JPH05327169A - 金属ベース多層回路基板 - Google Patents
金属ベース多層回路基板Info
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- JPH05327169A JPH05327169A JP4154116A JP15411692A JPH05327169A JP H05327169 A JPH05327169 A JP H05327169A JP 4154116 A JP4154116 A JP 4154116A JP 15411692 A JP15411692 A JP 15411692A JP H05327169 A JPH05327169 A JP H05327169A
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- circuit board
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- conductive
- multilayer circuit
- metal
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K1/00—Printed circuits
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
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- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
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- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 金属ベース回路基板の上に、更に絶縁基板を
積層して形成される多層回路基板において、各絶縁基板
上の導電路及び/又は電子部品の接続を確実にし、信頼
性の高い金属ベース多層回路基板を得る。 【構成】 本発明の金属ベース回路基板は、金属ベース
回路基板の上に絶縁基板を積層した多層回路基板におい
て、各基板の導電路及び/又は電子部品とが、少なくと
も二つ以上の接続電極部を有する導電性接続部品を介し
て、接合材で接続されている。前記導電性接続部品は両
端に電極部を有し、安定した構造とすることができ、か
つ強固な接続とすることができるので、信頼性のよい金
属ベース多層回路基板を得ることができる。
積層して形成される多層回路基板において、各絶縁基板
上の導電路及び/又は電子部品の接続を確実にし、信頼
性の高い金属ベース多層回路基板を得る。 【構成】 本発明の金属ベース回路基板は、金属ベース
回路基板の上に絶縁基板を積層した多層回路基板におい
て、各基板の導電路及び/又は電子部品とが、少なくと
も二つ以上の接続電極部を有する導電性接続部品を介し
て、接合材で接続されている。前記導電性接続部品は両
端に電極部を有し、安定した構造とすることができ、か
つ強固な接続とすることができるので、信頼性のよい金
属ベース多層回路基板を得ることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電気機器、通信機又は自
動車等の電子モジュールに用いられる金属ベース回路基
板、特に多層構造を有する金属ベース多層回路基板に関
するものである。
動車等の電子モジュールに用いられる金属ベース回路基
板、特に多層構造を有する金属ベース多層回路基板に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、各種用途の電子モジュールに少な
くとも2層以上の多層回路基板が使用されるようになっ
ている。金属ベース回路基板についても多層化がはから
れ、用途の展開が進んでいる。従来、例えば、特開平3
−204996に記載されているように、金属ベース回
路基板上の導電路及び/又は電子部品と、前記金属ベー
ス回路基板上に積層された上層基板の導電路とをアルミ
ニウムワイヤーでボンディングして接合しているが、導
電路上のボンディング用接合部面の表面は、予めニッケ
ルメッキを施す必要がある。
くとも2層以上の多層回路基板が使用されるようになっ
ている。金属ベース回路基板についても多層化がはから
れ、用途の展開が進んでいる。従来、例えば、特開平3
−204996に記載されているように、金属ベース回
路基板上の導電路及び/又は電子部品と、前記金属ベー
ス回路基板上に積層された上層基板の導電路とをアルミ
ニウムワイヤーでボンディングして接合しているが、導
電路上のボンディング用接合部面の表面は、予めニッケ
ルメッキを施す必要がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
方法においては、次のような問題点があった。すなわ
ち、各絶縁基板の導電路のボンディング用接合部面の
表面にニッケルメッキを施さなくてはならなく工程が長
くなること、またニッケルメッキした導電路と電子部
品のワイヤーボンディングでは接合部の信頼性が低い。
ワイヤーの線径に限界があるので強度面及び電流容量
的に不十分な点もあり、用途によっては信頼性の点から
耐久性が不十分であった。
方法においては、次のような問題点があった。すなわ
ち、各絶縁基板の導電路のボンディング用接合部面の
表面にニッケルメッキを施さなくてはならなく工程が長
くなること、またニッケルメッキした導電路と電子部
品のワイヤーボンディングでは接合部の信頼性が低い。
ワイヤーの線径に限界があるので強度面及び電流容量
的に不十分な点もあり、用途によっては信頼性の点から
耐久性が不十分であった。
【0004】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、多層構造を有する金属ベース回路基板にお
ける各回路基板の導体路及び/又は電子部品の電気的接
合を導電性接合部品を介して接合材で接続することによ
って、接合強度が強く、構造的に安定で信頼性の高い、
耐久性のある金属ベース多層回路基板を提供することを
目的とする。
のであって、多層構造を有する金属ベース回路基板にお
ける各回路基板の導体路及び/又は電子部品の電気的接
合を導電性接合部品を介して接合材で接続することによ
って、接合強度が強く、構造的に安定で信頼性の高い、
耐久性のある金属ベース多層回路基板を提供することを
目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、金属ベース回
路基板上の導電路及び/又は電子部品と、前記金属ベー
ス回路基板上に積層された少なくとも一層以上の絶縁回
路基板上の導電路及び/又は電子部品とが、少なくとも
二つ以上の接続電極部を有する導電性接続部品を介して
接合材で接続されてなる多層構造を有することを特徴と
する金属ベース多層回路基板である。そして、さらに
又、前記接続電極部の足の長さが異なることを特徴とす
る請求項1記載の金属ベース多層回路基板についてでも
ある。本発明の金属ベース多層回路基板は、前記導電性
接続部品の接続電極部と、導電路及び/又は電子部品と
を、半田又は導電性接着材によって接合することによっ
て製造することができる。
路基板上の導電路及び/又は電子部品と、前記金属ベー
ス回路基板上に積層された少なくとも一層以上の絶縁回
路基板上の導電路及び/又は電子部品とが、少なくとも
二つ以上の接続電極部を有する導電性接続部品を介して
接合材で接続されてなる多層構造を有することを特徴と
する金属ベース多層回路基板である。そして、さらに
又、前記接続電極部の足の長さが異なることを特徴とす
る請求項1記載の金属ベース多層回路基板についてでも
ある。本発明の金属ベース多層回路基板は、前記導電性
接続部品の接続電極部と、導電路及び/又は電子部品と
を、半田又は導電性接着材によって接合することによっ
て製造することができる。
【0006】
【作用及び実施例】以下、本発明について図面を用いて
説明する。図1〜図4は本発明の具体的実施例を示す図
であり、又、図5は従来の方法を示す図である。
説明する。図1〜図4は本発明の具体的実施例を示す図
であり、又、図5は従来の方法を示す図である。
【0007】本発明で使用される金属ベース回路基板
は、通常、0.5 〜3.0mm 厚のアルミニウム、銅、鉄、ス
テンレス又はインバー系合金等のベース金属基板1上
に、40〜300 μmの絶縁層2を介して、導電路3、6及
び/又は電子部品12が形成又は搭載されたものである。
そして、この導電路は通常 5〜300 μmの厚さの銅箔又
は銅箔を含む複合箔で形成されている。
は、通常、0.5 〜3.0mm 厚のアルミニウム、銅、鉄、ス
テンレス又はインバー系合金等のベース金属基板1上
に、40〜300 μmの絶縁層2を介して、導電路3、6及
び/又は電子部品12が形成又は搭載されたものである。
そして、この導電路は通常 5〜300 μmの厚さの銅箔又
は銅箔を含む複合箔で形成されている。
【0008】金属ベース回路基板の上に積層される少な
くとも一層以上の絶縁回路基板の基板5、10としては、
例えば樹脂基板5、セラミックス基板10等が用いられ
る。樹脂基板は、通常30〜400 μmの厚さを有し、その
上に18〜35μm厚さの銅箔又は複合箔で形成された導電
路6及び抵抗、コンデンサー又は半導体素子等の電子部
品12が搭載されている。
くとも一層以上の絶縁回路基板の基板5、10としては、
例えば樹脂基板5、セラミックス基板10等が用いられ
る。樹脂基板は、通常30〜400 μmの厚さを有し、その
上に18〜35μm厚さの銅箔又は複合箔で形成された導電
路6及び抵抗、コンデンサー又は半導体素子等の電子部
品12が搭載されている。
【0009】樹脂基板は20〜200 μmの接着シート又は
ガラス布エポキシプリプレグ等5で接合されている。
又、セラミックス基板はアルミナ、窒化アルミニウム、
ムライト、ガラス又は低温焼成基板等が使用される。こ
れらの絶縁基板上には導電路及び/又は電子部品が搭載
され絶縁回路基板が構成されている。例えば、セラミッ
ク基板は導電ペーストもしくは銅板又は導電性箔等によ
り導電路が形成され、又抵抗、コンデンサー又は半導体
素子が搭載されて絶縁回路基板が形成されている。
ガラス布エポキシプリプレグ等5で接合されている。
又、セラミックス基板はアルミナ、窒化アルミニウム、
ムライト、ガラス又は低温焼成基板等が使用される。こ
れらの絶縁基板上には導電路及び/又は電子部品が搭載
され絶縁回路基板が構成されている。例えば、セラミッ
ク基板は導電ペーストもしくは銅板又は導電性箔等によ
り導電路が形成され、又抵抗、コンデンサー又は半導体
素子が搭載されて絶縁回路基板が形成されている。
【0010】そして、金属ベース回路基板の導電路及び
/又は電子部品と、この金属ベース回路基板の上に積層
された少なくとも一層以上の絶縁回路基板の基板5又は
10上に形成された導電路6とは、電極部9を有する導電
性接続部品7を介して、接合材8によって接合されてい
る。
/又は電子部品と、この金属ベース回路基板の上に積層
された少なくとも一層以上の絶縁回路基板の基板5又は
10上に形成された導電路6とは、電極部9を有する導電
性接続部品7を介して、接合材8によって接合されてい
る。
【0011】導電性接続部品の材質としては、銅、ニッ
ケル、アルミニウム、錫又は鉛等の導電性金属、もしく
はこれらの金属を含む合金、さらにこれらの材料の表面
をメッキしたものが用いられる。
ケル、アルミニウム、錫又は鉛等の導電性金属、もしく
はこれらの金属を含む合金、さらにこれらの材料の表面
をメッキしたものが用いられる。
【0012】この導電性接続部品の形状は、図1に示す
ように棒状のもの、図2に示すL状のもの又は図4に示
すE状もの等が用いられるが、これに制約されるもので
はないが導電路及び/又は電子部品と接合する部分に電
極部9を有している。特にこれらの足のある電極部を有
する導電性接続部品は各回路基板間の段差に合わせたも
のを用いれば構造的に安定なものができる上、製造する
場合も作業が容易であり効果は大きい。図1の場合の電
極部はとくに突出していないが両端部が電極となってい
る。
ように棒状のもの、図2に示すL状のもの又は図4に示
すE状もの等が用いられるが、これに制約されるもので
はないが導電路及び/又は電子部品と接合する部分に電
極部9を有している。特にこれらの足のある電極部を有
する導電性接続部品は各回路基板間の段差に合わせたも
のを用いれば構造的に安定なものができる上、製造する
場合も作業が容易であり効果は大きい。図1の場合の電
極部はとくに突出していないが両端部が電極となってい
る。
【0013】各絶縁回路基板の導電路及び/電子部品と
この導電性接続部品が接合される接合材はハンダもしく
は、導電性ペースト(銀ペースト「LS-50 」、銅ペース
ト「ACP-60」等;株式会社 アサヒ化学研究所製)等の
導電性接着剤が用いられる。また、圧着や差し込み等の
方法によって接合することも可能である。
この導電性接続部品が接合される接合材はハンダもしく
は、導電性ペースト(銀ペースト「LS-50 」、銅ペース
ト「ACP-60」等;株式会社 アサヒ化学研究所製)等の
導電性接着剤が用いられる。また、圧着や差し込み等の
方法によって接合することも可能である。
【0014】この導電性接合部品を接合材でそれぞれの
回路基板の導電路及び/又は電子部品とを接合材を用い
て接合されて多層構造が形成されることに本発明の最大
の特徴がある。すなわちこのような構成にすることによ
って、強い接合強度が得られると同時に、安定な構造と
することができるので信頼性の高い金属多層基板が得ら
る。またアルミニウムワイヤーボンディングにより接続
する場合よりも大電流を流せる接合も可能であり、大電
流モジュール等より多くの用途に使用できる。
回路基板の導電路及び/又は電子部品とを接合材を用い
て接合されて多層構造が形成されることに本発明の最大
の特徴がある。すなわちこのような構成にすることによ
って、強い接合強度が得られると同時に、安定な構造と
することができるので信頼性の高い金属多層基板が得ら
る。またアルミニウムワイヤーボンディングにより接続
する場合よりも大電流を流せる接合も可能であり、大電
流モジュール等より多くの用途に使用できる。
【0015】実施例1 金属ベース基板に3.0mm 厚のアルミニウム板を用い、こ
れに40μmの絶縁層を介して 105μmの銅箔を積層し任
意のパターンの導電路を形成した。つぎに、35μm厚の
銅箔で任意のパターンに形成された 100μm厚の片面樹
脂基板を50μmの接着シートで張り合わした。そして両
基板上に抵抗、コンデンサー、半導体素子を搭載すると
ともにに、両端に足のない電極部を有する銅製の導電性
接合部品を片面樹脂基板と金属ベース基板の双方の導電
路上に半田で接続した。その断面図を図1に示した。そ
の結果、1000個接続した結果、1個接続不良が発生
した。
れに40μmの絶縁層を介して 105μmの銅箔を積層し任
意のパターンの導電路を形成した。つぎに、35μm厚の
銅箔で任意のパターンに形成された 100μm厚の片面樹
脂基板を50μmの接着シートで張り合わした。そして両
基板上に抵抗、コンデンサー、半導体素子を搭載すると
ともにに、両端に足のない電極部を有する銅製の導電性
接合部品を片面樹脂基板と金属ベース基板の双方の導電
路上に半田で接続した。その断面図を図1に示した。そ
の結果、1000個接続した結果、1個接続不良が発生
した。
【0016】実施例2 金属ベース基板に1.5mm 厚のアルミニウム板を用い、こ
れに80μmの絶縁層を介して、35μmの銅箔を積層し任
意のパターンの導電路を形成した。つぎに、18μm厚の
銅箔で両面任意パターンに形成された 300μm厚の両面
樹脂基板を100μmのガラスエポキシプリプレグで張り
合わせた。そして両基板上に抵抗、コンデンサー、半導
体素子を搭載するとともに、電極部の足の長さが 18 +
300 +100 −35= 383μm異なるアルミニウム製の導電
性接続部品を足の長い方をベース金属側にして両面樹脂
基板とベース金属基板の双方の導電回路上に導電性ペー
スト(銀ペースト「LS-50 」株式会社 アサヒ化学研究
所製)で接続した。その外観図を図2に示す。1000
個接続した結果、接続不良は認められなかった。
れに80μmの絶縁層を介して、35μmの銅箔を積層し任
意のパターンの導電路を形成した。つぎに、18μm厚の
銅箔で両面任意パターンに形成された 300μm厚の両面
樹脂基板を100μmのガラスエポキシプリプレグで張り
合わせた。そして両基板上に抵抗、コンデンサー、半導
体素子を搭載するとともに、電極部の足の長さが 18 +
300 +100 −35= 383μm異なるアルミニウム製の導電
性接続部品を足の長い方をベース金属側にして両面樹脂
基板とベース金属基板の双方の導電回路上に導電性ペー
スト(銀ペースト「LS-50 」株式会社 アサヒ化学研究
所製)で接続した。その外観図を図2に示す。1000
個接続した結果、接続不良は認められなかった。
【0017】実施例3 実施例2で用いた金属ベース回路基板の上に、18 μm厚
の銅箔で片面任意パターンに形成された 300μm厚の樹
脂基板を100 μmのガラスエポキシプリプレグで張り合
わせた。そして各基板上に抵抗、コンデンサー、半導体
素子を搭載するとともに、電極部の足の長さが 401μm
異なる銅製の導電性接合部品を足の長い方を金属ベース
基板上の半導体素子に、反対の短い方を樹脂基板上の導
電路の上に導電性ペースト(銅ペースト「ACP-060 」株
式会社 アサヒ化学研究所製)で接続した。その断面図
を図3に示した。1000個接続した結果、接続不良は認め
られなかった。
の銅箔で片面任意パターンに形成された 300μm厚の樹
脂基板を100 μmのガラスエポキシプリプレグで張り合
わせた。そして各基板上に抵抗、コンデンサー、半導体
素子を搭載するとともに、電極部の足の長さが 401μm
異なる銅製の導電性接合部品を足の長い方を金属ベース
基板上の半導体素子に、反対の短い方を樹脂基板上の導
電路の上に導電性ペースト(銅ペースト「ACP-060 」株
式会社 アサヒ化学研究所製)で接続した。その断面図
を図3に示した。1000個接続した結果、接続不良は認め
られなかった。
【0018】比較例1 実施例1の導電性接合部品をハンダで接合するかわり
に、金属ベース回路基板とその上に形成された樹脂基板
の双方の導電路上の一部をワイヤーボンディング接合部
面とするため、メッキレジストを塗布した後、双方の接
合部面に無電解ニッケルメッキを行なった。(そして両
基板上に抵抗、コンデンサー、半導体素子を搭載した
後、)樹脂基板と金属ベース回路基板の双方の導電路の
接合部面に 300μmのアルミニウム線を超音波接続し
た。1000本のワイヤーボンディングをした結果、9本ワ
イヤーはずれがあった。本比較例の構造を示す金属ベー
ス多層基板の断面図を図5に示す。
に、金属ベース回路基板とその上に形成された樹脂基板
の双方の導電路上の一部をワイヤーボンディング接合部
面とするため、メッキレジストを塗布した後、双方の接
合部面に無電解ニッケルメッキを行なった。(そして両
基板上に抵抗、コンデンサー、半導体素子を搭載した
後、)樹脂基板と金属ベース回路基板の双方の導電路の
接合部面に 300μmのアルミニウム線を超音波接続し
た。1000本のワイヤーボンディングをした結果、9本ワ
イヤーはずれがあった。本比較例の構造を示す金属ベー
ス多層基板の断面図を図5に示す。
【0019】比較例2 実施例2で用いた任意の導電回路が形成された金属ベー
ス回路基板の上に搭載された半導体素子及び金属ベース
回路基板の上に形成された樹脂基板の上に形成された導
電路の一部をワイヤーボンディング接合部面とするた
め、メッキレジストを塗布して後、各々の接合部面に無
電解部分ニッケルメッキを行なった。そして両基板上に
抵抗、コンデンサー、半導体素子を搭載した後、樹脂基
板とベース金属基板の双方の接合部面に 300μmのアル
ミニウム線でワイヤーボンディングを行った。1000本を
超音波接続した結果、13本のワイヤーはずれがあっ
た。
ス回路基板の上に搭載された半導体素子及び金属ベース
回路基板の上に形成された樹脂基板の上に形成された導
電路の一部をワイヤーボンディング接合部面とするた
め、メッキレジストを塗布して後、各々の接合部面に無
電解部分ニッケルメッキを行なった。そして両基板上に
抵抗、コンデンサー、半導体素子を搭載した後、樹脂基
板とベース金属基板の双方の接合部面に 300μmのアル
ミニウム線でワイヤーボンディングを行った。1000本を
超音波接続した結果、13本のワイヤーはずれがあっ
た。
【0020】
【発明の効果】本発明によれば、金属ベース回路基板の
上に、さらに絶縁回路基板が積層されてなる多層基板に
おいて、各々の基板上の導電路及び/又は電子部品を導
電性接続部品を介して、接合材を用いて接合することに
より、強い接合強度のものを得ることがでる。また接合
部品は各基板間に発生する段差を考慮して足の長さを異
ならせることができるので、安定した構造とすることが
でき、信頼性が高く耐久性の高い金属ベース多層回路基
板を容易に得ることができる。
上に、さらに絶縁回路基板が積層されてなる多層基板に
おいて、各々の基板上の導電路及び/又は電子部品を導
電性接続部品を介して、接合材を用いて接合することに
より、強い接合強度のものを得ることがでる。また接合
部品は各基板間に発生する段差を考慮して足の長さを異
ならせることができるので、安定した構造とすることが
でき、信頼性が高く耐久性の高い金属ベース多層回路基
板を容易に得ることができる。
【図1】 本発明の一例を示す金属ベース多層回路基板
の断面図である。
の断面図である。
【図2】 本発明の一例を示す金属ベース多層回路基板
の断面図である。
の断面図である。
【図3】 本発明の一例を示す金属ベース多層回路基板
の断面図である。
の断面図である。
【図4】 本発明の一例を示す金属ベース多層回路基板
の断面図である。
の断面図である。
【図5】 従来のワイヤーボンディングによる接合部を
有する金属ベース多層回路基板の断面図である。
有する金属ベース多層回路基板の断面図である。
1 :ベース金属板 2 :金属ベース回路基板の絶縁層 3 :金属ベース回路基板の導電路 4 :接着層 5 :絶縁基板(樹脂基板又はセラミックス基板) 6 :絶縁基板の導電路 7 :導電性接続部品 8 :半田又は導電性接着材 9 :導電性接続部品の電極部 10 :半田 11 :半導体素子 12 :ニッケルメッキ 13 :ボンディング用ワイヤー
Claims (3)
- 【請求項1】 金属ベース回路基板上の導電路及び/又
は電子部品と、前記金属ベース回路基板上に積層された
少なくとも一層以上の絶縁回路基板上の導電路及び/又
は電子部品とが、少なくとも二つ以上の接続電極部を有
する導電性接続部品を介して接合材で接続されてなる多
層構造を有することを特徴とする金属ベース多層回路基
板。 - 【請求項2】 前記接続電極部の足の長さが異なること
を特徴とする請求項1記載の金属ベース多層回路基板。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の金属ベース回路基
板において、導電性接続部品の接続電極部と、導電路及
び/又は電子部品とを、半田又は導電性接着材によって
接合することを特徴とする金属ベース多層回路基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4154116A JPH05327169A (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 金属ベース多層回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4154116A JPH05327169A (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 金属ベース多層回路基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05327169A true JPH05327169A (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=15577278
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4154116A Pending JPH05327169A (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 金属ベース多層回路基板 |
Country Status (1)
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JP (1) | JPH05327169A (ja) |
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- 1992-05-22 JP JP4154116A patent/JPH05327169A/ja active Pending
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