JPH04244977A - Contactor apparatus - Google Patents
Contactor apparatusInfo
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- JPH04244977A JPH04244977A JP3011138A JP1113891A JPH04244977A JP H04244977 A JPH04244977 A JP H04244977A JP 3011138 A JP3011138 A JP 3011138A JP 1113891 A JP1113891 A JP 1113891A JP H04244977 A JPH04244977 A JP H04244977A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 29
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明はコンタクタ装置に関する
もので、特に半導体テスト装置に使用されるものである
。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a contactor device, particularly for use in semiconductor test equipment.
【0002】0002
【従来の技術】コンタクタ装置を使用している半導体テ
スト装置を図7に示す。この半導体テスト装置はテスト
ヘッド70と、テスタ本体78とを有している。このテ
ストヘッド70には図8に示すようにコンタクタ装置7
1が組込まれ、又、テスト基板75が着脱可能となるよ
うに取付けられる。このテスト基板75上にはICソケ
ット76が取付けられており、このICソケット76に
、テストすべきデバイス、即ちDUT(device
under test )が組込まれる。このDUTが
ICソケット76に組込まれてテスト基板75がテスト
ヘッド70に取付られると、DUTのピンとコンタクタ
装置71のコンタクタがICソケット76を介して接続
される。この状態でテスタ本体78からテスト信号が送
られてDUTがテストされる。2. Description of the Related Art A semiconductor test device using a contactor device is shown in FIG. This semiconductor test device includes a test head 70 and a tester body 78. This test head 70 has a contactor device 7 as shown in FIG.
1 is incorporated, and a test board 75 is removably attached. An IC socket 76 is installed on this test board 75, and a device to be tested, that is, a DUT (device
under test) is incorporated. When this DUT is assembled into the IC socket 76 and the test board 75 is attached to the test head 70, the pins of the DUT and the contactors of the contactor device 71 are connected via the IC socket 76. In this state, a test signal is sent from the tester main body 78 to test the DUT.
【0003】従来のコンタクタ装置71を図9に示す。
このコンタクタ装置71は複数個の伸縮可能なコンタク
タを有している。このコンタクタには信号を通す信号ラ
イン用のコンタクタ1a1 ,1a2 と、零電位を与
えるアースライン用のコンタクタ1b1 ,1b2 と
がある。
これらのコンタクタ1a1 ,1a2 ,1b1 ,1
b2 はテストヘッド70に取付けられている。そして
コンタクタ1a1 には出力アンプ7の出力端が接続さ
れ、この出力アンプ7の入力端には抵抗101 が接続
されている。
又、コンタクタ1a2 には入力アンプ8の入力端と抵
抗102 が接続されている。コンタクタ1b1 ,1
b2 は接地されている。テスト基板75の裏面に設け
られたコンタクタ受け75a1 ,75a2 ,75b
1 ,75b2 を各々、コンタクタ1a1 ,1a2
,1b1 ,1b2 に押しつけることによってテス
ト基板75とテストヘッド70が電気的に接続される。
又、コンタクタ受け75a1 ,75b1 及びコンタ
クタ受け75a2 ,75b2 には図示していないI
Cソケットを介してDUTが電気的に接続されており、
このDUTを図9上で負荷5及び信号源6として表わし
ている。A conventional contactor device 71 is shown in FIG. This contactor device 71 has a plurality of extendable contactors. These contactors include contactors 1a1 and 1a2 for signal lines through which signals pass, and contactors 1b1 and 1b2 for earth lines that provide zero potential. These contactors 1a1, 1a2, 1b1, 1
b2 is attached to the test head 70. The output end of the output amplifier 7 is connected to the contactor 1a1, and the resistor 101 is connected to the input end of the output amplifier 7. Further, the input terminal of the input amplifier 8 and the resistor 102 are connected to the contactor 1a2. Contactor 1b1,1
b2 is grounded. Contactor receivers 75a1, 75a2, 75b provided on the back side of the test board 75
1 and 75b2 respectively, contactors 1a1 and 1a2
, 1b1, 1b2, the test board 75 and the test head 70 are electrically connected. In addition, contactor receivers 75a1 and 75b1 and contactor receivers 75a2 and 75b2 have I
The DUT is electrically connected via the C socket,
This DUT is represented as load 5 and signal source 6 on FIG.
【0004】0004
【発明が解決しようとする課題】上述の従来のコンタク
タ装置71の等価回路図を図10に示す。この等価回路
図において、出力アンプ7によって負荷5を駆動すると
、信号源6からの信号が出力されてこの信号が入力アン
プ8で捕えられる。交流信号テスト時に、出力アンプ7
から出て負荷5を駆動した電流は、破線の矢印13に示
すようにテスト基板75上のアースを通り、複数個のア
ースライン用のコンタクタ1b1 及び1b2 を通る
。
すると、アースライン用のコンタクタを通った電流は接
触抵抗9等の関係により、入力アンプ8からみた信号源
6の交流電圧を変動させる。このため、入力、出力間に
クロストーク等の問題が生じる。本発明は上記事情を考
慮してなされたものであって、交流信号テスト時のクロ
ストーク等の交流ノイズを低減させることのできるコン
タクタ装置を提供することを目的とする。An equivalent circuit diagram of the above-mentioned conventional contactor device 71 is shown in FIG. In this equivalent circuit diagram, when a load 5 is driven by an output amplifier 7, a signal from a signal source 6 is output, and this signal is captured by an input amplifier 8. During the AC signal test, the output amplifier 7
The current that comes out of the test board 75 and drives the load 5 passes through the ground on the test board 75 as indicated by the broken arrow 13, and then passes through a plurality of ground line contactors 1b1 and 1b2. Then, the current passing through the ground line contactor changes the AC voltage of the signal source 6 as seen from the input amplifier 8 due to the relationship of the contact resistance 9 and the like. This causes problems such as crosstalk between input and output. The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a contactor device that can reduce AC noise such as crosstalk during an AC signal test.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明のコンタクタ装置
は信号ライン用のコンタクタと、アースライン用のコン
タクタと、これら一対のコンタクタに流れる交流電流が
同方向の場合に交流電流を抑制するトランスとを備えて
いることを特徴とする。[Means for Solving the Problems] The contactor device of the present invention includes a contactor for a signal line, a contactor for a ground line, and a transformer that suppresses the alternating current when the alternating currents flowing through the pair of contactors are in the same direction. It is characterized by having the following.
【0006】[0006]
【作用】このように構成されたコンタクタ装置によれば
、一対のコンタクタに流れる交流電流が同方向の場合に
トランスによって交流電流が抑制される。これにより、
交流信号テスト時のクロストーク等の交流ノイズを低減
させることができる。[Operation] According to the contactor device constructed in this manner, when the alternating currents flowing through a pair of contactors are in the same direction, the alternating currents are suppressed by the transformer. This results in
AC noise such as crosstalk during AC signal testing can be reduced.
【0007】[0007]
【実施例】図1に本発明によるコンタクタ装置の一実施
例の構成を示す。この実施例のコンタクタ装置は従来の
コンタクタ装置において、コンタクタ1a1,1b1
と出力アンプとの間、及びコンタクタ1a2 ,1b2
と入力アンプの間に各々、トロイダルトランス151
,152 を設けたものである。このトロイダルトラ
ンス151 ,152 は磁性体、例えばフェライトか
らなるトロイダルコアにエナメル線を巻き付けたもので
ある。この巻き付け方は図3に示すようにして巻き付け
、実線で示すように2次側巻線に流れる電流の方向が1
次巻線に流れる電流と逆方向の場合には2次巻線側に影
響を与えないで、破線で示すように同方向の場合には、
インダクタとして働いて2次巻線側に流れる電流を抑制
するようにする。この時の実施例の等価回路図を図2に
示す。このようにトランス15i (i=1,2)と一
対の、信号ライン用コンタクタ1ai 及びアースライ
ン用コンタクタ1bi を使用することにより、トラン
ス15i の信号のライン(1次側)を通った交流電流
が同じトランス15i のアースライン(2次側)を通
るようにできる。これによりコンタクタで接続されるテ
スト基板75上の各入出力信号間はクロストークが低減
され、高精度な交流信号測定が実現できる。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows the structure of an embodiment of a contactor device according to the present invention. The contactor device of this embodiment is different from the contactors 1a1 and 1b1 in the conventional contactor device.
and the output amplifier, and contactors 1a2 and 1b2
and the input amplifier, respectively, a toroidal transformer 151
, 152. The toroidal transformers 151 and 152 are constructed by winding an enameled wire around a toroidal core made of a magnetic material such as ferrite. This winding method is as shown in Figure 3, and as shown by the solid line, the direction of the current flowing through the secondary winding is 1.
If the current flows in the opposite direction to the secondary winding, it will not affect the secondary winding, but if the current flows in the same direction as shown by the broken line,
It works as an inductor to suppress the current flowing to the secondary winding side. An equivalent circuit diagram of this embodiment is shown in FIG. In this way, by using the transformer 15i (i=1, 2) and the pair of signal line contactor 1ai and ground line contactor 1bi, the alternating current passing through the signal line (primary side) of the transformer 15i is It can be made to pass through the ground line (secondary side) of the same transformer 15i. This reduces crosstalk between each input and output signal on the test board 75 connected by the contactor, making it possible to achieve highly accurate alternating current signal measurement.
【0008】なお、上記実施例においてはトランスのコ
アにトロイダルコアを用いたが、図4に示すようなEI
コア12を使用しても同様の効果を得ることができる。
又、図5及び図6に示すように、1対のコンタクタ1a
,1bとトランス15のフェライトコア16を一体に形
成しても良い。なお、図6における符号1c,1dは各
々コンタクタ1a,1cの接触子を示し、符号20は非
磁性の絶縁体を示す。In the above embodiment, a toroidal core was used as the core of the transformer, but an EI core as shown in FIG.
A similar effect can be obtained by using the core 12. Further, as shown in FIGS. 5 and 6, a pair of contactors 1a
, 1b and the ferrite core 16 of the transformer 15 may be formed integrally. In addition, the symbols 1c and 1d in FIG. 6 indicate the contacts of the contactors 1a and 1c, respectively, and the symbol 20 indicates a nonmagnetic insulator.
【0009】[0009]
【発明の効果】本発明によれば、交流信号テスト時のク
ロストーク等のノイズを低減させることができ、アナロ
グICの高精度測定が可能となる。According to the present invention, noise such as crosstalk during alternating current signal testing can be reduced, making it possible to measure analog ICs with high accuracy.
【図1】本発明のコンタクタ装置の一実施例の構成を示
す接続図。FIG. 1 is a connection diagram showing the configuration of an embodiment of a contactor device of the present invention.
【図2】図1に示す実施例の等価回路図。FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of the embodiment shown in FIG. 1.
【図3】トロイダルトランスの効果を説明する説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating the effect of a toroidal transformer.
【図4】トランスのコアにEIコアを用いたコンタクタ
装置を示す斜視図。FIG. 4 is a perspective view showing a contactor device using an EI core as the core of a transformer.
【図5】コアとコンタクタを一体化して形成したコンタ
クタ装置を示す斜視図。FIG. 5 is a perspective view showing a contactor device formed by integrating a core and a contactor.
【図6】コアとコンタクタを一体化して形成したコンタ
クタ装置を示す斜視図。FIG. 6 is a perspective view showing a contactor device formed by integrating a core and a contactor.
【図7】半導体テスト装置を示す斜視図。FIG. 7 is a perspective view showing a semiconductor test device.
【図8】テストヘッドの構成を示す斜視図。FIG. 8 is a perspective view showing the configuration of a test head.
【図9】従来のコンタクタ装置を示す接続図。FIG. 9 is a connection diagram showing a conventional contactor device.
【図10】図9に示すコンタクタ装置の等価回路図。FIG. 10 is an equivalent circuit diagram of the contactor device shown in FIG. 9.
1ai (i=1,2) 信号ライン用コンタクタ1
bi (i=1,2) アースライン用コンタクタ5
負荷
6 信号源
7 出力アンプ
8 入力アンプ
15i (i=1,2) トランス
70 テストヘッド
71 コンタクタ装置
75 テスト基板1ai (i=1,2) Signal line contactor 1
bi (i=1,2) Ground line contactor 5
Load 6 Signal source 7 Output amplifier 8 Input amplifier 15i (i=1,2) Transformer 70 Test head 71 Contactor device 75 Test board
Claims (1)
ン用のコンタクタと、これら一対のコンタクタに流れる
交流電流が同方向の場合に前記交流電流を抑制するトラ
ンスとを備えていることを特徴とするコンタクタ装置。1. A contactor for a signal line, a contactor for an earth line, and a transformer that suppresses the alternating current when the alternating currents flowing through the pair of contactors are in the same direction. Contactor device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3011138A JPH04244977A (en) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | Contactor apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3011138A JPH04244977A (en) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | Contactor apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04244977A true JPH04244977A (en) | 1992-09-01 |
Family
ID=11769662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3011138A Pending JPH04244977A (en) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | Contactor apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04244977A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2647995C2 (en) * | 2016-04-08 | 2018-03-21 | Российская Федерация, От Имени Которой Выступает Министерство Промышленности И Торговли Российской Федерации | Device for diagnostics of contacts of power electrical equipment |
-
1991
- 1991-01-31 JP JP3011138A patent/JPH04244977A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2647995C2 (en) * | 2016-04-08 | 2018-03-21 | Российская Федерация, От Имени Которой Выступает Министерство Промышленности И Торговли Российской Федерации | Device for diagnostics of contacts of power electrical equipment |
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