JPH0574666A - Semiconductor device - Google Patents
Semiconductor deviceInfo
- Publication number
- JPH0574666A JPH0574666A JP23265591A JP23265591A JPH0574666A JP H0574666 A JPH0574666 A JP H0574666A JP 23265591 A JP23265591 A JP 23265591A JP 23265591 A JP23265591 A JP 23265591A JP H0574666 A JPH0574666 A JP H0574666A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- corner
- azimuth
- identification mark
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に関し,特に
チップ面積を増加することなくチップ搭載方向の識別を
容易にするための方位識別マークに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device, and more particularly to an azimuth identification mark for facilitating identification of a chip mounting direction without increasing a chip area.
【0002】半導体装置の集積化が進んだ今日,多数の
入出力パッドをチップ上に配置する必要から,入出力パ
ッドをチップ周辺部に上下左右対象に設けることが多
い。このため,入出力パッドの配列からはチップの向き
を検知することができず,ボンデング等の際にチップ搭
載方向を誤認することがある。Nowadays, as semiconductor devices have been highly integrated, many input / output pads are required to be arranged on a chip, so that the input / output pads are often provided vertically and horizontally in the peripheral portion of the chip. For this reason, the orientation of the chip cannot be detected from the arrangement of the input / output pads, and the chip mounting direction may be erroneously recognized during bonding or the like.
【0003】そこで,チップ面積を増加することなくチ
ップの向きを容易に認識できる方位識別マークが必要と
されている。Therefore, there is a need for an azimuth identification mark which can easily recognize the orientation of the chip without increasing the chip area.
【0004】[0004]
【従来の技術】図4は従来の方法の実施例平面図であ
り,図4(a)は半導体チップのパターン形状を,図4
(b)は半導体チップをDIPパッケージに搭載したも
のを表している。以下,図4を参照して従来の技術を説
明する。2. Description of the Related Art FIG. 4 is a plan view of an embodiment of a conventional method. FIG. 4A shows a pattern shape of a semiconductor chip.
(B) shows a semiconductor chip mounted on a DIP package. The conventional technique will be described below with reference to FIG.
【0005】従来,方向性を有するチップ1を基体6に
搭載する際,例えばワイヤボンデングをするためにチッ
プ1をパッケッージに搭載する際に,チップ1の方向を
認識するためにチップ1上に設けられた方位識別マーク
2を用いてチップ1搭載方向を確認していた。Conventionally, when the directional chip 1 is mounted on the substrate 6, for example, when the chip 1 is mounted on a package for wire bonding, the chip 1 is mounted on the chip 1 in order to recognize the direction of the chip 1. The mounting direction of the chip 1 was confirmed using the provided azimuth identification mark 2.
【0006】かかる方位識別マーク2は,機器を用いて
又は肉眼で容易に認識されねばならない。このため,例
えば図4(a)中の矢印形の方位識別マーク2の如く特
徴のある形をした且つ誤認を生ずることがないように大
きなパターンが用いられる。The azimuth identification mark 2 must be easily recognized by using a device or with the naked eye. Therefore, for example, a large pattern having a characteristic shape like the arrow-shaped azimuth identification mark 2 in FIG.
【0007】しかも,認識を容易にし誤認を防ぐために
方位識別マークの周囲には回路パターンを初めとして他
のパターンを配置することができない。従って,半導体
回路を構成する回路パターン,例えば回路形成領域3と
その周辺に配置された入出力回路5,及び入出回路5に
重ねて回路形成領域3を囲み配置された電源配線4のパ
ターンの他に,直接回路機能とは関係しない方位識別マ
ークを設置するための領域と,その周囲に十分な広さの
スペースとを確保する必要があり,このためチップ面積
の増加を招来していた。Moreover, in order to facilitate recognition and prevent misidentification, it is not possible to arrange other patterns including the circuit pattern around the azimuth identification mark. Therefore, other than the circuit pattern that constitutes the semiconductor circuit, for example, the pattern of the power supply wiring 4 that surrounds the circuit forming region 3 and the input / output circuit 5 and the input / output circuit 5 that are arranged around the circuit forming region 3 In addition, it is necessary to secure a region for installing the azimuth identification mark that is not directly related to the circuit function and a sufficient space around the region, which causes an increase in the chip area.
【0008】この好ましくないチップ面積の増加は,目
視検査用として大きなパターンを必要とするとき著しく
不利となり,目視検査を困難なものにしていた。This undesired increase in the chip area is extremely disadvantageous when a large pattern is required for visual inspection, making visual inspection difficult.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来の方
法は,方位識別マークを大きく,かつ周囲に十分なスペ
ースを設けて配置しなければならないので,チップ面積
が増加するという欠点がある。As described above, the conventional method has a drawback in that the azimuth identification mark must be large and arranged with a sufficient space around the azimuth identification mark, which increases the chip area.
【0010】本発明は,半導体チップ上に設けられた回
路の一部又はボンデングの際に用いられる位置合せマー
クに方位識別マークの機能を付加して方位識別マークを
省略することにより,チップ面積を増加することなく容
易かつ明瞭にチップ方位を識別できるチップを有する半
導体装置を提供することにある。According to the present invention, a chip area is reduced by adding a function of an azimuth identification mark to a part of a circuit provided on a semiconductor chip or a registration mark used at the time of bonding so as to omit the azimuth identification mark. An object of the present invention is to provide a semiconductor device having a chip whose chip orientation can be easily and clearly identified without increasing the number.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】図1は本発明の第一実施
例平面図であり,図1(a)は半導体チップのパターン
形状を,図1(b)は半導体チップをパッケージに搭載
したものを表している。FIG. 1 is a plan view of a first embodiment of the present invention. FIG. 1 (a) shows a pattern shape of a semiconductor chip, and FIG. 1 (b) shows a semiconductor chip mounted on a package. Represents something.
【0012】図3は本発明の第二実施例平面図であり,
半導体チップに設けられた位置決め用マークを表してお
り,図3(a),(b)はそれぞれ図3中の(a),
(b)部分の部分拡大図であり,位置決めマークの形を
表している。FIG. 3 is a plan view of a second embodiment of the present invention,
3A and 3B show positioning marks provided on the semiconductor chip, and FIGS. 3A and 3B respectively show FIG. 3A and FIG.
It is a partially enlarged view of the portion (b), showing the shape of the positioning mark.
【0013】上記課題を解決するために,本発明の第一
の構成は,図1を参照して,表面に搭載方向を識別する
ための方位識別マーク2を有する半導体チップ1を搭載
した半導体装置において,該方位識別マーク2は,該半
導体チップ1上に少なくとも回路形成領域3の一部を囲
み矩形に設置された電源配線4の角のうち他の三つの角
の形と異なる形をした一つの角を有してなることを特徴
として構成され,及び,第二の構成は,図3を参照し
て,チップ1の中心を通る線上にボンデングのための複
数の位置決め用マーク7,8が設けられた半導体チップ
1を搭載した半導体装置において,該チップ1の搭載方
向を識別するための方位識別マーク2は,該チップ1の
中心に関して非対象な形の2つの該位置決め用マーク
7,8を有してなることを特徴として構成される。In order to solve the above problems, the first structure of the present invention is a semiconductor device in which a semiconductor chip 1 having an azimuth identification mark 2 for identifying the mounting direction is mounted on the surface with reference to FIG. In the above, the orientation identification mark 2 has a shape different from the other three corners of the corners of the power supply wiring 4 which is installed in a rectangular shape on the semiconductor chip 1 so as to surround at least a part of the circuit formation region 3. The second configuration has a plurality of positioning marks 7 and 8 for bonding on a line passing through the center of the chip 1, as shown in FIG. In the semiconductor device mounted with the semiconductor chip 1 provided, the azimuth identification mark 2 for identifying the mounting direction of the chip 1 is composed of the two positioning marks 7, 8 asymmetrical with respect to the center of the chip 1. To have Configured as a feature a.
【0014】[0014]
【作用】本発明の構成では,図1及び図3を参照して,
チップ方位を識別するためのパターンは,矩形の電源配
線4の一角,又はボンデング時の位置決め用マーク7,
8が用いられる。In the structure of the present invention, referring to FIG. 1 and FIG.
The pattern for identifying the chip orientation is a corner of the rectangular power supply wiring 4, or a positioning mark 7 for bonding,
8 is used.
【0015】従って,チップ方位識別マークを特別に設
ける必要がないから,チップ面積を低減することができ
る。さらに,電源配線は,太く,かつ上層に設けられる
から明瞭に識別できる。従って,機器による識別が容易
であり,さらに目視による識別も可能とすることができ
る。Therefore, it is not necessary to provide a special chip orientation identification mark, and the chip area can be reduced. Further, the power supply wiring is thick and provided in the upper layer, so that it can be clearly identified. Therefore, the identification by the device is easy, and the visual identification can be made possible.
【0016】また電源配線は,回路パターンの周辺に配
置されることが多く,とくにその角の外側には回路パタ
ーンは設けられないから,パターンの誤認が少ない。な
お,位置決め用マークはその目的から明瞭かつ誤認を生
じないように設けられている。In addition, the power supply wiring is often arranged around the circuit pattern, and since the circuit pattern is not provided especially outside the corners, misidentification of the pattern is small. Note that the positioning marks are provided so as to be clear and not misidentified for that purpose.
【0017】次に本発明の構成に基づく方位識別につい
てのべる。機器によりチップ方位の認識をする場合に
は,機器の視野が狭くかつ特定の位置に制限されること
から,チップ全体を観測することができず, チップの特
定位置の小さな領域の中のパターンのみからチップ方位
を特定しなければならない。Next, the azimuth discrimination based on the configuration of the present invention will be described. When the device recognizes the chip orientation, the entire field of the chip cannot be observed because the field of view of the device is narrow and limited to a specific position, and only the pattern in a small area of the specific position of the chip is observed. You must specify the chip orientation from.
【0018】本発明の第一の構成では,図1を参照し
て,チップ1上に少なくとも回路形成領域3の一部を囲
み矩形に電源配線4が設置され,その電源配線4の方位
識別マーク2とすべき一角が他の角の形とは異なる形に
形成されている。In the first configuration of the present invention, referring to FIG. 1, a power supply wiring 4 is installed in a rectangular shape on the chip 1 so as to surround at least a part of the circuit formation region 3, and an orientation identification mark of the power supply wiring 4 is provided. One corner that should be 2 is formed in a shape different from the shapes of the other corners.
【0019】かかる電源配線4を有するチップ1では,
チップが正常な搭載方位に置かれた場合には,方位識別
マーク2が本来在るべき位置に電源配線4の方位識別マ
ーク2とされた角が位置して機器の視野にはいり,しか
もその角の形が与えられた方位識別マークと一致する。In the chip 1 having such power supply wiring 4,
When the chip is placed in the normal mounting orientation, the corner of the power supply wiring 4 which is used as the orientation identification mark 2 is located at the position where the orientation identification mark 2 should originally be, and goes into the field of view of the device. The shape of is the same as the given azimuth identification mark.
【0020】他方,チップ1が異常な方位で搭載された
場合には,かかる位置には方位識別マーク2とは形の異
なる電源配線4の他の角が位置する,又は角が位置しな
いから,機器の視野内に方位識別マーク2と一致するパ
ターンは見られない。On the other hand, when the chip 1 is mounted in an abnormal azimuth, another corner of the power supply wiring 4 having a different shape from the azimuth identification mark 2 or no corner is located at such a position. No pattern that matches the orientation identification mark 2 is found in the visual field of the device.
【0021】従って,方位識別マーク2の本来在るべき
位置を視野内に含む機器を用いて,電源配線4の角と方
位識別マーク2との同一性を判定することにより,チッ
プ1の搭載方位が正常か否かを容易に識別することがで
きる。Therefore, the mounting orientation of the chip 1 is determined by determining the identity between the angle of the power supply wiring 4 and the orientation identification mark 2 by using a device that includes the position where the orientation identification mark 2 should originally be in the visual field. It is possible to easily identify whether or not is normal.
【0022】即ち,電源配線4の一角という特定位置の
かつ制限された範囲内でも,容易にチップ方位を確認で
きるのである。従来の位置決め用マークは,チップ中心
を通る対角線上に中心対称の位置に配置された中心対称
のパターンから形成されていた。これでは,180度の
チップの回転に対してパターンの変化はなく,従ってチ
ップ方位の180度回転を識別することができない。In other words, the chip orientation can be easily confirmed even within a limited position, which is a specific position of one corner of the power supply wiring 4. The conventional positioning mark is formed from a centrally symmetric pattern that is arranged at a centrally symmetric position on a diagonal line that passes through the center of the chip. In this case, there is no change in the pattern with respect to the rotation of the chip by 180 degrees, and therefore, the 180 degree rotation of the chip orientation cannot be identified.
【0023】本発明の第二の構成では,図3を参照し
て,チップ1の中心を通る線上に設けられた複数の位置
決め用マーク7,8の形に関する関係は,チップ1中心
に対して非対象パターンとなっている。In the second configuration of the present invention, referring to FIG. 3, the relationship regarding the shapes of the plurality of positioning marks 7 and 8 provided on the line passing through the center of the chip 1 is relative to the center of the chip 1. It is a non-target pattern.
【0024】このため,チップ1を180度回転したと
き,方位識別マークとされた位置決め用マーク7が本来
在るべき位置には,中心から対称位置にある位置決め用
マーク8が位置する。しかし,この位置決め用マーク8
は方位識別マークとされた位置決め用マーク7とは中心
非対称のパターンから成るため,常にパターンは一致し
ない。Therefore, when the chip 1 is rotated by 180 degrees, the positioning mark 8 located symmetrically from the center is located at the position where the positioning mark 7 serving as the azimuth identification mark should originally exist. However, this positioning mark 8
Is composed of a pattern asymmetric with respect to the positioning mark 7, which is an azimuth identification mark, and therefore the patterns do not always match.
【0025】従って,パターンが中心非対称に作られた
複数の位置決め用マーク7,8を用いて,一つの位置決
め用マーク7が在る特定位置のかつ制限された範囲内で
も,容易にチップ方位を確認できるのである。Therefore, by using a plurality of positioning marks 7 and 8 in which the pattern is formed asymmetrically in the center, the chip orientation can be easily set even within a limited position at a specific position where one positioning mark 7 is present. You can check.
【0026】なお,チップが90度,270度回転した
とき,或いは180度回転しても位置決め用マークが中
心から異なる位置に設けられているときは,位置決め用
マークが本来在るべき位置に位置決め用マークが位置し
ないから容易に識別される。When the chip is rotated by 90 degrees or 270 degrees, or when the positioning mark is provided at a position different from the center even if it is rotated by 180 degrees, the positioning mark is positioned at the original position. The markings are not located so they are easily identified.
【0027】[0027]
【実施例】本発明を実施例を参照して説明する。本発明
の第一実施例では,図1(a)を参照して,辺長略8m
mの略正方形の半導体集積回路チップ1上に,回路形成
領域3とその周囲に入出力回路5が設けられ,さらに回
路形成領域3を囲むの矩形の電源配線が入出力回路5の
上を通して設けられる。EXAMPLES The present invention will be described with reference to examples. In the first embodiment of the present invention, referring to FIG.
A circuit forming region 3 and an input / output circuit 5 are provided on the semiconductor integrated circuit chip 1 having a substantially square shape of m, and a rectangular power source wiring surrounding the circuit forming region 3 is provided above the input / output circuit 5. Be done.
【0028】電源配線4の幅は例えば200μmであ
り,その角の3つは例えば200μmで45度の隅取り
がされた形に沿って設けられる。即ち,延長するとその
角を直角に挟む二つの配線が,その角において45度で
接続する配線を介して接続されている。従って,これら
3つの角には矩形の配線の頂点は設けられていない。The width of the power supply wiring 4 is, for example, 200 μm, and three of its corners are 200 μm, for example, and are provided along a shape in which a corner of 45 degrees is cut. That is, when extended, two wirings that sandwich the corner at a right angle are connected via a wiring that connects at an angle of 45 degrees. Therefore, no rectangular wiring vertices are provided at these three corners.
【0029】他方電源配線4の残りの一角には直交する
配線からなる矩形の頂点がそのまま形成されており,方
位識別マーク2として用いられる。次いで,図1(b)
を参照して,基体6例えばDIPパッケージにチップを
搭載して,チップ上の入出力パッドとパッケージ上のパ
ッドとをワイヤボンデングして接続する。On the other hand, in the remaining one corner of the power supply wiring 4, a rectangular apex composed of orthogonal wiring is formed as it is, and is used as the orientation identification mark 2. Then, FIG. 1 (b)
Referring to, a chip is mounted on the substrate 6, for example, a DIP package, and the input / output pads on the chip and the pads on the package are wire-bonded and connected.
【0030】ボンデング装置の方位識別装置は,チップ
を正常に搭載したとき,装置の視野の中央に方位識別マ
ーク2とされた電源配線の角が位置するように調整され
る。方位の識別は,識別マークが直角を挟む2つの半直
線からなることを確認してなされる。The azimuth identifying device of the bonding device is adjusted so that the corner of the power supply wiring, which is the azimuth identifying mark 2, is located at the center of the visual field of the device when the chip is normally mounted. The azimuth is identified by confirming that the identification mark is composed of two half lines that sandwich a right angle.
【0031】本実施例では,通常用いられている形の電
源配線を一部変更するだけで,容易に本発明を適用でき
る。また,電源配線は視認できるので,目視による検査
が容易である。In the present embodiment, the present invention can be easily applied only by partially changing the power supply wiring which is normally used. In addition, the power supply wiring can be visually confirmed, which facilitates visual inspection.
【0032】図2は本実施例の変形例平面図であり,半
導体チップのパターン形状を表している。本変形例で
は,電源配線4の方位識別マークとなる角が,隅取りさ
れた形の配線に形成され,他の3つの角には電源配線4
の頂点がそのまま形成される。FIG. 2 is a plan view of a modification of this embodiment, showing a pattern shape of a semiconductor chip. In this modification, the corner serving as the azimuth identification mark of the power supply wiring 4 is formed in the corner-shaped wiring, and the power supply wiring 4 is formed in the other three corners.
Is formed as it is.
【0033】従って,隅取りされたパターンの観測をも
って正常な搭載方向と認識する。本変形例は,電源配線
4の3つの角が直角になるから,その内部の回路パター
ンを無駄なスペースを残さずに配置することが容易であ
る。Therefore, the normal mounting direction is recognized by observing the cornered pattern. In this modification, since the three corners of the power supply wiring 4 are at right angles, it is easy to arrange the circuit pattern inside the power wiring 4 without leaving a wasted space.
【0034】本発明の第三実施例は,図3を参照して,
半導体チップの対角線上にチップ中心から等距離の位置
に,ボンデング装置で用いる位置決め用マーク7,8を
設けたものである。The third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
Positioning marks 7 and 8 used in the bonding device are provided at positions equidistant from the center of the semiconductor chip on the diagonal line.
【0035】この2つの位置決め用マーク7,8は各
々,図3(a),(b)を参照して,2つの位置決め用
マーク7,8を結ぶ線と直交する面に対して面対称とな
る不等辺直角三角形の頂点に置かれた各3個の十字形の
マークからなる。3A and 3B, the two positioning marks 7 and 8 are plane-symmetric with respect to a plane orthogonal to a line connecting the two positioning marks 7 and 8. It consists of three cross-shaped marks placed at the vertices of the scalene right triangle.
【0036】かかるマークの配置では中心対称軸は存在
しないから,チップの180度の回転を1つのマークを
構成する3個の十字の配置から識別できる。従って,狭
い視野の装置でも方位識別が可能となる。Since there is no central axis of symmetry in the arrangement of such marks, the rotation of the chip by 180 degrees can be identified from the arrangement of the three crosses forming one mark. Therefore, orientation can be identified even with a device having a narrow field of view.
【0037】また,本実施例は,位置決めと方位識別と
を同時に,同じ装置を用いてすることができるから既存
の装置を一部変更することで,簡便,迅速な判断をなす
ことができる。Further, in the present embodiment, since the positioning and the azimuth identification can be performed at the same time by using the same device, it is possible to make a simple and quick judgment by partially changing the existing device.
【0038】なお,本発明はパッケージングするためだ
けに限られず,チップを方向性を有する基板上に搭載す
るために広く適用することができる。The present invention is not limited to packaging, but can be widely applied to mounting chips on a directional substrate.
【0039】[0039]
【発明の効果】本発明によると,明瞭に観測できる電源
配線の角又は位置合せマークを用いてチップ方位の識別
をすることができるから,チップ面積を増加することな
く容易かつ明瞭に搭載方位を識別できるチップを有する
半導体装置を提供でき,半導体装置の性能向上に寄与す
るところが大きい。According to the present invention, since the chip orientation can be identified by using the corners or alignment marks of the power supply wiring that can be clearly observed, the mounting orientation can be easily and clearly determined without increasing the chip area. A semiconductor device having an identifiable chip can be provided, which greatly contributes to the performance improvement of the semiconductor device.
【図1】 本発明の第一実施例平面図FIG. 1 is a plan view of a first embodiment of the present invention.
【図2】 本発明の第一実施例の変形例平面図FIG. 2 is a plan view of a modified example of the first embodiment of the present invention.
【図3】 本発明の第二実施例平面図FIG. 3 is a plan view of a second embodiment of the present invention.
【図4】 従来の方法の実施例平面図FIG. 4 is a plan view of an example of a conventional method.
1 チップ 2 方位識別マーク 3 回路形成領域 4 電源配線 5 入出力回路 6 基体 7,8 位置決めマーク 1 chip 2 azimuth identification mark 3 circuit forming area 4 power supply wiring 5 input / output circuit 6 substrate 7, 8 positioning mark
Claims (2)
別マーク(2)を有する半導体チップ(1)を搭載した
半導体装置において, 該方位識別マーク(2)は,該半導体チップ(1)上に
少なくとも回路形成領域(3)の一部を囲み矩形に設置
された電源配線(4)の角のうち他の三つの角の形と異
なる形をした一つの角を有してなることを特徴とする半
導体装置。1. A semiconductor device having a semiconductor chip (1) having an orientation identification mark (2) for identifying a mounting direction on a surface thereof, wherein the orientation identification mark (2) is on the semiconductor chip (1). And at least a part of the circuit formation region (3) is surrounded by a corner of the power supply wiring (4) which is installed in a rectangular shape and has one corner different from the other three corners. Semiconductor device.
ための複数の位置決め用マーク(7,8)が設けられた
半導体チップ(1)を搭載した半導体装置において, 該チップ(1)の搭載方向を識別するための方位識別マ
ーク(2)は,該チップ(1)の中心に関して非対象な
形の2つの該位置決め用マーク(7,8)を有してなる
ことを特徴とする半導体装置。2. A semiconductor device equipped with a semiconductor chip (1) having a plurality of positioning marks (7, 8) for bonding on a diagonal of the chip (1), wherein the chip (1) is mounted. The azimuth identification mark (2) for identifying the direction has two positioning marks (7, 8) which are asymmetric with respect to the center of the chip (1). ..
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23265591A JPH0574666A (en) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23265591A JPH0574666A (en) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | Semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0574666A true JPH0574666A (en) | 1993-03-26 |
Family
ID=16942711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23265591A Withdrawn JPH0574666A (en) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | Semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0574666A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007199082A (en) * | 2000-06-27 | 2007-08-09 | Agere Systems Guardian Corp | Testing procedure for integrated circuits |
WO2009122529A1 (en) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | 富士通株式会社 | Alignment device for planar element, manufacturing equipment for the same, alignment method for the same, and manufacturing method for the same |
-
1991
- 1991-09-12 JP JP23265591A patent/JPH0574666A/en not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007199082A (en) * | 2000-06-27 | 2007-08-09 | Agere Systems Guardian Corp | Testing procedure for integrated circuits |
WO2009122529A1 (en) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | 富士通株式会社 | Alignment device for planar element, manufacturing equipment for the same, alignment method for the same, and manufacturing method for the same |
JPWO2009122529A1 (en) * | 2008-03-31 | 2011-07-28 | 富士通株式会社 | Planar body alignment apparatus, manufacturing apparatus, planar body alignment method, and manufacturing method |
US8023112B2 (en) | 2008-03-31 | 2011-09-20 | Fujitsu Limited | Alignment apparatus and fabrication apparatus for planar member and alignment method and fabrication method for planar member |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5308682A (en) | Alignment check pattern for multi-level interconnection | |
US7294930B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing process therefor | |
US9761536B1 (en) | Angle referenced lead frame design | |
JPH0574666A (en) | Semiconductor device | |
US20050090071A1 (en) | Fabricating semiconductor chips | |
US20060138657A1 (en) | Semiconductor device and fabrication method thereof | |
US8912671B2 (en) | Semiconductor device having alignment mark | |
JP2007109917A (en) | Semiconductor device and method of manufacturing same | |
JP2008098225A (en) | Semiconductor device | |
CN114371325A (en) | Current sensing chip | |
JP2871696B2 (en) | Integrated circuit device | |
JP5990438B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor device | |
JP2000138146A (en) | Alignment mark and semiconductor wafer | |
JP3528366B2 (en) | Integrated circuit device | |
JP2803260B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
JP2000232127A (en) | Semiconductor device | |
JP3038904B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
KR200302460Y1 (en) | semiconductor chip with pattern for recognition of chip bonding position for stacking semiconductor chip | |
EP0402592B1 (en) | Master slice semiconductor device and method of forming it | |
KR19990041909A (en) | Semiconductor chip | |
TWI523185B (en) | Semiconductor device | |
CN104282658A (en) | Semiconductor element | |
JPH03132048A (en) | Semiconductor device | |
JP2014192297A (en) | Semiconductor device and manufacturing method of the same | |
JP2023037873A (en) | IC module substrate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |