JPH0536232Y2 - - Google Patents
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- JPH0536232Y2 JPH0536232Y2 JP1987121460U JP12146087U JPH0536232Y2 JP H0536232 Y2 JPH0536232 Y2 JP H0536232Y2 JP 1987121460 U JP1987121460 U JP 1987121460U JP 12146087 U JP12146087 U JP 12146087U JP H0536232 Y2 JPH0536232 Y2 JP H0536232Y2
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 33
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 23
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は接触チエツク機能を備えた高圧分配器
付耐圧試験器に関する。
付耐圧試験器に関する。
（従来の技術）
従来、２芯式プローブを使用して、耐圧試験器
の出力電圧を被試験物の金属部分を介して電圧測
定を行なうことによつて、プローブと被試験物と
の接触確認および被試験物への高電圧印加確認を
同時に行なつていた。
の出力電圧を被試験物の金属部分を介して電圧測
定を行なうことによつて、プローブと被試験物と
の接触確認および被試験物への高電圧印加確認を
同時に行なつていた。
しかしながら、このような耐圧試験では電圧お
よびコンパレータを新たに必要とし、また被試験
物の耐圧試験箇所が複数ある場合にそれぞれの箇
所毎に２心式プローブを使用して電圧測定をしな
ければならず、繁雑な手数を要する欠点があつ
た。
よびコンパレータを新たに必要とし、また被試験
物の耐圧試験箇所が複数ある場合にそれぞれの箇
所毎に２心式プローブを使用して電圧測定をしな
ければならず、繁雑な手数を要する欠点があつ
た。
（考案が解決しようとする問題点）
本考案は上記の事情に鑑みてなされたもので、
耐圧試験箇所である被試験物の複数の金属部にリ
レーよりなる高圧分配器を用いて高電圧を任意に
分配して耐圧試験を行ない、かつ高圧分配器のリ
レーを用いてプローブと被試験物の金属部との接
触試験を行なうことにより、簡単な操作で容易に
耐圧試験及び接触確認試験を行ない得る高圧分配
器付耐圧試験器を提供することを目的とする。
耐圧試験箇所である被試験物の複数の金属部にリ
レーよりなる高圧分配器を用いて高電圧を任意に
分配して耐圧試験を行ない、かつ高圧分配器のリ
レーを用いてプローブと被試験物の金属部との接
触試験を行なうことにより、簡単な操作で容易に
耐圧試験及び接触確認試験を行ない得る高圧分配
器付耐圧試験器を提供することを目的とする。
（問題点を解決するための手段と作用）
本考案は上記目的を達成するために、高圧側出
力端及び低圧側出力端から高電圧あるいは低電圧
を出力する耐圧試験器と、被試験物の金属部に接
触されるように設けられ複数チヤンネル設けられ
る１対で１チヤンネルを構成するプローブと、こ
のプローブのうち各チヤンネルの一方のプローブ
群と前記耐圧試験器の高圧側出力端との間に各チ
ヤンネルにそれぞれ対応して設けられた第１のリ
レー群と、前記プローブのうち各チヤンネルの他
方のプローブ群と前記耐圧試験器の低圧側出力端
との間に各チヤンネルにそれぞれ対応して設けら
れた第２のリレー群と、前記低圧側出力端に接続
された電流検出器あるいは電圧検出器とを具備す
ることを特徴とするもので、耐圧試験箇所である
被試験物の複数の金属部にリレーよりなる高圧分
配器を用いて高電圧を任意に分配して耐圧試験を
行ない、かつ高圧分配用のリレーを用いてプロー
ブと被試験物の金属部との接触試験を行なうもの
である。
力端及び低圧側出力端から高電圧あるいは低電圧
を出力する耐圧試験器と、被試験物の金属部に接
触されるように設けられ複数チヤンネル設けられ
る１対で１チヤンネルを構成するプローブと、こ
のプローブのうち各チヤンネルの一方のプローブ
群と前記耐圧試験器の高圧側出力端との間に各チ
ヤンネルにそれぞれ対応して設けられた第１のリ
レー群と、前記プローブのうち各チヤンネルの他
方のプローブ群と前記耐圧試験器の低圧側出力端
との間に各チヤンネルにそれぞれ対応して設けら
れた第２のリレー群と、前記低圧側出力端に接続
された電流検出器あるいは電圧検出器とを具備す
ることを特徴とするもので、耐圧試験箇所である
被試験物の複数の金属部にリレーよりなる高圧分
配器を用いて高電圧を任意に分配して耐圧試験を
行ない、かつ高圧分配用のリレーを用いてプロー
ブと被試験物の金属部との接触試験を行なうもの
である。
（実施例）
以下図面を参照して本考案の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第１図は本考案の一実施例を示し、耐圧試験器
１は電源２及び電流検出部３等から構成され、前
記電源２及び電流検出部３が接続される高圧側出
力端４及び低圧側出力端５から高電圧あるいは低
電圧が出力される。前記高圧側出力端４にはそれ
ぞれ対応したリレーａ１，ａ２，ａ３，ａ４を介
してプローブＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４が接続され
る。一方、前記低圧側出力端５にはそれぞれ対応
したリレーｂ１，ｂ２，ｂ３，ｂ４を介してプロ
ーブＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４が接続される。この
プローブＡ１〜Ａ４，Ｂ１〜Ｂ４はＡ１とＢ１で
第１のチヤンネルCH１，Ａ２とＢ２で第２のチ
ヤンネルCH２，Ａ３とＢ３で第３のチヤンネル
CH３，Ａ４とＢ４で第４のチヤンネルCH４を
構成し、各チヤンネルCH１〜CH４毎にそれぞ
れ対応した被試験物６の金属部Ｔ１，Ｔ２，Ｔ
３，Ｔ４に接触されるように設けられる。
１は電源２及び電流検出部３等から構成され、前
記電源２及び電流検出部３が接続される高圧側出
力端４及び低圧側出力端５から高電圧あるいは低
電圧が出力される。前記高圧側出力端４にはそれ
ぞれ対応したリレーａ１，ａ２，ａ３，ａ４を介
してプローブＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４が接続され
る。一方、前記低圧側出力端５にはそれぞれ対応
したリレーｂ１，ｂ２，ｂ３，ｂ４を介してプロ
ーブＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４が接続される。この
プローブＡ１〜Ａ４，Ｂ１〜Ｂ４はＡ１とＢ１で
第１のチヤンネルCH１，Ａ２とＢ２で第２のチ
ヤンネルCH２，Ａ３とＢ３で第３のチヤンネル
CH３，Ａ４とＢ４で第４のチヤンネルCH４を
構成し、各チヤンネルCH１〜CH４毎にそれぞ
れ対応した被試験物６の金属部Ｔ１，Ｔ２，Ｔ
３，Ｔ４に接触されるように設けられる。
次に、高圧側出力チヤンネルをCH１とし、低
圧側出力チヤンネルをCH２とした場合の接触確
認試験及び耐圧試験について説明する。
圧側出力チヤンネルをCH２とした場合の接触確
認試験及び耐圧試験について説明する。
(1) 接触確認試験
第２のチヤンネルCH2のリレーａ２，ｂ２
を閉じる。
を閉じる。
耐圧試験器１の高圧側出力端４及び低圧側出
力端５から低電圧（例えば100V）を出力する。
力端５から低電圧（例えば100V）を出力する。
耐圧試験器１の電流検出部３に電流が流れた
場合→低圧側出力チヤンネルCH２のプローブ
Ａ２，Ｂ２と被試験物６の金属部Ｔ２との接触
は可となる。
場合→低圧側出力チヤンネルCH２のプローブ
Ａ２，Ｂ２と被試験物６の金属部Ｔ２との接触
は可となる。
耐圧試験器１の電流検出部３に電流が流れな
かつた場合→低圧側出力チヤンネルCH２のプ
ローブＡ２，Ｂ２と被試験物６の金属部Ｔ２と
の接触は不可となる。
かつた場合→低圧側出力チヤンネルCH２のプ
ローブＡ２，Ｂ２と被試験物６の金属部Ｔ２と
の接触は不可となる。
第１のチヤンネルCH１のリレーａ１，ｂ１
を閉じる。
を閉じる。
耐圧試験器１の高圧側出力端４及び低圧側出
力端５から低電圧（例えば100V）を出力する。
力端５から低電圧（例えば100V）を出力する。
耐圧試験器１の電流検出部３に電流が流れた
場合→高圧側出力チヤンネルCH１のプローブ
Ａ１，Ｂ１と被試験物６の金属部Ｔ１との接触
は可となる。
場合→高圧側出力チヤンネルCH１のプローブ
Ａ１，Ｂ１と被試験物６の金属部Ｔ１との接触
は可となる。
耐圧試験器１の電流検出部３に電流が流れな
かつた場合→高圧側出力チヤンネルCH１のプ
ローブＡ１，Ｂ１と被試験物６の金属部Ｔ１と
の接触は不可となる。
かつた場合→高圧側出力チヤンネルCH１のプ
ローブＡ１，Ｂ１と被試験物６の金属部Ｔ１と
の接触は不可となる。
(2) 耐圧試験
第１のチヤンネルCH１のリレーａ１及び第
２のチヤンネルのリレーｂ２を閉じる。
２のチヤンネルのリレーｂ２を閉じる。
耐圧試験を行なう。即ち、耐圧試験器１の高
圧側出力端４及び底圧側出力端５から規定され
た所定の高電圧を出力し、被試験物６の金属部
Ｔ１とＴ２に接続された高圧回路が正常に動作
すれば、目的の耐圧試験は可となる。
圧側出力端４及び底圧側出力端５から規定され
た所定の高電圧を出力し、被試験物６の金属部
Ｔ１とＴ２に接続された高圧回路が正常に動作
すれば、目的の耐圧試験は可となる。
第２図は本考案の他の実施例を示し、耐圧試
験器１は電源２等から構成され、前記電源２が
接続される高圧側出力端４及び低圧側出力端５
から高電圧あるいは低電圧が出力される。前記
高圧側出力端４にはそれぞれ対応したリレーａ
１，ａ２，ａ３，ａ４を介してプローブＡ１，
Ａ２，Ａ３，Ａ４が接続される。一方、前記低
圧側出力端５にはそれぞれ対応したリレーｂ
１，ｂ２，ｂ３，ｂ４を介してプローブＢ１，
Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４が接続される。このプローブ
Ａ１〜Ａ４，Ｂ１〜Ｂ４はＡ１とＢ１で第１の
チヤンネルCH１、Ａ２とＢ２で第２のチヤン
ネルCH２、Ａ３とＢ３で第３のチヤンネル
CH３、Ａ４とＢ４で第４のチヤンネルCH４
を構成し、各チヤンネルCH１〜CH４毎にそ
れぞれ対応した被試験物６の金属部Ｔ１，Ｔ
２，Ｔ３，Ｔ４に接触されるように設けられ
る。前記低圧側出力端５と前記リレーｂ１〜ｂ
４との間には電圧検出部７とリレーＣよりなる
並列回路が接続される。
験器１は電源２等から構成され、前記電源２が
接続される高圧側出力端４及び低圧側出力端５
から高電圧あるいは低電圧が出力される。前記
高圧側出力端４にはそれぞれ対応したリレーａ
１，ａ２，ａ３，ａ４を介してプローブＡ１，
Ａ２，Ａ３，Ａ４が接続される。一方、前記低
圧側出力端５にはそれぞれ対応したリレーｂ
１，ｂ２，ｂ３，ｂ４を介してプローブＢ１，
Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４が接続される。このプローブ
Ａ１〜Ａ４，Ｂ１〜Ｂ４はＡ１とＢ１で第１の
チヤンネルCH１、Ａ２とＢ２で第２のチヤン
ネルCH２、Ａ３とＢ３で第３のチヤンネル
CH３、Ａ４とＢ４で第４のチヤンネルCH４
を構成し、各チヤンネルCH１〜CH４毎にそ
れぞれ対応した被試験物６の金属部Ｔ１，Ｔ
２，Ｔ３，Ｔ４に接触されるように設けられ
る。前記低圧側出力端５と前記リレーｂ１〜ｂ
４との間には電圧検出部７とリレーＣよりなる
並列回路が接続される。
次に、高圧側出力チヤンネルをCH１とし、
低圧側出力チヤンネルをCH２とした場合の接
触確認試験及び耐圧試験について説明する。
低圧側出力チヤンネルをCH２とした場合の接
触確認試験及び耐圧試験について説明する。
(1) 接触確認試験
第２のチヤンネルCH２のリレーａ２，ｂ２
を閉じる。
を閉じる。
耐圧試験器１の高圧側出力端４及び低圧側出
力端５から低電圧（例えば100V）を出力する。
力端５から低電圧（例えば100V）を出力する。
電圧検出部７において、設定電圧を検出した
場合→低圧側出力チヤンネルCH２のプローブ
Ａ２，Ｂ２と被試験物６の金属部Ｔ２との接触
は可となる。
場合→低圧側出力チヤンネルCH２のプローブ
Ａ２，Ｂ２と被試験物６の金属部Ｔ２との接触
は可となる。
電圧検出部７において、設定電圧を検出しな
かつた場合→低圧側出力チヤンネルCH２のプ
ローブＡ２，Ｂ２と被試験物６の金属部Ｔ２と
の接触は不可となる。
かつた場合→低圧側出力チヤンネルCH２のプ
ローブＡ２，Ｂ２と被試験物６の金属部Ｔ２と
の接触は不可となる。
第１のチヤンネルCH１のリレーａ１，ｂ１
を閉じる。
を閉じる。
耐圧試験器１の高圧側出力端４及び低圧側出
力端５から低電圧（例えば100V）を出力する。
力端５から低電圧（例えば100V）を出力する。
電圧検出部７において、設定電圧を検出した
場合→高圧側出力チヤンネルCH１のプローブ
Ａ１，Ｂ１と被試験物６の金属部Ｔ１との接触
は可となる。
場合→高圧側出力チヤンネルCH１のプローブ
Ａ１，Ｂ１と被試験物６の金属部Ｔ１との接触
は可となる。
電圧検出部７において、設定電圧を検出しな
かつた場合→高圧側出力チヤンネルCH１のプ
ローブＡ１，Ｂ１と被試験物６の金属部Ｔ１と
の接触は不可となる。
かつた場合→高圧側出力チヤンネルCH１のプ
ローブＡ１，Ｂ１と被試験物６の金属部Ｔ１と
の接触は不可となる。
(2) 耐圧試験
第１のチヤンネルCH１のリレーａ１及び第
２のチヤンネルのリレーｂ２、及びリレーｃを
閉じる。
２のチヤンネルのリレーｂ２、及びリレーｃを
閉じる。
耐圧試験を行なう。即ち、耐圧試験器１の高
圧側出力端４および低圧側出力端５から規定さ
れた所定の高電圧を出力し、被試験物６の金属
部Ｔ１とＴ２に接続された高圧回路が正常に動
作すれば、目的の耐電圧試験は可となる。
圧側出力端４および低圧側出力端５から規定さ
れた所定の高電圧を出力し、被試験物６の金属
部Ｔ１とＴ２に接続された高圧回路が正常に動
作すれば、目的の耐電圧試験は可となる。
尚、接触確認試験において、低電圧を印加す
るのは接触不良時のプローブと金属部との放電
を防ぐためである。
るのは接触不良時のプローブと金属部との放電
を防ぐためである。
以上のような接触確認試験及び耐圧試験は、通
常検査のラインにおいて行われる。即ち、検査ラ
インを流れてきた。（搬送されてきた）被試験物
の各金属部にすべての２心式プローブを自動的に
接触させて接触確認試験及び耐圧試験を行なう場
合、リレーよりなる高圧分配器を動作させて試験
すべき金属部を選択すればよく簡単な操作で容易
に試験を行なうことができる。
常検査のラインにおいて行われる。即ち、検査ラ
インを流れてきた。（搬送されてきた）被試験物
の各金属部にすべての２心式プローブを自動的に
接触させて接触確認試験及び耐圧試験を行なう場
合、リレーよりなる高圧分配器を動作させて試験
すべき金属部を選択すればよく簡単な操作で容易
に試験を行なうことができる。
尚、電流検出部は耐圧試験器内蔵の電流検出部
を利用し、耐電圧試験時の過電流保護動作を利用
することもできる。
を利用し、耐電圧試験時の過電流保護動作を利用
することもできる。
又、接触確認試験と耐圧試験は時分割処理を行
なう。
なう。
更に、高圧分配器により高電圧を任意分配する
ことができる。即ち、耐電圧試験において、任意
のチヤンネルを高圧側または低圧側に自由に設定
することができる。
ことができる。即ち、耐電圧試験において、任意
のチヤンネルを高圧側または低圧側に自由に設定
することができる。
又、高圧分配器のリレーを接触確認用のリレー
に共通利用することにより、リレーの数を少なく
でき、チヤンネルの増設が容易になる。
に共通利用することにより、リレーの数を少なく
でき、チヤンネルの増設が容易になる。
（考案の効果）
以上述べたように本考案によれば、耐圧試験箇
所である被試験物の複数の金属部にリレーよりな
る高圧分配器を用いて高電圧を任意に分配して耐
圧試験を行ない、かつ高圧分配器のリレーを用い
てプローブと被試験物の金属部との接触試験を行
なうことにより、簡単な操作で容易に耐圧試験及
び接触確認試験を行なうことができる高圧分配器
付耐圧試験器を提供することができる。
所である被試験物の複数の金属部にリレーよりな
る高圧分配器を用いて高電圧を任意に分配して耐
圧試験を行ない、かつ高圧分配器のリレーを用い
てプローブと被試験物の金属部との接触試験を行
なうことにより、簡単な操作で容易に耐圧試験及
び接触確認試験を行なうことができる高圧分配器
付耐圧試験器を提供することができる。
第１図は本考案の一実施例を示す回路図、第２
図は本考案の他の実施例を示す回路図である。 １……耐圧試験器、２……電源、３……電流検
出部、４……高圧側出力端、５……低圧側出力
端、６……被試験物、ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４…
…リレー、Ａ１〜Ａ４，Ｂ１〜Ｂ４……プロー
ブ。
図は本考案の他の実施例を示す回路図である。 １……耐圧試験器、２……電源、３……電流検
出部、４……高圧側出力端、５……低圧側出力
端、６……被試験物、ａ１〜ａ４，ｂ１〜ｂ４…
…リレー、Ａ１〜Ａ４，Ｂ１〜Ｂ４……プロー
ブ。
Claims (1)
- 高圧側出力端及び低圧側出力端から高電圧ある
いは低電圧を出力する耐圧試験器と、被試験物の
金属部に接触されるように設けられ複数チヤンネ
ル設けられる１対で１チヤンネルを構成するプロ
ーブと、このプローブのうち各チヤンネルの一方
のプローブ群と前記耐圧試験器の高圧側出力端と
の間に各チヤンネルにそれぞれ対応して設けられ
た第１のリレー群と、前記プローブのうち各チヤ
ンネルの他方のプローブ群と前記耐圧試験器の低
圧側出力端との間に各チヤンネルにそれぞれ対応
して設けられた第２のリレー群と、前記低圧側出
力端に接続された電流検出器あるいは電圧検出器
とを具備することを特徴とする高圧分配器付耐圧
試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987121460U JPH0536232Y2 (ja) | 1987-08-10 | 1987-08-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987121460U JPH0536232Y2 (ja) | 1987-08-10 | 1987-08-10 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6427669U JPS6427669U (ja) | 1989-02-17 |
| JPH0536232Y2 true JPH0536232Y2 (ja) | 1993-09-13 |
Family
ID=31368485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987121460U Expired - Lifetime JPH0536232Y2 (ja) | 1987-08-10 | 1987-08-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0536232Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171874A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 絶縁耐圧試験機 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5757330Y2 (ja) * | 1977-04-08 | 1982-12-09 | ||
| JPS57205071U (ja) * | 1981-06-25 | 1982-12-27 |
-
1987
- 1987-08-10 JP JP1987121460U patent/JPH0536232Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171874A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 絶縁耐圧試験機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6427669U (ja) | 1989-02-17 |
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