JPH0641916B2 - 分光螢光光度計 - Google Patents
分光螢光光度計Info
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- JPH0641916B2 JPH0641916B2 JP1704684A JP1704684A JPH0641916B2 JP H0641916 B2 JPH0641916 B2 JP H0641916B2 JP 1704684 A JP1704684 A JP 1704684A JP 1704684 A JP1704684 A JP 1704684A JP H0641916 B2 JPH0641916 B2 JP H0641916B2
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 19
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 16
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 12
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000012921 fluorescence analysis Methods 0.000 description 1
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- PYWVYCXTNDRMGF-UHFFFAOYSA-N rhodamine B Chemical compound [Cl-].C=12C=CC(=[N+](CC)CC)C=C2OC2=CC(N(CC)CC)=CC=C2C=1C1=CC=CC=C1C(O)=O PYWVYCXTNDRMGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は分光蛍光光度計に係り、特に測定波長の全域に
わたつて測定スペクトルデータを補正する装置関数を求
めることにより、正確な測定データを求めることが可能
な分光蛍光光度計に関する。
わたつて測定スペクトルデータを補正する装置関数を求
めることにより、正確な測定データを求めることが可能
な分光蛍光光度計に関する。
試料を分析するために励起用光源と、この光源からの励
起光を試料に照射するための励起側分光器からなる励起
側光学系と、この試料から出射される蛍光を分析するた
めに蛍光側分光器、及び蛍光検知器からなる蛍光側光学
系を備えた分光蛍光光度計において、従来行なわれてき
たスペクトル補正方法としては文献「けい光分析」−講
談社サイエンテイフイツク（Ｐ８１〜８７）ーに示され
ているように、まず、光量子計と標準試料（通常の場
合、高濃度のローダミンＢ）を用いて光源の測定励起光
量を測定することにより励起側光学系の装置関数を求
め、つぎに光量子計を用いて先に求めた測定励起光量に
基づく励起側光学系の装置関数を使用して、蛍光側光学
系の装置関数を（補正関数）を求める光量子計法があ
る。また上記文献に示されているように、蛍光側光学系
の装置関数を求める別な方法として出力既知のタングス
テンランプを用いて、このランプからの光を蛍光側光学
系で測定することにより、この測定値と理論的に求まる
理論値とを比較することにより蛍光側光学系の装置関数
を求めるタングステンランプ方法がある。
起光を試料に照射するための励起側分光器からなる励起
側光学系と、この試料から出射される蛍光を分析するた
めに蛍光側分光器、及び蛍光検知器からなる蛍光側光学
系を備えた分光蛍光光度計において、従来行なわれてき
たスペクトル補正方法としては文献「けい光分析」−講
談社サイエンテイフイツク（Ｐ８１〜８７）ーに示され
ているように、まず、光量子計と標準試料（通常の場
合、高濃度のローダミンＢ）を用いて光源の測定励起光
量を測定することにより励起側光学系の装置関数を求
め、つぎに光量子計を用いて先に求めた測定励起光量に
基づく励起側光学系の装置関数を使用して、蛍光側光学
系の装置関数を（補正関数）を求める光量子計法があ
る。また上記文献に示されているように、蛍光側光学系
の装置関数を求める別な方法として出力既知のタングス
テンランプを用いて、このランプからの光を蛍光側光学
系で測定することにより、この測定値と理論的に求まる
理論値とを比較することにより蛍光側光学系の装置関数
を求めるタングステンランプ方法がある。
しかし、これらの蛍光側光学系の装置関数を求める方法
のうち前者の方法によれば装置関数としては２００nm〜
６００nmの波長域の関数しか求まらず、後者の方法によ
れば３３０nm以上の波長域の装置関数しか求められなか
った。
のうち前者の方法によれば装置関数としては２００nm〜
６００nmの波長域の関数しか求まらず、後者の方法によ
れば３３０nm以上の波長域の装置関数しか求められなか
った。
このため測定波長全域にわたり蛍光側光学系の装置関数
を求めるためには、２つの方法でそれぞれの装置関数を
求めなければならず、この時、２つの方法の測定結果に
違いがないように、タングステンランプ法に使用する光
源としては、測定する波長域において光量子計法と同じ
測定結果が得られる高性能のタングステンランプを使用
しなければならなかった。
を求めるためには、２つの方法でそれぞれの装置関数を
求めなければならず、この時、２つの方法の測定結果に
違いがないように、タングステンランプ法に使用する光
源としては、測定する波長域において光量子計法と同じ
測定結果が得られる高性能のタングステンランプを使用
しなければならなかった。
本発明の目的は、分光蛍光光度計の蛍光側光学系の装置
関数を求めるタングステンランプ法の光源として、高性
能のタングステンランプを用いなくても、測定波長の全
域において連続した蛍光側光学系の装置関数を求めて、
測定スペクトルデータ補正を行なうことのできる分光蛍
光光度計を提供することにある。
関数を求めるタングステンランプ法の光源として、高性
能のタングステンランプを用いなくても、測定波長の全
域において連続した蛍光側光学系の装置関数を求めて、
測定スペクトルデータ補正を行なうことのできる分光蛍
光光度計を提供することにある。
本発明の分光蛍光光度計は、試料測定に先立ち光源から
の励起光を標準試料に照射して、光量子計により光源の
励起光量を測定し、つぎにこの光量子計を用いて求めた
光源の励起光量からの励起側光学系の装置関数に基づい
て、短波長から中波長までの蛍光側光学系の装置関数を
求め、また、出力既知の光源からの光を蛍光側光学系で
測定すことより、この測定値と理論値との差から中波長
から長波長までの蛍光側光学系の装置関数を求めること
により、これらの方法が同一対象の光学系装置について
独自に等しく装置関数を求めている中波長領域につい
て、この中波長領域の特定の波長に関して、この特定波
長よりも波長の長い中波長から長波長までの蛍光側光学
系の装置関数と、また、この特定波長よりも波長の短い
短波長から中波長までの蛍光側光学系の装置関数とを用
いて、特定波長におけるこれらの装置関数が合致するよ
うに、これらの装置関数のいずれか一方又は双方を補正
演算して、短波長から長波長まで連続した蛍光側光学系
の装置関数を求めることにより、この装置関数を使用し
て測定スペクトルデータを補正し正確な分析結果を求め
るものである。
の励起光を標準試料に照射して、光量子計により光源の
励起光量を測定し、つぎにこの光量子計を用いて求めた
光源の励起光量からの励起側光学系の装置関数に基づい
て、短波長から中波長までの蛍光側光学系の装置関数を
求め、また、出力既知の光源からの光を蛍光側光学系で
測定すことより、この測定値と理論値との差から中波長
から長波長までの蛍光側光学系の装置関数を求めること
により、これらの方法が同一対象の光学系装置について
独自に等しく装置関数を求めている中波長領域につい
て、この中波長領域の特定の波長に関して、この特定波
長よりも波長の長い中波長から長波長までの蛍光側光学
系の装置関数と、また、この特定波長よりも波長の短い
短波長から中波長までの蛍光側光学系の装置関数とを用
いて、特定波長におけるこれらの装置関数が合致するよ
うに、これらの装置関数のいずれか一方又は双方を補正
演算して、短波長から長波長まで連続した蛍光側光学系
の装置関数を求めることにより、この装置関数を使用し
て測定スペクトルデータを補正し正確な分析結果を求め
るものである。
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図に本発明の実施例の原理図を示す。まず光量子計
と標準試料を用いて励起用光源の測定励起光量を求め、
これに基づく励起側光学系の装置関数を使用して、つぎ
に光量子計法により測定励起光量に基づく励起側光学系
の装置関数から蛍光側光学系の装置関数を求め、さらに
タングステンランプ法によりこの光源の測定値と理論値
との差から装置関数を求めて、これらの２つの装置関数
を５００nmで合致させることにより全波長域において連
続した装置関数を求める。
と標準試料を用いて励起用光源の測定励起光量を求め、
これに基づく励起側光学系の装置関数を使用して、つぎ
に光量子計法により測定励起光量に基づく励起側光学系
の装置関数から蛍光側光学系の装置関数を求め、さらに
タングステンランプ法によりこの光源の測定値と理論値
との差から装置関数を求めて、これらの２つの装置関数
を５００nmで合致させることにより全波長域において連
続した装置関数を求める。
これらの装置関数を連続させる方法としては、まず光量
子計法により２００nm〜６００nmの波長域における装置
の波長特性を測定して、その逆数である蛍光側光学系の
装置関数を記憶装置に記憶させる。つぎにタングステン
ランプ法により５００nm以上の波長域における蛍光側光
学系の装置関数を記憶装置に読み込む際に、光量子計法
における５００mmの装置関数値とタングステンランプ法
による５００mmの装置関数値が一致するようにタングス
テンランプ法の装置関数全体に係数をかけて記憶装置に
記憶させる。このようにして得られた装置関数により２
００mmより８００mmまでの測定波長領域の全域において
連続したスペクトル補正が可能となる。
子計法により２００nm〜６００nmの波長域における装置
の波長特性を測定して、その逆数である蛍光側光学系の
装置関数を記憶装置に記憶させる。つぎにタングステン
ランプ法により５００nm以上の波長域における蛍光側光
学系の装置関数を記憶装置に読み込む際に、光量子計法
における５００mmの装置関数値とタングステンランプ法
による５００mmの装置関数値が一致するようにタングス
テンランプ法の装置関数全体に係数をかけて記憶装置に
記憶させる。このようにして得られた装置関数により２
００mmより８００mmまでの測定波長領域の全域において
連続したスペクトル補正が可能となる。
第２図は、本発明に係る分光蛍光光度計の一実施例の構
成を示しており、同図において光源１を出た光は、励起
側分光器２を経て試料室３に導かれ、試料に照射され
る。試料から発する蛍光は、蛍光側分光器６を経て検知
器７に入る。今対象としているのは、蛍光側分光器６と
検知器７よりなる蛍光側光学系の装置関数の補正であ
る。試料室３には、光量子計設置場所４があるが、これ
と別にタングステンランプ設置場所５が存在する。装置
の波長特性データ及び実際の測定データは、ともに検知
器７よりＡ／Ｄ変換器９、バスライン１２を経由してＲ
ＡＭ１６に読み込まれる。
成を示しており、同図において光源１を出た光は、励起
側分光器２を経て試料室３に導かれ、試料に照射され
る。試料から発する蛍光は、蛍光側分光器６を経て検知
器７に入る。今対象としているのは、蛍光側分光器６と
検知器７よりなる蛍光側光学系の装置関数の補正であ
る。試料室３には、光量子計設置場所４があるが、これ
と別にタングステンランプ設置場所５が存在する。装置
の波長特性データ及び実際の測定データは、ともに検知
器７よりＡ／Ｄ変換器９、バスライン１２を経由してＲ
ＡＭ１６に読み込まれる。
ＲＡＭ１６には励起側光学系の装置関数記憶部１７、光
量子計法による蛍光側光学系の装置関数記憶部１８、タ
ングステンランプ法による蛍光側光学系の装置関数記憶
部１９が独立して設けられている。マイクロプロセツサ
ユニツト（ＭＰＵ）１４はＲＯＭ１５に格納されている
プログラムに基づいてこれら２つの蛍光側光学系の装置
関数のいずれか一方または双方を補正演算して、補正さ
れた装置関数を求めこの装置関数データをＲＡＭ１６に
記憶させると共にＲＡＭ１６に記憶された励起側光学系
の装置関数データに基づいて試料の測定データを補正
し、Ｄ／Ａ変換器１０を介して記憶系１１に補正された
スペクトルを記録させる。
量子計法による蛍光側光学系の装置関数記憶部１８、タ
ングステンランプ法による蛍光側光学系の装置関数記憶
部１９が独立して設けられている。マイクロプロセツサ
ユニツト（ＭＰＵ）１４はＲＯＭ１５に格納されている
プログラムに基づいてこれら２つの蛍光側光学系の装置
関数のいずれか一方または双方を補正演算して、補正さ
れた装置関数を求めこの装置関数データをＲＡＭ１６に
記憶させると共にＲＡＭ１６に記憶された励起側光学系
の装置関数データに基づいて試料の測定データを補正
し、Ｄ／Ａ変換器１０を介して記憶系１１に補正された
スペクトルを記録させる。
第３図は、上記実施例によれ実際に取つた補正スペクト
ルの例である。広い波長域にあたつた補正スペクトルが
実録されている。このデータは、量子収率算出を目的と
して取られた補正スペクトルであり、スペクトルの裾の
部分まで正しく補正することが必要である。本発明が最
も有効に活用される例の一つである。
ルの例である。広い波長域にあたつた補正スペクトルが
実録されている。このデータは、量子収率算出を目的と
して取られた補正スペクトルであり、スペクトルの裾の
部分まで正しく補正することが必要である。本発明が最
も有効に活用される例の一つである。
本発明の分光蛍光光度計によれば、タングステンランプ
法に使用されるタングステンランプとして長波長から３
３０nm付近の短波長まで使用可能な高性能なものを使用
する必要がなく、中波長以上の領域でその出力を出せる
もので十分であり、そして、このタングステンランプか
ら求めた装置関数と、光量子計法で求めた装置関数とが
合致しない場合であっても、測定波長全域において連続
した装置関数が求まる効果がある。
法に使用されるタングステンランプとして長波長から３
３０nm付近の短波長まで使用可能な高性能なものを使用
する必要がなく、中波長以上の領域でその出力を出せる
もので十分であり、そして、このタングステンランプか
ら求めた装置関数と、光量子計法で求めた装置関数とが
合致しない場合であっても、測定波長全域において連続
した装置関数が求まる効果がある。
第１図は本発明の原理を説明するための図、第２図は本
発明に係る分光蛍光光度計の一実施例の構成図、第３図
は本発明に係る分光蛍光光度計により得られた補正スペ
クトルの一例を示す図である。 １……光源、２……励起側分光器、３……試料室、６…
…蛍光側分光器、７……検知器、８……機械系制御回
路、９……Ａ／Ｄ変換器、１０……Ｄ／Ａ変換器、１４
……ＭＰＵ、１５……ＲＯＭ、１６……ＲＡＭ。
発明に係る分光蛍光光度計の一実施例の構成図、第３図
は本発明に係る分光蛍光光度計により得られた補正スペ
クトルの一例を示す図である。 １……光源、２……励起側分光器、３……試料室、６…
…蛍光側分光器、７……検知器、８……機械系制御回
路、９……Ａ／Ｄ変換器、１０……Ｄ／Ａ変換器、１４
……ＭＰＵ、１５……ＲＯＭ、１６……ＲＡＭ。
Claims (2)
- 【請求項１】励起用光源と、該励起用光源からの励起光
を試料室に設置された試料に照射する励起側分光器を有
する励起側光学系と、前記試料から出射される蛍光を分
析する蛍光側分光器、及び蛍光検知器を有する蛍光側光
学系を備えた分光蛍光光度計において、前記試料室に光
量子計及び出力既知の光源を設け、前記光量子計で得た
前記励起用光源の励起光量に基づいて、励起側光学系の
装置関数を求めて、第一の記憶部に記憶せしめる演算手
段、該演算手段は前記光量子計を用いて前記励起用光源
の励起光量から前記励起側光学系の装置関数に基づき、
短波長から中波長までの前記蛍光側光学系の装置関数を
求めて、第二の記憶部に記憶せしめ、かつ前記出力既知
の光源から照射される光量を前記蛍光側光学系により測
定し、既測定値と理論値との差から中波長から長波長ま
での前記蛍光側光学系の装置関数を求めて、第三の記憶
部に記憶せしめるものであり、前記演算手段は中波長に
おける特定の波長に関して、該特定の波長よりも波長の
長い前記中波長から長波長までの蛍光側光学系の装置関
数と、及び前記特定の波長よりも波長の短い前記短波長
から中波長までの蛍光側光学系の装置関数とを用いて、
前記短波長から中波長までの蛍光側光学系の装置関数
と、前記長波長から中波長までの蛍光側光学系の装置関
数が合致するように、これらの装置関数のいずれか一方
または双方を補正演算して短波長から長波長まで連続し
た蛍光側光学系の装置関数を求めて第四の記憶部に記憶
せしめ、試料測定時に前記第四の記憶部に格納された蛍
光側光学系の装置関数に基づいて測定スペクトルデータ
の補正を行なうことを特徴とする分光蛍光光度計。 - 【請求項２】請求項第１項の分光蛍光光度計において、
前記出力既知の光源として、タングステンランプを用い
たことを特徴とする分光蛍光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1704684A JPH0641916B2 (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | 分光螢光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1704684A JPH0641916B2 (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | 分光螢光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60162942A JPS60162942A (ja) | 1985-08-24 |
| JPH0641916B2 true JPH0641916B2 (ja) | 1994-06-01 |
Family
ID=11933047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1704684A Expired - Lifetime JPH0641916B2 (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | 分光螢光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0641916B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012026731A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計、および分光蛍光光度計のスペクトル補正方法 |
| JP5772425B2 (ja) | 2011-09-13 | 2015-09-02 | ソニー株式会社 | 微小粒子測定装置 |
| JP6015735B2 (ja) * | 2014-11-07 | 2016-10-26 | ソニー株式会社 | 微小粒子測定装置 |
-
1984
- 1984-02-03 JP JP1704684A patent/JPH0641916B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 田村善蔵外２名編「けい光分析」講談社、昭和４９、Ｐ８１−８７ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60162942A (ja) | 1985-08-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |