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JPH0637348Y2 - Electronic component inspection device - Google Patents

Electronic component inspection device

Info

Publication number
JPH0637348Y2
JPH0637348Y2 JP13286587U JP13286587U JPH0637348Y2 JP H0637348 Y2 JPH0637348 Y2 JP H0637348Y2 JP 13286587 U JP13286587 U JP 13286587U JP 13286587 U JP13286587 U JP 13286587U JP H0637348 Y2 JPH0637348 Y2 JP H0637348Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base
contact
pin
inspected
horizontal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP13286587U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6438573U (en
Inventor
傑 悴田
Original Assignee
株式会社横尾製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社横尾製作所 filed Critical 株式会社横尾製作所
Priority to JP13286587U priority Critical patent/JPH0637348Y2/en
Publication of JPS6438573U publication Critical patent/JPS6438573U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0637348Y2 publication Critical patent/JPH0637348Y2/en
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の目的〕 (産業上の利用分野) 本考案は電子部品の検査装置に係り、特にリードフレー
ムを取付ける前の未完成電子部品を、上下,左右の四方
向から検査するのに好適な電子部品の検査装置に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial field of application) The present invention relates to an inspection device for electronic parts, and in particular, an unfinished electronic part before mounting a lead frame can be installed in four directions, up, down, left and right. The present invention relates to an electronic component inspection device suitable for inspection.

(従来の技術) 従来から、各種の電子部品が実装された回路基板の通電
検査は広く行なわれているが、電子部品に不良が存在す
ると、部品交換等の無駄な工程を費すことになるため、
実装前のIC等の電子部品単体の状態で、予め検査する方
法が採られるようになってきている。
(Prior Art) Conventionally, a circuit board on which various electronic components are mounted has been widely tested for electrical conduction. However, if a defective electronic component exists, a wasteful process such as component replacement is required. For,
A method of preliminarily inspecting a single electronic component such as an IC before mounting has been adopted.

ところで従来、単体の電子部品を検査する方法として
は、リードフレームを取付けた後、その上下面に多数の
コンタクトピンを接触させて行なうようにしている。
By the way, conventionally, as a method of inspecting a single electronic component, after mounting the lead frame, a large number of contact pins are brought into contact with the upper and lower surfaces of the lead frame.

(考案が解決しようとする問題点) ところが、前記従来の検査方法では、検査により不良が
判明すると、リードフレームを取付ける工程だけ余分な
作業となるという問題がある。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in the above-described conventional inspection method, if a defect is found by inspection, there is a problem that an extra work is required only in the step of attaching the lead frame.

そこで一部では、リードフレームを取付ける前の未完成
の電子部品を検査する試みがなされているが、このよう
な構成部品の状態では、電子部品完成品のように一面あ
るいは上下二面の検査では済まず、例えばIC等では、上
下,左右の四方向から検査する必要がある。
Therefore, in some cases, attempts have been made to inspect unfinished electronic parts before mounting the lead frame, but in the state of such components, it is not possible to inspect one side or two sides above and below like a completed electronic part. First of all, it is necessary to inspect the IC from the top, bottom, left and right.

本考案は、かかる現況に鑑みてなされたもので、上下,
左右の四方向から同時に被検査部品を検査することがで
き、例えば未完成のIC等の検査効率を大幅に向上させ、
無駄をなくすことができる電子部品の検査装置を提供す
ることを目的とする。
The present invention has been made in view of the current situation, and is
It is possible to inspect the parts to be inspected simultaneously from the left and right directions, for example, greatly improving the inspection efficiency of unfinished ICs,
An object of the present invention is to provide an inspection device for electronic parts that can eliminate waste.

〔考案の構成〕[Constitution of device]

(問題点を解決するための手段) 本考案は、基台上に配されたスライドベースと、このス
ライドベース上に上下動可能に取付けられかつばね圧に
より常時上方に付勢された取付台と、この取付台上に設
けられ、被検査部品を着脱可能に位置決め固定する保持
台と、前記スライドベース上に取付けられた下ピンボー
ドと、この下ピンボードに上方に向けて多数植設され前
記取付台の下降により先端が被検査部品の下面に接触す
る上向きコンタクトピンと、前記保持台の両側位置にそ
れぞれ配置され、取付台上を被検査部品に対し遠近方向
に変位可能の一対の横ピンボードと、これら各横ピンボ
ードを保持台から離れる方向に付勢するスプリングと、
前記各横ピンボードに多数植設され、各横ピンボードを
スプリングの付勢力に抗し保持台に接近させることによ
り先端が被検査部品の側面にそれぞれ接触する横向きコ
ンタクトピンと、前記保持台の上方位置に昇降可能に配
置された上ピンボードと、この上ピンボードに下方に向
けて多数植設され、上ピンボードの下降により先端が被
検査部品の上面に接触する下向きコンタクトピンと、前
記上ピンボードの下降により作動し前記各横ピンボード
を保持台に接近させる連動機構とを具備することを特徴
とする。
(Means for Solving Problems) The present invention includes a slide base arranged on a base, and a mount mounted on the slide base so as to be vertically movable and constantly urged upward by spring pressure. , A holding table provided on the mounting table for removably positioning and fixing the inspected component, a lower pin board mounted on the slide base, and a large number of the lower pin boards planted upward. An upward contact pin whose tip comes into contact with the lower surface of the component to be inspected when the mount is lowered, and a pair of horizontal pin boards that are arranged on both sides of the holding platform and can be displaced in the perspective direction relative to the component to be inspected on the mount. And a spring that urges each of these horizontal pinboards away from the holding base,
A large number of lateral pin boards are planted in each lateral pin board, and each lateral pin board approaches the holding table against the urging force of the spring, and the tip of each lateral contact pin contacts the side surface of the inspected part. Upper pin board that can be moved up and down in a position, a number of downwardly planted contact pins on this upper pin board, and the downward contact pin whose tip contacts the upper surface of the inspected part when the upper pin board descends; It is provided with an interlocking mechanism which is operated by lowering the board to bring each of the lateral pin boards closer to the holding table.

(作用) 本考案に係る電子部品の検査装置においては、被検査部
品を取付台上に位置決め固定する保持台の上方に上ピン
ボードが配置される。そして、この上ピンボードを下降
させることにより、上ピンボードに多数植設された各下
向きコンタクトピンの先端が、被検査部品の上面に接触
する。
(Operation) In the electronic component inspection apparatus according to the present invention, the upper pin board is arranged above the holding base for positioning and fixing the inspection target component on the mounting base. Then, by lowering the upper pinboard, the tips of the downward contact pins, which are planted in large numbers on the upper pinboard, come into contact with the upper surface of the inspected component.

下向きコンタクトピンの先端が被検査部品の上面に接触
すると、取付台がばね圧に抗し下降し、この下降によ
り、スライドベースに固定した下ピンボードに多数植設
された上向きコンタクトピンの先端が、取付台とともに
下降してきた被検査部品の下面に接触する。これと同時
に、上ピンボードの下降により連動機構が作動して一対
の各横ピンボードが保持台に接近し、各横ピンボードに
多数植設された横向きコンタクトピンの先端が、被検査
部品の側面にそれぞれ接触する。これにより、被検査部
品の上下,左右の四方向からコンタクトピンが接触する
ことになり、リードフレームを取付ける前の未完成のIC
等であっても、効率的に検査を行なうことが可能とな
る。
When the tip of the downward contact pin comes into contact with the upper surface of the inspected part, the mounting base moves down against the spring pressure, and this lowering causes the tips of the upward contact pins planted on the lower pin board fixed to the slide base. , It contacts the lower surface of the inspected part that has descended together with the mounting base. At the same time, the interlocking mechanism operates due to the lowering of the upper pin board, the pair of horizontal pin boards approach the holding table, and the tips of the lateral contact pins implanted in each horizontal pin board are Touch each side. As a result, the contact pins come into contact with the component to be inspected from the top, bottom, left, and right directions, and the unfinished IC before mounting the lead frame
Even in such cases, the inspection can be efficiently performed.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本考案の一実施例を図面を参照して説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は、本考案に係る電子部品の検査装置の一例とし
て、ハンドタイプの検査装置を示す側面図、第2図は第
1図は左方から見た部分断面正面図であり、図中、符号
1は検査装置のベースである。
FIG. 1 is a side view showing a hand-type inspection device as an example of the inspection device for electronic parts according to the present invention, and FIG. 2 is a partial sectional front view seen from the left in FIG. , 1 is the base of the inspection device.

このベースの第1図における右端部には、太径の支柱2
が立設されており、この支柱2には、上下位置を調節可
能にレバー支持部材3が、支柱2から前方に突出した状
態で固定されている。
At the right end of this base in FIG.
The lever support member 3 is fixed to the column 2 so that the vertical position can be adjusted so as to project forward from the column 2.

このレバー支柱部材3の前端部には、レバー4の回動操
作により昇降駆動されるラック軸5が上下方向に貫通し
て取付けられており、このラック軸5の上端部には、太
径のストッパ6が一体に設けられている。
A rack shaft 5 which is driven up and down by a rotating operation of a lever 4 is attached to the front end portion of the lever support member 3 so as to pass through in the vertical direction, and an upper end portion of the rack shaft 5 has a large diameter. The stopper 6 is integrally provided.

前記ラック軸5は、前記レバー4の支軸に設けた図示し
ない平歯車とラック軸5に形成した図示しないラック面
との噛合いによりレバー4に連動するようになってお
り、このラック軸5は、第1図に鎖線で示すようにスト
ッパ6がレバー支持部材3の上面に当接する最下降状態
において、レバー支持部材3の前面に取付けた仮固定機
構7により仮固定されるようになっている。
The rack shaft 5 is adapted to interlock with the lever 4 by meshing with a spur gear (not shown) provided on a support shaft of the lever 4 and a rack surface (not shown) formed on the rack shaft 5. 1 is temporarily fixed by the temporary fixing mechanism 7 attached to the front surface of the lever supporting member 3 in the lowest position where the stopper 6 contacts the upper surface of the lever supporting member 3 as shown by the chain line in FIG. There is.

この仮固定機構7は、レバー支持部材3の前面に取付け
られた取付部材8と、この取付部材8に第1図において
左右方向にスライド可能に取付けられた作動部材9とを
備えており、この作動部材9は、そのストッパ9aが取付
部材8に当接する位置までスプリング10により図中右方
に付勢され、この状態において、作動部材9の爪9bはラ
ック軸5のストッパ6の下方位置まで突出している。そ
して、爪9bは、ラック軸5の下降によりストッパ6に接
触してスプリング10の付勢力に抗し取付部材8内に退行
し、ストッパ6の通過後スプリング10の付勢力で再び突
出してストッパ6の上面を押えるようになっている。
The temporary fixing mechanism 7 includes a mounting member 8 mounted on the front surface of the lever supporting member 3 and an operating member 9 mounted on the mounting member 8 so as to be slidable in the left-right direction in FIG. The actuating member 9 is biased rightward in the figure by the spring 10 to a position where the stopper 9a of the actuating member 9 contacts the mounting member 8. In this state, the claw 9b of the actuating member 9 reaches the position below the stopper 6 of the rack shaft 5. It is protruding. Then, the claw 9b comes into contact with the stopper 6 due to the lowering of the rack shaft 5 and retracts into the mounting member 8 against the urging force of the spring 10, and after passing through the stopper 6, re-projects by the urging force of the spring 10 and stops. It is designed to hold the upper surface of.

前記ラック軸5の下端部には、取付板11の上面に設けた
中心軸12が固定されており、この取付板11の下面には、
第1図および第2図に示すように多数の下向きコンタク
トピン13を植設した上ピンボード14が取付けられてい
る。
A central shaft 12 provided on the upper surface of the mounting plate 11 is fixed to the lower end of the rack shaft 5, and the lower surface of the mounting plate 11 is
As shown in FIGS. 1 and 2, an upper pin board 14 in which a large number of downward contact pins 13 are planted is attached.

前記取付板11の上面には、また、第1図に示すように後
に後述する上基台15に立設した上下方向のスライド軸16
に案内されるボス17が設けられており、取付板11は、前
記スライド軸16に沿って昇降ガイドされるようになって
いる。また、この取付板11の下面には、位置決めピン18
が下方へ突設されており、この位置決めピン18は、上基
台15およびその上面に摺動自在に載置したスライドベー
ス19に設けた位置決め孔15a,19aに、上ピンボード14の
下降により挿入され、スライドベース19の位置決めを行
なうようになっている。
On the upper surface of the mounting plate 11, as shown in FIG. 1, a slide shaft 16 in the up-down direction is provided upright on an upper base 15 which will be described later.
The mounting plate 11 is guided up and down along the slide shaft 16. In addition, the positioning pin 18 is provided on the lower surface of the mounting plate 11.
Is projected downward, and the positioning pin 18 is lowered by the lower pin board 14 into the positioning holes 15a and 19a provided in the upper base 15 and the slide base 19 slidably mounted on the upper surface thereof. The slide base 19 is inserted and positioned.

前記上基台15は、第1図および第2図に示すように四隅
部の台座20を介して下基台21上に一体的に設置されてお
り、下基台21は、前記ベース1上に固定されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the upper base 15 is integrally installed on the lower base 21 via the pedestals 20 at the four corners, and the lower base 21 is on the base 1. It is fixed to.

前記上基台15のスライドベース19は、第2図に示すよう
にその両側に設置された押え板22をガイドとして前方、
すなわち第1図において左方に引出せるようになってい
る。このスライドベース19の前端面には、第1図に示す
ように引出しのための把手23が設けられている。
As shown in FIG. 2, the slide base 19 of the upper base 15 uses the pressing plates 22 installed on both sides thereof as a guide to move forward,
That is, it can be pulled out to the left in FIG. As shown in FIG. 1, a handle 23 for pulling out is provided on the front end surface of the slide base 19.

前記スライドベース19の上面側には、第1図,第2図お
よび第4図に示すように例えば4本のスライド支柱24を
介して一定ストローク上下動可能に取付台25が配されて
おり、この取付台25は、前記スライドベース19との間に
介装した例えば4本のコイルスプリング26により常時上
方に押圧され、スライドベース19の上面から浮上がった
状態となっている。
On the upper surface side of the slide base 19, as shown in FIG. 1, FIG. 2 and FIG. 4, a mount 25 is arranged so as to be vertically movable by a constant stroke through, for example, four slide columns 24, The mounting base 25 is constantly pressed upward by, for example, four coil springs 26 interposed between the mounting base 25 and the slide base 19, and is in a state of being lifted from the upper surface of the slide base 19.

この取付台25の上面には、第3図および第4図に示すよ
うに左右方向中央部に未完成の電子部品27を位置決め固
定するための保持台28が固設されている。
As shown in FIGS. 3 and 4, a holding base 28 for positioning and fixing an unfinished electronic component 27 is fixedly mounted on the upper surface of the mounting base 25 at the center in the left-right direction.

前記スライドベース19の保持台28の下方位置には、第2
図および第4図に示すように下ピンボード29が固定され
ており、この下ピンボード29には、上向きコンタクトピ
ン30が多数植設されている。
The slide base 19 has a second
As shown in FIGS. 4 and 5, a lower pin board 29 is fixed, and a large number of upward contact pins 30 are planted in the lower pin board 29.

これら各上向きコンタクトピン30は、第4図に右半に示
すように取付台25がコイルスプリング26の付勢力でスラ
イドベース19から浮上がった状態の際には、その先端が
前記電子部品27の下面から離れた状態となっており、ま
た第4図の左半に示すように取付台25がコイルスプリン
グ26の付勢力に抗し下降してスライドベース19に密着し
た状態の際には、この先端が電子部品27の下面に接触す
るようになっている。
As shown in the right half of FIG. 4, each of the upward contact pins 30 has a tip end of the electronic component 27 when the mount 25 is lifted from the slide base 19 by the urging force of the coil spring 26. When the mount 25 is in a state of being separated from the lower surface and the mount 25 descends against the biasing force of the coil spring 26 and is in close contact with the slide base 19 as shown in the left half of FIG. The tip is in contact with the lower surface of the electronic component 27.

一方、前記保持台28の両側位置には、第3図および第4
図に示すように、平面形状が概略コ字状をなす一対の横
ピンボード31,31がそれぞれ配置されており、各横ピン
ボード31は、第1図,第3図および第5図に示すように
前記取付台25に固定した押え板32にガイドされて取付台
25上を横方向に保持台28に対し遠近移動するようになっ
ている。
On the other hand, on both sides of the holding table 28, as shown in FIG.
As shown in the figure, a pair of horizontal pinboards 31, 31 each having a generally U-shaped plan view are arranged, and each horizontal pinboard 31 is shown in FIGS. 1, 3, and 5. Guide plate is fixed to the mounting base 25 so that the mounting base
It is adapted to move forward and backward with respect to the holding table 28 in the lateral direction on 25.

各横ピンボード31には、第3図および第4図に示すよう
に先端が内側を向いた状態で多数の横向きコンタクトピ
ン33がそれぞれ植設されており、各横向きコンタクトピ
ン33は、各種ピンボード31が押え板32にガイドされて保
持台28に接近した際に、その先端が前記電子部品27の左
右の側面にそれぞれ接触するようになっている。
As shown in FIG. 3 and FIG. 4, a large number of lateral contact pins 33 are planted in the lateral pin boards 31, respectively, with their tips facing inward. Each lateral contact pin 33 has various pins. When the board 31 is guided by the pressing plate 32 and approaches the holding table 28, the tips thereof come into contact with the left and right side surfaces of the electronic component 27, respectively.

前記各横ピンボード31と保持台28との間には、第3図に
示すように横ピンボード31を保持台28から離れる方向に
付勢するコイルスプリング34がそれぞれ介装されてお
り、また前記取付台25には、第3図ないし第5図に示す
ように各横ピンボード31と保持台28との間隔を規制する
位置規制板35がそれぞれ取付けられている。
As shown in FIG. 3, coil springs 34 for biasing the horizontal pin boards 31 in the direction away from the holding base 28 are respectively interposed between the horizontal pin boards 31 and the holding base 28. As shown in FIGS. 3 to 5, the mounting bases 25 are respectively mounted with position regulating plates 35 for regulating the distance between the horizontal pin boards 31 and the holding base 28.

また、各横ピンボード31の横方向外端部には、例えばロ
ーラよりなる従動子36が回転自在に取付けられており、
各従動子36には、第2図および第4図に示すように前記
上ピンボード14の両側端部に下向きに突設されたカム37
が、上ピンボード14の下降により接触するようになって
いる。そしてこの接触により、各横ピンボード31はコイ
ルスプリング34の付勢力に抗し保持台28に接近し、各横
向きコンタクトピン33の先端が電子部品27に接触するよ
うになっている。すなわち、前記従動子36とカム37とに
より、上ピンボード14の下降により各横ピンボード31を
作動させるための連動機構が構成されている。
Further, a follower 36 made of, for example, a roller is rotatably attached to the lateral outer end of each lateral pinboard 31,
As shown in FIGS. 2 and 4, each follower 36 is provided with a cam 37 projecting downward at both end portions of the upper pin board 14.
However, the upper pinboard 14 is brought into contact with each other by lowering. By this contact, each lateral pin board 31 approaches the holding base 28 against the biasing force of the coil spring 34, and the tip of each lateral contact pin 33 comes into contact with the electronic component 27. That is, the follower 36 and the cam 37 constitute an interlocking mechanism for actuating each lateral pinboard 31 by lowering the upper pinboard 14.

前記上ピンボード14の下面には、第4図の左半に示すよ
うに前記従動子36とカム37とが接触して横向きコンタク
トピン33が電子部品27に接触した際に、横ピンボード31
の上面を押圧して取付台25上に固定するための押え38が
各横ピンボード31に対応して1個ずつ設けられており、
この押え38は、下向きコンタクトピン13にかかる過負荷
を防止する安全部材を兼ねている。
As shown in the left half of FIG. 4, when the follower 36 and the cam 37 come into contact with the lower surface of the upper pin board 14 and the lateral contact pin 33 comes into contact with the electronic component 27, the lateral pin board 31
One presser 38 is provided corresponding to each lateral pin board 31 for pressing the upper surface of the and fixing it on the mounting base 25.
The retainer 38 also serves as a safety member that prevents overload on the downward contact pin 13.

次に、本実施例の作用について説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.

電子部品27の検査前には、第1図に示すようにラック軸
5はレバー支持部材3内に組込んだ戻しスプリング(図
示せず)の付勢力により上昇した状態となっており、ま
た取付台25は、第4図の右半に示すようにコイルスプリ
ング26の付勢力によりスライドベース19から浮上がった
状態となっている。また、位置決めピン18は、第1図に
示すように上基台15およびスライドベース19の位置決め
孔16a,19aから抜き出された状態となっており、したが
って、スライドベース19は前方に引出し可能な状態とな
っている。
Before inspecting the electronic component 27, as shown in FIG. 1, the rack shaft 5 is in a state of being raised by the urging force of a return spring (not shown) incorporated in the lever support member 3, and is also mounted. The table 25 is in a state of being lifted from the slide base 19 by the biasing force of the coil spring 26, as shown in the right half of FIG. Further, the positioning pin 18 is in a state of being pulled out from the positioning holes 16a, 19a of the upper base 15 and the slide base 19 as shown in FIG. 1, so that the slide base 19 can be pulled out forward. It is in a state.

このような状態で、電子部品27を検査する場合には、ま
ず把手23を把持してスライドベース19を前方に引出し、
スライドベース上の保持台28に電子部品27をセットす
る。そしてその後、スライドベース19を第1図に示す状
態に戻す。
When inspecting the electronic component 27 in such a state, first, the handle 23 is grasped and the slide base 19 is pulled out forward,
The electronic component 27 is set on the holding base 28 on the slide base. After that, the slide base 19 is returned to the state shown in FIG.

次いで、レバー4を第1図において反時計回りに回動さ
せる。すると、ラック軸5が下降するとともに、上ピン
ボード14および位置決めピン18が下降し始める。そし
て、まず位置決めピン18の下端が位置決め孔15a,19aに
挿入されてスライドベース19の位置決めがなされるとと
もに、カム37の下端が従動子36に接触する。
Next, the lever 4 is rotated counterclockwise in FIG. Then, the rack shaft 5 descends, and the upper pin board 14 and the positioning pins 18 begin to descend. Then, first, the lower end of the positioning pin 18 is inserted into the positioning holes 15a and 19a to position the slide base 19, and the lower end of the cam 37 contacts the follower 36.

カム37が従動子36に接触すると、各横ピンボード31はコ
イルスプリング34の付勢力に抗し保持台28に接近し、や
がて各横向きコンタクトピン33の先端が、電子部品27左
右の両側面にそれぞれ接触する。
When the cam 37 contacts the follower 36, each lateral pin board 31 approaches the holding base 28 against the biasing force of the coil spring 34, and the tip of each lateral contact pin 33 eventually contacts the left and right side surfaces of the electronic component 27. Contact each other.

この状態から、上ピンボード14がさらに下降すると、や
がて下向きコンタクトピン13の先端が電子部品27の上面
に接触するとともに、押え38が各横ピンボード31の上面
に接触する。そして、さらに上ピンボード14が下降する
と、取付台25がコイルスプリング26の付勢力に抗し下降
し、やがてスライドベース19の上面に密着する。
When the upper pin board 14 further descends from this state, the tips of the downward contact pins 13 come into contact with the upper surfaces of the electronic components 27 and the pressers 38 come into contact with the upper surfaces of the lateral pin boards 31. Then, when the upper pin board 14 is further lowered, the mounting base 25 is lowered against the urging force of the coil spring 26, and eventually comes into close contact with the upper surface of the slide base 19.

取付台25がスライドベース19の上面に密着すると、第4
図の左半に示すように上向きコンタクトピン30の先端が
電子部品27の下面に接触するとともに、各横ピンボード
31が、押え38と取付台25とにより上下から挟持されて位
置固定される。また前記ラック軸5は、第1図に鎖線で
示すようにその上端のストッパ6が仮固定機構7に係合
することにより上昇が阻止される。したがって、レバー
4から手を離しても、第4図の左半に示す状態が維持さ
れる。そこで、電子部品27の検査を行なう。
When the mounting base 25 comes into close contact with the upper surface of the slide base 19, the fourth
As shown in the left half of the figure, the tip of the upward contact pin 30 contacts the bottom surface of the electronic component 27, and each horizontal pin board
31 is clamped from above and below by the presser 38 and the mounting base 25 to be fixed in position. The rack shaft 5 is prevented from rising by the stopper 6 at the upper end thereof engaging with the temporary fixing mechanism 7, as shown by the chain line in FIG. Therefore, even when the lever 4 is released, the state shown in the left half of FIG. 4 is maintained. Therefore, the electronic component 27 is inspected.

電子部品27の検査が終了したならば、仮固定機構7の作
動部材9を第1図において左方にスライドさせる。する
と、爪9bとストッパ6との係合が解除され、ラック軸5
は第1図に実線で示す状態に復帰する。これにより、そ
の他の各部材も検査前の状態に復帰する。
When the inspection of the electronic component 27 is completed, the actuating member 9 of the temporary fixing mechanism 7 is slid to the left in FIG. Then, the engagement between the claw 9b and the stopper 6 is released, and the rack shaft 5
Returns to the state shown by the solid line in FIG. As a result, the other members also return to the state before the inspection.

このように、電子部品27の上下,左右の四方向からコン
タクトピン13,30,33を接触させることができるので、電
子部品27がリードフレームを取付ける前の未完成ICであ
っても、容易かつ確実に検査することができる。
In this way, the contact pins 13, 30, 33 can be brought into contact with the electronic component 27 from the four directions of up, down, left, and right. Therefore, even if the electronic component 27 is an unfinished IC before mounting the lead frame, Can be surely inspected.

なお、以上に電子部品27が未完成のICである場合につい
て説明したが、四方向から検査する必要のある電子部品
であれば、同様に適用することができる。
Although the case where the electronic component 27 is an unfinished IC has been described above, any electronic component that needs to be inspected from four directions can be similarly applied.

〔考案の効果〕[Effect of device]

以上説明したように、本考案は、被検査部品の上下面お
よび左右の両側面にコンタクトピンを接触させて被検査
部品を四方向から検査できるようにしているので、例え
ばリードフレームを取付ける前の未完成のIC等でも容易
かつ確実に検査することができ、検査効率を大幅に向上
させることができるとともに、工程の無駄をなくすこと
ができる。
As described above, according to the present invention, contact pins are brought into contact with the upper and lower surfaces of the component to be inspected and the left and right side surfaces thereof so that the component to be inspected can be inspected from four directions. Even an unfinished IC or the like can be inspected easily and surely, the inspection efficiency can be greatly improved, and the waste of the process can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の一実施例を示す電子部品の検査装置の
側面図、第2図は第1図の要部を左方から見た部分断面
正面図、第3図は第2図のIII-III線拡大部分断面図、
第4図は第2図の要部拡大図で、右半が検査前の状態
を、左半が検査中の状態を示すもの、第5図は第4図の
右側面図である。 5……ラック軸、13……下向きコンタクトピン、14……
上ピンボード、15……上基台、19……スライドベース、
22,32……押え板、24……スライド支柱、25……取付
台、26,34……コイルスプリング、27……電子部品、28
……保持台、29……下ピンボード、30……上向きコンタ
クトピン、31……横ピンボード、33……横向きコンタク
トピン、36……従動子、37……カム。
FIG. 1 is a side view of an electronic component inspection apparatus showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partial cross-sectional front view of the main part of FIG. 1 seen from the left, and FIG. III-III line enlarged partial sectional view,
FIG. 4 is an enlarged view of a main part of FIG. 2, the right half shows a state before inspection, the left half shows a state during inspection, and FIG. 5 is a right side view of FIG. 5 …… Rack shaft, 13 …… Downward contact pin, 14 ……
Upper pin board, 15 …… Upper base, 19 …… Slide base,
22,32 …… Presser plate, 24 …… Slide support, 25 …… Mounting base, 26,34 …… Coil spring, 27 …… Electronic parts, 28
...... Holder, 29 ...... Lower pin board, 30 ...... Upward contact pin, 31 ...... Horizontal pin board, 33 ...... Horizontal contact pin, 36 ...... Follower, 37 ...... Cam.

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】a.基台上に配されたスライドベースと、 b.このスライドベース上に上下動可能に取付けられ、か
つばね圧により常時上方に浮遊するように付勢された取
付台と、 c.この取付台上に設けられ、被検査部品を着脱可能に位
置決め固定する保持台と、 d.前記スライドベース上に取付けられた下ピンボード
と、 e.この下ピンボードに上方に向けて多数植設され、前記
取付台の下降により先端が被検査部品の下面に接触する
上向きコンタクトピンと、 f.前記保持台の両側位置にそれぞれ配置され、取付台を
被検査部品に対し遠近方向に変位可能の一対の横ピンボ
ードと、 g.これら各横ピンボードを保持台から離れる方向に付勢
するスプリングと、 h.前記各横ピンボードに多数植設され、各横ピンボード
をスプリングの付勢力に抗し保持台に接近させることに
より、先端が被検査部品の側面にそれぞれ接触する横向
きコンタクトピンと、 i.前記保持台の上方位置に昇降可能に配置された上ピン
ボードと、 j.この上ピンボードに下方に向けて多数植設され、上ピ
ンボードの下降により先端が被検査部品の上面に接触す
る下向きコンタクトピンと、 k.前記上ピンボードの下降により作動し、前記各横ピン
ボードを保持台に接近させる連動機構と、 を具備することを特徴とする電子部品の検査装置。
1. A slide base disposed on a base, and b. A mount mounted on the slide base so as to be vertically movable and biased by spring pressure so as to always float upward. , C. A holding table provided on this mounting table for removably positioning and fixing the inspected parts, d. A lower pin board mounted on the slide base, and e. Facing downward on this lower pin board. And the contact pins are placed on both sides of the holding base, and the mounting bases are placed in the perspective direction with respect to the parts to be inspected. A pair of displaceable horizontal pinboards, g. Springs that urge each of these horizontal pinboards away from the holding base, and h. A holding stand against urging force By bringing them close to each other, the tip of each contact contacts the side surface of the inspected part, and i. The upper pin board that can be moved up and down above the holding table, and j. And a downward contact pin whose tip contacts the upper surface of the component to be inspected when the upper pinboard descends, and k. Interlocking to move each of the horizontal pinboards closer to the holding base, which is operated by lowering the upper pinboard. An inspection device for electronic parts, comprising: a mechanism.
【請求項2】スライドベースは、一対の横ピンボードの
対向方向に直交する方向にスライド可能となっているこ
とを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記載の電
子部品の検査装置。
2. A device for inspecting electronic parts according to claim 1, wherein the slide base is slidable in a direction orthogonal to the facing direction of the pair of horizontal pinboards.
【請求項3】連動機構は、各横ピンボードの外端部にそ
れぞれ取付けられた従動子と、上ピンボードの両端部に
下方に向かって突設され上ピンボードの下降により前記
各従動子に接触してそれを内方へ押圧するカムとを備え
ていることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項
または第2項記載の電子部品の検査装置。
3. The interlocking mechanism includes followers attached to the outer ends of the respective horizontal pin boards, and downwardly projecting ends of the upper pin boards at both ends of the upper pin boards. The electronic device inspection apparatus according to claim 1 or 2, further comprising: a cam that comes into contact with and presses it inward.
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