JPH06102593B2 - holder - Google Patents
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- JPH06102593B2 JPH06102593B2 JP8596190A JP8596190A JPH06102593B2 JP H06102593 B2 JPH06102593 B2 JP H06102593B2 JP 8596190 A JP8596190 A JP 8596190A JP 8596190 A JP8596190 A JP 8596190A JP H06102593 B2 JPH06102593 B2 JP H06102593B2
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- Japan
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- electrode plate
- flange
- holder
- cylinder
- sub
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、減圧雰囲気中で薄膜を生成させる装置の、ウ
エハ等の基板又はターゲットのホルダに関するものであ
る。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a holder for a substrate such as a wafer or a target in an apparatus for producing a thin film in a reduced pressure atmosphere.
〔発明の概要〕 本発明は、近年IC製造装置に要求されるウェハサイズの
大形化、並びに超高真空化に対応するための、電極板及
び取付用フランジが円筒形絶縁チューブにロー付け等に
より接合されたホルダに関するもので、ホルダ本体の取
付用フランジの開口部に気密可能なサブフランジを設け
て、円筒内部を真空にできる様にした。こうした事によ
り電極板背面にかかっていた大気圧を除去でき、電極板
の反り及び接合部のリーク・破損もなくなり、円筒内部
を真空にしたことにより各接合部のロー材の酸化もなく
すことができる。[Summary of the Invention] The present invention is to braze an electrode plate and a mounting flange to a cylindrical insulating tube in order to cope with an increase in wafer size required for an IC manufacturing apparatus in recent years and ultra high vacuum. With respect to the holder joined by, the airtight sub-flange is provided in the opening of the mounting flange of the holder body so that the inside of the cylinder can be evacuated. By doing so, the atmospheric pressure applied to the back surface of the electrode plate can be removed, the warp of the electrode plate and the leakage / damage of the joint can be eliminated, and the brazing material in each joint can be eliminated by making the inside of the cylinder vacuum. it can.
従来のホルダは、第3図に示す様に電極板1の裏側円筒
内部1bが大気圧になっていた。In the conventional holder, the inside 1b of the back side cylinder of the electrode plate 1 is at atmospheric pressure as shown in FIG.
従って、ウエハサイズが大形(6″以上)になった時に
生じる電極板のチャンバ内真空側と、電極板の円筒内部
大気側との圧力差により、電極板に反りが発生したり、
電極板と絶縁チューブの接合部に、前記圧力差により50
0kg以上の引っ張り応力が掛かり、接合部でのリーク及
び破損が発生していた。更に超高真空を保持するため
に、電極板及び取付用フランジと絶縁チューブの接合部
がロー付け接合となり、電極板の加熱による大気側接合
部のロー材の酸化によりリーク、及び接合部の破損が発
生していた。又、前記圧力差による電極板の反りを少な
くするために、電極板が厚くなり、ターゲットホルダに
おいてはターゲット上の磁束密度が極端に少なくなって
いた。Therefore, when the wafer size becomes large (6 ″ or more), the electrode plate is warped due to the pressure difference between the vacuum side in the chamber of the electrode plate and the atmospheric side inside the cylinder of the electrode plate,
Due to the pressure difference, 50
A tensile stress of 0 kg or more was applied, causing leakage and damage at the joint. Furthermore, in order to maintain an ultra-high vacuum, the joints between the electrode plate and the mounting flange and the insulation tube are brazed together, causing leakage and damage to the joints due to the oxidation of the brazing material in the atmosphere side joints due to the heating of the electrode plates. Was occurring. Further, in order to reduce the warp of the electrode plate due to the pressure difference, the electrode plate becomes thick, and the magnetic flux density on the target in the target holder is extremely small.
この発明は、前記の課題を解決するために、ホルダの取
付用フランジ側をサブフランジで封止し、サブフランジ
に排気パイプを設けて真空ポンプに接続し、円筒内部を
真空に引けるようにした。In order to solve the above-mentioned problems, this invention seals the mounting flange side of the holder with a sub-flange, provides an exhaust pipe on the sub-flange, and connects it to a vacuum pump so that the inside of the cylinder can be evacuated to a vacuum. .
前記取付用フランジ側に設けた円筒内部密封用サブフラ
ンジと、真空ポンプを用いてホルダの円筒内を真空引き
することにより、円筒内部の空気を排除して真空にし、
電極板の裏面に掛かっていた大気圧をなくした。こうし
た事により電極板背面にかかっていた大気圧を除去で
き、電極板の反り及び接合部のリーク・破損もなくな
り、円筒内部を真空にしたことにより各接合部のロー材
の酸化もなく、また電極板の薄くできるため、ターゲッ
ト上の磁束密度も上げられる様になる。A sub-flange for sealing the inside of the cylinder provided on the side of the mounting flange, and by evacuating the inside of the cylinder of the holder using a vacuum pump, the air inside the cylinder is eliminated to create a vacuum,
The atmospheric pressure on the back of the electrode plate was eliminated. By doing this, the atmospheric pressure applied to the back surface of the electrode plate can be removed, the warp of the electrode plate and the leakage / damage of the joint are eliminated, and the vacuum inside the cylinder does not oxidize the brazing material at each joint, and Since the electrode plate can be made thin, the magnetic flux density on the target can be increased.
次に本発明の実施例について説明する。第1図は本発明
になる第1実施例のターゲットホルダの全体の縦断面図
である。電極板1とセラミックチューブ2と取り付け用
フランジ3とサブフランジ12とから成るホルダが構成さ
れる。銅またはステンレスまたはモリブデン等から成る
電極板1(静電チャックを兼ねる場合もある)に、セラ
ミック(たとえばアルミナ等)チューブ2がロー付け接
合され、このセラミックチューブ2の他端には、ステン
レス等から成る取付用フランジ3がロー付け接合されタ
ーゲットホルダ本体を形成している。このターゲットホ
ルダ本体は、真空チャンバフレーム13に取付用フランジ
3を介してネジ止め固定されている。さらにフランジ3
には、ステンレスまたはアルミから成るサブフランジ12
がネジ止め固定され、ターゲットホルダ本体内に気密円
筒空間1aが形成される。Next, examples of the present invention will be described. FIG. 1 is a vertical sectional view of the whole target holder of the first embodiment according to the present invention. A holder is constituted by the electrode plate 1, the ceramic tube 2, the mounting flange 3 and the sub-flange 12. A ceramic (for example, alumina) tube 2 is brazed and bonded to an electrode plate 1 (which may also serve as an electrostatic chuck) made of copper, stainless steel, molybdenum, or the like. The other end of the ceramic tube 2 is made of stainless steel or the like. The mounting flange 3 is brazed and joined to form a target holder body. The main body of the target holder is fixed to the vacuum chamber frame 13 via a mounting flange 3 with screws. Further flange 3
Includes a sub-flange 12 made of stainless steel or aluminum
Are fixed by screws, and an airtight cylindrical space 1a is formed in the target holder body.
磁束発生のマグネット14は、ヨーク15に固着され、マグ
ネットホルダ16により電極板1の裏面(空間1a側)に固
定されている。冷却パイプ4は、サブフランジ12、ヨー
ク15を貫通して設けられ、電極板1の裏面側を冷却する
ようになっている。電極6は、電気的に絶縁された状態
で、気密にサブフランジ12を貫通できるように、絶縁ブ
ッシュ7及びOリング8を介して設けられている。The magnet 14 for generating magnetic flux is fixed to the yoke 15 and fixed to the back surface (on the side of the space 1a) of the electrode plate 1 by the magnet holder 16. The cooling pipe 4 is provided so as to pass through the sub-flange 12 and the yoke 15, and cools the back surface side of the electrode plate 1. The electrode 6 is provided via an insulating bush 7 and an O-ring 8 so that the electrode 6 can penetrate the sub-flange 12 in an airtight manner in an electrically insulated state.
さらにサブフランジ12には、円筒空間1aを真空排気する
ためのステンレスまたはアルミから成る排気パイプ9及
び円筒空間1aに大気又は不活性ガス等の気体導入のため
のリーク用パイプ10が設けられている。この様な構造に
なっているため、真空チャンバ13を真空引きする時に、
同時にターゲットホルダ本体円筒内部も真空引きするこ
とができる様になり、電極板1の裏側に大気圧による応
力の発生もなくなり、ターゲットホルダ本体円筒内部も
真空にすることができる。Further, the sub-flange 12 is provided with an exhaust pipe 9 made of stainless steel or aluminum for evacuating the cylindrical space 1a and a leak pipe 10 for introducing a gas such as the atmosphere or an inert gas into the cylindrical space 1a. . With such a structure, when the vacuum chamber 13 is evacuated,
At the same time, the inside of the cylinder of the target holder main body can be evacuated, the stress due to the atmospheric pressure is not generated on the back side of the electrode plate 1, and the inside of the cylinder of the target holder main body can be evacuated.
次に本発明の第2実施例について第1図を用いて説明す
る。ホルダに用いられる構成部の材料は第1図と同様で
ある。第2図は本発明になるウエハサセプタの全体の縦
断面図である、電極板1(静電チャックを兼ねる場合も
ある)と、電極板1にロー付接合されたセラミックチュ
ーブ2及びセラミックチューブ2にロー付接合された取
付けフランジ3からなるウエハサセプタ本体の、取付け
フランジ3の一方の端に、電極6,ヒータ電極20及び温度
センサ21等が電気的に絶縁された状態で、気密に貫通で
きる様に絶縁ブッシュ7及びOリング8と、ウエハサセ
プタ本体円筒内部と真空ポンプを接続するための排気パ
イプ9及びウエハサセプタ本体円筒内部とリーク用配管
を接続するためのリーク用パイプ10を備え、又円筒内部
を気密に保つためのOリング11を介して、サブフランジ
12が取付フランジ3の一方の端に取り付けられている。
この様な構造になっているため、真空チャンバ13を真空
引きする時に、同時にウエハサセプタ本体円筒部内部も
真空引きする事ができる様になり、電極板1の裏側に大
気圧による応力の発生もなくなりウエハサセプタ本体円
筒内部も真空にする事ができるようになった。Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The material of the components used for the holder is the same as that shown in FIG. FIG. 2 is an overall vertical cross-sectional view of the wafer susceptor according to the present invention, which includes an electrode plate 1 (which may also serve as an electrostatic chuck), a ceramic tube 2 and a ceramic tube 2 which are brazed to the electrode plate 1. A wafer susceptor body consisting of a mounting flange 3 brazed to the above can be airtightly penetrated to one end of the mounting flange 3 while the electrodes 6, heater electrode 20, temperature sensor 21, etc. are electrically insulated. The insulating bush 7 and the O-ring 8, the exhaust pipe 9 for connecting the inside of the wafer susceptor body cylinder to the vacuum pump, and the leak pipe 10 for connecting the inside of the wafer susceptor body cylinder to the leak pipe, and Sub-flange via O-ring 11 to keep the inside of the cylinder airtight
12 is attached to one end of the mounting flange 3.
With such a structure, when the vacuum chamber 13 is evacuated, the inside of the cylindrical portion of the wafer susceptor body can be evacuated at the same time, and the stress due to the atmospheric pressure is generated on the back side of the electrode plate 1. It has become possible to create a vacuum inside the cylinder of the wafer susceptor body.
本発明になる円筒内部真空用サブフランジを用いて、円
筒内部を真空可能にしたホルダを用いれば、ホルダ本体
円筒内部が真空にできるため、電極板表裏の圧力差によ
る電極板の反り、及び電極板のロー付け接合部のリーク
破損等を防止し、ヒータ関係部品等や電極板の加熱によ
る各接合部のロー材の酸化も防止でき、かつ電極板が薄
くできるため、ターゲット上の磁束密度も上げられるよ
うになった。又、このターゲットホルダを用いて製造さ
れるICは、電極又は静電チャックの反り及び磁束密度が
小さいことが原因となる種々の不良要因が取り除かれる
ため、品質の安定したICの製造が可能になった。By using a holder capable of vacuuming the inside of the cylinder by using the sub-flange for vacuuming the inside of the cylinder according to the present invention, since the inside of the holder main body cylinder can be evacuated, the electrode plate warps due to the pressure difference between the front and back of the electrode plate, and the electrode. Prevents leakage damage to the brazed joints of the plates, prevents oxidation of the brazing material at each joint due to heating of parts related to the heater, etc. and the electrode plate. I was able to raise it. In addition, ICs manufactured using this target holder can be manufactured with stable quality because various defect factors caused by the warp and small magnetic flux density of the electrodes or electrostatic chuck are removed. became.
第1図は、本発明の第1実施例を示すターゲットホルダ
の全体を示す縦断面図であり、第2図は第2実施例を示
す基板ホルダの全体を示す縦断面図であり、第3図は従
来のターゲットホルダの全体を示す縦断面図である。 1……電極板(静電チャック兼用の場合もある) 2……セラミックチューブ 3……取付用フランジ 4……冷却水パイプ 5……Oリング 6……電極 7……絶縁ブッシュ 8……Oリング 9……排気パイプ 10……リーク用パイプ 11……Oリング 12……サブフランジ 13……真空チャンバ 14……磁石 15……ヨーク 16……マグネットホルダ 17……ターゲット 18……ヒーター 19……基板 20……ヒーター電極 21……温度センサ 22……冷却パイプ 23……冷却水カバー 24……ヒーターホルダ 25……リフレクタFIG. 1 is a vertical sectional view showing the whole target holder showing the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a vertical sectional view showing the whole substrate holder showing the second embodiment, and FIG. The figure is a vertical cross-sectional view showing the entire conventional target holder. 1 ... Electrode plate (may also be used as an electrostatic chuck) 2 ... Ceramic tube 3 ... Mounting flange 4 ... Cooling water pipe 5 ... O-ring 6 ... Electrode 7 ... Insulation bush 8 ... O Ring 9 …… Exhaust pipe 10 …… Leak pipe 11 …… O-ring 12 …… Sub-flange 13 …… Vacuum chamber 14 …… Magnet 15 …… Yoke 16 …… Magnet holder 17 …… Target 18 …… Heater 19… … Substrate 20 …… Heater electrode 21 …… Temperature sensor 22 …… Cooling pipe 23 …… Cooling water cover 24 …… Heater holder 25 …… Reflector
Claims (1)
に取り付け用フランジを設け、前記取り付け用フランジ
の下面にサブフランジを取り付け、前記電極板と前記サ
ブフランジとで前記円筒形絶縁チューブと前記取り付け
用フランジとから成る円筒内部を密封し、前記サブフラ
ンジの一部に前記円筒内部と通じる排気ポートを設け
て、前記円筒内部を吸引して真空にすることを特徴とす
るホルダ。1. An electrode plate is provided at one end of a cylindrical insulating tube, and a mounting flange is provided at the other end, and a sub-flange is mounted on the lower surface of the mounting flange, and the cylindrical insulating tube is formed by the electrode plate and the sub-flange. A holder characterized in that the inside of a cylinder consisting of the mounting flange and the mounting flange is sealed, an exhaust port communicating with the inside of the cylinder is provided in a part of the sub-flange, and the inside of the cylinder is sucked to form a vacuum.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8596190A JPH06102593B2 (en) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | holder |
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---|---|---|---|
JP8596190A JPH06102593B2 (en) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | holder |
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JPH03285896A JPH03285896A (en) | 1991-12-17 |
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JP8596190A Expired - Lifetime JPH06102593B2 (en) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | holder |
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Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4680350B2 (en) * | 2000-06-26 | 2011-05-11 | 東京エレクトロン株式会社 | Single wafer processing equipment |
-
1990
- 1990-03-30 JP JP8596190A patent/JPH06102593B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPH03285896A (en) | 1991-12-17 |
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