evaluation measurement waveform is displayed, a marker is attached to a desired evaluation target point and the marker is attached. And a marker movement control means for moving the marker.

また、本発明装置は、上記手段に加えて、更に周波数を
設定して評価対象点を追加する評価対象点追加手段およ
び既に登録されている評価対象点について周波数を設定
して削除する評価対象点削除手段とを備えたものであ
る。
Further, in addition to the above-mentioned means, the device of the present invention is an evaluation target point adding means for setting a frequency and adding an evaluation target point, and an evaluation target point for setting a frequency for an already registered evaluation target point and deleting it. And a deleting means.

さらに、本発明装置は、上記両手段の何れかに、不揮発
性記憶装置と、この不揮発性記憶装置に第1のメモリ内
の評価対象点を記憶させ、かつ、この記憶した評価対象
点を第1のメモリ内に再生するためのストア・リコール
制御手段とを付加してなる構成である。
Further, in the device of the present invention, the non-volatile storage device is stored in either of the above means, and the evaluation target point in the first memory is stored in the non-volatile storage device. This is a structure in which a store / recall control means for reproducing is added to the memory of No. 1.

〔作用〕[Action]

従って、本発明は以上のような手段を講じたことによ
り、予備測定制御手段では雑音スペクトラムと規格レベ
ルとから評価対象点となる周波数を順次第1のメモリに
登録すると共に雑音スペクトラム分布を対数変換して予
備測定波形を得、これを第2のメモリに格納し、かつ、
表示装置に表示する。次に、評価測定制御手段では第1
のメモリに登録された評価対象点についてQP測定によっ
て評価を行い、その評価測定波形データを第3のメモリ
に記憶すると共に表示装置に表示する。さらに、表示内
容選択制御手段では予備測定終了後または評価測定終了
後に適宜に前記評価測定波形データまたは評価測定波形
データ,さらには既に登録ずみの評価対象点となる周波
数を指定してその周波数近傍の雑音スペクトラム分布を
測定して拡大して得られる拡大波形の何れかを選択する
ことにより、所望とする波形を観察して迅速に適切な評
価を行いうるものである。しかも、マーカ移動制御手段
にて必要な評価対象点にマーカを移動させながら付すこ
とにより、相互の評価対象点のレベルを比較しながら評
価できる。
Therefore, according to the present invention, by taking the above-mentioned means, the preliminary measurement control means sequentially registers the frequencies to be evaluated from the noise spectrum and the standard level in the first memory, and the noise spectrum distribution is logarithmically converted. To obtain a preliminary measurement waveform, store it in the second memory, and
Display on the display device. Next, in the evaluation measurement control means,
The evaluation target point registered in the memory is evaluated by QP measurement, and the evaluation measurement waveform data is stored in the third memory and displayed on the display device. Further, the display content selection control means appropriately designates the evaluation measurement waveform data or the evaluation measurement waveform data after completion of the preliminary measurement or the evaluation measurement, and further specifies the frequency to be the evaluation target point that has already been registered and determines the frequency in the vicinity of the frequency. By selecting one of the expanded waveforms obtained by measuring and expanding the noise spectrum distribution, it is possible to observe the desired waveform and quickly perform appropriate evaluation. Moreover, the marker movement control means attaches the marker to the required evaluation target point while moving it, so that the evaluation can be performed while comparing the levels of the mutual evaluation target points.

また、評価対象点の追加および削除手段を設けたことに
より、登録から漏れたものでも容易に評価対象点として
追加して評価可能であり、あるいは不必要な評価対象点
を削除して評価の時間を短縮することができる。
In addition, by providing means for adding and deleting points to be evaluated, even those missing from registration can be easily added and evaluated as points to be evaluated, or unnecessary evaluation points can be deleted to reduce the time required for evaluation. Can be shortened.

さらに、本発明は、ストア・リコール制御手段にて評価
対象点を不揮発性記憶装置にストアし、必要な時その評
価対象点をリコールして評価測定を行うことができ、予
備測定等を省略することができる。
Further, according to the present invention, the evaluation / recall control means can store the evaluation target point in the non-volatile storage device, and the evaluation target point can be recalled when necessary to perform the evaluation measurement, and the preliminary measurement and the like can be omitted. be able to.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。第1図は本発明装置の機能を示すブロック図であっ
て、予備測定キー1,マーカ移動キー2,評価測定キー3,表
示内容を選択する選択キー4,評価対象点を追加指示する
追加キー5,既に登録されている評価対象点を削除する削
除キー6等が設けられ、これらキー1〜6からのキー信
号はシステム制御手段7へ送出される。このシステム制
御手段7は前記何れかのキー1〜6からのキー信号を受
けて所定の制御およびプログラムを実行させるための信
号を出力する機能を持っている。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the function of the device of the present invention. Preliminary measurement key 1, marker movement key 2, evaluation measurement key 3, selection key 4 for selecting display contents, additional key for additionally instructing evaluation target points. 5, a delete key 6 for deleting the already-registered evaluation target points is provided, and key signals from these keys 1 to 6 are sent to the system control means 7. The system control means 7 has a function of receiving a key signal from any one of the keys 1 to 6 and outputting a signal for executing a predetermined control and program.

8は前記予備測定キー1のキー信号に基づいてシステム
制御手段7から発せられる信号によって予備測定プログ
ラムを実行する予備測定制御手段であって、これは広い
周波数範囲の雑音スペクトラム分布を測定するスペクト
ラム測定手段9、この雑音スペクトラム分布が順次記憶
され、かつ、予め定められた規格データが記憶されてい
るメモリ10、前記雑音スペクトラムと規格データとを比
較しこの規格データを越えている雑音スペクトラムの周
波数が評価対象点として登録される登録メモリ11、前記
雑音スペクトラム分布を対数変換して得られる予備測定
波形となる雑音スペクトラム分布波形データが記憶され
る予備測定用メモリ12等を有し、特に評価対象点の周波
数登録および対数変換された雑音スペクトラム分布波形
データを取得し、さらに雑音スペクトラム分布波形デー
タを表示装置13に表示する機能を持っている。なお、表
示装置13に表示されている雑音スペクトラム分布のうち
最大レベル点に初期の評価対象点としてマーカが表示さ
れるようになっている。
Reference numeral 8 is a preliminary measurement control means for executing a preliminary measurement program by a signal issued from the system control means 7 based on the key signal of the preliminary measurement key 1, which is a spectrum measurement for measuring a noise spectrum distribution in a wide frequency range. Means 9, a memory 10 in which the noise spectrum distribution is sequentially stored and predetermined standard data is stored, the noise spectrum is compared with the standard data, and the frequency of the noise spectrum exceeding the standard data is determined. It has a registration memory 11 registered as an evaluation target point, a preliminary measurement memory 12 for storing noise spectrum distribution waveform data which is a preliminary measurement waveform obtained by logarithmically converting the noise spectrum distribution, and particularly the evaluation target point. Frequency registration and logarithmic conversion of the noise spectrum distribution waveform data are acquired. It has the function of displaying the noise spectrum distribution waveform data to the display device 13 on. Note that a marker is displayed as an initial evaluation target point at the maximum level point in the noise spectrum distribution displayed on the display device 13.

14は前記評価測定キー3のキー信号に基づいてシステム
制御手段7から発せられる信号で評価測定プログラムを
実行する評価測定制御手段であって、ここでは前記登録
メモリ11に登録された評価対象点の周波数を1つずつ選
択し、評価測定,すなわち準尖頭値または平均値検波を
行って評価測定波形データを得、この評価測定波形デー
タを評価測定用メモリ15に格納すると共に表示装置13に
表示する機能を持っている。このとき,表示装置13に表
示されている現在の評価対象点にマーカが表示される。
Reference numeral 14 is an evaluation measurement control means for executing an evaluation measurement program with a signal issued from the system control means 7 based on the key signal of the evaluation measurement key 3, and here, the evaluation target points registered in the registration memory 11 are stored. Each frequency is selected one by one, and evaluation measurement, that is, quasi-peak value or average value detection is performed to obtain evaluation measurement waveform data, which is stored in the evaluation measurement memory 15 and displayed on the display device 13. Have the ability to At this time, a marker is displayed at the current evaluation target point displayed on the display device 13.

16は前記選択キー4のキー信号に基づいてシステム制御
手段7から発せられる信号によって表示内容選択プログ
ラムを実行する表示内容選択制御手段であって、ここで
は前記予備測定用メモリ12に記憶される雑音スペクトラ
ム分布波形データの表示装置13への表示、評価測定用メ
モリ15に記憶される評価波形データの表示装置13への表
示あるいは評価対象点の周波数近傍の雑音スペクトラム
分布を前記スペクトラム測定手段9を介して測定し拡大
表示するリアルタイムモニタ測定による表示の何れかを
選択表示する機能をもっている。
Reference numeral 16 denotes display content selection control means for executing a display content selection program in response to a signal issued from the system control means 7 based on the key signal of the selection key 4, and here, noise stored in the preliminary measurement memory 12 The spectrum distribution waveform data is displayed on the display device 13, the evaluation waveform data stored in the evaluation measurement memory 15 is displayed on the display device 13, or the noise spectrum distribution in the vicinity of the frequency of the evaluation target point is displayed via the spectrum measuring means 9. Real-time monitor for measurement and enlarged display has a function to select and display any of the displays by measurement.

17は予備測定制御手段8および評価測定制御手段14およ
び表示内容選択制御手段16の何れかにおいて表示装置13
に表示された雑音スペクトラム分布波形および評価測定
波形の評価対象点に付されたマークを移動するマーカ移
動制御手段である。
Reference numeral 17 denotes a display device 13 in any of the preliminary measurement control means 8, the evaluation measurement control means 14 and the display content selection control means 16.
The marker movement control means moves the mark attached to the evaluation target point of the noise spectrum distribution waveform and the evaluation measurement waveform displayed in FIG.

さらに、本装置においては評価対象点追加手段21および
評価対象点削除手段22が設けられている。この評価対象
点追加手段21はある周波数を特定して前記登録メモリ11
に評価対象点を追加するものであり、また評価対象点削
除手段22は登録メモリ11に登録されている各周波数の評
価対象点のうち外来波等の不要なものを削除する機能を
持っている。さらに、登録メモリ11または評価測定用メ
モリ15のすべての評価対象点として登録された周波数そ
の他のデータをストア・リコール制御手段23をメモリカ
ード,フロッピーディスク等の不揮発性記憶装置24にス
トアし、またこの記憶装置24にストアされた評価対象点
を再度メモリ11,15にリコールする機能を持っている。2
5はストア・リコールキーである。
Further, this apparatus is provided with an evaluation target point addition means 21 and an evaluation target point deletion means 22. The evaluation target point adding means 21 specifies a certain frequency to identify the registered memory 11
The evaluation target point deleting means 22 has a function of deleting unnecessary ones such as extraneous waves from the evaluation target points of each frequency registered in the registration memory 11. . Further, the store / recall control means 23 stores the frequency and other data registered as all evaluation target points of the registered memory 11 or the evaluation measurement memory 15 in the nonvolatile storage device 24 such as a memory card or a floppy disk, and It has a function of recalling the evaluation target points stored in the storage device 24 to the memories 11 and 15 again. 2
5 is a store recall key.

次に、以上のような装置の動作について第2図を参照し
て説明する。先ず、システム制御手段7ではスタート指
令を受けるとメインプログラムに基づいて各種の操作メ
ニューを表示した後(ステップS1)、次のステップS2に
移行しキー入力有りかを判断する。ここで,キー入力が
有れば、そのキー入力に応じて分岐して所定のプログラ
ム処理を実行する(ステップS3)。
Next, the operation of the above apparatus will be described with reference to FIG. First, when the system control means 7 receives a start command, after displaying various operation menus based on the main program (step S1), the process proceeds to the next step S2 to determine whether or not there is a key input. Here, if there is a key input, it branches according to the key input and executes a predetermined program process (step S3).

以下、各操作項目に分けてプログラム処理の流れを説明
する。今,オペレータが広い周波数範囲にわたって妨害
雑音スペクトラム分布を測定するために予備測定キー1
を操作すると、システム制御手段7ではステップS3にお
いて予備測定キー1からのキー信号を受けて予備測定制
御手段8による予備測定プログラムを実行する指令を与
える。この予備測定制御手段8は、表示装置13に所望と
する波形以外の波形が表示されている場合にはその波形
を消去した後(ステップS11)、スペクトラム測定手段
9で測定される広い周波数範囲の雑音スペクトラムデー
タ(例えば第3図)を順次取り込んでメモリ10に記憶し
ていく(ステップS12)。しかる後、メモリ10内の雑音
スペクトラム分布データの中から最大レベル点を求め
(ステップS13)、この最大レベル点と予めメモリ10
に記憶されているユーザ自身が入力した規格レベルまた
は所定の国際規格による規格レベルとを比較し(ステッ
プS14)、その最大レベル点が規格レベルを越えてい
る場合にはそのレベル点の周波数faを評価対象点として
登録メモリ11に登録する(ステップS15)。引き続き,
次に高いレベル点を求めた後(ステップS16)、ステ
ップS14に移行し当該レベル点が規格レベルを越えて
いるか否かを判断する。その結果、第3図においてレベ
ル点〜の周波数fa〜fcが登録メモリ11に登録され、
例えば図示するレベル点,が規格レベル以下である
と判断され未登録となる。このようにしてステップS14
において雑音スペクトラムが規格レベルを越えたものが
なくなると、前記メモリ10から雑音スペクトラム分布デ
ータの周波数について対数変換を行い、第4図(a)の
ような雑音スペクトラム分布波形Aを取得し(ステップ
S17)、これを予備測定用メモリ12に記憶した後、その
雑音スペクトラム分布波形Aを読出して表示装置13に表
示する(ステップS18,S19)。さらに、ステップS20に移
行し、ここで波形の最大レベル点に初期の評価対象点と
して指定し、そのレベル点にマーカ30を表示する(ステ
ップS20)。引き続き、ステップS21で評価対象点の変更
があるか否かを判断する。このとき、オペレータの操作
によりマーカ移動キー2から右側移動キー信号が入力さ
れていると、システム制御手段7では右側移動キー信号
を受けて予備測定制御手段8およびマーカ移動制御手段
17に送り、このマーカ移動制御手段17にて次の評価対象
点の変更を行い(ステップS21)、その変更後の評価対
象点へマーカ30を移動させながら観察する(ステップS2
2)。そして、評価対象点の変更が無い場合には終了し
前記ステップS1によるメニュー表示に戻り、キー入力の
有無を判断する(ステップS2)。
The flow of program processing will be described below for each operation item. Now, in order for the operator to measure the interference noise spectrum distribution over a wide frequency range, a preliminary measurement key 1
When the system is operated, the system control means 7 receives a key signal from the preliminary measurement key 1 in step S3 and gives a command for executing the preliminary measurement program by the preliminary measurement control means 8. When a waveform other than the desired waveform is displayed on the display device 13, the preliminary measurement control means 8 deletes the waveform (step S11), and then the spectrum measurement means 9 measures a wide frequency range. Noise spectrum data (for example, FIG. 3) is sequentially captured and stored in the memory 10 (step S12). Then, the maximum level point is obtained from the noise spectrum distribution data in the memory 10 (step S13), and the maximum level point and the memory 10 are stored in advance.
If the maximum level point exceeds the standard level, the frequency fa at that level point is compared with the standard level stored by the user or the standard level according to a predetermined international standard (step S14). It is registered in the registration memory 11 as an evaluation target point (step S15). Continuing,
After obtaining the next higher level point (step S16), the process proceeds to step S14, and it is determined whether or not the level point exceeds the standard level. As a result, in FIG. 3, the frequencies fa to fc of the level points are registered in the registration memory 11,
For example, the level point shown in the figure is judged to be below the standard level, and is not registered. In this way step S14
When there is no noise spectrum that exceeds the standard level, logarithmic conversion is performed on the frequency of the noise spectrum distribution data from the memory 10 to obtain the noise spectrum distribution waveform A as shown in FIG.
S17), after storing this in the preliminary measurement memory 12, the noise spectrum distribution waveform A is read and displayed on the display device 13 (steps S18, S19). Further, the process proceeds to step S20, where the maximum level point of the waveform is designated as the initial evaluation target point, and the marker 30 is displayed at that level point (step S20). Subsequently, in step S21, it is determined whether or not the evaluation target point is changed. At this time, if the right side movement key signal is input from the marker movement key 2 by the operator's operation, the system control means 7 receives the right side movement key signal and receives the preliminary measurement control means 8 and the marker movement control means.
Then, the marker movement control means 17 changes the next evaluation target point (step S21), and observes while moving the marker 30 to the changed evaluation target point (step S2).
2). Then, when the evaluation target point is not changed, the process is terminated and returns to the menu display in step S1 to determine whether or not there is a key input (step S2).

次に、オペレータが評価測定キー3を操作すると、シス
テム制御手段7ではステップS3において評価測定キー3
からのキー信号を受けて評価測定制御手段14による評価
測定プログラムを実行する指令を与える。ここで、評価
測定制御手段14は、表示装置13に評価対象点が表示され
ている場合にはその評価対象点の周波数に同調し、その
周波数の雑音スペクトラムについて準尖頭値または平均
値検波,つまり評価測定を行う(ステップS31,S32)。
そして、その評価測定結果について周波数を対数変換し
(ステップS33)、その評価測定用メモリ15に記憶する
(ステップS34)。引き続き、登録メモリ11に登録され
ている各周波数を評価対象点として評価測定を行い、第
5図(a)のような評価測定波形Bを取得し、この波形
Bを表示装置13に表示する(ステップS35)。さらに、
ステップS37に移行し、ここで現在の評価対象点にマー
カ30を表示する(ステップS36)。引き続き、ステップS
37に移行し評価対象点の変更があるか否かを判断する。
このとき、オペレータの操作によりマーカ移動キー2か
ら右側移動キー信号が入力されると、システム制御手段
7では右側移動キー信号を受けて評価測定制御手段8お
よびマーカ移動制御手段17に送り、このマーカ移動制御
手段17にて次の評価対象点の変更を行い(ステップS3
8)、その変更後の評価対象点へマーカ(イ)を移動さ
せながら観察する(ステップS39)。そして、評価対象
点の変更が無い場合には終了し前記ステップS1によるメ
ニュー表示に戻り、キー入力の有無を判断する(ステッ
プS2)。
Next, when the operator operates the evaluation measurement key 3, the system control means 7 operates the evaluation measurement key 3 in step S3.
In response to the key signal from, the evaluation measurement control means 14 gives a command to execute the evaluation measurement program. Here, when the evaluation target point is displayed on the display device 13, the evaluation measurement control means 14 tunes to the frequency of the evaluation target point, and detects the quasi-peak value or the average value of the noise spectrum of the frequency, That is, evaluation measurement is performed (steps S31 and S32).
Then, the frequency of the evaluation measurement result is logarithmically converted (step S33) and stored in the evaluation measurement memory 15 (step S34). Subsequently, evaluation measurement is performed with each frequency registered in the registration memory 11 as an evaluation target point, an evaluation measurement waveform B as shown in FIG. 5A is acquired, and this waveform B is displayed on the display device 13 ( Step S35). further,
Then, the process proceeds to step S37, where the marker 30 is displayed at the current evaluation target point (step S36). Continue to step S
Go to 37 and judge whether there is any change in the evaluation points.
At this time, when the right side movement key signal is input from the marker movement key 2 by the operator's operation, the system control means 7 receives the right side movement key signal and sends it to the evaluation measurement control means 8 and the marker movement control means 17, and the marker is moved. The movement control means 17 changes the next evaluation target point (step S3
8) Then, observe while moving the marker (a) to the evaluation target point after the change (step S39). Then, when the evaluation target point is not changed, the process is terminated and returns to the menu display in step S1 to determine whether or not there is a key input (step S2).

また、オペレータが選択キー4を操作して表示内容を選
択するためのキー信号を入力すると、システム制御手段
7では選択キー4からのキー信号を受けて表示内容選択
手段16による表示内容選択プログラムを実行する指令を
与える。ここで、表示内容選択手段16は、ステップS41
において波形A,Bまたは後述する拡大抽出波形Cの何れ
を選択表示するかを判断する。このとき、図示しないキ
ー入力から波形Aを選択すべきと判断したときには前記
予備測定用メモリ12から雑音スペクトラム分布波形デー
タを読出して表示装置13に表示するか、既に波形Aが表
示されていればその表示状態を保持する。さらに、ステ
ップS43に移行し、ここで波形の最大レベル点に初期の
評価対象点として指定し、第4図(a)に示すようにそ
のレベル点にマーカ30を表示する。なお、既に表示装置
13に波形Aが表示されてマーカ30が付されている場合に
はその状態を保持する。以後、ステップS21に移行し前
述と同様な処理を行う。
When the operator operates the selection key 4 to input a key signal for selecting the display content, the system control means 7 receives the key signal from the selection key 4 and causes the display content selection means 16 to execute the display content selection program. Give a command to execute. Here, the display content selection means 16 performs step S41.
At, it is determined which of the waveforms A and B or the enlarged extracted waveform C described later is to be selectively displayed. At this time, when it is determined that the waveform A should be selected from a key input (not shown), the noise spectrum distribution waveform data is read from the preliminary measurement memory 12 and displayed on the display device 13, or if the waveform A is already displayed. The display state is retained. Furthermore, the process proceeds to step S43, where the maximum level point of the waveform is designated as the initial evaluation target point, and the marker 30 is displayed at that level point as shown in FIG. 4 (a). In addition, already display device
When the waveform A is displayed on 13 and the marker 30 is attached, the state is maintained. After that, the process proceeds to step S21 and the same process as described above is performed.

次に、ステップS41において図示しないキー入力から波
形Bを選択すべきと判断したときには前記評価測定用メ
モリ15から評価測定波形データBを読出して表示装置13
に表示する(ステップS44)。さらに、ステップS45に移
行し、第5図(a)に示すように現在指定されている評
価対象点にマーカ30を表示する。以後,ステップS37に
移行し前述と同様な処理を行う。
Next, in step S41, when it is determined that the waveform B should be selected from the key input (not shown), the evaluation measurement waveform data B is read from the evaluation measurement memory 15 and displayed on the display device 13.
(Step S44). Further, the process proceeds to step S45, and the marker 30 is displayed at the currently designated evaluation target point as shown in FIG. 5 (a). After that, the process proceeds to step S37 and the same processing as described above is performed.

次に、ステップS41において拡大抽出波形Cを選択表示
すべきと判断したとき、前記登録メモリ11から例えば最
初に登録された周波数faを読出しあるいはオペレータに
よる指示によって既に登録された中から任意の周波数を
読出し(ステップS46)、この周波数fa近傍の周波数に
ついてスペクトラム測定手段9から出力される雑音スペ
クトラム分布を測定して第6図に示すように前記拡大抽
出波形Cを表示装置13に表示する(ステップS47)。い
わゆる評価対象点の周波数近傍についてリアルタイムモ
ニタ処理を行う。引き続き、ステップS48に移行し、こ
こで評価対象点の変更があるか否かを判断し、変更有り
と判断したときには次の評価対象点の周波数fbを設定し
あるいは任意の周波数を設定し、ステップS47と同様に
周波数fb近傍あるいは任意の周波数近傍の雑音スペクト
ラム分布をリアルタイムに拡大抽出表示する(ステップ
S50)。
Next, when it is determined in step S41 that the enlarged extracted waveform C should be selected and displayed, for example, the first registered frequency fa is read from the registration memory 11 or an arbitrary frequency is selected from among the frequencies already registered by an operator's instruction. Readout (step S46), the noise spectrum distribution output from the spectrum measuring means 9 is measured for frequencies near the frequency fa, and the enlarged extracted waveform C is displayed on the display device 13 as shown in FIG. 6 (step S47). ). Real-time monitoring processing is performed in the vicinity of the frequency of the so-called evaluation target point. Subsequently, the process proceeds to step S48, where it is determined whether or not the evaluation target point is changed, and when it is determined that there is a change, the frequency fb of the next evaluation target point is set or an arbitrary frequency is set, and the step Similar to S47, the noise spectrum distribution near the frequency fb or any frequency is enlarged and extracted and displayed in real time (step
S50).

次に、メニュー表示後、オペレータが評価対象点の追加
および削除を必要する場合には追加キー5または削除キ
ー6を操作するが、先ず,その評価対象点の追加および
削除を必要とする理由について説明する。例えばVTR装
置の内部に通常のテレビジョン用の局部発振器やマイク
ロコンピュータ,ロジックICなどの部品を備えているの
で、これら部品から種々の周波数と強度を異にする妨害
波が放射されている。そこで、本発明の予備観測制御手
段8において第3図のような妨害波,つまり雑音スペク
トラム分布を得た場合、例えばオペレータはレベル,
の周波数がVTR装置のマイクロコンピュータの動作ク
ロック周波数である場合、当然,の雑音スペクトラ
ムも評価対象点とする必要がある。むしろ、当該周波数
fd,feのレベル,が小さいのはアンテナの向きや高
さがこれら妨害波が放射されてくる方向に対して不適当
だとか、それらの妨害波が時間的に変化していることも
考えられる。従来のEMI測定装置では周波数fd,feのレベ
ル,は規格内であるので、評価対象点としては登録
されず、再度何回かアンテナの向きを変えるなどして予
備測定を行う必要がある。そこで、このような操作を行
うことなく評価対象点を追加することが必要となる。
Next, after the menu is displayed, when the operator needs to add or delete the evaluation target points, the add key 5 or the delete key 6 is operated. First, the reason why the evaluation target points need to be added or deleted explain. For example, a VTR device is provided with components such as a local oscillator for a normal television, a microcomputer, and a logic IC inside the VTR device, and therefore, these components radiate interfering waves having different frequencies and different intensities. Therefore, when the interfering wave, that is, the noise spectrum distribution as shown in FIG.
When the frequency of is the operating clock frequency of the microcomputer of the VTR device, naturally the noise spectrum must also be the evaluation target point. Rather, the frequency
It is also possible that the level of fd and fe is small because the direction and height of the antenna are not appropriate for the direction in which these interfering waves are emitted, or that these interfering waves are changing with time. . In the conventional EMI measurement device, the frequencies fd and fe levels are within the standard, so they are not registered as evaluation points, and it is necessary to make preliminary measurements by changing the direction of the antenna again and again. Therefore, it is necessary to add the evaluation target points without performing such an operation.

一方、オペレータは周波数fcがVTR装置に関係ない放送
局のスペクトラムであると判明した場合、評価対象点と
して評価する必要がないので、評価対象点から除外する
必要があるが、従来装置ではそれも評価対象点として評
価してしまい、それだけ評価時間が長くなる。そこで、
予備測定後、その不要な外来波を簡単に除去する必要が
ある。
On the other hand, if the operator finds that the frequency fc is the spectrum of a broadcasting station that is not related to the VTR device, it is not necessary to evaluate it as an evaluation target point, so it is necessary to exclude it from the evaluation target point. It is evaluated as an evaluation target point, and the evaluation time becomes longer accordingly. Therefore,
After the preliminary measurement, it is necessary to easily remove the unnecessary extraneous waves.

しかして、本装置ではオペレータにより追加キー5が操
作されたとき、システム制御手段7では当該追加キー5
のキー入力を受けて評価対象点の追加制御手段21に追加
プログラムを実行すべき指令を与える。ここで、追加制
御手段21ではオペレータが表示装置13に表示された第3
図の雑音スペクトラム分布等から追加すべき周波数を入
力すると(ステップS51)、それを追加すべき評価対象
点の周波数と判断し、登録メモリ11に新たに当該周波数
を評価対象点として登録する(ステップS52)。
Then, when the operator operates the additional key 5 in the present apparatus, the system control means 7 causes the additional key 5 to be operated.
In response to the key input of, an instruction to execute the additional program is given to the additional control means 21 of the evaluation target point. Here, in the additional control means 21, the operator displays the third information displayed on the display device 13.
When the frequency to be added is input from the noise spectrum distribution in the figure (step S51), it is determined as the frequency of the evaluation target point to be added, and the frequency is newly registered in the registration memory 11 as the evaluation target point (step S51). S52).

一方、オペレータが削除キー6を操作したとき、削除制
御手段22は評価対象点削除プログラムを実行する。すな
わち、オペレータが表示装置13に表示された第3図の雑
音スペクトラム分布波形Aまたは評価測定波形Bから既
に登録メモリ11に登録されている周波数のうち不要とす
る雑音スペクトラムの周波数を特定して入力すると(ス
テップS61)、登録メモリ11から当該周波数を削除する
ことができる(ステップS62)。
On the other hand, when the operator operates the delete key 6, the delete control means 22 executes the evaluation target point delete program. That is, the operator specifies and inputs the frequency of the unnecessary noise spectrum among the frequencies already registered in the registration memory 11 from the noise spectrum distribution waveform A or the evaluation measurement waveform B of FIG. 3 displayed on the display device 13. Then, the frequency can be deleted from the registration memory 11 (step S61) (step S62).

さらに、メニュー表示には評価対象点ストアおよび評価
対象点リコールの操作項目が表示され、それに基づいて
評価対象点ストアまたは評価対象点リコールを行うこと
ができる。この評価対象点ストアは、ストア・リコール
キー25によるストアキー信号を受けてシステム制御手段
7がストア・リコール制御手段23にリコール制御信号を
送出し、これによりストア・リコール制御手段23が所定
のデータ読出し動作を実行し例えば登録メモリ11や評価
測定用メモリ15の内容を読出して不揮発性記憶装置24に
ストアする機能であり(ステップS63)、一方、評価対
象点リコールは同様にストア・リコールキー25によるリ
コールキー信号により不揮発性記憶装置24に記憶された
データをメモリ11,15にリコールして表示装置13に表示
することにより(ステップS64)、予備測定や評価測定
を新ためて実行登録する操作を省略でき、かつ、以前に
評価測定を行った周波数と全く同じ周波数で再度評価測
定が行えるものである。
Further, the operation items of the evaluation target point store and the evaluation target point recall are displayed on the menu display, and the evaluation target point store or the evaluation target point recall can be performed based on the operation items. In this evaluation target point store, the system control means 7 sends a recall control signal to the store / recall control means 23 in response to the store key signal from the store / recall key 25, whereby the store / recall control means 23 sends predetermined data. This is a function of executing a read operation to read the contents of, for example, the registration memory 11 or the evaluation measurement memory 15 and store them in the non-volatile storage device 24 (step S63). Recall key signal to recall the data stored in the non-volatile storage device 24 to the memories 11 and 15 and display it on the display device 13 (step S64) to newly execute and register preliminary measurement and evaluation measurement. Can be omitted, and the evaluation measurement can be performed again at exactly the same frequency as the frequency at which the evaluation measurement was previously performed.

従って、以上のような実施例の構成によれば、予備測定
終了後または評価測定終了後に登録された評価対象点の
周波数近傍の雑音スペクトラム分布を拡大して表示装置
13にリアルタイムに表示できるので、不要な外来液であ
るか否かを容易に知ることができ、かつ、より正確に雑
音スペクトラムの状態を把握できる。また、リアルタイ
ム測定終了後に広い周波数範囲の雑音スペクトラム分布
の表示状態に戻れるので、予備測定終了表示のどの雑音
スペクトラムに相当するかを判断できる。また、雑音ス
ペクトラム分布波形,評価測定波形およびある評価対象
点の周波数近傍の拡大波形を適宜に選択表示可能である
ので、オペレータが所望とする波形を適宜に観察して迅
速に評価できる。さらに、各測定ごとに評価対象点にマ
ーカを付すると共にマーカ移動制御手段17により必要な
他の評価対象点にマーカを移動することにより、評価す
べき雑音スペクトラムを容易に特定でき、他の雑音スペ
クトラムとの比較も容易に行うことができる。
Therefore, according to the configuration of the above embodiment, the noise spectrum distribution in the vicinity of the frequency of the evaluation target point registered after the preliminary measurement or after the evaluation measurement is enlarged is enlarged and displayed.
Since it can be displayed in real time on 13, it is possible to easily know whether or not it is unnecessary extraneous liquid, and to grasp the state of the noise spectrum more accurately. Further, since the display state of the noise spectrum distribution in the wide frequency range can be returned after the end of the real-time measurement, it is possible to determine which noise spectrum of the preliminary measurement end display corresponds to. Further, since the noise spectrum distribution waveform, the evaluation measurement waveform, and the enlarged waveform in the vicinity of the frequency of a certain evaluation target point can be selected and displayed as appropriate, the operator can appropriately observe the desired waveform and perform quick evaluation. Furthermore, by attaching a marker to the evaluation target point for each measurement and moving the marker to another required evaluation target point by the marker movement control means 17, the noise spectrum to be evaluated can be easily specified, and other noise Comparison with the spectrum can be easily performed.

さらに、登録メモリ11に既に登録された評価対象点に更
に必要とする評価対象点を追加でき、かつ、不必要な評
価対象点を削除することにより、必要な周波数だけを漏
れなく確実に評価でき、しかもオペレータが評価測定す
べき周波数が分っている場合には予備測定をスキップし
て拡大抽出によるリアルタイムモニタ処理や評価測定を
実施することが可能であり、予備測定を不要にして登録
された周波数について迅速に評価できる。さらに、各メ
モリ11,15に格納されたデータを不揮発性記憶装置にス
トアし、あるいはリコール可能とすることにより、最終
評価対象点の大切なデータを装置の電源オフ後も確実に
保存でき、かつ、以前と同じ評価対象点を再現して評価
できる。
Furthermore, it is possible to add more required evaluation points to the evaluation points already registered in the registration memory 11, and delete unnecessary evaluation points to ensure that only the necessary frequencies are evaluated without omission. Moreover, if the operator knows the frequency to be evaluated and measured, it is possible to skip the preliminary measurement and perform real-time monitor processing by expansion extraction and evaluation measurement. The frequency can be evaluated quickly. Furthermore, by storing the data stored in each of the memories 11 and 15 in a non-volatile storage device or making it recallable, important data at the final evaluation target point can be reliably saved even after the power of the device is turned off, and , The same evaluation points as before can be reproduced and evaluated.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明によれば次のような種々の効
果を奏する。
As described above, according to the present invention, the following various effects are exhibited.

先ず、請求項1においては、所望とする測定結果のデー
タを迅速,確実に取出して表示でき、これにより評価時
間の短縮化を図ることができる。また、リアルタイムモ
ニタ測定を行うことにより、ある評価対象点について詳
細に評価できる。
First, in claim 1, the desired measurement result data can be promptly and surely taken out and displayed, whereby the evaluation time can be shortened. In addition, a certain evaluation target point can be evaluated in detail by performing real-time monitor measurement.

次に、請求項2では、外来波の如く不要液を容易に除去
することができ、かつ、必要とする評価対象点を追加し
て適切な評価を行え、この点からも評価時間の短縮を図
ることができる。
Next, in claim 2, unnecessary liquid such as external waves can be easily removed, and necessary evaluation points can be added to perform an appropriate evaluation. From this point as well, the evaluation time can be shortened. Can be planned.

さらに、請求項3では、得られた評価対象点を外部の不
揮発性記憶装置にストアし、必要な時にその評価対象点
を用いることにより予備測定等を省略できる。
Further, in claim 3, the obtained evaluation target points are stored in an external non-volatile storage device, and the evaluation target points are used when necessary, so that preliminary measurement and the like can be omitted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図ないし第6図は本発明装置の実施例を説明するた
めに示したもので、第1図は本発明装置の機能を示すブ
ロック図、第2図は本発明装置の一連の動作フローを示
す図、第3図は広い周波数範囲の雑音スペクトラム分布
図、第4図は評価対象点の選択およびマーカの移動状態
を説明する図、第5図は評価測定結果およびマーカの移
動状態を示す図、第6図はある評価対象点の周波数近傍
の雑音スペクトラム分布を拡大表示する図、第7図は従
来装置の動作フローを示す図、第8図(a)は従来装置
による雑音スペクトラム分布図、第8図(b)は評価測
定結果の状態を示す図である。 1……予備測定キー、2……マーカ移動キー、3……評
価測定キー、4……選択キー、5……選択キー、6……
削除キー、7……システム制御手段、8……予備測定制
御手段、9……スペクトラム測定手段、10……メモリ、
11……登録メモリ、12……予備測定用メモリ、13……表
示装置、14……評価測定制御手段、15……評価測定用メ
モリ、16……表示内容選択制御手段、17……マーカ移動
制御手段、21……追加制御手段、22……削除制御手段、
23……ストア・リコール制御手段、24……不揮発性記憶
装置。
1 to 6 are shown for explaining the embodiment of the device of the present invention. FIG. 1 is a block diagram showing the function of the device of the present invention, and FIG. 2 is a series of operation flow of the device of the present invention. FIG. 3, FIG. 3 is a noise spectrum distribution diagram in a wide frequency range, FIG. 4 is a diagram for explaining selection of an evaluation target point and a moving state of the marker, and FIG. 5 is a result of evaluation measurement and a moving state of the marker. 6 and 6 are enlarged views of the noise spectrum distribution near the frequency of a certain evaluation point, FIG. 7 is a diagram showing the operation flow of the conventional device, and FIG. 8 (a) is a noise spectrum distribution diagram of the conventional device. FIG. 8 (b) is a diagram showing a state of the evaluation measurement result. 1 ... Preliminary measurement key, 2 ... Marker movement key, 3 ... Evaluation measurement key, 4 ... Selection key, 5 ... Selection key, 6 ...
Delete key, 7 ... system control means, 8 ... preliminary measurement control means, 9 ... spectrum measurement means, 10 ... memory,
11 …… Registered memory, 12 …… Preliminary measurement memory, 13 …… Display device, 14 …… Evaluation measurement control means, 15 …… Evaluation measurement memory, 16 …… Display content selection control means, 17 …… Marker movement Control means, 21 ... Additional control means, 22 ... Delete control means,
23 ... Store / recall control means, 24 ... nonvolatile storage device.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】広い周波数範囲の雑音スペクトラム分布を
測定し、その雑音スペクトラムの評価を行うEMI測定装
置において、 前記測定された雑音スペクトラムと所定の規格レベルと
を比較し、雑音スペクトラムが規格レベル以上のときに
その雑音スペクトラムの周波数を順次第1のメモリ(1
1)に登録し、また前記広い周波数範囲の雑音スペクト
ラム分布を対数変換して得られる雑音スペクトラム分布
波形データを第2のメモリ(12)に記憶すると共に表示
装置(13)に表示する予備測定制御手段(8)と、 この予備測定制御手段によって前記第1のメモリに登録
された各周波数を順次評価対象点として評価測定を行
い、得られた評価測定波形データを第3のメモリ(15)
に記憶すると共に前記表示装置に表示する評価測定制御
手段(14)と、 表示内容選択キーに応じて前記第2のメモリに記憶され
た予備測定波形データ、前記第3のメモリに記憶された
評価測定波形データおよび前記第1のメモリに登録され
た評価対象点となる周波数近傍の雑音スペクトラムを測
定して得られる拡大波形データの何れかを選択して表示
する表示内容選択制御手段(16)と、 前記予備測定制御手段によって表示された予備測定波
形,前記評価測定制御手段によって表示された評価測定
波形および前記表示内容選択制御手段によって選択表示
された予備測定波形,評価測定波形の何れかの表示時に
所望とする評価対象点にマーカを付すと共にそのマーカ
を移動させるマーカ移動制御手段(17)と を備えたことを特徴とするEMI測定装置。
1. An EMI measuring device that measures a noise spectrum distribution in a wide frequency range and evaluates the noise spectrum, compares the measured noise spectrum with a predetermined standard level, and the noise spectrum is equal to or higher than the standard level. When the frequency of the noise spectrum is
Preliminary measurement control for storing in the second memory (12) and displaying on the display device (13) the noise spectrum distribution waveform data obtained by logarithmically converting the noise spectrum distribution in the wide frequency range, which is registered in 1). By means of the means (8) and the preliminary measurement control means, the respective frequencies registered in the first memory are sequentially subjected to the evaluation and measurement, and the obtained evaluation measurement waveform data is stored in the third memory (15).
An evaluation measurement control means (14) which is stored in the display device and displayed on the display device, preliminary measurement waveform data stored in the second memory in response to a display content selection key, and evaluation stored in the third memory. Display content selection control means (16) for selecting and displaying either the measured waveform data or the expanded waveform data obtained by measuring the noise spectrum in the vicinity of the frequency to be evaluated, which is registered in the first memory. A preliminary measurement waveform displayed by the preliminary measurement control unit, an evaluation measurement waveform displayed by the evaluation measurement control unit, or a preliminary measurement waveform selected and displayed by the display content selection control unit, or an evaluation measurement waveform display An EMI measuring device characterized by further comprising a marker movement control means (17) for attaching a marker to a desired evaluation target point and moving the marker at times. .
【請求項2】評価対象点となる周波数を第1のメモリに
追加登録する評価対象点追加手段(21)と、前記第1の
メモリに登録された評価対象点である周波数のうちから
任意の周波数を指定して削除する評価対象点削除手段
(22)とを備えた請求項1記載のEMI測定装置。
2. An evaluation target point adding means (21) for additionally registering a frequency as an evaluation target point in a first memory, and an arbitrary frequency selected from the frequencies as the evaluation target points registered in the first memory. The EMI measuring device according to claim 1, further comprising: evaluation target point deleting means (22) for specifying and deleting a frequency.
【請求項3】不揮発性記憶装置(24)と、この不揮発性
記憶装置に第1のメモリ内の評価対象点を記憶させ、か
つ、この記憶した評価対象点を第1のメモリ内に再生す
るためのストア・リコール制御手段とを備えた請求項1
または請求項2記載のEMI測定装置。
3. A non-volatile memory device (24), and the non-volatile memory device stores an evaluation target point in a first memory and reproduces the stored evaluation target point in the first memory. Store recall control means for
Alternatively, the EMI measuring device according to claim 2.
JP33351488A 1988-12-28 1988-12-28 EMI measuring device Expired - Lifetime JPH07104381B2 (en)

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