JPH05244356A - レーザ光調整装置 - Google Patents
レーザ光調整装置Info
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- JPH05244356A JPH05244356A JP4041053A JP4105392A JPH05244356A JP H05244356 A JPH05244356 A JP H05244356A JP 4041053 A JP4041053 A JP 4041053A JP 4105392 A JP4105392 A JP 4105392A JP H05244356 A JPH05244356 A JP H05244356A
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- Japan
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- laser light
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- irradiation
- laser beam
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- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
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- Semiconductor Lasers (AREA)
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- Laser Beam Printer (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、照射媒体に照射されるレーザ光の
照射強度を所定の照射強度に容易に調整することを目的
とする。 【構成】 本発明によるレーザー光調整装置は、レーザ
（１）から照射媒体（２）に照射されるレーザ光の照射
強度を設定するレーザ光設定手段（３）と、レーザ光が
照射される前記照射媒体（２）上のそのレーザ光の照射
強度を計測するレーザ光計測手段（４）と、このレーザ
光計測手段（４）により計測される照射強度の計測値と
前記レーザ光設定手段（３）において設定される照射強
度の設定値とを比較して、この設定値に前記計測値が一
致するように前記レーザ（１）に印加する印加電圧を制
御するレーザ光比較制御手段（５）と、このレーザ光比
較制御手段（５）により前記レーザ光の照射強度の計測
値が設定値に一致する際における前記レーザ（１）に印
加する印加電圧値をメモリに書込むメモリ書込み手段
（６）とを具える構成とされる。
照射強度を所定の照射強度に容易に調整することを目的
とする。 【構成】 本発明によるレーザー光調整装置は、レーザ
（１）から照射媒体（２）に照射されるレーザ光の照射
強度を設定するレーザ光設定手段（３）と、レーザ光が
照射される前記照射媒体（２）上のそのレーザ光の照射
強度を計測するレーザ光計測手段（４）と、このレーザ
光計測手段（４）により計測される照射強度の計測値と
前記レーザ光設定手段（３）において設定される照射強
度の設定値とを比較して、この設定値に前記計測値が一
致するように前記レーザ（１）に印加する印加電圧を制
御するレーザ光比較制御手段（５）と、このレーザ光比
較制御手段（５）により前記レーザ光の照射強度の計測
値が設定値に一致する際における前記レーザ（１）に印
加する印加電圧値をメモリに書込むメモリ書込み手段
（６）とを具える構成とされる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば電子写真装置に
適用されるレーザ光調整装置、より詳しくは前記電子写
真装置の光学ユニットから照射媒体としての感光ドラム
に照射されるレーザ光の照射強度を調整するレーザ光調
整装置に関する。
適用されるレーザ光調整装置、より詳しくは前記電子写
真装置の光学ユニットから照射媒体としての感光ドラム
に照射されるレーザ光の照射強度を調整するレーザ光調
整装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の電子写真装置においては、一般に
光学ユニットから照射されるレーザ光を感光ドラムのよ
うな照射媒体に照射して露光する。前記レーザ光の照射
強度は、通常、プロセス速度，解像度等により所定の値
に規定される。しかしながら、前記電子写真装置は、こ
の電子写真装置を構成するレンズ，ミラー等の効率がそ
れぞれ異なるため、前記照射媒体上に照射されるレーザ
光の照射強度もそれぞれ異なるという問題点がある。
光学ユニットから照射されるレーザ光を感光ドラムのよ
うな照射媒体に照射して露光する。前記レーザ光の照射
強度は、通常、プロセス速度，解像度等により所定の値
に規定される。しかしながら、前記電子写真装置は、こ
の電子写真装置を構成するレンズ，ミラー等の効率がそ
れぞれ異なるため、前記照射媒体上に照射されるレーザ
光の照射強度もそれぞれ異なるという問題点がある。
【０００３】この問題点を解決するために、例えば図４
に示されているようなレーザ光調整装置が提案されてい
る。このレーザ光調整装置４１は、光学ユニット４２、
具体的にはレーザダイオード４３から照射媒体４４に照
射されるレーザ光の照射強度に対応するレーザ印加電圧
設定用デジテルデータが調整治具４５から光学ユニット
４２に供給される。この光学ユニット４２において前記
レーザ印加電圧設定用デジタルデータはＤ／Ａコンバー
タ４６にてアナログの印加電圧に変換されてレーザダイ
オード４３に印加される。そして、このレーザダイオー
ド４３からその印加電圧に相応する照射強度のレーザ光
が前記照射媒体４４に照射される。この照射媒体４４上
に照射されたレーザ光の照射強度は照射板４７を通じて
パワーメータ４８により計測される。この際、照射媒体
４４上に照射されるレーザ光の照射強度は、作業者がパ
ワーメータ４８を見つつ光学ユニット４２内のトリマー
（可変抵抗）４９を調整することにより所定の照射強度
に設定される。
に示されているようなレーザ光調整装置が提案されてい
る。このレーザ光調整装置４１は、光学ユニット４２、
具体的にはレーザダイオード４３から照射媒体４４に照
射されるレーザ光の照射強度に対応するレーザ印加電圧
設定用デジテルデータが調整治具４５から光学ユニット
４２に供給される。この光学ユニット４２において前記
レーザ印加電圧設定用デジタルデータはＤ／Ａコンバー
タ４６にてアナログの印加電圧に変換されてレーザダイ
オード４３に印加される。そして、このレーザダイオー
ド４３からその印加電圧に相応する照射強度のレーザ光
が前記照射媒体４４に照射される。この照射媒体４４上
に照射されたレーザ光の照射強度は照射板４７を通じて
パワーメータ４８により計測される。この際、照射媒体
４４上に照射されるレーザ光の照射強度は、作業者がパ
ワーメータ４８を見つつ光学ユニット４２内のトリマー
（可変抵抗）４９を調整することにより所定の照射強度
に設定される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述さ
れたレーザー光調整装置４１は、作業者がパワーメータ
４８の計測値を見つつトリマー４９を用いてレーザ光の
照射強度を調整する必要があるためその作業に時間，手
間がかかるという問題点がある。
れたレーザー光調整装置４１は、作業者がパワーメータ
４８の計測値を見つつトリマー４９を用いてレーザ光の
照射強度を調整する必要があるためその作業に時間，手
間がかかるという問題点がある。
【０００５】本発明は、このような問題点を解決するこ
とを目的として、照射媒体上でのレーザ光の照射強度を
所定の照射強度に容易に調整することができるレーザ光
調整装置を提供しようとするものである。
とを目的として、照射媒体上でのレーザ光の照射強度を
所定の照射強度に容易に調整することができるレーザ光
調整装置を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によるレーザ光調
整装置は、前述されたような目的を達成するために、図
１の発明原理ブロック図に示されているように、（ａ）
レーザ（１）から照射媒体（２）に照射されるレーザ光
の照射強度を設定するレーザ光設定手段（３）、（ｂ）
レーザ光が照射される前記照射媒体（２）上のそのレー
ザ光の照射強度を計測するレーザ光計測手段（４）、
（ｃ）このレーザ光計測手段（４）により計測される照
射強度の計測値と前記レーザ光設定手段（３）において
設定される照射強度の設定値とを比較して、この設定値
に前記計測値が一致するように前記レーザ（１）に印加
する印加電圧を制御するレーザ光比較制御手段（５）お
よび、（ｄ）このレーザ光比較制御手段（５）により前
記レーザ光の照射強度の計測値が設定値に一致する際に
おける前記レーザ（１）に印加する印加電圧値をメモリ
に書込むメモリ書込み手段（６）、を具えることを特徴
とする。
整装置は、前述されたような目的を達成するために、図
１の発明原理ブロック図に示されているように、（ａ）
レーザ（１）から照射媒体（２）に照射されるレーザ光
の照射強度を設定するレーザ光設定手段（３）、（ｂ）
レーザ光が照射される前記照射媒体（２）上のそのレー
ザ光の照射強度を計測するレーザ光計測手段（４）、
（ｃ）このレーザ光計測手段（４）により計測される照
射強度の計測値と前記レーザ光設定手段（３）において
設定される照射強度の設定値とを比較して、この設定値
に前記計測値が一致するように前記レーザ（１）に印加
する印加電圧を制御するレーザ光比較制御手段（５）お
よび、（ｄ）このレーザ光比較制御手段（５）により前
記レーザ光の照射強度の計測値が設定値に一致する際に
おける前記レーザ（１）に印加する印加電圧値をメモリ
に書込むメモリ書込み手段（６）、を具えることを特徴
とする。
【０００７】
【作用】本発明によるレーザー光調整装置は、レーザ
（１）から照射媒体（２）に照射されるレーザ光の照射
強度がレーザ光設定手段（３）により設定され、前記照
射媒体（２）に照射されるレーザ光の照射強度はレーザ
光計測手段（４）により計測される。この計測されたレ
ーザ光の照射強度の計測値はレーザ光比較制御手段
（５）により前記レーザ光設定手段（３）において設定
される照射強度の設定値と比較されて、この設定値に前
記計測値が一致するように前記レーザ（１）に印加する
印加電圧が制御される。このレーザー光比較制御手段
（５）により前記レーザ光の照射強度の計測値が前記設
定値に一致する際には、前記レーザ（１）に印加される
印加電圧値がメモリ書込み手段（６）によりメモリに書
込まれる。
（１）から照射媒体（２）に照射されるレーザ光の照射
強度がレーザ光設定手段（３）により設定され、前記照
射媒体（２）に照射されるレーザ光の照射強度はレーザ
光計測手段（４）により計測される。この計測されたレ
ーザ光の照射強度の計測値はレーザ光比較制御手段
（５）により前記レーザ光設定手段（３）において設定
される照射強度の設定値と比較されて、この設定値に前
記計測値が一致するように前記レーザ（１）に印加する
印加電圧が制御される。このレーザー光比較制御手段
（５）により前記レーザ光の照射強度の計測値が前記設
定値に一致する際には、前記レーザ（１）に印加される
印加電圧値がメモリ書込み手段（６）によりメモリに書
込まれる。
【０００８】
【実施例】次に、本発明によるレーザ光調整装置の具体
的な一実施例について、図面を参照しつつ説明する。図
２は本発明によるレーザ光調整装置２１の一例を示す。
このレーザ光調整装置２１は照射媒体２２に照射される
レーザ光の照射強度を計測するレーザ光計測手段として
の照射板２３，パワーメータ２４，Ａ／Ｄコンバータ２
５および計測値データ作成部２６と、レーザ光設定手段
としての設定値データ作成部２７と、レーザ光比較制御
手段としての比較部２８およびデジテルデータ作成部２
９と、メモリ書込み手段としてのＲＯＭ書込部３０とか
ら構成されている。
的な一実施例について、図面を参照しつつ説明する。図
２は本発明によるレーザ光調整装置２１の一例を示す。
このレーザ光調整装置２１は照射媒体２２に照射される
レーザ光の照射強度を計測するレーザ光計測手段として
の照射板２３，パワーメータ２４，Ａ／Ｄコンバータ２
５および計測値データ作成部２６と、レーザ光設定手段
としての設定値データ作成部２７と、レーザ光比較制御
手段としての比較部２８およびデジテルデータ作成部２
９と、メモリ書込み手段としてのＲＯＭ書込部３０とか
ら構成されている。
【０００９】設定値データ作成部２７はレーザとしての
レーザダイオード３１から照射媒体２２に照射されるレ
ーザ光の照射強度の設定値が設定照射強度デジテルデー
タとして設定される。また、照射媒体２２に照射される
レーザ光の照射強度の計測値は照射板２３を通じてパワ
ーメータ２４において計測され、この計測値はＡ／Ｄコ
ンバータ２５において計測照射強度デジテルデータに変
換され、この変換された計測照射強度デジテルデータが
計測値データ作成部２６に供給される。これら設定照射
強度デジテルデータおよび計測照射強度デジテルデータ
それぞれは前記設定値データ作成部２７および計測値デ
ータ作成部２６から同一タイミングで比較部２８に供給
されてその比較部２８において比較される。
レーザダイオード３１から照射媒体２２に照射されるレ
ーザ光の照射強度の設定値が設定照射強度デジテルデー
タとして設定される。また、照射媒体２２に照射される
レーザ光の照射強度の計測値は照射板２３を通じてパワ
ーメータ２４において計測され、この計測値はＡ／Ｄコ
ンバータ２５において計測照射強度デジテルデータに変
換され、この変換された計測照射強度デジテルデータが
計測値データ作成部２６に供給される。これら設定照射
強度デジテルデータおよび計測照射強度デジテルデータ
それぞれは前記設定値データ作成部２７および計測値デ
ータ作成部２６から同一タイミングで比較部２８に供給
されてその比較部２８において比較される。
【００１０】この比較部２８において設定照射強度デジ
テルデータと計測照射強度デジタルデータとが一致しな
ければ、この計測照射強度デジタルデータが前記設定照
射強度デジテルデータと一致するようにデジタルデータ
作成部２９においてレーザダイオード３１に印加される
印加電圧値が調整される。また、比較部２８において設
定照射強度デジテルデータと計測照射強度デジタルデー
タとが一致する際には、この一致の際の設定照射強度デ
ジテルデータに相応するレーザダイオード２６に印加さ
れる印加電圧値の印加電圧デジタルデータがメモリ書込
み手段としてのＲＯＭ書込み部３０によりＲＯＭ３２に
書込まれる。このようにして、レーザダイオード３１に
印加される印加電圧、すなわち照射媒体２２に照射され
るレーザ光の照射強度が調整される。
テルデータと計測照射強度デジタルデータとが一致しな
ければ、この計測照射強度デジタルデータが前記設定照
射強度デジテルデータと一致するようにデジタルデータ
作成部２９においてレーザダイオード３１に印加される
印加電圧値が調整される。また、比較部２８において設
定照射強度デジテルデータと計測照射強度デジタルデー
タとが一致する際には、この一致の際の設定照射強度デ
ジテルデータに相応するレーザダイオード２６に印加さ
れる印加電圧値の印加電圧デジタルデータがメモリ書込
み手段としてのＲＯＭ書込み部３０によりＲＯＭ３２に
書込まれる。このようにして、レーザダイオード３１に
印加される印加電圧、すなわち照射媒体２２に照射され
るレーザ光の照射強度が調整される。
【００１１】前記印加電圧デジテルデータがＲＯＭ３２
に書込まれるとレーザ光調整装置２１は光学ユニット３
３から取り外され、前記ＲＯＭ３２に書込まれた前記印
加電圧デジタルデータに基づいてレーザダイオード３１
は照射媒体２２にレーザ光を照射する。なお、レーザ光
調整装置２１を光学ユニット３３から取り外す際には、
切替えスイッチ３４をＲＯＭ３２に書込まれた前記印加
電圧デジタルデータがＤ／Ａコンバータ３５に供給され
るように切替える。
に書込まれるとレーザ光調整装置２１は光学ユニット３
３から取り外され、前記ＲＯＭ３２に書込まれた前記印
加電圧デジタルデータに基づいてレーザダイオード３１
は照射媒体２２にレーザ光を照射する。なお、レーザ光
調整装置２１を光学ユニット３３から取り外す際には、
切替えスイッチ３４をＲＯＭ３２に書込まれた前記印加
電圧デジタルデータがＤ／Ａコンバータ３５に供給され
るように切替える。
【００１２】ＲＯＭ３２からＤ／Ａコンバータ３５に供
給された前記印加電圧デジタルデータはそのＤ／Ａコン
バータ３５においてアナログの印加電圧に変換されてレ
ーザダイオード３１に印加され、このレーザダイオード
３１からその印加電圧値に相応する照射強度のレーザ光
が発せられる。
給された前記印加電圧デジタルデータはそのＤ／Ａコン
バータ３５においてアナログの印加電圧に変換されてレ
ーザダイオード３１に印加され、このレーザダイオード
３１からその印加電圧値に相応する照射強度のレーザ光
が発せられる。
【００１３】次に、このように構成されたレーザ光調整
装置２１により照射媒体上に照射されるレーザ光の照射
強度を調整する際のフローを図３に示されるフローチャ
ート図に基づいて説明する。
装置２１により照射媒体上に照射されるレーザ光の照射
強度を調整する際のフローを図３に示されるフローチャ
ート図に基づいて説明する。
【００１４】まず、デジタルデータ作成部２９から初期
設定される印加電圧デジテルデータが切替えスイッチ３
４を通じてＤ／Ａコンバータ３５に供給されてそのＤ／
Ａコンバータ３５においてアナログの印加電圧値に変換
される。このアナログの印加電圧値にはレーザダイオー
ド３１に印加され、この印加電圧に相応する照射強度の
レーザ光がそのレーザダイオード３１から照射媒体２２
に照射される（ステップＳ１）。
設定される印加電圧デジテルデータが切替えスイッチ３
４を通じてＤ／Ａコンバータ３５に供給されてそのＤ／
Ａコンバータ３５においてアナログの印加電圧値に変換
される。このアナログの印加電圧値にはレーザダイオー
ド３１に印加され、この印加電圧に相応する照射強度の
レーザ光がそのレーザダイオード３１から照射媒体２２
に照射される（ステップＳ１）。
【００１５】次いで、この照射媒体２２に前記レーザ光
が数ｍｓｅｃ照射され（ステップＳ２）、この照射媒体
２２に照射されたレーザ光の照射強度が照射板２３を通
じてパワーメータ２４で計測される。そして、このパワ
ーメータ２４で計測されたレーザ光の照射強度の計測値
はＡ／Ｄコンバータ２５を通じてその計測値に相当する
計測照射強度デジタルデータとして前記計測値データ作
成部２６に供給される（ステップＳ３）。
が数ｍｓｅｃ照射され（ステップＳ２）、この照射媒体
２２に照射されたレーザ光の照射強度が照射板２３を通
じてパワーメータ２４で計測される。そして、このパワ
ーメータ２４で計測されたレーザ光の照射強度の計測値
はＡ／Ｄコンバータ２５を通じてその計測値に相当する
計測照射強度デジタルデータとして前記計測値データ作
成部２６に供給される（ステップＳ３）。
【００１６】次に、設定値データ作成部２７で設定され
るレーザダイオード３１から照射媒体２２に照射される
レーザ光の設定照射強度デジタルデータおよび前記計測
照射強度デジタルデータが前記設定値データ作成部２７
および計測値データ作成部２６から比較部２８に供給さ
れてその比較部２８において比較される（ステップＳ
４）。
るレーザダイオード３１から照射媒体２２に照射される
レーザ光の設定照射強度デジタルデータおよび前記計測
照射強度デジタルデータが前記設定値データ作成部２７
および計測値データ作成部２６から比較部２８に供給さ
れてその比較部２８において比較される（ステップＳ
４）。
【００１７】この比較部２８において前記設定照射強度
デジテルデータと計測照射強度デジタルデータとが一致
しなければ、この計測照射強度デジタルデータが前記設
定照射強度デジテルデータと一致するようにデジタルデ
ータ作成部２９において前記印加電圧デジテルデータが
調整される。すなわち、前記計測照射強度デジタルデー
タが前記設定照射強度デジテルデータよりも大きいかど
うかを見て（ステップＳ５）、前記計測照射強度デジタ
ルデータが前記設定照射強度デジテルデータよりも大き
ければ前記印加電圧デジタルデータを小さくして（ステ
ップＳ６）、小さければその印加電圧デジタルデータを
大きくする（ステップＳ７）。
デジテルデータと計測照射強度デジタルデータとが一致
しなければ、この計測照射強度デジタルデータが前記設
定照射強度デジテルデータと一致するようにデジタルデ
ータ作成部２９において前記印加電圧デジテルデータが
調整される。すなわち、前記計測照射強度デジタルデー
タが前記設定照射強度デジテルデータよりも大きいかど
うかを見て（ステップＳ５）、前記計測照射強度デジタ
ルデータが前記設定照射強度デジテルデータよりも大き
ければ前記印加電圧デジタルデータを小さくして（ステ
ップＳ６）、小さければその印加電圧デジタルデータを
大きくする（ステップＳ７）。
【００１８】また、比較部２８において前記設定照射強
度デジテルデータと計測照射強度デジタルデータとが一
致する際には、この設定照射強度デジテルデータ（計測
照射強度デジタルデータ）に相応する印加電圧デジタル
データがＲＯＭ書込み部３０によりＲＯＭ３２に書込ま
れる（ステップＳ９）。このようにして、レーザ光の照
射強度の調整が終了される。なお、調整終了後は、この
印加電圧デジテルデータがＲＯＭ３２から読出され、Ｄ
／Ａコンバータ３５でアナログ印加電圧値に変換されて
レーザダイオード３１に印加される。
度デジテルデータと計測照射強度デジタルデータとが一
致する際には、この設定照射強度デジテルデータ（計測
照射強度デジタルデータ）に相応する印加電圧デジタル
データがＲＯＭ書込み部３０によりＲＯＭ３２に書込ま
れる（ステップＳ９）。このようにして、レーザ光の照
射強度の調整が終了される。なお、調整終了後は、この
印加電圧デジテルデータがＲＯＭ３２から読出され、Ｄ
／Ａコンバータ３５でアナログ印加電圧値に変換されて
レーザダイオード３１に印加される。
【００１９】なお、本実施例におけるレーザダイオード
３１は本発明におけるレーザ（１）に、照射媒体２２は
照射媒体（２）に、設定値データ作成部２７はレーザ光
設定手段（３）に、照射板２３，パワーメータ２４，Ａ
／Ｄコンバータ２５および計測値データ作成部２６はレ
ーザ光計測手段（４）に、比較部２８およびデジタルデ
ータ作成部２９はレーザ光比較制御手段（５）に、ＲＯ
Ｍ書込部３０はメモリ書込み手段（６）にそれぞれ対応
する。
３１は本発明におけるレーザ（１）に、照射媒体２２は
照射媒体（２）に、設定値データ作成部２７はレーザ光
設定手段（３）に、照射板２３，パワーメータ２４，Ａ
／Ｄコンバータ２５および計測値データ作成部２６はレ
ーザ光計測手段（４）に、比較部２８およびデジタルデ
ータ作成部２９はレーザ光比較制御手段（５）に、ＲＯ
Ｍ書込部３０はメモリ書込み手段（６）にそれぞれ対応
する。
【００２０】
【発明の効果】以上のように構成された本発明によれ
ば、照射媒体に照射されるレーザ光の照射強度を所定の
照射強度に容易に調整することができる。
ば、照射媒体に照射されるレーザ光の照射強度を所定の
照射強度に容易に調整することができる。
【図１】本発明によるレーザ光調整装置の原理構成を示
す発明原理ブロック図である。
す発明原理ブロック図である。
【図２】本発明の一実施例のレーザ光調整装置の構成図
である。
である。
【図３】本発明の一実施例のレーザ光調整装置により照
射媒体に照射されるレーザ光の照射強度を調整する際の
フローを説明するフローチャート図である。
射媒体に照射されるレーザ光の照射強度を調整する際の
フローを説明するフローチャート図である。
【図４】従来のレーザ光調整装置の構成図である。
１ レーザ ２，２２ 照射媒体 ３ レーザ光設定手段 ４ レーザ光計測手段 ５ レーザ光比較設定手段 ６ メモリ書込み手段 ２１ レーザー光自動調整装置 ２３ 照射板 ２４ パワーメータ ２５ Ａ／Ｄコンバータ ２６ 計測値データ作成部 ２７ 設定値データ作成部 ２８ 比較部 ２９ デジテルデータ作成部 ３０ ＲＯＭ書込み部 ３１ レーザダイオード ３２ ＲＯＭ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｓ 3/096 7131−4Ｍ 3/10 Ｚ 8934−4Ｍ
Claims (1)
- 【請求項１】 （ａ）レーザ（１）から照射媒体（２）
に照射されるレーザ光の照射強度を設定するレーザ光設
定手段（３）、 （ｂ）レーザ光が照射される前記照射媒体（２）上のそ
のレーザ光の照射強度を計測するレーザ光計測手段
（４）、 （ｃ）このレーザ光計測手段（４）により計測される照
射強度の計測値と前記レーザ光設定手段（３）において
設定される照射強度の設定値とを比較して、この設定値
に前記計測値が一致するように前記レーザ（１）に印加
する印加電圧を制御するレーザ光比較制御手段（５）お
よび、 （ｄ）このレーザ光比較制御手段（５）により前記レー
ザ光の照射強度の計測値が設定値に一致する際における
前記レーザ（１）に印加する印加電圧値をメモリに書込
むメモリ書込み手段（６）、 を具えることを特徴とするレーザ光調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4041053A JPH05244356A (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | レーザ光調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4041053A JPH05244356A (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | レーザ光調整装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05244356A true JPH05244356A (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=12597668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4041053A Withdrawn JPH05244356A (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | レーザ光調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05244356A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998056089A1 (fr) * | 1997-06-06 | 1998-12-10 | Hitachi, Ltd. | Procede de production de donnees de gestion de commande |
-
1992
- 1992-02-27 JP JP4041053A patent/JPH05244356A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998056089A1 (fr) * | 1997-06-06 | 1998-12-10 | Hitachi, Ltd. | Procede de production de donnees de gestion de commande |
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| Date | Code | Title | Description |
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| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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