JPH05160727A - A/d converter - Google Patents
A/d converterInfo
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- JPH05160727A JPH05160727A JP34970391A JP34970391A JPH05160727A JP H05160727 A JPH05160727 A JP H05160727A JP 34970391 A JP34970391 A JP 34970391A JP 34970391 A JP34970391 A JP 34970391A JP H05160727 A JPH05160727 A JP H05160727A
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- comparison
- result
- converter
- register
- comparison result
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はA/D変換器に関し、特
に、ノイズを含んだアナログ入力に対しても正確なA/
D変換を行うことがてきるA/D変換器に関するもので
ある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an A / D converter, and more particularly, to an accurate A / D converter even for an analog input containing noise.
The present invention relates to an A / D converter that can perform D conversion.
【0002】[0002]
【従来の技術】図3は従来の分解能が4ビットのA/D
変換器のブロック図であり、図において、1は基準電圧
を入力する基準電圧入力端子、2は比較電圧(以下、V
ref と称す。)を発生するD/A変換器、3はアナログ
電圧(以下、Vinと称す。)が入力されるアナログ電圧
入力端子、4は上記Vref と上記Vinとを比較する比較
器、5はA/D変換結果であるデジタル値を格納する4
ビットのA/D変換結果レジスタである。ここで、D/
A変換器2は基準電圧入力端子1に入力される基準電圧
と接地電位(以下、VSSと称す。)の間の電圧を16分
割し、この16分割された電圧とA/D変換結果レジス
タ5の値に基づいてVref を発生するようになってい
る。2. Description of the Related Art FIG. 3 shows a conventional A / D having a resolution of 4 bits.
1 is a block diagram of a converter, in which 1 is a reference voltage input terminal for inputting a reference voltage, and 2 is a comparison voltage (hereinafter, V
Call it ref . ) Generating D / A converter, 3 is an analog voltage input terminal to which an analog voltage (hereinafter, referred to as V in ) is input, 4 is a comparator for comparing V ref with V in, and 5 is Stores the digital value that is the A / D conversion result 4
It is a bit A / D conversion result register. Where D /
The A converter 2 divides the voltage between the reference voltage input to the reference voltage input terminal 1 and the ground potential (hereinafter referred to as V SS ) into 16 parts, and the 16 divided voltages and the A / D conversion result register The V ref is generated based on the value of 5.
【0003】次に、動作について説明する。A/D変換
が開始されると、A/D変換結果レジスタ5の最上位ビ
ットが電源電圧レベル(以下、Hレベルと称す。)、他
の全てのビットが接地レベル(以下、Lレベルと称
す。)になる。そして、これらの値に従ってD/A変換
器2がVref を発生し、このVref が比較器4に入力さ
れる。次に、比較器4でVref とアナログ電圧入力端子
3から入力されたVinとの比較が1回行われ、この比較
結果が最上位のビットに格納される。即ち、Vref より
もVinが大きい場合はA/D変換結果レジスタ5の最上
位ビットをHレベルにし、Vref よりもVinが小さい場
合はA/D変換結果レジスタ5の最上位ビットをLレベ
ルにする。以下、この動作がA/D変換結果レジスタ5
の各ビットに対して行われ、最下位ビットまで繰り返さ
れることにより、アナログ電圧がデジタル値に変換され
る。Next, the operation will be described. When A / D conversion is started, the most significant bit of the A / D conversion result register 5 is the power supply voltage level (hereinafter referred to as H level), and all other bits are at the ground level (hereinafter referred to as L level). .)become. Then, the D / A converter 2 generates V ref according to these values, and this V ref is input to the comparator 4. Next, the comparator 4 compares V ref with V in input from the analog voltage input terminal 3 once, and the comparison result is stored in the most significant bit. That is, when V in is larger than V ref , the most significant bit of A / D conversion result register 5 is set to H level, and when V in is smaller than V ref , the most significant bit of A / D conversion result register 5 is set. Set to L level. Hereinafter, this operation is performed by the A / D conversion result register 5
The analog voltage is converted into a digital value by repeating the above process for each bit and repeating to the least significant bit.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
A/D変換器では、A/D変換結果レジスタ5の各ビッ
トに格納されるデジタル値として、比較器においてVin
とVref を1回比較して得られた比較結果を用いるた
め、アナログ電圧入力端子3に外部からノイズが入力さ
れて、比較器4に入力されるVinの電圧レベルが変動し
た場合、変換して得られるデジタル値、即ち、比較器4
から得られるVref とVinとの比較結果も変動してしま
い、ノイズ環境化において安定したデジタル信号を得る
ことができないという問題点があった。As described above, in the conventional A / D converter, as a digital value stored in each bit of the A / D conversion result register 5, V in
Since a comparison result obtained by comparing V ref with V ref once is used, when noise is externally input to the analog voltage input terminal 3 and the voltage level of V in input to the comparator 4 fluctuates, conversion is performed. Digital value obtained by the above, that is, the comparator 4
The result of comparison between V ref and V in obtained from the above also fluctuates, and there is a problem that a stable digital signal cannot be obtained in a noise environment.
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、アナログ入力端子に外部からノ
イズ入力された場合でも、安定したデジタル信号を得る
ことができるるA/D変換器を得ることを目的とする。The present invention has been made to solve the above problems, and an A / D converter capable of obtaining a stable digital signal even when noise is externally input to the analog input terminal. Aim to get.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】この発明にかかるA/D
変換器は、D/A変換器から得られる比較電圧とアナロ
グ電圧入力端子から得られるアナログ電圧とを複数回比
較して複数の比較結果を得、これら複数の比較結果を多
数決回路にて多数決判定し、A/D変換結果レジスタの
ビットに格納すべき比較結果を決定するようにしたもの
である。A / D according to the present invention
The converter compares the comparison voltage obtained from the D / A converter with the analog voltage obtained from the analog voltage input terminal a plurality of times to obtain a plurality of comparison results, and the plurality of comparison results are judged by the majority decision circuit. However, the comparison result to be stored in the bit of the A / D conversion result register is determined.
【0007】この発明にかかるA/D変換器は、D/A
変換器から得られる比較電圧とアナログ電圧入力端子か
ら得られるアナログ電圧との第1回目の比較結果と第2
回目の比較結果とを一致回路によって一致判定し、一致
している時は第1回目の比較結果をA/D変換結果レジ
スタのビットに格納し、一致していない時は第3回目の
比較結果をA/D変換結果レジスタのビットに格納する
ようにしたものである。The A / D converter according to the present invention is a D / A converter.
The first comparison result and the second comparison result of the comparison voltage obtained from the converter and the analog voltage obtained from the analog voltage input terminal
A match circuit determines whether the result of the third comparison is the same. If they match, the first comparison result is stored in a bit of the A / D conversion result register. If they do not match, the third comparison result. Is stored in the bit of the A / D conversion result register.
【0008】[0008]
【作用】この発明においては、D/A変換器から得られ
る比較電圧とアナログ電圧入力端子から得られるアナロ
グ電圧とを複数回比較し、得られた複数の比較結果から
A/D変換結果レジスタのビットに格納すべき比較結果
を多数決判定により決定するようにしたから、各ビット
に格納される比較結果の信頼性が向上し、1回の比較期
間にアナログ電圧入力端子に外部からノイズが入力され
ても、安定したデジタル信号を得ることができる。In the present invention, the comparison voltage obtained from the D / A converter and the analog voltage obtained from the analog voltage input terminal are compared a plurality of times, and the plurality of comparison results obtained are used to register the A / D conversion result register. Since the comparison result to be stored in the bit is decided by the majority decision, the reliability of the comparison result stored in each bit is improved, and noise is externally input to the analog voltage input terminal during one comparison period. However, a stable digital signal can be obtained.
【0009】この発明においては、D/A変換器から得
られる比較電圧とアナログ電圧入力端子から得られるア
ナログ電圧との第1回目の比較結果と第2回目の比較結
果の一致判定を行い、一致の時は第1回目の比較結果
を、不一致の時は第3回目の比較結果をA/D変換結果
レジスタのビットに格納するようにしたから、各ビット
に格納される比較結果の信頼性が向上し、1回の比較期
間にアナログ電圧入力端子に外部からノイズが入力され
ても、安定したデジタル信号を得ることができる。According to the present invention, the first comparison result and the second comparison result of the comparison voltage obtained from the D / A converter and the analog voltage obtained from the analog voltage input terminal are determined to be the same. The first comparison result is stored in the case of, and the third comparison result is stored in the bit of the A / D conversion result register when they do not match. Therefore, the reliability of the comparison result stored in each bit is Even if noise is externally input to the analog voltage input terminal during one comparison period, a stable digital signal can be obtained.
【0010】[0010]
【実施例】この発明の一実施例を図について説明する。
図1は一実施例によるA/D変換器を示すブロック図で
あり、図において、図3と同一符号は同一または相当す
る部分を示し、6は比較器4の結果を格納する3個の比
較結果格納レジスタ、7はレジスタ6の値を判定する多
数決回路である。ここで、A/D変換結果レジスタ5は
4ビットからなり、また、D/A変換器2は基準電圧入
力端子1とVSSとの間の電圧を16分割し、A/D変換
結果レジスタ5の値に従って分圧してVref を発生する
ようになっている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing an A / D converter according to an embodiment. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 3 denote the same or corresponding parts, and 6 denotes three comparisons for storing the result of a comparator 4. A result storage register, 7 is a majority circuit for judging the value of the register 6. Here, the A / D conversion result register 5 is made up of 4 bits, and the D / A converter 2 divides the voltage between the reference voltage input terminal 1 and V SS into 16 to obtain the A / D conversion result register 5 The voltage is divided according to the value of Vref to generate Vref .
【0011】次に動作について説明する。A/D変換が
開始されると、A/D変換結果レジスタ5の最上位ビッ
トがHレベル、その他全てのビットがLレベルとなり、
これらの値に従ってD/A変換器2がVref を発生し、
このVref が比較器4に入力される。そして、比較器4
でVrefとアナログ電圧入力端子3から入力されたVin
との比較を従来と同様の原理で3回行い、これら3回の
比較結果が比較結果格納レジスタ6に格納される。そし
て、この比較結果格納レジスタ6に格納された3回の比
較結果が多数決回路7で多数決判定され、この判定結果
がA/D変換結果レジスタ5の最上位ビットに格納され
る。以下、この動作がA/D変換結果レジスタ5の各ビ
ットに対して行われ、最下位ビットまで繰り返されるた
とにより、アナログ電圧がデジタル値に変換される。Next, the operation will be described. When A / D conversion is started, the most significant bit of the A / D conversion result register 5 becomes H level, all other bits become L level,
According to these values, the D / A converter 2 generates V ref ,
This V ref is input to the comparator 4. And the comparator 4
V ref and V in input from the analog voltage input terminal 3
Is compared three times by the same principle as the conventional one, and the comparison results of these three times are stored in the comparison result storage register 6. Then, the majority decision circuit 7 makes a majority decision on the three comparison results stored in the comparison result storage register 6, and the decision result is stored in the most significant bit of the A / D conversion result register 5. Hereinafter, this operation is performed for each bit of the A / D conversion result register 5, and the analog voltage is converted into a digital value because the least significant bit is repeated.
【0012】このような本実施例のA/D変換器では、
Vref とVinとの比較が3回行われてこれらの比較結果
が3個の比較結果格納レジスタ6にそれぞれ格納され、
多数決回路7によってこれら3個の比較結果からA/D
変換結果レジスタ5のビットに格納される比較結果が決
定されるため、アナログ電圧入力端子3に外部からノイ
ズが入力されて比較器4に入力されるVinの電圧レベ
ルが変動した場合も、各ビット毎の格納されるVref と
Vinとの比較結果の信頼性が向上し、安定したデジタル
信号を得ることができる。In the A / D converter of this embodiment as described above,
V ref and V in are compared three times, and these comparison results are stored in the three comparison result storage registers 6, respectively.
A / D from the result of comparison of these three by the majority circuit 7.
Since the comparison result stored in the bit of the conversion result register 5 is determined, even if noise is externally input to the analog voltage input terminal 3 and the voltage level of Vin input to the comparator 4 fluctuates, each bit is changed. The reliability of the comparison result of V ref and V in stored for each is improved, and a stable digital signal can be obtained.
【0013】図2はこの発明の第2の実施例によるA/
D変換器を示すブロック図であり、図において、図1と
同一符号は同一または相当する部分を示し、6は比較器
4における比較結果を格納する比較結果格納レジスタ、
8はデジタル値を判定する一致回路、9a,9b,9
c,9dは伝達ゲートである。ここで、A/D変換結果
レジスタ5は4ビットからなり、また、D/A変換器2
は基準電圧入力端子1とVSSとの間の電圧を16分割
し、A/D変換結果レジスタ5の値に従って分圧してV
ref を発生するようになっている。また、伝達ゲート9
a,9b,9c,9dは、比較器4とレジスタ6,比較
器4と一致回路8,レジスタ6とA/D変換結果レジス
タ5,比較器4とA/D変換結果レジスタ5の間にそれ
ぞれ設けられている。FIG. 2 shows A / A according to a second embodiment of the present invention.
2 is a block diagram showing a D converter, in which the same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same or corresponding portions, 6 denotes a comparison result storage register for storing the comparison result in the comparator 4,
8 is a matching circuit for judging a digital value, 9a, 9b, 9
c and 9d are transmission gates. Here, the A / D conversion result register 5 consists of 4 bits, and the D / A converter 2
Divides the voltage between the reference voltage input terminal 1 and V SS into 16 and divides the voltage according to the value of the A / D conversion result register 5 to V.
It is designed to generate refs . Also, the transmission gate 9
a, 9b, 9c and 9d are respectively provided between the comparator 4 and the register 6, the comparator 4 and the matching circuit 8, the register 6 and the A / D conversion result register 5, and the comparator 4 and the A / D conversion result register 5, respectively. It is provided.
【0014】次に動作について説明する。A/D変換が
開始されると、A/D変換結果レジスタ5の最上位ビッ
トがHレベル、その他全てのビットがLレベルとなり、
これらの値に従ってD/A変換器2がVref を発生し、
このVref が比較器4に入力される。そして、この比較
器4で、先ず、Vref とアナログ入力端子3からのVin
との第1回目の比較が従来と同様の原理で行われ、伝達
ゲート9aが開いてこの第1回目の比較結果がレジスタ
6に格納される。次いで、比較器4においてVref とア
ナログ入力端子3からのVinとの第2回目の比較が従来
と同様の原理で行われ、伝達ゲート9bが開いてこの第
2回目の比較結果と比較結果格納レジスタ6に格納され
た値が一致回路8で判定され、一致していれば伝達ゲー
ト9cが開いて、比較結果格納レジスタ6の値をA/D
変換結果レジスタ5の最上位ビットに格納され、一致し
ていなければ伝達ゲート9dが開き、比較器4において
上記と同様にして行われたVref とアナログ入力端子3
からのVinとの第3回目の比較結果がA/D変換結果レ
ジスタ5の最上位ビットに格納される。以下、この動作
がA/D変換結果レジスタ5の各ビットに対して行わ
れ、最下位ビットまで繰り返されるたとにより、アナロ
グ電圧がデジタル値に変換される。Next, the operation will be described. When A / D conversion is started, the most significant bit of the A / D conversion result register 5 becomes H level, all other bits become L level,
According to these values, the D / A converter 2 generates V ref ,
This V ref is input to the comparator 4. Then, in this comparator 4, first, V ref and V in from the analog input terminal 3 are input.
The first comparison is performed with the same principle as the conventional one, the transmission gate 9a is opened, and the result of the first comparison is stored in the register 6. Next, in the comparator 4, the second comparison between V ref and V in from the analog input terminal 3 is performed according to the same principle as the conventional one, and the transmission gate 9b is opened to open the second comparison result and the comparison result. The value stored in the storage register 6 is judged by the matching circuit 8, and if they match, the transmission gate 9c is opened and the value of the comparison result storage register 6 is set to A / D.
Stored in the most significant bit of the conversion result register 5, if they do not match, the transmission gate 9d opens, and V ref and analog input terminal 3 performed in the comparator 4 in the same manner as above.
The result of the third comparison with V in is stored in the most significant bit of the A / D conversion result register 5. Hereinafter, this operation is performed for each bit of the A / D conversion result register 5, and the analog voltage is converted to a digital value because the least significant bit is repeated.
【0015】このような本実施例のA/D変換器では、
Vref とVinとの比較を比較器4で行って、第1回目の
比較結果を比較結果格納レジスタ6に格納し、この格納
された第1回目の比較結果と第2回目の比較結果とを一
致回路8で比較し、これら比較結果が一致していれば、
比較結果格納レジスタ6に格納された第1回目の比較結
果をA/D変換結果レジスタ5のビットに格納し、一致
していない場合は、第3回目の比較結果をA/D変換結
果レジスタ5のビットに格納するようにしたので、アナ
ログ電圧入力端子3に外部からノイズが入力されて比較
器4に入力されるVinの電圧レベルが変動した場合も、
ビット毎に格納されるVref とVinとの比較結果の信頼
性が向上し、安定したデジタル信号を得ることができ
る。In the A / D converter of this embodiment as described above,
The comparator 4 compares V ref with V in , stores the first comparison result in the comparison result storage register 6, and compares the stored first comparison result with the second comparison result. Are compared by the matching circuit 8 and if these comparison results match,
The first comparison result stored in the comparison result storage register 6 is stored in the bit of the A / D conversion result register 5, and if they do not match, the third comparison result is stored in the A / D conversion result register 5 Since noise is externally input to the analog voltage input terminal 3 and the voltage level of V in input to the comparator 4 changes,
The reliability of the comparison result between V ref and V in stored for each bit is improved, and a stable digital signal can be obtained.
【0016】尚、上記実施例では何れも分解能が4ビッ
トのA/D変換器について説明したが、これに限定され
るものではなく、分解能が他のビット数であっても同様
の効果が得られることは言うまでもない。In each of the above embodiments, the A / D converter having a resolution of 4 bits has been described, but the present invention is not limited to this, and the same effect can be obtained even if the resolution is another number of bits. It goes without saying that it will be done.
【0017】また、上記第1の実施例では比較結果格納
レジスタを3個設けたが、これより多い奇数個の比較結
果格納レジスタを設けてもよく、この場合、各ビットに
格納される比較結果の信頼性を一層向上する。Further, although three comparison result storage registers are provided in the first embodiment, an odd number of comparison result storage registers larger than this may be provided. In this case, the comparison results stored in each bit are compared. Further improve the reliability of.
【0018】[0018]
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、比較
器においてD/A変換器から得られる比較電圧とアナロ
グ電圧入力端子から得られるアナログ電圧とを複数回比
較して複数の比較結果を得、これら複数の比較結果を多
数決判定して、A/D変換結果レジスタのビットに格納
する比較結果を決定するようにしたので、各ビットに格
納される比較結果の信頼性が向上し、ノイズ環境下にお
いても安定したデジタル信号を得ることができる効果が
ある。As described above, according to the present invention, in the comparator, the comparison voltage obtained from the D / A converter and the analog voltage obtained from the analog voltage input terminal are compared a plurality of times to obtain a plurality of comparison results. Since the plurality of comparison results are determined by majority and the comparison result to be stored in the bit of the A / D conversion result register is determined, the reliability of the comparison result stored in each bit is improved, There is an effect that a stable digital signal can be obtained even in a noise environment.
【0019】更に、この発明によれば、比較器における
D/A変換器から得られる比較電圧とアナログ電圧入力
端子から得られるアナログ電圧との第1回目の比較結果
と第2回目の比較結果とを一致判定し、一致している時
は第1回目の比較結果をA/D変換結果レジスタのビッ
トに格納し、一致していない時は第3回目の比較結果を
A/D変換結果レジスタのビットに格納するようにした
ので、各ビットに格納される比較結果の信頼性が向上
し、ノイズ環境下においても安定したデジタル信号を得
ることができる効果がある。Furthermore, according to the present invention, the first comparison result and the second comparison result of the comparison voltage obtained from the D / A converter in the comparator and the analog voltage obtained from the analog voltage input terminal are compared. Is determined to match, and if they match, the first comparison result is stored in the bit of the A / D conversion result register, and if they do not match, the third comparison result is stored in the A / D conversion result register. Since the data is stored in bits, the reliability of the comparison result stored in each bit is improved, and a stable digital signal can be obtained even in a noise environment.
【図1】この発明の一実施例によるA/D変換器のブロ
ック図である。FIG. 1 is a block diagram of an A / D converter according to an embodiment of the present invention.
【図2】この発明の他の実施例によるA/D変換器のブ
ロック図である。FIG. 2 is a block diagram of an A / D converter according to another embodiment of the present invention.
【図3】従来のA/D変換器のブロック図である。FIG. 3 is a block diagram of a conventional A / D converter.
1 基準電圧入力端子 2 D/A変換器 3 アナログ電圧入力端子 4 比較器 5 A/D変換結果レジスタ 6 比較結果格納レジスタ 7 多数決回路 8 一致回路 1 Reference voltage input terminal 2 D / A converter 3 Analog voltage input terminal 4 Comparator 5 A / D conversion result register 6 Comparison result storage register 7 Majority decision circuit 8 Match circuit
Claims (2)
圧と接地電位とに基づいて比較電圧を発生するD/A変
換器と、該比較電圧とアナログ入力端子から入力された
アナログ電圧とを比較する比較器とを有し、複数のビッ
トからなるA/D変換結果レジスタのそれぞれのビット
毎に対応させて上記比較電圧と上記アナログ電圧とを上
記比較器によって比較し、その比較結果を対応するビッ
トに格納して上記アナログ電圧をデジタル値に変換する
A/D変換器であって、 上記比較器から得られる複数の比較結果を各比較結果毎
に格納する複数の比較結果格納レジスタと、 上記複数の比較結果格納レジスタに格納された複数の比
較結果を多数決判定する多数決回路とを備え、 該多数決回路によって決定された比較結果を上記A/D
変換結果レジスタの対応するビットに格納するようにし
たことを特徴とするデジタル変換器。1. A D / A converter that generates a comparison voltage based on a reference voltage input from a reference voltage input terminal and a ground potential, and the comparison voltage and an analog voltage input from an analog input terminal. And comparing the comparison voltage with the analog voltage by the comparator in correspondence with each bit of the A / D conversion result register consisting of a plurality of bits, and corresponding the comparison result. A plurality of comparison result storage registers for storing a plurality of comparison results obtained from the comparator for each comparison result, the A / D converter storing the bits in a bit and converting the analog voltage into a digital value, A majority decision circuit for making a majority decision on a plurality of comparison results stored in a plurality of comparison result storage registers, and comparing the comparison results decided by the majority decision circuit to the A / D
A digital converter characterized in that it is stored in a corresponding bit of a conversion result register.
圧と接地電位とに基づいて比較電圧を発生するD/A変
換器と、該比較電圧とアナログ入力端子から入力された
アナログ電圧とを比較する比較器とを有し、複数のビッ
トからなるA/D変換結果レジスタのそれぞれのビット
毎に対応させて上記比較電圧と上記アナログ電圧とを上
記比較器によって比較し、その比較結果を対応するビッ
トに格納して上記アナログ電圧をデジタル値に変換する
A/D変換器であって、 上記比較器からの第1回目の比較結果を格納する比較結
果格納レジスタと、 上記比較器からの第2回目の比較結果と上記比較結果格
納レジスタに格納された第1回目の比較結果の一致を判
定する一致回路とを備え、 上記一致回路の判定結果が一致の時は上記第1回目の比
較結果を上記A/D変換結果レジスタの対応するビット
に格納し、上記一致回路の判定結果が不一致の時は上記
比較器からの第3回目の比較結果を上記A/D変換結果
レジスタの対応するビットに格納するようにしたことを
特徴とするA/D変換器。2. A D / A converter that generates a comparison voltage based on a reference voltage input from a reference voltage input terminal and a ground potential, and the comparison voltage and an analog voltage input from an analog input terminal. And comparing the comparison voltage with the analog voltage by the comparator in correspondence with each bit of the A / D conversion result register consisting of a plurality of bits, and corresponding the comparison result. An A / D converter for storing the bit in a bit and converting the analog voltage into a digital value, the comparison result storage register storing a first comparison result from the comparator, and a second comparison result storage register from the comparator. A matching circuit that determines whether the comparison result of the first time and the comparison result of the first time stored in the comparison result storage register match is provided. When the determination result of the matching circuit is the same, the first comparison The result is stored in the corresponding bit of the A / D conversion result register, and when the determination result of the matching circuit does not match, the third comparison result from the comparator corresponds to the A / D conversion result register. An A / D converter characterized in that it is stored in bits.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34970391A JPH05160727A (en) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | A/d converter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34970391A JPH05160727A (en) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | A/d converter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05160727A true JPH05160727A (en) | 1993-06-25 |
Family
ID=18405537
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34970391A Pending JPH05160727A (en) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | A/d converter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05160727A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0786946A (en) * | 1993-09-13 | 1995-03-31 | Nec Corp | Successive apporoximation a/d converter |
US7477177B2 (en) | 2006-09-13 | 2009-01-13 | Advantest Corporation | A-D converter, A-D convert method, and A-D convert program |
US7605738B2 (en) | 2006-09-13 | 2009-10-20 | Advantest Corporation | A-D converter and A-D convert method |
JP2012124774A (en) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Advantest Corp | Ad conversion device and da conversion device |
WO2021141483A1 (en) * | 2020-01-06 | 2021-07-15 | Mimos Berhad | A digital calibration system for successive approximation register (sar) analog digital converters (adc) |
-
1991
- 1991-12-05 JP JP34970391A patent/JPH05160727A/en active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0786946A (en) * | 1993-09-13 | 1995-03-31 | Nec Corp | Successive apporoximation a/d converter |
US7477177B2 (en) | 2006-09-13 | 2009-01-13 | Advantest Corporation | A-D converter, A-D convert method, and A-D convert program |
US7479914B2 (en) | 2006-09-13 | 2009-01-20 | Advantest Corporation | A-D converter and A-D convert method |
US7605738B2 (en) | 2006-09-13 | 2009-10-20 | Advantest Corporation | A-D converter and A-D convert method |
JP2012124774A (en) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Advantest Corp | Ad conversion device and da conversion device |
US8941521B2 (en) | 2010-12-09 | 2015-01-27 | Advantest Corporation | Analog to digital converter and digital to analog converter |
WO2021141483A1 (en) * | 2020-01-06 | 2021-07-15 | Mimos Berhad | A digital calibration system for successive approximation register (sar) analog digital converters (adc) |
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